CN101615400B - 驱动设备和轨道跳跃方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种驱动设备和轨道跳跃方法。该驱动设备包括光照射部分、光点移动部分和控制部分。光照射部分将来自光源的光经由物镜施加到全息图记录介质上。全息图记录介质具有记录层和轨道形成层，记录层上形成全息图，轨道形成层上形成地址记录轨道和辅助轨道，地址记录轨道由凹坑串组成，记录表示全息图在记录层上的记录位置的地址信息，辅助轨道由连续的凹槽组成并与地址记录轨道并排形成。光点移动部分用于在全息记录介质的半径方向上移动由光照射部分形成的光点。控制部分基于在该光点在半径方向上移动而使得该光点横穿辅助轨道时的光信息信号控制该光点移动装置，以执行该地址记录轨道之间的跳跃操作。

Description

驱动设备和轨道跳跃方法
技术领域
本发明涉及驱动设备和轨道跳跃方法，该驱动设备构造来对全息记录介质执行记录和再现，该全息记录介质提供有记录层和轨道形成层，在记录层上记录全息图，并且在该轨道形成层上形成轨道以表示全息图在记录层上的位置。
背景技术
如上所述，例如，在日本未审查专利申请公开No.2005-250038和日本未审查专利申请公开No.2007-79438上，提出了全息记录和再现系统，其构造来借助信号光和参考光的干涉图案形成全息图以执行数据记录。在该全息记录和再现系统中，在记录时用信号光和参考光照射全息记录介质，对信号光根据记录数据进行空间光调制(例如，光强调制)，参考光与信号光不同，并且借助于这些光干涉图案，全息图(衍射光栅)形成在介质上以执行数据记录。
同样，在再现时，用参考光照射全息记录介质。通过该参考光的照射，根据以前述方式形成在全息记录介质上的全息图，能够获得衍射光。就是说，通过这样的程序，可以获得根据记录数据的再现光。通过用诸如CCD(电荷耦合器件)传感器或者CMOS(互补金属氧化物半导体)传感器的图像传感器检测这样获得的再现光，再现记录数据。
在这里，对于全息记录和再现系统，例如，与现有技术的诸如CD(紧制盘)或者DVD(数字通用光盘)的光盘记录和再现系统相类似，也构造来沿着介质上形成的轨道记录数据。就是说，与现有技术的光盘相类似，通过执行记录/再现位置控制，如跟踪伺服，沿着轨道执行数据记录。
此时，作为记录介质的具体结构，提供包括记录层和轨道形成层的两层，记录层用于记录全息图，在轨道形成层上例如以螺旋方式或者同心方式形成凹坑串，在其下层上记录地址信息等。就是说，根据上述结构的全息记录介质，通过跟随在轨道形成层上由凹坑串(pit string)组成的轨道来控制用于全息图记录/再现的光的照射位置，在记录层上的全息图的记录/再现位置可以设定在沿着轨道的位置上。
发明内容
这里，在用于对全息图记录介质执行上述记录和再现的全息图记录和再现系统中，研究了在到目标轨道的轨道跳跃操作。
在全息记录介质中，由凹坑串组成的轨道以上述的螺旋方式或者同心方式形成在轨道形成层上。从这一点上看，类似于现有技术中光盘记录和再现系统的情况，可以想象，可利用当在半径方向上移动光点时的反射光信号(所谓的横穿信号)执行轨道跳跃操作。
然而，在全息记录和再现系统中，记录介质的旋转速度被设定为显著低于现有技术中的光盘记录和再现系统。这是因为为了记录(形成)全息图采用相对长的时间周期的光照射。
从这一点上看，在全息记录和再现系统的情况下，当光点横穿由凹坑串组成的轨道时，在某些情况下，光点横穿凹坑之间的间隔部分(台部分)，并且不能适当地检测该轨道横穿会。
就是说，关于这一点，在全息记录和再现系统中，如果类似于现有技术的光盘的情况执行轨道跳跃操作，则到目标轨道的跳跃操作可能不能被适当地执行。
为了解决上述问题，根据本发明的实施例，所希望的是构造如下的驱动设备。
就是说，所提供的驱动设备包括：光照射装置，构造来将光从光源经由物镜施加到全息图记录介质上，该全息图记录介质提供有记录层和轨道形成层，在该记录层上形成全息图，在该轨道形成层上形成地址记录轨道和辅助轨道，该地址记录轨道由凹坑串组成并记录表示该全息图在该记录层上的记录位置的地址信息，该辅助轨道由连续的凹槽组成并形成为与该地址记录轨道并排布置；光点移动装置，构造来在该全息图记录介质的半径方向上移动由该光照射装置形成的光点；控制装置，构造来基于在该光点在半径方向上移动而使得该光点横穿该辅助轨道时的光信息信号控制该光点移动装置，以执行该地址记录轨道之间的跳跃操作。
如上所述，在根据本发明实施例的全息图记录介质上，由连续凹槽组成的辅助轨道形成为与由凹坑串组成的记录地址信息的地址记录轨道并排布置。
其次，根据本发明的实施例，在横穿由连续凹槽组成形成在全息图记录介质上的辅助轨道时，根据光信息信号，通过以上述方式控制光点在半径方向上的位置，执行地址记录轨道之间的跳跃操作。
由于辅助轨道由连续的凹槽组成，即使在旋转速度很低的情况下，也可精确地检测横穿。其次，该辅助轨道形成为与该地址记录轨道并排布置。因此，根据本发明的实施例，以如上所述的方式，根据横穿辅助轨道时的光信息信号执行地址记录轨道之间的跳跃操作，可以适当执行地址记录轨道之间的跳跃操作。
如上所述，根据本发明的实施例，记录地址信息的地址记录轨道之间的轨道跳跃操作可以被适当地执行。就是说，对于该结构，能够提供这样的系统，其中作为在沿着轨道的位置上执行全息图的记录/再现的全息图记录和再现系统，可以适当执行到目标地址的存取操作。
附图说明
图1是根据本发明实施例的驱动设备内部构造的框图；
图2示出了根据本发明实施例的全息图记录介质的截面结构；
图3示意性地示出了在根据本发明实施例的全息图记录介质的轨道形成层上形成的轨道；
图4A和4B是用于描述根据本发明实施例的一个轨道跳跃操作的示意图；
图5是用于实现根据本发明实施例的一个轨道跳跃操作应当执行的处理程序的流程图；
图6是用于实现根据本发明实施例的轨道跳跃操作(通常轨道跳跃操作)应当执行的处理程序的流程图；
图7是用于描述根据本发明第二实施例的第一示例的示意图；
图8是用于描述根据本发明第二实施例的第二示例的示意图；和
图9示出了根据本发明修改示例的全息图记录介质的截面结构。
具体实施方式
在下文，将描述实施本发明的优选模式(在下文称为实施例)。
第一实施例
记录设备的构造和全息图记录介质的结构
