KR20070103742A - Ｒｆｉｄ 장치들을 테스트하기 위한 방법 및 시스템 - Google Patents

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KR20070103742A
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KR1020077016932A
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데이비드 존 플레스턴
벤자민 존 킹스턴
이안 제이. 포스터
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애브리 데니슨 코포레이션
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Abstract

공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 방법 및 시스템. 일 실시예에서, RFID 장치들은 캐리어의 길이를 따라 균일하게 이격되고, 시스템은 단거리 테스터, 장거리 테스터, 및 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스터는 상기 컴퓨터에 연결되고 단거리 테스팅 위치를 갖고, 상기 장거리 테스터는 컴퓨터에 연결되고 장거리 테스팅 위치를 갖고, 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 장치 위치 수만큼 상기 단거리 테스팅 위치로부터 다운스트림으로 이격된다. 사용시, 관심 있는 RFID 장치는 먼저 단거리 테스팅 위치에 배치되고, 단거리 테스터는 그 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독하고 식별자를 컴퓨터에 통신한다. 그 후 후속 RFID 장치들이 단거리 테스터에 의하여 판독되도록 캐리어가 진행된다. 관심 있는 RFID 장치가 장거리 테스팅 위치로 진행한 경우, 장거리 테스터는 성능 테스트를 수행하고 임의의 검출된 결과들을 컴퓨터에 통신한다. 두 테스팅 위치들 사이의 거리가 알려지므로, 컴퓨터는 관심 있는 RFID 장치가 언제 장거리 테스팅 위치에 있는지 인식하고 식별자를 이용하여 그 장치에 대한 결과들을 임의의 다른 장치들의 결과들과 구별한다.

Description

ＲＦＩＤ 장치들을 테스트하기 위한 방법 및 시스템{METHOD AND SYSTEM FOR TESTING RFID DEVICES}
본 발명은 일반적으로 RFID(radio frequency identification) 장치들을 테스트하기 위한 방법들 및 시스템들에 관한 것이며 특히 RFID 장치들을 테스트하기 위한 신규한 방법 및 시스템에 관한 것이다.
관심 있는 오브젝트에 관한 정보를 효율적인 무선 방식으로 검색하는 능력은 많은 유형의 상황들에서 중요하다. 예를 들면, 많은 현재의 제조 및 분배 방법들은 인벤토리의 오브젝트들에 관한 정보의 검색을 위한 무선 기술들을 필요로 하며, 그 검색 기술들은, 예를 들면, 그 제조 시점으로부터 소비자에게로의 판매 시점까지 인벤토리의 오브젝트의 위치를 추적하는데 이용될 수 있다. 오브젝트에 관련된 정보를 검색하기 위한 한 가지 공지된 무선 기술은 오브젝트에 관련된 적절한 정보를 저장하고 그 정보를 무선 문의(wireless interrogation)에 응답하여 전자 판독기에 무선 통신하는 RFID 장치를 오브젝트에 연결하는 것을 포함한다. RFID 장치에 저장될 수 있는 정보의 유형들은, 예를 들면, 고유 식별 번호, 만기 일자, "생성(born on)" 일자, 제조 정보, 선적 상태, 가격책정 정보 등을 포함할 수 있다.
RFID 장치의 한 가지 공지된 유형은 안테나 및 안테나에 장착된 IC(Integrated circuit) 칩을 포함하며, IC 칩은 원하는 정보를 저장하도록 프로그램된다. 문의 신호(interrogation signal)를 받는 경우, IC 칩은 상기 프로그램된 정보를 대응하는 전자기 신호로 변환하며, 이것은 그 후 안테나에 의하여 무선 주파수파로서 전파된다.
통상적으로 전술된 유형의 복수의 RFID 장치들은 공통 캐리어웹(common carrier web)상에서 만들어지며, RFID 장치들의 안테나들은 캐리어웹 상에 장착되고 IC 칩들은 그들 각각의 안테나들에 장착된다. 개개의 RFID 장치와 그 아래의 캐리어웹 부분의 조합은 통상적으로 당업계에서는 RFID 인레이(inlay)로 지칭된다. RFID 인레이들의 상호접속된 웹은 선적 및 소비자(소비자는 종종 "컨버터(converter)"로 호칭)에 의한 추가적인 처리를 위하여 통상적으로는 그 제조자에 의하여 롤 형태로 감겨진다. 컨버터는, 예를 들면, 웹으로부터 개개의 RFID를 절단하고 그 후 패스너(fasteners) 또는 다른 부착 수단을 이용하여 개개의 RFID 인레이들을 관심 있는 대응 오브젝트들에 부착할 수 있다. 대안적으로, 롤 제조자는 RFID 인레이들의 웹을 추가적으로 처리하여 접착성 RFID 라벨들(예를 들면, 참고로 여기에 포함된 USSN 10/961,590 참조)을 생성할 수 있으며, 컨버터는 그 후 이것을 그대로 오브젝트들에 분배(dispensing)할 수 있거나 또는 관심 있는 오브젝트들에 라벨들을 분배하기 전에 텍스트, 디자인 또는 다른 마킹들을 라벨들에 프린팅함으로써 커스터마이즈할 수 있다. 통상적으로, 자동화된 디스펜서(automated dispenser)가 컨버터에 의하여 이용되어 웹으로부터의 라벨들을 관심 있는 오브젝트들에 분배한다.
이해될 수 있는 바와 같이, 원하는 오브젝트와 연관된 정보를 검색할 수 있기를 바란다면, 결함 있는 RFID 장치를 오브젝트에 적용하지 말아야 한다. 불행하게도, 결함 있는 RFID 장치들의 발생은 사소한 것이 아니며, 결함 있는 RFID 장치들의 현재 추정은 제조된 모든 RFID의 약 1-20% 정도로 높다. 따라서, 오브젝트들에 적용되기 전에 RFID 장치들이 성능 테스트되는 것이 보통이다. 그러한 테스팅은 롤을 컨버터에게로 선적하기 전에 롤 제조자에 의하여 수행될 수 있으며, 결함 있는 인레이들 또는 결함 있는 라벨들은 제조자가 적절하게 프린트된 마킹들(흑색 도트와 같은)을 이용하여 결함 있는 것으로 마크한다. 그러한 테스팅은 제조자에 의한 테스팅 이후 롤의 선적 또는 취급 동안 결함들이 발생할 수 있기 때문에 분배 전에 컨버터에 의하여 수행될 수도 있다. 후속하는 스테이지들에서의 비용 및 처리량 모두의 이유로 공급 체인에서 가급적 일찍 결함 있는 인레이들을 식별하는 것이 일반적으로 바람직하다.
