CN220357116U - 一种测试转接板 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及模组测试技术领域，尤其涉及测试转接板。本申请提供的一种测试转接板，包括：转接板主体、主板连接模块、模组连接模块、pin选择模块，pin选择模块设置在转接板主体上，包括多个第一引脚单元和至少一个第二引脚单元，每个第一引脚单元均代表不同功能的接口，第二引脚单元包括多个第二引脚，每个第二引脚分别具有不同的接线功能，因此不同的待测模组进行上电测试时，可根据待测模组的每个项目的pin定义分别在对应的第二引脚单元中选择相应的第二引脚，并将选择好的第二引脚与对应的第一引脚电性连接即可，从而本申请提供的测试转接板可适用于不同的待测模组，提高了测试转接板的通用性，节省了成本。

Description

一种测试转接板

技术领域

本实用新型涉及模组测试技术领域，尤其涉及测试转接板。

背景技术

在电子产品的生产加工中，需要对生产的电子产品进行检测，以此来确定电子产品是否合格。模组厂在对模组的检测过程中，通常将待测模组通过测试转接板连接到测试主板上，从而对待测模组进行检测。目前，针对模组厂所用的一系列测试装置，通常采用一一对应方式，由于测试主板是固定的，即测试主板的结构和接口是固定不变的，所用的每款模组因为pin(引脚)定义不一样则需要专门设计一款测试转接板连接待测模组和测试主板，由此一来，不仅浪费人力设计、板材制作需要时间，而且浪费生产成本等。

实用新型内容

本申请提供了一种测试转接板，解决了现有技术中每款模组因为pin定义不一样，则需要专门设计一款测试转接板连接待测模组和测试主板的技术问题。

本申请提供了一种测试转接板，用于待测模组的上电测试，所述待测模组在进行上电测试时需连接多个不同功能的接口，包括：

转接板主体；

主板连接模块，设置在所述转接板主体上，用于连接测试主板；

模组连接模块，设置在所述转接板主体上，用于与所述待测模组连接；

pin选择模块，设置在所述转接板主体上，包括多个第一引脚单元和至少一个第二引脚单元，每个所述第一引脚单元均对应设置一个所述第二引脚单元，每个所述第一引脚单元均代表不同功能的接口，所述第二引脚单元包括多个第二引脚，所述第二引脚的数量大于或等于所述待测模组pin的数量，每个所述第二引脚分别具有不同的接线功能；

其中，至少部分所述第一引脚单元可操作地与所述主板连接模块电性连接，所述第二引脚单元均通过所述模组连接模块与所述待测模组的引脚电性连接，所述第一引脚单元可选择地与对应的第二引脚单元中的其中一个所述第二引脚电性连接，以实现测试主板与待测模组的电性连接，从而对与所述第二引脚对应的所述待测模组上的pin进行功能测试。

在一些实施方式中，所述第二引脚单元中的每个所述第二引脚并排且间隔设置，所述第一引脚单元包括并排且间隔设置的多个所述第一引脚，所述第一引脚单元与对应的所述第二引脚单元呈双排设置，且所述第一引脚单元中的第一引脚与对应的所述第二引脚单元中的第二引脚一一对应设置。

在一些实施方式中，第一引脚与对应的所述第二引脚正对设置。

在一些实施方式中，所述第二引脚单元可对应设置一个或两个所述第一引脚单元，当所述第二引脚单元对应设置两个所述第一引脚单元时，所述第二引脚单元设置在两个所述第一引脚单元之间。

在一些实施方式中，所述待测模组在进行上电测试时需连接电源接口，所述测试转接板还包括电压选择模块，所述电压选择模块设置在所述转接板主体上，所述电压选择模块包括一个以上的电压选择转接口，所述电压选择转接口与代表所述电源接口的第一引脚单元一一对应设置，每个所述电压选择转接口均包括第三引脚单元和第四引脚单元，所述第三引脚单元用于连接对应的第一引脚单元，所述第四引脚单元包括多个第四引脚，每个所述第四引脚均代表不同的电压，且每个所述第四引脚分别与所述主板连接模块电性连接，所述第三引脚单元可选择的与对应的所述第四引脚单元中的其中一个所述第四引脚电性连接，以为电源选择相应的电压。

在一些实施方式中，所述第四引脚单元中的每个所述第四引脚并排且间隔设置，所述第三引脚单元包括并排且间隔设置的多个所述第三引脚，所述第三引脚单元与对应的所述第四引脚单元呈双排设置，且所述第三引脚单元中的第三引脚与对应的所述第四引脚单元中的第四引脚一一对应设置。

