CN101666839B - 一种测试装置及面板的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种测试装置及面板的检测方法。测试装置用以检测面板，该测试装置包括第二电路板及压合件。第二电路板包括本体、多个测试垫、多个测试电路及多个导电元件。本体具有第一表面和第二表面。多个测试垫设置于本体的第一表面上，且所述测试垫分别对应面板的多个接脚设置。多个测试电路对应所述测试垫设置于本体的第二表面上。多个导电元件贯穿设置于该本体中以使测试电路与测试垫电性连接。压合件对应第二电路板的测试垫设置，用以使面板的第一电路板及第二电路板叠合后紧密接合。当第一电路板叠合于第二电路板时，所述测试电路经由所述导电元件、测试垫与所述接脚电性连接。本发明可有效降低在测试中因多次插拔的面板毁坏率，可降低成本。

Description

一种测试装置及面板的检测方法

技术领域

本发明涉及一种应用于面板的测试装置，特别涉及一种可以叠合接合的面板测试装置。

背景技术

一般业界(显示器模块供货商)所提供给系统厂(例如手机组装商)的显示器模块，通常都会以软性电路板做为连接器，因此该系统厂则配合的采用插槽以供软性电路板插接。

然而，由于显示器模块供货商在产品出厂前，会先于内部进行一连串的品质测试以确保产品(显示器模块)的品质。在这一连串的品质测试中，均需要将显示器模块与测试系统连接，而需多次进行拔插的动作。但因显示器模块的软性电路板与测试系统的拔插的动作，常因拔插施力不当，使得软性电路板发生形变和电路损坏，进而造成显示器模块的画面显示不正常。

此外，另一种为采用扎针结构做为连接器的测试系统，此种连接器会直接造成软性电路板上的损伤，也会造成显示器模块画面的显示不正常。

因此为了避免显示器模块的软性电路板因拔插次数过多而损坏，进而造成显示器模块画面显示不正常的现象，提出本发明，以降低显示器模块的损坏率。

发明内容

以下仅通过具体实施例，且佐以附图作详细的说明，以使本领域技术人员能对于本发明的各项功能、特点，有更进一步的了解与认识。

根据本发明的第一方向，提出一种测试装置，用以检测一面板。面板包括一第一电路板，其中第一电路板上包括多个接脚，其中测试装置包括一第二电路板及压合件。第二电路板包括一本体、多个测试垫、多个测试电路及多个导电元件。本体具有一第一表面及一第二表面。多个测试垫设置于第一表面上，且所述测试垫分别对应所述接脚设置。多个测试电路对应所述测试垫设置于第二表面上。多个导电元件贯穿设置于本体中，用以使所述测试电路与所述测试垫电性连接。压合件对应此第二电路板的所述测试垫设置，用以使第一电路板及第二电路板叠合后紧密接合。当第一电路板叠合于第二电路板时，所述测试电路经由所述导电元件、测试垫与所述接脚电性连接。

根据本发明的第二方向，提出一种面板的检测方法。面板的检测方法包括下列步骤。提供一面板，面板包括一第一电路板，且第一电路板包括多个接脚；提供具有一第二电路板的一测试装置，且第二电路板包括多个测试垫，其中所述测试垫对应所述接脚设置；叠合第一电路板及第二电路板，以使所述测试垫与所述接脚电性连接；以及置放一压合件于第一电路板及第二电路板的叠合处，以使第一电路板与第二电路板紧密接合。

通过本发明的应用于面板的测试装置，可通过测试装置的测试垫直接与面板的接脚接触耦接，直接进行测试，不需插拔。如此一来，即可有效降低在测试中因多次插拔的面板毁坏率，降低成本。