图1是根据本发明实施例的驱动设备的内部构造的框图。根据该实施例的驱动设备构造为记录和再现设备，具有在全息记录介质HM上记录数据的功能，还具有再现的功能。考虑到这一点，图1所示根据该实施例的驱动设备将在下文称作记录和再现设备。
首先，根据本实施例，作为记录和再现系统，采用所谓的同轴系统。就是说，信号光和参考光设置在相同的轴上，并且设定在预定位置上的全息记录介质HM被这些光照射并根据干涉图案形成全息图，以执行数据记录。同样，在再现时，全息图记录介质HM被参考光照射以获得全息图的再现光，由此执行记录数据的再现。
在此情况下，图中的全息记录介质HM具有盘状(光盘状的形状)，并且图1所示的记录和再现设备通过旋转和驱动全息图记录介质HM来执行数据的记录和再现。
如下面的详细描述的，由凹坑串组成的轨道以螺旋方式或者同心方式形成在该示例的全息图记录介质HM上，并且根据第一实施例的记录和再现设备操作来在以上述方式形成的轨道上执行数据的记录/再现。
这里，将参考图2描述本实施例中采用的全息图记录介质HM的结构。
图2示出了全息图记录介质HM的截面结构示意图。
首先，假定该示例的记录和再现设备分开施加根据干涉图案记录全息图的激光和控制记录/再现位置以沿着轨道(跟踪伺服等)执行全息图的记录和再现的激光。
作为具体的示例还将描述，例如，输出波长约为405nm的紫蓝(violet-blue)激光的第一激光器1用作记录/再现全息图的激光源。另外，例如，输出波长约为650nm的红激光的第二激光12用作上述位置控制的激光源。
据此，如图2所示，记录层32和位置控制信息记录层分开形成在本实施例中采用的全息图记录介质HM中，在记录层32上执行全息图的记录/再现，在位置控制信息记录层上记录图中所示的基板36(反射膜35)的凹凸截面结构等进行位置控制的地址信息。
下面，还将具体研究全息图记录介质HM的截面结构。
如图2所示，在全息图记录介质HM上，从上层开始依次形成减反射膜30、覆层31、记录层32、反射膜33、介质层34、反射膜35和基板36。
减反射膜30通过施加AR(减反射)涂层形成，并且具有防止不希望的光反射的功能。另外，覆层31例如由塑料基板或者玻璃板等组成，并且提供来保护记录层32。
作为记录层32的材料，例如，选择光聚合物。如上所述，通过采用图1所示的第一激光器1作为光源，基于紫蓝激光执行全息图的记录/再现。
同样，反射膜33提供来，在再现过程中施加根据紫蓝激光的参考光时，根据记录在记录层32上的全息图，将光返回到记录和再现设备侧作为反射光和再现光。
基板36和反射膜35提供来用于记录/再现的位置控制。
在基板36上，用于引导记录层32中全息图的记录/再现位置的轨道以螺旋方式或者同心方式形成。在根据本实施例的全息图记录介质HM中，作为该轨道，形成基于至少记录地址信息的凹坑串的轨道(地址记录轨道)。
应当注意的是，下面将描述形成在根据本实施例的全息图记录介质HM上的轨道的详细情况。
在基板36上形成有上述轨道的表面(前表面)上，例如，通过溅射或者气相沉积等形成反射膜35。形成在上述反射膜35和反射膜33之间的介质层34例如由诸如树脂的粘合材料制作。
这里，由上述说明应当理解的是，为了借助采用第二激光12作为光源的红激光适当地执行位置控制，红激光应当达到提供有用于位置控制的凹凸截面形状的反射膜35。就是说，从这一点看，红激光应当透射通过反射膜33，反射膜33形成在比反射膜35更靠上的层。
另一方面，作为反射膜33，应当反射紫蓝激光，从而根据记录在记录层32上的全息图的再现光作为反射光返回到记录和再现设备侧。
由此可见，形成在记录层32和记录位置控制信息的反射膜35之间的反射膜33构造来具有波长选择性，其反射用于全息图记录/再现的紫蓝激光(例如，波长约405nm)而透射用于位置控制的红激光(例如，波长约650nm)。
对于具有这样波长选择性的反射膜33，在记录/再现时，红激光适当地到达反射膜35，在记录和再现设备侧适当检测位置控制的反射光信息，并且还可以通过记录和再现设备适当检测记录在记录层32上的全息图的再现光。
应当注意的是，正如由上述说明所理解的，反射膜35提供有根据设置在其下层上的基板36的表面形状的凹凸截面形状，并且形成轨道。因此，反射膜35也称为轨道形成层。
这里，如上所述，由记录地址信息的凹坑串组成的地址记录轨道形成在用作反射膜35的轨道形成层上。
在本示例的情况下，由记录在该地址记录轨道上的地址信息表示的“地址”例如被称为预定部分的地址单元。就是说，在本示例的全息图记录介质HM中，轨道分成多个部分。每个部分存储表示该部分所在位置的轨道号码的轨道号码信息和该部分的区段号码信息以作为地址信息。
作为示例，在每个部分中，例如，在导引位置上存储轨道号码信息。然后，在每个部分中轨道号码信息之后的位置上存储区段号码信息。
下面，反过来参考图1，将描述记录和再现设备的内部结构。
在图1中，在记录和再现设备中，提供介质夹持部分(未示出)，其构造来保持全息图记录介质HM。当全息图记录介质HM安装在记录和再现设备中时，介质夹持部分夹持该全息图记录介质HM，使其被主轴电动机18旋转和驱动。在记录和再现设备中，被旋转和驱动的全息图记录介质HM采用第一激光器1作为光源照射有激光，以执行全息图页的记录/再现。
第一激光器1例如由提供有外部振荡器的激光二极管组成，并且如上所述，激光的波长设定为约405nm。在下文，采用第一激光器1作为光源的激光称为第一激光。
从第一激光器1施加的第一激光进入光闸2。光闸2的开启和关闭操作由下面将描述的控制部分25控制，并且阻止/透射入射光。
通过光闸2的第一激光被引导到电流镜(Galvano Mirror)3，如图所示。电流镜3提供来实现所谓的图像稳定功能。
这里，根据本实施例的记录和再现设备构造来用信号光和参考光照射被转动和驱动的全息图记录介质HM，以执行全息图的记录。
此时，为了记录作为信号光和参考光的干涉图案的全息图，采用在记录层32中的记录材料的响应时间。
因为这样的原因，在相对于全息图记录介质HM执行旋转记录的系统中，信号光和参考光的照射位置在全息图记录介质HM上的一定位置停顿一定的时间周期，并且因此扫描激光束。具体地讲，通过以与全息图记录介质HM的旋转速度(主轴电动机18的转速)同步的速度改变激光束的发射角，信号光和参考光的照射点在全息图记录介质HM上的一定位置保持一定的时间周期。
电流镜3基于控制部分25的控制改变对入射光的反射光出射角。
从电流镜3发射的光由镜4反射，并且被引导到SLM(空间光调制器)5。
