CN101315797A - 刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置 - Google Patents

刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101315797A
CN101315797A CNA2007102007490A CN200710200749A CN101315797A CN 101315797 A CN101315797 A CN 101315797A CN A2007102007490 A CNA2007102007490 A CN A2007102007490A CN 200710200749 A CN200710200749 A CN 200710200749A CN 101315797 A CN101315797 A CN 101315797A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pulse width
width parameter
parameter
length
imprinting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2007102007490A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101315797B (zh
Inventor
王俊杰
林忠县
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2007102007490A priority Critical patent/CN101315797B/zh
Priority to US12/125,071 priority patent/US7986600B2/en
Publication of CN101315797A publication Critical patent/CN101315797A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101315797B publication Critical patent/CN101315797B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
    • G11B20/10481—Improvement or modification of read or write signals optimisation methods
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/0045—Recording
    • G11B7/00456—Recording strategies, e.g. pulse sequences
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1267—Power calibration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

一种刻录脉冲宽度参数的调整方法包括如下步骤：将所述第一脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的第一脉冲宽度参数调整值，并分别使用所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值刻录所述测试数据到光盘上；分别检测并计算出刻录到所述光盘上的各组测试数据中多个岸的平均长度与所述第一标准长度的差值，得到多个差值；将所述多个差值与所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值根据公式Y＝aX+b进行一次线性拟合，得到线性拟合参数a、b；定义Y为所述差值，X为所述第一脉冲宽度参数调整值；计算所述第一脉冲宽度参数的最佳值－b/a；存储所述第一脉冲宽度参数的最佳值，以利用其对所述光盘进行刻录。本发明还提供一种刻录脉冲宽度参数的调整装置。

Description

刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置
技术领域
本发明涉及激光刻录技术，特别涉及一种刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置。
背景技术
刻录机刻录数据的方式是将普通数据转换成二进制数据，并将其依据8-14调制(EFM，Eight to Fourteen Modulation)方式调变后，将二进制数据刻录成光盘上的岸(Land)与坑(Pit)。EFM调变就是根据DVD规格书的定义将原本8位(1字节)的数据转换为14位，通过加长数据的长度，使数据更易于使用激光刻录与读取。经过EFM调变后的数据可表示为3T至11T以及14T，其中T代表刻录1位数据所需的时间长度，最短的坑/岸长度需为3T，最长为14T。以1倍速读取DVD为例，1T为38.23ns，以4倍速读取DVD为例，1T则为9.56ns。
图1所示为一组EFM数据及将其刻录到光盘上所形成轨道的示意图。激光头读取光盘数据时，在坑或者岸上，其反射系数不变，都读成“0”，坑和岸的长度决定“0”的个数。在坑和岸的交界处，其反射系数发生变化，即坑的前后沿读为“1”。
