CN101027566B - 测试模拟器及测试模拟方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置的既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份。

Description

测试模拟器及测试模拟方法

技术领域

本发明涉及一种测试模拟器，测试模拟程序以及记录媒体。本发明特别是涉及一种模拟半导体装置的测试用的测试模拟器，测试模拟程序以及记录媒体。

背景技术

本申请案与下记的日本申请案相关连。就借由文献的参照而确认可编入的指定国而言，借由参照下记的申请案中所记载的内容而编入本申请案中，以作为本申请案的一部份。

1.特愿2004-278582    申请日  公元2004年09月24日

现在，VLSI等的半导体装置的设计是借由Verilog-HDL或VHDL等的硬件描述语言(HDL)使用电脑来进行。而且，使用此种HDL来设计时，借由使用行为(behavior)位准或闸位准(gate level)等的装置模拟器(Verilog-HDL或VHDL模拟器)在制造成硅IC之前，须就“设计者所想要的功能是否可实现”来进行验证。例如，使用以HDL为基准的模拟器以对半导体测试装置所进行的半导体装置的测试进行模拟，以揭示该半导体装置的设计在验证时所用的技术(例如，请参照专利文献1)。

专利文献1：特开2002-215712号公报

发明内容

发明所要解决的问题

然而，借由装置模拟器来进行模拟的半导体装置的动作速率在与实际的半导体装置的动作速率相比较时非常慢。因此，使用一装置模拟器来模拟的半导体装置的测试在与使用实际的半导体测试装置和半导体装置时的测试相比较时需要非常长的时间。因此，半导体装置的设计的自动化尚不能称为“以很高的效率来进行”，因此期望一种更有效率地来模拟此测试所用的测试模拟器。

因此，本发明的目的是提供一种可解决上述问题的测试模拟器，测试模拟程序以及记录媒体。

解决问题用的手段

为了解决上述问题，本发明的第1形式中模拟半导体装置的测试所用的测试模拟器具备：测试图样(pattern)保持组件，其保持着既存的测试图样并保持着用于模拟测试的半导体装置中的内部暂存器中的值；装置输出保持组件，其预先保持着对应于该既存的测试图样应得到的输出；测试图样产生组件，其产生用于模拟测试的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，当新的测试图样开始施加至半导体装置时半导体装置的内部暂存器的值与测试图样保持组件中已保持的内部暂存器的值一样时，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为对应于新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份；终了暂存器值保持组件，其保持着既存的测试图样施加终了之后半导体装置的内部暂存器的值；以及暂存器值设定组件，当模拟跳过组件已跳过模拟测试的至少一部份时，使半导体装置的内部暂存器的值被设定成终了暂存器值保持组件所保持的内部暂存器的值。

上述的测试模拟器更可具备一装置输出产生组件，若新的测试图样与既存的测试图样不相同，则借由对半导体装置的动作进行模拟时所用的装置模拟组件施加新的测试图样而使此装置模拟组件动作，以产生一种由半导体装置而来的输出。该测试模拟器的该装置模拟组件包含在所述的测试模拟器中。该测试图样保持组件具有测试图样储存组件，以储存着测试图样产生组件所产生的新的测试图样。装置输出保持组件亦可具有装置输出储存组件，其储存着由装置输出产生组件所产生的半导体装置而来的新的输出。

测试图样保持组件亦可具有一种开始暂存器值储存组件，其由装置模拟组件接收一种对装置模拟组件开始施加新的测试图样时半导体装置的内部暂存器的值且予以储存。

测试图样保持组件以多数的方式保持着既存的测试图样开始施加至装置模拟组件时半导体装置的内部暂存器的值和该既存的测试图样的组合。装置输出保持组件分别对应于多个既存的测试图样，以保持着既存的测试图样所对应的半导体装置的输出。该模拟跳过组件在开始施加新的测试图样时的半导体装置的内部暂存器的值与该新的测试图样的组合是与该测试图样保持组件中所保持的组合的任一个一样时，则亦可跳过此模拟测试的至少一部份。

该测试图样产生组件产生该新的测试图样，用于模拟跳过组件已跳过的模拟测试再开始时。终了暂存器值保持组件亦可具有终了暂存器值储存组件，其在对装置模拟组件施加完成新的测试图样之后，由装置模拟组件接收半导体装置的内部暂存器的值且予以储存。