对于入射光的空间光调制，SLM 5施加例如空间光强度调制。在此情况下，SLM 5是反射型的，并且例如采用诸如DMD((Digital MicromirrorDevice)数字微镜装置：注册商标)的空间光调制器或者反射式液晶面板。
SLM 5根据从如图所示的记录调制部分16提供的驱动信号，通过相应的强度调制元件改变光强而对入射光以像素为单元进行空间光强度调制。
记录调制部分16相对于SLM 5执行驱动控制，以在记录时产生信号光和参考光，并且在再现时仅产生参考光。
准确地说，在记录时，记录调制部分16产生例如驱动信号，从而包括SLM 5的中心的预定区域(信号光区域)中的像素根据所提供的记录数据具有ON/OFF图案，信号光区域的外圆周侧上的预定范围(称为参考光区域)中的像素具有预定的ON/OFF图案，并且其它像素均为OFF，且提供该驱动信号到SLM 5。在根据驱动信号由SLM 5执行空间光强度调制时，产生信号光和参考光。
同样，在再现时，记录调制部分16产生驱动信号，从而参考光区域中的像素具有上述的预定ON/OFF图案，而其它像素均为OFF，从而驱动和控制SLM 5，以由此仅产生参考光。
应当注意的是，在记录时，记录调制部分16操作来以预定单位的输入记录数据在信号光区域中产生ON/OFF图案，并且因此依次产生以预定单位的记录数据存储上述数据的信号光。通过该构造，以全息图页为单元(存储在信号光中的数据的单位)在全息图记录介质HM上依次执行数据记录。
由SLM 5进行空间光调制的光透射通过偏振光分束器6，然后进入二向色镜7。
二向色镜7构造来透射第一激光且反射第二激光(采用第二激光器12作为光源的光)。因为这个原因，通过偏振光分束器6的第一激光透射通过二向色镜7，并且由镜8反射，如图所示。在传播经过1/4波长板9后，第一激光经被二轴机构11保持的物镜10照射全息图记录介质HM。
二轴机构11保持物镜10以在靠近或者远离全息图记录介质HM的方向(焦距方向)上和全息图记录介质HM的半径方向(垂直于焦距方向的方向，轨道方向)上移动。另外，二轴机构11提供有焦距线圈和跟踪线圈，焦距线圈用于在焦距方向上驱动物镜10，跟踪线圈用于在跟踪方向上驱动物镜10。
这里，全息图记录介质HM用第一激光照射，该第一激光以上述方式经由SLM 5并通过物镜10传播。根据SLM 5执行的空间光调制，产生基于第一激光的信号光和参考光，并且因此在记录时，全息图记录介质HM被照射了信号光和参考光。这样，全息图记录介质HM被照射了信号光和参考光，并且因此在记录层32上形成基于这些光的干涉图案的衍射光栅(全息图)，以执行数据记录。
同样，在再现时，SLM 5仅产生参考光，并且全息图记录介质HM由通过上述光程传播的参考光照射。根据全息图记录介质HM用参考光的照射，根据记录的全息图获得衍射光(再现光)。这样获得的再现光设定为返回到设备侧，作为来自全息图记录介质HM的反射膜33的反射光。
再现光设定为经过物镜10的平行光，并且经1/4波长板9由镜8反射。此后，再现光透射通过二向色镜7，并且进入偏振光分束器6。
在偏振光分束器6中，反射入射的再现光。来自偏振光分束器6的反射光进入如图所示的图像传感器15。
图像传感器15例如由CCD(电荷耦合装置)传感器或CMOS(互补金属氧化物半导体)传感器等组成。图像传感器15接收从全息图记录介质HM以上述方式引导的再现光，并且将再现光转换为电信号以获得图像信号。这样获得的图像信号反映了在记录时提供给信号光的″0″/″1″数据图案(换言之，光的ON/OFF图案)。就是说，以这样的方式由图像传感器15检测的图像信号可与在全息图记录介质HM上记录的数据的读出信号相当。
对于包括在图像传感器15检测的图像信号中的SLM 5的像素单元的每个值，数据再现部分17执行″0″/″1″数据识别，并且当需要时，解调处理记录的调制编码等，以再现记录数据。
同样，在图1所示的该记录和再现设备中，关于通过采用如上所述的第一激光执行全息图操作的记录/再现，提供光学系统以执行对记录/再现位置的控制。具体地讲，该光学系统由如图所示的第二激光器12、偏振光分束器13和光检测器14组成。
第二激光器12构造来施加波长与第一激光不同的激光。具体地讲，激光器12输出波长约为650nm的上述红激光。
应当注意的是，在此情况下第一激光器1和第二激光器12之间的波长差约为250nm。通过提供这样充分的波长差，采用第二激光器12作为光源的激光(第二激光)对于全息图记录介质HM的记录层32基本上几乎没有敏感性。
在透射通过偏振光分束器13后，从第二激光器12发射的第二激光由二向色镜7反射，并且被引导到镜8侧。全息图记录介质HM由这样引导到镜8侧的第二激光照射，后续光程与上述第一激光的情况类似。
应当注意的是，由这一点可以理解，二向色镜7具有照射全息图记录介质HM的功能，而第一激光的光轴和第二激光的光轴彼此匹配。
如上面的图2所述，在全息图记录介质HM中，这样施加的第二激光透射通过反射膜33，并且由位于其下层上的反射膜35反射。详细地说，由此获得从反射膜35上的凹凸截面形状(凹坑串)反射的反射光。
同样，来自反射膜35的反射光与上述第一激光的情况类似，经由物镜10→1/4波长板9→镜8，进入二向色镜7。
在二向色镜7中，反射关于从全息图记录介质HM反射的第二激光的反射光，并且该反射光被引导到偏振光分束器13侧。在偏振光分束器13中，反射来自全息图记录介质HM的反射光，并且该反射光被引导到光检测器14侧。
光检测器14提供有多个光接收元件，并且构造来接收从全息图记录介质HM这样引导的反射光，以将其转换成电信号，并提供该电信号到矩阵电路22。
对于来自用作光检测器14的多个光接收元件的数据信号，矩阵电路22提供有矩阵计算和放大电路等，并且构造来通过矩阵计算处理产生信号。
例如，产生与全息图记录介质HM上形成的凹坑串相应的再现信号(再现信号RF)，以及产生用于伺服控制的聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE等信号。
从矩阵电路22输出的再现信号RF提供到地址检测和时钟产生电路23。另外，聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE被提供给伺服电路24。
同样，在本示例的情况下，矩阵电路22中产生的跟踪误差信号TE也提供给控制部分25。
