BR112014005007B1

BR112014005007B1 - Cassete portador de lâmina para microscópio

Info

Publication number: BR112014005007B1
Application number: BR112014005007-4A
Authority: BR
Inventors: Raphael Hebert; Chris Todd; David Moriconi; Gregory C. Loney; Keith Moravick
Original assignee: Ventana Medical Systems, Inc.
Priority date: 2011-09-09
Filing date: 2012-08-21
Publication date: 2020-12-15
Also published as: EP2753968B1; CN103765291B; CN105204152B; IL255558A; BR112014005007B8; SG10201600153YA; SG2014011084A; CN103765291A; HK1219542A1; CA2844994A1; KR101774092B1; CA2844994C; KR20170026662A; CA2928374A1; US20140178169A1; JP2014526712A; AU2012306572B2; JP5898318B2; KR20140063671A; AU2012306572A1

Abstract

cassete portador de lâmina para microscópio, método de transporte e dispositivo de armazenamento. este pedido se refere ao campo de imageamento e, mais particularmente, a sistemas de imageamento, cassetes para lâminas, e métodos de processamento de amostras biológicas em lâminas. o cassete portador de lâmina para microscópio compreende: um corpo principal (2410) para circundar e proteger lâminas (2422) para microscópio (120), sendo que o corpo principal (2410) inclui uma primeira parede lateral e uma segunda parede lateral; uma pluralidade de divisórias (2414) capaz de suportar lâminas (2422) para microscópio (120), sendo as divisórias (2414) ficam posicionadas entre primeira parede lateral (2452) e a segunda parede lateral (2454) e ficam verticalmente espaçadas distantes entre si quando um cassete portador de lâmina para microscópio (2400) fica em uma orientação vertical; e uma pluralidade de membros de suporte (2500a, 2500b) que se estendem para longe das respectivas divisórias (2414), sendo que pelo menos um dos membros de suporte (2500a) inclui um corpo alongado (2508a) acoplado a uma das divisórias (2414), e um fecho (2510a) que se estende para cima saindo do corpo alongado (2508a) e pode limitar o movimento de uma lâmina para microscópio (2422) posicionada no corpo alongado (2508a).

Description

CAMPO DA INVENÇÃO

[001] Este pedido se refere ao campo de imageamento e, mais particularmente, a sistemas de imageamento, cassetes para lâminas, e métodos de processamento de amostras biológicas em lâminas.

ANTECEDENTES DA INVENÇÃO

[002] Identificação de imageamento molecular de mudanças nas estruturas celulares indicativas de doença muitas vezes é importante para uma melhor compreensão na ciência médica. Aplicações de microscopia são aplicáveis a microbiologia (por exemplo, coloração de Gram, etc.), cultura de tecido de planta, cultura de célula animal (por exemplo, microscopia de contraste de fase, etc.), biologia molecular, imunologia (por exemplo, ELISA, etc.), biologia celular (por exemplo, imunofluorescência, análise de cromossomo, etc.), microscopia confocal, intervalo de tempo e imageamento de célula viva, imageamento em série e imageamento tridimensional.

[003] Nos métodos manuais de microscopia, lâminas de suporte de corpo de prova são manualmente carregadas em um microscópio e visualizadas através de lentes oculares do microscópio. Em aplicações médicas, um patologista pode inspecionar características celulares, contagem de células manchadas vs. células não manchadas ou outras características do corpo de prova. Muitas vezes gasta-se muito tempo para analisar um grande número de corpos de prova devido ao tempo de manuseio de cada lâmina. Tempos longos de processamento podem atrasar um diagnóstico preciso e o tratamento. Adicionalmente, microscópios convencionais muitas vezes não conseguem captar imagens de alta resolução e alta qualidade adequadas para arquivamento e uso posterior.

