CN101398456B - 测试卡及其自动测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明为一种测试卡及其自动测试方法，用于一自动测试系统以测试一电子装置的一插槽。该测试卡包括一测试电路以及一金属片。该自动测试的方法包括：将一测试信号输入给该插槽内的一写入保护接脚；判断该测试电路是否经由金属片与该写入保护接脚连接并形成一回路；测量该回路的一阻抗值；以及判断该阻抗值是否接近一定值。

Description

测试卡及其自动测试方法

技术领域

本发明涉及一种测试卡，特别涉及一种用来测试插槽的写入保护接脚的测试卡。

背景技术

随着科技的进步，现在电子装置的生产与使用的需求量也日益增加。因此可测试电子装置的作用的自动测试系统也已经广泛地被使用于生产线上。现在部份的电子装置配备了可读取其他衍生的装置的插槽，例如可读取SD存储卡的插槽。因此，自动测试系统在自动化地测试电子装置的作用的同时，也必须测试其插槽的作用。

以SD存储卡的插槽为例，其内部的信号接脚除了可传输数据的接脚外，还包括了可判断SD存储卡是在锁定或是解除(Lock/Unlock)的状况的写入保护接脚。由于写入保护接脚位于插槽的侧边，因此在现有技术当中，若要测试插槽中的写入保护接脚是否能作用正常，则必须要利用一张SD存储卡分别在锁定或是解除的状况下进行读写，藉此确定写入保护接脚是否能发挥作用。但是若进行上述的测试方法，至少要执行两次的插拔动作以调整SD存储卡是处于锁定或是解除状况。如此一来就会花费超过二十秒的时间，会大大地延长自动测试的时间及降低自动测试的效率。

因此需要发明一种新的测试系统与方法以解决现有技术所产生的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种测试卡及其自动测试系统，以达到快速测试插槽内写入保护接脚的效果。

本发明的另一主要目的在于提供一种自动测试方法，以藉由测试卡及其自动测试系统达到快速测试插槽内写入保护接脚的效果。

为达到上述目的，本发明的自动测试系统包括测试卡与测试夹具。测试夹具具有自动测量电阻或电压值等测试的功能。测试卡用以安装于电子装置的一插槽内，使得测试夹具得以测试插槽内多个接脚的作用。测试卡包括测试电路与金属片。金属片与测试电路电性连接，并且接触到插槽的写入保护接脚。金属片使得写入保护接脚与测试电路形成回路。

本发明的自动测试方法为：将测试信号输入到插槽内的写入保护接脚；判断测试电路与写入保护接脚是否形成回路；若没有，即输出不正常信号；若形成回路，测试夹具即测量回路的阻抗值；判断阻抗值与电阻的电阻值的差距是否小于一定值；若小于所述定值，即输出正常信号；以及若大于所述定值，即输出不正常信号。

附图说明

图1为本发明的测试卡的示意图。

图2为本发明的测试卡与插槽连接的示意图。

图3为本发明的自动测试系统与插槽内多个信号接脚连接的电路图。

图4为本发明的自动测试方法的步骤流程图。

主要组件符号说明：

自动测试系统10     测试卡11

测试夹具12         测试电路20

金属片31           电子装置90

插槽91             信号接脚P1～P11

写入保护接脚P12    地端接脚GND

电阻R1～R8

具体实施方式

为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出本发明的具体实施例，并配合附图，作详细说明如下。

接下来请同时参考图1到图3关于测试卡及自动测试系统与插槽内多个信号接脚连接的电路图。其中图1为本发明的测试卡的示意图；图2为本发明的测试卡与插槽连接的示意图；以及图3为本发明的自动测试系统与插槽内多个信号接脚连接的电路图。

本发明的自动测试系统10包括测试卡11与测试夹具12。自动测试系统10用以自动测试电子装置90的插槽91的作用是否正常。在本实施例中，插槽91为一SD存储卡插槽，并且测试卡11与一SD存储卡的外观规格相同，以供将测试卡11插入于插槽91内来进行测试，但本发明并不以此为限。电子装置90可以为一笔记本计算机，但本发明并不以此为限。本发明的测试卡11包括测试电路20与金属片31。测试电路20可包括多个电阻R1～R8。测试卡11所要测试的插槽91具有多个信号接脚P1～P12以及地端接脚GND。金属片31为一铜片，可以利用电镀法来电镀于测试卡11上，但本发明并不以此为限。并且金属片31与测试电路20电性连接。测试卡11插入插槽91时，测试电路20可与插槽91内的信号接脚P1～P12以及地端接脚GND电性连接，以形成多个回路。