又，在本发明的第二形式中，模拟半导体装置的测试时所用的测试模拟方法具备：测试图样(pattern)保持步骤，其保持着用于模拟测试的既存的测试图样和半导体装置中的内部暂存器的值；装置输出保持步骤，其预先保持着应对应于该既存的测试图样所得到的输出；测试图样产生步骤，其产生用于模拟测试的新的测试图样；测试图样判断步骤，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)步骤，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，当新的测试图样开始施加至半导体装置时半导体装置的内部暂存器的值与测试图样保持步骤中已保持的内部暂存器的值一样时，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持步骤中所保持的输出被读出，以作为对应于新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份；终了暂存器值保持步骤，其保持着既存的测试图样施加完成之后半导体装置的内部暂存器的值；以及暂存器值设定步骤，当模拟测试的至少一部份已被跳过时，使该半导装置中的内部暂存器的值被设定成终了暂存器值保持步骤所保持的内部暂存器的值。

上述的测试模拟器更可具备一装置输出产生步骤，若新的测试图样与既存的测试图样不相同，则借由对半导体装置的动作进行模拟时所用的装置模拟步骤，对应于新的测试图样产生一种由半导体装置而来的新的输出。该测试图样保持步骤具有测试图样储存步骤，以储存着测试图样产生步骤所产生的新的测试图样。装置输出保持步骤亦可具有装置输出储存步骤，其对应于新的测试图样以储存着由装置模拟步骤所产生的半导体装置而来的新的输出。

测试图样保持步骤亦可具有一种开始暂存器值储存步骤，当对装置模拟步骤开始施加新的测试图样时，其接收半导体装置的内部暂存器的值且予以储存。

测试图样保持步骤以多数的方式保持着既存的测试图样开始施加至装置模拟步骤时半导体装置的内部暂存器的值和该既存的测试图样的组合。装置输出保持步骤分别对应于多个既存的测试图样，保持着该既存的测试图样时所对应的输出。该模拟跳过步骤在开始施加新的测试图样时，当半导体装置的内部暂存器的值与该新的测试图样的组合是与该测试图样保持步骤中所保持的组合的任一个一样时，则亦可跳过此模拟测试的至少一部份。

其中产生该新的测试图样，用于已跳过的模拟测试再开始时。终了暂存器值保持步骤亦可具有终了暂存器值储存步骤，其在对装置模拟步骤施加完成新的测试图样之后，由装置模拟步骤接收半导体装置的内部暂存器的值且储存着。

又，本发明的概要并未列举本发明必要特征的全部，这些特征群的下位组合(sub-combination)亦属本发明。

发明的效果

依据本发明，在与实际的半导体装置相比较时使用一动作速率慢的装置模拟器以模拟半导体装置的测试时，能有效率地模拟此测试，使模拟测试所需要的时间缩短。

为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明的实施形式的测试模拟系统10的功能构成的一例的方块图。

图2是本发明的实施形式的测试图样资料库316的一例。

图3是本发明的实施形式的装置输出资料库344的一例。

图4是本发明的实施形式的终了暂存器值资料库364的一例。

图5是本发明的实施形式的测试模拟器30的处理流程的一例的流程图。

图6是本发明的实施形式的电脑1500的硬件构成的一例的方块图。

10：测试模拟系统            20：测试模拟器控制组件

30：测试模拟器              40：装置模拟组件

300：测试图样产生组件       310：测试图样保持组件

312：测试图样储存装置       314：开始暂存器值储存组件

316：测试图样资料库         320：测试图样判断组件

330：装置输出产生组件       340：装置输出保持组件

342：装置输出储存组件       344：装置输出资料库

350：模拟跳过组件           360：终了暂存器值保持组件

362：终了暂存器值储存组件   364：终了暂存器值资料库

370：暂存器值设定组件       380：期待值保持组件

390：逻辑比较组件

具体实施方式

以下，将依据本发明的实施形式来说明本发明，但以下的实施形式不是对权利要求所属的发明的一种限制。又，各实施形式中所说明的特征的组合的全部不限于发明的解决手段所必需者。

图1是本发明的实施形式的测试模拟系统10的功能构成的一例的方块图。此测试模拟系统10具备一测试模拟器控制组件20，测试模拟器30以及装置模拟组件40。测试模拟系统10不是借由使用半导体测试装置来对半导体装置进行测试以判定半导体装置的良否，而是使用一测试模拟器30(其借由软件来模拟半导体测试装置)和装置模拟组件40(其借由软件来模拟半导体装置)借由模拟该半导体装置的测试，以判定该半导体装置的良否。又，本例中的测试模拟系统10施加一种测试图样至半导体装置，使对应于该测试图样而由半导体装置所输出的输出信号来和期待值相比较，以模拟一种“判定该半导体装置的良否”的功能测试。

本发明的实施形式的测试模拟器30的目的是：在施加至装置模拟组件40中的测试图样例如与以前所用的测试图样等的既存的测试图样一样时，借由装置模拟组件40中的半导体装置产生输出时所需的处理过程被跳过，使模拟测试所需要的时间缩短。

