CN101387669B - 检测装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种检测装置及方法、以及程序。检测装置能够高速且高精度地检测人体的接触或非接触。测量单元(113)分别测量连接到多个人体所接触的电极的部位的静电电容,比较单元(112b)比较接触部分的每个电极的阈值,控制单元(112)基于比较结果,判定人体是否接触。参照值计算单元(112b)基于累积地存储在存储单元(112a)的与多个电极对应的测量结果,计算成为每个电极的参照电容的参照值,差分计算单元(112c)计算每个电极的参照电容和测量的多个测量结果之间的差分绝对值,阈值调整单元(112d)通过从每个电极的阈值减去在计算的多个电极的每个的差分绝对值和中除去了各电极的差分绝对值的值来调整阈值。本发明可适用于接触式传感器。

Description

检测装置及方法
技术领域
本发明涉及检测装置及方法、以及程序,特别涉及能够高速且高精度地测量人体的接触或非接触的检测装置及方法、以及程序。 
背景技术
正在普遍地普及着基于电极等的静电电容的变化来检测人体的接触或非接触的接触式传感器(touch sensor)。 
接触式传感器通过检测成为接触部分的电极单元的静电电容,并判断所检测的静电电容是否为人体具有的静电电容,从而检测人体的接触或者非接触的状态。接触式传感器例如被采用在电梯的操作按钮或扒金库(一种游戏名)游戏机的游戏球的发射装置等中。 
但是,接触式传感器存在因人以外的物的接触而产生误动作的情况。因此,提出了用于防止接触式传感器的误动作的方法。 
例如,提出了如下的结构(参照专利文献1):在由电极构成的触摸键的按下时间为规定以上的情况下,或者在输出变化的平均值为最大变化时的比率以下的情况下,判定为不是人用手指对键进行操作,此时取消接受动作。 
此外,还提出了如下的结构(参照专利文献2):在非接触式开关的主要的检测元件的周围配置多个检测电极,在产生用于检测人体对主要的检测电极的接触的信号时,从产生到规定时间内还产生对应于周围的电极的检测信号时,不产生输出信号。 
专利文献1:(日本)特开2007-141541号公报 
专利文献2:(日本)特开平06-162888号公报 
但是,在上述的专利文献1的方法的情况下,因手的扁平而同时按压了多个开关的情况或金属暂时地接近的情况下,存在产生输出信号的顾虑。 
此外,在专利文献2的方法的情况下,在检测出主要的检测元件的有无接触之后,需要等待规定时间,存在对响应速度产生影响的顾虑。 
发明内容
本发明鉴于这样的状况而完成,特别是基于多个电极的静电电容的变化来调整用于判定是否检测到接触的静电电容的阈值,从而可以高精度且高速地判定基于静电电容的人体的有无接触。 
本发明的一方面的检测装置包括:测量单元,分别测量包括未知电容的多个第1蓄电器的电容;多个接触单元,电连接到所述多个第1蓄电器,配置在附近位置的人体直接接触或者经由绝缘物体间接地接触;判定单元,基于由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容与每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到所述接触单元;存储单元,分别累积地存储由所述测量单元所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;参照电容计算单元,基于存储在所述存储单元的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;差分计算单元,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及调整单元,基于由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。 
也可以还包括:第3蓄电器,一端连接到将包括已知的电容的第2蓄电器和所述第1蓄电器串联连接且将一端接地的电路的另一端,并且另一端接地,对所述电路的另一端施加自己的充电电压,从而将电荷充电到所述第1蓄电器、以及与所述第1蓄电器的每个对应的包括已知的电容的多个第2蓄电器;第1放电单元,将充电到所述第3蓄电器的电荷的一部分进行放电,同时将充电到所述第2蓄电器的全部电荷进行放电;第2放电单元,在与所述第1放电单元大致相同的时刻,将充电到所述第1蓄电器的全部电荷进行放电;次数测量单元,测量所述第1放电单元以及所述第2放电单元的放电次数;以及比较单元,比较所述第1蓄电器的充电电压和基准电压,所述测量单元在所述第1放电单元以及所述第2放电单元的放电重复的情况下,根据所述比较单元的比较结果在所述第1蓄电器的充电电压与所述基准电压一致或者小于所述基准电压时,基于此时的由所述次数测量单元所测量的放电次数,计算所述第1蓄电器的电容来测量所述第1蓄电器的电容。 
也可以使所述第1放电单元经由串联连接到所述第3蓄电器的电阻,将充电到所述第3蓄电器的电荷仅放电规定时间,从而将充电到所述第3蓄电 器的电荷的一部分放电。 
也可以还包括:充电单元,以规定的充电电压对所述第3蓄电器进行充电,也可以使所述充电单元对所述第3蓄电器直接进行充电。 
也可以还包括:充电单元,以规定的充电电压对所述第3蓄电器进行充电,也可以使所述第1放电单元的一端接地,另一端连接到所述电路和所述电阻之间,所述充电单元从与所述第1放电单元的另一端相同的位置,对所述第3蓄电器进行充电。 
也可以与所述电阻并联、在对所述第3蓄电器充电的电流方向上配置的二极管。 
也可以还设置切换一个包括已知电容的第2蓄电器和多个所述第1蓄电器而将其串联连接的切换单元。 
也可以使所述第2蓄电器还包括电极,也可以使人体可直接或者经由绝缘物体间接地接触到所述电极。 
也可以使所述调整单元,在由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去所述各第1蓄电器的差分绝对值的值,再从所述第1蓄电器的每个的阈值,减去该差值,据此来调整所述阈值。 
本发明的一方面的检测方法,包括以下步骤:测量步骤,分别测量包括未知电容的多个第1蓄电器的电容;判定步骤,基于由测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容与每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到接触单元;存储步骤,分别累积地存储由所述测量步骤的处理所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;参照电容计算步骤,基于通过所述存储步骤的处理而存储的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;差分计算步骤,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和通过所述测量步骤的处理所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及调整步骤,基于通过所述差分计算步骤的处理所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。 
本发明的一方面的程序,使计算机执行包括以下步骤的处理:测量步骤,分别测量包含未知电容的多个第1蓄电器的电容;判定步骤,基于由测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容与每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到接触单元;存储步骤,分别累积地存储 由所述测量步骤的处理所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;参照电容计算步骤,基于通过所述存储步骤的处理而存储的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;差分计算步骤,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和通过所述测量步骤的处理所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及调整步骤,基于通过所述差分计算步骤的处理所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。 
在本发明的一方面的检测装置及方法、以及程序中,分别测量由未知电容构成的多个第1蓄电器的电容,配置在附近位置的人体直接或者经由绝缘物体间接地接触,基于所测量的多个第1蓄电器的电容和每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触,分别累积地存储所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果,基于存储的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值,基于所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。 
在本发明的检测装置中的由未知电容构成的多个第1蓄电器,例如是多个未知电容的电容器,分别测量该电容器的电容的测量单元,例如是测量单元,电连接到所述多个第1蓄电器,配置在附近位置的人体直接或者经由绝缘物体间接地接触的多个接触单元,例如是多个电极,基于由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容和每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到所述接触单元的判定单元,例如是控制单元,分别累积地存储由所述测量单元所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果的存储单元,例如是存储单元,基于存储在所述存储单元的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容的参照电容计算单元,例如是参照值计算单元,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值的差分计算单元,例如是差分计算单元,基于由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值的调整单元,例如是阈值调整单元。 
即,对连接到作为多个人体的接触部位的电极的部位的静电电容进行测量,将测量的静电电容与规定的阈值进行比较,从而检测有无人体的接触。此时,对每个电极根据附近的多个测量结果来求出参照值,求出与最新的测量结果之间的差分绝对值,从而求出静电电容的变化。而且,通过用对每个电极设定的阈值对除去了自己的电极的差分绝对值的差分绝对值和进行减法运算,从而阈值被调整,因此在接触到多个电极的状况下静电电容变化时,设为难以检测接触的状态,从而降低错误检测。 
根据本发明,可以高精度且高速地检测人体的接触或非接触。 
附图说明
图1是用于说明适用了本发明的接触式传感器的一实施方式的结构的图。 
图2是用于说明图1的接触式传感器的概念的电路图。 
图3是用于说明通过图1的微型计算机所实现的功能的图。 
图4是用于说明图1的接触式传感器的接触式开关动作处理的流程图。 
图5是用于说明图1的接触式传感器的测量处理的流程图。 
图6是用于说明图1的接触式传感器的测量处理的图。 
图7是用于说明图1的接触式传感器的测量处理的定时图。 
图8是用于说明未知电容器的电容的计算方法的图。 
图9是用于说明未知电容器的电容的计算方法的图。 
图10是用于说明未知电容器的电容的计算方法的图。 
图11是用于说明未知电容器的电容的计算方法的图。 
图12是用于说明未知电容器的电容的计算方法的图。 
图13是用于说明接触式传感器的其他结构的电路图。 
图14是用于说明由图13的电路结构所构成的接触式传感器的结构的图。 
图15是用于说明通过图14的微型计算机所实现的功能的图。 
图16是用于说明图14的接触式传感器的测量处理的流程图。 
