CN101650395A - 晶体振荡器检测装置 - Google Patents

晶体振荡器检测装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101650395A
CN101650395A CN200810303656A CN200810303656A CN101650395A CN 101650395 A CN101650395 A CN 101650395A CN 200810303656 A CN200810303656 A CN 200810303656A CN 200810303656 A CN200810303656 A CN 200810303656A CN 101650395 A CN101650395 A CN 101650395A
Authority
CN
China
Prior art keywords
crystal oscillator
triode
detection device
test pin
diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN200810303656A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101650395B (zh
Inventor
曹翔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2008103036565A priority Critical patent/CN101650395B/zh
Priority to US12/212,659 priority patent/US7679460B2/en
Publication of CN101650395A publication Critical patent/CN101650395A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101650395B publication Critical patent/CN101650395B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
    • G01R31/2824—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits testing of oscillators or resonators

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)

Abstract

一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、一指示器、第一至第三电容、一第一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。本发明晶体振荡器检测装置可简单、快速、准确地检测晶体振荡器的品质。

Description

晶体振荡器检测装置
技术领域
本发明涉及一种检测装置，特别涉及一种晶体振荡器检测装置。
背景技术
晶体振荡器(crystal)在电子产品上被广泛应用，以提供电子产品工作所需的系统频率，故需要对晶体振荡器进行检测，以验证其是否符合要求。
目前，现有的检测方法包括两种，第一种方法是先把晶体振荡器安装在电子产品上，再用示波器直接在电子产品上的相应探测点上量测晶体振荡器的频率；第二种方法是先用万用表量测一品质好的晶体振荡器，再量测待测晶体振荡器，然后将品质好的测量结果与待测的测量结果作比较来判断待测晶体振荡器的好坏。
但是，由于目前电子产品上的晶体振荡器的数目越来越多，应用上述两种检测方法都会花费大量的时间，而且测试精度也不是很高。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种测试简单、测试精度高的晶体振荡器检测装置。
一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、一指示器、第一至第三电容、一第一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。
上述晶体振荡器检测装置通过所述第二电容、第三电容及第二三极管组成的振荡电路测试待测晶体振荡器是否符合规格，并通过所述第一三极管控制所述指示器快速地显示检测结果，相较于现有的测试方法具有测试简单快捷，且测试精度高等优点。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1是本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式的示意图。
图2是本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式连接一待测晶体振荡器的电路图。
具体实施方式
请参考图1，本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式包括一用于容置电路元件的壳体10，所述壳体10上设有一指示器20、一晶体振荡器连接器30及一电源开关40。所述壳体10为方形也可以根据需要设计为其他形状。所述指示器20用于指示检测结果。所述晶体振荡器连接器30用于连接待测的晶体振荡器，以使待测的晶体振荡器接入到测试电路中。所述电源开关40用于接通检测用的电源。
请继续参考图2，所述晶体振荡器检测装置的内部测试电路包括一电源Vcc、一第一三极管Q1、一第二三极管Q2、所述电源开关40、所述指示器20、第一至第三电阻R1-R3、第一至第四电容C1-C4、第一及第二二极管D1及D2、所述晶体振荡器连接器30(图2中以两测试引脚X1及X2表示)。本实施方式中，所述第一及第二三极管Q1及Q2为NPN型三极管，所述指示器20为一发光二极管，也可以根据需要将所述指示器20选用其他具有指示功能的元件，如蜂鸣器等。
所述电源Vcc通过所述电源开关40连接到所述测试引脚X1。所述第一三极管Q1的集电极连接到所述测试引脚X1，发射极连接到所述指示器20的阳极，所述指示器20的阴极通过所述第一电阻R1接地，所述第一三极管Q1的基极连接到所述第一二极管D1的阴极，所述第一二极管D1的阳极依次通过所述第一及第二电容C1及C2与所述测试引脚X1相连，所述第四电容C4连接于所述第一三极管Q1的发射极及基极之间，所述第二二极管D2的阳极连接于所述测试引脚X1，阴极连接于所述第一二极管D1与所述第一电容C1之间的节点，所述第二电阻R2连接在所述测试引脚X1与所述第一及第二电容C1及C2之间的节点之间，所述第二三极管Q2的发射极连接在所述第一及第二电容C1及C2之间的节点，集电极接地，基极连接到测试引脚X2，所述第三电容C3连接在所述第二三极管Q2的基极与发射极之间，所述测试引脚X2还通过所述第三电阻R3接地。
本实施方式中，所述第一电阻R1的电阻值R1＝100Ω，所述第二电阻R2的电阻值R2＝1KΩ，所述第三电阻R3的电阻值R3＝30KΩ，所述第一电容C1的电容值C1＝1000pF，所述第二电容C2的电容值C2＝150pF，所述第三电容C3的电容值C3＝680pF，所述第四电容C4的电容值C4＝0.0047μF。
测试时，将一待测晶体振荡器X放置于所述晶体振荡器连接器30内，即所述待测晶体振荡器X的两输出引脚通过所述两测试引脚X1及X2连接到了图2的电路中，按下所述电源开关40，所述电源Vcc即接入到了测试电路中。如果待测晶体振荡器X满足规格要求，在电源Vcc接入后，由所述待测晶体振荡器X、第二电容C2、第三电容C3及第二三极管Q2组成的振荡电路将开始工作，振荡信号由所述第二三极管Q2的发射极输出，经所述第一电容C1耦合到所述第一二极管D1进行检波、滤波后变成直流电压信号，再送至所述第一三极管Q1的基极以使其导通，此时所述指示器20发光，指示所述待测晶体振荡器X符合规格要求。如果待测晶体振荡器X不满足规格要求，在电源Vcc接入后，由所述待测晶体振荡器X、第二电容C2、第三电容C3及第二三极管Q2组成的振荡电路将不工作，进而使所述指示器20不发光，表明所述待测晶体振荡器X不符合规格要求，所述晶体振荡器检测装置相较于现有的测试方法具有测试简单快捷，且测试精度高等优点。
其中，所述电阻R3为阻尼电阻，当待测晶体振荡器X的频率小于6MHz且待测晶体振荡器X的等效电阻大于100Ω时起到稳定振荡的作用，也可根据实际需要选择删除所述电阻R3，即将所述测试引脚X2仅连接至所述第二三极管Q2的基极即可。所述第二及第三电容C2及C3为移相电容，并且C2*C3/(C2+C3)＝CL-Cs，式中CL为待测晶体振荡器X的负载电容值，Cs为杂散电容值，在电路中Cs约为46pF，通过调整所述第二及第三电容C2及C3的电容值可以测试不同频率的晶体振荡器X。所述第一及第二电阻R1及R2为分压限流电阻，用以保护所述指示器20，所述第四电容C4为滤波电容，所述第二二极管D2起到防止第一电容C1放电回流的作用，为进一步降低成本，可以将所述第一及第二电阻R1及R2、第四电容C4、第二二极管D2删除。

