CN101796423B - 电容式触摸传感装置的生产测试 - Google Patents
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Abstract
在一个实施例中,公开了一种电容式触摸传感装置的生产测试方法。在该实施例中,在生产电容式触摸传感装置时,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术采样与电容式触摸传感装置的第一信道对应的第一值。当电容式触摸传感装置使自测电容电路对电容式触摸传感装置施加信号时,本实施例还采样与电容式触摸传感装置的第一信道对应的第二值。本实施例比较该第一值和第二值,以确定对电容式触摸传感装置的第一信道的生产测试结果,其中,在生产电容式触摸传感装置的过程中进行第二值的采样以及第一值和第二值的比较。
Description
相关美国申请
本申请要求2007年5月8日提交的申请号为60/928,462、代理人案卷号为SYNA-20070412-A3.PRO、发明名称为“电容式传感装置的生产测试”的同时待审临时专利申请的优先权,本临时专利申请被转让给本申请的受让人,在此通过引用包含其全部内容。
背景技术
电容式触摸传感装置在许多应用和系统中有重要用途。例如,电容式触摸板通常用于便携式计算机中。类似地,电容式触摸屏常见于自动提款机(ATM)、机场登记亭和实际无数其他设备中。还证明电容式触摸传感装置在如便携式音乐播放器、个人数字助理(PDA)和蜂窝电话等的较小设备中是有益的。随着电容式触摸传感装置的应用和相应需求的增加,必须提高生产这类电容式触摸传感装置的速度。
为了满足对电容式触摸传感装置的需求,相应生产过程必须达到相当的生产量。另外,这些生产过程必须依然节约成本。此外,为了保证客户满意度,生产的电容式触摸传感装置必须遵照承诺的规范和性能要求工作。
保证生产的电容式触摸传感装置满足相应性能要求的一种方法是使用测试台或类似测试设备手动测试每个电容式触摸传感装置。这种方法耗时耗力而且过于昂贵。因而,这种方法不实用。虽然对生产的电容式触摸传感装置进行随机抽查可以降低与生产的电容式触摸传感装置的测试相关的时间、劳力和成本,但仍有可能将不满足承诺的规范和性能要求的电容式触 摸传感装置出售给客户。
因而,具备没有上述缺陷的测试电容式触摸传感装置的方法是有利的。进一步来说,具备能够保证不将不满足承诺的规范和性能要求的电容式触摸传感装置出售给客户的测试电容式触摸传感装置的方法是有利的。
发明内容
在一个实施例中,公开了一种用于电容式触摸传感装置的生产测试的方法。在该实施例中,在生产电容式触摸传感装置时,用于电容式触摸传感装置的生产测试的该技术采样与电容式触摸传感装置的第一信道(channel)对应的第一值。当电容式触摸传感装置使自测电容电路对电容式触摸传感装置施加信号时,本实施例还采样与电容式触摸传感装置的第一信道对应的第二值。本实施例比较该第一值和第二值,以确定对电容式触摸传感装置的第一信道的生产测试结果,其中,在生产电容式触摸传感装置的过程中进行第二值的采样以及第一值和第二值的比较。
附图说明
图1是根据本发明实施例的连接到电容式触摸传感装置的生产测试系统的示意图。
图2是根据本发明实施例的图1中的自测电容电路的详细示意电路图。
图3是描述根据本发明实施例的用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的方法的流程图。
除非特别说明,本说明书所使用的附图不是按比例绘制的。
具体实施方式
下面详细说明本发明的实施例,其中附图示出了本发明实施例的例子。虽然将结合实施例来描述本发明,但应该理解,实施例不是旨在将本发明限制为这些实施例。相反,本发明旨在覆盖可能包括在本发明的精神和范围内的替代方式、变形例和等价物。此外,在下面对本发明的详细描述中,为了便于详尽地理解本发明,阐述了许多具体细节。然而,无需这些具体细节也可以实施本发明。另外,未对公知的方法、过程、部件和电路进行详细描述,以免使本发明的方面产生不必要的模糊。
现在参考图1,图1示出连接到电容式触摸传感装置的生产测试系统的示意图。下面的讨论将首先参考图1和图2对根据本发明的实施例的物理结构进行详细描述。然后,将参考图3的流程图300对根据本发明的实施例的操作进行详细描述。在图1的实施例中,传感器电路102示为包括自测电容电路104。一个实施例中,在专用集成电路(ASIC)上实现传感器电路102,其中该ASIC是专门设计的且配置成与电容式触摸传感装置的传感器电极协同工作(例如,测量从电容式触摸传感装置的传感器电极接收到的值)。下面结合图2的描述对自测电容电路104进行详细描述。
