CN100354956C - 用于控制光盘驱动器中的激光二极管的功率的方法和设备 - Google Patents

Abstract

提供了一种用于控制光盘驱动器中的光发射器的功率的方法和设备，通过有效补偿发生在监视该光发射器输出的光电二极管中的拖尾效应而稳定伺服控制操作。该方法包括：检测由记录介质反射的激光信号的强度；利用该检测的强度标准化该参考值；和利用该标准化结果调整该参考值。

Description

用于控制光盘驱动器中的激光二极管的功率的方法和设备

技术领域

本发明涉及光盘驱动器，更具体地，涉及一种用于控制光盘驱动器中的激光二极管的功率的方法和设备，通过有效补偿发生在监视激光二极管输出的光电二极管中的拖尾效应(slow tail effect)而稳定伺服控制操作。

背景技术

通过在光盘的轨道上形成标记/间隔而在光盘上记录数据。在例如CD-ROM和DVD-ROM的只读盘中，标记形成为凹区。在例如CD-R/RW和DVD-R/RW/RAM的可记录盘中，通过在根据温度变换为晶体状态和无定形状态之一的相变型记录膜(RW系列)或根据温度改变光学透射比的有机颜料覆盖记录膜(R和RAM系列)上照射激光信号而形成标记。

直到现在为止，已通过增加盘的旋转速度而增加光盘驱动器的数据处理速度。一般来说，传统盘驱动器的旋转速度比正常再现速度快60倍。然而，由于光盘驱动器的旋转速度增加，所以需要更高的记录频率。而且，由于记录频率增加，所以伺服控制变得更不稳定。

严重影响伺服控制的另一个重要原因是由于监视激光二极管输出的光电二极管的回转率(slew rate)特性而导致的拖尾效应。

该回转率是代表输出信号多快回答光电二极管或运算放大器中的输入信号的指数，并计算为回转率＝输出电压变化(ΔV)/时间变化(Δt)[V/μS]。

该光电二极管的回转率特性是必然的，并由于载流子扩散而发生。该回转率特性引起在特定时间周期期间由于输出信号，即光电二极管的输出，不完全与输入信号，即激光二极管的输出，成正比而导致的拖尾效应。记录速度越快，拖尾效应的影响越大。

由于该拖尾效应，由控制该激光二级管的设备采样的激光二极管的输出变得不稳定。也就是，由于当拖尾效应发生时该光电二极管不能平滑反映该激光二极管的输出，所以该激光二极管的输出电平和该激光信号的读取电平变得不稳定。

一般来说，由于考虑到该激光信号的读取电平来设计光盘驱动器的伺服系统，所以如果该激光信号的读取电平变得不稳定，则伺服控制操作也变得不稳定。

关于该拖尾效应的实验结果示出在高于16倍速率的速率处，该伺服控制操作变得不稳定，并且在48倍速率处伺服控制信号电平降低超过30％。

为了去除或减少该拖尾效应的效果，在传统方法中，用发生拖尾效应的部分中的特定值补偿激光信号的读取电平，或者如果可能则在读取部分的末尾执行读取部分的采样。

然而，用特定值补偿激光信号的读取电平的方法不能精确反映该拖尾效应的影响。而且，由于不考虑根据不同装置的偏差和即使同一装置中根据使用条件和使用时间周期的偏差，所以可靠性低。在该控制采样的方法中，由于越快的记录速度需要越精确的采样控制，所以执行该方法的装置昂贵，并且即使精确控制该采样，但仍保留残差。

发明内容

本发明提供了一种控制激光二极管的功率的方法，通过监视激光二极管输出的光电二极管有效补偿拖尾效应，从而即使记录速度较快，伺服控制操作仍然稳定。

本发明也提供了一种适于该方法的设备。

根据本发明的一个方面，提供了一种控制光发射器的功率的方法，用于通过比较参考值和监视该光发射器输出的光电二极管的采样输出值、并根据该比较结果控制该光发射器的输出，从而稳定该光发射器的输出电平，该方法包括：检测由记录介质反射的激光信号的强度；利用该检测的强度标准化该参考值；和利用该标准化结果调整该参考值，其中该参考值可用于设置该光发射器的读电平，并且该采样和保持装置在该光发射器的读部分中执行采样。

