CN101939657A - 存储设备的运送、夹紧和测试 - Google Patents

Abstract

一种存储设备运送器(400，400b，400c)，用于运送存储设备(600)和用于将存储设备安装在测试槽(500，500b)内，包括被构造成接收和支撑存储设备的框架(410，410b，410c)。所述框架包括侧壁(418，425a，425b，429a，429b)，所述侧壁被构造成在其间接收存储设备并且被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中。该框架还包括与侧壁中的至少一个以可操作的方式关联的夹紧机构(450)。夹紧机构包括第一接合元件(476，700，750)和第一致动器(454，710，760)，该第一致动器能够操作以启动第一接合元件的运动。在由框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第一接合元件移动成与测试槽形成接合。

Description

存储设备的运送、夹紧和测试

技术领域

本公开涉及存储设备的运送、夹紧和测试。

背景技术

磁盘驱动器制造商典型地测试已制造的磁盘驱动器以便符合要求的集合。存在用来串联地或并联地测试大量磁盘驱动器的测试设备和技术。制造商倾向于同时地或成批地测试大量磁盘驱动器。磁盘驱动器测试系统典型地包括具有接收用于测试的磁盘驱动器的多个测试槽的一个或更多个测试机架。在一些情况下，磁盘驱动器放置在用于将磁盘驱动器装载到测试机架和从测试机架卸载磁盘驱动器的运载体中。

磁盘驱动器的紧邻周围的测试环境被精密地调节。测试环境中的最小温度波动对于精确测试条件和磁盘驱动器的安全来说是关键的。具有更大容量、更快旋转速度和更小磁头间隙的最新一代磁盘驱动器对振动更加敏感。过度的振动可影响测试结果的可靠性和电连接的完整性。在测试条件下，驱动器它们自己可通过支撑结构或固定件将振动传播到相邻单元。这种振动“串扰”与外部振动源一起促成冲击错误(bump error)、磁头拍打和不可重复偏离(NRRO)，这些可导致较低的合格率和增加的制造成本。目前的磁盘驱动器测试系统采用启动系统中的过度振动和/或需要大的占地面积的自动化和结构支撑系统。

在一些情况中，为了对抗不希望的振动，磁盘驱动器被夹紧到载体和/或测试机架以便抑制或阻尼振动。

发明内容

在一个方面中，一种存储设备运送器，用于运送存储设备和用于将存储设备安装在测试槽内，包括被构造成接收和支撑存储设备的框架。该框架包括一对侧壁，这对侧壁被构造成在其间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中。该框架还包括与侧壁中的至少一个以可操作的方式关联的夹紧机构。夹紧机构包括第一接合元件和第一致动器，该第一致动器能够操作以启动第一接合元件的运动。在由框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第一接合元件移动成与测试槽形成接合。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，第一致动器能够操作以将第一接合元件移动成与由框架支撑的存储设备形成接合。

在某些实施例中，第一接合元件包括第一和第二接合构件。在一些情况中，第一致动器能够操作以启动第一和第二接合构件的运动。

在一些实施例中，在由框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第一接合构件移动成与测试槽形成接合。在一些情况中，第一致动器能够操作以将第二接合构件移动成与由框架支撑的存储设备形成接合。

在某些实施例中，第二接合构件包括阻尼器。阻尼器可包括选自热塑性塑料和/或热固性橡胶(rubberthermoset)的阻尼材料。阻尼器可包括隔离或阻尼材料。

在一些实施例中，第一致动器能够操作以使第一和第二接合构件沿大体上相反的方向相对于彼此移动。在一些情况中，第一致动器能够操作以大体上同时地移动第一和第二接合构件。

在某些实施例中，第一接合元件包括被构造成与测试槽中的配合特征部接合的隆起。

在一些实施例中，第一接合元件包括阻尼器。阻尼器可包括选自热塑性塑料和/或热固性橡胶的阻尼材料。

在某些实施例中，第一接合元件包括弹簧夹具。弹簧夹具包括基部以及第一和第二弹簧臂。第一和第二弹簧臂各包括连接到基部的近端以及可移位的远端。在一些情况中，致动器能够操作以启动第一和第二弹簧臂的远端的运动。

在一些实施例中，第一致动器可相对于框架枢转以启动第一接合元件的运动。

在某些实施例中，第一致动器包括沿第一轴线从近端延伸到远端的细长本体。第一致动器可绕第一轴线旋转以启动第一接合构件的运动。

在一些实施例中，第一致动器可相对于框架线性移位以启动第一接合构件的运动。

在某些实施例中，侧壁中的第一个限定第一致动器槽，并且第一致动器至少部分地布置在第一致动器槽内。在一些情况中，第一致动器可在第一致动器槽内移动以启动第一接合构件的运动。

在一些实施例中，夹紧机构包括第二接合元件，并且第一致动器能够操作以启动第二接合元件的运动。在一些情况中，在由框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第二接合元件移动成与测试槽形成接合。在一些情况中，第一致动器能够操作以将第二接合元件移动成与由框架支撑的存储设备形成接合。

在某些实施例中，夹紧机构包括第二接合元件，并且第二致动器能够操作以启动第二接合元件的运动。在一些情况中，第二致动器可以独立于第一致动器地操作以启动第二接合元件的运动。在某些情况中，在由框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，第二致动器能够操作以将第二接合元件移动成与测试槽形成接合。在一些情况中，第二致动器能够操作以将第二接合元件移动成与由框架支撑的存储设备形成接合。

在一些实施例中，第一致动器限定用于启动第一接合元件的运动的致动特征部。在一些情况中，致动特征部包括楔形部和凹进部。

在某些实施例中，框架包括连接到侧壁的基板。在一些情况中，侧壁和基板一起限定用于从支架俘获存储设备的大体上U形的开口。

在另一方面中，存储设备测试槽包括限定测试隔室的外壳，该测试隔室用于接收和支撑携载用于测试的存储设备的存储设备运送器。该外壳还限定敞开端部，该敞开端部提供到测试隔室的通路以便插入和移除携载用于测试的存储设备的存储设备运送器。测试槽还包括安装到外壳的第一接合元件。第一接合元件被构造成当存储设备运送器被插入到测试隔室中时与由存储设备运送器携载的存储设备接合。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，第一接合元件包括夹紧弹簧。

在某些实施例中，第一接合元件包括阻尼器。在一些情况中，阻尼器被构造成当存储设备运送器被插入到测试隔室中时与由存储设备运送器携载的存储设备接合。在某些情况中，阻尼器包括阻尼材料，该阻尼材料包括热塑性塑料和热固性橡胶。

在另外的方面中，存储设备测试系统包括自动机械和存储设备运送器。存储设备运送器包括被构造成接收和支撑存储设备的框架。该自动机械被构造成以可释放的方式与框架接合以控制存储设备运送器的运动。存储设备测试系统还包括：装载站，该装载站用于存储要被测试的存储设备；和测试槽，该测试槽被构造成接收和支撑携载存储设备的存储设备运送器。该自动机械能够操作以利用存储设备运送器从装载站移除存储设备和将存储设备运送器在其内具有存储设备的情况下插入到测试槽中。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，自动机械包括机器人。机器人可包括例如可移动的臂和连接到该可移动的臂的机械手。在一些情况中，机械手被构造成以可释放的方式与框架接合以控制存储设备运送器的运动。在某些情况中，机器人能够操作以利用存储设备运送器从装载站移除存储设备和将存储设备运送器在其内具有存储设备的情况下插入到测试槽中。

在某些实施例中，框架包括限定有凹陷的面板，该凹陷被构造成可以被自动机械以可释放的方式接合。

在一些实施例中，框架包括夹紧机构。在一些情况中，夹紧机构包括第一接合元件和第一致动器，该第一致动器能够操作以启动第一接合元件的运动。在某些例子中，在由框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第一接合元件移动成与测试槽形成接合。在某些情况中，自动机械被构造成控制夹紧机构的操作。在一些情况中，该框架包括一对侧壁，这对侧壁被构造成在其间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中以用于存储设备的测试。在一些例子中，夹紧机构以可操作的方式与侧壁中的至少一个关联。

在又一方面中，一种存储设备运送器，用于运送存储设备和用于将存储设备安装在测试槽内，包括具有一对侧壁的框架，这对侧壁被构造成在其间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中。该框架也包括连接侧壁的基板。侧壁和基板一起限定用于从支架俘获存储设备的大体上U形的开口。

在另外的方面中，一种测试存储设备的方法包括：致动自动机械以与存储设备运送器接合；利用存储设备运送器俘获存储设备；和随后致动自动机械以将存储设备运送器和俘获的存储设备插入到测试槽中。俘获存储设备包括使用自动机械将存储设备运送器移动成与存储设备形成接合。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在某些实施例中，致动自动机械包括致动机器人臂。

