CN101156066A - 用于在生物传感器检验条上编码信息的系统和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的检验条，其中，检验条可以编码有能够通过检验条插入的检验仪表读取的信息。
Description
对相关申请的参考
本申请与2004年6月18日提交的美国专利申请No.10/871,937(律师案号No.WP-19085-US3/7404-480)和2004年10月8日提交的10/961,352(律师案号No.WP-22634-US1/7404-674)相关，以上全部两篇专利申请的内容全文作为参考加入这里。本申请还与2003年6月20日提交的美国临时专利申请No.60/480,397(律师案号No.WP-22038-US/7404-534)和2004年6月18日提交的60/581,002(律师案号No.WP-22634-US/7404-456)相关，以上全部两篇专利申请的内容特此全文作为参考加入这里。
技术领域
本发明涉及用于测量生物流体内的分析物的浓度的设备。本发明更特别地涉及用于在生物传感器检验条上编码信息的系统和方法。
背景技术
测量生物流体中的物质的浓度是用于诊断和治疗许多医学状态的重要的工具。例如，对诸如血液的体液中的葡萄糖的测量对于有效地治疗糖尿病是及其重要的。
糖尿病的疗法通常包括两种类型的胰岛素治疗：基础的，和进餐时的。基础的胰岛素指的是连续的，例如随时间释放的胰岛素，经常在睡觉前摄取。进餐时的胰岛素治疗提供附加的剂量的更快作用的胰岛素以调节由包括糖和碳水化合物的新陈代谢的各种因素导致的血糖的波动。对血糖波动的适当的调节需要准确地测量血液中的葡萄糖的浓度。无法准确地测量血液中的葡萄糖的浓度能够产生严重的并发症，包括失明和丧失末端循环，其能够最终导致糖尿病人丧失使用他或她的手指、手、脚等等的能力。
已知用于确定血液样本中的诸如例如葡萄糖的分析物的浓度的多种方法。这样的方法通常属于两种分类其中之一：光学方法和电化学方法。光学方法通常包括分光术以观察通过分析物的浓度导致的流体内的光谱偏移，通常与当与分析物结合时产生已知的颜色的反应物协同。电化学方法通常依靠电流(电流分析法)、电位(电位分析法)或积聚的电荷(库仑分析法)和分析物浓度之间的相互关系，通常与当与分析物结合时产生电荷载体的反应物协同。参看例如Columbus的美国专利No.4,233,029、Pace的4,225,410、Columbus的4,323,536、Muggli的4,008,448、Lilja等人的4,654,197、Szuminsky等人的5,108,564、Nankai等人的5,120,420、Szuminsky等人的5,128,015、White的5,243,516、Diebold等人的5,437,999、Pollmann等人的5,288,636、Carter等人的5,628,890、Hill等人的5,682,884、Hill等人的5,727,548、Crismore等人的5,997,817、Fujiwara等人的6,004,441、Priedel等人的4,919,770、和Shieh的6,054,039，以上专利特此全文作为参考加入这里。用于实施检验的生物传感器典型地为其上具有与生物流体内的感兴趣的分析物化学地反应的反应物的一次性的检验条。检验条配合到非一次性的检验仪表，使得检验仪表能够测量分析物和反应物之间的反应以便确定和为使用者显示分析物的浓度。
在这样的检验仪表/检验条系统中，确保对检验条的正确的识别以便确保正确的检验结果是一般惯例。例如，单一的检验仪表可以能够分析数个不同类型的检验条，其中，每个类型的检验条设计为用于检验生物流体内的不同的分析物的存在。为了正确地实施检验，检验仪表必须知道要对当前使用中的检验条执行哪种类型的检验。
而且，检验条内的批到批的差异通常需要将校准信息装载到检验仪表内以便确保准确的检验结果。用于将这样的校准信息下载到检验仪表内的一般惯例为使用插入检验仪表的插座内的电子只读存储器密钥(key)(ROM密钥)。因为此校准数据可以仅对于特别的生产批的检验条是准确的，使用者通常需要确认当前使用中的检验条的批号是否匹配ROM密钥被编程的批号。
本领域中的普通技术人员已知希望具有与检验条相关的信息的许多其它情况。试图将信息编码在检验条上以用于通过检验仪表读取的现有技术遇到许多问题，包括能够编码的信息的量严格地受限制和使用相对大量的检验条面积用于信息编码功能。
从而，需要允许将信息编码到生物传感器上以用于通过检验仪表读取的系统和方法。本发明的目的为满足此需要。
发明内容
本发明提供用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的检验条，其中，检验条可以编码有能够通过检验条插入的检验仪表读取的信息。
在本发明的一个形式中，披露了用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的系统。系统包括检验仪表和具有第一掩模构造、第一电阻元件、和第二电阻元件的第一检验条。第一掩模构造包括：能够连接到检验仪表的第一测量电极；具有第一关联的电阻和第一间隙的第一迹线回路，其中，第一迹线回路能够连接到检验仪表；和具有第二关联的电阻和第二间隙的第二迹线回路，其中，第二迹线回路能够连接到检验仪表。第一电阻元件导电地连接到第一迹线回路以及桥接第一间隙，以及第二电阻元件导电地连接到第二迹线回路以及桥接第二间隙。系统还包括具有第二掩模构造、第三电阻元件、和第四电阻元件的第二检验条，其中，第二掩模构造与第一掩模构造大致相似。第二掩模构造包括：能够连接到检验仪表的第二测量电极；具有第三关联的电阻和第三间隙的第三迹线回路，其中，迹线回路能够连接到检验仪表；和具有第四关联的电阻和第四间隙的第四迹线回路，其中，第四迹线回路能够连接到检验仪表。第三电阻元件导电地连接到第三迹线回路以及桥接第三间隙，以及第四电阻元件导电地连接到第四迹线回路以及桥接第四间隙。检验仪表适合接收第一和第二检验条，连接到第一和第二测量电极，以及连接到第一和第二迹线回路。检验仪表还适合通过比较第一和第二关联的电阻获得第一电阻比，连接到第三和第四迹线回路，以及通过比较第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。检验仪表还可以适合使得第一和第二电阻比中的每个与对应关于第一和/或第二条的信息的一个或多个预先确定的值相关。
在本发明的另一个形式中，披露了用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的系统。系统包括检验仪表和第一检验条。第一检验条包括：能够连接到检验仪表的第一测量电极；具有第一关联的电阻的第一迹线回路，其中，第一迹线回路能够连接到检验仪表；和具有第二关联的电阻的第二迹线回路，其中，第二迹线回路能够连接到检验仪表。检验仪表适合：接收第一检验条；连接到第一测量电极、第一迹线回路、和第二迹线回路；以及通过比较第一和第二关联的电阻获得第一电阻比。
在本发明的另一个形式中，披露了用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的方法。该方法包括提供检验仪表以及提供第一检验条。第一检验条包括：能够连接到检验仪表的第一测量电极；具有第一关联的电阻的第一迹线回路，其中，第一迹线回路能够连接到检验仪表；和具有第二关联的电阻的第二迹线回路，其中，第二迹线回路能够连接到检验仪表。方法还包括：在检验仪表内接收第一检验条；通信地连接第一测量电极、第一迹线回路、和第二迹线回路与测量仪表；以及通过比较第一和第二关联的电阻获得第一电阻比。
在本发明的另一个形式中，披露了用于将能够通过检验仪表读取的信息编码到检验条上的方法，其中，检验条适合用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度。方法包括选择与希望编码到检验条上的第一词关联的第一电阻比以及在检验条衬底的表面上形成测量电极，其中，测量电极能够连接到检验仪表。方法还包括在检验条衬底的表面上形成第一电迹线和第二电迹线，其中，能够通过检验仪表获得第一和第二电迹线中的每个的电阻，以及其中，第一电迹线的电阻和第二电迹线的电阻比有效地匹配第一电阻比。
附图说明
将参考附图仅作为示例更进一步地描述本发明，其中：
图1为用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的第一典型的检验条的分解透视图。
图2为用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的第二典型的检验条的透视图。
图3示出了适合与本发明一起使用的烧蚀设备的视图。
图4为示出了第二掩模的图3所示的激光烧蚀设备的视图。
图5为适合与本发明一起使用的烧蚀设备的视图。
图6为用于校验检验仪表内的校准数据对当前插入检验仪表的检验条的适用性的现有技术的过程的示意性的过程流程图。
图7为用于校验检验仪表内的校准数据对当前插入检验仪表的检验条的适用性的本发明的第一实施例的过程的示意性的过程流程图。
图8为根据本发明的第二实施例的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图9为示出了修改的迹线的图8所示的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图10为示出了另一个修改的迹线的图8所示的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图11为示出了再一个修改的迹线的图8所示的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图12为根据本发明的第三实施例的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图13为根据本发明的第四实施例的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图14为根据本发明的第五实施例的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
图15为示出了替代的电阻元件和修改的迹线的图14所示的检验条电极和触点垫设置的示意性的平面图。
具体实施方式
为了促进理解本发明的原理，现在将参考附图中示出的实施例，以及将使用特定的语言来描述实施例。然而，应该理解，不打算限制本发明的范围。希望保护本发明涉及的领域中的普通技术人员通常地能够想到的说明的装置的替代和修改和如在这里说明的本发明的原理的更进一步的应用。特别地，虽然针对血糖仪表讨论本发明，预想本发明能够与用于测量其它分析物和其它样本类型的装置一起使用。这样的替代的实施例需要对这里讨论的实施例进行某些改造，如对于本领域中的普通技术人员显而易见的。
虽然本发明的系统和方法可以与具有多种设计以及用多种构成技术和过程制造的检验条一起使用，典型的电化学检验条在图1中示出，以及通常用10指示。参考图1，检验条10包括由在顶部表面上涂敷有50纳米厚的导电(金)层(例如，通过溅射或气相淀积)的350微米厚的聚酯(诸如可以从DuPont购买到的Melinex329)的不透明的件形成的底部衬底12。电极、连接迹线和触点垫随后通过激光烧蚀过程在导电层内形成图案。依靠通过石英上铬的掩模的准分子激光执行激光烧蚀过程。掩模图案导致反射激光场的部分，同时允许场的其它部分通过，在激光接触的位置烧蚀的金上产生图案。在下文中更加详细地描述激光烧蚀过程。例如，工作电极20、反电极22、剂量充足工作电极24、和剂量充足反电极26可以如图所示形成以及分别联结到测量触点垫W、C、DW和DC。这些触点垫在检验条10上提供导电区域，以一旦检验条10插入检验仪表接触检验仪表的连接器触点。当在这里使用时，术语“测量触点垫”限定为导电地联结到检验条的测量电极以及为用于测量诸如样本尺寸或样本内的分析物的浓度的体液样本的特性的主要的触点垫的检验条上的触点垫。当在这里使用时，术语“信息触点垫”限定为不是测量触点垫以及用于将信息编码到检验条上的检验条上的触点垫。
