CN1839314B - 用于在生物传感器测试条上编码信息的系统和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,其中可以利用能由测试条所插入的测试仪读取的信息对该测试条进行编码。
Description
相关申请的参考
本申请也涉及名称为DEVICES&METHODS REALTING TO ANALYTESENSORS(U.S.专利申请序列号60/480,397,于2003年6月20日提交)和BIOSENSOR AND METHOD OF MAKING(代理人案卷编号7404-480,其是同一日期随同提交的)的申请,并且于此将它们整体引入作为参考。本申请要求于2003年6月20日提交的美国临时申请No.60/480,199的权益,于此将其内容引入作为参考。
技术领域
本申请涉及用于测量生物流体中分析物的浓度的设备。本发明更具体地涉及用于在生物传感器测试条上编码信息的系统和方法。
背景技术
测量生物流体中物质的浓度是用于许多医学情况的诊断和处理的重要工具。例如,在诸如血液的体液中葡萄糖的测量对糖尿病的有效治疗来说是至关重要的。
糖尿病治疗典型地包括两种类型的胰岛素治疗:基础和就餐时间。基础胰岛素涉及连续的、例如随着时间缓慢释放(time-released)的胰岛素,该胰岛素常常在睡眠之前服用。就餐时间胰岛素治疗提供附加剂量的更快起作用的胰岛素,以调节由多种因素引起的血糖的波动,所述多种因素包括糖和碳水化合物的新陈代谢。血糖波动的适当的调节需要血液中葡萄糖的浓度的精确测量。不能这样做会产生极端的并发症,包括失明和四肢的循环损失,其最终可能剥夺糖尿病患者使用他或她的手指、手、脚等的能力。
已知用于确定血样中诸如葡萄糖等分析物的浓度的多种方法。这样的方法典型地落入两个种类之一中:光学方法和电化学方法。光学方法通常包括光谱学,以观测由分析物的浓度引起的流体的光谱位移,典型地与当与分析物化合时产生已知颜色的试剂相结合。电化学方法通常依赖于电流(电流分析法)、电势(电势分析法)或累积电荷(库仑分析法)和分析物的浓度之间的相互关系,典型地与当与分析物结合时产生电荷载体的试剂相结合。例如参见美国专利:Columbus的4,233,029、Pace的4,225,410、Columbus的4,323,536、Muggli的4,008,448、Lilja等人的4,654,197、Szuminsky等人的5,108,564、Nankai等人的5,120,420、Szuminsky等人的5,128,015、White的5,243,516、Diebold等人的5,437,999、Pollmann等人的5,288,636、Carter等人的5,628,890、Hill等人的5,682,884、Hill等人的5,727,548、Crismore等人的5,997,817、Fujiwara等人的6,004,441、Priedel等人的4,919,770以及Shieh的6,054,039,特此将它们整体引入作为参考。用于进行测试的生物传感器典型地是在其上具有试剂的一次性测试条,其中所述试剂与生物流体中的感兴趣分析物发生化学反应。该测试条这样配合非一次性的测试仪,以致该测试仪可以测量分析物和试剂之间的反应,以便确定并向用户显示分析物的浓度。
确保测试条的正确识别以便确保正确的测试结果是这种测试仪/测试条系统中的惯例。例如,单个测试仪可能能够分析几种不同类型的测试条,其中将每种类型的测试条设计用于测试生物流体中不同分析物的存在。为了正确地进行测试,该测试仪必须知道应针对当前使用中的测试条执行哪种类型的测试。
每批测试条之间的偏差通常也要求将校准信息装载到测试仪中,以便确保精确的测试结果。将这种校准信息下载到测试仪中的惯例是使用被插入到测试仪的插槽中的电子只读存储器钥匙(ROM key)。因为该校准数据可能只对于测试条的具体生产批次来说是精确的,所以用户通常被要求确认当前使用中的测试条的批号匹配对ROM钥匙进行编程所针对的批号。
期望具有关于测试条的信息的许多其它情况对于本领域的技术人员来说是熟知的。现有技术尝试将信息编码到测试条上以便由测试仪读取,这遇到了许多问题,包括可被编码的信息的严格受限制的量,以及用于信息编码功能的相对大量的测试条表面积的使用。
因此,需要一种系统和方法,其将允许信息被编码到生物传感器上,以便由测试仪读取信息。本发明致力于满足该需要。
发明内容
本发明提供一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,其中可以利用能够由测试条所插入的测试仪读取的信息对测试条进行编码。
在本发明的一种形式中,公开了一种用于形成用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条的方法,该方法包括下面的步骤:提供基础的测试条设计,其包括:具有表面的基片和形成于其上的至少一个测量电极;在该基片表面之上形成的多个导电接触垫,其包括至少一个信息接触垫和至少一个测量接触垫;以及多个潜在导电链路,导电耦合多个接触垫中的不同接触垫;其中至少一个信息接触垫除了通过多个潜在导电链路中的一个或多个之外不耦合到至少一个测量电极中的任何一个,并且至少一个测量接触垫通过除了多个潜在导电链路中的一个或多个之外的路径耦合到至少一个测量电极中的一个;定义一组有效测试条设计:其中该组有效测试条设计中的每一个不包括多个潜在导电链路、包括多个潜在导电链路中的一个或多于一个;并且其中多个潜在导电链路中的至少一个将信息接触垫中的第一个耦合到第一有效测试条设计中的测量接触垫中的第一个,并且多个潜在导电链路中的至少一个将信息接触垫中的第一个耦合到第二有效测试条设计中的测量接触垫中的第二个;从该组有效测试条设计中选择一个设计;并且根据所述所选择的一个设计形成测试条。
在本发明的另一种形式中,公开了多个用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,多个测试条中的每一个除了多个潜在导电链路的存在或不存在之外基本上彼此相同,测试条中的至少一个包括:具有表面的基片和形成于其上的至少一个测量电极;形成于基片表面之上的多个导电接触垫,包括至少一个信息接触垫和至少一个测量接触垫;以及从多个潜在导电链路中选择的多个导电链路,其中多个导电链路将至少三个接触垫导电耦合在一起;其中至少一个信息接触垫除了通过多个潜在导电链路中的一个或多个之外不耦合到至少一个测量电极中的任何一个,并且至少一个测量接触垫通过除了多个潜在导电链路中的一个或多个之外的路径耦合到至少一个测量电极中的一个。
