CN101460098A - X射线成像装置和用于校准x射线成像装置的设备和方法 - Google Patents

Abstract

描述了一种用于校准X射线成像装置的校准设备(140)，所述设备(140)包括：接收单元(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；分析单元(201)，其用于分析所获取的图像以得到增益校正信息；以及校准单元(202)，其用于基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。

Description

X射线成像装置和用于校准X射线成像装置的设备和方法

技术领域

本发明涉及用于校准X射线成像装置的校准设备。

而且，本发明涉及X射线成像装置。

此外，本发明涉及用于校准X射线成像装置的方法。

除此之外，本发明还涉及程序单元。

而且，本发明还涉及计算机可读介质。

背景技术

X射线成像在包括医疗应用、行李检测或材料科学的很多技术领域中很重要。

在过去的几年里，X射线行李检测已经从完全依赖于与操作员交互的简单X射线成像系统发展成为能够自动识别特定类型的材料并且在出现危险材料时引发警报的复杂自动系统。检测系统已经采用用于发射X射线的X射线辐射源，这些X射线透射通过接受检查的包裹到达探测器或者从接受检查的包裹散射到探测器。

校准X射线成像装置以提高精确性是有利的。

WO 2005/006257 A2公开了一种包括伪影消除装置的成像系统，其中将该伪影消除装置布置为校正三维重建体积中的环形伪影。该伪影消除装置包括第一级校正装置，将该第一校正装置布置为利用第一校正图像消除X射线成像装置的图像增强器的输出屏的结构噪声。该第一校正图像可以被预计算或存储在计算机的适当存储单元。首先用第一校正图像处理病人的原始图像。将如此获得的增益校正图像转送至图像变形校正工具，在该图像变形校正工具中预存储适当的扭曲校正(unwarping)函数。然后使所得到的增益校正的扭曲校正图像可用于第二级增益校正工具，在第二级增益校正工具中将第二校正图像应用于产生环形伪影基本减少的最后一组图像的图像。使该最后一组图像可用于图像重建工具，将该图像重建工具布置为进一步处理最后一组图像，为了检测目的将其结果显示在计算机监视器上。

然而，WO 2005/00657 A2的系统在非预期情况下可能会经受不足的增益校正能力的影响。

发明内容

本发明的目标是能够对X射线装置进行适当校准。

为了实现上述既定目标，提供了根据独立权利要求的用于校准X射线成像装置的校准设备、X射线成像装置、用于校准X射线成像装置的方法、程序单元和计算机可读介质。

根据本发明的示例性实施方式，提供了用于校准X射线成像装置的校准设备，该设备包括：接收单元，其用于接收由X射线成像装置的探测单元在参考条件下获取的图像；分析单元，其用于分析所获取的图像以得到增益校正信息；以及校准单元，其用于基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提供校准信息以便校准X射线成像装置。

根据本发明的另一示例性实施方式，提供了用于检测感兴趣对象的X射线成像装置，该X射线成像装置包括：X射线源，其用于发射X射线束到感兴趣对象；探测单元，其用于探测已传播通过感兴趣对象的X射线束；以及确定单元，其用于在考虑由具有上述特征的校准设备提供的校准信息的情况下确定关于感兴趣对象的结构信息。

根据本发明的又一示例性实施方式，提供了用于校准X射线成像装置的方法，该方法包括：接收由X射线成像装置的探测单元在参考条件下获取的图像；分析所获取的图像以得到增益校正信息；并且基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息，提供校准信息以校准X射线成像装置。

根据本发明的又一示例性实施方式，提供了计算机可读介质，其中存储了用于校准X射线成像装置的计算机程序，当处理器执行该计算机程序时，该计算机程序适合于控制或执行具有上述特征的方法。

根据本发明的又一示例性实施方式，提供了校准X射线成像装置的程序单元，当处理器执行该程序单元时，该程序单元适合于控制或执行具有上述特征的方法。

根据本发明实施方式执行的出于校准目的数据处理可通过以下方式实现：计算机程序，即通过软件；或使用一个或多个专用电子优化电路，即通过硬件；或以混合形式，即通过软件组件和硬件组件的方式。

