CN101985741A - 一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法 - Google Patents

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曹永革
黄常刚
邓种华
王美丽
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Abstract

本发明涉及一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法。该法采用在真空状态下或往退火炉内充入一定量的惰性气体(如氮气、氩气等)、氢气或他们的混合气体对IZO透明导电膜进行退火处理,经退火处理后的IZO透明导电膜电阻率显著降低,而且退火后能保持IZO透明导电膜的高透过率。该法涉及的工艺条件为:气氛压强为10-4~105Pa,退火温度为80~600℃,退火时间为3秒~24小时。

Description

一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法
技术领域
本发明涉及一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,属于光电子功能材料技术领域。
背景技术
氧化物透明导电膜广泛应用于太阳能电池、平板显示等领域。掺锡氧化铟(ITO)是当前应用最广泛的透明导电膜,但是铟含量非常高(>90wt%),而铟属于稀缺资源,这就使ITO透明导电膜的成本高昂。氧化锌(ZnO)是一种廉价的宽禁带半导体,对于波长大于400nm以上的光具有优良的透过性,掺杂III-V族杂质以后导电性能显著提高。目前,铟掺杂的氧化锌(IZO)中铟含量~90%时,电阻率较低(~10-4Ωcm)(Thin Solid Films,2008,516:2045;J.Korean Phys.Soc.,2004,45:732;Jpn.J.Appl.Phys.,2004,43:745);而当铟含量较低(<10%)时电阻率一般都比较高(~10-3Ωcm)(Thin Solid Films,2005,484:184;J Mater.Sci.27(1992)4705;中国专利公开说明书CN200680026929.5)。为了降低铟的使用量和透明导电膜的成本,目前许多科研工作者都致力于研究低铟含量的透明导电膜,其工作主要集中在调节薄膜沉积工艺参数以期提高薄膜的导电性能。本发明提出了一种简单的提高低铟含量IZO透明导电膜导电性能的方法。
发明内容
针对当前低铟含量IZO透明导电膜电阻率较高的现状,本发明提出在真空状态下或往退火炉内充入一定量的惰性气体(如氮气、氩气等)、氢气或他们的混合气体对IZO透明导电膜进行退火处理达到提高导电性能的目的。退火过程中可采用电阻加热、微波加热、激光加热、电火花或电弧加热、中高频加热、等离子加热等加热方式,以达到预期的退火温度。根据不同的加热方式和退火气氛,可以控制不同的退火时间。本发明适用于采用磁控溅射方法在碱玻璃、石英玻璃、蓝宝石、氮化铝、氮化镓、碳化硅、氧化锌、硒化锌等透明衬底上沉积的IZO透明导电膜,薄膜厚度为2~2000nm。该透明导电膜可以是采用氧化锌靶与氧化铟靶(或金属铟靶)共溅射制备,也可以是采用铟掺杂氧化锌复合靶单靶溅射制备,还可以采用锌靶和铟靶反应溅射制备或者采用锌、铟合金靶反应溅射制备。该透明导电膜中铟含量较低(铟原子与铟原子和锌原子之和的原子比[In/(In+Zn)]≤50%,优选[In/(In+Zn)]≤10%)。本发明优化的退火工艺条件为:气氛压强为10-4~105Pa,退火温度为80~600℃,退火时间为3秒~24小时。
附图说明
图1为IZO透明导电膜在退火处理前后透过率对比图。从图中可以看出IZO透明导电膜在退火处理前后透过率都大于80%(在850nm处高达92%),而且经退火处理后IZO透明导电膜的透过率保持与退火前一致。
图2为IZO透明导电膜在退火处理前后X射线衍射谱对比图。从图中可以看出IZO透明导电膜在退火处理前后均保持为沿(002)取向的六方纤锌矿相结构。
具体实施方式
以下参考实施例进一步说明本发明。
实施例1
首先使用纯度为99.9%的氧化锌陶瓷靶和铟金属靶经磁控溅射方法共溅射沉积厚度为200nm左右的IZO透明导电膜,薄膜沉积工艺参数为:氩气流量为20sccm,氩气压强为0.5Pa,本底真空为2×10-4Pa,衬底温度为400℃,氧化锌靶和铟靶的射频溅射功率分别为10W/cm2和2W/cm2,偏压为-100V,样品转速为6转/分。经测试表明该IZO透明导电膜中铟原子与铟原子和锌原子之和的原子比[In/(In+Zn)]≈3.5%,铟含量非常低,其晶体结构为沿(002)取向的六方纤锌矿相结构,电阻率为1.3×10-3Ωcm,载流子浓度为1.1×1021/cm3,迁移率为4.53cm2V-1S-1,透过率为~85%(400~1500nm)。
然后将制备好的IZO透明导电膜放入到退火炉内,抽真空至10-2Pa后开始加热,待温度升到大于80℃时通入氩气、氮气、氢气或他们的混合气体,保持炉内压强为10-1~105Pa,恒温100分钟后停止加热同时停止通入气氛,保持炉内处于真空状态(10-2Pa),待温度降到室温后取出样品进行测试。测试结果表明经处理后电阻率为6.7×10-4Ωcm,载流子浓度为1.1×1021/cm3,迁移率为8.76cm2V-1S-1,透过率为~85%(400~1500nm)。说明退火处理有利于提高IZO透明导电膜的导电性能,但是透过率保持不变。

Claims (7)

1.一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:该方法采用在真空状态下或往退火炉内充入一定量的惰性气体、氢气或他们的混合气体对IZO透明导电膜进行退火处理。
2.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:该法涉及的退火气氛压强为10-4~105Pa,退火温度为80~600℃,根据不同加热方式和退火温度,退火时间为3秒~24小时。
3.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:退火方式可采用电阻加热、微波加热、激光加热、电火花或电弧加热、中高频加热、等离子加热等加热方式,以达到预期的退火温度。
4.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:所制备的IZO透明导电膜是采用磁控溅射方法在碱玻璃、石英玻璃、蓝宝石、氮化铝、氮化镓、碳化硅、氧化锌、硒化锌等透明衬底上制备,薄膜厚度为2~2000nm。
5.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:所针对的IZO透明导电膜可以是采用氧化锌靶与氧化铟靶或金属铟靶共溅射制备,也可以是采用铟掺杂氧化锌复合靶单靶溅射制备,还可以采用锌靶和铟靶反应溅射制备或者采用锌、铟合金靶反应溅射制备。
6.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:所针对的IZO透明导电膜中铟原子与铟原子和锌原子之和的原子比[In/(In+Zn)]≤50%。
7.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:利用该种方法退火处理后的具有优异光电性能的IZO导电膜,可应用于太阳能电池、发光二极管、液晶显示LCD、触摸屏、晶体管、平板显示等。
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