CN101556805A - 光信息记录再现装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供光信息记录再现装置。在光信息记录介质上附着有尘埃、损伤或者在光信息记录介质内部存在气泡、杂质等的情况下，如果在具有这些缺陷的位置进行记录或再现，则由于缺陷、光信息记录介质或光信息记录再现装置引起的光的扩散、反射，导致记录再现位置附近的记录介质变质，施加使得能够记录的容量降低的影响。该光信息记录再现装置为向光信息记录介质射出参照光和信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于，包括：拾取器；相位共轭光学系统；盘处理光学系统；和缺陷识别光学系统，并设置有光检测器，该光检测器用于接收从缺陷识别光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光。
Description
技术区域
本发明涉及一种使用全息照相技术、在光信息记录介质中记录信息和/或从光信息记录介质再现信息的装置。
背景技术
目前，根据应用蓝紫色半导体激光的蓝光盘(BD：Blu-ray Disc)标准、高清晰度数字化多用途光盘(HD DVD：High Definition DigitalVersatile Disc)标准等，在民用产品中，具有50GB左右的记录密度的光盘的商品化成为可能。
今后，期望即使是光盘也实现与100GB～1TB的硬盘驱动器(HDD：Hard Disc Drive)容量相同程度的大容量化。
但是，为了在光盘上实现这样的超高密度，需要一种新的存储技术，这种存储技术与目前通过短波长化和物镜高数值孔径(NA)化实现现有的高密度技术的方向不同。
在进行与下一代存储技术相关的研究中，利用全息照相记录数字信息的全息照相记录技术受到关注。
所谓全息照相记录技术，其使具有通过空间光调制器被二维地调制后的页面数据的信息的信号光和参照光在记录介质的内部重合，通过这时产生的干涉条纹图案使记录介质内发生折射率调制，由此记录信息。
另外，在再现信息时，如果以相同的配置向记录介质照射记录时使用的参照光，则记录在记录介质中的全息图如衍射光栅一样起作用，产生衍射光。包括该衍射光所记录的信号光和相位信息，作为相同的光被再现。
再现的信号光使用CMOS、CCD等光检测器，被二维地高速地检测出。如上所述，在全息图(hologram)记录中，在1个全息图中同时记录/再现二维的信息，此外，在相同位置能够重写多个页面数据，因此，能够有效地进行大容量且高速的信息的记录再现。
例如，专利文献1公开了一种全息照相记录技术。在本公报中公开了一种多角度记录方式，通过透镜将信号光束聚光到光信息记录介质上的同时，照射平行光束的参照光并使其产生干涉，进行全息照相记录，进一步，在改变参照光射入光记录介质的入射角度同时，在空间光调制器中显示不同的页面数据，进行多重记录。进一步，在本公报中公开了一种技术，通过透镜对信号光进行聚光，将开口(空间滤光器)配置在在其光腰(beam waist)处，由此，能够缩短邻接的全息图的间隔，与现有的多角度记录方式相比，能够增大记录密度/容量。
另外，例如，专利文献2公开了一种全息照相记录技术。在本公报中详细说明了采用多重移位(shift multiplexing)方式的例子，该方式为，在1个空间光调制器中，将来自内侧的像素的光作为信号光，将来自外侧的环带状的像素的光作为参照光，通过相同的透镜使两光束聚集到光记录介质上，使信号光和参照光在透镜的焦点面附近干涉，记录全息图。
但是，在BD所代表的现有的光信息记录装置中，在光信息记录介质上存在附着在光信息记录介质上的尘埃、损伤或在光信息记录介质的内部存在气泡、杂质等缺陷的情况下，为了应对这种情况，在完成记录后立刻进行核对处理，提高记录的可靠性。
这时，在读出处理中使用的光使用不会使光信息记录介质变质的强度的光。
但是，在利用全息照相的光信息记录介质的情况下，不依赖于光强度地发生变质。因此，在光信息记录介质上附着有尘埃、损伤或者在光信息记录介质内部存在气泡、杂质等的情况下，如果在具有这些缺陷的位置进行记录或再现，则由于损伤或缺陷、光信息记录介质或光信息记录再现装置引起的光的扩散、反射，导致记录再现位置附近的记录介质变质，施加使得能够记录的容量降低的影响。因此，在缺陷部分进行的记录、再现会降低信息记录介质的可靠性。
