CN101004879A - 显示屏检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及自动检测技术，特别涉及发光显示屏的检测方法和装置。本发明针对现有技术的检测方法耗费时间长，工作效率低，误判率高的缺点，公开了一种自动检测显示屏的方法及自动检测显示屏的装置。本发明的技术方案，采用光敏电阻作为传感器，根据其阻值的变化，判断显示屏字符段是否正常点亮。本发明的有益效果是，完全实现了显示屏的自动化检测，具有准确可靠，检测速度快的优点。能够大量节省人工，大大降低生产成本。特别适合检测LED显示屏和VFD显示屏。

Description

显示屏检测方法及装置

技术领域

本发明涉及自动检测技术，特别涉及发光显示屏的检测方法和装置。

背景技术

在很多电器产品中，广泛采用了各种显示屏，用于显示产品的工作状态、设定参数等各种信息。常用的显示屏，包括发光二极管(LED)显示屏和荧光显示屏(VFD)，其基本工作原理是，通过点亮组成显示屏的字符段，组合成各种文字、符号及图案。在生产中都需要对显示屏进行检测，以便剔除其中的虚焊、连焊及死段等，保证显示的字符正确、完整。

现有技术中，显示屏常用如下两种方法进行检测：

1.将显示屏及其控制板直接连接在主板上，让系统工作，通过人眼对显示屏进行观察，判断显示屏是否合格。这种方式要将系统的各个状态都切换一次，因此要浪费大量时间，工作效率低。

2.制作一个专门的控制系统驱动显示屏，逐次显示特定的字符，由操作者通过观察这些显示，来判断显示屏是否合格。这个方法需要逐次显示特定的符号，容易引起操作者视觉疲劳，造成错误判断。

现有技术的检测方法，都是通过人眼进行直接观察，普遍存在耗费时间长，工作效率低，误判率高的缺点。

发明内容

本发明所要解决的技术问题，就是针对现有技术的检测方法耗费时间长，工作效率低，误判率高的缺点，提供一种自动检测显示屏的方法。本发明还提供了自动检测显示屏的装置。

本发明解决所述技术问题，采用的技术方案是，显示屏检测方法，包括以下步骤：

a.设置一个光敏电阻阵列，使光敏电阻与显示屏的字符段对应；

b.点亮第i字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为A；

c.比较阻值A与经验值A1的大小；如果A≥A1，则进入下面步骤，反之，则为次品，剔除；

d.熄灭第i字符段，点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为Abn；

e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小；如果A-Abn≥A2，则进入下面步骤，反之，则为次品，剔除；

f.返回步骤b，直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。

本发明的装置包括控制系统和光敏电阻阵列；所述控制系统用于驱动显示屏，并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值；其特征在于，所述光敏电阻阵列中的光敏电阻，与显示屏的字符段对应。

本发明的有益效果是，完全实现了显示屏的自动化检测，具有准确可靠，检测速度快的优点。能够大量节省人工，大大降低生产成本。

附图说明

图1是实施例的程序流程图；

图2是显示屏字符段示意图；

图3是实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例，详细描述本发明的技术方案。

本发明利用光敏电阻检测显示屏字符段的发光情况，并与统计平均值进行比较，从而判断字符段是否正常点亮和熄灭，并在检测过程中剔除不合格产品(次品)。

本发明的显示屏检测方法，包括以下步骤：

a.设置一个光敏电阻阵列，使光敏电阻与显示屏的字符段对应；

b.点亮第i字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为A；

c.比较阻值A与经验值A1的大小；如果A≥A1，则进入下面步骤，反之，则为次品，剔除；

d.熄灭第i字符段，点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为Abn；

e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小；如果A-Abn≥A2，则进入下面步骤，反之，则为次品，剔除；

f.返回步骤b，直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。

具体的，步骤c中，所述经验值A1为正常的合格产品，点亮第i字符段时，第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。

具体的，步骤e中，所述经验值A2为正常的合格产品，点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时，第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。

进一步的，所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。

本发明的显示屏检测装置，包括控制系统和光敏电阻阵列；所述控制系统用于驱动显示屏，并采集所述光敏电阻阵列中光敏电阻的阻值；其特征在于，所述光敏电阻阵列中的光敏电阻，与显示屏的字符段对应。