图17是用于说明图14的接触式传感器的测量处理的图。 
图18是用于说明图14的接触式传感器的测量处理的定时图。 
图19是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图20是用于说明图19的接触式传感器的动作的图。 
图21是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图22是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图23是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图24是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图25是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图26是用于说明接触式传感器的其他结构的图。 
图27是用于说明通过图26的微型计算机所实现的功能的图。 
图28是用于说明图26的接触式传感器的接触式开关动作处理的流程图。 
图29是用于说明图26的接触式传感器的测量处理的流程图。 
图30是用于说明通用计算机的结构的图。 
标号说明 
1微型计算机、11控制单元、12开关动作单元、12a定时器、13测量单元、13a计数器、13b比较单元、21微型计算机、31开关动作单元、31a定时器 
具体实施方式
以下说明本发明的实施方式,对本说明书的记载的发明和发明的实施方式之间的对应关系进行例示,则如下所述。本记载是用于确认支持本说明书中记载的发明的实施方式被记载在本说明书中。因此,虽记载在发明的实施方式中,但即使存在作为对应于发明的实施方式而没有在这里记载的实施方式,也并不意味着该实施方式不是对应于本发明的实施方式。相反,即使实施方式作为对应于发明的实施方式而记载在这里,也并不意味着该实施方式不对应于本发明以外的发明。 
而且,本记载并不意味着记载在本说明书中的发明的全部。换言之,本记载并不否定记载在本发明书中的发明、且在本申请中没有申请的发明的存在,即将来进行分案申请或通过补正而出现、追加的发明的存在。 
即,本发明的一方面的检测装置包括:测量单元(例如,图27的测量单元113),分别测量包括未知电容的多个第l蓄电器(例如,图26的电容器Cx1至Cx4)的电容;多个接触单元(例如,图26的电极E1至E4),电连接到所述多个第1蓄电器,配置在附近位置的人体直接或者经由绝缘物体间接地接触;判定单元(例如,图27的控制单元112),基于由所述测量单元 所测量的多个第1蓄电器的电容和每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到所述接触单元;存储单元(例如,图27的存储单元112a),分别累积地存储由所述测量单元所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;参照电容计算单元(例如,图27的参照值计算单元112b),基于存储在所述存储单元的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;差分计算单元(例如,图27的差分计算单元112c),计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及调整单元(例如,图27的阈值调整单元112d),基于由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。 
也可以还包括:第3蓄电器(例如,图26的电容器Ca),一端连接到将包括已知电容的第2蓄电器(例如,图26的电容器Cs11)和所述第1蓄电器(例如,图26的电容器Cx1至Cx4)串联连接且将一端接地的电路的另一端,并且另一端接地,对所述电路的另一端施加自己的充电电压,从而将电荷充电到所述第1蓄电器、以及与所述第1蓄电器的每个对应的包括已知电容的多个第2蓄电器;第1放电单元(例如,图2的开关SW2),将充电到所述第3蓄电器的电荷的一部分进行放电,同时将充电到所述第2蓄电器的全部电荷进行放电;第2放电单元(例如,图2的开关SW3),在与所述第1放电单元大致相同的时刻,将充电到所述第1蓄电器的全部电荷进行放电;次数测量单元(例如,图27的计数器112a),测量所述第1放电单元以及所述第2放电单元的放电次数;以及比较单元(例如,图27的比较单元113b),比较所述第1蓄电器的充电电压和基准电压,所述测量单元(例如,图27的测量单元113)在所述第1放电单元以及所述第2放电单元的放电重复的情况下,根据所述比较单元的比较结果在所述第1蓄电器的充电电压与所述基准电压一致或者小于所述基准电压时,基于此时的由所述次数测量单元所测量的放电次数,计算所述第1蓄电器的电容来测量所述第1蓄电器的电容。 
也可以使所述第1放电单元通过经由串联连接到所述第3蓄电器(例如,图26的电容器Ca)的电阻,将充电到所述第3蓄电器的电荷仅放电规定时间(例如,图7的时刻t1之后的(时刻t(i+1)-时刻ti)),从而将充电到所述第3蓄电器的电荷的一部分放电。 
也可以还设置以规定的充电电压对所述第3蓄电器(例如,图26的电容器Ca)进行充电的充电单元,也可以使所述充电单元(例如,图2的电源Vcc)对所述第3蓄电器直接进行充电。 
也可以还设置以规定的充电电压对所述第3蓄电器进行充电的充电单元(例如,图13的电源Vcc),也可以使所述第1放电单元的一端接地,另一端连接到所述电路和所述电阻之间,所述充电单元从与所述第1放电单元的另一端相同的位置,对所述第3蓄电器进行充电。 
也可以与所述电阻并联、在对所述第3蓄电器充电的电流方向上配置的二极管(例如,图26的二极管D21)。 
也可以还设置将一个包括已知的电容的第2蓄电器、和对多个所述第1蓄电器进行切换使其串联连接的切换单元(例如,图27的切换单元101)。 
也可以使所述调整单元(例如,图27的阈值调整单元112d),在由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去所述各第1蓄电器的差分绝对值的值,再从所述第1蓄电器的每个的阈值,减去该差值,据此来调整所述阈值。 
本发明的一方面的检测方法,包括以下步骤:测量步骤(例如,图5的步骤S34),分别测量包含未知电容的多个第1蓄电器的电容;判定步骤(例如,图28的步骤S75、S76),基于由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容和每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到所述接触单元;存储步骤(例如,图29的步骤S91),分别累积地存储由所述测量步骤的处理所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;参照电容计算步骤(例如,图29的步骤S92),基于通过所述存储步骤的处理而存储的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;差分计算步骤(例如,图29的步骤S93),计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和通过所述测量步骤的处理所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及调整步骤(例如,图29的步骤S94),基于通过所述差分计算步骤的处理所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。 
此外,关于程序因与检测方法相同,所以省略说明。 
图1是表示适用了本发明的接触式传感器的实施方式的图。 
微型计算机1包括CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random AccessMemory)以及ROM(Read Only Memory)等,CPU通过根据需要在RAM中展开并执行存储在ROM中的规定的程序,从而执行各种处理。更具体地说,微型计算机1通过执行程序,从而对端子P0至P2输出Hi、Low的信号作为输出信号,设定HiZ(高阻抗状态:对于输入信号以高阻抗的状态不能接受信号的、输出信号既不是Hi也不是Low的状态),同时根据需要测定输入信号(端子的电压),执行对应于测定结果的处理。 
端子P0是用于提供对电容器Ca充电的电力的端子,在被控制为Hi时,将充电电压施加到电容器Ca。此外,在被控制为HiZ(高阻抗状态)时,端子P0停止充电。 
端子P1是将充电到电容器Ca的电荷经由电阻R进行放电的同时将充电到电容器Cs的电荷进行放电的端子,在被控制为Low时,将充电到电容器Ca、Cs的电荷进行放电,在被控制为HiZ时,停止放电。 
端子P2是将充电到电容器Cx的电荷进行放电的同时测定电容器Cx的充电电压的端子,若被控制为Low则将充电到电容器Cx的电荷进行放电,若被控制为HiZ则停止电容器Cx的放电,而且,若被控制为Hi则测定电容器Cx的充电电压Vx。 
电容器Ca以通过端子P0施加的电压来充电电荷,并通过端子P1经由电阻R来放电电荷。电容器Cs、Cx被串联连接,通过充电到电容器Ca的电荷来充电。 
电容器Cx是电路结构上的标记,将接触到电极E的人体等的静电电容的被测量物作为蓄电器来表示。因此,电容器Cx的电容是人体接触到电极E时的人体的静电电容,在人体没有接触到电极E时是非接触状态的静电电容。 
此外,电极E可以是人体可直接接触的结构,也可以是经由绝缘物体可间接地接触的结构。在以后的说明中,对电极E采用人体经由绝缘物体间接地接触的方式的情况进行了说明,但人体直接接触的方式的情况当然也是可以的。但是,在作为经由绝缘物体接触的方式的情况下,与人体直接接触的方式相比,静电电容的变化(人体接触时和非接触时的电容器Cx的静电电容的差)减小。 
图2是用于说明图1的接触式传感器的概念的电路图。 
开关SW1至SW3是分别将端子P0至P2的动作状态直截了当地表示的 开关。即,在端子P0被控制为Hi时,图2的电路的开关SW1成为ON的状态,其结果,电源Vcc以充电电压Vcc对电容器Ca进行充电。另一方面,在端子P0被控制为HiZ时,开关SW0成为OFF的状态。此外,在端子P1被控制为Low时,图中的电路的开关SW2成为ON,在被控制为HiZ时,控制为OFF。 
此外,在端子P2被控制为Low时,开关SW3成为ON,在被控制为HiZ时,成为OFF。此外,在端子P2被控制为Hi时,比较器Comp比较电容器Cx的充电电压Vx和参照电压Vref,并输出比较结果。此外,比较器Comp是通过后述的微型计算机1所实现的功能,并不是实际的比较电路。 
此外,设电容器Ca、Cs、Cx的充电电压分别由Va、Vs、Vx表示。 
接着,参照图3,说明通过微型计算机1所实现的功能。 
控制单元11控制微型计算机1的整体动作,若从未图示的操作单元指示到动作,则控制开关动作单元12,控制端子P0至P2的动作。此外,控制单元11基于由测量单元13所测量的电容器Cx的静电电容的测量结果,判定人体是否接触,并控制由CRT(Cathode Ray Tube)、LCD(Liquid Crystal Display)或者扬声器等构成的输出单元14,使其提示人体接触或没有接触的判定结果。 
若端子P0由开关动作单元12提供到Hi的信号,则虽然在图3中没有图示,但与使图2的开关SW1为ON时的情况相同地,通过电源Vcc以充电电压Vcc对电容器Ca进行充电。此外,若端子P0通过开关动作单元12而成为HiZ状态时,与使图2的开关SW1为OFF时的情况相同地,停止从电源Vcc对电容器Ca的电源供给。 
若端子P1通过开关动作单元12而成为Low状态时,使图2的开关SW2为ON的状态,使充电到电容器Ca的电荷通过电阻R缓缓地从接地点放电,同时使电容器Cs的充电电荷从接地点瞬时全部放电。此外,若端子P1通过开关动作单元12而成为HiZ状态时,使图2的开关SW2为OFF的状态,使电容器Ca和电容器Cs、Cx的合成电容器为并联连接的状态。 