专利文献1：日本特开2004-272268号公报
专利文献2：WO2004-102542号公报
发明内容
本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的是提供一种记录、再现方式，利用该记录、再现方式，即使是具有附着在光信息记录介质上的尘埃、损伤或者位于光信息记录介质内部的气泡、杂质等缺陷的光信息记录介质，通过早期发现缺陷，也能够不影响缺陷周边的光信息记录介质。
能够通过如下方式实现本发明的目的。
提供一种光信息记录装置，其为向光信息记录介质射出参照光和信号光，利用全息照相(holography)记录数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于，包括：拾取器，相位共轭光学系统、和/或盘处理光学系统、和/或缺陷识别光学系统，并设置有光检测器，该光检测器接收从缺陷识别光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光。
提供一种光信息记录再现装置，其为向光信息记录介质照射由拾取器射出的参照光和由拾取器射出的信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于，包括：拾取器；相位共轭光学系统；盘处理光学系统；和缺陷识别光学系统，并设置有光检测器，该光检测器用于接收从缺陷识别光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光。
提供一种光信息记录再现装置，其为向光信息记录介质照射由拾取器射出的参照光和由拾取器射出的信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于，包括：拾取器；相位共轭光学系统；和盘处理光学系统，并设置有光检测器，该光检测器用于接收从盘处理光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光。
提供一种光信息记录再现装置，其为向光信息记录介质照射由拾取器射出的参照光和由拾取器射出的信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于：至少包括拾取器和相位共轭光学系统，在进行全息照相记录时，根据向信息记录介质射出的参照光或信号光的透过光或反射光的光量，判断继续或者中断信息的记录。
发明的效果
根据本发明，在利用全息照相进行数字信息的记录时，即使是具有附着在光信息记录介质上的尘埃、损伤或者位于光信息记录介质内部的气泡、杂质等缺陷的光信息记录介质，也能够不影响缺陷周边地进行可靠性高的记录。
附图说明
图1为表示光信息记录再现装置的实施例的概略图。
图2为缺陷识别光学系统。
图3为表示基于缺陷的有无的光检测器的光量变化的图。
图4为表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概略图。
图5为表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概略图。
图6为表示光信息记录再现装置的动作流程的实施例的概略图。
图7为表示光信息记录再现装置的数据记录处理动作流程的实施例的概略图。
图8为表示光信息记录再现装置的数据记录处理动作流程的实施例的概略图。
符号的说明
1 光信息记录介质
10 光信息记录再现装置
11 拾取器
12 相位共轭光学系统
13 盘处理光学系统
14 盘旋转角度检测用光学系统
15 缺陷识别光学系统
50 旋转电动机(DC电动机或布进式电动机)
81 访问控制电路
82 光源驱动电路
83 伺服信号生成电路
84 伺服控制电路
85 信号处理电路
86 信号生成电路
87 光闸控制电路
88 盘旋转电动机控制电路
89 控制器
201 光源
202 准直透镜
203 光闸
204 光学元件
205 偏振光分束器
206 信号光
207 偏振光分束器
208 空间光调制器
209 角度滤光器
210 物镜
211 物镜致动器
212 参照光
213 反射镜
214 反射镜
