CN101292152B - 评估宝石的方法 - Google Patents

Abstract

一种确定夹杂物在宝石中的位置的方法，包括：(a)将宝石放在具有宝石折射率的0.5、任选0.2或0.1范围内的折射率的材料内；(b)照射宝石并对所照射的宝石成像；以及(c)根据图像中的夹杂物的图像来确定夹杂物的位置。

Description

评估宝石的方法

技术领域

本发明涉及宝石价值的确定。其具体的但不限制的涉及内部瑕疵的位置和性质以及它们对未加工的宝石和抛光的宝石价值的影响。

背景技术

用语‘宝石’、‘宝石矿石’和‘珍贵石’与指的是这样的矿石的通常含意同义地被使用，这样的矿石如钻石、蓝宝石、红宝石、绿宝石等等。在一些特定情况下，不失一般性，会使用用语钻石。

用语‘夹杂物’、‘瑕疵’和‘缺陷’与指明宝石里边的可辩得出的可见不规则性同义地被使用。

用语‘分割面’涉及用任何方法经其把宝石锯开、劈开或切割成一些单独部分的平面。

宝石作为装饰物品而不是工业物品，一般通过它们的外观被评价。在宝石学中，如钻石这样的宝石的质量一般由“4C”确定。所谓4C是净度(宝石的内部完美)、颜色(无色是更高价的)、切工(由形状、比例、对称和抛光构成)和克拉(重量)。

关于净度，重要的是识别未加工的宝石里边瑕疵的位置和尺寸，以便确定会从给定的宝石中获得最大价值的优选分割面。

日常的实践是由专家目视检查宝石。专家利用他们的经验和下述行业规则来审估瑕疵的位置和尺寸。这仍旧是人的主观判断。这种判断取决于个别人的技能和经验，并且在不同的个人和情况之间可能不同。此外，在要评估一包宝石矿石时，审估每块宝石或许要占用很长时间，以致只根据一些有代表性的宝石来推断这包的价值。

为了克服人工的不一致性和所包含的劳动，提出了光学方法及装置用于宝石内瑕疵的检测。然而，宝石尤其钻石的高折射率引起大的入射光和出射光的折射以及全部的内部反射，造成多重偏离的瑕疵图像。

美国专利4259011描述了如何识别夹杂物的存在，但不识别它们的位置。欧洲专利1211503提供了对探查透明的和至少局部抛光的钻石中的夹杂物的可能解决办法。这种解决办法是，通过二次成像钻石和用计算机分析图像来探查夹杂物相对于钻石外表面的位置。虽然该专利参考要包含在计算机计算中的折射率修正因子，但它不提供对单个夹杂物产生的多重图像的解决办法。

美国专利4049350使我们知道，通过把切割宝石浸在具有相同折射率的溶液中来消除在切割宝石的各面处的折射和反射。它描述如何通过以可取角度把窄激光束瞄准特定小平面来在2维平面上定位夹杂物。

美国专利4152069也使我们知道，把切割宝石浸在这样的溶液中和如何在3维体积内发现夹杂物。

后面两个参考文献都没披露任何关于他们为紧密匹配宝石而使用的媒质，这对于具有很高折射率的钻石来说尤其成问题。就本发明者们所知，在本专业中尚未想出这样的液体。

标题为“The Optical Properties of Liquid Selenium(液体硒的光学性质)”的论文(E.W.Saker，Proc.Phys.Soc.1952，pp785-787)提供了包括固体和熔融硒在近红外区相对于温度和波长的折射率的一些实验结果。

所有以上援引的参考文献的披露在这里作为参考引入。

发明内容

本发明的一些实施例的一个方面涉及用于根据其制作宝石的潜力评估宝石的方法和设备，制作宝石对瑕疵相对于未加工的宝石的外表面的位置、尺寸和颜色(暗淡/明亮)是敏感的。

本发明的一些实施例的一个方面涉及用于按照潜在抛光宝石的成本和价值评估宝石的方法和仪器，潜在抛光宝石对瑕疵在未加工的宝石中的位置和尺寸是敏感的。

本发明的一些实施例的一个方面涉及用于按照抛光宝石的成本和价值评估宝石的方法和仪器，抛光宝石对瑕疵在宝石中的位置和尺寸是敏感的。

本发明的一些实施例的一个方面涉及用于为增加其潜在价值而选定宝石中锯开面的方法和仪器，其潜在价值对瑕疵在未加工的宝石中的位置和尺寸是敏感的。

本发明的一些实施例的一个方面涉及用于基本可靠的发现夹杂物在宝石的结构内的位置的方法和仪器。只要宝石没有涂覆不同材料，它甚至可以是未加工的不规则或未切割的宝石。

在本发明的一个实施例中，确定夹杂物相对外部几何形状的位置。任选地，这个信息用于对宝石确定可能的锯开面和/或最佳锯开面组(对于最后宝石最佳)。在规定锯开面时，把宝石中的内部应力考虑进去。替换地或另外地，确定能从未加工的宝石得出的未加工的宝石和/或切割又抛光的宝石的价值。

