CN101271705A - 光盘装置以及光拾取装置 - Google Patents

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CN101271705A CNA2008100873479A CN200810087347A CN101271705A CN 101271705 A CN101271705 A CN 101271705A CN A2008100873479 A CNA2008100873479 A CN A2008100873479A CN 200810087347 A CN200810087347 A CN 200810087347A CN 101271705 A CN101271705 A CN 101271705A
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Abstract

本发明提供一种光盘装置以及光拾取器装置，光拾取器中配置有用于检测物镜的温度的温度传感器。按照物镜的温度变化驱动光学元件(例如，准直透镜)，由此，对经由物镜的激光的光学特性的恶化进行校正。即使物镜的光学特性随着温度变化而变化也能平滑且良好地进行记录/再生。

Description

光盘装置以及光拾取装置
技术领域
本发明涉及光盘装置以及其所搭载的光拾取装置，尤其适用于将由树脂材料构成的物镜搭载在光拾取装置中的情况。
背景技术
以往，搭载在光拾取装置中的物镜由玻璃材料形成。但是，由玻璃材料构成的物镜价格高，并且玻璃材料比重大，因此对于提高光拾取器的响应性不利。与此相对，在由树脂材料形成物镜的情况下，与由玻璃材料形成的情况相比，能够大幅抑制物镜的成本。此外，由于树脂材料的比重为玻璃材料的一半左右，因此能够实现物镜的轻量化和高响应化。
但是，另一方面，由树脂材料构成的物镜与由玻璃材料构成的物镜相比，光学特性易随着温度而变化。随着盘的高密度化而物镜的数值孔径增加时，物镜的光学特性的变化会对记录/再生特性带来不小的影响。尤其在近年所开发的B D(蓝光光盘)中，通过数值孔径为0.85左右的高N A的物镜使激光聚光到覆盖层(cover)厚0.1mm的盘上，因此物镜的稍微的光学特性的变化会给记录/再生特性的品质带来较大影响。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够顺利地应对由温度变化所引起的物镜的光学特性的变化的光盘装置以及光拾取装置。
第1发明涉及光盘装置。该光盘装置具有光拾取装置和控制电路，上述光拾取装置包括：激光光源；物镜，其使上述激光光源所射出的激光会聚在盘上；温度传感器，其用于检测上述物镜的温度；光学元件，其用于对经由上述物镜的上述激光的光学特性的恶化进行校正；和光检测器，其对上述盘所反射的上述激光进行接收。上述控制电路基于来自上述温度传感器的检测信号驱动上述光学元件。
通过该发明，根据物镜的温度变化使光学元件驱动，由此，经由物镜的激光的光学特性的恶化被校正。从而，即使物镜的光学特性随着温度变化而变化也能实现平滑且良好的记录/再生动作。
第2发明涉及光拾取装置。该光拾取装置具有：激光光源；物镜，其使上述透镜光源所射出的激光会聚在盘上；温度传感器，其用于检测上述物镜的温度；光学元件，其用于对经由上述物镜的上述激光的光学特性的恶化进行校正；和光检测器，其对上述盘所反射的上述激光进行接收。
通过该发明，物镜的温度变化可由温度传感器随时检测。因此，通过搭载该光拾取装置，能实现第1发明的効果。
第1以及第2发明的其他特征记载在权利要求中。其他的特征所引起的効果通过阅读以下的实施方式的记载能够被明确地理解。
另外，本发明中的“物镜”与实施方式中的第1物镜108对应。此外，权利要求中的“光学元件”与由实施方式中的准直透镜104以及透镜传动器件105构成的结构对应，或者与由扩束器112以及透镜传动器件113构成的结构对应。进而，权利要求中的“控制电路”与实施方式中的伺服电路12以及控制器13对应，“功能部”的功能作为伺服电路12的功能被实现。
附图说明
图1A、B表示本发明的实施方式相关的光拾取器的光学系统。
图2表示实施方式相关的光盘装置的结构。
图3为用于说明实施方式相关的温度校正表格的图。
图4表示实施方式相关的基准温度校正表格和最佳温度校正表格的关系。
图5A、B表示实施方式相关的基准温度校正表格和最佳温度校正表格的结构例。
图6为实施方式相关的最佳温度校正表格的设定处理流程图。
图7为实施方式相关的准直透镜的控制处理流程图。
图8表示实施方式相关的准直透镜的驱动例。
图9表示实施方式相关的最佳温度校正表格设定处理的变更例。
图10表示图9的变更例相关的准直透镜的驱动例。
图11表示实施方式相关的最佳温度校正表格设定处理的变更例。
