CN101785053A - 光盘装置以及光盘装置的驱动方法 - Google Patents

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CN101785053A CN200980100164A CN200980100164A CN101785053A CN 101785053 A CN101785053 A CN 101785053A CN 200980100164 A CN200980100164 A CN 200980100164A CN 200980100164 A CN200980100164 A CN 200980100164A CN 101785053 A CN101785053 A CN 101785053A
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近藤健二
岸本隆
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Abstract

本发明提供一种光盘装置。对在纹道轨道以及纹面轨道之中的一方记录数据的光盘，进行数据的记录以及再生的至少一种。光盘装置具有判别部，其判别光盘的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的光盘，还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的光盘。判别部在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下，进行光盘种类的判别。

Description

光盘装置以及光盘装置的驱动方法
技术领域
本发明涉及一种使用激光等对光盘(包括再生专用、记录再生用等的各种光盘)进行信息的记录或者再生的光盘装置，特别涉及一种具有判别光盘的寻轨(Tracking)极性的功能的光盘装置。
背景技术
DVD光盘(下面，称为DVD)作为可以记录大容量的数字信息的高记录密度光盘而普及。此外，提出了记录密度更高的蓝光光盘(Blu-rayDisc)(下面，称为BD)，其中作为可以记录的BD在记录膜采用了相变(phase change)材料的BD-R、BD-RE已实际应用。
在此，利用图2(a)对BD-R光盘的结构与成膜方法进行说明。
图2(a)是BD-R光盘的截面示意图。BD-R光盘中，在注射成型的基板200由溅射等形成反射层201，由蒸镀法形成记录层202，经由粘结层203粘合薄膜(sheet)204。再有，在基板200的凹凸处，若将靠近照射光束的光拾取器(Optical Pick-up：光学头)的部分作为纹道轨道(GrooveTrack)、将远离光学头的部分作为纹面轨道(Land Track)，则在BD-R光盘中数据的记录在纹道轨道进行。
另外，近年来为了降低光盘的成本，提出了如下的BD-R光盘并已实际应用，该BD-R光盘作为记录膜材料使用有机色素由旋涂(Spin Coat)法进行记录膜的形成。该光盘在记录膜特性上具有若进行记录则反射率提高的特性，被称为Low-to-High光盘(下面，称为LTH光盘)。另一方面，上述以往的BD-R、BD-RE由于是进行记录则反射率下降的特性，因此被称为High-to-Low光盘(下面，称为HTL光盘)。
在此，利用图2(b)对LTH光盘的结构与成膜方法进行说明。
图2(b)是LTH光盘的截面的示意图。LTH光盘中，在注射成型的基板210由溅射等形成反射层211，由旋涂法形成记录层212，隔着粘结层213粘合薄膜214。再有，在基板210的凹凸处，若与图2(a)同样将靠近照射光束的光学头的部分作为纹道轨道、将远离光学头的部分作为纹面轨道，则在LTH光盘中优选数据的记录在纹面轨道进行。也就是说，由于在记录层需要规定的膜厚，因此为了在纹道轨道进行记录必需增厚纹道轨道的膜厚，这就意味着材料费用的增加。因而，在以降低成本为目标的LTH光盘中数据的记录在纹面轨道进行。
如上述说明，BD中存在2种光盘，分别是在纹道轨道记录的光盘和在纹面轨道记录的光盘。因而，在使用BD的光盘装置中，需要判断所插入的光盘是纹道轨道记录、纹面轨道记录的哪一种类型的光盘，并由对应于其类型的寻轨极性进行寻轨控制。
在对纹道轨道进行数据的记录或者再生的光盘中，进行使光束点在纹道轨道追踪的寻轨控制。在对纹面轨道进行数据的记录或者再生的光盘中，进行使光束点在纹面轨道追踪的寻轨控制。对纹道轨道进行寻轨控制的时与对纹面轨道进行寻轨控制的时寻轨伺服的信号极性不同。因此，在本说明书中，将判断是对纹道轨道进行数据的记录或再生的光盘、还是对纹面轨道进行的光盘，表现为判别寻轨极性。再有，有时将纹面与纹道成对捕获，称为纹面极性以及纹道极性。下面，对寻轨极性的判别方法的一例进行说明。
首先，在BD的控制数据区域或BCA(Burst Cutting Area：烧录区)区域中，记录有表示是在纹道轨道进行记录的光盘还是在纹面轨道进行记录的光盘的寻轨极性信息。利用此信息通过在装置启动时再生记录于光盘的寻轨极性信息，能够判别寻轨极性。
另外，在装置启动时，对一个寻轨极性进行寻轨引入，在能够再生所记录的地址信息的情况下判别该寻轨极性为正确，在不能再生的情况下判别另一个寻轨极性正确(例如，参考专利文献1)。
此外，其他也能够以下面的顺序进行寻轨极性判别。
首先，在装置启动时由符合纹道轨道的极性(纹道极性)进行寻轨引入，并在纹道轨道进行寻轨控制。在该状态下测量规定数目的轨道中的地址读取率。接下来，切换为符合纹面轨道的极性(纹面极性)从而进行寻轨引入，与纹道极性中的测量同样地进行规定数目的轨道中的地址读取率的测量。在这两极性中的读取结果中，将错误少的一方判断为正确的寻轨极性，以后由所判断的极性进行寻轨控制。
[专利文献1]国际公开第2006/006458号公报
但是，上述的寻轨极性的判别方法中存在以下问题。
首先，由于根据分别对纹面以及纹道进行了寻轨控制的状态下的测定结果进行判别因此花费时间，其结果将增加装置的启动时间。
再有，寻轨极性判别由于需要分别对纹面以及纹道进行寻轨控制，因此必需事先进行两寻轨极性中的各种学习。在该装置的启动中，意味着花费直到开始进行寻轨极性判别的时间，其结果将增加装置的启动时间。
另外，上述的LTH光盘在规格上由于与HTL光盘相比沟调制系数高，因此由推挽(push-pull)法产生的寻轨误差信号的调制部变高。这意味作为聚焦误差(focus error)信号使用了散光法的情况下，将产生大的、在聚焦误差信号中混淆推挽寻轨误差信号的光学串扰(crosstalk)。若产生光学串扰，则由聚焦控制光点在对于光盘的信息层垂直方向(下面，将该方向称为聚焦方向)产生振动，在该振动较大的情况下有时聚焦控制将失效。进而，在光学串扰较大的情况下，聚焦控制中使用的传动装置驱动电流也同样增大，该大的驱动电流所产生的热量对传动装置带来不良影响。
发明内容
本发明是为了解决上述问题而进行的，提供一种在聚焦控制开启并且寻轨控制关闭状态下判别寻轨极性的光盘(optical disc)装置。