在图1的实施例中,传感器电路102分别通过走线(trace)108a、走线108b和走线108c连接到三个传感器电极,即传感器电极106a、传感器电极106b和传感器电极106c。虽然图1示出了三个传感器电极,但根据本发明的实施例同样适用于包括一个传感器电极、两个传感器电极或多于三个传感器电极的电容式触摸传感装置。此外,根据本发明的实施例同样适用于具有任何形状、大小或图案的传感器电极。此外,应该理解,在根据本发明的一个实施例中,电容式触摸传感装置由虚线框 109中包括的元件定义。具体而言,在根据本发明的实施例中,测试单元110和电容式触摸传感装置是物理分离的。此外,对于本发明,应该理解,在根据本发明的一个实施例中,生产测试系统包括测试单元110。图1还包括接近传感器电极106a、160b和106c的物体112(例如,手指、触针、指示物体等)。应该理解,随着物体112移向或离开电容式触摸传感装置109,电容式触摸传感装置会观测到测量的电容值出现变化。
仍参考图1,测试单元110示为与电容式触摸传感装置109分离。根据本发明的实施例同样适于将自测电容电路104的至少一部分包括在测试单元110中。类似地,根据本发明的实施例同样适于将测试单元110的至少一部分包括在自测电容电路104中。
现在参考图2,图2示出图1的自测电容电路104的详细示意电路图。如下文所述,在生产电容式触摸传感装置109时,自测电容电路104用于接通(switch in)和切断(switch out)与被测电容并联的电容。电容式触摸传感装置109对周期性改变的电容值的响应用于确定对电容式触摸传感装置109的生产测试结果。虽然图2示出了具体的电路图,但根据本发明的实施例适于使用能够产生生产测试结果的任意电路组合来设计自测电容电路104。在图2的实施例中,示出了一个自测电容电路104,其可以连接到多个传感器电极106a、106b和106c。根据本发明的实施例还适于具有包含在传感器电路102中的多个自测电容电路。在这样的实施例中,每个传感器电极可具有与之相关的专用自测电容电路,或者两个或更多个传感器电极可共享共同的自测电容电路。用于测试电容式触摸传感装置的该生产方法和系统中所使用的自测电容电路可以包括更多或更少元件,甚至可以包括不同的元件,只要该自测电容电路能够执行将电容式传感器的测量值 改变对应于已知电容的量的期望任务即可。
引起改变的电容信号可以施加给传感器,并且可以以各种方式对该电容信号进行测量。在一个实施例中,如图2所示,开关SWsst将浮地电容(floating capacitance)Csst连接到固定电压(使用另外所需的如φsst这样的任意控制电子器件),但是还有许多其他实现和拓扑。在替代实施例中,耦合开关可以放在测试电容和测量电路之间,或者可以在电路中使用或增加除开关以外的其他阻抗(例如,电阻、阻抗网络等)或有源元件(例如,电流源、缓冲器等),以将信号施加给传感器,或者保护传感器不受电容影响。例如,作为替代可以用电阻来隔离自测电容,从而使得自测电容的耦合依赖于激励速度;或者,在另一个实施例中,可以保持电容持续连接,但是打开和关闭保护或激励波形以改变有效电容信号。这些技术通常和电容式触摸传感方法及传感拓扑的特定选择有关,这对本领域技术人员来说是公知的。图2未示出电容式触摸传感电路的所有元件,这同样是因为有各种可用方法。在一个实施例中,可对电压VOUT进行滤波、采样和数字化(例如通过ADC和相关处理电子器件),从而可以对传感器测量结果进行数字化比较。在另一个实施例中,可以在模拟状态下进行比较(例如,可以通过使来自两次采样的电荷相减来计算差值),并且只需要采样的一次传感器测量来产生结果。
现在参考图3,图3示出根据用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法执行的处理的流程图300。总而言之,如上所述,需要测试正在生产的电容式触摸传感装置,以在发货前(例如发给终端用户前)保证电容式触摸传感装置正常工作。要注意,电容式触摸传感装置的灵敏度可能和总测量电容成反比。结果,电容传感装置的生产或组装中的变化会引起灵敏度的变 化。这些灵敏度的变化对于具有较厚面板(例如电介质外壳)的电容式触摸传感装置尤其重要,对电容式按钮尤其如此。灵敏度的变化对用于检测盘旋接近度(hover proximity)或要求均匀滚动或指示性能的电容式触摸传感装置也非常重要。因而,当在较厚电介质材料情况下和/或在较小区域(例如蜂窝电话应用)中使用电容式触摸传感装置时,该生产测试显得愈发重要。然而,大部分传统测试方法要求人工操作者手动测试每个电容式触摸传感装置,或随机测试选择的电容式触摸传感装置。这种传统方法成本高,可能要求使用复杂昂贵的专用测试夹具并要求与之对准;而且,这种传统方法对生产过程引入了不可接受的生产量延迟。通常,这些传统方法包括将电容式测试装置连接到已知的接地板(或手指),并寻找正确响应或灵敏度读数。如下面将详细讨论的,根据本发明的实施例使用自测电容电路104模拟接近的接地物质或由电容式触摸传感装置109感知到的接地物质,使生产测试过程自动化。通过使用本方法,可以及时地对来自组装线上的每个电容式触摸传感装置有效地进行生产测试。此外,对电容式装置进行生产测试的本方法能够检测组装时引入的缺陷(例如,从走线到电源、屏蔽板或其他传感走线的短路),而使用传统补偿技术,这些缺陷在电容式触摸传感装置的后续工作中是不能修正的。