若端子P2通过开关动作单元12而成为Low状态时,使图2的开关SW3为ON的状态,使充电到电容器Cx的充电电荷放电。此外,若端子P2通过开关动作单元12而成为HiZ状态时,使开关SW3为OFF的状态,保持电容器Cx的充电电荷。而且,若端子P2通过开关动作单元12而成为Hi状态时,测量电容器Cx的充电电压。 
开关动作单元12参照内置的定时器12a,每隔规定的时间间隔,控制端子P0至P2的动作。更详细地说,开关动作单元12每隔规定的时间间隔,将端子P0至P2按照规定的模式周期性地重复切换为Hi、HiZ或Low。此外,开关动作单元12在按照规定的模式重复的动作每结束一个周期时,对测量单元13提供其信号。 
测量单元13测量通过端子P2提供到的电容器Cx的充电电压Vx,同时与参照电压Vref进行比较,在充电电压Vx与参照电压Vref一致或比参照电压Vref小时,基于在此时存储在计数器13a的处理次数n、电容器Ca、Cs的静电电容、电阻R以及电源Vcc的充电电压Vcc,测量静电电容。 
测量单元13的计数器13a基于通过开关动作单元12而每次在根据规定的模式重复操作时所提供到的信号,对周期的次数(重复处理次数)n进行计数,同时为了平均地求出该处理次数n,对计数了处理次数n的次数m以及m次的处理次数n的总合N进行计数。 
比较单元13b是与在图2中的比较器Comp对应的结构,对通过端子P2提供到的充电电压Vx和参照电压Vref进行比较,在充电电压Vx与参照电压Vref一致或充电电压Vx比参照电压Vref小时,基于在此时存储在计数器13a的处理次数n、电容器Ca、Cs的静电电容、电阻R以及电源Vcc的充电电压Vcc,计算电容器Cx的静电电容,作为电容器Cx的测量结果而输出到控制单元11。 
接着,参照图4的流程图,说明图1的接触式传感器的接触式开关动作处理。 
在步骤S1中,控制单元11使开关动作单元12以及测量单元13的动作状态初始化。 
在步骤S2中,控制单元11使开关动作单元12进行开关动作,使测量单元13执行电容器Cx的静电电容的测量处理。 
这里,参照图5的流程图,说明电容器Cx的静电电容的测量处理。 
在步骤S21中,测量单元13将计数器13a的计数器m、N初始化为0。 
在步骤S22中,测量单元13将计数器13a的计数器n初始化为0。 
在步骤S23中,测量单元13的计数器13a将计数器m加1。 
在步骤S24中,开关动作单元12将端子P0的输出控制为Hi,通过电源Vcc对电容器Ca进行充电。即,通过端子P0的输出被控制为Hi,图2中所 示的开关SW1成为ON的状态,通过电源Vcc对电容器Ca提供电力,电容器Ca以充电电压Va=Vcc被充电。 
在步骤S25中,开关动作单元12基于定时器12a,将端子P0至P2仅规定的时间t全部控制为HiZ(高阻抗状态),保持电容器Ca的充电状态。即,通过端子P0至P2被控制为HiZ状态,在图2所示的开关SW1至SW2成为OFF的状态,从而电容器Ca维持以充电电压Va=Vcc被充电了的状态。 
在步骤S26中,测量单元13的计数器13a将计数器n加1。 
在步骤S27中,开关动作单元12基于定时器12a,仅规定的时间将端子P0控制为HiZ,并将端子P1、P2控制为Low,从而使充电到电容器Ca、Cs、Cx的电荷放电。此时,充电到电容器Cs、Cx的电荷瞬时经由接地部分放电,但充电到电容器Ca的电荷经由电阻R并通过开关SW2放电到接地部分,所以电荷的放电缓缓地进行,在规定的时间t内,仅是充电到电容器Ca的电荷的一部分被放电。 
在步骤S28中,开关动作单元12基于定时器12a,仅规定的时间t,将端子P0至P2控制为HiZ状态,从而充电到电容器Ca的电荷(通过步骤S27的处理而一部分放电的状态下所剩余的电荷)移动到电容器Cs、Cx,电容器Ca、Cs、Cx以充电了的状态保持。此时,因电容器Ca和电容器Cs、Cx的合成电容器形成并联电路,所以成为电容器Ca的充电电压Va等于电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx之和的状态。此外,电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx成为电容器Cs、Cx的电容的倒数比的关系。 
在步骤S29中,开关动作单元12基于定时器12a,仅规定的时间t,将端子P2控制为Hi状态,从而测量单元13仅规定的时间t通过端子P2测量电容器Cx的充电电压Vx,取得电容器Cx的充电电压。 
在步骤S30中,测量单元13的比较单元13b判定所测量的电容器Cx的充电电压Vx是否小于参照电压Vref。例如,在判定为充电电压Vx不小于参照电压Vref时,其处理返回到步骤S26。即,在步骤S30中,直到判定为充电电压Vx小于参照电压Vref为止,重复步骤S26至S30的处理,计数器n的值根据其重复处理次数而被增加。 
在步骤S30中,在判定为充电电压Vx小于参照电压Vref的情况下,在步骤S31中,测量单元13在重复了步骤S26至S30的处理的处理次数的总合N加上当前求出的处理次数n。 
在步骤S32中,测量单元13判定用于表示求出了重复处理次数n的次数的计数器m是否为预先设定的计数器m的上限值M以上,在判定为计数器m不是上限值M以上的情况下,该处理返回到步骤S22。即,直到计数器m成为上限值M以上为止,重复步骤S22至S32的处理。 
在步骤S32中,在判定为计数器m为上限值M以上的情况下,在步骤S33中,测量单元13求出电容器Cx的充电电压Vx降到参照电压Vref以下为止的步骤S26至S30的处理次数n的M次的平均值作为count。 
在步骤S33中,测量单元13基于处理次数n的平均值count、电容器Ca、Cs的电容、执行了步骤S25、S27、S28的处理的规定时间t、电源Vcc的充电电压Vcc以及参照电压Vref,计算电容器Cx的静电电容,并输出到控制单元11,结束测量处理。 
即,总结上述的处理的话,是通过步骤S24的处理,执行图6的第1步骤的处理,即图2的开关SW1成为ON的状态。该处理仅是电容器Ca被充电的处理,所以开关SW2、SW3也可以是ON,也可以是OFF。 
作为结果,通过图6的第1步骤的处理,如图7的左部所示,在时刻t0,端子P0被控制为Hi,所以图2的开关SW1成为ON的状态,电容器Ca以充电电压Va=Vcc被充电。此外,在图7中,虽然开关SW2、SW3成为了ON(虽然端子P1、P2为Low),但上部的电容器Cx的充电电压表示开关SW2、SW3为OFF且经由电阻R被充电时的充电电压Vx=V_hi。此时,因电容器Cs、Cx被串联连接,所以Va=Vx+Vc成立。此外,因电容器Cs、Cx被串联连接,所以充电电压Vx、Vs的比率成为Vx∶Vs=1/Cs∶1/Cx。 
此外,在图7中,上部的曲线中,粗实线表示电容器Ca的充电电压Va,点线表示电容器Cx的充电电压Vx。而且,在其下表示端子P2的动作状态,测量表示经由端子P2并通过测量单元13测量了电容器Cx(的充电电压Vx)的状态,HiZ表示高阻抗状态、即端子P2不进行输出的状态,OUT_L表示被设定为Low的状态。 
在端子P2以下表示端子P1的动作状态,HiZ表示高阻抗状态、即端子P1不进行输出的状态,OUT_L表示被设定为Low的状态。在端子P1以下表示端子P0的动作状态,HiZ表示高阻抗状态、即端子P0不进行输出的状态,OUT_L表示被设定为Low的状态。 
此外,在其以下,分别表示开关SW3至SW1的动作状态。此外,开关 SW1的动作连动于端子P0,仅在端子P0设定为Hi时成为ON的状态,除此之外的时候成为OFF的状态。此外,开关SW2、SW3的动作与端子P1、P2连动,仅在端子P1、P2设定为Low时成为ON的状态,除此之外的时候成为OFF的状态。此外,在图7上所示的各种处理定时,根据安装在微型计算机1的程序,例如即使在图7上是相同的定时,通过处理步骤而多少成为前后的情况,但从动作整体来看是可以充分忽略的水平。 
此外,通过步骤S25的处理,执行图6的第2步骤的处理,即图2的开关SW1至SW3成为OFF的状态。作为其结果,通过图6的第2步骤的处理,如图7的左部所示,在时刻t1,端子P0至P2被控制为HiZ,图2的开关SW1至SW3成为OFF的状态,从而电容器Ca保持以充电电压Va=Vcc被充电的状态。 
而且,通过步骤S27的处理,执行图6的第3步骤的处理,即图2的开关SW1成为OFF,开关SW2、SW3成为ON。作为其结果,通过图6的第3步骤的处理,如图7的左部所示,在时刻t2,端子P1、P2被控制为Low,图2的开关SW2、SW3成为ON的状态,从而充电到电容器Cx、Cs的全部电荷被放电,同时充电到电容器Ca的电荷缓缓地通过电阻R仅放电一部分。 
而且,通过步骤S28的处理,执行图6的第4步骤的处理,即图2的开关SW1至SW3成为OFF。作为其结果,在时刻t3,通过电容器Ca在时刻t2至t3之间(时间t)经由一部分电阻R被释放电荷之后,通过残留在电容器Ca的电荷而电容器Ca、Cs、Cx被充电的状态维持。即,在时刻t2至t3期间,电容器Ca的充电电荷被一部分释放,所以如图7所示,电容器Ca的充电电压Va减少。因此,如上所述,在通过第1步骤的处理,开关SW1、SW2成为OFF的情况下,充电到电容器Cx的充电电压Vx也伴随于此,减小到比当初的充电电压V_hi还小。但是,电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx的比率维持一定。 
而且,通过步骤S29的处理,执行图6的第5步骤的处理,即图2的开关SW1至SW3仍是OFF,但在时刻t4,测量单元13经由端子P2对电容器Cx的充电电压Vx进行测量,只要测量的充电电压Vx不小于参照电压Vref,就重复步骤S26至S30的处理,即图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理。 
即,上述的处理是在图7中的时刻T1(=时刻t2)至T2(=时刻t5)中执行的处理,但通过重复在图6中所示的第3步骤的处理至第5步骤的处理, 从而如图7所示,同样的处理在时刻T2至T3、时刻T3至T4、时刻T4至T5......重复。 
作为其结果,在每进行第3步骤的处理至第5步骤的处理时,电容器Ca的充电电压减少,同时电容器Cx的充电电压也减少。 
而且,可以基于在电容器Cx的充电电压Vx减少到参照电压Vref为止的第3步骤的处理至第5步骤的处理的重复处理次数count,求出电容器Cx的静电电容。 
即,如上所述,因电容器Cx的充电电压Vx和电容器Cs的充电电压Vs的和为电容器Ca的充电电压Va,所以通过重复第3步骤的处理至第5步骤的处理,在电容器Ca的充电电压Va减少时,可以将电容器Cx的充电电压Vx也与电容器Ca的充电电压Va维持一定的比率地持续减少。 
因此,例如图7中所示,电容器Cx的充电电压Vx和参照电压Vref的差越大,用于将电容器Cx的充电电压Vx达到参照电压Vref的、图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理次数越多,相反地,电容器Cx的充电电压Vx和参照电压Vref的差越小,用于将电容器Cx的充电电压Vx达到参照电压Vref的、图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理次数越少。 
即,在图7的左部,电容器Cx的充电电压Vx的最初的充电电压Vx为Vx=V_hi,其与参照电压Vref的差比图7的右部的电容器Cx的充电电压Vx的最初的充电电压Vx、即Vx=V_low与参照电压Vref的差大。因此,相比于在图7的左部,电容器Cx的充电电压Vx减少到参照电压Vref为止的图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理次数为7次(时刻T1至T8),在图7的右部,电容器Cx的充电电压Vx减少到参照电压Vref为止的图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理次数为5次(时刻T1至T6),重复处理次数少。 
