CN101873951B - 检测短路的电磁铁线圈的方法 - Google Patents

Abstract

一种用于测试经受高频脉宽调制电流的线圈的连续性的方法，包括感测的线圈电压、确定感测线圈电压与电源电压的比值、以及将比值与阈值相比较以确定电磁铁线圈是否在起作用。

Description

检测短路的电磁铁线圈的方法

技术领域

本发明一般涉及车辆控制系统，并且具体地说，涉及一种在线圈由高频脉宽调制电压激励的同时检测短路的电磁铁线圈的方法。 

背景技术

机动车辆正在变得日益复杂，特别是关于用于各种车载系统的电子控制器。用于这些系统的多个的机电接口包括线圈，该线圈用于移动机械装置，如阀衔铁，其中衔铁的位移是流过阀的电流的函数。几个例子包括在防抱死、牵引控制及车辆稳定性控制系统中控制制动器的电磁阀、在主动式悬挂系统中控制扭杆的电磁阀、以及在电动液压转向系统中控制转向助力装置的线圈。 

典型的控制系统利用电子开关(如场效应晶体管(FET))来控制流过电磁阀的线圈的电流。FET具有连接到电磁铁线圈的一个端部上的漏极端子、和接地的源极端子。电磁铁线圈的另一个端部连接到电源上，而FET的栅极连接到电子控制单元(ECU)的控制端口上。典型地，ECU控制端口将或者处于在地电位下的“低”、或者处于在固定电压(如五伏特)下的“高”。当控制端口为低时，FET处于非导通状态，并且阻止电流流过电磁铁线圈，而当控制端口为高时，FET处于导通状态，允许电流流过电磁铁线圈。 

如果电磁铁线圈短路，则当FET处于导通状态时巨大电流流过该FET，这可能损坏FET。相应地，已知的是，在车辆的初始启动时为鉴定短路进行电磁铁线圈连续性的测试。然而，期望的是，在车辆和控制系统正在操作的同时，也可测试线圈。这比如当FET栅极由具有可变工作循环的脉宽调制栅极电压激励时特别有用。在这样一种情况下，FET接通或切断的时间随工作循环变化而改变。相应地，期望的是，具有一种用于线圈的测试方法，该测试方法在系统正在用可变工作循环FET栅极电压控制的同时可被实施。

发明内容

本发明涉及一种在线圈由高频脉宽调制电压激励的同时检测车辆控制系统中的短路的电磁铁线圈的方法。 

本发明想到一种用于测试车辆控制系统的液压电磁阀的操作的方法，其中包括在电磁阀中的电磁铁线圈连接在电源与场效应晶体管(FET)的漏极端子之间。FET也具有接地的源极端子、和栅极端子，并且响应施加到栅极端子上的电压以在导通和非导通状态之间切换。本发明还想到，阀是在脉宽调制(PWM)模式下可操作的模拟阀，在该模式下，PWM电压施加到FET栅极上。在PWM电压的接通部分或切断部分的任一个期间，该方法感测电源电压和FET漏极电压。该方法然后计算FET漏极电压与电源电压的比值，并且将生成的比值与阈值相比较，以确定电磁铁线圈是否是可操作的。 

另外，在PWM信号已经接通第一预定时间段之后但在切断PWM信号之前的第二预定时间段开始之前，该方法感测电源电压和FET漏极电压。该方法在确定FET漏极电压与电源电压的比值大于第一阈值时，产生用于短路的电磁铁线圈的故障信号，并且在确定FET漏极电压与电源电压的比值小于第二阈值时，产生用于开路的线圈的故障信号。 

本发明也想到，车辆控制系统包括多个模拟液压电磁阀，使每个阀由相应的FET控制，该相应的FET具有连接到PWM电压源上的栅极。对于这样一种控制系统，对于在导通状态下的电磁铁线圈中的每一个，保持至少一个队列排序，每当考虑测试每个线圈时，用于每个线圈的队列递增增加。该方法然后在队列中选择适合进行测试的具有最成熟顺序的线圈，并且随后为鉴定短路状态进行选中线圈的测试。 

