CN101103361B - 用于测试rfid器件的方法和系统 - Google Patents
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Abstract
一种用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件的方法和系统。在一个具体实施例中，RFID器件沿载体的长度方向均匀地间隔排列，所述系统包括短距离测试器，长距离测试器和计算机，所述短距离测试器连接到计算机并具有短距离测试位置，所述长距离测试器连接到计算机并具有长距离测试位置。长距离测试位置位于短距离测试位置下游，与其间隔一定数量设备位置。在使用中，所关心的RFID器件首先被定位在短距离测试位置，并且短距离测试器读取RFID器件的唯一标识符并将该标识符传送到计算机。然后载体被向前推进以使后续的RFID器件由短距离测试器读取。当所关心的RFID器件推进到所述长距离测试位置时，长距离测试器进行性能测试并将任何探测到的结果发送给计算机。因为两个测试位置之间的距离是已知的，计算机知道何时所关心的RFID器件位于长距离测试位置，并使用标识符区别该设备的结果和任何其它设备的结果。
Description
技术领域
本发明一般涉及用于测试射频识别(RFID)设备的方法和系统。特别涉及一种用于测试RFID器件的新颖的方法和系统。
背景技术
在许多情况下，以高效且无线的形式检索有关所关心物体信息的能力是非常重要的。例如，许多当前制造和分配方法要求用于检索与库存物体相关信息的无线技术，其中检索技术可被用于，例如，从库存物体的制造时刻一直到销售给消费者的时刻跟踪该库存物体的位置。用于检索有关物体的信息的一项众所周知的无线技术包括将该物体连接到射频识别(RFID)设备，该设备存储了该物体相关信息的并将这些信息无线传输到一个电子阅读器以响应无线询问。存储在RFID器件上的信息的类型包括，例如，唯一识别号，有效期，“诞生”日，制造信息，运输状态，价格信息等。
一个众所周知的RFID器件类型包括天线和安置在天线上的集成电路(IC)芯片，IC芯片已被编程以储存所需信息。当接收到询问信号时，IC芯片将所述已编程信息转换成对应的电磁信号，该信号通过天线以无线射频波传播。
典型地，多个上面所描述类型的RFID器件被制造在公共的载体连结板上，RFID器件的天线安置在载体连结板上，IC芯片安置在他们各自的天线上。单个RFID器件和它的下层部分载体连结板的组合在本领域通常被称作RFID嵌体。RFID嵌体的互连连结板被制造者制成卷状以便运输和消费者的进一步处理(消费者经常叫做“转换者”)。例如，转换者从连结板中切割单个RFID嵌体并且之后使用塑料扣件或者其它附着装置将单个RFID嵌体附着到相应的所关心的物体。替代性地，卷制造者可进一步处理RFID嵌体的连结板以产生一个粘性RFID标签连结板(参见，例如，USSN 10/961,590，在此其被并入本文作为参考)，这样转换者可以将这个样子的标签分配到物体上，或者转换者可在将标签分配到所关心物体上之前在标签上打印文字、图像或其它符号来定制标签。
应该意识到，如果有人希望能够检索与所需物体相关的信息，则不应该将有缺陷的RFID器件应用到物体。不幸的是，目前估计有缺陷的RFID器件大约占所生产的全部RFID器件的1-20％那么高，因此出现有缺陷的RFID器件是不可忽略的现象。因此，通常在RFID器件被应用到物体之前测试RFID器件的性能。这种测试是由卷制造者在将卷运到转换者之前执行，制造者应使用合适的印制标号(比如黑点)将有缺陷的嵌体或者标签标出来。这种测试也可在分配之前由转换者执行，这是因为在制造者测试之后，缺陷可能在卷运输或者卷操作中发生。由于随后阶段的成本和生产量，通常希望在供应链中能尽可能早地识别缺陷嵌体。
目前，RFID器件的测试的典型实施是通过一个或者两个不同的测试技术，也就是短距离测试和长距离测试。这两种测试技术反映了存在于天线周围区域电磁物理性质的不同。在一天线的周围有三个普遍接受的区域，也就是(i)反应近场(天线影响区域从零距离到大约R＜＝ё/2
(在915MHz，～52mm))，(ii)辐射近场区域(此处R＞ё/2且R＜2D^2/ё，此处D是天线孔径最大尺寸)，和(iii)辐射远场区域(此处R＞2D^2/ё)。短距离测试包括反应近场内的测试，长距离测试包括辐射近场或者辐射远场内的测试。总之，长距离测试对现实生活应用可能更真实，其中RFID器件可能被应用到一个物体并然后在辐射近场或者远场区域内被询问。长距离测试的一个问题是，因为共同载体连结板上RFID器件彼此之间很接近，测试器发射的询问信号常常引起多个邻近RFID器件的响应，许多这种响应都会同时被测试器探测到。因为当前没有方法使响应RFID器件的响应与响应RFID器件的物理位置相关联(因为RFID器件的唯一标识符常常不遵循特别的顺序并且事实上是随机的)，即使阅读器知道存在有缺陷的设备，仍然没有方法知道响应设备中的哪个是检测到的有缺陷的设备。
前述问题的一个解决方法是在连结板上放置一个有孔的金属罩，这样在询问信号范围内所有的设备除了定位在孔径内的设备外，其它设备都被屏蔽而不接受询问信号。这种方法的一个例子在2000年8月15日授权的发明者为Beauvillier等人的美国专利号6,104,291中公开，其在此被并入本文作为参考。这种方法的一个缺点是屏蔽自身，代表远离“场内”设备被常常暴露的操作条件，可能影响正被测试的设备的性能特性。
短距离测试的例子在国际公开号No.WO2004/072892 A2中揭示，其于2004年8月24日公开，在此将其并入本文作为参考。在这种类型的短距离测试中，询问器电容耦合到将要测试的特定设备。
虽然短距离测试大体上克服了多个设备被一个询问同时激活的问题，但RFID器件在近场反应区域的行为与在近场和远场辐射区域所期望的不同，因此，不加另外分析而确定测试结果对现实生活应用有效是不可信的。