在一些实施方式中，所述模组连接模块包括多个模组连接器，且每个所述模组连接器的接口类型不同。

在一些实施方式中，所述主板连接模块和所述模组连接模块均位于转接板主体靠近边缘的位置。

在一些实施方式中，所述第一引脚与对应的所述第二引脚之间、所述第三引脚与对应的所述第四引脚之间均可通过跳帽电性连接。

在一些实施方式中，所述待测模组为指纹测试模组。

本申请有益效果如下：

本申请提供的一种测试转接板，设置了pin选择模块，pin选择模块包括多个第一引脚单元和至少一个第二引脚单元，且至少部分第一引脚单元可操作地与主板连接模块电性连接，第二引脚单元均通过模组连接模块与待测模组的引脚电性连接，即第一引脚单元与对应的第二引脚单元电性连接即可实现测试主板与待测模组的电性连接，从而可对待测模组进行功能测试。由于每个第一引脚单元均对应设置一个第二引脚单元，每个第一引脚单元代表不同的功能接口，第二引脚单元的每个第二引脚具有不同的接线功能，因此不同的待测模组进行上电测试时，可根据待测模组的不同的pin定义分别在对应的第二引脚单元中选择相应的第二引脚，并将选择好的第二引脚与对应的第一引脚单元电性连接即可，从而本申请提供的测试转接板可适用于不同的待测模组，提高了测试转接板的通用性，节省了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例。

图1为本实施例提供的测试转接板的结构示意图。

附图标记说明:

1-转接板主体，10-pin选择模块，20-主板连接模块，30-电压选择模块，40-模组连接模块，11-第一引脚单元，111-第一引脚，12-第二引脚单元，121-第二引脚，31-第三引脚单元，311-第三引脚，32-第四引脚单元，321-第四引脚，41-模组连接器，100-第一转接口，200-第二转接口，300-第三转接口，400-第四转接口。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本申请实施例提供了一种测试转接板，该测试转接板可以理解为电路板，用于待测模组进行上电测试时，转接测试主板和待测模组之间的测试信号，所述测试主板用于对待测模组30的功能进行测试，待测模组上电测试时需与测试转接板进行pin连线，一般包括电源接口和接地接口。

图1为本实施例提供的测试转接板的结构示意图，结合图1，测试转接板包括转接板主体1、主板连接模块20、模组连接模块40以及pin选择模块10。转接板主体1为测试转接板的基础构件，可为测试转接板的构件提供安装基础，转接板主体1可以为方形或圆盘形结构，材料优选轻质塑料，以使转接板主体1轻便，且不易导电。主板连接模块20、模组连接模块40以及pin选择模块10均设置在转接板主体1上，主板连接模块20用于连接测试主板，模组连接模块40用于与待测模组连接，待测模组在进行上电测试时需连接多个不同功能的接口，如电源接口、接地接口等。

pin选择模块10包括多个第一引脚单元11和至少一个第二引脚单元12，每个第一引脚单元11均对应设置一个第二引脚单元12，每个第一引脚单元11均代表不同功能的接口，第二引脚单元12包括多个第二引脚121，每个第二引脚121分别具有不同的接线功能，即每个第二引脚121分别具有不同的pin定义，第二引脚121的数量大于或等于待测模组pin的数量，以使待测模组的每个pin均能对应一个第二引脚121。具体到本实施例中，待测模组具有8个pin或10个pin。

其中，至少部分第一引脚单元11可操作地与主板连接模块20电性连接，第二引脚单元12通过模组连接模块40与待测模组的引脚电性连接，具体而言，代表电源接口的第一引脚单元11可操作地与主板连接模块20电性连接，第二引脚单元12中每个第二引脚121分别通过模组连接模块40与待测模组的引脚电性连接，第一引脚单元11可选择地与对应的第二引脚单元12中的其中一个第二引脚121电性连接，以连接待测模组与测试主板，从而可对与第二引脚121对应的待测模组上的pin进行功能测试。

本申请提供的一种测试转接板，由于在转接板主体1上设置了pin选择模块10，pin选择模块10包括多个第一引脚单元11和至少一个第二引脚单元12，且至少部分第一引脚单元11可操作地与主板连接模块20电性连接，第二引脚单元12均通过模组连接模块40与待测模组的引脚电性连接，即第一引脚单元11与对应的第二引脚单元12电性连接即可实现测试主板与待测模组的电性连接，从而可对待测模组进行功能测试。由于每个第一引脚单元11均对应设置一个第二引脚单元12，每个第一引脚单元11代表不同的功能接口，第二引脚单元12的每个第二引脚121具有不同的接线功能，因此不同的待测模组进行上电测试时，可根据待测模组的不同的pin定义分别在对应的第二引脚单元12中选择相应的第二引脚121，并将选择好的第二引脚121与对应的第一引脚单元11电性连接即可，从而本申请提供的测试转接板可适用于不同的待测模组，提高了测试转接板的通用性，节省了成本。