图12为实施方式相关的时间控制模式中的处理流程图。
图13为实施方式相关的温度校正表格切换时的流程图。
图14A、B表示实施方式相关的光拾取器的光学系统的变更例。
具体实施方式
本发明的上述以及其他目的和新的特征，在将以下所示的实施方式的说明与以上的附图对照阅读时，能够更完全清楚。其中，附图主要用于进行说明，并不限定本发明的范围。
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。本实施方式为本发明适用于对BD、CD(Compact Disc)和DVD(Digital Versatile Disc)进行记录再生的光盘装置的实施方式。
图1A、B表示实施方式相关的光拾取器的光学系统。图1A为光学系统的俯视图，图1B为物镜传动器件周边部分的侧剖面图。该光学系统被区分为BD用的光学系统和CD/DVD用的光学系统。
B D用的光学系统包括：半导体激光器101；衍射光栅102；偏光束分离器103；准直透镜104；透镜传动器件105；立起反射镜106；λ/4板107；第1物镜108；变形透镜(anamorphic lens)109和光检测器110。
半导体激光器101输出波长400nm左右的蓝色激光。衍射光栅102将半导体激光器101所射出的激光分割为3个光束。偏光束分离器103对从衍射光栅102侧入射的激光进行反射。准直透镜104将偏光束分离器103所反射的激光变换为平行光。透镜传动器件105将准直透镜104沿激光的光轴方向驱动。
另外，准直透镜104和透镜传动器件105作为像差校正机构发挥作用。即准直透镜104由透镜传动器件105如后所述那样根据物镜108的温度变化而被驱动。透镜传动器件105具备步进电动机和机构系统，根据来自伺服电路(后述)的控制信号驱动准直透镜104。
立起反射镜106将经由准直透镜104入射的激光沿朝向第1物镜108的方向反射。λ/4板107将反射镜106所反射的激光变换为圆偏光，并且将来自盘的反射光变换为与向盘入射时的偏光方向正交的直线偏光。由此，盘所反射的激光透过偏光束分离器103而导入到光检测器110。
第1物镜108被设计为能够将蓝色波长的激光适当地会聚到BD的信号面上。即第1物镜108被设计为能够将蓝色波长的激光经由0.1mm厚的基板适当地会聚到信号面。另外，第1物镜108由树脂材料形成。
变形透镜(anamorphic lens)109使盘所反射的激光会聚到光检测器110上。变形透镜109由聚光透镜和圆柱体透镜构成，向来自盘的反射光导入像散。
光检测器110具有用于根据所接收的激光的强度分布导出再生RF信号、聚焦误差信号以及追踪误差信号的传感模型(pattern)。另外，在本实施方式中，采用像散法作为聚焦误差信号的生成技术手段，采用DP P(Differential Push Pull)法作为追踪误差信号的生成技术手段。光检测器110具有按照上述技术手段导出聚焦误差信号以及追踪误差信号的传感模型。
CD/DVD用的光学系统包括：半导体激光器121；衍射光栅122；偏光束分离器123；准直透镜124；立起反射镜125；λ/4板126；第2物镜127；变形透镜128，和光检测器129。
半导体激光器121在一个CAN内具备输出波长780nm左右的红外激光和波长650nm左右的红色激光的激光器元件。衍射光栅122将半导体激光器121所射出的激光分割为3个光束。偏光束分离器123对衍射光栅122侧所入射的激光进行反射。准直透镜124将偏光束分离器123所反射的激光变换为平行光。
立起反射镜125将经由准直透镜124入射的激光沿朝向第2物镜127的方向反射。λ/4板126将反射镜125所反射的激光变换为圆偏光，并且将来自盘的反射光变换为与向盘入射时的偏光方向正交的直线偏光。由此，盘所反射的激光透过偏光束分离器123向光检测器129导入。
第2物镜127被设计为能够将红外波长的激光和红色波长的激光分别在CD和DVD的信号面上适当地会聚。即第2物镜127被设计为能够经由1.2m m厚的基板在信号面上适当地会聚红外波长的激光，并且能够经由0.6mm厚的基板在信号面上适当地会聚红色波长的激光。另外，第2物镜127也与第1物镜108相同，由树脂材料形成。
变形透镜128使盘所反射的激光会聚到光检测器129上。变形透镜128由聚光透镜和圆柱体透镜构成，向来自盘的反射光导入像散。
光检测器129具有用于根据所接收的激光的强度分布导出再生RF信号、聚焦误差信号以及追踪误差信号的传感模型。另外，本实施方式中，如上所述，采用像散法作为聚焦误差信号的生成技术手段，采用D PP(Differential Push Pull)法作为追踪误差信号的生成技术手段。光检测器129具有用于按照上述技术手段导出聚焦误差信号以及追踪误差信号的传感模型。