随后在底部衬底12在电极上方延伸的区域内涂敷作为连续的、特别薄的反应物膜的反应物层14。反应物层14为在图1所示的标记为“反应物层”的区内横过衬底12的大约6毫米宽的带。例如，此区可以以50克每平方米涂敷的表面积的湿涂层重量涂敷。反应物条传统地用在线干燥系统干燥，其中，标称的空气温度为110摄氏度。处理的速率标称为30-38米每分钟以及取决于反应物的流变能力。
在衬底12的情况中，在连续的卷轴内处理材料，使得电极图案与卷轴的长度正交。一旦衬底12已经涂敷有反应物，切开隔离物16以及在卷轴到卷轴过程中将隔离物16放置到衬底12上。由在全部背部的和腹部的表面涂敷有25微米的PSA(疏水的粘合剂)的100微米的聚酯(例如，可以从DuPont购买到的Melinex329)形成的两个隔离物16施加到底部衬底12，使得隔离物16分开1.5毫米以及工作电极、反电极和剂量充足电极在此间隙内居中。由在腹部的表面上涂敷有亲水的膜的100微米的聚酯形成的顶部箔层18(使用美国专利No.5,997,817中描述的过程)放置在隔离物16上方。亲水的膜涂敷有标称厚度为10微米的Vitel和Rhodapex表面活性剂的混合物。使用卷轴到卷轴过程层压顶部箔层18。能够随后依靠切开和切割从作为结果的材料的卷轴生产检验条。
虽然图1所示的基本的检验条10能够提供对全血样本内的血糖的准确的测量，检验条10不能为检验条10插入的检验仪表提供任何识别关于检验条的任何信息的手段。本发明提出能够将与检验条相关的信息直接编码到检验条自身上的系统，使得能够将此信息输送到检验条插入的检验仪表。
如在这里描述的制备编码有信息的检验条的一个方法为通过使用激光烧蚀技术。使用这些技术制备用于生物传感器的电极的示例在2001年5月25日提交的题目为“Biosensor”的美国专利申请出版物号2002/0192115以及在2003年12月16日提交的题目为“Laser DefinedFeatures for Patterned Laminates and Electrodes”的美国专利号6,662,439中描述，全部两篇披露物特此全文作为参考加入这里。当在这里使用时，术语“编码”限定为从一个通信系统转换到另一个以及包括以将为检验仪表提供信息的方式控制或操纵检验条的特别的方面的情况。这里披露的系统和方法包括模拟比较的方法和信息通过检验仪表读取、输送到检验仪表、和从检验条收集的情况。
在本发明中，希望提供电部件相对于彼此和相对于整个的生物传感器的准确的放置。在另一个实施例中，至少部分地通过使用通过具有用于电部件的精确的图案的掩模或其它装置执行的宽场激光烧蚀实现部件的相对放置。这允许邻近的边缘的准确的定位，还通过边缘的光滑度的紧公差增强邻近的边缘的准确的定位。
图2示出了用于说明本发明的激光烧蚀过程的简单的生物传感器401，包括衬底402，衬底402具有形成在其上的导电材料403，导电材料403限定电极系统，电极系统包括第一电极组404和第二电极组405，和分别对应的迹线406、407和触点垫408、409。导电材料403可以包含纯的金属或合金或其它金属化的导体的材料。导电材料通常在用于形成电极的激光的波长是吸收性的以及厚度适合迅速和精确的处理。非限制性的示例包括铝、碳、铜、铬、金、铟锡氧化物(ITO)、钯、铂、银、锡氧化物/金、钛、以上的混合物、和这些元素的合金或金属化合物。在一些实施例中，导电材料包括贵金属或合金或它们的氧化物。在其它实施例中，导电材料包括金、钯、铝、钛、铂、ITO和铬。在其它实施例中，导电材料的厚度范围为从大约10纳米到80纳米。在更进一步的实施例中，导电材料的厚度范围为从大约30纳米到70纳米。在更进一步的实施例中，导电材料的厚度等于大约50纳米。应该理解，导电材料的厚度取决于材料的透射性质和与生物传感器的使用相关的其它因素。
虽然没有说明，应该理解，作为结果的形成图案的导电材料能够涂敷或镀有附加的金属层。例如，导电材料可以为铜，随后用激光将铜烧蚀形成电极图案；随后，可以为铜镀钛/钨层，以及随后镀金层，以形成希望的电极。在一些实施例中，使用位于底基402上的单一层导电材料。虽然通常不是必要的，如在本领域中众所周知的，可以通过使用诸如铬镍或钛的种子或辅助层增强导电材料到底基的附着。在其它实施例中，生物传感器401具有单一层金、钯、铂或ITO。
如图3-5所示，分别使用两个设备410、410’示例性地制造生物传感器401。应该理解，除非另外描述，设备410、410’以相似的方式操作。首先参考图3，通过将具有80纳米的金叠片的大约40毫米宽的带状物420的卷轴馈送到定制配合宽场激光烧蚀设备410内制造生物传感器401。设备410包括产生激光412的束的激光源411、镀铬的石英掩模414、和光学器件416。应该理解，虽然说明的光学器件416为单一透镜，在一些实施例中，光学器件416为合作以形成预先确定的形状的光412的多种透镜。
适合的烧蚀设备410(图3-4)的非限制性的示例为可以从LPKFLaser Electronic GmbH，of Garbsen，Germany购买到的定制的MicrolineLaser 200-4激光系统，其结合了可以从Lambda Physik AG，Gottingen，Germany购买到的LPX-400、LPX-300或LPX-200激光系统和可以从International Phototool Company，Colorado Springs，Co购买到的镀铬的石英掩模。
对于MicrolineLaser 200-4激光系统(图3-4)，激光源411为LPX-200KrF-UV-laser。然而，应该理解，根据本披露物，能够使用更高波长的UV激光。激光源411工作在248纳米，脉冲能量为600mJ，以及脉冲重复频率为50Hz。激光束412的强度可以通过电介质光束衰减器(没有示出)在3％和92％之间无限地调节。束型面为27×15平方毫米(0.62平方英寸)以及脉冲持续时间为25纳秒。掩模414上的布局通过光学元件光束扩展器、均化器、和物镜(没有示出)均匀地投射。已经通过测量能量型面确定了均化器的性能。成像光学器件416将掩模414的结构传递到带状物420上。成像比率为2∶1以一方面允许移除大的区域，另一方面保持能量密度低于施加的铬掩模的烧蚀点。虽然说明了2∶1的成像，应该理解，根据本披露物，根据希望的设计需求，任何数量的替代的比率是可能的。带状物420如箭头425所示般运动以允许接连地烧蚀多个布局段。
掩模414的定位、带状物420的运动、和激光能量由计算机控制。如图3所示，激光束412投射到要烧蚀的带状物420上。通过掩模414的透明区域或窗418的光412从带状物420烧蚀金属。掩模414的铬涂敷的区域424阻塞激光412以及防止在那些区域烧蚀，在带状物420的表面上导致金属化的结构。现在参考图4，电部件的完整的结构可能需要通过第二掩模414’的附加的烧蚀步骤。应该理解，根据本披露物，根据光学器件和要烧蚀的电部件的尺寸，仅单一烧蚀步骤或多于两个烧蚀步骤可以是必要的。此外，应该理解，根据本披露物，代替多个掩模，可以在同一掩模上形成多个场。
特别地，适合的烧蚀设备410’(图5)的第二非限制性的示例为可以从LPKF Laser Electronic GmbH，of Garbsen，Germany购买到的定制的激光系统，其结合了可以从Lambda Physik AG，Gottingen，Germany购买到的Lambda STEEL(稳定能量准分子激光)激光系统和可以从International Phototool Company，Colorado Springs，Co购买到的镀铬的石英掩模。激光系统特征为在308纳米波长达到1000mJ脉冲能量。此外，激光系统的频率为100Hz。设备410’可以形成为如图3和4所示以两次通过生产生物传感器。在某些实施例中，设备410’的光学器件允许以25纳秒单次通过形成10×40毫米图案。
虽然不希望被特定的理论束缚，相信通过掩模414、414’、414”的激光脉冲或束412在带状物420上的表面402的小于1微米内被吸收。束412的光子的能量足够导致光解作用和在金属/聚合物分界面处的化学键的迅速破坏。相信此迅速的化学键破坏导致吸收区内的突然的压力增加以及推动材料(金属膜403)从聚合物底基表面驱逐。因为典型的脉冲持续时间为20-25纳秒左右，与材料的互相作用非常迅速地发生以及对导电材料403的边缘和周围结构的热损害最小。和本发明预想的一样，作为结果的电部件的边缘具有高边缘质量和准确的放置。
用于从带状物420移除或烧蚀金属的能流能量取决于形成带状物420的材料、金属膜到底基材料的粘附、金属膜的厚度、以及可能取决于用于将膜放置到底基材料上的过程，即支撑和气相沉积。对于金在KALADEX上的能流级范围为从大约50到大约90mJ/平方厘米，在聚酰亚胺上为大约100到大约120mJ/平方厘米，以及在MELINEX上为大约60到大约120mJ/平方厘米。应该理解，根据本披露物，小于或大于上面提到的能流级的能流级可能适用于其它底基材料。
通过使用掩模414、414’和414”实现带状物420的区域的图案形成。每个掩模414、414’和414”示例性地包括包含要形成的电极部件图案的预先确定的部分的精确的两维图的掩模场422。图3示出了包括触点垫和迹线的一部分的掩模场422。如图4所示，第二掩模414’包含迹线的第二对应的部分和包含指状物的电极图案。如前所述，应该理解，根据要烧蚀的区域的尺寸，掩模414能够包含电极图案的完整的图(图5)，或与根据本披露物的那些在图3和4中示出的不同的图案的部分。预想在本发明的一个方面，一次激光烧蚀检验条上的电部件的整个图案，即，包围检验条的整个尺寸的宽场，如通过图5所示的掩模414”示出的。在替代物中，以及如图3和4所示，接连地制作整个生物传感器的多个部分。
虽然将在下文中讨论掩模414，应该理解，除非另有说明，讨论将同样适用于掩模414’、414”。参考图3，被铬保护的掩模场422的区域424将阻塞激光束412投射到带状物420。掩模场422内的透明区域或窗418允许激光束412通过掩模414以及冲击带状物420的预先确定的区域。如图3所示，掩模场422的透明的区域418对应导电材料403将要从其被移除的带状物420的区域。
此外，掩模场422的长度通过线430示出以及宽度通过线432示出。给定LPX-200的成像比率为2∶1，应该理解，掩模的长度430为作为结果的图案的长度434的长度的两倍，以及掩模的宽度432为带状物上420上的作为结果的图案的宽度436的宽度的两倍。光学器件416减小冲击带状物420的激光束412的尺寸。应该理解，根据本披露物，掩模场422和作为结果的图案的相对尺寸可以改变。掩模414’(图4)用于完成电部件的两维图。
继续参考图3，在激光烧蚀设备410中，准分子激光源411发射束412，束412通过石英上铬的掩模414。掩模场422导致激光束412的部分反射，同时允许束的其它部分通过，在金膜上被激光束412冲击的地方形成图案。应该理解，带状物420可以相对于设备410静止或通过设备410在卷轴上连续地运动。因此，带状物420的非限制性的运动速率可以从大于0m/min到大约100m/min。在一些实施例中，带状物420的其它非限制性的运动速率可以从大约30m/min到大约60m/min。应该理解，根据本披露物，带状物420的运动速率仅受到选择的设备410的限制以及根据激光源411的脉冲持续时间可以超过100m/min。
一旦在带状物420上形成掩模414的图案，重绕带状物以及将其再次馈送通过设备410，进行掩模414’(图4)。应该理解，替代地，根据本披露物，激光设备410可以串联定位。从而，通过使用掩模414、414’，能够使用重复步骤工艺为带状物420的大的区域形成图案，包括在相同的掩模区域内的多个掩模场422，以使得能够在底基的衬底上经济地形成复杂的电极图案和其它电部件、形成电极部件的精确的边缘、和从底基材料移除更大量的金属膜。
将信息直接编码到检验条上的能力能够显著地增加检验条的性能以及增强检验条与检验仪表的交互作用。例如，本领域中众所周知为检验仪表供应适用于任何给定的生产批的检验条的校准数据。典型地，这通过与每瓶检验条一起供应只读存储器密钥(ROM密钥)实现，其中，在ROM密钥上编码适用于瓶内的检验条的校准数据。在使用来自瓶的检验条之前，使用者将ROM密钥插入检验仪表内的端口，使得检验仪表可以在使用检验条执行检验的同时获取此数据。能够通过允许仪表电子地评定ROM密钥数据对当前插入仪表的检验条的适用性校验测量结果的质量，不需要如在现有技术中教示的光学读取器读取检验条上的条形码信息。
