CN101907964A - 静电电容式输入装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种静电电容式输入装置，其可以更正确地检测导电体的接近位置，包括多个电极y，其沿方向Y并列且沿方向X延伸；和IC芯片，其根据手指及各电极y之间产生的静电电容静电电容的变化，检测方向Y的手指的接近位置，多个电极y的任一个为低灵敏度电极，多个电极y的任一个为高灵敏度电极，多个电极y的全部为同一大小时，所述低灵敏度电极的灵敏度比所述高灵敏度电极的灵敏度小，所述低灵敏度电极的面积比所述高灵敏度电极的面积大。

Description

静电电容式输入装置

技术领域

本发明涉及静电电容式输入装置。

背景技术

图45是表示现有的输入装置的一例的主要部分剖面图。图46是从图45的上方看到的输入装置的主要部分平面图。这些图所示的输入装置9A通过与液晶显示装置面板9B重叠，构成所谓触摸面板。该触摸面板作为例如手机9C的显示装置及操作装置使用。手机9C具有构成壳体的一部分的透明罩c1。输入装置9A利用透明粘接剂c2与透明罩c1接合。在输入装置9A的图45的下方配置有液晶显示面板9B。关于这种输入装置9A的记载例如记述于专利文献1。

输入装置9A具备透明基板91、92、多个透明带状电极93、94、配线95、96、柔性基板97、98以及IC芯片99。透明基板91、92相互平行配置。透明带状电极93形成于透明基板91上。透明带状电极93沿方向X延伸，具有菱形膨胀的部分和中间细的部分沿方向X相互配置的形状。配线95形成于透明基板91上。另一方面，透明带状电极94形成于透明基板92。透明带状电极94沿方向Y延伸，具有菱形状膨胀的部分和中间细的部分沿方向Y相互配置的形状。配线96形成于透明基板92。IC芯片99经由柔性基板97及配线95，与透明带状电极93连接。另外，IC芯片99经由柔性基板98及配线96，也与透明带状电极94连接。

输入装置9A如下所述，检测在XY面的手指Fg的接近位置。

手机9C的使用者在操作手机9C时，使比透明带状电极93、94的菱形形状的大小相对大的手指Fg与透明罩c1接近，或接触。于是，在手指Fg和多个透明带状电极93之间及手指Fg和多个透明带状电极94之间产生静电电容。IC芯片99经由配线95及配线96，测量根据手指Fg和透明带状电极93、94之间产生的静电电容而变化的电压值等(以下，称为检测值)。接着，IC芯片99对与多个透明带状电极93的每一个相对应的检测值计算加权平均。利用这种计算检测方向Y的手指Fg的接近位置。接着，与检测方向Y的手指Fg的接近位置一样，检测方向X的接近位置。经过上述顺序，输入装置9A检测XY平面的手指Fg的接近位置。

在使相同的导电体以相同的姿势与透明带状电极93及透明带状电极94接近时所测量的检测值的大小称为透明带状电极93的灵敏度或透明带状电极94的灵敏度。为了进一步正确地检测输入装置9A中例如方向Y的手指Fg的接近位置，理想的是每个透明带状电极93的灵敏度没有误差均一。

但是，每个透明带状电极93的灵敏度存在误差。灵敏度的误差的主要原因在于：对于每个透明带状电极93，透明带状电极93及与透明带状电极93连接的配线95和其它配线、电极等之间产生的寄生电容不同，或者对于每个透明带状电极93，透明带状电极93自身及与该透明带状电极93连接的配线95的电阻值不同。这样，只要多个透明带状电极93的灵敏度不均一，即使手指Fg以相同的姿势与透明带状电极93接近，手指Fg接近的透明状电极93不同时，IC芯片99测量出不同的检测值。于是，对与各透明带状电极93对应的检测值计算加权平均时的该检测值的附带加权为不恰当的值。这样，恐怕会不能正确地检测出方向Y的手指Fg的接近位置。

图47是现有输入装置的一例的平面图(例如，参照专利文献2)。该图所示的输入装置900A具备带状电极920、配线980、及IC芯片970。输入装置900A作为所谓静电电容式触摸面板使用。

带状电极920沿方向u并列，同时沿方向v延伸。带状电极920具备检测电极921、922。检测电极921、922均是沿方向v长条状延伸的直角三角形。检测电极921及检测电极922沿方向u相互配置。配线980分别与检测电极921、922连接。IC芯片970与配线980连接。

导电体即手指Fg接近带状电极920。而且，IC芯片970检测方向u和方向v的手指Fg的接近位置。

图48是表示每个带状电极920的静电电容的值的直方图。从图47的左侧第一、第二、第三……配置的带状电极920的静电电容的值与从图48的左侧第一、第二、第三所示的静电电容的值对应。图49是表示全部检测电极921的静电电容的值的和∑C1和全部的检测电极922的静电电容的值的和∑C2的图表。方向u的手指Fg的接近位置通过使用图48所示的直方图检测。另一方面，方向v的手指Fg的接近位置通过求出图49所示的静电电容的值的和彼此的比、∑C1∶∑C2检测。以这种顺序，在IC芯片970内可以检测手指Fg的方向u、v的接近位置。

但是，在输入装置900A中产生如下所述的问题。使用输入装置900A时，不仅手指Fg，也存在其它手指不经意与触摸面板接触的情况。这样的情况下，在检测电极921或检测电极922上不仅产生与手指Fg的静电电容，而且也产生不经意与触摸面板接触的手指的静电电容。在如上所述的输入装置900A中，∑C1是全部的检测电极921的静电电容的值的和，∑C2是全部的检测电极922的静电电容的值的和。因此，在∑C1及∑C2的值中加上不经意与触摸面板接触的手指和检测电极921或检测电极922之间的静电电容的值。这导致不能正确地求出手指Fg的方向v的接近位置这种不良现象，不予优选。

专利文献1：日本特开2008-33777号公报

专利文献2：日本特开2008-269297号公报

发明内容

本发明是考虑上述情况而发明的，其第一课题为，提供可以更正确地检测导电体的接近位置的静电电容式输入装置。

本发明是考虑上述情况而发明的，其第二课题为，提供即使是多个导电体接近时，也可以更正确地检测这些导电体的至少一个的接近位置的静电电容式输入装置。

为了解决所述第一课题，本发明第一方面提供一种静电电容式输入装置，包括：多个第一方向检测电极，其沿第一方向并列且沿与所述第一方向不同的第二方向延伸；控制装置，其根据导电体及各第一方向中检测电极之间产生的静电电容的变化，检测所述第一方向的所述导电体的接近位置，所述多个第一方向检测电极的任一个是低灵敏度电极，所述多个第一方向检测电极的任一个是高灵敏度电极，所述多个第一方向检测电极均为同一大小时，所述低灵敏度电极的灵敏度比所述高灵敏度电极的灵敏度小，所述低灵敏度电极的面积比所述高灵敏度电极的面积大。

在本发明优选的实施方式中，还包括：基板，其形成有所述多个第一方向检测电极；多根配线，其形成于所述基板且从所述基板的端部延伸并与所述多个第一方向检测电极分别连接，所述基板的所述多根配线中与所述低灵敏度电极导通的配线的长度比所述基板的所述多根配线中与所述高灵敏度电极导通的配线的长度长。

在本发明优选的实施方式中，还包括沿所述第二方向并列且沿所述第一方向延伸的多个第二方向检测电极，各第一方向检测电极包含沿所述第二方向排列的多个第一电极元件，各第二方向检测电极包含沿所述第一方向排列的多个第二电极元件。

在本发明优选的实施方式中，所述低灵敏度电极所包含的第一电极元件的任一个的面积比所述高灵敏度电极所包含的第一电极元件的任一个的面积大。

在本发明的理想的实施方式中，还包括：多个第二方向检测电极，其沿所述第二方向并列且沿所述第一方向延伸；基板，其具有平面状的第一面，且所述多个第一方向检测电极及所述多个第二方向检测电极均形成于所述第一面。

在本发明优选的实施方式中，各第一方向检测电极包含沿所述第二方向排列的多个第一电极元件，各第二方向检测电极包含沿所述第一方向排列的多个第二电极元件。

在本发明的理想的实施方式中，还包括与所述多个第一电极元件的任一个导通，且形成于被邻接的第一和第二电极元件所夹的间隙的多根联络配线。

在本发明优选的实施方式中，各联络配线延伸至检测所述基板的所述导电体的接近的检测区域之外的非检测区域为止。

在本发明优选的实施方式中，所述多根联络配线中从沿所述第一方向分离的两个第一电极元件分别延伸的两个联络配线的一方朝向所述第一方向的一方延伸，该两个联络配线的另一方朝向所述第一方向的另一方延伸。

在本发明优选的实施方式中，所述两根联络配线都从沿所述第一方向分离的两个第一电极元件的任一个向该两个第一电极元件彼此分离的方向延伸。

在本发明优选的实施方式中，还包括第一连接配线，其连接所述多个第一电极元件中沿所述第二方向邻接的两个第一电极元件彼此，且形成于被该两个第一电极元件所夹的间隙，所述多个联络配线的任一个与该两个第一电极元件或所述第一连接配线连接。

在本发明优选的实施方式中，还包括第二连接配线，其连接所述多个第一电极元件中夹着所述第一连接配线的两个第一电极元件彼此，所述第二连接配线以包围处于所述第一连接配线连接的多个第一电极元件的一端的区域的元件的方式配置。

在本发明优选的实施方式中，沿所述第一方向分离的两个第一电极元件相互相邻，该两个第一电极元件的一方包含于所述多个第一方向检测电极中配置于所述第一方向的一端的元件中。

在本发明优选的实施方式中，所述联络配线的一部分构成多层基板，在所述多层基板中所述联络配线彼此连接。

在本发明优选的实施方式中，还具备：光透射层，其形成于被邻接的第一及第二电极元件所夹的间隙；涂敷层，其覆盖所述多个第一电极元件、所述多个第二电极元件、及所述光透射层。

在本发明优选的实施方式中，构成所述光透射层的材料的折射率与构成所述涂敷层的材料的折射率不同。

在本发明优选的实施方式中，构成所述光透射层的材料由与构成所述第一电极元件或所述第二电极元件的材料相同的材料构成。

在本发明优选的实施方式中，所述光透射层包含相互分离的多个线元。

在本发明优选的实施方式中，所述光透射层由绝缘性树脂构成。

在本发明优选的实施方式中，各第一方向检测电极包括：第一滑动电极，其以向所述第二方向的一方去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向的一方延伸；第二滑动电极，其以向所述第二方向的另一方去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向的另一方延伸，所述控制装置根据所述导电体与所述多个第一滑动电极之间的静电电容以及所述导电体与所述多个第二滑动电极之间的静电电容的关系，检测所述第二方向的所述导电体的接近位置。

为了解决所述第二课题，本发明第二方面提供一种静电电容式输入装置，包括：沿第一方向并列且沿与所述第一方向不同的第二方向延伸的多个带状电极；和控制装置，各带状电极包含：第一检测电极，其以向所述第二方向去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向延伸；第二检测电极，其以向所述第二方向的相反方向去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向的相反方向延伸，所述控制装置指定仅所述多个带状电极的一部分隶属且所述多个带状电极中第一导电体接近的带状电极隶属的第一电极组，基于所述第一导电体和所述多个第一检测电极中隶属于所述第一电极组的检测电极之间的静电电容及所述第一导电体和所述多个第二检测电极中隶属于所述第一电极组的检测电极之间的静电电容的关系，检测所述第二方向的所述第一导电体的接近位置。

在本发明优选的实施方式中，仅所述多个带状电极的一个隶属于所述第一电极组。

在本发明优选的实施方式中，相互相邻的至少两个以上的带状电极隶属于所述第一电极组。

在本发明优选的实施方式中，所述控制装置将相互相邻的至少两个以上的带状电极的每一个和所述第一导电体之间的静电电容的变化作为加权来计算加权平均，检测所述第一方向的所述第一导电体的接近位置。

