CN106923851A - X射线检测设备以及x射线探测器的校准装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法，X射线探测器的校准方法包括：调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数；以及，根据该校准参数对X射线探测器进行校准。

Description

X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法
技术领域
本发明涉及医疗成像领域，尤其涉及一种X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法。
背景技术
在利用例如胸片机、C形臂等X射线检测设备进行X射线医疗诊断或治疗时，需要将X射线探测器安装在检测设备支架中，以接收穿过检测对象的X射线并输出用于图像重建的电信号。
随着医疗检测技术的发展，目前已经实现了将同一探测器应用到不同的X射线检测设备中以进行病灶检测。但是由于X射线探测器的像元响应不一致性以及可能出现的坏点(Bad Pixel)，在对患者进行扫描前，需要先对安装在检测设备支架中的X射线探测器进行校准，否则获取的患者的图像很难满足临床诊断的要求。
目前的校准方式是，每一次在X射线检测设备中更换X射线探测器后，或者每一次将X射线探测器安装在另一台X射线检测设备的检测设备支架中后，都需要先使X射线在不经过扫描对象的前提下先照射在X射线探测器上，以使X射线探测器产生用于校准的原始图像，然后基于该原始图像获取校准参数，并根据该校准参数对X射线探测器进行校准。在X射线从球管到X射线探测器的传输路径之间还具有其它障碍物，这些障碍物是检测设备支架的一部分，例如检测床面或者立柱等。这种方式具有较大的工作负担，。
以上校准方式显然具有较大的工作负担，并且，一般情况下，为了确保校准的可靠性，不允许用户自行进行这样的校准，而是由供应商指派专业人员来实施校准，使得在不同设备中使用同一探测器变得很不方便，校准工作效率低。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法，能够提高探测器校准的工作效率。
本发明的示例性实施例提供了一种X射线探测器的校准方法，包括：调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数；以及，根据该校准参数对X射线探测器进行校准。
本发明的示例性实施例提供了一种X射线探测器的校准装置，包括参数获取模块和校准模块。参数获取模块调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数，校准模块根据该校准参数对X射线探测器进行校准。
本发明的示例性实施例提供了一种X射线检测设备，包括检测设备支架以及安装在检测设备支架中的X射线探测器，X射线探测器中存储有与X射线探测器相关的校准参数，X射线检测设备还进一步包括处理装置，处理装置包括上述X射线探测器的校准装置。
通过下面的详细描述、附图以及权利要求，其他特征和方面会变得清楚。
附图说明
通过结合附图对于本发明的示例性实施例进行描述，可以更好地理解本发明，在附图中：
图1至图3分别为本发明第一实施例到第三实施例提供的X射线探测器的校准方法的流程图；
图4至图6分别为本发明第四实施例到第六实施例提供的X射线探测器的校准装置的框图；
图7为本发明第七实施例提供的X射线检测系统的框图。
具体实施方式
以下将描述本发明的具体实施方式，需要指出的是，在这些实施方式的具体描述过程中，为了进行简明扼要的描述，本说明书不可能对实际的实施方式的所有特征均作详尽的描述。应当可以理解的是，在任意一种实施方式的实际实施过程中，正如在任意一个工程项目或者设计项目的过程中，为了实现开发者的具体目标，为了满足系统相关的或者商业相关的限制，常常会做出各种各样的具体决策，而这也会从一种实施方式到另一种实施方式之间发生改变。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本发明公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本公开揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本公开的内容不充分。
除非另作定义，权利要求书和说明书中使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“一个”或者“一”等类似词语并不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同元件，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，也不限于是直接的还是间接的连接。
图1为本发明第一实施例提供的X射线探测器的校准方法的流程图，如图1所示，本发明的X射线探测器的校准方法包括以下步骤S110和S120。
步骤S110：调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数。