作为其结果,如图8所示,电容器Cx的静电电容较大者(电容器Cx的初始的充电电压Vx较低者)能够以较少的处理次数将充电电压Vx减少到参照电压Vref。在图8中,横轴表示处理次数count,纵轴表示电压。此外,在图8中,细线表示电容器Ca的充电电压Va,粗线表示电容器Cx的静电电容为10pF时的充电电压Vx的变化,点线表示电容器Cx的静电电容为11pF时的充电电压Vx的变化。在图8中,相比于在电容器Cx的静电电容为10pF时,处理次数count为100次而减少为参照电压Vref(=Vcc/2),在电容器Cx的静电电容为11pF时,处理次数count为200次而减少为参照电压Vref (=Vcc/2),表示电容器Cx的静电电容较大者能够以较少的处理次数count减少为参照电压Vref。此外,在图8中,电容器Cs的静电电容为12pF、电阻R为10kΩ、电容器Ca的静电电容为0.1μF、以及在图7的时刻t1以后的时间t(=时刻t(i+1)-时刻ti)为2μs。 
即,在图5的流程图中的步骤S34的处理中,基于这样的性质,可根据上述的图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理重复处理次数count,求出电容器Cx的静电电容。 
即,在图2中的电容器Ca、电阻R、以及开关SW2的关系可作为在图9中表示的闭合电路来表示。设电容器Ca以充电电压Va=Vcc被充电。 
若开关SW2成为ON的状态,则如图10中所示,电容器Ca的充电电压Va与开关成为ON的状态所持续的时间t的经过一同衰减。该关系可以由以下的式(1)那样表示。 
Va=Vcc×e^(-(开关SW2的ON时间)/(Ca×R))......(1) 
这里,“^”表示指数。在上述的图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理的各处理时间以时间T一定的情况下,可以考虑开关SW2持续ON的状态的时间为重复处理次数count×时间T。因此,上述的式(1)可以由以下的式(2)来表示。即,在图7中,在时刻t1以后,(时刻t(i+1)-时刻ti)为时间t,所以各处理时间(在图6的第3步骤的处理至第5步骤的处理进行一次的时间)成为3t。 
Va=Vcc×e^(-(count×3t)/(Ca×R))......(2) 
另一方面,如图11所示,在图6的第5步骤的处理中,因开关SW1至SW3成为OFF,所以电容器Ca的充电电压Va成为电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx的和,同时充电电压Vs、Vx的比率成为Vs∶Vx=1/Cx∶1/Cs(这里,Cs、Cx是电容器Cs、Cx的静电电容)。 
因此,电容器Cx的充电电压Vx可以由以下的式(3)表示。 
Vx=Vcc((1/Cx)/((1/Cx)+(1/Cs)))×e^(-(count×3t)/(Ca×R)) 
                                                ......(3) 
作为其结果,在电容器Cx的充电电压Vx与参照电压Vref一致的情况下,成立以下的式(4)。 
Vref=Vcc((1/Cx)/((1/Cx)+(1/Cs)))×e^(-(count×3t)/(Ca×R)) 
                                                 ......(4) 
根据以上的关系,通过以下的式(5)求出电容器Cx的静电电容。 
Cx=Cs(1-(Vcc/Vref)×e^(-(count×3t)/(Ca×R))......(5) 
根据式(5),例如在电容器Cs的静电电容为10pF、电阻R为10kΩ、电容器Ca的静电电容为0.1μF、以及时间t为2μS的情况下,电容器Cx和处理次数count的关系成为在图12中所示的关系。在图12中,在电容器Cx的静电电容为8pF附近的情况下,作为每1pF的处理次数count以约20次的分辨率来求出静电电容Cx。 
但是,在以上的处理中,通过重复处理来减少电容器Cx的充电电压Vx,以与参照电压Vref一致为条件,通过上述的式(5)来求出电容器Cx的静电电容,所以在最初的充电时,电容器Cx的充电电压Vx比参照电压Vref高成为前提。因此,参照电压Vref需要满足以下的式(6)。 
Vref/Vcc<(1/Cs)/((1/Cx)+(1/Cs))  ......(6) 
在以上的处理中,在时刻t1以后的时间t(=时刻t(i+1)-时刻ti)越短,越能够提高分辨率,但相反地,若时间t过短,则处理次数count增加。在接触式传感器的情况下(在电极E经由绝缘物体间接地接触到人体的结构的接触式传感器的情况下),可知人体接触时的静电电容为11pF附近的值,非接触时的静电电容为10pF附近的值,所以若满足上述的式(6)的条件,进一步满足以下的式(7)的关系,则能够通过缩短时间t来实现高分辨率,同时能够以少的处理次数来求出未知电容器Cx的静电电容。 
即,若将参照电压Vref设定为接近于在电容器Ca的充电电压Va时的电容器Cx的充电电压Vx的值,则能够减少重复处理次数,可以相应地缩短时间t来实现高分辨率。 
作为其结果,如以往那样,在测量未知电容器的静电电容时,与将充电电压通过重复处理而从0开始充电后求出相比,能够以少的处理次数并且高精度地求出未知电容器的静电电容。因此,例如即使是电极E的结构为人体经由绝缘物体间接地接触的结构等,电容器Cx的静电电容的变化小的情况下(人体接触的情况和非接触的情况的电容器Cx的静电电容的变化量小的情况下),通过设定参照电压Vref和充电电压Vcc以根据静电电容的变化量来满足上述的式(6)、式(7)的关系,从而能够高精度且高速地检测静电电容。 
此外,通过在图5的流程图中的步骤S31至S33的处理,可以求出处理 次数n的M次的平均值作为处理次数count,所以例如即使是一次测定,且产生了脉动噪声(ripple noise)等的情况下也能够正确地求出处理次数。此外,也可以检测有无产生脉动噪声,没有检测出脉动噪声的情况下,将M设为1,从而通过减少用于求出平均值的重复处理来提高处理速度。 
这里,返回到图4的流程图的说明。 
在步骤S3中,控制单元11基于由测量单元13提供的未知电容器Cx的静电电容,判定人体是否接触到电极E。更详细地说,因人体的静电电容为11pF附近的值,所以控制单元11通过判定由测量单元13提供的电容器Cx的静电电容是否为11pF附近的阈值Cxth,从而判定人体是否接触到电极E。即,例如在阈值Cxth被设定为(11×0.95)pF<Cxth<(11×1.05)pF的情况下,控制单元在电容器Cx的静电电容Cx=Cxth时、即(11×0.95)pF<Cx<(11×1.05)pF时,视为人体接触,在此之外的情况下判定为人体没有接触。 
例如,在步骤S3中,判定为人体接触的情况下,在步骤S4中,控制单元11控制输出单元14,提示人体接触的情况,该处理返回到步骤S2。 
另一方面,在步骤S3中,判定为人体没有接触的情况下,在步骤S5中,控制单元11控制输出单元14,使其提示人体没有接触的情况,该处理返回到步骤S2,重复其之后的处理。 
根据以上,能够以少的处理次数count,并且高精度地检测未知的电容器Cx的静电电容,所以能够正确地且高速地识别有无人体的接触。 
此外,因预先知道接触的物体是人的情况,所以可通过预先设定适当的参照电压Vref来高速地进行处理,但例如接触的物体的静电电容不清楚等的情况下,也可以延长时间t、即以低分辨率的状态下一边改变参照电压Vref,一边大致检测出静电电容之后,基于其检测的静电电容,重新设定接近电容器Cx的充电电压Vx的参照电压Vref之后,缩短时间t来高精度地进行检测。 
以上,说明了使用由端子P0至P2的三个端子构成的微型计算机1构成接触式传感器的例子,但例如也可以将端子P0、P1的功能集合为一个。 
即,在图1的接触式传感器的情况下,作为电路结构,如图2所示,开关SW1和开关SW2夹着电阻R的结构,所以无法用同一端子来控制。但是,如图13所示那样,通过采用将开关SW1连接到夹着电阻R的相反的位置的电路结构,可以用一个端子来控制开关SW1、SW2。 
图14表示采用一个端子来控制开关SW1、SW2的接触式传感器的结构。 微型计算机21中,设置有端子P11、P12两个端子。端子12的功能与图1的微型计算机1的端子P2相同,但图14中的端子P11具有图1中的端子P0、P1两个端子的功能。此外,在图14中,对于与图1相同的结构附加相同的标号,适当地省略其说明。 
若端子P11通过开关动作单元31而成为Hi状态时,将图13的开关SW1设为ON的状态,使电容器Ca以电源Vcc的电源电压Vcc充电。此外,若端子P11通过开关动作单元31而成为HiZ状态时,将图13的开关SW1、SW2设为OFF的状态,将图2的开关SW2设为OFF的状态,将电容器Ca和电容器Cs、Cx的合成电容器设为并联连接的状态。此外,若端子P11通过开关动作单元31而成为Low状态时,将图13的开关SW2设为ON的状态,将充电到电容器Ca的电荷经由电阻R缓缓地从接地点放电,同时将电容器Cs的充电电荷从接地点瞬时全部放电。此外,因端子P12与图1的端子P2相同,所以省略说明。 
接着,参照图15,说明通过图14的微型计算机21实现的功能。此外,在图15中,对于与由图3的微型计算机1实现的功能对应的功能,附加相同的标号,适当地省略其说明。 
开关动作单元31是基本上与图3的开关动作单元12具有相同的功能的单元,参照内置的定时器31a,每隔规定的时间间隔,控制端子P11、P12的动作。更详细地说,开关动作单元31每隔规定的时间间隔,将端子P11、P12的动作状态按照规定的模式周期性地重复切换。此外,开关动作单元31在按照规定的模式重复的动作每结束一个周期时,对测量单元13提供其信号。 
接着,说明图14的接触式传感器的接触式开关动作处理,但在参照图4的流程图说明的处理中,不同的仅是步骤S2的测量处理,所以仅对图14的接触式传感器的测量处理参照图16的流程图进行说明。 
此外,在图16的流程图中的步骤S41至S43、以及步骤S49至S54的处理与参照图5的流程图说明的步骤S21至S23、以及步骤S29至S34的处理相同,所以省略其说明。 
在步骤S44中,开关动作单元31将端子P11的输出控制为Hi,通过电源Vcc对电容器Ca进行充电。即,通过端子P11的输出被控制为Hi,从而在图13所示的开关SW1成为ON的状态,通过电源Vcc并经由电阻R对电容器Ca提供电力,电容器Ca缓缓地充电,最终以充电电压Vcc对电容器 Ca进行充电。 
在步骤S45中,开关动作单元31基于定时器31a,将端子P11、P12仅规定的时间t全部控制为HiZ(高阻抗状态),保持电容器Ca的充电状态。即,通过端子P11、P12被控制为HiZ状态,在图13所示的开关SW1至SW3成为OFF的状态,从而电容器Ca保持以充电电压Va=Vcc被充电了的状态。 
在步骤S46中,测量单元13的计数器13a将计数器n加1。 
在步骤S47中,开关动作单元31基于定时器31a,仅规定的时间t将端子P11、P12控制为Low,从而使充电到电容器Ca、Cs、Cx的电荷放电。此时,充电到电容器Cs、Cx的电荷瞬时经由接地部分放电,但充电到电容器Ca的电荷经由电阻R并通过开关SW2放电到接地部分,所以电荷的放电缓缓地进行,在规定的时间t内,仅是被充电的电荷的一部分被放电。 
在步骤S48中,开关动作单元31基于定时器31a,仅规定的时间t,将端子P11、P12控制为HiZ状态,从而充电到电容器Ca的电荷(通过步骤S47的处理而一部分放电的状态下所剩余的电荷)移动到电容器Cs、Cx,电容器Ca、Cs、Cx以充电的状态保持。此时,因电容器Ca和电容器Cs、Cx的合成电容器形成并联电路,所以成为电容器Ca的充电电压Va等于电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx之和的状态。此外,电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx成为电容器Cs、Cx的电容的倒数比的关系。 
作为其结果,通过步骤S44的处理,执行图17的第1步骤的处理,即图13的开关SW1成为ON的状态。该处理仅是电容器Ca被充电的处理,所以开关SW2为OFF,SW3也可以是ON、也可以是OFF。作为结果,通过图17的第1步骤的处理,如图18的左部所示,在时刻t0,端子P11被控制为Hi,从而图13的开关SW1成为ON的状态,电容器Ca以充电电压Va=Vcc被充电。但是,与图7进行比较也能知道,在图1的接触式传感器中,开关SW1成为ON的同时电容器Ca的充电电压Va达到Vcc,但如图18中所示,在图14的接触式传感器中,因从电源Vcc提供给电容器Ca的电力要通过电阻R来提供,所以充电花费时间。 