地址检测和时钟发生电路23根据再现信号RF检测地址信息，并且还执行时钟产生操作。
对于地址信息的检测(再现)，检测上述的跟踪号码信息和区段号码信息。
同样，对于时钟产生操作，执行基于再现信号RF的PLL处理，以实现产生再现时钟的操作。
地址检测和时钟发生电路23检测(再现)的地址信息被提供给控制部分25。另外，尽管附图中省略了表述，但是时钟信息作为操作时钟被提供到各个部分。
主轴控制电路19执行主轴电动机18的转动控制。在此情况下，作为主轴电动机18的转动控制系统(全息图记录介质HM的转动控制)，例如，采用CAV(恒定角速度)系统或者CLV(恒定线速度)系统。
为了确认，在采用CLV系统的情况下，主轴控制电路19根据地址检测和时钟发生电路23输出的再现时钟输入信息作为转动控制信息，并且执行主轴电动机18的转动控制，从而再现时钟的周期设定为预定的固定周期。
滑动机构20将图中的光学单元UN保持在跟踪方向(全息图记录介质HM的半径方向)上，以便可滑动地运动。在此情况下，在一个光学单元UN中形成上述的第一激光器1、光闸2、电流镜3、镜4、SLM 5、偏振光分束器6、二向色镜7、镜8、1/4波长板9、物镜10、二轴机构11、第二激光器12、偏振光分束器13、光检测器14和图像传感器15，并且滑动机构20提供来保持光学单元UN，以便可滑动地运动在全息图记录介质HM的半径方向上。
同样，滑动驱动部分21提供有用于驱动滑动机构20的电动机，并且滑动机构20构造来借助于上述电动机的驱动力可滑动地运动光学单元UN。
基于来自矩阵电路22的聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE，伺服电路24产生聚焦、跟踪和滑动的各种伺服信号，以执行伺服操作。
也就是说，根据聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，以提供作为二轴机构11的驱动信号(聚焦驱动信号和跟踪驱动信号)。因此，根据各自的伺服信号，基于驱动信号驱动和控制二轴机构的焦距线圈和跟踪线圈。通过该构造，由光检测器14、矩阵电路22、伺服电路24和二轴机构11形成跟踪伺服回路和聚焦伺服回路。
同样，伺服电路24根据来自控制部分25的指令设定跟踪伺服回路OFF，并且输出跳跃脉冲作为跟踪驱动信号，以由此执行轨道跳跃操作。
应当注意的是，下面将描述根据本实施例的轨道跳跃操作。
另外，伺服电路24通过基于作为跟踪误差信号TE的低域成分(lowercomponent)获得的滑动误差信号、来自控制部分25的搜寻操作控制等采用滑动驱动部分21，可滑动地驱动滑动机构20，以可滑动地运动整个光学单元UN。
同样，伺服电路24根据来自控制部分25的指令执行对主轴电动机18的启动和停止的控制。
上述有关伺服的各种操作例如由控制部分25控制，控制部分25由包括CPU(中央处理单元)、ROM(只读存储器)和RAM(随机存取存储器)等的微机组成。
控制部分25例如通过根据存储在诸如ROM的预定存储器中的程序执行相应的计算处理和控制处理，来执行记录和再现设备上的全部控制。
例如，控制部分25控制上述有关伺服操作，以执行全息图的记录/再现位置的控制。
准确地讲，根据应当对全息图记录介质HM上记录的某些数据执行再现的状态，首先，执行对目标地址的搜寻操作控制。就是说，通过给伺服电路24发出指令，执行目标地址的存取操作。这里，根据上述说明，在再现记录在全息图记录介质HM上的数据(全息图)时，应施加基于第一激光的参考光。出于这样的原因，在再现时，与上述的搜寻操作一起，对应于前述再现时间的对SLM 5的驱动控制操作由记录调制部分16执行，从而在SLM 5中产生参考光。
同样，例如，在数据要记录在全息图记录介质HM上一定位置的情况下，指令发给伺服电路24，以执行对目标地址的存取操作，并且指令还发给记录调制部分16，以根据记录数据对SLM 5开始驱动控制操作。
同样，在记录时，执行对前述光闸2的导通/截止控制。此外，为了执行作为图像稳定功能的激光束扫描，还执行对电流镜3的驱动控制。
关于相对电流镜3的控制，重复执行控制，其中改变镜的角度，以在预定方向(与转动方向匹配的方向)上以预定的速度改变激光束的发射角，并且之后，该镜在相反的方向上返回。另一方面，对于光闸2的控制，在发射角控制周期(即在介质上光点保持静态的周期：在1全息图上记录的记录周期)中开启光闸2，并且在其它周期关闭光闸2。
应当注意的是，为了确认，通过上述控制，在全息图各自的记录周期期间，提供了没有光束照射的周期，并且通过该构造，在记录在全息图记录介质HM上的各全息图之间防止不希望反应部分的形成。
同样，具体而言，在本实施例的情况下，根据来自矩阵电路22的跟踪误差信号TE和来自地址检测和时钟发生电路23的地址信息等，控制部分25执行控制处理，以实现根据本实施例的轨道跳跃操作，这将在下面描述。
[根据实施例的轨道跳跃方法]
由上面的描述也可理解，根据本实施例的记录和再现设备在光盘状的全息图记录介质HM上执行随机存取，以执行全息图的记录/再现。
这里，在随机存取的情况下，当然，应当执行对目标地址(轨道)的轨道跳跃。
然而，如上所述，在全息图记录和再现系统中，光盘的旋转速度设定为相对低。因此，当激光的束点穿过由凹坑串组成的轨道时，在某些情况下，束点穿过凹坑之间的间隔部分(台部分)，而不能适当检测轨道横穿。
在这一点，在全息图记录和再现系统中，如果像现有技术那样执行与其光盘的情况相类似的轨道跳跃操作，不会适当执行对目标轨道的跳跃操作。
考虑到上述情况，根据本实施例，提出下面的轨道跳跃方法。
首先，对于全息图记录介质HM，不仅采用由凹坑串组成的地址记录轨道，而且采用形成图3所示的DC组(连续凹槽)的介质。
图3示意性地示出了在全息图记录介质HM上的轨道形成层中形成的轨道。如图所示，图中的横向方向是全息图记录介质HM的半径方向。在该方向上，设置相应的轨道。另外，图中垂直于半径方向的垂直方向是线方向(轨道形成方向)。
在图中，虚线表示由凹坑串组成的地址记录轨道，并且实线表示由DC组组成的轨道。
应当注意的是，为了确认，在以螺旋方式形成轨道的情况下，从整个光盘来看，可以认为各轨道由一个连续的轨迹制作，但是从半径方向来看，则与同轴方向形成情况相类似，可以认为形成了多个轨道。在螺旋方式形成的情况下，记录开始位置(旋转角)规定在各圈的由一个连续轨迹组成的地址记录轨道上，并且“各地址记录轨道”在旋转角的边界上截断。
