CN102004350B - 液晶显示面板的对位匹配系统与方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种液晶显示面板的对位匹配系统，其包括：基板暂存区、基准数据库、侦测单元、第一、第二数据库、控制单元以及选择输出单元，其中，侦测单元量测液晶显示面板中第一、第二基板相对于基准数据库中的基准数据的第一、第二相对数据；控制单元，将第一相对数据与第二相对数据进行匹配，获得最匹配的第一相对数据和第二相对数据；选择输出单元根据最匹配的第一、第二相对数据将处于基板暂存区的与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。本发明还提供了一种液晶显示面板的对位匹配方法。本发明提高了液晶显示面板的第一基板和第二基板的对位准确性。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板的对位匹配系统与方法。
背景技术
由于薄膜晶体管液晶显示器(TFT LCD：Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay)具有体积小、重量轻、低辐射等优点，因此薄膜晶体管液晶显示器已经广泛地被应用于各种电子装置中，且被越来越多的使用者所喜爱。随着液晶显示器制造技术的不断完善，如何以较低的成本来制造薄膜晶体管液晶显示器已经成为本领域内的技术发展趋势之一。
薄膜晶体管液晶显示器的显示面板一般包括：阵列(array)基板、彩色滤光片(CF)基板，以及密封于阵列基板与彩色滤光片基板之间的液晶层。一般薄膜晶体管液晶显示面板的制造过程，主要是在玻璃基板表面上沉积一层金属层，随即依电路设计需求，反复进行薄膜沉积、曝光、蚀刻等制造工序，完成阵列基板的制造。然后配合另一片表面覆有依序排列的彩色滤光片的玻璃基板(彩色滤光片基板)，进行对位、贴合，然后注入液晶等制造工序，才完成薄膜晶体管液晶显示面板的制造。
在现有技术的薄膜晶体管液晶显示面板的制造过程中，阵列基板与彩色滤光片基板的对位、贴合的制造工序，是一片阵列基板与一片彩色滤光片基板在真空腔(Vacuum Chamber)中，直接进行该片阵列基板与该片彩色滤光片基板对位对准后，然后通过在基板外框边缘涂覆的框胶进行紫外线(UV)曝光、硬化后固定阵列基板与彩色滤光片基板。然而，由于现有技术中不可避免地存在阵列基板上形成的电路阵列(array)布图与理想状态的阵列基板上的array布图存在偏差、以及彩色滤光片基板上的与阵列基板上电路阵列对应的彩色滤光片或彩色滤光片电路的布图(简称为CF布图)，与理想状态的CF基板上的CF布图也存在偏差的缺陷，所以，在液晶显示面板的对位、贴合过程中也同样不可避免地会存在阵列基板与彩色滤光片基板的布图偏差，但是，若阵列基板上的array布图与理想状态的偏差同彩色滤光片基板上CF布图与理想状态的偏差二者之间差距太大时，并且是待到阵列基板与彩色滤光片基板贴合之后才发现二者之间差距时，此时造成的液晶显示面板缺陷已无改善的余地，所以，势必造成液晶显示面板制造良率的降低，从而提高生产成本。故，一种改善以上缺陷的技术亟待提出。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种液晶显示面板的对位匹配系统与方法，大大提高了液晶显示面板的第一基板和第二基板的对位准确性。
为达到上述目的，本发明的技术方案具体是这样实现的：
本发明提供了一种液晶显示面板的对位匹配系统，所述液晶显示面板包括对置的第一基板和第二基板，该系统包括：
基板暂存区，用于放置等待对位匹配的复数片第一基板和复数片第二基板；
基准数据库，用于存储一基准数据；
侦测单元，用于对基板暂存区中的复数片第一基板进行量测，获得该复数片第一基板相对于所述基准数据的复数个第一相对数据，并将所述复数个第一相对数据传送至第一数据库；
以及对基板暂存区中的复数片第二基板进行量测，获得该复数片第二基板相对于所述基准数据的复数个第二相对数据，并将所述复数个第二相对数据传送至第二数据库；
第一数据库，用于存储所述第一相对数据；
第二数据库，用于存储所述第二相对数据；