根据本发明的另一方面，提供了一种控制激光二极管的功率的设备，用于通过比较参考值和监视该光发射器输出的光电二极管的采样输出值、并根据该比较结果控制该光发射器的输出，从而稳定该光发射器的输出电平，该设备包括：采样和保持装置，用于检测由盘反射的激光信号的强度；标准化部件，用于利用该采样和保持装置采样的值而标准化该参考值；和控制器，用于利用该标准化部件的输出调整该参考值，其中该参考值可用于设置该光发射器的读电平，并且该采样和保持装置在该光发射器的读部分中执行采样。

根据本发明的另一方面，提供了一种用处理指令编码的计算机可读存储介质，使得计算机执行一种控制光发射器的功率的方法，用于通过比较参考值和监视该光发射器输出的光电二极管的采样输出值、并根据该比较结果控制该光发射器的输出，从而稳定该光发射器的输出电平。该方法包括：检测由记录介质反射的激光信号的强度；利用该检测的强度标准化该参考值；和利用该标准化结果调整该参考值。

根据本发明的另一方面，提供了一种去除拖尾效应影响的方法，包括：比较由自动功率控制器控制的激光信号的读电平和控制该读电平的参考值；和根据该比较结果改变参考值。

本发明的附加和/或其他方面和优点将部分在随后的描述中阐明，并部分根据该描述而更清楚，或可由本发明的实践而得知。

附图说明

通过结合附图的以下详细描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将变得清楚和更易于理解，其中：

图1是传统光盘记录/再现设备的方框图；

图2A和2B是用于在记录介质上记录数据的传统激光信号的波形图；

图3是用于控制激光二极管的功率的传统设备的方框图；

图4A到4D是用于控制激光二极管的功率的传统采样信号和传统前监视光电二极管(front monitor photodiode：FPD)信号的波形图；

图5是用于图示传统光电二极管的回转率和拖尾效应的波形图；

图6是根据本发明第一实施例的控制激光二极管的功率的方法的流程图；

图7图示了使用传统差分推挽式(DPP)方法的应用第一实施例的光盘播放器的光检测器；

图8图示了图7的光检测器的主和信号以及副和信号的产生；和

图9是根据本发明第二实施例的控制激光二极管的功率的设备的方框图。

具体实施方式

现在将详细参考附图中图示了其例子的本发明的实施例，其中相同的附图标记始终表示相同的元件。为了解释本发明，通过参考附图而在下面描述这些实施例。

为了更好理解本发明和相关技术，现在示意性描述传统光盘记录/再现设备。

图1是传统光盘记录/再现设备的方框图。

光拾取器102在伺服控制器104的控制下将通过物镜结合的光束照射到光盘101的信号轨道上，通过物镜结合从信号记录膜反射的光束，并使反射的光束入射到用于检测聚焦误差信号和跟踪误差信号的光检测器(未示出)上。

该光检测器包括多个光检测组件(通常4裂缝或8裂缝)。将从多个光检测组件的每一个获得的与照射强度成正比的光检测信号输出到RF和伺服误差发生器103。

该RF和伺服误差发生器103利用从该光检测器的多个光检测组件的每一个输出的光检测信号，产生用于数据再现的RF信号以及用于伺服控制的聚焦误差(FE)和跟踪误差(TE)信号。

将产生的RF信号输出到用于数据再现的数据解码器(未示出)，并将例如FE信号和TE信号的伺服误差信号输出到该伺服控制器104。

该伺服控制器104通过处理该FE信号而将用于聚焦控制的驱动信号输出到聚焦伺服驱动器105，并通过处理TE信号而将用于跟踪控制的驱动信号输出到跟踪伺服驱动器106。

该聚焦伺服驱动器105驱动光拾取器102的聚焦传动装置，上下移动该光拾取器102，并使该光盘101在旋转时随着一起上下移动。

该跟踪伺服驱动器106驱动该光拾取器102的跟踪传动装置，通过沿径向方向移动该光拾取器102的物镜而校正光束位置，并跟踪特定轨道。当执行正常记录/再现操作或精细搜索时，该跟踪伺服驱动器106驱动该跟踪传动装置并将该光拾取器102的物镜朝径向方向移动。

当执行必须移动光拾取器102主体的粗略搜索时，滑板伺服驱动器107通过从该伺服控制器104输入滑板控制信号并驱动该滑板马达108而直接将该光拾取器102的主体移动到期望的方向。

