CN101409110B - 修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法 - Google Patents
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Abstract
本发明是有关于一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法，其主要结构包括有一编程接口、一模式暂存器、一控制信号产生器、一熔丝单元、一主存储阵列及一冗余存储阵列，其中编程接口包括有复数个接脚，并由存储模块的一标准接口中所选定而成，编程接口用于输入复数个编程指令及编程数据，当缺陷存储晶胞出现于主存储阵列时，模式暂存器将根据编程指令而进入一编程模式，并依此编程熔丝单元，如此冗余存储阵列的冗余存储晶胞将可用于取代缺陷存储晶胞，藉此，熔丝单元可通过标准接口直接进行编程程序，以有效的减少修补时间及降低成本。
Description
技术领域
本发明是有关于一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法，熔丝单元可通过标准接口直接进行编程程序，以有效的减少修补时间及降低成本。
背景技术
现今的存储装置，由于容量的要求越来越高，所以封装程序将相对的变的更复杂与困难。在制程程序中，高整合的存储装置容易出现较多的缺陷存储晶胞。因此，存储装置随着容量的增加将产生更多的缺陷存储晶胞，而将进一步影响到存储装置的良率。
传统上，常使用冗余存储阵列来提升存储装置的良率，并且该冗余存储阵列是为冗余存储晶胞所组成。当缺陷存储晶胞出现于存储装置的主存储阵列中时，围绕在主存储阵列四周的冗余存储晶胞将取代缺陷存储晶胞。因此，在制程程序中，冗余存储阵列的采用将有效的提升存储装置的良率。
又，习用技术中，各冗余存储阵列分别通过一熔丝连接至主存储阵列中对应的位元线及字线。在进行一缺陷存储晶胞修补时，对应的熔丝将通过一激光光束熔断，以使得熔丝呈现开启的状态，如此，冗余存储晶胞将根据熔断的熔丝，取代缺陷存储晶胞。相反的，若无缺陷存储晶胞的产生，各熔丝将保持关闭的状态。藉此，缺陷存储晶胞产生时，熔丝将被编程开启，以对于主存储阵列中的缺陷存储晶胞的地地址进行修补。
在进行修补的过程中，往往必须使用一激光机台，并通过激光机台来产生激光光束以熔断熔丝。然，移动激光机台是相当不便的，并且将会增加成本及修补周期。此外，使用上述方式，当存储装置已经封装后，即使之后发现失败的存储晶胞仍不能进一步修补，将使得存储装置成为一劣品。
发明内容
本发明主要目的在于提供一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法，其中存储模块通过编程接口直接编程熔丝单元，甚至在完成封装程序之后，即使找到缺陷的存储晶胞，仍可修补缺陷存储晶胞。
本发明次要目的在于提供一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法，其中标准接口的编程接口用以修补缺陷存储晶胞，如此将有效的减少修补周期及成本，并且修补程序将更便利。
本发明又一目的在于提供一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法，其中一编程模式设定于一模式暂存器中，如此存储模块将根据一编程指令以进入编程模式及标准模式的其中之一。
为达成上述目的，本发明提供一种修补缺陷存储晶胞的存储模块及其修补方法，其主要结构包括有：一编程接口，包括有复数个接脚，是由该存储模块的一标准接口中所选定而成，用于输入复数个编程指令及复数个编程数据；一模式暂存器，连接至该标准接口，用以接收该编程指令，并根据该编程指令进入一编程模式及一标准模式的其中的一者；一控制信号产生器，连接至该标准接口及该模式暂存器，用以接收该编程指令及该编程数据；一熔丝单元，连接该控制信号产生器；一主存储阵列，包括有复数个存储晶胞，连接该控制信号产生器；及一冗余存储阵列，包括有复数个冗余存储晶胞，连接该熔丝单元及该控制信号产生器，并根据该熔丝单元以取代该主存储阵列中的缺陷存储晶胞；其中，当该存储模块在该编程模式时，该控制信号产生器根据该编程指令及该编程数据编程该熔丝单元。
