DE3312948A1 - Vorrichtung zur schnellen messung des glanzes beliebiger oberflaechen - Google Patents

Vorrichtung zur schnellen messung des glanzes beliebiger oberflaechen

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DE3312948A1
DE3312948A1 DE19833312948 DE3312948A DE3312948A1 DE 3312948 A1 DE3312948 A1 DE 3312948A1 DE 19833312948 DE19833312948 DE 19833312948 DE 3312948 A DE3312948 A DE 3312948A DE 3312948 A1 DE3312948 A1 DE 3312948A1
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Boris DDR 8036 Dresden Lux
Günter DDR 8060 Dresden Rockstroh
Klaus DDR 8020 Dresden Schneider
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Pentacon GmbH Foto und Feinwerktechnik
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Pentacon Dresden VEB
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/57Measuring gloss

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Description

Vorrichtung zur schnellen Messung des Glanzes beliebiger Oberflächen
Die Erfindung betrifft eine fotoelektrisch arbeitende Vorrichtung zur schnellen routinemäßigen Messung des Glanzes beliebiger Oberflächen.
Es sind zur Definition des Glanzes mehrere Glanzzahlen bekannt, wie z. B. die Spiegelglanzzahl, die Remissionsglanzzahl, die logarithmische Glanzzahl usw.
Mit all diesen Glanzzahldefinitionen und den davon abgeleiteten Gerätekonzeptionen, wie Reflektometer, Mehrwinkelreflektometer und Zweiblendenreflektometer, läßt sich keine exakte Korrelation der gewonnenen Meßwerte mit visuellen Meßreihen herstellen. .
Zum Stand der Technik gehört weiterhin die von Fleischer aufgestellte Definition der Glanzzahl G^.:
1 - t
e " TS
mit: t = 20 4— Ig L
oc :
L :
Bewertungswinkel
Leuchtdichte
Diese Glanzzahl korreliert sehr gut mit der visuellen Glanzskala. Für die praktische Anwendung dieser Glanzzahl G.J. ist die Ermittlung der Leuchtdichte L erforderlich. Zur Messung der benötigten Leuchtdichteverteilung sind goniofotometrische Laborgeräte bekannt, die aber Probleme hinsichtlich der Kompliziertheit, der Störanfälligkeit, der erheblichen Größe sowie der großen MeB- und Auswertezeiten bringen. Aus letzterem Grund ist auch eine Regelung der glanzbeeinflussenden Herstellungspara-
xneter im Fertigungsproseß entsprechend der exakten Glans· zahl nach Fleischer nicht möglich,, da hier Zeiten im ms·= Bereich sinnvoll sind,, wodurch auch die Orts auflösung bei bev/agten Proben, g9 B, bei laufenden Papierbahnen, entsprechend hoch ist.
Glanzmesser, mit denen die Leuehtdiehteverteilung zwar kontinuierlich, aber nur in einem sehr kleinen Winkelbereich erfaßt, wird, wie in den DE-OS 29 05 727 und DE-OS 28 51 4^5 besahrieben, eignen sieh nur für spe™ ssielle ÄOTendunggfalle, Ein multivalenter Einsatz für die Glanzmessung ist nicht möglich.
Mit der Erfindung soll ©ine Glanzmessung unter Vermeidung der angeführten laehteile durchgeführt v/erden.
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine störunempfindliche Anordnung asur sehn@ll©a routinemäßigen Messung und Regelung des Glanzes beliebiger Oberflächen,'insbesondere entsprechend der Definition der exakten Glanasahl nach Pleisehers zu entifiekeln»