在本发明的另一种形式中,公开了一种用于形成用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条的方法,该方法包括下面的步骤:提供基础的测试条设计,其包括:具有表面的基片和形成于其上的至少一个测量电极;形成于基片表面之上的多个导电接触垫,包括至少一个信息接触垫和至少一个测量接触垫;以及导电耦合多个接触垫中的不同接触垫的多个潜在导电链路;其中至少一个信息接触垫除了通过多个潜在导电链路中的一个或多个之外不耦合到至少一个测量电极中的任何一个,并且至少一个测量接触垫通过除了多个潜在导电链路中的一个或多个之外的路径耦合到至少一个测量电极中的一个;定义一组有效测试条设计;其中该组有效测试条设计中的每一个不包括多个潜在导电链路,包括多个潜在导电链路中的一个或多于一个;并且其中该组有效测试条设计中的至少一个包括导电链路,所述导电链路将至少三个接触垫导电耦合在一起;从该组有效测试条设计中选择一个设计;并且根据所述所选择的一个设计形成测试条。
在本发明的另一种形式中,公开了一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,该测试条包括:具有表面的基片和形成于其上的至少一个测量电极;形成于基片表面之上的多个导电接触垫,包括至少一个信息接触垫和至少一个测量接触垫;以及至少一个导电链路,其导电耦合所述接触垫中的至少三个;其中至少一个信息接触垫除了通过所述至少一个导电链路中的一个或多个之外不耦合到至少一个测量电极中的任何一个,并且至少一个测量接触垫通过除了至少一个导电链路中的一个或多个之外的路径耦合到至少一个测量电极中的一个。
在本发明的另一种形式中,公开了一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,该测试条包括:具有表面的基片和形成于其上的至少一个测量电极;形成于基片表面之上的多个导电接触垫,包括至少一个信息接触垫和至少一个测量接触垫;以及至少一个导电链路,其导电耦合接触垫中的至少三个;其中至少一个信息接触垫除了通过至少一个导电链路中的一个或多个之外不耦合到至少一个测量电极中的任何一个,并且至少一个测量接触垫通过除了至少一个导电链路的中的一个或多个之外的路径耦合到至少一个测量电极中的一个。
在本发明的另一种形式中,公开了一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,该测试条适于插入到具有至少一个连接器接触件的测试仪中,该至少一个连接器接触件接触所插入的测试条,该测试条包括:具有上表面的基片;形成于基片上表面的至少一部分之上的导电层;和限定于基片上表面之上的至少一个预定接触垫位置;其中当至少一个连接器接触件接触测试条时,通过至少一个连接器接触件中相应的一个接触至少一个接触垫位置中的每一个;在所述接触垫位置中相应的一个中导电层的存在可操作地向测试仪指示二进制位的第一状态;并且其中在所述接触垫位置中相应的一个中导电层的不存在可操作地向测试仪指示二进制位的第二状态。
在本发明的另一种形式中,公开了一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的方法,其包括下面的步骤:提供具有至少一个连接器接触件的测试仪,该连接器接触件接触所插入的测试条,提供适于被插入到测试仪中的测试条,该测试条包括:具有上表面的基片;形成于基片上表面的至少一部分之上的导电层;以及限定于基片上表面之上的至少一个预定接触垫位置;使至少一个预定接触垫位置中的每一个与至少一个连接器接触件中相应的一个接触;响应于接触垫位置中相应的一个中导电层的存在而在测试仪中指示二进制位的第一状态;响应于接触垫位置中相应的一个中导电层的不存在而在测试仪中指示二进制位的第二状态。
附图说明
将参照附图、仅通过实例来进一步描述本发明,其中:
图1是用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的第一典型测试条的分解透视图;
图2是依据本发明的第一实施例测试条电极和接触垫布置的示意性平面图;
图3是示出针对图2的测试条的第一实施例编码序列的表格;
图4是用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的第二典型测试条的透视图;
图5图解说明了适用于本发明的烧蚀设备的视图;
图6是示出第二掩膜的图5的激光烧蚀设备的视图;
图7是适用于本发明的烧蚀设备的视图;
图8是用于校验测试仪中的校准数据对当前被插入到测试仪中的测试条的适用性的现有技术方法的示意性方法流程图;
图9是用于校验测试仪中的校准数据对当前被插入到测试仪中的测试条的适用性的本发明第一实施例方法的示意性方法流程图;
图10是依据本发明的第二实施例测试条电极和接触垫布置的示意性平面图;
图11是依据本发明的第三实施例测试条电极和接触垫布置的示意性平面图;
图12是说明最坏情况左公差累积的电连接器至测试条接触垫接口的示意性平面图;
图13是说明正常情况公差累积的、图12的电连接器至测试条接触垫接口的示意性平面图;
图14是说明最坏情况右公差累积的电连接器至测试条接触垫接口的示意性平面图;
图15是依据本发明的第四实施例测试条电极和接触垫布置的示意性平面图。
具体实施方式
为了促进对本发明的原理的理解,现在将参照在附图中图解说明的实施例,并且将使用特定语言来描述所述实施例。不过应理解的是并不打算限制本发明的范围。考虑、期望保护本发明所涉及的、如本领域的技术人员通常会想到的、所述装置的改变和修改以及如于此所描述的本发明原理的进一步的应用。具体地,尽管根据血糖仪讨论了本发明,但考虑可以将用于测量其它分析物和其它采样类型的装置与本发明一起使用。这种替代的实施例需要对于此讨论的实施例进行某些修改,这对本领域的技术人员来说将是显而易见的。
尽管可以将具有广泛种类的设计并且以广泛种类的构造技术和工艺制造的测试条与本发明的系统和方法一起使用,但在图1中图解说明了并且通常以10来表示典型的电化学测试条。参照图1,测试条10包括由不透明的350μm厚的聚酯片(比如可从DuPont得到的聚酯薄膜329)构成的底基片12,其中(例如,通过喷镀或气相沉积)在聚酯片的上表面上涂敷有50nm的导电(金)层。然后,通过激光烧蚀工艺使连接迹线和用于此的接触垫的电极在导电层中图案化。通过经过石英上铬(chrome-on-quartz)掩膜的受激准分子激光器来执行激光烧蚀工艺。掩膜图案引起激光场的部分被反射,同时允许该场的其它部分通过,从而在激光所接触的被烧蚀的金上产生图案。在下文将更加详细地描述激光烧蚀工艺。例如,可以如所示的那样形成工作20、计数器22、剂量充分工作24和剂量充分计数器26电极,并将其分别耦合至测量接触垫W、C、DW和DC。一旦将测试条10插入到测试仪中,这些接触垫提供待由测试仪的连接器接触件接触的、测试条10之上的导电区域。