步骤S120：根据上述校准参数对上述X射线探测器进行校准。
上述校准方法可以在X射线探测器安装在检测设备支架后进行，上述检测设备支架可包括，例如探测器支撑立柱、检测床等。上述X射线探测器可为便携式X射线探测器，该便携式X射线探测器可以安装在上述检测设备支架中，并可以从检测设备支架中取出并安装在其它检测设备支架中。
上述与X射线探测器相关的校准参数存储在X射线探测器中，因此在对患者进行扫描前，可以直接从该X射线探测器中调取校准参数以进行探测器的校准，而无需使该探测器重新接收X射线以产生用于校准的原始图像，也无需根据该原始图像重新生成校准参数。
可选地，步骤S110中，“调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数”可以包括：调取存储在该X射线探测器中的坏点校准参数，也就是说，上述与探测器相关的校准参数可包括坏点校准参数，步骤S120中，具体可以根据坏点校准参数对X射线探测器进行校准。
本领域技术人员应当理解，X射线探测器的坏点校准参数可以为：X射线探测器的一个或多个像元对X射线的响应超出了正常范围，使得在探测器生成的图像的相应位置上，出现了明显的亮点或黑点。因此，该坏点校准参数中，可包括坏点的位置信息和校准后的X射线的响应值，使得在步骤S120中，可以对该坏点位置的X射线响应值进行调节。
图2是本发明第二实施例提供的X射线探测器的校准方法的流程图。如图2所示，第二实施例的X射线探测器的校准方法与第一实施例的X射线探测器的校准方法类似，区别在于：第二实施例的步骤S110中，“调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的校准参数”可以包括：调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的第一增益校准参数，也就是说，上述与探测器相关的校准参数可包括该第一增益校准参数，步骤S120中，具体可以包括：根据该第一增益校准参数对X射线探测器进行校准。
本领域技术人员应当理解，增益校准参数可以是为了校准X射线探测器的像元响应不一致性所生成的参数。上述像元响应不一致性是指，X射线探测器上各像元对均匀强度的X射线的响应不均匀，使得在探测器生成的原始图像的相应位置上，出现了明暗不等的条纹，这可能是由于不同像元处的射线/可见光转换程度、光/电转换程度、或者电荷放大程度不同造成的。因此，在校准时，可根据不同像元处的增益参数来对其X射线响应值进行调节使之变地一致。
本发明的第二实施例与第一实施例的区别还在于，第二实施例的X射线探测器的校准方法还可以进一步包括以下步骤S210、S220。
步骤S210：接收第一校准图像。上述第一校准图像是上述X射线探测器直接接收X射线所产生的图像。X射线探测器直接接收X射线是指，在X射线的传播方向上，射线源和X射线探测器之间没有其它障碍物，例如，可以在X射线探测器尚未安装在任何检测设备支架中之前，使之接收X射线以生成第一校准图像。
步骤S220：对上述第一校准图像进行分析以获取上述的与X射线探测器相关的第一增益校准参数，并将获取的第一增益校准参数发送至X射线探测器中进行存储。例如，步骤S220中，可以获取第一校准图各点的像素值，并为了使第一校准图像各点像素值一致而分别针对各点像素值生成不同的增益系数或增益值。
可选地，为了保证X射线探测器接收到的X射线的均匀性，X射线探测器直接接收所述X射线以产生上述第一校准图像时，像源距(Source ImageDistance，SID)不小于180厘米。
根据前面的描述可知，当X射线探测器安装在检测设备支架中后，X射线到达X射线探测器之前还会经过其它的障碍物。本发明的实施例中，考虑到该障碍物由于其材料、结构等原因也有可能造成入射至X射线探测器的X射线不均匀，从而造成X射线探测器的像元响应不一致(或不均匀)，当该障碍物造成的不均匀程度足够小从而可以被忽略时，可以仅针对与X射线探测器本身相关的像元响应不一致进行校准，即，仅从X射线探测器中调取与X射线探测器本身相关的增益校准参数并根据该增益校准参数进行校准。上述第一增益校准参数即为“与X射线探测器本身相关的增益校准参数”。
图3为本发明第三实施例提供的X射线探测器的校准方法的流程图。本实施例中，为了更精确地对X射线探测器进行校准，使得检测设备支架造成的像元响应的不均匀不被忽略，进而在进行校准时，不仅考虑到与X射线探测器本身相关的像元响应不一致，还考虑到与检测设备支架(检测设备支架上的障碍物)相关的像元响应不一致。下面将结合图3对第三实施例进行详细描述：
如图3所示，本发明第三实施例与第一实施例或第二实施例类似，区别可以在于：第三实施例中的X射线探测器的校准方法在步骤S120之前还可进一步包括以下步骤S350和S360。
步骤S350：调取预存的与检测设备支架相关的第二增益校准参数。与检测设备支架相关的第二增益校准参数具体可以预存在计算机的存储器中，该计算机可以用于，例如，接收X射线探测器的输出数据、控制X射线球管的工作参数、控制检测设备支架的运动等。与检测设备支架相关的第二增益校准参数可以理解为，为了克服检测设备支架造成的X射线的不均匀性而用于对X射线探测器进行校准的增益校准参数。