该伺服控制器104也检测来自该RF信号的盘旋转速度信息，并将该盘旋转速度信息输出到主轴伺服109。该主轴伺服109通过根据该盘旋转速度信息执行主轴马达110的锁相环(PLL)控制而旋转该光盘101。也就是说，该主轴马达110促使主轴(未示出)旋转该光盘101，并且该主轴将该主轴马达110获得的转向力传输到光盘101，并以期望速度旋转该光盘101。

图2A和2B是用于在记录介质上记录数据的传统激光信号的波形图。

图2A代表用于在CD-R上记录数据的激光信号的波形图。三个通道信号，读通道、写通道、和超速传动通道对于驱动激光二极管是必须的，并且通过将这三个通道信号输入到驱动电路而产生图2A中图示的激光信号。

在写功率传导部分(图2A中的部分A，写部分)中的记录介质上形成标记，在读功率传导部分(图2A中的部分B，读部分)中的记录介质上形成间隔。在该写部分中，由高功率激光信号加热在该记录介质上形成的记录膜，并因此改变在该记录膜上覆盖的有机颜料的光学透射比。写功率和读功率之间的比率大约为100∶1。例如，当写部分中的写功率大约为100mW时，该读部分中的读功率大约为1mW。

图2B代表用于在CD-RW上记录数据的激光信号的波形图。三个通道信号，偏压功率通道、擦除功率通道、和峰值功率通道对于驱动激光二极管是必须的，并且通过将这三个通道信号输入到驱动电路而产生图2B中图示的激光信号。偏压功率不用于产生图2B的激光信号。在峰值功率输出部分(图2B的部分A)中将数据记录在记录介质上，并在仅擦除功率输出部分(图2B的部分B)中擦除该数据。

图3是用于控制激光二极管的功率的传统设备的方框图。图3的设备包括自动功率控制器310、光发射器驱动器320、光发射器330、光检测器340、放大器350、控制器360、存储器370、和数据库380。

该自动功率控制器310接收来自该控制器360的参考信号WREF和RREF以及光检测器340的反馈信号FPD，将参考信号WREF和RREF的每一个与光检测器340的反馈信号FPD比较，并输出与参考信号WREF和RREF的每一个对应的通道信号VWDC和VRDC，以保持该光发射器330的输出电平。

该光发射器驱动器320从自动功率控制器310接收通道信号VWDC和VRDC。而且，该光发射器驱动器320直接输入来自该控制器360的超速传动功率通道信号DA_LIN。所以，将通道信号VWDC和VRDC通过闭环输入到光发射器驱动器320，并由于从控制器360直接输入该超速传动功率通道信号DA_LIN，所以将该超速传动功率通道信号DA_LIN通过开环输入到光发射器驱动器320。

该光发射器驱动器320输入分别来自自动功率控制器310和控制器360的通道信号VWDC、VRDC、和DA_LIN，以及来自编码器(未示出)的通道信号VWDC、VRDC、和DA_LIN的开/关信号，并输出驱动信号到该光发射器330，其中合成根据通道信号VWDC、VRDC、和DA_LIN的电流。因此，光发射器330产生图2A所示的例如激光的激光信号。

光发射器330接收来自该光发射器驱动器320的驱动信号并输出与该驱动信号对应的光信号。激光二极管是光发射器330的非限制性例子。

光检测器340检测从该光发射器330发射的光的强度，产生与该光的强度对应的电流，并利用I/V放大器(未示出)将该电流转换为电压。光电二极管是光检测器340的非限制性例子，并一般与激光二极管集成。

放大器350放大从光检测器340输出的信号FPD并将该放大的信号输出到控制器360。该放大器350利用由于其自身电路特性的偏移而产生计算误差。为了去除该偏移，控制器360将具有特定值的偏移控制信号OFSADJ输出到放大器350的一个输入端作为偏压信号。而且，控制器360判定测量放大器350的输出的值，同时将该偏移调整信号OFSADJ传导到放大器350作为偏移，从判定后测量的、该光检测器340输出的所有信号FPD中提取该偏移，并去除光检测器340的输出值和控制器360的输入值之间的偏移。

该控制器360输出参考信号WREF和RREF到自动功率控制器310，直接输出超速传动功率通道信号DA_LIN到光发射器驱动器320，并输出偏移调整信号OFSADJ到放大器350。