当前从市场上可以购买到的产品要求使用者涉及到校验是否已经将对于当前使用的检验条的正确的ROM密钥插入检验仪表。例如，图6示出了用于校验ROM密钥数据和检验条批标识符(ID)号码之间的匹配的典型的现有技术的过程。在执行此过程之前，已经将ROM密钥插入检验仪表，已经将ROM数据装载到检验仪表内，以及关闭检验仪表。过程通过将检验条插入检验仪表(步骤100)开始，这导致检验仪表自动地开启(步骤102)。检验仪表显示当前装载的校准数据的批ID(步骤104)以便给使用者机会以校验此批ID是否匹配印刷在包含来自与当前插入检验仪表内的检验条相同的生产批的多个检验条的瓶/包装(例如)上的批ID。
因为过程依靠使用者执行此检查，不能保证进行或如果进行了不能保证准确地进行此检查。因此，图6所示的过程指示使用者比较检验仪表显示器上的批ID与检验条瓶上的批ID(步骤106)以及确定(步骤108)是否匹配的可选的步骤。如果两个批ID不匹配，那么使用者应该移除检验条(步骤110)以及将匹配检验条瓶的ROM密钥插入检验仪表(步骤112)，使得能够将正确的校准编码装载到检验仪表内。过程将随后当检验条插入时在步骤100开始。一旦已经确定检验仪表的校准编码批ID匹配检验条的批ID(步骤108)，那么能够通过将血供应到检验条(步骤24)以及开始血糖测量周期(步骤116)继续测量顺序。
应该理解，在图6所示的现有技术的过程中，校验测量校准数据的准确性的责任完全由使用者承担。有时会遇到使用者忽略与检验条一起提供的规定的使用指导的情况。一个这样的示例为从第一瓶移除在批X中制造的检验条以及将这些检验条合并在包含在批Y中制造的检验条的第二瓶内。因此，希望将批特有的校准信息提供到单独的检验条级而不是如在现有技术中的提供到瓶级。
为了从过程移除人的错误或疏忽的可能性，以及由此改进测量的质量，本发明的信息触点垫允许检验仪表自身执行关于当前装载的校准数据对当前插入的检验条的适用性的检查。图7示出了允许检验仪表主动地参与这样的校验的本发明的第一实施例的过程。与图6中的对应的步骤相同的图7所示的过程的步骤用相同的参考指示符编号。
在执行此过程之前，已经将ROM密钥插入检验仪表，已经将ROM数据装载到检验仪表内，以及关闭检验仪表。过程通过将检验条插入检验仪表(步骤100)开始，这导致检验仪表自动地开启(步骤102)。检验仪表随后测量已经被指定为用于将信息编码到检验条上的检验条上的不同的信息和测量触点垫之间的导电率以便确定检验条的批或族ID(步骤200)。根据可以编码到检验条上的信息的数量，可能或不可能将独特的生产批号编码到检验条上。如果没有足够的空间编码独特的生产批ID，仍然可能将校准族信息编码到检验条上。例如，能够用于检验仪表的检验条可以为两个或更多族，其中，在族检验条设计之间存在显著的差异。例如，两个族可以在检验条上使用不同的反应物。在这样的情况中，检验仪表仍然能够校验装载的校准数据匹配编码到检验条上的检验条族，即使不可能校验检验条的精确的生产批。因此，当在这里使用时，术语“批ID”打算包括识别检验条或校准数据属于的组的任何信息，即使组没有小到检验条的生产批。
返回图7所示的过程，检验仪表比较(步骤202)存储在当前插入仪表内的ROM密钥内的校准数据(或之前装载到检验仪表内部存储器内的校准数据)的批ID与从检验条读取的批ID。如果它们不匹配，检验仪表显示当前装载的校准数据的批ID(步骤204)和警告，以便给使用者机会将正确的检验条或不同的ROM密钥插入检验仪表。替代地，检验仪表可以简单地为使用者显示错误讯息。在检验仪表的结果存储器208内标记(步骤206)批ID不匹配的事实，使得在存储器208内记录由于批ID差异，获得的测量结果可疑。替代地，可以禁止使用者进行检验以及可以异常终止过程。
因为在一些实施例中希望如果批ID不匹配不完全地去能检验仪表，图7所示的过程指示使用者比较检验仪表显示器上的批ID与检验条瓶上的批ID(步骤106)以及确定(步骤108)是否匹配的可选的步骤。如果两个批ID不匹配，那么使用者应该移除检验条(步骤110)以及将匹配检验条瓶的ROM密钥插入检验仪表(步骤112)，使得能够将正确的校准编码装载到检验仪表内。过程将随后当检验条插入时在步骤100开始。
还可选地，如果检验仪表能够在仪表的内部存储器内存储多于一个校准数据组，那么仪表可以确定可以存储在检验仪表内的校准数据的多个批ID以及自动地选择匹配当前插入仪表内的检验条的校准数据组。仪表随后返回步骤24。
一旦已经确定检验仪表的校准编码批ID匹配检验条的批ID(步骤108)，那么能够通过将血供应到检验条(步骤24)以及开始血糖测量周期(步骤116)继续测量顺序。应该理解，图7所示的过程在当检验条的批ID不匹配当前选择的校准数据组的批ID时自动地警告使用者方面对图6所示的现有技术的过程进行了改进。此外，如果用此不匹配的组合实施检验，那么标记检验仪表内的结果存储器以指示结果可能不会像使用正确的校准数据组的情况中那样准确。
作为将信息直接编码到检验条上的有用性的更进一步的示例，本发明允许检验条激活或去活编程到检验仪表内的某些特征。例如，单一的检验仪表可以设计为用于数个不同的地区市场，其中，在每个市场说不同的语言。通过为检验条编码指示检验条在哪个市场销售的信息，编码的信息能够导致检验仪表以适用于该市场的语言显示使用者指导和数据。而且，仪表可以设计为用于在某个地区市场销售，以及希望仪表不与在不同的地区市场获得的检验条一起使用(例如当政府法规要求在一个地区市场销售的检验条具有与那些在其它地区市场销售的检验条不同的特征时)。在此情况中，检验仪表可以使用编码到检验条上的信息确定检验条不是来自指定的地区市场以及因此可能没有提供法规要求的特征，在该情况中可以异常终止或标记检验。
此外，商业模式(预订商业模式)可以应用于检验条的分配，其中，将检验条扩散到其它销售渠道中是不希望的。例如，使用者可以参加预定程序，其中，为他们提供设计为用于预订参与者使用的检验条，以及可以为预订参与者定期地提供预订检验条(例如通过邮件或任何其它方便的递送形式)。使用本发明的技术，“预订检验条”可以编码为指示它们是供应给预订参与者的。为了各种原因，预订检验条的制造者可能不希望在其它的贸易渠道中销售预订检验条。防止此现象的一个方法为设计提供给不是预订参与者的使用者的检验仪表不与预订检验条一起工作。因此，本发明可以用于在预订商业模式中为预订参与者提供检验仪表，该检验仪表编程序为接受编码为指示它们是递送给基于预订的使用者的预订检验条，而且其它检验仪表编程序为不接受这样编码的预订检验条。
作为更进一步的示例，检验仪表可以具有当第一次销售检验仪表时不是活性的设计在仪表内的某些功能(软件和/或硬件实现的)。在以后的日期能够通过包括将被仪表认可为激活这些潜在的特征的指令的编码在该以后的时间销售的检验条上的信息来升级检验仪表的性能。当在这里使用时，术语“激活检验仪表的潜在的特征”包括开启以前为非活性的检验仪表的功能，使得检验仪表的功能从那时以后无限地保持被激活(即，在用本检验条的当前的检验结束之后)。
能够使用本发明编码到检验条上的信息的另一个示例为指示检验条是销售给医院市场还是消费者市场。具有此信息可以允许检验仪表相应地采取动作，诸如为医院专业人员显示细节较少的使用者指导。本领域中的普通技术人员应该理解，可以通过经由本发明提供信息编码促进检验条和检验仪表之间的不同类型的通信。
图8-15示出了用于将信息编码到检验条上的系统和方法。这些编码系统和方法可以专门地在检验条上使用，以及也能够结合其它编码系统和方法使用。一般而言，图8-15所示的编码系统和方法提供为连接到一对关联的触点垫的至少一个迹线或迹线回路的电阻根据要编码到每个单独的检验条上的信息在检验条之间改变。检验仪表又测量插入的检验条上的触点垫的特别的对之间的迹线或迹线回路的电阻，以及解码编码在检验条上的电阻相关的信息。一般而言，检验仪表能够以数字的方式确定某个连接存在或不存在，以及能够以模拟的方式测量任何连接的触点垫之间的电阻。检验仪表获得数字和模拟信息的能力允许本发明的系统和方法与其它编码系统结合。当与其它编码系统和方法结合时，诸如在特此全文作为参考加入这里的JP 2000/000352034 A2和EP1152239 A1中披露的编码系统和方法，与单独使用其它系统能够编码的相比，能够显著地增加可以编码在检验条上的词的数量。
也可以使用替代的编码方案，其中，迹线或迹线回路电阻比至少一个其它迹线或迹线回路电阻或按比例地与至少一个其它迹线或迹线回路电阻比较。此替代的编码方案在补偿由从检验条到检验条的迹线或迹线回路电阻的变化导致的不一致性方面具有好处。
与本发明的编码系统和方法相比，一些现有系统将已经检查过检验条电阻作为对非有意的断开、刮痕、或多点缺陷的故障保险。其它现有系统试图补偿有害的检验条迹线电阻。再其它的现有系统仅确定重要的迹线电阻是否存在，以及使用重要的电阻的存在或不存在作为对存在两种类型的条中的哪种的二进制指示器，打算用于测量或校准目的的条。在使用电阻作为二进制指示器的系统中，通过比较测量的电阻与接近零的阈值电阻值完成对特别的迹线是否具有重要的电阻的确定。如果测量的电阻在阈值以上，认为迹线电阻是重要的，由此指示一种类型的条。如果测量的电阻低于阈值，认为迹线电阻是不重要的以及基本上为零，以及指示另一种类型的条。从而，系统仅区分基本上为零和非零的电阻值。相反地，本发明的系统和方法通常能够区分至少两个大致非零的电阻值。
一般而言，在本发明中披露的用于将信息编码到检验条上的系统和方法用于：辨别特定类型的检验条；确定插入的检验条是否匹配插入检验仪表的分开的编码密钥；将校准信息直接编码到检验条上；识别与检验条相关的重要参数，诸如来自的国家、目的地、或特别的检验条化学性质；以及确定哪种反应物在检验条上。本发明的系统和方法还用于将信息编码到检验条上，能够用于：选择检验仪表显示使用者操作指导的语言；确定检验仪表和检验条是否在相同的地区市场内销售；如果检验条为预订检验条，防止检验仪表使用检验条；激活检验仪表的潜在的特征；改变使用者操作指导；或者执行如本领域中的普通技术人员明白的其它功能。
允许将信息直接编码到检验条上的第二实施例的检验条构造在图8中示出以及通常用700指示。检验条700可以通常如上面关于检验条1O和401所描述地形成，其中，工作电极720、反电极722、剂量充足工作电极724、和剂量充足反电极726如图所示形成以及分别联结到分别更进一步地联结到测量触点垫W、C、DW和DC的工作电极迹线721、反电极迹线723、剂量充足工作电极迹线725、和剂量充足反电极迹线727。检验条700还包括分别联结到测量触点垫WS和CS的工作电极感测迹线730和反电极感测迹线732。触点垫在检验条700上提供导电区域，以一旦检验条700插入检验仪表就接触检验仪表的电连接器触点。电连接器允许将电信号从检验仪表施加到检验条以及反之亦然。作为示例，检验条可以在检验条的远端内形成有样本入口(如图8所示)，或者样本入口在检验条的侧上(如图1所示)。样本入口的类型与这里描述的实施例的功能无关。
参考连接到触点垫W和WS的迹线，可以通过检验仪表评价沿触点垫W和WS之间的三个部分的电阻：沿触点垫W和工作电极感测迹线730连接的点之间的工作电极迹线721的电阻，沿触点垫WS和电极感测迹线720连接的点之间的感测迹线730的电阻，和触点垫W和WS之间的迹线回路电阻-“迹线回路W-WS”。在第一情况中，检验仪表能够通过使用电压跟随器电路或本技术领域中已知的其它相似的方法(例如，参看在上文中作为参考加入的共同未决的申请的申请序号10/961,352中披露的方法和电路)使用工作电极感测迹线730在感测迹线730连接到电极迹线721的点测量工作电极迹线721的电位。因为能够通过检验仪表直接测量触点垫W处的电位和电流，能够通过检验仪表计算电位的改变以及从而计算沿触点垫W和工作电极感测迹线730交叉工作电极迹线721的点之间的工作电极迹线721的电阻。能够相似地通过检验仪表计算沿工作电极感测迹线730的电阻。
