CN101479614B - 高频测量装置，校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法 - Google Patents

高频测量装置，校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101479614B
CN101479614B CN2007800239646A CN200780023964A CN101479614B CN 101479614 B CN101479614 B CN 101479614B CN 2007800239646 A CN2007800239646 A CN 2007800239646A CN 200780023964 A CN200780023964 A CN 200780023964A CN 101479614 B CN101479614 B CN 101479614B
Authority
CN
China
Prior art keywords
measuring
coupling position
frequency
coupling
electrical lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2007800239646A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101479614A (zh
Inventor
T·赛尔德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG
Original Assignee
Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG filed Critical Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG
Publication of CN101479614A publication Critical patent/CN101479614A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101479614B publication Critical patent/CN101479614B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
    • G01R27/32—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Cash Registers Or Receiving Machines (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)

Abstract

本发明涉及校准具有N个测试端口的高频测量装置的方法。对于HF测量装置的至少一个端口，在至少三个相互间隔的耦合位置处耦出在第二电导线上传送的HF信号，并且对于此至少三个耦合位置中的每个成对组合用采用散射参数是已知的至少一个校准标准件作为测量对象的预定的校准方法对于HF测试信号的至少一个频率确定一个散射参数，其中在HF测试信号的一个频率下对所有成对组合所确定的至少一个散射参数的值与已知校准标准件的该至少一个散射参数值进行比较，并且这样的耦合位置成对组合作为对该频率测量未知测量对象时优选采用的第一和第二耦合位置被存储，在此组合下所确定的散射参数值与已知的校准标准件散射参数之间的差别最小。