根据控制器360的控制，存储器370存储并输出用于自动激光功率控制的参考值，或输入和存储数据并输出用于控制器360的计算操作的数据。存储器370为非易失性存储器，并且为该存储器370而使用例如EEPROM的数据存储组件。

数据库380存储根据盘类型的不同超速传动比率和包括偏压功率输出信号的最佳值的数据，并在控制器360的控制下将该数据输出到控制器360。

图4A到4D是用于控制激光二极管的功率的传统采样信号和传统FPD信号的波形图。自动功率控制器310通过采样激光二极管的输出而控制激光二极管的功率，比较该采样值和参考值，并反馈该比较结果。与写信号相比，该FPD信号具有相反相位。

在读部分中执行伺服控制。也就是，在读部分中执行伺服控制，在写部分中保持控制状态，并在下一读部分再次执行伺服控制。由于二极管功率在该写部分中很高，所以很难获得用于伺服控制的FE和TE信号。因此，在该读部分执行伺服控制。

由于在读部分获得用于伺服控制的FE和TE信号，所以设计伺服控制系统以管理读电平作为参考电平。如果读电平不稳定，则该伺服控制系统的参考电平不稳定。所以，该伺服控制不稳定。

如果增加光盘驱动器的写速度，则增加写频率，并且如果该写频率接近回转率频率，则发生拖尾效应。由于该拖尾效应，光电二极管的输出不能精确反映激光二极管的输出，并且由于自动功率控制器310根据该拖尾效应的操作，该激光二极管的输出电平不能保持为正常值。也就是说，激光二极管的输出电平，尤其是读电平改变，并且伺服控制变得不稳定。

图5是用于图示传统光电二极管的回转率和拖尾效应的波形图。当激光二极管的输出从高电平转变为低电平时，也就是，当该激光信号电平如图2A所示从写电平下降到读电平时，光电二极管可用某一瞬变现象和跟随该瞬变现象的延迟来跟踪激光二极管的输出。用回转率代表瞬变现象比率，即回转率＝输出电压变化(ΔV)/时间变化(Δt)[V/μS]。而且，该FPD信号用由于该回转率的一定延迟和偏差跟踪激光二极管的输出。这称作拖尾效应。

图5中的虚线是期望的FPD信号的波形，并代表拖尾效应不出现的理想情况。事实上，回转率和拖尾效应将一直出现。然而，当读频率低时，由于读部分宽度大于回转率影响的宽度，所以该FPD信号可视作理想FPD信号。然而，写频率越高，回转率和拖尾效应的影响越大。

参考图5，在读部分，FPD信号和激光二极管的输出不匹配。也就是说，FPD信号和激光二极管的输出之间存在某一偏差。如果假设在读部分的中间执行采样，则该FPD信号低于理想FPD信号。所以，自动功率控制器310判定激光信号的读电平大于参考值，并控制降低该激光信号的读电平。在图5中，激光二极管的输出与光电二极管的输出相比具有相反相位。所以，激光信号的读电平与0.9mW、0.8mW、和0.7mW一样低。因此，由于伺服误差信号变低，所以该伺服系统的操作变得不稳定。

在传统方法中，为了降低拖尾效应的影响，用特定值来补偿激光信号的读电平。然而，该方法不能精确反映拖尾效应的影响，即理想FPD信号和实际FPD信号之间的偏差。而且，由于不考虑根据不同装置的偏差和即使同一装置中根据使用条件和使用时间周期的偏差，所以可靠性低。

在另一传统方法中，不在读部分的中间执行采样，而在从该读部分尽可能靠后(图5中向右的方向)的位置执行采样，也就是说，在理想FPD信号和实际FPD信号之间的偏差最小的位置执行该采样。然而，由于记录速度越快，读部分越短，因此对采样的开始时间的控制必须更为精确，并且即使控制采样的开始时间，仍保留残差。

在根据本发明的所公开实施例的控制激光二极管的功率的方法中，通过比较自动功率控制器控制的激光信号的读电平和控制该读电平的参考值、并根据该比较结果改变参考值，从而去除拖尾效应的影响。

与图5中的波形相反，在根据本发明的所公开实施例的控制激光二极管的功率的方法中，自动功率控制器通过检测理想FPD信号和实际FPD信号之间的偏差、并反映用于控制读电平的参考值上的偏差值，从而将激光信号的读电平保持在一个电平，使得不发生拖尾效应。所以，由于检测了理想FPD信号和实际FPD信号之间的偏差，所以可精确补偿拖尾效应的影响。

