CN103680528A - 光信息记录装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光信息记录装置。在使用参考光和信号光两束光束的页复用型全息记录光学系统中，不能设置利用光学透镜的信号光聚焦调整机构。因此，例如在改变记录介质的记录位置的情况下，由于信号光透镜与记录介质记录面的距离发生改变，因此存在全息图记录质量下降的问题。本发明的光信息记录再现装置包括：检测记录介质在聚焦方向上的高度的检测部；调整记录介质与信号光光学系统以及参考光光学系统在聚焦方向上的距离的聚焦调整部；和控制部，根据由检测部检测出的记录介质在聚焦方向上的高度来控制聚焦调整部，以调整信号光光学系统的物镜与记录介质的相对距离。

Description

光信息记录装置

技术领域

本发明涉及利用全息存储技术在记录介质上记录信息的光信息记录装置。

背景技术

当前，根据使用蓝紫色半导体激光的Blu-ray Disc（TM）规格，在民用中也实现了具有128GB级别记录密度的光盘的商品化。今后也希望有效利用光盘的优点——长期保存性，并进一步地实现大容量化。然而，通过上述技术提高光盘的面记录密度已经开始达到界限。为了通过光盘实现一张盘上1TB以上的超高密度记录，需要采用与基于短波长化和物镜高NA化的高密度化技术不同的新方式的高密度化技术。在进行下一代存储技术相关的研究中，利用全息图来记录数字信息的全息记录技术受到了关注。

作为再现时记录介质的定位技术，例如专利文献1中记载了这样的技术，“基于FE信号、RE信号以及TE信号，生成在聚焦方向、半径方向以及切向方向上驱动全息存储介质10的信号，对三维地驱动全息存储介质10的致动器施加该信号。由此，修正在聚焦方向、半径方向以及切向方向上的再现对象全息图的位置偏差。”

专利文献1：日本特开2007-304263号公报

发明内容

用于在记录介质上记录信息的参考光与信号光两个光束分别相对于记录介质具有独立角度地入射。因此，像专利文献1那样，使用光学透镜通过信号光的反射而获取伺服误差信号的聚焦调整机构，由于对全息图的干涉条纹形状有影响，从信号质量的角度来看并不理想。另一方面，例如在改变记录介质的记录位置的情况下，将记录介质从驱动器中取出后再次装入该驱动器的情况下，或者将记录介质装入其它驱动器的情况下，存在因信号光出射透镜与记录介质记录面之间的距离发生变化而导致全息图的记录性能降低的问题。

本发明的目的在于改善上述问题，提供一种可合适地在记录介质上记录信息的光信息记录再现装置。

上述问题例如可通过以下技术方案来得以改善。

本发明提供一种光信息记录装置，使信号光与参考光发生干涉而形成干涉条纹记录在记录介质中，其包括：第一激光光源，出射第一激光；信号光光学系统，从上述第一激光形成信号光并使其入射到记录介质；参考光光学系统，从上述第一激光形成参考光并使其入射到上述记录介质；第二激光光源，出射与上述第一激光不同波长的第二激光；测量光光学系统，从上述第二激光形成测量光并使其入射到上述记录介质；受光部，接收入射到上述记录介质的上述测量光的反射光；检测部，基于上述受光部的受光信号，检测上述记录介质在聚焦方向上的高度；聚焦调整部，调整上述信号光光学系统的物镜与上述记录介质的相对距离；和控制部，根据由上述检测部检测出的上述记录介质的聚焦方向上的高度，对上述聚焦调整部进行控制，以调整上述信号光光学系统的物镜与上述记录介质的相对距离。

另外，本发明提供一种光信息记录装置，使信号光与参考光发生干涉而形成干涉条纹记录在记录介质中，其包括：第一激光光源，出射第一激光；信号光光学系统，从上述第一激光形成信号光并使其入射到记录介质；参考光光学系统，从上述第一激光形成参考光并使其入射到上述记录介质；第二激光光源，出射与上述第一激光不同波长的第二激光；第三激光光源，出射与上述第一激光不同波长的第三激光；第一测量光光学系统，从上述第二激光形成第一测量光并使其入射到上述记录介质；第二测量光光学系统，从上述第三激光形成第二测量光并使其入射到上述记录介质；第一受光部，接收入射到上述记录介质的上述第一测量光的反射光；第二受光部，接收入射到上述记录介质的上述第二测量光的反射光；检测部，基于上述第一受光部的受光信号和上述第二受光部的受光信号，检测上述记录介质的聚焦方向上的高度；聚焦调整部，调整上述信号光光学系统的物镜与上述记录介质的相对距离；和控制部，根据由上述检测部检测出的上述记录介质在聚焦方向上的高度，对上述聚焦调整部进行控制，以调整上述信号光光学系统的物镜与上述记录介质的相对距离。