后面方法的示例性实施例包括3个部分：(a)确定宝石的外部结构；(b)定位夹杂物和确定它们的几何形状；以及(c)建立夹杂物与宝石的外部结构的关系。

在一个发明实施例中，包括光源和传感器的光探头用于扫描宝石和检测其外部结构。宝石相对探头移动，以便从各个视点捕获其结构。光探头任选地是三角测量、周边三角测量、结构光以及消色差共焦或锥光偏振全息摄影术的技术的市场上买得到的器件之一。探头可以是点探头(探头每次测量一个点)、线探头(探头照射物体上的一条线并沿这条线测量)或区探头(探头照射物体上的一个区并每次测量这整个区)。

也可利用如本专业中已知的检测宝石外部结构的其他方法，例如机械探头。

使外部检查装置的坐标和数据与内部检验建立相互关系。

任选地和另外地，利用由本专业的工具，例如偏振仪器，检测和记录宝石中的内部应力。

在一个发明实施例中，宝石浸入一种媒质中，这种媒质至少对于特定的光波长带和温度具有基本与宝石匹配的折射率。于是，基本上消除了折射和内部反射以及夹杂物的多重偏离图像。进入宝石的光将大部分通过，但夹杂物将使光散射，以致从特定方向观察将产生带有相对明亮背景的暗淡区的图像，夹杂物在这条视线上(即，基本上不被偏向)。

任选地和优选地，媒质具有足以允许材料封闭该宝石的低粘度。具有这样低粘度的材料将使窥视“结霜的”宝石(带有用肉眼看似乳白的未加工外表面的宝石)成为可能。

因为任何材料的折射率都受波长和温度的影响，所以应该控制这些参数以便达到宝石和媒质的折射率之间的紧密匹配，也就是说，应该保持宝石和浸入媒质在适当的温度，并且应该把光滤波以只允许合适的波长到达检测器。

作为非限制的选择，媒质对于工业使用应该是基本非毒性的和安全的。

任选地，所述媒质包括至少一个周期表的第16族中的硫族化物元素，例如硫、硒或碲。

折射率接近钻石的折射率是较优选地，媒质包括硒；较优选地，硒构成媒质的重要部分；任选地，硒部分是以熔融状态，并且用红外光对钻石成像；任选地，把宝石浸入基本凝固的熔融媒质中，将宝石包装成固体状态。替换地，材料作为凝胶的一部分来被提供。

任选地，媒质可以包含用于改善要求特性的其他成分。

在一个发明实施例中，宝石被固定在一个可旋转的底座上并浸没在所述媒质中。宝石处在已知位置并相对装置坐标旋转。光源照射宝石，并合适的检测器记录其各个取向的图像。记录的图像将包括宝石内任何可捡测夹杂物的区别性的印象。以从记录图像的在装置坐标中的夹杂物位置的随之发生的重构所需要的多重取向成像宝石。

如果宝石和围绕的媒质之间的光学性质上的匹配是完美的，则夹杂物将是仅有的被成像的东西(没有偏向)。如果匹配不是完美的，则可能有外部特征的“重影”图像，但是，如果不消除，折射和内部反射将很大程度地减少。在一些情况下，有可能取消外部结构的单独确定并且根据单独的一组图像来确定这个结构以及夹杂物的位置和外部结构之间的失系。

在一个发明实施例中，用于宝石重构的装置坐标同用于夹杂物检测的装置坐标匹配，任选地和较优选地，对于两个装置坐标使用同一装置。有了宝石外部结构模型和夹杂物在匹配的或共用的装置坐标中的位置，夹杂物的位置映射入宝石结构中，替换地或另外地，引入到宝石几何模型中。

在一个发明实施例中，宝石的外部几何形状和在那里的各个夹杂物位置(两者都相对于装置坐标)被组合来确定夹杂物在宝石中的位置。任选地，夹杂物位置被用于计算制作优选抛光宝石的分割面，例如锯开面。任选地，抛光宝石的价值被用于计算优选的锯开面或一组锯开面。任选地，根据抛光宝石的价值规定宝石的价值。