替代地，能够通过测量触点垫W和WS之间的电位的总的改变和其间的电流计算迹线回路W-WS的电阻。计算的沿迹线回路的电阻包括检验仪表和触点垫之间的连接器触点电阻、迹线回路电阻、和检验仪表的测量路径内的任何模拟开关的电阻。在示例性的实施例中，迹线回路W-WS包括金导电材料以及标称电阻为大约287欧姆。在另一个示例性的实施例中，迹线回路W-WS包括钯导电材料以及标称电阻为大约713欧姆。
可以通过交流或直流激励测量迹线回路的电阻。在一个示例性的实施例中，通过直流激励测量W-WS回路电阻，而通过交流激励测量C-CS回路电阻。其它示例性的实施例利用交流和/或直流激励的不同的组合测量检验条上的迹线和迹线回路电阻，一些实施例专门地利用交流激励，而其它的实施例专门地利用直流激励。
参考连接到触点垫C和CS的迹线，能够通过检验仪表以与上面关于连接到触点垫W和WS的迹线描述的相似的方式确定沿触点垫C和反电极感测迹线732连接的点之间的反电极迹线723的电阻、沿触点垫CS和电极迹线723连接的点之间的感测迹线732的电阻、和触点垫C和CS之间的迹线回路C-CS电阻中的每个。在示例性的实施例中，迹线回路C-CS包括金导电材料以及电阻为大约285欧姆。在另一个示例性的实施例中，迹线回路C-CS包括钯导电材料以及电阻为大约712欧姆。
检验条700还包括分别连接到信息触点垫B1和B2的信息迹线734和736。信息迹线734和736更进一步地分别连接到剂量充足反电极迹线727和反电极迹线723。不仅信息触点垫B 1和B2和它们的关联的迹线回路能够与图1-15中示出以及在上面描述的编码系统和方法一起使用，迹线回路DC-B1和C-B2的不同的迹线电阻值能够用于更进一步地将信息编码到检验条700上。例如，迹线734、迹线736、触点垫DC和迹线734连接的点之间的迹线727的部分、触点垫C和迹线736连接的点之间的迹线723的部分、迹线回路DC-B1、和迹线回路C-B2的电阻值全部能够单独地测量以及用于以与上面关于连接到触点垫W和WS的迹线描述的相似的方式将信息编码到检验条700上。
数字地编码到检验条上的信息提供编码信息的有限的数量的选项，例如，检验条可以被限制为2N个可能的状态或词，其中，N为检验条上的信息触点垫的数量。相反地，通过检验仪表测量的电阻通常不限于离散的值，以及可以测量沿可能的迹线电阻值的连续区的任何值。从而，使用迹线电阻值的连续区能够编码到检验条上的词或状态的数量能够超过使用离散的数字状态能够编码到检验条上的词或状态的数量，使用离散的数字状态通常仅确定在两个触点垫之间是否存在连接。
使用检验条迹线或迹线回路的电阻能够编码到检验条上的可能的词的数量和信息的量典型地受到精确地制造特别的迹线电阻的能力和准确地测量该迹线电阻的能力的限制。给定在制造期间精确地控制电阻和精确地测量迹线或迹线回路电阻的能力，能够将理论上无限的信息量编码到检验条上，其中，沿连续区的每个可测量的电阻对应不同的词或状态。然而，由于实际的制造和测量能力，沿连续区的可使用的电阻值的数量经常是有限的。为了解决测量和制造误差，可以将沿连续区的可使用的状态的数量再分为许多离散的范围，其中，每个离散的范围对应不同的词或状态，以及与每个范围关联的电阻值的范围大致与累积的测量和制造误差一样大。在一个示例性的实施例中，关于离散的范围的数量或每个离散的范围的尺寸的信息可以编程序到插入检验仪表的ROM密钥上。
用于测量电阻和诸如检验条和检验仪表的温度的其它因素的方法也能够影响通过检验仪表测量的电阻和可以使用的每个离散的范围的最小尺寸。例如，在本发明的一个实施例中，测量的迹线或迹线回路电阻包括检验仪表内部的至少一个模拟开关的电阻，其中，根据温度和制造容差，模拟开关电阻在10到180欧姆之间变化。为了示例性的目的，如果假定检验仪表的电阻测量准确度为+/-30欧姆，那么可以用于将信息编码到检验条上的每个离散的范围的最小尺寸为至少60欧姆。
如上所述，迹线或迹线回路电阻编码系统和方法的一个优点为它们能够与其它系统结合使用。即使当将沿可能的电阻值的连续区的可使用的状态限制为离散的范围时，与单独使用其它方法能够编码的相比，结合迹线回路电阻编码与其它编码方法能够显著地增加能够编码到检验条上的词的总的数量。
作为示例的编码系统和方法利用电阻的离散的范围，假定沿图8所示的W-WS和C-CS迹线回路中的每个的电阻被限制在通过范围号码1、2、和3表示的三个能够测量的电阻范围中的一个内。从而，通过测量迹线回路W-WS和C-CS的电阻，能够在检验条700上编码总共九个不同的词：WS1/CS1，WS1/CS2，WS1/CS3，WS2/CS1，WS2/CS2，WS2/CS3，WS3/CS1，WS3/CS2，和WS3/CS3。结合此电阻编码方案与另一个编码方案，能够编码的状态的总数量能够增加因子9。例如，JP2000/000352034 A2潜在地披露了能够用测量电极编码到检验条的侧上的总共8个状态。结合当前示例与JP 2000/000352034 A2导致总共72个可以编码到检验条上的状态。一般而言，专门地使用迹线或迹线回路电阻编码系统和方法提供可以编码到检验条上的总共RL个独特的词，而使用结合另一个编码系统的迹线或迹线回路电阻编码系统使得与其它编码系统相比，可以编码到检验条上的总的词增加因子RL个。
一般而言，通过检验仪表测量的特别的迹线的电阻至少部分地随迹线宽度、迹线长度、迹线厚度、迹线导电材料、迹线温度、和检验仪表开关电阻变化。能够在制造期间控制诸如迹线的精确的宽度、长度、厚度和导电材料的因素，但是制造的不一致性可以导致电阻的非故意的变化，导致迹线电阻值与预定的不同。此外，尽管检验条掩模构造相同，这些因素还能够从检验条到检验条以及从生产批到生产批变化。然而，尽管存在这些制造不一致性，两个迹线或迹线回路电阻值的比通常对于给定的检验条掩模构造保持相对一致。从而，检验仪表可以用于抵消制造不一致性的技术为使两个迹线或迹线回路电阻测量值比。使用此或相似的技术，检验仪表能够通过评价迹线或迹线回路之间的电阻比有效地补偿电阻的变化，特别是如果必要的检验仪表模拟开关在类型、尺寸、过程和包装方面是成对的。
作为示例，沉积在衬底上的导电材料的量的制造不一致性能够导致对于给定的检验条掩模构造迹线厚度从检验条到检验条变化，而迹线宽度和长度保持相对恒定。然而，沉积的导电材料的量的这些不一致性倾向于足够缓慢地变化，使得迹线厚度倾向于在单一检验条上是均匀的，同时从检验条到检验条变化。从而，尽管存在制造不一致性，同一个检验条上的两个迹线之间的迹线电阻的比将保持基本上恒定。
在制造期间可以操纵迹线宽度、长度、厚度和材料成分的变化以控制单独的迹线电阻值，因为，如上所述，这些特性影响每个迹线的电阻。例如，能够通过增加反电极迹线723或反电极感测迹线732的宽度或者通过减小回路的总长度减小C-CS迹线回路的电阻。相似地，能够通过减小迹线723或732的宽度或通过增加回路的有效的总长度增加C-CS回路的电阻。
替代的实施例利用不同的检验条掩模构造。信息迹线可以连接到的电极迹线的数量、位置、或特别的类型能够变化，仅有的限制为不能通过例如将任何电极或电极迹线连接到彼此危害检验条的功能性。
现在参考图9，示出了除了下面指明的以外与检验条700相似的替代的示例性的实施例的检验条700’。工作电极感测迹线730’比工作电极感测迹线730宽。在此示例性的替代的实施例中，检验条700’内的W-WS迹线回路电阻小于检验条700内的W-WS迹线回路电阻。相似地，由于感测迹线730’的宽度增加，检验条700’内的W-WS回路电阻对C-CS回路电阻的比小于检验条700内的W-WS回路电阻对C-CS回路电阻的比。从而，通过变化迹线宽度将信息编码到检验条700和700’上。因此，检验仪表可以通过例如测量迹线回路W-WS内的绝对电阻、测量迹线回路W-WS的段内的绝对电阻、或通过确定W-WS迹线回路电阻和C-CS迹线回路电阻的比区分检验条700和检验条700’。
现在参考图10，示出了除了下面指明的以外与检验条700相似的再一个示例性的实施例的检验条700”。检验条700”包括替代的工作电极感测迹线730”。感测迹线730”与感测迹线730不同在于感测迹线730”比感测迹线730短。在此示例性的替代的实施例中，检验条700”内的W-WS迹线回路电阻小于检验条700内的W-WS迹线回路电阻。相似地，由于感测迹线730”的长度减小，检验条700”内的W-WS回路电阻对C-CS回路电阻的比小于检验条700内的W-WS回路电阻对C-CS回路电阻的比。从而，通过变化迹线长度将信息编码到检验条700和700’上。因此，检验仪表可以通过例如测量迹线回路W-WS内的绝对电阻、测量迹线回路W-WS的段内的绝对电阻、或通过确定W-WS迹线回路电阻和C-CS迹线回路电阻的比区分检验条700和检验条700”。
图11示出了再一个示例性的实施例的检验条700，检验条700为检验条700的变体以及如在下面指明地与检验条700不同。检验条700包括反电极感测迹线732’，反电极感测迹线732’具有比感测迹线732更长以及更窄的电路径长度以及从而具有比感测迹线732更高的电阻。在此示例性的替代的实施例中，检验条700内的C-CS迹线回路电阻大于检验条700内的C-CS迹线回路电阻。相似地，由于感测迹线732’的长度增加，检验条700内的W-WS回路电阻对C-CS回路电阻的比小于检验条700内的W-WS回路电阻对C-CS回路电阻的比。从而，通过变化迹线长度将信息编码到检验条700和700’上。因此，检验仪表可以通过例如测量迹线回路C-CS内的绝对电阻、测量迹线回路C-CS的段内的绝对电阻、或通过确定W-WS迹线回路电阻和C-CS迹线回路电阻的比区分检验条700和检验条700。
第三实施例的检验条构造在图12中示出以及通常用800指示。除非另外指示，检验条800通常与上面描述的检验条700相似，其中，工作电极820、反电极822、剂量充足工作电极824、剂量充足反电极826、工作电极感测迹线830、和反电极感测迹线832如图所示形成以及分别联结到测量触点垫W、C、DW、DC、WS和CS。和检验条700对比，检验条800包括分别连接到信息触点垫B1和B2以及更进一步地连接到彼此的信息迹线834和信息迹线836。这些触点垫在检验条800上提供导电区域，以一旦检验条800插入检验仪表就接触检验仪表的电连接器触点。
在检验条800的示出的实施例中，信息迹线834和信息迹线836结合提供信息触点垫B1和B2之间的迹线回路B1-B2。能够变化信息迹线834和836中的至少一个的电阻以编码除了可以使用迹线回路W-WS和C-CS编码的信息以外的信息。当插入检验仪表时，因为触点垫DC和B1没有连接、因为触点垫C和B2没有连接、以及因为触点垫B1和B2连接，能够区分检验条800和检验条700。还能够基于B1-B2回路电阻的测量的值区分检验条800和检验条700。一般而言，检验仪表能够以数字的方式确定某个连接存在或不存在，以及能够以模拟的方式测量任何连接的触点垫之间的电阻。能够通过在制造期间变化信息迹线834和836的宽度、厚度、长度或用于构造信息迹线834和836的材料来变化信息迹线834和836的电阻。
第四实施例的检验条构造在图13中示出以及通常用900指示。检验条900可以形成为工作电极920、剂量充足工作电极924、信息迹线934和信息迹线936如图所示形成以及分别联结到测量触点垫W和DW和信息触点垫B1和B2。另外，检验条900包括分别连接到又分别更进一步地连接到测量触点垫C和DC的反电极迹线923和剂量充足反电极迹线927的反电极922和剂量充足反电极926。与检验条700和800相似，触点垫在检验条900上提供导电区域，以一旦检验条900插入检验仪表就接触检验仪表的电连接器触点。
在示例性的实施例的检验条900中，信息迹线934电连接到剂量充足反电极迹线927，以及信息迹线936电连接到反电极迹线923。这些电连接提供附加的迹线回路，其中，可以测量触点垫DC和B1、以及C和B2之间的电阻。当连接到检验仪表时，在触点垫B1和B2之间缺乏电连接、在触点垫B1和DC之间存在电连接、以及在触点垫B2和C之间存在电连接每个分开地用于编码信息和区分检验条900与检验条800。另外，沿剂量充足反电极迹线927、信息迹线934、信息迹线936、和反电极迹线923的电阻能够更进一步地编码关于检验条900的附加的信息。