在一些实施例中，存储设备运送器包括能够操作以将存储设备运送器夹紧到测试槽的夹紧机构，并且该方法包括在存储设备运送器和俘获的存储设备被插入到测试槽中之后致动自动机械以操作夹紧组件并且因此将存储设备运送器夹紧到测试槽。

在某些实施例中，俘获存储设备包括：致动自动机械以将存储设备运送器移动到存储设备下方的位置中；和致动自动机械以将存储设备运送器升高到与存储设备接合的位置中。

在另一方面中，一种测试存储设备的方法包括：致动自动机械以将携载存储设备的存储设备运送器插入到测试槽中；和在存储设备运送器和俘获的存储设备被插入到测试槽中之后，致动自动机械以操作夹紧机构并且因此将存储设备运送器夹紧到测试槽。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，致动自动机械包括致动机器人臂。

在某些实施例中，该方法可包括致动自动机械以与夹紧组件接合并且因此将存储设备运送器夹紧到俘获的存储设备。

在另外的方面中，测试槽组件包括测试槽和存储设备运送器。测试槽包括限定测试隔室和敞开端部的外壳，该敞开端部提供到测试隔室的通路。存储设备运送器包括被构造成接收和支撑存储设备的框架。该框架包括一对侧壁，这对侧壁被构造成在其间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试隔室中。该框架还包括与侧壁中的至少一个以可操作的方式关联的夹紧机构。夹紧机构包括第一接合元件和第一致动器，该第一致动器能够操作以启动第一接合元件的运动。在由框架支撑的存储设备被布置在测试隔室中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第一接合元件移动成与外壳形成接合。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，第一接合元件包括第一和第二接合构件，并且第一致动器能够操作以启动第一和第二接合构件的运动。在一些例子中，在由框架支撑的存储设备被布置在测试隔室中的测试位置中之后，第一致动器能够操作以将第一接合构件移动成与测试槽形成接合，并且第一致动器能够操作以将第二接合构件移动成与由框架支撑的存储设备形成接合。在一些情况中，第二接合构件包括阻尼器。在一些实施例中，第一致动器能够操作以使第一和第二接合构件沿大体上相反的方向相对彼此移动。在一些例子中，第一致动器能够操作以大体上同时地移动第一和第二接合构件。

在某些实施例中，外壳包括一对直立壁，这对直立壁被构造成在其间接收框架的侧壁。在一些情况中，直立壁中的第一个包括接合特征部，并且第一接合元件包括被构造成与该接合特征部接合的隆起。在一些例子中，在侧壁被插入到测试隔室中之后，第一致动器能够操作以将隆起移动成与接合特征部形成接合。

在又一方面中，测试槽组件包括存储设备运送器和外壳。存储设备运送器包括被构造成接收和支撑存储设备的框架。框架包括一对侧壁，这对侧壁被构造成在其间接收存储设备。侧壁中的第一个限定贯通孔口。外壳限定：测试隔室，该测试隔室用于接收和支撑存储设备运送器；和敞开端部，该敞开端部提供到测试隔室的通路以便插入和移除存储设备运送器。测试槽组件还包括安装到外壳的第一接合元件。第一接合元件被构造成当存储设备运送器被插入到测试隔室中时延伸穿过贯通孔口以与由存储设备运送器携载的存储设备接合。

在另外的方面中，一种存储设备测试系统包括自动机械和存储设备运送器。存储设备运送器包括被构造成接收和支撑存储设备的框架。存储设备运送器还包括夹紧机构。夹紧机构包括第一接合元件和第一致动器，该第一致动器能够操作以启动第一接合元件的运动。自动机械被构造成控制夹紧机构的操作。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，自动机械被构造成以可释放的方式与框架接合以控制存储设备运送器的运动。

在某些实施例中，自动机械包括机器人。机器人可包括可移动的臂和连接到该可移动的臂的机械手。在一些情况中，例如，机械手被构造成以可释放的方式与框架接合以控制存储设备运送器的运动。在一些例子中，机械手能够操作以控制夹紧机构的操作。

在一些实施例中，框架包括限定有凹陷的面板，该凹陷被构造成能够被自动机械以可释放的方式接合。

在另一方面中，一种运送用于测试的存储设备的方法包括：致动自动机械并因此在第一测试槽和装载站之间移动携载第一存储设备的存储设备运送器；和致动自动机械以操作夹紧机构使得存储设备运送器在第一测试槽与装载站之间的运动期间被夹紧到第一存储设备。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中。在某些实施例中，在第一测试槽与装载站之间移动存储设备运送器包括将携载第一存储设备的存储设备运送器从装载站移动到第一测试槽。

在一些实施例中，在第一测试槽和装载站之间移动存储设备运送器包括将携载第一存储设备的存储设备运送器从第一测试槽移动到装载站。

在某些实施例中，致动自动机械以操作夹紧机构包括在第一测试槽和装载站之间移动存储设备运送器之前将存储设备运送器夹紧到第一存储设备。

在一些实施例中，致动自动机械以操作夹紧机构包括在存储设备运送器在第一测试槽和装载站之间移动时将存储设备运送器夹紧到第一存储设备。

在某些实施例中，该方法包括：致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第一存储设备松开存储设备运送器；和随后致动自动机械以将存储设备运送器和第一存储设备插入到第一测试槽中。该方法还可包括在存储设备运送器和第一存储设备被插入到第一测试槽中之后，致动自动机械以操作夹紧机构并且因此将存储设备运送器夹紧到第一测试槽。

在一些实施例中，该方法包括：致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第一测试槽松开存储设备运送器；和随后致动自动机械以从第一测试槽移除存储设备运送器。在一些情况中，该方法还可包括在从第一测试槽移除存储设备运送器之前致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第一存储设备松开存储设备运送器。

在某些实施例中，该方法包括：致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第二测试槽松开存储设备运送器；和随后致动自动机械并因此从第二测试槽移除存储设备运送器。在一些情况中，该方法还包括在从第二测试槽移除存储设备运送器之后利用存储设备运送器从装载站俘获第一存储设备。俘获第一存储设备包括使用自动机械将存储设备运送器移动成与第一存储设备形成接合。在一些例子中，该方法还包括致动自动机械以操作夹紧机构并且因此从第二存储设备松开存储设备运送器。从第二测试槽移除存储设备运送器包括从第二测试槽移除携载第二存储设备的存储设备运送器。该方法还可包括：致动自动机械并因此在第二测试槽与装载站之间移动携载第二存储设备的存储设备运送器；和致动自动机械以操作夹紧机构使得存储设备运送器在第二测试槽与装载站之间的运动期间被夹紧到第二存储设备。在一些情况中，该方法包括致动自动机械以将存储设备运送器和第二存储设备插入到装载站处的存储设备容座中。

在一些实施例中，该方法包括：致动自动机械以将存储设备运送器插入到第一测试槽中；和然后，在存储设备运送器被插入到第一测试槽中之后，致动自动机械以操作夹紧机构并且因此将存储设备运送器夹紧到第一测试槽。

在另外的方面中，一种运送用于测试的存储设备的方法包括：致动自动机械并因此在第一测试槽与第二测试槽之间移动携载第一存储设备的存储设备运送器；和致动自动机械以操作夹紧机构使得存储设备运送器在第一测试槽和第二测试槽之间的运动期间被夹紧到第一存储设备。

实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中。在某些实施例中，致动自动机械以操作夹紧机构包括在第一测试槽与第二测试槽之间移动存储设备运送器之前将存储设备运送器夹紧到第一存储设备。

在一些实施例中，致动自动机械以操作夹紧机构包括当存储设备运送器在第一测试槽和第二测试槽之间移动时将存储设备运送器夹紧到第一存储设备。

在某些实施例中，在第一测试槽和第二测试槽之间移动存储设备运送器包括从第一测试槽向第二测试槽移动携载第一存储设备的存储设备运送器。在一些情况中，该方法还包括：致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第一测试槽松开存储设备运送器；和随后致动自动机械以从第一测试槽移除存储设备运送器。该方法还可包括在从第一测试槽移除存储设备运送器之前致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第一存储设备松开存储设备运送器。

在一些实施例中，该方法包括：致动自动机械以操作夹紧机构并因此从第一存储设备松开存储设备运送器；和随后致动自动机械以将存储设备运送器和第一存储设备插入到第二测试槽中。在一些例子中，该方法还包括：在存储设备运送器和第一存储设备被插入到第二测试槽中之后，致动自动机械以操作夹紧机构并且因此将存储设备运送器夹紧到第二测试槽。