如下面将详细描述的,本方法使用图1的自测电容电路104结合测试单元110对生产的电容式触摸传感装置109进行测试。在根据本发明的一个实施例中,对电容式触摸传感装置得到的生产测试结果用于确定电容式触摸传感装置的特性、检测缺陷,并/或在生产电容式触摸传感装置时对电容式触摸传感装置进行灵敏度调整。应该在最终包装和发货给终端用户之前进行生产测试,但是甚至可以在组装传感模块之前开始生产测试,应 该明白,可以在不同时间和地点对单个装置进行多次生产测试。具体而言,在302,在生产电容式触摸传感装置109时,本方法采样与电容式触摸传感装置109的第一信道对应的第一值。更具体而言,在一个实施例中,包括自测电容电路104的传感器电路102采样与对应于传感器电极106a的信道对应的值。如上所述,虽然示出一个自测电容电路104连接到多个传感器电极106a、106b和106c,但根据本发明的实施例也适于在传感器电路102中包括多个自测电容电路以同时测试多个信道(或顺序测试多个信道)。
仍参考图3的302,由于自测电容电路104集成在传感器电路102中,因而本方法不需要单独、复杂且昂贵的专用测试夹具。也不需要用于测试点或将传感器和其相关电极相连接的额外区域。此外,在根据本发明的实施例中,可以通过连接到电容式触摸传感装置的外部装置(例如测试单元110)或内部使用传感器电路102或自测电容电路104中作为ASIC功能的BIST(内置自测)来启动对电容式触摸传感装置的生产测试。此外,自测电容式触摸传感电路104适用于大部分电容式触摸传感结构,其中包括但不限于下述结构:具有反向电容灵敏度的线性化设计、西格玛(sigma)-德尔塔(delta)感测传感器和同时对少量电极传感器(例如一个电极传感器)进行采样的扫描传感系统。
现在参考图3的304,在电容式触摸传感装置109使自测电容电路104对电容式触摸传感装置109施加信号时,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法采样与电容式触摸传感装置109的第一信道对应的第二值。应该注意,用于对电容式触摸传感装置109进行生产测试的本方法适用于在执行步骤302之前或之后执行步骤304。此外,在根据本发明的实施例中,在生产电容式触摸传感装置的过程中进行第二值的采样。在一个实 施例中,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法接通已知大小的电容器,并测量电极传感器对该电容变化的响应。应该注意,电容的变化可以是绝对单端电容或双端跨容(double-ended trans-capacitance)的变化。在根据用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法的实施例中,施加信号不限于施加电信号(电压/电流),还可以包括但不限于施加预定的电容变化、或将传感器灵敏度改变预定量从而变成预定电容。然后,传感器输出应该改变与预定电容相关的预定值。更具体而言,在根据本发明的实施例中,通常使用开关每次将一个或多个(已知大小的)电容器与一个或多个电极传感器隔离或连接。为了获得与电容式触摸传感装置109的第一信道对应的第二值,在一个实施例中,由开关传递电荷,从而由电极传感器观测到电容变化。可选地,为了获得与电容式触摸传感装置109的第一信道对应的第二值,在另一实施例中,通过其他方式增加电容上的电荷,从而由电极传感器观测到明显的电容变化。
仍参考步骤304,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法还适用于施加电压和/或电荷来确定电容式触摸传感装置的响应的传感系统。此外,在根据本发明的实施例中,图1的测试单元110可以控制自测电容电路104的工作。相反,根据本发明的实施例还适于用自测电容电路104控制自己的工作,而无需来自测试单元110的控制。在根据本发明的一个实施例中,测试单元110和自测电容电路104通过存在于传感器电路102中的通信线路进行通信。
仍参考图3的304,虽然在图1中自测电容电路104示为包括在传感器电路102中,但根据本发明的实施例同样适于使临时连接到电容式触摸传感装置109的外部元件作为自测电容电路的一部分工作。