其它文件可能会有用，如下所示，在此被并入本文作为参考：美国专利号6,784,789，发明者Eroglu等人.，授权于2004年8月31日；美国专利号6,721,912，发明者Burger等人.，授权于2004年4月13日；美国专利号6,487,681，发明者Tuttle等人.，授权于2002年11月26日；美国专利号6,412,086，发明者Friedman等人.，授权于2002年6月25日；美国专利号6,275,043，发明者
等人.，授权于2001年8月14日；美国专利号6,259,353，发明者Berger等人.，授权于2001年7月10日；美国专利号6,236,223，发明者Brady等人.，授权于2001年5月22日；美国专利号6,058,497，发明者Tuttle，授权于2000年5月2日；和美国专利号5,983,363，发明者Tuttle，授权于1999年11月9日。
发明内容
根据各种可能的示例性实施例，本发明提供了一种用于测试RFID器件的新颖的方法和系统，尤其是用于测试安置在连结板或者其他公共载体上的多个RFID器件，这克服了至少上面提到的和用于测试RFID器件的现有方法和系统有关的一些缺陷。
本发明至少部分基于下列发现，在那些实例中，其中RFID器件互相被充分靠近地定位以至于当所关心的RFID器件被长距离测试器询问时相邻的一个或多个RFID器件会同时响应，一个人可通过将短距离测试器定位离开长距离测试器一已知间隔，使用短距离测试器读/写所关心RFID器件的唯一标识符并然后使用所关心的RFID器件的唯一标识符确定所关心的RFID器件的长距离测试结果，从而确定所关心的RFID器件的长距离测试结果。
因此，根据本发明的一个方面，提供了一种用于测试紧密地间隔排列在一起的多个RFID器件中至少一个的系统，所述系统包括(a)短距离测试器，其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符；(b)长距离测试器，其用于测试定位在长距离测试器位置的RFID器件，所述长距离测试位置间隔离开所述短距离测试位置一预先确定的距离；(c)将RFID器件从所述短距离测试位置和所述长距离测试位置中的一个移动到另一个的装置；以及(d)用于区别定位在长距离测试位置的RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时被探测到的RFID器件的结果。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于测试紧密地间隔排列在一起的多个RFID器件中至少一个的系统，所述系统包括(a)短距离测试器，其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符；(b)长距离测试器，用于测试定位在长距离测试器位置的RFID器件，所述长距离测试位置间隔离开所述短距离测试位置一预先确定的距离；(c)将RFID器件从所述短距离测试位置移动到所述长距离测试位置的装置；以及(d)用于促使长距离测试器只询问定位在长距离测试位置的RFID器件。
仍根据本发明的另一个方面，提供了一种用于测试多个RFID器件中至少一个的方法，RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，每个RFID器件具有唯一标识符，所述方法包括以下步骤：(a)提供测试系统，所述测试系统包括读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开一已知距离，以及一个连接到短距离测试器和长距离测试器中每个的计算机；(b)定位公共载体以使所述第一RFID器件被定位在短距离测试位置；(c)当第一RFID器件被定位在短距离测试位置时，使用短距离测试器读取第一RFID器件的唯一标识符；(d)将第一RFID器件的唯一标识符的特性(identity)传送到计算机；(e)定位公共载体以使第一RFID器件被定位在长距离测试位置；(f)当第一RFID器件被定位在长距离测试位置时，使用长距离测试器测试第一RFID器件的性能；(g)将长距离测试器读取的所有结果传送到计算机；以及(h)基于第一RFID器件的唯一标识符，使用计算机区别第一RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时探测到的RFID器件的结果。
仍根据本发明的另一个方面，提供了一种用于测试多个RFID器件中的至少一个的方法，RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，所述方法包括以下步骤：(a)提供测试系统，所述测试系统包括读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开一已知距离，以及连接到短距离测试器和长距离测试器中每个的计算机；(b)定位公共载体以使第一RFID器件被定位在短距离测试位置；(c)当第一RFID器件被定位在短距离测试位置时，使用短距离测试器读取/写入第一RFID器件的唯一标识符；(d)将第一RFID器件的唯一标识符的特性传送到计算机；(e)定位公共载体以使第一RFID器件被定位在长距离测试位置；(f)当第一RFID器件被定位在长距离测试位置时，使用长距离测试器测试第一RFID器件的性能，所述长距离测试器只询问第一RFID器件；(g)将长距离测试器读取的所有结果传送到计算机。
仍根据本发明的另一个方面，提供了一种用于测试多个RFID器件中的至少一个的方法，RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，所述方法包括以下步骤：(a)提供测试系统，所述测试系统包括用于将唯一标识符写到定位于短距离测试位置的RFID器件的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开一已知距离；(b)定位公共载体以使第一RFID器件被定位在短距离测试位置；(c)当第一RFID器件被定位在短距离测试位置时，使用短距离测试器将唯一标识符写到第一RFID器件上，计算机已知第一RFID器件的唯一标识符的特性；(d)定位公共载体以使第一RFID器件被定位在长距离测试位置；(e)当第一RFID器件被定位在长距离测试位置时，使用长距离测试器测试第一RFID器件的性能；(f)将长距离测试器读取的所有结果传送到计算机；以及(g)基于第一RFID器件的唯一标识符，使用计算机区别第一RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时探测到的RFID器件的结果。