就可刻录的光盘而言，可分为单次刻录与多次覆写。单次刻录之光盘，如CD-R、DVD-R，利用激光加热破坏光盘轨道上染料的物理结构产生坑，而未被破坏的部分则为岸；多次覆写的光盘，如DVD-RW、DVD-RAM，则是利用激光控制光盘轨道上的温度使其产生相变，进而产生虚拟的坑与岸。由于刻录原理的不同，覆写式光盘是以多脉冲(Multi-Pulse)的波形来刻录资料，而单次刻录的光盘则大多是以非多脉冲(Non-Multi Pulse)波形刻录。
刻录时，准确控制岸与坑的长度对于数据正确性有直接影响，其主要参数包括激光功率、脉冲宽度以及脉冲波形的控制，规格书将其定义为刻录参数。图2为非多脉冲方式中EFM数据与刻录脉冲波形的对应示意图。所述刻录脉冲包括前脉冲(Ttop，Top Pulse)、后脉冲(Tlast，Last Pulse)和底脉冲(Tp)。采用前脉冲和后脉冲刻录数据时的刻录功率较高，采用底脉冲刻录数据时的刻录功率较低。这样，在刻录一个坑时，在坑两头采用较高激光功率，而中间部分因为热传递的原因，只需采用较低功率刻录即可。图2中，TOPRnP和TLASTnP为刻录参数。TOPRnP用于控制长度为nT的坑的刻录脉冲的前脉冲的上升缘(FrontEdge)位置，TLASTnP用于控制长度为nT的坑的刻录脉冲的后脉冲的下降缘(Rear Edge)位置，3≤n≤14。
由于各光盘厂的染料配方不尽相同，因此各种光盘的刻录脉冲调整参数皆无法共享。目前，刻录机厂商在刻录机量产前，会针对市面上的光盘人工制作刻录脉冲参数调整的动作，并将各种光盘的刻录脉冲调整参数储存在刻录机的固件中。当用户放入光盘时，刻录机即可通过光盘上的识别码，在固件中找到相对应的刻录脉冲调整参数，进而成功刻录该光盘。上述方法的缺点在于，必须浪费许多的人力与时间成本来调整刻录脉冲调整参数，且当需要更换不同的光学读取头或控制芯片时，就必须再重新调整全部的刻录脉冲调整参数。此外，若光盘厂所生产的光盘质量不一致，或遇到尚未内建刻录脉冲调整参数的新光盘时，则所刻录出来的光盘质量就会很差，甚至于无法成功刻录该光盘。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种刻录脉冲宽度参数的调整方法。
此外，还有必要提供一种刻录脉冲宽度参数的调整装置。
一种刻录脉冲宽度参数的调整方法，刻录脉冲包括前脉冲、后脉冲和位于前脉冲与后脉冲之间的底脉冲；光盘驱动器中存储有第一脉冲宽度参数初始值、测试数据和第一标准长度；所述刻录脉冲宽度参数的调整方法包括如下步骤：
将所述第一脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的第一脉冲宽度参数调整值，并分别使用所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值刻录所述测试数据到光盘上；
分别检测并计算出刻录到所述光盘上的各组测试数据中多个岸的平均长度与所述第一标准长度的差值，得到多个差值；
将所述多个差值与所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值根据公式Y＝aX+b进行一次线性拟合，得到线性拟合参数a、b；定义Y为所述差值，X为所述第一脉冲宽度参数调整值；
计算所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a；
存储所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a，以利用其对所述光盘进行刻录。
一种刻录脉冲宽度参数的调整装置，刻录脉冲包括前脉冲、后脉冲和位于前脉冲与后脉冲之间的底脉冲；所述刻录脉冲宽度参数的调整装置包括：
存储单元，用于存储脉冲宽度参数、标准长度及测试数据信息；
控制单元，用于根据获得的脉冲宽度参数信息控制光学读取头的刻录工作；
检测单元，用于检测试刻在光盘上的测试数据的坑和岸的长度信息；
初始参数转换单元，用于将存储在所述存储单元中的脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的脉冲宽度参数调整值；
差值计算模块，用于接收来自所述检测单元的多个岸的长度信息，计算所述多个岸的平均长度与所述标准长度的差值；
线性拟合单元，用于将接收到的多个差值与所述多个不同的脉冲宽度参数调整值根据公式Y＝aX+b进行一次线性拟合，获得线性拟合参数a、b；定义Y为所述差值，X为所述脉冲宽度参数调整值；
最佳参数计算单元，用于计算所述脉冲宽度参数的最佳值-b/a。
本发明所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置，可针对所放入光盘本身的特性自动调整出最佳的刻录脉冲宽度参数，如此不仅可以提高盘片的刻录品质，亦可使刻坏光盘的机率大幅降低。
附图说明
图1为刻录时钟与EFM数据示意图。
图2为非多脉冲方式中EFM数据与刻录脉冲波形的对应示意图。
图3A为实验量测到的岸的Jitter示意图。
图3B为实验量测到的坑的Jitter示意图。
图4A为一次实验量测到的眼孔图样示意图。
图4B为另一次实验量测到的眼孔图样示意图。
图5为刻录脉冲宽度参数的调整方法的流程图。
图6为一较佳实施方式的刻录脉冲宽度参数的调整方法的流程图。
图7为一较佳实施方式中调整TLASTnP时的刻录脉冲波形变化示意图。
图8为一较佳实施方式中差值W与TLASTnP的关系图。