215 透镜
216 反射镜
217 致动器
218 光检测器
219 偏振光方向变换元件
220 驱动方向
221 光学组件
301 光源
302 准直透镜
303 光闸
304 光学元件
305 偏振光分束器
306 信号光
307 偏振光分束器
308 空间光调制器
309 扩束器
310 中继透镜
311 相位掩模
312 中继透镜
313 空间滤光器
314 反射镜
315 反射镜
316 反射镜
317 致动器
318 光检测器
319 透镜
320 透镜
321 反射镜
322 致动器
323 参照光
324 偏振光方向变换元件
325 物镜
401 光源
402 准直透镜
403 光检测器
具体实施方式
下面，对本发明的实施例进行说明。
【实施例1】
图1表示利用全息照相记录以及/或者再现数字信息的光信息记录再现装置的整体结构。
光信息记录再现装置10具备：拾取器11、相位共轭光学系统12、盘处理光学系统13、盘旋转角度检测光学系统14、缺陷识别光学系统15以及旋转电动机50，光信息记录介质1构成为可通过旋转电动机50旋转。
拾取器11向光信息记录介质1射出参照光和信号光，利用全息照相记录数据信息。
这时，记录的信息信号通过控制器89经信号生成电路86被输送到拾取器11内的下述空间光调制器，由该空间光调制器调制信号光。
当再现记录在光信息记录介质1中的信息时，通过相位共轭光学系统12生成从拾取器11射出的参照光的相位共轭光。在此，所谓相位共轭光，是指一边保持与输入光相同的波阵面一边向相反方向前进的光波。通过拾取器11内的下述光检测器检测由该相位共轭光再现的再现光，通过信号处理电路85再现信号。
利用控制器89通过光闸控制电路87控制拾取器11内的下述光闸的开闭时间，从而，可以调整向光信息记录介质1照射参照光和信号光的时间。
盘处理光学系统13起到生成在光信息记录介质1的预处理和后处理中使用的光束的作用。在此，所谓预处理，是指当在光信息记录介质1内的规定位置记录信息时，在向该规定位置照射参照光和信号光之前照射规定光束的前工序。另外，所谓后处理，是指当在光信息记录介质1内的规定位置记录信息之后，为了使在该规定位置无法追加记录而照射规定光束的后工序。
图2为缺陷识别光学系统的光学系统结构的一个例子。
缺陷识别光学系统15例如如图2所示，具备：生成识别光信息记录介质1的缺陷所使用的光束的光源401；使光束形成具有任意宽度的光束的准直透镜402；和可以测定透过光信息记录介质1或者由光信息记录介质1反射的光束的光量的光检测器403。
在此，缺陷指的是，附着在光信息记录介质1上的灰尘或损伤、或者存在于光信息记录介质1内部的气泡或杂质等使该部分周边无法进行全息照相记录的夹杂物。图3为缺陷识别光学系统根据有无缺陷识别的透过光信息记录介质1、或由光信息记录介质1反射的光的光量的一个例子。
当光信息记录介质存在缺陷时，入射的光束由缺陷反射以及吸收，由光检测器403检测的光量如图3所示，小于透过本来光信息记录介质1的光量。
在此，所谓缺陷的识别，利用上述原理，通过使射入光信息记录介质1或由光信息记录介质1反射的光的光量具有阈值，根据检测出的光量是否大于阈值，识别在光记录介质1内的规定位置是否没有妨碍记录的缺陷，在该识别有无缺陷的工序中识别缺陷。
图1的盘旋转角度检测光学系统14用于检测光信息记录介质1的旋转角度。当将光信息记录介质1调整至规定的旋转角度时，由盘旋转角度检测光学系统14检测与旋转角度对应的信号，控制器89使用检测出的信号、通过盘旋转电动机控制电路88可控制光信息记录介质1的旋转角度。
从光源驱动电路82向拾取器11、盘处理光学系统13、盘旋转角度检测光学系统14、缺陷识别光学系统15内的光源供给规定的光源驱动电流，可以从各种光源发出规定光量的光束。
另外，拾取器11、相位共轭光学系统12、盘处理光学系统13、缺陷识别光学系统15设置成可沿着光信息记录介质1半径方向滑动位置的机构，通过存取控制电路81进行位置控制。
但是，由于利用全息照相的记录技术是能够记录超高密度信息的技术，因此，例如相对于光信息记录介质1的倾斜或错位的容许误差极小。因此，可以在拾取器11内设置检测例如光信息记录介质1倾斜或错位等的容许误差产生较小偏差的偏差量的机构，在光信息记录再现装置10内具备伺服机构，该伺服机构通过伺服信号生成电路83生成伺服控制用信号，通过伺服控制电路84修正该偏差量。
