CN101447193A - 盘驱动器及间隙控制方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种盘驱动器及间隙控制方法，该盘驱动器包括：用于访问盘的头；用于在所述盘上方支承和移动所述头的移动机构；用于调整所述头与所述盘之间的间隙的调整机构；温度传感器；及至少控制所述调整机构的控制器，利用所述温度传感器检测的温度校正盘驱动器中的操作参数相对于缺省值的变化从而补偿温度改变导致的变化，然后通过所述操作参数的所述校正的变化确定间隙变化，如果所述间隙变化超过基准范围则检查所述头与所述盘之间的接触，并基于所述接触检查的结果指定所述间隙的调整量。

Description

盘驱动器及间隙控制方法
技术领域
本发明涉及盘驱动器及用于其的间隙(clearance)控制方法，更具体而言，本发明涉及适于没有气压传感器(barometric sensor)的盘驱动器的间隙控制技术。
背景技术
本领域已经公知使用诸如光盘、磁光盘、软磁盘等各种盘的盘驱动器。特别地，硬盘驱动器(HDD)已经广泛用作计算机的存储装置，并且成为当前计算机系统的必不可少的存储装置之一。而且，除了应用于计算机以外，由于其突出的特性，HDD还普遍应用于移动图像记录/再现设备、汽车导航系统、蜂窝电话等。
HDD中使用的磁盘具有多个同心数据道和伺服道。每个伺服道由多个含有地址信息的伺服数据组成。每个数据道包括含有用户数据的多个数据扇区。数据扇区记录在离散地位于圆周方向上的伺服数据之间。由摆动致动器(swing actuator)支承的头滑块的头元件部分根据伺服数据中的地址信息访问所需的数据扇区从而写数据到所述数据扇区以及从其读取数据。
为了增加磁盘的记录密度，重要的是降低飞行在磁盘之上的头元件部分与磁盘之间的间隙(飞行高度)，并减小间隙的变化，已经提出了一些机构来控制该间隙。一种这样的机构在头滑块中具有加热器；该加热器加热头元件部分从而调整间隙(例如参见下面列出的专利文献1)。在本说明书中，这称为热飞行高度控制(TFC)。通过向加热器施加电流，TFC产生热从而使头元件部分通过热膨胀而突出。这减小了磁盘与头元件部分之间的间隙。另一种已知的机构使用压电元件调整磁盘与头元件部分之间的间隙。
所述间隙随着气压(海拔高度)的变化以及温度的变化而改变(例如参见下面列出的专利文献2)。如果读/写操作中的间隙预设值为5nm或更多，海拔高度变化引起的间隙改变可以由间隙裕量吸收。然而，如果读/写操作中间隙不大于2或3nm，则需要除了针对温度变化之外还针对压强变化的间隙控制。
【专利文献1】日本未审专利申请特开No.2006-190454
【专利文献2】日本未审专利申请特开No.2006-92709
发明内容
典型的TFC响应温度下降通过增加加热器功率使头元件部分由于热膨胀而突出，从而补偿温度下降导致的间隙增加。相反，随着海拔增高且气压(下面称为压强)降低，滑块的飞行高度降低。降低的压强减少了头元件部分与磁盘之间的间隙。因此，如果温度恒定，TFC随着压强降低而减小突出量。
HDD具有多个用于温度的预设参数；精确的温度检测对于HDD的正常操作是必不可少的。因此，通常的HDD包括温度传感器作为检测温度的装置。类似地，气压传感器(海拔高度传感器)作为检测压强的装置是已知的。然而，使用气压传感器增加了HDD中元件的数量，也显著增加了HDD的成本。由于除了用于间隙控制的参数以外只有很少的用于压强的参数要设置，优选地不使用气压传感器来确定压强。
如上所述，间隙随着压强而变化。因此，参照间隙允许测量压强变化。已知一些确定间隙的技术。典型的技术从头元件部分的读出信号的幅度确定间隙(间隙变化)。随着间隙减小，信号强度增加并且可变增益放大器的增益降低。
因此，参照可变增益放大器的增益能够确定信号强度和间隙。用于确定更精确的间隙的技术根据读出信号的频率成分中的分辨能力(分辨率)确定间隙。在另一方法中，可从主轴马达(SPM)的电流值估计压强，尽管该结果在准确度上较差。
对于依赖于压强而不使用气压传感器的间隙控制，必须如上述方法那样通过参照HDD中的操作参数(可变增益放大器的增益、SPM电流值等)确定间隙变化。然而，使用HDD中的操作参数进行压强测量的精确度和可靠性没有使用气压传感器高。不精确的压强测量导致不正确的间隙控制，其会引起头盘接触从而破坏头滑块或磁盘，或者导致没有所需的间隙裕量的读/写操作，从而引起由于头盘接触导致的硬错误(不可恢复的错误)。
根据本发明的一方面的盘驱动器包括：用于访问盘的头；用于在所述盘上方支承和移动所述头的移动机构；用于调整所述头与所述盘之间的间隙的调整机构；温度传感器；及控制器，用于至少控制所述调整机构。控制器利用所述温度传感器检测的温度校正盘驱动器中操作参数相对于缺省值的变化从而补偿温度改变导致的变化，然后通过所述操作参数的所述校正的变化确定间隙变化。另外，如果所述间隙变化超过基准范围，则检查所述头与所述盘之间的接触。然后，基于所述接触检查的结果，指定所述间隙的调整量。这依赖于压强而不使用气压传感器实现了更精确的间隙调整。
优选地，所述操作参数是由通过所述头从所述盘读出的信号的幅度决定的参数。或者，所述操作参数是由通过所述头从所述盘读出的信号中的不同频率成分的比率决定的参数。这实现了间隙变化的更精确的确定。