步骤S360：将第二增益校准参数与第一增益校准参数进行数据融合以获得第一总增益校准参数。上述的数据融合可以包括，例如加、减、乘、除等运算。例如，在校准时如果需要将像元的X射线响应值乘以不同的增益系数以使各像元的输出值一致，则步骤S360中，将第一增益校准参数与第二增益校准参数相乘，以获得该第一总增益校准参数；如果在校准时需要将各像元的X射线响应值加上不同的增益值以使各像元的输出值一致，则在步骤S360中，将第一增益校准参数与第二增益校准参数相加，以获得该第一总增益校准参数。
因此，本实施例中，在步骤S120中，根据校准参数对X射线探测器进行校准具体可以包括：根据上述的第一总增益校准参数对X射线探测器进行校准。
进一步地，第三实施例中，在步骤S350之前还可以包括获取上述第二增益校准参数的步骤，具体可以包括步骤S310、S320、S330和S340。
步骤S310:接收第二校准图像，该第二校准图像是在X射线探测器安装在检测设备支架中后，使X射线探测器接收X射线所产生的图像。
步骤S320：对第二校准图像进行分析以获取第二总增益校准参数，此时，该第二总增益校准参数中，既包括与X射线探测器相关的第一增益校准参数，还包括与检测设备支架相关的第二增益校准参数。
步骤S330：从第二总增益校准参数中去除第一增益校准参数以得到上述的第二增益校准参数。例如，可以使第二总增益校准参数减去或除以第一增益校准参数以获得第二增益校准参数。
步骤S340：将第二增益校准参数发送至存储装置中进行预存储。例如，本步骤中，可以将第二增益校准参数存储在计算机的存储器中。
图4为本发明第四实施例提供的X射线探测器的校准装置的框图，该装置可用于执行如图1所示的校准方法。如图4所示，该装置可以包括参数获取模块410和校准模块420。参数获取模块410可以用于从安装在检测设备支架中的X射线探测器中调取预存的探测器校准参数。校准模块420可以用于根据上述探测器校准参数对X射线探测器进行校准。
可选地，参数获取模块410可以用于调取存储在X射线探测器中的与该X射线探测器相关的校准参数。
可选地，参数获取模块410可以用于调取存储在X射线探测器中的坏点校准参数。
图5为本发明第五实施例提供的X射线探测器的校准装置的框图，第五实施例的X射线探测器的校准装置与第四实施例类似，区别可以在于，第五实施例的X射线探测器的校准装置还可进一步包括图像接收模块510和分析模块520。图像接收模块510可以用于接收第一校准图像，该第一校准图像可以是在X射线探测器安装在检测设备支架中之前，使X射线探测器直接接收X射线所产生的图像。分析模块520可以用于对该第一校准图像进行分析以获取与X射线探测器相关的第一增益校准参数，并将获取的第一增益校准参数发送至X射线探测器中进行存储。因此，本实施例中，参数获取模块410具体可以用于调取存储在X射线探测器中的与X射线探测器相关的第一增益校准参数。
图6为本发明第六实施例提供的X射线探测器的校准装置的框图，本实施例的X射线探测器的校准装置与第四实施例或第五实施例类似，区别可以在于：参数获取模块410可以进一步用于调取预存的与检测设备支架相关的第二增益校准参数；第六实施例的X射线探测器的校准装置还可进一步包括数据融合模块620。
数据融合模块620可以用于将第二增益校准参数与第一增益校准参数进行数据融合以获得第一总增益校准参数，例如，数据融合模块620可以将第二增益校准参数与第一增益校准参数进行相乘运算以获取第一总增益校准参数。校准模块420具体可以根据该第一总增益校准参数对X射线探测器进行校准。
可选地，本实施例的X射线探测器的校准装置还可以进一步包括数据提取模块650。此时，图像接收模块410还可以用于接收第二校准图像，该第二校准图像是在X射线探测器安装在检测设备支架中后，使X射线探测器接收X射线所产生的图像。分析模块420还可以用于对第二校准图像进行分析以获取第二总增益校准参数。数据提取模块650可以用于从第二总增益校准参数中去除X射线探测器的增益校准参数以得到上述第二增益校准参数，并可以用于对得到的第二增益校准参数进行预存储，例如，将第二增益校准参数发送至计算机的存储器中进行预存储。
本发明各实施例的X射线探测器的校准装置的工作原理以及技术效果等与相应实施例的X射线探测器的校准方法相类似，在此不再赘述。
图7为本发明第七实施例提供的X射线检测系统的框图，如图7所示，该X射线检测系统包括检测设备支架710、X射线探测器720、以及处理装置730。X射线探测器720可以安装在检测设备支架710中。X射线探测器720中存储有与X射线探测器相关的校准参数。
处理装置730可以包括上述第四实施例、第五实施例或第六实施例中描述的X射线探测器的校准装置。该处理装置可以为，例如与检测设备支架710和/或X射线探测器720进行通信的计算机。该计算机的存储器可以用于预存与检测设备支架相关的第二增益校准参数。
本发明的实施例中，将与X射线相关的校准参数直接存储在X射线探测器中，因此在对患者进行扫描前，可以直接从该X射线探测器中调取校准参数以对X射线探测器进行校准，而无需使该探测器重新接收X射线以产生用于校准的原始图像，也无需根据该原始图像重新生成校准参数，避免了重复、复杂的校准操作，并且无需指派专业人员进行校准，提高了工作效率。并且，本发明的实施例可以通过获取与检测设备支架相关的增益校准参数，并在校准时使之与探测器相关的增益校准参数进行数据融合，以根据融合后的总增益校准参数进行校准，因此可以进一步提高X射线探测器的校准精度。