在本发明优选的实施方式中，所述控制装置指定仅所述多个带状电极的一部分隶属且所述多个带状电极中与所述第一导电体不同的第二导电体接近的带状电极隶属的第二电极组，基于所述第二导电体和所述多个第一检测电极中隶属于所述第二电极组的第一检测电极之间的静电电容及所述第二导电体和所述多个第二检测电极中隶属于所述第二电极组的第二检测电极之间的静电电容的关系，检测所述第二方向的所述第二导电体的接近位置。

在本发明优选的实施方式中，仅所述多个带状电极的一个隶属于所述第二电极组。

在本发明优选的实施方式中，相互相邻的至少两个以上的带状电极隶属于所述第二电极组。

在本发明优选的实施方式中，所述控制装置将相互相邻的至少两个以上的带状电极的每一个和所述第二导电体之间的静电电容的变化作为加权来计算加权平均，检测所述第一方向的所述第二导电体的接近位置。

在本发明优选的实施方式中，所述多个第一检测电极及所述多个第二检测电极都是楔状，各第一检测电极被所述多个第二检测电极的两个所夹，各第二检测电极被所述多个第一检测电极的两个所夹。

在本发明优选的实施方式中，所述多个第一检测电极分别包含多个第一楔状电极，所述多个第二检测电极分别包含多个第二楔状电极，各第一楔状电极被所述多个第二楔状电极的两个所夹，各第二楔状电极被所述多个第一楔状电极的两个所夹。

在本发明优选的实施方式中，所述多个带状电极的任一个还包含：第一连接电极，其相对于所述多个第一楔状电极，配置于和所述第二方向相反侧，且与各第一楔电极相连；第二连接电极，其相对于所述多个第二楔状电极，配置于所述第二方向侧，且与各第二楔状电极相连。

在本发明优选的实施方式中，还具备：基板，其形成有所述多个带状电极；第一引导配线，其形成于所述基板，与所述多个第一检测电极的任一个导通；第二引导配线，其形成于所述基板，与所述多个第二检测电极的任一个导通，所述第一及第二引导配线在所述第二方向相对于所述多个带状电极同一侧形成。

在本发明优选的实施方式中，所述多个带状电极、所述第一引导配线及所述第二引导配线由相同材料构成。

本发明的其它的特征及优点参照附图，根据以下进行的详细说明，变得更明了。

附图说明

图1是本发明第一实施方式的输入装置的主要部分剖面图；

图2是沿图的的II-II线的主要部分平面图；

图3是表示图2所示的输入装置的一部分结构的主要部分平面图；

图4是表示图2所示的输入装置的一部分结构的主要部分平面图；

图5是对图2所示的每个电极y的面积比进行表示的图表；

图6(a)是表示每个电极y的灵敏度的图表，(b)是表示每个电极x的灵敏度的图表；

图7是求出本实施方式的输入装置的电极的面积比P1时使用的表；

图8是可以适用本发明的输入装置的主要部分剖面图；

图9是沿图8的IX-IX线的输入装置的主要部分平面图；

图10是沿图9的X-X线的主要部分剖面图；

图11是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图12是本发明的第二实施方式的输入装置的主要部分平面图；

图13是表示图12所示的输入装置的一部分结构的主要部分平面图；

图14是表示图12所示的输入装置的一部分结构的主要部分平面图；

图15是对图12所示的每个电极y的面积比进行表示的图表；

图16(a)是表示每个电极y的灵敏度的图表，(b)是表示每个电极x的灵敏度的图表；

图17是求出本实施方式的输入装置的电极的面积比P2时使用的表；

图18是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图19是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图20是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图21(a)是图20的区域Ra的局部放大图，(b)是图20的区域Rb的局部放大图；

图22是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图23是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图24是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图25是可以适用本发明的输入装置的主要部分平面图；

图26是本发明的第三实施方式的输入装置的主要部分平面图；

图27是对图26所示的每个电极y的面积比进行表示的图表；

图28(a)表示电极y的检测值，(b)表示T1、T2的检测值。

图29是本发明的第四实施方式的输入装置的主要部分平面图；

图30是主要表示图29的一部分结构的主要部分平面图；

图31是主要表示图29的一部分结构的主要部分平面图；

图32是图29的区域XXXII的局部放大图；

图33是沿图32的XXXIII线的主要部分剖面图；

图34是表示光透射层变形例的主要部分剖面图；

图35是表示本发明的第五实施方式的输入装置的一例的主要部分剖面图；

图36是沿图35的IIIVI-IIIVI线的主要部分平面图；

图37是表示第五实施方式的输入装置的每个带状电极的静电电容的值的直方图；

图38是表示第五实施方式的输入装置的检测电极的静电电容的值的图表；

图39是表示第五实施方式的输入装置的检测电极的静电电容的值的图表；

图40是表示本发明的第六实施方式的输入装置的一例的主要部分平面图；

图41是图40的区域XLI的放大图；

图42是表示第六实施方式的输入装置的每个带状电极静电电容的值的直方图；

图43是表示第六实施方式的输入装置的检测电极的静电电容的值的图表；

图44是表示第六实施方式的输入装置的检测电极的静电电容的值的图表；

图45是现有输入装置的主要部分剖面图；

图46是图45所示的输入装置的主要部分平面图；

图47是现有输入装置的一例的平面图；

图48是表示现有输入装置的每个带状电极的静电电容的值的直方图；

图49是表示现有输入装置的检测电极的静电电容的值的图表。

具体实施方式

下面，根据本发明的实施方式参照附图具体地说明。

(第一实施方式)

使用图1～图7，对本发明的第一实施方式进行说明。图1是本实施方式的输入装置的主要部分剖面图。图2是沿图1的II-II线的主要部分平面图。这些图所示的输入装置A10具备多个电极x、多个电极y、多个配线31、多个配线32(图1、图2中略)、透射板41、42、保护层5、衬垫61、透明绝缘材料62、柔性基板71、及IC芯片72。图2中省略了透射板41、衬垫61、透明绝缘材料62、柔性基板71及IC芯片72的记载。图3主要表示图2的电极y的主要部分平面图。图4主要表示图2的电极x的主要部分平面图。

输入装置A10是用于根据静电电容的变化检测导电体即手指Fg接近的位置的装置。输入装置A10通过与液晶显示面板B重叠，构成所谓静电电容式的触摸面板。

另外，在图2～图4中，点划线所包围的区域是检测区域r1。检测区域r1是使手指Fg接近输入装置A10而检测手指Fg的接近的区域。另一方面，在这些图中，透射板4的包围检测区域r1的框状的区域是非检测区域r2。检测区域r1和非检测区域r2的界限为端部r3、r4及端缘r5、r6。端部r3、r4沿方向X分别位于图2的下方、上方。端缘r5、r6沿方向Y分别位于图2的左方、右方。

透射板41、42均透明，呈板状。透射板41、42由例如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)、聚碳酸酯(PC)等透明树脂的单层树脂体或选自由它们代表的透明树脂的两种类的材料构成的层叠树脂体或玻璃等构成。

透射板41具有表面41a及背面41b。表面41a是手指Fg的接触面。表面41a上可以形成有例如未图示的涂敷层。该涂敷层抑制因外来光反射而目视性恶化的情况，起到防止在透射板41产生损伤的功能。透射板42具有表面42a及背面42b。表面42a与透射板41的背面41b对置。

多个电极y形成于透射板41的背面41b。从配置于图2、图3的下侧的电极y按顺序为电极y1、y2、y3…。电极y分别沿方向X延伸，沿方向Y相互并列。多个电极y沿方向Y例如以5mm的间距配置。电极y可以形成几条，本实施方式中形成14条。电极y是用于检测方向Y的手指Fg的接近位置的电极，相当于本发明的第一方向检测电极的一例。电极y是对由例如ITO、IZO等透明导电性材料构成的薄膜施加图案结构的电极。

如图2、图3所示，电极y分别具备沿方向X排列的多个电极元件11及使这些电极元件11导通的配线部12。在电极y中膨胀的部分是电极元件11，在电极y中中间细的部分是配线部12。电极元件11大致是菱形。电极元件11的形状不限于菱形，也可以是球形、多边形或其它形状。

图5对每个电极y的面积比P1进行表示。在该图中表示将电极y4设为1时的每个电极y的面积比。如图5所示，电极y的面积在配置于图2、图3的上侧的情况下具有扩大的趋势。电极y的面积大的时，各电极y所包含的电极元件11大。因此，电极元件11随着趋向图3的上侧变大。对于各电极y的面积的确定方法后述。

多个配线31形成于透射板41的背面41b。配线31分别与电极y连接。配线31从电极y至透射板41的端部为止。配线31例如由ITO、IZO等透明绝缘材料构成。配线31的宽度例如是30μm～100μm。

多个电极x形成于透射板42的表面42a。从配置于图2、图4的左侧的电极x按顺序为电极x1、x2…。电极x分别沿方向Y延伸，沿方向X相互并列。多个电极x沿方向X例如以5mm的间距配置。电极x可以形成几条，在本实施方式中形成10条。电极x是用于检测方向X的手指Fg的接近位置的电极，相当于本发明的第二方向检测电极的一例。电极x是对例如由ITO、IZO等透明导电性材料构成的薄膜施加图案结构的电极。

电极x分别具备沿方向Y排列的电极元件21、及使这些电极元件21导通的配线部22。电极x中膨胀的部分为电极元件21、电极中中间细的部分是配线部22。电极元件21分别是大致菱形。电极元件21的形状不限于菱形，也可以是球形、多边形或其它形状。

如图2～图4所示，与电极元件11的大小随着趋向图上方变大相对照，电极元件21的大小随着趋向图上方变小。电极元件21的大小的确定方法后述。如图2所示，电极y及电极x配置为电极元件21及电极元件11重叠。

多个配线32形成于透射板42的表面42a。配线32分别与电极x连接。配线32例如由ITO、IZO等的透明绝缘材料构成。

如图1所示，多个衬垫61配置于被透射板41和透射板42所夹的空间内。衬垫61与透射板41、42的任一个相接。各衬垫61由二氧化硅或丙烯树脂(例如，积水化学工业：ミクロパ-ルシリ-ズ)构成。透明绝缘材料62填充于被透射板41及透射板42所夹的上述空间内。透明绝缘材料62可以使用良好地透射光，并且可以使电极y及电极x相互绝缘的材料。

保护层5形成于透射板42的背面42b。保护层5例如由ITO、IZO等透明导电性材料构成。保护层5由后保护层(图示略)覆盖。保护层5起到遮断外来的噪音的作用。另外，保护层5也不必形成。

柔性基板71设置于透射板41的端部。IC芯片72装载于柔性基板71上。IC芯片72经由柔性基板71及配线31与电极y连接。IC芯片72另外经由柔性基板71及配线32等与电极x连接。IC芯片72可自由且经常测量对应各电极y的检测值。IC芯片72另外可自由且经常测量对应各电极x的检测值。另外，在COG(Chip On Glass)时，IC芯片72装载于透射板41上。

液晶显示面板B具备例如相互对置的透明基板及TFT基板、被它们所夹的液晶层，具有表示例如提供给手机的操作的操作菜单画面及图像等的功能。由液晶显示面板B显示的图像通过输入装置A10可目视。液晶显示面板B的显示面配置为在方向z看与电极x、y重叠。

输入装置A10及液晶显示面板B装入手机等，例如，如下述使用。

在液晶显示面板B上显示包含模拟例如发挥手机各功能的图形的图标的操作菜单画面。使用者在不进行任何操作的状态，在各电极x、y和手指Fg之间几乎不产生静电电容。接着，使用者触摸与想选择的功能对应的图标，使手指Fg与透射板41的表面41a接近。于是，电极x、y和手指Fg的距离减小。由此，手指Fg和各电极x、y之间静电电容变化。多个电极x、y中和手指Fg的距离越小，静电电容越大。IC芯片72测量该静电电容的变化作为每个电极x、y的检测值。接着，IC芯片72对与多个电极y的每个对应的检测值计算加权平均。根据该计算，IC芯片72检测方向Y的手指Fg的接近位置。同样，IC芯片72对与多个电极x的每个对应的检测值计算加权平均。根据该计算，IC芯片72检测方向X的手指Fg的接近位置。经过上述的顺序，可以检测手指Fg的XY面的接近位置，可以检测使用者要接触的图标。而且，手机发挥与该图标对应的功能。