附图说明

图1A示出了本发明较佳实施例的测试装置及面板的上视图；

图1B示出了将图1A中的测试装置及面板叠合的上视图；

图1C示出了依照图1B中剖面线1C-1C的剖面图；

图2示出了将图1A中第二电路板置放于固定元件的上视图；以及

图3示出了置放第一电路板于图2的第二电路板的上视图。

其中，附图标记说明如下：

w1,w2：宽度          100：面板

110：第一电路板      112：接脚

120：显示屏幕        200：测试装置

202：本体            210：第二电路板

210a：第一定位孔     212：测试垫

214：第一表面        215：第二表面

216：测试电路        218：导电元件

220：压合件          230：固定元件

232：平板            232a：凹槽

234：定位板          234a：螺丝

236：第一定位柱      238：第二定位柱

具体实施方式

请参阅图1A及图1B，图1A示出了本发明较佳实施例的测试装置及面板的上视图，图1B示出了将图1A中的测试装置及面板叠合的上视图。测试装置200用以测试一面板100，而面板100包括一第一电路板110，且第一电路板110上具有多个接脚(pin)112。本实施例的测试装置200包括一第二电路板210及一压合件220(示出于图1B中)。第二电路板210包括多个测试垫212，且所述测试垫212分别对应第一电路板110的接脚112设置，其中当第一电路板110与第二电路板210叠合时，接脚112会与测试垫212电性耦接。于本实施例中，面板100的第一电路板110为软性电路板，且接脚112也可为常见的金手指结构。本实施的测试装置200通过第二电路板210与面板100的第一电路板110连接，以使面板100与测试装置200电性连接以进行测试，进而使显示屏幕120显示测试结果。于本实施例中，于第一电路板110及第二电路板210叠合后，也可以设置一压合件220于第二电路板210上(如图1B)，以使第一电路板110及第二电路板210叠合后紧密接合。

请再参照图1A，于此实施例中，测试垫212的形状例如为圆形，且所述测试垫212的直径w2略小于接脚112的宽度w1，以使测试垫212能完全与接脚112密合。比如说，当接脚112的宽度w1为0.33毫米(mm)时，测试垫212的宽度w2例如为0.3毫米(mm)。

接着，请参照图1B及图1C，图1C示出了依照图1B中剖面线1C-1C的剖面图。于本实施例中，压合件220较佳地可以活动式的方式设置，并且对应设置于测试垫212上。如此一来，便能通过压合件220的重量增加接脚112与测试垫212之间的紧密度，而使第一电路板110可与第二电路板210叠合后紧密接合。

请参照图1C，本实施例中第二电路板210包括一本体202、多个测试垫212、多个测试电路216、多个导电元件218。本体202具有一第一表面214、第二表面215。前述的测试垫212设置于第一表面214上。多个电路216设置于第二表面215上，所述测试电路216与测试装置200的测试系统(未示出)连接，用以传递测试系统的测试信号。此外，再通过导电元件218贯穿设置于本体202中，使所述测试电路216与对应的测试垫212电性连接。如此一来，由测试系统传出的测试信号便能经由测试电路216、导电元件218、测试垫212、接脚112传递到面板100。于本实施例中，导电元件218例如可为金属导线、导电块或其它可用于导电的元件。另外，本实例采用环状的测试垫212，在实施情况下，当然也可为其它形状，如圆形或方形。

接着，请参照图2，其示出了将图1A中第二电路板置放于固定元件的上视图。于本实施例中，测试装置200较佳地还包括一固定元件230，该固定元件230用以固定第二电路板210，以利测试的进行。这是由于，在实际的操作上，测试人员会测试成千上万片的面板，因此将第二电路板210固定于固定元件230后，测试人员仅需替换第一电路板110(未示出)，如此可大量减少测试人员的工作。

于本实施例中，固定元件230较佳地包括一平板232、一定位板234、一第一定位柱236、一第二定位柱238。平板232具有一凹槽232a，此凹槽232a用以置放第二电路板210及第一电路板110(请参照图3)，其中凹槽232a对应叠合后的第一电路板110及第二电路板210的形状设置，以使叠合后的第一电路板110及第二电路板210能紧密置放于凹槽232a中。如此一来，便能避免第一电路板110及第二电路板210在凹槽232a中摇晃。

于本实施例中，第一定位柱236例如为两个，设置于平板232的凹槽232a中。此外，第二电路板210对应所述第一定位柱236具有两个第一定位孔210a(也可同时参照图1A)。如此一来，当第二电路板210经由第一定位孔210a套接于第一定位柱236上时，第二电路板210便能固定于平板232的凹槽232a中，以避免第二电路板210于XY方向移动。另外，定位板234用以固定已置放于凹槽232a中的第二电路板210，该定位板234可以通过螺丝234a锁固于平板232上。特别的是，当定位板234固定第二电路板210后，此定位板234会恰巧裸露出第二电路板210的测试垫212。

接着，请参照图3，其示出了置放第一电路板于图2的第二电路板的上视图。于本实施例中，固定元件230还包括两个第二定位柱238，所述第二定位柱238设置于凹槽232a中。第二定位柱238分别对应设置于第二电路板210的一测试垫212的两侧(如图2所示)，以使第一电路板110置放于凹槽232a中时，所述第二定位柱238会位于第一电路板110的两侧。

另外，由于定位板234的位置会恰巧使第二电路板210裸露出测试垫212(如图3)，因此当第一电路板110的顶端抵触到定位板234时，第一电路板110的接脚112(因位于另一面，并不会显示于图3中)便会与第二电路板210的测试垫212叠合。此外，再通过第二定位柱238的辅助，调整第一电路板110位于第二定位柱238之间。因此，测试人员只要先将第一电路板110置放于凹槽232a中，将第一电路板110推到抵触到定位板234且位于两个第二定位柱238间，便可使第一电路板110于X方向及Y方向同时定位。接着，再通过压合件220(未示出于图3中)使第一电路板110及第二电路板210紧密接合，即可使接脚112及测试垫212电性耦接。