本发明的光盘装置，对在纹道轨道以及纹面轨道的一方记录数据(data)的信息载体，进行数据的记录以及再生的至少一方，其特征在于，具有：受光部，其接受来自所述信息载体的反射光；检测部，其根据所述受光部的输出信号，检测所述信息载体上的光束(optical beam)的照射位置与所述轨道的之间的位置偏差；以及判别部，判别所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体、还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体，所述判别部在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，所述判别部在不进行所述寻轨控制的状态下，根据由所述光束横穿过所述轨道所产生的信号，进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，还具有：聚焦误差信号生成部，其根据所述受光部的输出信号，生成表示所述光束的收敛状态的聚焦误差信号；以及聚焦控制部，其根据所述聚焦误差信号，输出用于聚焦控制的信号，所述判别部根据所述聚焦控制部的输出信号的振幅大小，进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，所述检测部生成推挽寻轨误差信号以及相位差寻轨误差信号，所述判别部，根据所述推挽寻轨误差信号与所述相位差寻轨误差信号之间的相位关系，进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，还具有聚焦误差信号生成部，其根据所述受光部的输出信号，生成表示所述光束的收敛状态的聚焦误差信号，所述检测部生成相位差寻轨误差信号，所述判别部根据所述聚焦误差信号的分量与所述相位差寻轨误差信号的相位关系，进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，所述检测部生成寻轨误差信号，所述光盘装置还具有：光量检测部，其根据所述受光部的输出信号，检测所述光束的返回光量；以及标准化部，其由所述光量检测部的输出信号对所述寻轨误差信号进行标准化处理，所述判别部根据所述进行标准化后寻轨误差信号的振幅的大小，进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，还具有光量检测部，其根据所述受光部的输出信号检测所述光束的返回光量，所述判别部根据所述光量检测部的输出信号的电平进行所述信息载体的种类的判别。
根据实施方式，还具有：聚焦误差信号生成部，其根据所述受光部的输出信号，生成表示所述光束的收敛状态的聚焦误差信号；聚焦控制部，其输出用于聚焦控制的信号；以及补偿部，其对所述聚焦误差信号中含有的光学串扰进行补偿，所述补偿部根据所述判别部的判别结果进行所述补偿，所述聚焦控制部根据所述补偿后的聚焦误差信号，输出用于所述聚焦控制的信号。
根据实施方式，还具有设定部，其设定用于聚焦控制的聚焦环增益(loop gain)，在所述判别部判别为所述信息载体的种类是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体时，所述设定部与所述判别前相比降低所述聚焦环增益。
根据实施方式，还具有设定部，其设定用于聚焦控制的聚焦环增益，在所述判别部判别为所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体时，所述设定部与所述判别前相比提高所述聚焦环增益。
本发明的光盘装置的驱动方式，是对在纹道轨道以及纹面轨道的一方记录数据的信息载体，进行数据的记录以及再生的至少一方的光盘装置的驱动方法，该光盘装置的驱动方法的特征在于，包括：受光步骤，接受来自所述信息载体的反射光；检测步骤，根据由所述受光所得到的信号，检测所述信息载体上的光束的照射位置与所述轨道之间的位置偏差；以及判别步骤，判别所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体、还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体，所述信息载体的种类的判别在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下进行。
本发明的集成电路，装载在对信息载体进行数据的记录以及再生的至少一方的光盘装置时，判别所述信息载体的种类，其特征在于，具有：检测部，其检测所述信息载体上的光束的照射位置与轨道的之间的位置偏差；以及判别部，其判别所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体、还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体，所述判别部在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下，进行所述信息载体的种类的判别。
根据本发明，在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下，进行所述光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，在不进行寻轨控制的状态下，根据由光束横穿过轨道所产生的信号，进行光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，根据聚焦控制部的输出信号的振幅大小，进行光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，根据推挽寻轨误差信号与相位差寻轨误差信号之间的相位关系，进行光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，根据聚焦误差信号的分量与相位差寻轨误差信号的相位关系，进行光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，根据由检测光束的返回光量的光量检测部的输出信号进行标准化后的寻轨误差信号的振幅大小，进行光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，根据检测光束的返回光量的光量检测部的输出信号的电平，进行光盘种类的判别。由于可以不进行寻轨引入而判别光盘的种类，因此能够缩短判别时间，能够缩短光盘装置的启动时间。
再有，根据本发明的实施方式，根据光盘判别结果，并根据补偿了光学串扰后的聚焦误差信号，输出用于聚焦控制的信号。即使在使用了沟调制系数大的LTH光盘的情况下，由于能够防止由光学串扰分量引起的聚焦驱动电流的产生、或由光学串扰引起的聚焦控制的振动，因此，可以实现消耗电力的降低以及聚焦控制的稳定性提高，能够提高光盘装置的记录再生性能。