为达成上述另一目的，本发明提供一种缺陷存储晶胞的修补方法，其主要步骤包括有：定义一编程接口，其包括有复数个接脚，并由该存储模块的一标准接口中所选定而成；根据该编程接口所输入的一第一编程指令进入一编程模式；栓锁该编程接口所输入的至少一编程数据；拉升一工作电压，并且根据该编程接口所输入的该编程数据及一第二编程指令编程一熔丝单元；恢复该工作电压，并且根据该编程接口所输入的一第三编程指令停止编程该熔丝单元；及根据该编程接口所输入的一第四编程指令离开该编程模式。
本发明的有益效果在于：记忆存储模组模块10能够通过模块本身的标准接口13来进行缺陷记忆存储晶胞的修补，不仅可直接对于熔丝进行编程，以减少修补时间及降低成本，并且不需要激光机台即可完成编程动作。此外，即使完成存储模块10的封装，仍可对于缺陷的记忆存储晶胞进行修补，藉此以增加产品良率。
附图说明
图1为本发明存储模块的编程接口的方块示意图；
图2为本发明存储模块一较佳实施例的电路方块示意图；
图3为本发明缺陷列存储晶胞的修补方法的方法流程图；
图4为本发明缺陷行存储晶胞的修补方法的方法流程图。
附图标记说明：
10-存储模块；11-编程指令；12-编程数据；13-标准接口；15-编程接口；17-模式暂存器；19-控制信号产生器；20-熔丝阵列；21-触发器；23-熔丝阵列；31-主存储阵列；33-冗余存储阵列；331-列冗余存储阵列；333-行冗余存储阵列。
具体实施方式
请参阅图1，是为本发明存储模块的编程接口的方块示意图。如图所示，本发明存储模块10包括有一标准接口13，该标准接口13包括有复数个接脚，并且复数个接脚中亦可选择部份接脚来作为一编程接口15，例如：CAS、RAS、A0、A1、A2及A3。并且，存储模块10可通过标准接口13中的编程接口15来进行缺陷存储晶胞的修补。此外，上述编程接口15的接脚仅是为本发明其中一实施例而已，该编程界面15亦可从标准接口13中选定别的接脚来组成，藉此以符合实际的设计需求。
请参阅图2，是为本发明存储模块一较佳实施例的电路方块示意图。如图所示，存储模块10包括有一编程接口15、一模式暂存器17、一控制信号产生器19、一熔丝单元20、一主存储阵列31及一冗余存储阵列33。
编程接口15用以输入复数个编程指令11及复数个编程数据12。其中编程数据12包括有修补地址信息，用以指示该主存储阵列31中缺陷存储晶胞的地址。模式暂存器17连接标准接口13以接收编程指令11，并用以记录及发布存储模块10的运作模式，而且编程指令11用以决定模式暂存器17进入一标准模式或一编程模式。
控制信号产生器19连接标准接口13及模式暂存器17，用以接收编程指令11及编程数据12。当模式暂存器17发布存储模块10操作于编程模式时，控制信号产生器19将根据编程指令11及编程数据12以进行缺陷存储晶胞的修补程序。
熔丝单元20连接控制信号产生器19，包括有一触发器21及一熔丝阵列23。触发器21用以锁存从编程接口15所输入的编程数据12，而熔丝阵列23是由复数个熔丝晶胞所组成，是为一非易失性存储器，并与该触发器21相连接。
此外，主存储阵列31包括有复数个主存储晶胞，而冗余存储阵列包括有一列冗余存储阵列331及一行冗余存储阵列333，并分别具有复数个冗余存储晶胞。主存储阵列31、列冗余存储阵列331及行冗余存储阵列333分别连接控制信号产生器19及熔丝单元20。
当存储模块10进行产品可靠度测试，并在主存储阵列31中发现缺陷存储晶胞，该模式暂存器17将会从编程接口15中接收到编程指令11，而编程指令11指示存储模块10进入编程模式，以使得存储模块10操作于编程模式。
而控制信号产生器19根据编程指令11接收编程数据12，并将编程数据12传输至触发器21，而该触发器21将锁存住编程数据12。此外，在编程模式周期中，控制信号产生器19将一工作电压拉升至编程模式所要求的电压量。藉此，将根据编程数据12所指示的修补地址信息，以一高电压编程熔丝阵列23中所对应的熔丝晶胞。
个别熔丝晶胞在完成编程程序后，熔丝阵列23中的编程熔丝晶胞将开启列冗余存储阵列331中所对应的列冗余存储晶胞及行冗余存储阵列333中所对应的行冗余存储晶胞。如此，这对应的列冗余存储晶胞及这对应的行冗余存储晶胞将可分别与主存储阵列31中的缺陷的列存储晶胞及行存储晶胞相连接，以取代缺陷的列存储晶胞及行存储晶胞。藉此，存储模块10将可成为一无缺陷的存储模块。
相对的，当存储模块10进行产品可靠度测试，并在主存储阵列31中未发现缺陷存储晶胞，该模式暂存器17将会从编程接口15接收到编程指令11，而编程指令11指示存储模块10进入标准模式。存储模块10操作于标准模式中，控制信号产生器19将不会接收到编程指令11及编程数据12，熔丝单元20也不会进行编程，并且冗余存储阵列33将处在关闭的状态，而此时的存储模块10可正常的存取主存储阵列31中的数据。