测试模拟器控制组件20控制该测试模拟器30，以对装置模拟组件40进行一种模拟测试。此处，测试模拟器控制组件20亦可对应于装置模拟组件40在进行模拟动作时的半导体装置借由使用者依据对该半导体装置应进行测试的顺序或方法等所记述的测试程序来控制该测试模拟器30。又，上述的测试程序例如亦可含有：该测试模拟器在对装置模拟组件40进行模拟的功能测试时对该装置模拟组件40所供给的测试图样，该装置模拟组件40对应于该测试图样所产生的半导体装置的输出的期待值以及该输出和该期待值相比较时的时序(timing)被显示时用的时序资讯。

测试模拟器30借由对该半导体装置的动作进行模拟用的装置模拟组件40来进行模拟测试，以模拟该半导体装置的测试。测试模拟器30具有：测试图样产生组件300、测试图样保持组件310、测试图样判断组件320、装置输出产生组件330、装置输出保持组件、模拟跳过组件、终了暂存器值保持组件360、暂存器值设定组件370、期待值保持组件380以及逻辑比较组件390。又，在图1所示的构成中，此测试模拟器30虽然未具备装置模拟组件40，但在其它的构成中此测试模拟器30亦可具备装置模拟组件40。

测试图样产生组件300依据测试模拟器控制组件20的控制借由装置模拟组件40以产生应施加至被模拟的半导体装置中的新的测试图样，使已产生的测试图样输出至测试图样保持组件310和测试图样判断组件320中。测试图样保持组件310包含：测试图样储存组件312，开始暂存器值储存组件314以及测试图样资料库316。测试图样储存组件312使测试图样产生组件300所产生的新的测试图样储存在测试图样资料库316中。开始暂存器值储存组件314由装置模拟组件40接收一种对装置模拟组件40开始施加新的测试图样时由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值，且储存至该测试图样资料库316中。测试图样资料库316使应施加至装置模拟组件40所模拟的半导体装置中的既存的测试图样保持着。此处，所谓既存的测试图样例如可为以前应施加至由装置模拟组件40所模拟的半导体装置中的测试图样，又，其亦可为典型的测试图样等已预定的测试图样。而且，测试图样资料库316使开始施加已保持的既存的测试图样时的半导体装置的内部暂存器的值保持着。

测试图样判断组件320判断：由该测试图样产生组件300所接收的新的测试图样是否与测试图样资料库316中所保持的既存的测试图样相同。又，测试图样判断组件320另亦可判断：开始施加新的测试图样时的由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值是否与由装置模拟组件40所接收时-且同时已接收的内部暂存器的值保持在该测试图样资料库316中而开始施加既存的测试图样时的内部暂存器的值相同。在此种情况下，即使在新的测试图样与既存的测试图样的内容一样，但就开始施加新的测试图样和开始施加该既存的测试图样的各别情况下，内部暂存器的值不一样时，此测试图样判断组件320亦可将新的测试图样判断成“与既存的测试图样不一样”。而且，试图样判断组件320使判断结果输出至装置输出产生组件330，模拟跳过组件350以及暂存器值设定组件370中，且同时在新的测试图样被判断成与既存的测试图样不一样时，试图样判断组件320更使由测试图样产生组件300所接收的新的测试图样输出至装置输出产生组件330中。

在测试图样判断组件320判断“测试图样产生组件300所产生的新的测试图样不同于测试图样资料库316中所保持的既存的测试图样”时，装置输出产生组件330对该模拟半导体装置的动作所用的装置模拟组件40施加一种由测试图样判断组件320所接收的新的测试图样，且借由使装置模拟组件40动作以产生一由半导体装置而来的输出。然后，装置输出产生组件330接收此装置模拟组件40中所产生的半导体装置的输出且使已接收的输出被输出至装置输出保持组件340中。又，装置输出产生组件330由装置模拟组件40取得一种开始施加新的测试图样至装置模拟组件40时半导体装置的内部暂存器的值。然后，装置输出产生组件330使已取得的内部暂存器的值输出至开始暂存器值储存组件314中且储存在该测试图样资料库316中。又，装置输出产生组件330使已取得的内部暂存器的值输出至该测试图样判断组件320中，且须对“此值是否与保持在该测试图样资料库316中的开始施加既存的测试图样时的内部暂存器的值相同”进行判断。又，装置输出产生组件330使“新的测试图样施加至装置模拟组件40”终止，且由装置模拟组件40取得半导体装置的输出已产生之后该半导体装置的内部暂存器的值。然后，装置输出产生组件330使已取得的内部暂存器的值输出至终了暂存器值保持组件360中。