上面已经描述了一些示例性实施例。然而，应该理解的是，可以做出各种修改。例如，如果所描述的技术以不同的顺序执行和/或如果所描述的系统、架构、设备或电路中的组件以不同方式被组合和/或被另外的组件或其等同物替代或补充，则可以实现合适的结果。相应地，其他实施方式也落入权利要求的保护范围内。

Claims (17)

1.一种X射线探测器的校准方法，所述X射线探测器的校准方法包括：
调取存储在X射线探测器中的与所述X射线探测器相关的校准参数；以及，
根据所述校准参数对所述X射线探测器进行校准。
2.根据权利要求1所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，调取存储在X射线探测器中的与所述X射线探测器相关的校准参数包括：调取存储在所述X射线探测器中的坏点校准参数。
3.根据权利要求1所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，调取存储在X射线探测器中的与所述X射线探测器相关的校准参数包括：调取存储在所述X射线探测器中的与所述X射线探测器相关的第一增益校准参数。
4.根据权利要求3所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，所述X射线探测器的校准方法还包括：
接收第一校准图像，所述第一校准图像是所述X射线探测器直接接收X射线所产生的图像；以及，
对所述第一校准图像进行分析以获取所述第一增益校准参数。
5.根据权利要求4所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，所述X射线探测器直接接收所述X射线时，像源距不小于180厘米。
6.根据权利要求4所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，根据所述校准参数对所述X射线探测器进行校准之前还包括：
调取预存的与检测设备支架相关的第二增益校准参数；以及，
将所述第二增益校准参数与所述第一增益校准参数进行数据融合以获得第一总增益校准参数；
根据所述校准参数对所述X射线探测器进行校准包括：根据所述第一总增益校准参数对所述X射线探测器进行校准。
7.根据权利要求6所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，将所述第二增益校准参数与所述第一增益校准参数进行数据融合包括：
将所述第二增益校准参数与所述X射线探测器的增益校准参数相乘或相加。
8.根据权利要求6所述的X射线探测器的校准方法，其特征在于，调取预存的与检测设备支架相关的第二增益校准参数之前还包括：
接收第二校准图像，所述第二校准图像是在所述X射线探测器安装在所述检测设备支架中后，使所述X射线探测器接收X射线所产生的图像；
对所述第二校准图像进行分析以获取第二总增益校准参数；
从所述第二总增益校准参数中去除所述第一增益校准参数以得到所述第二增益校准参数；
将所述第二增益校准参数发送至存储装置中进行预存储。
9.一种X射线探测器的校准装置，所述X射线探测器的校准装置包括：
参数获取模块，用于调取存储在X射线探测器中的与所述X射线探测器相关的校准参数；以及，
校准模块，用于根据所述校准参数对所述X射线探测器进行校准。
10.根据权利要求9所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，所述参数获取模块用于调取存储在所述X射线探测器中的坏点校准参数。
11.根据权利要求9所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，所述参数获取模块用于调取存储在所述X射线探测器中的与所述X射线探测器相关的第一增益校准参数。
12.根据权利要求11所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，所述X射线探测器的校准装置还包括：
图像接收模块，用于接收第一校准图像，所述第一校准图像是所述X射线探测器直接接收X射线所产生的图像；以及，
分析模块，用于对所述第一校准图像进行分析以获取所述第一增益校准参数。
13.根据权利要求12所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，所述X射线探测器直接接收所述X射线时，像源距不小于180厘米。
14.根据权利要求12所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，
所述参数获取模块还用于调取预存的与检测设备支架相关的第二增益校准参数；
所述X射线探测器的校准装置还包括数据融合模块，用于将所述第一增益校准参数与所述第二增益校准参数进行数据融合以获得第一总增益校准参数；
所述校准模块用于根据所述第一总增益校准参数对所述X射线探测器进行校准。
15.根据权利要求14所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，所述数据融合模块用于将所述第一增益校准参数与所述第二增益校准参数相乘或相加。