현재, RFID 장치들의 테스팅은 통상적으로는, 두 가지 상이한 테스팅 기술들, 즉, 단거리 테스팅과 장거리 테스팅 중 어느 하나를 이용하여 수행된다. 이 두 가지 테스팅 기술들은 안테나 주위의 영역에 존재하는 전자기 물리 특성(electromagnetic physics)의 차이점들을 반영한다. 안테나 주위에는 세 개의 공통으로 허용된 영역들, 즉 (i) 리액티브 근거리 필드(reactive near-field)(안테나는 거리 0 내지 약 (915 MHz에서, ~52 mm)까지 동작함), (ii) 방사 근거리 필드(radiating near-field)( 및 , 여기서 D는 안테나 간극(antenna aperture)의 최대 치수), 및 (iii) 방사 원거리 필드(rediating far-field)(여기서 )가 존재한다. 단거리 테스팅은 리액티브 근거리 필드 내에서의 테스팅을 포함하고, 장거리 테스팅은 방사 근거리 필드 또는 방사 원거리 필드 내에서의 테스팅을 포함한다. 일반적으로, 현실 응용에 대하여 장거리 테스팅이 보다 정확한 경향이 있으며 여기에서는 RFID 장치가 오브젝트에 적용되고 그 후 방사 근거리 필드 또는 원거리 필드 영역들 내의 범위에서 문의되는 경향이 있다. 장거리 테스팅의 한 가지 문제점은, 공통 캐리어웹 상에서의 RFID 장치들의 서로에 대한 근접성으로 인하여, 테스터로부터 방출된 문의 신호는 통상적으로는 복수의 이웃하는 RFID 장치들로부터의 응답들을 유도하며, 이 응답들 중 다수는 그 후 테스터에 의하여 동시에 검출된다는 것이다. 현재로서는 응답하는 RFID 장치들로부터의 응답을 응답하는 RFID 장치들의 물리적 위치와 상관(correlate)시킬 방법이 없으므로(RFID 장치들의 고유 식별자들은 통상적으로는 특정한 시퀀스를 따르지 않으며 유효하게 랜덤화되어 있기 때문에), 판독기가 결함 있는 장치가 존재하는 것을 인식하는 경우에도, 응답하는 장치들 중 어느 것이 검출된 결함 있는 장치인지를 알 방법이 없다.
상기 문제에 대한 한 가지 접근은 간극이 있는 금속 실드(apertured metal shield)를 웹 위에 위치시켜서, 간극 내에 위치된 장치를 제외한, 문의 신호의 범위 내의 모든 장치들이 문의 신호로부터 실드되는 것이었다. 이러한 접근의 한 예는 참고로 여기에 포함된, 2000년 8월 15일자, 발명자들 Beauvillier et al.의 미국특허 제6,104,291 호에 개시되어 있다. 이 접근의 한 가지 단점은 실드하는 것(shielding) 자체는 "실제 사용되는(in the field)" 장치가 통상적으로 노출되는 동작 조건들로부터의 이탈을 의미하며 테스트되고 있는 장치의 성능 특성에 영향을 미칠 수 있다는 점이다.
단거리 테스팅의 일 예는 참고로 여기에 포함된, 2004년 8월 24일자, 국제공개 WO 2004/072892 A2에 개시되어 있다. 이 유형의 단거리 테스팅에서는, 테스트하고자 하는 특정 장치에 문의기(interrogator)가 용량 결합되어 있다.
단거리 테스팅은 일반적으로는 단일의 문의에 의하여 복수의 장치들이 동시에 기동되는 문제를 극복하기는 하지만, 근거리 필드 리액티브 영역 내의 RFID 장치들의 동작은 근거리 필드 및 원거리 필드 방사 영역들에서 예측되는 것과는 상이하게 되므로, 테스트 결과들이 현실 응용에 유효할 것이라는 추가적인 분석이 없이는 신뢰성이 더 적다.
관심을 가질 수 있는 다른 문서들은 다음을 포함하며, 이들 모두는 참고로 여기에 포함된다: 2004년 8월 31일자, 발명자들 Eroglu et al.의 미국특허 제6,784,789 호; 2004년 4월 13일자, 발명자들 Burger et al.의 미국특허 제6,721,912 호; 2002년 11월 26일자, 발명자들 Tuttle et al.의 미국특허 제6,487,681 호; 2002년 6월 25일자, 발명자들 Friedman et al.의 미국특허 제6,412,086 호; 2001년 8월 14일자, 발명자들 의 미국특허 제6,275,043 호; 2001년 7월 10일자, 발명자들 Berger et al.의 미국특허 제6,259,353 호; 2001년 5월 22일자, 발명자들 Brady et al.의 미국특허 제6,236,223 호; 2000년 5월 2일자, 발명자 Tuttle의 미국특허 제6,058,497 호; 및 1999년 11월 9일자, 발명자 Tuttle의 미국특허 제5,983,363 호.
발명의 개요
본 발명은, 그 다양하게 가능한 실시예들에 따라, RFID 장치들을 테스트하기 위한 기존의 방법들 및 시스템들과 연계하여 상기 기술된 단점들 중 적어도 일부를 극복하는, RFID 장치들(특히 웹(web) 또는 다른 공통 캐리어(common carrier) 상에 배치된 복수의 RFID 장치들)을 테스트를 위한 신규한 방법 및 시스템을 제공한다.
본 발명은, 적어도 부분적으로는, RFID 장치들이 서로 충분히 가까이 위치되어 있어서 장거리 테스터에 의하여 관심 있는 RFID 장치가 문의될 때 하나 이상의 이웃하는 RFID 장치들이 동시에 응답하는 경우에, 단거리 테스터를 장거리 테스터로부터 알려진 간격으로 위치시키고, 단거리 테스터를 이용하여 관심 있는 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하며, 그 후 관심 있는 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 이용하여 관심 있는 RFID 장치에 대한 장거리 테스트 결과들을 결정함으로써 관심 있는 RFID 장치에 대한 장거리 테스트 결과들을 결정할 수 있다는 발견에 기초한다.
따라서, 본 발명의 한 측면에 따르면, (a) 단거리(short-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하기 위한 단거리 테스터; (b) 장거리(long-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터 - 상기 장거리 테스팅 위치는 미리 정해진 거리만큼 상기 단거리 테스팅 위치로부터 이격되어 있음 - ; (c) 상기 단거리 테스팅 위치 및 상기 장거리 테스팅 위치 중 하나로부터 다른 하나로 RFID 장치를 이동시키기 위한 수단; 및 (d) 상기 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치의 장거리 테스팅의 결과들을 임의의 다른 동시에 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하기 위한 수단을 포함하는, 가까이 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하기 위한 시스템이 제공된다.