任选地，优选的目标是最大的无瑕疵抛光宝石，分割面通过夹杂物或分离它们。

任选地，优选的目标是最高价值的无瑕疵抛光宝石，例如以牺牲尺寸为代价的较好切割或成形，由此分割面经过夹杂物或分离它们。

替换地，优选的目标是最高价值的抛光宝石，它们中的某些任选地包含瑕疵，例如以牺牲净度为代价的较大尺寸或较好切割。

替换地或另外地，优选的目标是较好的价值对成本的效益，例如价值少于成本或价值与成本之比。

任选地，可以调整算法以利用对优选价值目标的判据组合。

替换地或另外地，关于宝石算法报告一组按照规定的一个或一些目标优选的分割面。替换地或另外地，它报告按照规定的一个或一些目标排列的分割面组的表。

替换地或另外地，对于一组所述宝石锯开面算法报告最后抛光宝石潜在价值的所选价值、所涉及的成本、如扣掉成本后的价值这样的成本效率的值和/或任何其他合适的价值与成本关系。

任选地或另外地，所述报告包括最大净和/或毛(成本之前的)宝石价值。

任选地，宝石模型和各个锯开面被记录，并且任选地被报告，使得它们能被读取和能为以后利用被解释。

任选地，上述示例性实施例的任何输出数据，即宝石结构、其中夹杂物位置和优选的切锯开面可以任选自动地输入到锯和抛光机械设备中。

在一个发明实施例中，在宝石的外表面上做标记以使对准要锯开的宝石成为可能。在一个发明实施例中，当宝石在装置中时做标记。任选地，用激光做标记。

于是，按照一个发明实施例提供了确定夹杂物在宝石中的位置的方法，包括：

(a)将宝石放在具有宝石折射率的0.5、任选0.2或0.1范围以内的折射率的材料内；

(b)照射宝石并成像所照射的宝石；以及

(c)根据成像图像中的夹杂物图像确定夹杂物的位置。

在一个发明实施例中，该方法包括：

对于宝石相对于照射和用于成像宝石的成像器的多个取向进行重复(a)和(b)。其中确定包括：根据成像图像中的夹杂物图像确定夹杂物在3维空间中的位置。

在一个发明实施例中，材料包括第16族中的硫族化物元素，最好是硒。

在一个发明实施例中，材料是液体，而且其中放置包括将宝石浸在该液体中，任选地浸在熔融材料中。

任选地，材料和宝石在221和400摄氏度之间的温度。

在一个发明实施例中，材料包括固体，而且其中放置包括将宝石嵌入该固体中。任选地，材料和宝石在100和220摄氏度之间的温度。

在一个发明实施例中，照射是用任选地具有在1和1.8微米之间的波长红外光。

在一个发明实施例中，宝石是钻石。任选地，宝石是未经抛光的。替换地，宝石是经抛光的。

在一个发明实施例中，方法包括：

获得宝石的外部表面相对一个相应坐标系统的几何表示，其中成像包括获得宝石中的瑕疵相对同一坐标系统的几何表示。

任选地，图像包括宝石的外部的可见投影和宝石投影内的非偏向的夹杂物的清晰图像，以致能从所述可见投影获得宝石的外部表面的几何表示。

任选地，获得外部表面的几何表示包括辐照宝石和根据从该表面的反射确定距离。

在一个发明实施例中，方法包括评估宝石。

任选地，评估宝石包括根据夹杂物位置确定用于分割宝石的一个或几个分割面。任选地，

任选地，评估宝石是对可由宝石得到的至少一个潜在抛光宝石的价值的响应。任选地，潜在抛光宝石的价值是对潜在无瑕疵宝石的尺寸和几何形状的响应。任选地，潜在抛光宝石的价值是对潜在抛光宝石的尺的响应。任选地，潜在抛光宝石的价值是对制作这些宝石的的响应。

任选地，方法包括提供多组分割面，每组得到的是不同组的潜在抛光石。

附图说明

在下面，参照附到这里的图描述本发明实施例的非限定例子。在这节后列出这些图。在这些图上，出现在多于一个的图上的相同结构、元件或零件一般在它们出现在其上的所有图中都用相同符号标记。为展示的方便和清楚而选取在这些图上表示的部件尺寸和特征，而且未必按比例表示它们。

