CN101985741A - 一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- FMRLDPWIRHBCCC-UHFFFAOYSA-L Zinc carbonate Chemical compound [Zn+2].[O-]C([O-])=O FMRLDPWIRHBCCC-UHFFFAOYSA-L 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 5
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 24
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 16
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 9
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 8
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N (fluoren-9-ylideneamino) n-naphthalen-1-ylcarbamate Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C1=NOC(=O)NC1=CC=CC2=CC=CC=C12 PFNQVRZLDWYSCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910000846 In alloy Inorganic materials 0.000 claims description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims description 2
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- 238000004093 laser heating Methods 0.000 claims description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 4
- 229960001296 zinc oxide Drugs 0.000 claims 3
- 229910017083 AlN Inorganic materials 0.000 claims 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 abstract description 8
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- -1 etc.) Chemical compound 0.000 abstract description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 abstract description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000010892 electric spark Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000008204 material by function Substances 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法。该法采用在真空状态下或往退火炉内充入一定量的惰性气体(如氮气、氩气等)、氢气或他们的混合气体对IZO透明导电膜进行退火处理,经退火处理后的IZO透明导电膜电阻率显著降低,而且退火后能保持IZO透明导电膜的高透过率。该法涉及的工艺条件为:气氛压强为10-4~105Pa,退火温度为80~600℃,退火时间为3秒~24小时。
Description
技术领域
本发明涉及一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,属于光电子功能材料技术领域。
背景技术
氧化物透明导电膜广泛应用于太阳能电池、平板显示等领域。掺锡氧化铟(ITO)是当前应用最广泛的透明导电膜,但是铟含量非常高(>90wt%),而铟属于稀缺资源,这就使ITO透明导电膜的成本高昂。氧化锌(ZnO)是一种廉价的宽禁带半导体,对于波长大于400nm以上的光具有优良的透过性,掺杂III-V族杂质以后导电性能显著提高。目前,铟掺杂的氧化锌(IZO)中铟含量~90%时,电阻率较低(~10-4Ωcm)(Thin Solid Films,2008,516:2045;J.Korean Phys.Soc.,2004,45:732;Jpn.J.Appl.Phys.,2004,43:745);而当铟含量较低(<10%)时电阻率一般都比较高(~10-3Ωcm)(Thin Solid Films,2005,484:184;J Mater.Sci.27(1992)4705;中国专利公开说明书CN200680026929.5)。为了降低铟的使用量和透明导电膜的成本,目前许多科研工作者都致力于研究低铟含量的透明导电膜,其工作主要集中在调节薄膜沉积工艺参数以期提高薄膜的导电性能。本发明提出了一种简单的提高低铟含量IZO透明导电膜导电性能的方法。
发明内容