另外，可以将拾取器11、相位共轭光学系统12、盘处理光学系统13、盘旋转角度检测光学系统14、缺陷识别光学系统15中的几个光学系统结构或所有光学系统结构组合成一个系统，进行简化。
图4表示光信息记录再现装置10中的拾取器11的光学系统结构的一个例子。其为一般的角度多重方式的光学系统结构。
从光源301射出的光束透过准直透镜302，输入光闸303。当光闸303打开时，光束通过光闸303之后，通过由例如1/2波长板等构成的光学元件304控制偏振光方向，使P偏振光和S偏振光的光量比达到期望比值之后，射入PBS(Polarization Beam Splitter：偏振光分束器)棱镜305。
透过PBS棱镜305的光束由扩束器309扩大光束直径之后，经由相位掩模311、中继透镜310、PBS棱镜307射入空间光调制器308。
由空间光调制器308附加了信息的信号光束透过PBS棱镜307，在中继透镜312以及空间滤光器313中传播。之后，信号光束通过物镜325聚光到光信息记录介质1。
另一方面，通过PBS棱镜305反射的光束作为参照光束起作用，由偏振光方向变换元件324对应记录时或再现时设定在规定的偏振光方向之后，经由反射镜314以及反射镜315射入振镜316。振镜316通过致动器317可调整角度，因此，可将通过透镜319和透镜320之后射入信息记录介质1的参照光束的入射角度设定为所希望的角度。
如上所述，使信号光束和参照光束互相重合地射入光信息记录介质1，从而在记录介质内形成干涉条纹图案，将该图案写入记录介质，从而记录信息。另外，由于可以通过振镜(Galvano Mirror)316改变射入光信息记录介质1的参照光束的入射角度，因此，可以进行多重角度的记录。
在再现记录的信息时，如上所述，向光信息记录介质1射入参照光束，通过振镜321反射透过光信息记录介质1的光束，从而生成其相位共轭光。
由该相位共轭光再现的再现光束在物镜325、中继透镜312以及空间滤光器313内传播。之后，再现光束由PBS棱镜307反射，射入光检测器318，可再现记录的信号。
另外，拾取器11的光学系统结构不限于图4所示的结构，也可以如图5所示那样的结构。
图5表示光信息记录再现装置10中的拾取器11的光学系统结构与图4所示不同的一例。
对图5进行说明。
从光源201射出的光束透过准直透镜202，射入光闸203。当光闸203打开时，光束通过光闸203之后，通过由例如1/2波长板等构成的光学元件204控制偏振光方向，使P偏振光和S偏振光的光量比达到期望比值之后，射入PBS棱镜205。
透过PBS棱镜205的光束经由PBS棱镜207射入空间光调制器208。
由空间光调制器208附加了信息的信号光束206由PBS棱镜207反射，在仅使规定的入射角度的光束通过的角度滤光器209内传播。之后，信号光束由物镜210聚光于光信息记录介质1。
另一方面，通过PBS棱镜205反射的光束作为参照光束212起作用，由偏振光方向变换元件219对应记录时或再现时设定在规定的偏振光方向上后，经由反射镜213以及反射镜214射入透镜215。
透镜215起到使参照光束212聚光到物镜210的反焦距面上的作用，由物镜210的反焦距面一次聚光的参照光束通过物镜210再次形成平行光，射入光信息记录介质1。
在此，物镜210或光学部件221可以沿着例如符号220所示方向驱动，使物镜210或光学部件221的位置沿着驱动方向220移动，从而，使聚光点在物镜210和物镜210反焦距面上的相对位置关系变化，因此，可以将射入光信息记录介质1的参照光束的入射角度设定为所希望的角度。
如上所述，使信号光束和参照光束互相重合地射入光信息记录介质1，从而，在记录介质内形成干涉条纹图案，将该图案写入记录介质，从而记录信息。另外，通过使物镜210或光学组件221的位置沿着驱动方向220移动，可使射入光信息记录介质1的参照光束的入射角度变化，因此，可能进行多角度记录。
当再现记录的信息时，如上所述，向光信息记录介质1射入参照光束，通过振镜216反射透过光信息记录介质1的光束，从而生成其相位共轭光。
由该相位共轭光再现的再现光束在物镜210、角度滤光器209内传播。之后，再现光束透过PBS棱镜207，射入光检测器218，能够再现记录的信号。