仍根据本发明的另一个方面，提供了一种用于测试多个RFID器件的方法，RFID器件沿公共载体长度方向被均匀地间隔排列，每个RFID器件都具有唯一标识符，所述方法包括以下步骤：(a)提供测试系统，所述测试系统包括读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机，短距离测试位置和长距离测试位置以公共载体上一个或多个RFID器件的位置分隔开；(b)定位公共载体以使第一RFID器件被定位在短距离测试位置；(c)当第一RFID器件被定位在短距离测试位置时，使用短距离测试器读取第一RFID器件的唯一标识符；(d)将第一RFID器件的唯一标识符的特性传送到计算机；(e)重新定位公共载体以使第二RFID器件被定位在短距离测试位置，在公共载体上第二RFID器件被连续地定位于第一RFID器件之后；(f)当第二RFID器件被定位在短距离测试位置时，使用短距离测试器读取第二RFID器件的唯一标识符；(g)将第二RFID器件的唯一标识符传送到计算机；(h)根据需要对位于第二RFID器件之后的一个或多个RFID器件重复步骤(e)到(g)，直到第一RFID器件被定位于长距离测试器位置；(i)当第一RFID器件被定位于长距离测试位置时，使用长距离测试器测试第一RFID器件的性能；(j)将长距离测试器读取的所有结果传送到计算机，且第一RFID器件位于长距离测试位置；以及(k)基于第一RFID器件的唯一标识符，使用计算机区别第一RFID器件的长距离测试的结果和任何其它探测到的RFID器件的结果。
对本说明书和权利要求书来说，当以给定方向定位或观察所述发明时，各种相关术语如“顶”、“底”、“之上”和“之下”都被用于描述本发明。将要知道的是，通过改变发明的定向，某些相关术语因此可能需要被调整。
另外的物体，以及本发明的特征、优势和一些方面，将在以下描述被部分阐述，并且部分在描述中将容易理解，或者可以从发明的实施中学懂。在描述中，为附图做一些引用，所述引用构成附图一部分，并且其中以实施本发明的特定实施例说明的方式显示。这些实施例给出足够详细的描述，使本领域技术人员可以实施本发明，将要理解的是，在不偏离本发明主旨的情况下，可以利用其他实施例，并且可以有结构上的改变。因此，下面的详细描述并不作为限制，本发明的范围由权利要求最好地限定。
附图说明
附图，在此处合并并组成了本说明书的一部分，与本说明一起说明了本发明的优选实施例，用于解释本发明的原理。在附图中，同样的引用号表示同样的部分：
图1(a)和1(b)分别是是根据本发明的教导构建的系统的第一实施例的片断的示意俯视图和示意侧视图，所述系统用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件(图1(a)中一些隐藏的元件用虚线示出)；
图2(a)和2(b)分别是是根据本发明的教导构建的系统的第二实施例的片断的示意俯视图和示意侧视图，所述系统用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件(图2(a)中一些隐藏的元件用虚线示出)；
图3是根据本发明的教导构建的系统的第三实施例的控制软件的示意图，所述系统用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件；和
图4是根据本发明的教导构建的系统的第四实施例的控制软件的示意图，所述系统用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件。
具体实施方式
现在参照图1(a)和1(b)，分别显示的是用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件的系统的第一实施例的片断的示意俯视图和示意侧视图，所述系统是根据本发明的教导而构建的并通常由引用号11表示。为促进对系统11的结构和操作的理解，系统11被显示为用于测试被间隔开并可拆卸地安置在公共载体15上的多个RFID标签13-1到13-25。在所示的具体实施例中，标签13和载体15是以卷状形式出现的并且从释放盘(unwind reel)14-1被引导到收卷盘(take-up reel)14-2，然而应该意识到标签13和载体15可以片状形式替代出现。RFID标签13-1到13-25分别包括IC芯片17-1到17-25(IC芯片17-1到17-25在图1(a)虚线中示出)，每个IC芯片17通常都由芯片制造者编程且具有唯一的标识符，所述标识符通常采用64位或者96位数据的形式。对本发明来说，可以假定预编程的标识符不遵循芯片17-1到17-25之中的任何特定顺序，也就是，芯片17-1到17-25相对于它们的标识符在位置上实际上是随机化的。
系统11包括用于将标签13卷从释放盘14-1引导到收卷盘14-2(也就是，以箭头A的方向)的装置。在本实施例中，所述引导装置包括一对卷轴16-1和16-2。释放盘14-1安装并连接到卷轴16-1，收卷盘14-2安装并连接到卷轴16-2上。卷轴16-1和16-2可以箭头B的方向转动。卷轴16-2连接到驱动卷轴16-2转动的马达18上。马达18又被连接到计算机19，计算机19控制马达18的操作。在本实施例中，计算机19使马达18以移位方式(indexing fashion)将标签13卷向前推进，一次一个标签位，以使每个标签13在每一个如下指定的测试位置都会被测试。然而应该意识到被测试时标签不需要是静止的，并且标签13的卷可以连续的方式前进，也就是，不用移位。还应该理解的是，系统11可包括连接到计算机19的光学或其它寄存传感器(未示出)以用于同步马达18和/或下面要讨论到的系统11其他元件的操作。