Die Aufgabe wi£>d erfindungsgemäß dadurch gelöst 9 daß das Leuehtdichtespektrma einer mit Liehtimpulsen bestrahlten Probe mit Hilfe einer Smpfäageraeile in ein elektrisches Signslspektrum umgewandelt wird. Vorteilhafterweise ist die Empfängerseile so ©ageordnet, daß der Sehnittpunkt der Elächennornialen der EinMelempfänger im Probenmittelpunkt liegt ο Dafe©i ist es gur Durchführung d©r Messuagea günstig, daß die spektrale Empfindlichkeit der Einaelempfänger der Empfängerseile der des Auges angepaßt ist oder zur Bestrahlung der Probe ©ine grünleuehtend® M.©liteiflitterdiode verblendet iniird9 vm ©ine möglisii® spektral© Verfälschung der Glan&werte mu ¥ermeid@n0 Gemäß einem weiteren Erfindimgsgedanken werden nach der simultanen Erfassung des Leuehtdicht@spektrmas die Meßwerte in
loger Form gespeichert und seriell weiter verarbeitet. Zur Regelung der glanzbeeinflussenden Herstellungsparameter der Probe wird ferner erfindungsgemäß vorgeschlagen, im Regelkreis nesheinander einen Digital-Analog-Wandler, Leistungsendstufen und Stellglieder vorzusehen.
Die Erfindung soll an einem Ausführungsbeispiel und der dazugehörigen Zeichnung näher erläutert werden:
Die Strahlung einer durch einen Impulsgenerator 1 angesteuerten grünleuchtenden Lichtemitterdiode 2 gelangt über eine Kollimatorlinse 3 als paralleles Bündel 4 auf die Oberfläche der Probe 5. Die von der Probenoberfläche remittierten Strahlenanteile β werden von einer hochauflösenden Empfängerzeile 7 bewertet. Die Empfänger dieser Zeile sind so angeordnet, daß der Schnittpunkt der Flächennormalen im Probenmittelpunkt liegt.
Bedingt durch die kurzen Ansprechzeiten der Fotoempfänger kann die Beleuchtung der Probe 5 mit Lichtblitzen erfolgen. Als Vorteile ergeben sich eine kurze Meßzeit und eine geringe thermische Belastung der Proben.
Durch die simultane Erfassung des Leuchtdichtespektrums verfälschen auch KurzzeitSchwankungen der Lichtstärke des Strahles das Meßergebnis nicht; die Relativgenauigkeit der Glanzmessung wird sehr hoch. Die Fotoempfänger wandeln die optischen Signale in elektrische um, die in einem Analogwertspeicher 8 aufgefangen werden. Der Meßstellenumschalter 9 gestattet die Abfrage der einzelnen Analogwerte und führt diese seriell dem Analog-Digital-Wandler 10 zu, dessen Ausgangssignale dem Mikrorechner 11 kompatibel sind. Im Mikrorechner 11 selbst erfolgt unter Berücksichtigung der Meßwertkorrektur entsprechend der Gerätefunktion die Berechnung der Glanzzahl, der Vergleich mit Sollwerten sowie die Regelung der glanzbeeinflussenden Herstellungsparameter über den Digital-
Analog-Wandler 12, die Leistungsendstufen 13 und 14 die Stellglieder 15* Die Steuerung des Meßablaufs und die optische Anzeige des Meßergebnisses werden durch das Steuergerät mit Terminal 16 vorgenommen.
Die Geometrie der Meßvorrichtung (ausgeleuchtete Fläche, Entfernung Bmpfängerzeile 7 - Probe 5 und Empfängerflache) wird so festgelegt, daß entsprechend der geforderten Meßgenauigkeit die notwendige Meßapertur nicht überschritten wird,
Der Rahmen der Erfindung wird nicht verlassen, wenn die _ remittierten Strahlenanteile 6 durch optisch aktive Bauelemente in die Empfängerebene fokussiert werden.
Der Vorteil der Erfindung ist darin zu sehen, daß für verschiedenste Oberflächen neben den bekannten Glanzzahlen auch die exakte Glanzzahl nach Fleischer schnell und routinemäßig gemessen werden kann =
Dresden, am 29* März 1983
YEB PEHTAOOlT DRESDEN Kamera- und Kinowerke
Leerseite

Claims (2)