装置输出保持组件340使由装置输出产生组件330所接收的由装置模拟组件40所产生的半导体装置的输出被输出至模拟跳过组件350中。又，装置输出保持组件340含有装置输出储存组件342和装置输出资料库344。装置输出储存组件342由装置输出产生组件330接收该装置模拟组件40对应于测试图样产生组件300所产生的由新的测试图样所产生的半导体装置而来的输出且储存至装置输出资料库344中。装置输出资料库344在施加既存的测试图样至装置模拟组件40所模拟的半导体装置中时预先保持着应由半导体装置中所得到的输出。又，装置输出资料库344亦可不只保持着由该装置输出储存组件342所储存的输出(例如，典型的测试图样所对应的输出等已预定的输出)。

模拟跳过组件350由测试图样判断组件320接收“该测试图样产生组件300所产生的新的测试图样是否与测试图样资料库316中所保持的既存的测试图样相同”的判断结果。然后，在新的测试图样与既存的测试图样不一样时，该模拟跳过组件350由装置输出保持组件340接收一种由装置模拟组件40所产生的对应于新的测试图样的半导体装置的输出且使此输出被输出至逻辑比较组件390。另一方面，在新的测试图样与既存的测试图样一样时，模拟跳过组件350对该装置模拟组件40所模拟的半导体装置不施加上述的新的测试图样，在施加该既存的测试图样至半导体装置中时，模拟跳过组件350由装置输出资料库344读出一种应由半导体装置所得到的输出，借由半导体装置相对于新的测试图样而来的输出以跳过此模拟测试的至少一部份。然后，此模拟跳过组件350在跳过此模拟测试的至少一部份时使装置输出资料库344所读出的对应于既存的测试图样的半导体装置的输出被输出至逻辑比较组件390。又，此模拟跳过组件350由测试图样判断组件320接收“开始施加新的测试图样至半导体装置时半导体装置的内部暂存器的值是否与开始施加既存的测试图样时的内部暂存器的值相同”的判断结果时，更可以各别的内部暂存器的值是一样时作为条件，以跳过此模拟测试的至少一部份。

终了暂存器值保持组件360含有终了暂存器值储存组件362和终了暂存器值资料库364。终了暂存器值储存组件362由装置输出产生组件330接收一种对装置模拟组件40终止施加新的测试图样之后由该装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值且将此值储存至终了暂存器值资料库364。终了暂存器值资料库364使终止施加既存的测试图样后由该装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值被保持着。

在测试图样产生组件300所产生的新的测试图样借由测试图样判断组件320判断成“与测试图样资料库316所保持的既存的测试图样一样”且借由该模拟跳过组件350而已跳过该模拟测试的至少一部份时，暂存器值设定组件370使终了暂存器值资料库364所保持的终止施加该既存的测试图样后该半导体装置的内部暂存器的值被读出。然后，暂存器值设定组件370使已读出的内部暂存器的值设定至由该装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器中。然后，接收上述的值，该测试图样产生组件300应使由该模拟跳过组件350所跳过的模拟测试再开始，以产生新的测试图样。

期待值保持组件380由测试模拟器控制组件20接收一种对应于由该测试图样产生组件300所产生的新的测试图样的由装置模拟组件40所产生的半导体装置的输出的期待值以及该输出和该期待值相比较时的时序显示用的时序资讯且将其保持着。逻辑比较组件390由模拟跳过组件350接收一种对应于由该测试图样产生组件300所产生的新的测试图样而由装置模拟组件40所产生的半导体装置的输出或与该新的测试图样相同的既存的测试图样所对应的由装置输出资料库344所读出的输出。然后，逻辑比较组件390在由期待值保持组件380所保持的时序资讯为基准的时序中借由“模拟跳过组件350所接收的半导体装置的输出是否与由期待值保持组件380所保持的期待值相一致”，以判定由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的良否，且将此判定结果输出至测试模拟器控制组件20中。

依据本发明的实施形式的测试模拟器30，应施加至装置模拟组件40中的新的测试图样例如与以前已施加的测试图样或典型的测试图样等既存的测试图样一样时，则依据该新的测试图样使装置模拟组件40中不会产生半导体装置的输出，使装置输出资料库344中所预先保持的对该既存的测试图样的输出可作为对该新的测试图样的输出而与期待值相比较。因此，例如，就像与半导体装置的输出相比较的期待值或输出与期待值比较时的时序等变更时那样，施加至装置模拟组件40中的测试图样未变更而再进行模拟测试时，装置模拟组件40会跳过一种称为“产生半导体装置的输出”所需的很多时间的处理的至少一部份，模拟测试所需要的时间因此可缩短。另一方面，在使用一种与既存的测试图样不同的测试图样以作为新的测试图样时，实际上由于可使装置模拟组件40动作以产生该半导体装置的输出，则与所用的测试图样的内容无关，该模拟测试所需要的时间可受到限制而缩短。

