CN101097237A - 电子元件拉力试验装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电子元件拉力试验装置及方法，以垂直向上的拉力上拉电子元件，令该电子元件的焊点于均匀拉力下与试片分离。该电子元件拉力试验装置至少包括一固定夹座与活动夹座，且该固定夹座与活动夹座分别轴套于二相对的支撑体上，并呈上、下相对的结构关系，该活动夹座下方装设一挂设钢索的吊勾，且该钢索连接与电子元件粘合的粘着块，且该电子元件焊接在组设于固定夹座的试片上；使用时，活动夹座上移，吊勾随之拉动粘着块，直至电子元件于均匀拉力下与试片分离，避免破坏电子元件的焊点。

Description

电子元件拉力试验装置及方法
【技朮领域】
本发明提供一种拉力试验装置及方法，特别是提供一种以垂直向上的拉力上拉电子元件，令该电子元件的各焊点于均匀拉力下与试片脱离的电子元件拉力试验装置及方法。
【背景技朮】
随着电子产品向便携式、小型化、网络化、多媒体化方向迅速发展，对电子组装技术提出了更高的要求，另一方面，由于受到集成电路插脚框架和加工精度的限制，导致组装密度无法再提升。于是球栅阵列(Ball Grid Array，BGA)技术应运而生，该项技术消除了精密间距的集成电路由插接线引起的共面度和曲翘的问题。
然而，球栅阵列元件焊接点的测试相当困难，不容易保证其质量和可靠性，而于球栅阵列元件失效时必须对其焊点进行破坏性分析，以求得其焊点的失效位置。现有的将球栅阵列元件与PCB板(Printed Circuit Board，印刷电路板)分离的方法是以撬棒靠近该球栅阵列元件的边缘，并施力将其撬开。实施该方法因侧向施力范围小，令球栅阵列元件最外围的焊点有受撬棒破坏变形之虞，且各焊点受力不均匀，也会影响后续的球栅阵列失效分析的准确性。
有鉴于此，实有必要提供一种电子元件拉力试验装置及方法，以垂直向上的拉力上拉电子元件，令该电子元件的各焊点于均匀受力下与PCB板脱离，克服破坏焊点的缺失。
【发明内容】
因此，本发明的目的即提供一种电子元件拉力试验装置及方法，用于以垂直向上的拉力上拉电子元件，令该电子元件的各焊点于均匀拉力下与试片分离，避免破坏焊点，提高电子元件失效测试的准确性。
为达上述目的，本发明提供一种电子元件拉力试验装置及方法，用于以垂直向上的拉力上拉电子元件，令该电子元件各焊点于均匀拉力下与试片脱离。该电子元件拉力试验装置至少包括一固定夹座与活动夹座，且该固定夹座与活动夹座分别轴套于二相对的支撑体上，并呈上、下相对的结构关系，该活动夹座下方装设一挂设钢索的吊勾，且该钢索连接与电子元件粘合的粘着块，且该电子元件焊接在组设于固定夹座的试片上。
本发明的电子元件拉力试验方法应用于上述电子元件拉力试验装置上，其包括：(1)粘合粘着块与试片上的电子元件，使粘着块与电子元件的中心点一致；(2)定位粘着块；(3)将试片固定于固定夹座；(4)对粘着块施以垂直向上的拉力直至电子元件与试片分离。
相较于现有技术，本发明以垂直向上的拉力上拉电子元件，令该电子元件的各焊点于均匀受力下与试片脱离，实已解决现有的缺失。
【附图说明】
图1为本发明的电子元件拉力试验机的使用状态的前视图。
图2为本发明的电子元件拉力试验装置的立体分解图。
图3为本发明的电子元件拉力试验装置的使用铅垂的示意图。
图4为本发明的电子元件拉力试验方法的流程图。
【具体实施方式】
请参阅图1，为本发明的电子元件拉力试验装置的使用状态的前视图，如图所示，该电子元件拉力试验装置1至少包括一固定夹座80与活动夹座60，且该固定夹座80与活动夹座60分别轴套于二相对的支撑体70上，并呈上、下相对的结构关系，该活动夹座60下方装设一吊勾30，该吊勾30上挂设一钢索20，该钢索20连接一粘着块12，该粘着块12与焊接于试片10上的电子元件11组合一体，且该试片10固定于固定夹座80上，以于活动夹座60上移时，吊勾30随之拉动粘着块12直至电子元件11与试片10分离。
请一并参阅图1与图2，其中，图2为本发明的电子元件拉力试验装置的立体分解图，其中，该活动夹座60下方装设有吊勾30，用以挂设钢索20的一端，该钢索20另一端穿过钢锁螺丝21顶部侧边开设的穿孔211；另，该活动夹座60内设有一动力部(未绘示)，该动力部一端拉动该吊勾30，另一端将该拉力传递给一传感器(未绘示)，该传感器将该拉力转换为一电测量信号，并予以显示；又，该活动夹座60两端设有滑塞(未图示)，容设于滑槽71内。
该固定夹座80上承载一试片台40，该试片台40上间隔开设若干第二螺孔41，以供套设压置片42的固定螺丝43锁紧，且该压置片42一端压置于一焊接有待测电子元件11的试片10，进而将该试片10固定于试片台40上；又，粘着块12粘接于电子元件11上，且该粘着块12与该电子元件11中心点保持一致，其中，该粘着块12形状规则对称且质地均匀，且该粘着块12可实施为正方形、长方形、圆形、正三角形、椭圆形等其中之一，且该粘着块12位于钢索20另一端即钢锁螺丝21的下方；另，该粘着块12以其中心为轴心开设一第一螺孔121，以与钢锁螺丝21锁合。
请参照图1，该支撑体70相对该活动夹座60的滑塞凹陷设有滑槽71，且该滑槽71由组设固定夹座80的位置延伸至该支撑体70的顶端，用以收容滑塞，以便活动夹座60沿滑槽71滑动。
本发明还揭示一种电子元件拉力试验方法，参阅图4，为本发明的电子元件拉力试验方法的流程图，其步骤如下：
步骤410，粘合粘着块12与试片10上的电子元件11，以令粘着块12与电子元件11的中心点一致，并将试片10置于试片台40上；
步骤420，定位该粘着块12，即将铅垂50挂设于吊勾30上，同时微调该试片10(参阅图3)，直至该铅垂50对准粘着块12的第一螺孔121的轴心，此时，吊勾30施力方向为该粘着块12的中心线的反方向，即为垂直向上的拉力；
步骤430，将试片10固定在试片台40上，即锁合固定螺丝43与第二螺孔41，并令压置片42将焊接待测电子元件11的试片10压置固定于试片台40上，然后锁合钢索螺丝21与粘着块12的第一螺孔121，且将穿过穿孔211的钢索20挂设于吊勾30上；
步骤440，对粘着块12施以垂直向上的拉力，即以动力部上拉该吊勾30，此时，由于粘着块12的拉力分散作用，电子元件11的各焊点均匀受力，直至该电子元件11与试片10分离，同时，该拉力亦经传感器转换为一电测量信号，并予以显示。
相较于现有技术，本发明的电子元件拉力试验装置及方法以垂直向上的拉力上拉与电子元件组合为一体的粘着块，由于粘着块的拉力分散作用，则该电子元件的焊点均匀受力，且可同时获取电子元件脱离试片时的拉力值，以进行后续电子元件失效分析，实已解决现有的缺失。