图9为一较佳实施方式中调整TOPRnP时的刻录脉冲波形变化示意图。
图10为一较实施方式中差值w与TOPRnP的关系图。
图11为一较佳实施方式的刻录脉冲宽度参数的调整装置架构图。
具体实施方式
在介绍刻录脉冲宽度参数的调整方法之前，首先就相关参数名称加以说明。为方便说明，在下文中直接用T表示T时间内激光在光盘上移动的距离。
1.抖动值(Jitter)：Jitter用于量化刻录的坑或岸长度的集中度，其定义为2.5T~3.5T间所有长度的坑或岸出现次数的标准差。Jitter值越小表示该刻录质量越好。由于光盘染料的物理特性，以及读取头控制激光脉冲的稳定度，使得刻录到光盘上的坑(Land)与岸(Pit)长度不可能全部都标准，实际状况会呈现出一种常态分布的情形。如图3A和图3B所示，其中横轴为量测到的岸与坑的长度，单位为T，纵轴为该长度出现次数r的对数。如图3中，A点表示3T岸之总次数为104.2个，B点表示5T坑之总次数为103.7个，可见，3T坑和岸的数目是最多的。
2.眼孔图样(Eye Pattern)：由于刻录到光盘上的激光功率的变化，以及光盘染料对激光温度的反应各有不同，使得激光头读取各个数据时所产生的振幅也随之不同，若将所有读取不同长度的坑和岸时产生的波形图连在一起将形成眼孔图样。从眼孔图样的物理意义可以看出，当刻录的坑/岸长度都非常标准时，如图4A所示，其曲线会非常清晰，表示Jitter值也非常小；反之，当刻录的坑/岸较杂乱，刻录质量也较差时，如图4B所示，其曲线越模糊，表示Jitter值越高。
3.刻录脉冲的脉冲宽度参数：其包括前脉冲前缘参数TOPRnP和后脉冲后缘参数TLASTnP，3≤n≤14。每个刻录脉冲都包括前脉冲(Ttop，Top Pulse)、后脉冲(Tlast，Last Pulse)和底脉冲(Tp)。前脉冲前缘参数TOPRnP用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的前脉冲的上升缘位置。后脉冲后缘参数TLASTnP用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的后脉冲的下降缘位置。
光盘驱动器中都会预先存储有刻录脉冲的脉冲宽度参数、标准长度和至少一组测试数据信息。该脉冲宽度参数的取值可根据不同光盘驱动器的硬件架构有所不同。
请参阅图5，一种刻录脉冲宽度参数的调整方法包括以下步骤：
步骤S101，将一个脉冲宽度参数的初始值X10转化为c个不同的脉冲宽度参数调整值X11、X12、...X1c，c为大于1的自然数。其中，将脉冲宽度参数的初始值X10转化为多个不同的脉冲宽度参数调整值的转换方法是对初始值X10进行增减变换。例如，将脉冲宽度参数初始值X10＝0.1T通过增减变换得到5个调整值：-0.2T，-0.1T，0T，0.2T和0.3T。
该刻录脉冲宽度参数可以是前脉冲前缘参数TOPRnP，也可以是后脉冲后缘参数TLASTnP。
步骤S103，从光盘驱动器中获得测试数据，并分别使用上述c个不同的脉冲宽度参数调整值X11、X12、...X1c刻录测试数据到光盘上。
步骤S105，分别检测并计算出刻录到光盘上的测试数据中多个岸的平均长度与预设标准长度的差值，得到c个差值。
其中，检测刻录到光盘上的c组测试数据中多个岸的长度时，仅检测长度在一定范围的岸的长度，而预设标准长度为对应上述长度范围的标准长度。例如，预设标准长度采用3T的标准长度时，仅检测长度在0.5T到3.5T范围的岸的长度，而预设标准长度采用4T的标准长度时，仅检测长度在3.5T到4.5T范围的岸的长度，以此类推。
由于在实际刻录中，长度为3T的坑和岸的数目是最多的，因此在较佳实施方式中，预设标准长度采用3T的标准长度，检测时仅检测长度在0.5T到3.5T范围的岸的长度。
步骤S107，将步骤S105得到的c个差值与上述c个不同的脉冲宽度参数调整值X11、X12、...X1c进行一次线性拟合，获得线性拟合参数a1、b1，并求出上述差值为0时，该脉冲宽度参数的值-b1/a1。-b1/a1代表着该脉冲宽度参数的最佳值。
其中，上述线性拟合是根据公式U＝a1V+b1进行的，定义U为所述差值，V为所述脉冲宽度参数调整值。
步骤S109，存储该脉冲宽度参数的最佳值-b1/a1，以利用其对所述光盘进行刻录。
下面以调整5T坑(即n＝5)的刻录脉冲的宽度为例阐述上述调整方法，流程图如图6所示。其余3T、4T及6T至14T坑的刻录脉冲的调整方法与5T坑的完全相同。在较佳实施方式中，考虑到7T以上的坑的刻录脉冲受温度的影响特别小，因此为了减少调整的参数，仅调整3T~7T坑的脉冲宽度参数即可，7T以上的坑的脉冲宽度参数只要与7T的相同即可。
设定刻录倍数为2，光盘驱动器中预设有如表1所示的脉冲宽度参数初始值。
表1 2刻录倍数下之脉冲宽度参数初始值
    脉冲宽度参数的名称     刻录倍数为2时脉冲宽度参数初始值
    topR3P     -0.05T
    topR4P~14P     0T
    TLAST3P~14P     0T
本较佳实施方式中，刻录脉冲宽度参数的调整方法包括如下步骤：
步骤S202，选择表1中参数TLAST5P的初始值X3＝0T，以每次的调整幅度为0.1T增减出5个TLAST5P的调整值：-0.1T，0.1T，0.2T，0.3T，0.4T。
步骤S204，采用TLAST5P＝-0.1T试刻一组随机的EFM测试数据在光盘上。