现在参考306,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法比较(在302得到的)第一值和(在304得到的)第二值,以确定对电容式触摸传感装置的第一信道的生产测试结果。此外,在根据本发明的实施例中,在生产电容式触摸传感装置的过程中进行第一值和第二值的比较。即,可以比较接收到的生产测试结果和期望的结果以确定它们之间的差。这样,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法可以容易地识别传感器电极的各个走线或多个走线对施加电容的响应如何的问题,其中该施加电容是对外部施加的临近影响电容的替代。结果,在电容式触摸传感装置仍处于生产中时,本方法就能够容易地检测出一个走线和电源、地或其他走线之间的短路。来自电容自测电路的该生产测试结果还可以与第一值和第二值之一或两者结合,同另一个期望值进行比较,以产生进一步识别传感器的生产性能(例如问题)的结果。因而,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法能够保证不满足承诺的规范和性能要求的电容式触摸传感装置不会发布给客户。因而,用于对电容式装置进行生产测试的本方法能够检测使用传统补偿技术在电容式触摸传感装置的后续工作中不能修正的缺陷(例如,从走线到电源、屏蔽板或其他走线的短路,或没有正确连接传感器电极的开路走线)。用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法还能够检测由保护引起的电容增益误差,并且能够检测断开的走线。本方法还适于使用生产测试结果对对于连接在一起的每个传感器电极的响应进行去卷积或锐化。
在根据本发明的一个实施例中,由自测电容电路104对值进行比较,然后将生产测试结果提供给测试单元110。在根据本发明的另一个实施例中,自测电容电路104将值提供给测试单元110,然后,测试单元110进行比较并产生生产测试结果。还可 以在测试单元110中比较生产测试结果和期望结果(例如标称差或限制值)。可以由用于测试多个生产出的单元的生产测试机在传感器组件之外或在传感器组件内提供与期望结果的该比较功能。期望结果可以传送给传感器组件,或者可将结果预编程在传感器组件内。在一些情况下(例如,在具有LCD显示器的蜂窝电话的情况下),生产出的单元自身可以指示其工作是否正常,而无需与用于测试多个生产出的单元的单独生产设备进行通信。
在根据用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法的另一个实施例中,在接收到生产测试结果后,本方法基于对电容式触摸传感装置的第一信道的生产测试结果对电容式触摸传感装置进行分类。即,本发明的实施例可用于在生产过程中对电容式触摸传感装置进行分箱。结果,为了例如优化性能,可以选择出不同的电容式触摸传感装置以对其工作参数进行调整(例如调谐)。此外,在根据本发明的实施例中,可以在生产电容式触摸传感装置的过程中进行该选择和“调谐”处理。应该理解,在根据本发明的实施例中,可以在传感器电路102内、在自测电容电路104内或通过使用外部控制器(例如测试单元110),进行电容测量的这种计算和修正。或者,可以选择性能不是最优(即,在某些测试范围内)的一些电容式触摸传感装置,以将它们组装到对性能要求不那么严格(例如,更有限的工作温度范围、更受控的环境、更严格控制的组装等)的生产出的单元中。因而,根据本发明的实施例使用生产测试结果来判断电容式触摸传感装置是否满足性能要求。在根据本发明的一个实施例中,生产测试结果用于判断电容式触摸传感装置是否应该分类到次品箱。
还可以使用包括值、测试结果和生产时多个传感器组件的 分类的生产数据。对结果进行记录可能有助于改进生产过程和产量。可以根据要求的性能基于生产数据来调整限制的期望结果。类似地,可以使生产后有瑕疵的装置再与其原始生产数据相关,并/或对其进行重新测试以确定适当的期望结果。可以在传感器组件、组装好的装置、生产设备上存储生产数据,并/或将生产数据传送到许多其他地方。
根据本发明的实施例还适于对电容式触摸传感装置的多个信道进行采样。该方法中,在执行以上图3的302~306所述的处理之前、之后或与该处理同时地,对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法在生产电容式触摸传感装置时,采样与电容式触摸传感装置的第二信道对应的第一值。当电容式触摸传感装置使自测电容电路对电容式触摸传感装置施加信号时,本实施例还采样与电容式触摸传感装置的第二信道对应的第二值。从自测电容电路耦合到第二信道的信号不需要是直接的(例如,其可以通过其他信道的传感器电极)。然后,本方法比较该第一值和第二值,以确定对电容式触摸传感装置的第二信道的生产测试结果。该方法尤其用于判断第一信道和第二信道是否出现了非期望的耦合。此外,在根据本发明的实施例中,基本同时进行第一值的采样和第二值的采样。相反,在根据本发明的其他实施例中,基本顺序进行第一值的采样和第二值的采样。根据本发明的实施例还适于当电容式触摸传感装置没有使自测电容电路对电容式触摸传感装置施加信号时采样第一值。在这样的实施例中,当电容式触摸传感装置使自测电容电路向电容式触摸传感装置施加与第一信号不同的第二信号时进行第一值的采样。
