CN114333664A - 一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法 - Google Patents

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CN114333664A CN202210053143.3A CN202210053143A CN114333664A CN 114333664 A CN114333664 A CN 114333664A CN 202210053143 A CN202210053143 A CN 202210053143A CN 114333664 A CN114333664 A CN 114333664A
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成卓
罗立坚
曹宏卫
袁家兴
白燕林
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Shenzhen Createled Electronics Co ltd
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Shenzhen Createled Electronics Co ltd
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Abstract

本发明涉及显示屏检测技术领域,且公开了一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,显示屏检测方法,包括以下步骤:S1设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;S5比较差值A‑Abn与经验值A2的大小;如果A‑Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。

Description

一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法
技术领域
本发明涉及显示屏检测技术领域,具体为一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法。
背景技术
在很多电器产品中,广泛采用了各种显示屏,用于显示产品的工作状态、设定参数等各种信息。常用的显示屏,包括发光二极管(LED)显示屏和荧光显示屏(VFD),其基本工作原理是,通过点亮组成显示屏的字符段,组合成各种文字、符号及图案。在生产中都需要对显示屏进行检测,以便剔除其中的虚焊、连焊及死段等,保证显示的字符正确、完整。
现有技术中,显示屏常用如下两种方法进行检测:
1.将显示屏及其控制板直接连接在主板上,让系统工作,通过人眼对显示屏进行观察,判断显示屏是否合格。这种方式要将系统的各个状态都切换一次,因此要浪费大量时间,工作效率低。
2.制作一个专门的控制系统驱动显示屏,逐次显示特定的字符,由操作者通过观察这些显示,来判断显示屏是否合格。这个方法需要逐次显示特定的符号,容易引起操作者视觉疲劳,造成错误判断。
现有技术的检测方法,不便与进行坏点和拼接状况的同步检测,都是通过人眼进行直接观察,普遍存在耗费时间长,工作效率低,误判率高的缺点。因此本发明提供了一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,解决了上述背景技术中提出的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明提供如下技术方案:一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,所述显示屏检测方法,包括以下步骤:
S1设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
优选的,所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值,所述通过电流的传输状况可以测出显示屏拼接是否紧密。
优选的,所述控制系统和光敏电阻阵列,所述控制系统用于驱动显示屏,并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值。
优选的,所述光敏电阻阵列中的光敏电阻,与显示屏的字符段对应;所述检测装置按照如下步骤进行检测:
S1熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
优选的,所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
优选的,所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。
优选的,所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。
优选的,所述控制系统由单片机构成,所述所述单片机型号为AT89C51。
(三)有益效果
与现有技术相比,本发明提供了一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,具备以下有益效果:
该带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,完全实现了显示屏的拼接是否紧密和显示屏是否出现损坏的同步检测,具有准确可靠,检测速度快的优点。能够大量节省人工,大大降低生产成本。
附图说明
图1为本发明提出的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法程序流程图;
图2为本发明提出的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-2,显示屏检测方法,包括以下步骤:
S1设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。具体的,步骤S3中,所述经验值A1为正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
具体的,步骤S5中,所述经验值A2为正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
工作步骤;S1熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤d,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
综上所述,该带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,完全实现了显示屏的拼接是否紧密和显示屏是否出现损坏的同步检测,具有准确可靠,检测速度快的优点。能够大量节省人工,大大降低生产成本。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,包括,其特征在于:所述显示屏检测方法,包括以下步骤:
S1设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
2.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值,所述通过电流的传输状况可以测出显示屏拼接是否紧密。
3.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述控制系统和光敏电阻阵列,所述控制系统用于驱动显示屏,并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值。
4.根据权利要求3所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述光敏电阻阵列中的光敏电阻,与显示屏的字符段对应;所述检测装置按照如下步骤进行检测:
S1熄灭所有字符段;
S2点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
S3比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S4熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
S5比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
S6如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤S4,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测。
5.根据权利要求4所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
6.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。
7.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。
8.根据权利要求1所述的一种带松动检测的显示屏拼接组件及装配检测方法,其特征在于:所述控制系统由单片机构成,所述所述单片机型号为AT89C51。
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