一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统
技术领域
本发明涉及LED模组检测技术领域,特别涉及一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统。
背景技术
近年来,LED电子显示屏作为一种高科技产品日益引起人们的重视。它可以实时显示或循环播放文字、图形和图像信息,具有显示方式丰富、观赏性强、显示内容修改方便、亮度高、显示稳定且寿命长等多种优点,被广泛应用于诸多领域。
而智能交通作为传播信息的地方,这几年随处可见LED显示屏的身影,LED作为一个信息的载体,用来展现一些欢迎、提醒的标语、展现公路的智能化,,是一个不错的选择。其高亮度、高清画面、可视角度广等特点,成为交通领域选择LED显示屏作为信息传递的重要因素。
目前,国内有些厂家使用带开路和短路检测的芯片来进行LED的自动老化的检测技术;也有通过电脑发送失控点回收指令,能准确判断单元模组(模组包括P8、P10、P16、P20、P25、P31、P33)中的每一个像素点是否工作正常,有故障的像素点在电脑显示屏上能精确看到故障点的坐标位置,根据提示故障点的坐检查模组,能发现该像素短路、断路、VF不正常等问题,但是现有技术中采用的LED模组自动老化检测技术测试过程繁琐,不便于测试人员的维修和维护,工作效率较低。
因此,研发一种测试准确,维修和维护过程简单方便,工作效率高的LED模组自动老化的检测方法及其检测系统迫在眉睫。
发明内容
本发明的技术目的是克服现有技术的不足,提供一种LED模组自动老化的检测方法,该检测方法测试结果准确,测试过程易于实现,且便于测试人员维修和维护,工作效率高。
为了达到上述技术目的,本发明是按以下技术方案实现的:
本发明所述的一种LED模组自动老化的检测方法,其检测步骤是:
步骤一,读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作;
步骤二,相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒;
步骤三,相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒;
步骤四,读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式;
步骤五,对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算;
步骤六,LED短路和开路、虚焊检测;
步骤七,故障数据记录;
步骤八,读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。
作为上述技术的进一步改进,上述步骤五的具体过程如下:
(1)本子系统熄灭所有的LED;
(2)本子系统点亮此模组中相同颜色的第一个芯片中第一个LED;
(3)本子系统通过AD采样读取这个LED的电压值V1,并保存值V1;
(4)对于模组P16,重复上述步骤1~3,直到同一种颜色的一个芯片所有管脚的LED采样点V1~V16读取完毕,并保存值V1~V16;
(5)本子系统计算V1~V16的电压均值Vavr,并保存Vavr;
(6)本子系统计算电压差值:Δv1~16=(V1~V16)-Vavr,记录对应的模组号、行号、列号和电压差值,
(7)本子系统保存值Δv1~Δv16;
(8)本子系统计算Δv1~Δv16的均值Δvavr,并保存值Δvavr,记录所在模组号,第几个芯片,均值。
作为上述技术的更进一步改进,关于模组P31/P33红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括如下步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1~Δv16|≤70,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+70)<|Δv1~Δv16|≤130,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;(5)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1~Δv16|≤70,则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM;
(6)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1~Δv16|≤200,则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组红色LED);
(7)其它情况下,本系统不作处理;
作为上述技术的更进一步改进,所述模组P31/P33绿色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括如下步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤75,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(4)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1~Δv16|≤260,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(5)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤85,则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(6)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1~Δv16|≤350,则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(7)其它情况下,本系统不作处理;
作为上述技术的更进一步改进,模组P31/P33蓝色LED的短路和开路、虚焊检测过程,其包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P31、P33蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤65,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组蓝色LED);
(4)对于模组P31、P33蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1~Δv16|≤180,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组蓝色LED);
(5)对于模组P31、P33蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1~Δv16|≤350,则将此LED位置信息和全开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组蓝色LED);
(6)其它情况下,本系统不作处理;
作为上述技术的更进一步改进,模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1~Δv16|≤40,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+40)<|Δv1~Δv16|≤140,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+140)<|Δv1~Δv16|≤300,则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM;
(6)其它情况下,本系统不作处理;
作为上述技术的更进一步改进,模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤40,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+40)<|Δv1~Δv16|≤70,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+70)<|Δv1~Δv16|≤150,则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM;
(6)其它情况下,本系统不作处理。
作为上述技术的更进一步改进,模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤60,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+190)≤|Δv1~Δv16|≤300,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1~Δv16|≤190,则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM;
(6)其它情况下,本系统不作处理。
本发明还公开了上述LED模组自动老化的检测系统,其包括一测试卡,所述测试卡上设有四个功能按钮和三个指示灯,其中四个功能按钮分别为:上电复位按钮、LED类型选择按钮、LED故障查询按钮和记录数据清除按钮;三个指示灯分别为:电源指示灯、运行状态指示灯和故障指示灯。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
(1)本发明所述的LED模组自动老化检测方法,能有效的实现LED开路、虚焊的可靠检测;
(2)本发明所述的LED模组自动老化检测方法,能较好的实现LED焊锡短路的可靠检测;
(3)本发明所述的LED模组自动老化检测方法,实现LED检测状态故障记录;
(4)本发明所述的LED模组自动老化检测方法,实现故障LED模组显示。
附图说明
图1是本发明LED模组自动老化检测系统原理框图;