通过本发明，能够适当地控制信号光出射透镜与记录介质记录面之间的距离，实现稳定的全息记录。

附图说明

图1是表示光信息记录再现装置的实施例的图。

图2是表示光信息记录再现装置的合适的全息图记录位置和不合适的全息图记录位置的图。

图3是表示光信息记录再现装置内的记录用拾取器的实施例的图。

图4是表示光信息记录再现装置内的拾取器的聚焦高度检测器的实施例的图。

图5是表示光信息记录再现装置内的记录用拾取器的变形例的图。

图6是表示记录介质与光轴方向的关系的图。

图7是表示光信息记录再现装置内的再现用拾取器的实施例的图。

图8表示光信息记录再现装置的记录动作流程。

图9是表示光信息记录再现装置内的记录用拾取器的实施例的图。

图10是表示光信息记录再现装置的涉及控制值存储的记录动作流程的实施例的图。

图11是表示光信息记录再现装置的再现动作流程以及存储数据无效化动作流程的实施例的图。

附图标记说明：

10……记录介质，12……电机，13……滑行器，14……Focus台，15……固化光学系统，16……拾取器，17……测量受光部，23……伺服控制电路，24……伺服信号生成电路，28……光信息记录再现装置，30……信号光，31……参考光，32……测量光，34……记录位置坐标存储器，35……聚焦控制值存储器，36……参考光光学系统，37……信号光光学系统，38……测量光光学系统，55……信号光物镜，59……电流计镜，60……致动器，63……致动器，64……电流计镜，67……棱镜，68……测量光源，69……光束整形平行光透镜，70……接收透镜，72……聚焦高度检测器，73……光位置检测器，170……信号光透镜单元，174……记录层。

具体实施方式

以下使用附图对本发明的实施例进行说明。

【实施例1】

图1是表示利用全息术对数字信息进行记录或再现的光信息记录再现装置的图。全息记录技术指的是这样一种技术，即，使通过空间光调制器二维调制而得的具有页数据的信息的信号光在记录介质的内部与参考光叠加，利用此时生成的干涉条纹图样在记录介质内产生折射率调制，由此在记录介质中记录信息。在信息再现时，将记录时使用的参考光照射到记录介质上，记录在记录介质中的全息图起到衍射光栅那样的作用，产生衍射光。该衍射光含有与所记录的信号光相同的相位信息，作为相同的光被再现。再现的信号光使用CCD等图像光检测器二维地检测。并且，由于能够在记录介质的相同位置重复写入多个页数据，所以能够实现大容量、高速的信息的记录再现。

光信息记录再现装置28中，固化（cure）光学系统15、参考光光学系统36、信号光光学系统37和测量光光学系统38作为光学系统单元39被内置于拾取器16中，并配备有盘旋转角度检测器11、旋转电机12，形成为可通过旋转电机12使记录介质10旋转的结构。

从拾取器16出射的参考光31和信号光30相对于记录介质10分别具有独立的入射角而入射，利用独立的两光束的光干涉形成全息图，在记录介质10记录数字信息。待记录的信息信号通过控制器29经由输入输出控制电路26、信号生成电路20送入拾取器16内的空间光调制器，信号光由空间光调制器所调制。

对记录在记录介质10中的信息进行再现的情况下，在参考光光学系统36中生成使从拾取器16出射的参考光与记录时逆向地入射到记录介质10中的光。通过拾取器16内的光检测器检测由再现用参考光再现的再现光，通过信号处理电路21再现信号。

对记录介质10照射的参考光与信号光的照射时间能够通过控制器29经由快门控制电路19控制拾取器11内的快门的开闭时间来进行调整。

光信息记录再现装置28通过输入输出控制电路26与外部控制装置27连接。在记录时，光信息记录再现装置28通过输入输出控制电路26从外部控制装置27接收待记录的信息信号。在再现时，光信息记录再现装置28将再现的信息信号通过输入输出控制电路26发送到外部控制装置27。

固化光学系统15生成记录介质10的预固化（pre-cure）和后固化（post-cure）中使用的光束。所谓预固化指的是这样的一种前处理，在要于记录介质10内的期望位置记录信息时，在对期望位置照射参考光和信号光之前预先照射规定的光束。所谓后固化指的是这样的一种后处理，在记录介质10内的期望位置记录信息之后，为了使该期望位置变得不再能追加记录而照射规定的光束。