控制单元，用于将第一数据库中的复数个第一相对数据与第二数据库中的复数个第二相对数据进行匹配，并将最匹配的第一相对数据和第二相对数据发送给选择输出单元；
选择输出单元，用于根据所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据，将处于基板暂存区的与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。
本发明还提供了一种应用前述系统的液晶显示面板的对位匹配方法，其包括：
预先存储一基准数据，所述基准数据为第一基板与第二基板在无对位误差贴合时形成的液晶显示面板的平面坐标标识；
对复数片第一基板的平面坐标标识坐标进行量测，获得该复数片第一基板相对于所述基准数据的复数个第一相对数据；以及对复数片第二基板的平面标识坐标进行量测，获得该复数片第二基板相对于所述基准数据的复数个第二相对数据；
提取一第二相对数据，同时提取复数个第一相对数据，然后将该第二相对数据与该复数个第一相对数据进行比较，获得所述复数个第一相对数据中与该第二相对数据匹配的一个最匹配的第一相对数据和最匹配的第二相对数据；
根据最匹配的第一相对数据和第二相对数据，将与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。
由上述的技术方案可见，本发明第一基板和第二基板的相应位置上都具有平面坐标标识，如果第一基板的平面坐标标识所在坐标位置与第二基板的平面坐标标识所在坐标位置相匹配，则选择出该第一基板和第二基板。由于相匹配的第一基板和第二基板的准确对位，可以避免两个基板上的电路布图偏差较大，从而减少两个基板对位贴合后液晶显示面板不良的情况。
附图说明
图1为本发明优选实施例中液晶显示面板的对位匹配方法流程图；
图2为本发明优选实施例中液晶显示面板的对位匹配系统框图；
图3为本发明实施例中液晶显示面板的对位匹配示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和有益效果表达得更加清楚明白，下面结合附图及具体实施例对本发明再作进一步详细的说明。
本发明提供了一种液晶显示面板的对位匹配系统，首先结合图3参考图2，其中，图2为本发明优选实施例中液晶显示面板的对位匹配系统框图，图3为本发明实施例中液晶显示面板的对位匹配示意图。液晶显示面板包括对置的第一基板100和第二基板200，其中，第一基板100具有用于对位的第一平面坐标标识101，第二基板200具有用于对位的第二平面坐标标识201。在本实施方式中，第一基板100可以为阵列基板，第二基板200可以为彩色滤光片基板；或者，第一基板100可以为彩色滤光片基板，第二基板200可以为阵列基板。该第一、第二平面坐标标识用于标识第一基板100或第二基板200上携带的阵列(array)电路布图或者彩色滤光片(CF)布图的信息。在实际的制造过程中，若array布图位置发生了偏差，则相应的第一或第二平面坐标标识的位置也与array布图发生了一致的偏差；同样，对于彩色滤光片布图也一样。
液晶显示面板的对位匹配系统包括：基板暂存区70、基准数据库10、侦测单元20、第一数据库31、第二数据库32、控制单元40和选择输出单元50。
基板暂存区70，用于放置等待对位匹配的复数片第一基板100和复数片第二基板200。
基准数据库10，用于存储一基准数据，如图3所示，所述基准数据为在无制造公差的情况下，第一基板100与第二基板200重合时形成的液晶显示面板300的标准平面坐标标识301。
侦测单元20，用于对基板暂存区70中的复数片第一基板100的第一平面坐标标识101进行量测，获得该复数片第一基板100相对于所述基准数据的复数个第一相对数据，并将所述复数个第一相对数据传送至第一数据库31；所述第一相对数据为第一基板100上的第一平面坐标标识101与标准平面坐标标识301之间的第一相对坐标信息；以及对基板暂存区70中的复数片第二基板200的第二平面坐标标识201进行量测，获得该复数片第二基板200相对于所述基准数据的复数个第二相对数据，并将所述复数个第二相对数据传送至第二数据库32；所述第二相对数据为第二相对数据为第二基板200上的第二平面坐标标识201与标准平面坐标标识301之间的第二相对坐标信息。