  1. Pat entansprüche
    ί 1. ) Vorrichtung %ην schnellen Messung des Glanzes beliebiger Oberflächen, dadurch gekennzeichnet, daß das LeuchtdichteSpektrum einer mit Liehtimpulsen bestrahlten Probe (5) mit Hilfe einer Empfängerzeile (7) in ein elektrisches Signalspektrum transformiert wird.
  2. 2. Vorrichtung %uv schnellen Messung des Glanzes nach .Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Empfängerzeile (7) so angeordnet ist, daß der Schnittpunkt - der Fläehennormalen der Einzelempfanger im Probenmittelpunkt liegt.
    3t Vorrichtung sur schnallen Messung des Glanzes nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die spektrale Empfindlichkeit d@r Einselempfänger der Empfängerzeile (7) d@r des Auges angepaßt ist oder zur Bestrahlung der Probe (5) eine grünleuehtende Lichtemitterdiode (2) verwendet wird.
    4» Vorrichtung aur schnellen Messung des Glanzes nach Jiisprueh 35 dadurch gekennzeichnet 9 daß nach der si-Miltanen Erfasslang des Leuchtdiehtespektrums die Maßwerte in analoger Form gespeichert und seriell weiter verarbeitet werden.
    5ο Vorriehtuag aur schnellen Messung und Regelung d©s Glanses na©h Ansprueto, 19 dadurch gekennzeichnet, daß sur Regelung der glan^feeeinfluesenden Herstellungsparameter dsr Probe (5) im Regelkreis nacheinander ein Digital»Analog-Wandler (12), Leistungsendstufen (13, 14) und Stellglieder (15) vorgesehen sind.
    (Hieriu 1 Saite Zeichnung)
DE19833312948 1982-06-29 1983-04-11 Vorrichtung zur schnellen messung des glanzes beliebiger oberflaechen Withdrawn DE3312948A1 (de)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0314892A1 (de) * 1987-09-30 1989-05-10 Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft Sensoreinrichtung
WO2000037923A1 (en) 1998-12-21 2000-06-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Scatterometer
US7554665B2 (en) 2005-08-15 2009-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Dual beam set-up for parousiameter

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0183270B1 (de) * 1984-11-30 1990-08-08 Kawasaki Steel Corporation Verfahren zur Bestimmung des Oberflächenglanzes eines Körpers
FI78355C (fi) * 1986-05-27 1989-07-10 Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
JP2996300B2 (ja) * 1988-05-27 1999-12-27 株式会社堀場製作所 携帯用光沢測定装置
IL113428A0 (en) * 1995-04-20 1995-07-31 Yissum Res Dev Co Glossmeter
FR2784018B1 (fr) 1998-10-06 2000-12-08 Serobiologiques Lab Sa Procede de mesure des proprietes de reflexion d'une surface et dispositif pour sa mise en oeuvre
FR2836550B1 (fr) * 2002-02-28 2008-05-23 Ysl Beaute Procede d'evaluation des proprietes de reflexion lumineuse d'une surface et reflectometre pour sa mise en oeuvre
US7619740B2 (en) * 2007-10-11 2009-11-17 Honeywell International Inc. Microgloss measurement of paper and board

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3037622A1 (de) * 1980-10-04 1982-04-22 Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast Optoelektronisches messverfahren und einrichtungen zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oberflaechen

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH552197A (de) * 1972-11-24 1974-07-31 Bbc Brown Boveri & Cie Einrichtung zum messen der rauhigkeit einer oberflaeche.
US4173415A (en) * 1976-08-20 1979-11-06 Science Spectrum, Inc. Apparatus and process for rapidly characterizing and differentiating large organic cells
GB1592511A (en) * 1977-05-18 1981-07-08 Ferranti Ltd Surface inspection apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3037622A1 (de) * 1980-10-04 1982-04-22 Theodor Prof. Dr.-Ing. 1000 Berlin Gast Optoelektronisches messverfahren und einrichtungen zum bestimmen der oberflaechenguete streuend reflektierender oberflaechen

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0314892A1 (de) * 1987-09-30 1989-05-10 Heidelberger Druckmaschinen Aktiengesellschaft Sensoreinrichtung
WO2000037923A1 (en) 1998-12-21 2000-06-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Scatterometer
US7554665B2 (en) 2005-08-15 2009-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Dual beam set-up for parousiameter

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GB2123139A (en) 1984-01-25

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