盘旋转角度检测器11用于检测记录介质10的旋转角度。在要将记录介质10定位至规定的旋转角度时，利用盘旋转角度检测器11检测与旋转角度对应的信号，并使用检测出的信号由控制器29通过盘旋转电机控制电路18控制记录介质10的旋转角度。在记录全息图时需要使记录介质10为停止状态，完成当前位置的全息图记录后，改变记录介质10的旋转角度，进行下一未记录区域的定位动作。记录介质的旋转动作中，进行的是反复停止与旋转的动作。

从光源驱动电路23对参考光光学系统36、信号光光学系统37、固化光学系统15、测量光光学系统38内的光源供给规定的光源驱动电流，能够使各光源以规定的光量发射光束。安装在滑行器13上的Focus台（聚焦台）14、电动机12、检测器11、记录介质10能够相对于拾取器16沿记录介质10的半径方向移动，由此可改变记录或再现的位置。这通过将来自访问控制电路22的驱动信号输入到滑动器13来实现。

在全息图的角度复用中，关于再现时相对于记录时的光轴公差、定位公差，例如参考光角度定位公差为±0.005deg以下，在记录介质10上的二维定位公差为±5μm以下，聚焦高度的定位公差为±10μm以下，容许误差极小。参考光光学系统36控制电流计镜59、64的角度，该电流计镜包括用于对参考光光轴进行控制的旋转式反射镜部和旋转驱动部。与反射镜角度对应的编码器角度信息从拾取器16输入到伺服信号生成电路24中，电流计镜的角度信息输入到控制器29中。伺服控制电路25通过控制器29接收作为目标的电流计镜的角度位置偏差信息，将电流计镜角度控制信号作为拾取器16内的电流计镜驱动信号输入。

记录介质10的记录或再现位置的定位控制通过电机12的旋转角定位控制和滑行器13的半径方向定位控制而进行。电机12对记录介质的旋转角定位控制例如按以下方式进行，即，将记录介质的旋转角按每0.3deg进行旋转定位，然后在该位置转移到电机12的停止控制。关于表示旋转角位置信息的编码器，在记录介质10的内周放射状地配备光学狭缝，通过检测器11进行编码器的读取，将旋转角位置信息输入到盘旋转电机控制电路18。盘旋转电机控制电路18向电机12输出用于定位到目标旋转角的控制信号。

半径方向的定位控制为，在记录介质10的半径方向配备直线式编码器，将与滑行器13的目标移动位置相应的直线式编码器信号输入到访问控制电路22。访问控制电路22接收由控制器29指定的位置信息，进行滑行器13的定位控制。通过移动滑行器13，使得Focus台14、电极12、记录介质10相对于拾取器16能够相对移动，在记录介质10的半径方向上进行存取。

接着，针对拾取器16与记录介质10的表面之间的距离（下面称聚焦高度）的控制进行说明。由于参考光和信号光两个光束相对于记录介质10分别具有独立入射角而入射，如果对信号光采用使用了光学透镜的聚焦调整机构，则两光束的干涉条纹形状会发生变化，因此无法配备使用了光学透镜的聚焦调整机构。因此，需要控制聚焦高度使拾取器16的基准位置与记录介质10的表面之间的距离为固定值，或者控制聚焦高度使拾取器16自身的高度为固定值。即，只要能够调整信号光光学系统37的物镜55与记录介质10的相对距离即可，可为任一聚焦高度调整，在以下的实施例中，以调整记录介质10的高度的聚焦调整机构为例进行说明。

图2（a）和图2（b）是表示与记录时的聚焦高度对应的全息图记录位置的图，表示了记录介质10内的全息图形成位置。记录介质10包括透明覆膜层173、记录层174、透明保护层175。在从信号光透镜单元170出射的信号光171与参考光172交叉的部分上，光干涉条纹即傅里叶面176被记录在记录层174中。图2（a）表示聚焦高度调整适当的情况，图2（b）表示聚焦高度调整有偏差的情况。以最接近记录介质10的表面的光学部件，例如信号光透镜单元170的端点为拾取器16的基准点，令其到记录介质10的表面的距离为WD1。图2（a）的情况是调整到合适的聚焦高度WD1——例如0.8mm±10μm，记录了全息图。然而在图2（b）的情况下，表示了记录介质10处于从拾取器16的基准点下降后的位置的情况，基准点与记录介质10的表面的距离为WD2，表示了全息图被记录在靠近表面的状态。这样，对于全息图记录的高度，在改变了记录介质10的记录位置的情况下，或者在从光信息记录再现装置28取出记录介质后再次装入该驱动器的情况下，或者将记录介质10装入到其它驱动器的情况下，聚焦高度会发生改变，其结果，存在全息图与傅里叶面176的记录位置在记录介质10的深度方向有大幅度偏差的问题。