此外，当与检验条700比较时，信息迹线934和936更长以及具有比信息迹线734和736更大的电阻。从而，检验条900内的DC-B1和C-B2迹线回路电阻分别大于检验条700内的DC-B1和C-B2迹线回路电阻。从而，检验仪表可以通过例如测量迹线回路DC-B1或C-B2的绝对电阻、或通过比较迹线回路DC-B1或C-B2对彼此或对诸如迹线回路W-WS或C-CS的其它迹线回路的电阻比区分检验条900和检验条700。
现在转向图14和15，示出了允许将信息直接编码到检验条上的第五实施例的检验条1000。检验条1000可以形成为工作电极1020、剂量充足工作电极1024、工作电极感测迹线1030、反电极感测迹线1032、信息迹线1034、和信息迹线1036如图所示形成以及分别联结到测量触点垫W、DW、WS和CS和信息触点垫B1和B2。另外，反电极1022和剂量充足反电极1026分别连接到又分别更进一步地连接到测量触点垫C和DC的反电极迹线1023和剂量充足反电极迹线1027。信息迹线1034包括电阻元件1038以及连接到剂量充足反电极迹线1027。信息迹线1036包括电阻元件1040以及连接到反电极迹线1023。触点垫在检验条1000上提供导电区域，以一旦检验条1000插入检验仪表就接触检验仪表的电连接器触点。
如图14和15所示，迹线回路DC-B1和C-B2分别形成在测量垫DC和B1、和C和B2之间。如上所述，能够在制造期间通过变化迹线回路的宽度、厚度、长度、或材料控制迹线回路DC-B1和C-B2的电阻。然而，在制造期间具有大量不同的检验条掩模构造以便提供大量编码的词或状态可能是困难以及昂贵的。可以减小检验条掩模构造的总数量的一个方法为使用具有电阻元件能够被包括以及整合到迹线内的沿迹线的位置的单一的掩模构造。此方法能够扩展到将多个电阻元件整合到一个或多个迹线内。在制造期间，能够通过变化包括在特别的迹线内的一个或多个电阻元件的电阻控制特别的迹线的电阻，从而提供控制迹线或迹线回路电阻的简单的和方便的方式。
作为示例性的示例，图14所示的检验条1000利用信息迹线1034内的膜类型的电阻元件1038。从而，全部信息迹线1034和迹线回路B1-DC内的总的电阻包括电阻元件1038的电阻。相似地，全部信息迹线1036和迹线回路C-B2内的总的电阻包括电阻元件1040的电阻。在制造期间，可以使用在信息迹线1034和1036内具有间隙的检验条掩模构造初始地形成检验条1000。稍后，将电阻元件1038和1034分别放置为跨接信息迹线1034和1036内的间隙。
现在参考图15，检验条1000’示出了图15所示的DC-B1迹线回路电阻与图14所示的DC-B1迹线回路电阻不同而图15所示的C-B2迹线回路电阻等于图14所示的C-B2迹线回路电阻的实施例。检验条1000’利用与检验条1000相对相似的基本的总的掩模构造，其中，间隙初始地形成在信息迹线1034和1036’内以及信息迹线1036’比信息迹线1036更长。与检验条1000相比，导电墨跨接检验条1000’内的间隙以形成电阻元件1038’和1040’。对于此示例，假定对于给定的长度，导电墨的电阻小于图14所示的膜类型的电阻元件的电阻。电阻元件1038’的电阻小于电阻元件1038的电阻，从而，图15所示的迹线1034的电阻小于图14所示的迹线1034的电阻。然而，迹线回路C-B2的增加的长度和电阻元件1040’的增加的长度导致图15所示的迹线回路C-B2的电阻等于图14所示的迹线回路C-B2的电阻。从而，检验仪表能够通过测量例如迹线1034的电阻、迹线回路DC-B1的电阻、或迹线回路DC-B1电阻和迹线回路C-B2电阻的比区分检验条1000和检验条1000’。
电阻元件1038、1038’、1040和1040’可以包括本领域中众所周知的不同的导电材料以修改迹线电阻。这些材料包括导电墨、丝网印刷的厚膜混合电路电阻器、和标准的固定值厚或薄膜电阻器。
一般而言，可以使用图16-23中示出以及在上面描述的系统和方法编码到检验条上的可能的状态的总数量受限于检验条表面上可以使用的空间或可用于操纵迹线或迹线回路电阻的材料；准确地控制检验条上的导电特征的分辨率的能力，诸如迹线或迹线回路尺寸、形状、和布置；和准确地测量检验条上的电阻值的能力。增强的准确地控制迹线几何形状的能力减小制造相关的迹线电阻的变化以及允许对于给定的检验条尺寸和形状将附加的词或状态编码到检验条上。相似地，增强的准确地控制迹线几何形状的能力允许将增加的数量的迹线和信息触点垫放置到检验条上，由此允许对于给定的检验条尺寸和形状将附加的词或状态编码到检验条上。
应该注意，在本发明中通过使用激光烧蚀过程实现的精确地控制迹线几何形状以及增加迹线和触点垫密度的能力是对于现有技术的显著改进。上文中描述的激光烧蚀过程允许之前使用诸如丝网印刷术和光刻的现有技术不能实现的检验条导电特征的分辨率。因此，当使用激光烧蚀过程形成导电特征时，能够将相对大量的数据编码到检验条上。例如，出版的欧洲专利申请EP 1 024 358 A1披露了在单一的检验条上使用多达35个触点垫的系统；然而，特征的密度如此低，以致迫使发明者每次仅接触这些触点垫中的五个。这不仅需要比本发明多得多的检验条表面区域来形成相同数量的触点垫，而且因为检验仪表每次不能接触多于五个触点垫，检验仪表不可能测量触点垫中的每个之间的电阻。通过本发明的激光烧蚀过程使能的对特征尺寸的紧密控制允许使用在现有技术中从未实现的迹线和触点垫密度。
还应该理解，术语迹线回路不打算是限制性的以及不暗示特别的迹线几何形状，诸如圆形的路径，以及包括沿能够确定电阻的电通路的任何部分。
还应该理解，检验仪表能够区分两个或更多检验条的检验条特性为能够用于将信息编码到检验条上的特性。
由此，这里陈述的全部出版物、现有申请、和其它文件如同每个被单独地作为参考加入以及完全地陈述一样特此全文作为参考加入。
虽然在附图和前面的描述中已经详细地说明和描述了本发明，描述应该被认为是说明性的以及不限制本发明的特性。仅示出了说明的实施例和认为有助于更进一步地解释如何制造或使用说明的实施例的某些其它实施例。希望保护属于本发明的精神的全部改变和修改。
权利要求书(按照条约第19条的修改)
1.一种用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的系统，包括：
检验仪表；
第一检验条，包括：
能够连接到所述检验仪表的第一测量电极，
具有第一关联的电阻的第一迹线回路，所述第一迹线回路能够连接到所述检验仪表，及
具有第二关联的电阻的第二迹线回路，所述第二迹线回路能够连接到所述检验仪表；以及
其中，所述检验仪表适合：
区分至少两个大致非零的电阻值，
接收所述第一检验条，
连接到所述第一测量电极、所述第一迹线回路、和所述第二迹线回路，以及
通过比较所述第一和第二关联的电阻获得第一电阻比。
2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检验仪表适合测量所述第一和第二关联的电阻。
3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一电阻比构造为与预先确定的值相关。
4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检验仪表适合确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关。
5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
6.根据权利要求4所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
7.根据权利要求4所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时记录与所述第一检验条相关的信息。
8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检验仪表适合比较所述第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，所述第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个。
9.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一迹线回路包括第一材料以及所述第二迹线回路包括与所述第一材料不同的第二材料。
10.根据权利要求1所述的系统，其中：
所述第一和第二关联的电阻不同；
所述第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
所述第二迹线回路包括第二特性长度、宽度、和厚度；以及
所述第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与所述第二特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
11.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一关联的电阻和所述第二关联的电阻和与所述第一检验条关联的校准信息相关。
12.根据权利要求1所述的系统，还包括导电地连接到所述第一测量电极的第一测量电极迹线，其中，所述第一迹线回路包括所述第一测量电极迹线的至少一部分。
13.根据权利要求1所述的系统，其中
所述第一迹线回路的一部分包括具有第一电阻性质的材料；以及
所述第一迹线回路的剩余的部分包括具有与所述第一电阻性质不同的第二电阻性质的不同的材料。
14.根据权利要求1所述的系统，还包括：
第二检验条，包括：
能够连接到所述检验仪表的第二测量电极，
具有第三关联的电阻的第三迹线回路，所述第三迹线回路能够连接到所述检验仪表，及
具有第四关联的电阻的第四迹线回路，所述第四迹线回路能够连接到所述检验仪表；以及
其中，所述检验仪表适合：
接收所述第二检验条，
连接到所述第二测量电极、所述第三迹线回路、和所述第四迹线回路，以及
通过比较所述第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。
15.根据权利要求14所述的系统，其中，所述第一和第二电阻比不同。
16.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述检验仪表适合确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关，以及
所述检验仪表适合确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
17.根据权利要求16所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
所述检验仪表适合当所述第二电阻比与所述预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
18.根据权利要求16所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
所述检验仪表适合当所述第二电阻比与所述预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
19.根据权利要求16所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时记录与所述第一检验条相关的信息，以及
所述检验仪表适合当所述第二电阻比与所述预先确定的值相关时记录与所述第一检验条相关的信息。
20.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述检验仪表适合比较所述第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，所述第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个，以及