优选地，所述控制器控制所述调整机构，使得所述检查接触时的所述间隙小于对应于所述已确定的间隙变化的缺省设置中的所述间隙。这实现了包括间隙裕量的适当间隙。另外，优选地所述控制器在由所述调整机构调整的给定间隙检查接触。这实现了更有效的处理并防止性能下降。
优选地，如果在所述接触检查中所述控制器检测到接触，则所述控制器控制所述调整机构，使得间隙大于所述缺省设置中的所述间隙。这安全地防止了后面操作中的接触。
在优选示例中，如果在所述接触检查中所述控制器检测到接触，则所述控制器控制所述调整机构，使得间隙大于所述缺省设置中的所述间隙并且从所述缺省设置增加的量与所述接触检查时从所述缺省设置扣除的间隙量相同。这通过有效处理实现了包括间隙裕量的适当间隙。
优选地，所述控制器基于所述间隙变化超过所述基准范围的次数来改变用于确定是否检查接触的所述间隙变化的基准范围。这实现了用于使用环境的适当操作。优选地，所述控制器多次测量所述操作参数的变化，并基于所述多次测量结果确定所述间隙变化是否超过所述基准范围。这实现了间隙变化的更精确的确定。
本发明的另一方面是一种盘驱动器中的间隙控制方法。该方法通过温度传感器检测温度。该方法利用所述检测的温度校正盘驱动器的操作参数相对于缺省值的由温度改变导致的变化，然后通过所述操作参数的所述校正的变化确定间隙变化。如果所述间隙变化超过基准范围，该方法检查头与盘之间的接触。该方法基于所述接触检查的结果指定所述间隙的调整量。这实现了依赖于压强而不使用气压传感器的更精确的间隙调整。
本发明依赖于压强而不使用气压传感器实现了头和盘之间的间隙的更精确的控制。
附图说明
图1是方块图，示意性示出本发明实施例的HDD的整个配置；
图2是剖视图，示意性示出本发明实施例中具有用于TFC的加热器的头滑块的配置；
图3(a)和3(b)示意性示出了海拔高度变化(压强改变)、头盘接触检查、用于确定检查的必要性的基准范围的测量结果之间的关系；
图4是流程图，示出在本发明实施例中压强测量及头盘接触检查的过程；
图5是方框图，示出本发明实施例中用于测量压强及检查头盘接触的逻辑组元；
图6的图表示意性示出本发明实施例中Kgrad、间隙、加热器功率、及压强(海拔高度)之间的关系；
图7是流程图，示出本发明实施例中检查头盘接触的过程；
图8(a)、8(b)和8(c)示意性示出正常操作中的头滑块、检查接触时的头滑块、及加热器设置校正后正常操作中的头滑块；及
图9是流程图，示出在本发明的实施例中更新用于确定是否检查头盘接触的基准范围的过程。
附图标记说明：
1：    硬盘驱动器                      10：       外壳
11：   磁盘                            12：       头滑块
14：   主轴马达                        15：       音圈马达
16：   致动器                          20：       电路板
21：   读写通道                        22：       马达驱动器单元
23：   硬盘控制器/MPU                  24：       RAM
31：   写元件                          32：       读元件
32a：  磁致电阻元件                    33a、33b： 屏蔽件
34：   保护膜                          51：       主机
121：  拖尾侧端表面                    122：      头元件部分
123：     滑块                        124：      加热器
311：     写线圈                      312：      磁极
313：     绝缘膜
具体实施方式
现在将描述应用了本发明的优选实施例。为描述的清晰起见，下面的说明和附图包含适当的省略和简化。所有附图中，相同的部件始终由相同的附图标记表示，并且如果并非必要的话将为清晰起见省略它们的重复描述。下面，将以硬盘驱动器(HDD)为例描述本发明的优选实施例，HDD是盘驱动器的一个示例。
根据本发明实施例的HDD通过作为间隙控制机构的示例的热飞行高度控制(TFC)，来控制作为头的示例的头元件部分与作为盘的示例的磁盘之间的间隙。TFC通过来自滑块中的加热器的热引起的头元件部分的热膨胀调整间隙。根据本发明实施例的TFC随压强变化调整间隙。该HDD装备有温度传感器但没有气压传感器。
HDD根据操作参数变化确定间隙变化。另外，它根据温度传感器感测的温度校正操作参数以对间隙变化进行温度补偿。HDD通过扣除温度变化引起的间隙变化来确定对应于压强变化的间隙变化。尽管导致间隙变化的环境条件除了温度和压强以外还包括湿度，但显著的变化由温度和压强的变化导致。因此，下面的描述将基于这样的假设给出：温度补偿之后的其余间隙变化由压强变化导致。
