CN101285783A - 基板检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种基板检测装置,待检测的基板放置于支撑件上,并通过调整位于基板下方的反射镜的反射角度,使基板底面的缺陷能通过反射镜的反射被检测员看见,从而避免了因翻转基板而导致尚未固着于基板正面的芯片偏移。
Description
技术领域
本发明涉及一种基板检测装置,更特别涉及一种检测基板背面的装置。
背景技术
在封装技术领域中,为使芯片固定于基板上,常在芯片背面涂布一层银胶,并烘烤使其固化,以使芯片能牢固地附着于基板上。在某些时候,当银胶尚未烘烤固化完全时,基板背面常需要检测,以了解是否有缺陷。目前所使用的检测方式,是将基板翻转以让人员能够清楚地看到基板背面的情况,从而了解是否有缺陷。然而,当银胶尚未完全固化时,翻转基板常会造成芯片的偏移。
因此,便需要提供一种基板检测装置,以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基板检测装置,可让检测员无须翻转基板即可清楚地看到基板背面,从而避免因黏胶尚未固化而造成因翻转基板导致芯片偏移的问题。
为达到上述目的,本发明的基板检测装置包括底座以及由底座向上延伸的两相对支撑件,两支撑件共同界定出观测开口及检测开口。承置架跨设于两支撑件上,并围构出该检测开口,使得当待测的基板以正面朝上的方式放置于承置架上时,基板背面待检测的部分将露出检测开口。在承置架的下方设置有反射镜,该反射镜位于两支撑件之间,并可绕旋转轴旋转;位于支撑件上的旋钮则可调整反射镜的反射面的转动角度,以使基板背面的影像能从观测开口反射出,以方便检测员观察,由此检测基板背面的缺陷。此外,本发明的基板检测装置还包括光源,用来照亮露出承置架开口的基板背面,以使检测员能够更清楚地看到基板背面的缺陷。
本发明的基板检测装置可让检测员无须翻转基板即可清楚地看到基板背面,从而避免因黏胶尚未固化而造成因翻转基板导致芯片偏移的问题。
为了让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显,下文将结合附图,作详细说明如下。
附图说明
图1为本发明的基板检测装置的立体图。
图2表示待检测的基板放置于本发明的基板检测装置上。
【主要组件符号说明】
100:基板检测装置,110:底座,120:支撑件,122:顶面,
130:承置架,131:检测开口,132:杆件,133:观测开口,
134:凹部,136:突起部分,138:缺口,140:反射镜,
142:反射面,150:光源,160:旋钮,170:固定件,
180:旋转轴,190:片状结构。
具体实施方式
参考图1,本发明的基板检测装置100包括底座110以及两个由底座100向上延伸的相对支撑件120,两支撑件120共同界定出观测开133及检测开口131。在两支撑件120之间设置有反射镜140,并且反射镜140可绕旋转轴180旋转,设置在支撑件120上的旋钮160则可调整反射镜140的反射面142的转动角度。
参考图2,当欲检测基板的背面时,先将基板210以背面朝下的方式置于两支撑件120之间,并使基板210位于检测开口131中,检测员可转动旋钮160调整反射镜的反射面142的转动角度,以使基板210背面的影像能由观测开口133反射出,以方便检测员观察,由此检测基板210背面的缺陷。
再参考图1与图2,为使基板210能够放置于支撑件120上的固定位置,本发明的基板检测装置100优选还包括承置架130,该承置架设置于反射镜140的上方,并跨设于两支撑件120的顶面122,同时围构出该检测开口131。检测时检测员可将基板210放置于承置架130上,因此基板210会很自然地露出检测开口131。另外,为让检测员能清楚地看到具有不同颜色的基板背面,两支撑件120之间还包括光源150,用来照亮露出检测开口131的基板背面,以使检测员能透过观测开口133,更清楚地看到基板背面的缺陷。