此外,在图18中,上部的曲线中,粗实线表示电容器Ca的充电电压Va,点线表示电容器Cx的充电电压。而且,在其以下表示端子P12的动作状态,测量表示经由端子P12并通过测量单元13测量电容器Cx的状态,HiZ表示高阻抗状态、即端子P12不进行输出的状态,OUT_L表示被设定为Low的 状态。 
在端子P12之下表示端子P11的动作状态,Hi表示通过端子P11电容器Ca由电源Vcc提供电力,从而以充电电压Vcc被充电的状态。HiZ表示高阻抗状态、即端子P11不进行输出的状态,OUT_L表示被设定为Low的状态。 
此外,在其以下,分别表示开关SW3至SW1的动作状态。此外,开关SW1的动作连动于端子P11,在端子P11设定为Hi时成为ON的状态,在HiZ时成为OFF的状态,而且,在设定为Low时,开关SW2成为ON的状态。这样,仅用端子P11,就能够控制开关SW1、SW2。开关SW3的动作连动于端子P12,仅在端子P12被设定为Low时成为ON的状态,除此之外的时候成为OFF的状态。 
此外,通过步骤S45的处理,执行图17的第2步骤的处理,即图13的开关SW1至SW2成为OFF的状态。作为其结果,通过图17的第2步骤的处理,如图18的左部所示,在时刻t1,端子P11、P12被控制为HiZ,从而图13的开关SW1至SW3成为OFF的状态,从而电容器Ca保持以充电电压Va=Vcc被充电了的状态。 
而且,通过步骤S47的处理,执行图17的第3步骤的处理,即图13的开关SW1成为OFF,开关SW2、SW3成为ON。作为其结果,通过图17的第3步骤的处理,如图17的左部所示,在时刻t2,端子P11被控制为Low,图13的开关SW2、SW3成为ON的状态,从而充电到电容器Cx、Cs的全部电荷被放电,同时充电到电容器Ca的电荷缓缓地经由电阻R被放电。 
而且,通过步骤S48的处理,执行图17的第4步骤的处理,即执行用于将图13的开关SW1至SW3设为OFF的处理。作为其结果,在时刻t3,通过电容器Ca在时刻t2至t3之间经由电阻R被释放一部分电荷之后,通过残留在电容器Ca的电荷而电容器Ca、Cs、Cx被充电的状态维持。即,在时刻t2至t3期间,电容器Ca的充电电荷被一部分释放,从而如图18所示,电容器Ca的充电电压Va减少。因此,如上所述,在通过图17的第1步骤的处理,开关SW1、SW2成为OFF的情况下,充电到电容器Cx的充电电压Vx=V_hi也伴随于此而减小。但是,电容器Cs、Cx的充电电压Vs、Vx的比率维持一定。 
而且,通过步骤S49的处理,执行图17的第5步骤的处理。即,图13的开关SW1至SW3仍是OFF,但在时刻t4,测量单元13经由端子P12对电 容器Cx的充电电压Vx进行测量,直到测量的充电电压Vx小于参照电压Vref为止,重复步骤S46至S50的处理,即图17的第3步骤的处理至第5步骤的处理。 
作为其结果,图14的接触式传感器,不仅能够与图1的接触式传感器相同地高速且高精度地检测人体的接触非接触,应由微型计算机21控制的端子为2个即可,所以还能够降低制造上的成本。 
此外,如图18所示,在图14的接触式传感器中,在电容器Ca的充电电压Va为Va=Vcc时的电容器Cx的充电电压Vx接近于参照电压Vref者重复处理次数较少也是相同的。即,相对于在图18的左部中,电容器Ca的充电电压Va为Va=Vcc时的电容器Cx的充电电压Vx为V_hi,且以重复处理次数为7次来充电电压Vx达到参照电压Vref,在图18的右部,电容器Ca的充电电压Va为Va=Vcc时的电容器Cx的充电电压Vx为V_low(<V_hi),且以重复处理次数为5次来充电电压Vx达到参照电压Vref,表示电容器Ca的充电电压Va为Va=Vcc时的电容器Cx的充电电压Vx较小,越接近参照电压Vref时重复处理次数越少。 
以上,说明了用一个电极E来判定人体是否接触(经由绝缘物体接触)的例子,但也可以设置多个图14的接触式传感器中的结构,从而使用多个电极在多个位置中检测人体的接触非接触。 
例如图19所示,也可以将具有四个电极E1至E4的结构并联地设置四个进行检测。此外,在图19中,电容器Ca1至Ca4对应于图14中的电容器Ca,电容器Cs1至Cs4对应于图14中的电容器Cs,电容器Cx1至Cx4对应于图14中的电容器Cx,电阻R1至R4对应于图14中的电阻R,电极E1至E4对应于图14中的电极E,哪一个都相同。此外,在微型计算机51中,相对应地设置有端子P21至P28的8个端子,端子P21、P23、P25、P27对应于端子11,端子P22、P24、P26、P28对应于端子12,且是相同的端子。微型计算机51使用端子P21、P22测量电极E1中的人体的接触非接触,使用端子P23、P24测量电极E2中的人体的接触非接触,使用端子P25、P26测量电极E3中的人体的接触非接触,使用端子P27、P28测量电极E4中的人体的接触非接触。 
不过,微型计算机51不是同时由端子P22、P24、P26、P28测量电容器Cx1至Cx4的充电电压Vx1至Vx4,例如在使用端子P21、P22测量电极E1 中的人体的接触非接触之后,使用端子P23、P24测量电极E2中的人体的接触非接触,之后,使用端子P25、P26测量电极E3中的人体的接触非接触,再之后,使用端子P27、P28测量电极E4中的人体的接触非接触。而且,通过依次重复该处理,依次检测出电极E1至E4中的人体的接触非接触。 
此时,如上所述,电容器Ca1至Ca4都因电阻R1至R4而在充电上花费时间,所以若求出各电容器Ca1至Ca4的电容之后开始充电则产生充电的等待时间,产生花费过多处理时间的顾虑。 
因此,如图20所示,也可以在计算静电电容的期间,开始要求出下一静电电容的电容器Ca的充电。即,例如图20的上段所示,微型计算机51使用端子P21、P22在时刻T0至T100的期间对电容器Ca1进行充电,在时刻T100,开始用于重复图17中的第3步骤至第5步骤的处理的处理。此时,微型计算机51,在时刻t100之后,为了求出电容器Cx2的静电电容,而如图20的中段所示,在进入用于重复图17中的第3步骤至第5步骤的处理的处理时,使用端子P23、P24,例如在时刻t200,开始电容器Ca2的充电。而且,微型计算机51在求出电容器Cx1的静电电容的时刻t210,完成电容器Ca2的充电,所以为了求出电容器Cx2的静电电容,进入用于重复图17中的第3步骤至第5步骤的处理的处理。同样地,为了求出电容器Cx3的静电电容,在进入用于重复图17中的第3步骤至第5步骤的处理的处理时,使用端子P25、P26,例如在时刻t300,开始电容器Ca3的充电。而且,微型计算机51在求出电容器Cx2的静电电容的时刻t310,完成电容器Ca3的充电,所以为了求出电容器Cx3的静电电容,进入用于重复图17中的第3步骤至第5步骤的处理的处理。 
这样,为了求出电容器Cx1至Cx4的静电电容,在进入用于重复图17中的第3步骤至第5步骤的处理的处理的定时,进行对应于下一要进行处理的电极的电容器Ca1至Ca4的充电,从而可以缩短充电所产生的等待时间,所以即使在多个位置上检测人体的接触非接触的情况下,也能够高速且高精度地检测人体的接触非接触。 
此外,如上所示地,微型计算机即使是存在多个端子,也不进行同时使用三个以上的端子的处理。而且,电容器Ca以及电阻R只是在最初被充电之后,通过重复处理而充电电荷被释放的元件,所以可以与多个电容器Cs、Cx以及电极E并联连接。因此,例如图21所示,也可以对由电容器Ca1以 及电阻R1构成的端子P32分别并联连接用于检测电极E1中的人体的接触非接触的电容器Cs1、Cx1的端子P31和用于检测电极E2中的人体的接触非接触的电容器Cs2、Cx2的端子P33,而且,也可以对由电容器Ca2以及电阻R2构成的端子P35分别并联连接用于检测电极E3中的人体的接触非接触的电容器Cs3、Cx3的端子P34和用于检测电极E4中的人体的接触非接触的电容器Cs4、Cx4的端子P36。 
在图21的接触式传感器的情况下,微型计算机61控制端子P31、P32来测量电极E1的人体的接触非接触,控制端子P32、P33来测量电极E2的人体的接触非接触,控制端子P34、P35来测量电极E3的人体的接触非接触,控制端子P35、P36来测量电极E4的人体的接触非接触。 
作为其结果,微型计算机61可以用6个端子来控制用于检测4处人体的接触非接触的接触式传感器,所以能够降低接触式传感器的制造成本。 
此外,上述的用于检测多个人体的接触非接触的接触式传感器并不限定于在图14所示的接触式传感器的结构,例如也可以由图1的接触式传感器的结构实现,例如也可以如图22所示那样构成。在图22的接触式传感器中,设置有与图1的端子P0对应的端子P41、和与端子P1对应的端子P41、电阻P、以及电容器Ca,与端子P2对应的端子并联设置有四个。即,在端子P43连接有用于检测人体有无对电极E1的接触的电容器Cs1、Cx1,在端子P44连接有用于检测人体有无对电极E2的接触的电容器Cs2、Cx2,在端子P45连接有用于检测人体有无对电极E3的接触的电容器Cs3、Cx3,此外,在端子P46连接有用于检测人体有无对电极E4的接触的电容器Cs4、Cx4。 
在图22的接触式传感器的情况下,微型计算机71控制端子P41至P43来测量人体有无对电极E1的接触,控制端子P41、P42、P44来测量人体有无对电极E2的接触,控制端子P41、P42、P45来测量人体有无对电极E3的接触,控制端子P41、P42、P46来测量人体有无对电极E4的接触。 
以上,作为其结果,微型计算机71可以用6个端子来控制用于检测4处有无人体的接触的接触式传感器。 
以上,说明了在对电容器Ca1至Ca4进行充电时,经由电阻R1至R4充电电荷的例子,但通过经由电阻R1至R4来充电,从而延长了充电时间。因此,也可以在充电时,设为不经由电阻R1至R4而能对电容器Ca1至Ca4进行充电的结构来缩短充电时间。 
例如图23中所示,将二极管D1对电容器Ca1充电的电流方向、且与电阻R1并联连接(将二极管D1的阳极连接到电容器Ca1和电阻R1的中间位置,阴极连接到端子P21和电阻R1的中间位置),在充电时,经由二极管D1对电容器Ca1充电电荷,所以与经由电阻R1时相比,能够高速地完成充电。同样地,将二极管D2至D4也分别与电阻R2至R4并联地、对电容器Ca2至Ca4的方向为正向地连接,从而可以缩短电容器Ca2至Ca4的充电所需的时间。此外,在图23的接触式传感器中,对与图19的接触式传感器的结构相同的结构赋予相同的标号,适当地省略说明。此外,图23的接触式传感器的动作除了电容器Ca1至Ca4的充电时间被缩短之外,与图19的接触式传感器中的动作相同,所以也省略其说明。 
此外,同样地,如图24所示,也可以通过将二极管D11、D12对电阻R1、R2分别并联地、对电容器Ca1、Ca2充电的电流方向上连接,从而缩短电容器Ca1、Ca2的充电时间。 
此外,将图22的接触式传感器若如图14的接触式传感器表示那样,将开关SW1、SW2用一个端子控制,则成为图25的接触式传感器那样的结构。此时,通过将二极管D21与电阻R并联地、对电容器Ca充电的电流方向上连接,从而可以将端子数从6端子减少为5端子,同时可以缩短电容器Ca的充电时间。在图25的接触式传感器中,与图22的接触式传感器不同点在于,设置微型计算机81来代替微型计算机71,将二极管D21与电阻R并联地设置的点。 
即,在图25的接触式传感器中,不需要在充电时需要的端子P41,所以微型计算机81能够用端子P51至P55的5端子来测定电容器Cx1至Cx4的电容。此外,在图25的接触式传感器对各电容器Cx1至Cx4的电容的测量处理仅仅是将图14中的接触式传感器的测量处理分别重复4次的处理,所以省略了其动作的说明。 
通过图25所示那样的接触式传感器,可以缩短充电时间,所以可以使电容器Cx1至Cx4的电容的测量处理高速化,同时减少端子数来减少部件个数,从而可以降低制造上花费的成本。 
此外,以上,为了测量电容器Cx1至Cx4的电容,分别设置了已知的电容的电容器Cs1至Cs4,但电容器Cx1至Cx4的测量处理分别独立地执行,所以也可以设置公共的已知的电容器,在各电容器Cx1至Cx4的测量处理的 定时切换着使用。 