본 발명의 다른 측면에 따르면,(a) 단거리(short-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하기 위한 단거리 테스터; (b) 장거리(long-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터 - 상기 장거리 테스팅 위치는 미리 정해진 거리만큼 상기 단거리 테스팅 위치로부터 이격되어 있음 - ; (c) 상기 단거리 테스팅 위치로부터 상기 장거리 테스팅 위치로 RFID 장치를 이동시키기 위한 수단; 및 (d) 상기 장거리 테스터가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에만 문의하도록(interrogate) 야기시키는 수단을 포함하는, 가까이 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하기 위한 시스템이 제공된다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터, 및 상기 단거리 테스터와 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 거리만큼 이격됨 - ; (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하는 단계; (d) 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원(identity)을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; (e) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (f) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계; (g) 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; 및 (h) 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 다른 동시 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계를 포함하는, 공통 캐리어의 길이를 따라 이격되고, 각각이 고유 식별자를 갖는 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법이 제공된다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터, 및 상기 단거리 테스터 및 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 거리만큼 이격됨 - ; (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하는 단계; (d) 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; (e) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (f) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계 - 상기 장거리 테스터는 상기 제1 RFID 장치에만 문의함 - ; 및 (g) 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계를 포함하는, 공통 캐리어의 길이를 따라 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법이 제공된다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 고유 식별자를 기입하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터 및 상기 단거리 테스터 및 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 거리만큼 이격됨 - ; (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 고유 식별자를 기입하는 단계 - 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원은 상기 컴퓨터에 알려짐 - ; (d) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (e) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계; (f) 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; 및 (g) 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 다른 동시 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계를 포함하는, 공통 캐리어의 길이를 따라 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법이 제공된다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터 및 상기 단거리 테스터 및 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 상기 공통 캐리어 상에서의 하나 이상의 RFID 장치 위치들만큼 이격됨 - ; (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계; (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하는 단계; (d) 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; (e) 제2 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 재위치시키는 단계 - 상기 제2 RFID 장치는 상기 공통 캐리어 상에서 상기 제1 RFID 장치에 연속하여 위치됨 - ; (f) 상기 제2 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제2 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하는 단계; (g) 상기 제2 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; (h) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치될 때까지 상기 제2 RFID 장치에 연속하는 하나 이상의 RFID 장치들에 대하여 필요에 따라 단계 (e) 내지 (g)를 반복하는 단계; (i) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계; (j) 상기 장거리 테스팅 위치에 있는 상기 제1 RFID 장치에 대하여 상기 장거리 테스터로 판독한 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; 및 (k) 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅 결과들을 다른 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계를 포함하는, 공통 캐리어의 길이를 따라 균일하게 이격되고, 각각 고유 식별자를 갖는 복수의 RFID 장치들을 테스트하는 방법이 제공된다.
본 발명의 명세서 및 청구범위를 위하여, 본 발명이 주어진 방위에 위치되거나 주어진 방위로부터 관찰되는 경우 "상부", "하부", "위", 및 "아래"와 같은 다양한 관련 용어들이 이용되어 본 발명을 기술한다. 본 발명의 방위를 변경함으로써, 그에 따라 특정한 관련 용어들이 조정될 필요가 있다는 점이 이해되어야 한다.
본 발명의 추가적인 목적들, 특징들, 장점들 및 측면들은 후속하는 명세서에 부분적으로 설명될 것이고, 부분적으로는 명세서로부터 자명할 것이거나 본 발명의 실시에 의하여 학습될 수 있다. 명세서에는, 예시적으로 본 발명의 실시를 위한 특정한 실시예가 도시되고 그 일부를 형성하는 첨부도면들에 대한 참조가 이루어진다. 이 실시예들은 당업자가 본 발명을 실시하도록 충분히 상세히 기술될 것이며, 본 발명의 범위로부터 벗어나지 않고 다른 실시예들이 이용될 수 있고 구조적 변경들이 이루어질 수 있다는 점이 이해되어야 한다. 따라서, 다음의 상세한 설명은 한정적인 의미로 간주되지 않으며, 본 발명의 범위는 첨부된 청구범위에 의해서 최상으로 한정된다.
본 명세서에 포함되어 그 일부를 구성하는 첨부도면들은 본 발명의 바람직한 실시예들을 도시하며, 상세한 설명과 함께, 본 발명이 원리들을 설명하는 기능을 한다. 동일한 참조부호들이 동일한 부분들을 나타내는 도면에서,
도 1a 및 1b는 각각, 공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 본 발명의 내용에 따라 구성된 시스템의 제1 실시예의 부분적인 상부 개략도 및 부분적인 측부 개략도이고(도 1a 내의 불분명한 요소들은 점선을 이용하여 도시됨);
도 2a 및 2b는, 각각, 공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 본 발명의 내용들에 따라 구성된 시스템의 제2 실시예의 부분적인 상부 개략도 및 부분적인 측부 개략도이고(도 2a 내의 불분명한 요소들은 점선을 이용하여 도시됨);
도 3은 공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 본 발명의 내용들에 따라 구성된 시스템의 제3 실시예에 대한 제어 소프트웨어의 개략도이며;
도 4는 공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 본 발명의 내용들에 따라 구성된 시스템의 제4 실시예에 대한 제어 소프트웨어의 개략도이다.
이제 도 1a 및 1b를 참조하여, 각각, 공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 시스템의 제1 실시예의 부분적인 상부 개략도 및 부분적인 측부 개략도가 도시되며, 상기 시스템은 본 발명의 내용들에 따라 구성되며 일반적으로 참조부호 11로 표시된다. 시스템(11)의 구성 및 동작의 이해를 도모하기 위하여, 공통 캐리어(15) 상에 이격되어 릴리스 가능하게 장착된 복수의 RFID 라벨들(13-1 내지 13-25)를 테스트하는데 이용되는 시스템(11)이 도시된다. 도시된 실시예에서, 라벨들(13) 및 캐리어(15)는 롤 형태(roll form)로 표현되며 언와인드 릴(unwind reel, 14-1)로부터 테이크업 릴(take-up reel, 14-2)까지 이송되는 것이 도시되지만, 라벨들(13) 및 캐리어(15)는 대안적으로 시트 형태(sheet form)로 표현될 수도 있음이 이해될 수 있다. RFID 라벨들(13-1 내지 13-25)은 각각 IC 칩들(17-1 내지 17-25)을 포함하며(IC 칩들(17-1 내지 17-25)은 도 1a에서 팬텀으로(in phantom) 도시됨), 각각의 IC 칩(17)은 통상적으로는 64 또는 96 비트 데이터의 형태인 고유 식별자로, 통상적으로 칩 제조자에 의하여 프로그램된다. 본 발명을 위하여, 미리 프로그램된 식별자들은 칩들(17-1 내지 17-25) 내에서 임의의 특정한 시퀀스를 따르지 않는 것, 즉 칩들(17-1 내지 17-25)은 그들의 식별자들에 대하여 위치가 효과적으로 랜덤화되는 것을 가정할 수 있다.