测试夹具12具有自动测量电阻或电压值等测试的功能。自动测试系统10利用测试夹具12以自动测试电子装置90的插槽91的作用是否正常，特别是有无空焊、冷焊或短路的情形发生。由于测试夹具12已普遍使用于一般的测试系统，故在此不再赘述其功能。当自动测试系统10要进行测试时，将测试夹具12与插槽91内多个信号接脚P1～P12电性连接，测试卡11则用以安装于电子装置90的插槽91内。使得测试夹具12可经由测试卡11测试插槽91内多个信号接脚P1～P12的作用。测试夹具12测量回路的阻抗值并与电阻R1～R8的电阻值做比较，即可得知插槽91内多个信号接脚是否有空焊、冷焊或是短路的情况。并且在测试卡11插入插槽91时，金属片31可接触位于插槽91侧边的写入保护接脚P12，使得写入保护接脚P12与测试电路20形成回路。由于现有技术中的SD存储卡不具有金属片31，因此无法让写入保护接脚P12直接与SD存储卡接触以形成回路，所以现有技术的测试夹具即无法利用上述的方法来判断写入保护接脚P12是否有空焊、冷焊或是短路的情况。

接下来请参考图4关于本发明的自动测试方法的步骤流程图。需注意的是，以下为了便于说明，以图1到图3所示的自动测试系统10与电子装置90为例说明本发明的自动测试方法，但本发明并不以此为限。此外，以下虽然以测试写入保护接脚P12为例，但本发明自动测试系统10所能测试的接脚并不以写入保护接脚P12为限。

本发明首先进行步骤400：将测试卡插入插槽内。

本发明首先将测试卡11插入插槽91内，以利用金属片31接触插槽91内写入保护接脚P12，使得测试电路20与写入保护接脚P12得以形成一回路。

接着本发明进行步骤401：将测试信号输入给插槽内的写入保护接脚。

接着由测试夹具12输入测试信号到插槽91内的写入保护接脚P12。

步骤402：判断测试电路与写入保护接脚是否形成回路。

接着即判断测试电路20与写入保护接脚P12是否形成回路。在本实施例中为藉由测试夹具12输入测试信号进行判断。在步骤401中，测试夹具12由写入保护接脚P12输入测试信号，测试信号会经由金属片31流经测试卡11的测试电路20，再传回插槽91中的信号接脚P6，最后会传输到地端接脚GND以形成回路。若测试夹具12在地端接脚GND有检测到测试信号的流通，即进行步骤403。若没有，即代表插槽91有接脚接线不正常，即进行步骤406。

接着进行步骤403：测量回路的阻抗值。

测试夹具12接着测量在步骤402中所形成的回路的阻抗值。

并且进行步骤404：判断该阻抗值与电阻值的差距是否小于一定值。

藉由步骤403中所量得的阻抗值，再去与此回路上的电阻R8的电阻值作比较。其中电阻R8为测试电路20中与写入保护接脚P12电性连接的电阻。由于电阻R8的电阻值为已知且不变，回路的阻抗值应该等于或接近电阻R8的电阻值。因此当回路的阻抗值与电阻R8的电阻值的差距小于一定值，即可确定写入保护接脚P12是作用正常的。若回路的阻抗值接近无限大，即可确定写入保护接脚P12为空冷焊的情况。若回路的阻抗值很小，则写入保护接脚P12可能有短路的情况发生。