Claims (9)

1、一种电子元件拉力试验装置，用于以垂直向上的拉力将焊接于一试片上的电子元件与试片分离，其包括一固定夹座与一活动夹座分别轴套于二呈相对的支撑体上，并呈上、下相对的结构关系，且活动夹座沿支撑体以靠近或远离固定夹座的方式滑动，其特征在于：该装置更包括：
一吊勾，其装设于活动夹座下方；
一钢索，一端挂设于该吊勾上；
一粘着块，其连接于该钢索另一端。
2、如权利要求1所述的电子元件拉力试验装置，其特征在于：该粘着块形状规则对称且质地均匀。
3、如权利要求1所述的电子元件拉力试验装置，其特征在于：以该粘着块的中心为轴心开设一第一螺孔，与螺丝锁合。
4、如权利要求3所述的电子元件拉力试验装置，其特征在于：该螺丝顶部的侧边开设一供钢索穿设的穿孔。
5、如权利要求1所述的电子元件拉力试验装置，其特征在于：更包括有试片台装设于该固定夹座上，试片台上间隔开设若干第二螺孔，与套设压置片的固定螺丝配合锁紧，且该压置片一端压置于试片上。
6、如权利要求1所述的电子元件拉力试验装置，其特征在于：更包含动力部容设于活动夹座内，且该动力部一端拉动该吊勾，另一端将该拉力传递给一将拉力值转换为一电测量信号的传感器。
7、如权利要求1所述的电子元件拉力试验装置，其特征在于：该活动夹座两端设有滑塞，且该支撑体相对该滑塞凹陷设有滑槽，且该滑槽由组设固定夹座的位置延伸至该支撑体的顶端，收容该滑塞。
8、一种电子元件拉力试验方法，应用于电子元件拉力试验装置，该装置包括固定夹座、活动夹座及位于活动夹座上的粘着块，固定夹座与活动夹座得相对运动而施以拉力，该方法步骤如下：
粘合粘着块与试片上的电子元件，使粘着块与电子元件的中心点一致；
定位粘着块；
将试片固定于固定夹座；
对粘着块施以垂直向上的拉力直至电子元件与试片分离。
9、如权利要求8所述的电子元件拉力试验方法，其特征在于：定位粘着块的步骤更包括利用铅垂对准粘着块的中心。
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