CH233888A - Einrichtung zur oszillographischen Aufzeichnung, insbesondere einmaliger Vorgänge. - Google Patents

Description

  



  Einrichtung zur oszillographischen Aufzeichnung, insbesondere einmaliger Vorgänge.



   Bei der oszillographischen Aufnahme einmaliger Vorgänge ist häufig auch der   unge-      fähre    Verlauf des Vorganges, insbesondere die Grösse der Amplituden nicht bekannt. Die Amplituden können daher zu gross oder zu klein ausfallen. Bei zu grossen Amplituden wird der Bereich, in dem der benutzte Verstärker linear arbeitet, oder der Bereich, in dem der   Oszillograph    linear bezw. mit hinreichender   Fleckschärfe aufzeichnet, über-    schritten, oder aber   das Oszillogramm ragt    z.   B.    über den   Leuchtschirm oder den Re-    gistrierstreifen hinaus. Bei besonders kleinen Amplituden anderseits kann die Messgenauigkeit unter ein zulässiges Mass sinken.



   Das   Oszillogramm    eines einmaligen Vorganges, das unter Umständen das einzige   Mess-    ergebnis eines schwierigen und kostspieligen Versuches (z. B. einer Sprengung) darstellt, kann also   praktisch wertlos werden,    wenn die aufgenommenen Amplituden zu klein oder zu gross   wa. ren.    Es ist mit den bekannten oszillographischen Verfahren überdies nicht   mög-    lich, sowohl grosse als auch kleine Ausschläge, die kurz nacheinander erfolgen, genau zu   er-    fassen.



   Es ist auch bei wiederholbaren Aufnahmen, insbesondere zur Erhöhung der   Genauig-    keit, sehr wertvoll, wenn in einem Leuchtschirmbild oder auf einem   Registrierstreifen    die grossen Amplituden genügend klein wiedergegeben werden, so dass sie noch voll und richtig gezeichnet werden und zugleich die kleinen   Amplituden mass stabgleich    enthalten und wenn auf dem gleichen Bild bezw.



     Registrierstreifen    die kleinen Amplituden nochmals vergrössert erscheinen ohne Rücksicht auf die grossen Amplituden. Die Er  findung      gestattetes,dieses    Ziel zu erreichen, indem die Einrichtung gemäss der Erfindung mehrere Messsysteme aufweist, die z. B. mehreren Oszillographen oder einem einzigen    Mehrfachoszillographen angehören können,    welche mit verschiedener,   vorzugsweise ein-      stellbarer, Empfindlichkeit    denselben Vorgang gleichzeitig aufnehmen. Die Abstufung der Empfindlichkeit kann beispielsweise in Dekaden erfolgen.



   An Hand der in der Zeichnung   dargestell-    ten Figuren werden im folgenden beispielsweise Ausführungsformen der   erfindungsge-      mässen Einrichtung beschrieben.   



   Fig.   1    zeigt als Beispiel drei   gleiehzeitig    aufgenommene   Oszillogramme. Die    mit 1 be  zeichnete Rurve ist gerade    als Ganzes auf der RegistrierflÏche erkennbar. Die Kurve 2, die mit einem   empfindlicheren    Messsystem aufgezeichnet ist, lässt die grossen Auss hlÏge nicht mehr erkennen ; dagegen werden die in der Nähe der Nullinie liegenden kleinen Ampli  tudendeutJicher,wie    es insbesondere der rechte Teil der Kurve erkennen lässt. F r das Oszillogramm 3 gilt das bezüglich der Kurve 2 Gesagte in verstärktem Masse. Mit 4   schliess-    lich ist eine   Zeitmarke    angedeutet.



   Die verschiedenen Spannungen, die an den einzelnen Me¯systemen 7, 8, 9, 10 eine verschiedene Empfindlichkeit bewirken, können gemäss Fig. 2 an einem einstellbaren Ohmsehen Spannungsteiler 19 abgegriffen werden, dem die Messspannung bei 5 und 6   zuge-    führt wird. Es könnte auch ein kapazitiver oder induktiver Spannungsteiler verwendet werden. Das gleiche Ziel   lässt sieh gemäss    Fig. 3 auch dann erreichen, wenn man die Spannungen für die einzelnen Messsysteme 7.



     8,      9,    10 von den verschiedenen Stufen 11, 12, 13 eines Verstärkers abgreift.



   Mit den in den Fig. 2 und 3 schematisch dargestellten   Ausführungsformen der Ein-    richtung nach der Erfindung kann die Aufl¯sung kleiner Amplituden beliebig gestegert werden, indem diese ohne Rücksicht auf die vom Messsystem nicht mehr oder nicht mehr richtig wiedergegebenen grösseren Am  plituden    erheblich verstärkt werden. Um auch die Aufl¯sung solcher Kurventeile zu steigern, die von der normalen Nullinie    lei-    ter entfernt sind, kann man ferner die Nulllinien der einzelnen   Oszillogramme durch    Ändern von Vorspannungen der Messsysteme gegeneinander verschieben. In Fig. 4 stellt 15   din normalp Nullinie    der mit dem   Mess-      system 20    der Einrichtung nach Fig. 5 aufgenommenen Kurve 14 dar.

   Durch eine Vor  spannun,,    des Ablenksystems 18 kann die Nullinie für die von diesem Messsystem 18 gezeichnete Kurve nach 15' verschoben werden, so dass die Feinheiten der Kurve 14 in der Nähe der Ziffer 16 in den   Empfindlich-    keitsbereieh des Ablenksystems 18 fallen. Die mit diesem Ablenksystem erzeugte Kurve, die diese   Feinheiten    vergrössert wiedergibt, ist in der Zeichnung nicht dargestellt. Die Batterie 17 dient zur Lieferung der Vorspannung für das   Ablenksystem 18.    Dabei kann die   Span-    nung der Batterie in gewünsehter Weise ver ändert werden.



   Wenn vor dem Messsystem ein Verstärker benutzt wird, so empfiehlt es sich, zur Ver   meidung-von Störungen infolge von Über-    steuerungen vor dem Eingang einen an sich bekannten Amplitudenbegrenzer anzuordnen. der die unerwünschten   Amplituden abschnei-      det.  

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH : Einrichtung zur oszillographisehen Aufzeichnung. Insbesondere einmaliger Vorgänge, gekennzeichnet durch mehrere Me¯systeme, die mit verschiedener Empfindlichkeit densel- benVorganggleichzeitigaufnehmen.

   UNTERANSPMCHE : 1. Einrichtunj nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzielung verschiedener Empfindlichkeiten der einzelnen Messsysteme die Ablenkspannungen verschie- denen Stufen eines für die der Messspannung benutzten Verstärkers entnommen sind.

   2, Einrichtung nach Patentanspruch, da- durch gekennzeichnet, da¯ zum Abgreifen verschiedener Ablenkspannungen für die ein- zelnen Messsysteme ein einstellbarer Span nungsteiler dient.

   3. Einrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeiehnet, dass die Empfindlich- keiten der einzelnen Me¯systeme nach Zehnerpotenzen abgestuft sind.

   4. Einrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die einzelnen Mess- systeme zusammen mit dem Strahlerzeu gungssystem in einem gemeinsamen Vakuum- raum angeordnet sind.

   5. Einrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Nullinie mindestens eines durch eines der Messsysteme erzeugten Oszillogrammes durch Änderung einer Vorspannung dieses Messsystems verschiebbar ist.

   6. Einrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, da¯ vor einem Verstärker für die Verstärkung der Messspannung ein Amplitudenbegrenzer vorgesehen ist.