CN101819804B - 信号品质评价装置、信号品质评价方法和信息记录介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种在使用全息照相记录技术的装置中，信号品质的评价指标及余量设计所需的信号品质评价方法。在从再现信号得到的On像点和Off像点的亮度值分布中，将标准偏差的平方和的平方根除以平均值的差量得到的值做为评价指标。

Description

信号品质评价装置、信号品质评价方法和信息记录介质

技术领域

本发明涉及一种使用全息照相对光信息记录介质记录信息及/或从光信息记录介质再现信息的装置。

背景技术

以往，根据采用了蓝紫色半导体激光的蓝光盘(Blu-ray Disc：BD)规格，即使在民用领域中，具有50GB左右的记录密度的光盘的商品化也成为可能。今后，光盘也有望大容量化至与100GB～1TB等硬盘(HDD：Hard Disc Drive)容量同程度。

但是，为了用光盘来实现这样的超高密度，就需要一种与短波长化和高NA(数值孔径)物镜的高密度化技术不同的新方式的高密度化技术。

关于下一代记录技术的研究正在进行中，利用全息照相记录数字信息的全息照相记录技术备受关注。全息照相技术是指，将通过空间光调制器进行了二维调制得到的具有页数据信息的信号光在记录介质内部与参照光重合，通过此时产生的干涉条纹图案在记录介质内发生折射率调制，由此在记录介质中记录信息的技术。

在信息再现时，在对记录介质中照射记录时使用的参照光时，被记录于记录介质中的全息照相如衍射格子那样作用而产生折射光。该折射光包含已记录的信号光和相位信息作为同一种光被再现。

再现的信号光使用CMOS或CCD等光检测器被二维高速地检测。这样，全息照相记录技术中，能够通过一个全息照相对光记录介质一次记录二维信息，进而再现该信息，而且，由于能够在有记录介质的某个重复写入多个页数据，故而能够实现大容量且高速的信息记录再现。

但是，在制造采用这样的全息照相记录技术的装置或信息记录介质时，为判断装置的记录性能或再现性能和信息记录介质的性能是否充分，需要信号品质评价方法。

信号品质的评价方法有SNR(信噪比：Signal to Noise Ratio)和BER(误码率：Bit Error Rate)。

在全息照相记录技术中，SNR一般采用非专利文献1中记载的定义。在此，在再现的页数据中On像点(pixel)和Off像点的亮度值分布中，设标准偏差分别为σ_on、σ_off，平均值分别为μ_on、μ_off，则SNR表示为：

【公式5】

$\mathrm{SNR}=\frac{{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{on}}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{off}}}{\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{on}}}^2+{{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{off}}}^2}}$

另外，BER是表示相对于记录数据再现的信号的位错误的比率的评价指标，例如专利文献1中记载有根据On像点和Off像点计算BER的方法。

专利文献1：日本专利特开2008-97688号

非专利文献1：志村努主编的《全息照相记录器的系统和材料》

发明内容

在进行采用了全息照相记录技术的装置或介质的开发时，为综合判断性能，信号品质的评价指标和采用其评价指标的余量设计是必要的。为进行余量设计，需要使用附加了各干扰时的信号品质能够计算出对系统同时附加了多种干扰时的信号品质。原因在于，考虑多个干扰种类时，测定的组合数庞大，现实中不能测定其全部。

BD等现有光盘驱动器中，利用抖晃(jitter)作为信号品质的评价指标，另外，为进行余量设计，采用抖晃的平方和的平方根。抖晃是对信号时间方向的误差定义的指标，由于全息照相存储器中一并取回信号作为二维数据，因此，不能同样定义评价指标。

采用现有的信号品质评价指标即SNR及BER时，存在的课题为：虽然附加了单一干扰时的信号品质能够评价，但对系统同时附加了多种干扰时的信号品质，评价指标没有加法性，因此，很难根据附加了各干扰时的信号品质来预测。

因此，本发明的目的在于，提供一种在使用全息照相记录技术的装置中信号品质评价指标及余量设计所需的信号品质评价方法。

本发明的目的可如下解决，在作为其一例从再现信号得到的On像点和Off像点的亮度值分布中，将标准偏差的平方和的平方根除以平均值的差量得到的值作为评价指标。

根据本发明，可提供能够评价通过全息照相记录技术记录的数据的信号品质，且能够通过附加了各干扰时的信号品质测定结果计算出同时附加了多种干扰时的信号品质的信号品质评价装置、信号品质评价方法以及信息记录介质。