系统11还包括短距离测试器21。短距离测试器21实际上是常规的，其相对于载体15被适当地定位以一次读取一个RFID标签13，由短距离测试器21读取的特定RFID标签13(在此例中，标签13-2)被定位在反应近场内的短距离测试位置20(图1(a)中虚线所示)。短距离测试器21未被用于进行被询问RFID标签13的性能测试，而仅用于读取它的芯片17的唯一标识符。当每个芯片17的标识符被短距离测试器21读取时，该信息被传送到计算机19，该计算机储存标识符信息并记录各种标识符被读取的顺序。(如果标签13有缺陷以致它的标识符不能被短距离测试器21读取，标签13的缺陷情况被计算机19记录)。在上面的方式中，载体15上标签13-1到13-25的相对位置由系统11决定。
如果芯片17是没有采用标识符预编程的类型，短距离测试器21优选被用于将唯一的标识符写到每个芯片17上。优选地，唯一标识符被排序以提供有关各个芯片的位置信息，但它们不需要这样做。
系统11还包括一个长距离测试器23。长距离测试器23实际上是常规的，其被定位在短距离测试器21的下游以测试标签13(在此例中，标签13-12)，标签13被定位在辐射近场或远场内的长距离测试位置24(图1(a)中虚线所示)，长距离测试位置24离开短距离测试位置20一预先确定的距离(例如，长距离测试位置24可位于短距离测试位置20下游十个标签处)。由长距离测试器23进行的测试类型可能是简单的读/非读测试类型或者可包括更改询问器信号的功率和/或频率以确保可以达到或保持在所需的性能水平。如果标签13在短距离测试位置20被识别为不可读，由长距离测试器23在长距离测试位置24对标签13的性能测试优选被跳过。如果需要，样本S比如标签13可用于的药瓶、瓦楞箱(corrugatedcontainer)或者其它此类型的物体，可被定位在正好载体15下的长距离测试位置24，以更加接近地模仿一旦将标签13应用在物体和实际应用中标签所经历的情况。被长距离测试器23检测到的响应发送到计算机19以采用下面讨论的方式分析。
需要注意的是，由于系统11不使用屏蔽询问信号的装置来只从定位在长距离测试位置24的标签13引出响应(在此例中，标签13-2)，一个或多个相邻的标签13可响应询问，这些响应每个均包括响应标签13的标识符。然而，尽管长距离测试器23除了检测来自定位在长距离测试位置24的标签13的信号之外，还检测来自一个或多个标签13的信号，在长距离测试位置24的标签13的响应仍然可以被计算机19识别出。这是因为在短距离测试位置20和长距离测试位置24之间的间隔是已知的，还因为各种标签13的标识符的相对顺序是已知的。因此，为识别定位在长距离测试位置24的标签13的响应，计算机19只需要认出在n个标签位置之前其标识符由短距离测试器21读出的响应，此处长距离测试位置24和短距离测试位置20之间由n个标签位置隔开。换句话说，如果短距离测试位置20和长距离测试位置24之间的间隔为十个标签位置，那么在长距离测试位置24的标签13的响应是其标识符由短距离测试器21在十个标签位置之前读取的响应。这种确定可很容易被计算机19实现。
应该理解的是，代替长距离测试器23读取来自响应标签13的所有响应并然后使计算机19基于其标识符识别所关心的响应，计算机19可以仅指示长距离测试器23只询问具有所关心标识符的标签13。
还应该理解的是，计算机19执行的功能可被替代性地实施为短距离测试器21和长距离测试器23两者或者其中之一的逻辑功能。
系统11还包括一个打印机或者标记器31。打印机31可以是用来在RFID标签上打印记号的常规的打印机类型，它被定位在长距离测试器23的下游并被调整以适合在位于打印位置33(如图1(a)虚线所示)的标签13(在此例中，标签13-22)上打印记号，打印位置33离开长距离测试位置24一预先确定的距离(例如，打印位置33位于长距离测试位置24下游十个标签位置处)。打印机31连接到计算机19上并且它的操作由计算机19控制。在本实施例中，当计算机19识别出有缺陷的标签13时，当标签13位于打印位置33时，计算机19指示打印机31将标签13标为有缺陷的。
应该意识到，系统11可以被改动以包含以预先确定的标签位置间隔从长距离测试器23向下游排列的一个或多个额外的长距离测试器。这些额外的长距离测试器可被用于测试位于一种或多种类型的样本之上的标签13，所述样本与定位在处于长距离测试位置24的标签之下的样本是不同的。(例如，第一样本可能是一个塑料物体，比如药瓶，第二样本可能是瓦楞箱，第三样本可能是一个金属物体等等。替代性地，各种样本可以是包含不同类型材料的相同物品)。以这种方式，可以在不同的条件下测试标签的性能特性。
还应该意识到，虽然如本实施例中所示的标签13-1到13-25沿载体15以单排排列，标签13还可在载体15上排列成两行或多行，并且系统11可被相应地改动以在需要时包含许多额外的短距离测试器21、长距离测试器23和/或打印机31。
现在参照图2(a)和图2(b)，分别显示的是用于测试安置在公共载体上的多个RFID器件的系统的第二实施例的片断的示意俯视图和示意侧视图，所述系统是根据本发明的教导而构建的并由引用号111表示。
系统111在很多方面与系统11类似，两个系统之间的主要不同在于和系统11相比，在系统111中，短距离测试器21和长距离测试器23的各自的位置是颠倒的。因此，在系统111中，短距离测试器21以这样的方式定位，来测试定位在系统11的长距离测试位置24处的标签，长距离测试器23以这样的方式定位，来测试定位在系统11的短距离测试位置20处的标签。应该意识到，由于系统111中的短距离测试器21和长距离测试器23位置的颠倒，由长距离测试器23读取的所有结果被记录在计算机19中，之后，仅分析如下由短距离测试器21获取的读数。