再有，根据本发明的实施方式，在判别为光盘的种类是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的光盘的情况下，与判别前相比降低聚焦环增益。在使用沟调制系数大的LTH光盘的情况下，通过降低聚焦环增益，由于能够减少由光学串扰分量引起的聚焦驱动电流的产生、或由光学串扰引起的聚焦控制的振动，因此，可以实现消耗电力的降低以及聚焦控制的稳定性提高，能够提高光盘装置的记录再生性能。
再有，根据本发明的实施方式，在判别为光盘的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的光盘的情况下，与判别前相比提高聚焦环增益。通过预先降低增益，在沟调制系数大的LTH光盘插入装置之后，由于能够减少由光学串扰分量引起的聚焦驱动电流的产生、或由光学串扰引起的聚焦控制的振动，因此，可以实现消耗电力的降低以及聚焦控制的稳定性提高，能够提高光盘装置的记录再生性能。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式1的光盘装置的框图。
图2(a)以及(b)是具有纹道轨道以及纹面轨道的光盘的示意图。
图3是表示本发明的实施方式1中的探测器的检测区域的平面图。
图4是表示本发明的实施方式1中FE信号生成部的框图。
图5是表示本发明的实施方式1中PPTE信号生成部的框图。
图6是表示本发明的实施方式1中DPDTE信号生成部的框图。
图7(a)至(j)是表示本发明的实施方式1中的HTL光盘以及LTH光盘的信息层的截面、各光盘中的光束横穿过轨道时的PPTE信号波形以及DPDTE信号波形、在过零处对各波形进行二进制处理后的波形的彼此之间的关系的图。
图8是表示本发明的实施方式2的光盘装置的框图。
图9(a)至(j)是表示本发明的实施方式2中的HTL光盘以及LTH光盘的信息层的截面、各光盘中的光束横穿过轨道时的FE信号中的光学串扰所产生的混淆分量的波形以及DPDTE信号波形、对各波形在过零处进行二进制处理后的波形的彼此之间的关系的图。
图10是表示本发明的实施方式3的光盘装置的框图。
图11是表示本发明的实施方式4的光盘装置的框图。
图12是表示本发明的实施方式4中的AS信号生成部的框图。
图13是表示本发明的实施方式5的光盘装置的框图。
图14是表示本发明的实施方式6的光盘装置的框图。
图15是表示本发明的实施方式6中的光学串扰补偿部的框图。
图16是表示本发明的实施方式6中的装置启动时的寻轨极性判别与光学串扰补偿的切换顺序的流程图。
图17是表示本发明的实施方式6中的装置启动时的寻轨极性判别与聚焦增益设定的切换顺序的流程图。
图中：
100-光学头(head)
101-光源
102-准直(collimator)透镜
103-偏光束分光器(splitter)
104-1/4波长板
105-物镜
106-光盘
107-聚光透镜
108-探测器
109-聚焦传动装置(actuator)
110-寻轨传动装置
111-前置放大器
112-聚焦误差(FE)信号生成部
114-聚焦控制部
116-聚焦驱动部
117-推挽寻轨误差(PPTE)信号生成部
118-信号极性切换部
119-寻轨控制部
120-开关
121-寻轨驱动部
122-相位差寻轨误差(DPDTE)信号生成部
123-微型计算机(微型机)
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。
(实施方式1)
图1是表示本发明的实施方式1中的光盘装置10的框图。光盘装置10例如是记录再生装置、再生专用装置、记录装置、编辑装置等。
在图1中，光源101例如是半导体激光元件，是对信息载体106的信息层输出光束的光源。信息载体106是在纹道轨道以及纹面轨道之中的一方记录数据的光盘。信息载体106可以是再生专用的光盘。光盘装置10对光盘106至少进行数据记录以及再生之中的一个。
准直透镜102是将光源101所射出的发散光变换为平行光的透镜。偏光束分光器103是对光源101所射出的直线偏振光进行全反射、使与该光源101所射出的直线偏振光垂直的方向的直线偏振光全部透过的光学元件。1/4波长板104是将透过的光的偏振光从圆偏振光变换为直线偏振光、或者从直线偏振光变换为圆偏振光的光学元件。物镜105是将光束聚光至光盘106的信息层的透镜。
光盘106是如图2(a)以及(b)中所示那样具有纹道轨道以及纹面轨道、在纹道轨道以及纹面轨道的其中一个记录数据的光盘。
聚光透镜107是将透过偏光束分光器103的光束聚光至探测器108的透镜。探测器108是将接收到的光信号转换为电信号的元件，具有4分割的检测区域。
图3是表示探测器108的检测区域的平面图。如图3所示，探测器108的检测区域分割为A、B、C、D的4个区域。图中的左右方向对应于光盘106的直径方向(下面，称为寻轨方向)，上下方向对应于轨道长边方向。
前置放大器111是将来自探测器108的各区域的输出电流转换为电压的电气元件。FE信号生成部112，是从前置放大器111的多个输出信号、由散光法生成对应光盘106信息层上的光束的收敛状态的聚焦误差信号(下面，称为FE信号)的电路。
图4中表示FE信号生成部112的结构。如图4所示，加法器124a是将来自探测器108的检测区域A以及C的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并输出的电路。加法器124b是将来自探测器108的检测区域B以及D的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并输出的电路。减法器125是对加法器124a以及124b所输出的信号进行减法运算的电路。
聚焦控制部114是根据FE信号生成部112所输出的信号、输出聚焦控制信号的电路。聚焦驱动部116是根据聚焦控制部114所输出的信号、输出聚焦传动装置驱动信号的电路。聚焦传动装置109使物镜105移动至聚焦方向，由聚焦传动装置驱动信号进行驱动。
PPTE信号生成部117是如下的电路，从前置放大器111的多个输出信号、生成表示光盘106的信息层上的光点与轨道的位置关系的推挽寻轨误差信号(下面，称为PPTE信号)。
图5中表示PPTE信号生成部117的结构。如图5所示，加法器129a将来自探测器108的检测区域A以及B的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并进行输出。加法器129b将来自探测器108的检测区域C以及D的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并进行输出。减法器130对加法器129a以及129b所输出的信号进行减法运算并输出。
信号极性切换部118，根据来自微型计算机123(后面，称为微型机)的设定信号切换PPTE信号生成部117所输出的PPTE信号的极性并输出。寻轨控制部119根据信号极性切换部118所输出的信号输出寻轨控制信号。开关120由来自微型机123的指令信号、切换寻轨控制的开启和停止。寻轨驱动部121根据开关120所输出的信号、输出寻轨传动装置驱动信号。寻轨传动装置110使物镜105移动至寻轨方向，由寻轨传动装置驱动信号进行驱动。