由于绝大部分的基板都呈矩形,因此,承置架130优选以两根相互平行的杆件132构成,各杆件132的两端分别设置在两支撑件120上。当基板以背面朝下的方式置于两杆件132上时,基板背面待检测的部分会很自然地暴露出。为使基板能够稳固地置于杆件132上,两杆件132的相对侧的上表面形成有平行杆件132的凹部134,检测员可将基板的相对两侧放在凹部134上。由于杆件132的凹部134的旁边为突起部分136,因此基板可受所述两突起部分136的阻挡,从而不致因晃动而从杆件132上滑出。
为使杆件132的凹部134能够容纳不同大小的基板,至少一个杆件132为可滑动地设置于支撑件120的顶面122上,以使两杆件132间的距离可以调整。当两杆件132间的距离调整适当后,可通过设置在可滑动杆件132上的固定件170将该可滑动杆件132固定在支撑件120上。固定件170可为例如旋钮,利用将所述旋钮旋紧可使该可滑动杆件132固定于支撑件120上。此外,各杆件132的中央处的突起部分136上还设置有通至凹部134的缺口138,检测员仅需以两个指头穿过缺口138即可轻松地将基板从杆件132上提起。为避免光源150所射出的光束干扰他人的作业,支撑件120优选为两相对的片状结构,并与另外两个设置于底座100上的片状结构190,共同将光源150圈围住。
本发明的基板检测装置可让检测员无须翻转基板即可清楚地看到基板背面,从而避免因黏胶尚未固化而造成因翻转基板导致芯片偏移的问题。
虽然本发明已经以上述优选实施方式揭示,但是其并非用以限制本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的前提下,可作出各种变动与修改。因此本发明的保护范围应当以后附的权利要求所界定的为准。
Claims (12)
1.一种基板检测装置,包括:
底座;
两个支撑件,所述两个支撑件由该底座向上延伸并相对设置,并且界定出观测开口及检测开口,当待检测的基板放置于所述两个支撑件之间时,该基板位于该检测开口中;及
反射镜,所述反射镜设置于所述两个支撑件之间,并可绕旋转轴旋转,以将该检测开口中的基板影像反射至该观测开口。
2.如权利要求1所述的基板检测装置,其中,所述两个支撑件上还设置有承置架,该承置架跨设于所述两个支撑件之间,以在所述两个支撑件间围构出该检测开口。
3.如权利要求2所述的基板检测装置,其中,该待检测的基板以正面朝上的方式放置于该承置架上,该反射镜通过该检测开口接收该待检测基板的背面影像。
4.如权利要求3所述的基板检测装置,还包括:
光源,所述光源设置于所述两个支撑件之间,用以照亮待检测基板的背面。
5.如权利要求1所述的基板检测装置,还包括:
旋钮,所述旋钮设置于其中一个支撑件上,用以控制该反射镜绕该旋转轴旋转的角度。
6.如权利要求2所述的基板检测装置,其中,该承置架由两个相互平行的杆件构成,各杆件跨设于所述两个支撑件上。
7.如权利要求6所述的基板检测装置,其中,所述两个杆件的相对侧的上表面形成有平行于各杆件的凹部。
8.如权利要求6所述的基板检测装置,其中,所述两个杆件中的其中一个可在所述支撑件上移动,以调整两杆件间的距离。
9.如权利要求8所述的基板检测装置,其中,该可移动的杆件可滑动地设置于所述支撑件上。
10.如权利要求9所述的基板检测装置,还包括:
两个旋钮,所述两个旋钮分别用以将该可滑动的杆件固定于所述两个支撑件上。
11.如权利要求6所述的基板检测装置,其中,各杆件中央处的上表面形成有通至所述凹部的缺口。
12.如权利要求4所述的基板检测装置,其中,所述两个支撑件为相对设置于该底座的第一片状结构,该基板检测装置还包括两个设置于该底座上的第二片状结构,所述第二片状结构与所述第一片状结构共同将光源圈围住。
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2007
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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