然后在电极之上延伸的区域中给底基片12涂敷上如连续的、极其薄的试剂薄膜的试剂层14。试剂层14是在图1上标记为“试剂层”的区域中横越基片12的近似6毫米宽的条。例如,可以以每平方米涂敷表面积50克的湿涂敷重量涂敷该区域。常规地利用串联(in-line)干燥系统来干燥试剂条,在该干燥系统中额定空气温度是在110℃。处理的速率额定是每分钟30-38米,并取决于试剂的流变能力。
在基片12的情况中,这样以连续的卷动处理材料,以致电极图案与卷动的长度正交。一旦基片12已涂敷有试剂,在卷带式(reel-to-reel)工艺中将垫片16切开并放置于基片12上。将由在背侧面和腹侧面上涂敷有25μm PSA(疏水粘合剂)的100μm的聚酯(例如可从DuPont得到的聚酯薄膜329)所形成的两个垫片16施加到底基片12上,以致通过1.5mm分离垫片16,并且工作、计数器和剂量充分电极在该间隙中居中。将(利用在美国专利No.5,997,817中所述的工艺)由在腹侧面上涂敷有亲水薄膜的100μm的聚酯形成的顶部箔层18放置于垫片16上。亲水薄膜以10微米的额定厚度涂敷有Vitel和Rhodapex表面活性剂的混合物。利用卷带式工艺层压该顶部箔层18。然后,通过切开和切割可以由所得到的材料卷来制造所述测试条。
尽管在图1中所述的基础测试条10能够提供整个血样中血糖的精确测量,但它不能够为测试条所插入的测试仪提供任何用于识别关于测试条的任何信息的手段。本发明提供几个系统,通过所述系统可以将关于测试条的信息直接编码到测试条本身上,以致能够将所述信息传送至测试条所插入的测试仪。
在本发明的第一实施例中,通过添加两个或更多个专门用于读取这种编码信息的接触垫,可以将关于测试条的信息直接编码到测试条上。如图2中所述,将一对附加的信息接触垫B1和B2添加至测试条的近端。此外,以28、30、32、34和36来标识信息接触垫B1和B2之间以及它们与连接至测试条测试电极的测量接触垫之间的潜在导电链路。将这些链路命名为潜在导电链路,因为依赖于应被编码到测试条上的信息,这些链路可以在完成的测试条中存在或不存在。因此,“潜在导电链路”表示在一组另外基本上相同的测试条中的一些、但不是所有测试条上所发现的导电链路。如于此使用的,将短语“信息接触垫”定义为根本不导电耦合至测试条的测量电极或仅通过潜在导电链路这样耦合的测试条上的接触垫。如于此使用的,将短语“测量接触垫”定义为不管潜在导电链路存在或不存在而总是导电耦合至测试条的测量电极的、测试条上的接触垫。
具体地,潜在导电链路28耦合DC接触垫和B1接触垫。潜在导电链路30耦合B1接触垫和B2接触垫。潜在导电链路32耦合B2接触垫和C接触垫。潜在导电链路34耦合DC接触垫和B2接触垫。潜在导电链路36耦合B1接触垫和C接触垫。应指出的是,本发明的第一实施例仅仅例如说明信息接触垫B1和B2与测量接触垫DC和C之间的潜在导电链路,并且信息接触垫可以导电连接至测试条上的任何所期望的测量接触垫。
图3说明了示出形成于第一实施例的任一测试条之上的潜在导电链路28-36的可能组合的表格。表格的前五列表示潜在导电链路28-36中的每一个,其分别以C1-C5来标记。该表格的编号为0-8的九行中的每一行表示可利用潜在导电链路28-36来编码的不同数字。当编码行的数字时,表格位置中的“0”表示未形成潜在导电链路,而当编码该行的数字时,表格位置中的“1”表示形成潜在导电链路。需要指出,存在不允许的潜在导电链路的一些组合,因为DC接触垫和C接触垫不能在不损害测试条测量电极的测量功能的情况下导电连接。例如,当潜在导电链路34和36彼此交叉并因此将把DC接触垫导电连接至C接触垫时,不能同时使用潜在导电链路34和36。类似地,不可以同时使用潜在导电链路28、30和32。
图3的表格的最后两列分别被标记为B1和B2,并且表示当将该行的数字编码到测试条上时所标记的接触垫耦合至其它接触垫中的哪一个。例如,当将数字六(6)编码到测试条上(也就是在测试条上形成潜在导电链路28和32)时,B1接触垫导电耦合至DC接触垫,而B2接触垫导电耦合至C接触垫,但B1和B2不导电耦合至任何其它接触垫(包括彼此不导电耦合)。因此,测试仪对接触垫DC、B1、B2和C中的每一个之间的电阻(直接或间接)的测量将指示已将八(8)个可能的数字中的哪一个编码到测试条上。除了通过电阻或导电性的测量,本发明也包括用于确定测试条上潜在导电链路的存在或不存在的其它方法。作为非限制性的例子,通过利用电磁场感应和检测涡流,通过电容性手段,通过光学扫描技术,或通过对于本领域的技术人员来说将是显而易见的其它方法,也可以以非接触方式检测潜在导电链路。
需要指出,优选地不认为所有潜在导电链路28-36的不存在是有效状态,因为这可能是由擦除包括潜在导电链路28-36的测试条区域的局部缺陷引起的,但在其它的非优选的实施例中可以将该状态认为是有效状态。还应注意的是,不表示为图3的表格中的有效组合的、接触垫的组合之间的传导的读取将不被测试仪解释为具有非故意的短路的有缺陷的条。
应理解的是,在本发明中测量接触垫结合专用信息接触垫的使用以及潜在地将每一信息接触垫耦合到多于一个的测量接触垫的机会大大增加了可被编码到测试条上的数字的量。通过比较,本发明的第一实施例的两个(2)信息接触垫保守地允许八(8)个数字的编码。在JP 2000352034中公开的设计将仅允许利用两个信息接触垫的两个(2)可能的状态,而在EP 1152239A1中公开的设计将仅允许利用两个信息接触垫的四个(4)可能的状态。
一种如于此所描述的制备编码有信息的测试条的方法使用激光烧蚀技术。在于2001年5月25日提交的序列号为09/866,030的美国专利申请“Biosensors with Laser Ablation Electrodes with aContinuous Coverlay Channel”和于1999年10月4日提交的序列号为09/411,940的美国专利申请“Laser Defined Features forPatterned Laminates and Electrode”中描述了在制备生物传感器的电极时使用这些技术的例子,于此将这两个申请的公开内容引入作为参考。