图26是表示设置公共的已知的电容的电容器,与各电容器Cx1至Cx4的测量处理的定时相匹配地切换着使用的接触式传感器的实施方式的结构例子。此外,在图26的接触式传感器的结构中,对于与图25的接触式传感器相同的结构赋予相同的标号,适当地省略其说明。 
在图26的接触式传感器中,与图25的接触式传感器的不同点在于,设置微型计算机91来代替微型计算机81,消除了电容器Cs1至Cs4,设置了电容器Cs11,而且,通过微型计算机91来实现切换单元101的点。切换单元101的一端连接到连接在端子P61的端子101a,另一端切换至端子101b至101e。切换单元101的端子101b至101e分别连接到微型计算机91的端子P63至P66。电容器Cs11的一端连接到端子P61,另一端连接到端子P62。此外,切换单元101是通过微型计算机91所实现的功能,不是实际设置硬件的切换开关。 
即,在测量电容器Cx1的静电电容的情况下,微型计算机91将切换单元101连接到端子101b,使用电容器Cs11来代替图25中的电容器Cs1,从而测量电容器Cx1的静电电容。此外,相同地,在测量电容器Cx2至Cx4的静电电容的情况下,微型计算机91分别将切换单元101连接到端子101c至101e,使用电容器Cs11来代替图25中的电容器Cs2至Cs4,从而测量电容器Cx2至Cx4的静电电容。 
根据这样的结构,即使作为测量对象的电容器Cx1至Cx4成为这个以上的数目,只要一个已知的电容的电容器Cs就能够进行测量,所以能够削减部件个数,降低成本。 
以上,说明了通过测量电容器Cx1至Cx4的静电电容,检测人体有无对多个电极E1至E4接触的例子,但例如由电极E1至E4构成了操作按钮的情况下,若电极E1至E4以相互近接的状态配置,则有以下顾虑:与要操作的操作按钮一同错误地接触相邻的操作按钮,通过对多个电极以跨越的状态接触,从而被测量的电容器Cx1至Cx4的静电电容变化,从而导致错误检测。 
因此,也可以通过基于多个电容器Cx1至Cx4的静电电容,调整用于表示人体接触到电极E1至E4的每个的情况的阈值Cx1th至Cx4th,从而降低错误检测。 
图27是表示由图26中的接触式传感器中的微型计算机91所实现的功能 的结构例子,图26中的接触式传感器基于多个电容器Cx1至Cx4的静电电容,调整用于表示人体接触到电极E1至E4的每个的情况的阈值Cx1th至Cx4th。此外,在图27中实现的功能中,对与在图15中所示的功能相同的功能赋予相同的标号,并适当地省略其说明。 
在图27中,与图15的不同点在于,设置开关动作单元111、控制单元112以及测量单元113来代替控制单元11、测量单元13以及开关动作单元31的点。开关动作单元111由控制单元112被控制动作,伴随定时器111a的定时器动作,切换端子P61至P66的动作,同时控制切换单元101的动作。测量单元113实现与测量单元13大致相同的功能,但基于来自端子P61、P63至P66的输出信号,测量对应于电极E1至E4的电容器Cx1至Cx4的静电电容,并将各自的测量结果提供给控制单元112。 
控制单元112包括存储单元112a、参照值计算单元112b、差分计算单元112c以及阈值调整单元112d,基本上实现与控制单元11相同的功能。控制单元112基于与由测量单元113提供到的与电容器Cx1至Cx4分别对应的阈值Cx1th至Cx4th,检测人体对电极E1至E4的有无接触,同时基于电容器Cx1至Cx4,调整阈值Cx1th至Cx4th。 
更详细地说,存储单元112a从电容器Cx1至Cx4的测量结果中,分别存储最近的规定数的测量结果。参照值计算单元112b求出存储在存储单元112a中的电容器Cx1至Cx4的最近的规定数的测量结果的平均值,作为电容器Cx1至Cx4的参照值Cx1ave至Cx4ave来求出。差分计算单元112c求出各参照值Cx1ave至Cx4ave、与作为各个最新的测量结果的电容器Cx1至Cx4的静电电容Cx1至Cx4的差分绝对值ΔCx1至ΔCx4。阈值调整单元112d基于差分绝对值ΔCx1至ΔCx4,调整阈值Cx1th至Cx4th。 
接着,参照图28的流程图,说明通过图26的接触式传感器的接触式开关动作处理。此外,图28的流程图中的步骤S71、S72、S76至S78的处理与图4的流程图中的步骤S1至S5的处理相同,所以省略其说明。 
即,通过步骤S72的处理,例如若电容器Cx1的测量处理结束,则在步骤S73中,控制单元112判定所有的电容器Cx1至Cx4的测量处理是否结束,例如在判定为所有的电容器Cx1至Cx4的测量处理没有结束的情况下,在步骤S74中,控制开关动作单元111,使切换单元101连接到端子101c至101e的任一个,从而处理返回到步骤S72。即,对于电容器Cx1至Cx4的每个被 执行测量处理而求出静电电容为止,切换单元101依次切换端子101b至101e,从而重复步骤S72至S74的处理。 
而且,在步骤S73中,测量单元113求出电容器Cx1至Cx4的每个的静电电容,并提供给控制单元112的情况下,在步骤S75中,执行阈值调整处理。 
这里,参照图29的流程图,说明阈值调整处理。 
在步骤S91中,控制单元112使存储单元112a加上作为由测量单元113提供到的电容器Cx1至Cx4的每个的最新测量结果的Cx1-n至Cx4-n,作为最近的规定数,例如存储n个测量结果。即,在存储单元112a中,对于电容器Cx1至Cx4的每个,存储了作为最近的n个测量结果的Cx1-n......Cx1-1、Cx2-n......Cx2-1、Cx3-n......Cx3-1、Cx4-n......Cx4-1。此外,这里“-”以下是用于识别作为n个测量结果的静电电容的符号,越接近n的值越是新的测量结果。 
在步骤S92中,控制单元112控制参照值计算单元112b,使其计算电容器Cx1至Cx4的最近的n个测量结果的平均值作为参照值。即,参照值计算单元112b分别求电容器Cx1的静电电容的参照值Cx1ave(=(Cx1-1)+(Cx1-2)+......+(Cx1-n))/n)、电容器Cx2的静电电容的参照值Cx2ave(=(Cx2-1)+(Cx2-2)+......+(Cx2-n))/n)、电容器Cx3的静电电容的参照值Cx3ave(=(Cx3-1)+(Cx3-2)+......+(Cx3-n))/n)、以及电容器Cx4的静电电容的参照值Cx4ave(=(Cx4-1)+(Cx4-2)+......+(Cx4-n))/n)。 
在步骤S93中,控制单元112控制差分计算单元112c,使其计算电容器Cx1至Cx4的每个的参照值Cx1ave至Cx4ave与最新的测量结果(Cx1-n至Cx4-n)之间的差分绝对值。即,差分计算单元112c对电容器Cx1至Cx4,分别求差分绝对值ΔCx1(=|(Cx1-n)-Cx1ave|)、ΔCx2(=|(Cx2-n)-Cx2ave|)、ΔCx3(=|(Cx3-n)-Cx3ave|)、ΔCx4(=|(Cx4-n)-Cx4ave|)。 
在步骤S94中,控制单元112控制阈值调整单元112d,基于各差分绝对值来调整阈值Cx1th至Cx4th。更详细地说,阈值调整单元112d通过运算以下的式(8),调整阈值Cx1th至Cx4th。 
Cx1th′=Cx1th-(ΔCx2+ΔCx3+ΔCx4) 
Cx2th′=Cx2th-(ΔCx1+ΔCx3+ΔCx4) 
Cx3th′=Cx3th-(ΔCx1+ΔCx2+ΔCx4) 
Cx4th′=Cx4th-(ΔCx1+ΔCx2+ΔCx3)......(8) 
这里,Cx1th′至Cx4th′是调整后的阈值,Cx1th至Cx4th是调整前的阈值(不禁止同时被操作时的阈值)。即,阈值Cx1th′至Cx4th′是对应于电容器Cx1至Cx4的第n测量结果Cx1-n至Cx4-n所调整的阈值,阈值Cx1th至Cx4th是调整前的阈值。 
即,若分别检测出通过其他的电极E1至E4的接触的静电电容,则调整后的阈值Cx1th′至Cx4th′从调整前的阈值Cx1th至Cx4th减少其他电极的静电电容与参照值之间的差分绝对值和的量。因此,若用多个电极检测出静电电容,则任一电极都降低阈值,从而用于检测人体的接触的灵敏度降低,所以错误检测被降低。 
通过以上的处理,在步骤S76中,基于各电容器Cx1至Cx4的测量结果以及调整后的阈值Cx1th′至Cx4th′,被检测人体对电极E1至E4的有无接触。 
即,通过阈值被如上地调整,例如在四个电极E1至E4接近地配置成一列,在仅其中的一个电极的静电电容变动的情况下,虽然其他的静电电容的阈值变动,但其自身的阈值不变,所以用通常的灵敏度来判定有无接触。 
另一方面,在多个电极的静电电容同时变动的情况下,如式(8)中所示,阈值变小,所以普通的接触得到的静电电容成为很难超过阈值的状态,成为即使存在人体的接触也很难判定有接触的状态。 
此外,只有一个电极,在与通过普通的接触而检测出人体的接触的电极对应的电容器Cx的静电电容为阈值附近的值的情况下,因其自身的阈值不被变更,所以即使通过检测出人体的接触而静电电容改变,也不影响有无对其电极的接触的判定。因此,如电极E1至E4的所有电极被沾上水的情况下、或接受到来自外部的噪声的情况下等那样,只有在多个电极同时受到影响的情况下,对于任一电极也都能设为难以检测人体的接触的状态,且只有在容易产生错误检测的状态下,能够降低错误检测。但是,即使成为难以检测人体的接触的状态,只是灵敏度降低,但可以检测人体的接触。 
因此,例如在设置在移动设备等的接触式传感器的情况下,通过装载为在将移动设备放入口袋时多个电极接触到口袋里的其他金属,或者金属桌子上接触接触式传感器的多个电极等,从而可以防止发生的错误动作。 
此外,例如人体仅接触到电极E1的情况下,只有电容器Cx1的测量结果较大地变动,其他的电容器Cx2至Cx4的测量结果基本上没有变动量,所 以阈值Cx1th′对于阈值Cx1th没有变动。因此,能够以初始设定的灵敏度(单独设定时的灵敏度),通过对应于电极E1的电容器Cx1的静电电容的变化来判定有无人体的接触。此时,电容器Cx1以外的电容器Cx2至Cx4的阈值Cx2th′至Cx4th′对于阈值Cx2th至Cx4th,分别减小电容器Cx1的测量值的差分ΔCx1,所以在先通过电容器Cx1检测出人体的接触的情况下,通过除此之外的电容器Cx2至Cx4的人体的检测灵敏度变差,难以检测人体的接触,所以在正确地接触了想要操作的电极时,可以正确地检测接触的同时降低错误检测。 
此外,在人体接触到一个电极E1之后,维持接触状态的情况下,接触到除此之外的、例如电极E2的情况下,即只有电容器Cx1成为人体接触到的时候的静电电容的情况下,电容器Cx1以通常的灵敏度检测人体的接触,但因电容器Cx1检测到人体的接触的状态的情况下,除此之外的电容器Cx2至Cx4的灵敏度变差,所以即使接触到其他的电极E2至E4,也难以检测人体的接触。此外,在检测有人体的接触的期间,对应于电极E1的电容器Cx1的阈值Cx1th′维持检测到人体的接触时的阈值Cx1th′,所以即使在其之后人体接触到其他的电极E2至E4,电容器Cx1的阈值Cx1th′不会变动,只要不切断与电极E1的接触,人体的接触通过对应于其他的电极E2至E4的电容器Cx2至Cx4的测量结果的影响而被适当地检测。 
此外,在两处以上的电极E1至E4同时接触到人体的情况下,电容器Cx1至Cx4的任一个检测人体的接触为止,受到相互的差分ΔCx1至ΔCx4的影响,阈值Cx1th′至Cx4th′的任一个相对于阈值Cx1th至Cx4th变小。因此,在任一个电极E1至E4中,接触的灵敏度都变差,都难以检测人体的接触。即,因电容器Cx1的阈值Cx1th′与阈值Cx1th相比减小电容器Cx2至Cx4的测量值的差分绝对值和量(ΔCx2+ΔCx3+ΔCx4),所以同时接触的电极越多,阈值延灵敏度变差的方向变化,难以检测人体的接触。作为其结果,除了在人错误地触到设备的操作板而同时按压了多个电极的情况以外,还能够降低基于将搭载在移动设备的接触式传感器放置在金属桌子上,或者将移动设备放入口袋而操作面和人体接近,或者操作面上沾到水所能够产生的影响的错误动作。 