在下面的附图和描述中阐述本发明的一个或多个实施例的细节。通过描述和附图，以及通过权利要求，本发明的其它特征、目的和优点将是明显的。

附图说明

图1是存储设备测试系统的透视图。

图2A是测试机架的透视图。

图2B是图2A的测试机架的槽组的详细透视图。

图3是测试槽组件的透视图。

图4A和图4B是自测试和功能测试电路系统的示意图。

图5是装载站的透视图。

图6是储箱和存储设备的透视图。

图7是存储设备测试系统的示意图。

图8是存储设备运送器的分解透视图。

图9是夹紧机构的透视图。

图10A和图10B是弹簧夹具的透视图。

图11是致动器的透视图。

图12A和图12B是存储设备运送器框架的透视图。

图13A-13D示出存储设备运送器的组装。

图14是存储设备运送器的透视图。

图15A是弹簧夹具处于接合位置的存储设备运送器的剖视平面图。

图15B是图15A的弹簧夹具中的一个的详细视图。

图16A是弹簧夹具处于脱离位置的存储设备运送器的剖视平面图。

图16B是图16A的弹簧夹具中的一个的详细视图。

图17A和17B是支撑存储设备的存储设备运送器的透视图和平面图。

图18是夹紧到存储设备的存储设备运送器的平面图。

图19A是测试槽的透视图。

图19B是图19A的测试槽的测试隔室的透视图。

图20A是示出被插入在测试槽中的支撑存储设备的存储设备运送器的平面图。

图20B是图20A的弹簧夹具的详细视图。

图21是从储箱俘获存储设备的存储设备运送器的示意图。

图22是测试槽组件的透视图。

图23A是测试槽的透视图。

图23B是图23A的测试槽的测试隔室的透视图。

图24是夹紧弹簧的透视图。

图25A和25B是存储设备运送器的透视图。

图25C是支撑存储设备的图25A和图25B的存储设备运送器的透视图。

图26A是示出被插入在测试槽中的存储设备运送器的透视图。

图26B是示出被插入在测试槽中的支撑存储设备的存储设备运送器的平面图。

图27A和图27B是存储设备运送器的透视图。

图28是弹簧夹具的透视图。

图29是夹紧组件的透视图。

图30A示出处于接合位置的图29的夹紧组件。

图30B示出处于脱离位置的图29的夹紧组件。

图31是支撑存储设备的图27A和图27B的存储设备运送器的透视图。

图32是示出被插入在测试槽中的支撑存储设备的存储设备运送器的平面图。

图33A和图33B是存储设备运送器的透视图。

图34是弹簧夹具的透视图。

图35是夹紧组件的透视图。

图36A是存储设备运送器的侧视图，示出了处于接合位置的致动器。

图36B示出处于接合位置的图35的夹紧组件。

图37A是示出处于脱离位置的致动器的存储设备运送器的侧视图。

图37B示出处于脱离位置的图35的夹紧组件。

图38是支撑存储设备的图33A和图33B的存储设备运送器的透视图。

各个附图中的相似附图标记表示相似元件。

具体实施方式

系统概述

如图1所示，存储设备测试系统10包括多个测试机架100(例如，示出的10个测试机架)、装载站200、和机器人300。如图2A和2B中示出的，每个测试机架100包括多个槽组110，并且每个槽组110保持多个测试槽组件120。如图3中所示，每个测试槽组件120包括存储设备运送器400和测试槽500。存储设备运送器400用于(例如，从装载站)俘获存储设备600(图6)并且用于将存储设备600运送到测试槽500中的一个以便测试。如在这里使用的存储设备包括磁盘驱动器、固态驱动器、内存设备和需要用于确认的异步测试的任何设备。磁盘驱动器通常是将数字编码数据存储在具有磁表面的快速旋转的磁盘上的非易失存储设备。固态驱动器(SSD)是使用固态存储器来存储持久性数据的数据存储设备。使用SRAM或DRAM(代替闪速存储器)的SSD通常称为RAM驱动器。术语固态主要将固态电子设备与机电装置区别。

参考图4A，在一些实施例中，存储设备测试系统10还包括与测试槽500通信的至少一台计算机130。计算机130可以被构造成提供存储设备600的库存控制和/或自动接口以控制存储设备测试系统10。温度控制系统140控制每个测试槽500的温度。温度控制系统140可包括鼓风机(例如，风扇142)，所述鼓风机可操作以使空气通过测试槽500循环。振动控制系统150控制每个测试槽500的振动。数据接口160与每个测试槽500通信。数据接口160被构造成与测试槽500内的磁盘驱动器600通信。

如图4B中示出的，电源系统170向存储设备测试系统10供电。电源系统170可监视和/或调节到测试槽500中的存储设备600的电源。在图4B中示出的例子中，每个机架100包括与至少一个测试槽500通信的至少一个自测试系统180。自测试系统180包括群集控制器181、与测试槽500内的存储设备600电通信的连接接口电路182、和与连接接口电路182电通信的块接口电路183。在一些例子中，群集控制器181被构造成运行一个或多个测试程序，其容量为近似120个自测试和/或60个存储设备600的功能性测试。连接接口电路182和块接口电路183被构造成进行自测试。然而，自测试系统180可包括自测试电路184，该自测试电路184被构造成执行和控制存储设备测试系统10的一个或多个部件上的自测试例程。群集控制器181可以经由以太网(例如，千兆位以太网)与自测试电路184通信，该自测试电路184可以与块接口电路183通信并且经由通用异步接收/发送器(UART)串行链路通信到连接接口电路182和存储设备600上。UART通常是用于计算机或外围设备串行端口上的串行通信的单个集成电路(或集成电路的一部分)。块接口电路183被配置成控制测试槽500的电源和温度，并且可控制多至六个测试槽500和/或存储设备600。

在一些例子中，每个机架100包括与至少一个测试槽500通信的至少一个功能测试系统190。功能测试系统190包括群集控制器181和与群集控制器(例如，群集PC 181)电通信的至少一个功能接口电路191。连接接口电路182与测试槽500内的存储设备600和功能接口电路191电通信。功能接口电路191被配置成向存储设备600通信功能测试例程。功能测试系统190可包括通信交换机192(例如，千兆位以太网)以在群集控制器181和一个或多个功能接口电路191之间提供电通信。计算机130、通信交换机192、群集控制器181和功能接口电路191可以在以太网网络上通信。然而，可以使用其它形式的通信。功能接口电路191可经由并行AT连接(也称为IDE、ATA、ATAPI、UDMA和PATA的硬盘接口)、SATA或SAS(串行连接的SCSI)与连接接口电路182通信。

如图5中示出的，装载站200包括装载站本体210，该装载站本体限定被布置在装载站本体210的相反侧上的第一组储箱容座212a和第二组储箱容座212b。装载站200还包括装载站基座214和大体上垂直于装载站基座214且从装载站基座214向上延伸的心轴216。第一本体部分218a、第二本体部分218b和第三本体部分218c以可旋转的方式固定到心轴216。第一本体部分218a、第二本体部分218b和第三本体部分218c中的每一个可相对于其它的本体部分独立地旋转。

装载站200还包括储箱220，该储箱220被构造成以可拆卸的方式安装在储箱容座212a、212b内。如图6中示出的，储箱220包括限定多个存储设备容座224(例如，示出的30个)的储箱本体222，该多个存储设备容座224被构造成各容纳存储设备600。存储设备容座224中的每一个均包括存储设备支架226，该存储设备支架226被构造成支撑被接收的存储设备600的中心部分以允许沿非中心部分操纵存储设备600。再次参考图5，储箱200可以通过第一组储箱容座212a装载并且随后经由第一、第二和第三本体部分218a-c旋转成与第二组储箱容座212b对齐以便由机器人300提供服务。

如图7中示出的，机器人300包括机器人臂310和被布置在机器人臂310的远端的机械手312。机器人臂310限定大体上垂直于地板表面316的第一轴线314并且可操作以绕第一轴线314旋转过预定弧度并且从第一轴线314大体上沿径向延伸。机器人臂310被构造成通过在装载站200和测试机架100中的一个测试机架之间传送存储设备600而独立地服务于每个测试槽500。特别地，机器人臂310被构造成借助机械手312从测试槽500中的一个移除存储设备运送器400，然后借助存储设备运送器400从装载站200处的存储设备容座224中的一个拾取存储设备600，并且随后将在其内具有存储设备600的存储设备运送器400返回到测试槽500以便对存储设备600进行测试。在测试之后，机器人臂310从测试槽500取回与被支撑的存储设备600一起的存储设备运送器400并且将其返回到装载站200处的存储设备容座224中的一个。

存储设备运送器

如图8中示出的，存储设备运送器400包括框架410和夹紧机构450。如图9中示出的，夹紧机构包括一对夹紧组件452，该对夹紧组件452各包括致动器454和一对弹簧夹具(即，近和远弹簧夹具456a、456b)。如图10A和10B中示出的，弹簧夹具456a、456b包括基部458以及第一弹簧臂460a和第二弹簧臂460b，该第一弹簧臂和第二弹簧臂各具有连接到基部458的近端462和可移位的远端464。弹簧夹具456a、456b可以由例如不锈钢的片材金属形成。在它们的近端462和远端464之间，弹簧臂460a、460b限定窄的区域466、宽的区域468和其间的一对边缘470。如图10A中示出的，第一弹簧臂460a包括具有阻尼器474的第一接合构件472。阻尼器474可由例如热塑性塑料、热固性塑料等形成。如图10B中示出的，第二弹簧臂460b包括限定隆起478的第二接合构件476。弹簧夹具456a、456b中的每一个还包括从基部458向外延伸的安装突片480。如下面更详细地论述的，在组装之后，弹簧夹具456a、456b安装到框架410并且与致动器454以可操作的方式关联(例如，用于夹紧框架内的硬盘驱动器600和/或用于夹紧测试槽500中的一个内的框架)。