시스템(11)은 언와인드 릴(14-1)로부터 테이크업 릴(14-2)로, 즉 화살표 A 방향으로 라벨들(13)의 롤을 이송하는 수단을 포함한다. 본 실시예에서, 상기 이송하는 수단은 한 쌍의 스핀들(16-1 및 16-2)를 포함한다. 언와인드 릴(14-1)은 스핀들(16-1)에 장착되어 연결되고, 테이크업 릴(14-2)은 스핀들(16-2)에 장착되어 연결되며, 스핀들(16-1 및 16-2)은 화살표 B 방향으로 회전 가능하다. 스핀들(16-2)은 스핀들(16-2)의 회전을 구동하는 모터(18)에 연결된다. 모터(18)은, 그 다음, 컴퓨터(19)에 연결되며, 컴퓨터(19)는 모터(18)의 동작을 제어한다. 본 실시예에서, 컴퓨터(19)는 모터(18)로 하여금 인덱싱 방식으로, 즉 한 번에 하나의 라벨 위치씩 라벨들(13)의 롤을 진행하도록 하여 각각의 라벨(13)은 후술된 테스팅 위치들의 각각에서 테스트될 수 있다. 그러나, 테스트시 라벨들은 반드시 고정되어야 하는 것은 아니며 라벨들(13)의 롤은 연속적인 방식으로, 즉 인덱싱 없이 진행될 수 있는 것이 이해되어야 한다. 또한, 시스템(11)은 모터(18) 및/또는 후술될 시스템(11)의 다른 구성요소들의 동작을 동기화시키는데 사용하기 위하여 컴퓨터(19)에 연결된 광학 또는 다른 등록 센서들(도시하지 않음)을 포함할 수 있는 것이 이해되어야 한다.
시스템(11)은 또한 단거리 테스터(21)를 포함한다. 사실상 종래의 것일 수 있는 단거리 테스터(21)는 캐리어(15)에 대하여 적절히 위치되어 한 번에 하나의 RFID 라벨(13)을 판독하며, 단거리 테스터(21)에 의하여 판독되고 있는 특정 RFID 라벨(13)은 리액티브 근거리 필드 내의 단거리 테스팅 위치(20)(도 1a에서 팬텀으로 도시됨)에 위치된다. 단거리 테스터(21)는 문의된 RFID 라벨(13)의 성능 테스트를 수행하는데 이용되는 것이 아니라, 그 칩(17)의 고유 식별자를 판독하는데만 이용된다. 각각의 칩(17)의 식별자가 단거리 테스터(21)에 의하여 판독됨에 따라, 이 정보는 컴퓨터(19)에 송신되며, 컴퓨터(19)는 식별 정보를 저장하고 다양한 식별자들이 판독되는 순서를 계속 추적한다. (라벨(13)이 결함이 있어서 그 식별자가 단거리 테스터(21)에 의하여 판독될 수 없는 경우, 라벨(13)의 결함 조건은 컴퓨터(19)에 의하여 인식됨). 상기 방식으로, 캐리어(15) 상의 라벨들(13-1 내지 13-25)의 상대적인 위치들이 시스템(11)에 의하여 결정된다.
칩들(17)이 일 식별자로 미리 프로그램되는 유형을 갖지 않는 경우에, 단거리 테스터(21)는 칩들(17)의 각각에 고유 식별자를 기입하는데 이용되는 것이 바람직하다. 바람직하게는, 고유 식별자들이 시퀀스되어 각각의 칩들에 대한 위치 정보를 제공하지만, 반드시 그럴 필요는 없다.
시스템(11)은 추가적으로 장거리 테스터(23)를 포함한다. 사실상 종래의 것일 수 있는 장거리 테스터(23)는 방사 근거리 필드 또는 원거리 필드 내의 장거리 테스팅 위치(24)(도 1a에서 팬텀으로 도시함)에 위치된 라벨(13)(본 경우에는, 라벨(13-12))을 테스트하기 위하여 단거리 테스터(21)의 다운스트림에 위치되며, 장거리 테스팅 위치(24)는 단거리 테스팅 위치(20)로부터 미리 정해진 거리만큼 떨어져 있다. (예를 들면, 장거리 테스팅 위치(24)는 단거리 테스팅 위치(20)의 다운스트림으로 10개의 라벨 위치들에 위치될 수 있음). 장거리 테스터(23)에 의하여 수행되는 테스트의 유형은 단순한 판독/비판독 유형의 테스트일 수 있거나 또는 성능의 원하는 레벨이 달성 또는 유지되는 것을 확실히 하기 위하여 문의자 신호(interrogator signal)의 변화하는 전력 및/또는 주파수를 포함할 수 있다. 라벨(13)이 단거리 테스팅 위치(20)에서 판독 불가능한 것으로 식별되는 경우, 장거리 테스팅 위치(24)에서의 장거리 테스터(23)에 의한 상기 라벨의 성능 테스트는, 바람직하게는, 스킵될 수 있다. 원하는 경우, 약병(pharmaceutical bottle), 주름진 컨테이너(corrugated container) 또는 라벨(13)이 적용되는 유형의 다른 오브젝트와 같은 표본(specimen) S가 장거리 테스팅 위치(24)에서 캐리어(15)의 바로 애래에 위치되어, 라벨이 오브젝트에 적용되고 실제 사용되는 경우 경험될 상태들을 더욱 근사적으로 시뮬레이션할 수 있다. 장거리 테스터(23)에 의하여 검출된 응답들은 후술되는 방식으로 분석을 위하여 컴퓨터(19)에 송신된다.
시스템(11)은 장거리 테스팅 위치(24)에 위치된 라벨(13)만(본 경우에는, 라벨(13-12))으로부터 응답을 도출하기 위하여 문의 신호를 실드하는(shielding) 수단을 채용하고 있지 않기 때문에, 하나 이상의 이웃하는 라벨들(13)이 문의에 응답할 수 있으며, 이 응답들의 각각은 응답 라벨(13)에 대한 식별자를 포함한다는 점을 인식해야 한다. 그러나, 장거리 테스터(23)가 장거리 테스팅 위치(24)에 위치된 라벨(13) 이외의 하나 이상의 라벨들(13)로부터의 신호를 검출하더라도, 장거리 테스팅 위치(24)에 있는 라벨(13)에 대한 응답은 여전히 컴퓨터(19)에 의하여 식별될 수 있다. 이것은 단거리 테스팅 위치(20)와 장거리 테스팅 위치(24) 사이의 간격이 알려져 있고 다양한 라벨들(13)에 대한 식별자들의 상대적인 순서가 알려져 있기 때문이다. 따라서, 장거리 테스팅 위치(24)에 위치된 라벨(13)에 대한 응답을 식별하기 위하여, 컴퓨터(19)는 n 라벨 위치들 전에 단거리 테스터(21)에 의하여 식별자가 판독된 응답을 인식할 필요만 있으며, 장거리 테스팅 위치(24)와 단거리 테스팅 위치(20)는 n 라벨 위치들만큼 이격되어 있다. 즉, 단거리 테스팅 위치(20)와 장거리 테스팅 위치(24) 사이의 간격이 10 라벨 위치들이라면, 장거리 테스팅 위치(24)에 있는 라벨(13)에 대한 응답은, 식별자가 10 라벨 위치들 먼저 단거리 테스터(21)에 의하여 판독된 응답이다. 그러한 결정들은 컴퓨터(19)에 의하여 용이하게 수행될 수 있다.