根据本发明的HDD在由于压强变化通过TFC改变加热器功率时，检查头滑块与磁盘的接触(头盘接触)。利用操作参数的压强测量(间隙测量)的精确度和可靠性没有使用气压传感器高。因此，通过检查头盘接触确认压强测量防止了后续读/写操作中的头盘接触或者实现更安全的间隙裕量。过于频繁的头盘接触检查不是优选的，因为这增加了HDD的非必要操作时间。因此，根据本发明实施例的HDD在压强变化(间隙变化)超过预定阈值时检查头盘接触。
在描述根据本发明实施例的TFC及头盘接触检查的细节之前，将概述HDD的整个配置。图1是方块图，示意性示出HDD1的整个配置。HDD1包括磁盘11，即用于存储数据的盘，位于外壳10内部。主轴马达(SPM)14以特定角速度旋转磁盘11。头滑块12被提供来访问(读或写)磁盘11；各个头滑块对应于磁盘11的各个记录表面。访问是宽泛的概念，包括读和写。每个头滑块12包括用于飞行在磁盘之上的滑块和固定在滑块上以用于将磁信号和电信号相互转换的头元件部分。
根据本发明实施例的每个头滑块12包括用于TFC的加热器，从而通过热使头元件部分膨胀和突出并调整头元件部分和磁盘11之间的间隙(飞行高度)。后面将参照图2详细描述头滑块12的结构。每个头滑块12固定到致动器16的顶端。致动器16耦接到音圈马达(VCM)15，围绕枢轴旋转从而在旋转的磁盘11之上沿盘径向方向移动头滑块12。致动器16和VCM 15是头滑块12的移动机构。
在固定于外壳10外部的电路板20上安装有电路元件。马达驱动器单元22根据来自HDC/MPU 23的控制数据驱动SPM 14和VCM 15。RAM 24作为缓存器用于暂时存储读数据和写数据。外壳10内的臂电子系统(AE：armelectronics)13从多个头滑块12中选择头滑块12以访问磁盘11，放大来自头滑块12的再生信号以将其发送到读写通道(RW通道)21。另外，AE 13将记录信号从RW通道21送到所选的头滑块12。AE 13还为所选的头滑块12的加热器提供电功率并用作调节电能的调节电路。
在读操作中，RW通道21放大从AE 13提供的读信号以具有特定幅度(amplitude)，从所获得的读信号提取数据，并进行解码处理。所取得的数据包括用户数据和伺服数据。所解码的读取的用户数据和伺服数据提供到HDC/MPU 23。在写操作中，RW通道21编码调制(code-modulate)从HDC/MPU 23提供的写数据，将编码调制的数据转换成写信号，然后将它们提供到AE 13。
HDC/MPU 23，作为控制器的示例，除了与数据处理有关的必要处理以外还执行HDD 1的整个控制，例如读/写操作控制，命令执行顺序管理，利用伺服信号进行头滑块12的定位控制(伺服控制)，与主机51的来/往接口控制，缺陷管理，以及任何错误发生时的错误处理操作。特别地，根据本发明实施例的HDC/MPU 23根据温度传感器17检测到的温度执行TFC并根据压强执行进一步的TFC。另外，HDC/MPU 23在通过操作参数确定的压强变化较大时检查头盘接触。这些方面将在后面描述。
图2是剖视图，示意性示出头滑块12的气流端面(尾侧端面)121附近的配置。滑块123支承头元件部分122。头元件部分122包括读元件32和写元件31。写元件31通过流过写线圈311的电流在磁极312之间产生磁场以写磁数据到磁盘11上。读元件32具有带有磁各向异性的磁致电阻元件32a并通过随来自磁盘11的磁场而改变的电阻读回磁数据。
头元件部分122通过薄膜沉积工艺形成在构成滑块123的AlTiC衬底上。磁致电阻元件32a夹在磁屏蔽件33a和33b之间。写线圈311被绝缘膜313包围。由氧化铝等制成的保护膜34围绕写元件31和读元件32形成。加热器124位于写元件31和读元件32附近。加热器124可通过利用坡莫合金等绕制薄膜电阻元件并用氧化铝填充间隙而形成。
当AE 13向加热器24提供电功率时，头元件部分122的附近由于加热器124的热而变形从而突出。例如，在不加热时，头滑块12的ABS 35的形状由S1表示，作为头元件部分122与磁盘之间的距离的间隙由C1表示。加热器124加热时突出的形状S2由虚线表示。头元件部分122靠近磁盘11并且此时的间隙C2小于间隙C1。图2是示意图，其尺寸不是严格定义的。头元件部分122的突出量和间隙根据提供到加热器124的加热器功率值而变化。
下面，将详细描述根据本发明实施例的TFC及头盘接触检查。如上所述，本发明实施例的HDC/MPU 23进行用于温度和压强的TFC。将要施加到加热器124的加热器功率P由取决于温度的加热器功率P(t)和取决于压强的加热器功率P(p)的和(P(t)+P(p))表示。常数项可包括在任何公式中且公式中的系数可根据例如温度、压强等环境条件、头滑块12、或头滑块的径向位置而变化。具体地，加热器功率由下面的公式表示：
P＝(TDP×eff[缺省]-Target-dt×t_comp-dp×p_comp)/eff。
在上述公式中，eff代表根据压强和径向位置而变化的加热器功率效率；eff[缺省]代表缺省条件下的加热器功率效率。TDP代表在缺省条件下头滑块12接触磁盘11时的加热器功率；Target代表目标间隙；dt代表相对缺省条件的温度变化；t_comp代表对于该温度的间隙变化率；dp代表相对缺省条件的压强变化；p_comp代表对于该压强的间隙变化率。t_comp和p_comp的符号相反。TDP、t_comp和p_comp通常根据径向位置而变化。通常，缺省条件是30℃(室温)和1大气压(海拔高度0m)的环境条件。