第1物镜108和第2物镜127被装着在相同的支架131。通过物镜传动器件132使该支架131沿聚焦方向以及追踪方向驱动。因此，第1物镜108和第2物镜127随着支架131的驱动而一体地被驱动。物镜传动器件132由线圈和磁气电路构成，其中线圈被装着在支架131。
第1物镜108和第2物镜127被配置得沿盘径向方向排列。此时，上述两个物镜中透镜直径小的第1物镜108被配置在盘内周侧。
在物镜传动器件132的附近配置电路基板133，从该电路基板133经由供电线(未图示)向装着在支架131的线圈供给伺服信号。此外，在该电路基板133上配置有用于检测第1物镜108的周边温度的温度传感器(热敏电阻)134。
图2表示本实施方式相关的光盘装置的电路结构。另外，图2中仅表示光盘装置中与伺服系统关联的结构，没有图示与记录/再生动作系统关联的结构。
如图2所示，光盘装置具备光拾取器10、信号运算电路11、伺服电路12和控制器13。
光拾取器10具备上述图1A、B所示的光学系统。
信号运算电路11对来自配置于光拾取器10内的光检测器110、129的信号进行运算处理并生成再生R F信号、聚焦误差信号、追踪误差信号等。其中聚焦误差信号和追踪误差信号被输出到伺服电路12。此外，再生R F信号被输出到伺服电路12、控制器13和再生处理电路(未图示)。
伺服电路12根据从信号运算电路11输入的聚焦误差信号和追踪误差信号将聚焦伺服信号和追踪伺服信号生成并输出到光拾取器10的物镜传动器件132。此外，在像差校正时，一边参照再生RF信号，一边将驱动信号输出到光拾取器10内的透镜传动器件105。
进而，伺服电路12在内置存储器中保存温度校正表格(后述)，并在对B D的记录/再生时按照来自控制器13的指令来更新温度校正表格。之后，一边参照更新后的温度校正表格，一边按照来自配置于光拾取器10内的温度传感器134的检测信号向透镜传动器件105输出驱动信号。另外，关于温度校正表格的更新方法和基于温度校正表格的透镜传动器件105的驱动控制，随后详细叙述。
控制器13按照规定的控制程序控制各部分。在此，控制器13在对B D的记录/再生时对来自配置于光拾取器10内的温度传感器134的检测信号和从信号运算电路11输入的再生RF信号的状态进行监控，适当地对伺服电路12输出温度校正表格的更新指令。另外，关于是否应更新温度校正表格的判定处理，随后详细叙述。
接下来，参照图3以及图4对温度校正表格的更新方法进行说明。
图3为对准直透镜104的步进量和再生R F信号的抖动值(jitter)进行测定后的测定结果。图3表示第1物镜108的温度为25℃、40℃、60℃时的测定结果。另外，在以下的说明中，「步进量」为准直透镜104相对原位置的步进量。在此，步进量与构成透镜传动器件105的步进电动机的步进数对应。
如图3所示，抖动值为最佳时的准直透镜104的步进量(以下，称作“最佳步进量”)随着各温度而不同。这是因为第1物镜108的光学特性(像差特性)随着温度而变化的缘故。在此，最佳步进量和温度之间具有线性关系。以表格规定该线性关系即为温度校正表格。即温度校正表格中记述最佳步进量与温度建立对应。另外，这里的温度不是第1物镜108的实际温度，而是与该实际温度对应的温度传感器134的检测信号值(在以下的说明中相同)。
伺服电路12的内置存储器中保存有在同种的光拾取器中通用的温度校正表格(以下，称作“基准温度校正表格”)。但是，在实际的光拾取器中，存在由于光学系统中设计(layout)误差等而使最适于该光拾取器中的温度校正表格与内置存储器中的基准温度校正表格有偏差的情况。因此，在实际动作中，需要适当地更新基准温度校正表格且采用更新后的温度校正表格(以下，称做“最佳温度校正表格”)驱动控制准直透镜104。
图4为将内置存储器中保存的基准温度校正表格中的线性函数和实际的光拾取器中的最佳温度校正表格的线性函数进行对比表示的图。图4中，(1)为基准温度校正表格中的线性函数，(2)以及(3)分别为不同的两个光拾取器中的最佳温度校正表格的线性函数。另外，图4中表示在基准温度校正表格的线性系数和最佳温度校正表格的线性系数相同的情况下的最佳温度校正表格的线性函数。
在实际动作中，需要将图4中(1)所示的基准温度校正表格更新为(2)或者(3)中所示的最佳基准温度校正表格。该更新如下那样进行。
也就是，在更新动作起始时实际地进行再生动作且求得最佳步进数量(Sr)。接下来，所求出的最佳步进量(Sr)和更新动作起始时的温度对应的基准温度校正表格中的最佳步进量(St)之间的差分ΔS得以求得。之后，按照将基准温度校正表格中的线性函数与移动ΔS后的线性函数对应的方式，对与基准温度校正表格的各温度对应的步进量进行更新。通过该更新，生成适用于该光拾取器的最佳温度校正表格。另外，该更新处理，如上所述，按照控制器13的指令在伺服电路12中被进行。