Description

高频测量装置,校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法
本发明涉及一种用于校准具有N个测试端口的高频测量装置(HF测量装置)的方法，其中N是大于等于1的整数，特别是涉及校准矢量网络分析仪的方法，用于借助n端口测量确定测量对象的散射参数，其中n是大于等于1的整数，其中高频测试信号(HF测试信号)被馈入到与测量对象或者与包含该测量对象的电路相连接的第一电导线中，其中对于每个端口，由与此测量对象相连接的第二电导线、尤其是平面导线在第一耦合位置处以及在与第一耦合位置相隔一定距离的第二耦合位置处耦出经过第二电导线传送的高频信号(HF信号)，其中由每个端口中的两个从这两个耦合位置处耦出的HF信号分别按每个测量位置或耦合位置相对于第二电导线上朝测量对象传送的HF信号的和第二电导线上离开测量对象的HF信号的HF测试信号确定幅度和/或相位，并由此计算出测量对象的散射参数，如权利要求1的前述部分所述。
本发明还涉及一种用于借助于具有N个测试端口、其中N是大于等于1的整数的高频测量装置(HF测量装置)通过n端口测量、其中n是大于等于1的整数确定测量对象的散射参数的方法，其中高频测试信号(HF测试信号)被馈入到与测量对象或者与包含该测量对象的电路相连接的第一电导线中，其中对于每个端口，由与此测量对象相连接的第二电导线、尤其是平面导线在第一耦合位置处以及在与第一耦合位置相隔一定距离的第二耦合位置处耦出经过第二电导线传送的高频信号(HF信号)，其中由每个端口中的两个在这两个耦合位置处耦出的HF信号分别按每个测量位置或耦合位置相对于第二电导线上朝测量对象传送的HF信号的和第二电导线上离开测量对象前进的HF信号的HF测试信号确定幅度和/或相位，并由此计算出测量对象的散射参数，如权利要求12的前述部分所述。
本发明最后还涉及一种用于确定测量对象的散射参数的HF测量装置，特别是矢量网络分析仪，它具有N个测试端口，其中N是大于等于1的整数，并具有HF测试信号源，它可连接到与测量对象相连接的第一电导线，如权利要求17的前述部分所述。
DE10308280A1公开了一种用于校准HF测量装置的方法，用于确定散射参数的方法和这种HF测量装置。在开发由多个子电路组成的复杂平面微波电路时对每个子电路分开地确定其散射参数是有益的。这样可以独立地分析和检查不同子电路的效率。这可以有利地用无接触测量方法实现。借助于无接触测量探头，平面电传输线上待测测量对象(DUT即Device Under Test)之前和之后的部分复信号能量被耦出并传送到接收机。然后由这个耦出的信号计算出散射参数。然而，这种测量系统的系统动态特性很大程度上依赖于两个无接触测量探头之间的距离。因此这种测量系统只能用于窄的频带中。
本发明的目的在于给出一种上述类型的方法和HF测量装置，它们能够在大的带宽上改善测量精度。
按照本发明，上述任务由具有权利要求1所述特征的上述类型的校准方法、具有权利要求12所述特征的上述类型的用于确定散射参数的方法以及具有权利要求17所述特征的上述类型的HF测量装置完成。其它权利要求描述了本发明具有优点的实施例。
按照本发明，在上述类型的校正方法中，对于HF测量装置的至少一个端口，在至少三个相互间隔开的耦合位置处耦出在第二电导线上传送的HF信号，其中对于所述至少三个耦合位置的每对组合，用以散射参数是已知的至少一种校准标准件作为测量对象的预定的校准方法对HF测试信号的至少一个频率确定至少一个散射参数，其中对于所有的成对组合，在HF测试信号的一个频率下确定的至少一个散射参数值与校准标准件的已知的至少一个散射参数值进行比较，其中这样的耦合位置成对组合作为对该频率测量未知测量对象时优选采用的第一和第二测量位置被存储，在这样的耦合位置组合下所确定的散射参数值与校准标准件的已知的散射参数之间的差别最小。
上述方法的优点在于，得到了更优的宽带测量动态特性，因为用于测量散射参数的第一和第二耦合位置总是如此从三个或更多的现有耦合位置中选出，使得测量值偏离实际值最小，即测量误差被尽可能减小。