检测刻录到光盘上的测试数据中长度L符合以下三个条件的岸：0.5T≤L≤3.5T，0.5T≤Tj，P≤3.5T，(n-0.5)T≤Tk，P≤(n+0.5)T。其中，定义Tj，P为长度为L的岸之后的坑的长度，定义Tk，P为长度为L的岸之前的坑的长度。由于本较佳实施方式是以调整5T坑(即n＝5)的刻录脉冲的宽度为例说明的，因此上面的第三个条件中，4.5T≤Tk，P≤5.5T。
计算出所有符合条件的岸的平均长度与3T的标准长度的差值。
然后，分别采用其余四个TLAST5P调整值(0.1T，0.2T，0.3T和0.4T)试刻随机的EFM测试数据在光盘上，并分别按照上述方法计算出符合条件的岸的平均长度与3T的标准长度的差值，得到四个差值。图7所示为采用TLAST5P＝0.4T的刻录脉冲的变化情况示意图。
步骤S206，根据上述步骤可以得到五组TLAST5P调整值与对应差值的组合，根据上述组合和公式W＝a2Z+b2作一次线性拟合，得到线性拟合参数a2、b2，并求出W为0时，Z的值-b2/a2，如图9所示。定义W为得到的差值，Z为TLAST5P的调整值，则值-b2/a2代表着TLAST5P的最佳值。
步骤S208，采用步骤S206处得到的参数TLAST5P的最佳值-b2/a2在光盘上刻录测试数据，检测刻录的数据的刻录品质是否符合要求。如果符合，执行步骤S210，否则跳到步骤S202，以不同的调整幅度增减出多个TLAST5P的调整值，以重新确定该后脉冲后缘参数的最佳值。
所述检测刻录品质是否符合要求可通过检测刻录之数据的Jitter值和奇偶校验PI/PO(Parity Inner/Parity Outer)来确定，Jitter和PI/PO检测都是DVD规格书规定的检测项目，不再赘述。
步骤S210，选择表1中TOPR5P的初始值X5＝0T，以每次的调整幅度为0.1T增减出5个调整值：-0.1T，0.1T，0.2T，0.3T，0.4T。
步骤S212，分别采用上述5个调整值试刻随机的EFM测试数据在光盘上。
与步骤S204类似地，分别检测并计算出刻录到光盘上的测试数据中符合以下条件的岸的平均长度与3T的标准长度的差值，得到5个差值：0.5T≤L≤3.5T，0.5T≤TJ，P≤3.5T，(n-0.5)T≤TK，P≤(n+0.5)T。其中，定义TJ，P为长度为L的岸之前的坑的长度，定义TK，P为长度为L的岸之后的坑的长度。
图9所示为采用TOPR5P＝0.4T的刻录脉冲的变化情况示意图。
步骤S214，根据步骤S212可以得到五组TOPR5P值与对应差值的组合，根据上述组合和公式w＝a3z+b3作一次线性拟合，得到线性拟合参数a3、b3，并求出当w＝0时，z的值-b3/a3。定义w为得到的差值，z为TOPR5P的调整值，则值-b3/a3代表着TOPR5P的最佳值。
步骤S216，采用步骤S214处得到的TOPR5P的最佳值-b3/a3在光盘上刻录测试数据，检测刻录的数据的刻录品质是否符合要求。如果符合，执行步骤S218，否则跳到步骤S210，以不同的调整幅度增减出多个TOPR5P调整值，以重新确定该前脉冲前缘参数的最佳值。
步骤S218，存储得到的后脉冲后缘参数TLAST5P的最佳值和前脉冲前缘参数TOPR5P的最佳值，以利用其对光盘进行刻录。
流程结束。
本较佳实施方式的步骤S204和步骤S212中，之所以仅检测符合上述条件的岸进行测量是因为：对应nT坑的刻录脉冲的宽度直接影响该坑前、后的岸的长度，如果该nT坑之前/后的岸都能达到标准长度的话，其本身的长度必然也会标准，又由于在EFM编码后，烧录到光碟上的数据中长度为3T的坑与岸的数目最多(约为长度为4T的1.2倍以上，请参考图3A和图3B)，因此如果nT坑之前/后长度为3T的岸的长度能调整到标准长度的话，则其之前/后长度为4T、5T等的岸也会跟着趋近于标准长度。
在步骤S208后，也可先将参数TLAST5P的最佳值保存起来，在步骤S218中再保存参数TOPR5P的最佳值。
在其它实施方式中，可对3T到14T的坑的所有刻录脉冲进行调整，也可以根据具体情况只调整部分刻录脉冲的脉冲宽度参数。
在另一种实施方式中，可先对前脉冲前缘参数TOPRnP进行调整，然后再对后脉冲后缘参数TLASTnT进行调整，方法与上述类似，不再赘述。
上述刻录脉冲宽度参数的调整方法，可自动调整出刻录脉冲宽度参数的最佳值，从而得到最佳的刻录脉冲宽度，如此不仅可以提高盘片的刻录品质，亦可使刻坏光盘的机率大幅降低。
如图11所示，刻录脉冲宽度参数的调整装置300包括存储单元302、控制单元304、检测单元306和初始参数转换单元308、差值计算模块310、线性拟合单元312和最佳参数计算单元314。
存储单元302中存储着脉冲宽度参数、测试数据信息和标准长度信息。存储单元302包括初始参数存储模块322、最佳参数存储模块324、测试数据存储模块326和标准长度存储模块328。
初始参数存储模块322中存储着脉冲宽度参数的初始值，至少包括后脉冲后缘参数TLASTnP的初始值和前脉冲前缘参数TOPRnP的初始值中的一个。最佳参数存储模块324用于存储根据当前光盘100测量得出的脉冲宽度参数的最佳值。测试数据存储模块326中存储有试刻时使用的测试数据。标准长度存储模块328中存储标准3T或4T或5T的长度。在其它实施方式中，存储单元302可只包括初始参数存储模块322和测试数据存储模块326，参数存储模块322中最初存储有脉冲宽度参数初始值，在确定脉冲宽度参数的最佳值后被替换为所述脉冲宽度参数的最佳，用于在下次刻录新光盘时作为脉冲宽度参数的初始值。