DPDTE信号生成部122，根据前置放大器111的多个输出信号、生成表示光盘106的信息层上的光点与轨道上的标记(Mark)或者凹坑(Pit)之间的位置关系的位相差TE信号(下面，称为DPDTE信号)。
图6中表示DPDTE信号生成部122的结构。如图6所示，加法器131a将来自探测器108的检测区域A以及C的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并输出。加法器131b将来自探测器108的检测区域B以及D的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并输出。比较器132a、132b对加法器131a、131b的输出进行二进制处理并输出。相位比较器133，对比较器132a、132b所输出的二进制信号进行比较、输出对应边缘(Edge)的相位超前以及相位延迟的时间宽度的脉冲。低通滤波器134对相位比较器133所输出的脉冲信号进行平滑处理。
光盘装置10的光学头100具有光源101、准直透镜102、偏光束分光器103、1/4波长板104、物镜105、聚光透镜107、探测器108、聚焦传动装置109、寻轨传动装置110。
如上所述，探测器108作为接受来自光盘106的信息层的反射光的受光部而发挥功能。另外，可以将探测器108与前置放大器111总称为受光部。
再有，FE信号生成部112是作为根据探测器108的输出信号、生成表示光束的收敛状态的聚焦误差信号的聚焦状态检测部而发挥功能。另外，可以将前置放大器111以及FE信号生成部112总称为聚焦状态检测部。
再有，聚焦传动装置109是作为使光束的收敛点移动至对于光盘106垂直方向的聚焦方向移动部而发挥功能。
再有，聚焦控制部114根据聚焦误差信号输出用于聚焦控制的信号。另外，可以将聚焦控制部114与聚焦驱动部116总称为聚焦控制部，以驱动聚焦传动装置109、光束的收敛点达到规定收敛状态的方式进行控制。
再有，PPTE信号生成部117是作为检测光盘106上的光束照射位置与轨道之间的位置偏差的轨道偏差检测部而发挥功能。另外，可以将前置放大器111与PPTE信号生成部117总称为轨道偏差检测部。
再有，寻轨传动装置110是作为使光盘106上的光束的收敛点移动至与轨道长边方向垂直的方向的轨道方向移动部而发挥功能。
再有，信号极性切换部118、寻轨控制部1119、开关120以及寻轨驱动部121，以根据来自PPTE信号生成部117的信号驱动寻轨传动装置110、从而光束的收敛点正确地扫描纹道轨道或者纹面轨道上的方式进行控制。可以将信号极性切换部118、寻轨控制部1119、开关120以及寻轨驱动部121总称为寻轨控制部。
再有，DPDTE信号生成部122是作为根据受光而得到的信号的相位偏差、检测纹道轨道或者纹面轨道上的标记或者凹坑与光束的收敛点之间的位置偏差的相位差轨道偏差检测部而发挥功能。另外，可以将前置放大器111与DPDTE信号生成部122总称为相位差轨道偏差检测部。此外，可以将PPTE生成部117与DPDTE信号生成部122(与前置放大器111)总称为轨道偏差检测部。
再有，微型机123是作为判别对纹道轨道或者纹面轨道的其中一个进行寻轨控制的寻轨极性判别部而发挥功能。也就是说，微型机123判别载置于光盘装置10内的光盘106的种类是对纹道轨道进行数据的记录或再生的光盘、还是对纹面轨道进行的光盘。该判别是在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下、根据由光束横穿过轨道而产生的信号来进行。这种由光束横穿过轨道所产生的信号的详细内容将在后面叙述。另外，可以将微型机123、PPTE信号生成部117、DPDTE信号生成部122总称为寻轨极性判别部。
再有，信号极性切换部118是作为根据光盘106的种类判别结果进行寻轨极性的切换的寻轨极性切换部而发挥功能。另外，可以将微型机123与信号极性切换部118总称为寻轨极性切换部。
再有，PPTE信号生成部117、DPDTE信号生成部122、微型机123、信号切换部118可以作为集成电路11而集中于1个半导体芯片来进行安装。这种集成电路11装载于光盘装置10时，作为判别光盘106的种类的装置而发挥功能。另外，这些的构成要素的全部可以并不安装于集成电路11，此外，这些以外的构成要素也可以安装于集成电路。
下面，对光盘装置10的动作进一步详细说明。
光源101所射出的直线偏振光的光束入射至准直透镜102，由准直透镜102形成平行光。由准直透镜102形成的平行光的光束入射至偏光束分光器103。在偏光束分光器103中反射的光束由1/4波长板104形成圆偏振光。由1/4波长板形成的圆偏振光的光束入射至物镜105，在光盘106上进行收敛照射。
由光盘106反射之后的光束透过偏置分束棱镜103并入射至聚光透镜107。入射至聚光透镜107之后的光束入射至探测器108。入射至探测器108之后的光束由A～D的各区域转换为电信号。由探测器108的各区域得到的电信号由前置放大器111转换为电压。前置放大器111的多个输出信号由FE信号生成部112通过散光法计算出FE信号。从FE信号生成部112输出的FE信号输入至聚焦控制部114，通过例如由DSP(数字信号处理器)形成的数字滤波器所构成的相位补偿电路、低频域补偿电路，从而成为聚焦驱动信号。从聚焦控制部部114输出的聚焦驱动信号输入至聚焦驱动部116，进行放大并输出至聚焦传动装置109。
通过以上动作，能够实现如下的聚焦控制，即：使用FE信号、以常时成为规定的收敛状态的方式控制光盘106的信息层上的光束的收敛状态。
再有，前置放大器111的多个输出信号由PPTE信号生成部117通过推挽法计算出PPTE信号。另外，前置放大器111的多个输出信号由DPDTE信号生成部122通过相位差法计算出DPDTE信号。PPTE信号生成部117所输出的PPTE信号与DPDTE信号生成部122所输出的DPDTE信号输入至微型机123。
微型机123根据所输入的PPTE信号与DPDTE信号，在照射光束的光盘106的信息层判别在纹道轨道或者纹面轨道的哪一个记录着数据，并决定要进行寻轨控制的寻轨极性，将控制信号输出至信号极性切换部118。
来自PPTE信号生成部117的PPTE信号输入至信号极性切换部118。信号极性切换部118根据微型机123所输入的控制信号、将切换所输入的PPTE信号极性的信号输出至寻轨控制部119。
输入至寻轨控制部119的信号通过例如由DSP形成的数字滤波器所构成的相位补偿电路、低频域补偿电路，成为寻轨驱动信号。来自寻轨控制部119的寻轨驱动信号输入至开关120。开关120，由来自对应引入寻轨的微型机123的指令信息使开关导通，并将寻轨驱动信号输出至寻轨驱动部121。输入至寻轨驱动部121的寻轨驱动信号被放大之后输出至寻轨传动装置110。
通过以上的动作，实现如下的寻轨控制，即：使用PPTE信号、以在光盘106的信息层在记录着数据的纹道轨道或者纹面轨道的其中一个所希望的轨道上进行正确地扫描的方式进行控制。