附图说明

图1是表示光信息记录再现装置的实施例的概要图；

图2是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图；

图3是表示信号品质评价指标计算电路的实施例的概要图；

图4是表示信号品质评价指标计算的动作流程的概要图；

图5是表示噪声量定义的概要图；

图6是表示光信息记录再现装置的动作流程的实施例的概要图。

符号说明

1...光信息记录介质、10...光信息记录再现装置、11...拾取器、

12...相位共轭光学系统、13...盘固化光学系统、

14...盘旋转角度检测用光学系统、50...旋转马达、

81...存取控制电路、82...光源驱动电路、83...伺服信号生成电路、

84...伺服控制电路、85...信号处理电路、86...信号生成电路、

87...快门控制电路、88...盘旋转马达控制电路、

89...控制器、201...光源、202...准直透镜、203...快门、

204...光学元件、205...偏振光分束器、

206...信号光、207...偏振光分束器、208...空间光调制器、

209...光束扩展器、210...中继透镜、

211...相位掩模、212...中继透镜、

213...空间滤光器、214...反射镜、215...反射镜、

216...反射镜、217...致动器、218...光检测器、

219...透镜、220...透镜、221...反射镜、222...致动器、

223...参照光、224...偏振光方向变换元件、225...物镜、

301...逻辑值辨别电路、302...标准偏差计算电路、

303...平均值计算电路

304...标准偏差计算电路、305...平均值计算电路、

306...信号品质评价指标计算电路

具体实施方式

下面，对本发明的实施例进行说明。

结合附图对本发明的实施例进行说明。图1是表示利用全息照相术记录及/或再现数字信息的光信息记录介质的记录再现装置的框图。

光信息记录再现装置10具有：拾取器11、相位共轭光学系统12、盘固化光学系统13、盘旋转角度检测用光学系统14、及旋转马达50，光信息记录介质1的结构是通过旋转马达50可以旋转。

拾取器11起到向光信息记录介质1发射参照光和信号光，利用全息照相术在记录介质上记录数字信息的作用。此时，记录的信息信号通过控制器89经由信号生成电路86被送入拾取器11内的空间光调制器，通过空间光调制器对信号光进行调制。

再现光信息记录介质1中记录的信息时，在相位共轭光学系统12生成从拾取器11发射的参照光的相位共轭光。这里，相位共轭光是指与输入光保持同一波面且向其逆方向前进的光波。由拾取器11内的后述的光检测器对通过相位共轭光再现的再现光进行检测，通过信号处理电路85再现信号。

向光信息记录介质1照射的参照光和信号光的照射时间，可以通过利用控制器89经由快门控制电路87控制拾取器11内的快门开关时间来进行调整。

盘固化(cure)光学系统13起到生成用于光信息记录介质1的前固化(Pre Cure)和后固化(Post Cure)的光束的作用。前固化是指在光信息记录介质1内的希望的位置记录信息时，向希望位置照射参照光和信号光之前，预先照射规定的光束的前期工序。后固化是指在光信息记录介质1内的希望的位置记录信息之后，为使不能再对该希望位置进行追记，而照射规定的光束的后期工序。

盘旋转角度检测用光学系统14被用于检测光信息记录介质1的旋转角度。在以规定的旋转角度调整光信息记录介质1时，可通过盘旋转角度检测用光学系统14检测对应旋转角度的信号，利用检测出的信号通过控制器89，经由盘旋转马达控制电路88控制光信息记录介质1的旋转角度。

从光源驱动电路82向拾取器11、盘固化光学系统13、盘旋转角度检测用光学系统14内的光源供给规定的光源驱动电流，从各光源能够以规定的光量发出光束。

另外，拾取器11、以及盘固化光学系统13，设置有能够在光信息记录介质1的半径方向进行位置滑动的机构，通过存取控制电路81进行位置控制。

但是，利用全息照相术的记录技术是一种能够记录超高密度的信息的技术，因此，存在对于例如光信息记录介质1的倾斜及位置偏离容许误差极小的倾向。

因此，在拾取器11内设置对例如光信息记录介质1的倾斜及位置偏离等容许误差小的偏离原因的偏离量进行检测的机构，通过伺服信号生成电路83生成伺服控制用信号，也可以在光信息记录再现装置10内装备用于经由伺服控制电路84修正该偏离量的伺服机构。