根据示例性实施方式，可以以有效方式校准X射线成像装置。为此目的，可以应用比传统增益校正方案更不易失败的增益校正方案。具体地，当转动、旋转或移动基本二维的探测器时，可以有效抑制由于足跟效应补偿引起的伪影。

为此目的，在参考条件下接收图像是可能的，也就是说，在X射线束路径中没有感兴趣对象，整个探测器区域恒定暴露于X射线。换言之，参考测量可以在X射线源和探测器之间没有对象，或者在X射线源和探测器之间放置“中性”对象(例如均质材料制成的对象)。通过进行这样的测量，可以保证在有效探测区域内基本不会出现由在X射线束路径内的感兴趣对象引起的强度差。

然后分析单元关于不同增益校正贡献分析该参考图像，例如确定探测器增益特性的各个分量、旋转对称分量和由所谓的足跟效应引起的一维梯度。该分析包括执行计算机拟合以便参考对伪影的不同贡献的理论模型得到表示所获取的参考图像的拟合参数。

校准单元可基于该分析的一个或多个分量执行实际校准，但可选择性地忽视足跟效应贡献。通过进行该测量，可能出现的是，因未补偿的足跟效应而保持微弱强度分布。然而，在探测器旋转的情况下，忽略足跟效应补偿可以显著提高增益校正的精确性。

术语“足跟效应”(或阳极足跟效应)的起源在于X射线束强度贯穿其始终可能不均匀。例如，从靶区域以锥形发射X辐射，可能出现阳极方向的强度低于阴极方向的强度的情况。强度以这种方式变化的事实可能引起在探测到的频谱上产生的密度可见差异。可将这种现象称为足跟效应。

本发明的示例性实施方式可以通过以修正方式考虑足跟效应而允许对旋转的X射线探测器的改进的增益校正。具体来说，这一方案可以用于包括多个校正分量的平板CT增益校正。

在平板X射线探测器领域，执行“增益校正”是常见的。为此目的，可以得到均匀暴露的图像G_全并将其作为参考存储。利用这个增益参考划分所有后面的X射线图像。这一概念适于固定在系统中的方形探测器。利用该校正，不仅可以校正探测器增益，还可以同时校正来自几何因素的影响。

在几何条件不发生太大变化情况下，该方案是有利的。通常可以使具有矩形形状(各侧长度不同)的探测器相对于系统几何结构旋转，这会导致规则的增益校正问题。本发明的示例性实施方式涉及克服或抑制这些问题的过程。

G_全的详细分析显示三个分量：

-G_探测器：根据探测器硬件的探测器增益特性。该探测器增益特性会导致条纹状图案(参见图3)。

-G_半径：增益的旋转对称分量，其取决于SID(源像距离)和从图像中心起的半径。该分量可以提供r²项，也就是沿矩形或方形探测器元件的强度的径向分布，其中r可以是从探测器中心起的距离(参见图3)。

-G_足跟：由X射线管的“足跟效应”引起的一维梯度。这一贡献可能导致沿探测器元件的一个轴线的强度差，而该贡献沿第二维是基本恒定的(参见图3)。

“G_全”项可具体表示用于增益校准(平均)的均匀暴露的图像。G_全是每个像素一个数字的全分辨率矩阵。

G_半径可表示增益的旋转对称分量，其取决于SID(源像距离)和从图像中心起的半径。G_半径可以是由x和y确定的多项式。

G_足跟可表示根据X射线管的“足跟效应”的线性梯度。G_足跟可以是仅由y确定的多项式。

“G_探测器”项表示根据探测器硬件的探测器增益特性。G_探测器可以是由G_全/(G_半径·G_足跟)计算得出的全分辨率矩阵。

G_全可根据如下等式确定：

G_全＝G_探测器·G_半径·G_足跟

按照常规，可以通过采用该等式来执行对旋转探测器的增益校正G_全。

当原始增益参考校正基于从旋转了90度的探测器得到的图像时，足跟效应可能会导致明显的图像伪影。可以不考虑“新”足跟效应，并且增益校正根本不对其进行校正。相反，相反的“旧”足跟效应作为由底至顶的图案而被引入，其产生对角线方向的不均匀性。