如图11中示出的，致动器454中的每一个包括限定致动特征部的内表面481a和外表面481b。致动特征部包括楔形部482和凹进部483。致动器454还限定有在内表面481a和外表面481b之间延伸的开口484。在它们的近端485处，致动器454包括致动器插孔486，该致动器插孔486被构造成可以与机械手312接合以便控制致动器454相对于框架410的运动。

如图12A和图12B中示出的，框架410包括面板412。沿着第一表面414，面板412限定凹陷416。凹陷416可以被机器人臂310的机械手312以可释放的方式接合，这允许机器人臂310抓住和移动存储设备运送器400。面板412还包括斜切边缘417。当存储设备运送器400被插入到测试槽500中的一个中时，面板412的斜切边缘417邻接测试槽500的互补斜切边缘515以形成密封，该密封如下所述有助于阻止空气流入和流出测试槽500。

仍然参考图12A和图12B，框架410还包括：一对侧壁418，该对侧壁418从面板412的第二表面420向外延伸；和基板422，该基板422在侧壁418之间延伸并且连接侧壁418。侧壁418和基板422一起限定大体上U形的开口，如下面更详细地描述的，该开口允许存储设备运送器400用于从储箱220中的存储设备支架226俘获存储设备600。如图12B中示出的，沿着第二表面420，面板412限定突起423，该突起423可辅助将力施加到存储设备600以帮助确保存储设备连接器610(图17A)和测试槽连接器524(图19A和图19B)之间的配合连接。

侧壁418间隔开以在其间接收存储设备600(以隐线示出)，并且限定用于支撑存储设备600的表面424。侧壁418还限定有回钩426，该回钩426可用于从测试槽500抽出存储设备600(例如，用于从测试槽500中的配合连接器分离存储设备上的连接器)。侧壁418还限定有引入部分428(例如，倒角边缘)，该引入部分428可帮助使存储设备600在框架410中对中。

侧壁418各限定一对贯通孔口430，这对贯通孔口在侧壁418的内表面432a和外表面432b之间延伸。在组装之后，弹簧夹具456a、456b中对应的一个与贯通孔口430中的每一个关联。侧壁418还限定有致动器槽434，该致动器槽434从每个侧壁418的近端435延伸到远端436。面板412限定一对孔口437，这对孔口437在面板的第一表面414和第二表面420之间延伸，并且这对孔口437允许存取致动器槽434。侧壁418还限定有局部通孔438，该局部通孔438提供从侧壁418的外表面432b到致动器槽434的通路。

图13A-D示出夹紧机构450与框架410的组装。如图13A中示出的，远弹簧夹具456b通过侧壁418的远端436中的开口439插入到致动器槽434中。在插入期间，远弹簧夹具456b的可移位远端464被致动器槽434的内表面压缩，使得远弹簧夹具456b的宽的区域468装配在对应的致动器槽434内。然后，远弹簧夹具456b前进到致动器槽434中直到边缘470到达远贯通孔口430，在该点处，远弹簧夹具456b的远端464朝向它们的静止位置向外延伸，边缘470邻接贯通孔口430的表面。在这个位置中，边缘470阻止远弹簧夹具456b的向后运动(由箭头50指示)并且突片480邻接侧壁418的远端436以阻止远弹簧夹具456b的向前运动(由箭头52指示)。以这种方式，远弹簧夹具456b大体上以抵抗在致动器槽434内的进一步线性运动的方式被固定。

接下来，如图13B中示出的，致动器454中的第一个通过面板412被插入到致动器槽434的第一个中并且前进到槽434中直到致动器454中的开口484与关联的侧壁418中的部分通孔438对齐。在致动器454在这个位置中的情况下，近弹簧夹具456a中的第一个可以通过局部通孔438在开口484中对齐，如图13C中所示。参考图13D，在近弹簧夹具456a如此对齐的情况下，致动器454可以缩回(如箭头54指示的)以向前推动近弹簧夹具456a。在向前运动期间，近弹簧夹具456a的可移位远端464被致动器槽434的内表面压缩，使得弹簧夹具456a的宽的区域468装配在对应的致动器槽434内。近弹簧夹具456a经由致动器454的运动而前进到致动器槽434中直到边缘470到达近贯通孔口430，在该点处，近弹簧夹具456a的远端464朝向它们的静止位置向外延伸，边缘470邻接贯通孔口430的表面。在这个位置中，边缘470阻止近弹簧夹具456a的向后运动(由箭头56指示)并且突片480邻接形成局部通孔438的表面以阻止近弹簧夹具456a的向前运动(由箭头58指示)。以这种方式，近弹簧夹具456a大体上以抵抗在致动器槽434内的进一步线性运动的方式被固定。其它近弹簧夹具456a在其它侧壁418中的组装以相同的方式被执行。

参考图14，在组装之后，致动器454各独立地在对应的致动器槽434内可滑动并且相对于侧壁418在接合位置和释放位置之间可移动。如图15A和图15B中示出的，在接合位置中，致动器454的楔形部482与弹簧夹具456a、456b接合以使得弹簧臂460a、460b的第一接合构件472和第二接合构件476从侧壁418的内表面432a和外表面432b向外延伸。弹簧夹具456a、456b的第一接合构件472和第二接合构件476也可通过从面板412的第一表面414向外拉动致动器454(如箭头60指示的)而缩回。如图16A和图16B中示出的，当致动器454已经缩回到释放位置时，允许接合构件472、476缩回到致动器454的凹进部483内的静止位置。

如图17A和图17B中示出的，当致动器454处于释放位置时，在弹簧夹具456a、456b缩回的情况下，存储设备600(在图17B中示出为隐藏)可以在侧壁418之间插入到框架410中。在存储设备600插入框架410中的情况下，致动器454可以朝向接合位置移动以使第一接合构件472移位成与存储设备600接触，从而抵抗相对于框架410的运动而夹紧存储设备600，如图18中所示。当与存储设备600接合时，阻尼器474可有助于阻止存储设备运送器400和存储设备600之间的振动的传递。阻尼器474也可有助于限制弹簧夹具456a、456b和存储设备600之间的金属对金属接触。

测试槽

如图19A中示出的，测试槽500包括基座510，直立壁512a、512b以及第一覆盖件514a和第二覆盖件514b。测试槽500包括后部518和前部519。后部518容纳携载连接接口电路182(图4A和4B)的连接接口板520。连接接口板520包括带状电缆522，该带状电缆522为连接接口电路182(图4A和4B)和在关联的测试机架100中的测试电路系统(例如，自测试系统180和/或功能测试系统190)之间的电通信而提供。连接接口板520还包括测试槽连接器524，该测试槽连接器524为连接接口电路182和在测试槽500中的存储设备之间的电通信而提供。测试槽500的前部519限定有用于接收和支撑存储设备运送器400中的一个的测试隔室526。基座510，直立壁512a、512b和第一覆盖件514a一起限定：第一敞开端部525，该第一敞开端部525提供到测试隔室526的通路(例如，用来插入和移除存储设备运送器400)；和斜切边缘515，该斜切边缘515邻接插在测试槽500中的存储设备运送器400的面板412以提供阻止空气经由第一敞开端部525流入和流出测试槽500的密封。

如图19B中示出的，在测试隔室526的区域中，直立壁512a、512b限定有接合特征部527，该接合特征部为存储设备运送器400的弹簧夹具456a、456b提供配合表面以允许存储设备运送器400被夹紧在测试槽500内。例如，在存储设备600在存储设备运送器400中并且致动器454在释放位置中的情况下，存储设备运送器400可被插入到测试槽500中直到存储设备600上的连接器610与测试槽连接器524配合，如图20A中所示。在存储设备运送器400在测试槽500内的完全插入位置中的情况下(即，在存储设备连接器610与测试槽连接器524配合的情况下)，致动器454可朝向接合位置移动以使弹簧夹具456a、456b的第一接合构件472和第二接合构件476移位从而从侧壁418的内表面432a和外表面432b向外延伸。如图20B中的隐线示出的，在接合位置中，第二接合构件476从侧壁418的外表面432b向外延伸并且与测试槽500中的接合特征部527接合以抵抗相对于测试槽500的运动而夹紧存储设备运送器400。同时，第一接合构件472从侧壁418的内表面432a向外延伸并且与存储设备600接合以抵抗相对于存储设备运送器400的运动而夹紧存储设备600。存储设备600可以是对振动敏感的。将多个存储设备600装配在单个测试机架100中和使存储设备600运行(例如，在测试期间)，以及存储设备600从测试机架100中的各个测试槽500的插入和移除可能是不希望的振动源。在一些情况中，例如，可以在测试槽500中的一个内在测试下操作存储设备600中的一个，同时其它存储设备被移除且插入相同测试机架100中的相邻测试槽500中。如上所述，在插入和移除期间缩回接合元件476和在存储设备运送器400完全插入到测试槽500中之后将存储设备运送器400夹紧到测试槽500可以有助于通过在存储设备运送器400的插入和移除期间限制存储设备运送器400和测试槽500之间的接触和刮擦而减小或限制振动。另外，缩回接合元件476的能力也可有助于减小颗粒产生(该颗粒否则可能在存储设备运送器400的插入和移除期间由存储设备运送器400和测试槽500之间的刮擦引起)，这可能是有利的，由于颗粒物质对存储设备400可能是有害的。