如图3所示，对于根据本实施例的全息图记录介质HM，采用的全息图记录介质中，形成基于DC组的轨道(辅助轨道)并使该轨道与由凹坑串组成的地址记录轨道并排布置。
在此情况下，由DC组组成的辅助轨道的一个轨迹形成在各地址记录轨道之间以并排布置。就是说，从半径方向来看，地址记录轨道和辅助轨道交替设置。
根据本实施例，在采用形成由DC组组成的上述辅助轨道的全息图记录介质HM的前提下，轨道跳跃操作执行如下。
图4A和4B是描述根据本实施例的轨道跳跃操作的具体示例的示意图。图4A示出了设置在全息图记录介质HM的半径方向上的地址记录轨道和辅助轨道，与前面的图3所示相类似，而图4B示出了跟踪误差信号TE(横穿信号TRV)的波形，该波形是在光束点在半径方向上移动而跟踪伺服设定为OFF时获得的。
这里，如图4A和4B所示，将光束点位于一定地址记录轨道上的状态设定为时间点t1。
从时间点t1开始，激光束点在半径方向上移动。在本实施例的情况下，由DC组组成的辅助轨道形成为与全息图记录介质HM上的各地址记录轨道并排布置。因此，根据在半径方向上这样的运动，在时间点t1后的一定时间点t2，跟踪误差信号TE(横穿信号TRV)的幅度变为预定的阈值th或者更低。通过该构造，能够检测束点到达跳跃开始的地址记录轨道和相邻地址记录轨道之间。
通过利用该点，根据本实施例，在根据轨道跳跃的开始执行在半径方向上移动束点的加速指令后，当横穿信号TRV的幅度等于或者低于预定的阈值th，并且如上所述检测光束点到达存在于相邻地址记录轨道之间的辅助轨道(横穿辅助轨道)时，执行在半径方向上停止束点运动的减速指令。
通过该构造，光束点停止在时间点t2后的时间点t3，并且因此光束点可以停止在相邻的地址记录轨道上。
通过上述方法，根据本实施例，即使在全息图记录介质HM的旋转速度很低的情况下，也可以确定地执行到相邻地址记录轨道的轨道跳跃(在下文，也称为一个轨道跳跃)。
这里，在利用上述辅助轨道的轨道跳跃操作的情况下，当该轨道跳跃重复执行要求的数量时，可以确定地执行到目标轨道的跳跃操作。然而，例如，在到目标轨道的跳跃轨道的数量很大的情况下，由于需要花费很多时间来完成这些跳跃从而并不是很有效。
由上述情况可知，根据本实施例，在到目标轨道的跳跃轨道的数量等于或者大于预定数量的情况下，首先，执行基于所要求的到目标轨道的跳跃轨道估算运动束点的目标距离的“粗略轨道跳跃操作”。然后，采用执行轨道跳跃操作的方法，进行的数量根据从该粗略轨道跳跃操作的目的点到目标地址记录轨道所要求跳跃的数量。换言之，在要求跳跃到目标轨道的数量很大的情况下，在执行粗略调整的跳跃操作之后，执行轨道跳跃操作作为最后的精细调整处理。
这里，由记录格式化事先确定地址记录轨道之间的轨道间距。因此，对于执行要求跳跃的数量的跳跃操作，所采用的光束点的运动距离是相关技术中获得的信息。
同样，关于在半径方向上运动光束点的二轴机构11的跟踪线圈或者在滑动驱动部分21中的滑动电动机，当光束点运动一定距离时，对于每个产品要确定一些参数，用于提供时间周期和所处级别等的驱动信号。
在根据本实施例的记录和再现设备中，控制部分25事先存储例如轨道号码和表示跳跃轨道的数量和相对于诸如ROM的内部存储器的距离之间的对应关系的距离对应信息。
同样，伺服电路24存储距离和表示光束点的运动距离、跟踪线圈的上述参数和滑动电动机的上述参数的对应关系的参数对应信息。
由上述的轨道号码和距离对应信息，控制部分25根据要到目标轨道的跳跃的数量获得距离上的信息，并且将这样获得的距离信息通知伺服电路24作为光束点的目标运动距离上的信息。
在上述目标运动距离上的信息的基础上，伺服电路24对跟踪线圈和滑动电动机执行驱动控制，同时遵循从距离获得的参数和参数对应信息。
通过该构造，执行上述的“粗略轨道跳跃操作”。
通过这样的粗略轨道跳跃操作，能将光束点的位置移动到目标轨道的附近。
在光束点通过以上述方式的粗略轨道跳跃操作移动到目标轨道的附近后，在目的点执行地址信息读取。具体地讲，跟踪伺服导通ON，读取记录在作为目标点的地址记录轨道上的地址信息(特别是轨道号码信息)。
在读取的地址信息(轨道号码信息)与目标轨道的轨道号码匹配的情况下，结束跳跃操作。
另一方面，在读取的轨道号码与目标轨道的轨道号码不匹配的情况下，计算到目标轨道的所需要的跳跃数量。
这里，根据粗略轨道跳跃操作的精度，在某些情况下在此计算的需要跳跃的数量会相对很大。在本示例中，在粗略轨道跳跃操作后所计算的到目标轨道的需要跳跃的数量等于或者大于预定数量时，再一次执行粗略轨道跳跃操作。就是说，根据本实施例，重复执行粗略轨道跳跃操作，直到需要跳跃的数量小于预定数量，并且当需要跳跃的数量变得低于预定数量，以到目标轨道的需要跳跃的数量执行轨道跳跃操作。
这样，将用于确定执行粗略轨道跳跃/一个轨道跳跃中哪一个的需要跳跃的数量的阈值设定为″n″。在本示例的情况下，在确定执行粗略轨道跳跃/一个轨道跳跃中哪一个时，规律地采用阈值n。就是说，在这样的情况下采用阈值n，自设定新的目标轨道确定执行粗略轨道跳跃/一个轨道跳跃，以及在粗略轨道跳跃操作后再一次确定执行粗略轨道跳跃/一个轨道跳跃。
处理程序
随后，将使用图5和6的流程图来描述根据本实施例的上述实现轨道跳跃操作的处理程序。
图5示出了用于实现上述轨道跳跃操作应当执行的处理程序，而图6示出了为了实现全部轨道跳跃操作应当执行的包括上述粗略轨道跳跃操作的处理程序，其直到达到目标轨道。
应当注意的是，在图5和6中，用于实现根据本实施例的轨道跳跃操作的处理程序表现为控制部分25根据存储在图1所示的内部ROM等中的程序执行处理的程序。
首先，描述图5的流程图。
控制部分25在附图的步骤S101中执行加速指令。就是说，给伺服电路24发出指令，从而用于在目标轨道方向上移动光束点的加速脉冲提供为二轴机构11中的跟踪线圈的驱动信号。
在随后的步骤S102中，该程序停止直到跟踪误差信号TE的幅度等于或者低于事先预定的阈值th。
然后，随着跟踪误差信号TE的幅度等于或者低于事先预定的阈值th，在步骤S103中，执行减速指令。详细而言，给伺服电路24发出指令作为二轴机构11中的跟踪线圈的驱动信号，使得根据步骤S101中的加速指令运动的光束点停止。
在执行步骤S103中的减速指令时，轨道跳跃操作的处理结束。
这里，图5所示的轨道跳跃操作的系列处理称为一个轨道跳跃处理。
图6示出了实现全部轨道跳跃操作的处理程序，也包括实现上述一个轨道跳跃处理的轨道跳跃操作。