如上详细所述,基于对第二信道获得的生产测试结果,可以对电容式触摸传感装置进行分类(例如分箱)。类似地,可以 基于对第一信道的生产测试结果和对第二信道的生产测试结果的结合来对电容式触摸传感装置进行分类(例如分箱)。而且,对电容式触摸传感装置的第二信道的生产测试结果可用来判断电容式触摸传感装置是否满足性能要求。根据用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的本方法的实施例还适于基本同时采样电容式触摸传感装置的第一信道和电容式触摸传感装置的第二信道。此外,可以同时进行电容式触摸传感装置的第一信道的采样和电容式触摸传感装置的第二信道的采样,但是单独确定其性能。
除上面描述的第一值和第二值之外,或者代替该第一值和第二值,根据本发明的各种实施例还适于采样并比较各种其他值。即,当电容式触摸传感装置没有使自测电容电路对电容式触摸传感装置施加信号时,根据本发明的实施例适于采样与电容式触摸传感装置的第一信道对应的第三值。在该实施例中,以与上面详细所述的方式相同的方式,根据本发明的实施例使用第三值和第二值来产生差值,以与第二标称差比较。第三采样值可用于确定噪声和非线性,但其用途不限于此。
用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术的一部分包括计算机可读和计算机可执行指令,这些指令位于例如计算机系统的计算机可用介质中。即,传感器电路102、测试单元110和自测电路104示出计算机系统和设置有计算机可读介质(例如,随机存取存储器(RAM)和/或只读存储器(ROM))的部件的例子,其中计算机系统和设置有计算机可读介质的部件可用于实现用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术的实施例,下面对此进行讨论。应该理解,用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术可以运行于多个不同计算机系统上或运行于多个不同计算机系统内,这多个不同计算机系统包括: 通用网络计算机系统、嵌入式计算机系统、路由器、交换机、服务器设备、客户端设备、各种中间设备/节点、独立计算机系统等。
简单概括一下,本说明书至少公开了以下主要发明。
发明1.一种电容式触摸传感装置的生产测试方法,所述生产测试方法包括:
在生产所述电容式触摸传感装置时,采样与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的第一值;
当所述电容式触摸传感装置使自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第一信道对应的第二值;以及
比较所述第一值和所述第二值,以确定对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的生产测试结果,其中,在生产所述电容式触摸传感装置的过程中进行所述第二值的采样以及所述第一值和所述第二值的比较。
发明2.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
基于对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果,对所述电容式触摸传感装置进行分类。
发明3.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的工作参数。
发明4.根据发明3所述的生产测试方法,其特征在于,所述使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的工作参数包括:在生产所述电容式触摸传感装置时,使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的所述工作参数。
发明5.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用所述生产测试结果来判断所述电容式触摸传感装置是否满足性能要求。
发明6.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
在生产所述电容式触摸传感装置时,采样与所述电容式触摸传感装置的第二信道对应的第三值;
当所述电容式触摸传感装置使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第二信道对应的第四值;以及
比较所述第三值和所述第四值,以确定对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的生产测试结果。