进一步地，第一引脚单元11包括并排且间隔设置的多个第一引脚111，相邻的两个第一引脚111之间均电性连接。第二引脚单元12中的多个第二引脚121并排且间隔设置，第一引脚单元11与对应的第二引脚单元12呈双排设置，且第一引脚单元11中的第一引脚111与对应的第二引脚单元12中的第二引脚121一一对应设置，这样一来，根据待测模组的pin选择好相应的第二引脚121后，将该第二引脚121与对应的第一引脚111电性连接，即可使测试主板与待测模组电性连接。

为方便第二引脚121与对应的第一引脚111进行电性连接，本实施例中第一引脚111与对应的第二引脚121正对设置。

进一步地，第一引脚单元11必须对应设置一个第二引脚单元12，以使待测模组的各个功能接口均可在第二引脚单元12选择相应定义的引脚。第一引脚单元11和第二引脚单元12可一一对应设置，也可一个第二引脚单元12对应设置两个第一引脚单元11，即两个第一引脚单元11共用一个第二引脚单元12。出于节省转接板主体1布置空间的考虑，本实施例中可两个第一引脚单元11共用一个第二引脚单元12，且第二引脚单元12设置在两个第一引脚单元11之间，从而可方便两个第一引脚单元11分别与第二引脚单元12进行电性连接。

需要说明的是，本实施例中的待测模组可以为指纹模组，测试转接板用于对该指纹模组进行上电可靠性测试，指纹模组在进行模组可靠性上电测试时需连接两个电源接口和一个接地接口，两个电源接口分别为AVDD电压(模拟电路电压)、DOMEKEY电压(按键电压)，接地接口为GND(接地)。具体到本实施例中，AVDD电压与GND共用一个第二引脚单元12，形成第一转接口100，DOMEKEY电压单独对应一个第二引脚单元12，形成第二转接口200，其他待测模组如有更多的电源接口或接地接口，按照本实施例的技术方案以此类推，可形成更多的转接口。

当然，也可以是AVDD电压与DOMEKEY电压共用一个第二引脚单元12，或者DOMEKEY电压与GND共用一个第二引脚单元12，本实施例对此不作限制。

由于不同待测模组的通电电压不一样，因此本实施例中测试转接板还包括电压选择模块30，电压选择模块30设置在转接板主体1上，电压选择模块30包括至少一个电压选择转接口，电压选择转接口与代表电源接口的第一引脚单元11一一对应设置，每个电压选择转接口均包括第三引脚单元31和第四引脚单元32，第三引脚单元31用于连接对应的第一引脚单元11，第四引脚单元32包括多个第四引脚321，每个第四引脚321分别代表不同的电压，且每个第四引脚321皆与主板连接模块20电性连接，第三引脚单元31可选择的与对应的第四引脚单元32中的其中一个第四引脚321电性连接，以为电源选择相应的电压。

具体到本实施例中，第四引脚单元32可包括四个第四引脚321，四个第四引脚321代表的电压依次为3.3V、3.0V、2.8V、1.8V。

由前文所述，指纹模组在进行模组可靠性上电测试时需连接两个电源接口，因此本实施例中，电压选择模块30包括两个电压选择转接口，分别为第三转接口300和第四转接口400，第三转接口300用于选择AVDD的电压值，第四转接口400用于选择DOMEKEY的电压值。具体地，第三转接口300中的第三引脚单元31与第一转接口100中代表AVDD电压的第一引脚单元11相连，第三转接口300中的第四引脚单元32与主板连接模块20相连，第四转接口400中的第三引脚单元31与第二转接口200中代表DOMEKEY电压的第一引脚单元11相连，第四转接口400中的第四引脚单元32与主板连接模块20相连。

进一步地，第四引脚单元32中的每个第四引脚321并排设置，第三引脚单元31包括并排设置的多个第三引脚311，相邻的两个第三引脚311之间均电性连接，第三引脚单元31与对应的第四引脚单元32呈双排设置，且第三引脚单元31中的第三引脚311与对应的第四引脚单元32中的第四引脚321一一对应设置。选择好电压后，将第四引脚321与对应的第三引脚311相连即可。