HDC/MPU 23根据温度传感器17检测到的温度控制加热器功率P。具体地，HDD 1具有表示检测到的温度与加热器功率之间的关系的数据，HDC/MPU 23根据该数据和检测到的温度确定取决于温度的加热器功率。温度和加热器功率之间的关系依赖于头滑块12、磁盘11上的径向位置(或区域)、及压强。
本发明实施例的HDD 1没有气压传感器，因而不能直接测量压强。因此，HDC/MPU 23测量间隙以执行用于压强的TFC。间隙随着压强而改变。相应地，HDC/MPU 23测量间隙以根据间隙变化确定压强变化dp。由于间隙还随温度变化，因此HDC/MPU 23利用温度改变引起的间隙变化校正所测量的间隙以确定压强改变引起的间隙变化。如上所述，定义特定缺省温度和压强下的缺省条件以及缺省条件下的缺省间隙使每个值的变化与其当前值相关联。
温度补偿之后的间隙变化指示压强变化。HDC/MPU 23根据由间隙变化确定的压强(压强变化)控制加热器功率P。具体地，HDD 1具有预设数据，该预设数据指示由间隙变化表示的压强变化与加热器功率之间的关系；HDC/MPU 23根据该数据和所测量的压强确定用于压强的加热器功率。
本发明实施例的HDD 1从头滑块12的读出信号确定间隙或相对缺省间隙的间隙变化。更具体地，它从读信号的分辨率(频率成分的分辨率)确定间隙。例如，分辨率可以通过读出信号中特定低频信号和高频信号之间的比率表示。存在一些操作参数来确定压强变化或压强变化导致的间隙变化；使用分辨率确定间隙变化是最精确的方法之一。随着间隙减小，读出信号中高频成分的幅度增加从而增加信号分辩能力，即分辨率。
分辨率和间隙具有线性关系；在对分辨率应用适当的线性变换后，间隙可以通过分辨率的线性函数表示。通常，各个头滑块12中将分辨率与间隙相关联的线性函数是不同的。每个头滑块12的分辨率与间隙之间的关系在制造HDD 1时在测试步骤中确定，并且根据该关系的控制参数登记在HDD1中。
HDC/MPU 23可以通过分析读出信号并计算高频信号增益(幅度)和低频信号增益(gain)(幅度)之间的比率来确定分辨率。然而，除了正常操作所需的功能以外，HDC/MPU 23还需要额外功能以执行该处理。此外，这占用MPU很多处理时间来执行该处理。因此，优选地使用HDD 1中实现的功能来测量分辨率。RW通道21具有调制读出信号的再现波形以从读出信号精确提取数据的功能。RW通道21使用数字滤波器执行波形整形(waveformshaping)。
在安装于RW通道21上的数字滤波器中，校正再现信号中的频率成分的数字滤波器(自适应余弦滤波器)是已知的。RW通道21根据读出信号的测量结果校正该滤波器的抽头值(tap value)。该校正值与间隙(分辨率)具有一次关系(first-order relationship)并且表示分辨率。该数字滤波器是已知技术，如日本未审专利特开5-81807和美国专利No.5168413所公开的；在本说明书中将省略对其详细描述。HDC/MPU 23可通过参照校正值确定间隙变化。下面，该校正值称为Kgrad。制造HDD 1期间的测试步骤为每个头滑块12确定Kgrad与间隙之间的关系。
在下面的描述中，HDC/MPU 23通过参照Kgrad确定间隙(间隙变化)，Kgrad是通道参数之一，但HDC/MPU 23可使用表示分辨率的其它通道参数。例如，如果RW通道21具有数字滤波器来将特定再现信号模式恢复成标准模式(standard pattern)，则HDC/MPU 23可使用用于该数字滤波器中的抽头(tap)的校正系数中的分辨率成分的校正值来确定间隙。
如上所述，制造HDD 1期间的测试步骤确定加热器功率与间隙之间的关系、温度与间隙之间的关系、以及温度补偿之后的Kgrad与间隙之间的关系，并在HDD 1中登记表示这些关系的数据。Kgrad依赖于由温度变化引起的RW通道21的特性改变以及由温度变化导致的间隙变化而改变。对这些变化一起进行通过Kgrad的温度补偿。HDC/MPU 23使用这些预设数据从温度传感器17检测到的温度及Kgrad的测量值确定适当的加热器功率值。
HDC/MPU 23可在任意时间从RW通道21获得Kgrad。然而，压强不像温度那样在操作期间改变；通常在启动后压强是恒定的。因此，根据本发明实施例的HDC/MPU 23在启动后根据温度变化控制加热器功率，而仅在启动时的初始设置操作(通电重置(POR)操作)中测量压强(Kgrad)并假设操作期间的压强与启动时的压强相同来执行TFC。注意，HDC/MPU 23可在POR之后在操作期间测量压强从而根据变化控制加热器功率。
本发明实施例的一个特征在于如果所测量的压强变化大则检查头盘接触。如上所述，HDC/MPU 23在POR操作中从Kgrad和温度传感器17检测到的温度确定压强变化(指示压强变化的间隙变化)。如果相对缺省压强的压强变化不在标准之内，HDC/MPU 23就检查头盘接触。利用Kgrad测量压强变化没有使用传感器那样精确或稳定。相应地，如果Kgrad的变化大，确认所测量的结果增加了后面的读/写操作的可靠性。特别地，如果压强仅在POR时测量，以后可能的压强改变的裕量是重要的。如果压强变化超过标准就检查头盘接触可防止由于检查引起的不必要的操作时间的增加。