根据第一实施例的控制激光二极管的功率的方法利用光检测器检测由自动功率控制器控制的激光信号的读电平，利用该检测的值使参考值标准化，并通过反馈该标准化结果而调整该读电平的参考值。所以，当发生拖尾效应时，由于自动功率控制器根据该改变的参考值控制激光信号的读电平，所以激光信号的读电平变得稳定。因此，伺服控制变得稳定。

图6是根据本发明第一实施例的控制激光二极管的功率的方法的流程图。在操作S602，检测由盘反射的激光信号的读电平。

利用光检测器和算术单元获得代表从盘反射的激光信号量的再现信号，该光检测器产生与该盘反射的光信号对应的电信号，该算术单元处理由该光检测器检测的光信号。和信号以及推挽式信号用作再现信号。该和信号可用作再现信号。而且，可从主束或侧束产生该再现信号。

通过采样该再现信号并对该采样值执行低通滤波，可检测激光信号的读电平。

在操作S604，利用检测的读电平使该读电平的参考值标准化。已知各种标准化方法，包括其中由该参考值除以检测的读电平的标准化方法。记录介质制造商一般知道该读电平的参考值。可根据标记或间隔的长度对该读电平的参考值进行适应性调整。自动功率控制器比较参考值和由FPD信号检测的读电平，并根据该比较结果控制激光二极管的输出。

在操作S606，根据该标准化结果调整该读电平的参考值。

现在将继续参考图6并对照参考图5来描述根据本发明第一实施例的控制激光二极管的功率的方法的操作。

如果如图5所示发生拖尾效应，则从光电二极管输出的FPD信号与虚线代表的理想FPD信号不同，并不能确切代表激光二极管的输出变化。在图5中，用低于读部分中的理想FPD信号的电平采样实际FPD信号。根据该采样结果，自动功率控制器判定激光信号的读电平大于参考值并减少激光二极管的输出。例如，激光信号的读电平减少到大约0.9mW。

由于自动功率控制器假设实际FPD信号为理想FPD信号，所以该自动功率控制器执行正常控制操作。然而，事实上，由于该实际FPD信号不是理想FPD信号，所以该控制结果不同于理想结果。也就是说，尽管激光信号的读电平的正确值为1mW，但由于拖尾效应，自动功率控制器将考虑0.9mW的正确值。可观察到激光信号的读电平由于拖尾效应而降低大约30％。

所以，如果没有合适的方法来补偿由于拖尾效应导致的FPD信号变化，则从激光二极管输出的激光信号的读电平保持为异常值。因此，再现信号的振幅减少，并根据该结果，光盘的伺服控制操作不稳定。

在本实施例中，如图6所示，由于由光检测器检测激光信号的读电平，并且根据该检测结果调整用于控制激光信号的读电平的参考值，所以激光信号的读电平保持为正常值，并且光盘的伺服控制操作稳定。

利用接收从该光盘反射的激光信号的光检测器来检测激光信号的读电平。

图7图示了使用差分推挽式(DPP)方法的应用第一实施例的光盘播放器的光检测器。

在该DPP方法中，使用一个主光点MS和两个侧光点SS1和SS2。在激光光源产生的光束路径上安装衍射光栅，形成作为0阶衍射光束的主束和作为1阶衍射光束的两个侧束，该主束形成的主光点MS用于信号记录或再现，该侧束形成的侧光点光点SS1和SS2用于TE检测。由磁迹间距彼此分离这些光点。

也就是说，参考图7，将接收主光点MS的主光检测器32垂直和水平地分为4块，而分别将接收侧光点SS1和SS2的侧光检测器34和36垂直地分为2块。

可从图7所示的光检测器输出的光检测信号中获得主和信号、副和信号、和推挽信号，并在本实施例中，使用主和信号和副和信号。通过相加主光检测器32产生的所有光检测信号而获得主和信号，通过相加副光检测器34和36产生的所有光检测信号而获得副和信号。

相变型记录膜用于CD-RW，并在该相变型记录膜中，当执行记录操作时，晶体状态和无定形状态共存。所以，由于在晶体状态和无定形状态共存的情况下，反射光的量不能保持为相等值，所以使用副和信号而不是主和信号。