操作的方法

在使用中，借助机器人300从测试槽500中的一个移除存储设备运送器400中的一个(例如，通过用机器人300的机械手312抓握存储设备运送器400的凹陷416)。如图21中示出的，由侧壁418和基板422形成的U形开口允许框架410装配在储箱220中的存储设备支架226周围使得存储设备运送器400可以移动(例如，经由机器人臂310)到储箱220中的存储设备600的一个存储设备下方的位置中。然后，存储设备运送器400可升高(例如，通过机器人臂310)到与存储设备600接合的位置中。当存储设备运送器400升高时，侧壁418上的引入部分428辅助使存储设备600在框架410中对中。

在存储设备600在存储设备运送器400内处于适当位置的情况下，存储设备运送器400可以由机器人臂310移动以将框架310和存储设备600布置在测试槽500的一个内。机械手312可操作以控制夹紧机构450的致动(例如，通过控制致动器454的运动)。这允许夹紧机构450在存储设备运送器400从储箱220移动到测试槽500之前被致动以阻止在该移动期间存储设备600相对于存储设备运送器400的运动。在插入之前，机械手312可以再次将致动器454移动到释放位置以允许存储设备运送器400插入到测试槽500的一个中。在插入之前将致动器454移动到释放位置也允许在插入期间存储设备600相对于存储设备运送器400移动，这可以辅助将存储设备连接器610与测试槽连接器524对齐。存储设备运送器400和存储设备600通过机器人臂310的运动而前进到测试槽500中，直到存储设备600处于存储设备连接器610与测试槽连接器524接合的测试位置。一旦存储设备600处于测试位置，致动器454就移动到接合位置(例如，通过机械手312)使得第一接合构件472与存储设备600接合以抵抗相对于存储设备运送器400的运动来夹紧存储设备600并且使得第二接合构件476与测试槽500中的接合特征部527接合以阻止存储设备运送器40相对于测试槽500的移动。存储设备运送器400的以这种方式的夹紧可以有助于在测试期间减小振动。

在测试之后，通过将致动器454移动(例如，借助机械手312)到释放位置以从存储设备600和测试槽500脱离接合构件472、476，可以使夹紧机构脱离。一旦夹紧机构450脱离，存储设备运送器400和存储设备600就可以例如通过用机械手312与面板412中的凹陷416接合并且用机器人臂310将存储设备运送器400拉出测试槽500而从测试槽500抽出。在抽出期间，侧壁418的回钩426可以帮助使存储设备连接器610从测试槽连接器524脱离。

存储设备运送器400和已测试的存储设备600随后可借助机器人臂310返回到装载站200。在一些情况中，例如，一旦存储设备运送器400从测试槽500充分抽回，夹紧机构450就可在存储设备运送器400从测试槽500移动到装载站200之前(例如，借助机械手312)再次被致动，以在该移动期间阻止存储设备600相对于存储设备运送器400的运动。对于装载站200中的存储设备的每一个，可重复该过程。

其它实施例

其它实施例在以下权利要求书的范围内。

例如，虽然上述测试槽组件包括用于利用存储设备运送器夹紧的特别机构，但测试槽组件也可包括用于夹紧的其它机构。例如，图22示出包括存储设备运送器400a和测试槽500a的测试槽组件120a的另一实施例，其中测试槽500a执行夹紧功能。如图23A中示出的，测试槽500a包括基座510a，直立壁513a、513b以及第一覆盖件517a和第二覆盖件517b。测试槽500a包括后部518a和前部519a。测试槽500a的前部519a限定有用于接收和支撑存储设备运送器400a中的一个的测试隔室526a。基座510a，直立壁513a、513b和第一覆盖件517a一起限定第一敞开端部525a，该第一敞开端部525a提供到测试隔室526a的通路(例如，用于插入和移除存储设备运送器400a)。

如图23B中示出的，在测试隔室526a的区域中，测试槽500a还包括夹紧弹簧530。如图24中示出的，夹紧弹簧530包括保持突片532、斜坡表面533和包括阻尼器535的接合构件534。再次参考图23B，直立壁513a、513b包括安装孔536。夹紧弹簧530的保持突片532安置在安装孔536内并且将夹紧弹簧530保持在直立壁513a、513b的内表面537上的适当位置。

如图25A和图25B所示，存储设备运送器400a通常包括框架410a。框架410a包括面板412a。沿着第一表面414a，面板412a限定凹陷416a。凹陷416a可以被机器人臂310的机械手312上的配合突起以可释放的方式接合，这允许机器人臂310抓取和移动存储设备运送器400a。面板412a还包括斜切边缘417a。当存储设备运送器400a插入到测试槽500a中的一个中时，面板412a的斜切边缘417a邻接测试槽500a的互补斜切边缘515a以形成密封，该密封有助于阻止空气流入和流出测试槽500a。

仍然参考图25A和图25B，框架410a还包括：一对侧壁418a，该对侧壁418a从面板412a的第二表面420a向外延伸；和基板422a，该基板422a在侧壁418a之间延伸并将侧壁418a连接。如图25B中示出的，沿着第二表面420a，面板412a限定有突起423a，在存储设备运送器400a被插入到测试槽500a中时，该突起423a可辅助将力施加到存储设备600a。

如图25C中示出的，侧壁418a间隔开以在其间接收存储设备600，并且限定有用于支撑存储设备600的表面424a。侧壁418a还限定有回钩426a，该回钩426a可用于从测试槽500a抽出存储设备600。侧壁418a还限定有引入部分428a，该引入部分428a可帮助使存储设备600在框架410a中对中。

再参考图25A和图25B，侧壁418a限定有槽419，该槽419从侧壁418a的远端436a延伸并且终止于贯通孔口421。贯通孔口421被确定尺寸以允许接合构件534从其穿过。在存储设备运送器400a插入到测试槽500a中期间，侧壁418a的外表面433与夹紧弹簧530的斜坡表面533接合，从而导致夹紧弹簧530被压缩且接合构件534朝向直立壁513a、513b的内表面537移位。在存储设备运送器400a前进到测试槽500a中时，阻尼器535在侧壁418a中的槽419内滑动。如图26A和图26B中所示，当存储设备运送器400a到达完全插入位置时，接合构件534延伸穿过侧壁418a中的贯穿孔口421，使得阻尼器535能够与由存储设备运送器400a携载的存储设备600(图26B)接合。

图27A和图27B示出具有夹紧机构的存储设备运送器400b的另一实施例。存储设备运送器400b包括具有面板412b和一对侧壁425a、425b的框架410b。侧壁中的第一个侧壁425a限定有贯通孔口427，该贯通孔口427在第一侧壁425a的内表面431a和外表面431b之间延伸。接合元件(例如，弹簧夹具700)被布置在贯通孔口427内。

如图28中示出的，弹簧夹具700包括基部716以及第一弹簧臂718a和第二弹簧臂718b，该第一弹簧臂718a和第二弹簧臂718b各具有连接到基部716的近端719和可移位的远端720。第一弹簧臂718a包括具有第一阻尼器722a的第一接合构件721a，并且第二弹簧臂718b包括具有第二阻尼器722b的第二接合构件721b。致动器710与弹簧夹具700以可操作的方式关联。致动器710穿过面板412b且进入第一侧壁425a中的致动器槽712。如图29中示出的，致动器710具有沿第一轴线717从近端713延伸到远端715的细长本体711。沿其长度，致动器710具有包括宽尺寸D1和窄尺寸D2的横截面。

致动器710可绕第一轴线717在致动器槽712内在接合位置和释放位置之间旋转以启动弹簧夹具700的运动。如图30A中示出的，在接合位置中，致动器710的凸轮表面714与弹簧夹具700接合以使得弹簧臂720的可移位远端从第一侧壁425a(示出为隐藏)的内表面431a和外表面431b向外延伸。弹簧臂720的可移位远端720也可通过将致动器710旋转到释放位置而缩回，如图30B中所示。当致动器710已经旋转到释放位置时，允许弹簧臂720的可移位远端缩回。