另外，拾取器11、盘固化光学系统13、盘旋转角度检测用光学系统14也可以将几个光学系统结构或者全部光学系统结构汇总简化。

图2表示光信息记录再现装置10中的拾取器11的光学系统结构的一例。从光源201出射的光束透过准直透镜202，入射到快门(shutter)203。快门203打开时，光束通过快门203后，通过由例如二分之一波长板等构成的光学元件204，控制偏振光的方向，以使P偏振光和S偏振光的光量比成为希望的比例，然后入射到PBS(偏振光分束器：Polarization Beam Splitter)棱镜205中。

透过PBS棱镜205的光束，在由光束扩展器209将光束直径扩大后，透过相位掩模211、中继透镜210、以及PBS棱镜207入射到空间光调制器208。

由空间光调制器208附加了信息后的信号光束，在PBS棱镜207上反射，在中继透镜212及空间滤光器213传播。其后，信号光束通过物镜225汇聚在光信息记录介质1上。

另一方面，由PBS棱镜205反射的光束作为参照光束起作用，通过偏振光方向变换元件224根据记录时或再现时沿规定的偏振光方向设定后，经由反射镜214及反射镜215入射到检流镜(galvanometermirror)216。由于检流镜216能够利用致动器217调整角度，因此能够将通过透镜219和透镜220后入射到信息记录介质1的参照光束的入射角度设定为希望的角度。

如上所述，使信号光束和参照光束在光信息记录介质1中相互重合地入射，在记录介质内形成干涉条纹图案，通过在记录介质中写入该图案来记录信息。另外，为了能够改变通过检流镜216入射到光信息记录介质1的参照光束的入射角度，可以进行多重角度的记录。

对已记录的信息进行再现时，如上所述向光信息记录介质1中入射参照光束，透过光信息记录介质1的光束由检流镜221反射，由此生成其相位共轭光。

由该相位共轭光再现的再现光束在物镜225、中继透镜212及空间滤光器213中传播。其后，再现光束透过PBS棱镜207入射到光检测器218，能够对已记录的信号进行再现。

图3表示计算信号品质评价指标的电路结构之一例。例如可以包含于光信息记录再现装置10中的信号处理电路85中。图4是关于信号品质评价动作的流程图。下面，结合图3和图4对信号品质评价指标的计算电路的动作进行说明。

在步骤S401中，再现全息照相，由拾取器11中的光检测器218检测出二维页数据的再现信号。

在步骤S402中，上述再现信号被输入至逻辑值辨别电路301，在页数据中按顺序辨别作为第一逻辑值的On像点和作为第二逻辑值的Off像点。

在步骤S403中，计算与上述第一逻辑值和上述第二逻辑值对应的标准偏差及平均值。即，被辨别为第一逻辑值的信号被输入到标准偏差计算电路302及平均值计算电路303，分别计算出亮度值的标准偏差σ1和亮度值的平均值μl。另一方面，被辨别为第二逻辑值的信号被输入到标准偏差计算电路304及平均值计算电路305，分别计算出亮度值的标准偏差σ2和亮度值的平均值μ2。

在步骤S404中，计算信号品质评价指标。即，在302～305中分别计算出的值，在信号品质评价指标计算电路306中用如下公式6来计算，能够评价信号品质。

【公式6】

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_1}^2+{{\mathrm{\σ}}_2}^2}}{{\mathrm{\μ}}_1-{\mathrm{\μ}}_2}$

另外，关于公式6中的分子，不使用标准偏差平方和的平方根，而使用替换为标准偏差的和的下面的公式7，也同样可以评价信号品质。

【公式7】

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{{\mathrm{\σ}}_1+{\mathrm{\σ}}_2}{{\mathrm{\μ}}_1-{\mathrm{\μ}}_2}$

公式7与公式6相比，由于省略了平方和及平方根的计算处理，因此，虽然缺乏严谨性，但具有能够削减电路规模、降低成本的效果。

接下来，通过公式6说明能够评价信号品质的理由。

图5是将利用光信息记录再现装置10中的光检测器318检测的二维页数据的再现信号表示为灰度信息分布的例子。记录时即使是由第一逻辑值On和第二逻辑值Off这两个值记录的数据，因为受到盘噪声及光检测器的放大器噪声等的影响，故而遍及页数据整体取得On像点和Off像点的亮度信息的分布时，如图5所示，成为分别具有偏差的数据。

将On像点的个数设置为n_on、Off像点的个数设置为n_off、二维页数据内的第i个On像点的亮度设置为X_{on_i}(i＝1、2、...、n_on)、第i个Off像点的亮度设置为X_{off_i}(i＝、2、...、n_off)、On像点的标准偏差设置为σ_on、Off像点的标准偏差设置为σ_off、On像点的平均值设置为μ_on、Off像点的平均值设置为μ_off时，通过标准偏差计算电路302及304计算出的标准偏差σ_on、σ_off分别以下面的公式8和公式9来表示。