图3(a)示意性示出了海拔高度变化(压强改变)的测量结果和头盘接触检查之间的关系。随着海拔高度增加，压强降低。图3(a)示出了海拔高度、Kgrad的测量值、缺省Kgrad、以及基准范围K_标准来确定是否检查头盘接触。所示出的Kgrad是温度补偿后的值。如上所述，缺省Kgrad是测试步骤(TEST)中确定的值。如图3(a)所示例的，Kgrad不完全遵循海拔高度(压强)。
在最初的三个POR，海拔高度和所测量的Kgrad位于基准范围(referencerange)K_标准(K_criteria)之内。因此，HDC/MPU 23不检查头盘接触。在第四个POR，海拔高度A和所测量的Kgrad超过基准范围K_标准。HDC/MPU 23在该POR检查头盘接触。然后，在第五个POR，海拔高度A和所测量的Kgrad在基准范围K_标准内。因此，HDC/MPU 23不检查头盘接触。
如图3(a)所示，优选地基准范围K标准具有在缺省Kgrad之上和之下的阈值。尽管通常的缺省海拔高度是海平面以上0m，但实际使用环境可在增压条件下或低于海平面高度。然而，根据设计，可以仅在海拔高度增大超过阈值时执行头盘接触检查。
现在参照图4的流程图和图5的方框图，描述根据本发明实施例的压强测量和头盘接触检查的过程。HDC/MPU 23在POR操作中测量压强。HDC/MPU 23首先测量加热器功率为零时的Kgrad(S11)。具体地，HDC/MPU23选择头滑块12并通过马达驱动器单元22控制VCM 15从而移动头滑块12到特定数据道。
头滑块12在HDC/MPU 23的控制下在所访问的地址取出数据。RW通道21从头滑块12的读出信号计算Kgrad并将其存储在RW通道21中的寄存器中。HDC/MPU 23访问RW通道21中的寄存器并得到Kgrad。优选地，Kgrad的测量在多个时间进行从而从多个测量值计算该值以确定间隙。在优选示例中，HDC/MPU 23使用多个测量值的平均值。由于即使在相同条件下(压强和温度)Kgrad的测量值也包括每个测量中的变化，因而从多个测量结果确定间隙实现了更精确的间隙的确定。
优选地测量Kgrad时使用的数据道对于测量Kgrad而言具有优异的特性。因此，优选地数据道处于没有用于记录用户数据或不被主机51访问的区域中。这消除了反复重写导致的数据道的特性降低。在具有磁盘11外的滑道(ramp)的HDD中，优选地该数据道处于比用户区域的最内端更靠内，因为在正常操作中头滑块12不经过该区域。
然后，HDC/MPU 23从Kgrad确定间隙(S12)。具体地，它从缺省条件下(例如30℃，1大气压)测量的Kgrad与所测量的Kgrad之间的差确定相对于缺省间隙的间隙变化。例如，间隙变化可表示为加热器功率值。缺省Kgrad是温度补偿之后的值，并且HDC/MPU 23以相同方式根据所检测的温度对所测量的Kgrad进行温度校正。HDC/MPU 23比较温度校正的缺省Kgrad和所测量的值，从而由Kgrad确定相对于缺省压强(例如1大气压)的压强变化。
图6的意性示出了Kgrad与间隙、加热器功率及压强(海拔高度)之间的关系。Kgrad是温度补偿之后的值。如图6所示，上面列出的值彼此具有线性关系。因此，HDC/MPU 23可从一个直接确定上面中的任何值，从而一个值可以表示另一个值。
上述过程在加热器功率为零时测量Kgrad，并用所检测的温度校正该值。然而，可在施加对应于TFC、所检测的温度及径向位置的缺省设置的加热器功率值给加热器124时测量Kgrad。相对于通道特性的温度改变而校正所测量的Kgrad之后获得的值表示对应于压强变化的Kgrad变化。以此方式，可以仅通过计算或者通过利用TFC的间隙调整进行Kgrad的温度补偿。
然后，HDC/MPU 23确定由Kgrad确定的间隙变化是否在基准范围内(S13)。间隙变化可例如由加热器功率值、纳米或Kgrad表示。HDC/MPU 23将所测量的间隙变化与基准范围的一个或两个阈值比较，如果间隙变化在基准范围内(S13中的Y)，则HDC/MPU 23记录所测量的结果(S16)而不检查头盘接触，从而结束压强测量。
如果所测量的间隙变化超过基准范围(S13中的N)，则HDC/MPU 23检查头盘接触(S14)。将参照图7的流程图描述根据本发明实施例的头盘接触检查。HDC/MPU 23根据温度传感器17检测的温度和所测量的Kgrad依照TFC中的缺省设置决定读/写操作中的加热器功率值(S141)。HDC/MPU 23从控制数据例如预先登记的函数和表决定用于所检测的温度和Kgrad的缺省加热器功率值。
HDC/MPU 23以比缺省加热器功率值更大的加热器功率值检查头盘接触(S142)。图8(a)示意性示出在缺省加热器功率值Pa的头滑块12；图8(b)示意性示出在用于检查头盘接触的加热器功率值Pb的头滑块12。在检查头盘接触时，头元件部分122比缺省状态更加突出(Pb>Pa)，间隙Cb小于缺省间隙Ca(Cb<Ca)。利用比缺省值更小的间隙确定是否检测出接触导致正确地确定是否存在所需的间隙裕量。