另外，所谓进行寻轨控制的状态是指寻轨传动装置110根据驱动信号式物镜105沿着寻轨方向移动的状态。所谓没有进行寻轨控制的状态是指寻轨传动装置110根据驱动信号没有使物镜105沿着寻轨方向移动的状态。没有进行寻轨控制的状态，例如通过是开关120处于关断状态能够实现，但是也可以通过其他动作来实现。
在此，利用图7对本实施方式中的寻轨极性判别(光盘种类判别)进行说明。
图7是表示纹道轨道记录光盘(HTL光盘)以及纹面轨道记录光盘(LTH光盘)的信息层的截面、各光盘中的PPTE信号波形以及DPDTE信号波形、在过零处对各TE信号进行二进制处理后的信号波形的图，表示各自之间的对应关系。
图7(a)是HTL光盘的信息层截面图，图7(f)是LTH光盘的信息层截面图，都是从图的上方照射光束。
再有，纹道轨道的中心是由虚线表示的位置，纹面轨道的中心是由点划线表示的位置。HTL光盘中在纹道轨道上形成标记，LTH光盘中在纹面轨道上形成标记。
图7(b)以及(g)是表示对图7(a)以及(f)的各光盘的信息层在光束横穿过轨道时所检测出的PPTE信号。
如图7(b)以及(g)所示，光束横穿过轨道时检测出的PPTE信号是分别在纹道轨道以及纹面轨道过零的正弦波状的波形。另外，这样在光束横穿过轨道时检测出的PPTE信号在HTL光盘、LTH光盘中即使振幅不同信号形状也是相同的。
另一方面，图7(c)以及(h)是表示对图7(a)以及(f)的各光盘的信息层在光束横穿过轨道时所检测出的DPDTE信号。
在此，由于生成DPDTE信号的相位差法是在光束通过凹坑或标记时、检测凹坑或标记与光束之间的寻轨方向的位置偏差的方式，因此不依赖于轨道的极性。因而，DPDTE信号如图7(c)以及(h)所示那样是在存在标记的轨道处过零的锯齿波。
再有，图7(d)以及(e)是表示对图7(b)以及(c)的信号分别在过零处进行二进制处理后的信号。再有，图7(i)以及(j)是表示对图7(g)以及(h)的信号分别在过零处进行二进制处理后的信号。
本实施方式中，利用上述的PPTE信号以及DPDTE信号的特性进行寻轨极性的判别。
也就是说，着眼于光束横穿过轨道时的PPTE信号与DPDTE信号的相位关系，若如图7(b)以及(c)所示那样PPTE信号与DPDTE信号为同相位关系则判别为纹道轨道记录光盘，若如图7(g)以及(h)所示那样PPTE信号与DPDTE信号为反相位关系则判别为纹面轨道记录光盘。
另外，PPTE信号与DPDTE信号的相位关系由在过零处对两信号进行二进制处理后的信号进行判别。
也就是说，若如图7(d)以及(e)所示，若在对PPTE信号进行了二进制处理后的信号为高电平的区间，对DPDTE信号进行了二进制处理后的信号为高电平，则判别PPTE信号与DPDTE信号为同相位。
另一方面，若如图7(i)以及(j)所示，若在对PPTE进行了二进制处理后的信号为高电平的区间，对DPDTE信号进行了二进制处理后的信号为低电平，则判别PPTE信号与DPDTE信号为反相位。
由以上内容，根据光束横穿过轨道时的PPTE信号与DPDTE信号能够判别寻轨极性。
因而，由于并没进行寻轨引入而可以进行寻轨极性的判别，因此可以缩短寻轨极性判别时间，其结果也能够实现启动时间的缩短。
再有，在本实施方式中，作为寻轨极性判别中的PPTE信号与DPDTE信号的相位关系的判别方法虽然使用对各信号在过零处进行了二进制处理的信号，但是并不限定于使用了这种信号的判别方法。
(实施方式2)
图8是表示实施方式2中的光盘装置10的框图。另外，对与图1所示的光盘装置10相同的结构部分附于相同的参考序号，并省略说明。
在本实施方式中，微型机123是作为根据聚焦误差信号的分量与相位差寻轨误差信号之间的相位关系进行寻轨极性判别的寻轨极性判别部而发挥功能。另外，可以概括微型机123、信号生成部112、DPDTE信号生成部122而称为寻轨极性判别部。
下面，对本实施方式的光盘装置10的动作进行说明。另外，对与实施方式1相同的动作省略其说明。
来自FE信号生成部112的FE信号与来自DPDTE信号生成部122的DPDTE信号输入至微型机123。微型机123根据所输入的FE信号与DPDTE信号、在照射光束的光盘106的信息层中判别纹道轨道或者纹面轨道的哪一个记录着数据，并决定要进行寻轨控制的寻轨极性，将控制信号输出至信号极性切换部118。
在此，利用图9对本实施方式中的寻轨极性判别进行说明。另外，对于与图7相同的部分省略其说明。
图9是表示纹道轨道记录光盘(HTL光盘)以及纹面轨道记录光盘(LTH光盘)的信息层的截面、各光盘中的FE信号的光学串扰混淆分量的波形、DPDTE信号波形、对这些混淆分量以及DPDTE信号在过零处进行了二进制的信号波形的图，表示各自之间的对应关系。
图9(a)以及(f)与图7(a)以及(f)相同、表示信息层的截面。图9(b)以及(g)是表示对图9(a)以及(f)的各光盘的信息层、在光束横穿过轨道时检测出的FE信号的光学串扰混淆成分。光学串扰如上所述由于是PPTE信号混淆FE信号中的现象，因此其混淆分量成为与PPTE同相位的信号。
因而，对于各光盘光束横穿过轨道时的FE信号的光学串扰混淆分量(图9(b)以及(g))是与光束横穿过轨道时的PPTE信号(图7(b)以及(g))同相位的信号。
再有，图9(d)以及(e)是表示对图9(b)以及(c)的信号分别在过零处进行二进制处理后的信号。再有，图9(i)以及(j)是表示对图9(g)以及(h)的信号分别在过零处进行二进制处理后的信号。
在本实施方式中，利用光学串扰混淆分量与DPDTE信号的特性进行寻轨极性的判别。也就是说，着眼于光束横穿过轨道时的FE信号中的光学串扰混淆分量与PPTE信号同相位，从而与实施方式1同样地进行寻轨极性判别。
于是，如图9(b)以及(c)所示，若光学串扰混淆分量与DPDTE信号是同相位关系则判别为纹道轨道记录光盘。另外，如图9(g)以及(h)所示，若光学串扰混淆分量与DPDTE信号是反相位关系则判别为纹面轨道记录光盘。
再有，光学串扰混淆分量与DPDTE信号之间的相位关系与实施方式1相同由在过零处对两信号进行二进制处理后的信号进行判别。
也就是说，若如图9(d)以及(e)所示，若在对光学串扰混淆分量进行二进制处理后的信号为高电平的区间，对DPDTE信号进行了二进制处理后的信号为高电平，则判别光学串扰混淆分量与DPDTE信号为同相位。
另一方面，若如图9(i)以及(j)所示，若在对光学串扰混淆分量进行二进制处理后的信号为高电平的区间，对DPDTE信号进行了二进制处理后的信号为低电平，则判别光学串扰混淆分量与DPDTE信号为反相位。
如上所述，利用光束横穿过轨道时的FE信号中的光学串扰混淆分量与DPDTE信号能够判别寻轨极性。
因而，由于并没进行寻轨引入而可以进行寻轨极性的判别，因此可以缩短寻轨极性判别时间，其结果也能够实现启动时间的缩短。
再有，在本实施方式中，作为FE信号的光学串扰混淆分量与DPDTE信号的相位关系的判别方法，虽然使用对各信号在过零处进行了二进制处理后的信号，但是并不限定于使用了这种信号的判别方法。
(实施方式3)
图10是表示实施方式3中的光盘装置10的框图。另外，对与图1所示的光盘装置10相同的结构部分附于相同的参考序号，并省略说明。