首先，在步骤S201中，该程序停止以产生跳跃触发。就是说，该程序停止直到建立应当执行到达预定地址的存取操作的状态，以及建立应当执行了到目标轨道的轨道跳跃操作的状态。
然后，在建立了应当执行到目标轨道的轨道跳跃操作的状态的情况下(就是说，产生了跳跃触发)，在步骤S202中，计算到目标轨道的需要跳跃的数量。准确地说，执行计算：“目标轨道的轨道号码”-“当前的轨道(束点当前所处的轨道)”，以获得到目标轨道的需要跳跃的数量。
在随后的步骤S203中，确定是否需要跳跃的数量等于或者大于预定的阈值n。具体而言，确定是否在步骤S202中计算的需要跳跃的值等于或者大于需要跳跃的数量的阈值n，以确定执行前述的粗略轨道跳跃/一个轨道跳跃中的哪一个。
在步骤S203中，在因为需要跳跃的数量等于或者大于阈值n而为YES的情况下，在步骤S204中，发出指令以根据需要跳跃的数量执行粗略轨道跳跃操作。
就是说，由上述的轨道号码和距离对应信息，根据需要跳跃到目标轨道数量获得关于距离的信息，并且如此获得的关于距离的信息给伺服电路24发指令作为光束点的目标运动距离，从而执行“粗略跳跃操作”。
这里，通过滑动驱动部分21对整个光学单元UN的滑动运动或者二轴机构11的跟踪线圈对物镜10的跟踪方向上的运动执行粗略轨道跳跃操作。在此情况下，跟踪线圈可以跳跃的轨道的数量被限定为预定数量(限定在所谓的光学视野内)。在到目标轨道的需要跳跃的数量等于或者小于该预定数量的情况下，控制部分25也执行发指令，指示采用跟踪线圈进行粗略轨道跳跃操作，同时执行关于距离的信息指示。另一方面，在到目标轨道的需要跳跃的数量超过预定数量的情况下，执行采用滑动驱动部分21进行粗略轨道跳跃操作的指令。
同样，为了确认，在执行上述粗略轨道跳跃操作时，在跟踪伺服处于ON状态的情况下，在步骤S204中，也给伺服电路24发送关闭跟踪伺服OFF的指令。
在后续步骤S205中，该程序停止直到完成跳跃操作。就是说，该程序停止直到完成步骤S204中指令的粗略轨道跳跃操作。
在此情况下，例如，根据来自伺服电路24的完成通知存在或者不存在，确定粗略轨道跳跃操作是否完成。就是说，伺服电路24在此情况下基于粗略轨道跳跃操作时从上述距离和参数对应信息获得的参数对二轴机构11或者滑动驱动部分21执行控制。根据该控制操作的完成，通知控制部分25粗略轨道跳跃操作完成。
在此情况下，步骤S205中的处理对应于从伺服电路24等待这样的完成通知的处理。
在执行了上述完成通知并且确认了粗略轨道跳跃操作完成的情况下，步骤S206中跟踪伺服设定为ON处理，并且执行使伺服电路24开启ON的跟踪伺服的指令。
然后，在接下来的步骤S207中，执行获得地址信息的处理。具体地说，根据跟踪伺服在步骤S206中被开启ON的状态，获得从地址检测和时钟发生电路23输入的地址信息。
在后续步骤S208中，确定轨道是否为目标轨道。也就是说，确定包括在步骤S207中获得的地址信息的轨道号码信息(光束点当前所处轨道的轨道号码信息)是否与目标轨道的轨道号码信息匹配。
在该步骤S208中，在当前轨道为目标轨道从而为YES的情况下，如图所示，结束轨道跳跃操作的处理。
另一方面，在步骤S208中，在当前轨道不是目标轨道而为NO的情况下，该程序返回到步骤S202，再一次计算到目标轨道的需要跳跃的数量。
这里，在步骤S202中计算了要跳跃的数量后，在步骤S203确定要跳跃的数量是否等于或者大于阈值n。在步骤S203中确定要跳跃的数量等于或者大于阈值n的情况下，再一次执行下面的处理：由粗略轨道跳跃操作(S204)到确定该轨道是否为目标轨道(S208)。就是说，通过这样的构造，直到要跳跃的数量小于阈值n，重复执行粗略轨道跳跃操作。
然后，在步骤S203中，在当需要跳跃的数量不是等于或者大于阈值n而为NO的情况下，处理前进到步骤S209，以需要跳跃的数量执行本示例的一个轨道跳跃处理。就是说，前面在图5中说明的一个轨道跳跃处理被根据需要跳跃的数量执行相应的次数。通过该构造，能够确定地到达每个目标轨道。
在执行步骤S209中的处理时，结束如该图所示的处理。
如上所述，根据本实施例，在全息图记录介质HM上形成由DC组组成的辅助轨道，该辅助轨道与由凹坑串组成的地址记录轨道并排布置。基于在穿过辅助轨道时的反射光信息(在此情况下，横穿信号TRV)，对束点执行半径方向位置控制，以进行轨道跳跃操作。通过该构造，可以防止现有技术中在全息图记录介质HM的转速很低的情况下难于正确执行轨道跳跃的情形，并且可以正确执行轨道跳跃到目标轨道。
结果，根据本实施例，对于在沿着轨道的位置上执行全息图的记录/再现的全息图记录和再现系统，提供可以适当执行目标地址的存取操作的系统。
第二实施例
随后，将描述本发明的第二实施例。
第二实施例通过改变跟踪伺服的技术而提出。
这里，根据第一实施例，采用由凹坑串组成的地址记录轨道作为目标而施加跟踪伺服，但是取决于光盘转速的设定，跟踪误差信号TE的波段可能是不合适的，从而不能够适当地施加跟踪伺服。
考虑到上述情况，根据第二实施例，形成第二激光的多个光束点，并且这些光束点中的一个束点对应于由凹坑串组成的地址记录轨道，并且这些光束点中的另一个对应于由DC组组成的辅助轨道。然后，根据对应于辅助轨道的光束点的反射光所产生的跟踪误差信号TE施加跟踪伺服。
第一示例
图7是用于描述第二实施例的第一示例的示意图。
在图7中，放大了形成在全息图记录介质HM上的各轨道和光束点之间的关系。
首先，还是在此情况下，由凹坑串组成的地址记录轨道和与该地址记录轨道并排布置且由DC组组成的辅助轨道形成在全息图记录介质HM上。然而，辅助轨道的数量改变为与第一实施例的情况不同。如图所示，在此情况下，三个辅助轨道插如在各地址记录轨道之间。
然后，在此情况下，在记录和再现设备中，关于用于位置控制的第二激光，如图所示形成三个光束点。这里，中间光束点设定为主束点，并且中间光束点之外的侧束点分别设定为第一光束点和第二光束点。
然后，在图7所示的第一示例的情况下，主束点对应于地址记录轨道，一个第一光束点对应于三个辅助轨道的中间的一个辅助轨道。就是说，记录在凹坑串上的地址信息由主束点读取，并且沿着中间辅助轨道的跟踪伺服和聚焦伺服由第一光束点执行。
应当注意的是，在附图中，在此情况下，也不采用第二光束点。