下面，对电极x、电极y的大小的确定方法的一例进行说明。电极y、电极x的大小以电极y的面积均相同时相对地灵敏度小的电极y(低灵敏度电极)的面积比相对地灵敏度大的电极y(高灵敏度电极)的面积大的方式确定。

首先，计算或测量多个电极y的面积均相同时的每个电极y的灵敏度。为了计算或测量多个电极y的面积相同时的每个电极y的灵敏度，例如执行模拟，或实际试制多个电极y的面积相同的输入装置即可。图6(a)表示利用模拟计算多个电极y的面积相同时的每个电极y的灵敏度S1的结果的一例。如该图所示，电极y的灵敏度S1从电极y1随着趋向y14处于减小的趋势。

图7表示图6(a)所示的每个电极y的灵敏度S1的数值、另外灵敏度比R及灵敏度比的倒数(1/R)。

如图7所示，对于每个电极y求出和电极y的灵敏度中最大的灵敏度的值的灵敏度比R(本实施方式中和电极y4的灵敏度的比)。接着，求出灵敏度R的倒数(1/R)。而且，将倒数(1/R)设为和输入装置A10的每个电极y的面积比P1。按照该顺序，可以确定图5所示的每个电极y的面积比P1。实际的电极y的面积例如可以设为电极y均相同时的电极y的面积分别乘以倒数(1/R)的值。只要确定电极y的面积，就可以确定各电极y所包含的电极元件11的面积。例如，相同的电极y所包含的电极元件11的面积如图2、图3所示，除配置于电极y两端的之外，视为相同。

下面，将电极元件21的面积确定为适当的值以使电极元件21与电极元件11不重合。于是，因各电极元件11的面积因趋向图2的上方变大，所以，各电极元件21的面积趋向图2的上方变小。

按如上所述的顺序，可以确定电极y、电极x的面积。

下面，对输入装置A10的作用进行说明。

根据输入装置A10，如图5所示，在图6(a)中相对地灵敏度小的例如电极y12及y13的面积比该图中灵敏度相对地大的例如y1及电极y2的面积大。因此，某导电体以相同的姿势位于相同距离时的该导电体和电极y12及电极y13的静电电容与该导电体以相同的姿势及位于相同的距离时的该导电体和电极y1及电极y2的静电电容相比增大。于是，关于静电电容增大的电极y的检测值也增大。因此，可以减小每个电极y的灵敏度的误差。图6(a)表示通过模拟来计算输入装置A10的每个电极y的灵敏度S2的结果。如该图所示，每个电极y的灵敏度S2与灵敏度S1比较，更均一。因此，根据输入装置A10，可以更正确检测方向Y的手指Fg的接近位置。

另外，虽然在输入装置A10中电极元件21的面积随着向图2、图4的上方而减小，但不必使电极x彼此的面积比变化。因此，如上所述，即使使每个电极y的大小不同，也可以维持方向X的手指Fg的接近位置的检测精度。图6(b)表示每个电极x的灵敏度。如该图所示，在使电极y的大小相同时的电极x的灵敏度S 1和使电极y的大小不同时的电极x的灵敏度S2上几乎没有变化。

通常，与该电极y连接的配线31的电阻值越大，电极y的灵敏度越小。另外，配线31的长度越长，配线31的电阻值越小。因此，与该电极y连接的配线31的长度越长，电极y的灵敏度越小。在本实施方式中，配线31在图3中从透射板41的下侧的端部向电极y延伸，因此，与配置于该图中上侧的电极y连接的配线31比与配置于该图中下侧的电极y连接的配线31长。因此，本实施方式的结构适于使灵敏度相对小的电极y的灵敏度和灵敏度相对大的电极y的灵敏度的差降低。即，本实施方式的结构适于使多个电极y的每个的灵敏度的误差降低。

第一实施方式中所述的电极y的大小的确定方法也可以适用于图8～图10所示的输入装置A11及图11所示的输入装置A12。输入装置A11、A12在电极y及电极x均形成于相同的透射板4的表面4a这一点主要与上述的输入装置A10不同。另外，在这些图中，对与上述实施方式相同或类似的元件附加与上述实施方式相同的符号。

图8是输入装置A11的主要部分剖面图。图9是沿图8的IX-IX线的主要部分平面图。图10是沿图9的X-X线的主要部分剖面图。图11是输入装置A12的主要部分平面图。

首先，对输入装置A11进行说明。

如图8、图9所示，输入装置A11具备多个电极x、y、多个配线31、32、81、82、透射板4、保护层5、绝缘层6、柔性基板71及IC芯片72。另外，图8中为了理解方便，省略配线31、32、81、82、绝缘层6的记载。

多个电极y形成于透射板4的表面4a。如上所述，电极y分别具备沿方向X排列的多个电极元件11及使这些电极元件11导通的配线部12。多个电极x形成于透射板4的表面4a。电极x分别具备沿方向Y排列的多个电极元件21。另外，在输入装置A11中也可以形成输入装置A10的配线部22。

如图9、图10所示，在电极x、y上层叠有绝缘层6。绝缘层6例如由SiO₂构成。在绝缘层6上形成有矩形的开口部63。开口部63全部形成于与电极元件21重叠的区域。由此，电极元件21的表面一部分露出。另一方面，绝缘层6完全覆盖检测区域r1的形成有开口部63的区域之外的区域。

如图10所示，配线32形成于绝缘层6及利用开口部63露出的电极元件21的表面上。配线32从端部r4的附近越过端部r3，至图9的透射板4的下缘为止。配线32与电极元件21连接。由此，配线32分别使相同电极x所包含的电极元件21彼此导通。配线32的对电极元件21的连接部分从开口部63的方向Y的一端631经过另一端632形成。配线32例如由Ag、Al等金属、或透明的有机导电材料构成。

在柔性基板71上形成有配线81、82。配线81与配线31导通。配线82与配线32导通。配线81、82与IC芯片72连接。

在这样的输入装置A11中，通过使用与第一实施方式一样的方法，使每个电极y的大小不同，从而也可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。

另外，根据输入装置A11，可以使配线32的相对于电极元件21的连接部分的大小增加。因此，可以牢固地固定配线32和电极元件21。该结果是难以分开配线32及电极元件21。

绝缘层6覆盖电极y的全部。因此，配线32不会与电极y接触。由此，可以期待输入装置A11的成品率的提高。

下面，对输入装置A12进行说明。

图11所示的输入装置A12具备多个电极x、y、多个配线31、32、36、37、81、82、透射板4、绝缘层6、柔性基板71及IC芯片72。输入装置A12在通过配线36使电极元件11彼此导通，且通过配线37使电极元件21彼此导通，且这些配线36、37经由绝缘层6而绝缘的点与输入装置A11不同。

如图11所示，与上述的输入装置A11一样，多个电极y及电极x形成于透射板4的表面4a。电极y分别具备沿方向X配置的多个电极元件11。电极x分别具备沿方向Y配置的多个电极元件21。

多个配线37分别形成于透射板4的表面4a。配线37是用于使构成相同的电极x的电极元件21彼此导通的配线。配线37形成于被邻接的两个电极元件21所夹的区域。配线37例如由Ag、Al、Au等金属构成。配线37例如在透射板4上形成有电极x、y后，通过印刷等形成。

绝缘层6层叠于配线37上。绝缘层6例如由SiO₂构成。

多个配线36被层叠于绝缘层6上。配线36是用于使构成相同的电极y的电极元件11彼此导通的配线。配线36形成于被邻接的两个电极元件11所夹的区域，连接这些电极元件11彼此。配线36例如由Ag、Al、Au等金属构成。

另外，电极x、y及配线31、32、36、37的一部分被涂敷层(图示略)覆盖。该涂敷层利用外来光反射，起到抑制目视性恶化，防止在电极x、y及配线31、32、36、37上产生损伤的功能。

在这样的输入装置A12中通过使用与第一实施方式相同的方法，使每个电极y的大小不同，因此，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。

另外，配线36、37由金属构成。因此，可以实现配线36、37的电阻值的降低。由此，可以实现电极y的灵敏度的提高。另一方面，在维持配线36、37的电阻值时，可以使配线36、37的宽度减小。因此，可以使配线36、37重叠的面积减小。由此，可以使配线36、37的寄生电容减小。于是，也可实现电极的灵敏度的提高。

另外，由于使配线36、37的宽度减小，因此，即使由金属形成配线36、37，难以对检测区域r1的外观产生影响。

(第二实施方式)

使用图12～图17对本发明的第二实施方式进行说明。另外，在这些图中，对于和上述实施方式相同或类似的元件，附加与上述实施方式相同的符号。图12是本实施方式的输入装置的主要部分平面图。该图所示的输入装置A20在连接电极元件11彼此及电极元件21彼此的配线31、32形成于被电极元件11、21所夹的间隙的点上主要与上述的输入装置A11、A12不同。

输入装置A20与上述输入装置几乎相同，具备多个电极x、多个电极y、多个配线31、32、81、82、透射板4、柔性基板71、及IC芯片72。

图13是主要表示多个电极y的主要部分平面图。图14是主要表示多个电极x的主要部分平面图。多个电极y及多个电极x与上述的输入装置A11、A12相同，均形成于透射板4的表面4a。如图13所示，多个电极y在方向Y并列。电极y分别具备沿方向X排列的多个大致菱形的电极元件11。图15对每个电极y的面积比P2进行了表示。如该图所示，电极y的面积，电极y6～电极y13比其它的电极y增大。电极y的面积的确定方法与第一实施方式几乎相同，该方法后述。

如图14所示，多个电极x在X方向并列。电极x分别具备沿方向Y排列的多个大致菱形的电极元件21。如图12所示，在透射板4的表面4a形成有被电极元件11和电极元件21所夹的间隙s1。

如图12、图13所示，多个配线31形成于透射板4的表面4a。配线31均与电极元件11连接。配线31具备配线311～315。

配线311与配置于图13的最左侧或最右侧的电极元件11连接。与配置于最左侧的电极元件11连接的配线311均从连接的电极元件11朝向端缘r5延伸，再沿方向Y向图下方延伸。另一方面，与配置于最右侧的电极元件11连接的配线311均从连接的电极元件11朝向端缘r6延伸，再沿方向Y向图下方延伸。

配线312与配置于图13的最上侧的电极y14所包含的电极元件11连接。各配线312从方向X中相邻的两个电极元件11朝向端部r4延伸，至非检测区域r2。由此，使电极y14所包含的电极元件11彼此导通。

配线313使电极y1～y13所包含的电极元件11中在方向X相邻的两个电极元件11彼此导通。配线313形成于被该两个电极元件11所夹的间隙。配线313相当于本发明的第一连接配线的一例。

配线314与从图13上配置为第二的电极y13所包含的电极元件11连接。各配线314与配置于由配线313连接的两个电极元件11中左侧的电极元件连接。各配线314从电极元件11朝向端部r4延伸，至非检测区域r2。另外，配线314以包围电极y14所包含的电极元件11的方式配置，没有与配线312的交叉部分。通过配线313、配线314，使电极y13所包含的电极元件11彼此导通。

配线315与电极y1～y12所包含的电极元件11连接。配线315也和由配线313连接的两个电极元件11中配置于左侧的电极元件连接。各配线315从电极元件11以穿过包围被电极元件11和电极元件21所夹的间隙s1的方式向图下方延伸，横切端部r3，至非检测区域r2。

如图12所示，多个配线81形成于柔性基板71上。配线81分别与配线31连接。另外，在柔性基板71上与相同的电极y所包含的电极元件11导通的配线81彼此连接。图12中，配线81彼此的交点用黑点表示。由引，相同的电极y(限于电极y1～y12)所包含的电极元件11彼此分别导通。