例如采用校准标准件“短路件(short)”、“开路件(open)”和“负载(load)”的SOL方法或者8项方法或12项方法或多端口校准方法被用作校准方法。作为替代，SOLT，LLR，TRM，TAN，TLN或LNN方法也可用作校准方法。
为了实现测量对测量对象的电特性的影响尽可能小，在耦合位置处HF信号的耦合最好是无接触的，例如电容式耦合或电感式耦合，或者同时采用电容式和电感式耦合，或者借助于电子光学的测量方法、借助于力显微镜或借助于电磁测量方法实现。按照本发明，用来确定电磁波幅度和相位的各种无接触和/或有接触的方法都是适用的。
可以通过简单的方法获得另一个附加耦合位置：例如从第二电导线由至少两个耦合位置耦出的HF信号借助于至少一种数学运算和/或至少一种算法被合并到一起，得到一个HF信号，特别是通过相加或相减来合并，然后在这个测试端口处被传输至进一步的后续信号处理。
在一个示例性的实施方式中应用一个测量探头，它被顺序地放置在耦合位置处。
在另一个替代实施方式中，每个测试端口应用两个或更多个、尤其是数目与耦合位置数相对应的测量探头。
为了在对未知测量对象进行测量时进行后续的误差分析，在校准时测量探头之间的数学关系被确定并被存储。
按照本发明，在上述类型的测量方法中，对于HF测试信号的每一频率，在前面所述校准方法中针对该频率所存储的耦合位置成对组合被选择作为第一和第二耦合位置。
此测量方法的优点在于，对于大的带宽提高了测量精度。
测量结果精度的进一步改善可以如此实现：对于HF测试信号的每一频率，除了应用已存储的耦合位置成对组合确定散射参数外，还用一个或多个耦合位置成对组合进行散射参数的确定，这些耦合位置成对组合在按权利要求1至11中至少一项所述的校准方法中具有的被确定散射参数值与已知校准标准件散射参数之间的差别仅比所存储的耦合位置成对组合大，其中根据对于HF测试信号的一个频率所确定的相应散射参数的所有值，计算出针对该相应散射参数的平均值。这样减小了例如由于相对于进行校准时错误定位的耦合位置引起的测量误差的影响。
为了检测有缺陷的测量探头，在对未知测量对象测量时，在校准时所确定的多个测量探头之间的数学关系被重新确定并与在校准时所得到的值进行比较，并且根据其区别识别有缺陷的测量探头。
按照本发明，在上述类型的HF测量装置中，对于至少一个测试端口设置了至少三个相互间隔开的耦合位置，用于耦出在与测量对象相连接的第二电导体、尤其是平面导线上传送的HF信号。
上述HF测量装置的优点在于，对于每次测量可以选择相应的耦合位置对，此位置对具有小的测量误差。
在一个优选的实施方式中，对于每一耦合位置设置了一个独立的、放置在相应耦合位置处的测量探头。
在另一个作为替代的实施方式中，对于每个测试端口设置了一个单个的测量探头和用于把测量探头移动到耦合位置的装置。
在另一个作为替代的实施方式中，对于每个测试端口设置了一定数量的测量探头，其数目大于等于2并小于等于耦合位置数减1，其中此HF测量装置具有至少一个用于把至少一个测量探头移动到不同耦合位置的装置。
例如至少一个测量探头被构造成无接触的或有接触的测量探头。
在一个优选的实施方式中，至少一个测量探头被结构成电容式耦合或电感式耦合，或者同时采用电容式和电感式耦合，或者借助于电光学方法，或者借助于力显微镜或借助于电磁测量方法实现耦出。
下面借助附图详细说明本发明。附图中：
图1示出根据本发明的单端口测量的仿真模型，
图2示出对不同的耦合位置对的系统动态特性曲线，
图3示出在根据本发明的系统校准之后的系统动态特性曲线，
图4示出根据本发明的具有两端口矢量网络分析仪的HF测量装置的第一优选实施方式的简要电路图，以及
图5示出根据本发明的具有四端口矢量网络分析仪的HF测量装置的第二优选实施方式的简要电路图。