[004] Em métodos automatizados de microscopia, imagens digitais muitas vezes são coletadas, visualizadas em monitores de alta resolução, compartilhadas e arquivadas para uso posterior. Infelizmente, sistemas de processamento de lâminas automáticos convencionais frequentemente funcionam incorretamente, incluindo o manuseio incorreto de lâminas, alinhamento incorreto de lâminas de microscópio com componentes ópticos (por exemplo, câmeras, dispositivos de captura de imagem etc.), e quebra de lâminas para microscópios. A título de exemplo, equipamentos robóticos convencionais muitas vezes prendem uma ponta de marcador de uma lâmina para microscópio. Neste caso, pode haver cola residual exposta no marcador. Se uma garra entrar em contato com as bordas da lâmina adjacente ao marcador ou as bordas do marcador, a cola residual exposta poderá grudar ou aderir na garra. Isso pode resultar em um manuseio incorreto da lâmina.

DESCRIÇÃO DA INVENÇÃO

[005] Em algumas concretizações, o cassete que carrega lâmina para microscópio inclui um corpo principal, uma pluralidade de divisórias e uma pluralidade de membros de suporte. O corpo principal é configurado para cercar e proteger lâminas para microscópio e inclui uma primeira parede lateral e uma segunda parede lateral. As divisórias podem sustentar lâminas para microscópio e ficam posicionadas entre a primeira e segunda parede lateral. As divisórias podem ficar verticalmente espaçadas distantes entre si quando o cassete portador de lâmina para microscópio estiver na posição vertical. Os membros de suporte se estendem para longe das respectivas divisórias e incluem um corpo alongado e um fecho. O fecho projeta-se para cima a partir do corpo alongado e pode limitar o movimento da lâmina para microscópio posicionada ao longo de um corpo alongado.

[006] Em algumas outras concretizações, um método de transporte de uma lâmina para microscópio inclui a retirada da lâmina para microscópio utilizando-se um dispositivo de remoção sem entrar em contato com uma borda de um marcador na lâmina para microscópio e sem entrar em contato com uma borda da lâmina para microscópio adjacente ao marcador. A lâmina para microscópio é transportada utilizando-se o dispositivo de remoção até um local desejado. Em algumas concretizações, a lâmina para microscópio é transportada entre pelo menos duas estações de processamento (por exemplo, uma unidade corante, um dispositivo automático de colocação de lamelas, um sistema de imageamento, um escaneador óptico, um sistema de imageamento óptico) sem entrar em contato com a borda do marcador e sem entrar em contato com a borda da lâmina.

[007] Em algumas concretizações, um dispositivo de captura de lâmina para microscópio compreende um efetor final que inclui uma plataforma planar alongada com uma superfície superior e uma superfície inferior. Uma linha de fluido fica posicionada em um lado superior da plataforma. O elemento de topo inclui um conector e um cabeçote de sucção. O conector fica posicionado no lado superior da plataforma e acoplado à linha de fluido. O cabeçote de sucção fica posicionado no lado inferior da plataforma.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS

[008] Concretizações de caráter não restritivo e não exaustivas serão descritas com referência aos desenhos a seguir. Os mesmos números de referência referem-se às partes ou atos semelhantes ao longo de todas as várias vistas, desde que não conste indicação diferentes.

[009] A figura 1 é uma ilustração esquemática de um sistema de imageamento de um microscópio de varredura e/ou outro dispositivo de varredura que pode incluir vários dispositivos de componente usados em conexão com varredura de amostra de patologia digital e imageamento de acordo com várias concretizações do sistema aqui descrito.

[010] A figura 2 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de imageamento que inclui um sistema de foco de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[011] As figuras 3A e 3B são ilustrações esquemáticas de uma concretização do sistema de controle que mostra que o sistema de controle pode incluir uma eletrônica apropriada.

[012] A figura 4 é uma ilustração esquemática que mostra o estágio de foco dither mais detalhadamente de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[013] As figuras 5A-5E são ilustrações esquemáticas que mostram uma iteração das operações de operações de focagem de acordo com o sistema aqui descrito.

[014] A figura 6A é uma ilustração esquemática de um gráfico que mostra a forma de onda de comando da óptica de foco de dither e determinações de nitidez de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[015] A figura 6B é uma ilustração esquemática que mostra um gráfico de valores de nitidez calculada (Zs) para uma porção do movimento de onda sinusoidal das lentes de padrão Dither.