另外，配线314、配线315及配线315和配线81连接的一系列配线相当于本发明的连络配线的一例。

如图12、图14所示，配线32也与配线31一样，形成于透射板4的表面4a。配线32均与电极元件21导通。配线32具有配线321及配线322。配线321使方向Y中相邻的两个电极元件21彼此导通。配线321形成于被这两个电极元件21所夹的间隙。配线322也使方向Y中相邻的两个电极21彼此导通。配线322为了避免与配线313交叉，以包围与配线313连接的两个电极元件11的一方的方式配置。通过与配线321及配线322连接，相同的电极x所包含电极元件21彼此导通。另外，配线322与本发明的第二连接配线的一例相当。

多个配线82形成于柔性基板71上。配线82分别与配线32连接。

IC芯片72与配线81、82连接。IC芯片72经由配线81及配线31等，与电极y连接。IC芯片72还经由配线82及配线32等与电极x连接。

在本实施方式中，也在IC芯片72上进行与第一实施方式相同的处理，可以检测手指Fg的接近位置。

下面，对电极y、电极x的大小的确定方法的一例进行说明。在本实施方式中电极y、电极x的面积也以电极y的面积均相等时灵敏度相对低的电极y(低灵敏度电极)的面积比灵敏度(高灵敏度电极)相对高的电极y的面积增大的方式确定。

首先，计算或测定多个电极y的面积相等时的每个电极y的灵敏度。为了计算或测定多个电极y的面积为相等时的每个电极y的灵敏度，例如实行模拟，或实际试制多个电极y相等时的输入装置即可。每个电极y的灵敏度受到从IC芯片72至电极y为止的配线31、81的电阻及配线31、81和它们之外的其它配线的寄生电容的影响。图16(a)表示通过模拟来计算多个电极y的面积相等时的每个电极y的灵敏度S1的结果的一例。如该图所示，电极y的灵敏度S1具有电极y10、y11及它们周围的电极y与其它的电极y相比减小的趋势。图17表示图16(a)所示的灵敏度S1的数值。

得到灵敏度S1的数值后，选择电极y10、y11的周围的几个电极y，例如电极y6～y13。而且，如图17所示，以这些电极y6～y13比其它电极y增大的方式确定适当的值作为每个电极y的面积比P2。这样，可以确定图15所示的每个电极y的面积比P2。而且，根据所确定的每个电极y的面积，确定电极元件11的面积。另外，电极元件21的面积确定为电极元件21不与电极元件11重叠即可。

下面，对输入装置A20的作用进行说明。

根据输入装置A20，如图15所示，图16(a)中灵敏度相对低的例如，电极y10及电极y11的面积比该图中灵敏度相对地高的例如电极y1及电极y2增大。因此，某导电体以相同的姿势位于相同距离时的该导电体和相对地灵敏度小的电极y10及电极y11的静电电容与某导电体以相同的姿势位于相同的距离时的该导电体和电极y1及电极y2的静电电容相比增大。于是，对应电极y10及电极y11的检测值也增大。这样，可以减小每个电极y的灵敏度的误差。图6(a)也表示使电极y的大小不同的输入装置A20的每个电极y的灵敏度S2。如该图所示，灵敏度S2与灵敏度S1比较可知更均一。因此，根据输入装置A20，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。

另外，在配置于图12的下侧的电极y1、y2等所包含电极元件11的周围形成有从配置于电极y1、y2的上方的电极y所包含的电极元件11延伸的多个配线315。另一方面，随着趋近电极y10及电极y11，在电极元件11的周围所形成的配线315的数量减少。随着在电极元件11的周围所形成的配线315的数量减少，电极元件11的周围的空间增加。因此，即使配置于该图的上侧的例如电极y10所包含的电极元件11的大小比配置于该图的下侧的例如电极y1所包含的电极元件11的大小增大，也不必使多个电极元件21的大小减小。因此，即使使每个电极y的面积不同，也可以维持方向X的手指Fg的接近位置的检测精度。如图16(b)所示，使电极y的面积不同时的电极x的灵敏度S2与电极y的面积相同时的电极x的灵敏度S1几乎没有变化。

如图13所示，在输入装置A20，方向X中相邻的两个电极元件11彼此由配线313连接。因此，只要将至非检测区域r2的配线31与该两个电极元件的一方连接，就可以使相同的电极y所包含的电极元件11彼此导通。由此，可以减少从电极元件11至非检测区域r2的配线31的数量。因至非检测区域r2的配线31的数量减少，可以减少柔性基板71的配线81、82彼此的交叉部分的数量。由此，可以减小配线81、82之间的寄生电容。其结果是可以使电极y及电极x的灵敏度提高。

在第二实施方式中记述的电极y的大小的确定方法也可以适用于图18～图25所示的输入装置A21～A27。另外，在这些图中，对于与上述实施方式相同或类似的元件附加与上述实施方式相同的符号。

首先，使用图18对输入装置A21进行说明。

图18是输入装置A21的主要部分平面图。该图所示的输入装置A21在配线31不包含配线312～314的点及配线32不包含配线322的点与上述输入装置A20不同。根据输入装置A21，因使用上述的方法使每个电极元件11的大小不同，所以可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，只要使电极y4～y7所包含的电极元件11的大小增大即可。

接着，使用图19对输入装置A22进行说明。

图19是输入装置A22的主要部分平面图。在该图所示的输入装置A22不包含配线313的点及配线32不包含配线322的点与上述的输入装置A20不同。根据输入装置A22，通过使用上述的方法使每个电极元件11的大小不同，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，只要使电极y4～y6所包含的电极元件11的大小增加即可。

接着，使用图20、图21对输入装置A23进行说明。

图20是输入装置A23的主要部分平面图。图21是图20的区域Ra、Rb的局部放大图。

图20所示的输入装置A23在下述方面与上述的输入装置A20不同，即，与配置于图的下半部分的电极元件11连接的配线31从电极元件11向图下方延伸，另一方面，与配置于图的上半部分的电极元件11连接的配线31从电极元件11向图上方延伸。另外，配线31彼此在柔性基板71中不连接，而在非检测区域r2连接的点也与上述的输入装置A20不同。

在该图中，将电极元件11中配置于图下半部分的电极元件设为电极元件114、115。电极元件114是配置于方向X的两端的电极元件。电极元件115是配置于图下半部分的电极元件中除电极元件114之外的电极元件。同样，将电极元件11中配置于图的上半部分的电极元件设为电极元件116、117。电极元件116是配置于方向X的两端的电极元件。电极元件117是配置于图的上半部分的电极元件中除电极元件116之外的电极元件。

配线31具备配线331、332、333、341、342、343。配线331、332、333、341、342、343例如由ITO及IZO等透明的导电性材料、Al、Ag、或Au等金属构成。

配线331与配置于图的两端的电极元件114连接。配线331从配置于图的右端的电极元件114沿在非检测区域r2中端缘r6朝向图下方延伸，再沿端部r3向图左方延伸。而且，配线331在图左下弯曲(参照区域Ra)，沿端缘r5朝向图上方延伸，与配置于图左端的电极元件114连接。

配线332在配线331弯曲为朝向图上方的部分与配线331连接。配线332朝向图下方延伸，分别与形成于柔性基板71的配线81连接。

配线333与电极元件115分别连接。配线333从电极元件115沿方向Y向图下方延伸。配线333在非检测区域r2(例如区域Rb)与配线331连接。由此，配置于图的下半部分的相同的电极y所包含的电极元件11彼此导通。

如在图21(a)较好地表示，在区域Ra，多个配线331和多个配线332交叉。在区域Ra与不同的电极y导通的配线331及配线332隔着绝缘层z1被层叠。由此，防止与不同的电极y导通的配线331和配线332彼此导通。

同样，如在图21(b)较好地表示，在区域Rb，多个配线331与多个配线333交叉。在区域Rb，与不同的电极y导通的配线331及配线333隔着绝缘层z2被层叠。由此，防止与不同的电极y导能的配线331、333彼此导通。另外，在区域Rb多个配线331和配线32交叉。在区域Rb多个配线331及配线32隔着绝缘层z3被层叠。由此，防止多个配线331和配线32导通。当然，在区域Rb之外的与不同的电极y导通的配线331和配线333交叉的部分及配线331和配线32交叉的部分也形成有绝缘层z2、z3。

如图20所示，配线341与配置于方向X的两端的电极元件116连接。配线341从配置于图右端的电极元件116在非检测区域r2中沿端缘r6朝向图上方延伸。而且，配线341在非检测区域r2中沿端部r4朝向图左方延伸。而且，配线341沿端缘r5朝向图下方延伸，并弯曲成朝向图右方(例如参照区域Rc)。而且，配线341与配置于图左端的电极元件116连接。

配线342在配线341弯曲为朝向图右方的部分与配线341连接。而且，配线342沿端缘r5或端缘r6，延伸至柔性基板71为止。配线342分别与形成于柔性基板71的配线81连接。

配线343分别与电极元件117连接。配线343从电极元件117朝向图的上方延伸至端部r4为止。配线343在非检测区域r2与配线341连接(例如参照区域Rd)。由此，配置于图的上半部分的相同的电极y所包含的电极元件11彼此导通。

在区域Rc中，与区域Ra、Rb一样，与不同的电极y导通的配线341和配线342交叉。在区域Rc，与不同的电极y导通的配线341及配线342隔着绝缘层z4被层叠。由此，防止与不同的电极y导通的配线341、342彼此导通。在区域Rd，与不同的电极y导通的配线341和配线343交叉。在区域Rd中，与不同的电极y导通的配线341及配线343隔着绝缘层z5被层叠。由此，防止与不同的电极y导通的配线341、343彼此导通。当然，在区域Rc、Rd之外的与不同的电极y导通的配线341和配线342交叉的部分及配线341和配线343交叉的部分也形成有绝缘层z4、z5。

根据这种输入装置A23，因使用上述的方法使每个电极元件11的大小不同，所以可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，只要使配置于区域Re的电极元件11的面积增大即可。

根据输入装置A23，主要形成于检测区域r1的配线333、343由与电极x、y相同的材料即透明导电性材料构成时，可以维持检测区域r1的美观。另外，电极x、y及配线333、343由相同的材料构成时，可以同时形成这些电极x、y及配线333、343。由此，可以实现输入装置A23的制造工序的简单化。

主要形成于非检测区域r2的配线331、332、341、342由与电极x、y相同的材料即透明的导电性材料构成时，也可以实现输入装置A23的制造工序的简单化。

另外，配线331、332、341、342由Al、Ag、或Au等金属构成时，可以实现配线331、332、341、342的低电阻化。而且，这样一来，因配线331、332、341、342主要形成于非检测区域r2，所以不对检测区域r1的美观产生坏影响。

在区域Ra、Rb、Rc、Rd的配线31、配线32的层叠部分，例如配线31、32中透射板4侧(即下层侧)的配线由透明的导电性材料构成，且配线31、32中相对于绝缘层z1至z5的任一个，透射板4的相反侧(即上层侧)的配线也可以由金属构成。据此，可以与电极x、y同时形成配线31、32中靠透射板4的配线。另外，可以降低配线31、32中相对于绝缘层z1至z5的任一个的透射板4的相反侧的配线的电阻值。

配线333与电极元件115连接，配线343与电极元件117连接。这是指配线31从电极元件11朝向距该电极元件11近的端部r3或r4延伸。由此，可以缩短检测区域r1的配线31的长度，可以降低配线31的电阻值。其结果是可以期待电极y灵敏度的提高。

形成于区域Ra、Rb、Rc、Rd等的绝缘层z1～z5是形成于非检测区域r2的绝缘层，而不形成于检测区域r1。因此，由于形成这些绝缘层z1～z5，从而不对检测区域r1的光透射率及折射率产生影响。由此，可依然良好维护检测区域r1的美观。另外，在非检测区域r2形成绝缘层z1～z5时，不需要微细加工。由此，可以实现输入装置A23的制造工序的简单化。