图1所示的本发明所述单端口测量的仿真模型包括信号源10，它将功率电平为1dBm的HF测试信号馈送到无损50Ω传输线形式的电导线12中。在三个耦合位置14，16，18处的无接触的、在本例中为电容式耦合通过三个理想的电容器20，22，24表示。在耦合位置14，16，18处的电容式耦合只是作为示例。也可以应用电感式耦合，或者应用电容式耦合与电感式耦合的混合或其它耦合方式。耦出的电压在以测量位置m126，m228和m330形式表示的接收机处借助于50Ω系统被确定。高斯白噪声(WGN，即White Gaussian Noise)发生器32在测量位置m126，m228和m330后面通过已知的方式以典型的-118dBm和50Ω耦入。测量对象34，也称作DUT(Device Under Test)与电导线12相连接。第一耦合位置14与第二耦合位置16之间的电导线12的第一段36具有长度l1，第二耦合位置16与第三耦合位置18之间的电导线12的第二段38具有长度l2，且第三耦合位置18与测量对象34之间的电导线12的第三段40具有长度l3。例如电导线12的上述段36，38具有长度l1＝22mm和l2＝78mm，即第一和第二耦合位置14，16之间的间距值为22mm，第二和第三耦合位置16，18之间的间距值为78mm，这样对于第一和第三耦合位置14，18之间的间距，得到电导线12的长度为l1+l2＝100mm。在附图标记52处进行常规的校准，例如SOL校准。在附图标记54处进行HF测量装置的其它校准，如下面所述：
首先对耦合位置14，16，18中的三种可能的成对组合中的每一种组合用50Ω标准负载(“load”)、短路标准件(“short”)和开路标准件(“open”)进行常规的SOL校准。这仅仅是示例，也可以应用其它的校准方法。接着对于耦合位置14，16，18中的每种成对组合，针对50Ω标准校准负载确定散射参数S11的值。这也仅仅是示例，也可以用其它散射参数和其它校准标准件。重要的是对于作为DUT应用的校准标准件，所测得的散射参数的期望值是已知的。在上述情况下，“标准负载”作为DUT，|S11|以dB为单位表示的值应有尽可能低的数值，因为在理想情况下在“标准负载”上不出现反射。
图2是对同一个电容式测量探头在测量位置14，16，18处用50Ω标准校准负载(“load”)作为DUT时得到的曲线，垂直轴42表示仿真得到的散射参数|S11|，单位为dB(等效于测得的散射参数)，水平轴44表示频率，以GHz为单位。此图代表仿真得到的系统动态特性。图中第一根曲线46为应用第一和第二耦合位置14，16时，即对于测量位置m126和m228，|S11|分贝值与频率的关系曲线，第二根曲线48为应用第二和第三耦合位置16，18时，即对于测量位置m228和m330，|S11|分贝值与频率的关系曲线，以及第三根曲线50为应用第一和第三耦合位置14，18时，即对于测量位置m126和m330，|S11|分贝值与频率的关系曲线。在耦合位置14，16和18之间的间距l1和l2如此选择，使得曲线46，48和50的最大值位置不重叠。为了校准此系统，现在对每一个频率点确定相应的耦合位置14，16，18成对组合，对于此成对组合散射参数|S11|分贝值与|S11|的期望分贝值之间有最小的间距，即最小的差值。这些耦合位置对作为对相应频率点的优选耦合位置对被存储，并且在以后测量未知的测量对象或DUT时应用于相应的频率点。此方法在后面被称作“差异性校准”。相应地在52中进行SOL校准，在54中进行差异性校准。总体上用55表示DSOL校准，即差异性SOL校准。
图3示出由上述差异性校准(仿真)得到的系统动态特性。垂直轴42表示散射参数|S11|，单位为dB，水平轴44表示频率，以GHz为单位。可以明显地看到，经过差异性校准，系统动态特性在原来较差的频率处得到大大的改善。通过有效地选择耦合位置14，16和18的间距可以在6.8GHz处获得70dB的增益。此外差异性校准导致测量设备可用频率范围的扩展。