16.根据权利要求14所述的X射线探测器的校准装置，其特征在于，
所述图像接收模块还用于接收第二校准图像，所述第二校准图像是在所述X射线探测器安装在所述检测设备支架中后，使所述X射线探测器接收X射线所产生的图像；
所述分析模块还用于对所述第二校准图像进行分析以获取第二总增益校准参数；
所述X射线探测器的校准装置还包括数据提取模块，用于从所述第二总增益校准参数中去除所述第一增益校准参数以得到所述第二增益校准参数；
所述数据提取模块还用于将所述第二增益校准参数发送至存储装置中进行预存储。
17.一种X射线检测设备，包括检测设备支架以及安装在检测设备支架中的X射线探测器，所述X射线探测器中存储有与X射线探测器相关的校准参数，所述X射线检测设备还进一步包括处理装置，所述处理装置包括权利要求8-16任一项所述的X射线探测器的校准装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110584695A (zh) * 2019-09-12 2019-12-20 上海联影医疗科技有限公司 医疗影像设备的测试方法、装置、设备及存储介质
CN113763253A (zh) * 2020-06-01 2021-12-07 上海西门子医疗器械有限公司 提高x射线图像均匀性的方法和装置以及计算机存储介质

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030183771A1 (en) * 2002-03-27 2003-10-02 Akira Hirai Gain correction of image signal and calibration for gain correction
CN101088463A (zh) * 2006-06-16 2007-12-19 佳能株式会社 放射线成像系统及其驱动方法
CN101460098A (zh) * 2006-06-02 2009-06-17 皇家飞利浦电子股份有限公司 X射线成像装置和用于校准x射线成像装置的设备和方法
CN101489486A (zh) * 2006-07-20 2009-07-22 皇家飞利浦电子股份有限公司 基于散射辐射分数的x-射线探测器增益校准
US20110057802A1 (en) * 2009-09-08 2011-03-10 Karin Topfer Image quality monitor for digital radiography system
US20120145914A1 (en) * 2010-12-09 2012-06-14 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiographic image capturing system
CN104068880A (zh) * 2013-03-28 2014-10-01 三星电子株式会社 X射线成像装置及其控制方法
US20150030130A1 (en) * 2012-08-17 2015-01-29 General Electric Company System and method for correcting for image artifacts in x-ray image data

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4731698B2 (ja) * 2000-04-06 2011-07-27 キヤノン株式会社 画像処理装置、撮影装置、画像処理システム、画像処理方法、及び記憶媒体
US6457861B1 (en) * 2000-11-15 2002-10-01 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Method and apparatus for correcting electronic offset and gain variations in a solid state X-ray detector
US6879660B2 (en) * 2002-12-18 2005-04-12 General Electric Company Method and apparatus for reducing spectrally-sensitive artifacts
DE10343496B4 (de) * 2003-09-19 2015-08-06 Siemens Aktiengesellschaft Korrektur eines von einem digitalen Röntgendetektor aufgenommenen Röntgenbildes sowie Kalibrierung des Röntgendetektors
DE10343787B4 (de) * 2003-09-22 2006-03-16 Siemens Ag Verfahren zur Kalibrierung eines digitalen Röntgendetektors und zugehörige Röntgenvorrichtung