根据本发明的示例性实施方式，不刻意执行足跟效应校正，也就是说仅执行探测器增益特性校正和/或旋转对称增益校正。

G_半径和G_足跟项可根据对(实验)G_全数据的(理论)拟合得到：

G_半径： $r(x,y)=r_1(x^2+y^2)+r_2\sqrt{x^2+y^2}+r_3,$ 其具有系数r₁，r₂，r₃，

G_足跟：h(y)＝h₁y⁵+h₂y⁴+h₃y³+h₄y²+h₅y+h₆。

原始足跟效应在增益校正之后被重新引入：

图5显示了真实足跟效应的示例性图像，仅图示说明由右至左的原始足跟效应。垂直的足跟效应已经不存在。在该示例中，仍校正依赖于半径的项。也有另一种跳过该校正的选择，结果仅校正由探测器确定的项。这将产生与关于CR影像板相似的校正概念，其也显示出未修改的X射线分布。

本发明的示例性实施方式可以具有关于校准基本不依赖于探测器的空间方位的优势。可以以相同方式执行任何方位，方位甚至可以不必是已知的(例如，在无线便携式X射线探测器的情况下)。

此外，经校正的图像可以显示出“真实X射线分布”，局部信号与局部X射线强度相关联。

除此之外，从平板探测器获取的图像看起来更类似从CR板获取的图像。

接着，将阐述本发明的更多示例性实施方式。下面，将进一步阐述校准设备的示例性实施方式。然而，这些实施方式也适用于X射线成像装置、校准X射线成像装置的方法、程序单元和计算机可读介质。

参考条件可以包括在基本均匀的X射线暴露的条件下获取图像。换言之，不在X射线辐射源和探测器之间提供会导致在探测器区域上的暗光图案的显著不均质的对象。与此相反，在X射线源和探测器之间不放置对象或放置对于对探测器的辐射暴露没有显著影响的均质参考对象。这会允许探测参考图案，该参考图案允许对增益校正贡献的分析。

分析单元可以适于在考虑由探测器单元的硬件特性引起的增益校正(G_探测器)、由旋转对称伪影引起的增益校正(G_半径)和由足跟效应引起的增益校正(G_足跟)组成的组中的至少一个的情况下得出增益校正信息。有利的是，分析单元可以考虑所有三个贡献，特别是在没有其他贡献的情况下。换言之，分析单元有可能分离只有这三个干扰效应的贡献。

此外，分析单元可以适于通过对所获取的图像拟合理论模型来得到增益校正信息。该计算机拟合可以基于最小二乘法拟合算法，以最小化所测得的频谱和所拟合的频谱之间的最小平方偏差。通过进行该测量，可以提取在理论模型背景中的增益校正的不同贡献的参数。

而且，校准单元可以适于基于在考虑由所述探测单元的硬件特性引起的增益校正(G_探测器)和由旋转对称伪影引起的增益校正(G_半径)的组中的至少一个的情况下所得到的增益校正信息，来提供校准信息。然而，校准单元可以忽略任何由足跟效应引起的贡献(G_足跟)，从而抑制由探测器运动(例如旋转)引起的伪影。根据示例性实施方式，可以考虑探测单元的硬件特性的影响和由于旋转对称伪影引起的增益校正以用于校准。根据另一示例性实施方式，仅考虑探测单元的硬件特性引起的增益校正，而忽略足跟效应和由旋转对称伪影引起的增益校正。

校准单元可以适于通过计算增益校正因子来提供校准信息，所述增益校正因子是通过将表示由探测单元的硬件特性引起的增益校正的增益校正因子和表示由旋转对称伪影的增益校正因子相乘而得到的。通过进行该测量，可以考虑这两个贡献，而选择性地忽略足跟效应。

校准单元可以适于通过计算由探测单元的硬件特性引起的增益校正的增益校正因子来提供校准信息。根据该实施方式，仅将探测单元的硬件特性用于增益校正，这允许以低计算负担得到相对良好的增益校正。