当在附图的启示下阅读时，从优选实施例的如下详细描述，本发明的各种目的和优点对于本领域的技术人员将变得显而易见。 

附图说明

图1是利用本发明的、用于单个电磁铁线圈的典型控制电路的示意图。 

图2表明用于图1所示的电路的电压波形。 

图3是用于本发明的流程图，表明当应用于图1所示的电路时的本发明。 

图4是图1中示出的控制电路的可选择的实施例的示意图，该实施例包括多个电磁铁线圈并且利用本发明。 

图5是表明当应用于图4所示的电路时的本发明的流程图。 

图6表明用于图4所示的电路的选中电压波形。 

图7表明应用于图1所示的电路的、本发明的可选择实施例的电压波形。 

图8是表明图7所示的本发明的可选择实施例的流程图。 

具体实施方式

再次参照附图，在图1中示出有一种典型的车辆控制系统10，该车辆控制系统10利用场效应晶体管(FET)12控制通过电磁铁线圈14的电流的流动。电磁铁线圈被包括在控制装置中，如被包括在电子制动控制系统或车辆稳定性控制系统中的电磁阀中。如图1所示，线圈14连接在FET 12的漏极端子与电源15之间。回扫二极管(fly-back diode)16连接在线圈14两端，并且当FET 12切换到非导通状态时，起为线圈电流的消散提供路径的作用。FET 12的源极端子接地，FET 12的栅极端子连接到电子控制单元(ECU)20上的控制端子18上。ECU 20是可操作的，以在导通与非导通之间改变FET 12的操作状态。 

ECU 20典型地包括微处理器(未示出)，该微处理器具有存储运算算法的存储器。ECU微处理器也典型地连接到一个或更多个传感器上，该一个或更多个传感器监视车辆的操作参数。按照运算算法，微处理器响应传感器信号以将栅极电压V_G施加到FET栅极端子上，以便选择性地在导通与非导通状态之间切换FET 12从而激活和去活线圈14。ECU 20上的线圈反馈端子22连接到FET漏极端子上，而ECU 20上的电压供给反馈端子24连接到线圈的端部上，该端部连接到电源15上。ECU线圈反馈端子22监视线圈反馈电压V_CF，而ECU电压供给反馈端子24监视电源反馈电压V_SF。

现在根据在图2中示出的电压波形将解释在图1中示出的电路的操作。图2中的上部曲线表明由ECU 20施加到FET 12的栅极上的栅极电压V_G。栅极电压在零与控制电压(像例如五伏特)之间变化，使栅极电压在时间t₁和t₇处增大，并且在时间t₄和t₁₀处返回零。当栅极电压V_G是零时，FET 12处于非导通状态，并且没有电流流过线圈14。相反，当栅极电压是V_G时，FET 12处于导通状态，并且电流流过线圈14。 

当FET正在导通时，电流I_L流过线圈L。电流I_L达到V_S/R_S的最大值，其中R_S是线圈L的等效电阻。同时，线圈两端的电压V_L、或V_SF-V_CF，从零增大到V_S，如图2的中间曲线所示。当FET 12切换到其非导通状态时，线圈电流I_L随着电流通过回扫二极管16消散而衰减到零，并且线圈L两端的电压也衰减回零。关于线圈反馈电压V_CF，当FET 12不是正在导通时，没有电流流过线圈14，并且电源电压V_S出现在FET漏极端子处，并且由此出现在ECU线圈反馈端子22处，如图2的下部曲线所示。当FET 12正在导通时，FET漏极端子切换到地，并且基本上零电压出现在ECU线圈反馈端子22处。分压器(未示出)可以插入在FET漏极端子与ECU线圈反馈端子22之间，以将施加到ECU线圈反馈端子22上的电压调整到满意数值。 

阀或其它电磁铁操作装置的比例控制可以通过将高频脉宽调制(PWM)控制电压施加到FET 12的栅极上而实现。这样的高频PWM控制电压典型地在2kHz至25kHz的频率范围内；然而，对于在这个范围外的控制电压频率，也可以实践本发明。因为线圈L与PWM 栅极电压成正比地接通和断开，所以通过线圈的平均电流是栅极电压的工作循环的函数。阀衔铁运动的发生量与平均线圈电流成比例，并因此是PWM栅极电压工作循环的正函数。高频PWM栅极电压也可以与数字阀一道使用，以便一旦衔铁运动就减小平均电流，并因此减小电磁铁的发热。 

