JPH05325187A

JPH05325187A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JPH05325187A
Application number: JP15867692A
Authority: JP
Inventors: Tetsuo Yokoyama; 哲男横山
Original assignee: Kuraray Co Ltd
Current assignee: Kuraray Co Ltd
Priority date: 1992-05-25
Filing date: 1992-05-25
Publication date: 1993-12-10

Abstract

(57)【要約】【目的】情報の消去もしくは記録動作と同時に、光デ
ィスクの欠陥を検出し、必要に応じて記録位置を変更す
ることにより、記録情報を確実に保証し、且つ、記録動
作を短時間で行う光ディスク装置を提供する。【構成】光ビーム４ａの光ディスク１による反射光４
ｂを受光し、その和信号を欠陥検出回路１９に入力して
欠陥を検査する。その検査出力に基づいて、検査箇所が
使用可能か否かを判定し、使用可能な箇所のみを使用す
る。これにより、記録もしくは消去動作後の再生確認す
ることなく、記録情報を保証できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクの欠陥を検
知し、記録箇所が使用可能か否かを判定する機能を有し
た光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】通常、光ディスクは、その出荷時に情報
の記録、再生、消去に対する検査が行われ、欠陥の程度
が所定の基準以下に納まるように品質管理される。しか
しながら、光ディスクを記録媒体として用いる光ディス
ク装置は、一般の室内を含めて様々な環境下で使用さ
れ、しかも、ハードディスク装置のような密閉型ではな
く、使用する度に光ディスクを装脱着するので、場合に
よっては数か月も経たない内に、光ディスクの表面に大
小様々な塵埃が付着したり、扱い方によっては、表面が
傷ついてしまうことがある。また、装置の動作中には、
光ディスクが回転機構によって回転されているので帯電
しやすく、塵埃が付着し易い状態にある。一方、カート
リッジタイプの光ディスクでは、非使用時にはケースに
よって保護されているが、装置内に装填されている時
は、アクセスのために窓部が開口され、光ディスクが一
部露出するので、装置内の塵埃等によって汚染されるこ
とがある。このように、光ディスク装置は、光ディスク
が汚染されたり損傷し易く、外乱の影響を受けやすい構
造となっている。

【０００３】光ディスク装置では、光学ヘッドから出射
された光ビームが、光ディスクの透明基板を透過して記
録面へ照射されるので、この透明基板の表面に、レーザ
光の進入を妨げたり、歪めたりする塵埃や傷などのよう
な障害物があると、光ビームの実効出力が局部的に低下
し、適正な記録、再生、もしくは消去動作が行えず、デ
ータエラーが発生することがある。また、使用環境が高
温多湿な状況であれば、光ディスク自体の劣化による障
害が生じることもある。このため、従来の装置では、記
録情報の信頼性を保証するために、記録及び消去動作の
直後に、情報を再生して正誤判定を行い、正確に記録も
しくは消去できたか否かを確認している。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一般に
光ディスク装置は、ハードディスク装置等の磁気ディス
ク装置に比べて、ディスクの回転速度が遅く、且つ、光
学ヘッドが重いなどの理由により、アクセスやデータ転
送速度に時間がかかる。さらに、オーバーライト型のも
の以外は、一回の情報記録のためには、消去と記録の２
つの処理を行う必要があり、磁気ディスク装置のように
同時に消去及び記録することができない。その上、上記
のように、消去、記録に続いて再生動作を行っていたの
では、さらに処理速度が遅くなるので、高速な動作を要
求される装置では、上記のような再生確認動作を省くこ
とがあるが、この場合には、記録情報の内容を確実に保
証することができない。

【０００５】本発明は、このような問題を解決するため
になされたものであり、情報の消去もしくは記録動作と
同時に、光ディスクの欠陥を検出し、必要に応じて記録
位置を変更することにより、記録情報を確実に保証し、
且つ、記録動作を短時間で行う光ディスク装置を提供す
ることを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、ディスクに光ビームを照射して情報を記
録、再生、消去する光ディスク装置において、情報の記
録もしくは消去動作中に、光ビームのディスクによる反
射光を受光してディスクの欠陥の状態を検査する欠陥検
査手段と、その欠陥検査手段の出力に基づいてディスク
上の記録箇所が使用可能か否かを判定する判定手段とを
備えたものである。