US7991106B2 (en) * 2008-08-29 2011-08-02 Hologic, Inc. Multi-mode tomosynthesis/mammography gain calibration and image correction using gain map information from selected projection angles
WO2012010919A1 (en) * 2010-07-23 2012-01-26 Anrad Corporation Radiation detector calibration using voltage injection
US9016940B2 (en) * 2011-11-04 2015-04-28 Fujifilm Medical Systems U.S.A., Inc. Mobile patient positioning cart for multiple exposure imaging exams
US8894280B2 (en) * 2011-12-31 2014-11-25 Carestream Health, Inc. Calibration and correction procedures for digital radiography detectors supporting multiple capture modes, methods and systems for same
US9195899B2 (en) * 2012-01-13 2015-11-24 Carestream Health, Inc. Self correcting portable digital radiography detector, methods and systems for same
US8958524B2 (en) * 2013-01-31 2015-02-17 Analogic Corporation Correction of projection data in radiation system
CN105358063B (zh) * 2013-06-19 2018-11-30 皇家飞利浦有限公司 具有动态射束整形器的成像器的校准

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030183771A1 (en) * 2002-03-27 2003-10-02 Akira Hirai Gain correction of image signal and calibration for gain correction
CN1450797A (zh) * 2002-03-27 2003-10-22 佳能株式会社 图像信号的增益修正以及用于增益修正的校准
CN101460098A (zh) * 2006-06-02 2009-06-17 皇家飞利浦电子股份有限公司 X射线成像装置和用于校准x射线成像装置的设备和方法
CN101088463A (zh) * 2006-06-16 2007-12-19 佳能株式会社 放射线成像系统及其驱动方法
CN101489486A (zh) * 2006-07-20 2009-07-22 皇家飞利浦电子股份有限公司 基于散射辐射分数的x-射线探测器增益校准
US20110057802A1 (en) * 2009-09-08 2011-03-10 Karin Topfer Image quality monitor for digital radiography system
US20120145914A1 (en) * 2010-12-09 2012-06-14 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiographic image capturing system
US20150030130A1 (en) * 2012-08-17 2015-01-29 General Electric Company System and method for correcting for image artifacts in x-ray image data
CN104068880A (zh) * 2013-03-28 2014-10-01 三星电子株式会社 X射线成像装置及其控制方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110584695A (zh) * 2019-09-12 2019-12-20 上海联影医疗科技有限公司 医疗影像设备的测试方法、装置、设备及存储介质
CN110584695B (zh) * 2019-09-12 2023-12-12 上海联影医疗科技股份有限公司 医疗影像设备的压力测试方法、装置、设备及存储介质
CN113763253A (zh) * 2020-06-01 2021-12-07 上海西门子医疗器械有限公司 提高x射线图像均匀性的方法和装置以及计算机存储介质

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