然而，由于该有机颜料覆盖记录膜用于CD-R，所以晶体状态和无定形状态共存的情况不存在。所以，可使用主和信号或副和信号。

图8图示了图7所示的光检测器产生的主和信号以及副和信号的产生。

如果用A、B、C、D、E、F、G和H分别代表光检测器的输出信号，则主光检测信号加法器802相加从主光检测器32产生的所有光信号A、B、C和D，并输出该相加的信号作为主和信号。侧光检测信号加法器804相加由侧光检测器34和36产生的所有光信号E、F、G和H，并输出该相加的信号作为副和信号。

通过采样该激光信号而获得读部分中的激光信号电平。该检测的读电平与读部分中的激光二极管的输出电平成正比。由光盘的反射系数决定该比例关系。

所以，通过执行采样激光信号的低通滤波并考虑到光盘的反射系数而利用运算放大器放大该结果，从而检测从该激光二极管输出的激光信号的读电平。

该检测的读电平代表自动功率控制器改变的读电平并低于图4所示的正常值。

利用该检测的读电平而使控制该读电平所需的参考值标准化。

如果该检测的读电平正常，则由该标准化获得值为1的标准化系数。然而，由于该检测的读电平低于正常读电平，则由标准化获得值大于1的标准化系数。

通过反馈该标准化结果调整参考值。也就是说，如果标准化系数不同于不存在拖尾效应影响的情况下的系数，则由该差值调整参考值。

然后，该自动功率控制器根据改变的参考值的采样结果和FPD信号而控制激光信号的读电平。由于该改变的参考值大于图5中的原始参考值，所以该自动功率控制器判定激光信号的读电平小于该改变的参考值，并将该激光信号的读电平提高到正常读电平。因此，该再现信号的振幅恢复到不发生拖尾效应的状态，并且该伺服控制操作变得稳定。

图9是根据本发明第二实施例的控制激光二极管的功率的设备的方框图。该设备包括开关902、采样和保持装置904、低通滤波器906、运算放大器908、和标准化部件910。

开关902切换主和信号以及副和信号，并根据介质类型而选择性输出主和信号以及副和信号之一。

采样和保持装置904采样开关902的输出。也就是说，采样和保持装置904在读部分中采样开关902的输出。

低通滤波器906对采样和保持装置904的输出执行低通滤波。运算放大器908补偿由于反射系数造成的差别。

标准化部件910标准化再现信号的读电平和控制该读电平的参考值，并用除法器实现。

控制器912根据从标准化部件910输出的标准化系数，调整提供到自动功率控制器916的参考值。

自动功率控制器916比较通过数模转换器(DAC)914提供的参考值和FPD信号采样值，并根据该比较结果控制激光二极管的读电平。

在图9所示的设备中，由控制器912控制参考值调整定时。该控制器912在一个记录速度处参考标准化结果而改变该参考值，在该记录速度上，由于光电二极管而导致的拖尾效应直接影响伺服控制操作。

由于可参考激光二极管的规格确定该光电二极管的回转率频率，所以也可确定由于光电二极管而导致的拖尾效应直接影响该伺服控制操作的记录速度。由于一般从大于16倍速率开始发生拖尾效应，所以可编程该控制器912，以参考该标准化结果而从大于16倍速率开始改变该参考值。

而且，控制器912根据记录介质类型而控制开关902的开关操作。在安装光盘之后，由光盘播放器检查记录介质类型，并由控制器912参考代表该记录介质类型的信息。

当该记录介质为有机颜料类型记录介质，即CD-R系列光盘时，控制器912控制使得开关902选择和输出从主光检测器输出的主和信号。当该记录介质为相变型记录介质，即CD-RW系列光盘时，控制器912控制使得开关902选择和输出从副光检测器输出的副和信号。

可通过运行来自计算机可读介质的程序而在通用计算机上实施本发明所公开的实施例，所述介质包括但不限于存储介质例如磁存储介质(ROM、RAM、软盘、磁带等)、光可读介质(CD-ROM、DVD等)、和载波(通过因特网传输)。本发明可实施为其中含有计算机可读程序代码单元的计算机可读介质，使得通过网络连接的多个计算机系统进行分布式处理。

如上所述，由于根据本发明的控制激光二极管的功率的方法通过光检测器检测激光信号的读电平，并通过根据该检测结果调整用于控制该激光信号的读电平的参考值而保持该激光信号的读电平为正常值，所以伺服控制稳定。