优选地，该侦测单元20可以由电荷耦合元件(CCD：Charge-coupledDevice)摄像机来实现。
第一数据库31，用于存储所述第一相对数据；
第二数据库32，用于存储所述第二相对数据。
控制单元40，用于将第一数据库31中的复数个第一相对数据与第二数据库32中的复数个第二相对数据进行匹配，并将所述匹配的第一相对数据和第二相对数据发送给选择输出单元50。优选地，该控制单元40可以由单片机来实现，其可以包括比较模块以及选择控制模块(其实现可以由公知的单片机技术来实现，所以图中未示)。比较模块，用于将一第二相对数据与所述复数个第一相对数据进行比较，获得所述复数个第一相对数据中与该第二相对数据匹配的一个第一相对数据，将获得的该第一相对数据与该第二相对数据分别称之为最匹配的第一相对数据和第二相对数据(即获得的与基准数据的偏差为最小的第一相对数据与第二相对数据)。选择控制模块，用于将所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据选择出来并发送给选择输出单元50。
选择输出单元50，用于根据所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据，将处于基板暂存区70的与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的最匹配的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。
较优地，该选择输出单元50可以由电气传动装置来实现，控制单元40通过输出电信号来控制该选择输出单元50的机械动作(例如，可以是机械手臂通过搬运第一或第二基板来达到运输该第一、第二基板的目的)。
液晶显示面板的对位匹配系统还可以进一步包括判断复数个第二基板200或者复数个第一基板100是否全部完成匹配的判断单元60，用于判断基板暂存区70中的复数片第二基板200或者复数片第一基板100是否全部完成匹配，当复数个第二基板200或者复数个第一基板100未全部完成匹配时，指示控制单元40继续进行第一基板与第二基板的匹配。
对应上述系统，本发明还提供了一种液晶显示面板的对位匹配方法。
下面结合图2、图3参考图1，对本发明液晶显示面板的对位匹配方法进行详细说明。
图1为本发明优选实施例中液晶显示面板的对位匹配方法流程图。如图1所示，本实施例中的液晶显示面板的对位匹配方法包括如下所述的步骤：
步骤S1：预先存储一基准数据。
所述基准数据为在无制造公差的情况下，第一基板100与第二基板200重合时形成的液晶显示面板300的标准平面坐标标识301；当然，该标准平面坐标标识301可以位于理想状态下的液晶显示面板300上的任意位置。将该标准平面坐标标识301在zox平面内的坐标信息，即液晶显示面板的标准平面坐标信息作为基准数据输入基准数据库10，如图3所示。
然后前进至步骤S21和步骤S22。
步骤S21：对基板暂存区70中的复数片第一基板100的第一平面坐标标识101坐标进行量测，获得该复数片第一基板100相对于所述基准数据的复数个第一相对数据；以及步骤S22：对基板暂存区中的复数片第二基板200的第二平面坐标标识201坐标进行量测，获得该复数片第二基板200相对于所述基准数据的复数个第二相对数据。
一般地，第一基板和第二基板在等待对位匹配时，都放置于对位匹配系统的基板暂存区70。
在步骤S21，首先，该复数片第一基板100接受一侦测单元20的侦测，如图2所示，该侦测单元20对该复数片第一基板100的平面坐标标识进行量测，获得该复数第一基板100相对于基准数据的复数个第一相对数据。如图2所示，该复数个第一相对数据被传送至第一数据库31。
进一步地，结合参考图3，该第一相对数据为第一基板上100的第一平面坐标标识101与理想状态下的液晶显示面板300上的标准平面坐标标识301在zox平面内的相对坐标信息。
在步骤S22，首先，该复数片第二基板200同样接受侦测单元20的侦测，如图2所示，该侦测单元20对该复数片第二基板200的第二平面坐标标识进行量测，获得该复数第二基板200相对于基准数据的复数个第二相对数据。如图2所示，该复数个第二相对数据被传送至第二数据库32。