图5所示的光学系统采用使信号光束和参照光束射入同一物镜的结构，从而，与图4所示的光学系统结构相比，具有大幅度变小的优点。
图6表示在光信息记录再现装置10中进行记录、再现的动作流程。在此，尤其对利用全息照相的记录再现流程进行说明。
图6(a)表示从将光信息记录介质1插入光信息记录再现装置10后，到完成记录或再现准备的动作流程，图6(b)表示从完成准备的状态开始，到将信息记录到光信息记录介质1中为止的动作流程，图6(c)表示从完成准备状态开始，到将记录到光信息记录介质1中的信息再现为止的动作流程。
如图6(a)所示，若插入介质，则光信息记录再现装置10对盘进行判断，判断例如插入的介质是否是利用全息照相记录或再现数字信息的介质。
若进行盘判断的结果是，该介质是利用全息照相记录或再现数字信息的光信息记录介质，则光信息记录再现装置10读出在光信息记录介质1中设置的控制数据，获取与例如光信息记录介质相关的信息、或者与例如记录或再现时的各种设定条件相关的信息。
在读出控制数据之后，进行与控制数据相对应的各种调整、与拾取器11相关的学习处理，光信息记录再现装置10完成记录或再现的准备。
从完成准备的状态开始到记录信息为止的动作流程如图6(b)所示，首先接收记录的数据，将与该数据对应的信息输送到拾取器11内的空间光调制器中。
之后，为了能够在光信息记录介质1中记录高质量信息，事先根据需要进行各种学习处理，反复进行搜索动作以及地址再现，同时将拾取器11、盘处理光学系统13以及缺陷识别光学系统15的位置配置在光信息记录介质的规定位置。
之后，进行下述的数据记录处理，在光信息记录介质1中记录数据。
在记录数据之后，根据需要核对数据，使用从盘处理光学系统射出的光束进行后处理。
从完成准备的状态开始到再现记录的信息为止的动作流程如图6(c)所示，为了从光信息记录介质再现高质量信息，事先根据需要进行各种学习处理。之后，反复进行搜索动作以及地址再现，同时将拾取器11以及相位共轭光学系统12的位置配置在光信息记录介质的规定位置。
之后，从拾取器11射出参照光，读出在光信息记录介质中记录的信息。
在此，对图6(b)中的数据记录处理动作进行详细说明。
图7(a)表示图6(b)中的数据记录处理的内部动作流程。
在一边反复进行搜索动作以及地址再现，一边将拾取器11、盘处理光学系统13以及缺陷识别光学系统15的位置配置在光信息记录介质的规定位置后，根据从缺陷识别光学系统15射出的光束透过光信息记录介质1或由光信息记录介质1反射的光的光量识别光信息记录介质1有无缺陷。当识别出有缺陷时，变更目标记录地址，再次进行搜索处理。
在识别出没有缺陷的情况下，之后，使用从盘处理光学系统13射出的光束，对规定领域进行预处理，使用从拾取器11射出的参照光和信号光记录数据。
在此，通过在开始记录初期进行识别缺陷的处理可以缩短在现有记录方法中，到识别缺陷之前进行预处理、数据记录、核对等所有处理所需要的处理。因此，具有下述优点：在存在缺陷的光信息记录介质1中记录信息时，提高记录速度。另外，虽然缺陷引起光的散射或反射，导致向缺陷周边的记录部照射不需要的光，减少缺陷部周边的记录容量，但是，在预处理之前进行检测处理，具有可减少对缺陷部周边的影响的优点。
在此，图7(b)为组合盘处理光学系统13和缺陷识别光学系统15，在预处理时识别缺陷的时的图6(b)所示的数据记录处理的内部动作流程。
在一边反复进行搜索动作以及地址再现，一边将拾取器11、盘处理光学系统13以及缺陷识别光学系统15的位置配置在光信息记录介质的规定位置之后，使用从盘处理光学系统13射出的光束对规定领域进行预处理，同时，根据透过光信息记录介质1或由光信息记录介质1反射的光量识别光信息记录介质1有无缺陷。当识别出具有缺陷时，立即停止预处理，变更目标记录地址，再次进行搜索处理。
当识别出没有缺陷时，之后，使用从拾取器11射出的参照光和信号光记录数据。
在此，由于图7(b)所示处理可同时进行预处理动作和识别缺陷，因此，通过图7(a)所示的记录动作可加快处理速度。
另外，通过使用从处理部射出的用于识别缺陷的光束，能够省去向缺陷识别光学系统射出光束的功能，能够简化装置。
另外，在光信息记录介质1的记录处理中无需进行预处理、后处理的记录时的记录处理流程如图8(a)所示。