图2是本发明所述的LED模组自动老化检测方法流程图;
图3是本发明中一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算流程图;
图4是本发明中LED短路和开路、虚焊检测流程图;
图5为本发明所述的LED模组自动老化检测方法过程状态图;
图6为本发明的类模型示意图。
具体实施方式
如图1所示,本发明所述的LED模组自动老化的检测系统,其包括一测试卡,所述测试卡上设有四个功能按钮和三个指示灯,其中四个功能按钮分别为:上电复位按钮、LED类型选择按钮、LED故障查询按钮和记录数据清除按钮;三个指示灯分别为:电源指示灯、运行状态指示灯和故障指示灯。
如图2所示,本发明所述的一种LED模组自动老化的检测方法,其检测步骤是:
步骤一,读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作;
步骤二,相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒;
步骤三,相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒;
步骤四,读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式;
步骤五,对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算;
步骤六,LED短路和开路、虚焊检测;
步骤七,故障数据记录;
步骤八,读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。
如图3所示,在本发明中,上述步骤五所述的一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算的具体过程如下:
(1)本子系统熄灭所有的LED;
(2)本子系统点亮此模组中相同颜色的第一个芯片中第一个LED;
(3)本子系统通过AD采样读取这个LED的电压值V1,并保存值V1;
(4)对于模组P16,重复上述步骤1~3,直到同一种颜色的一个芯片所有管脚的LED采样点V1~V16读取完毕,并保存值V1~V16;
(5)本子系统计算V1~V16的电压均值Vavr,并保存Vavr;
(6)本子系统计算电压差值:Δv1~16=(V1~V16)-Vavr,记录对应的模组号、行号、列号和电压差值,
(7)本子系统保存值Δv1~Δv16;
(8)本子系统计算Δv1~Δv16的均值Δvavr,并保存值Δvavr,记录所在模组号,第几个芯片,均值。
在本发明中,分别根据不同的模组进行说明,其包括模组P31/P33和模组P8/P10/P14/P16/P20/P25,具体见图4和图5:
第一,以下具体说明对于模组P31/P33不同颜色LED的短路和开路、虚焊检测过程:
1、关于模组P31/P33红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括如下步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δvn和Δvavr;
(3)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1~Δv16|≤70,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+70)<|Δv1~Δv16|≤130,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;(5)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1~Δv16|≤70,则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM;
(6)对于模组P31、P33红色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1~Δv16|≤200,则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组红色LED);
(7)其它情况下,本系统不作处理;
2、所述模组P31/P33绿色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括如下步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤75,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(4)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1~Δv16|≤260,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(5)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤85,则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(6)对于模组P31、P33绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1~Δv16|≤350,则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组绿色LED);
(7)其它情况下,本系统不作处理;
3、模组P31/P33蓝色LED的短路和开路、虚焊检测过程,其包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P31、P33蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤65,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组蓝色LED);
(4)对于模组P31、P33蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1~Δv16|≤180,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;(P31、P33模组蓝色LED);
(5)对于模组P31、P33蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1~Δv16|≤350,则将此LED位置信息和全开路故障写入EEPROM;(P31、P33模组蓝色LED);
(6)其它情况下,本系统不作处理;
第二、以下具体说明对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25不同颜色LED的短路和开路、虚焊检测过程(如图4、图5所示):
1、对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1~Δv16|≤40,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+40)<|Δv1~Δv16|≤140,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+140)<|Δv1~Δv16|≤300,则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM;
(6)其它情况下,本系统不作处理;
2、对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤40,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+40)<|Δv1~Δv16|≤70,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+70)<|Δv1~Δv16|≤150,则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM;
(6)其它情况下,本系统不作处理。
3、对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤:
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件;
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例,获取值Δv1~Δv16和Δvavr;
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1~Δv16|≤60,则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM;
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)>0且(|Δvavr|+190)≤|Δv1~Δv16|≤300,则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM;
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED,如果在(Δv1~Δv16)<0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1~Δv16|≤190,则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM;
(6)其它情况下,本系统不作处理。
如图6所示,本发明所述的LED模组自动老化检测方法,其能有效的实现LED开路、虚焊的可靠检测;能较好的实现LED焊锡短路的可靠检测;较好的实现LED检测状态故障记录以及能实现故障LED模组显示。
本发明并不局限于上述实施方式,凡是对本发明的各种改动或变型不脱离本发明的精神和范围,倘若这些改动和变型属于本发明的权利要求和等同技术范围之内,则本发明也意味着包含这些改动和变型。