图1是按照一个发明示例性实施例的确定宝石外部结构的成像设备的示意图解；

图2是按照一个发明示例性实施例确定宝石内夹杂物的位置的设备的示意图解；

图3是按照一个发明示例性实施例的控制器和相对图2的设备包含部件的主信号方向的示意图解；

图4是按照一个发明示例性实施例的图2成像设备的另一种可供选择旋转的示意图解；

图5是按照一个发明示例性实施例的带有叠合的抛光宝石的未加工的宝石和消除夹杂物的分割面的例子的示意图解。

具体实施方式

在下面的讨论中，可能存在的单个夹杂物(或者瑕疵或者缺陷)的应用对多个夹杂物也适用。

在图1上示意地表示按照一个发明示例性实施例的用于确定宝石外部结构的设备100。

宝石102(任选地带有底面114)固定在已知位置和取向的可旋转底座104上。具有已知位置的光探头108通过如发明内容中所指出的本领域的方法来测量到宝石的距离106。扫描并旋转宝石以提供宝石在测量系统的坐标中的宝石外表面图。

图2示意地表示用于确定宝石内夹杂物的位置的设备200。

具有与宝石基本上匹配的折射率的媒质220填充隔间222并且覆盖宝石。设置媒质的温度和光的波长，使得媒质的折射率和宝石的折射率尽可实际的紧密地匹配。这种浸入基本上消除了宝石的折射和内部反射以及夹杂物的多重偏离图像。进入宝石的光208将大部分通过，但夹杂物214将使光散射。检测器212适于只通过基本上适合于接近折射率的波长区。因此，检测器212检测和在其相对较亮背景218的基本真实的位置216上记录夹杂物。

注意，由宝石形成的阴影218的亮度与光在媒质中和在宝石中的吸收差有相互关系。这个阴影可用于重构宝石的外表面。

由于从控制器230(图3)传递的控制，底座204被旋转，多个图像被检测到，控制器接收并记录它们。这些记录下来的投影用于重构夹杂物相对设备200的坐标的位置。为了从一系列的2维图像构建瑕疵的3维几何结构，可以利用一些已知方法，例如三角测量、反向投射法、逆拉东变换(reverse radon transform)和其他，并任选地在控制器230上执行它们。任选地，控制器230具有包括输入台234的相关用户接口。输入台234可以包括键盘和/或鼠标，和/或用于显示状态和/或获得的数据的分析结果的显示器232。

由于在与夹杂物的坐标空间相同的坐标空间中获得外部轮廓的坐标，所以能把夹杂物的位置映像到宝石的坐标中。任选地，当宝石处在仪器中时，用激光或其他同类东西(未示出)在未加工的宝石上做一个或几个标记，以便在锯开操作期间较容易地对准宝石。替换地或另外地，当宝石仍安装在底座204中时，把宝石转移到锯台。

在一些实施例中，对于照射光208，媒质220的折射率可以与宝石202的折射率有一定程度的差别。因此，检测器检测到宝石218的明显投影连同夹杂物的清晰直接图像216(以及一些暗淡的偏离图像224)，并把它记录到控制器230中。由于来自控制器230的信号引起的多个取向的旋转底座204，检测到有夹杂物的宝石投影的各个图像，并且控制器230接收和记录它们。其后，忽略弱的夹杂物224，任选同时地，把记录的图像用于重构有夹杂物的宝石的组合几何模型。

任选地，检测器212包括辐射敏感的固态器件或光电池矩阵，或者替换地或另外地包括感光胶片或其他成像器件。

媒质220任选地是液体或似凝胶状的。任选地，媒质包括周期表的第16族中的硫族化物的至少一个元素，例如硫、硒或碲。

任选地，对于钻石，媒质基本上包括熔融硒。在接近250摄氏度的温度下，对于接近1.5微米波长的红外光，硒的折射率基本上接近钻石在相同条件下的折射率。

任选地，对于钻石，可以把宝石浸入基本凝固的熔融硒中，以固体状态包围宝石。任选地，硒(或其他材料)同形成凝胶的材料进行混合。这样可以使在较低温度下工作和提供较良好匹配。例如，在约130摄氏度和接近1.2微米的波长，有固体硒中的低损耗和钻石和硒的折射率之间的良好匹配。