所述检验仪表适合比较所述第二电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，所述第二电阻比属于所述离散的范围中的第二个。
21.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述第一关联的电阻和所述第二关联的电阻和与所述第一检验条关联的校准信息相关，以及
所述第三关联的电阻和所述第四关联的电阻和与所述第二检验条关联的校准信息相关。
22.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述第一和第三关联的电阻不同；
所述第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
所述第三迹线回路包括第三特性长度、宽度、和厚度；以及
所述第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与所述第三特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
23.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述第一检验条包括：
具有所述第一迹线回路内的第一间隙和所述第二迹线回路内的第二间隙的第一掩模构造，
导电地连接到所述第一迹线回路以及桥接所述第一间隙的第一电阻元件，及
导电地连接到所述第二迹线回路以及桥接所述第二间隙的第二电阻元件；
所述第二检验条包括：
具有所述第三迹线回路内的第三间隙和所述第四迹线回路内的第四间隙的第二掩模构造，
导电地连接到所述第三迹线回路以及桥接所述第三间隙的第三电阻元件，及
导电地连接到所述第四迹线回路以及桥接所述第四间隙的第四电阻元件；以及
其中，所述第一掩模构造与所述第二掩模构造大致相似。
24.根据权利要求23所述的系统，其中，所述第一电阻元件具有关联的电阻以及所述第三电阻元件具有关联的电阻，以及其中，所述第一电阻元件关联的电阻与所述第三电阻元件关联的电阻不同。
25.根据权利要求1所述的系统，
其中，所述第一检验条包括具有第三关联的电阻的第三迹线回路，所述第三迹线回路能够连接到所述检验仪表，以及
其中，所述检验仪表适合连接到所述第三迹线回路以及通过比较所述第一和第三关联的电阻获得第二电阻比。
26.根据权利要求25所述的系统，其中，所述检验仪表适合确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
27.一种用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的方法，其包括：
提供适合区分两个大致非零的电阻值的检验仪表；
提供第一检验条，第一检验条包括：
能够连接到检验仪表的第一测量电极，
具有第一关联的电阻的第一迹线回路，第一迹线回路能够连接到检验仪表，及
具有第二关联的电阻的第二迹线回路，第二迹线回路能够连接到检验仪表；
将第一检验条接收在检验仪表内；
通信地连接第一测量电极、第一迹线回路、和第二迹线回路与检验仪表；以及
通过比较第一和第二关联的电阻获得第一电阻比。
28.根据权利要求27所述的方法，还包括：
测量第一和第二关联的电阻。
29.根据权利要求27所述的方法，还包括：
选择预先确定的电阻比值；以及
将第一关联的电阻和第二关联的电阻的比构造为与预先确定的电阻比值相关。
30.根据权利要求27所述的方法，还包括：
确定第一电阻比是否与预先确定的值相关。
31.根据权利要求30所述的方法，还包括：
当第一电阻比与预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
32.根据权利要求30所述的方法，还包括：
当第一电阻比与预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
33.根据权利要求30所述的方法，还包括：
当第一电阻比与预先确定的值相关时记录与第一检验条相关的信息。
34.根据权利要求27所述的方法，还包括：
比较第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个。
35.根据权利要求27所述的方法，其中，第一迹线回路包括第一材料以及第二迹线回路包括与第一材料不同的第二材料。
36.根据权利要求27所述的方法，其中：
第一和第二关联的电阻不同；
第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
第二迹线回路包括第二特性长度、宽度、和厚度；以及
第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与第二特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
37.根据权利要求27所述的方法，其中，第一关联的电阻和第二关联的电阻和与第一检验条关联的校准信息相关。
38.根据权利要求27所述的方法，其中，第一检验条还包括导电地连接到第一测量电极的第一测量电极迹线，以及其中，第一迹线回路包括第一测量电极迹线的至少一部分。
39.根据权利要求27所述的方法，其中
第一迹线回路的一部分包括具有第一电阻性质的材料；以及
第一迹线回路的剩余的部分包括具有与第一电阻性质不同的第二电阻性质的不同的材料。
40.根据权利要求27所述的方法，还包括：
提供第二检验条，第二检验条包括：
能够连接到检验仪表的第二测量电极，
具有第三关联的电阻的第三迹线回路，第三迹线回路能够连接到检验仪表，及
具有第四关联的电阻的第四迹线回路，第四迹线回路能够连接到检验仪表；以及
将第二检验条接收在检验仪表内；
通信地连接第二测量电极、第三迹线回路、和第四迹线回路与检验仪表；以及
通过比较第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。
41.根据权利要求40所述的方法，其中，第一和第二电阻比不同。
42.根据权利要求40所述的方法，还包括：
确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关，以及
确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
43.根据权利要求42所述的方法，其中：
当第一电阻比与预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
当第二电阻比与预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
44.根据权利要求42所述的方法，其中：
当第一电阻比与预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
当第二电阻比与预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
45.根据权利要求42所述的方法，其中：
当第一电阻比与预先确定的值相关时记录与第一检验条相关的信息，以及
当第二电阻比与预先确定的值相关时记录与第一检验条相关的信息。
46.根据权利要求40所述的方法，其中：
比较第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个，以及
比较第二电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，第二电阻比属于所述离散的范围中的第二个。
47.根据权利要求40所述的方法，其中：
第一关联的电阻和第二关联的电阻和与第一检验条关联的校准信息相关，以及
第三关联的电阻和第四关联的电阻和与第二检验条关联的校准信息相关。
48.根据权利要求40所述的方法，其中：
第一和第三关联的电阻不同；
第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
第三迹线回路包括第三特性长度、宽度、和厚度；以及
第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与第三特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
49.根据权利要求40所述的方法，其中，第一和第二检验条还包括大致相似的掩模构造，其中：
第一和第二测量电极大致相似；
第一和第三迹线回路大致相似，每个具有间隙和导电地桥接间隙的电阻元件；以及
第二和第四迹线回路大致相似，每个具有间隙和导电地桥接间隙的电阻元件。
50.根据权利要求49所述的方法，其中，每个电阻元件具有关联的电阻，以及导电地桥接第一迹线回路内的间隙的电阻元件的关联的电阻与导电地桥接第三迹线回路内的间隙的电阻元件的关联的电阻不同。
51.根据权利要求27所述的方法，
其中，所述提供第一检验条包括包含具有第三关联的电阻的第三迹线回路的检验条，第三迹线回路能够连接到检验仪表；以及
其中，所述获得包括通过比较第一和第三关联的电阻获得第二电阻比。
52.根据权利要求51所述的方法，还包括：
确定第一电阻比是否与预先确定的值相关；以及
确定第二电阻比是否与预先确定的值相关。
53.一种用于将能够通过检验仪表读取的信息编码到检验条上的方法，检验条适用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度，该方法包括：
选择与希望编码到检验条上的第一词关联的第一电阻比；
在检验条衬底的表面上形成测量电极，其中，测量电极能够连接到检验仪表以及检验仪表适合区分至少两个大致非零的电阻值；以及
在检验条衬底的表面上形成第一电迹线和第二电迹线，其中，能够通过检验仪表获得第一和第二电迹线中的每个的电阻，以及其中，第一电迹线的电阻和第二电迹线的电阻的比有效地匹配第一电阻比。
54.根据权利要求53所述的方法，还包括：
选择与希望编码到检验条上的第二词关联的第二电阻比，以及
在检验条衬底的表面上形成第三电迹线，其中，能够通过检验仪表获得第三电迹线的电阻，以及其中，第一电迹线的电阻和第三电迹线的电阻的比有效地匹配第二电阻比。
55.根据权利要求54所述的方法，其中，第一词与电阻值的第一离散的范围关联，以及第二词与电阻值的第二离散的范围关联，第二离散的范围与第一离散的范围不同。
56.根据权利要求53所述的方法，其中，所述形成第一电迹线和第二电迹线包括控制第一和第二电迹线的宽度、厚度、和长度以有效地匹配第一电阻比。
57.根据权利要求53所述的方法，其中，所述形成第一电迹线和第二电迹线包括控制第一和第二电迹线的材料成分以有效地匹配第一电阻值。
58.根据权利要求53所述的方法，其中，第一电阻比和与检验条关联的校准信息相关。
59.根据权利要求53所述的方法，其中，第一电迹线包括至少两种不同的导电材料。
60.根据权利要求53所述的方法，其中：
第一电迹线包括第一间隙和导电地桥接第一间隙的第一电阻元件，以及
第二电迹线包括第二间隙和导电地桥接第二间隙的第二电阻元件。
61.用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的系统，包括：
检验仪表；
具有第一掩模构造、第一电阻元件、和第二电阻元件的第一检验条，所述第一掩模构造包括：
能够连接到所述检验仪表的第一测量电极，
具有第一关联的电阻和第一间隙的第一迹线回路，所述第一迹线回路能够连接到所述检验仪表，和
具有第二关联的电阻和第二间隙的第二迹线回路，所述第二迹线回路能够连接到所述检验仪表；
其中，所述第一电阻元件导电地连接到所述第一迹线回路以及桥接所述第一间隙；以及
其中，所述第二电阻元件导电地连接到所述第二迹线回路以及桥接所述第二间隙；
具有第二掩模构造、第三电阻元件、和第四电阻元件的第二检验条，所述第二掩模构造与所述第一掩模构造大致相似，所述第二掩模构造包括：
能够连接到所述检验仪表的第二测量电极，
具有第三关联的电阻和第三间隙的第三迹线回路，所述第三迹线回路能够连接到所述检验仪表，和
具有第四关联的电阻和第四间隙的第四迹线回路，所述第四迹线回路能够连接到所述检验仪表；
其中，所述第三电阻元件导电地连接到所述第三迹线回路以及桥接所述第三间隙；以及