配线331、332、333彼此及配线341、342、343彼此分别在非检测区域r2连接。因此，不必在柔性基板71中连接配线31彼此、配线32彼此。由此，可以减少在柔性基板71中必须形成的配线81的数量。其结果是，可以实现柔性基板71的小型化。因此，可以削减输入装置A23的制造成本。

下面，使用图22对输入装置A24进行说明。

图22是输入装置A24的主要部分平面图。该图所示的输入装置A24与上述的输入装置A23相比，在配线332(除了配线332′)不与配线331直接连接而与电极元件114连接，且配置于电极元件114及与这些电极元件114邻接的电极元件21之间所形成的间隙s1这一点不同。另外，输入装置A24在配线342(除了配线342′)不与配线341直接连接而与电极元件116连接，且在配置于电极元件116及与该电极元件116邻接的电极元件21之间所形成的间隙s1的点也与输入装置A23不同。

配线332在检测区域r1从电极元件114大致沿端缘r5或端缘r6向图上方延伸。而且，配线332在方向Y的中央部分横切端缘r5或端缘r6。另外，配线332在非检测区域r2沿端缘r5或端缘r6延伸，至柔性基板71。

配线332′在图的右下的非检测区域r2与配线331连接。配线332′也延伸至柔性基板71。

配线342在检测区域r1从电极元件116大致沿端缘r5或端缘r6向下方延伸。而且，配线342在方向Y的中央部分横切端缘r5或端缘r6。另外，配线342在非检测区域r2沿端缘r5或端缘r6延伸，至柔性基板71。

配线342′在方向X的中央部分的非检测区域r2与配线341连接。配线342′也延伸至柔性基板71。

根据这种输入装置A24，通过使用上述的方法使每个电极元件11的大小不同，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，使配置于区域Rf的电极元件11的大小增大即可。

在输入装置A24中，配线331和配线332没有被层叠。即，图20所示的输入装置A23的区域Ra的配线331及配线332的交叉部分在输入装置A24中没有形成。因此，可以减小配线331和配线332之间的寄生电容。由此，可以期待电极y的灵敏度的提高。

在输入装置A24中，配线341和配线342没有被层叠。因此，可以减小配线341和配线342之间的寄生电容。由此，可期待电极y的灵敏度的提高。另外，输入装置A24具有与输入装置A23具有的优点同样的优点。

下面，使用图23对输入装置A25进行说明。

图23是输入装置A25的主要部分平面图。该图所示的输入装置A25与上述的输入装置A24比较，在连结配置于电极元件11中方向Y的中央的电极元件118彼此的配线334形成于被方向Y中邻接的电极元件214、215所夹的间隙这一点不同。另外，输入装置A25在与电极元件214分别连接的配线32沿配线334朝向端缘r5或端缘r6延伸的点也与输入装置A24不同。这些配线32在非检测区域r2中沿端缘r5或端缘r6朝向图的下方延伸，与形成于柔性基板71的配线82连接。

根据这种输入装置A25，通过使用上述方法使每个电极元件11的大小不同，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，只要使配置于区域Rg的电极元件11的大小增加即可。

在输入装置A25中，电极元件118彼此利用配线334导通。因此，不必形成用于使电极元件118导通的配线331。由此，例如，在区域Ra及区域Rb中可以减少配线31、32彼此的交叉数量。其结果是，可以减小配线31彼此及配线31和配线32之间的寄生电容。由此，可期待电极y的检测灵敏度的提高。

下面，使用图24对输入装置A26进行说明。

图24是输入装置A26的主要部分平面图。该图所示的输入装置A26其配线31、32的配置状态与上述实施方式的输入装置A23不同。在该图中，对于电极y从下按顺序对称为1α、1β、1γ、1α、1β、1γ的电极附加符号。将电极1α、1β、1γ所包含的电极元件11分别称为电极元件11α、11β、11γ。

配线31具备配线355、356、357、358。配线355连接电极元件11α彼此并使其导通。配线355通过电极元件11α的左右上方的间隙s1。另外，配线355也通过被电极元件11β彼此所夹的间隙。

配线356连接电极元件11β彼此并使其导通。配线356形成于被电极元件11β彼此所夹的间隙。配线356沿方向X延伸。

配线357连接电极元件11γ彼此并使其导通。配线357通过电极元件11γ的左右下方的间隙s1。另外，配线357通过被电极元件11β彼此所夹的间隙。

配线358分别与配置于方向X的一端的电极元件11α、11β、11γ连接。配线358从电极元件11α、11β、11γ朝向端缘r5或端缘r6延伸，而且，非检测区域r2中朝向图下方延伸。配线358分别与形成于柔性基板71的配线81连接。

电极元件21具备电极元件21a、21b、21c。

配线32具备配线32m、362、363、364。配线32m连接方向Y中相互邻接的电极元件21彼此。

配线32m连接在方向Y相互邻接的电极元件21a、21b彼此，21b、21c彼此。由此，电极元件21a、21b、21c彼此导通。

配线362与电极元件21b连接。配线362从电极元件21b朝向端缘r5或端缘r6延伸。配线362朝向端缘r5或端缘r6中更接近该配线362连接的电极元件21b的电极元件延伸。配线362以与配线362连接的电极元件21b之外的电极元件21、电极元件11及配线31、32均不重叠的方式配置为包围处于电极元件21a、21b、21c中的一端的电极元件21a或电极元件21c。

配线363与配置于图的最上部的电极元件21a连接。配线363在非检测区域r2中从该电极元件21a沿端部r4向图左方或右方延伸，再沿端缘r5或端缘r6向图下方延伸。而且，配线363与形成于柔性基板71的配线82连接。配线363在沿端缘r5或端缘r6朝向图下方延伸的部分与配线362的一端连接。

配线363在端部r4的上方与不同的电极元件21连接的配线363交叉。在该交叉部分多个配线363隔着绝缘层z7被层叠。由此，防止与不同的电极x导通的配线363导通。同样地，配线363在沿端缘r5或端缘r6向图下方延伸的部分与配线362交叉。在该交叉部分配线363和配线362隔着绝缘层z8被层叠。由此，防止与不同的电极x导通的配线363及配线362导通。另外，配线363在沿端缘r5或端缘r6向图下方延伸的部分与配线358交叉。在该交叉部分，配线363及配线358隔着绝缘层z9被层叠。由此，防止由此配线363和配线358导通。

配线364与配置于图的最下部的电极元件21b连接。配线364也与配线82连接。

根据这种输入装置A26，通过使用上述方法使每个电极元件11的大小不同，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，只要使配置于区域Rh的电极元件11的大小增大即可。

另外，根据本实施方式，配线32m使电极元件21a、21b、21c彼此导通。因此，只要将至非检测区域r2的配线32与电极元件21b连接，就可以使相同的电极x所包含的电极元件21彼此导通。即，不必将至非检测区域r2的配线32与电极元件21a、21c导通。因此，可以减少至非检测区域r2的配线32的数量。由此，可以减少非检测区域r2的配线31、32彼此的交叉部分。因此，可以减小配线31、32之间的寄生电容。另外，由于可以减少至非检测区域r2的配线32的数量，从而也可以使柔性基板71减小。

与配置于图的左半部分的电极元件21b连接的配线362向图的左方延伸。另一方面，与配置于图的右半部分的电极元件21b连接的配线362向图的右方延伸。即，配线362朝向更接近于端缘r5或端缘r6中该配线362连接的电极元件21b延伸。因此，可以缩短检测区域r1的配线362的长度，可以降低配线362的电阻值。可以期待其结果及电极y的灵敏度的提高。

方向X中与相邻的电极元件21b连接的配线362的一方以包围电极元件21a的方式配置，这些配线362的另一方以包围电极元件21c的方式配置。这些配线362没有配置于相同的间隙s1。因此，可以缩小间隙s1的宽度。由此，可以进一步扩大占据检测区域r1的电极x、y的面积，可以期待电极x、y的灵敏度的提高。

沿方向X的端部r3、r4的长度比沿方向Y的端缘r5、r6的长度更短。因此，沿方向X形成配线362适于进一步缩短配线362的长度。

下面，使用图25对输入装置A27进行说明。

图25是输入装置A27的主要部分平面图。电极y中从配置于方向Y的中央的电极设为电极1a、1b、1c、1d。将电极1a、1b、1c、1d所包含的电极元件11分别设为电极元件11a、11b、11c、11d。电极1a在检测区域r1沿方向X。

将电极元件21中配置于方向X的两端的电极元件设为电极元件211。另外，将电极元件21中除电极元件211之外的电极元件设为电极元件212。

在图25的方向Y的中央部分形成有被电极元件212所夹的间隙s2。间隙s2也被电极元件11a所夹。间隙s2沿方向X配置多个。在输入装置A27中间隙s2形成有三个。

配线32与上述实施方式相同，形成于透射板4的表面4a。将配线32中与电极元件211连接的配线设为配线321或配线322。将配线32中与电极元件212连接的配线设为配线323或配线324。

配线321从电极元件211沿方向X向端缘r5、r6延伸。配线321彼此在非检测区域r2连接。配线321中形成于非检测区域r2的部分由Ag、Al等金属构成。在图27中将由该金属构成的部分用灰色表示。配线322从配置于图的最下部的电极元件211向图下方延伸。配线323形成于被电极元件212所夹的间隙，连接这些电极元件212彼此。但是，配线323没有形成于间隙s2。配线324从配置于图的最上部、最下部的电极元件212分别向图上方、图下方延伸。配线324例如在与端部r3、r4邻接的非检测区域r2与配线317、318交叉。为了防止配线324和配线317、318导通，形成有绝缘层z。

配线31形成于透射板4的表面4a。配线31具备配线314、315、316、317、318。配线314形成于间隙s2。配线314连接电极元件11a彼此。配线315从配置于电极元件11b、11c、11d的端缘r5、r6的附近朝向检测区域r1的内部延伸。配线316连接电极元件11b彼此。配线316从电极元件11b朝向检测区域r1的内部延伸，形成于与电极元件11a邻接的间隙s1及间隙s2。配线317连接电极元件11c彼此。配线317从电极元件11c朝向端部r3、r4延伸，形成于与电极元件11d邻接的间隙s1。配线318连接电极元件11d彼此。配线318从电极元件11d朝向端部r3、r4延伸。

配线82与配线322、324分别连接。与配线324连接的配线82彼此在柔性基板71内连接。由此，夹着间隙s2配置于图的上侧及下侧的电极元件212彼此导通。

配线81分别与从配置于方向X的端部的电极元件11延伸的配线31连接。

根据这种输入装置A27，通过使用上述的方法使每个电极元件11的大小不同，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。例如，只要使配置于区域Ri的电极元件11的大小增大即可。

另外，通过在间隙s1、s2形成配线316，可以连接电极元件11b彼此。因此，在非检测区域r2等不必形成用于连接电极元件11b彼此的配线31。这适于缩短配线316，适于实现配线31的电阻值的降低。另外，在非检测区域r2中可以减少配线31和配线32的交叉部分。因此，在非检测区域r2中可以减少用于对配线31和配线32进行绝缘的绝缘层。

配线321均具有沿方向X向端缘r5、r6延伸的部分。因此，在被邻接的电极元件211彼此所夹的间隙可以形成连接与该间隙邻接的电极元件11的配线31。这适于进一步缩短配线31，也适于实现配线31的电阻值的降低。

配线318从电极元件11d朝向非检测区域r2延伸，而不向检测区域r1的内部延伸。因此，不必在间隙s1形成配线318。其结果是可以减少必须在间隙s1形成的配线31的数量。由此，可以减小间隙s1的大小。这适于使在检测区域r1内电极x、y占据的面积增加，提高电极x、y的灵敏度。

(第三实施方式)