首先，HDC/MPU 23控制致动器16移动所选的用于测量Kgrad的头滑块12(或另一头滑块12)到特定数据道。HDC/MPU 23存储表示大于缺省TFC设置中的加热器功率值的加热器功率值的数据到AE 13的寄存器中。AE 13提供对应于该数据的加热器功率到头滑块12。HDC/MPU 23控制AE13利用头滑块12访问特定数据扇区。该访问可以是读或写，但通常HDC/MPU 23在特定数据扇区进行读操作。优选地在检查头盘接触时使用的数据扇区处于主机51将不会访问的区域中。这是因为在不是将被主机访问的用户数据或伺服数据的存储区域的区域中检查接触防止了数据区域被破坏。
如果HDC/MPU 23没有在头滑块12和磁盘11之间检测出接触(S143中的N)，HDC/MPU 23不校正缺省加热器功率设定值，从而结束头盘接触检查。用于检查头盘接触的一些方法是已知的。例如，HDC/MPU 23可通过测量读出信号幅度、VCM电流值、SPM电流值等检查头盘接触。如果检测出头滑块12与磁盘11之间的接触(S143中的Y)，则HDC/MPU 23降低读/写操作中的加热器功率设定值以使之小于缺省设定值(S144)。图8(c)示意性示出在小于缺省设定值Pa的加热器功率值Pc的头滑块12。在相同环境和操作条件下，所校正的加热器功率值Pc小于缺省加热器功率值Pa，并且所校正的间隙Cc大于缺省间隙Ca。
在优选示例中，加热器功率值从缺省值降低的量与接触检查中加热器功率值增加的量相同。该有效处理能够发现是否存在所需的间隙裕量，如果不存在，则能通过加热器功率值的校准安全地获得所需的间隙裕量。由于本示例的HDD 1仅在启动时测量压强，所以在后面的在各温度的读/写操作中的加热器功率值变得小于通过以上加热器功率值的降低量预设的缺省设置。
如上所述，优选地在特定间隙检查头盘接触。尽管能够以变化的间隙检查头盘接触，但这增加了检查时间。为了降低处理时间，优选地仅在特定间隙检查头盘接触。即使仅在一个间隙检查头盘接触也能够实现足够的可靠性。
当检查头盘接触(S14)结束时，HDC/MPU 23在S15更新用于确定是否检查头盘接触(S13)的基准范围。如果HDD1一直在高海拔(低压强)使用，则在每个POR进行头盘接触检查，这显著增加了POR处理时间。另外，如果如上所述在比缺省TFC设置的间隙小的间隙进行头盘接触检查，则接触的可能性增加，因而会增加对头滑块12的破坏。更新基准范围以满足HDD 1的使用环境可减少所需的接触检查的数量。
该更新过程将参照图9的流程图进行描述。如图4的流程图所示，HDC/MPU 23记录借助Kgrad测量的压强变化(间隙变化)的结果(S16)。HDC/MPU 23参照过去的测量结果，如果超过基准范围的压强减小(间隙减小)的数量达到特定值(S151中的Y)，则HDC/MPU 23更新基准范围(S152)。如果该数量没有达到特定值(S151中的N)，则HDC/MPU 23不更新基准范围。
在优选示例中，如果超过基准范围的压强减小(间隙减小)的数量在过去的M次POR中达到N，则HDC/MPU 23更新基准范围。根据设计选择适当的自然数作为M和N且它们可以是相同值。用于更新基准范围的方法例如仅更新缺省Kgrad。从缺省Kgrad到基准范围边界的值是相同的。在另一方式中，缺省Kgrad和基准范围的边界两者都更新。
图3(b)示意性示出了海拔高度变化(压强改变)的测量结果、头盘接触检查、及基准范围更新之间的关系。标记与图3(a)中的具有相同含义。在图3(b)的示例中，如果Kgrad在最近的三个连续POR中超过基准范围，则HDC/MPU 23更新缺省Kgrad到当前的Kgrad测量值。在图3(b)中，HDC/MPU 23在第五个POR更新缺省Kgrad。在该示例中，仅这次更新基准范围。
在后面的POR中，HDC/MPU 23基于更新的基准范围确定是否检查接触。尽管在第八和第九POR所测量的Kgrad值表示该值接近测试步骤中的缺省海拔高度，但HDC/MPU 23检查头盘接触，因为基准范围已经更新。
如上所述，已经借助于优选实施例描述了本发明，但本发明不限于上述实施例。本领域技术人员容易在本发明的范围内修改、增加和变换上述实施例中的每个要素。本发明可应用到具有TFC以外的间隙控制机构如压电元件的盘驱动器。如上所述，优选地利用读出信号，特别是分辨率，测量压强变化，但使用其它操作参数如SPM电流测量压强变化也是可接受的。HDC/MPU 23可在POR以外的其它时间检查头盘接触。用于Kgrad测量的位置可以是记录表面上的任何径向位置。本发明可应用到安装了仅具有读元件的头滑块的HDD或HDD以外的其它盘驱动器。

Claims (18)

1.一种盘驱动器，包括：
用于访问盘的头；
用于在所述盘上方支承和移动所述头的移动机构；
用于调整所述头与所述盘之间的间隙的调整机构；
温度传感器；及
至少控制所述调整机构的控制器，利用所述温度传感器检测的温度校正盘驱动器中的操作参数相对于缺省值的变化从而补偿温度改变导致的变化，然后通过所述操作参数的所述校正的变化确定间隙变化，如果所述间隙变化超过基准范围则检查所述头与所述盘之间的接触，并基于所述接触检查的结果指定所述间隙的调整量。
2.如权利要求1所述的盘驱动器，其中所述操作参数是由通过所述头从所述盘读出的信号的幅度决定的参数。
3.如权利要求1所述的盘驱动器，其中所述操作参数是由通过所述头从所述盘读出的信号中的不同频率成分的比率决定的参数。
4.如权利要求1所述的盘驱动器，其中所述控制器控制所述调整机构，使得所述检查接触时的间隙小于与所确定的间隙变化对应的缺省设置中的间隙。