장거리 테스터(23)로 하여금 응답하는 라벨들(13)로부터의 모든 응답들을 판독하게 하고 그 후 컴퓨터(19)가 그것의 식별자에 기초하여 관심 있는 응답을 식별하게 하는 대신에, 컴퓨터(19)는 단순히 관심 있는 식별자를 갖는 라벨(13)만을 문의하도록 장거리 테스터(23)에 지시할 수 있다는 점이 이해되어야 한다.
컴퓨터(19)에 의하여 수행된 펑션들은 대안적으로는 단거리 테스터(21) 및 장거리 테스터(23)중 어느 하나 또는 모두 내에서 일 로직 펑션으로서 구현될 수 있는 점도 이해되어야 한다.
시스템(11)은 프린터 또는 마커(31)를 더 포함한다. RFID 라벨들 상에 마킹들을 프린트하는데 이용된 유형의 종래의 프린터일 수 있는 프린터(31)는 장거리 테스터(23)의 다운스트림에 위치되고 프린팅 위치(33)(도 1a에서 팬텀으로 도시됨)에 위치된 라벨(13)(본 경우에는, 라벨(13-22)) 상에 마킹을 프린트하도록 구성되며, 프린팅 위치(33)는 장거리 테스팅 위치(24)로부터 미리 정해진 거리만큼 떨어져 있다. (예를 들면, 프린팅 위치(33)는 장거리 테스팅 위치(24)의 다운스트림으로 10 라벨 위치들에 위치될 수 있음). 프린터(31)는 컴퓨터(19)에 연결되며 그 동작은 컴퓨터(19)에 의하여 제어된다. 본 실시예에서, 컴퓨터(19)가 결함 있는 라벨(13)을 식별하는 경우, 프린터(31)는 프린팅 위치(33)에 라벨(13)이 위치되어 있을 때 라벨(13)을 결함이 있는 것으로서 마크하도록 컴퓨터(19)에 의하여 지시받는다.
시스템(11)은 미리 정해진 라벨 위치 간격들로 장거리 테스터(23)로부터 다운스트림으로 이격된 하나 이상의 추가적인 장거리 테스터들을 포함하도록 변형될 수 있는 점이 이해되어야 한다. 그러한 추가적인 장거리 테스터들은 장거리 테스팅 위치(24)에서의 라벨들 아래에 위치된 것과는 상이한 하나 이상 유형의 표본들 위에 위치되는 동안 라벨들(13)을 테스트하는데 이용될 수 있다. (예를 들어, 제1 표본은 약병과 같은 플라스틱 오브젝트일 수 있고, 제2 표본은 주름진 컨테이너일 수 있으며, 제3 표본은 금속 오브젝트일 수 있는 것 등이다. 대안적으로는, 다양한 표본들은 상이한 유형의 재료들을 포함하는 동일한 항목들일 수 있다.) 이 방식으로, 라벨들의 성능 특성은 다양한 조건들에서 테스트될 수 있다.
라벨들(13-1 내지 13-25)은 본 실시예에서는 캐리어(15)를 따른 단일의 컬럼으로 배열된 것으로 도시되지만, 라벨들(13)은 캐리어(15) 상에서 둘 이상의 컬럼들로 배열될 수도 있으며, 시스템(11)은 필요한 만큼의 추가적인 단거리 테스터들(21), 장거리 테스터들(23) 및/또는 프린터들(31)을 포함하도록 대응하여 변형될 수 있음도 이해되어야 한다.
이제 도 2a 및 도 2b를 참조하여, 각각, 공통 캐리어 상에 배치된 복수의 RFID 장치들을 테스트하기 위한 시스템의 제2 실시예의 부분적인 상부 개략도 및 부분적이 측부 개략도가 도시되며, 상기 시스템은 본 발명의 내용에 따라 구성되고 일반적으로 참조부호 111에 의하여 표시된다.
시스템(111)은 많은 측면들에서 시스템(11)과 유사하며, 두 시스템들 사이의 주요 차이점은, 시스템(11)과 비교하여, 단거리 테스터(21)와 장거리 테스터(23)의 각각의 위치들이 반대라는 점이다. 따라서, 시스템(111)에서, 단거리 테스터(21)는 시스템(11)에서 장거리 테스팅 위치(24)인 곳에 위치된 라벨들을 테스트하기 위한 방식으로 위치되고, 장거리 테스터(23)는 시스템(11)에서 단거리 테스팅 위치(20)인 곳에 위치된 라벨들을 테스트하는 방식으로 위치된다. 이해될 수 있는 바와 같이, 시스템(111) 내의 단거리 테스터(21)와 장거리 테스터(23)의 위치들의 반전 때문에, 장거리 테스터(23)에 의하여 판독된 모든 결과들은 단거리 테스터(21)에 의하여 취해진 판독들에 후속하여서만 컴퓨터(19)에 기록된 후 분석된다.
원하는 경우, 컴퓨터(19)가 단거리 테스터(21)에 의하여 프로브된 라벨의 신원(identity)과 장거리 테스터(23)에 의하여 그 라벨에 대해 이전에 획득된 테스트 결과들을 매칭시킨 후, (i) 라벨들의 시퀀스 내에서의 그 라벨의 상대적인 위치에 대한 위치 정보 및/또는 라벨이 장거리 테스터(23)에 의하여 수행된 성능 테스트(들)를 통과했는지 여부에 대한 표시를 라벨의 칩에 프로그램해 넣기 위하여 단거리 테스터(21)가 이용될 수 있다. (완전히 동작하지 않는 라벨들에 정보를 기입하는 것이 가능하지 않을 수 있다는 점이 이해되어야 함). 위치 정보 및 성능 정보 모두가 레벨들에 프로그램되어지는 경우, 라벨들의 다운스트림 유저는 그 후, 전자 판독기(예를 들면, 단거리 테스터, 장거리 테스터, 등)를 이용하여 이 프로그램된 정보를 판독할 수 있고, 그 내부에서 결함이 있는 것으로 식별된 라벨들을 스킵할 수 있다. (대안적으로는, 다운스트림 컨버터 또는 디스펜서는 종래의 안테나 및 판독기를 이용하여 양호한 라벨들을 식별할 수 있음). 이해될 수 있는 바와 같이, 결함 있는 라벨들, 특히 연속적인 결함 있는 라벨들을 스킵함으로써 상당한 시간이 절약될 수 있다. 각각의 라벨에 대한 위치 및 성능 정보가 그 라벨에만 기입될 수 있거나, 또는 둘 이상의 라벨들에 대한 위치 및 성능 정보가 라벨들 일부 또는 모두에 기입될 수 있다. 예를 들어, 양호한 라벨은 다음 x 라벨들이 결함이 있다는 정보를 포함할 수 있다.