进一步的，所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。

具体的，所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。

具体的，所述控制系统由单片机构成。

更具体的，所述单片机型号为AT89C51。

实施例

首先，根据待检测的显示屏的字符段分布情况，设置一个光敏电阻阵列。即在显示屏的每个字符段的对应位置，设置一个光敏电阻。开始检测时，将光敏电阻阵列与显示屏，以紧密接触的方式安装在一起，以便光敏电阻能够有效感应显示屏字符段点亮时的光信号。

本例的检测流程，参见图1。

熄灭所有字符段，控制系统配置数据A1和A2。

点亮第i字符段，控制系统采集第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为A。

比较阻值A与数据A1的大小，如果A≥A1，则继续下面步骤，反之，则判断为虚焊或死段次品，剔除。

熄灭第i字符段，点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为Abn。如图2所示，第i字符段的相邻字符段分别为：第k、l、j、m字符段；如果检测的是第n字符段，则其相邻字符段为：第o、p、q、j字符段。余类推。

比较差值A-Abn与数据A2的大小，如果A-Abn≥A2，则继续下面步骤，反之，则判断为连焊次品，剔除。

点亮第i字符段的另一个相邻字符段，如图2中，分别点亮第k、l、j、m字符段。采集第i字符段对应光敏电阻的阻值，直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测，最后得到经过检测的合格品。

上述数据A1为正常的合格产品，在点亮第i字符段时，第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值，或称为经验值。

同样的，数据A2也是一种统计平均值，是在正常的合格产品中，点亮第i字符段相邻的某个字符段时，第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。

本例的检测装置结构如图3所示，包括电源、控制系统和光敏电阻阵列。控制系统由单片机AT89C51为核心构成，光敏电阻阵列中，光敏电阻是根据显示屏的字符段结构进行排列的。如图2中的每个字符段，包括表示小数点的第i字符段，都在其对应位置设置有光敏电阻。为了便于光敏电阻感应光信号，检测时，应采用光敏电阻阵列与显示屏紧密接触的安装方式。进行检测时，单片机输出控制信号，通过显示屏的驱动电路PT6311，驱动显示屏的字符段，安上述方式点亮。同时，单片机采集光敏电阻阵列中，相应光敏电阻的阻值，并与配置的数据(A1、A2)进行比较，逐一完成所有字符段的检测。

本发明的显示屏检测装置，采用光敏电阻作为检测传感器，特别适合检测LED显示屏和VFD显示屏。

Claims (10)

1.显示屏检测方法，包括以下步骤：

a.设置一个光敏电阻阵列，使光敏电阻与显示屏的字符段对应；

b.点亮第i字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为A；

c.比较阻值A与经验值A1的大小；如果A≥A1，则进入下面步骤，反之，则为次品，剔除；

d.熄灭第i字符段，点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段，测量第i字符段对应光敏电阻的阻值，记为Abn；

e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小；如果A-Abn≥A2，则进入下面步骤，反之，则为次品，剔除；

f.返回步骤b，直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。

2.根据权利要求1所述的显示屏检测方法，其特征在于，步骤c中，所述经验值A1为：正常的合格产品，点亮第i字符段时，第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。

3.根据权利要求1或2所述的显示屏检测方法，其特征在于，步骤e中，所述经验值A2为：正常的合格产品，点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时，第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。

4.根据权利要求3所述的显示屏检测方法，其特征在于，所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。

5.根据权利要求1或2所述的显示屏检测方法，其特征在于，所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。

6.显示屏检测装置，包括控制系统和光敏电阻阵列；所述控制系统用于驱动显示屏，并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值；其特征在于，所述光敏电阻阵列中的光敏电阻，与显示屏的字符段对应。

7.根据权利要求6所述的显示屏检测装置，其特征在于，所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。

8.根据权利要求6所述的显示屏检测装置，其特征在于，所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。

9.根据权利要求6、7或8所述的显示屏检测装置，其特征在于，所述控制系统由单片机构成。

10.根据权利要求9所述的显示屏检测装置，其特征在于，所述单片机型号为AT89C51。

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