在本发明中期望提供电气元件相对于彼此以及相对于整个生物传感器的精确布置。在优选实施例中,至少部分地通过以下方式来实现元件的相对布置,即使用通过具有电气元件的精确图案的掩膜或其它器件所执行的宽场激光烧蚀。这允许邻近边缘的精确定位,该精确定位通过边缘平滑的紧公差来进一步增强。
图4图解说明了有益于说明本发明的激光烧蚀工艺的简单的生物传感器401,其包括基片402,该基片具有形成于其上的导电材料403,所述导电材料403限定电极系统,该电极系统分别包括第一电极组404和第二电极组405,以及相应的迹线406、407和接触垫408、409。所述导电材料403可以包括纯金属或合金或其它为金属导体的材料。优选地,该导电材料在用于形成电极的激光的波长处是吸收性的,并且具有顺从于快速和精确处理的厚度。非限制性的例子包括铝、碳、铜、铬、金、铟锡氧化物(ITO)、钯、铂、银、氧化锡/金、钛、其混合物、以及合金或这些元素的金属化合物。优选地,导电材料包括贵金属或合金或者其氧化物。更优选地,导电材料包括金、钯、铝、钛、铂、ITO和铬。该导电材料的厚度范围从大约10nm至80nm,更优选地从30nm至70nm,而最优选地为50nm。应理解的是,导电材料的厚度依赖于材料的透射特性和涉及生物传感器的使用的其它因素。
虽然没有说明,但应理解的是,可以给所得到的图案化的导电材料涂敷或镀上附加的金属层。例如,导电材料可以是铜,然后利用激光将其烧蚀成电极图案;随后,可以给铜镀上钛/钨层,并且然后镀上金层,以形成所期望的电极。优选地,使用单层导电材料,其位于基片402之上。尽管通常不是必要的,但如在本领域中公知的,可以通过利用籽晶或诸如铬镍或钛的辅助层来增强导电材料至基片的粘附。在优选实施例中,生物传感器401具有单层金、钯、铂或ITO。
利用分别在图4、6和7中示出的两个设备10、10′来说明性地制造生物传感器401。应理解的是,除非另外说明,设备410、410′以相似的方式工作。首先参照图5,通过将一卷宽度为大约40mm的具有80nm的金叠层体的带420送入到定制的适合的宽场激光烧蚀设备410中来制造生物传感器401。设备410包括产生激光束412的激光源411、镀铬石英掩膜414、以及光学元件416。应理解的是,虽然所说明的光学元件416是单个透镜,但是光学元件416优选地是协作使光412成预定形状的多种透镜。
合适的烧蚀设备410(图5-6)的非限制性例子是商业上可从德国Garbsen的LPKF激光电子有限公司获得的、定制的MicrolineLaser 200-4激光系统,其结合商业上可从德国Goettingen的Lambda Physik公司获得的LPX-400、LPX-300或LPX-200激光系统和商业上可从International Phototool Company,ColoradoSprings,Co.获得的镀铬石英掩膜。
对于MicrolineLaser200-4激光系统(图5-6)来说,激光源411是LPX-200KrF-UV激光器。然而应理解的是,可以依据本公开内容使用更高波长的UV激光器。激光源411在248nm处工作,具有600mJ的脉冲能量以及50Hz的脉冲重复频率。通过电介质光束衰减器(未示出),可以在3%和92%之间无限地调节激光束412的强度。光束剖面是27×15mm2(0.62平方英寸),而脉冲持续时间为25ns。通过光学元件光束扩展器、均化器和物镜(未示出)均匀地投影掩膜414上的布局。通过测量能线图已经确定均化器的性能。成像光学元件416将掩膜414的结构转移到带420上。成像比率是2∶1,以便一方面允许大的面积被去除,但另一方面保持低于所应用的铬掩膜的烧蚀点的能量密度。虽然说明了2∶1的成像,但是应理解的是,依赖于所期望的设计需要,依据本公开内容,任何替代的比率数字都是可能的。带420如通过箭头425所示的那样移动,以允许大量的布局段被连续地烧蚀。
计算机控制掩膜414的定位、带420的移动和激光能量。如图5中所示,将激光束412投影到要烧蚀的带420上。通过掩膜414的空白区或窗418的光412烧蚀来自带420的金属。掩膜414的铬涂敷区域424阻断激光412,并阻止在那些区域中烧蚀,从而导致带420表面上的金属化结构。现在参照图6,电气元件的完整结构可能需要通过第二掩膜414′的附加烧蚀步骤。应理解的是,依赖于光学元件和要烧蚀的电气元件的尺寸,依据本公开内容,仅单个烧蚀步骤或多于两个的烧蚀步骤可能是必要的。此外,应理解的是,代替多个掩膜,依据本公开内容,可以在相同的掩膜上形成多个场。
具体地,合适的烧蚀设备410′(图7)的第二非限制性例子是商业上可从德国Garbsen的LPKF激光电子有限公司获得的定制激光系统,其结合商业上可从德国Goettingen的Lambda Physik公司获得的Lambda STEEL(稳定能量准分子激光)激光系统和商业上可从International Phototool Company,Colorado Springs,Co.获得的镀铬石英掩膜。所述激光系统特征是在308nm的波长处直到1000mJ的脉冲能量。此外,所述激光系统具有100Hz的频率。可以形成设备410′,以便如在图5和6中所示的那样以两次通过来生产生物传感器,但优选地它的光学元件允许在25ns的单次通过中形成10×40mm的图案。
在不希望束缚于具体理论的同时,可以相信,在带420上在小于1μm的表面402内吸收通过掩膜414、414′、414″的激光脉冲或光束412。光束412的光子具有足以引起在金属/聚合体分界面处光分解和化学键的迅速断开的能量。可以相信,这种迅速的化学键断开引起吸收区域中突然的压力增大,并迫使材料(金属薄膜403)从聚合体底面被喷射出。由于典型的脉冲持续时间是大约20-25毫微秒,非常快速地出现与所述材料的交互作用,并且使对导电材料403的边缘和周围结构的热损伤最小化。所得到的电气元件的边缘具有如本发明所预期的高边缘质量和精确布置。
用于从带420去除或烧蚀金属的流量能量依赖于形成带420的材料、金属薄膜对基底材料的粘附、金属薄膜的厚度、以及可能被用于将薄膜放置于基底材料上的工艺、也就是支承和气相沉积。用于上的金的流量水平的范围是从大约50mJ/cm2至大约90mJ/cm2,用于聚酰亚胺上的金的流量水平的范围是大约100至大约120mJ/cm2,用于上的金的流量水平的范围是大约60至大约120mJ/cm2。应理解的是,小于或大于上面所述的流量水平可以适用于依据本公开内容的其它基底材料。