若以记录时的聚焦高度为基准，则再现时的聚焦高度的控制精度需要为非常小的值，例如相对于WD为0.8mm，公差为±10μm。因此，在记录时，参考光与信号光交叉而产生的全息图的形成位置需要记录在记录介质10的均匀的深度上。

在聚焦高度调整中，通过图1的聚焦台14使记录介质10和电机12在上下方向上改变位置。记录介质10的表面与拾取器16的距离，通过以下方法测量，即，通过测量光光学系统38从拾取器16出射不会使记录介质1感光的波长——例如680nm的测量光32，在测量受光部（D1）17中接收记录介质10的表面反射光33，由此进行聚焦高度的测量。

记录介质10的表面涂敷有反射特定波长——例如500nm以上的光的涂料，波长680nm的测量光在记录介质10的表面发生反射，而波长405nm的信号光和参考光入射到记录层。聚焦高度测量结果从测量受光部17输入到伺服信号生成电路24，对目标聚焦高度信息与聚焦高度测量结果进行比较，并将比较而得的聚焦误差伺服信号发送到控制器29。控制器29在实施聚焦高度调整时，例如记录或再现动作之外的期间，将聚焦高度调整信号输入到伺服控制电路25。接着，伺服控制电路25发送用于上下驱动Focus台14的驱动信号，将聚焦高度控制在目标高度。对于聚焦高度，在利用Focus台14的机械系统来控制记录介质10的高度的情况下，机械系统驱动时的振动以及其振动的谐波会使Focus台14振动。例如，在记录介质10中记录并感光全息图的期间，如果存在信号光波长（例如405nm）的1/20左右的振动振幅，则无法实现良好的全息图记录。因此，在记录或再现中，控制器29向伺服控制电路25发送指令信号，使得Focus台14保持来自伺服控制电路25的Focus台14控制信号。这是为了在记录或再现中消除因Focus（聚焦）高度的控制而导致的记录介质10的细微的控制振动。至少在记录介质10上记录并感光全息图的期间中，记录介质10需要静止。上述Focus台14控制信号的保持动作，也可在对记录介质记录或再现全息图时实施。

接着，利用图3针对全息记录光学系统和聚焦高度测量光学系统进行说明。图3表示光信息记录再现装置28中拾取器16的光学系统结构。从光源41射出的光束透过准直透镜42入射到快门43。在快门43打开时，光束通过快门43后，例如由1/2波片44调整偏振方向，使得P偏振光与S偏振光的光量成规定的比，之后入射到偏振分束器45。透过偏振分束器45的光束起到信号光46的作用，由扩束器48扩大光束直径后，经过相位掩膜49、中继透镜50、偏振分束棱镜51入射到空间光调制器52。由空间光调制器52附加信息后的信号光被偏振分束棱镜51反射，经中继透镜53传播光信息。之后，信号光由物镜55会聚到记录介质10中。被偏振分束器45反射的光束起到参考光47的作用，由偏振方向变换元件56根据记录时或再现时而设定成规定的偏振方向后，经由反射镜57和反射镜58，入射到电流计镜59。由于电流计镜59可通过致动器60调整角度，因此通过透镜61和透镜62后入射到光信息记录介质10的参考光的入射角度能够设定为期望的角度。这样，通过使信号光和参考光彼此叠加地入射到光信息记录介质10中，在记录介质中形成干涉条纹图样，通过将该图样写入记录介质来记录信息。并且，由于能够通过电流计镜59使入射到光信息记录介质10的参考光的入射角度发生变化，所以能够通过角度复用的方式在记录介质的同一位置记录多个全息图信息。下文中，对于在同一区域改变参考光角度记录的全息图中，将与参考光角度对应的全息图称为页（page），将同一区域角度复用的页集合称为册（book）。

下面针对用于测量聚焦高度的光学系统进行说明。

记录时的测量光，即不会使记录介质感光的波长——例如680nm的光源68，通过光束整形平行光透镜69生成测量光，使其在棱镜67中与信号光汇合后，从物镜55照射记录介质10。波长为405nm的信号光透过记录介质的表面，而波长为680nm的测量光在记录介质的表面反射，通过接收透镜70输入到聚焦高度检测器72。