【公式8】

${\mathrm{\σ}}_{\mathrm{on}}=\sqrt{\frac{1}{n_{\mathrm{on}}}\underset{i=1}{\overset{n_{\mathrm{on}}}{\mathrm{\Σ}}}{(x_{\mathrm{on}\_i}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{on}})}^2}$

【公式9】

${\mathrm{\σ}}_{\mathrm{off}}=\sqrt{\frac{1}{n_{\mathrm{off}}}\underset{i=1}{\overset{n_{\mathrm{off}}}{\mathrm{\Σ}}}{(x_{\mathrm{off}\_i}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{off}})}^2}$

由于该标准偏差为亮度值的RMS值，故而可以作为噪声量来考虑。

由于因干扰改变信号振幅，如下面的公式10、公式11所示，噪声量即公式8、公式9以信号振幅，即μ_on-μ_off来标准化。

【公式10】

${{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{on}}}^{\′}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{on}}}{{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{on}}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{off}}}$

【公式11】

${{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{off}}}^{\′}=\frac{{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{off}}}{{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{on}}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{off}}}$

通过公式10、公式11，可以分别评价On像点、Off像点的信号品质，但On像点和Off像点的信号品质的表现各异，而难于处理。由于公式8、公式9为RMS值，因此，通过平方和的平方根进行加法计算，如下面公式12所示定义噪声。本发明中将由公式12表示的噪声量σ称作标准化噪声。

【公式12】

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{on}}}^2+{{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{off}}}^2}}{{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{on}}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{off}}}$

公式12是在公式6中用下标On替代下标1、用下标Off替代下标2的表现，与公式6是等效的。以上，对通过公式6能够评价信号品质的理由进行了说明。

另外，在标准偏差计算电路302及304中，代替公式8及公式9，例如下面的公式13及公式14所示，替换成实际被看做标准偏差的数字，同样可以评价信号品质。

【公式13】

${\mathrm{\σ}}_{\mathrm{on}}=\frac{1}{n_{\mathrm{on}}}\underset{i=1}{\overset{n_{\mathrm{on}}}{\mathrm{\Σ}}}|x_{\mathrm{on}\_i}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{on}}|$

【公式14】

${\mathrm{\σ}}_{\mathrm{off}}=\frac{1}{n_{\mathrm{off}}}\underset{i=1}{\overset{n_{\mathrm{off}}}{\mathrm{\Σ}}}|x_{\mathrm{off}\_i}-{\mathrm{\μ}}_{\mathrm{off}}|$

公式13及公式14与公式8及公式9相比，省略了二乘和及平方根的计算处理，因此，虽然缺乏严谨性，但具有能够削减电路规模、降低成本的效果。

另外，为计算标准化噪声，使用二维页数据内的全部像点信息进行了说明，但用页内一部分像点信息同样可以计算出标准化噪声。

为进行余量设计，需要评价综合附加多个干扰时的信号品质劣化，但它们全部组合的数很庞大，对全部进行测定是不现实的。因此，就从相对于各干扰的测定结果计算同时附加多个干扰时的标准化噪声的方法进行说明。

在系统中，即使是没有干扰地获得最佳SNR的状态，在光学系统、电气系、盘等中，由于存在信号品质劣化因素，故而标准化噪声σ不会为0。将在这样的规定条件下的信号品质称作固定噪声，将该固定噪声设置为σ₀′。与之相对，通过各干扰X_i(i＝1、2、...、n)产生的标准化噪声设置为σ_i(x_i)′(i＝1、2、...、n)，复合附加了干扰时的标准化噪声认为是可以通过平方和的平方根进行加法计算，由下面的公式15表示。

【公式15】

$\mathrm{\σ}{(x_1,x_2,...,x_n)}^{\′}=\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}+\underset{i=1}{\overset{n}{\mathrm{\Σ}}}{\mathrm{\σ}}_i{\left(x_i\right)}^{\′2}}$

因此，在施加某一个干扰X_j并进行测定时，若将其他干扰X_i(i≠j)设为0，由于σ_i(x_i)′＝0(i≠j)，故而公式15可表示如下。

【公式16】

$\mathrm{\σ}{(x_1,x_2,...,x_n)}^{\′}=\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}+{\mathrm{\σ}}_j{\left(x_j\right)}^{\′2}}$