需要说明的是，本实施例中，第一引脚111与对应的第二引脚121之间、第三引脚311与对应的第四引脚321之间均可通过跳帽电性连接。

进一步地，本实施例中模组连接模块40包括多个模组连接器41，且每个模组连接器41的接口类型不同，以便兼容多种测试需求。

具体地，模组连接模块40包括三个模组连接器41，分别为BTB(板对板)连接器10pin(引脚)0.4mm pitch(间距)、BTB连接器10pin 0.35mm pitch以及ZIF(零插入力)连接器8pin 0.5mm pitch。BTB连接器的小pitch、多pin数、高速传输功能是最符合智能手机连接器需求的。ZIF连接器可靠性高，信号串扰小，接插次数可达10000次，性能无损耗，两秒内可完成接插。

进一步地，主板连接模块20和模组连接模块40均位于转接板主体1靠近边缘的位置，以便于测试主板和待测模组连接。且转接板主体1上有标识，以表征各个部件，方便工作人员进行操作。

在本文中，除非另有说明，“多个”、“若干”的含义是两个或两个以上。

尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种测试转接板，用于待测模组的上电测试，以电性连接待测模组与测试主板，其特征在于，包括：

转接板主体；

主板连接模块，设置在所述转接板主体上，用于连接测试主板；

模组连接模块，设置在所述转接板主体上，用于与所述待测模组连接；

pin选择模块，设置在所述转接板主体上，包括多个第一引脚单元和至少一个第二引脚单元，每个所述第一引脚单元均对应设置一个所述第二引脚单元，每个所述第一引脚单元分别代表不同功能的接口，所述第二引脚单元包括多个第二引脚，所述第二引脚的数量大于或等于所述待测模组pin的数量，每个所述第二引脚分别具有不同的接线功能；

其中，至少部分所述第一引脚单元可操作地与所述主板连接模块电性连接，所述第二引脚单元均通过所述模组连接模块与所述待测模组的引脚电性连接，所述第一引脚单元可选择地与对应的第二引脚单元中的其中一个所述第二引脚电性连接，以实现测试主板与待测模组的电性连接，从而对与所述第二引脚对应的所述待测模组上的pin进行功能测试。

2.如权利要求1所述的测试转接板，其特征在于，所述第二引脚单元中的每个所述第二引脚并排且间隔设置，所述第一引脚单元包括并排且间隔设置的多个所述第一引脚，所述第一引脚单元与对应的所述第二引脚单元呈双排设置，且所述第一引脚单元中的第一引脚与对应的所述第二引脚单元中的第二引脚一一对应设置。

3.如权利要求2所述的测试转接板，其特征在于，所述第一引脚与对应的所述第二引脚正对设置。

4.如权利要求2所述的测试转接板，其特征在于，所述第二引脚单元可对应设置一个或两个所述第一引脚单元，当所述第二引脚单元对应设置两个所述第一引脚单元时，所述第二引脚单元设置在两个所述第一引脚单元之间。

5.如权利要求2所述的测试转接板，其特征在于，所述待测模组在进行上电测试时需连接电源接口，所述测试转接板还包括电压选择模块，所述电压选择模块设置在所述转接板主体上，所述电压选择模块包括至少一个电压选择转接口，所述电压选择转接口与代表所述电源接口的第一引脚单元一一对应设置，每个所述电压选择转接口均包括第三引脚单元和第四引脚单元，所述第三引脚单元用于连接对应的第一引脚单元，所述第四引脚单元包括多个第四引脚，每个所述第四引脚均代表不同的电压，且每个所述第四引脚分别与所述主板连接模块电性连接，所述第三引脚单元可选择的与对应的所述第四引脚单元中的其中一个所述第四引脚电性连接，以为电源选择相应的电压。

6.如权利要求5所述的测试转接板，其特征在于，所述第四引脚单元中的每个所述第四引脚并排且间隔设置，所述第三引脚单元包括并排且间隔设置的多个所述第三引脚，所述第三引脚单元与对应的所述第四引脚单元呈双排设置，且所述第三引脚单元中的第三引脚与对应的所述第四引脚单元中的第四引脚一一对应设置。

7.如权利要求1所述的测试转接板，其特征在于，所述模组连接模块包括多个模组连接器，且每个所述模组连接器的接口类型不同。

8.如权利要求1所述的测试转接板，其特征在于，所述主板连接模块和所述模组连接模块均位于转接板主体靠近边缘的位置。

9.如权利要求6所述的测试转接板，其特征在于，所述第一引脚与对应的所述第二引脚之间、所述第三引脚与对应的所述第四引脚之间均通过跳帽电性连接。

10.如权利要求1-9任一项所述的测试转接板，其特征在于，所述待测模组为指纹测试模组。