很明白，增加媒质220和宝石202的温度有两个重要影响。一方面，硒的粘度减小，有利于宝石的粗糙表面和媒质之间的较良好机械匹配。另一方面，宝石和硒的折射率不随温度追踪。于是，应该为反映例如可以取决于宝石是否是未加工的这些因素之间的平衡而选择温度和波长。在各种条件下，在本发明的各个优选实施例中，波长可以从1微米到2微米而不同，而温度可以从100到400摄氏度而不同。

注意，从背景技术中援引的“The Optical Properties of LiquidSelenium”的实验结果得出上述数值。

任选地，替换地或另外地，按照一个示例性实施例，替代旋转带有宝石的底座204，底座和宝石可以是固定的，由于来自控制器230的信号任选地带有光源的检测器会围绕它们旋转，如图4示意所示。在这里，宝石202是固定的，而光源206和检测器212沿方向426或者沿方向428一致地旋转。

下面描绘一个方法示例性实施例，并且在图5上示意地局部描绘它。该实施例用控制器230中的程序完成。所述方法是根据制作抛光宝石的潜力确定宝石的价值，而制作抛光宝石对瑕疵的位置和尺寸以及对宝石中的内部应力是很敏感的。

所述程序具备：

(a)宝石510及其夹杂物516的几何模型(例如，如上面所披露的)；

(b)宝石中的内部应力，内部应力可由本领域的工具检测，例如偏振器；

(c)宝石的颜色，颜色可由本领域的工具测量；

(d)抛光宝石的预先规定的可标定几何模型(由512a和512b例解的)；以及

(e)宝石的价值函数，价值是“4C”(净度、切工、颜色和克拉)的函数。

后面的抛光模型中的每一个都与任选地把其尺寸、颜色和净度考虑进去的一般尺度上的价值有关。任选地和另外地，宝石内的瑕疵尺寸、阴影和位置影响宝石的价值；任选地和另外地，其他因素也可计算价值。任选地和另外地，在相同尺度上，抛光成本和其他成本有关的因素可以与模型有关。

控制器程序使切割宝石模型拟合未切割宝石的模型。可利用本领域的各种拟合技术，例如线性或非线性最优化、探试式算法、遗传算法及其它。

控制器程序判定锯开面(514)以及取决于其特性和宝石是否包含夹杂物的切割宝石价值。切割宝石的价值将取决于夹杂物的尺寸、位置和类型。能对目前的各种用户选项或者为根据预定的标准自动判定宝石的最好利用而编程控制器。一般，这些标准建立在能从未加工的宝石切割的宝石的最高总价值的基础上。

任选地，优选的目标是最大的无瑕疵抛光宝石，由此分割面通过夹杂物或分离它。

任选地，优选的目标是最高价值的无瑕疵抛光宝石，例如以牺牲尺寸为代价的较好切割或形状，由此分割面经过夹杂物或分离它。

任选地，优选的目标是最高价值的抛光宝石，它们中的某些任选地包含瑕疵，例如以牺牲净度为代价的较大尺寸或较好切割。

替换地或另外地，优选的目标是最好的价值对成本的效益，例如价值少于成本，与任一如上面披露的优选价值组合。

任选地，可以调整判定以利用对优选价值目标的标准组合。

任选地或另外地，控制器报告一组按照规定的一个或一些目标优选的分割面。替换地或另外地，它报告按照规定的一个或一些目标排列的分割面组的表。

替换地或另外地，对于一组这样的分割面，控制器报告潜在的最后抛光宝石的价值；替换地或另外地，它报告制作它们时所涉及的成本；替换地或另外地，它报告成本效率，例如扣掉成本后的价值。

任选地或另外地，这个报告包括宝石价值。宝石价值作为替换地或另外地带有成本抵消的潜在抛光宝石的价值表示。

任选地，宝石模型和各个分割面被记录，并且任选地被报告，使得它们能被读取和能为实际利用被解释。

任选地，上述示例性实施例的任何输出数据，即宝石结构、其中夹杂物位置或优选的切割面，可输入到机械设备中；任选地，它是锯设备；替换地或另外地，它是抛光设备；任选地，输入是自动的。

应该明白，虽然在上面就着未切割钻石描述本发明，但它对切割的和抛光的钻石也可同样适用。

在本发明的描述和权利要求书中，动词“包括”、“包含”和“具有”以及其变化形式用于表示，动词的一个或几个宾语不是动词的一个或几个主语的构件、部件、元件或零件的全部列出。