在一边反复进行搜索动作以及地址再现，一边将拾取器11、和缺陷识别光学系统15的位置配置在光信息记录介质的规定位置之后，使用从拾取器11射出的参照光和信号光记录1重份的数据。这时，由缺陷识别光学系统所具备的光检测器接收透过或反射参照光或信号光的光量，识别有无缺陷。
在此，当识别出具有缺陷时，立即停止预处理，变更目标记录地址，再次进行搜索处理。
当识别出没有缺陷时，判断是否在规定位置以追加的方式进行多重记录。
当进行多重记录时，在下一个进行多重记录的位置配置拾取器11，使用从拾取器11射出的参照光和信号光，反复记录1重份的数据。当无需再进行多重记录时，如果需要，则转向核对处理。
在此，如上所述，通过图7(a)、图7(b)以及图8(a)的缺陷识别，如果将因具有缺陷而没有进行过记录的位置信息记录在设置在光信息记录介质1上的控制数据中，则当之后插入盘时，可读出控制数据，识别缺陷位置，可在该位置控制记录再现动作。
在此，通常，缺陷位置信息的数据量比在全息照片的1个位置可记录的信息量小。另外，由于在每页全息照片中进行记录，因此，即使记录的信息量小，也使用大于或等于一定量的记录容量。
因此，在每次发现缺陷时，记录没有进行过记录的位置信息，则浪费控制数据的记录容量。
因此，若完成记录之后、或取出盘时记录没有记录的位置信息，则可以减小全息照片管理区域的使用量。
Claims (8)
1.一种光信息记录再现装置，其为向光信息记录介质照射由所述拾取器射出的参照光和由所述拾取器射出的信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于，包括：
拾取器；相位共轭光学系统；盘处理光学系统；和缺陷识别光学系统，并设置有光检测器，该光检测器用于接收从缺陷识别光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光。
2.如权利要求1所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
根据从缺陷识别光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光的光量，能够判断能否进行信息记录。
3.一种光信息记录再现装置，其为向光信息记录介质照射由所述拾取器射出的参照光和由所述拾取器射出的信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于，包括：
拾取器；相位共轭光学系统；和盘处理光学系统，并设置有光检测器，该光检测器用于接收从盘处理光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光。
4.如权利要求3所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
根据从盘处理光学系统射出的透过光信息记录介质或由光信息记录介质反射的光的光量，能够判断能否进行信息记录。
5.一种光信息记录再现装置，其为向光信息记录介质照射由所述拾取器射出的参照光和由所述拾取器射出的信号光，利用全息照相记录和再现数字信息的全息照相记录再现装置，其特征在于：
至少包括拾取器和相位共轭光学系统，在进行全息照相记录时，根据向信息记录介质射出的参照光或信号光的透过光或反射光的光量，判断继续或者中断信息的记录。
6.如权利要求2、权利要求4和权利要求5中任一项所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
将根据透过光信息记录介质的光的光量或由光信息记录介质反射的光的光量未进行过信息的记录的位置信息，记录在光信息记录介质的记录与光信息记录介质相关的信息的控制数据区域中。
7.如权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
在完成记录处理后，向控制数据区域进行信息的记录。
8.如权利要求6所述的光信息记录再现装置，其特征在于：
在进行光信息记录介质的介质取出操作时，向控制数据区域进行记录。
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