通过利用掩膜414、414′实现带420的区域的图案化。每一掩膜414、414′说明性地包括掩膜场(mask field)422,该掩膜场422包括要形成的电极元件图案的预定部分的、精确的二维图。图5图解说明了包括接触垫和一部分迹线的掩膜区域422。如图6中所示,第二掩膜414′包括迹线的第二对应部分和包括指状物的电极图案。如先前所述,应理解的是,依赖于要烧蚀的区域的尺寸,依据本公开内容,掩膜414可以包括电极图案的完整图(图7)或者不同于在图5和6中所说明的那些图案的图案部分。优选地,可以设想,在本发明的一个方面中,同时用激光烧蚀测试条上的电气元件的整个图案,也就是宽场包围测试条的整个尺寸(图7)。在替代方案中,并且如图5和图6中所说明的,连续完成整个生物传感器的部分。
虽然在下文中将讨论掩膜414,但是应理解的是,除非另外说明,所述讨论也将适用于掩膜414′、414″。参照图5,被铬保护的掩膜场422的区域424将阻断激光束412到带420的投影。掩膜场422中的空白区或窗418允许激光束412通过掩膜414,并冲击带420的预定区域。如图5中所示,掩膜场422的空白区418对应于带420的应去除导电材料403的区域。
此外,掩膜场422具有通过线430示出的长度和如通过线432示出的宽度。给定LPX-200的2∶1的成像比率,应理解的是,掩膜的长度是两倍于所得到的图案的长度434的长度,并且掩膜的宽度432是两倍于在带420上所得到的图案的宽度436的宽度。光学元件416减小撞击带420的激光束412的尺寸。应理解的是,掩膜场422和所得到的图案的相对尺寸可以依据本公开内容而改变。掩膜414′(图6)用于完成电气元件的二维图。
继续参照图5,在激光烧蚀设备410中,受激准分子激光源411发射光束412,所述光束通过石英上铬掩膜414。掩膜场422引起激光束412的部分被反射,同时允许光束的其它部分通过,从而在金薄膜上被激光束412冲击处产生图案。应理解的是,带420相对于设备410可以是固定的,或在辊上连续移动通过设备410。因此,带420的非限制性的移动速率可以是从大约0m/min至大约100m/min,更优选地从大约30m/min至大约60m/min。应理解的是,带420的移动速率仅通过所选择的设备410来限制,并且依赖于依据本公开内容的激光源411的脉冲持续时间可以很好地超过100m/min。
一旦在带420上产生掩膜414的图案,就使该带反绕,并再次将其输送通过设备410,同时采用掩膜414′(图6)。应理解的是,替代地,依据本公开内容可以串联定位激光设备410。因此,通过利用掩膜414、414′,利用包括相同掩膜区域中的多个掩膜场422的步骤重复(step-and-repeat)工艺可以使带420的大区域图案化,以允许在基底的基片上经济地产生复杂的电极图案和其它电气元件、电极元件的精确边缘,以及从基底材料去除较大量的金属薄膜。
直接将信息编码到测试条上的能力可以显著增大测试条的能力,并增强它与测试仪的交互作用。例如在本领域中众所周知的是,给测试仪供给适用于任何给定制造批次的测试条的校准数据。典型地,这通过给只读存储器钥匙(ROM钥匙)供给每一小瓶测试条来完成,其中ROM钥匙已经在其上对适用于小瓶中的测试条的校准数据进行了编码。在利用来自小瓶的测试条之前,用户将ROM钥匙插入到测试仪中的端口内,使得测试仪可以访问所述数据,同时利用测试条执行测试。通过允许测试仪电子评估ROM钥匙数据对当前插入到测试仪中的测试条的适用性,可以验证测量结果的质量,而无需如在现有技术中已经教导的那样由光阅读器读取测试条上的条形码信息。
当前商业上可获得的产品要求用户针对当前所使用的测试条而验证正确的ROM钥匙已经被插入到测试仪中。例如,图8说明了用于验证ROM钥匙数据和测试条批标识(ID)数字之间的匹配的典型现有技术方法。在执行所述方法之前,已经将ROM钥匙插入到测试仪中,已将ROM数据加载到测试仪中,并关掉了测试仪。通过将测试条插入(步骤100)到测试仪中开始所述方法,这引起测试仪自动开启(步骤102)。该测试仪显示当前所加载的校准数据的批ID(步骤104),以便给用户机会来验证该批ID匹配于印于小瓶/包装上的批ID,其中所述小瓶/包装(例如)包括来自与当前被插入到测试仪中的测试条相同的生产批次的多个测试条。
因为所述方法依赖于用户执行该检查,所以没有办法保证这样做或如果这样做,则没有办法保证正确地这样做。图8的方法因此指示用于用户比较测试仪显示器上的批ID与测试条小瓶上的批ID(步骤106)并确定(步骤108)是否存在匹配的可选步骤。如果两个批ID不匹配,用户就应移走测试条(步骤110),并将匹配于测试条小瓶的ROM钥匙插入到测试仪中(步骤112),以致可以将正确的校准编码加载到测试仪中。该方法然后将在步骤100处以测试条的插入开始。一旦已经确定测试仪的校准编码批ID匹配于测试条的批ID(步骤108),就可以通过将血液施加到测试条上(步骤114)并开始血糖测量循环(步骤116)来继续测量序列。
应理解的是,在图8的现有技术方法中,用于验证测量校准数据的精确性的职责已被完全交给用户。有时遭遇用户忽略配备有测试条的规定使用指令。一个这样的例子是从在批次X中所制造的第一小瓶中移走测试条并将这些测试条合并到包括在批次Y中制造的测试条的第二小瓶中。因此,期望使批次特定的校准信息达到单个测试条水平,而代替如在现有技术中所做的那样达到小瓶水平。
为了从该方法中消除人为误差或忽略的可能性并因此提高测量的质量,本发明的信息接触垫允许测试仪自身执行关于当前所加载的校准数据对当前所插入的测试条的适用性的检查。在图9中说明了用于允许测试仪积极参与这种验证的本发明的第一实施例方法。以相同的附图标记对与图8中的对应步骤相同的图9的方法步骤进行了编号。
在执行所述方法之前,已将ROM钥匙插入到测试仪中,已将ROM数据加载到测试仪中,并关掉了测试仪。通过将测试条插入(步骤100)到测试仪中开始所述方法,这引起测试仪自动开启(步骤102)。测试仪然后测量测试条上已被指定用于将信息编码到测试条上的不同信息接触垫与测量接触垫之间的导电性,以便确定所述测试条的批或系列ID(步骤200)。依赖于可被编码到测试条上的信息的数量,可以或不可以将唯一的生产批号编码到测试条上。如果没有足够空间用于要编码的唯一的生产批ID,则仍可以将校准系列信息编码到测试条上。例如,可用于测试仪中的测试条可以是两个或更多个系列的,其中重要的差别存在于系列测试条设计之间。例如,两个系列可以在测试条上使用不同的试剂。在这种情况中,即使不能验证测试条的精确的生产批次,测试仪仍可以验证所加载的校准数据匹配于被编码到测试条上的测试条系列。因此,如于此使用的,短语“批ID”旨在包括识别测试条或校准数据所属的组的任何信息,即使该组不如测试条的生产批次那么小。