又，依据测试模拟器30，在所称的同一条件下施加新的测试图样和既存的测试图样，只有在开始施加各别的测试图样至装置模拟组件40中时在称为“半导体装置的内部暂存器的值一样”的条件被满足时，才可跳过此模拟测试的至少一部份。因此，装置模拟组件40即使在所施加的测试图样一样且内部暂存器的值不一样而产生不同的输出时，仍可正确地判断此模拟测试是否应跳过。

新的测试图样和既存的测试图样被判断成一样而跳过该模拟测试时，装置模拟组件40由于未依据新的测试图样来动作，则此装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器未变化。总之，在多种情况下，此模拟测试被跳过时和未被跳过时内部暂存器的值是不同的。此种情况下，模拟测试被跳过之后，使用下一个新的测试图样再开始此模拟测试是不可以的。因此，例如，就测试顺序全体而言，由进行内部暂存器的初始化之后直至下次进行内部暂存器的初始化为止的期间等非常长的期间以外都不可跳过此模拟测试，此模拟测试所需要的时间于是不能有效地缩短。

然而，依据本发明的实施形式中的测试模拟器30，新的测试图样和既存的测试图样被判断成一样而跳过该模拟测试时，可由终了暂存器值资料库364读出先前已终止施加该既存的测试图样至装置模拟组件40之后该半导体装置的内部暂存器的值以设定至装置模拟组件40中。因此，由于此模拟测试被跳过时和未被跳过时内部暂存器的值可作成相同，则在被跳过之后可再开始该模拟测试。于是，可跳过此模拟测试时的期间，即，新的测试图样和既存的测试图样判断成是否一样时的测试图样的长度，由于可作成更短，则在更多的情况下可跳过该模拟测试。总之，依据此测试模拟器30，模拟测试时所需要的时间可有效地缩短。

图2是本发明的实施形式的测试图样资料库316的一例。测试图样资料库316以多个的方式保持着既存的测试图样和开始施加该既存的测试图样至装置模拟组件40时该半导体装置的内部暂存器的值的组合。例如，测试图样资料库316亦可相对应地保持着：每个既存的测试图样的不同的指标(index)，该既存的测试图样以及开始施加该既存的测试图样至装置模拟组件40中时该半导体装置的内部暂存器的值。此处，“指标”例如亦可定义为：借由该测试图样产生组件300以产生新的测试图样时，产生此指标以便在新的测试图样中作为一种有意义的值。又，各别的既存的测试图样例如亦可含有所谓信号的上升或下降的事件(event)的种类以及该事件的发生时序(timing)的多种组合。又，这里所谓事件的发生时序例如亦可以是由半导体装置测试时的测试周期的开始时点算起的经过时间，又，其亦可以是由先前的事件的发生时点算起的经过时间。又，内部暂存器的值亦可包含多个内部暂存器各别的值。

图3是本发明的实施形式的装置输出资料库344的一例。装置输出资料库344各别地对应于多个既存的测试图样以施加该既存的测试图样时，使应由装置模拟组件40所模拟的半导体组件所得到的输出被保持着。例如，装置输出资料库344亦可相对应地保持着：每个既存的测试图样的不同的指标(index)以及施加该既存的测试图样时由装置模拟组件40而来的输出。此处，“指标”例如亦可定义为：借由该测试图样产生组件300以产生新的测试图样时，产生此指标以便在新的测试图样中作为一种有意义的值，其亦可与图2中所示的测试图样资料暂存器316中的指标相同。

图4是本发明的实施形式的终了暂存器值资料库364的一例。终了暂存器值资料库364各别地对应于多个既存的测试图样，使终止施加该既存的测试图样之后由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值被保持着。例如，终了暂存器值资料库364亦可相对应地保持着：每个既存的测试图样的不同的指标(index)以及施加该既存的测试图样时的内部暂存器的值。此处，“指标”例如亦可定义为：借由该测试图样产生组件300以产生新的测试图样时，产生此指标以便在新的测试图样中作为一种有意义的值，其亦可与图2中所示的测试图样资料暂存器316中的指标相同。又，内部暂存器的值亦可包含多个内部暂存器各别的值。

依据本发明的实施形式的测试模拟器30，可以多个的方式保持着：既存的测试图样，开始施加该既存的测试图样时的内部暂存器的值，施加该既存的测试图样时该半导体装置的输出以及终止施加该既存的测试图样时内部暂存器的值的组合。因此，即使在使用多样化的测试图样时，在模拟测试时仍可很精确地检出“可跳过的部份”，模拟测试所需的时间即可有效地缩短。