图5A为表示基准温度校正表格的结构的图。更新动作起始时的温度下实际再生中所求出的最佳步进量(Sr)与该温度下的基准温度校正表格中的最佳步进量(St)之间为差分ΔS之际，通过将ΔS与图5A的各温度的最佳步进量相加而求出最佳温度校正表格(参照图5B)。
图6为表示实际动作开始时的温度校正表格的更新处理例(最佳温度校正表格的初始设定处理例)的流程图。
该处理中，首先检测处理开始时的第1物镜108的温度(S101)。接下来，从基准温度校正表格取得与所检测的温度对应的最佳步进量S0(S102)，准直透镜104从原位置被移动该最佳步进量S0(S103)。之后，执行对该盘(BD)的再生，取得该再生动作中的再生R F信号的抖动值(S104)。
如上那样取得抖动值后，接下来，判定抖动值是否按规定次数取得(例如3次)(S107)。如果该判定为否(S107：否)，准直透镜104沿规定方向移动固定步进量(S108)，在该状态下再次执行再生而取得抖动值(S104)。之后，反复进行准直透镜104的驱动和抖动值的取得直到抖动值按规定次数取得为止(S104，S107，S108)。
如上那样将抖动值按规定次数取得后，根据所取得的抖动值和与各抖动值对应的准直透镜104的步进量，图3所示的步进量与抖动值的关系由2次函数近似(S109)。之后，根据所近似的2次函数，取得抖动值为最小的步进量(最佳步进量)(S110)，根据所取得的最佳步进量，如参照图4以及图5A、B进行说明那样，更新基准温度校正表格(S111)。由此，取得最佳温度校正表格，温度校正表格的更新处理(最佳温度校正表格的初始设定处理)结束。
另外，图6的流程图中，按规定次数取得抖动值后，步进量和抖动值的关系由2次函数近似，根据该近似函数就求得更新时的温度下的最佳步进量，但也可通过其他方法取得最佳步进量。例如也可使准直透镜104的驱动在抖动值为最小的方向上收敛，取得收敛时的步进量作为准直透镜104的最佳步进量。或者也可使准直透镜104的驱动在再生RF信号为最大的方向上收敛，取得收敛时的步进量作为准直透镜104的最佳步进量。
这样，将最佳温度校正表格按期望设定后，利用它执行对盘(BD)的记录/再生动作。但是，该最佳温度校正表格为基于初始设定时的温度所推定的表格，因此当随其后的记录/再生动作进行而第1物镜108的温度发生变化时，可能所初始设定的最佳温度校正表格在该温度下从适当的最佳温度校正表格偏移。因此，在之后的记录/再生动作中，优选适宜地确认最佳温度校正表格是否适当并更新为在此时的温度下适当的温度校正表格。
图7为表示在最佳温度校正表格被初始设定后执行记录/再生动作时的准直透镜104的驱动控制的流程图。
如果执行对盘(BD)的记录动作或者再生动作，则伺服电路12随时检测温度(S201)并从最佳温度校正表格取得与所检测的温度对应的最佳步进量Sa(S202)。之后，按照成为该最佳步进量Sa的方式，驱动准直透镜104(S203)。
与上述准直透镜104的驱动并行，控制器13监视当前时刻的温度与最佳温度校正表格上次更新时刻的温度之差距(S204)，同时监视记录/再生动作时的再生信号的品质(S205)。之后，在温度差距超过阈值ΔT(S204：是)或者再生信号的品质(例如抖动值)比规定水平更恶化(S205：是)的情况下，向伺服电路12输出最佳温度校正表格的再次更新指令。
接收上述指令，伺服电路12利用记录/再生动作的空余时间进行最佳温度校正表格的再次更新。
具体地来说，在该时刻的准直透镜104的位置执行再生并取得抖动值。进而，使准直透镜104在前后方向上移动规定步进量，在各移动位置取得抖动值。之后根据所取得的多个抖动值，与图6的情况同样，步进量和抖动值的关系由2次函数近似，按照所近似的2次函数，取得抖动值为最小的步进量为最佳步进量(S206)。另外，与图6的情况相同，也可采用其他方法取得最佳步进量。
伺服电路12使准直透镜104移动直到如上述那样取得的最佳步进量为止(S207)。之后，根据在S206中取得的最佳步进量，如参照图4以及图5A、B进行说明那样，更新基准温度校正表格，取得最佳温度校正表格。由此，最佳温度校正表格的再次更新结束(S208)。
如上那样，移动准直透镜104直到最佳步进量为止，进而，最佳温度校正表格被再次更新时，伺服电路12根据再次更新后的最佳温度校正表格执行S201～S202的处理，逐次使准直透镜104变位。而且，在对上次的更新时的温度差距超过阈值ΔT(S204：是)或者再生信号的品质(例如抖动值)比规定水平恶化(S205：是)的情况下，由控制器13对伺服电路12输出最佳温度校正表格的再次更新指令，从而再次更新最佳温度校正表格。
图8为表示记录/再生时的准直透镜104的驱动状态的图。