[016] As figuras 7A e 7B são ilustrações esquemáticas que mostram determinações de focagem e ajustes de um corpo de prova corpo de prova (tecido) de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[017] A figura 8 é uma ilustração esquemática que mostra um exemplo de um perfil de nitidez incluindo uma curva de nitidez e razão de contraste para cada resposta de nitidez em múltiplos pontos que são amostrados pela óptica de focagem de padrão dither de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[018] A figura 9 mostra um diagrama em bloco de loop de controle funcional que ilustra o uso da função de contraste para produzir um sinal de controle para controlar o estágio de focagem lenta.

[019] A figura 10 é uma ilustração esquemática que mostra a janela de focagem sendo fragmentada em zonas em conexão com o processamento de foco de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[020] A figura 11 mostra uma ilustração gráfica de diferentes valores de nitidez que podem ser obtidos em pontos no tempo em uma concretização de acordo com técnicas aqui.

[021] A figura 12 é um fluxograma que mostra processamento de foco em tempo real (on-the-fly) durante a varredura de um corpo de prova sob exame de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[022] A figura 13 é fluxograma que mostra processamento no estágio de focagem lenta de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[023] A figura 14 é um fluxograma que mostra processamento de captura de imagem de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[024] A figura 15 é uma ilustração esquemática que mostra um arranjo alternativo para processamento de foco de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[025] A figura 16 é uma ilustração esquemática que mostra um arranjo alternativo de processamento de foco de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito.

[026] A figura 17 é um fluxograma que mostra o processamento para obter uma imagem mosaica de tecido em uma lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[027] A figura 18 é uma ilustração esquemática que mostra uma implementação de um estágio de precisão implementação de um estágio de precisão (por exemplo, uma porção de estágio Y) de um estágio XY de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[028] As figuras 19A e 19B são vistas mais detalhadas do bloco de estágio de movimento do estágio de precisão de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[029] A figura 20 mostra uma implementação de um estágio composto XY inteiro de acordo com as características de estágio de precisão aqui abordadas e inclui um Estágio Y, um Estágio X e uma placa de base de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[030] A figura 21 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de captura de lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[031] A figura 22A é um fluxograma que mostra um processamento de captura de lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito em conexão com uma primeira lâmina.

[032] A figura 22B é um fluxograma que mostra processamento de captura de lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito em conexão com uma segunda lâmina.

[033] As figuras 23A e 23B mostram diagramas de tempo utilizando técnicas de armazenamento em cache de lâmina de acordo com as concretizações do sistema aqui descrito e ilustram economias de tempo de acordo com várias concretizações do sistema aqui descrito.

[034] A figura 24 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de armazenamento em cache de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito.

[035] A figura 25A é um fluxograma que mostra processamento de armazenamento em cache em conexão com uma primeira lâmina de acordo com uma concretização do sistema descrito para um dispositivo de armazenamento em cache com dois estágios compostos XY para processamento de lâmina.

[036] A figura 25B é um fluxograma que mostra processamento de armazenamento em cache em conexão com uma segunda lâmina de acordo com uma concretização do sistema descrito para o dispositivo de armazenamento em cache com dois estágios compostos XY para processamento de lâmina.

[037] A figura 26 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de armazenamento em cache de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito.

[038] A figura 27 é uma ilustração esquemática que mostra outra vista do dispositivo de armazenamento em cache de acordo com a figura 26.

[039] As figuras 28A-28J são ilustrações esquemáticas que mostram operações de armazenamento em cache de lâmina do dispositivo de armazenamento em cache das figuras 26 e 27 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[040] A figura 29 é uma ilustração esquemática que mostra um sistema de iluminação para iluminação de uma lâmina utilizando-se um jogo de iluminação de diodo emissor de luz (LED) de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[041] A figura 30 é uma ilustração esquemática que mostra uma vista mais detalhada de uma concretização para um Jogo de iluminação LED de acordo com o sistema aqui descrito.

[042] A figura 31 é uma representação esquemática que mostra uma vista explodida de uma implementação específica de um jogo de iluminação LED de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[043] A figura 32 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de varredura de lâmina de alta velocidade de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito, que pode ser usado em conexão com imageamento de patologia digital.