下面，针对聚焦高度检测器72与记录介质10的聚焦高度关系，利用图4进行说明。聚焦高度检测器72根据接收的光斑的位置，将该位置信息作为电信号输出。在记录介质的高度改变到71-a、71-b、71-c的情况下，其正反射成分为反射光75、反射光76、反射光77，经接收透镜70入射到聚焦高度检测器72。各个光轴入射位置信息能够作为聚焦高度测量信息。从聚焦高度检测器72输出的检测信号，经由光位置检测器73作为聚焦高度检测信号输出。

在此，上述例子中说明了波长为680nm的测量光在记录介质的表面反射的例子，但也可使波长为680nm的测量光在相对于记录介质的表面比记录层更靠内侧的层上反射。即，通过在记录介质中设置使信号光和参考光波长的光透过、使测量光波长的光反射的特殊层，只要能够降低测量光对全息图记录造成的影响即可，记录介质中特殊层的配置位置可为记录介质的表面或者比记录层更靠内侧的位置中之任一。此外，测量光的波长为与信号光和参考光波长不同的波长，只需为不会使记录介质感光的波长即可，并不限定于上述的例子中说明的680nm。

图5是表示本实施例中的记录用拾取器的变形例的图。图5中，聚焦高度测量光学系统的配置与图3的例子不同。其它的结构与图3相同，故省略说明。图3的聚焦高度测量光学系统中表示了通过使测量光与信号光在棱镜67中汇合，从而容易使测量光照射在信号光照射位置上的结构例。另一方面，图5中聚焦高度测量光学系统与全息记录光学系统独立配置，各光学系统的光路中测量光的光路与信号光的光路不重合。在图3的例子中，信号光的光量会在棱镜67中发生损失，通过如图5所示独立配置光学系统，能够更有效地向记录介质照射信号光，能够进行稳定的全息记录。

图6中表示测量反射光光轴，测量光光轴、信号光光轴、参考光光轴的配置的一个例子。对于这些光轴，通过使它们相对于记录介质1倾斜地入射、反射，使测量光光轴、信号光光轴和测量反射光光轴配置在X轴线上，使参考光光轴配置在Y轴线上。上述光轴的相关配置关系为一个例子，在光学机构的配置允许下，参考光光轴相对于信号光光轴可配置在任何方向。

图7表示光信息记录再现装置28中拾取器16的再现动作。在对记录的信息进行再现时，使参考光入射到记录介质10中，通过使透过记录介质10的光束在可由致动器63调整角度的电流计镜64中反射，而输出再现用参考光。由该再现用参考光再现的再现光，经物镜55、中继透镜53传播。之后，再现光透过偏振分束棱镜51入射到光检测器65，可再现所记录的信号。作为光检测器65，例如可使用CCD图像传感器等摄像元件，但只要能够再现页数据即可，可为任意元件。

下面，针对再现时测量聚焦高度的光学系统进行说明。再现时的测量光与记录时相同，不会使记录介质感光的波长——例如680nm的光源68通过光束整形平行光透镜69生成测量光，在棱镜67中改变光路后，从物镜75照射记录介质10。测量光在记录介质表面上反射，经由接收透镜70输入到聚焦高度检测器72，从而可检测出聚焦高度。在以上的实施例中，为了检测作为记录或再现的目标的全息图位置的聚焦高度，测量光采用与信号光同轴的结构，但也可以用目标附近的全息图位置的聚焦高度代替，使测量光的光轴独立。

图8表示光信息记录再现装置28中的记录动作流程。接收到记录数据后（101），控制器29确定记录介质10的地址信息，确定该地址信息与记录介质10的物理位置信息——例如记录介质的旋转角和记录介质的半径位置之二维位置信息的对应，进行记录介质上的定位（102）。例如若一册全息图的大小为380μm的正方形，则在半径位置57mm进行记录时，每一册全息图的旋转定位角按0.3deg旋转角定位，在结束该定位后，切换到对旋转进行静止控制（103）。接着，令用于测量记录介质与拾取器的距离的测量光源发光（104），计算其测量结果与作为目标的聚焦高度的误差量（105）。在聚焦高度的调整从目标值——例如0.8mm±10μm偏离的情况下，在上下方向上驱动Focus台14（107）。重复聚焦高度测量、聚焦误差计算、Focus台14的调整驱动动作，直到聚焦高度到达目标值。在驱动Focus台14的期间，存在因该平台的驱动振动而导致Focus高度中产生检测误差的情况，此时可在驱动Focus台14后，先对Focus台14的驱动进行静止驱动，后进行测量动作和Focus误差计算。将聚焦高度设定到目标值后，将Focus台14锁定控制在该设定的位置上（108）。锁定控制指的是，停止根据Focus误差信号控制Focus台的循环动作，进行将Focus台保持在设定位置的静止驱动。这是为了消除全息记录中因记录介质的高度方向控制中产生的设定时的摆动，进行稳定的全息记录。在结束Focus高度的调整后，实施作为记录介质的记录前处理的预固化（109），之后照射参考光和信号光，进行数据记录（110）。最后进行后固化（111）以使得记录介质不再感光，结束记录处理。