返回图9的方法,测试仪比较(步骤202)存储于当前被插入到测量仪中的ROM钥匙内的校准数据(或先前被加载到测试仪内部存储器中的校准数据)的批ID与从测试条读取的批ID。如果它们不匹配,测试仪则显示当前加载的校准数据的批ID(步骤204)和警告,以便给用户插入正确的测试条或将不同的ROM钥匙插入到测试仪中的机会。替代地,测试仪可以向用户简单地显示错误消息。在测试仪的结果存贮器208中标记(步骤206)批ID不匹配的事实,因此在存储器208中存在记录,即考虑到批ID的差异,所获得的测量结果是可疑的。替代地,用户会被禁止运行测试并且该方法可被中断。
因为在一些实施例中,如果批ID不匹配,则期望测试仪不被完全禁用,所以图9的方法表示用户比较测试仪显示器上的批ID和测试条小瓶上的批ID(步骤106)并且如果存在匹配就进行确定(步骤108)的可选步骤。如果两个批ID不匹配,用户就应移走测试条(步骤110),并将匹配测试条小瓶的ROM钥匙插入到测试仪中(步骤112),以致能够将正确的校准编码装载到测试仪中。该方法然后将在步骤100处以测试条的插入开始。
也可选地,如果测试仪具有在测试仪的内部存储器中存储多于一个的校准数据集的能力,测试仪就可以确定可被存储于测试仪中的校准数据的多个批ID并自动选择匹配当前插入到测试仪中的测试条的校准数据集。测试仪然后能够返回步骤114。
一旦已经确定测试仪的校准编码批ID匹配测试条的批ID(步骤108),就可以通过将血液施加到测试条上(步骤114)来继续测量序列并开始血糖测量循环(步骤116)。应理解的是,图9的方法表示相对于图8的现有技术方法的改进,因为当测试条的批ID与当前选择的校准数据集的批ID不匹配时自动警告用户。此外,如果利用该不匹配的组合进行测试,则标记测试仪中的结果存储器,以指示所述结果可能不如在使用正确的校准数据集的情况下的结果那么精确。
作为直接将信息编码到测试条上的实用性的另一例子,本发明允许测试条激活或去活被编程到测试仪中的某些特征。例如,可将单个测试仪设计成用于几个不同的地理市场,其中在每个市场中讲不同的语言。通过利用表示测试条在哪个市场中被卖出的信息来对测试条进行编码,所编码的信息可以引起测试仪以适用于该市场的语言显示用户指令和数据。也可将测试仪设计成在某一地理市场中销售,并且期望不与在不同地理市场中获得的测试条一起使用测试仪(例如当政府规定要求在一个地理市场中卖出的测试条具有与在其它地理市场中卖出的那些测试条不同的特征)。在这种情况中,通过测试仪可以使用被编码到测试条上的信息,以确定测试条不起源于指定的地理市场并且因此不能提供规定所要求的特征,在这种情况中可以中断或标记测试。
此外,可将商业模式(订购商业模式)应用于测试条的分发,其中不期望将测试条扩散到其它销售渠道中。例如,用户可以登记进入订购程序,在该订购程序中向他们提供为订购参与者的使用而设计的测试仪,并且可以在常规基础上(例如通过邮件或任何其他便利的传送形式)向订购参与者提供订购测试条。利用本发明的技术,可以对“订购测试条”进行编码,以表示它们被提供给订购参与者。为了多种原因,订购测试条的制造商可能不希望订购测试条在其它交易渠道中被卖出。阻止这样做的一种方式是设计提供给不是订购参与者的用户的测试仪,所述测试仪将不利用订购测试条工作。因此,本发明可以被用于提供测试仪给订购商业模型中的订购参与者,所述测试仪被编程以便接受被编码用于表示基于订购而被递送给用户的订购测试条,而其它测试仪被编程以便不接受被如此编码的订购测试条。
作为另一例子,测试仪可以具有被设计到测试仪中的某些功能(软件实现的和/或硬件实现的),当最初卖出测试仪时,所述功能没有被激活。然后可以在稍后的日期通过包括在稍后的时间被卖出的测试条上所编码的信息来升级测试仪的性能,所述信息将被测试仪识别为用于激活这些潜在特征的指令。如于此使用的,术语“激活测试仪的潜在特征”包括开启先前没有被激活的测试仪功能,以致测试仪功能此后保持无限期地被激活(也就是在完成利用本测试条的当前测试之后)。
利用本发明可被编程到测试条上的信息的另一个例子是测试条是被卖给医院市场还是消费者市场的指示。具有该信息可以允许测试仪相应地采取行动,例如为医院专业人员较不详细地显示用户指令。本领域的技术人员应理解的是,通过由本发明所提供的信息编码可以便于测试条和测试仪之间的多种类型的通信。
在图10中说明了允许信息被直接编码到测试条上的第二实施例测试条配置,并通常以300来表示该测试条配置。可以优选地通常如上面关于测试条10和401所述的那样形成测试条300,同时工作320、计数器322、剂量充分工作324和剂量充分计数器326电极可以如所示出的那样形成,并且分别耦合至测量接触垫W、C、DW和DC。一旦将测试条300插入到测试仪中,这些接触垫提供在测试条300之上的导电区域,以便由测试仪的电连接器接触件接触。测试条可以被形成为在测试条的末端具有样品入口(如图10中所示),或者被形成为如图1中所示在测试条的侧面具有样品入口。其信息编码部分的功能不受测量电极在任一位置中的定位影响。
从图10的检查可以注意到,形成围绕计数器电极接触垫C的区域,以提供导电层的相对大的扩展,该区域被分成信息接触垫位置B1-B7。在本发明的第二实施例中,依赖于什么数字应被编码到测试条300上,在测试条的制造过程中可以这样形成导电层,以致在接触垫位置B1-B7中的每一个中导电层存在或者不存在。应注意的是,计数器电极接触垫C常常形成有在该区域中存在的导电层,因为该接触垫对于进行测量来说始终是必要的。
当将测试条300插入到测试仪中时,通过位于测试仪中的多引脚电连接器的单个接触件接触所述接触垫C、W、DC和DW中的每一个以及接触垫位置B1-B7中的每一个。多引脚电连接器允许电信号从测试仪被施加至测试条,反之亦然。(通过本领域中众所周知的方法)对测试仪进行编程,以测量计数器电极接触垫C和接触垫位置B1-B7中的每一个之间的导电性。依赖于是否分别在接触垫位置B1-B7中的每一个中形成导电层,接触垫C因此可被选择性地导电耦合至接触垫位置B1-B7中的每一个。通过测量接触垫C和接触垫位置B1-B7中的每一个之间的导电性,测试仪能够确定在接触垫位置B1-B7中的每一个中导电层的存在或不存在。例如通过当在具体接触垫位置中存在导电层时赋予数字值“1”,而当在具体接触垫位置中不存在导电层时赋予数字值“0”,数字字可被编码到测试条300上。