由此，干扰X_j导致的信号品质劣化程度由下面的公式17表示。

【公式17】

${\mathrm{\σ}}_j{\left(x_j\right)}^{\′}=\sqrt{\mathrm{\σ}{(x_1,x_2,...,x_n)}^{\′2}-{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}}$

公式17表示的是，即使是包含固定噪声的标准化噪声的测定，也能够计算相对于各种干扰的纯粹的标准化噪声。

在实际的余量设计中，通过公式17测定并计算对于各种干扰的标准化噪声，根据公式15计算同时附加了各种干扰时的标准化噪声即可。若同时附加了各种干扰时的标准化噪声若在系统内为可容许的等级，则公式17中施加的各种干扰的误差量干扰x_j可作为容许误差来估计。

图6表示光信息记录再现装置10的记录、再现的动作流程。图6(a)表示在光信息记录再现装置10中插入光信息记录介质1后，直到记录及再现的准备结束的动作流程，图6(b)表示准备结束状态开始直到对光信息记录介质1记录信息的动作流程，图6(c)表示从准备结束状态直到对已记录在光信息记录介质1中的信息进行再现的动作流程。

如图6(a)所示，插入介质后，光信息记录再现装置10例如进行盘辨别，插入的介质是否为利用全息照相术进行记录或再现数字信息的介质。

盘辨别的结果是，若判断为利用全息照相术进行记录或再现数字信息的光信息记录介质，则光信息记录再现装置10读出设置于光信息记录介质中的控制数据，取得例如关于光信息记录介质的信息、例如有关记录及再现时各种设定条件的信息。读出控制数据后，进行对应于控制数据的各种调整或关于拾取器11的学习处理，光信息记录再现装置10结束记录或再现的准备。在此，学习处理中，也可以将标准化噪声作为评价指标进行各种调整。另外，通过预先在例如控制数据中记录标准化噪声信息，也可以读出该标准化噪声，将其设为用于调整的目标值。

从准备结束状态到记录信息为止的动作流程如图6(b)所示，首先接收记录的数据，并将对应该数据的信息送入拾取器11内的空间光调制器。

其后，按照能够在光信息记录介质中记录高品质的信息的方式，根据需要事先进行各种学习处理。在此，例如使记录条件发生变化，记录多个全息照相，在最佳再现条件下进行再现，测定各记录条件下的全息照相的标准化噪声，由此，也可以求得最佳的记录条件。

然后，重复查找动作和地址再现，并将拾取器11和盘固化光学系统13的位置配置在光信息记录介质的规定位置。

然后，利用从盘固化光学系统13射出的光束，前固化规定的领域，利用从拾取器11射出的参照光和信号光记录数据。记录数据后，根据需要效验数据，利用从盘固化光学系统13射出的光束进行后固化。

从准备结束状态到再现所记录的信息位置的动作流程如图6(c)所示，按照能够从光信息记录介质再现高品质的信息的方式，根据需要事先进行各种学习处理。在此，例如使再现条件发生变化，进行全息照相的再现，测定各再现条件下的标准化噪声，由此，能够求得最佳再现条件。然后，重复查找动作及地址再现，同时，将拾取器11配置在光信息记录介质的规定位置。其后，从拾取器11射出再现光，读出光信息记录介质中记录的信息。

如以上所说明，根据本发明的信号品质评价装置，在从再现信号得到的On像点和Off像点的亮度值分布中，标准偏差的平方和的平方根除以平均值的差量得到的值作为评价指标，由此，能够评价全息照相的信号品质，且能够通过附加了各干扰时的信号品质测定结果计算出同时附加了复合的干扰时的信号品质。

另外，到此为止主要是对利用多重角度方式的全息照相记录技术的情况进行了说明，但即使是将信号光和参照光同轴配置的同轴方式等其它的全息照相记录技术，只要是处理二维页数据的方式，则同样可以适用本发明的效果。另外，并不限于全息照相记录技术，例如在QR码那样的其它再现方式中，只要是处理二维数据的方式，则也适用本发明。

另外，至此主要是对记录再现装置的情况进行了说明，但即使在再现装置的情况下，为调整再现条件，也可以适用本发明。

Claims (8)

1.一种信号品质评价装置，其特征在于，具备：

对光信息记录介质，从包含对应于第一逻辑值和第二逻辑值的信息的再现信号中，辨别对应于所述第一逻辑值的第一再现信号和对应于所述第二逻辑值的第二再现信号的单元；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₂的单元；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的平均值μ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的平均值μ₂的单元；和