控制单元304用于根据其接收到的脉冲宽度参数控制光学读取头200的刻录工作。
检测单元306用于检测刻录在光盘上的测试数据的坑和岸的信息。
初始参数转换单元308用于将存储在初始参数存储模块322中的脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的脉冲宽度参数调整值。
差值计算模块310，用于接收来自检测单元306的多个岸的长度信息，计算上述多个岸的平均长度与标准长度(例如3T的标准长度)的差值，输出到线性拟合单元312。
线性拟合单元312用于将接收到的多个差值与多个脉冲宽度参数调整值根据公式y＝a4x+b4进行一次线性拟合，获得线性拟合参数a4、b4，定义y为上述差值，x为上述脉冲宽度参数调整值。
最佳参数计算单元314用于计算脉冲宽度参数的最佳值，该最佳值等于-b4/a4。
上述刻录脉冲宽度参数的调整装置300，可自动调整出最佳的刻录脉冲宽度参数，如此不仅可以提高盘片100的刻录品质，亦可使刻坏光盘100的机率大幅降低。

Claims (10)

1.一种刻录脉冲宽度参数的调整方法，刻录脉冲包括前脉冲、后脉冲和位于前脉冲与后脉冲之间的底脉冲；光盘驱动器中存储有第一脉冲宽度参数初始值、测试数据和第一标准长度；所述刻录脉冲宽度参数的调整方法包括如下步骤：
将所述第一脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的第一脉冲宽度参数调整值，并分别使用所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值刻录所述测试数据到光盘上；
分别检测并计算出刻录到所述光盘上的各组测试数据中多个岸的平均长度与所述第一标准长度的差值，得到多个差值；
将所述多个差值与所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值根据公式Y＝aX+b进行一次线性拟合，得到线性拟合参数a、b；定义Y为所述差值，X为所述第一脉冲宽度参数调整值；
计算所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a；
存储所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a，以利用其对所述光盘进行刻录。
2.如权利要求1所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法，其特征在于：所述第一脉冲宽度参数为后脉冲后缘参数或前脉冲前缘参数；
所述后脉冲后缘参数用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的后脉冲的下降缘位置；所述前脉冲前缘参数用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的前脉冲的上升缘位置；3≤n≤14，T为刻录一位数据所需的时间长度。
3.如权利要求2所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法，其特征在于：所述第一脉冲宽度参数为后脉冲后缘参数；
所述检测刻录到所述光盘上的测试数据中多个岸的长度步骤中，所述多个岸的长度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T；且所述多个岸之后的坑的长度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T，所述多个岸之前的坑的长度大于或等于(n-0.5)T，并小于或等于(n+0.5)T；所述第一标准长度为3T的标准长度。
4.如权利要求2所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法，其特征在于：所述第一脉冲宽度参数为前脉冲前缘参数；
所述检测刻录到所述光盘上的测试数据中多个岸的长度步骤中，所述多个岸的长度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T；且所述多个岸之前的坑的长度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T，所述多个岸之后的坑的长度大于或等于(n-0.5)T，并小于或等于(n+0.5)T；所述第一标准长度为3T的标准长度。
5.如权利要求1所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法，其特征在于：所述将所述第一脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的第一脉冲宽度参数调整值步骤中的转化方法是在所述第一脉冲宽度参数初始值的基础上增减变换而成。
6.如权利要求1所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法，其特征在于，进一步包括以下步骤：
使用所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a刻录测试数据到光盘上；
检测刻录在所述光盘上的测试数据的刻录品质是否符合要求，如果符合则存储所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a，以利用其对所述光盘进行刻录，否则重新确定所述第一脉冲宽度参数的最佳值。