尽管已经示出和描述了本发明的一些实施例，但是本发明不限于所述实施例。相反，本领域普通技术人员应明白在不脱离所附权利要求及其等同限定其范围的本发明的原理和精神的情况下，可对这些实施例作出改变。

相关申请的交叉引用

本申请要求2003年6月24日向韩国知识产权局提交的韩国专利申请号2003-41061的优先权，这里通过引用合并为整体。

Claims (24)

1.一种控制光发射器的功率的方法，用于通过比较参考值和监视该光发射器的输出的光电二极管的采样输出值、并通过根据该比较结果控制该光发射器的输出，从而稳定该光发射器的输出电平，该方法包括：

检测由记录介质反射的激光信号的强度；

利用该检测的强度标准化该参考值；和

利用该标准化结果调整该参考值，

其中该参考值可用于设置该光发射器的读电平，并且在该激光信号的读部分中检测该激光信号的强度。

2.根据权利要求1的方法，其中该光发射器是激光二极管。

3.根据权利要求1的方法，其中通过对接收从该光发射器输出的主束的主光检测器的输出进行采样而获得激光信号的强度。

4.根据权利要求1的方法，其中通过对接收从该光发射器输出的副束的副光检测器的输出进行采样而获得该激光信号的强度。

5.根据权利要求1的方法，其中在该参考值的标准化中，由该参考值除以该检测的强度。

6.根据权利要求1的方法，其中该激光信号是和信号和推挽式信号中的一个。

7.根据权利要求1的方法，其中从主束和副束中的一个产生该激光信号。

8.根据权利要求1的方法，其中通过对该再现信号进行采样并对该采样值进行低通滤波，可检测该激光信号的读电平。

9.根据权利要求1的方法，还包括根据该记录介质上的标记和间隔中的一个的长度，而对该参考值进行适应性调整。

10.一种控制光发射器的功率的设备，用于通过比较参考值和监视激光二极管输出的光电二极管的采样输出值、并根据该比较结果控制该激光二极管的输出，从而稳定该激光二极管的输出电平，该设备包括：

采样和保持装置，用于检测由记录介质反射的激光信号的强度；

标准化部件，用于利用该采样和保持装置采样的值而标准化该参考值；和

控制器，用于利用该标准化部件的输出而调整该参考值，

其中该参考值可用于设置该光发射器的读电平，并且该采样和保持装置在该光发射器的读部分中执行采样。

11.根据权利要求10的设备，其中该光发射器是激光二极管。

12.根据权利要求10的设备，还包括在该采样和保持装置以及标准化部件之间的低通滤波器，用于对该采样和保持装置的输出执行低通滤波。

13.根据权利要求10的设备，还包括开关，用于从主光检测器的输出和副光检测器的输出中选择一个，该主光监测器接收从所述光发射器输出的主束，而该副光检测器接收从所述光发射器输出的副束，该开关还用于将所选择的一个输出到该采样和保持装置。

14.根据权利要求10的设备，还包括开关，其中当该记录介质是有机颜料型介质时，该开关选择和输出该主光检测器的输出，并当该记录介质是相变型记录介质时，该开关输出该副光检测器的输出。

15.根据权利要求10的设备，其中该标准化部件是除法器，用于将该参考值除以该采样和保持装置的输出。

16.根据权利要求10的设备，其中该控制器在记录频率接近该光电二极管的回转率频率时的记录速度处调整该参考值。

17.根据权利要求10的设备，其中指定该光电二极管的回转率。

18.根据权利要求10的设备，还包括介质检查器，用于检查该盘类型。

19.根据权利要求18的设备，其中该介质检查器在安装该盘之后检查。

20.一种去除拖尾效应的影响的方法，包括：

比较由自动功率控制器控制的激光信号的读电平和控制该读电平的参考值；和

根据该比较结果改变参考值。

21.根据权利要求20的方法，其中该自动功率控制器通过下述步骤控制该读电平，使得该拖尾效应不发生：

检测理想FPD信号和实际FPD信号之间的偏差；和

在该改变中利用该偏差值。

22.根据权利要求20的方法，还包括：

利用该读电平标准化该参考值；和

利用该标准化的参考值来改变该参考值。

23.根据权利要求22的方法，其中当该拖尾效应发生时，该自动功率控制器根据该改变的参考值而控制该激光信号的读电平，使得该激光信号的读电平变得稳定。

24.根据权利要求20的方法，其中光传感器检测该读电平。

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