图5是本发明的实施形式的测试模拟器30的处理流程的一例的流程图。首先，测试图样产生组件300产生一种应施加至装置模拟组件40所模拟的半导体装置中的新的测试图样(S1000)。然后，装置输出产生组件330由装置模拟组件40取得此装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值(S1010)。然后，测试图样判断组件320判断：该测试图样产生组件300所产生的新的测试图样和开始施加该新的测试图样时由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值的组合是否与该测试图样资料库316中所保持的既存的测试图样和开始施加既存的测试图样时半导体装置的内部暂存器的值的复数的组合中的哪一个相同(S1020)。

然后，新的测试图样的上述的组合借由该测试图样判断组件320而被判断成：与保持在该测试图样资料库316中多个既存的测试图样的各个测试图样中上述的组合的任一个相同(S1020：Yes)，则模拟跳过组件350对装置模拟组件40所模拟的半导体装置不施加该新的测试图样，借由装置输出资料库344读出一种施加该既存的测试图样至半导体装置中时应由半导体装置所得到的输出，以作为半导体装置对该新的测试图样而得的输出，则可跳过此模拟测试的至少一部份(S1030)。然后，暂存器值设定组件370由终了暂存器值资料库364读出一种使被判断成与新的测试图样相同的既存的测试图样终止施加至装置模拟组件40之后该装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值，且将此值设定在半导体装置的内部暂存器中(S1040)。

另一方面，新的测试图样的上述的组合借由该测试图样判断组件320而被判断成：与保持在该测试图样资料库316中多个既存的测试图样的各个测试图样中上述的组合的任一个都不一样时(S1020：No)，则装置输出产生组件330施加新的测试图样至装置模拟组件40，借由使装置模拟组件40动作而产生一由半导体装置而来的输出(S1050)。然后，装置输出储存组件342使对应于新的测试图样而由装置模拟组件40所产生的半导体装置的输出储存至装置输出资料库344中(S1060)。然后，测试图样保持组件310使新的测试图样以及对装置模拟组件40开始施加该新的测试图样时由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值储存至该测试图样资料库316中(S1070)。然后，终了暂存器值储存组件362使对装置模拟组件40终止施加该新的测试图样之后由装置模拟组件40所模拟的半导体装置的内部暂存器的值储存至该终了暂存器值资料库363(S1080)。

然后，逻辑比较组件390借由模拟跳过组件350使模拟测试被跳过时由装置输出资料库344所读出的既存的测试图样所对应的输出以及模拟测试未跳过时装置输出产生组件330在装置模拟组件40中所产生的输出等共二个输出的与期待值的比较结果，以判定此装置模拟组件40所模拟的半导体装置的良否(S1090)。又，该测试模拟器30必要时亦可相对应地重复以上的处理。

依据本发明的实施形式的测试模拟器30，新的测试图样，开始施加该新的测试图样时的内部暂存器的值的组合不与既存的测试图样和开始施加该既存的测试图样时的内部暂存器的值的组合一样时，则该新的测试图样，开始施加该新的测试图样时的内部暂存器的值，对应于该新的测试图样所产生的半导体装置的输出以及该半导体装置的输出已产生之后的内部暂存器的值的组合可储存着以作为既存的测试图样的组合中的一个组合。因此，以下，相同的测试图样用作新的测试图样时，可跳过一种与该测试图样有关的模拟测试。总之，即使测试图样的上述的组合未预先保持着而进行该模拟测试时，仍可更有效率地跳过该模拟测试，于是此模拟测试所需的时间即可缩短。

又，借由测试图样判断组件320来判断”开始施加新的测试图样时的内部暂存器的值是否相同”时，此时亦可不一定须判断“装置模拟组件40所模拟的半导体装置中全部的暂存器是否都相同”，在由测试模拟器30所模拟的测试中，借由施加相同的测试图样而由同一输出所得到的情况下应一致的种类的内部暂存器至少若一致时亦可。又，测试模拟器30判断：新的测试图样与开始施加该新的测试图样时的内部暂存器的值的组合是与既存的测试图样和开始施加该既存的测试图样时的内部暂存器的值的组合一样时，则跳过该模拟测试之后，更在新的测试图样与既存的测试图样相一致时，亦可不判断“该测试图样开始施加时的内部暂存器的值是否互相一样”，以跳过此模拟测试。而且，此测试模拟器30判断：该测试图样与开始加该测试图样时的内部暂存器的值的组合相同，在跳过此模拟测试的情况下，继续使用的新的测试图样和既存的测试图样更成为一致时，半导体装置的输出已产生之后的内部暂存器的值亦可不必设定。