通过以上的实施例1，在通过信号光与参考光两光束进行的页记录型全息记录中，通过设置在每一册的记录时测量拾取器基准位置与记录介质表面的距离（聚焦高度）的光学系统，利用其测量结果调整聚焦高度，从而能够将全息图记录在记录介质中均匀深度的位置上。由此能够使再现时的聚焦高度调整高速化。此外，对于聚焦高度调整动作，在全息图记录动作时或者再现动作时，通过暂时保持Focus台14的高度控制值，减少聚焦高度调整中的记录介质振动，从而能够实现稳定的全息记录或再现。

下面，针对利用两束测量光进行聚焦高度测量的聚焦高度测量光学系统的例子，利用图9进行说明。作为信号光出射透镜与记录介质记录面的距离发生变化的主要原因，例如：改变记录位置后因盘的翘曲或变形导致距离变化，从驱动器取出记录介质后再次装入该驱动器时产生的夹持误差等。对于这样的距离变化，在通过测量光检测记录介质的聚焦方向的高度时，在记录介质的倾斜较大的位置上，存在射向该位置的测量光的反射角度偏离预想的角度的可能。即，如果记录介质局部的变形或翘曲变大，可能存在测量受光部17无法适当地接收测量光的情况。

因此，图9的拾取器采用设置两个用于生成测量光的光学系统的结构。图9的拾取器中，波长680nm的测量光分别从光源68和81射出，生成测量光1和测量光2。被记录介质反射的测量光1和测量光2分别在各自的聚焦高度检测器72和78中被接收。聚焦高度检测器72和78根据接收的光斑的位置，将该位置信息分别作为电信号输出。来自聚焦高度检测器72和78的检测信号经光位置检测器73输入到翘曲/聚焦分离运算器82中。在此，根据两个聚焦高度检测器72和78接收到的各自的光斑的位置，分离并检测出记录介质的聚焦方向的高度成分和翘曲成分。翘曲/聚焦分离运算器82接收上述输入，输出聚焦高度检测信号和翘曲检测信号。

这样，通过对记录介质从两个方向照射测量光，除了能够检测聚焦高度方向的距离变动外，还能够检测出记录介质的翘曲成分（倾斜）。并且，通过使各测量光学系统为相互补充的关系，使得例如在测量光1的反射角度偏离预想的角度的情况下接收测量光2的反射光，反之在测量光2的反射角度偏离预想的角度的情况下接收测量光1的反射光，由此，即使存在记录介质在翘曲方向上的变动的影响，也能够提高测量光学系统对翘曲角度的测量裕度（容许度），能够更合适地测量记录介质的聚焦高度。

【实施例2】

记录介质10的位置改变动作，通过电机12的旋转角定位和滑行器13的定位来进行。随着上述位置改变动作，聚焦高度会因记录介质10的安装倾斜状态或者记录介质10的变形状态的变化而变化。例如，通过滑行器13将位置从记录介质的半径24mm（内周）改变到半径58mm（外周）后，聚焦高度会变化200μm。

在不将记录介质10从电机12的轴上取下的状态下，与记录介质上的位置坐标对应的聚焦高度大致有可重现性。因此，实施例2在记录时按每一册实施聚焦高度调整后，使Focus台14的驱动控制值与记录介质上的位置坐标相对应，存储到聚焦控制值存储器35。在再现时，每次改变记录介质上的位置时，从聚焦控制值存储器35读出与该目标坐标位置对应的Focus台14的驱动控制值，作为Focus台14的驱动控制值。在图1中，当记录数据从外部控制装置27输入到输入输出控制电路26后，控制器29确定记录地址。记录地址与记录介质上的位置坐标预先通过运算来唯一确定。将对应该地址的位置坐标信息，例如记录介质10的旋转角信息和滑行器13的位置坐标信息预先记录在记录位置坐标存储器34。在向记录介质上的目标位置移动时，参考基于该记录地址信息从上述记录位置坐标存储器34读出的位置坐标信息，进行电机12的旋转角和滑行器13的动作。