本发明针对一种在高频PWM栅极电压正在施加到栅极或FET12上的同时为鉴定短路状态对线圈14进行故障自动防止测试的方法。该方法由在图3中示出的流程图表明，并且在下面参照在图1中示出的电路和在图2中示出的电压波形而描述。流程图通过块30进入，并且进入到判定块32，在这里，确定FET 12的栅极端子是否正在受PWM电压支配。因为本发明想到该方法由ECU微处理器实施，所以确定在FET栅极上存在PWM电压是简单问题。如果没有施加PWM栅极电压，则该方法通过块34退出。然而，如果在判定块32中确定PWM电压正在施加到FET 12的栅极上，则该方法转移到判定块36。 

在判定块36中，该方法确定PWM栅极电压是否正在将FET 12驱动成处于接通、或导通状态。如果PWM栅极电压正在将FET 12驱动成切断、或非导通状态，则该方法转移到块34并且退出。如果在判定块36中，该方法确定PWM栅极电压正在将FET 12驱动成接通状态，则该方法向前转移到判定块38。 

在判定块38中，该方法确定PWM栅极脉冲对于要安置到稳定状态条件下的电路是否已经呈现足够长时间。这种计时条件在图2中看得最清楚，在这里，在t₁至t₂和t₇至t₈的时段期间，在线圈反馈电压V_CF正在经历瞬时降低。在这些时间段期间的任何读数不指示完全接通线圈条件。同样，为了读取模拟电压值和将模拟电压值转换成数字值必须提供足够的时间。相应地，本发明想到，对于在图2中示出的第一脉冲在时刻t₃之前和对于在图2中示出的第二脉冲在时刻t₉之前，必须完成任何电压测量。因而，对于在图2中示出的电压波形仅在t₂至t₃和t₈至t₉的允许时间间隔期间可以进行测量。因此，在判定块38中，确定电路是否在用于进行测量的允许时间段之一内。 如果电路不在允许时间段内，则该方法转移到块34并且退出。然而，如果电路在允许时间段内，则该方法向前转移到功能块40。另外，在系统中断停止的情况下进行全部故障自动防止算法，从而外部系统事件不改变由这种算法进行的计时假设。 

在功能块40中，该方法感测或读取电源反馈电压V_SF和线圈反馈电压V_CF的值。电源反馈电压V_SF和线圈反馈电压V_CF由在ECU 20中的一对模数转换器(未示出)转换成数字值。然后通过将线圈反馈电压V_CF除以电源反馈电压V_SF以得到电压的比值，来将线圈反馈电压V_CF与电源反馈电压V_SF相比较。该方法然后前进到判定块42。 

在判定块42中，通过将在功能块40中计算的线圈反馈电压V_CF与电源反馈电压V_SF的比值与阈值相比较，确定线圈14是否短路。如果电压比值大于阈值，则是线圈短路的指示，并且该方法转移到功能块44，在这里，产生出错消息，或者设置故障标志。这是因为，对于完全操作的线圈L，当FET 12正在导通时，线圈反馈电压V_CF应该拉到地。如果线圈L短路，则源极电压V_SF将出现在FET 12的漏极端子处，则升高线圈反馈电压V_CF。该方法然后通过块34退出。本发明想到，0.85用作判定块42中的阈值；然而，将认识到，关于大约0.85的电压比值阈值，也可以实践本发明。另一方面，如果电压比值小于或等于该阈值，则是线圈没有短路的指示，并且该方法通过块34退出。尽管以上已经描述了预定恒定电压比值阈值，但将认识到，关于是一个或更多个车辆操作参数的函数的电压比值阈值，也可以实践本发明。 

典型地，电气故障条件按系统循环速率被处理。由于本发明的方法将仅当PWM接通时才检测故障，并且当PWM速率切断时不检测故障，所以必须按比系统循环速率快的速率运行该方法，以便保证捕获到故障。例如，对于6毫秒的系统循环速率，本发明想到，每毫秒一次运行包括上述故障自动防止测试的故障检测算法。然而，将认识到，故障检测算法也可以按较快或较慢速率运行。也将认识到，在图3中示出的流程图是要作为本方法的示范，并且本发明人想到，除在 图3中已经表明的之外，也可以实践本发明。 