发明7.根据发明6所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
基于对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果和对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的所述生产测试结果,对所述电容式触摸传感装置进行分类。
发明8.根据发明6所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果和对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的所述生产测试结果来判断所述电容式触摸传感装置是否满足性能要求。
发明9.根据发明6所述的生产测试方法,其特征在于,基本顺序采样所述电容式触摸传感装置的所述第一信道和所述电容式触摸传感装置的所述第二信道。
发明10.根据发明6所述的生产测试方法,其特征在于,基本同时采样所述电容式触摸传感装置的所述第一信道和所述电容式触摸传感装置的所述第二信道。
发明11.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,所述在生产所述电容式触摸传感装置时采样与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的第一值包括:
当所述电容式触摸传感装置没有使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加所述信号时,采样所述第一值。
发明12.根据发明11所述的生产测试方法,其特征在于,所述当所述电容式触摸传感装置没有使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加所述信号时采样所述第一值包括:
当所述电容式触摸传感装置使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加不同于所述信号的第二信号时,采样所述第一值。
发明13.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,所述比较所述第一值和所述第二值包括:
使所述第一值和所述第二值之间的差与标称差相关。
发明14.根据发明1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
当所述电容式触摸传感装置没有使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加所述信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第一信道对应的第三值。
发明15.根据发明14所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用所述第三值和所述第二值来产生差值,以与第二标称差进行比较。
发明16.一种电容式触摸传感装置的生产测试系统,所述 生产测试系统包括:
自测电容电路,用于在生产所述电容式触摸传感装置时采样与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的多个值;以及
测试单元,其连接至所述自测电容电路,所述测试单元用于与所述自测电容电路协同工作以产生对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的生产测试结果。
发明17.根据发明16所述的生产测试系统,其特征在于,所述自测电容电路用于在生产所述电容式触摸传感装置时采样与所述电容式触摸传感装置的多个信道对应的多个值。
发明18.根据发明17所述的生产测试系统,其特征在于,所述测试单元用于与所述自测电容电路协同工作以产生对所述电容式触摸传感装置的所述多个信道中的每个信道的生产测试结果。
发明19.根据发明17所述的生产测试系统,其特征在于,所述自测电容电路用于在生产所述电容式触摸传感装置时基本顺序采样与所述电容式触摸传感装置的多个信道对应的多个值。
发明20.一种计算机可读介质,在所述计算机可读介质上嵌入了计算机可读代码,所述计算机可读代码用于使计算机执行电容式触摸传感装置的生产测试方法,所述生产测试方法包括:
在生产所述电容式触摸传感装置时,接收与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的第一采样值;
当所述电容式触摸传感装置使自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加信号时,接收与所述电容式触摸传感装置的所述第一信道对应的第二采样值;以及