下面，将阐述X射线成像装置的更多示例性实施方式。然而，这些实施方式还应用于校准设备、校准方法、程序单元和计算机可读介质。

X射线成像装置可包括可旋转扫描架，其中将电磁辐射源(例如X射线管)和探测单元(例如具有二极管阵列的闪烁探测器或CCD摄像机)布置在扫描架上。因此扫描架可围绕感兴趣对象(例如患者或行李箱)旋转，并且可能任选地相对于旋转的扫描架平移对象(这取决于需要螺旋扫描还是圆周扫描)。还可能旋转安装在可旋转的扫描架上的探测单元，即围绕与可旋转扫描架的旋转轴不同的旋转轴旋转。这种可移动的探测器配置可以提高使用这种X射线成像装置的灵活性。采用根据本发明的示例性实施方式的增益校正方案，这种探测单元相对于扫描架的旋转是可能的，由于与传统系统相反，这种旋转不会在频谱内引入另外的伪影。

X射线成像装置可以适于作为计算机断层摄影装置。可以将计算机断层摄影装置表示为采用数字处理以根据绕单个轴的旋转得到的一系列二维X射线图像生成对象内部的三维图像的装置。可以通过应用适当算法来完成CT图像的重建。例如这种CT装置可以是CSCT(“相干散射计算机断层摄影”)装置。

X射线成像装置可以适于作为行李检测装置、医疗应用装置、材料检测装置和材料科学分析装置。然而，所有其他目的在本发明的范围内也是可能的。

探测器单元可以相对于电磁辐射源移动。换言之，此外或作为探测单元相对于扫描架的可旋转配置的替换，扫描架还可以相对于电磁辐射源旋转(例如采用平移和/或旋转运动)。根据本发明的示例性实施方式关于校准消除足跟效应能够抑制按常规由这种运动产生的伪影。

探测单元可以是矩形和非方形。虽然方形探测单元是可能的，但是可移动探测单元与矩形和非方形探测单元的组合是非常有利的，这是由于它可以提高系统的灵活形。

本发明上面限定的方面和其他方面根据下文描述的实施方式的示例将显而易见，并且通过参考这些实施方式的示例对其进行阐述。

附图说明

下面将参考实施方式的示例更详细地描述本发明，但本发明不限于此。

图1显示了根据本发明示例性实施方式的计算机断层摄影装置；

图2显示了根据本发明示例性实施方式的带有校准设备的细节的计算机断层摄影装置；

图3至图5图示说明了增益校正的不同贡献和相应的伪影；

图6显示了根据本发明示例性实施方式用于校准X射线成像装置的方法的方框图；

图7显示了在本发明的系统中实现的数据处理设备的示例性实施方式。

具体实施方式

附图的说明是示意性的。在不同附图中，为相似或相同元件提供相同的附图标记。

下面参考图1，将描述根据本发明的示例性实施方式的计算机断层摄影装置100。

图1中示出的计算机断层摄影装置100是扇束CT扫描仪。图1示出的扫描仪包括扫描架101，该扫描架101可绕旋转轴102旋转。该旋转架101由电机103驱动。附图标记104表示诸如X射线源的辐射源，根据本发明的一方面该辐射源可发射多色辐射或基本单色辐射。

附图标记105表示孔径系统，该孔径系统将从辐射源104发射的辐射束形成为扇形辐射束106。定向扇形束106以使其穿透布置在扫描架101中心(即扫描仪100的检测区域内)的感兴趣对象107，并且使其撞击到探测器108上。如可从图1得出的，将探测器108布置在扫描架101上与辐射源104相对的位置，从而使扇形束106覆盖探测器108的表面。图1示出的探测器108包括多个探测器元件123，每个探测器元件都能够以能量分解的方式探测透射通过感兴趣对象107的X射线。

在扫描感兴趣对象107的过程中，以箭头116所指示的方向沿扫描架101旋转辐射源104、孔径系统105和探测器108。为了和扫描架101一起旋转辐射源104、孔径系统105和探测器108，将电机103连接到电机控制单元117，将该电机控制单元117连接到计算或确定单元118。