另外，由于接脚112及测试垫212采用接触的方式电性连接，所以在替换面板100测试时，仅需移走面板100，不需插拔。因此，通过本实施例的测试装置200进行面板100的测试，可避免因多次测试而造成第一电路板110的毁坏，降低面板100损坏率。

综合以上所述，本发明的应用于面板的测试装置，可通过测试装置的测试垫直接与面板的接脚接触耦接，直接进行测试，不需插拔。如此一来，即可有效降低在测试中因多次插拔的面板毁坏率，降低成本。

以上为本发明所举的实施例，仅为便于说明而设，不能以此限制本案的保护范围，即凡所附权利要求书所限定的范围所为的各种变换设计，均应包含在本发明的保护范围中。

Claims (7)

1.一种测试装置，用以检测一面板，该面板包括一第一电路板，其中该第一电路板上包括多个接脚，其中该测试装置包括一第二电路板、一固定元件、以及一压合件，其中：

所述第二电路板包括：

一本体，具有一第一表面及一第二表面：

多个测试垫，设置于该第一表面上，且所述多个测试垫分别对应所述多个接脚设置；

多个测试电路，对应所述多个测试垫设置于该第二表面上；及

多个导电元件，贯穿设置于该本体中，用以使所述多个测试电路与所述多个测试垫电性连接，当该第一电路板叠合于该第二电路板时，所述多个测试电路经由所述多个导电元件、所述多个测试垫与所述多个接脚电性连接；以及

至少一第一定位孔，设置于该本体上；

所述固定元件用以固定该第二电路板，包括一平板以及至少一第一定位柱，其中：

所述平板，具有一凹槽，该凹槽用以置放该第二电路板及该第一电路板，其中该凹槽对应叠合后的该第一电路板及该第二电路板的形状设置，以使叠合后的该第一电路板及该第二电路板能置放于该凹槽中；以及

所述至少一第一定位柱，设置于该平板的该凹槽中，该第一定位柱对应该第一定位孔，由此使该第二电路板经由该第一定位孔套接于该第一定位柱而固定于该凹槽中；

所述压合件，对应该第二电路板的所述多个测试垫设置，用以使该第一电路板及该第二电路板叠合后紧密接合。

2.如权利要求1所述的测试装置，其中该固定元件还包括：

一定位板，用以固定已置放于该凹槽中的该第二电路板，其中当该第一电路板抵触到该定位板时，该第一电路板的所述多个接脚会与该第二电路板的所述多个测试垫叠合。

3.如权利要求1所述的测试装置，且该固定元件还包括：

两个第二定位柱，分别对应已置放于凹槽中的该第二电路板的所述多个测试垫的两侧，所述两个第二定位柱设置于该凹槽中，以使该第一电路板置放于该凹槽中时，所述两个第二定位柱位于该第一电路板的两侧。

4.如权利要求1所述的测试装置，其中所述多个测试垫各为环形测试垫。

5.如权利要求4所述的测试装置，其中所述多个测试垫的直径小于该接脚的宽度。

6.一种面板的检测方法，利用一测试装置进行；该面板包括一第一电路板，且该第一电路板包括多个接脚；该测试装置包括一第二电路板，一固定元件，以及一压合件；且该第二电路板包括一第一定位孔以及多个测试垫；该固定元件包括一具有一凹槽的平板，设置于该平板的该凹槽中的一第一定位柱，以及一定位板；所述检测方法包括：

经由该第二电路板的所述第一定位孔套接于该固定元件的所述第一定位柱上，因此将该第二电路板固定于该固定元件的该平板的该凹槽中；

以该定位板固定已置放于该凹槽中的该第二电路板，此定位板会裸露出该第二电路板的所述多个测试垫；

使该第一电路板与该第二电路板叠合置放于该固定元件的该平板的该凹槽中，当该第一电路板的顶端抵触到该定位板时，该第一电路板的所述多个接脚便会与该第二电路板的所述多个测试垫叠合；

设置该压合件于该第二电路板上，通过该压合件使该第一电路板及该第二电路板紧密接合，即可使所述多个接脚及所述多个测试垫电性耦接，进行检测。

7.如权利要求6所述检测方法，该固定元件包括多个第二定位柱，其中置放该第一电路板的步骤包括：

调整该第一电路板，以使该第一电路板位于所述多个第二定位柱之间。

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