另一方面，聚焦高度的测量结果从测量受光部17输入到伺服信号生成电路24，对目标聚焦高度信息与聚焦高度测量信息进行比较，并将比较而得的聚焦高度误差信息发送到控制器29。控制器29在实施聚焦高度调整的时机，例如记录或再现动作之外的时期，将聚焦高度调整信号输入到伺服控制电路25。伺服控制电路25通过将驱动信号发送到Focus台14而定位到目标聚焦高度。之后，将Focus台14的驱动信号值与记录介质上的位置坐标信息相对应，记录到聚焦控制值存储器35。在再现时，根据再现地址从记录位置坐标存储器34读取记录介质上的上述位置坐标信息，从该聚焦控制值存储器35读出与上述位置坐标对应的Focus台14的驱动信号值，将该驱动信号输入到Focus台14。通过这样，无需反复进行Focus高度测量和调整动作，就能够再现与记录时大致相同的聚焦高度。

之后，作为聚焦高度再调整的确认动作，经过Focus高度测量、Focus高度误差的计算、动作，在需要聚焦高度再调整的情况下，转移到Focus高度的调整动作。

利用图10说明上述记录时的动作流程。接收到记录数据（101）后，控制器29确定记录介质10的地址信息，从记录位置坐标存储器34读出对应该地址信息的记录介质10的记录位置坐标。确定记录位置坐标（120）后，通过记录介质寻轨（X-Y）动作（121）移动到记录目标位置。移动到记录目标位置后，停止记录介质（122）。接着，进行Focus误差计算（123）。在此，实施一系列处理，例如测量记录介质表面与拾取器的距离，以及计算目标聚焦高度与该测量结果的误差量。在聚焦高度的调整从目标值——例如0.8mm±10μm偏离的情况下，在上下方向上驱动Focus台14，进行Focus台高度调整（105）。结束Focus台14的高度调整后，转移到将Focus台14锁定在上述调整位置上的Focus锁定控制（124）。接着，使记录介质的位置坐标信息与Focus台14的驱动控制值相对应，将Focus台驱动值存储到聚焦控制值存储器35（125）后，转移到记录处理（126）。

下面，利用图11（a）说明再现时的Focus台14的聚焦高度调整流程。从外部控制装置27接收到再现指令（130）后，控制器29从记录位置坐标存储器34读取再现地址与记录位置坐标的对应信息，根据再现地址确定记录介质坐标（131）。确定了移动目标的目标位置坐标后，进行介质寻轨（X-Y）以移动到目标位置坐标（132）。接着，进行Focus存储器有效判定处理，判定存储在聚焦控制值存储器35中的信息是否有效（133）。上述判定处理中，例如在聚焦控制值存储器35的信息为全空（0）的情况，将判定结果判定为无效，或者可为这样的方法，即，在聚焦控制值存储器35中设置唯一的判定标志，在记录时对该判定标志进行记录操作，在再现时读出判定标志，判定是否有效。在上述判定结果为有效的情况下，在Focus存储器读取和Focus台控制（134）中，对聚焦控制值存储器35进行读取后，将该读出的数据作为Focus台14的控制值输入。接着，为了测量记录介质10与拾取器16的距离，使测量光源发光（135），在测量和Focus误差计算（137）中，计算聚焦高度测量值与目标聚焦高度的误差值。进行作为上述误差量的判定处理的Err（误差）判定处理（138），例如在聚焦高度从0.8mm±10μm偏离的情况下，进行Focus台驱动（136）。在Focus台14反映了聚焦控制值存储器35的数据的情况下，由于记录时的聚焦高度在再现时能够大致重现，因此能够省略上述Focus台调整动作（137）、（138）、（136），或者能够在短时间内完成Focus台14的调整。

将聚焦高度设定在目标值范围内后，执行Focus台锁定控制（139），在上述设定的状态下将控制值保持在固定值。完成Focus台锁定后，执行再现处理（140）。

接着，在图11（b）中说明聚焦控制值存储器35的无效化动作。在取出记录介质并再次装入的情况下，记录介质与电机12的旋转轴的装配状态发生改变。因此，无法将聚焦控制值存储器35的信息用作Focus台14的控制值。于是，需要在取出记录介质时使聚焦控制值存储器35的数据无效。在实施取出记录介质的操作（141）后，使聚焦控制值存储器无效化（142）并弹出记录介质（143）。

通过以上的实施例2，在记录时使记录介质的位置坐标信息与聚焦高度调整后的Focus台14的控制值对应并存储起来，通过对应再现时的再现位置坐标，读出上述存储的Focus台14的控制值，将该控制值反映到Focus台14上，能够减少重复的聚焦高度的调整动作，在短时间内进行聚焦高度调整。