7.如权利要求1所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法，其特征在于，所述检测刻录到所述光盘上的测试数据中多个岸的长度步骤中，所述多个岸符合下列两个条件中的一个：
(1)，所述多个岸的长度大于或等于0.5T，并小于或等于3.5T；
(2)，所述多个岸的长度大于或等于(m-0.5)T，并小于或等于(m+0.5)T；
且当符合条件(1)时，所述标准长度为3T的标准长度；当符合条件(2)时，所述第一标准长度为m T的标准长度，m大于3，T为刻录一位数据所需的时间长度。
8.一种刻录脉冲宽度参数的调整装置，刻录脉冲包括前脉冲、后脉冲和位于前脉冲与后脉冲之间的底脉冲；其特征在于，所述刻录脉冲宽度参数的调整装置包括：
存储单元，用于存储脉冲宽度参数、标准长度及测试数据信息；
控制单元，用于根据获得的脉冲宽度参数信息控制光学读取头的刻录工作；
检测单元，用于检测试刻在光盘上的测试数据的坑和岸的长度信息；
初始参数转换单元，用于将存储在所述存储单元中的脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的脉冲宽度参数调整值；
差值计算模块，用于接收来自所述检测单元的多个岸的长度信息，计算所述多个岸的平均长度与所述标准长度的差值；
线性拟合单元，用于将接收到的多个差值与所述多个不同的脉冲宽度参数调整值根据公式Y＝aX+b进行一次线性拟合，获得线性拟合参数a、b；定义Y为所述差值，X为所述脉冲宽度参数调整值；
最佳参数计算单元，用于计算所述脉冲宽度参数的最佳值-b/a。
9.如权利要求8所述的刻录脉冲宽度参数的调整装置，其特征在于：所述脉冲宽度参数为后脉冲后缘参数或前脉冲前缘参数；
所述后脉冲后缘参数用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的后脉冲的下降缘位置；所述前脉冲前缘参数用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的前脉冲的上升缘位置的；3≤n≤14，T为刻录一位数据所需的时间长度。
10.如权利要求8所述的刻录脉冲宽度参数的调整装置，其特征在于：所述计算单元通过增减变换将所述脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的脉冲宽度参数调整值。
CN2007102007490A 2007-06-01 2007-06-01 刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置 Expired - Fee Related CN101315797B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102007490A CN101315797B (zh) 2007-06-01 2007-06-01 刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置
US12/125,071 US7986600B2 (en) 2007-06-01 2008-05-22 Optical recording apparatus and method for optimizing recording signal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2007102007490A CN101315797B (zh) 2007-06-01 2007-06-01 刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101315797A true CN101315797A (zh) 2008-12-03
CN101315797B CN101315797B (zh) 2011-02-02

Family

ID=40088016

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2007102007490A Expired - Fee Related CN101315797B (zh) 2007-06-01 2007-06-01 刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7986600B2 (zh)
CN (1) CN101315797B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108462531A (zh) * 2018-03-30 2018-08-28 北京奥普维尔科技有限公司 光时域反射仪及其方法、多脉宽光缆诊断系统及其方法
WO2020011274A1 (zh) * 2018-07-13 2020-01-16 中兴通讯股份有限公司 脉冲测试方法及装置、测试设备及存储介质

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6339579B1 (en) * 1998-04-09 2002-01-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor laser diode driving device and driving method