如果需要，在计算机19将从短距离测试器21探测的标签的特性与之前由长距离测试器23获得的该标签测试结果相匹配之后，短距离测试器21然后可被用于将有关在标签序列内该标签的相对定位的位置信息和/或该标签是否通过了长距离测试器23进行的(多个)性能测试的指示编程入标签(i)的芯片。(应该理解不可能将信息写到无效标签上)。在位置信息和性能信息被编程到标签中的情况下，标签的下游用户然后可使用电子读取器(例如，一个短距离测试器，一个长距离测试器，等等)读取这些编程信息，并且跳过在此已被识别为有缺陷的标签。(替代性地，下游转换器或分配器可以通过常规的天线和读取器识别好的标签)。可以意识到，通过跳过有缺陷的特别是连续缺陷的标签，可以节省相当多的时间。每个标签的位置和性能信息可以单独写入该标签，或者两个或多个标签的位置和性能信息可以写入到一些或全部标签中。例如，一个好的标签可能包括后面x个标签有缺陷的信息。
如果需要，可以由卷(或片)制造者使用公共密钥基础设施，单向哈希算法或其它合适算法，将位置信息和性能标志加密地写到各自的标签芯片上，并给转换者单独提供用于解密加密信息的代码。如此，可以阻止伪造并保证供应标签的完整性。用于执行加密确认的软件可能需要合并防止卷的复制的特征，因为预使用的代码可能仍有效。
可以意识到，使用长距离测试器23向标签13的芯片17写入位置和性能信息在系统11中可以同样实现。这样的写入可以根据需要被加密或不被加密。
在另一个实施例中，代替向标签写入测试结果和位置信息，这些信息自己可以被储存在与标签卷或标签片物理分隔开的文件中。这样的文件将被分离地发送到标签卷或标签片下游的使用者。使用这样的文件，标签卷或标签片的下游使用者可直接跳过坏标签位置而不需测试每个标签。
如图3和图4的示意图所示，本发明的测试系统包括控制软件以提供简单易懂且可靠的测试程序，以及可以在RFID嵌体性能测试中达到增强的准确率和多样性的更加先进的程序。图3中的示意图表200说明了一个简单的测试控制系统，其中连续的嵌体位置由连续的小正方形200a、200b、200c等示出。嵌体在每个完整的ID捕获、测试和标记循环之后向右移动一步。较大正方形包括201，短距离测试器的位置，203，长距离测试的位置和205，打印机位置。如A处图例所指示，具有未知ID的嵌体从左面进入系统。短距离测试器尝试在位置201获取嵌体的ID；不能够由短距离测试器读取的嵌体在B处被视为不可读。系统其后不会在长距离测试位置203尝试读取不可读的嵌体。由短距离测试器成功识别的嵌体在C处示出直到它们到达长距离测试器位置203。在位置201被成功识别的而在位置203长距离测试失败的嵌体在D处示出，而被识别的通过位置203的长距离测试的嵌体在E处示出。识别失败的嵌体D同样的在位置205被打印机作记号。
用长距离测试结果将嵌体ID和相应嵌体位置相互关联的能力不仅允许系统区别RFID器件的长距离测试的个体结果并将这些测试结果与给定(已识别)设备联系起来，还允许更先进的测试技术。例如，系统可以执行涉及一系列嵌体(包括例如，嵌体卷中的嵌体，以及一系列几个相邻嵌体)的测试程序。例如，如果太多连续的嵌体都识别失败(这是可干扰标记或标签的打印或应用的情况)，系统会将嵌体卷识别为“失败”(或者要求编辑或移除该卷嵌体的一部分)。
图4是如上面描述的合并了两个长距离测试器的测试系统的控制软件的示意图300。连续的嵌体位置由较小正方形300a、300b、300c等的序列示出。嵌体在每个完整的ID捕获、测试和标签循环之后向右移动一步。如A处图例所示，具有未知ID的嵌体从左面进入系统。短距离测试器尝试在位置301获取嵌体的ID；不能够被短距离测试器读取的嵌体在B处被视为不可读。系统其后不会尝试读取不可读的嵌体。由短距离测试器成功识别的嵌体在C处示出直到它们到达长距离测试器位置303。第一长距离测试器在位置303执行测试号1，而第二长距离测试器比如使用不同的测试样本或材料在位置305执行测试号2。遵循两个长距离测试的测试结果并不限制于“通过”(此种情况下，嵌体通过两个测试为E)和“失败”(也就是，两个测试都失败为D)，还包括嵌体只通过测试号1(在F示出)或只通过测试号2(在G示出)的可能性。(另外，通过测试号1但没有经历测试号2的嵌体，同样提供一个合适的标志。)这样，测试1和2可被设计用于识别为各个应用范围或使用环境是可接收的嵌体，并且每个测试结果F和G用于识别为各个应用范围是可接受的嵌体。打印机可在打印位置307使用合适的嵌体记号方案识别这些各种测试结果。这种多样的长距离测试方案的变化包括例如，一个或多个强制测试比如评价基本性能要求，以及一个或多个可选测试比如评价专用性能特性。
在此陈述的本发明的具体实施例仅仅是示例性的，本领域的技术人员将能够对本发明进行许多改变和修改，而不偏离本发明的主旨。所有这些改变和修改都应落入如权利要求书所限定的本发明的范围内。
Claims (40)
1.一种用于测试紧密间隔排列地在一起的多个RFID器件中的至少一个的系统，所述系统包括：
(a)短距离测试器，其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符；
(b)第一长距离测试器，其用于测试定位在第一长距离测试位置的RFID器件，所述第一长距离测试位置在下游方向间隔离开所述短距离测试位置一个或多个RFID器件位置的已知距离；
(c)移动装置，其用于将RFID器件从所述短距离测试位置和所述第一长距离测位置中的一个移动到另一个；以及
(d)区别装置，其用于区别定位在所述第一长距离测试位置的RFID器件的长距离测试的结果和同时响应所述长距离测试器的询问的任何其它RFID器件的结果。
2.根据权利要求1所述的系统，其中所述移动装置首先将RFID器件定位在所述短距离测试位置并然后将其定位在所述第一长距离测试位置。
3.根据权利要求1所述的系统，其中所述移动装置首先将RFID器件定位在所述第一长距离测试位置并然后将其定位在所述短距离测试位置。
4.根据权利要求1所述的系统，其中所述多个RFID器件沿公共载体的长度方向均匀地间隔排列，并且其中所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置被间隔开一距离，所述距离相当于所述公共载体上的一个或多个RFID器件位置。