通过比较所述第一采样值和所述第二采样值,确定对所述 电容式触摸传感装置的所述第一信道的生产测试结果。
发明21.根据发明20所述的计算机可读介质,其特征在于,在所述计算机可读介质上嵌入了用于使所述计算机执行如下操作的计算机可读代码:
基于对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果,对所述电容式触摸传感装置进行分类。
发明22.根据发明20所述的计算机可读介质,其特征在于,在所述计算机可读介质上嵌入了用于使所述计算机执行如下操作的计算机可读代码:
使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的工作参数。
发明23.根据发明20所述的计算机可读介质,其特征在于,在所述计算机可读介质上嵌入了用于使所述计算机执行如下操作的计算机可读代码:
在生产所述电容式触摸传感装置时,采样与所述电容式触摸传感装置的第二信道对应的第一值;
当所述电容式触摸传感装置使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第二信道对应的第二值;以及
比较所述第一值和所述第二值,以确定对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的生产测试结果。
发明24.根据发明23所述的计算机可读介质,其特征在于,在所述计算机可读介质上嵌入了用于使所述计算机执行如下操作的计算机可读代码:
基于对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果和对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的所述生产测试结果,对所述电容式触摸传感装置进行分类。
发明25.根据发明23所述的计算机可读介质,其特征在于,在所述计算机可读介质上嵌入了用于使所述计算机执行如下操作的计算机可读代码:
使用对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果和对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的所述生产测试结果来判断所述电容式触摸传感装置是否满足性能要求。
前面对用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术的具体实施例进行的描述是出于说明和描述的目的。该描述并非旨在穷举用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术或将其限制于所公开的精确形式,根据前述示教可以进行许多变形和改变。选择和描述实施例是为了最好地说明用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术的原理和其实际应用,从而使得本领域技术人员能够最好地利用用于对电容式触摸传感装置进行生产测试的该技术和构想适于特定用途的各种变形的各种实施例。
Claims (22)
1.一种电容式触摸传感装置的生产测试方法,所述生产测试方法包括:
在生产所述电容式触摸传感装置时,采样与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的第一值;
当所述电容式触摸传感装置使自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第一信道对应的第二值;以及
比较所述第一值和所述第二值,以确定对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的生产测试结果,其中,在生产所述电容式触摸传感装置的过程中进行所述第二值的采样以及所述第一值和所述第二值的比较。
2.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
基于对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果,对所述电容式触摸传感装置进行分类。
3.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的工作参数。
4.根据权利要求3所述的生产测试方法,其特征在于,所述使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的工作参数包括:在生产所述电容式触摸传感装置时,使用所述生产测试结果来调整所述电容式触摸传感装置的所述工作参数。
5.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用所述生产测试结果来判断所述电容式触摸传感装置是否满足性能要求。