【０００７】

【作用】上記の構成により、光ビームを照射して情報の
記録もしくは消去動作を行うと同時に、欠陥検査手段に
よってディスクによる光ビームの反射光を受光してディ
スクの欠陥を検査する。その検査出力に基づいて、ディ
スク上の記録箇所が使用可能か否かを判定手段によって
判定し、使用可能な箇所のみを使用する。これにより、
記録もしくは消去動作後の再生確認することなく、記録
情報を保証することができる。

【０００８】

【実施例】以下に、本発明の一実施例を図面を参照して
説明する。図１は、本実施例による光変調方式の光磁気
ディスク装置の基本構成図である。同図において、光磁
気ディスク１は、図示しない回転機構に支持されてい
る。このディスク１の上方には、外部磁界を発生するた
めの磁気ヘッド２が、また、ディスク１の下方には、光
ビーム４ａによってディスク１に光学的にアクセスする
光学ヘッド３が、それぞれ設けられている。

【０００９】光学ヘッド３には、光ビーム４ａを出射す
る半導体レーザ５、その光ビーム４ａを平行なビームに
整形するレンズ６とディスク１上に集光するための対物
レンズ７、ディスク１による反射光４ｂの進路を変える
ためのビームスプリッタ８，９、反射光４ｂを２つの偏
光成分４ｄ，４ｅに分別する偏光ビームスプリッタ１
０、反射光４ｂからの分岐光４ｃを受けるサーボ用光検
出器１１や信号処理用の光検出器１２，１３、及び、そ
れらの光検出器にそれぞれ光４ｃ，４ｄ，４ｅを集光す
るレンズ１４，１５，１６が配設されている。また、光
検出器１２，１３は、減算アンプ１７、加算アンプ１８
に接続されており、さらに、加算アンプ１８は欠陥検出
回路１９に接続されている。この欠陥検出回路１９は、
コンパレータ２０及びカウンタ２１により構成されてい
る。

【００１０】上記の構成による欠陥の検出及び判定動作
について述べる。磁気ヘッド２から発生された外部磁界
の作用下で、半導体レーザ５から出射されたレーザ光
が、レンズ６によって平行な光ビーム４ａに整形され、
ビームスプリッタ８を透過した後、対物レンズ７によっ
てディスク１の記録面上に集光される。そして、光ビー
ム４ａのディスク１による反射光４ｂは、対物レンズ７
によって往路と同様の平行光に戻されて光学ヘッド３内
に入射し、ビームスプリッタ８に反射して、その進路を
直角方向に導かれる。さらに、次にあるビームスプリッ
タ９によって、反射光４ｂから光４ｃが分岐され、その
光４ｃは、レンズ１４を介してサーボ用光検出器１１に
受光されてフォーカシングやトラッキングの制御に用い
られる。

【００１１】続いて、反射光４ｂは、偏光ビームスプリ
ッタ１０によって２つの偏光成分の光４ｄ，４ｅに分け
られ、それぞれレンズ１５，１６を介して光検出器１
２，１３に受光される。光検出器１２，１３は、光４
ｄ，４ｅの強度に応じた受光信号を出力し、その出力信
号が、アンプ１７，１８にて、それぞれ減算及び加算さ
れ、減算アンプ１７からは差動信号Ａ、加算アンプ１８
からは和信号Ｂが生成される。２つの信号のうち、差動
信号Ａは記録や再生時に用いられるので、本実施例で
は、和信号Ｂを用いてディスク１の欠陥を検出するよう
にした。光磁気ディスクに限らず、光ディスクの欠陥の
ほとんどのものは、光の反射率の変化として観測できる
ので、前記和信号に基づいて判定することにより、欠陥
を検出することが可能である。ここで適用したような、
反射率の変化に基づいてディスクの欠陥を検出する方法
は、既に数多く提案されている一般的なものである。