5.根据权利要求1所述的系统，进一步包括连接到所述区别装置的用于在发现有缺陷的RFID器件上打印记号的装置。
6.根据权利要求1所述的系统，进一步包括第一样本，其被定位在接近所述第一长距离测试位置来模拟物体，其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的。
7.根据权利要求1所述的系统，进一步包括第二长距离测试器，其用于测试定位在第二长距离测试位置的RFID器件，所述第二长距离测试位置与所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置间隔离开并且定位在所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置之间，并且其中所述区别装置基于唯一的标识符和所述第一和第二长距离测试位置之间的已知间隔进一步区别定位在所述第二长距离测试位置的RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时探测到的RFID器件的结果。
8.根据权利要求7所述的系统，进一步包括第二样本，其被定位在接近所述第二长距离测试位置以模拟物体，其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的，所述第二样本与所述第一样本是不同的。
9.一种用于测试紧密地间隔排列在一起的多个RFID器件中至少一个的系统，所述系统包括：
(a)短距离测试器，其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符；
(b)第一长距离测试器，其用于测试定位在第一长距离测试位置的RFID器件，所述第一长距离测试位置在下游方向间隔离开所述短距离测试位置一个或多个RFID器件位置的已知距离；
(c)移动装置，其用于将RFID器件从所述短距离测试位置移动到所述第一长距离测位置；以及
(d)促使装置，其用于通过使用唯一的标识符促使所述第一长距离测试器只询问定位在所述第一长距离测试位置的RFID器件。
10.根据权利要求9所述的系统，进一步包括用于在发现有缺陷的RFID器件上打印记号的装置。
11.根据权利要求9所述的系统，其中所述多个RFID器件沿公共载体的长度方向上均匀地间隔排列，并且其中所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置被间隔离开一距离，所述距离相当于所述公共载体上的一个或多个RFID器件位置。
12.根据权利要求11所述的系统，其中所述移动装置是以移位方式移动所述公共载体，一次一个RFID器件位置。
13.根据权利要求11所述的系统，其中所述移动装置是以连续的方式移动所述公共载体。
14.根据权利要求9所述的系统，进一步包括样本，其被定位在接近所述第一长距离测试位置以模拟物体，其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的。
15.根据权利要求9所述的系统，进一步包括第二长距离测试器，其用于测试定位在第二长距离测试位置的RFID器件，所述第二长距离测试位置与所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置间隔离开并且定位在所述短距离测试位置和第一长距离测试位置之间，并且其中所述促使装置基于唯一的标识符和所述第一和第二长距离测试位置之间的已知间隔进一步促使所述第二长距离测试器只询问定位在所述第二长距离测试位置的RFID器件。
16.根据权利要求15所述的系统，进一步包括第二样本，其被定位在接近所述第二长距离测试位置以模拟物体，其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的，所述第二样本与所述第一样本是不同的。
17.一种用于测试多个RFID器件中至少一个的方法，所述RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，所述RFID器件中的每个均具有唯一的标识符，所述方法包括以下步骤：
(a)提供测试系统，所述测试系统包括用于读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开在下游方向一个或多个RFID器件位置的一已知距离，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机；
(b)定位所述公共载体以使第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置；
(c)当所述第一RFID器件被定位在短距离测试位置时，使用所述短距离测试器读取所述第一RFID器件的所述唯一标识符；
(d)将所述第一RFID器件的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；
(e)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置；
(f)当所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置时，通过读取所述唯一标识符使用所述长距离测试器测试所述第一RFID器件的性能；
(g)将由所述长距离测试器读取的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；以及
(h)基于所述第一RFID器件的所述唯一标识符，使用所述计算机来区别所述第一RFID器件的长距离测试的结果和同时响应所述长距离测试器的询问的其它RFID器件的结果。
18.根据权利要求17所述的方法，进一步包括，在步骤(h)之后的，将所述第一RFID器件的长距离测试结果写到所述第一RFID器件上的步骤。