当致动器710处于释放位置时，在弹簧夹具700缩回的情况下，存储设备600可以在侧壁425a、425b之间插入到框架410b中，如图31中所示。一旦存储设备600被插入在框架410b中，致动器710可以朝向接合位置旋转以使第一接合构件移位成与存储设备600接触，从而抵抗相对于框架410b的运动而夹紧存储设备600。以类似的方式，存储设备运送器400b也可被夹紧在测试槽内。例如，在存储设备600在框架410b中且致动器710在释放位置中的情况下，存储设备运送器400b可以被插入到测试槽500b中，如图32中所示(为了清楚起见，在覆盖件已移除的情况下示出测试槽)。在存储设备运送器400b在测试槽500b内的完全插入位置中的情况下(即，在存储设备连接器与测试槽连接器配合的情况下)，致动器710可朝向接合位置旋转以使第一接合构件721a和第二接合构件721b移位从而从第一侧壁425a的内表面和外表面向外延伸。在这个位置中，弹簧夹具700的第二接合构件721b从第一侧壁425a的外表面431b向外延伸并与测试槽500b的壁723接合，从而抵抗相对于测试槽500b的运动而夹紧存储设备运送器400b。同时，弹簧夹具700的第一接合构件721a从第一侧壁425a的内表面431a向外延伸并且与存储设备600接合以抵抗相对于存储设备运送器400b的运动而夹紧存储设备600。

图33A和图33B示出具有夹紧机构(例如，用来将存储设备夹紧在存储设备运送器内和/或用来将存储设备运送器夹紧在测试槽内)的存储设备运送器400c的又一实施例。如图33A和图33B中所示，存储设备运送器400c包括具有面板412c和一对侧壁429a、429b的框架410c。侧壁的第一个侧壁429a限定贯通孔口440，该贯通孔口440在第一侧壁429a的内表面441a和外表面441b之间延伸。接合元件(例如，弹簧夹具750)被布置在贯通孔口427内。

如图34中示出的，弹簧夹具750包括基部752以及第一弹簧臂753a和第二弹簧臂753b，该第一弹簧臂753a和第二弹簧臂753b各具有连接到基部752的近端754和可移位的远端755。第一弹簧臂753a包括具有第一阻尼器758a的第一接合构件756a，并且第二弹簧臂753b包括具有第二阻尼器758b的第二接合构件756b。

致动器760与弹簧夹具750以可操作的方式关联。致动器760穿过面板412c且进入第一侧壁429a中的致动器槽762。如图35中所示，沿其长度，致动器760具有限定楔形部764的横截面。

致动器760可在致动器槽762内在接合位置和释放位置之间枢转。如图36A和36B示出的，在接合位置中，致动器760的楔形部764与弹簧夹具750接合以使得弹簧臂753a、753b的远端755从第一侧壁429a的内表面441a和外表面441b向外延伸。因此，通过向上(箭头62)推动和/或拉动致动器760的近端以朝向弹簧夹具750压迫致动器760的远端，可致动弹簧夹具750。

弹簧臂753a、753b的远端755也可通过将致动器760枢转到释放位置而缩回，如图37A和37B中所示。当致动器760已经旋转到释放位置时，允许远端755缩回。

当致动器760处于释放位置时，在弹簧夹具760缩回的情况下，存储设备600可以在侧壁429a、429b之间插入到框架410c中，如图38中所示。一旦存储设备600插入在框架410c中，致动器760就可以朝向接合位置移动以使第一接合构件756a移位成与存储设备600接触，从而抵抗相对于框架410c的运动而夹紧存储设备600。以类似的方式，存储设备运送器400c也可被夹紧在测试槽内。例如，在存储设备600在框架410c中且致动器760在释放位置中的情况下，存储设备运送器400c可以被插入到测试槽中。在存储设备运送器400c在测试槽内的完全插入位置中的情况下，致动器760可以朝向接合位置枢转以使弹簧臂753a、753b的远端755移位从而从第一侧壁429a的内表面441a和外表面441b向外延伸。在这个位置中，弹簧夹具750的第二接合构件756b从第一侧壁429a的外表面441b向外延伸并与测试槽接合，因此抵抗相对于测试槽的运动而夹紧存储设备运送器400c。同时，弹簧夹具750的第一接合构件756a从第一侧壁429a的内表面441a向外延伸并且接合存储设备600以抵抗相对于存储设备运送器400c的运动而夹紧存储设备600。

不同实施例的元件可以组合以形成在这里没有具体描述的组合。能与在这里描述的那些细节和特征组合的其它细节和特征可以在以下与本申请同时提交的题为“DISK DRIVE TESTING(磁盘驱动器测试)”，代理人卷号：18523-062001，发明人：Edward Garcia等人，并且具有转让系列号11/958,788；和题为“DISK DRIVE TESTING(磁盘驱动器测试)”，代理人卷号：18523-064001，发明人：Edward Garcia等人，并且具有转让系列号11/958817的美国专利申请中找到，前述申请的全部内容通过引用特此并入。

权利要求书不限于这里描述的实施例。

Claims (86)

1.一种存储设备运送器(400，400b，400c)，用于运送存储设备(600)和用于将存储设备安装在测试槽(500，500b)内，所述存储设备运送器包括：

被构造成接收和支撑存储设备的框架(410，410b，410c)，所述框架包括：

侧壁(418，425a，425b，429a，429b)，所述侧壁被构造成在所述侧壁之间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中；和

夹紧机构(450)，所述夹紧机构以可操作的方式与所述侧壁中的至少一个关联并包括：

第一接合元件(476，700，750)；和

第一致动器(454，710，760)，所述第一致动器能够操作以启动所述第一接合元件的运动，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，所述第一致动器能够操作以将所述第一接合元件移动成与测试槽形成接合。

2.根据权利要求1所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器能够操作以将所述第一接合元件移动成与由所述框架支撑的存储设备形成接合。

3.根据权利要求1或2所述的存储设备运送器，其中所述第一接合元件包括第一和第二接合构件(472，476，721a，721b，756a，756b)，并且其中所述第一致动器能够操作以启动所述第一和第二接合构件的运动。

4.根据权利要求3所述的存储设备运送器，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，所述第一致动器能够操作以将所述第一接合构件移动成与测试槽形成接合，并且其中所述第一致动器能够操作以将所述第二接合构件移动成与由所述框架支撑的存储设备形成接合。

5.根据权利要求3或4所述的存储设备运送器，其中所述第二接合构件包括阻尼器(474，722a，722b，756a，756b)。

6.根据权利要求5所述的存储设备运送器，其中所述阻尼器包括从由热塑性塑料和热固性塑料组成的组选择的阻尼材料。

7.根据权利要求5所述的存储设备运送器，其中所述阻尼器包括隔离或阻尼材料。

8.根据权利要求3-7中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器能够操作以使所述第一和第二接合构件沿大体上相反的方向相对于彼此移动。

9.根据权利要求8所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器能够操作以大体上同时地移动所述第一和第二接合构件。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一接合元件(476)包括被构造成与测试槽中的配合特征部接合的隆起(478)。

11.根据权利要求1-4或8-10中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一接合元件包括阻尼器(474，722a，722b，756a，756b)。

12.根据权利要求11所述的存储设备运送器，其中所述阻尼器包括从由热塑性塑料和热固性塑料组成的组选择的阻尼材料。

13.根据权利要求1-12中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一接合元件包括弹簧夹具，所述弹簧夹具包括：

基部(458，716，752)和

第一和第二弹簧臂(460a，460b，718a，718b，753a，753b)，所述第一和第二弹簧臂各包括连接到所述基部的近端(462，719，754)和可移位的远端(464，720，755)。

14.根据权利要求13所述的存储设备运送器，其中所述致动器能够操作以启动所述第一和第二弹簧臂的所述远端的运动。

15.根据权利要求1-9、11、13或14中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器(760)能够相对于所述框架枢转以启动所述第一接合元件的运动。

16.根据权利要求1-9、11、13或14中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器(710)包括沿第一轴线(717)从近端(713)延伸到远端(715)的细长本体(711)，并且其中所述第一致动器能够绕所述第一轴线旋转以启动所述第一接合构件的运动。

17.根据权利要求1-10、13或14中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器(454)能够相对于所述框架线性地移位以启动所述第一接合构件的运动。

18.根据权利要求1-17中任一项所述的存储设备运送器，其中所述侧壁中的第一个限定第一致动器槽(434，712，762)，并且其中所述第一致动器至少部分地布置在所述第一致动器槽内。

19.根据权利要求18所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器能够在所述第一致动器槽内移动以启动所述第一接合构件的运动。

20.根据权利要求1-10、13、14或17-19中任一项所述的存储设备运送器，其中所述夹紧机构还包括第二接合元件(476)，并且其中所述第一致动器能够操作以启动所述第二接合元件的运动。