원하는 경우, 위치 정보 및 성능 표시는, 롤(또는 시트) 제조자가 공용 키 인프라스트럭쳐(public key infrastructure), 일방 해싱(one-way hashing) 또는 다른 적절한 알고리즘을 이용하여 각각의 라벨 칩들에 암호 기입될 수 있으며, 컨버터는 암호화된 정보를 해독하기 위한 코드가 별도로 제공된다. 이 방식으로, 위조(counterfeiting)가 저지될 수 있고 라벨 공급의 무결성(integrity)이 확보될 수 있다. 암호 확인(cryptographic validation)을 수행하는데 이용된 소프트웨어는 이전에 사용된 코드들이 여전히 유효할 수 있으므로 롤들의 복제를 방지하기 위한 특성들을 포함할 필요가 있을 수 있다.
이해될 수 있는 바와 같이, 라벨들(13)의 칩들(17)로의 위치 및 성능 정보의 기입은 장거리 테스터(23)를 이용하여 시스템(11)에서와 유사하게 실시될 수 있다. 그러한 기입은 원하는 바에 따라, 암호화되거나 암호화되지 않을 수 있다.
또 다른 실시예에서는, 테스트 결과들 및 위치 정보를 라벨들 자체에 기입하는 대신에, 그러한 정보는 라벨들의 롤(또는 시트)로부터 물리적으로 분리되어 있는 파일에 저장될 수 있다. 그러한 파일은 그 후 라벨들의 롤(또는 시트)의 다운스트림 유저에게 별도로 송신될 수 있다. 그러한 파일을 이용하여, 라벨들의 롤(또는 시트)의 다운스트림 유저는 각각의 라벨을 테스트하지 않고 단순히 불량한 라벨 위치들을 스킵할 수 있다.
도 3 및 4의 개략도들에 도시된 바와 같이, 본 발명의 테스팅 시스템은 RFID 인레이들의 성능 테스팅의 향상된 정확성 및 다기능성(versatility)을 달성할 수 있는 보다 향상된 절차들뿐만 아니라, 직접적이고 신뢰성 있는 테스팅 절차들을 제공하기 위한 제어 소프트웨어를 포함할 수 있다. 도 3의 개략도(200)는 연속적인 인레이 위치들이 더 작은 사이즈의 사각형들(200a, 200b, 200c, 등)의 시퀀스로 도시되는 간단한 테스팅 제어 시스템을 도시한다. 인레이들은 각각의 완전한 ID 캡처, 테스트, 및 마크 사이클 후 우측으로 한 단계 이동한다. 보다 큰 사각형들은, 단거리 테스터의 위치인 201, 장거리 테스터의 위치인 203, 및 프린터의 위치인 205를 포함한다. 범례에서 A에 표시된 바와 같이, 인레이들은 알려지지 않은 ID들로 좌측에서 시스템에 들어간다. 단거리 테스터는 위치(201)에서 인레이들의 ID들을 캡처하는 시도를 하며, 단거리 테스터에 의해 판독될 수 없는 인레이들은 B에서 판독 불가인 것으로 도시된다. 시스템은 그 후 장거리 테스팅 위치(203)에서 판독 불가인 인레이들을 판독하려고 시도하지 않는다. 단거리 테스터에 의하여 성공적으로 식별되는 인레이들은 장거리 테스팅 위치(203)에 도달할 때까지 C에서 도시된다. 위치(203)에서의 장거리 테스트에 실패하고 위치(201)에서 성공적으로 식별된 인레이들은 D에서 도시되는 한편, 위치(203)에서의 장거리 테스트에 통과하는 식별된 인레인들은 E에서 도시된다. 실패된 인레이들 D는 위치(205)에서 프린터에 의하여 실패된 것으로 마크된다.
인레이 ID들 및 대응하는 인레이 위치들과 장거리 테스트 결과들을 상관시키는 능력은 시스템이 RFID 장치들의 개개의 장거리 테스트들의 결과들을 구별하고 이 테스트들을 주어진(식별된) 장치들과 연관시키도록 허용할 뿐만 아니라, 보다 진보된 테스팅 기술들을 허용한다. 예를 들면, 시스템은 일련의 인레이들(예를 들면, 일련의 수 개의 인접 인레이들뿐만 아니라, 인레이들의 롤 내의 인레이들을 포함)과 관련된 테스팅 절차들을 실시할 수 있다. 예를 들면, 시퀀스 내의 너무 많은 인레이들이 실패되면(태그들 또는 라벨들의 프린팅 또는 적용을 방해할 수 있는 상태), 시스템은 인레이들의 롤을 "실패(fail)"할 수 있다(또는 그 롤의 일 부분에 대한 편집 또는 제거를 요구함).
도 4는 전술된 바와 같이, 두 개의 장거리 테스터들을 포함하는 테스팅 시스템을 위한 제어 소프트웨어의 개략도(300)이다. 연속적인 인레이 위치들은 더 작은 사이즈의 사각형들(300a, 300b, 300c, 등)의 시퀀스에 의하여 도시된다. 인레이들은 각각의 완전한 ID 캡처, 테스트, 및 마크 사이클 후 우측으로 한 단계 이동한다. 범례에서 A에 표시된 바와 같이, 인레이들은 알려지지 않은 ID들로 좌측에서 시스템에 들어간다. 단거리 테스터는 위치(301)에서 인레이들의 ID들을 캡처하려고 시도하고; 단거리 테스터에 의하여 판독될 수 없는 인레이들은 B에서 판독 불가능한 것으로 도시된다. 시스템은 그 후 판독 불가능한 인레이들을 판독하려고 시도하지 않는다. 단거리 테스터에 의하여 성공적으로 식별되는 인레이들은 장거리 테스팅 위치(303)에 도달할 때까지 C에서 도시된다. 제1 장거리 테스터는 위치(303)에서 테스트 번호 1을 수행하는 한편, 제2 장거리 테스터는 위치(305)에서, 예를 들면, 상이한 테스팅 표본 또는 재료를 이용하여 테스트 번호 2를 수행한다. 두 개의 장거리 테스트들에 따른 테스트 결과들은 "통과(pass)"(본 경우에, 인레이는 두 테스트들 E를 통과함)와 "실패(fail)"(즉, 인레이는 두 테스트들 D를 실패함)로 한정되는 것은 아니며, 인레이가 테스트 번호 1만(F에 도시됨) 통과하거나 테스트 번호 2만(G에 도시됨) 통과하는 가능성도 포함한다. (또한, 테스트 번호 1을 통과했지만 아직 테스트 번호 2를 거치지 않은 인레이들의 경우, 적절한 표시를 제공할 수도 있음). 따라서, 테스트들(1 및 2)은 사용 환경들 또는 적용들의 각각의 범위들에 대하여 받아들여질 수 있는 인레이들을 식별하도록 설계될 수 있으며, 테스트 결과들(F 및 G)의 각각이 이용되어 적용들의 각각의 범위에 대하여 받아들여질 수 있는 인레이들을 식별할 수 있다. 프린팅 위치(307)에서 프린터에 의하여 적절한 인레이 마킹 방식이 이용되어 이 다양한 테스트 결과들을 식별한다. 이 복수의 장거리 테스트 방식의 변형들은, 기본 성능 요건들을 평가하기 위하여, 예를 들면 하나 이상의 필수적인 테스트들(mandatory tests)을 포함하고, 특정 성능 특성을 평가하기 위하여, 예를 들면 하나 이상의 옵션적인 테스트들을 포함할 수 있다.