JP2002298376A (ja) * 2001-03-30 2002-10-11 Mitsumi Electric Co Ltd 光ディスク装置
JP4500025B2 (ja) * 2003-09-04 2010-07-14 株式会社日立エルジーデータストレージ 光ディスク装置及び光ディスク装置の制御方法
TW200523902A (en) * 2004-01-05 2005-07-16 Taiyo Yuden Kk Optical data recording method, recording apparatus and signal processing circuit
JP4395396B2 (ja) * 2004-03-24 2010-01-06 太陽誘電株式会社 光情報記録装置
JP4395450B2 (ja) * 2005-02-08 2010-01-06 太陽誘電株式会社 光情報記録装置および信号処理回路
JP4523470B2 (ja) * 2005-03-29 2010-08-11 太陽誘電株式会社 光情報記録装置および方法および信号処理回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108462531A (zh) * 2018-03-30 2018-08-28 北京奥普维尔科技有限公司 光时域反射仪及其方法、多脉宽光缆诊断系统及其方法
WO2020011274A1 (zh) * 2018-07-13 2020-01-16 中兴通讯股份有限公司 脉冲测试方法及装置、测试设备及存储介质
US11359993B2 (en) 2018-07-13 2022-06-14 Zte Corporation Pulse testing method and device, testing apparatus, and storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
CN101315797B (zh) 2011-02-02
US7986600B2 (en) 2011-07-26
US20080298198A1 (en) 2008-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPWO2006112277A1 (ja) 光学的情報記録媒体へのデータ記録における記録パルス条件の最適化方法
CN101315797B (zh) 刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置
CN100530365C (zh) 信息记录方法、信息记录装置
KR100645062B1 (ko) 광디스크 장치 및 그 광정보 기록방법
US7158462B2 (en) Reproduced signal evaluation method, information recording medium, information reproducing apparatus, information reproducing method, and information recording method
CN102804267B (zh) 记录条件的调整方法、光盘装置以及信息记录方法
CN100380461C (zh) 信息记录方法和信息记录媒体
CN102419987B (zh) 评价方法及信息记录方法
JP4955583B2 (ja) 光ディスクのデータ記録再生装置及び方法
JP4395450B2 (ja) 光情報記録装置および信号処理回路
CN101197140B (zh) 光盘驱动器刻录功率调整方法及装置
CN100424761C (zh) 使用两阶段调整的最佳化写入策略参数的系统及方法
CN100382158C (zh) 在光记录介质上记录数据的装置
JP4556818B2 (ja) 光記録媒体への情報記録方法及び装置
CN100452197C (zh) 用于光驱的多基准功率的功率控制装置及其方法
JP3822571B2 (ja) 再生信号評価方法
CN101206886B (zh) 光盘记录方法以及光盘记录装置
JP4477544B2 (ja) 光ディスク装置およびプログラム
JP2007512651A (ja) 光ディスク書込みのパラメータ最適化の方法及び装置
US20040145993A1 (en) Writing waveform controlling method and optical disk apparatus
TWI389110B (zh) 燒錄脈衝寬度參數之調整方法及裝置
JP3772710B2 (ja) 光ディスク装置
CN101606198A (zh) 光照射功率调整方法及光学信息记录重放装置
US9293168B2 (en) Quality evaluation method, information recording medium, optical disc device and recording/reproducing system
EP1635338A1 (en) Information recording method and information recording device

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110202

Termination date: 20140601