进一步地，结合参考图3，该第二相对数据为第二基板200的第二平面坐标标识201与理想状态下的液晶显示面板300上的标准平面坐标标识301在zox平面内的相对坐标信息。其中，步骤S21和步骤S22也可以同时进行，也可以先进行步骤S21再进行步骤S22或者先进行步骤S22再进行步骤S21。
在以上步骤S21和步骤S22进行完成之后，然后前进至步骤S3。
步骤S3：将一第二相对数据与复数个第一相对数据进行比较，获得所述复数个第一相对数据中与该第二相对数据匹配的一个第一相对数据。
在步骤S3，从第二数据库32中提取一第二相对数据，同时从第一数据库31中提取复数个第一相对数据，然后将该第二相对数据与该复数个第一相对数据进行比较，获得所述复数个第一相对数据中与该第二相对数据匹配的一个第一相对数据。
结合参考图2，如图中所示，经过第一数据库31和第二数据库32，由一控制单元40进行第一、第二相对数据的提取。
进一步地，结合参考图3，控制单元40中的比较模块(图中未示出)将步骤S21中得到的复数个第一相对数据与步骤S22中得到的一个第二相对数据进行比较，然后由控制单元40的选择控制模块在复数个第一相对数据中选择出与该第二相对数据最匹配的第一相对数据，并将最匹配的第一相对数据与第二相对数据发送给选择输出单元50。其中，所谓最匹配的第一相对数据与第二相对数据即获得的与基准数据的偏差为最小的第一相对数据与第二相对数据。
然后前进至步骤S4。
步骤S4：根据最匹配的第一相对数据和第二相对数据，将处于基板暂存区的与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的最匹配的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。
在该步骤S4中，由选择输出单元50从基板暂存区70选择出的与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的第一基板和第二基板分别将其称之为最匹配第一基板和第二基板。继续结合参考图2，图2中的控制单元40连接选择输出单元50。在该步骤S4中，选择输出单元50接收控制单元40的输出控制信号，然后从基板暂存区70将最匹配第一基板和第二基板选择出来并传送至下一制造工序。
该选择输出单元50的输出端一般与对位贴合工序之后的下一制造工序的制造装置相连。
经过以上步骤S1～S4的对位匹配方法，可以使得第二基板200同与之电路布图最匹配的第一基板进行首先进行最佳匹配然后才进行对位、贴合，这样使得第二基板200在与第一基板100进行贴合工序之前，即对其实际电路布图存在的偏差进行一个筛选的过程，使得该第二基板200的布图的偏差与该第一基板100的布图的偏差不至于相差太大，从而在该第一、第二基板贴合后不至于造成液晶显示面板的报废。
在完成步骤S4之后，该方法还可以包括步骤S5。
步骤S5：判断复数片第二基板或者复数片第一基板是否全部完成匹配，当未全部完成匹配时，继续进行第一基板与第二基板的匹配。
结合参考图2，如图中所示，判断单元60对基板暂存区70的复数片第二基板200或者复数片第一基板100是否全部完成匹配进行判断，当复数片第二基板200或者复数片第一基板100全部完成匹配时，即基板暂存区70只有一种基板存在，或者两种基板都不存在时，意味着全部完成匹配，此时结束匹配操作。当复数片第二基板200或者复数片第一基板100未全部完成匹配时，则指示控制单元40继续进行第一基板100与第二基板200的匹配。
当然，置于基板暂存区70的第一基板100以及第二基板200均为复数片(将复数片该第一基板100和复数片第二基板200分别用为Mi和Nj，且i、j为≥2的正整数，优选地，i＝j)，经过以上步骤S1～S4，第二基板N1同与其最匹配的一第一基板Mi进行了对位匹配并贴合。则在本发明的该实施例中，在完成步骤S4之后，判断i片第一基板全部完成匹配或者j片第二基板全部完成匹配。
若j片第二基板未全部完成匹配，可以接着对第二基板N2在其余的(i-1)片第一基板中重复执行步骤S3～S5，如此循环数次，直至i片第一基板或者j片第二基板全部完成匹配动作。
则步骤S3～S5循环(i-1)次或者(j-1)次，即i片第一基板全部完成匹配或者j片第二基板全部完成匹配，然后结束流程。