使用图26～图28对本发明的第三实施方式进行说明。另外，在这些图中，对与上述实施方式相同或类似的元件附加与上述实施方式相同的符号。图26是本实施方式的输入装置的主要部分平面图。该图所示的输入装置A30是所谓滑动式的输入装置，方向X的手指Fg的检测方法与上述的输入装置的方法不同。

输入装置A30具备多个电极y、配线38、39、81、82、透射板4、柔性基板71及IC芯片72。

多个电极y形成于透射板4的表面4a。电极y沿方向Y并列，并且沿方向X延伸。电极y分别具备滑动电极15、16。图27对每个电极y的面积进行表示。电极y的面积即指滑动电极15及滑动电极16的面积的和。

如图27所示，按电极y1、y2…的顺序，电极y的面积增大。每个电极y的面积可以按照与第一实施方式及第二实施方式中所述的方法同样的方法来确定。

滑动电极15是顶端朝向方向X一方的楔状。即，滑动电极15以朝向图右方，方向Y的大小减小的方式延伸。滑动电极16是顶端朝向方向X的另一方的楔状。即，滑动电极16以朝向图左方方向Y的大小减小的方式延伸。滑动电极15及滑动电极16沿方向Y相互配置。

配线38、39形成于透射板4的表面4a。配线38、39是对由例如ITO、IZO等透明的导电性材料构成的薄膜实施了构图的配线。配线38与滑动电极15连接，配线39与滑动电极16连接。配线38、39均从滑动电极15或滑动电极16延伸至透射板4的图中下端为止。

柔性基板71设置于方向Y的透射板4的端部。柔性基板71上形成有配线81、82。配线81分别与配线38连接。配线82分别与配线39连接。IC芯片72装载于柔性基板71上。IC芯片72经由配线81、38与滑动电极15连接。另外，IC芯片72经由配线82、39与滑动电极16连接。在本实施方式中，IC芯片72也可独立且经常地检测对应滑动电极15的检测值、及对应滑动电极16的检测值地构成。

下面，使用图26、图28对检测使用输入装置A30的手指Fg的接近位置的方法的一例进行说明。图28(a)是表示每个电极y的检测值的直方图。

在使用者不作任何操作的状态下，电极y和手指Fg之间几乎不产生静电电容。接着，如图26所示，使用者让手指Fg接近透射板4的表面4a。这时，电极y和手指Fg的距离减小。由此，在手指Fg和电极y之间产生静电电容。电极y中和手指Fg的距离越近，检测值增加。图28(a)中电极y中电极y4的检测值最大。

接着，IC芯片72对与电极y4相邻的两个电极y3及电极y5的检测值计算加权平均。由此，可以检测方向Y的手指Fg的更正确的接近位置。

接着，使用全部滑动电极15的检测值的和T1及全部滑动电极16的检测值的和T2，检测手指Fg的方向X的位置。图28(b)表示T1及T2的值。如该图所示，滑动电极15的检测值的和T1和滑动电极16的检测值的和T2的比为1∶3。因此，可以判断方向X的手指Fg的位置为0.75。

这样，在输入装置A30中，IC芯片可以检测方向Y及方向X的手指Fg的接近位置。

在输入装置A30中也可以使用与第一实施方式及第二实施方式同样的方法，如图27所示使每个电极y的大小不同，由此，可以降低每个电极y的灵敏度的误差。其结果是可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。

(第四实施方式)

使用图29～图33对本发明的第四实施方式进行说明。图29是本实施方式的输入装置的主要部分的平面图。图30是主要表示图29的电极y的主要部分平面图。图31是主要表示图29的电极x的主要部分平面图。图32是图29的区域XXXII的局部放大图。图33是沿图32的XXXIII线的主要部分剖面图。另外，在这些图中，对与上述实施方式相同或类似的元件附加与上述实施方式相同的符号。

输入装置A40与输入装置A20比较，方向X的尺寸增大，方向Y的尺寸减小。因此，输入装置A40与输入装置A20比较，电极x的数量增加，电极y的数量减少。在输入装置A40中电极x的数量为20，电极y的数量为11。

输入装置A40具备多个电极x、多个电极y、多个配线31、32、光透射层53(参照图32、图33，在图29～图31中省略)、涂敷层55(参照图33、在图29～图32中省略)、透射板4、柔性基板(参照图12，在本实施方式中图示略)及IC芯片(参照图12，在本实施方式中图示略)。

电极x、电极y、配线32、透射板4的具体的结构因与输入装置A20同样，所示省略说明。在本实施方式中电极y的面积，电极y7～y10比其它的电极y增大。

如图30所示，配线31与输入装置A20同样具备配线311～315。因这些具结构与输入装置A20同样，所以省略详细的说明。但是，在本实施方式中与输入装置A20不同，配线315也与多个电极y中自图30的上部第二个电极(电极y10)连接。在输入装置A20中，配线315不与多个电极y中自图13的上部第二个电极(电极y13)连接。图30的电极y8、y9所包含的电极元件11以三个为一组，与配线313连接。

如图32、图33较好地表示，光透射层53形成于透射板4的表面4a。光透射层53形成于被电极元件11和电极元件21所夹的间隙s1。光透射层53为提高目视性而设置。从透射板4入射到光透射层53的光通过光透射层53朝向涂敷层55行进。构成光透射53层的材料的折射率与构成涂敷层55的材料的折射率不同。优选构成光透射层53的材料的折射率与构成电极元件11、21的材料的折射率同等大小。在本实施方式中，光透射层53由与构成电极元件11及电极元件21的材料(例如ITO、IZO)相同的材料构成。因此，光透射层53及电极元件11、21的折射率相同。这时，光透射层53在透射板4的表面4a上与形成电极元件11、21同时地形成。光透射层53在使用与构成电极元件11及电极元件21的材料相同的材料时，光透射层53可以说由导电性的材料构成。光透射层53由导电性的材料构成时，需要光透射层53和与该光透射层53邻接的电极元件11、21电绝缘。因此，光透射层53和与该光透射层53邻接的电极元件11、21隔着间隙而配置。

如图32、图33较好地表示，在本实施方式中，光透射层53包含多个线元53a、53b。各线元53a、53b是向沿电极元件11及电极元件21的缘的方向延伸的形状。多个线元53a、53b经由间隙相互并列。线元53a和电极元件11隔着间隙配置。线元53b和电极元件21隔着间隙配置。

如图32、图33较好地表示，涂敷层55覆盖电极x、y、及光透射层53。涂敷层55起到抑制因外来光反射目视性恶化、或粘接未图示的透明面板的功能。涂敷层55由使光透射的透明的绝缘材料构成，这种材料例如举出紫外线硬化树脂。涂敷层55的折射率例如为1.5左右。另外，构成电极x、y(电极元件11、21)的材料的折射率例如为2.0左右。另外，构成透射板4的材料的折射率例如为1.5左右。

下面，对输入装置A40的作用进行说明。

在输入装置A40中，由于与上述的实施方式一样使每个电极y的大小不同，所以可以降低每个电极y的灵敏度误差。其结果是，可以更正确地检测方向Y的手指Fg的接近位置。

输入装置A40是方向X的尺寸大，尺寸Y的尺寸小的横长的形状。因此，使电极y10所包含的电极元件11彼此导通的配线314的长度变得比较长。这样的情况下，与电极y10所包含的电极元件11连接的配线314的电阻增大。另一方面，在输入装置A40中，电极y10还连接有配线315。由此，可以降低与电极10连接的配线的电阻。因此，根据输入装置A40，可以使电极y10的灵敏度和多个电极y10中电极y10之外的电极的灵敏度没多少差别。因此，输入装置A40适于抑制每个电极y的灵敏度误差。

在横长形状的输入装置A40中，电极y的数量减少。其结果是，形成于被图29的最下部的电极元件11及电极元件21所夹的间隙s1的配线315的数量减少。因此，即使将配线315与连接电极y10所包含的电极元件11连接，也不必扩大间隙s1的宽度。由此，不使电极元件11、21的面积减小，可以将配线315与电极y10所包含的电极元件11连接。

在输入装置A40中，在光透射层53和涂敷层55的界限，从透射板4的一侧朝向涂敷层55的一侧的光的一部分反射。因此，将利用由液晶显示面板B显示的图像等中不通过电极元件11、21而通过间隙s1的光所目视的区域亮度可以趋近利用由液晶显示面板B显示的图像中通过电极元件11、21的光所目视的区域的亮度。由此，在看见液晶显示面板B所显示的图像等时，在图像等上难以产生亮区域和暗区域。即，看见液晶显示面板B所显示的图像等时，图像等亮度更均一。这样，输入装置A40适于使液晶显示面板B所显示的图像等的美观(目视性)提高。

在输入装置A40中，光透射层53由与构成电极元件11、21的材料相同的材料构成。该结果是，构成光透射层53的材料的折射率和构成电极元件11、21的材料的折射率相同。因此，根据输入装置A40，在光通过光透射层53时和光通过电极元件11、21时，可以使从透射板4的一侧朝向涂敷层55一侧的光的透射率大致相同。由此，看见液晶显示面板B所显示的图像时，更难产生图像等上亮区域和暗区域。即，看见液晶显示面板B所显示的图像等时，图像等的亮度更均一。这样，输入装置A40适于进一步提高液晶显示面板B所显示的图像等的美观(目视性)。

在输入装置A40中，光透射层53包含相互隔着间隙配置的多个线元53a、53b。这种输入装置A40适于降低相互邻接的电极元件11和电极元件21之间寄生电容。作为其理由之一认为如下所述。

线元53a由导电性材料构成，且和电极元件11隔着间隙配置。因此，在输入装置A40中，可以说形成有将电极元件11和线元53a作为电极对的电容器C1(参照图33)。同样，线元53b由导电性材料构成，且和电极元件21隔着间隙配置。因此，在输入装置A40中，可以说形成有将电极元件21和线元53b作为电极对的电容C2(参照图33)。在本实施方式中线元53a、53b还相互隔着间隙配置。因此，输入装置A40中可以说形成有将线元53a和线元53b及为电极对的电容器C3(参照图33)。

如图33所示，相互邻接的电极元件11和电极元件21之间的寄生电容是被串联连接的电容器C1、C2、C3的合成电容。在本实施方式中，在被串联连接的电容器C1、C2之间还串联地连接有电容器C3。另一方面，与本实施方式不同，光透射层53不包含相互隔着间隙配置的线元53a、53b时，即光透射层53是一种膜状部件时，相互邻接的电极元件11和电极元件21之间的寄生电容只是被串联连接的电容器C1、C2的合成电容。因此，在本实施方式中，光透射层53与不包含相互隔着间隙配置的线元53a、53b时相比，只要串联地连接电容器C3，就可以减小电极元件11和电极元件21之间的寄生电容。因此，输入装置A40适于降低相互邻接的电极元件11和电极元件21之间的寄生电容。

图34表示光透射层的变形例。本变形例的光透射层53不由导电性材料构成而由绝缘性树脂构成。

光透射层53以埋入被电极元件11和电极元件21所夹的间隙s1的方式形成。光透射层53与电极元件11及电极元件21相接。构成光透射层53的材料的折射率与构成涂敷层55的材料的折射率不同。优选构成光透射层53的材料的折射率与构成电极元件11、21的材料的折射率为同等大小。从减小电极元件11和电极元件21之间的寄生电容的观点来看，优选构成光透射层53的材料的电容率比构成涂敷层55的材料的电容率小的一种。

这种结构中，在光透射层53和涂敷层55的界限，从透射板4的一侧朝向涂敷层55的一侧的光的一部分反射。因此，可以使利用由液晶显示面板B显示的图像等中不通过电极元件11、21而通过间隙s1的光所目视的区域的亮度趋近于利用由液晶显示面板B显示的图像等中通过电极元件11、21的光所目视的区域的亮度。由此，在看见液晶显示面板B所显示的图像等时，在图像等上难以产生亮区域和暗区域。即，看见液晶显示面板B所显示的图像等时，图像等亮度更均一。这样的结构也适于使液晶显示面板B所显示的图像等的美观(目视性)进一步提高。