根据公式1，

[公式1]

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_1}^2+{{\mathrm{\σ}}_2}^2}}{{\mathrm{\μ}}_1-{\mathrm{\μ}}_2}$

计算所述再现信号的信号品质σ′的单元。

2.一种信号品质评价装置，其特征在于，具备：

对光信息记录介质，从包含对应于第一逻辑值和第二逻辑值的信息的再现信号中，辨别对应于所述第一逻辑值的第一再现信号和对应于所述第二逻辑值的第二再现信号的单元；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₂的单元；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的平均值μ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的平均值μ₂的单元；和

根据公式2，

[公式2]

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{{\mathrm{\σ}}_1+{\mathrm{\σ}}_2}{{\mathrm{\μ}}_1-{\mathrm{\μ}}_2}$

计算所述再现信号的信号品质σ′的单元。

3.一种信号品质评价装置，其特征在于，具备：

在设通过权利要求1或2所述的信号品质评价装置评价出的规定条件下的信号品质为σ₀′，

在该条件下被施加了干扰i时的所述信号品质为σ′时，

根据公式3，

[公式3]

${{\mathrm{\σ}}_i}^{\′}=\sqrt{{\mathrm{\σ}}^{\′2}-{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}}$

计算因干扰i导致的信号品质劣化程度σ_i′的单元。

4.一种信号品质评价装置，其特征在于，具备：

当存在n种干扰时，使用权利要求3所述的信号品质评价装置，分别计算仅被施加了第i种干扰时的所述信号品质劣化程度σ_i′，其中i＝1、2、3、...、n，

并根据公式4，

[公式4]

${{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{total}}}^{\′}=\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}+\underset{i=1}{\overset{n}{\mathrm{\Σ}}}{{\mathrm{\σ}}_i}^{\′2}}$

计算复合地施加了n种干扰时的信号品质σ_total′的单元。

5.一种信号品质评价方法，其特征在于，包括：

对光信息记录介质，在对包含对应于第一逻辑值和第二逻辑值的信息的再现信号的信号品质进行评价时，

辨别对应于所述第一逻辑值的第一再现信号和对应于所述第二逻辑值的第二再现信号的步骤；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₂的步骤；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的平均值μ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的平均值μ₂的步骤；

根据公式1，

[公式1]

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_1}^2+{{\mathrm{\σ}}_2}^2}}{{\mathrm{\μ}}_1-{\mathrm{\μ}}_2}$

计算所述再现信号的信号品质σ′的步骤。

6.一种信号品质评价方法，其特征在于，包括：

对光信息记录介质，在对包含对应于第一逻辑值和第二逻辑值的信息的再现信号的信号品质进行评价时，

辨别对应于所述第一逻辑值的第一再现信号和对应于所述第二逻辑值的第二再现信号的步骤；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的标准偏差σ₂的步骤；

计算所述第一再现信号的亮度值分布的平均值μ₁和所述第二再现信号的亮度值分布的平均值μ₂的步骤；

根据公式2，

[公式2]

${\mathrm{\σ}}^{\′}=\frac{{\mathrm{\σ}}_1+{\mathrm{\σ}}_2}{{\mathrm{\μ}}_1-{\mathrm{\μ}}_2}$

计算所述再现信号的信号品质σ′的步骤。

7.一种信号品质评价方法，其特征在于，具备：

在设通过权利要求5或权利要求6所述的信号品质评价方法评价出的在规定条件下的信号品质为σ₀′，

在该条件下被施加了干扰i时的所述信号品质为σ′时，

根据公式3，

[公式3]

${{\mathrm{\σ}}_i}^{\′}=\sqrt{{\mathrm{\σ}}^{\′2}-{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}}$

计算因干扰i导致的信号品质劣化程度σ_i′的步骤。

8.一种信号品质评价方法，其特征在于，具备：

当存在n种干扰时，使用权利要求7所述的信号品质评价方法，分别计算仅被施加了第i种干扰时的所述信号品质σ_i′，其中i＝1、2、3、...、n，

并根据公式4，

[公式4]

${{\mathrm{\σ}}_{\mathrm{total}}}^{\′}=\sqrt{{{\mathrm{\σ}}_0}^{\′2}+\underset{i=1}{\overset{n}{\mathrm{\Σ}}}{{\mathrm{\σ}}_i}^{\′2}}$

计算复合地施加了n种干扰时的信号品质σ_total′的步骤。

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