图6是本发明的实施形式的电脑1500的硬件构成的一例的方块图。本发明的实施形式中的电脑1500具备：CPU周边部，其具有借由主控制器1582而互相连接的CPU1505、RAM1520，图形控制器1575以及显示装置1580；输出/入部，其具有借由输出/入控制器1584而连接至主控制器1582中的通信介面1530，硬碟驱动器1540以及CD-ROM驱动器1560；以及获接(legacy)输出/入部，其具有连接至输出/入控制器1584的ROM1510，软性磁碟驱动器1550以及输出/入晶片1570。

主控制器1582连接着“RAM1520和以高传送速率来存取RAM1520所用的CPU1505以及图形控制器1575”。CPU1505依据ROM1510和RAM1520中所储存的程序来动作，以进行各部的控制。图形控制器1575取得CPU1505等在RAM1520内所设置的码框(frame)缓冲器上所产生的图象资料，以显示在显示装置1580上。另一方式是，图形控制器1575内部中亦可含有CPU1505等所产生的图象资料储存用的码框缓冲器。

输出/入控制器1584连接着主控制器1582和比较高速的输出/入装置的通信介面1530，硬碟驱动器1540，CD-ROM驱动器1560。通信介面1530经由网络而与其它装置相通信。硬碟驱动器1540储存着电脑1500内的CPU1505所使用的程序和资料。CD-ROM驱动器1560由CD-ROM1595读取程序或资料，且经由RAM1520以提供至硬碟驱动器1540。

又，ROM1510，软性磁碟驱动器1550以及输出/入晶片1570的比较低速的输出入装置连接至输出/入控制器1584。ROM1510储存着电脑1500起动时执行的启动(boot)程序或储存着依存于电脑1500的硬件中的程序。软性磁碟驱动器1550由软性磁碟1590中读取程序或资料，经由RAM1520而提供至硬碟驱动器1540。输出/入晶片1570经由软性磁碟驱动器1550或例如平行埠、串列埠、键盘连接埠、鼠标连接埠等以连接各种输出/入装置。

经由RAM1520以提供至硬碟驱动器1540的测试模拟程序储存在软性磁碟1590，CD-ROM1595或IC卡等的记录媒体中而由使用者所提供。测试模拟程序由记录媒体读出，经由RAM1520而安装在电脑1500内的硬碟驱动器1540中且在CPU1505中执行。安装在电脑1500中而执行的测试模拟程序在CPU1505中操作，电脑1500在功能上是作为图1至图5所说明的测试模拟器30之用。

以上所示的程序亦可储存在外部的记录媒体中。可使用软性磁碟1590，其它的CD-ROM1595，DVD或PD等的光学记录媒体，MD等的光磁气记录媒体，磁带媒体，IC卡等之类的半导体记忆体等。又，亦可使用设在一种连接至专用通信网络或网际网络中的伺服器系统中的硬碟或RAM等的记忆装置以作为记录媒体，经由网络将程序提供至电脑1500中。

以上虽然使用本发明的实施形式来说明，但本发明的技术范围不限于上述实施形式中所记载的范围。上述实施形式中可施加多样化的变更或改良，此为此行的专家所明白。施加此种变更或改良后的形式亦属本发明的技术范围中可得到者，这由权利要求的记载即可明白。

产业上的可利用性

依据本发明以提供一种测试模拟器，其在与实际的半导体装置比较时，使用动作速率慢的装置模拟器来模拟半导体装置的测试时，可有效地模拟此测试，使模拟测试所需要的时间缩短。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定者为准。

Claims (15)

1.一种测试模拟器，其特征在于其用来模拟半导体装置的测试，包括：

测试图样保持组件，其保持着既存的测试图样并保持着用于模拟测试的半导体装置中的内部暂存器中的值；

装置输出保持组件，其预先保持着对应于该既存的测试图样应得到的输出；

测试图样产生组件，其产生用于模拟测试的新的测试图样；

测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；

模拟跳过组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，当新的测试图样开始施加至半导体装置时半导体装置的内部暂存器的值与测试图样保持组件中已保持的内部暂存器的值一样时，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为对应于新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份；

终了暂存器值保持组件，其保持着既存的测试图样施加终了之后半导体装置的内部暂存器的值；以及

暂存器值设定组件，当模拟跳过组件已跳过模拟测试的至少一部份时，使半导体装置的内部暂存器的值被设定成终了暂存器值保持组件所保持的内部暂存器的值。

2.根据权利要求1所述的测试模拟器，其特征在于其中更具备一装置输出产生组件，若新的测试图样与既存的测试图样不相同，则借由对半导体装置的动作进行模拟时所用的装置模拟组件施加新的测试图样而使此装置模拟组件动作，以产生一种由半导体装置而来的输出。

