CH638047A5 - Anordnung zur messung der das glanzvermoegen von oberflaechen, insbesondere von organischen ueberzuegen, bestimmenden optischen eigenschaften. - Google Patents
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1987007381A1 (en) * | 1986-05-27 | 1987-12-03 | Roibox Oy | Method for measuring of gloss and equipment for application of method |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3138879A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Boehringer Mannheim Gmbh, 6800 Mannheim | Verfahren zur erfassung photometrischer signale und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3212190A1 (de) * | 1982-04-01 | 1983-10-06 | Siemens Ag | Opto-elektronische unterscheidung von strukturen auf oberflaechen |
JPS5942317U (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-19 | 株式会社東芝 | 動圧気体軸受装置 |
US4677298A (en) * | 1983-12-13 | 1987-06-30 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method of monitoring ink-water balance on a lithographic printing press |
US4902131A (en) * | 1985-03-28 | 1990-02-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Surface inspection method and apparatus therefor |
FR2579884B1 (ja) * | 1985-04-09 | 1988-12-02 | Sanofi Sa | |
US5182618A (en) * | 1985-11-27 | 1993-01-26 | Aimo Heinonen | Reflectometric method of measurement and apparatus for realizing the method |
FI78563C (fi) * | 1985-11-27 | 1989-08-10 | Aimo Heinonen | Reflektometriskt maetningsfoerfarande och maetningsanordning foer genomfoerande av foerfarandet. |
JPS63174551U (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-11 | ||
DE8704679U1 (ja) * | 1987-03-30 | 1987-05-27 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim, De | |
JP2996300B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1999-12-27 | 株式会社堀場製作所 | 携帯用光沢測定装置 |
JPH0257949A (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-27 | Suga Shikenki Kk | 携帯形多角光沢計 |
JPH0248852U (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-04 | ||
JP3027161B2 (ja) * | 1989-07-14 | 2000-03-27 | 株式会社リコー | 画像形成装置における画像濃度検知装置 |
DE4344095C2 (de) * | 1993-12-20 | 1999-10-14 | Lange Gmbh Dr Bruno | Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Glanzgrades |
US6570662B1 (en) | 1999-05-24 | 2003-05-27 | Luxtron Corporation | Optical techniques for measuring layer thicknesses and other surface characteristics of objects such as semiconductor wafers |
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DE102006048688B4 (de) | 2006-10-14 | 2022-02-03 | Byk Gardner Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächen mit Effektpigmenten |
DE102010032600A1 (de) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften mit Mehrfachmessung |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1761827U (de) * | 1957-11-04 | 1958-02-20 | Geraete Fuer Licht Und Strahlu | Lichtelektrischer glanzmesser. |
US3245306A (en) * | 1961-10-05 | 1966-04-12 | Aluminum Co Of America | Photometer and method |
DE1944088U (de) * | 1966-06-16 | 1966-08-11 | Bayer Ag | Vorrichtung zur beurteilung der glanzeigenschaften von oberflaechen. |
AT334657B (de) * | 1975-01-24 | 1976-01-25 | Vianova Kunstharz Ag | Verbesserung zur messung des glanzvermogens von ebenen oberflachen |
US3999864A (en) * | 1975-11-17 | 1976-12-28 | International Business Machines Corporation | Gloss measuring instrument |
-
1977
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1987007381A1 (en) * | 1986-05-27 | 1987-12-03 | Roibox Oy | Method for measuring of gloss and equipment for application of method |
Also Published As
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