应理解的是,利用本发明的第二实施例也可以实现上文中关于本发明的第一实施例所讨论的所有所期望的优点。第二实施例具有附加的优点,即因为接触垫位置B1-B7从不能导电耦合至多于一个的测量电极,所以不存在“禁止的”状态并且接触垫位置B1-B7中的每一个可以被编码为要编码到测试条上的、任何可能的七个数字的数字字中的“0”或“1”。这提供27或128个可能的唯一的字,利用接触垫位置B1-B7可将所述字编码到测试条上。一旦将测试条插入到测试仪中,可被指定用于这种信息编码的接触垫位置的数量就仅受测试条表面上的可用空间、用于限定测试条上的导电特征的工艺的分辨率、电连接器接触件间隔、以及与在接触垫位置上布置连接器接触件有关的公差累积限制。
此外,通过切断接触垫位置B1-B7中各对之间的导电路径可以进一步增加本发明的第二实施例中的可能状态的数量。因此,(例如)接触所述接触垫B1的连接器可以不仅利用接触垫C(如上文中所述的那样)来检查电连续性,而且利用其他接触垫B2-B7中的任何一个来检查电连续性。
上文中所述的激光烧蚀工艺允许先前利用诸如丝网印刷和光刻的现有技术不可实现的测试条导电特征的分辨率。因为这个原因,当利用激光烧蚀工艺形成导电特征时,可将相对大量的数据编码到测试条上。例如,在图11中说明了本发明的第三实施例,并通常以500来表示该第三实施例。除了激光烧蚀工艺的分辨率允许在测试条上形成更大数量的接触垫,测试条500类似于图10的测试条300。将与用于图10中的附图标记相同的附图标记给予图11中的等价结构。在测试条500上形成总共十六个接触垫,其中除了耦合至工作520、计数器522、剂量充分工作524和剂量充分计数器526电极的测量接触垫W、WS、C、CS、DW和DC之外,B1-B10被指定为信息接触垫。一旦将测试条500插入到测试仪中,这些接触垫提供在测试条500之上的导电区域,以便由测试仪的电连接器接触件接触。测试条可以被形成为在测试条的末端中具有样品入口(如图11中所示),或者被形成为如图1中所示在测试条的侧面具有样品入口。其信息编码部分的功能不受测量电极在任一位置中的定位影响。
如图10的第二实施例一样,从图11的检查中可以注意到,形成围绕计数器电极接触垫C的区域,以提供导电层的相对大的扩展,该区域被分成信息接触垫位置B1-B10。在本发明的第三实施例中,依赖于什么数字应被编码到测试条500上,在测试条的制造过程中可以这样形成导电层,以致在接触垫位置B1-B10中的每一个中存在或不存在导电层。如上面指出的,计数器电极接触垫C总是形成有在该区域中存在的导电层,因为该接触垫对于进行测量来说始终是必要的。
当将测试条500插入到测试仪中时,通过位于测试仪中的多引脚电连接器的各个接触件接触所述接触垫C、CS、W、WS、DC和DW中的每一个以及接触垫位置B1-B10中的每一个。多引脚电连接器允许电信号从测试仪被施加至测试条,反之亦然。对测试仪进行编程,以测量计数器电极接触垫C和接触垫位置B1-B10中的每一个之间的导电性。依赖于是否分别在接触垫位置B1-B10中的每一个中形成导电层,接触垫C因此可被选择性地导电耦合至接触垫位置B1-B10中的每一个。通过测量接触垫C和接触垫位置B1-B10中的每一个之间的导电性,测试仪能够确定在接触垫位置B1-B10中的每一个中导电层的存在或不存在。例如通过当在具体接触垫位置中存在导电层时赋予数字值“1”,而当在具体接触垫位置中不存在导电层时赋予数字值“0”,数字字可被编码到测试条500上。
应理解的是,如第二实施例一样,利用本发明的第三实施例也可以实现在上文中关于本发明的第一实施例所讨论的所有所期望的优点。像第二实施例一样,第三实施例具有附加的优点,即因为接触垫位置B1-B10从不能导电耦合至多于一个测量电极,不存在“禁止的”状态,并且可以将接触垫位置B1-B10中的每一个编码为要被编码到测试条上的、任何可能的十个数字的数字字中的“0”或“1”。这提供210或1024个可能的唯一的字,利用接触垫位置B1-B10可将所述字编码到测试条上。
此外,如第二实施例测试条300一样,通过切断接触垫位置B1-B10中的各对之间的导电路径,可以进一步增加本发明的第三实施例测试条500中可能的状态的数量。因此,接触(例如)接触垫B1的连接器可以不仅利用接触垫C(如上文中所述的那样)检查电连续性,而且利用其他接触垫B2-B10中的任何一个来检查电连续性。这大大增加可被编码到测试条500上的唯一的数字字的数量。
应注意的是,通过激光烧蚀工艺的使用在本发明中实现的接触垫密度表现出优于现有技术的显著进步。例如,公开的欧洲专利申请EP1024358A1公开了一种使用单个测试条上的多至35个接触垫的系统;然而,特征的密度是如此低,以致迫使发明人仅仅同时接触那些接触垫中的五个。这不仅比本发明需要更多的测试条表面积以形成相同数量的接触垫,而且测试仪不能进行每一接触垫之间的导电性检查,因为测试仪从不同时与多于五个的接触垫相接触。通过本发明的激光烧蚀工艺实现的特征尺寸的紧密控制允许使用以前在现有技术中从未实现的接触垫密度。例如,图10的实施例允许由测试仪连接器同时接触十一个接触垫。在图11的实施例中实现甚至更大的密度,其中可以由测试仪连接器同时接触十六个接触垫。因此,本发明的一些实施例优选地包括耦合至至少十个测试仪连接器接触件的至少十个测试条接触垫;更优选地包括耦合至至少十一个测试仪连接器接触件的至少十一个测试条接触垫;并且最优选地包括耦合至至少十五个测试仪连接器接触件的至少十五个测试条接触垫。
图12-14说明与图11的第三实施例测试条500配对的优选实施例多引脚电连接器。该电连接器被封装于(未示出的)测试仪中,并且当将测试条500插入到测试仪电连接器中时,包括当与测试条500上的各个接触垫配对时产生接触迹线502的多个接触件。图13说明了额定情况,在该额定情况中当测试条500与测试仪配对时,近似地将每个电连接器接触件定位在相应测试条500接触垫的中心处。在该优选实施例中,这样控制在测试条500上布置导电特征的公差以及相对于测试仪的测试条匹配端口布置电连接器接触件的公差,以致最坏情况公差累积仍将导致每一连接器接触件和相应接触垫之间的可靠接触。如在图12中可看出的,当全部公差处于它们的最大值以致于使连接器接触件相对于它们的相应接触垫向左移动时,仍定位电接触以进行与相应接触垫的可靠电接触,并且(如果存在它们的相应金属喷镀)即使连接器接触件与测试条的机械互动在插入过程中完全除去在接触迹线502的区域中的金属喷镀,全部接触垫B1-B10也仍电连接至接触垫C。类似地,如可从图14中看出,当全部公差处于它们的最大值以致于使连接器接触件相对于它们的相应接触垫向右移动时,仍定位电接触以进行与相应接触垫的可靠电接触,并且(如果存在它们的相应金属喷镀)即使连接器接触件与测试条的机械互动在插入过程中完全除去在接触迹线502的区域中的金属喷镀,全部接触垫B1-B10也仍电连接至接触垫C。