21.根据权利要求20所述的存储设备运送器，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，所述第一致动器能够操作以将所述第二接合元件移动成与所述测试槽形成接合。

22.根据权利要求20或21所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器能够操作以将所述第二接合元件移动成与由所述框架支撑的存储设备形成接合。

23.根据权利要求1-10、13、14或17-19中任一项所述的存储设备运送器，其中所述夹紧机构还包括：

第二接合元件(476)；和

第二致动器(454)，所述第二致动器能够操作以启动所述第二接合元件的运动。

24.根据权利要求23所述的存储设备运送器，其中所述第二致动器能够独立于所述第一致动器地操作以启动所述第二接合元件的运动。

25.根据权利要求23或24所述的存储设备运送器，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在测试槽中的测试位置中之后，所述第二致动器能够操作以将所述第二接合元件移动成与测试槽形成接合。

26.根据权利要求23-25中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第二致动器能够操作以将所述第二接合元件移动成与由所述框架支撑的存储设备形成接合。

27.根据权利要求1-10、13、14或17-26中任一项所述的存储设备运送器，其中所述第一致动器(454)限定用于启动所述第一接合元件(476)的运动的致动特征部(482，483)。

28.根据权利要求27所述的存储设备运送器，其中所述致动特征部包括楔形部(482)和凹进部(483)。

29.根据权利要求1-28中任一项所述的存储设备运送器，其中所述框架包括连接到所述侧壁的基板(422)，并且其中所述侧壁和所述基板一起限定用于从支架俘获存储设备的大体上U形的开口。

30.一种存储设备测试槽(500a)，包括：

外壳，所述外壳限定：

测试隔室(526a)，所述测试隔室用于接收和支撑携载用于测试的存储设备(600)的存储设备运送器(400a)；和

敞开端部(525a)，所述敞开端部提供到所述测试隔室的通路以便插入和移除携载用于测试的存储设备的存储设备运送器；和

安装到所述外壳的第一接合元件(530)，其中所述第一接合元件被构造成当存储设备运送器被插入到所述测试隔室中时与由存储设备运送器携载的存储设备接合。

31.根据权利要求30所述的存储设备测试槽，其中所述第一接合元件包括夹紧弹簧(530)。

32.根据权利要求30或31所述的存储设备测试槽，其中所述第一接合元件包括阻尼器(535)。

33.根据权利要求32所述的存储设备测试槽，其中所述阻尼器被构造成当存储设备运送器被插入到所述测试隔室中时与由存储设备运送器携载的存储设备接合。

34.根据权利要求32或33所述的存储设备测试槽，其中所述阻尼器包括从由热塑性塑料和热固性塑料组成的组选择的阻尼材料。

35.一种存储设备测试系统(10)，包括：

自动机械(300)

存储设备运送器(400，400a，400b，400c)，所述存储设备运送器包括：

框架(410，410a，410b，410c)，所述框架被构造成接收和支撑存储设备(600)，其中所述自动机械被构造成以可释放的方式与所述框架接合以控制所述存储设备运送器的运动；

装载站(200)，所述装载站(200)用于存储要被测试的存储设备；和

测试槽(500，500a，500b)，所述测试槽被构造成接收和支撑携载存储设备的存储设备运送器，其中所述自动机械能够操作以利用所述存储设备运送器从所述装载站移除存储设备和将所述存储设备运送器在其内具有存储设备的情况下插入到所述测试槽中。

36.根据权利要求35所述的存储设备测试系统，其中所述自动机械包括机器人(300)，所述机器人包括：

可移动的臂(310)；和

连接到所述可移动的臂的机械手(312)，其中所述机械手被构造成以可释放的方式与所述框架接合以控制所述存储设备运送器的运动。

37.根据权利要求36所述的存储设备测试系统，其中所述机器人能够操作以利用所述存储设备运送器从所述装载站移除存储设备并将所述存储设备运送器在其内具有存储设备的情况下插入到所述测试槽中。

38.根据权利要求35-37中任一项所述的存储设备测试系统，其中所述框架包括限定有凹陷的面板(412，412a，412b，412c)，所述凹陷被构造成能够被所述自动机械以可释放的方式接合。

39.根据权利要求35-38中任一项所述的存储设备测试系统，其中所述框架包括夹紧机构，所述夹紧机构包括：

第一接合元件(476，700，750)；和

第一致动器(454，710，760)，所述第一致动器能够操作以启动所述第一接合元件的运动，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在所述测试槽中的测试位置中之后，所述第一致动器能够操作以将所述第一接合元件移动成与所述测试槽(500，00b)形成接合。

40.根据权利要求39所述的存储设备测试系统，其中所述自动机械被构造成控制所述夹紧机构的操作。

41.根据权利要求39或40所述的存储设备测试系统，其中所述框架包括侧壁(418，425a，425b，429a，429b)，所述侧壁被构造成在所述侧壁之间接收存储设备并且被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中而用于所述存储设备的测试，并且其中所述夹紧机构以可操作的方式与所述侧壁中的至少一个关联。

42.一种存储设备运送器(400，400a，400b，400c)，用于运送存储设备(600)和用于将存储设备安装在测试槽(500，500a，500b)内，所述存储设备运送器包括：

框架(410，410a，410b，410c)，所述框架包括：

侧壁(418，418a，425a，425b，429a，429b)，所述侧壁被构造成在所述侧壁之间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到测试槽中；和

连接所述侧壁的基板(422，422a)，其中所述侧壁和所述基板一起限定用于从支架俘获存储设备的大体上U形的开口。

43.一种测试存储设备(600)的方法，所述方法包括：

致动自动机械(300)以与存储设备运送器(400，400a，400b，400c)接合；

利用所述存储设备运送器来俘获存储设备；并且随后

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器和所俘获的存储设备插入到测试槽(500，500a，500b)中，其中俘获所述存储设备包括使用所述自动机械将所述存储设备运送器移动成与所述存储设备形成接合。

44.根据权利要求43所述的方法，其中致动所述自动机械包括致动机器人臂(310)。

45.根据权利要求43或44所述的方法，其中所述存储设备运送器(400，400b，400c)包括能够操作以将所述存储设备运送器夹紧到所述测试槽(500，500b)的夹紧机构(450)，并且所述方法还包括在所述存储设备运送器和所俘获的存储设备被插入到所述测试槽中之后，致动所述自动机械以操作所述夹紧组件，并因此将所述存储设备运送器夹紧到所述测试槽。

46.根据权利要求43-45中任一项所述的方法，其中俘获所述存储设备包括：

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器移动到所述存储设备下方的位置中；和

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器升高到与所述存储设备接合的位置中。

47.一种测试存储设备(600)的方法，所述方法包括：

致动自动机械(300)以将携载存储设备的存储设备运送器(400，400b，400c)插入到测试槽(500，500b)中；和

在所述存储设备运送器和所俘获的存储设备被插入到所述测试槽中之后，致动所述自动机械以操作夹紧机构(450)并且因此将所述存储设备运送器夹紧到所述测试槽。

48.根据权利要求47所述的方法，其中致动自动机械包括致动机器人臂(310)。

49.根据权利要求47或48所述的方法，还包括致动所述自动机械以与所述夹紧组件接合并且因此将所述存储设备运送器夹紧到所俘获的存储设备。

50.一种测试槽组件(120)，包括：

A.)测试槽(500，500b)，所述测试槽包括：

i.)外壳，所述外壳限定：

a.)测试隔室(526)；和

b.)敞开端部(525)，所述敞开端部提供到所述测试隔室的通路；和

B.)存储设备运送器(400，400b，400c)，所述存储设备运送器包括：

i.)被构造成接收和支撑存储设备(600)的框架(410，410b，410c)，所述框架包括：

a.)侧壁(418，425a，425b，429a，429b)，所述侧壁被构造成在所述侧壁之间接收存储设备并被确定尺寸以与存储设备一起被插入到所述测试隔室中；和

ii.)夹紧机构(450)，所述夹紧机构以可操作的方式与所述侧壁中的至少一个关联并且包括：

a.)第一接合元件(476，700，750)；和

b.)第一致动器(454，710，760)，所述第一致动器能够操作以启动所述第一接合元件的运动，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在所述测试隔室中的测试位置中之后，所述第一致动器能够操作以将所述第一接合元件移动成与所述外壳形成接合。

51.根据权利要求50所述的测试槽组件，其中所述第一接合元件包括第一和第二接合构件(472，476，721a，721b，756a，756b)，并且其中所述第一致动器能够操作以启动所述第一和第二接合构件的运动。

52.根据权利要求51所述的测试槽组件，其中在由所述框架支撑的存储设备被布置在所述测试隔室中的测试位置中之后，所述第一致动器能够操作以将所述第一接合构件移动成与所述测试槽形成接合，并且其中所述第一致动器能够操作以将所述第二接合构件移动成与由所述框架支撑的存储设备形成接合。