在图8的(i)定时将最佳温度校正表格初始设定且开始记录/再生动作之际，随着第1物镜108的温度变化，按照最佳温度校正表格就使准直透镜104的步进量变化。与该控制并行，监控图8的(i)的定时的第1物镜108的温度和当前的第1物镜108的温度的差别是否超过阈值ΔT，进而，监控再生R F信号的品质是否低于规定的水平。
之后，在图8的(ii)的定时再生RF信号的品质低于规定水平之际，最佳温度校正表格被更新，同时使校准透镜104产生位移直到最佳步进量为止。由此，在图8的(iii)的定时，再生RF信号的品质被改善。之后，根据更新后的最佳温度校正表格，随着第1物镜108的温度而使准直透镜104的步进量被变化。由此，在图8的(iv)的定时，记录/再生动作良好地进行。
以上，通过本实施方式，按照第1物镜108的温度变化，准直透镜104被移动到再生R F信号的品质为良好的位置，因此能够实现良好的记录/再生动作。此外，由于第1物镜108采用由树脂材料构成的物镜，因此能够实现大幅的成本削减、物镜的轻量化以及高响应化。
[表格更新处理的变更例]
在图7的步骤S208中的处理中，通过图4所示的方法对用于规定最佳步进量和温度的关系的线性函数进行再次设定，根据再次设定后的线性函数更新最佳温度校正表格。也即，在此，不变更线性函数的系数(斜率)，而通过使线性函数向图4所示的步进量方向移动，从而能够按照与此时的温度对应的线性函数匹配的方式更新最佳温度校正表格。
但是，基准温度校正表格中的线性函数的系数(斜率)被设定为在同种的光拾取器通用，因此可以假定根据光拾取器而所设定的系数(斜率)随着温度或光学系统的设计误差等从适当的系数(斜率)偏离的情况。因此，可以假定代替步骤S208中的上述的处理，通过调整线性函数的系数(斜率)且利用与调整后的系数(斜率)对应的线性函数来更新最佳温度校正表格的情况。
图9为表示该情况的处理例的图。即在此，按照通过上次更新时的温度和最佳步进数与S 206中所取得的温度和最佳步进量这样两点的方式，更新规定最佳步进量和温度的关系的线性函数(S211)。更新后的线性函数相对更新前的线性函数而言使系数(斜率)适当化。而且，基于更新后的线性函数更新最佳温度校正表格(S212)。
图10为表示适用图9的处理的情况的准直透镜104的驱动状态的图。
在图10的(i)的定时如上所述那样最佳温度校正表格被初始设定且开始记录/再生动作之际，随着之后的第1物镜108的温度变化且基于最佳温度校正表格而使准直透镜104的步进量被改变。与该控制并行，监控图10的(i)的定时的第1物镜108的温度和当前的第1物镜108的温度的差别是否超过阈值ΔT，进而，监控再生R F信号的品质是否低于规定的水平。
之后，在图10的(ii)的定时再生R F信号的品质低于规定水平之际，与上述实施方式相同，在该定时中取得再生RF信号的品质(例如抖动值)为最好的最佳步进量，移动准直透镜104直到该最佳步进量为止。由此，在图10的(iii)的定时，再生RF信号的品质被改善。
与该处理并行进行最佳温度校正表格的再次更新处理。在采用图9的处理的情况下，与上述实施方式不同，同时通过表示图10的(ii)的定时的温度以及最佳步进量的坐标点和表示记录/再生动作开始时(图10的(i)的定时)的温度以及最佳步进量的坐标点的线性函数(图10中用粗虚线和粗实线表示)被求出。而且，根据所求得的线性函数更新最佳温度校正表格。
之后，根据更新后的最佳温度校正表格，随着第1物镜108的温度变化使得准直透镜104的步进量被改变。由此，在图10的(iv)的定时使记录/再生动作良好地进行。
以上，对本发明的实施方式进行了说明，但本发明的实施方式进而可有以下的变更。
(A)基准温度校正表格
在上述实施方式中，使伺服电路12保持图5A所示的基准温度校正表格，但也可使伺服电路12保持用于规定温度和最佳步进量的线性函数的系数(斜率)来代替保持5A所示的基准温度校正表格。
此时，伺服电路12例如执行以下的处理作为最佳温度校正表格的初始设定处理。即与上述相同，求得初始设定时的温度中的最佳步进量。接下来，基于内置存储器中所保存的系数(斜率)设定通过用于规定初始设定时的温度和最佳步进量的坐标点的线性函数。而且，按照与该线性函数匹配的方式，设定与最佳温度校正表格的各温度对应的最佳步进量。
图11为表示采用线性系数(斜率)时的最佳温度校正表格的初始设定处理流程的图。另外，图11中的步骤中对与图6的处理流程相同的步骤付与相同符号。
该处理流程中首先检测处理开始时的第1物镜108的温度(S101)。接下来，使准直透镜104从原位置移动预先设定的步进量(S121)。之后，执行对该盘(BD)的再生，取得该再生动作中的再生RF信号的抖动值(S104)。之后，与图6的情况相同，按规定次数反复进行准直透镜104的驱动和抖动值的取得(S104，S107，S108)。而且，根据所取得的抖动值和与各抖动值对应的准直透镜104的步进量，图3中所示的步进量和抖动值的关系由2次函数近似(S109)，根据所近似的2次函数取得抖动值为最小的最佳步进量(S110)。