在图1中，感兴趣对象107是一箱行李，其被设置在传送带上(未示出)。在扫描感兴趣对象107的过程中，当扫描架101围绕该箱行李107旋转时，传送带沿着与扫描架101的旋转轴102平行的方向移动感兴趣对象107。通过这样的方式，沿螺旋扫描路径扫描该感兴趣对象107。在扫描过程中也可以停止传送带，从而测量信号切片。例如在感兴趣对象107是患者的医疗应用中，可使用可移动患者床而不是提供传送带。然而，应注意的是，在所有描述的情况中，还可能执行圆周扫描，在圆周扫描中在与旋转轴102平行的方向上没有位移，而仅围绕旋转轴102旋转扫描架101。

如图1所示，本发明可被实现为扇束配置。为了产生初级扇束，将孔径系统105配置为狭缝准直器。

将探测器108连接到确定单元118。该确定单元118接收探测结果，即来自探测器108的探测器元件123的读出，并且基于这些读出确定扫描结果。此外，确定单元118与电机控制单元117相通信，以便协调扫描架101和电机103以及电机120和传送带的运动。

确定单元118可以适于利用断层摄影重建技术重建根据探测器108的读出的图像。显示单元130可以输出由计算单元118生成的重建图像。

确定单元118可由数据处理器实现，以处理来自探测器108的探测器元件123的读出。

此外，如从图1可得出的，可将确定单元118连接到扬声器121，以便例如当在该箱行李107中检测到可疑物时自动输出警报。

如进一步从图1得出的，提供校准设备140以校准X射线成像装置100。

将该校准设备140与确定单元118相耦合以进行数据通信，并且该校准设备140为确定单元118提供校准信息。用于确定感兴趣对象107的三维结构的确定单元118然后可以考虑由校准设备140提供的校准信息，从而提高确定图像的质量或精确性。

参考图2将更详细地阐述校准设备140的功能性，图2显示了X射线装置100的示意图。

用于校准X射线成像装置100的校准设备140包括接收单元200，其用于接收由X射线成像装置100的探测单元108在参考条件下获取的图像。参考条件包括在基本均匀的X射线暴露的条件下获取图像。换言之，该参考图像是在X射线管104和探测器108之间没有定位感兴趣对象107的情况下获取的，以获取“仅”包括如伪影或背景的干扰分量的参考图像。

该图像数据可由接收单元200预处理以将其变为分析单元201可解释的格式，该分析单元201用于分析所获取的图像以得到增益结构信息。分析单元201分析该参考图像并从该图像中提取不同增益校正起因的贡献，更具体地说，由探测单元108的硬件特性引起的增益校正贡献(G_探测器)、由旋转对称伪影引起的增益校正贡献(G_半径)以及由足跟效应引起的增益校正(G_足跟)。分析单元201可以为这些对所获取的参考图像的贡献中的每一种拟合理论模型，并且例如应用最小二乘法拟合(如Marquardt拟合)得到拟合参数。

将所提取的该增益校正的分量从分析单元201提供给校准单元202以基于所得到的忽略足跟效应的增益校正的增益校正信息生成校准信息，来对X射线成像装置100进行校准。换言之，由校准单元202计算的增益校准因子仅包括G_探测器分量和/或G_半径分量，而不考虑G_足跟分量。通过进行该测量，可以改进另外的伪影的引入，这些伪影源源于探测器108在例如与图2的纸平面垂直的平面内的旋转。

然后将所得到的增益校准信息从校准单元202提供给确定单元118，该确定单元118考虑所得到的增益校准信息来确定感兴趣对象107的具有高精确性的(真实)图像。可利用校准单元202所估计的增益参考划分所获取的在X射线管104和探测器108之间的射束路径中的对象107的这种X射线图像。

接下来，将更详细地阐述根据本发明的示例性实施方式的校准方案。

可以使用未修正的参考图像G_全以传统方式校正系统中的探测器。具有与参考相同的条件的X射线图像是完全平坦的，表示局部信号值处处相等。一些具有源像距离(SID)变化的伪影按常规是已知并可接受的。低于或高于校准值的管电压导致足跟效应的过补偿或欠补偿。