53.根据权利要求51或52所述的测试槽组件，其中所述第二接合构件包括阻尼器(474，722a，722b，758a，758b)。

54.根据权利要求51-53中任一项所述的测试槽组件，其中所述第一致动器能够操作以使所述第一和第二接合构件沿大体上相反的方向相对于彼此移动。

55.根据权利要求51-54中任一项所述的测试槽组件，其中所述第一致动器能够操作以大体上同时地移动所述第一和第二接合构件。

56.根据权利要求50-55中任一项所述的测试槽组件，其中所述外壳包括直立壁(512a，512b)，所述直立壁被构造成在所述直立壁之间接收所述框架(410)的所述侧壁(418)，其中所述直立壁中的第一个包括接合特征部(527)，并且其中所述第一接合元件(476)包括被构造成与所述接合特征部接合的隆起(478)。

57.根据权利要求56所述的测试槽组件，其中在所述侧壁被插入到所述测试隔室中之后，所述第一致动器(454)能够操作以将所述隆起移动成与所述接合特征部形成接合。

58.一种测试槽组件(120a)，包括：

A.)存储设备运送器(400a)，所述存储设备运送器包括：

i.)被构造成接收和支撑存储设备(600)的框架(410a)，所述框架包括：

a.)侧壁(418a)，所述侧壁被构造成在所述侧壁之间接收存储设备，其中所述侧壁中的第一个限定贯通孔口(421)；和

B.)外壳，所述外壳包括：

i.)测试隔室(526a)，所述测试隔室用于接收和支撑所述存储设备运送器；和

ii.)敞开端部(525a)，所述敞开端部提供到所述测试隔室的通路以便插入和移除所述存储设备运送器；和

iii.)安装到所述外壳的第一接合元件(530)，其中所述第一接合元件被构造成当所述存储设备运送器被插入在所述测试隔室中时延伸穿过所述贯通孔口，以与由所述存储设备运送器携载的存储设备接合。

59.一种存储设备测试系统(10)，包括：

自动机械(300)；和

存储设备运送器(400，400b，400c)，所述存储设备运送器包括：

框架(410，410b，410c)，所述框架被构造成接收和支撑存储设备，和

夹紧机构(450)，所述夹紧机构包括：

第一接合元件(476，700，750)和

第一致动器(454，710，760)，所述第一致动器能够操作以启动所述第一接合元件的运动，其中所述自动机械被构造成控制所述夹紧机构的操作。

60.根据权利要求59所述的存储设备测试系统，其中所述自动机械被构造成以可释放的方式与所述框架接合以控制所述存储设备运送器的运动。

61.根据权利要求59或60所述的存储设备测试系统，其中所述自动机械包括机器人(300)，所述机器人包括：

可移动的臂(310)；和

连接到所述可移动的臂的机械手(312)，其中所述机械手被构造成以可释放的方式与所述框架接合以控制所述存储设备运送器的运动。

62.根据权利要求61所述的存储设备测试系统，其中所述机械手能够操作以控制所述夹紧机构的操作。

63.根据权利要求59-62中任一项所述的存储设备测试系统，其中所述框架(410，410b，410c)包括限定有凹陷(416)的面板(412，412b，412c)，所述凹陷被构造成能够被所述自动机械以可释放的方式接合。

64.一种运送用于测试的存储设备(600)的方法，所述方法包括：

致动自动机械(300)并因此在第一测试槽(500，500b)与装载站(200)之间移动携载第一存储设备的存储设备运送器(400，400b，400c)；和

致动所述自动机械以操作夹紧机构(450)，使得所述存储设备运送器在所述第一测试槽和所述装载站之间的运动期间被夹紧到所述第一存储设备。

65.根据权利要求64所述的方法，其中在所述第一测试槽与所述装载站之间移动所述存储设备运送器包括将携载所述第一存储设备的所述存储设备运送器从所述装载站移动到所述第一测试槽。

66.根据权利要求64或65所述的方法，其中在所述第一测试槽与所述装载站之间移动所述存储设备运送器包括将携载所述第一存储设备的所述存储设备运送器从所述第一测试槽移动到所述装载站。

67.根据权利要求64-66中任一项所述的方法，其中致动所述自动机械以操作所述夹紧机构包括在所述第一测试槽与所述装载站之间移动所述存储设备运送器之前将所述存储设备运送器夹紧到所述第一存储设备。

68.根据权利要求64-66中任一项所述的方法，其中致动所述自动机械以操作所述夹紧机构包括当在所述第一测试槽与所述装载站之间移动所述存储设备运送器时将所述存储设备运送器夹紧到所述第一存储设备。

69.根据权利要求64-68中任一项所述的方法，还包括：

致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从所述第一存储设备松开所述存储设备运送器；并且随后

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器和所述第一存储设备插入到所述第一测试槽中。

70.根据权利要求69所述的方法，还包括：在所述存储设备运送器和所述第一存储设备被插入到所述第一测试槽中之后，致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并且因此将所述存储设备运送器夹紧到所述第一测试槽。

71.根据权利要求64-70中任一项所述的方法，还包括：

致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从所述第一测试槽松开所述存储设备运送器；并且随后

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器从所述第一测试槽移除。

72.根据权利要求71所述的方法，还包括：

在将所述存储设备运送器从所述第一测试槽移除之前致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从所述第一存储设备松开所述存储设备运送器。

73.根据权利要求64-72中任一项所述的方法，还包括：

致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从第二测试槽(500，500b)松开所述存储设备运送器；并且随后

致动所述自动机械并因此从所述第二测试槽移除所述存储设备运送器。

74.根据权利要求73所述的方法，还包括：在将所述存储设备运送器从所述第二测试槽移除之后利用所述存储设备运送器从所述装载站俘获所述第一存储设备，其中俘获所述第一存储设备包括使用所述自动机械将所述存储设备运送器移动成与所述第一存储设备形成接合。

75.根据权利要求73或74所述的方法，还包括：致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从第二存储设备(600)松开所述存储设备运送器，并且其中将所述存储设备运送器从所述第二测试槽移除包括从所述第二测试槽移除携载所述第二存储设备的所述存储设备运送器。

76.根据权利要求75所述的方法，还包括：

致动所述自动机械并因此在所述第二测试槽与所述装载站之间移动携载所述第二存储设备的所述存储设备运送器；和

致动所述自动机械以操作所述夹紧机构使得所述存储设备运送器在所述第二测试槽与所述装载站之间的运动期间被夹紧到所述第二存储设备。

77.根据权利要求76所述的方法，还包括：致动所述自动机械以将所述存储设备运送器和所述第二存储设备插入到所述装载站处的存储设备容座(224)中。

78.根据权利要求64-68或71-77中任一项所述的方法，还包括：

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器插入到所述第一测试槽中；并且随后

在所述存储设备运送器被插入到所述第一测试槽中之后，致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并且因此将所述存储设备运送器夹紧到所述第一测试槽。

79.一种运送用于测试的存储设备(600)的方法，所述方法包括：

致动自动机械(300)并因此在第一测试槽(500，500b)与第二测试槽(500，500b)之间移动携载第一存储设备的存储设备运送器(400，400b，400c)和

致动所述自动机械以操作夹紧机构(450)使得所述存储设备运送器在所述第一测试槽与所述第二测试槽之间的运动期间被夹紧到所述第一存储设备。

80.根据权利要求79所述的方法，其中致动所述自动机械以操作所述夹紧机构包括在所述第一测试槽与所述第二测试槽之间移动所述存储设备运送器之前将所述存储设备运送器夹紧到所述第一存储设备。

81.根据权利要求79所述的方法，其中致动所述自动机械以操作所述夹紧机构包括当在所述第一测试槽与所述第二测试槽之间移动所述存储设备运送器时将所述存储设备运送器夹紧到所述第一存储设备。

82.根据权利要求79-81中任一项所述的方法，其中在所述第一测试槽与所述第二测试槽之间移动所述存储设备运送器包括从所述第一测试槽向所述第二测试槽移动携载所述第一存储设备的所述存储设备运送器。

83.根据权利要求82所述的方法，还包括：

致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从所述第一测试槽松开所述存储设备运送器；并且随后

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器从所述第一测试槽移除。

84.根据权利要求83所述的方法，还包括：

在将所述存储设备运送器从所述第一测试槽移除之前，致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从所述第一存储设备松开所述存储设备运送器。

85.根据权利要求83所述的方法，还包括：

致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并因此从所述第一存储设备松开所述存储设备运送器；并且随后

致动所述自动机械以将所述存储设备运送器和所述第一存储设备插入到所述第二测试槽中。

86.根据权利要求85所述的方法，还包括：在所述存储设备运送器和所述第一存储设备被插入到所述第二测试槽中之后，致动所述自动机械以操作所述夹紧机构并且因此将所述存储设备运送器夹紧到所述第二测试槽。

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