通过仅在可以读取电压V_SF和V_CF期间在接通循环的开始和结束处确定时间段，该方法自动地补偿控制电压PWM的变化的工作循环。 

本发明也想到，应用于具有多个线圈的电路的可选择实施例，如在图4中表明的那样。与在图1中示出的元件相类似的在图4中示出的元件具有相同的附图标记。尽管在图4中仅示出两个线圈L₁和L₂，但本发明的可选择实施例也可以应用于包含多于两个线圈的电路。第二线圈由第二FET 50控制，该第二FET 50具有连接到ECU 20上的第二控制端子52上的栅极。第二回扫二极管54连接在第二线圈L₂两端，而第二FET 50的漏极端子连接到ECU 20上的第二线圈电压反馈端子56上。因而，第一ECU线圈反馈端子22监视第一线圈反馈电压V_CF1，而第二ECU线圈反馈端子54监视第二线圈反馈电压V_CF2。 

可选择的实施例想到，对于FET 12和50两者指示PWM信号的状态的计时信息，即其当前状态是接通还是切断、这种状态已经多长、及这种状态将要继续多长，被存储在随机存取存储器(RAM)中。RAM由计时器外围设备使用以控制信号，和由在ECU 20中的微处理器、或主中央处理单元(CPU)使用以迅速确定是否可以进行故障自动防止测试。可选择地，数据也可由ECU 20中的微处理器、或主CPU读取。在可选择的实施例的故障自动防止例行程序中，实施给予最高优先级的分类算法，以便故障自动防止从上次进行其故障自动防止已经过去最长时间的电磁铁。对于这个电磁铁，进行低级功能调用，以确定各条件是否适于进行故障自动防止测试。 

可选择的实施例由在图5中示出的流程图表明。用于更新队列信息的分类例行程序在流程图的上半部中示出，该上半部包含在标有60的框内。分类例行程序通过块62进入，并且前进到判定块64，在这里，对于PWM操作的存在，依次询问电路中的每个线圈。如果确定没有PWM操作发生，则例行程序转移到功能块66，在这里，用于具体线圈的年龄计数器被复位到零。例行程序然后继续到功能块68。在判定块64中，如果确定有PWM操作发生，则例行程序转移到功能块70，在这里，用于具体线圈的年龄计数器递增增加。例行程序然后继续到功能块68。先前的测试继续，直到线圈的每一个已经被询问。 

在功能块72中，为了实际测试选择站在测试队列中的最年长线圈。例行程序然后转到判定块74，在这里，确定在功能块72中是否找到有测试资格的线圈。资格验证包括检查相关的FET驱动器是否是接通、和用于读取电压值的计时是否是适当的，如由在图3中的判定块36和38表明的那样。如果没有找到线圈，则例行程序通过块76退出。如果在判定块74中发现有资格线圈，则例行程序转移到功能块78，在这里，进行图3中的块40至44中表明的故障自动防止测试方法。例行程序然后继续到功能块80，在这里，用于测试线圈的年龄计数器被复位。最后，例行程序通过块76退出。 

图5中示出的例行程序的操作由图6中示出的两对波形表明。上部波形对与第一线圈L₁相对应，而下部波形对与第二线圈L₂相对应。因而，标有PWM1的、在上部波形对中的上部曲线代表施加到第一FET 12上的栅极电压，该第一FET 12驱动在图4中示出的第一线圈L₁。类似地，标有PWM2的、在下部波形对中的上部曲线代表施加到第二FET 50上的栅极电压，该第二FET 50驱动第二线圈L₂。每对波形中的下部曲线代表与以上刚示出的栅极电压相对应的线圈反馈电压V_CF1或V_CF2。采样时间由在图纸顶部处的竖直箭头指示。在图纸底部处标有“动作”的线表明更新来自图5中的框60的各个线圈队列信息。示出自从相应的线圈上次被故障自动防止起的时间图6中的两根线代表每个线圈的队列状态。注意，在第二采样时间处，两个线圈都有测试资格，但选择代表第二线圈L₂的线圈反馈电压V_CF2，因为它具有较大队列值。用于第二线圈L₂的队列值然后被复位，如在下个采样时间处示出的那样，在这里用于线圈L₂的队列值现在是一，而用于第一线圈L₁的队列值已经从六增大到七。尽管在图6中只表明两个线圈，但将认识到，对于任何数量的线圈也可以实践本发明。 