请参阅图3，是为本发明缺陷列存储晶胞的修补方法的方法流程图；本发明存储模块10可定义一编程接口15，该编程接口15包括有复数个接脚，而该接脚是由该存储模块10的一标准接口13中所选定而成，并且可通过该编程接口15以连续的输入一连串的编程指令11。
如图所示，列存储晶胞修补方法如以下步骤所述：首先，一第一列编程指令通过编程接口15输入于存储模块10，模式暂存器17将接收第一列编程指令，以记录及发布存储模块10进入列编程模式，如步骤51。
当存储模块10操作于列编程模式，可通过编程接口15继续输入一第二编程指令，而后，一控制信号产生器19接收第二编程指令将对于熔丝20进行编程，如步骤53。
同时间，控制信号产生器19通过编程接口15接收到第二编程指令外，尚接收到复数个编程数据12，该编程数据12包括有至少一列编程数据，并用以表示列修补地址的信息。而后，控制信号产生器19将编程数据12传输至熔丝单元20的触发器21，触发器21将锁存住编程数据12。此外，在列编程模式期间，控制信号产生器19会将一工作电压拉升至编程模式所要求的电压量。控制信号产生器19根据编程数据12所指示的修补地址信息，以一高电压编程熔丝阵列23中所对应的熔丝晶胞，藉此完成熔丝阵列23的个别熔丝晶胞编程动作。然后，已编程的熔丝晶胞将开启列冗余存储阵列33中所对应的列冗余存储晶胞，以使得对应的列冗余存储晶胞连接缺陷列存储晶胞，并以取代缺陷列存储晶胞，如步骤531。
当存储模块10根据编程数据12而完成全部缺陷列存储晶胞的修补，将通过编程接口15继续输入一第三编程指令。而控制信号产生器19从编程接口15接收到第三编程指令，将拉降工作电压至正常的电压值，并且停止熔丝单元20的编程，如步骤55。
当计忆模块10的工作电压恢复至正常的电压值，可通过编程接口15输入一第四编程指令，依此模式暂存器17将接收到第四编程指令。而模式暂存器17将根据第四编程指令的指示，以发布存储模块10离开列编程模式，并回复至标准模式，如步骤57。
请参阅图4，是为本发明缺陷行存储晶胞的修补方法的方法流程图；本发明存储模块10可定义一编程接口15，该编程接口15包括有复数个接脚，而该接脚是由该存储模块10的一标准接口13中所选定而成，并且可通过该编程接口15以连续的输入一连串的编程指令11。
如图所示，行存储晶胞修补方法如以下步骤所述：首先，一第一行编程指令通过编程接口15输入于存储模块10，模式暂存器17接收第一行编程指令，以记录及发布存储模块10进入行编程模式，如步骤61。
当存储模块10操作于行编程模式，可通过编程接口15继续输入一第二编程指令，而后，一控制信号产生器19接收第二编程指令将对于熔丝20进行编程，如步骤63。
同时间，控制信号产生器19通过编程接口15接收到第二编程指令外，尚接收到复数个编程数据12，该编程数据12包括有至少一行编程数据，并用以表示行修补地址的信息。而后，控制信号产生器19将编程数据12传输至熔丝单元20的触发器21，触发器21将锁存住编程数据12。此外，在行编程模式期间，控制信号产生器19会将一工作电压拉升至编程模式所要求的电压量。而控制信号产生器19根据编程数据12所指示的修补地址信息，以一高电压编程熔丝阵列23中所对应的熔丝晶胞，藉此完成熔丝阵列23的个别熔丝晶胞编程动作。然后，已编程的熔丝晶胞将开启行冗余存储阵列33中所对应的行冗余存储晶胞，以使得对应的行冗余存储晶胞连接缺陷行存储晶胞，并以取代缺陷行存储晶胞，如步骤631。
当存储模块10根据编程数据12而完成全部缺陷行存储晶胞的修补，将通过编程接口15继续输入一第三编程指令。而控制信号产生器19从编程接口15接收到第三编程指令，将拉降工作电压至正常的电压值，并停止熔丝单元20的编程，如步骤65。
最后，当计忆模块10的工作电压恢复至正常的电压值，可通过编程接口15输入一第四编程指令，依此模式暂存器17将接收到第四编程指令。而模式暂存器17将根据第四编程指令的指示，以发布存储模块10离开行编程模式，并回复至标准模式，如步骤67。
总和上述，本发明的存储模块10能够通过模块本身的标准接口13来进行缺陷存储晶胞的修补，不仅可直接对于熔丝进行编程，以减少修补时间及降低成本，并且不需要激光机台即可完成编程动作。此外，即使完成存储模块10的封装，仍可对于缺陷的存储晶胞进行修补，藉此以增加产品良率。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明实施的范围，即凡依本发明权利要求所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰，均应包括于本发明的权利要求范围内。