若小于该定值，就进行步骤405：输出正常信号。

此时自动测试系统10会输出代表电子装置90的插槽91正常的信号。自动测试系统10即可再进行其他的测试。

若大于该定值，就进行步骤406：输出不正常信号。

此时自动测试系统10会输出不正常的信号，测试夹具12会停止测试的流程，以进行后续的处理。

自动测试系统10再重复上述的步骤即可测试完其他的信号接脚。由于测试其他接脚的方法与测试写入保护接脚P12的方法类似，且并非本发明的重点所在，故在此不再赘述。

此处需注意的是，本发明的自动测试方法并不以上述的步骤次序为限，只要能达到本发明的目的，上述的步骤次序亦可加以改变。

如此一来，藉由本发明的自动测试系统10与自动测试方法即可不需要将SD存储卡重复插入插槽91来测试写入保护接脚P12的作用是否正常。就本实施例而言，自动测试系统10只要利用测试卡11重复执行测试流程，即可以测试完所有插槽91内的信号接脚P1～P12。并可立即得知电子装置90的插槽91是否能作用正常，所花费时间约在1秒之内。相比较于在现有技术中，自动测试系统10必须要花费超过20秒以上才可以测试完插槽91内的写入保护接脚P12。因此由上述的说明可以得知利用本发明的系统与方法可以在测试时节省下许多人力与时间。

综上所陈述的，本发明无论就目的、手段及功效，处处均显示其迥异于公知技术的特征，恳请贵审查员明察，早日赐准专利，使得嘉惠社会，实感德便。惟应注意的是，上述诸多实施例仅是为了便于说明而举例而已，本发明所要求保护的权利范围自然应当以权利要求书所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (15)

1.一种测试卡，用以安装于一电子装置的一插槽内，藉由一测试夹具测试所述插槽的多个信号接脚的功能，所述测试卡包括：

一测试电路；以及

一金属片，与所述测试电路电性连接，并接触所述插槽内的一写入保护接脚，使得所述测试电路与所述写入保护接脚得以形成一回路。

2.如权利要求1所述的测试卡，其中所述测试电路还包括与一地端接脚电性连接以形成所述回路。

3.如权利要求1所述的测试卡，其中所述测试电路还包括一电阻，所述电阻与所述写入保护接脚电性连接，使得所述测试夹具得以判断所述回路的一阻抗值与所述电阻的电阻值的差距是否小于一定值。

4.如权利要求1所述的测试卡，其中所述金属片为一铜片。

5.如权利要求1所述的测试卡，其中所述金属片为利用一电镀法电镀于所述测试卡上。

6.如权利要求1所述的测试卡，其中所述测试卡与一SD存储卡的外观规格相同。

7.一种自动测试的方法，用于一测试卡，以测试一电子装置的一插槽，所述测试卡包括一测试电路以及一金属片，所述自动测试的方法包括：

将所述测试卡插入所述插槽中，以利用所述金属片接触所述插槽内的一写入保护接脚，使得所述测试电路与所述写入保护接脚得以形成一回路；

将一测试信号输入给所述插槽内的所述写入保护接脚；以及

测试所述测试信号是否流经所述回路。

8.如权利要求7所述的自动测试的方法，还包括以下步骤：

利用一电阻与所述写入保护接脚电性连接；

测量所述回路的一阻抗值；以及

判断所述阻抗值与所述电阻的电阻值的一差距是否小于一定值。

9.如权利要求8所述的自动测试的方法，还包括以下步骤：

若所述差距小于所述定值，则输出一代表正常的信号；或者若所述差距大于所述定值，则输出一代表不正常的信号。

10.一种自动测试系统，用以测试一电子装置的一插槽，所述插槽具有多个信号接脚，所述自动测试系统包括：

一测试夹具，用以电性连接所述多个信号接脚；以及

一测试卡，用以安装于所述插槽内，所述测试卡包括：

一测试电路；以及

一金属片，与所述测试电路电性连接，并用以接触所述插槽内的一写入保护接脚，使得所述测试电路与所述写入保护接脚得以形成一回路，其中所述自动测试系统利用所述测试夹具输入一测试信号至所述写入保护接脚，并测试所述测试信号是否流经所述回路。

11.如权利要求10所述的自动测试系统，其中所述测试电路还包括与一地端接脚电性连接以形成所述回路。

12.如权利要求10所述的自动测试系统，其中所述测试电路还包括一电阻，所述电阻与所述写入保护接脚电性连接，所述测试夹具还包括用以判断所述回路的一阻抗值与所述电阻的电阻值的差距是否小于一定值。

13.如权利要求10所述的自动测试系统，其中所述金属片为一铜片。

14.如权利要求10所述的自动测试系统，其中所述金属片为利用一电镀法电镀于所述测试卡上。

15.如权利要求10所述的自动测试系统，其中所述测试卡与一SD存储卡的外观规格相同。

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