여기에서 기술된 본 발명의 실시예들은 단순히 예시적인 것으로서 의도되며 당업자는 본 발명의 취지를 벗어나지 않고 그에 대한 다수의 변경 및 변형을 만들 수 있을 것이다. 그러한 모든 변경들 및 변형들은 여기에 첨부된 청구범위들에 의하여 한정된 본 발명의 범위 내에 있는 것이 의도된다.

Claims (42)

  1. 가까이 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하기 위한 시스템으로서,
    (a) 단거리(short-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하기 위한 단거리 테스터;
    (b) 제1 장거리(long-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 제1 장거리 테스터 - 상기 제1 장거리 테스팅 위치는 미리 정해진 거리만큼 상기 단거리 테스팅 위치로부터 이격되어 있음 - ;
    (c) 상기 단거리 테스팅 위치 및 상기 제1 장거리 테스팅 위치 중 하나로부터 다른 하나로 RFID 장치를 이동시키기 위한 수단; 및
    (d) 상기 제1 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치의 장거리 테스팅의 결과들을 임의의 다른 동시에 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하기 위한 수단
    을 포함하는, 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하기 위한 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 이동 수단은 RFID 장치를 먼저 상기 단거리 테스팅 위치에 위치시키고 그 다음에 상기 제1 장거리 테스팅 위치에 위치시키는 시스템.
  3. 제1항에 있어서, 상기 이동 수단은 RFID 장치를 먼저 상기 제1 장거리 테스팅 위치에 위치시키고 그 다음에 상기 단거리 테스팅 위치에 위치시키는 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 상기 복수의 RFID 장치들은 공통 캐리어의 길이를 따라 균일하게 이격되고 상기 단거리 테스팅 위치 및 상기 제1 장거리 테스팅 위치는 상기 공통 캐리어 상의 하나 이상의 RFID 장치 위치들에 대응하는 거리만큼 이격되는 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 상기 구별 수단에 연결되어, 결함이 발견된 RFID 장치에 마킹을 프린팅하기 위한 수단을 더 포함하는 시스템.
  6. 제1항에 있어서, 상기 RFID 장치가 사용시 연관될 수 있는 오브젝트를 시뮬레이션하기 위하여 상기 제1 장거리 테스팅 위치에 가까이 위치된 제1 표본을 더 포함하는 시스템.
  7. 제1항에 있어서, 제2 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 제2 장거리 테스터를 더 포함하고, 상기 제2 장거리 테스팅 위치는 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 제1 장거리 테스팅 위치로부터 이격되어 그 사이에 위치되며,
    상기 구별 수단은 또한 상기 제2 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치의 장거리 테스팅의 결과들을 임의의 다른 동시에 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 시스템.
  8. 제7항에 있어서, 상기 RFID 장치가 사용시 연관될 수 있는 오브젝트를 시뮬레이션하기 위하여 상기 제2 장거리 테스팅 위치에 가까이 위치된 제2 표본을 더 포함하며, 상기 제2 표본은 상기 제1 표본과는 상이한 시스템.
  9. 가까이 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하기 위한 시스템으로서,
    (a) 단거리(short-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하기 위한 단거리 테스터;
    (b) 제1 장거리(long-range) 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 제1 장거리 테스터 - 상기 제1 장거리 테스팅 위치는 미리 정해진 거리만큼 상기 단거리 테스팅 위치로부터 이격되어 있음 - ;
    (c) 상기 단거리 테스팅 위치로부터 상기 제1 장거리 테스팅 위치로 RFID 장치를 이동시키기 위한 수단; 및
    (d) 상기 제1 장거리 테스터가 상기 제1 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에만 문의하도록(interrogate) 야기시키는 수단
    을 포함하는, 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하기 위한 시스템.
  10. 제9항에 있어서, 결함이 발견된 RFID 장치에 마킹을 프린팅하기 위한 수단을 더 포함하는 시스템.
  11. 제9항에 있어서, 상기 복수의 RFID 장치들은 공통 캐리어의 길이를 따라 균일하게 이격되고 상기 단거리 테스팅 위치 및 상기 제1 장거리 테스팅 위치는 상기 공통 캐리어 상의 하나 이상의 RFID 장치 위치들에 대응하는 거리만큼 이격되는 시스템.
  12. 제11항에 있어서, 상기 이동 수단은 인덱싱(indexing) 방식으로 한 번에 하나의 RFID 장치 위치씩 상기 공통 캐리어를 이동시키는 시스템.
  13. 제11항에 있어서, 상기 이동 수단은 연속적인 방식으로 상기 공통 캐리어를 이동시키는 시스템.
  14. 제9항에 있어서, 상기 RFID 장치가 사용시 연관될 수 있는 오브젝트를 시뮬레이션하기 위하여 상기 제1 장거리 테스팅 위치에 가까이 위치된 표본을 더 포함하는 시스템.
  15. 제9항에 있어서, 제2 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 제2 장거리 테스터를 더 포함하고, 상기 제2 장거리 테스팅 위치는 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 제1 장거리 테스팅 위치로부터 이격되어 그 사이에 위치되며, 상기 야기시키는 수단은 또한 상기 제2 장거리 테스터가 상기 제2 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에만 문의하도록 야기시키는 시스템.
  16. 제15항에 있어서, 상기 RFID 장치가 사용시 연관될 수 있는 오브젝트를 시뮬레이션하기 위하여 상기 제2 장거리 테스팅 위치에 가까이 위치된 제2 표본을 더 포함하며, 상기 제2 표본은 상기 제1 표본과는 상이한 시스템.
  17. 공통 캐리어의 길이를 따라 이격되고, 각각이 고유 식별자를 갖는 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법으로서,
    (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터, 및 상기 단거리 테스터와 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 거리만큼 이격됨 - ;
    (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하는 단계;
    (d) 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원(identity)을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계;
    (e) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (f) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계;
    (g) 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; 및
    (h) 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 다른 동시 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계
    를 포함하는, 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법.