Claims (14)
1.一种修补缺陷存储晶胞的存储模块，其特征在于，包括有一编程接口、一模式暂存器、一控制信号产生器、一熔丝单元、一主存储阵列和一冗余存储阵列，其中：
所述编程接口，包括有复数个接脚，是由该存储模块的一标准接口中所选定的接脚组成，用于输入复数个编程指令及复数个编程数据；所述编程数据包括修补地址信息，用以指示所述主存储阵列中缺陷存储晶胞的地址；
所述模式暂存器，连接至该标准接口，用以接收该编程指令，并根据该编程指令进入一编程模式及一标准模式的其中之一；
所述控制信号产生器，连接至该标准接口及该模式暂存器，用以接收该编程指令及该编程数据；
所述熔丝单元，连接该控制信号产生器；
该熔丝单元包括有：
一触发器，连接该控制信号产生器；及
一熔丝阵列，包括有复数个熔丝晶胞，连接该触发器及该控制信号产生器；
所述主存储阵列，包括有复数个存储晶胞，连接该控制信号产生器；及
所述冗余存储阵列，包括有复数个冗余存储晶胞，连接该熔丝单元及该控制信号产生器，并根据该熔丝单元以取代该主存储阵列中的缺陷存储晶胞；
其中，当所述模式暂存器发布该存储模块操作在该编程模式时，该控制信号产生器根据该编程指令及该编程数据编程该熔丝单元，以进行缺陷存储晶胞的修补；
当存储模块进行产品可靠度测试，并在主存储阵列中发现缺陷存储晶胞，该模式暂存器将会从编程接口中接收到编程指令，而编程指令指示存储模块进入编程模式，以使得存储模块操作于编程模式；
而控制信号产生器根据编程指令接收编程数据，并将编程数据传输至触发器，而该触发器将锁存住编程数据；在编程模式周期中，控制信号产生器将一工作电压拉升至编程模式所要求的电压量，将根据编程数据所指示的修补地址信息，以一高电压编程所述熔丝阵列中所对应的熔丝晶胞；
在完成编程程序后，已编程的熔丝晶胞开启冗余存储阵列中对应的冗余存储晶胞，使冗余存储晶胞与该主存储阵列中的缺陷存储晶胞连接。
2.根据权利要求1所述的存储模块，其特征在于，该熔丝阵列是为一非易失性存储器。
3.根据权利要求1所述的存储模块，其特征在于，该冗余存储阵列包括有一列冗余存储阵列及一行冗余存储阵列。
4.根据权利要求1所述的存储模块，其特征在于，该编程指令包括有复数个列编程指令及复数个行编程指令。
5.根据权利要求1所述的存储模块，其特征在于，该编程数据包括有复数个列编程数据及复数个行编程数据。
6.根据权利要求1所述的存储模块，其特征在于，该编程模式包括有一列编程模式及一行编程模式。
7.根据权利要求1所述的存储模块，其特征在于，该存储模块是为一DRAM存储模块及一SDRAM存储模块的其中之一。
8.一种缺陷存储晶胞的修补方法，其特征在于，其是基于如权利要求1所述的修补缺陷存储晶胞的存储模块的，所述缺陷存储晶胞的修补方法包括以下步骤：
定义一编程接口，其包括有复数个接脚，并由该存储模块的一标准接口中所选定的接脚组成；
根据该编程接口所输入的一第一编程指令进入一编程模式；
栓锁该编程接口所输入的至少一编程数据；
控制信号产生器拉升一工作电压，并且根据该编程接口所输入的该编程数据及一第二编程指令编程一熔丝单元；该熔丝单元包括有一触发器及一熔丝阵列；
根据该编程接口所输入的该编程数据及一第二编程指令编程一熔丝单元包括：将该至少一编程数据传输至所述触发器，所述触发器锁存住所述编程数据；
控制信号产生器根据所述编程数据所指示的修补地址信息，以一高电压编程所述熔丝阵列中所对应的熔丝晶胞；
恢复该工作电压，并且根据该编程接口所输入的一第三编程指令停止编程该熔丝单元；及
根据该编程接口所输入的一第四编程指令离开该编程模式。
9.根据权利要求8所述的修补方法，其特征在于，该触发器用以栓锁该编程数据。
10.根据权利要求8所述的修补方法，其特征在于，该熔丝阵列是为一非易失性存储器。
11.根据权利要求8所述的修补方法，其特征在于，该编程模式是为一修补列存储晶胞的列编程模式。
12.根据权利要求8所述的修补方法，其特征在于，该编程模式是为一修补行存储晶胞的行编程模式。
13.根据权利要求11所述的修补方法，其特征在于，该第一编程指令包括一第一列编程指令，而该编程数据包括有至少一列编程数据。
14.根据权利要求12所述的修补方法，其特征在于，该第一编程指令包括一第一行编程指令，而该编程数据包括有至少一行编程数据。
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