此外,在接触到一个电极E1之后接触到其他的电极E2,之后挪开最初接触的电极E1的手指的情况下,直到通过最初的电极E1无法检测人体的接 触的状态为止,之后接触的电极E2难以检测人体的接触,但从接触到两个电极E1、E2的状态挪开了电极E1的接触之后ΔCx1缓缓地减小,同时电容器Cx2的阈值Cx2th′变大,电容器Cx2的静电电容超过阈值Cx2th′的阶段电极E2检测人体的接触。而且,在电极E1的接触消失之后,检测到人体对电极E2的接触的期间,因电容器Cx1的阈值Cx1th′变小,所以再次接触到电极E1的情况下,这次难以检测人体对电极E1的接触。 
此外,在同时接触到两处以上的电极之后,例如仅剩下一处电极E1、且从其他的电极断开接触的情况下,在同时接触时,哪个电极也都不能检测接触,但例如通过断开电极E1以外的接触,电容器Cx1的阈值Cx1th′复原,所以超过电容器Cx1的阈值Cx1th′的阶段电极E1检测人体的接触。 
此外,以上,说明了在两处以上的多处同时接触的情况下,通过降低灵敏度来不会错误检测存在人体的接触的情况的例子,但仅是降低灵敏度,不是完全不检测人体的接触,所以通过同时接触,都有可能检测到人体的接触。这样,也可以为了用多个电极来检测接触的情况,预先设定电极的优先顺序,在用多个电极检测出接触时,在优先度高的电极中检测人体的接触。 
此外,在电极之间,物理上灵敏度存在差异的情况下,也可以求出差分绝对值的比,对阈值乘以该比等进行调整,从而例如将灵敏度的差最大降低至2倍左右来使用。 
此外,在多个电极上同时检测到接触来识别动作的模式也存在的应用程序的情况下,也可以使其用多个电极同时检测到接触地应对。 
此外,以上,说明了通过求出未知电容器Cx的静电电容,测量人体的接触非接触的例子,但只要是能够基于静电电容的变化来测量,也可以应用到其他的测量装置,例如也可以设置根据压力而电极间距离变化,从而静电电容变化那样的结构,从而构成通过测量静电电容来测量压力的压力传感器。 
以上,能够通过便宜的装置,高精度且高速地测定未知的静电电容,同时基于静电电容的测定结果,高精度且高速地判定人体的接触非接触。 
上述的一连串的处理可通过硬件来执行,也可以通过软件来执行。在通过软件执行一连串的处理时,构成该软件的程序从存储媒体安装到在专用的硬件中安装的计算机、或者可通过安装各种程序来执行各种功能的、例如通用的个人计算机等中。 
图30是表示将图1、图14、图19、图21、图22、图25、图26的微型 计算机1、21、51、61、71、81、91的电性内部结构通过软件实现时的个人计算机的一实施方式的结构。个人计算机的CPU1001控制个人计算机的整体的动作。此外,若用户经由总线1004以及输入输出接口1005而从由键盘或鼠标等构成的输入单元1006输入指令时,对应于此,CPU1001执行存储在ROM(Read Only Memory)1002的程序。或者,CPU1001将从包括连接在驱动器1010的磁盘、光盘、光磁盘、或者半导体存储器的可拆卸媒体1011读出、并安装在存储单元1008的程序,加载到RAM(Random Access Memory)1003执行。这样,上述的图1、图14、图19、图21、图22、图25、图26的微型计算机1、21、51、61、71、81、91的功能通过软件而被实现。此外,CPU1001控制通信单元1009,与外部进行通信,执行数据的发送和接收。 
如图30所示,记录有程序的记录媒体与计算机不同地,不仅由包括为了对用户提供程序而配置的、记录有程序的磁盘(包括软盘)、光盘(包括CD-ROM(Compact Disc-Read Only Memory)、DVD(Digital Versatile Disk))、光磁盘(包括MD(Mini-Disc))或者半导体存储器等构成的可拆卸媒体1011构成,由以预先安装在计算机的状态提供给用户的、记录有程序的ROM1002或包含在存储单元1008的硬件等构成。 
此外,在本说明书中,记述记录在记录媒体的程序的步骤理应包括按照记载的顺序沿时间序列进行的处理,也包括不一定沿时间序列处理,但并列地或者个别地执行的处理。 

Claims (10)

1.一种检测装置,包括:
测量单元,分别测量包含未知电容的多个第1蓄电器的电容;
多个接触单元,电连接到所述多个第1蓄电器,配置在附近位置的人体直接接触或者经由绝缘物体间接地接触;
判定单元,基于由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容与每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到所述接触单元;
存储单元,分别累积地存储由所述测量单元所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;
参照电容计算单元,基于存储在所述存储单元的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;
差分计算单元,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和由所述测量单元所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及
调整单元,基于由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。
2.如权利要求1所述的检测装置,还包括:
第3蓄电器,一端连接到将包含已知的电容的第2蓄电器和所述第1蓄电器串联连接且将一端接地的电路的另一端,并且另一端接地,对所述电路的另一端施加自己的充电电压,从而将电荷充电到所述第1蓄电器、以及与所述第1蓄电器的每个对应的包含已知的电容的多个第2蓄电器;
第1放电单元,将充电到所述第3蓄电器的电荷的一部分进行放电,同时将充电到所述第2蓄电器的全部电荷进行放电;
第2放电单元,在与所述第1放电单元大致相同的时刻,将充电到所述第1蓄电器的全部电荷进行放电;
次数测量单元,测量所述第1放电单元以及所述第2放电单元的放电次数;以及
比较单元,比较所述第1蓄电器的充电电压和基准电压,
所述测量单元在所述第1放电单元以及所述第2放电单元的放电重复的情况下,根据所述比较单元的比较结果在所述第1蓄电器的充电电压与所述基准电压一致或者小于所述基准电压时,基于此时的由所述次数测量单元所测量的放电次数,计算所述第1蓄电器的电容来测量所述第1蓄电器的电容。
3.如权利要求2所述的检测装置,其中
所述第1放电单元经由串联连接到所述第3蓄电器的电阻,将充电到所述第3蓄电器的电荷仅放电规定时间,从而将充电到所述第3蓄电器的电荷的一部分放电。
4.如权利要求3所述的检测装置,还包括:
充电单元,以规定的充电电压对所述第3蓄电器进行充电,
所述充电单元对所述第3蓄电器直接进行充电。
5.如权利要求3所述的检测装置,还包括:
充电单元,以规定的充电电压对所述第3蓄电器进行充电,
所述第1放电单元的一端接地,另一端连接到所述电路和所述电阻之间,
所述充电单元从与所述第1放电单元的另一端相同的位置,对所述第3蓄电器进行充电。
6.如权利要求5所述的检测装置,还包括:
与所述电阻并联、在对所述第3蓄电器充电的电流方向上配置的二极管。
7.如权利要求2所述的检测装置,还包括:
切换一个包含已知电容的第2蓄电器、和多个所述第1蓄电器而将其串联连接的切换单元。
8.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于,
所述第2蓄电器还包括电极,
人体可直接或者经由绝缘物体间接地接触到所述电极。
9.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,
所述调整单元,在由所述差分计算单元所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去所述各第1蓄电器的差分绝对值的值,再从所述第1蓄电器的每个的阈值,减去该差值,据此来调整所述阈值。
10.一种检测方法,包括以下步骤:
测量步骤,分别测量包含未知电容的多个第1蓄电器的电容;
判定步骤,基于由测量单元所测量的多个第1蓄电器的电容与每个所述第1蓄电器的阈值的比较结果,判定人体是否直接或者间接地接触到接触单元;
存储步骤,分别累积地存储由所述测量步骤的处理所测量的测量结果、即多个第1蓄电器的每个的测量结果;
参照电容计算步骤,基于通过所述存储步骤的处理而存储的测量结果,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容;
差分计算步骤,计算所述多个第1蓄电器的每个的参照电容、和通过所述测量步骤的处理所测量的多个第1蓄电器的每个的测量结果之间的差分绝对值;以及
调整步骤,基于通过所述差分计算步骤的处理所计算的多个第1蓄电器的每个的差分绝对值和中除去各第1蓄电器的差分绝对值的值,调整所述第1蓄电器的每个的阈值。
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Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101150309B (zh) * 2007-10-31 2010-12-08 启攀微电子(上海)有限公司 一种自适应电容触摸传感控制电路
JP5079565B2 (ja) * 2008-03-27 2012-11-21 株式会社ディーアンドエムホールディングス 再生装置及び再生方法
JP5302610B2 (ja) * 2008-10-01 2013-10-02 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法
JP5067763B2 (ja) * 2008-10-08 2012-11-07 株式会社ジャパンディスプレイウェスト 接触検出装置、表示装置および接触検出方法
JP4888743B2 (ja) * 2009-07-09 2012-02-29 アイシン精機株式会社 静電容量検出装置
CN101943759B (zh) * 2009-07-10 2013-05-01 嘉纳尔科技(北京)有限公司 一种非接触式物体探测用传感器
CN102043096A (zh) * 2009-10-15 2011-05-04 瑞鼎科技股份有限公司 电容值测量电路与电容值测量方法
DE102009045968A1 (de) * 2009-10-23 2011-05-05 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Haushaltsgerät und Verfahren zum Betreiben eines Haushaltsgeräts
JP2011133964A (ja) * 2009-12-22 2011-07-07 Sanyo Electric Co Ltd 容量判別回路、容量判別回路を備えたタッチスイッチ
CN102193693B (zh) * 2010-03-17 2014-03-19 群康科技(深圳)有限公司 触控面板及其差动辨识方法
US8773146B1 (en) 2010-04-16 2014-07-08 Cypress Semiconductor Corporation Waterproof scanning of a capacitive sense array
CN102253772B (zh) * 2010-05-18 2013-10-16 联咏科技股份有限公司 触碰侦测方法及相关触控装置
JP5517251B2 (ja) * 2010-06-07 2014-06-11 トヨタ紡織株式会社 タッチセンサ及びタッチ検出方法
CN101866252B (zh) * 2010-07-09 2012-07-25 苏州瀚瑞微电子有限公司 电容式触摸装置的防水方法
FR2963682B1 (fr) * 2010-08-04 2012-09-21 St Microelectronics Rousset Procede de detection d'objet au moyen d'un capteur de proximite
KR20130108556A (ko) 2010-08-23 2013-10-04 사이프레스 세미컨덕터 코포레이션 컨패시턴스 스캐닝 근접성 검출