然而，如将考图4所示的成像板400阐述的，采用传统校正方案会出现关于旋转的探测器的问题。

当将原始增益参考G_全应用于从已旋转90度的探测器得到的图像时，足跟效应会导致明显的图像伪影。图4中由右至左的“新”的足跟效应未完全被增益校正所校正，相反，相反的“旧”足跟效应反而被引入，成为由底至顶的图案，这导致所校正的图像的对角线方向不均匀性(SID＝110厘米)。

参考图4的阐述显示了由于包括增益效应的方法按传统方式可能将伪影引入到校正过程。

对纵向和横向图像方位的独立校准是系统的选择。系统应知道探测器的方位并且选择适当的增益参考。然而这对于便携式探测器在自由暴露模式下是不适当的。

根据本发明的示例性实施方式，规则的增益参考图像G_全的详细分析显示了上述三个分量G_探测器、G_半径和G_足跟。下面的等式仍成立：

G_全＝G_探测器·G_半径·G_足跟

图3显示了所得到的增益图案300，其由探测器增益贡献G_探测器 301、r²项贡献G_半径 302和足跟效应项G_足跟 303的组合产生。

根据本发明的示例性实施方式，仅将G_探测器或G_探测器·G_半径的乘积用于校正或计算校准参数，而不用G_足跟。

在该过程中，不执行足跟效应校正。然而，首先定义模拟G_全的拟合函数。一种适当的选择是：

f(x，y)＝ay⁶+by⁵+cy⁴+dx³+ey³+fx²+gy²+hx+iy+j

可以从G_全数据的拟合得出G_半径和G_足跟项：

G_半径： $r(x,y)=r_1(x^2+y^2)+r_2\sqrt{x^2+y^2}+r_3,$ 具有系数r₁，r₂，r₃，

G_足跟：h(y)＝h₁y⁵+h₂y⁴+h₃y³+h₄y²+h₅y+h₆。

这在数学上相当于在规则的增益校正之后重新引入原始的增益效应

或仅校正特定的探测器项和半径项

图5的图解500显示了真实足跟效应。

图5的示例图像仅显示了由右至左的原始足跟效应。垂直的足跟效应已经不存在。在该示例中，仍然校正依赖于半径的项。也有跳过该校正的另一种选择，结果仅校正依赖于探测器的项。这将产生与关于CR成像板相似的校正概念，其也显示出未修改的X射线分布。

下面，参考图6，将阐述图示说明了根据本发明的示例性实施方式的校准方法的方框图600。

在该增益校准方案610中，获取增益参考图像615。然后如方框620所指示的，以传统方式估算该增益参考图像615，即通过考虑G_探测器、G_半径和G_足跟。然而，可替换地，如方框625所指示的，本发明的实施方式允许采用模型函数f(x，y)执行拟合。如方框630所指示的，该拟合的结果允许将频谱分解为三个分量。这允许区分探测器贡献G_探测器 635、半径贡献G_半径 640和足跟效应贡献G_足跟 645。

根据一种选择，如方框650所指示的，仅执行基于G_探测器的校正。作为替换，如方框655所指示的，执行考虑G_探测器和G_半径的校正。

图7示出了根据本发明的数据处理设备700的示例性实施方式，该数据处理设备700用于执行根据本发明的方法的示例性实施方式。

图7示出的数据处理设备700包括连接到存储器702的中央处理单元(CPU)或图像处理器701，该存储器702用于存储描绘感兴趣对象(如患者或行李箱)的图像或参考图像。数据处理器701可连接到多个输入/输出网络或诸如CT设备的诊断设备。数据处理器701可进一步连接到例如计算机监视器的显示设备703，用于显示在数据处理器701计算或修改的信息或图像。操作员或用户可以通过键盘704和/或其他输出设备(在图7中未示出)与数据处理器701交互。此外，通过总线系统705，还可能将图像处理和控制处理器701连接到例如运动监控器，该运动监控器监控感兴趣对象的运动。例如在对患者的肺进行成像的情况下，运动传感器可以是呼吸传感器。在对心脏进行成像的情况下，运动传感器可以是心电图(ECG)。