如上所述当取得最佳步进量之际，从内置存储器中读出线性系数(斜率)，设定通过用于规定在S110所取得的最佳步进量和在S101所检测的温度的坐标点的线性函数。而且，按照与该线性函数匹配的方式，设定与最佳温度校正表格的各温度对应的最佳步进量(S122)。
在如上那样将线性系数(斜率)保存在内置存储器的情况下，图7的S208中的最佳温度校正表格的更新也与图11的处理流程同样地进行。或者，也可将S208中的处理变更为参照图10所说明的处理。
另外，在内置存储器中保存线性系数(斜率)时，也可不采用最佳温度校正表格，而根据该线性系数(斜率)、由S110所取得的最佳步进量以及由S101所检测到的温度，逐一地运算求得相对实际动作时的温度的最佳步进量。
(B)时间控制模式的设定
记录/再生动作开始后，规定的期间中，通常第1物镜108的温度变动较大，因此温度传感器134所检测出的温度与第1物镜108的实际温度之间容易产生误差。因此，在该期间中，当根据来自温度传感器1
34的检测信号进行图7的处理时，存在不能实现与第1物镜108的光学特性的变化适当对应的准直透镜104的驱动控制之虞。
因此，从记录/再生动作开始到第1物镜108的温度稳定为止的期间，例如根据从记录/再生动作开始的经过时间进行准直透镜104的驱动控制，可能更恰当。
此时，例如通过使伺服电路12保持相对经过时间的第1物镜108的温度特性，就能进行基于经过时间的准直透镜104的控制。即，伺服电路12根据该温度特性可预测各经过时间中的第1物镜108的实际温度。而且，根据所预测的温度和最佳温度校正表格来取得准直透镜104的最佳步进量，根据所取得的最佳步进量来驱动控制准直透镜104。
图12为表示该情况的处理流程的图。
在记录/再生动作开始时，内置计时器起动(S301)，根据保存在伺服电路12中的温度变化特性，取得与该计时器所计时的经过时间对应的温度(S302)。而且，根据最佳温度校正表格取得与所取得的温度对应的最佳步进量Sa(S303)，移动准直透镜104直到所取得的最佳步进量Sa为止(S304)。
从S302到S304的处理被反复进行直到计时器所计时的经过时间达到预定的时间Ts为止(S305)。而且，当经过时间达到预定的设定时间Ts时(S305：是)，从S301到S305的步骤构成的时间控制模式结束，然后行进到图7所示的通常控制模式。
(C)温度校正表格的切换
由第1物镜108所产生的像差的大小随着激光的波长而变化。也即，当半导体激光器101所射出的激光中产生波长变动时，与此相随，第1物镜108所产生的像差的程度就产生变化。一般公知有半导体激光器的波长变动随着射出功率的变化而产生的情况。例如，射出蓝色波长的激光的半导体激光器中，当射出功率变化100mW时，激光的波长变化约2～3nm。
因此，在上述实施方式中，半导体激光器101中的射出功率在例如记录功率和再生功率之间变化时，与此对应由第1物镜108所产生的像差的大小就发生变化。此外，在倍速记录/再生模式存在的情况下，根据倍速级别而来自半导体激光器101的射出功率不同，因此由第1物镜108所产生的像差的大小也按倍速模式而不同。
从该点出发，可以说上述实施方式中的最佳温度校正表格更优选按照记录/再生以及各倍速模式而分别准备，并按照各动作模式适当切换。例如，使伺服电路12按每个动作模式预先保持基准温度校正表格，按每个动作模式切换在图6以及图7中所采用的基准温度校正表格。也即再生时采用再生用的基准温度校正表格，此外，2倍速记录时采用2倍速记录用的基准温度校正表格，通过上述实施方式中的图6的处理设定最佳温度校正表格。之后，在再生动作时或者2倍速记录动作时分别采用所设定的最佳温度校正表格来执行图7的处理，一边适当地更新最佳温度校正表格，一边进行准直透镜104地驱动控制。
图13为表示按照动作模式切换温度校正表格时的处理流程的图。另外，在该处理流程中，假设光盘装置中存在通常再生模式、2倍速再生模式、通常记录模式以及2倍速记录模式这四个动作模式的情况。
输入动作指令时，判断所输入的动作指令为通常再生模式、2倍速再生模式、通常记录模式以及2倍速记录模式中的哪一个(S400)。
如果所输入的动作模式为通常再生模式，则伺服电路12从内置存储器取得通常再生用的基准温度校正表格(S401)，按照图6的流程图设定最佳温度校正表格(S402)。另外，该设定处理时，以通常再生模式中的功率使激光发光。
如果所输入的动作模式为2倍速再生模式，则伺服电路12从内置存储器取得2倍速再生用的基准温度校正表格(S411)，按照图6的流程图设定最佳温度校正表格(S412)。另外，在该设定处理时，以2倍速再生模式中的功率使激光发光。