在此情况下，主束点和第一光束点之间在半径方向上分开的距离调整为具有如下的关系，当第一光束点在三个辅助轨道的中间辅助轨道上跟踪时，主束点在地址记录轨道上跟踪，如图所示。通过该构造，第一光束点执行跟踪伺服时，主束点在凹坑串上跟踪。
同样，记录和再现全息图的第一激光的光轴设定为与主束点匹配。因此，在图7所示的第一示例的情况下，全息图记录在地址记录轨道上。
应当注意的是，尽管省略了借助于附图的说明，但是在第一示例的情况下，在第二激光的光学系统中，构造来将第二激光分成三个光束的分束元件插入在记录和再现设备中。另外，对于光检测器14，提供主光接收元件和子光接收元件，主光接收元件构造来接收主束点的反射光，子光接收元件构造来接收第一光束点的反射光。矩阵电路22构造来根据来自主光接收元件的接收光信号产生再现信号RF，根据来自子光接收元件的接收光信号产生跟踪误差信号TE和聚焦误差信号FE。
同样，如下面的描述，在第一示例的情况下，在轨道跳跃操作时由控制部分25的监控信号不是跟踪误差信号TE而是再现信号RF(就是说，检测主束点穿过辅助轨道)。因此，在此情况下，矩阵电路22中产生的再现信号RF输入到控制部分25。
在第一示例的情况下，轨道跳跃执行如下。
首先，同样在此情况下，在轨道跳跃操作的开始，控制部分25执行加速指令，以在目标轨道的方向上相对于伺服电路24运动光束点。然后，对于同样在此情况下的控制部分25，在执行加速指令后，到检测监控信号(在此情况下为再现信号RF)的幅度是否等于或者低于预定的阈值的时间，处理是共同的。然而，在此情况下，尽管对应于地址记录轨道之间的辅助轨道的数量为三的状态，但是对于第二次在监控信号(再现信号RF)的幅度变为等于或者低于第二时间的预定阈值的时间，执行相对于伺服电路24的减速指令。
通过该构造，可以执行到相邻地址记录轨道的一个轨道跳跃。
应当注意的是，为了确认，在第二实施例的情况下，仅仅一个轨道跳跃时的处理是不同的，实现整个轨道跳跃操作以到达目标轨道的处理与参考图6描述的情况类似。因此，省略重复的描述。
这里，根据参考图7描述的第一示例，例如这样的情况，其中基于DC组的三个辅助轨道插入在各地址记录轨道之间，但是辅助轨道的数量不特别局限于三个。
在采用一个辅助轨道的情况下，例如，类似于第一实施例的情况，在一个轨道跳跃时从加速到减速的转换时间可以设定为在加速指令后第一次检测到脉冲等于或者小于预定阈值的时间。
同样，例如，在采用两个辅助轨道的情况下，根据各轨道之间形成的距离，例如，如果在第一脉冲和第二脉冲之间的中间时间上执行加速→减速的转换，则可以执行一个轨道跳跃。
在任何情况下，插入在各地址记录轨道之间的辅助轨道都为DC组，并且通过横穿时的反射光可以肯定地检测到横穿。因此，通过基于辅助轨道横穿时的反射光信号的加速/减速转换，能够确定地执行到相邻地址记录轨道的一个轨道跳跃。
第二示例
图8是用于描述第二实施例的第二示例的示意图。
与图7相类似，图8也例示了形成在全息图记录介质HM上的各轨道和光束点之间的关系。
如图所示，就全息图记录介质HM的构造而言，该示例也类似于第一示例的情况。另外，第二激光形成三个束点的点也类似于第一示例的情况。
第二示例不同于第一示例在于，由主束点执行基于中心辅助轨道的跟踪伺服和聚焦伺服，并且由第一光束点执行记录在地址记录轨道上的地址信息的读取。
具体而言，根据第二示例，当由主束点设定执行跟踪伺服同时设定三个辅助轨道的中间辅助轨道作为目标时，第一光束点在地址记录轨道上跟踪。
在此情况下，记录和再现全息图的第一激光的光轴也与主束点匹配。因此，在第二示例的情况下，全息图记录在中间辅助轨道上。
应当注意的是，在此情况下，也不采用第二光束点。
在根据第二示例情况的记录和再现设备中，在光检测器14中，矩阵电路22构造来根据来自上述主光接收元件的接收光信号产生跟踪误差信号TE和聚焦误差信号FE，以及根据来自上述子光接收元件的接收光信号产生再现信号RF。
同样，在此情况下，在轨道跳跃操作时，检测第一光束点横穿辅助轨道的时间。因此，矩阵电路22中产生的跟踪误差信号TE被输入到控制部分25。
根据第二示例情况的一个轨道跳跃处理，除了用于控制部分25检测执行减速指令时间的监控信号是跟踪误差信号TE外，类似于前面说明的根据第一示例的一个轨道跳跃处理。就是说，在此情况下，当第一光束点横穿中间辅助轨道时，执行加速→减速的转换。通过该构造，执行到相邻地址记录轨道的一个轨道跳跃。
应当注意的是，在第二示例中，实现整个轨道跳跃操作以到达目标轨道的处理也类似于图5和6所述的情况，并且省略重复的描述。
根据上述的第二实施例，因为可以执行跟踪伺服同时设定由形成在全息图记录介质HM上的DC组组成的辅助轨道作为目标，所以与光盘的转速的设定无关，可以实现稳定的跟踪伺服。
修改示例
在上述中，描述了本发明的实施例，但是本发明不限于上述具体的示例。
例如，在上面的描述中，由控制部分25执行控制，以实现根据实施例的轨道跳跃操作。然而，可以采用这样的构造，控制部分25仅发出目标地址(目标轨道)的指令，并且伺服电路24执行控制同时基于目标轨道上的信息遵循参考图5和6描述的程序，从而实现根据实施例的轨道跳跃操作。
同样，在上面的描述中，例示了这样的情况，其中通过采用单独的具有不同波长的激光源执行全息图的记录/再现及其位置控制。然而，全息图的记录/再现及其位置控制也可以仅采用用于全息图的记录/再现的激光源执行。
图9示出了在此情况下全息图记录介质的截面结构的示例(设定为全息图记录介质n-HM)。
对于全息图记录介质n-HM，与图2所示的全息图记录介质HM相比，全息图记录介质的不同之处在于省略了反射层33和介质层34。根据上述情形，对于在此示例中的基板36上的反射膜，采用反射膜40，反射用于记录和再现全息图的激光，并且记录层32形成在反射膜40上。
这里，在仅采用全息图记录/再现的激光源执行全息图的记录/再现和位置控制的情况下，光学系统的构造可以以如下的方式改变，对于记录和再现设备，来自全息图记录介质n-HM的反射光被引导到图像传感器15侧和光检测器14侧。
应当注意的是，当全息图记录在由凹坑串组成的地址记录轨道上时，在所记录的全息图再现时，根据凹坑串的凹凸在全息图的再现光上产生噪声，并且在某些情况下会降低对全息图的再现光的检测精度。考虑到上述情况，当如图7和8所示分开光束点时可以避免该问题，并且由侧光束执行记录由凹坑串组成的地址记录轨道上的地址信息的读取和跟踪伺服，并且由主光束执行全息图的记录和再现。就是说，通过采用这样的技术，在远离凹坑串预定距离(从侧束点到主束点的距离)的位置上记录和再现全息图，并且可以执行全息图的再现而不受凹坑串的影响。