在本实施方式中，微型机123是作为根据聚焦控制部114的输出信号的振幅的大小进行寻轨极性判别的寻轨极性判别部而发挥功能。另外，可以概括微型机123与聚焦控制部114而称为寻轨极性判别部。
下面，对本实施方式的光盘装置10的动作进行说明。另外，对与实施方式1相同的动作省略其说明。
聚焦控制部114所输出的聚焦驱动信号输入至微型机123。微型机123根据所输入的聚焦驱动信号的振幅、在照射光束的光盘106的信息层中判别纹道轨道或者纹面轨道的哪一个记录着数据，并决定要进行寻轨控制的寻轨极性，将控制信号输出至信号极性切换部118。
在此，对本实施方式中的寻轨极性判别进行说明。
在利用含有光学串扰的FE信号来进行聚焦控制时，能够在聚焦控制部114所输出的聚焦驱动信号中确认根据光学串扰分量的信号振幅。如上所述，根据激光波长与纹道深的关系，在纹道轨道进行记录的LTH光盘与HTL光盘相比沟调制系数高。因此，光束横穿过轨道时的FE信号中混淆PPTE信号从而产生的光学串扰分量比HTL光盘大。再有，若由含有光学串扰分量的FE信号进行聚焦控制，则能够在来自聚焦控制部114的输出即聚焦驱动信号中确认对应光学串扰的信号振幅。于是，在LTH光盘与HTL光盘中，在进行聚焦控制的状态下在光束横穿过轨道时的聚焦驱动信号中能够确认不同的信号振幅。在此，聚焦驱动信号的振幅，作为对聚焦驱动信号的绝对值在规定的时间的期间进行积分后的值而能够检测出。
因而，在该积分后的值比规定的阈值大的情况下，能够判别是沟调制系数高的LTH光盘。
如上所述，由于LTH光盘是在纹面轨道进行寻轨控制的光盘，因此由聚焦驱动信号振幅能够进行光盘种类(寻轨极性)的判别。
如上述内容，能够根据光束横穿过轨道时的聚焦驱动信号振幅判别寻轨极性。
因而，由于并没进行寻轨引入而可以进行寻轨极性的判别，因此可以缩短寻轨极性判别时间，其结果也能够实现启动时间的缩短。
另外，在本实施方式中，虽然将聚焦控制部114所输出的聚焦控制信号用于寻轨极性判别，但是通过测定聚焦传动装置109中流过的电流也同样能够进行判别。
(实施方式4)
图11是表示实施方式4中的光盘装置10的框图。另外，对与实施方式1所示的光盘装置10相同的结构部分附于相同的参考序号，并省略相同的说明。
本实施方式的光盘装置10具有AS信号生成部400以及除法器401。AS信号生成部400根据前置放大器111的输出信号、生成用于检测来自光盘106的信息层的返回光量的全加法信号(下面，称为AS信号)。
图12中表示AS信号生成部400的结构。如图12所示，加法器402a是将来自探测器108的检测区域A以及B的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并输出的电路。加法器402b是将来自探测器108的检测区域C以及D的输出电流由前置放大器111转换为电压的2个输出信号相加并输出的电路。加法器403是将加法器402a以及402b所输出的信号相加并输出的电路。
除法器401是将PPTE信号生成部117输出的PPTE信号除以AS信号生成部400所输出的AS信号并输出的电路。
在本实施方式中，AS信号生成部400是作为检测光束的返回光量的反射光量检测部而发挥功能。另外，可以将AS信号检测部400与前置放大器111总称为反射光量检测部。
再有，除法器401是作为由AS信号对PPTE信号进行标准化的TE信号标准化部而发挥功能。
本实施方式中，微型机123是作为根据进行了标准化处理后的PPTE信号的振幅大小进行寻轨极性的判别的寻轨极性判别部而发挥功能。另外，可以将微型机123、AS信号生成部400、除法器401总称为寻轨极性判别部。
下面，对本实施方式的光盘装置10的动作进行说明。另外，对于与实施方式1相同的动作省略其说明。
前置放大器111的输出信号由AS信号生成部400计算出AS信号。来自PPTE信号生成部117的PPTE信号与来自AS信号生成部400的AS信号输入至除法器400，作为将PPTE除以AS信号之后的结果输出标准化PPTE信号。来自除法器401的标准化PPTE信号输入至微型机123。
微型机123根据所输入的标准化PPTE信号的振幅、在照射光束的光盘106的信息层中判别纹道轨道或者纹面轨道的哪一个记录着数据，并决定要进行寻轨控制的寻轨进行，将控制信号输出至信号极性切换部118。
在此，对本实施方式中的寻轨极性判别进行说明。
如上所述，在纹面轨道进行记录的LTH光盘沟调制系数高。沟调制系数作为将光束横穿过轨道时的PPTE信号除以AS信号所求得的信号的振幅而能够计算出，这是本实施方式的标准化PPTE信号振幅。在此，根据光盘的规格，HTL光盘沟调制系数为0.21～0.45，LTH光盘沟调制系数为0.21～0.60。
从上述规格值来看，虽然考虑了在HTL光盘与LTH光盘中具有相同沟调制系数的情况，但是作为实际产品的LTH光盘调制度接近于规格的上限值，具有0.5以上的调制度。
因而，根据标准化PPTE信号振幅是否比0.5大能够判别是否为沟调制系数高的LTH光盘。在此，如上所述那样，由于LTH光盘是在纹面轨道进行寻轨控制的光盘，因此由标准化PPTE信号振幅能够进行光盘种类(寻轨极性)的判别。
如上述，根据光束横穿过轨道时的标准化PPTE信号振幅能够判别寻轨极性。
因而，由于并没进行寻轨引入而可以进行寻轨极性的判别，因此可以缩短判别时间，其结果也能够实现启动时间的缩短。
另外，在本实施方式中，虽然将着眼于标准化PPTE信号振幅的判别用的阈值设定为0.5，但是该阈值仅是一例也可以是其他值。
(实施方式5)
图13是表示实施方式5中的光盘装置10的结构的框图。另外，对于与实施方式1以及4的光盘装置10相同的结构部分附于相同的参考序号，并省略相同说明。
在本实施方式中，微型机123是作为根据AS信号的电平进行寻轨极性判别的寻轨极性判别部而发挥功能。AS信号的电平例如是AS信号振幅。另外，可以将微型机123与AS信号生成部400总称为寻轨极性判别部。
下面，对本实施方式的光盘装置10的动作进行说明。另外，对与实施方式1以及4相同的动作省略其说明。
来自AS信号生成部400的AS信号输入至微型机123。微型机123根据所输入的AS信号的电平、在照射光束的光盘106的信息层判别在纹道轨道或者纹面轨道的哪一个记录着数据，并决定要进行寻轨控制的寻轨极性，将控制信号输出至信号极性切换部118。
在此，对本实施方式中的寻轨极性判别进行说明。
如上所述，在纹面轨道进行记录的LTH光盘在记录后反射率变高。在此，根据光盘的规格，已经记录的HTL光盘的反射率为11％～24％，已经记录的LTH光盘的反射率为16％～35％。
从上述规格来看，虽然考虑了在HTL光盘与LTH光盘中具有相同的反射率的情况，但是实际产品中的LTH光盘反射率接近于规格上限值，具有30％以上的反射率。
因而，由AS信号电平是否比相当于反射率为30％的信号电平大，能够判别是否为反射率大的LTH光盘。在此，如上所述，由于LTH光盘是在纹面轨道进行寻轨控制的光盘，因此由AS信号电平能够进行光盘种类(寻轨极性)的判别。
如上面所述，能够根据AS信号电平判别寻轨极性。