在图15中示意性地说明了本发明的第四实施例测试条,并将其表示为600。除了第四实施例仅使用测试条上的六个接触垫之外,该测试条600类似于图10的测试条300。本发明考虑利用更少或更多接触垫的实施例。将与用于图10中的附图标记相同的附图标记给予图15中的等价结构。所述测试条包括工作电极320、计数器电极322、剂量充分工作电极324、以及两个潜在剂量充分计数器电极326A和326B。这些电极中的每一个耦合至形成于测试条600上的至少一个接触垫。
工作电极320耦合至W和WS接触垫。尽管如下文中所说明的那样将哪一个接触垫指定为C是可选的,计数器电极322耦合至C接触垫和CS接触垫。剂量充分工作电极324耦合至DW接触垫。尽管如下文中所说明的那样将哪一个接触垫指定为DC是可选的,剂量充分计数器电极326A/326B耦合至DC接触垫。
依赖于在测试条600上形成两个潜在导电链路602和604中的哪一个,测试条600允许单个二进制位被编码到测试条600上。在测试条600上优选地形成潜在导电链路602/604中的至少一个,并且不能同时形成潜在导电链路602/604,而不丧失第二单独剂量充分电极功能。
如果在测试条600上形成潜在导电链路602并且不形成潜在导电链路604,接触垫606就变成C接触垫(因为它通过潜在导电链路602耦合至计数器电极322)。在不存在潜在导电链路的604的情况下,电极326B起实际剂量充分计数器电极的作用,并且接触垫608变成DC接触垫。
类似地,如果在测试条600上形成潜在导电链路604并且不形成潜在导电链路602,接触垫608就变成C接触垫(因为它通过潜在导电链路604耦合至计数器电极322)。在不存在潜在导电链路602的情况下,电极326A起实际剂量充分计数器电极的作用,并且接触垫606变成DC接触垫。
一旦将测试条600插入到测试仪中,测试仪就可以通过检查CS接触垫和接触垫606之间的导电性来容易地确定潜在导电链路602是否存在。这两个接触垫之间的导电性指示潜在导电链路602的存在。类似地,通过检查CS接触垫和接触垫608之间的导电性,测试仪可以确定潜在导电链路604是否存在。这两个接触垫之间的导电性指示潜在导电链路604的存在。一旦测试仪已经确定存在哪一个潜在导电链路602/604,它此后就知道将哪一个接触垫视为C接触垫并且将哪一个接触垫视为DC接触垫。在一个实施例中,测试仪仅检查潜在导电链路602/604中的一个的存在或不存在,并假定另一个潜在导电链路602/604分别是不存在或存在的。在另一实施例中,测试仪确认两个潜在导电链路602/604的存在或不存在,这是更稳健的方法,因为它更有可能检测出损坏的测试条。
在另一实施例中,被插入到测试仪中的编码钥匙告诉测试仪应预期两个可能配置中的哪一个。该测试仪然后检查以查看预期的接触垫606/608是否耦合至CS接触垫。如果不存在预期的连接,测试仪则检查以查看另一接触垫606/608是否耦合至CS接触垫。如果错误的接触垫606/608耦合至CS接触垫,测试仪就指示编码钥匙错误(也就是编码钥匙已经被插入到不匹配插入到测试仪中的测试条的测试仪)。如果接触垫606/608都不耦合至CS接触垫,测试仪就指示条错误(也就是测试条是有缺陷的,并且不能被使用)。
比分配接触垫功能更重要地,通过确定哪一个潜在导电链路602/604存在,已经向测试仪供给来自测试条600的一个信息位。所述单个信息位可以传送重要的信息至测试仪,诸如是否将测试条设计用于测试第一分析物或第二分析物,测试仪应在哪寻找涉及测试条的校准信息等。因此,通过简单地重新分配测试条上的一些接触垫的功能来供给单个信息位,可以容易地向测试仪提供关于已经被插入到其中的测试条的重要信息。
因此,将于此引用的所有出版物、现有技术申请和其它文献以其整体引入作为参考,就好像每一个已被分别引入作为参考并被完全阐述。
虽然在附图和前面的描述中已经详细说明和叙述了本发明,但应认为该描述是说明性的,并在性质上不是限制性的。已经示出仅仅优选的实施例和某些其它实施例,其被认为在进一步解释如何进行或利用优选实施例方面是有帮助的。期望保护在本发明的精神范围内的全部改变和修改。
Claims (9)
1.一种用于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条,所述测试条包括:
具有上表面的基片;
形成于所述上表面上的导电层,所述导电层包括测量电极;和
在所述上表面之上限定的至少一个接触垫位置;
其中,每一接触垫位置能选择性地包括导电层,每一个包括导电层的接触垫位置导电连接到测量电极,并且每一个不包括导电层的接触垫位置与测量电极导电分离;
其中,在所述接触垫位置中相应的接触垫位置中导电层的存在可操作用于向测试仪指示二进制位的第一状态;而在所述接触垫位置中相应的接触垫位置中导电层的不存在可操作用于向测试仪指示二进制位的第二状态。
2.权利要求1的测试条,所述测试条适于被插入到测试仪中,该测试仪具有至少一个接触所插入的测试条的连接器接触件,其中当将所述测试条插入到测试仪中时,通过相应的连接器接触件接触至少一个接触垫位置中的每一个。
3.权利要求1-2中的任何一个的测试条,其包括至少七个预定接触垫位置。
4.权利要求1-2中任何一个的测试条,其中,测试条包括至少十二个预定接触垫位置。
5.权利要求1-2中任何一个的测试条,其中,导电材料覆盖所述基片的所述上表面的邻接区域。
6.权利要求1-2中任何一个的测试条,其中,根据影响测量分析物的浓度的测试条的至少一个特性来选择在每一个预定接触垫位置中导电层的存在或不存在。
7.一种用于从适于测量生物流体中感兴趣分析物的浓度的测试条读取数据的方法,包括下面的步骤:
提供具有至少一个接触所插入的测试条的连接器接触件的测试仪;
提供适于被插入到测试仪中的测试条,该测试条包括具有上表面的基片、形成于基片上表面的至少一部分上的包括测量电极的导电层、以及在基片上表面之上限定的至少一个预定接触垫位置,其中每一接触垫位置能选择性地包括导电层,每一个包括导电层的接触垫位置导电连接到测量电极,并且每一个不包括导电层的接触垫位置与测量电极导电分离;
同时使接触垫位置中的每一个接触相应的连接器接触件;
响应于在所述接触垫位置中相应的接触垫位置中导电层的存在,在测试仪中指示二进制位的第一状态;以及
响应于在所述接触垫位置中相应的接触垫位置中导电层的不存在,在测试仪中指示二进制位的第二状态。
8.权利要求7的方法,其中,至少一个预定接触垫位置包括至少七个预定接触垫位置。
9.权利要求8的方法,其中,至少一个预定接触垫位置包括至少十二个预定接触垫位置。
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