已利用本发明的实施例的详细描述描述了本发明。本发明的实施例是以举例的方式提供的，而不是用来限制发明的范围。所描述的实施例包括不同的特征，但不是发明的全部实施例都需要这些特征的全部。本发明的一些实施例只利用这些特征中的一些或这些特征的一些可能组合。本专业人员会想到描述了的本发明的实施例和包括在所描述的实施例中提到的不同的特征组合的本发明的实施例的一些变化。本发明的范围仅由以下权利要求书限定。

Claims (21)

1.一种确定夹杂物在钻石中的位置的方法，包括：

(a)提供包括第16族中的硫族化物元素的材料；

(b)将所述材料的温度增大到100至400摄氏度之间以达到熔融状态；

(c)将钻石放置在所述材料内；

(d)将用以照射钻石的照明调节到以下这样的波长：该波长使得当所述材料和钻石处于相同的温度时所述材料获得在钻石的折射率的0.1范围内的折射率；

(e)通过所述照明照射所述材料内的钻石并对所照射的钻石成像以获得钻石图像；以及

(f)根据所述钻石图像中的夹杂物的图像来确定夹杂物的位置，

其中，针对钻石相对于照射和用于对钻石成像的成像器的多个取向而重复(a)至(e)，以及

其中所述确定包括根据所述钻石图像中的夹杂物的图像来确定夹杂物在3维空间中的位置。

2.按照前述权利要求1的方法，其中所述材料包括硒。

3.按照权利要求2的方法，其中所述材料的至少一部分包括元素硒。

4.按照前述权利要求1的方法，其中所述材料是呈凝胶状态。

5.按照前述权利要求1的方法，其中所述材料是液体，并且其中所述放置包括将钻石浸在该液体中。

6.按照前述权利要求1的方法，其中当所述材料和钻石在221至400摄氏度之间的温度时，所述材料的折射率在钻石的折射率的0.1范围内。

7.按照权利要求1的方法，其中在将钻石放置在所述材料内之后，使得所述材料凝固以导致钻石被包在该固体中。

8.按照权利要求7的方法，其中当所述材料和钻石在100至220摄氏度之间的温度时，所述材料的折射率在钻石的折射率的0.1范围内。

9.按照前述权利要求1的方法，其中当所述照射的所述波长在红外范围内时，所述材料的所述折射率在钻石的折射率的0.1范围内。

10.按照权利要求9的方法，其中所述照射具有1至1.8微米之间的波长。

11.按照前述权利要求1的方法，其中所述钻石是未经抛光的。

12.按照权利要求1或2的方法，其中所述钻石是经抛光的。

13.按照前述权利要求1的方法，还包括：

(i)获得钻石的外部表面相对于相应坐标系统的几何表示，以及

(ii)获得钻石中的夹杂物相对于相同坐标系统的几何表示。

14.按照权利要求13的方法，其中所述钻石图像包括钻石的外部表面的可见投影和钻石投影内的夹杂物的清晰的非偏离图像，以使得能从所述可见投影中获得钻石的外部表面的几何表示。

15.按照权利要求13的方法，其中获得外部表面的几何表示包括辐照钻石并根据从该外部表面的反射确定距离。

16.按照权利要求13的方法，还包括评估钻石。

17.按照权利要求16的方法，其中评估钻石包括根据夹杂物的位置确定用于分割钻石的一个或多个分割面。

18.按照权利要求16的方法，其中对钻石的评估是基于由该钻石得到的至少一个潜在抛光宝石的价值。

19.按照权利要求18的方法，其中所述至少一个潜在抛光宝石的价值是基于至少一个潜在无瑕疵抛光宝石的尺寸和几何形状。

20.按照权利要求18的方法，其中所述至少一个潜在抛光宝石的价值是基于所述至少一个潜在抛光宝石的尺寸。

21.一种确定夹杂物在钻石中的位置的方法，包括：

(a)在不存在浸入材料的情况下在测量系统中扫描钻石并提供钻石的外部结构的模型；

(b)将钻石放置在所述浸入材料中的可旋转基座上，其中所述浸入材料包括第16族中的硫族化物元素；

(c)将所述浸入材料的温度增大到100至400摄氏度之间以达到熔融状态；

(d)将用以照射钻石的照明调节到以下这样的波长：该波长使得当所述浸入材料和钻石处于相同的温度时所述浸入材料获得在钻石的折射率的0.1范围内的折射率；

(e)通过所述照明照射所述浸入材料内的钻石并对所述浸入材料内的所照射的钻石成像以获得钻石图像；

(f)根据所述钻石图像中的夹杂物的图像来确定夹杂物的位置；以及

(g)将所述夹杂物的位置映射到钻石结构中。

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