Claims (10)

1.一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、一指示器、第一至第三电容、一第一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。
2.如权利要求1所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述电源与所述第一测试引脚之间还连接一电源开关。
3.如权利要求2所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述第一及第二测试引脚与一晶体振荡器连接器的对应引脚相连，用于插接一晶体振荡器。
4.如权利要求3所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述电源开关、指示器及晶体振荡器连接器均设于一壳体上。
5.如权利要求1所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述指示器为一发光二极管或一蜂鸣器。
6.如权利要求1所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述第一三极管的发射极与基极之间还连接一第四电容。
7.如权利要求6所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述第一至第四电容的电容值分别为1000pF、150pF、680pF及0.0047μF。
8.如权利要求1所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述指示器与地之间还串联一第一电阻，所述第一测试引脚与所述第一及第二电容的节点之间还串联一第二电阻，所述第二测试引脚与地之间还串联一第三电阻。
9.如权利要求8所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述第一至第三电阻的电阻值分别为100Ω、1KΩ及30KΩ。
10.如权利要求1所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于：所述第一二极管的阳极与所述第一测试引脚之间还串联一第二二极管，且所述第二二极管的阳极连接所述第一测试引脚，阴极连接所述第一二极管的阳极。
CN2008103036565A 2008-08-11 2008-08-11 晶体振荡器检测装置 Expired - Fee Related CN101650395B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2008103036565A CN101650395B (zh) 2008-08-11 2008-08-11 晶体振荡器检测装置
US12/212,659 US7679460B2 (en) 2008-08-11 2008-09-18 Crystal oscillator tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2008103036565A CN101650395B (zh) 2008-08-11 2008-08-11 晶体振荡器检测装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101650395A true CN101650395A (zh) 2010-02-17
CN101650395B CN101650395B (zh) 2011-07-27