  18. 제17항에 있어서, 단계 (b) 내지 (d)는 단계 (e) 내지 (g) 이전에 수행되는 방법.
  19. 제17항에 있어서, 단계 (e) 내지 (g)는 단계 (b) 내지 (d) 이전에 수행되는 방법.
  20. 제17항에 있어서, 상기 구별 단계 이후에, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 상기 제1 RFID 장치에 기입하는 단계를 더 포함하는 방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 기입된 결과들은 암호화되는 방법.
  22. 제17항에 있어서, 상기 구별 단계 이후에, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들 및 상기 제1 RFID 장치에 관한 위치 정보를 상기 제1 RFID 장치에 기입하는 단계를 더 포함하는 방법.
  23. 제22항에 있어서, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 기입된 결과들은 암호화되는 방법.
  24. 공통 캐리어의 길이를 따라 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법으로서,
    (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 고유 식별자를 기입하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터 및 상기 단거리 테스터 및 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 거리만큼 이격됨 - ;
    (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 고유 식별자를 기입하는 단계 - 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원은 상기 컴퓨터에 알려짐 - ;
    (d) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (e) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계;
    (f) 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; 및
    (g) 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 다른 동시 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계
    를 포함하는, 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법.
  25. 제24항에 있어서, 단계 (b) 내지 (c)는 단계 (d) 내지 (f) 이전에 수행되는 방법.
  26. 제24항에 있어서, 단계 (d) 내지 (f)는 단계 (b) 내지 (c) 이전에 수행되는 방법.
  27. 제24항에 있어서, 상기 구별 단계 이후에, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 상기 제1 RFID 장치에 기입하는 단계를 더 포함하는 방법.
  28. 제27항에 있어서, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 기입된 결과들은 암호화되는 방법.
  29. 제24항에 있어서, 상기 구별 단계 이후에, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들 및 상기 제1 RFID 장치에 관한 위치 정보를 상기 제1 RFID 장치에 기입하는 단계를 더 포함하는 방법.
  30. 제29항에 있어서, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 상기 기입된 결과들은 암호화되는 방법.
  31. 공통 캐리어의 길이를 따라 균일하게 이격되고, 각각 고유 식별자를 갖는 복수의 RFID 장치들을 테스트하는 방법으로서,
    (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터 및 상기 단거리 테스터 및 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 상기 공통 캐리어 상에서의 하나 이상의 RFID 장치 위치들만큼 이격됨 - ;
    (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하는 단계;
    (d) 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계;
    (e) 제2 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 재위치시키는 단계 - 상기 제2 RFID 장치는 상기 공통 캐리어 상에서 상기 제1 RFID 장치에 연속하여 위치됨 - ;
    (f) 상기 제2 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제2 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 판독하는 단계;
    (g) 상기 제2 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자를 상기 컴퓨터에 송신하는 단계;
    (h) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치될 때까지 상기 제2 RFID 장치에 연속하는 하나 이상의 RFID 장치들에 대하여 필요에 따라 단계 (e) 내지 (g)를 반복하는 단계;
    (i) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계;
    (j) 상기 장거리 테스팅 위치에 있는 상기 제1 RFID 장치에 대하여 상기 장거리 테스터로 판독한 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계; 및
    (k) 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅 결과들을 다른 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계
    를 포함하는 복수의 RFID 장치들을 테스트하는 방법.
  32. 제31항에 있어서, 상기 구별 단계 이후에, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 상기 제1 RFID 장치에 기입하는 단계를 더 포함하는 방법.
  33. 제32항에 있어서, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 기입된 결과들은 암호화되는 방법.
  34. 제31항에 있어서, 상기 구별 단계 이후에, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 결과들 및 상기 제1 RFID 장치에 관한 위치 정보를 상기 제1 RFID 장치에 기입하는 단계를 포함하는 방법.
  35. 제34항에 있어서, 상기 제1 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅의 기입된 결과들은 암호화되는 방법.
  36. 제31항에 있어서,
    상기 제2 RFID 장치를 상기 장거리 테스팅 위치에 위치시키는 단계, 상기 제2 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 있는 동안 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제2 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계, 상기 장거리 테스팅 위치에 있는 상기 제2 RFID 장치에 대하여 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계, 및 상기 컴퓨터를 이용하여, 상기 제2 RFID 장치의 상기 고유 식별자에 기초하여, 상기 제2 RFID 장치의 상기 장거리 테스팅 결과들을 다른 검출된 RFID 장치들의 결과들과 구별하는 단계를 더 포함하는 방법.
  37. 제36항에 있어서, 상기 제1 및 제2 RFID 장치들에 대한 위치 정보 뿐만 아니라, 상기 제1 및 제2 RFID 장치들에 대한 상기 장거리 테스팅의 결과들을 파일에 저장하는 단계를 더 포함하는 방법.
  38. 제37항에 있어서, 상기 파일은 암호화되는 방법.
  39. 제36항에 있어서, 상기 제1 및 제2 RFID 장치들에 관한 위치 정보 뿐만 아니라, 상기 제1 및 제2 RFID 장치들의 상기 장거리 테스팅의 결과들을 상기 제1 및 제2 RFID 장치들 중 적어도 하나에 기입하는 단계를 더 포함하는 방법.
  40. 제39항에 있어서, 상기 기입은 암호화되는 방법.
  41. 제31항에 있어서, 상기 장거리 테스트가 수행되는 동안 상기 장거리 테스팅 위치에 가까이 표본을 위치시키는 단계를 더 포함하는 방법.
  42. 공통 캐리어의 길이를 따라 이격된 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법으로서,
    (a) 테스팅 시스템을 제공하는 단계 - 상기 테스팅 시스템은 단거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독하기 위한 단거리 테스터, 장거리 테스팅 위치에 위치된 RFID 장치를 테스트하기 위한 장거리 테스터, 및 상기 단거리 테스터 및 상기 장거리 테스터의 각각에 연결된 컴퓨터를 포함하며, 상기 단거리 테스팅 위치와 상기 장거리 테스팅 위치는 알려진 거리만큼 이격됨 - ;
    (b) 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (c) 상기 제1 RFID 장치가 상기 단거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 단거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치에 대한 고유 식별자를 판독/기입하는 단계;
    (d) 상기 제1 RFID 장치에 대한 상기 고유 식별자의 신원을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계;
    (e) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되도록 상기 공통 캐리어를 위치시키는 단계;
    (f) 상기 제1 RFID 장치가 상기 장거리 테스팅 위치에 위치되는 동안, 상기 장거리 테스터를 이용하여 상기 제1 RFID 장치를 성능 테스트하는 단계 - 상기 장거리 테스터는 상기 제1 RFID 장치에만 문의함 - ; 및
    (g) 상기 장거리 테스터에 의하여 판독된 결과들을 상기 컴퓨터에 송신하는 단계
    를 포함하는 복수의 RFID 장치들 중 적어도 하나를 테스트하는 방법.
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