同样，在上面的描述中，例示了这样的情况，其中对于提供有反射膜的反射式全息图记录介质执行记录和再现，但是本发明的实施例也可以适当地应用于这样的情况，其中对于未提供有反射膜的透射式全息图记录介质执行记录。
在采用透射式全息图记录介质的情况下，对于记录和再现设备，可以避免提供偏振光分束器6(和1/4波长板9)，该偏振光分束器6用于引导根据施加给图像传感器15侧的参考光而作为反射光获得的再现光。另外，还可以避免提供偏振光分束器13，该偏振光分束器13用于将来自轨道形成层的反射光(用于位置控制的反射光)引导到光检测器14侧。
在此情况下，基于施加的参考光获得的再现光透射通过全息图记录介质自身。因此，可以采用这样的构造，从激光发射点看，在全息图记录介质的相对侧上还提供有物镜，并且用作透射光的再现光经由物镜被引导到图像传感器15。类似地，用于位置控制透射通过轨道形成层的激光的再现光也透射通过全息图记录介质自身。因此，可以采用作为透射光的再现光经由物镜被引导到光检测器14侧的构造。
同样，上面的描述示例了这样的情况，其中本发明的实施例应用于当对执行记录采用同轴系统同时在相同的轴上设置参考光和信号光的情况。本发明的实施例也可以适合应用于这样的情况，其中采用所谓的双光通系统以在记录时单独施加信号光和参考光。
在此情况下，光学系统的构造可以改变为这样的方式，对于记录和再现设备，单独提供在记录时产生信号光的一套光源和SLM，以及用于产生参考光的一套光源和SLM，并且分别产生的信号光和参考光以不同的角度被引导到全息图记录介质。
同样，在上面的描述中，仅涉及用作可记录介质的具有记录层的全息图记录介质，在记录介质上借助于信号光和参考光的干涉图案形成全息图。本发明的实施例也可以适合应用于采用全息图记录介质用作再现专用介质的情况。
对于用作再现专用介质的全息图记录介质，例如，全息图通过诸如光刻的微加工形成在记录层上以记录数据。轨道形成层的其它结构可以与上面描述的情况相类似，并且在轨道跳跃时的处理也可以与上面描述的情况相类似。
同样，由这样的观点可以理解，根据本发明实施例的驱动设备并非必须具有记录功能，该驱动设备也可以具有用作再现专用设备的结构。另外，驱动设备也可以具有用作记录专用设备的结构，其对于用作可记录介质的全息图记录介质能够执行记录。
本申请包含2008年6月25日提交日本专利局的日本优先权专利申请JP2008-166244揭示的相关主题，因此其全部内容一并引用作为参考。
本领域的技术人员应当理解的是，在权利要求或其等同方案的范围内，根据设计需要和其他因素，可以进行各种修改、结合、部分结合和替换。

Claims (7)

1.一种驱动设备，包括：
光照射装置，构造来将光从光源经由物镜施加到全息图记录介质上，该全息图记录介质提供有记录层和轨道形成层，在该记录层上形成全息图，在该轨道形成层上形成地址记录轨道和辅助轨道，该地址记录轨道由凹坑串组成并记录表示该全息图在该记录层上的记录位置的地址信息，该辅助轨道由连续的凹槽组成并形成为与该地址记录轨道并排布置；
光点移动装置，构造来在该全息图记录介质的半径方向上移动由该光照射装置形成的光点；以及
控制装置，构造来基于在该光点在半径方向上移动而使得该光点横穿该辅助轨道时的光信息信号来控制该光点移动装置，以执行该地址记录轨道之间的跳跃操作。
2.根据权利要求1所述的驱动设备，
其中该控制装置向该光点移动装置发出加速指令以开始该光点在该半径方向上的运动，然后根据在该光点横穿该辅助轨道时获得的光信息信号发出减速指令以停止该光点的运动，从而执行到相邻地址记录轨道的跳跃操作。
3.根据权利要求2所述的驱动设备，
其中该控制装置对该光点移动装置执行控制，将该光点运动目标距离，该目标距离根据到目标地址记录轨道的所需跳跃的数量估算，然后执行控制从而以与从目的点到目标地址记录轨道所需跳跃的数量对应的次数进行到相邻地址记录轨道的轨道跳跃操作。
4.根据权利要求3所述的驱动设备，
其中该光照射装置进行光照射以形成多个光点，其中该多个光点中的第一光点和第二光点之间的间隔设定为形成在该全息图记录介质上的该地址记录轨道和该辅助轨道之间的间隔，
该驱动设备还包括：
跟踪伺服控制装置，构造来在旋转和驱动该全息图记录介质的状态下根据检测该第一光点和该辅助轨道之间的位置关系的结果控制该光点移动装置，使得该第一光点在该辅助轨道上跟踪；以及
地址信息再现装置，构造来根据当该第二光点在该跟踪伺服控制装置执行该跟踪伺服控制时在该地址记录轨道上跟踪时获得的光信息信号再现该地址信息，并且
其中该控制装置发出该加速指令，然后根据在该第二光点横穿该辅助轨道时获得的光信息信号给该光点移动装置发出该减速指令。
5.根据权利要求1所述的驱动设备，
其中该全息图记录介质构造为具有记录层的可记录介质，该记录层上根据信号光和参考光的干涉图案对该纪录层执行全息图记录，该信号光根据记录数据通过空间光调制产生，该参考光根据预定数据图案通过空间光调制产生，
该驱动设备还包括：
空间光调制装置，构造来对入射光施加空间光调制，以产生该信号光和该参考光，并且
其中该光照射装置用通过该空间光调制装置获得的信号光和参考光经由该物镜照射该全息图记录介质。
6.根据权利要求1所述的驱动设备，还包括空间光调制装置，构造来对入射光上施加空间光调制，以产生参考光，用于获得与该全息记录介质中的该记录层上记录的该全息图相关的再现光，
其中该光照射装置用该空间光调制装置获得的该参考光经由该物镜照射该全息图记录介质，并且
该驱动设备还包括再现光检测装置，构造来检测根据用该参考光照射该全息图记录介质获得的该再现光。
7.一种轨道跳跃方法，包括如下步骤：
将来自光源的光经由物镜施加到全息图记录介质上，该全息图记录介质提供有记录层和轨道形成层，该记录层上形成全息图，该轨道形成层上形成地址记录轨道和辅助轨道，该地址记录轨道由凹坑串组成以记录表示该全息图在该记录层上的记录位置的地址信息，该辅助轨道由连续的凹槽组成，形成为与该地址记录轨道并排布置；并且
基于在该光点横穿该辅助轨道时根据在该全息图记录介质的半径方向上形成的光点的移动所获得的光信息信号，控制该光点在该半径方向上的移动操作，以执行该地址记录轨道之间的跳跃操作。
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