DE102010040434B4 (de) * 2010-09-08 2020-01-30 BSH Hausgeräte GmbH Kapazitive Bedieneinrichtung für ein Haushaltsgerät, Haushaltsgerät und Verfahren zum Betreiben einer kapazitiven Bedieneinrichtung in einem Haushaltsgerät
JP2012098828A (ja) * 2010-10-29 2012-05-24 Minebea Co Ltd 電子機器の入力装置及び入力制御方法
CN102169398A (zh) * 2010-11-19 2011-08-31 苏州瀚瑞微电子有限公司 自动识别校正触摸屏的方法
CN102169396A (zh) * 2010-11-19 2011-08-31 苏州瀚瑞微电子有限公司 图像处理侦测触摸位置的方法
JP5617581B2 (ja) 2010-12-08 2014-11-05 オムロン株式会社 ジェスチャ認識装置、ジェスチャ認識方法、制御プログラム、および、記録媒体
JP2012198089A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Tokai Rika Co Ltd 静電容量検出装置
DE102011078694B4 (de) 2011-07-05 2015-12-24 E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH Verfahren zum Betreiben eines piezokeramischen Sensors und Schaltung zur Durchführung des Verfahrens
US9151789B2 (en) * 2011-09-15 2015-10-06 Atmel Corporation Low power capacitive touch detector
US20130093719A1 (en) * 2011-10-17 2013-04-18 Sony Mobile Communications Japan, Inc. Information processing apparatus
DE102012201300A1 (de) * 2012-01-31 2013-08-01 E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH Verfahren zum Bestimmen des Betätigungszustands eines kapazitiven Sensors und Sensorschaltung
DE102012211935A1 (de) * 2012-07-09 2014-01-09 Preh Gmbh Berührungsempfindliche Bedieneinheit mit rotierender Berührschicht
TW201426478A (zh) * 2012-12-28 2014-07-01 Wintek Corp 電容式觸控裝置及其觸控感測方法
CN103970376B (zh) * 2013-01-30 2017-06-06 联胜(中国)科技有限公司 电容式触控装置及其触控感测方法
US9563319B2 (en) 2014-12-18 2017-02-07 Synaptics Incorporated Capacitive sensing without a baseline
US9646657B2 (en) * 2015-09-04 2017-05-09 Intel Corporation Power loss capacitor test using voltage ripple
JP6558216B2 (ja) * 2015-10-30 2019-08-14 アイシン精機株式会社 静電容量検出装置
TWI597624B (zh) * 2016-06-03 2017-09-01 凌通科技股份有限公司 電容感測暨通訊整合電路以及使用其之互動系統
JP6822029B2 (ja) * 2016-09-16 2021-01-27 アイシン精機株式会社 静電容量センサ
US10755066B2 (en) 2017-01-11 2020-08-25 Egis Technology Inc. Method and electronic device for detecting finger-on or finger-off
EP3379271B1 (en) 2017-01-18 2020-03-11 Shenzhen Goodix Technology Co., Ltd. Capacitance detection apparatus, electronic device and force detection apparatus
JP6555666B2 (ja) * 2017-02-08 2019-08-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 静電容量センサおよびグリップセンサ
CN108696271B (zh) * 2018-05-28 2022-02-25 珠海慧联科技有限公司 一种基于电容触摸按键的滑动手势识别方法及系统
CN113167563B (zh) * 2018-12-10 2023-05-23 株式会社爱信 静电电容传感器
US11293961B2 (en) * 2019-03-13 2022-04-05 Aisin Corporation Capacitance detection device
JP7298366B2 (ja) * 2019-03-13 2023-06-27 株式会社アイシン 静電容量検出装置
CN111025402B (zh) * 2019-11-22 2022-03-18 兰州大学 一种规避残留电荷及输入电压自动调节的高密度电法勘探装置
CN111578439A (zh) * 2020-05-27 2020-08-25 珠海格力电器股份有限公司 触摸按键的湿手检测装置、线控器及空调

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1766660A (zh) * 2004-09-08 2006-05-03 欧姆龙株式会社 电容计测装置和方法及程序

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3564581A (en) * 1965-01-11 1971-02-16 Frederick L Winterburn Ignition system
JPS5254879U (zh) * 1975-10-19 1977-04-20
US4039940A (en) * 1976-07-30 1977-08-02 General Electric Company Capacitance sensor
JP2675952B2 (ja) 1992-11-25 1997-11-12 松下電工株式会社 非接触式スイッチ
US5933102A (en) * 1997-09-24 1999-08-03 Tanisys Technology, Inc. Capacitive sensitive switch method and system
JP3548881B2 (ja) * 1997-09-30 2004-07-28 オムロン株式会社 検知装置及びその閾値設定方法
GB9825435D0 (en) * 1998-11-20 1999-01-13 Philipp Harald Charge transfer capacitance measurement circuit
JP2001027655A (ja) * 1999-07-13 2001-01-30 Horiba Ltd 容量型センサの信号処理回路
US6456952B1 (en) * 2000-03-29 2002-09-24 Ncr Coporation System and method for touch screen environmental calibration
JP4347505B2 (ja) * 2000-08-18 2009-10-21 Dxアンテナ株式会社 物体検知装置
US6661239B1 (en) * 2001-01-02 2003-12-09 Irobot Corporation Capacitive sensor systems and methods with increased resolution and automatic calibration
JP4356003B2 (ja) * 2003-09-30 2009-11-04 アイシン精機株式会社 静電容量検出装置
JP4310695B2 (ja) * 2004-03-30 2009-08-12 アイシン精機株式会社 静電容量変化検出装置
US7504833B1 (en) * 2005-04-01 2009-03-17 Cypress Semiconductor Corporation Automatically balanced sensing device and method for multiple capacitive sensors
US7567240B2 (en) * 2005-05-31 2009-07-28 3M Innovative Properties Company Detection of and compensation for stray capacitance in capacitive touch sensors
US7449895B2 (en) * 2005-06-03 2008-11-11 Synaptics Incorporated Methods and systems for detecting a capacitance using switched charge transfer techniques
JP2006347215A (ja) * 2005-06-13 2006-12-28 Toyota Motor Corp タッチスイッチ
JP4730898B2 (ja) * 2005-11-16 2011-07-20 株式会社キーエンス 光電センサ
JP4792931B2 (ja) 2005-11-16 2011-10-12 パナソニック株式会社 加熱調理器
TWI303775B (en) * 2005-11-30 2008-12-01 Sunplus Technology Co Ltd Motion detection system and motion detection method
US7692639B2 (en) * 2006-02-10 2010-04-06 Microsoft Corporation Uniquely identifiable inking instruments
US20080088323A1 (en) * 2006-10-16 2008-04-17 Emerson Electric Co. Control and method for a capacitive sensor system
US8026904B2 (en) * 2007-01-03 2011-09-27 Apple Inc. Periodic sensor panel baseline adjustment

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1766660A (zh) * 2004-09-08 2006-05-03 欧姆龙株式会社 电容计测装置和方法及程序

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特表2002-530680A 2002.09.17

Also Published As

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US20090073140A1 (en) 2009-03-19

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