5.如权利要求4所述的盘驱动器，其中所述控制器在由所述调整机构调整的给定间隙检查接触。
6.如权利要求1所述的盘驱动器，其中如果在所述接触检查中所述控制器检测到接触，则所述控制器控制所述调整机构，使得间隙大于所述缺省设置中的所述间隙。
7.如权利要求4所述的盘驱动器，其中如果在所述接触检查中所述控制器检测到接触，则所述控制器控制所述调整机构，使得间隙大于所述缺省设置中的所述间隙并且从所述缺省设置增加的量与所述接触检查时从所述缺省设置扣除的间隙量相同。
8.如权利要求1所述的盘驱动器，其中所述控制器基于所述间隙变化超过所述基准范围的次数来改变用于确定是否检查接触的所述间隙变化的基准范围。
9.如权利要求1所述的盘驱动器，其中所述控制器多次测量所述操作参数的变化，并基于所述多次测量的结果确定所述间隙变化是否超过所述基准范围。
10.一种盘驱动器中的间隙控制方法，包括：
通过温度传感器检测温度；
利用所述检测的温度校正盘驱动器中操作参数相对于缺省值的变化从而补偿温度改变导致的变化，然后通过所述操作参数的所述校正的变化确定间隙变化；
如果所述间隙变化超过基准范围，则检查头与盘之间的接触；及
基于所述接触检查的结果指定所述间隙的调整量。
11.如权利要求10所述的方法，其中所述操作参数是由通过所述头从所述盘读出的信号的幅度决定的参数。
12.如权利要求10所述的方法，其中所述操作参数是由通过所述头从所述盘读出的信号中不同频率成分的比率决定的参数。
13.如权利要求10所述的方法，其中所述检查接触时的间隙设定为小于与所确定的间隙变化对应的缺省设置中的间隙。
14.如权利要求13所述的方法，其中在给定的调整的间隙进行所述接触检查。
15.如权利要求10所述的方法，其中如果在所述接触检查中检测到接触，则设定间隙为大于所述缺省设置中的间隙。
16.如权利要求13所述的方法，其中如果在所述接触检查中检测到接触，则设定间隙为大于所述缺省设置中的间隙，并且
从所述缺省设置增加的间隙量与在所述接触检查中从所述缺省设置扣除的间隙量相同。
17.如权利要求10所述的方法，其中基于所述间隙变化超过所述基准范围的次数来改变用于确定是否检查接触的所述间隙变化的基准范围。
18.如权利要求10所述的方法，还包括多次测量所述操作参数的变化，并基于所述多次测量的结果确定所述间隙变化是否超过所述基准范围。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105976835A (zh) * 2015-03-11 2016-09-28 株式会社东芝 头上浮控制方法、盘装置及其制造方法
CN103839555B (zh) * 2012-11-19 2017-04-12 Hgst荷兰公司 对偏离磁道运动不敏感的动态飞行高度控制

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009223992A (ja) * 2008-03-18 2009-10-01 Fujitsu Ltd 制御回路および情報記憶装置
JP4940208B2 (ja) * 2008-09-11 2012-05-30 ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ ディスク・ドライブ及びクリアランス変化を測定する方法
JP5051274B2 (ja) 2009-06-04 2012-10-17 住友化学株式会社 加硫ゴムが有する粘弾性特性を改善させるためのｓ−（３−アミノプロピル）チオ硫酸および／またはその金属塩の使用
JP4829353B2 (ja) * 2010-02-26 2011-12-07 株式会社東芝 ディスク記憶装置及びヘッド浮上量制御方法
US9343082B2 (en) 2010-03-30 2016-05-17 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Systems and methods for detecting head contact
KR20130007180A (ko) * 2011-06-30 2013-01-18 시게이트 테크놀로지 엘엘씨 하드디스크 드라이브 및 하드디스크 드라이브의 자기 헤드의 부상높이 제어 방법
US8810953B2 (en) 2011-12-02 2014-08-19 HGST Netherlands B.V. Error recovery based on applying current/voltage to a heating element of a magnetic head
US8730612B1 (en) 2011-12-16 2014-05-20 Western Digital Technologies, Inc. Disk drive evaluating ratio of fly height setting for first and second heads to verify operability