本发明的另一个可选择实施例表明在图7中，其中，为鉴定上述 的短路条件、和为鉴定开路电路或短路驱动器FET条件进行线圈测试。如图7中所示，当相关的FET处于非导通状态下并且切换瞬时已经结束时，线圈反馈电压V_CF应该近似地等于源极电压V_SF。这在图7中从t₅至t₆的时间段期间发生。然而，如果线圈是开路的，或者用于线圈的驱动器FET短路，则在FET漏极端子处将没有电压出现，并且线圈反馈电压将近似是零。因此，可选择的实施例想到，在从t₅至t₆的时间段期间将线圈反馈电压V_CF与源极反馈电压V_SF的比值与第二电压比值阈值相比较。如果电压比值小于第二电压比值阈值，则它是线圈开路的指示，而如果电压比值大于或等于第二电压比值阈值，则它是线圈可操作的指示。本发明想到0.15用于第二电压比值阈值；然而，关于大于或小于0.15的第二电压比值阈值，也可以实践本发明。也将认识到，第二电压比值阈值可以是一个或更多个车辆操作参数的函数。 

在图8中示出用于在图7中表明的本发明可选择的实施例的实施的流程图，其中，与图3中示出的块相类似的块具有相同的附图标记。在图8的流程图中，为鉴定短路和开路条件进行线圈测试。流程图通过块30进入，并且前进到判定块32，在这里，确定FET 12的栅极端子是否正在受PWM电压支配。如果没有施加PWM栅极电压，则该方法通过块34退出。然而，如果在判定块32中确定PWM电压正在施加到FET 12的栅极上，则该方法转移到判定块60。 

在判定块60中，该方法确定PWM栅极电压是否正在将FET 12驱动为其接通、或导通状态。如果该方法确定PWM栅极电压正在将FET 12驱动为其接通状态，则该方法转移到判定块38，并且如以上参照图3那样进行。在判定块60中，如果PWM栅极电压正在将FET12驱动为其切断、或非导通状态，则该方法转移到判定块62。 

在判定块62中，该方法确定PWM栅极脉冲对于要安置到稳定状态条件的电路是否已经过去足够长时间。如上所述，这种计时条件在图7中看得最清楚，在这里，在t₄至t₅的时段期间，在线圈反馈电压V_CF正在经历瞬时增大。在这些时间段期间的任何读数不指示完全断开线圈条件。同样，为了读取模拟电压值和将模拟电压值转换成数字值必须提供足够的时间。相应地，本发明想到，对于在图7中示出的断开时间段之前，必须完成任何电压测量。因而，对于在图7中示出的电压波形仅在t₅至t₆的允许时间间隔期间可以进行测量。因此，在判定块62中，确定电路是否在用于进行测量的允许时间段内。如果电路不在允许时间段内，则该方法转移到块34并且退出。然而，如果电路在允许时间段内，则该方法向前转移到功能块64。 

在功能块64中，该方法读取电源反馈电压V_SF和线圈反馈电压V_CF的值。电源反馈电压V_SF和线圈反馈电压V_CF由在ECU 20中的一对模数转换器转换成数字值。然后通过将线圈反馈电压V_CF除以电源反馈电压V_SF以得到电压的比值，来将线圈反馈电压V_CF与电源反馈电压V_SF相比较。该方法然后前进到判定块66。 

如上所述，在判定块66中，将电压比值与第二电压比值阈值相比较。如果电压比值小于第二电压比值阈值，则它是线圈开路、或用于线圈的驱动器FET短路的指示，并且该方法转移到功能块68，在这里，产生出错信号或者设置故障标志。该方法然后通过块34退出。在判定块66中，如果电压比值大于或等于第二电压比值阈值，则它是线圈可操作的指示，并且该方法然后通过块34退出。 

将认识到，由在图8中的流程图表明的方法也可以应用于如图4中所示、包括多个线圈的电路。同样，当多个线圈存在时，图8中示出的方法可以与在图5中示出的排队方法相组合(未示出)，以选择用于测试的、具有最大排队年龄的线圈。最后，也将认识到，图8中示出的流程图是要作为本方法的示范，并且本发明人想到，除在图8中已经表明的之外也可以实践本发明。 

总之，本发明允许在高频脉宽调制(PWM)施加到电磁铁驱动器电路上的同时，检测短路和/或开路的电磁铁故障条件。这借助于不干涉系统控制、使用最小处理器资源、以及当电磁铁直接控制成完全接通时实现类似覆盖的设计而实现。 