图4举例示出根据本发明的基于两端口矢量网络分析仪56的HF测量装置的第一优选实施方式。两端口矢量网络分析仪56包括用于产生HF测试信号的信号源，第一开关58和四个测量位置m160，m262，m364和m466，每个测试端口对应两个测量位置。第一开关58有选择性地将信号源10与位于前面和后面的平面导线68，70形式的电导线相连接，平面导线68，70以不同侧引至DUT34，使得测试信号可在DUT34的前面和后面被耦入。为了在两端口矢量网络分析仪56内部耦出电导线12上的前向波和反向波，测量位置m160，m262，m364和m466与两端口矢量网络分析仪56的内部结构的连接是分开的。而第一和第二测量位置m160，m262通过第二开关72与分配给两端口矢量网络分析仪56的第一个端口的5个测量探头74可选地连接，使得测量探头74中的一个与第一测量位置m160相连接，测量探头74中的另一个与第二测量位置m262相连接。类似地，设置了第三开关76，它有选择性地将分配给两端口矢量网络分析仪56的第二个端口的另外5个测量探头78与第三和第四测量位置m364，m466相连接，使得测量探头78中的一个与第三测量位置m364相连接，而测量探头78中的另一个与第四测量位置m466相连接。开关72，76以及测量探头74，78分别设置在一个基片80上。分配给两端口矢量网络分析仪56的第一个端口的测量探头74被放置在前面的平面导线68附近，以便在不同的耦合位置处从前面的平面导线68耦出HF信号，而分配给两端口矢量网络分析仪56的第二个端口的测量探头78被放置在后面的平面导线70附近，以便在不同的耦合位置处从后面的平面导线70耦出HF信号。开关72，76实现对耦合位置成对配置的选择，测量探头74和78位于这些耦合位置处。控制装置82，特别是计算机，控制两端口矢量网络分析仪56，并通过电压源84控制开关72和76。
图5举例示出根据本发明的基于四端口矢量网络分析仪90的HF测量装置的第二优选实施方式。四端口矢量网络分析仪90包括用于产生HF测试信号的信号源10，第一开关58和8个测量位置m192，m294，m396，m498，m5100，m6102，m7104和m8106，每个测试端口对应两个测试位置。前4个测量位置m192，m294，m396和m498分别与测量探头74中的一个相连接，这些测量探头被设置在前面的平面导线68处的耦合位置处。另外四个测量位置m5100，m6102，m7104和m8106分别与测量探头78中的一个相连接，这些测量探头被设置在后面的平面导线70处的耦合位置处。通过应用这八个测量位置m192，m294，m396，m498，m5100，m6102，m7104和m8106，可以省去图4所示实施方式中的第二和第三开关。这里耦合位置对或每两个测量探头74或78的选择在四端口矢量网络分析仪90内部实现，即差异性校准在网络分析仪中进行。
每个测量端口应用多于两个的测量探头显示了无接触网络分析方法的改进。通过增加测量探头所获得的冗余被用来改善动态特性，从而可形成宽带的测量系统。为此在进行差异性校准时对每种可能的测量探头组合进行一次常规的校准。在此校准之后，在被校准的参考阻抗、例如标准负载或校准线上反过来针对每个探头成对组合进行测量。由校准的测试结果可以推断出动态特性。在程序内部现在针对每个频率点比较每种测量探头组合的动态范围。分别选择出具有最大的测量动态特性的探头对。对于每个频率点选出的探头对被存储在存储器中，并被用于未知测量对象的测量。
此外在无接触差异性测量系统中也可选用其它的优化标准，例如为了提高测量精度而利用附加的探头对组合的冗余性。例如在其中多个测量探头对具有相近动态特性的频率范围中，针对一次测量的测量探头测量结果被平均。这样减小了例如由测量探头错误定位这样的测量误差造成的影响。
此外冗余性可用来识别有缺陷的或错误定位的测量探头。如果一个有缺陷的探头被识别出来，它可以通过电子方式被排除不再用于测量，或者可以把故障情况呈现给用户。为了检测出有缺陷的测量探头，例如在校准时确定测量探头之间的数学关系。然后在每次测量未知测量对象时检查是否符合此数学关系。
测量探头的实施方式是任意的。探头可以实现为平面的或三维的，其中探头不必须是相同的。具有不同耦合形式的测量探头可以被组合使用。为了结构紧凑，最好采用在基片上的平面设计。
一个耦合位置也可以理解为多个探头的组合(例如两个探头测量位置的合成)。对于每一个频率点，选择例如在动态特性、测量精度等方面最适合于测量使用的探头对。这种选择在反过来测量已知标准件、例如标准负载时进行。