构成光透射层53的材料的折射率和构成电极元件11、21的材料的折射率大致相同的情况下，可以使从透射板4的一侧朝向涂敷层55的一侧的光的透射率在光通过光透射层53时和光通过电极元件11、21时大致相同。由此，在看见液晶显示面板B所显示的图像等时，在图像等上更难产生亮区域和暗区域。即，看见液晶显示面板B所显示的图像等时，图像等的亮度更均一。这种结构也适于使液晶显示面板B所显示的图像等的美观(目视性)进一步提高。

对于第一～第四实施方式如下所述。

(1)输入装置不必与液晶显示面板B一起使用。电极x、y不必透明。这些电极也可以由铜等不透明的金属构成。

(2)输入装置不限于用于手机。例如，可以在数字照相机、个人导航显示、自动柜员机等其它的使用触摸面板的设备中使用。

(第五实施方式)

图35是表示本发明第五实施方式的输入装置的一例的主要部分剖面图。图36是沿图35的IIIVI-IIIVI线的主要部分平面图。这些图所示的输入装置A1具备透射板100、多个带状电极200、配线810、820、保护层500、柔性基板710及IC芯片720。图35中为了理解上的方便，省略配线810、820的记载。在图36中省略保护层500的记载。输入装置A1是用于根据静电电容的变化检测导电体即手指Fg1、Fg2接近的位置的输入装置。如图35所示，输入装置A1通过与液晶显示面板B重叠，构成所谓触摸面板。

如图36所示，由双点划线的矩形表示的区域是检测区域r1。检测区域r1是使手指Fg1、Fg2接近输入装置A1，检测手指Fg1、Fg2接近的区域。另一方面，在uv平面看中，透射板100的检测区域r1之外的框状区域是非检测区域r2。检测区域r1和非检测区域r2的边界为端部r7、r8。端部r7、r8均沿方向u。

透射板100是由例如聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)、聚碳酸酯(PC)等透明树脂的单层树脂体或玻璃构成的透明的板。透射板100具有表面100a及背面100b。

如图35所示，多个还状电极200形成于透射板100的表面100a。如图36所示，带状电极200沿方向u并列，并且沿方向v延伸。带状电极200是对由例如ITO、IZO等透明导电性材料构成的薄膜施加图案结构的电极。带状电极200分别具备检测电极221、222。

检测电极221是顶端朝向方向v的楔状。即检测电极221以朝向方向v方向u的大小减小的方式延伸。检测电极222是顶端朝向与方向v相反方向的楔状。即，检测电极222以朝向方向v的相反向方向u的大小减小的方式延伸。检测电极221和检测电极222沿方向u相互配置。换句话说，除了配置于方向u的端部的检测电极221，检测电极221被检测电极222所夹。另外，除了配置于方向u的端部的检测电极222，检测电极222被检测电极221所夹。

如图36所示，配线810、820形成于透射板100的表面100a。配线810、820是对由例如ITO、IZO等透明导电性材料构成的薄膜施加图案结构的配线。配线810、820也可以由与检测电极221、222相同的材料构成。该情况下，可以在透射板100上同时地形成配线810、820及检测电极221、222。由此，可以使输入装置A1的制造工序简单化。另外，配线810、820也可以由Cu、Al等低电阻的金属构成。配线810与检测电极221连接。配线810从检测电极221的宽度宽的部分沿与方向v相反方向延伸，至端部r8侧的非检测区域r2。配线820与检测电极222的顶端连接。配线820从检测电极222的顶端沿与方向v相反方向延伸。配线820也与配线810一样，延伸至端部r8侧的非检测区域r2。

保护层500形成于透射板100的背面100b。保护层500由例如ITO、ZIO等透明导电性材料构成。保护层500由背面保护层(图示略)覆盖。保护层500在来自液晶显示面板B的噪音应对上具有效果。另外，有时在透射板100的背面100b没有保护层500。这时，可以得到除对来自液晶显示面板B的噪音应对具有效果之外的可以享受具备保护层500时的效果。

柔性基板710设置于方向v的透射板100的端部。IC芯片720装载于柔性基板710上。IC芯片720经由配线810、820及柔性基板710，与检测电极221、222连接。IC芯片720自由且经常地可检测检测电极221、或检测电极222和手指Fg1或手指Fg2之间的静电电容的变化而构成。另外，在COG(Chip On Glass)时，IC芯片720装载于透射板100上。

如图35所示，液晶显示面板B具备例如，相互对置的透明基板及TFT基板，被它们夹着的液晶层。液晶显示面板B具有例如，在手机的操作用时提供的操作菜单图像、及显示图像等的功能。液晶显示面板B显示的图像可连续目视输入装置A1。液晶显示面板B的显示面在方向w看以与检测区域r1重叠的方式构成。

下面，使用图35～图38对检测使用输入装置A1的手指Fg1、及Fg2的接近位置的方法的一例进行说明。图37是表示每个带状电极200的静电电容的值的直方图。从图36的左侧配置为第一个、第二个、第三个…的带状电极200的静电电容的值与从图37的左侧表示为第一个、第二个、第三…的静电电容的值对应。

首先，使液晶显示面板B例如显示手机的邮件制作画面及因特网的内容画面。使用者在没有操作的状态，带状电极200和手指Fg1之间及带状电极200和手指Fg2之间几乎没有产生静电电容。接着，如图35、图36所示，使用者让手指Fg1及手指Fg2接近透射板100的表面100a。这时，带状电极200和手指Fg1、Fg2的距离缩小。由此，手指Fg1和带状电极200之间及手指Fg2和带状电极200之间产生静电电容。带状电极200中和手指Fg1或手指Fg2的距离越近，静电电容越增大。在图36中将手指Fg1接近的带状电极200设为带状电极200a。另外，手指Fg2接近的带状电极200设为带状电极200b。

如图37所示，带状电极200a、200b的静电电容的值在全部带状电极200的静电电容的值中为第一大的值和第二大的值。IC芯片720将带状电极200a、200b特指为手指Fg1或手指Fg2接近的带状电极200。接着，对带状电极200a及与该带状电极200a相邻的两个带状电极200的静电电容的值计算加权平均。由此，可以检测方向u的手指Fg1的更正确的接近位置。同样地，对带状电极200b及与该带状电极200b相邻的两个带状电极200对应的静电电容的值计算加权平均。由此，可以检测方向u的手指Fg2的更正确的接近位置。在本实施方式中，将带状电极200a称为电极组300。另外，将带状电极200b称为电极组400。

接着，使用手指Fg1接近的带状电极200a(即电极组300)所包含的检测电极221、222，检测手指Fg1的方向v的位置。图36中将带状电极200a所包含的检测电极221、222分别设为检测电极221a、222a。图38表示对应检测电极221a、222a的静电电容的值。如图38所示，检测电极221a的静电电容的值为Cdw1，检测电极222a的静电电容值为Cup1。接着，在IC芯片720中求出Cdw1和Cup1的比，从而检测方向v的手指Fg1的位置。在本实施方式中，因Cdw1∶Cup1＝1∶3，所以可以特指方向v的手指Fg1的位置为0.75。

接着，使用手指Fg2接近的带状电极200b(即电极组400)所包含的检测电极221、222，检测手指Fg2的方向v的位置。手指Fg2的方向v的位置的检测方法与上述的手指Fg1的方向v的位置检测方法一样。在图36中将带状电极200b所包含的检测电极221、222分别设为检测电极221b、222b。图39表示对应检测电极221b、222b的静电电容的值。如图39所示，检测电极221b的静电电容的值为Cdw2。检测电极222b的静电电容的值为Cup2在本实施方式中，因Cdw2∶Cup2＝1∶1，所以可以特指方向v的手指Fg2的位置为0.5。

这样，在输入装置A1中IC芯片720可以检测方向u及方向v的手指Fg1、Fg2的接近位置。

下面，对本实施方式的输入装置A1的作用进行说明。

仅多个带状电极200中的一个隶属于电极组300中，而不是多个带状电极200的全部隶属。因此，如上所述，手指Fg2接近的带状电极200难以包含于电极组300。另一方面，在输入装置A1中，为检测方向v的手指Fg1的接近位置使用的检测电极221、222是隶属于电极组300的电极。因此，IC芯片720抑制因在手指Fg2和检测电极221、222之间产生的静电电容受到的影响，并且可以检测方向v的手指Fg1的接近位置。因此，不仅手指Fg1，而且即使手指Fg2接近带状电极200，也可以正确地检测方向v的Fg1的接近位置。同样，在输入装置A1中，也可以正确地检测方向v的手指Fg2的接近位置。其结果是，根据输入装置A1，可以更正确地进行手指Fg1及手指Fg2的接近位置的检测即两点检测。

另外，电极组300仅一个带状电极200(200a)隶属。因此，电极组300与多个带状电极200隶属时相比，手指Fg2难以接近隶属于电极组300的带状电极200(200a)。因此，检测方向v的手指Fg1的接近位置时，可以期待进一步减少因手指Fg2和检测电极221、222之间产生的静电电容受到的影响。同样，检测方向v的手指Fg2的接近位置时，也可以期待进一步减少因在手指Fg1和检测电极221、222之间产生的静电电容而受到的影响。

为了检测方向u的手指Fg1、Fg2的接近位置，不对全部的带状电极200的静电电容而对三个带状电极200的静电电容计算加权平均。这适于分别正确地检测手指Fg1、Fg2的两个导电体的接近位置。

配线810、820均从检测电极221、222朝向非检测区域r2的端部r8侧延伸。因此，在输入装置A1中不必在非检测区域r2的端部r7侧形成引导配线。由此，可以使透射板100的有效区域增加。

(第六实施方式)

图40～图44表示本发明的第六实施方式。另外，在这些图中，对与第五实施方式相同或类似的元件附加与第五实施方式相同的符号。图40是表示本发明的本实施方式的输入装置的一例的主要部分平面图。图41是图40的区域XLI的放大图。图41表示一个带状电极200。本实施方式的输入装置A2在带状电极200由相互相对的节齿状电极构成的点及多个带状电极200隶属于电极组300、400的点中与第五实施方式的输入装置A1不同。下面，具体地说明。

如图40、图41较好地表示，带状电极200具备检测电极221、222和连接电极230、240。如图41所示，检测电极221具备三个楔状电极281。楔状电极281均以朝向方向v，方向u的大小L1减小的方式延伸。由此可知，检测电极221以方向u的大小(大小L1的和)朝向方向v减小的方式延伸。

连接电极230连接楔状电极281的宽度宽的部分彼此。连接电极230形成于非检测区域r2。配线810与连接电极230连接。配线810形成于非检测区域r2的端部r8侧。

如图41所示，检测电极222具备三个楔状电极291。楔状电极291均以朝向方向v的相反方向，方向u的大小L2减小的方式延伸。由此可知，检测电极222以方向u的大小(大小L2的和)朝向方向v的相反方向减小的方式延伸。

连接电极240连接楔状电极291的宽度宽的部分彼此。连接电极240形成于非检测区域r2。配线820与楔状电极291的顶端连接。因此，配线820也与配线810一样，形成于非检测区域r2的端部r8侧。

下面，使用图40、图42～图44对检测使用输入装置A2的手指Fg1及Fg2的接近位置的方法的一例进行说明。图42是表示每个带状电极200的静电电容的值的直方图。从图40的左侧配置为第一个、第二个、第三个…的带状电极200的静电电容的值与从图42的左侧表示为第一个、第二个、第三个…的静电电容的值对应。

方向u的手指Fg1及Fg2的接近位置的检测与第五实施方式一样地进行。即，利用图42所示的直方图，指定手指Fg1接近的带状电极200a、及手指Fg2接近的带状电极200b。而且，对于带状电极200a或带状电极200b和它们周围的两个带状电极200计算对应静电电容的值的加权平均。由此，检测方向u的手指Fg1、Fg2的接近位置。