Family

ID=41652351

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008103036565A Expired - Fee Related CN101650395B (zh) 2008-08-11 2008-08-11 晶体振荡器检测装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7679460B2 (zh)
CN (1) CN101650395B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102830335A (zh) * 2011-06-16 2012-12-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 三极管测试电路
CN103308785A (zh) * 2012-03-06 2013-09-18 海洋王（东莞）照明科技有限公司 晶振检测电路及晶振检测装置
CN103760446A (zh) * 2014-01-24 2014-04-30 吴建堂 晶体振荡器性能检测仪
CN109342854A (zh) * 2018-11-23 2019-02-15 重庆市钟表有限公司 一种检测机芯声音功能的测试电路及方法
CN109490738A (zh) * 2018-11-05 2019-03-19 南京中电熊猫晶体科技有限公司 一种晶体振荡器二极管特性的测量装置
CN111624419A (zh) * 2020-04-23 2020-09-04 航天科工防御技术研究试验中心 一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统
CN112800714A (zh) * 2020-12-30 2021-05-14 科大讯飞股份有限公司 一种印制电路板设计方法和相关装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010050314B4 (de) * 2010-11-05 2018-02-15 Texas Instruments Deutschland Gmbh Automatische Testausrüstung zum Testen eines Schwingkristalls und Verfahren zum Betreiben derselben
DE102010050486B4 (de) 2010-11-08 2017-10-05 Texas Instruments Deutschland Gmbh Elektronische Vorrichtung und Verfahren für die RFID
US10409850B2 (en) * 2011-03-02 2019-09-10 T-Mobile Usa, Inc. Preconfigured media file uploading and sharing
JP7310180B2 (ja) * 2019-03-15 2023-07-19 セイコーエプソン株式会社 回路装置、発振器、電子機器及び移動体
CN113125880A (zh) * 2021-03-05 2021-07-16 深圳市福浪电子有限公司 一种晶体振荡器用性能检测仪

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2463616A (en) * 1945-02-07 1949-03-08 Bell Telephone Labor Inc Test circuit for piezoelectric crystals
JPS59132372A (ja) * 1983-01-19 1984-07-30 Teruji Mishima 水晶振動子の低ドライブ試験器
JPS62247276A (ja) * 1986-04-21 1987-10-28 Mitsubishi Electric Corp プリント回路基板の検査装置
JP3551918B2 (ja) * 1999-12-24 2004-08-11 株式会社村田製作所 圧電セラミック素子の検査方法
JP2001242209A (ja) * 2000-03-01 2001-09-07 Suwa Denshi Kk 水晶振動子の良否判定方法
TWI306161B (en) * 2006-02-13 2009-02-11 Advanced Semiconductor Eng Oscillator detection device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102830335A (zh) * 2011-06-16 2012-12-19 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 三极管测试电路
CN103308785A (zh) * 2012-03-06 2013-09-18 海洋王（东莞）照明科技有限公司 晶振检测电路及晶振检测装置
CN103760446A (zh) * 2014-01-24 2014-04-30 吴建堂 晶体振荡器性能检测仪
CN109490738A (zh) * 2018-11-05 2019-03-19 南京中电熊猫晶体科技有限公司 一种晶体振荡器二极管特性的测量装置
CN109342854A (zh) * 2018-11-23 2019-02-15 重庆市钟表有限公司 一种检测机芯声音功能的测试电路及方法
CN111624419A (zh) * 2020-04-23 2020-09-04 航天科工防御技术研究试验中心 一种晶体振荡器的测试适配器及测试系统
CN112800714A (zh) * 2020-12-30 2021-05-14 科大讯飞股份有限公司 一种印制电路板设计方法和相关装置
CN112800714B (zh) * 2020-12-30 2024-05-31 科大讯飞股份有限公司 一种印制电路板设计方法和相关装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7679460B2 (en) 2010-03-16
CN101650395B (zh) 2011-07-27
US20100033254A1 (en) 2010-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101650395B (zh) 晶体振荡器检测装置
CN201335860Y (zh) 绝缘油击穿电压测试仪检定装置
CN104965187A (zh) 一种基于关键器件的智能电能表加速退化试验方法
US4216424A (en) Method and apparatus for testing electrolytic capacitors
US20130038343A1 (en) Test circuit for testing short-circuit
CN102053229A (zh) 电源检测装置
CN110991131B (zh) 一种用于fpga的结温动态调节装置和方法
CN2831148Y (zh) 导线测试仪
CN110764017B (zh) 一种快速确定并联电路电子器件短路的检测方法
CN102901854A (zh) 一种全自动多参数宽量程低成本的rlc测试装置
CN203616370U (zh) 一种电流表的档位插口自动选择装置
CN104597361A (zh) 电容性能检测器
CN210155255U (zh) 一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置
CN114076860B (zh) 一种用于半桥型功率模块的电压检测装置
CN201780338U (zh) 一种测试线间电容的装置
CN208520919U (zh) 晶振检测电路
CN212391557U (zh) 一种信号产生电路以及包含该电路的电容测试装置
CN201548649U (zh) 一种单板测试工装
CN101738534B (zh) 电压测试装置及电压测试方法
CN203133129U (zh) 一种dc-dc探针卡板
CN201489044U (zh) 高压验电器
CN2814422Y (zh) 一种可用来检测脉冲时钟信号的装置
TWI373627B (en) Crystal oscillator detecting apparatus
CN207318701U (zh) 一种计量芯片基准电压的测量装置
CN204405770U (zh) 电容性能检测器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110727

Termination date: 20140811

EXPY Termination of patent right or utility model