Claims (24)

1.一种用于校准具有N个测试端口的高频测量装置的方法，其中N是大于等于1的整数，用来通过n端口测量确定测量对象的散射参数，其中n是大于等于1的整数，其中高频测试信号被馈入与测量对象或者与包含该测量对象的电路相连接的第一电导线中，其中对于每个端口，在第一耦合位置处并在与第一耦合位置相隔一定距离的第二耦合位置处从与测量对象相连接的第二电导线耦出在第二电导线上传送的高频信号，其中由每个端口中的两个在这两个耦合位置处耦出的高频信号分别按每个测量位置或耦合位置相对于第二电导线上朝测量对象前进的高频信号和第二电导线上离开测量对象前进的高频信号的高频测试信号确定幅度和/或相位，并由此计算出测量对象的散射参数，其特征在于，对于高频测量装置的至少一个端口，在至少三个相互间隔一定距离的耦合位置处耦出在第二电导线上传送的高频信号，其中对于所述至少三个耦合位置中的每个成对组合，用以散射参数是已知的至少一种校准标准件作为测量对象的预定的校准方法对高频测试信号的至少一个频率确定至少一个散射参数，对于所有的成对组合，在高频测试信号的一个频率下确定的至少一个散射参数的值与校准标准件的已知的该至少一个散射参数的值进行比较，其中以下的耦合位置成对组合作为对该频率测量未知测量对象时优选采用的第一和第二测量位置被存储：即在这样的耦合位置组合下，所确定的散射参数的值与校准标准件的已知的散射参数之间的差值最小。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述高频测量装置是矢量网络分析仪。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二电导线是平面导线。
4.如以上权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，在耦合位置处高频信号的耦出无接触地实现。
5.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，在耦 合位置处高频信号的耦出是电容式耦合或电感式耦合，或者同时采用电容式和电感式耦合，或者借助于电光学测量方法、借助于力显微镜或借助于电磁测量方法实现。
6.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，从第二电导线由至少两个耦合位置耦出的高频信号还借助至少一种数学运算和/或至少一种算法被合并到一起得到一个高频信号，然后在这个测试端口被传输至进一步的信号处理。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，从第二电导线由至少两个耦合位置耦出的高频信号通过相加或相减被合并到一起得到一个高频信号。
8.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，使用一个测量探头，该测量探头顺序地被放置在多个耦合位置处。
9.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，每个测量端口使用两个或更多个测量探头。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，每个测量端口使用数目对应于耦合位置数量的测量探头。
11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，在校准时确定并存储测量探头之间的数学关系。
12.一种用于借助具有N个测试端口的高频测量装置确定测量对象的散射参数的方法，其中N是大于等于1的整数，所述高频测量装置按照权利要求1至8中至少一项所述方法被校准，其中采用n端口测量，n是大于等于1的整数，其中高频测试信号被馈入与测量对象或者与包含该测量对象的电路相连接的第一电导线中，其中对于每一端口，在与测试对象相连接的第二电导线的第一耦合位置处并在与第一耦合位置相隔一段距离的第二耦合位置处从第二电导线耦出在第二电导线上传送的高频信号，并且由每个端口中的两个在这两个耦合位置处耦出的高频信号分别按每个耦合位置相对于第二电导线上朝测量对象前进的高频信号和第二电导线上离开测量对象前进的高频信号的高频测试信号确定幅度和/或相位，并由此计算出测量对象的散射参 数，其特征在于，对于高频测试信号的每一频率，在如权利要求1至11中至少一项所述校准方法中为该频率所存储的耦合位置的成对组合被选择作为所述第一和第二耦合位置。
13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述高频测量装置是矢量网络分析仪。
14.如权利要求12或13所述的方法，其特征在于，所述第二电导线是平面导线。
15.如权利要求12至13中任一项所述的方法，其特征在于，对于高频测试信号的每个频率，除了应用所存储的耦合位置成对组合确定散射参数外，还用一个或多个耦合位置成对组合实现散射参数的确定，这些耦合位置成对组合在按照权利要求1至11中至少一项所述的校准中具有的被确定散射参数的值与校准标准件的已知的散射参数之间的差值仅比所存储的耦合位置成对组合大，其中根据对于相应的散射参数对高频测试信号的一个频率所确定的所有值计算相应散射参数的平均值。
16.如权利要求12至13中任一项所述的方法，其特征在于，在未知测量对象上测量时，在校准时所确定的多个测量探头之间的数学关系被重新确定并与校准时所得到的值进行比较，并且根据其区别识别有缺陷的测量探头。
17.一种用于确定测量对象的散射参数的高频测量装置，该测量装置具有N个测试端口，其中N是大于等于1的整数，并且具有用于产生高频测试信号的源(10)，此用于产生高频测试信号的源能够连接到与测量对象(34)相连接的第一电导线(12，68，70)，其特征在于，对于至少一个测试端口，设置了至少三个相互间隔的耦合位置(14，16，18)，用于耦出在与测量对象(34)相连接的第二电导线(12，68，70)上传送的高频信号。
18.如权利要求17所述的高频测量装置，其特征在于，对于每个耦合位置(14，16，18)，设置了一个独立的、设置在相应耦合位置处的测量探头(74，78)。 
19.如权利要求17所述的高频测量装置，其特征在于，对于每个测试端口，设置了一个单个的测量探头和用于把此测量探头移动到各耦合位置的装置。
20.如权利要求17所述的高频测量装置，其特征在于，对于每个测试端口，设置了一定数量的测量探头，其数量大于等于2并小于等于耦合位置数减1，其中所述高频测量装置具有至少一个用于把至少一个测量探头移动到不同耦合位置的装置。
21.如权利要求18至20中任一项所述的高频测量装置，其特征在于，至少一个测量探头(74，78)被构造成无接触的或有接触的。
22.如权利要求17至20中任一项所述的高频测量装置，其特征在于，所述高频测量装置是矢量网络分析仪。
23.如权利要求17至20中任一项所述的高频测量装置，其特征在于，所述第二电导线(12，68，70)是平面导线。
24.如权利要求17至20中任一项所述的高频测量装置，其特征在于，至少一个测量探头(74，78)被构造成电容式耦合的或电感式耦合的，或者采用同时电容式和电感式耦合，或者借助于电光学测量方法、借助于力显微镜或借助于电磁测量方法实现耦合。 
CN2007800239646A 2006-07-03 2007-06-19 高频测量装置，校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法 Active CN101479614B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006030630A DE102006030630B3 (de) 2006-07-03 2006-07-03 HF-Messvorrichtung, Verfahren zu deren Kalibrierung sowie Verfahren zum Bestimmen von Streuparametern mit dieser HF-Messvorrichtung
DE102006030630.9 2006-07-03
PCT/EP2007/005393 WO2008003399A1 (de) 2006-07-03 2007-06-19 Hf-messvorrichtung, verfahren zu deren kalibrierung sowie verfahren zum bestimmen von streuparametern mit dieser hf-messvorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101479614A CN101479614A (zh) 2009-07-08
CN101479614B true CN101479614B (zh) 2011-10-26