如果所输入的动作模式为通常记录模式，则伺服电路12从内置存储器取得通常记录用的基准温度校正表格(S421)，按照图6的流程图设定最佳温度校正表格(S422)。另外，该设定处理时，以通常记录模式中的功率使激光发光。
如果所输入的动作模式为2倍速记录模式，则伺服电路12从内置存储器取得2倍速记录用的基准温度校正表格(S431)，按照图6的流程图设定最佳温度校正表格(S432)。另外，该设定处理时，以2倍速记录模式中的功率使激光发光。
如上所述，在设定最佳温度校正表格后，执行对应的模式的动作，按照最佳温度校正表格，基于图7的处理流程进行准直透镜104的驱动控制(440)。此时，适当地进行图7的S206到S208中的最佳温度校正表格的再次更新。之后，随着各模式的动作结束，图7中的控制结束。
另外，在图13的处理流程中，按各动作模式准备基准温度校正表格，但如采用上述变更例(A)所说明那样，按各动作模式准备线性系数(斜率)，也可基于这些线性系数，对各动作模式中所采用的最佳温度校正表格进行设定/更新。此外，也可根据线性系数由直接运算来求得相对各动作模式的实际温度的最佳步进量。
另外，基于上述波长的光学特性的变动并不限于由树脂材料形成的物镜，在由玻璃形成的物镜中也能产生。因此，以上的变更例也能适用于由玻璃形成物镜的情况，此外，在由玻璃形成物镜的情况下，也可只按照激光功率对准直透镜进行位置控制。
(D)基准温度校正表格的存储
在上述中，将基准温度校正表格或者线性系数(斜率)和初始设定时的最佳步进量保存在伺服电路12中，但也可预先将它们保存在搭载于光拾取器10中的闪烁存储器等中，在光盘装置的起动时(只在初次起动时或者，每次起动时)，由光盘装置侧的系统微型计算机进行读取，并设定在伺服电路12中。
或者，也可预先将线性系数(斜率)和初始设定时的最佳步进量保持在出厂时贴附在光拾取器10的外壳上的条形码等中，在驱动器组装时读取该条形码，作为系统侧的微型计算机存储器和程序的常数登录。另外，除了条形码，也可采用QR编码等的二维编码来保持线性系数(斜率)和初始设定时的最佳步进量。
基准温度校正表格以及线性函数的系数(斜率)按照各光拾取器10的种类而不同，因此伺服电路12需要设定与被搭载的光拾取器10的种类对应的信息。如上所述，在从搭载在光拾取器10中的闪烁存储器等中读取上述信息并设定在伺服电路12中的情况下，能够对伺服电路12顺利并可靠地设定基准温度校正表格以及线性函数地系数(斜率)。此外，在从条形码读取的情况下，能够容易地对系统侧的微型计算机存储器进行线性系数的登录。
以上，表示了本实施方式的变更例，但除此之外本发明的实施方式也能有各种变更。
例如，在上述实施方式中表示了BD、DVD以及CD的互换型光拾取器，但也能将本发明适用于BD专用的光拾取器。图14A、B为表示这种情况的光学系统的结构的图。图14A、B中对与图1A、B中所示的B D用光学系统相同的部分付与相同的符号。
在图14A、B的结构例中，在半导体激光器101和偏光束分离器103之间配置有准直透镜111。此外，为了用于像差校正，配置有由凸透镜和凹透镜构成的扩束器(expander)112和将扩束器112的凸透镜在光轴方向驱动的透镜传动器件113。在物镜108的温度变动时，由伺服电路12驱动控制扩束器112。
另外，作为像差校正元件也可采用液晶元件等其他光学元件。
此外，在上述实施方式中，举出次世代DVD中的BD进行了说明，但本发明也能适当采用于与HDDVD(High-Definition Digital VersatileDisc)或其他光盘可对应的光拾取器以及光盘装置中。
进而，在上述实施方式中，举出由树脂材料构成的物镜进行了说明，但本发明在搭载有由玻璃构成的物镜的情况下也能适当探用。即，在随着温度变化而物镜的光学特性的变化对记录/再生特性的品质带来影响的情况下，不限于树脂材料，在搭载由玻璃构成的物镜的情况下也能适用本发明。
除此之外，本发明的实施方式在专利请求保护的范围所示的技术思想的范围内能适当地进行各种变更。

Claims (17)

1、一种光盘装置，具有光拾取装置和控制电路，
该光拾取装置包括：激光光源；物镜，其使上述激光光源所射出的激光会聚在盘上；温度传感器，其用于检测上述物镜的温度；光学元件，其用于对经由上述物镜的上述激光的光学特性的恶化进行校正，和光检测器，其对上述盘所反射的上述激光进行接收，
该控制电路，其基于来自上述温度传感器的检测信号驱动上述光学元件。
2、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
上述控制电路具有用于规定上述温度传感器的检测信号和上述光学元件的适当驱动量之间的相关关系的功能部，根据由上述功能部规定的相关关系和来自上述温度传感器的检测信号，对上述光学元件进行驱动控制。