【００１２】図２（ａ）は和信号Ｂの出力例であり、同
図（ｂ）は、その和信号Ｂを受けたコンパレータ２０か
ら出力される欠陥パルス信号（後述）の波形図である。
前述したように、ディスク１に欠陥があると、その反射
率が変化するため、和信号Ｂは、グランドレベルよりも
高い、もしくは、低いレベルで出力される。従って、実
際のデータエラーの発生タイミングと欠陥が有ることを
表す信号、すなわち欠陥パルス信号とが対応するよう
に、予め、コンパレータ２０に、適切な検出レベルを設
定しておけば、和信号Ｂに基づいて欠陥の有無を検出す
ることができる。例えば、同図（ａ）に示すように、検
出レベルをＬ１に設定した場合は、和信号Ｂがグランド
レベルからレベルＬ１の範囲を越えた時間Ｔ１，Ｔ２，
Ｔ２に、欠陥パルス信号を生成する。そして、欠陥パル
ス信号が示す欠陥長、欠陥位置、欠陥数を、カウンタ２
１によって測定し、その測定結果を、予め設定しておい
た誤り検出基準と照合することにより、検査したディス
ク１の記録箇所が使用可能であるか否かを判定すること
ができる。

【００１３】以上に説明したように、光磁気ディスク装
置において、情報を記録する前の消去動作中に、光検出
器１２，１３の和信号Ｂの出力レベルを検知することに
より、ディスク１の欠陥を検査することができ、必要に
応じて、欠陥箇所へ情報を記録する動作を中断したり、
他の記録箇所へ記録するように変更することにより、障
害発生を防止し、処理の無駄を省くことが可能となる。
また、予め、記録箇所を検査してから記録するので、記
録後に再生確認することなく記録情報を保証することが
できる。

【００１４】なお、本実施例では、光変調方式の光磁気
ディスク装置を例にしたが、これに限らず、磁界変調方
式や、他の光ディスク装置であっても、一定出力の光ビ
ームを用いて記録する場合には、同様に、和信号の出力
レベルに基づいてディスクの欠陥を検知することができ
る。さらに、欠陥検出に用いる信号は、和信号に限ら
ず、ディスクの反射率の変化を検知できるものであれ
ば、他の出力信号を用いてもよく、また、欠陥検出のタ
イミングも記録動作の直前に限るものではない。

【００１５】

【発明の効果】以上のように本発明の光ディスク装置に
よれば、情報の記録もしくは消去中に、ディスクの記録
箇所の欠陥を検査することにより、記録情報を再生確認
することなく、その内容を保証することが可能となる。
また、必要に応じて、欠陥箇所へ情報を記録する動作を
中断したり、他の記録箇所へ記録するように変更するこ
とにより、処理の無駄を省くことができ、装置の処理能
力を向上させ、有効稼働率が高められる。さらに、従来
の装置では、記録情報の信頼性と処理速度とは、相反す
るものであったが、本発明により、これらを両立させる
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光磁気ディスク装置の
基本構成図である。

【図２】（ａ）は光検出器の和信号、（ｂ）は欠陥パル
ス信号の波形図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスク３光学ヘッド４ａ光ビーム４ｂ光ビームの反射光４ｃ，４ｄ，４ｅ反射光の分岐光１２光検出器１３光検出器１８加算アンプ１９欠陥検出回路２０コンパレータ２１カウンタ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ディスクに光ビームを照射して情報を記
録、再生、消去する光ディスク装置において、情報の記
録もしくは消去動作中に、前記光ビームの該ディスクに
よる反射光を受光して該ディスクの欠陥の状態を検査す
る欠陥検査手段と、その欠陥検査手段の出力に基づいて
該ディスク上の記録箇所が使用可能か否かを判定する判
定手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。