可有利地应用本发明的示例性技术领域包括行李检测、医疗应用、材料测试和材料科学。可以实现改进的成像质量和减少的低效计算量。本发明还可应用于心脏扫描领域以检测心脏疾病。

应注意的是，术语“包括”不排除其他元件或特征，而“一”或“一个”不排除多个。也可以对结合不同实施方式描述的元件进行组合。

还应注意的是，权利要求中的附图标记不应被解释为对权力要求范围的限制。

Claims (16)

1、一种用于校准X射线成像装置(100)的校准设备(140)，所述校准设备(140)包括：

接收单元(200)，其用于接收由所述X射线成像装置(100)的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；

分析单元(201)，其用于分析在所述参考条件下获取的所述图像以得到增益校正信息；

校准单元(202)，其用于基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。

2、根据权利要求1所述的校准设备(140)，

其中，所述参考条件包括在基本均匀的X射线暴露的条件下获取所述图像。

3、根据权利要求1所述的校准设备(140)，

其中，所述分析单元(201)适于在考虑包括由所述探测单元(108)的硬件特性引起的增益校正、由旋转对称伪影引起的增益校正和由所述足跟效应引起的增益校正的组中的至少一个的情况下，得到所述增益校正信息。

4、根据权利要求1所述的校准设备(140)，

其中，所述分析单元(201)适于通过对在所述参考条件下获取的所述图像执行理论模型的拟合，来得到所述增益校正信息。

5、根据权利要求1所述的校准设备(140)，

其中，所述校准单元(202)适于基于在考虑包括由所述探测单元(108)的硬件特性引起的增益校正和由旋转对称伪影引起的增益校正的组中的至少一个的情况下所得到的增益校正信息，来提供所述校准信息。

6、根据权利要求1所述的校准设备(140)，

其中，所述校准单元(202)适于通过计算增益校正因子来提供所述校准信息，所述增益校正因子是通过将表示由所述探测单元(108)的硬件特性引起的增益校正的增益校正因子和表示旋转对称伪影的增益校正因子相乘而得到的。

7、根据权利要求1所述的校准设备(140)，

其中，所述校准单元(202)适于通过计算表示由所述探测单元(108)的硬件特性引起的增益校正的增益校正因子，来提供所述校准信息。

8、一种用于检测感兴趣对象(107)的X射线成像装置(100)，所述X射线成像装置(100)包括：

X射线源(104)，其用于对所述感兴趣对象(107)发射X射线束；

探测单元(108)，其用于探测已传播通过所述感兴趣对象(107)的X射线束；

确定单元(118)，其用于在考虑如权利要求1所述的校准设备(140)提供的校准信息的情况下，基于所探测到的X射线束确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

9、根据权利要求8所述的X射线成像装置(100)，

其包括可旋转扫描架(101)，其中，将所述X射线源(104)和所述探测单元(108)布置在所述扫描架(101)上。

10、根据权利要求8所述的X射线成像装置(100)，

其适于作为计算机断层摄影装置。

11、根据权利要求8所述的X射线成像装置(100)，

将其配置为包括以下的组中之一：行李检测装置、医疗应用装置、材料检测装置和材料科学分析装置。

12、根据权利要求8所述的X射线成像装置(100)，

其中，所述探测单元(108)可相对于所述X射线源(104)移动。

13、根据权利要求8所述的X射线成像装置(140)，

其中，所述探测单元(108)是矩形的并且其两侧的长度不同。

14、一种用于校准X射线成像装置(100)的方法，所述方法包括：

接收由所述X射线成像装置(100)的探测单元(108)在参考条件下获取的图像；

分析在所述参考条件下获取的所述图像，以得到增益校正信息；

基于所得到的忽略足跟效应增益校正的增益校正信息来提供校准信息以便校准所述X射线成像装置(100)。

15、一种计算机可读介质，其中存储了用于校准X射线成像装置(100)的计算机程序，当处理器(140)执行所述计算机程序时，所述计算机程序适于控制或执行如权利要求14所述的方法。

16、一种用于校准X射线成像装置(100)的程序单元，当处理器(140)执行所述程序单元时，所述程序单元适于控制或执行如权利要求14所述的方法。

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