本发明的液晶显示面板的第一、第二基板的对位匹配方法即结束，然后进行对位匹配后的下一制造工序。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种液晶显示面板的对位匹配系统，其中，液晶显示面板包括对置的第一基板和第二基板，所述系统包括：
基板暂存区，用于放置等待对位匹配的复数片第一基板和复数片第二基板；
基准数据库，用于存储一基准数据；
侦测单元，用于对基板暂存区中的复数片第一基板进行量测，获得该复数片第一基板相对于所述基准数据的复数个第一相对数据，并将所述复数个第一相对数据传送至第一数据库；以及对基板暂存区中的复数片第二基板进行量测，获得该复数片第二基板相对于所述基准数据的复数个第二相对数据，并将所述复数个第二相对数据传送至第二数据库；
第一数据库，用于存储所述第一相对数据；
第二数据库，用于存储所述第二相对数据；
控制单元，用于将第一数据库中的复数个第一相对数据与第二数据库中的复数个第二相对数据进行匹配，并将最匹配的第一相对数据和第二相对数据发送给选择输出单元；
选择输出单元，用于根据所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据，将处于基板暂存区的与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述基准数据为在无制造公差的情况下，第一基板与第二基板重合时形成的液晶显示面板的标准平面坐标标识；以及
所述第一相对数据为第一基板上的第一平面坐标标识与标准平面坐标标识之间的第一相对坐标信息，第二相对数据为第二基板上的第二平面坐标标识与标准平面坐标标识之间的第二相对坐标信息。
3.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据为获得的与基准数据的偏差为最小的第一相对数据与第二相对数据。
4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述控制单元包括比较模块和选择控制模块；
所述比较模块，用于将一第二相对数据与所述复数个第一相对数据进行比较，获得最匹配的第一相对数据与第二相对数据；
所述选择控制模块，用于将所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据选择出来并发送给选择输出单元。
5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，该系统进一步包括判断单元，用于判断基板暂存区中的复数片第二基板或者复数片第一基板是否全部完成匹配；当复数片第二基板或者复数片第一基板未全部完成匹配时，指示控制单元继续进行第一基板与第二基板的匹配。
6.一种液晶显示面板的对位匹配方法，其包括：
预先存储一基准数据，所述基准数据为在无制造公差的情况下，第一基板与第二基板重合时形成的液晶显示面板的平面坐标标识；
对复数片第一基板的平面坐标标识坐标进行量测，获得该复数片第一基板相对于所述基准数据的复数个第一相对数据；以及对复数片第二基板的平面标识坐标进行量测，获得该复数片第二基板相对于所述基准数据的复数个第二相对数据；
提取一第二相对数据，同时提取复数个第一相对数据，然后将该第二相对数据与该复数个第一相对数据进行比较，获得所述复数个第一相对数据中与该第二相对数据最匹配的第一相对数据；
根据最匹配的第一相对数据和第二相对数据，将与所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据分别相对应的第一基板和第二基板选择出来，并输出给其他制造工序。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述最匹配的第一相对数据和第二相对数据为获得的与基准数据的偏差为最小的第一相对数据与第二相对数据。
8.如权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
判断复数片第二基板或者复数片第一基板是否全部完成匹配，当未全部完成匹配时，继续进行第一基板与第二基板的匹配。
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