19.根据权利要求18所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述长距离测试的写入结果被加密。
20.根据权利要求17所述的方法，进一步包括，在步骤(h)之后的，将所述第一RFID器件的长距离测试结果和与所述第一RFID器件相关的位置信息写到所述第一RFID器件上的步骤。
21.根据权利要求20所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述长距离测试的写入结果被加密。
22.一种用于测试多个RFID器件中至少一个的方法，所述RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，所述RFID器件中的每个均具有唯一标识符，所述方法包括以下步骤：
(a)提供测试系统，所述测试系统包括用于读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开在下游方向一个或多个RFID器件位置的一已知距离；
(b)定位所述公共载体以使第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置；
(c)当所述第一RFID器件被定位在长距离测试位置时，通过读取所述唯一标识符使用所述长距离测试器测试所述第一RFID器件的性能；
(d)将所述长距离测试器读取的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；
(e)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置；
(f)当所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置时，使用所述短距离测试器读取所述第一RFID器件的所述唯一标识符；
(g)将所述第一RFID器件的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；以及
(h)基于所述第一RFID器件的所述唯一标识符，使用所述计算机来区别所述第一RFID器件的长距离测试的结果和同时响应所述长距离测试器的询问的其他RFID器件的结果。
23.一种测试多个RFID器件中的至少一个的方法，所述RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，所述方法包括以下步骤：
(a)提供测试系统，所述测试系统包括用于将唯一标识符写到定位于短距离测试位置的RFID器件的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开在下游方向一个或多个RFID器件位置的一已知距离；
(b)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置；
(c)当所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置时，使用所述短距离测试器将唯一标识符写到所述第一RFID器件上，所述第一RFID器件的所述唯一标识符的特性对所述计算机而言是已知的；
(d)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置；
(e)当所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置时，通过读取所述唯一标识符使用所述长距离测试器测试所述第一RFID器件的性能；
(f)将所述长距离测试器读取的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；以及
(g)基于所述第一RFID器件的所述唯一标识符，使用所述计算机区别所述第一RFID器件的所述长距离测试的结果和同时响应所述长距离测试器的询问的其他RFID器件的结果。
24.根据权利要求23所述的方法，进一步包括，在步骤(g)之后，将所述第一RFID器件的长距离测试的结果写到所述第一RFID器件上的步骤。
25.根据权利要求24所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述长距离测试的写入结果被加密。
26.根据权利要求23所述的方法，进一步包括，在步骤(g)之后，将所述第一RFID器件的长距离测试的结果和与所述第一RFID器件相关的位置信息写到所述第一RFID器件上的步骤。
27.根据权利要求26所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述长距离测试的写入结果被加密。
28.一种测试多个RFID器件中的至少一个的方法，所述RFID器件沿公共载体长度方向间隔排列，所述方法包括以下步骤：
(a)提供测试系统，所述测试系统包括用于将唯一标识符写到定位于短距离测试位置的RFID器件的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机，所述短距离测试位置和所述长距离测试位置被间隔离开在下游方向一个或多个RFID器件位置的一已知距离；
(b)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置；
(c)当所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置时，通过读取所述唯一标识符使用所述长距离测试器测试所述第一RFID器件的性能；
(d)将所述长距离测试器读取的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；
(e)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置；
(f)当所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置时，使用所述短距离测试器将唯一标识符写到所述第一RFID器件上，所述第一RFID器件的所述唯一标识符的特性对所述计算机而言是已知的；以及