[044] A figura 33 é uma ilustração esquemática que mostra um recesso em uma bandeja do dispositivo de varredura de lâmina de alta velocidade mais detalhadamente de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[045] A figura 34 é uma ilustração esquemática que mostra um rota de imageamento que inicia em uma primeira posição com relação à lâmina para imageamento de um corpo de prova na lâmina no recesso.

[046] As figuras 35A e 35B são ilustrações esquemáticas que mostram um arranjo alternativo de lâminas em um porta lâmina giratório de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito.

[047] A figura 36 é uma ilustração esquemática que mostra um sistema de imageamento de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito que inclui uma objetiva disposta para examinar um corpo de prova sobre uma lâmina.

[048] A figura 37 é um fluxograma que mostra varredura de lâmina de alta velocidade utilizando-se uma bandeja giratória de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[049] A figura 38 é uma ilustração esquemática que mostra um sistema de imagem de duplicação óptica de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[050] As figuras 39A e 39B são ilustrações esquemáticas do sistema de imagem de duplicação óptica que mostram o translado da primeira lente de tubo e a segunda lente de tubo na frente do sensor de imagem de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[051] A figura 40 é uma vista isomérica lateral esquerda, de frente e de cima de um sistema de imageamento, de acordo com uma concretização.

[052] Figura 41 é uma vista isomérica lateral esquerda, de frente e de cima de um sistema de imageamento da figura 40. Uma caixa de proteção externa é mostrada removida.

[053] A figura 42 é uma vista isomérica lateral direita, traseira, de topo do sistema de imageamento da figura 40 com a caixa de proteção mostrada removida.

[054] A figura 43 é uma vista de plano de topo do sistema de imageamento da figura 40.

[055] A figura 44 é uma vista isomérica de um dispositivo de agarre, de acordo com uma concretização.

[056] A figura 45 é uma vista de plano de topo do dispositivo de agarre da figura 44.

[057] A figura 46 é uma vista de seção transversal do dispositivo de agarre tomada ao longo da linha 46-46 da figura 45.

[058] A figura 47 é uma vista isomérica do dispositivo de agarre da figura 44.

[059] A figura 48 é uma vista detalhada do dispositivo de agarre da figura 46.

[060] A figura 49 é uma vista isomérica lateral direita de frente, de topo do dispositivo porta-lâmina.

[061] A figura 50 é uma vista isomérica lateral esquerda, de topo, traseira do dispositivo porta-lâmina da figura 49.

[062] A figura 51 é uma vista elevacional frontal do dispositivo porta-lâmina da figura 49.

[063] A figura 52 é uma vista de seção transversal do dispositivo porta-lâmina tomada ao longo de uma linha 52-52 da figura 51. Um dispositivo de agarre fica posicionado para inserir uma lâmina no dispositivo porta-lâmina.

[064] A figura 53 é uma vista detalhada do dispositivo porta- lâmina da figura 52.

[065] A figura 54 é uma vista detalhada de uma extremidade de uma divisória superior.

[066] A figura 55 é uma vista de seção transversal do dispositivo porta-lâmina tomada ao longo de uma linha 53-53 da figura 51.

[067] A figura 56A é uma vista elevacional frontal de uma lâmina posicionada acima de uma divisória superior de um dispositivo porta-lâmina.

[068] A figura 56B é uma vista elevacional frontal da lâmina que se apoia sobre a divisória superior da figura 56A.

DESCRIÇÃO DE REALIZAÇÕES DA INVENÇÃO

[069] A figura 1 é uma ilustração esquemática de um sistema de imageamento 5 de um microscópio de varredura e/ou outro dispositivo de varredura que pode incluir vários dispositivos de componente usados em conexão com varredura de amostra de patologia digital e imageamento de acordo com várias concretizações do sistema aqui descrito. O sistema de imageamento 5 pode incluir um dispositivo de imageamento com sistema de focagem 10, um sistema de estágio de lâmina 20, um sistema de armazenamento em cache de lâmina 30 e um sistema de iluminação 40, entre outros sistemas de componente 50, conforme a seguir abordado mais detalhadamente aqui. Verificou-se também que o Sistema descrito aqui pode ser usado em conexão com arquiteturas e técnicas de instrumento de varredura de lâmina para microscópio para captura de imagem, emenda de imagem e magnificação conforme descrito no documento patentário U.S. Patent App. Pub. No. 2008/0240613 A1 por Dietz et al., entitled “Digital Microscope Slide Scanning System and Methods,” que é aqui incorporado por referência, incluindo características em conexão com reconstituição de uma imagem com uma magnificação sem perda substancial de precisão e exibição ou armazenamento da imagem reconstituída.