US9053749B1 (en) 2013-03-15 2015-06-09 Western Digital Technologies, Inc. Disk drive comprising a per-drive and per-head fly height filter
US11532327B2 (en) * 2020-04-28 2022-12-20 Seagate Technology Llc Reader fly height control for head burnishing mitigation

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4777544A (en) * 1986-08-15 1988-10-11 International Business Machine Corporation Method and apparatus for in-situ measurement of head/recording medium clearance
US5168413A (en) * 1990-11-30 1992-12-01 Ibm Corporation Transducer head flying height monitoring methods and apparatus for disk drive system
US5777815A (en) * 1996-06-13 1998-07-07 International Business Machines Corporation Disk drive with shock detection based on thermoresistive signal from magnetoresistive head
US5991113A (en) * 1997-04-07 1999-11-23 Seagate Technology, Inc. Slider with temperature responsive transducer positioning
JP4072469B2 (ja) * 2003-08-01 2008-04-09 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ 磁気ヘッドスライダおよび磁気ディスク装置
JP2006024289A (ja) * 2004-07-08 2006-01-26 Tdk Corp 発熱体を備えた薄膜磁気ヘッド、該薄膜磁気ヘッドを備えたヘッドジンバルアセンブリ及び該ヘッドジンバルアセンブリを備えた磁気ディスク装置
KR100640621B1 (ko) * 2004-12-28 2006-11-01 삼성전자주식회사 디스크 드라이브의 자기 헤드 비행 높이 조정 장치 및 방법
JP4979894B2 (ja) * 2005-03-25 2012-07-18 ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ 磁気ディスク装置
US7215495B1 (en) * 2005-12-27 2007-05-08 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. System and method for determining head-disk contact in a magnetic recording disk drive
JP4379814B2 (ja) * 2006-03-28 2009-12-09 富士通株式会社 記憶装置、制御方法、制御装置及びプログラム
US7558015B2 (en) * 2006-03-29 2009-07-07 Maxtor Corporation Actuation efficiency based contact detection
US7423830B2 (en) * 2006-04-10 2008-09-09 Iomega Corporation Detecting head/disk contact in a disk drive using a calibration parameter
US7417820B2 (en) * 2006-12-11 2008-08-26 Tdk Corporation Head support mechanism, magnetic head assembly, and magnetic disk drive apparatus
JP2009110614A (ja) * 2007-10-31 2009-05-21 Fujitsu Ltd 磁気ディスク装置、磁気ディスク装置制御方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103839555B (zh) * 2012-11-19 2017-04-12 Hgst荷兰公司 对偏离磁道运动不敏感的动态飞行高度控制
CN105976835A (zh) * 2015-03-11 2016-09-28 株式会社东芝 头上浮控制方法、盘装置及其制造方法

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