Family

ID=38508848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007800239646A Active CN101479614B (zh) 2006-07-03 2007-06-19 高频测量装置，校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法

Country Status (9)

Country Link
US (1) US8452565B2 (zh)
EP (1) EP2035843B1 (zh)
JP (1) JP5612306B2 (zh)
CN (1) CN101479614B (zh)
AT (1) ATE496309T1 (zh)
CA (1) CA2658101C (zh)
DE (2) DE102006030630B3 (zh)
HK (1) HK1131663A1 (zh)
WO (1) WO2008003399A1 (zh)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202008009469U1 (de) 2008-07-15 2008-09-11 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Messsonde
CN101782637B (zh) * 2010-03-16 2013-04-03 南京航空航天大学 基于电磁兼容分析与应用的射频电流探头特性校准方法
TWI463146B (zh) * 2010-11-10 2014-12-01 Univ Yuan Ze Radiofrequency Scattering Parameter Measurement and Correction Method
US8559885B2 (en) * 2011-04-14 2013-10-15 Accel Telecom Ltd. System and method for measurement of parameters of radio-frequency transmission devices
DE102012006314A1 (de) * 2012-03-28 2013-10-02 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Zeitbereichsmessverfahren mit Kalibrierung im Frequenzbereich
CN103048636B (zh) * 2012-12-21 2015-07-08 深圳深爱半导体股份有限公司 晶体管筛选仪校准装置
CN104977556B (zh) * 2015-06-30 2017-09-12 电子科技大学 基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法
CN105044642B (zh) * 2015-06-30 2017-10-31 电子科技大学 基于随机信号的平均波形捕获率测试方法
CN105093157B (zh) * 2015-09-08 2018-02-09 国家电网公司 基于iec61850采样值的参数算法的测试方法
CN105301367A (zh) * 2015-11-27 2016-02-03 南方电网科学研究院有限责任公司 二端口电力设备传输参数获取方法及系统
EP3495809A1 (en) 2017-12-05 2019-06-12 Airbus Helicopters A method for non-intrusively detecting imperfections in a test object
EP3495808A1 (en) 2017-12-05 2019-06-12 Airbus Helicopters A probe for non-intrusively detecting imperfections in a test object
CN111579559B (zh) * 2020-04-24 2023-05-12 北京现代汽车有限公司 电极头检测机的检测工装
KR102592534B1 (ko) * 2021-06-30 2023-10-24 한국표준과학연구원 산란계수 측정오차 보정 방법
EP4170332A1 (en) 2021-10-20 2023-04-26 Airbus Helicopters Apparatus and method for non-intrusively detecting imperfections in a test object
CN116593874B (zh) * 2023-07-17 2023-10-13 宁波吉品科技有限公司 芯片测试方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5608330A (en) * 1994-10-05 1997-03-04 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for calibrating a network analyzer according to the seven-term principle