3、根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部保持有将上述温度传感器的检测信号和上述光学元件的适当驱动量建立对应后的基准表格。
4、根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部根据驱动上述光学元件时的上述光检测器的检测信号来检测上述光学元件的适当驱动量，基于该适当驱动量和上述温度传感器的检测信号来更新上述基准表格，
上述控制电路根据更新后的基准表格和上述温度传感器的检测信号，对上述光学元件进行驱动控制。
5、根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部基于上述温度传感器的检测信号或上述光检测器的检测信号，再次更新上述基准表格。
6、根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部在上述温度传感器的检测信号的变化量超过了阈值时，或者上述光检测器的检测信号的质量低于阈值时，再次更新上述基准表格。
7、根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部，在上述再次更新之际，根据驱动上述光学元件时的上述光检测器的检测信号来检测上述光学元件的适当驱动量，基于满足该适当驱动量和上述温度传感器的检测信号与上次更新时所取得的适当驱动量和上述温度传感器的检测信号这样两方的线性函数，来再次更新上述基准表格。
8、根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部保持有与各动作模式对应的多个基准表格，
根据与实际动作对应的基准表格来进行上述光学元件的驱动控制。
9、根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部根据对上述温度传感器的检测信号和上述光学元件的适当驱动量的关系进行规定的线性函数，设定上述光学元件相对来自上述温度传感器的检测信号的适当驱动量。
10、根据权利要求9所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部保持有上述线性函数的斜率，根据驱动上述光学元件时的上述光检测器的检测信号来检测上述光学元件的适当驱动量，基于从该适当驱动量、上述温度传感器的检测信号以及上述斜率所求出的上述线性函数，设定上述光学元件相对上述温度传感器的检测信号的适当驱动量。
11、根据权利要求9所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部基于上述温度传感器的检测信号或上述光检测器的检测信号，更新上述线性函数。
12、根据权利要求11所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部，在上述温度传感器的检测信号的变化量超过阈值时或者在上述光检测器的检测信号的质量低于阈值时，更新上述线性函数。
13、根据权利要求11所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部，在上述更新之际，根据驱动上述光学元件时的上述光检测器的检测信号来检测上述光学元件的适当驱动量，按照满足该适当驱动量和上述温度传感器的检测信号与在上次更新时所取得的适当驱动量和上述温度传感器的检测信号这样两方的方式，更新上述线性函数。
14、根据权利要求9所述的光盘装置，其特征在于，
上述功能部中规定了与各动作模式对应的多个相关函数，
根据与实际动作对应的相关函数来进行上述光学元件的驱动控制。
15、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，
上述控制电路，在从对上述盘的记录以及/或者再生动作的开始时起一定期间内，不基于上述温度传感器的检测信号，而根据从上述开始时起的经过时间，来控制上述光学元件的驱动。
16、一种光拾取装置，具有：
激光光源；
物镜，其使上述激光光源所射出的激光会聚在盘上；
温度传感器，其用于检测上述物镜的温度；
光学元件，其用于对经由上述物镜的上述激光的光学特性的恶化进行校正；和
光检测器，其对上述盘所反射的上述激光进行接收。
17、根据权利要求16所述的光拾取装置，其特征在于，
具有信息保持部，其将用于规定上述温度传感器的检测信号和上述光学元件的适当驱动量之间的相关关系的信息在可由技术手段读取的状态下保持。
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