其中，所述第四电阻元件导电地连接到所述第四迹线回路以及桥接所述第四间隙；以及
其中，所述检验仪表适合：
区分至少两个大致非零的电阻值，
接收所述第一和第二检验条，
连接到所述第一和第二测量电极，
连接到所述第一和第二迹线回路，
通过比较所述第一和第二关联的电阻获得第一电阻比，
连接到所述第三和第四迹线回路，以及
通过比较所述第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。
62.根据权利要求61所述的系统，其中，所述第一电阻比和所述第二电阻比不同。
63.根据权利要求61所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述检验仪表接收所述第一检验条时确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关，以及
所述检验仪表适合当所述检验仪表接收所述第二检验条时确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
64.根据权利要求63所述的系统，其中：
如果所述第一电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
如果所述第二电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表检验生物流体的感兴趣的分析物。
65.根据权利要求63所述的系统，其中：
如果所述第一电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表抑制检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
如果所述第二电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
66.根据权利要求63所述的系统，其中：
如果所述第一电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表记录与所述第一检验条相关的信息，以及
如果所述第二电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表记录与所述第二检验条相关的信息。
67.根据权利要求63所述的系统，其中：
当所述检验仪表接收所述第一检验条时，所述检验仪表比较所述第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及
当所述检验仪表接收所述第二检验条时，所述检验仪表比较所述第二电阻比与所述至少两个离散的、不重叠的范围。
68.根据权利要求63所述的系统，其中：
所述第一电阻比和与所述第一检验条关联的校准信息相关，以及
所述第二电阻比和与所述第二检验条关联的校准信息相关。
69.根据权利要求63所述的系统，其中
所述第一掩模构造还包括具有第五关联的电阻和第五间隙的第五迹线回路，所述第五迹线回路能够连接到所述检验仪表，其中，所述第五电阻元件导电地连接到所述第五迹线回路以及桥接所述第五间隙；
其中，所述检验仪表适合连接到所述第五迹线回路以及通过比较所述第一和第五关联的电阻获得第三电阻比。
70.根据权利要求69所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述检验仪表接收所述第一检验条时确定所述第三电阻比是否与预先确定的值相关。
Claims (70)
1.一种用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的系统，包括：
检验仪表；
第一检验条，包括：
能够连接到所述检验仪表的第一测量电极，
具有第一关联的电阻的第一迹线回路，所述第一迹线回路能够连接到所述检验仪表，及
具有第二关联的电阻的第二迹线回路，所述第二迹线回路能够连接到所述检验仪表；以及
其中，所述检验仪表适合：
接收所述第一检验条，
连接到所述第一测量电极、所述第一迹线回路、和所述第二迹线回路，以及
通过比较所述第一和第二关联的电阻获得第一电阻比。
2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检验仪表适合测量所述第一和第二关联的电阻。
3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一电阻比构造为与预先确定的值相关。
4.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检验仪表适合确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关。
5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
6.根据权利要求4所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
7.根据权利要求4所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时记录与所述第一检验条相关的信息。
8.根据权利要求1所述的系统，其中，所述检验仪表适合比较所述第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，所述第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个。
9.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一迹线回路包括第一材料以及所述第二迹线回路包括与所述第一材料不同的第二材料。
10.根据权利要求1所述的系统，其中：
所述第一和第二关联的电阻不同；
所述第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
所述第二迹线回路包括第二特性长度、宽度、和厚度；以及
所述第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与所述第二特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
11.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一关联的电阻和所述第二关联的电阻和与所述第一检验条关联的校准信息相关。
12.根据权利要求1所述的系统，还包括导电地连接到所述第一测量电极的第一测量电极迹线，其中，所述第一迹线回路包括所述第一测量电极迹线的至少一部分。
13.根据权利要求1所述的系统，其中
所述第一迹线回路的一部分包括具有第一电阻性质的材料；以及
所述第一迹线回路的剩余的部分包括具有与所述第一电阻性质不同的第二电阻性质的不同的材料。
14.根据权利要求1所述的系统，还包括：
第二检验条，包括：
能够连接到所述检验仪表的第二测量电极，
具有第三关联的电阻的第三迹线回路，所述第三迹线回路能够连接到所述检验仪表，及
具有第四关联的电阻的第四迹线回路，所述第四迹线回路能够连接到所述检验仪表；以及
其中，所述检验仪表适合：
接收所述第二检验条，
连接到所述第二测量电极、所述第三迹线回路、和所述第四迹线回路，以及
通过比较所述第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。
15.根据权利要求14所述的系统，其中，所述第一和第二电阻比不同。
16.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述检验仪表适合确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关，以及
所述检验仪表适合确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
17.根据权利要求16所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
所述检验仪表适合当所述第二电阻比与所述预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
18.根据权利要求16所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
所述检验仪表适合当所述第二电阻比与所述预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
19.根据权利要求16所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述第一电阻比与所述预先确定的值相关时记录与所述第一检验条相关的信息，以及
所述检验仪表适合当所述第二电阻比与所述预先确定的值相关时记录与所述第一检验条相关的信息。
20.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述检验仪表适合比较所述第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，所述第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个，以及
所述检验仪表适合比较所述第二电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，所述第二电阻比属于所述离散的范围中的第二个。
21.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述第一关联的电阻和所述第二关联的电阻和与所述第一检验条关联的校准信息相关，以及
所述第三关联的电阻和所述第四关联的电阻和与所述第二检验条关联的校准信息相关。
22.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述第一和第三关联的电阻不同；
所述第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
所述第三迹线回路包括第三特性长度、宽度、和厚度；以及
所述第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与所述第三特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
23.根据权利要求14所述的系统，其中：
所述第一检验条包括：
具有所述第一迹线回路内的第一间隙和所述第二迹线回路内的第二间隙的第一掩模构造，
导电地连接到所述第一迹线回路以及桥接所述第一间隙的第一电阻元件，及
导电地连接到所述第二迹线回路以及桥接所述第二间隙的第二电阻元件；
所述第二检验条包括：
具有所述第三迹线回路内的第三间隙和所述第四迹线回路内的第四间隙的第二掩模构造，
导电地连接到所述第三迹线回路以及桥接所述第三间隙的第三电阻元件，及
导电地连接到所述第四迹线回路以及桥接所述第四间隙的第四电阻元件；以及
其中，所述第一掩模构造与所述第二掩模构造大致相似。
24.根据权利要求23所述的系统，其中，所述第一电阻元件具有关联的电阻以及所述第三电阻元件具有关联的电阻，以及其中，所述第一电阻元件关联的电阻与所述第三电阻元件关联的电阻不同。
25.根据权利要求1所述的系统，
其中，所述第一检验条包括具有第三关联的电阻的第三迹线回路，所述第三迹线回路能够连接到所述检验仪表，以及
其中，所述检验仪表适合连接到所述第三迹线回路以及通过比较所述第一和第三关联的电阻获得第二电阻比。
26.根据权利要求25所述的系统，其中，所述检验仪表适合确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
27.一种用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的方法，其包括：
提供检验仪表；