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6529844B1 (en) * 1998-09-02 2003-03-04 Anritsu Company Vector network measurement system
US6300775B1 (en) * 1999-02-02 2001-10-09 Com Dev Limited Scattering parameter calibration system and method
US20030115008A1 (en) * 2001-12-18 2003-06-19 Yutaka Doi Test fixture with adjustable pitch for network measurement
JP3540797B2 (ja) * 2002-01-18 2004-07-07 利幸 矢加部 ７ポート型コリレータとその校正方法および７ポート型コリレータを用いたベクトル・ネットワーク・アナライザ装置
US6701265B2 (en) * 2002-03-05 2004-03-02 Tektronix, Inc. Calibration for vector network analyzer
DE10251551A1 (de) * 2002-11-05 2004-05-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Messen der Streuparameter eines Mehrtor-Meßobjektes mittels eines Mehrtor-Netzwerkanalysators mit nichtsinusförmigen Meßsignalen
US6882160B2 (en) * 2003-06-12 2005-04-19 Anritsu Company Methods and computer program products for full N-port vector network analyzer calibrations
US7362106B2 (en) * 2005-06-29 2008-04-22 Agilent Technologies, Inc. Methods and apparatus for non-contact testing and diagnosing of open connections on non-probed nodes
US7235982B1 (en) * 2006-03-31 2007-06-26 Agilent Technologies, Inc. Re-calculating S-parameter error terms after modification of a calibrated port

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5608330A (en) * 1994-10-05 1997-03-04 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for calibrating a network analyzer according to the seven-term principle

Also Published As

Publication number Publication date
EP2035843B1 (de) 2011-01-19
EP2035843A1 (de) 2009-03-18
CA2658101C (en) 2013-01-22
US8452565B2 (en) 2013-05-28
JP5612306B2 (ja) 2014-10-22
CA2658101A1 (en) 2008-01-10
JP2009541753A (ja) 2009-11-26
DE102006030630B3 (de) 2007-10-25
DE502007006317D1 (de) 2011-03-03
CN101479614A (zh) 2009-07-08
US20090319217A1 (en) 2009-12-24
HK1131663A1 (en) 2010-01-29
WO2008003399A1 (de) 2008-01-10
ATE496309T1 (de) 2011-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101479614B (zh) 高频测量装置，校准此装置的方法以及用此高频测量装置确定散射参数的方法
US6421624B1 (en) Multi-port device analysis apparatus and method and calibration method thereof
US6268735B1 (en) Noise source module for microwave test systems
US7532014B2 (en) LRL vector calibration to the end of the probe needles for non-standard probe cards for ATE RF testers
US5784299A (en) Method for measuring electronic devices under test with a network analyzer
US6397160B1 (en) Power sensor module for microwave test systems
US9291644B2 (en) Contactless measuring system for contactless decoupling of a signal running on a signal waveguide
US20080191712A1 (en) System, Device, and Method for Embedded S-Parameter Measurement
WO2010083152A1 (en) High frequency analysis of a device under test
CN112684253A (zh) 一种非接触式负载阻抗测试系统及其工作方法
US7375534B2 (en) Method and apparatus for measuring high-frequency electrical characteristics of electronic device, and method for calibrating apparatus for measuring high-frequency electrical characteristics
CN109633273B (zh) 一种用于开孔式负载阻抗测试系统及其方法
CN114755563A (zh) 射频封装芯片的测试系统及方法
Zelder et al. Contactless scattering parameter measurements
Ridler A review of existing national measurement standards for RF and microwave impedance parameters in the UK
JP2023547606A (ja) 伝導性信号試験における高周波（ｒｆ）信号プローブ不整合に起因したパワー損失について補償するシステム及び方法
Oppermann et al. Proof-of-concept of a method for Contactless Vector Network Analysis Using impedance probes
Horibe et al. $ S $-parameters of standard airlines whose connector is tightened with specified torque
Patel et al. Importance and estimation of mismatch uncertainty for RF parameters in calibration laboratories
Huang et al. A novel calibration algorithm with unknown line-series-shunt standards for broadband S-parameter measurements
Goldberg et al. Accurate experimental characterization of three-ports
US11855707B2 (en) System and method for measuring path loss of a conductive radio frequency (RF) test signal path
Votsi et al. An interferometric characterization technique for extreme impedance microwave devices
Ziadé et al. Impedance measurements up to 13 MHz
Zelder et al. Contactless electromagnetic measuring system using conventional calibration algorithms to determine scattering parameters

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: DE

Ref document number: 1131663

Country of ref document: HK

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: GR

Ref document number: 1131663

Country of ref document: HK