(g)基于所述第一RFID器件的所述唯一标识符，使用所述计算机区别所述第一RFID器件的所述长距离测试的结果和同时响应所述长距离测试器的询问的其他RFID器件的结果。
29.一种测试多个RFID器件的方法，所述RFID器件沿公共载体的长度方向均匀地间隔排列，所述RFID器件中的每个均具有唯一标识符，所述方法包括以下步骤：
(a)提供测试系统，所述测试系统包括读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中每个的计算机，所述长距离测试位置在下游方向间隔开所述短距离测试位置一个或多个RFID器件位置的已知距离；
(b)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置；
(c)当所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置时，使用所述短距离测试器读取所述第一RFID器件的所述唯一标识符；
(d)将所述第一RFID器件的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；
(e)重新定位所述公共载体以使第二RFID器件被定位在所述短距离测试位置，在所述公共载体上所述第二RFID器件被连续地定位到所述第一RFID器件；
(f)当所述第二RFID器件被定位在所述短距离测试位置时，使用所述短距离测试器读取所述第二RFID器件的所述唯一标识符；
(g)将所述第二RFID器件的所述唯一标识符传送到所述计算机；
(h)根据需要对位于所述第二RFID器件之后的一个或多个RFID器件重复步骤(e)到(g)，直到所述第一RFID器件被定位于所述长距离测试器位置；
(i)当所述第一RFID器件被定位于所述长距离测试位置时，使用所述长距离测试器测试使用所述唯一标识符的所述第一RFID器件的性能；
(j)在所述第一RFID器件位于所述长距离测试位置时，将所述长距离测试器读取的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；以及
(k)基于所述第一RFID器件的所述唯一标识符，使用所述计算机区别所述第一RFID器件的所述长距离测试的结果和同时响应所述长距离测试器的询问的其他RFID器件的结果。
30.根据权利要求29所述的方法，进一步包括，在步骤(k)之后的，将所述第一RFID器件的所述长距离测试的结果写到所述第一RFID器件上的步骤。
31.根据权利要求30所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述长距离测试的写入结果被加密。
32.根据权利要求29所述的方法，进一步包括，在步骤(k)之后的，将所述第一RFID器件的所述长距离测试的结果和与所述第一RFID器件相关的位置信息写到所述第一RFID器件上的步骤。
33.根据权利要求32所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述长距离测试的写入结果被加密。
34.根据权利要求29所述的方法，进一步包括步骤：将所述第二RFID器件定位在所述长距离测试位置，当所述第二RFID器件位于所述长距离测试位置时，使用所述长距离测试器测试所述第二RFID器件的性能，将所述第二RFID器件在所述长距离测试位置时由所述长距离测试器读取的所有结果传送给所述计算机，并且基于所述第二RFID器件的所述唯一标识符和所述第一和第二长距离测试位置之间的已知间隔，使用所述计算机区别所述第二RFID器件的所述长距离测试结果和任何其它探测到的RFID器件。
35.根据权利要求34所述的方法，进一步包括将所述第一和第二RFID器件的所述长距离测试的结果以及所述第一和第二RFID器件的位置信息存储在文件中。
36.根据权利要求35所述的方法，其中所述文件被加密。
37.根据权利要求34所述的方法，进一步包括将所述第一和第二RFID器件的所述长距离测试的结果以及与所述第一和第二RFID器件相关的位置信息写到所述第一和第二RFID器件中至少一个上的步骤。
38.根据权利要求37所述的方法，其中所述写是加密的。
39.根据权利要求29所述的方法，进一步包括当进行所述长距离测试时将样本定位在接近所述长距离测试位置的步骤。
40.一种测试多个RFID器件中的至少一个的方法，所述RFID器件沿公共载体长度方向上间隔排列，所述方法包括以下步骤：
(a)提供测试系统，所述测试系统包括用于读取定位于短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符的短距离测试器，用于测试定位于长距离测试位置的RFID器件的长距离测试器，所述长距离测试位置在下游方向间隔离开所述短距离测试位置一个或多个RFID器件位置的一已知距离，以及连接到所述短距离测试器和所述长距离测试器中的每个的计算机；
(b)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置；
(c)当所述第一RFID器件被定位在所述短距离测试位置时，使用所述短距离测试器为所述第一RFID器件读/写唯一标识符；
(d)将所述第一RFID器件的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机；
(e)定位所述公共载体以使所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置；
(f)当所述第一RFID器件被定位在所述长距离测试位置时，使用所述长距离测试器测试使用所述唯一标识符的所述第一RFID器件的性能，所述长距离测试器只询问所述第一RFID器件；以及
(g)将由所述长距离测试器读取的所述唯一标识符的特性传送到所述计算机。
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