提供第一检验条，第一检验条包括：
能够连接到检验仪表的第一测量电极，
具有第一关联的电阻的第一迹线回路，第一迹线回路能够连接到检验仪表，及
具有第二关联的电阻的第二迹线回路，第二迹线回路能够连接到检验仪表；
将第一检验条接收在检验仪表内；
通信地连接第一测量电极、第一迹线回路、和第二迹线回路与检验仪表；以及
通过比较第一和第二关联的电阻获得第一电阻比。
28.根据权利要求27所述的方法，还包括：
测量第一和第二关联的电阻。
29.根据权利要求27所述的方法，还包括：
选择预先确定的电阻比值；以及
将第一关联的电阻和第二关联的电阻的比构造为与预先确定的电阻比值相关。
30.根据权利要求27所述的方法，还包括：
确定第一电阻比是否与预先确定的值相关。
31.根据权利要求30所述的方法，还包括：
当第一电阻比与预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
32.根据权利要求30所述的方法，还包括：
当第一电阻比与预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
33.根据权利要求30所述的方法，还包括：
当第一电阻比与预先确定的值相关时记录与第一检验条相关的信息。
34.根据权利要求27所述的方法，还包括：
比较第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个。
35.根据权利要求27所述的方法，其中，第一迹线回路包括第一材料以及第二迹线回路包括与第一材料不同的第二材料。
36.根据权利要求27所述的方法，其中：
第一和第二关联的电阻不同；
第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
第二迹线回路包括第二特性长度、宽度、和厚度；以及
第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与第二特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
37.根据权利要求27所述的方法，其中，第一关联的电阻和第二关联的电阻和与第一检验条关联的校准信息相关。
38.根据权利要求27所述的方法，其中，第一检验条还包括导电地连接到第一测量电极的第一测量电极迹线，以及其中，第一迹线回路包括第一测量电极迹线的至少一部分。
39.根据权利要求27所述的方法，其中
第一迹线回路的一部分包括具有第一电阻性质的材料；以及
第一迹线回路的剩余的部分包括具有与第一电阻性质不同的第二电阻性质的不同的材料。
40.根据权利要求27所述的方法，还包括：
提供第二检验条，第二检验条包括：
能够连接到检验仪表的第二测量电极，
具有第三关联的电阻的第三迹线回路，第三迹线回路能够连接到检验仪表，及
具有第四关联的电阻的第四迹线回路，第四迹线回路能够连接到检验仪表；以及
将第二检验条接收在检验仪表内；
通信地连接第二测量电极、第三迹线回路、和第四迹线回路与检验仪表；以及
通过比较第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。
41.根据权利要求40所述的方法，其中，第一和第二电阻比不同。
42.根据权利要求40所述的方法，还包括：
确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关，以及
确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
43.根据权利要求42所述的方法，其中：
当第一电阻比与预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
当第二电阻比与预先确定的值相关时检验生物流体的感兴趣的分析物。
44.根据权利要求42所述的方法，其中：
当第一电阻比与预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
当第二电阻比与预先确定的值相关时抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
45.根据权利要求42所述的方法，其中：
当第一电阻比与预先确定的值相关时记录与第一检验条相关的信息，以及
当第二电阻比与预先确定的值相关时记录与第一检验条相关的信息。
46.根据权利要求40所述的方法，其中：
比较第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，第一电阻比属于所述离散的范围中的第一个，以及
比较第二电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及其中，第二电阻比属于所述离散的范围中的第二个。
47.根据权利要求40所述的方法，其中：
第一关联的电阻和第二关联的电阻和与第一检验条关联的校准信息相关，以及
第三关联的电阻和第四关联的电阻和与第二检验条关联的校准信息相关。
48.根据权利要求40所述的方法，其中：
第一和第三关联的电阻不同；
第一迹线回路包括第一特性长度、宽度、和厚度；
第三迹线回路包括第三特性长度、宽度、和厚度；以及
第一特性长度、宽度、和厚度中的至少一个与第三特性长度、宽度、和厚度中的对应的一个不同。
49.根据权利要求40所述的方法，其中，第一和第二检验条还包括大致相似的掩模构造，其中：
第一和第二测量电极大致相似；
第一和第三迹线回路大致相似，每个具有间隙和导电地桥接间隙的电阻元件；以及
第二和第四迹线回路大致相似，每个具有间隙和导电地桥接间隙的电阻元件。
50.根据权利要求49所述的方法，其中，每个电阻元件具有关联的电阻，以及导电地桥接第一迹线回路内的间隙的电阻元件的关联的电阻与导电地桥接第三迹线回路内的间隙的电阻元件的关联的电阻不同。
51.根据权利要求27所述的方法，
其中，所述提供第一检验条包括包含具有第三关联的电阻的第三迹线回路的检验条，第三迹线回路能够连接到检验仪表；以及
其中，所述获得包括通过比较第一和第三关联的电阻获得第二电阻比。
52.根据权利要求51所述的方法，还包括：
确定第一电阻比是否与预先确定的值相关；以及
确定第二电阻比是否与预先确定的值相关。
53.一种用于将能够通过检验仪表读取的信息编码到检验条上的方法，检验条适用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度，该方法包括：
选择与希望编码到检验条上的第一词关联的第一电阻比；
在检验条衬底的表面上形成测量电极，其中，测量电极能够连接到检验仪表；以及
在检验条衬底的表面上形成第一电迹线和第二电迹线，其中，能够通过检验仪表获得第一和第二电迹线中的每个的电阻，以及其中，第一电迹线的电阻和第二电迹线的电阻的比有效地匹配第一电阻比。
54.根据权利要求53所述的方法，还包括：
选择与希望编码到检验条上的第二词关联的第二电阻比，其中，检验仪表能够从大致非零的电阻值区分所述第二电阻比；以及
在检验条衬底的表面上形成第三电迹线，其中，能够通过检验仪表获得第三电迹线的电阻，以及其中，第一电迹线的电阻和第三电迹线的电阻的比有效地匹配第二电阻比。
55.根据权利要求54所述的方法，其中，第一词与电阻值的第一离散的范围关联，以及第二词与电阻值的第二离散的范围关联，第二离散的范围与第一离散的范围不同。
56.根据权利要求53所述的方法，其中，所述形成第一电迹线和第二电迹线包括控制第一和第二电迹线的宽度、厚度、和长度以有效地匹配第一电阻比。
57.根据权利要求53所述的方法，其中，所述形成第一电迹线和第二电迹线包括控制第一和第二电迹线的材料成分以有效地匹配第一电阻值。
58.根据权利要求53所述的方法，其中，第一电阻比和与检验条关联的校准信息相关。
59.根据权利要求53所述的方法，其中，第一电迹线包括至少两种不同的导电材料。
60.根据权利要求53所述的方法，其中：
第一电迹线包括第一间隙和导电地桥接第一间隙的第一电阻元件，以及
第二电迹线包括第二间隙和导电地桥接第二间隙的第二电阻元件。
61.一种用于测量生物流体内的感兴趣的分析物的浓度的系统，其包括：
检验仪表；
具有第一掩模构造、第一电阻元件、和第二电阻元件的第一检验条，所述第一掩模构造包括：
能够连接到所述检验仪表的第一测量电极，
具有第一关联的电阻和第一间隙的第一迹线回路，所述第一迹线回路能够连接到所述检验仪表，和
具有第二关联的电阻和第二间隙的第二迹线回路，所述第二迹线回路能够连接到所述检验仪表；
其中，所述第一电阻元件导电地连接到所述第一迹线回路以及桥接所述第一间隙；以及
其中，所述第二电阻元件导电地连接到所述第二迹线回路以及桥接所述第二间隙；
具有第二掩模构造、第三电阻元件、和第四电阻元件的第二检验条，所述第二掩模构造与所述第一掩模构造大致相似，所述第二掩模构造包括：
能够连接到所述检验仪表的第二测量电极，
具有第三关联的电阻和第三间隙的第三迹线回路，所述第三迹线回路能够连接到所述检验仪表，和
具有第四关联的电阻和第四间隙的第四迹线回路，所述第四迹线回路能够连接到所述检验仪表；
其中，所述第三电阻元件导电地连接到所述第三迹线回路以及桥接所述第三间隙；以及
其中，所述第四电阻元件导电地连接到所述第四迹线回路以及桥接所述第四间隙；以及
其中，所述检验仪表适合：
接收所述第一和第二检验条，
连接到所述第一和第二测量电极，
连接到所述第一和第二迹线回路，
通过比较所述第一和第二关联的电阻获得第一电阻比，
连接到所述第三和第四迹线回路，以及
通过比较所述第三和第四关联的电阻获得第二电阻比。
62.根据权利要求61所述的系统，其中，所述第一电阻比和所述第二电阻比不同。
63.根据权利要求61所述的系统，其中：
所述检验仪表适合当所述检验仪表接收所述第一检验条时确定所述第一电阻比是否与预先确定的值相关，以及
所述检验仪表适合当所述检验仪表接收所述第二检验条时确定所述第二电阻比是否与预先确定的值相关。
64.根据权利要求63所述的系统，其中：
如果所述第一电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
如果所述第二电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表检验生物流体的感兴趣的分析物。
65.根据权利要求63所述的系统，其中：
如果所述第一电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表抑制检验生物流体的感兴趣的分析物，以及
如果所述第二电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表抑制检验生物流体的感兴趣的分析物。
66.根据权利要求63所述的系统，其中：
如果所述第一电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表记录与所述第一检验条相关的信息，以及
如果所述第二电阻比与所述预先确定的值相关，所述检验仪表记录与所述第二检验条相关的信息。
67.根据权利要求63所述的系统，其中：
当所述检验仪表接收所述第一检验条时，所述检验仪表比较所述第一电阻比与至少两个离散的、不重叠的范围，以及
当所述检验仪表接收所述第二检验条时，所述检验仪表比较所述第二电阻比与所述至少两个离散的、不重叠的范围。
68.根据权利要求63所述的系统，其中：
所述第一电阻比和与所述第一检验条关联的校准信息相关，以及
所述第二电阻比和与所述第二检验条关联的校准信息相关。
69.根据权利要求63所述的系统，其中
所述第一掩模构造还包括具有第五关联的电阻和第五间隙的第五迹线回路，所述第五迹线回路能够连接到所述检验仪表，其中，所述第五电阻元件导电地连接到所述第五迹线回路以及桥接所述第五间隙；
其中，所述检验仪表适合连接到所述第五迹线回路以及通过比较所述第一和第五关联的电阻获得第三电阻比。
70.根据权利要求69所述的系统，其中，所述检验仪表适合当所述检验仪表接收所述第一检验条时确定所述第三电阻比是否与预先确定的值相关。
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