下面，对检测手指Fg1的方向v的接近位置的方法进行叙述。

如图40所示，将带状电极200a、及与带状电极200a相邻的两个带状电极200这三个带状电极200在本实施方式中称为电极组300。为了检测手指Fg1的方向v的接近位置，使用隶属于该电极组300的三个检测电极221、及三个检测电极222。

在图40中将电极组300所包含的检测电极221、222分别设为检测电极221a、222a。图43表示对应检测电极221a、222a的静电电容的值。如图43所示，三个检测电极221a的静电电容的值的各为Cdw3。三个检测电极222a的静电电容的值的和为Cup3。在IC芯片720中，通过求出Cdw3和Cup3的比，检测方向v的手指Fg1位置。在本实施方式中Cdw3∶Cup3＝1∶3，所以可以指定方向v的手指Fg1的位置为0.75。

下面，对检测手指Fg2的方向v的接近位置的方法进行叙述。该方法与检测上述的手指Fg1的方向v的接近位置的方法相同。

在本实施方式中将带状电极200b及与带状电极200b相邻的两个带状电极200的三个带状电极200称为电极组400。为了检测手指Fg2的方向v的接近位置，使用隶属于该电极组400的三个检测电极221、及三个检测电极222。

在图40中，将隶属于带状电极200b的检测电极221、222分别设为检测电极221b、222b。图44表示对应检测电极221b、222b的静电电容的值。如图44所示，三个检测电极221b的静电电容的值的和是Cdw4。三个检测电极222b的静电电容的值的和是Cup4。在本实施方式中，因Cdw4∶Cup4＝1∶1，所以可以指定方向v的手指Fg2的位置为0.5。

下面，对本实施方式的输入装置A2的作用进行说明。

电极组300仅多个带状电极200中的三个隶属，在本实施方式也不是多个带状电极200的全部隶属。因此，如上所述，手指Fg2接近的带状电极200难以包含于电极组300。另一方面，在输入装置A2中为了检测方向v的手指Fg1的接近位置而使用的检测电极221a、222a属于电极组300。因此，IC芯片720抑制因手指Fg2和检测电极221a、222a之间产生的静电电容而受到的影响，并且可以检测方向v的手指Fg1的接近位置。因此，不仅手指Fg1，而且即使手指Fg2接近带状电极200，也可以正确地检测方向v的手指Fg1的接近位置。同样，在输入装置A2中，也可以正确地检测方向v的手指Fg2的接近位置。其结果是，输入装置A2可以进行手指Fg1、Fg2的接近位置的正确的检测即两点检测。

在输入装置A2中，通过使一个检测电极221所包含的楔状电极281的数量及一个检测电极222所包含的楔状电极291的数量增减，即使不使配线810、820的数量增减，也可以变更方向u的楔状电极281、291的间距。通过缩小方向u的楔状电极281、291的间距，不增减配线810、820的数量，可以以尽可以小的误差检测方向v的手指Fg1、Fg2的接近位置。另外，其结果是，可以抑制沿方向u使手指Fg1及手指Fg2滑动时，手指Fg1及手指Fg2的检测位置在方向v画出起伏的轨迹。

在本实施方式中，配线810、820也均朝向端部r8侧的非检测区域r2延伸。因此，在端部r7侧的非检测区域r2不必形成与检测电极221或检测电极222连接的引导配线。由此，可以增加透射板100的有效区域。

对于第五、第六实施方式如下所述。

(1)在上述实施方式中，表示电极组300、400由一个或三个带状电极200构成的例子，但本发明不用说不限于此。另外，电极组300所包含的带状电极200的数量和电极组400所包含的带状电极200的数量不同也没关系。

(2)在上述实施方式中，表示手指Fg1、Fg2的两点检测用的输入装置，也可以将输入装置作为一点检测用的输入装置使用。

(3)在上述实施方式中，表示配线820与检测电极222的顶端连接(参照图36)、或者与楔状电极291的顶端连接(参照图41)的例子，配线820也可以与检测电极222的从顶端靠检测区域r1的中央的部分连接。

(4)输入装置不必与液晶显示面板B一起使用。另外，带状电极不必是透明。这些电极也可以由铜等不透明的金属构成。

(5)输入装置不限于用于手机。例如，可以在数字照相机、个人导航显示、自动柜员机等其它的使用触摸面板的设备中使用。

Claims (33)

1.一种静电电容式输入装置，其特征在于，包括：

多个第一方向检测电极，其沿第一方向并列且沿与所述第一方向不同的第二方向延伸；和

控制装置，其根据导电体和各第一方向检测电极之间产生的静电电容的变化，检测所述第一方向中的所述导电体的接近位置，

所述多个第一方向检测电极的任一个是低灵敏度电极，所述多个第一方向检测电极的任一个是高灵敏度电极，

所述多个第一方向检测电极均为同一大小时，所述低灵敏度电极的灵敏度比所述高灵敏度电极的灵敏度小，

所述低灵敏度电极的面积比所述高灵敏度电极的面积大。

2.如权利要求1所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

基板，其形成有所述多个第一方向检测电极；和

多根配线，其形成于所述基板且从所述基板的端部延伸并与所述多个第一方向检测电极的各个连接，

所述基板的所述多根配线中与所述低灵敏度电极导通的配线的长度比所述基板的所述多根配线中与所述高灵敏度电极导通的配线的长度长。

3.如权利要求1所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

沿所述第二方向并列且沿所述第一方向延伸的多个第二方向检测电极，

各第一方向检测电极包含沿所述第二方向排列的多个第一电极元件，

各第二方向检测电极包含沿所述第一方向排列的多个第二电极元件。

4.如权利要求3所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述低灵敏度电极所包含的第一电极元件的任一个的面积比所述高灵敏度电极所包含的第一电极元件的任一个的面积大。

5.如权利要求1所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

多个第二方向检测电极，其沿所述第二方向并列且沿所述第一方向延伸；和

基板，其具有平面状的第一面，且所述多个第一方向检测电极和所述多个第二方向检测电极均形成于所述第一面。

6.如权利要求5所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

各第一方向检测电极包含沿所述第二方向排列的多个第一电极元件，

各第二方向检测电极包含沿所述第一方向排列的多个第二电极元件。

7.如权利要求6所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

与所述多个第一电极元件的任一个导通，且形成于被邻接的第一和第二电极元件所夹的间隙的多根联络配线。

8.如权利要求7所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

各联络配线延伸至所述基板的检测所述导电体的接近的检测区域之外的非检测区域为止。

9.如权利要求8所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述多根联络配线中从沿所述第一方向分离的两个第一电极元件分别延伸的两个联络配线的一方朝向所述第一方向的一方延伸，该两个联络配线的另一方朝向所述第一方向的另一方延伸。

10.如权利要求9所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述两根联络配线都从沿所述第一方向分离的两个第一电极元件的任一个向该两个第一电极元件彼此分离的方向延伸。

11.如权利要求7所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

第一连接配线，其连接所述多个第一电极元件中沿所述第二方向邻接的两个第一电极元件彼此，且形成于被该两个第一电极元件所夹的间隙，

所述多个联络配线的任一根与该两个第一电极元件或所述第一连接配线连接。

12.如权利要求11所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

第二连接配线，其连接所述多个第一电极元件中夹着所述第一连接配线的两个第一电极元件彼此，

所述第二连接配线以包围处于所述第一连接配线所连接的多个第一电极元件的一端的区域的元件的方式配置。

13.如权利要求11所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

沿所述第一方向分离的两个第一电极元件相互相邻，该两个第一电极元件的一方包含于所述多个第一方向检测电极中配置于所述第一方向的一端的元件中。

14.如权利要求7所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述联络配线的一部分构成多层基板，

在所述多层基板中所述联络配线彼此连接。

15.如权利要求6所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

光透射层，其形成于被邻接的第一和第二电极元件所夹的间隙；和

涂敷层，其覆盖所述多个第一电极元件、所述多个第二电极元件和所述光透射层。

16.如权利要求15所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

构成所述光透射层的材料的折射率与构成所述涂敷层的材料的折射率不同。

17.如权利要求15所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

构成所述光透射层的材料由与构成所述第一电极元件或所述第二电极元件的材料相同的材料构成。

18.如权利要求17所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述光透射层包含相互分离的多个线元。

19.如权利要求15所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述光透射层由绝缘性树脂构成。

20.如权利要求1所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

各第一方向检测电极包括：第一滑动电极，其以向所述第二方向的一方去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向的一方延伸；和第二滑动电极，其以向所述第二方向的另一方去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向的另一方延伸，

所述控制装置根据所述导电体与所述多个第一滑动电极之间的静电电容以及所述导电体与所述多个第二滑动电极之间的静电电容的关系，检测所述第二方向的所述导电体的接近位置。

21.一种静电电容式输入装置，其特征在于，包括：

沿第一方向并列且沿与所述第一方向不同的第二方向延伸的多个带状电极；和

控制装置，

各带状电极包括：第一检测电极，其以向所述第二方向去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向延伸；和第二检测电极，其以向所述第二方向的相反方向去所述第一方向的大小减小的方式在所述第二方向的相反方向延伸，

所述控制装置指定仅所述多个带状电极的一部分隶属且所述多个带状电极中第一导电体接近的带状电极隶属的第一电极组，

基于所述第一导电体与所述多个第一检测电极中隶属于所述第一电极组的检测电极之间的静电电容以及所述第一导电体与所述多个第二检测电极中隶属于所述第一电极组的检测电极之间的静电电容的关系，检测所述第二方向的所述第一导电体的接近位置。

22.如权利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

仅所述多个带状电极的一个隶属于所述第一电极组。

23.如权利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

相互相邻的至少两个以上的带状电极隶属于所述第一电极组。

24.如权利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述控制装置将相互相邻的至少两个以上的带状电极的每一个与所述第一导电体之间的静电电容的变化作为加权来计算加权平均，检测所述第一方向的所述第一导电体的接近位置。

25.如权利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述控制装置指定仅所述多个带状电极的一部分隶属且所述多个带状电极中与所述第一导电体不同的第二导电体接近的带状电极隶属的第二电极组，

基于所述第二导电体与所述多个第一检测电极中隶属于所述第二电极组的第一检测电极之间的静电电容以及所述第二导电体与所述多个第二检测电极中隶属于所述第二电极组的第二检测电极之间的静电电容的关系，检测所述第二方向的所述第二导电体的接近位置。

26.如权利要求25所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

仅所述多个带状电极的一个隶属于所述第二电极组。

27.如权利要求25所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

相互相邻的至少两个以上的带状电极隶属于所述第二电极组。

28.如权利要求25所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述控制装置将相互相邻的至少两个以上的带状电极的每一个与所述第二导电体之间的静电电容的变化作为加权来计算加权平均，检测所述第一方向的所述第二导电体的接近位置。

29.如权利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述多个第一检测电极和所述多个第二检测电极都是楔状，各第一检测电极被所述多个第二检测电极的两个所夹，各第二检测电极被所述多个第一检测电极的两个所夹。

30.如利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述多个第一检测电极分别包括多个第一楔状电极，

所述多个第二检测电极分别包括多个第二楔状电极，

各第一楔状电极被所述多个第二楔状电极的两个所夹，各第二楔状电极被所述多个第一楔状电极的两个所夹。

31.如权利要求30所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述多个带状电极的任一个还包括：

第一连接电极，其相对于所述多个第一楔状电极配置于与所述第二方向相反侧，且与各第一楔电极相连；和

第二连接电极，其相对于所述多个第二楔状电极配置于所述第二方向侧，且与各第二楔状电极相连。

32.如权利要求21所述的静电电容式输入装置，其特征在于，还包括：

基板，其形成有所述多个带状电极；

第一引导配线，其形成于所述基板，与所述多个第一检测电极的任一个导通；和

第二引导配线，其形成于所述基板，与所述多个第二检测电极的任一个导通，

所述第一和第二引导配线在所述第二方向相对于所述多个带状电极形成在同一侧。

33.如权利要求32所述的静电电容式输入装置，其特征在于：

所述多个带状电极、所述第一引导配线及所述第二引导配线由相同材料构成。

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