本发明人相信，本发明提供如下独特特征： 

●现在在电磁铁在脉宽调制控制下的同时，实现了故障自动防止以前仅在静态条件下(即，在电磁铁命令是完全接通或安全切断的同时)才检测的条件的能力。 

●允许给予最高优先级的按优先级排序方案，以便故障自动防止从电磁铁上次被测试起具有最长逝去时间段的电磁铁。 

●使用于自非同步运行计时器外围设备的共享数据迅速确定是否可进行故障自动防止的概念。 

本发明可以用在各种各样的用途中，像例如，电子制动控制系统、和用于在其它车辆电子制动系统中施加液压控制，如牵引控制系统和/或车辆稳定性控制系统。其它用途可以包括在发动机控制系统中的多个燃料喷射器的控制、和在主动式悬挂系统和电气助力转向系统中电磁阀的控制。关于其中利用电磁铁线圈的非车辆用途，也可以实践本发明。 

按照专利法的规定，本发明的原理和操作模式已经在其优选实施例中解释和表明。然而，必须理解，在不脱离其精神或范围的情况下，除明确解释和表明的之外可以实践本发明。 

Claims (11)

1.一种用于测试车辆控制系统的液压电磁阀的操作的方法，

其中，包括在电磁阀中的电磁铁线圈连接在电源与场效应晶体管FET的漏极端子之间，FET还具有栅极端子和接地的源极端子，FET响应施加到栅极端子上的电压以在导通和非导通状态之间切换，其特征在于，

阀是在脉宽调制PWM模式下可操作的模拟阀，在该模式下，PWM电压施加到FET栅极上，其中所述方法包括如下步骤：

(a)在FET的导通或非导通状态之一期间，感测电源电压和FET漏极电压；

(b)计算在步骤(a)中感测的FET漏极电压与电源电压的比值；以及

(c)将生成的比值与阈值相比较，以确定电磁铁线圈是否是可操作的。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法在PWM信号已经接通第一预定时间段之后但在切断PWM信号之前的第二预定时间段开始之前，感测电源电压和FET漏极电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述方法在确定FET漏极电压与电源电压的比值大于阈值时，产生用于短路的电磁铁线圈的故障信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，施加到FET栅极上的PWM电压具有高频率。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法在PWM信号已经切断第一预定时间段之后但在接通PWM信号之前的第二预定时间段开始之前，感测电源电压和FET漏极电压。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述方法在确定FET漏极电压与电源电压的比值小于阈值时，产生用于开路的电磁铁线圈的故障信号。

7.根据权利要求3所述的方法，其中，施加到FET栅极上的PWM电压具有高频率。

8.根据权利要求3所述的方法，其中，车辆控制系统包括多个液压电磁阀，使每个阀由相应的FET控制，所述相应的FET具有连接到相应的PWM电压源上的栅极，所述方法的特征还在于，

对于在导通状态下的电磁铁线圈中的每一个，保持至少一个队列年龄计数器，每当考虑测试每个线圈时，用于每个线圈的年龄计数器递增增加，所述方法然后在队列中选择适合进行测试的具有最高年龄计数器值的线圈，并且随后为鉴定短路状态进行选中线圈的测试。

9.根据权利要求6所述的方法，其中，车辆控制系统包括多个液压电磁阀，使每个电磁阀由相应的FET控制，所述相应的FET具有连接到相应的PWM电压源上的栅极，所述方法的特征还在于，

对于在非导通状态下的电磁铁线圈中的每一个，保持至少一个队列年龄计数器，每当考虑测试每个线圈时，用于每个线圈的年龄计数器递增增加，所述方法然后在队列中选择适合进行测试的具有最高年龄计数器值的线圈，并且随后为鉴定开路状态进行选中线圈的测试。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，车辆控制系统包括多个液压电磁阀，使每个电磁阀由相应的FET控制，该相应的FET具有连接到相应的PWM电压源上的栅极，所述方法的特征还在于，

所述方法包括更新用于处于导通状态的线圈的第一队列的年龄计数器、和更新用于处于非导通状态的线圈的第二队列的年龄计数器，并且进一步其中，所述方法包括在第一队列中选择适合进行测试的具有最高年龄计数器值的导通线圈、和在第二队列中选择适合进行测试的具有最高年龄计数器值的非导通线圈。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，测试在每个队列中的选中线圈。

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