本发明并不限定于上述的实施例，而是包含了各种变形例。例如，上述实施例是为了对本发明易懂地说明而进行的详细说明，并非限定必须具备所说明的全部的结构。例如测量聚焦高度的光源可以与拾取器16独立地配置。此外，测量聚焦高度的方法可以不限定于光学系统方式而使用其它测量方法。此外，对于与聚焦高度无关的拾取器16与记录介质10的姿势，例如倾斜，也可以进行同样的处理。并且，能够将某实施例的结构的一部分替换成其他实施例的结构。并且在某实施例中能够添加其他实施例的结构。

Claims (10)

1.一种光信息记录装置，使信号光与参考光发生干涉而形成干涉条纹记录在记录介质中，其特征在于，包括：

第一激光光源，出射第一激光；

信号光光学系统，从所述第一激光形成信号光并使其入射到记录介质；

参考光光学系统，从所述第一激光形成参考光并使其入射到所述记录介质；

第二激光光源，出射与所述第一激光不同波长的第二激光；

测量光光学系统，从所述第二激光形成测量光并使其入射到所述记录介质；

受光部，接收入射到所述记录介质的所述测量光的反射光；

检测部，基于所述受光部的受光信号，检测所述记录介质在聚焦方向上的高度；

聚焦调整部，调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离；和

控制部，根据由所述检测部检测出的所述记录介质的聚焦方向上的高度，对所述聚焦调整部进行控制，以调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离。

2.一种光信息记录装置，使信号光与参考光发生干涉而形成干涉条纹记录在记录介质中，其特征在于，包括：

第一激光光源，出射第一激光；

信号光光学系统，从所述第一激光形成信号光并使其入射到记录介质；

参考光光学系统，从所述第一激光形成参考光并使其入射到所述记录介质；

第二激光光源，出射与所述第一激光不同波长的第二激光；

第三激光光源，出射与所述第一激光不同波长的第三激光；

第一测量光光学系统，从所述第二激光形成第一测量光并使其入射到所述记录介质；

第二测量光光学系统，从所述第三激光形成第二测量光并使其入射到所述记录介质；

第一受光部，接收入射到所述记录介质的所述第一测量光的反射光；

第二受光部，接收入射到所述记录介质的所述第二测量光的反射光；

检测部，基于所述第一受光部的受光信号和所述第二受光部的受光信号，检测所述记录介质的聚焦方向上的高度；

聚焦调整部，调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离；和

控制部，根据由所述检测部检测出的所述记录介质在聚焦方向上的高度，对所述聚焦调整部进行控制，以调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离。

3.如权利要求1或2所述的光信息记录装置，其特征在于，还包括：

存储部，用于存储在所述记录介质上记录信息时的所述记录介质的位置信息和关于由所述聚焦调整部进行了调整的所述距离的信息，

所述控制部根据从所述存储部读取的所述位置信息和关于所述距离的信息，对所述聚焦调整部进行控制，以调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离。

4.如权利要求3所述的光信息记录装置，其特征在于，还包括：

将所述记录介质从所述光信息记录装置中排出的介质排出部，

所述控制部，在所述记录介质被所述介质排出部从所述光信息记录装置排出后，使存储在所述存储部中的所述位置信息和关于所述距离的信息无效，根据由所述检测部检测出的所述记录介质在聚焦方向上的高度，对所述聚焦调整部进行控制，以调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离。

5.如权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述测量光光学系统使所述测量光入射到所述信号光在所述记录介质上的入射位置。

6.如权利要求2所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述第一和第二测量光光学系统使所述第一和第二测量光入射到所述信号光在所述记录介质上的入射位置。

7.如权利要求1所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述测量光光学系统和所述信号光光学系统被独立地配置，使得各光学系统的光路中所述测量光的光路和所述信号光的光路不重合。

8.如权利要求1或2所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述聚焦调整部通过在聚焦高度方向上驱动所述记录介质，来调整所述信号光光学系统的物镜与所述记录介质的相对距离。

9.如权利要求1或2所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述检测部基于在所述记录介质的表面上反射的所述测量光的受光信号，检测所述记录介质在聚焦方向上的高度。

10.如权利要求1或2所述的光信息记录装置，其特征在于：

所述检测部基于在相对于所述记录介质的表面比记录层更靠内侧的层上反射的所述测量光的受光信号，检测所述记录介质在聚焦方向上的高度。

Images