因而，由于不进行寻轨引入而可以进行寻轨极性的判别，因此可以缩短寻轨极性判别时间，其结果也能够实现启动时间的缩短。
另外，在本实施方式中，虽然将着眼于AS信号电平的判别用的阈值设定为相当于反射率为30％的信号电平，但是该阈值仅是一例也可以是其他值。
(实施方式6)
图14是表示实施方式6中的光盘装置10的框图。另外，对与图1所示的光盘装置10相同的结构部分附于相同的参考序号，并省略相同说明。
本实施方式的光盘装置10具有光学串扰补偿部600以及聚焦增益设定部601。光学串扰补偿部600根据FE信号生成部112的输出信号与PPTE信号生成部117的输出信号生成补偿FE信号并输出。
图15中表示光学串扰补偿部600的结构。如图15所示，乘法器602对PPTE信号生成部117所输出的PPTE信号乘以对应来自微型机123的设定信号的增益并输出。开关603根据来自微型机123的指令信息切换导通与关断。减法器604对FE信号生成部112所输出的FE信号与开关元件603所输出的信号进行减法运算并进行输出。
聚焦增益设定部601设定根据来自微型机123的设定信号的增益。聚焦驱动部116根据聚焦增益设定部601所输出的信号、输出聚焦传动装置驱动信号。聚焦传动装置109使物镜106移动至聚焦方向。
光学串扰补偿部600对FE信号中含有的光学串扰进行补偿。另外，可以概括光学串扰补偿部600、FE信号生成部112、PPTE信号生成部117、微型机123而称为对这种FE信号中含有的光学串扰进行补偿的补偿部。
聚焦增益设定部601设定用于聚焦控制的聚焦环增益。另外，可以概括聚焦增益设定部601与微型机123而称为设定用于这种聚焦控制的聚焦环增益的设定部。
另外，可以概括聚焦控制部114、聚焦增益设定部601、聚焦驱动部116而称为输出用于聚焦控制的信号的聚焦控制部。
下面，对本实施方式的光盘装置10的动作进行说明。另外，对与实施方式1相同的动作省略其说明。
来自FE信号生成部112的FE信号输入至串扰测定部(并未图示)，对寻轨控制停止时的信号振幅与寻轨控制开启时的信号振幅进行比较，将振幅差作为混淆FE信号的光学串扰的混淆电平而输出。再有，串扰测定部配置于能够输入FE信号的任意位置。另外，寻轨控制开启时的FE信号振幅的检测在光盘的种类判别后进行。
串扰测定部的输出即混淆电平输入至微型机123。微型机123将相当于光学串扰混淆电平的增益设定信号输出至光学串扰补偿部600，并设定乘法器602的增益。
来自PPTE信号生成部117的PPTE信号输入至光学串扰补偿部600，由乘法器602乘以所设定的增益并输出。来自乘法器602的输出经由开关603输出至减法器604。来自FE信号生成部112的FE信号与来自开关603的输出信号，在减法器604中进行减法运算，作为对混淆FE信号的光学串扰的混淆分量进行补偿的补偿FE信号而输出，输入至聚焦控制部114。
聚焦控制部114根据补偿FE信号生成聚焦驱动信号，并输入至聚焦增益设定部601。聚焦增益设定部601乘以对应微型机123所输入的设定信号的增益并输出。来自聚焦增益设定部601的信号输入至聚焦驱动部116，进行放大后输出至聚焦传动装置109。
通过以上动作，使用补偿FE信号、对混淆FE信号的光学串扰进行补偿，同时实现了如下的聚焦控制，即：以常时成为规定的收敛状态的方式控制光盘106的信息层上的光束的收敛状态。
在此，利用图16对本实施方式中的光盘10的启动步骤中的寻轨极性判别与光学串扰补偿的实行时间进行说明。
图16是表示启动步骤中的寻轨极性判别与光学串扰补偿的实行的流程图。
首先，在装置启动中实行从启动开始到聚焦引入(S11)。接下来，微型机123根据所输入的PPTE信号与DPDTE信号的相位关系、实行与实施方式1同样的寻轨极性判别，判别目前开启着聚焦控制的信息层的寻轨极性(S12)。接下来，微型机123根据判别结果、使信号极性切换部118切换极性(S13)。
根据步骤S12的寻轨极性判别结果进行信息层的寻轨极性的判断(S14)。在步骤S14中，判断为在纹面轨道进行寻轨控制的情况下，对寻轨控制停止时的FE信号振幅与寻轨控制开启时的FE信号振幅进行比较，并将振幅差作为混淆FE信号的光学串扰的混淆电平而进行计算(S15)。
下面，微型机123根据光学串扰的混淆电平来设定乘法器602的增益(S16)。接下来，开关603由来自微型机123的指令信息处于导通状态(S17)，将乘以乘法器602的增益之后的PPTE信号输出至减法器604。来自FE信号生成部112的FE信号与来自开关603的输出信号，在减法器604中进行减法运算，作为对混淆FE信号的光学串扰的混淆分量进行补偿的补偿FE信号而进行输出，补偿FE信号用于聚焦控制。之后，将剩余的启动步骤进行到最后(S18)，并结束启动。
另外，在步骤S14中，判断为在纹道轨道进行寻轨控制的情况下，不进行光学串扰补偿而实行步骤S18，并结束启动。
通过上述的动作，能够在光盘装置10启动时在聚焦控制开启并且寻轨控制停止状态下判别光盘的种类，并适当地切换极性。因而，可以缩短判别的时间，其结果能够缩短装置的启动时间。
另外，判别寻轨极性的结果如果是要进行寻轨控制的轨道是纹面轨道，则因为要进行光学串扰补偿的实行，所以在沟调制系数大的LTH中能够防止由光学串扰分量引起的聚焦驱动电流的产生、或光学串扰引起的聚焦控制的振动，因此，可以实现消耗电力的降低以及聚焦控制的稳定性提高，能够提高光盘装置的记录再生性能。
另外，接下来利用图17对本实施方式的光盘装置10的启动步骤中的、寻轨极性判别与聚焦增益设定的实行时间进行说明。
图17是表示启动步骤中的寻轨极性判别与聚焦增益设定的实行的流程图，对于与图16中所示的步骤相同的步骤附于相同的参考序号，并省略相同说明。
首先，在装置启动中实行步骤S11～S14的动作。在步骤S14中判断为在纹面轨道进行寻轨控制的情况下，微型机123将设定信号输出至聚焦增益设定部601，降低聚焦增益(S21)。之后，实行步骤S18，并结束启动。
另外，在步骤S14中判断为在纹道轨道进行寻轨控制的情况下，不降低聚焦增益而实行步骤S18并结束启动。
通过以上的动作，能够在光盘装置10的启动时、在聚焦控制开启并且寻轨控制停止状态下判别光盘的种类，并适当切换极性。因此，可以缩短判别时间，其结果也能够实现装置的启动时间缩短。
另外，判别寻轨极性的结果如果是要进行寻轨控制的轨道为纹面轨道，则由于降低聚焦增益，因此在沟调制系数大的LTH光盘中，能够降低由光学串扰分量引起的聚焦驱动电流的产生、由光学串扰引起的聚焦控制的振动，这样可以实现消耗电力的减少以及聚焦控制的稳定性提高，能够提高光盘装置的记录再生性能。
再有，在本实施方式中，虽然作为光学串扰补偿方法，对寻轨控制停止时的FE信号振幅与寻轨控制开启时的FE信号的振幅进行比较从而求得混淆FE信号的光学串扰的混淆电平，并在乘法器602中设定根据电平的增益，但是光学串扰补偿方法并不限定于这种方法。
再有，在本实施方式中，虽然与实施方式1相同地根据光束横穿过轨道时的PPTE信号与DPDTE信号的相位关系而进行寻轨极性判别，但是也可以使用其他的判别方法。