3.根据权利要求2所述的测试模拟器，其特征在于其中该装置模拟组件包含在所述的测试模拟器中。

4.根据权利要求2所述的测试模拟器，其特征在于其中该测试图样保持组件具有测试图样储存组件，以储存着测试图样产生组件所产生的新的测试图样，以及

装置输出保持组件具有装置输出储存组件，其储存着由装置输出产生组件所产生的半导体装置而来的新的输出。

5.根据权利要求2所述的测试模拟器，其特征在于其中该测试图样保持组件具有一种开始暂存器值储存组件，其由装置模拟组件接收一种对装置模拟组件开始施加新的测试图样时半导体装置的内部暂存器的值且予以储存。

6.根据权利要求5所述的测试模拟器，其特征在于其中该测试图样保持组件以多数的方式保持着既存的测试图样开始施加至装置模拟组件时半导体装置的内部暂存器的值和该既存的测试图样的组合，

装置输出保持组件分别对应于多个既存的测试图样，以保持着既存的测试图样所对应的半导体装置的输出，以及

该模拟跳过组件在开始施加新的测试图样时的半导体装置的内部暂存器的值与该新的测试图样的组合是与该测试图样保持组件中所保持的组合的任一个一样时，则亦可跳过此模拟测试的至少一部份。

7.根据权利要求2所述的测试模拟器，其特征在于其中

该测试图样产生组件产生该新的测试图样，用于模拟跳过组件已跳过的模拟测试再开始时。

8.根据权利要求2所述的测试模拟器，其特征在于其中终了暂存器值保持组件具有终了暂存器值储存组件，其在对装置模拟组件施加完成新的测试图样之后，由装置模拟组件接收半导体装置的内部暂存器的值且予以储存。

9.一种测试模拟方法，模拟半导体装置的测试，此测试模拟方法具备：

测试图样保持步骤，其保持着用于模拟测试的既存的测试图样和半导体装置中的内部暂存器的值；

装置输出保持步骤，其预先保持着应对应于该既存的测试图样所得到的输出；

测试图样产生步骤，其产生用于模拟测试的新的测试图样；

测试图样判断步骤，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；

模拟跳过步骤，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，当新的测试图样开始施加至半导体装置时半导体装置的内部暂存器的值与测试图样保持步骤中已保持的内部暂存器的值一样时，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持步骤中所保持的输出被读出，以作为对应于新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份；

终了暂存器值保持步骤，其保持着既存的测试图样施加完成之后半导体装置的内部暂存器的值；以及

暂存器值设定步骤，当模拟测试的至少一部份已被跳过时，使该半导装置中的内部暂存器的值被设定成终了暂存器值保持步骤所保持的内部暂存器的值。

10.根据权利要求9所述的测试模拟方法，其特征在于更具备一装置输出产生步骤，若新的测试图样与既存的测试图样不相同，则借由对半导体装置的动作进行模拟时所用的装置模拟步骤，对应于新的测试图样产生一种由半导体装置而来的新的输出。

11.根据权利要求10所述的测试模拟方法，其特征在于其中该测试图样保持步骤具有测试图样储存步骤，以储存着测试图样产生步骤所产生的新的测试图样，以及

装置输出保持步骤具有装置输出储存步骤，其对应于新的测试图样储存着装置模拟步骤所产生的由半导体装置而来的新的输出。

12.根据权利要求10所述的测试模拟方法，其特征在于其中该测试图样保持步骤具有一种开始暂存器值储存步骤，当对装置模拟步骤开始施加新的测试图样时，其接收半导体装置的内部暂存器的值且予以储存。

13.根据权利要求12所述的测试模拟方法，其特征在于其中测试图样保持步骤以多数的方式保持着既存的测试图样开始施加至装置模拟步骤时半导体装置的内部暂存器的值和该既存的测试图样的组合，

装置输出保持步骤分别对应于多个既存的测试图样，保持着该既存的测试图样时所对应的输出，以及

该模拟跳过步骤在开始施加新的测试图样时，当半导体装置的内部暂存器的值与该新的测试图样的组合是与该测试图样保持步骤中所保持的组合的任一个一样时，则可跳过此模拟测试的至少一部份。

14.根据权利要求10所述的测试模拟方法，其特征在于其中：

产生该新的测试图样，用于已跳过的模拟测试再开始时。

15.根据权利要求14所述的测试模拟方法，其特征在于其中该终了暂存器值保持步骤具有终了暂存器值储存步骤，其在对装置模拟步骤施加完成新的测试图样之后，由装置模拟步骤接收半导体装置的内部暂存器的值且储存着。

Images