6.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
在生产所述电容式触摸传感装置时,采样与所述电容式触摸传感装置的第二信道对应的第三值;
当所述电容式触摸传感装置使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第二信道对应的第四值;以及
比较所述第三值和所述第四值,以确定对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的生产测试结果。
7.根据权利要求6所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
基于对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果和对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的所述生产测试结果,对所述电容式触摸传感装置进行分类。
8.根据权利要求6所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的所述生产测试结果和对所述电容式触摸传感装置的所述第二信道的所述生产测试结果来判断所述电容式触摸传感装置是否满足性能要求。
9.根据权利要求6所述的生产测试方法,其特征在于,顺序采样所述电容式触摸传感装置的所述第一信道和所述电容式触摸传感装置的所述第二信道。
10.根据权利要求6所述的生产测试方法,其特征在于,同时采样所述电容式触摸传感装置的所述第一信道和所述电容式触摸传感装置的所述第二信道。
11.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,所述在生产所述电容式触摸传感装置时采样与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的第一值包括:
当所述电容式触摸传感装置没有使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加所述信号时,采样所述第一值。
12.根据权利要求11所述的生产测试方法,其特征在于,所述当所述电容式触摸传感装置没有使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加所述信号时采样所述第一值包括:
当所述电容式触摸传感装置使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加不同于所述信号的第二信号时,采样所述第一值。
13.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,所述比较所述第一值和所述第二值包括:
使所述第一值和所述第二值之间的差与标称差相关。
14.根据权利要求1所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
当所述电容式触摸传感装置没有使所述自测电容电路对所述电容式触摸传感装置施加所述信号时,采样与所述电容式触摸传感装置的所述第一信道对应的第三值。
15.根据权利要求14所述的生产测试方法,其特征在于,还包括:
使用所述第三值和所述第二值来产生差值,以与第二标称差进行比较。
16.根据权利要求1至15中任一项所述的生产测试方法,其特征在于,所述生产测试方法能够及时地对来自组装线上的每个电容式触摸传感装置进行测试。
17.一种电容式触摸传感装置的生产测试系统,所述生产测试系统包括:
自测电容电路,用于在生产所述电容式触摸传感装置时采样与所述电容式触摸传感装置的第一信道对应的多个值;以及
测试单元,其连接至所述自测电容电路,所述测试单元用于与所述自测电容电路协同工作以产生对所述电容式触摸传感装置的所述第一信道的生产测试结果。
18.根据权利要求17所述的生产测试系统,其特征在于,所述自测电容电路用于在生产所述电容式触摸传感装置时采样与所述电容式触摸传感装置的多个信道对应的多个值。
19.根据权利要求18所述的生产测试系统,其特征在于,所述测试单元用于与所述自测电容电路协同工作以产生对所述电容式触摸传感装置的所述多个信道中的每个信道的生产测试结果。
20.根据权利要求18所述的生产测试系统,其特征在于,所述自测电容电路用于在生产所述电容式触摸传感装置时顺序采样与所述电容式触摸传感装置的多个信道对应的多个值。
21.根据权利要求17至20中任一项所述的生产测试系统,其特征在于,所述生产测试在不同时间进行多次。
22.根据权利要求17至20中任一项所述的生产测试系统,其特征在于,所述生产测试系统能够及时地对来自组装线上的每个电容式触摸传感装置进行测试。
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