再有，在本实施方式中，虽然构成为在纹面轨道进行寻轨控制时降低聚焦环增益，在纹道轨道进行寻轨控制时不改变聚焦环增益，但是也可以以如下方式构成。也就是说，可以在光盘启动时预先降低聚焦环增益，如果要进行寻轨控制的轨道是纹面轨道则不改变聚焦环增益，如果是纹道轨道则提高聚焦环增益。
通过这种结构，判别寻轨极性的结果如果是要进行寻轨控制的轨道是纹面轨道，则由于以聚焦环增益低的状态继续装置的启动，因此在沟调制系数大的LTH光盘中，因为能够减少由光学串扰分量引起的聚焦驱动电流的产生、由光学串扰引起的聚焦控制的振动，所以可以实现消耗电力的降低以及聚焦控制的稳定性提高，能够提高光盘装置的记录再生性能。
(产业上的利用可能性)
本发明的光盘装置由于在聚焦控制开启并且寻轨控制关闭的状态下判别寻轨极性，因此作为缩短光盘装置的启动时间的技术是有用的。
再有，本发明的光盘装置，由于对装置启动时在聚焦误差信号中混淆寻轨误差信号的光学串扰较大的光盘，判别该光盘种类并适当地对光学串扰进行补偿或者降低聚焦增益，因此作为具有降低装置的消耗电力并提高聚焦控制的稳定性的效果、提高光盘装置的记录再生性能的技术是有用的。

Claims (12)

1.一种光盘装置，对在纹道轨道以及纹面轨道中的一方记录数据的信息载体，进行数据的记录以及再生的至少一方，其特征在于，
具有：受光部，其接受来自所述信息载体的反射光；
检测部，其根据所述受光部的输出信号，检测所述信息载体上的光束的照射位置与所述轨道之间的位置偏差；以及
判别部，判别所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体、还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体，
所述判别部在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下，进行所述信息载体的种类的判别。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
所述判别部在不进行所述寻轨控制的状态下，根据由所述光束横穿过所述轨道所产生的信号，进行所述信息载体的种类的判别。
3.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，
还具有：聚焦误差信号生成部，其根据所述受光部的输出信号，生成表示所述光束的收敛状态的聚焦误差信号；以及
聚焦控制部，其根据所述聚焦误差信号，输出用于聚焦控制的信号，
所述判别部根据所述聚焦控制部的输出信号的振幅大小，进行所述信息载体的种类的判别。
4.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，
所述检测部生成推挽寻轨误差信号以及相位差寻轨误差信号，
所述判别部根据所述推挽寻轨误差信号与所述相位差寻轨误差信号之间的相位关系，进行所述信息载体的种类的判别。
5.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，
还具有聚焦误差信号生成部，其根据所述受光部的输出信号，生成表示所述光束的收敛状态的聚焦误差信号，
所述检测部生成相位差寻轨误差信号，
所述判别部根据所述聚焦误差信号的分量与所述相位差寻轨误差信号的相位关系，进行所述信息载体的种类的判别。
6.根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，
所述检测部生成寻轨误差信号，
所述光盘装置还具有：光量检测部，其根据所述受光部的输出信号，检测所述光束的返回光量；以及
标准化部，其由所述光量检测部的输出信号对所述寻轨误差信号进行标准化处理，
所述判别部根据所述标准化后的寻轨误差信号的振幅的大小，进行所述信息载体的种类的判别。
7.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
还具有光量检测部，其根据所述受光部的输出信号，检测所述光束的返回光量，
所述判别部根据所述光量检测部的输出信号的电平，进行所述信息载体的种类的判别。
8.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
还具有：聚焦误差信号生成部，其根据所述受光部的输出信号，生成表示所述光束的收敛状态的聚焦误差信号；
聚焦控制部，其输出用于聚焦控制的信号；以及
补偿部，其对所述聚焦误差信号中含有的光学串扰进行补偿，
所述补偿部根据所述判别部的判别结果进行所述补偿，
所述聚焦控制部根据所述补偿后的聚焦误差信号，输出用于所述聚焦控制的信号。
9.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
还具有设定部，其设定用于聚焦控制的聚焦环增益，
在所述判别部判别为所述信息载体的种类是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体时，所述设定部与所述判别前相比降低所述聚焦环增益。
10.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
还具有设定部，其设定用于聚焦控制的聚焦环增益，
在所述判别部判别为所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体时，所述设定部与所述判别前相比提高所述聚焦环增益。
11.一种光盘装置的驱动方法，该光盘装置对在纹道轨道以及纹面轨道中的一方记录数据的信息载体，进行数据的记录以及再生的至少一方，该光盘装置的驱动方法的特征在于，
包括：受光步骤，接受来自所述信息载体的反射光；
检测步骤，根据由所述受光所得到的信号，检测所述信息载体上的光束的照射位置与所述轨道之间的位置偏差；以及
判别步骤，判别所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体、还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体，
所述信息载体的种类的判别在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下进行。
12.一种集成电路，装载在对信息载体进行数据的记录以及再生的至少一方的光盘装置时，判别所述信息载体的种类，其特征在于，
具有：检测部，其检测所述信息载体上的光束的照射位置与轨道之间的位置偏差；以及
判别部，其判别所述信息载体的种类是对纹道轨道进行数据的记录或者再生的信息载体、还是对纹面轨道进行数据的记录或者再生的信息载体，
所述判别部在进行聚焦控制并且不进行寻轨控制的状态下，进行所述信息载体的种类的判别。
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C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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