针对当前低铟含量IZO透明导电膜电阻率较高的现状,本发明提出在真空状态下或往退火炉内充入一定量的惰性气体(如氮气、氩气等)、氢气或他们的混合气体对IZO透明导电膜进行退火处理达到提高导电性能的目的。退火过程中可采用电阻加热、微波加热、激光加热、电火花或电弧加热、中高频加热、等离子加热等加热方式,以达到预期的退火温度。根据不同的加热方式和退火气氛,可以控制不同的退火时间。本发明适用于采用磁控溅射方法在碱玻璃、石英玻璃、蓝宝石、氮化铝、氮化镓、碳化硅、氧化锌、硒化锌等透明衬底上沉积的IZO透明导电膜,薄膜厚度为2~2000nm。该透明导电膜可以是采用氧化锌靶与氧化铟靶(或金属铟靶)共溅射制备,也可以是采用铟掺杂氧化锌复合靶单靶溅射制备,还可以采用锌靶和铟靶反应溅射制备或者采用锌、铟合金靶反应溅射制备。该透明导电膜中铟含量较低(铟原子与铟原子和锌原子之和的原子比[In/(In+Zn)]≤50%,优选[In/(In+Zn)]≤10%)。本发明优化的退火工艺条件为:气氛压强为10-4~105Pa,退火温度为80~600℃,退火时间为3秒~24小时。
附图说明
图1为IZO透明导电膜在退火处理前后透过率对比图。从图中可以看出IZO透明导电膜在退火处理前后透过率都大于80%(在850nm处高达92%),而且经退火处理后IZO透明导电膜的透过率保持与退火前一致。
图2为IZO透明导电膜在退火处理前后X射线衍射谱对比图。从图中可以看出IZO透明导电膜在退火处理前后均保持为沿(002)取向的六方纤锌矿相结构。
具体实施方式
以下参考实施例进一步说明本发明。
实施例1
首先使用纯度为99.9%的氧化锌陶瓷靶和铟金属靶经磁控溅射方法共溅射沉积厚度为200nm左右的IZO透明导电膜,薄膜沉积工艺参数为:氩气流量为20sccm,氩气压强为0.5Pa,本底真空为2×10-4Pa,衬底温度为400℃,氧化锌靶和铟靶的射频溅射功率分别为10W/cm2和2W/cm2,偏压为-100V,样品转速为6转/分。经测试表明该IZO透明导电膜中铟原子与铟原子和锌原子之和的原子比[In/(In+Zn)]≈3.5%,铟含量非常低,其晶体结构为沿(002)取向的六方纤锌矿相结构,电阻率为1.3×10-3Ωcm,载流子浓度为1.1×1021/cm3,迁移率为4.53cm2V-1S-1,透过率为~85%(400~1500nm)。
然后将制备好的IZO透明导电膜放入到退火炉内,抽真空至10-2Pa后开始加热,待温度升到大于80℃时通入氩气、氮气、氢气或他们的混合气体,保持炉内压强为10-1~105Pa,恒温100分钟后停止加热同时停止通入气氛,保持炉内处于真空状态(10-2Pa),待温度降到室温后取出样品进行测试。测试结果表明经处理后电阻率为6.7×10-4Ωcm,载流子浓度为1.1×1021/cm3,迁移率为8.76cm2V-1S-1,透过率为~85%(400~1500nm)。说明退火处理有利于提高IZO透明导电膜的导电性能,但是透过率保持不变。
Claims (7)
1.一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:该方法采用在真空状态下或往退火炉内充入一定量的惰性气体、氢气或他们的混合气体对IZO透明导电膜进行退火处理。
2.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:该法涉及的退火气氛压强为10-4~105Pa,退火温度为80~600℃,根据不同加热方式和退火温度,退火时间为3秒~24小时。
3.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:退火方式可采用电阻加热、微波加热、激光加热、电火花或电弧加热、中高频加热、等离子加热等加热方式,以达到预期的退火温度。
4.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:所制备的IZO透明导电膜是采用磁控溅射方法在碱玻璃、石英玻璃、蓝宝石、氮化铝、氮化镓、碳化硅、氧化锌、硒化锌等透明衬底上制备,薄膜厚度为2~2000nm。
5.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:所针对的IZO透明导电膜可以是采用氧化锌靶与氧化铟靶或金属铟靶共溅射制备,也可以是采用铟掺杂氧化锌复合靶单靶溅射制备,还可以采用锌靶和铟靶反应溅射制备或者采用锌、铟合金靶反应溅射制备。
6.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:所针对的IZO透明导电膜中铟原子与铟原子和锌原子之和的原子比[In/(In+Zn)]≤50%。
7.权利要求1所述的提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法,其特征在于:利用该种方法退火处理后的具有优异光电性能的IZO导电膜,可应用于太阳能电池、发光二极管、液晶显示LCD、触摸屏、晶体管、平板显示等。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2009101122715A CN101985741A (zh) | 2009-07-29 | 2009-07-29 | 一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2009101122715A CN101985741A (zh) | 2009-07-29 | 2009-07-29 | 一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101985741A true CN101985741A (zh) | 2011-03-16 |
Family
ID=43710139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2009101122715A Pending CN101985741A (zh) | 2009-07-29 | 2009-07-29 | 一种提高铟掺杂氧化锌透明导电膜导电性能的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN101985741A (zh) |
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