[070] A figura 2 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de imageamento 100 de um microscópio de varredura óptico e/ou outro sistema de imageamento apropriado que inclui componentes de um sistema de focagem para obtenção de imagens focadas de uma amostra de tecido 101 e/ou outro objeto disposto sobre uma lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. O sistema de focagem aqui descrito provê a determinação do melhor foco para cada foto instantânea quando uma foto instantânea é capturada, que pode ser chamada de “focam em tempo real(on-the-fly).” Os dispositivos e técnica aqui providos possibilitam reduções significativas do tempo exigido para formação de uma imagem digital de uma área em uma lâmina de patologia. O Sistema descrito aqui integra etapas do método de duas etapas de sistemas convencionais e elimina essencialmente o tempo necessário para pré-focagem. O Sistema aqui descrito provê a criação de uma imagem digital de um corpo de prova sobre uma lâmina para microscópio utilizando-se o processamento em tempo real para captura de fotos instantâneas nas quais o tempo total para captura de todas as fotos instantâneas é inferior ao tempo necessário pelo método que utiliza uma etapa de pré-determinação de pontos de focagem para cada foto instantânea antes de capturar as fotos instantâneas.

[071] O dispositivo de imageamento 100 pode incluir um sensor de imageamento 110, tal como um dispositivo acoplado por carga (CCD) e/ou sensor de semicondutor óxido de metal complementar (CMOS) que pode ser parte de uma câmera 111 que captura imagens de patologia digital. O sensor de imageamento 110 pode receber luz transmitida de uma objetiva para microscópio 120 transmitida através de uma lente de tubo 112, um separador de feixe 114 e que inclui outros componentes de um microscópio de luz transmitida tal como um condensador 116 e uma fonte luminosa 118 e/ou outros componentes ópticos apropriados 119. A objetiva para microscópio 120 pode ser corrigida ao infinito. Em uma concretização, o separador de feixe 114 pode prover atribuição de aproximadamente 70% da fonte de feixe de luz direcionada ao sensor de imagem 110 e a porção remanescente de aproximadamente 30% direcionada ao longo de uma rota para o estágio de focagem com padrão dither 150 e sensor de foco 160. A amostra de tecido 101 que está sendo imageada pode ser disposta em um estágio de movimento estágio com movimento XY 130 que pode ser movido para as direções X e Y e que pode ser controlado conforme será aqui abordado. O estágio de foco 140 pode controlar o movimento da objetiva para microscópio 120 na Direção Z para focar uma imagem do tecido 101 que é capturada pelo sensor de imagem 110. O estágio de foco 140 pode incluir um motor e/ou outro dispositivo adequado para movimentar a objetiva para microscópio 120. Um estágio de focagem com padrão dither 150 e um sensor de foco 160 são usados para prover um controle fino de focagem para a focagem em tempo real de acordo com o sistema aqui descrito. Em várias concretizações, o sensor de foco 160 pode ser um sensor CCD e/ou sensor CMOS.

[072] O estágio de focagem com padrão dither 150 e o sensor de foco 160 fornecem uma focagem em tempo real de acordo com os valores de nitidez e/ou outras medidas que são rapidamente calculadas durante o processo de imageamento a fim de obter um melhor foco para cada foto instantânea de imagem quando ela é capturada. Conforme será abordado detalhadamente aqui, o estágio de focagem com padrão dither 150 pode ser movido em uma frequência, por exemplo, em um movimento sinusoidal que é independente de e excede a frequência de movimento praticável para o movimento mais lento da objetiva para microscópio 120. Múltiplas medições são feitas pelo sensor de foco 160 de informação de foco para vistas do tecido na faixa de movimento do estágio de focagem com padrão dither 150. A eletrônica de foco e sistema de controle 170 podem incluir eletrônica de controle do sensor de foco e estágio de foco com dithering 150, um relógio mestre, eletrônico de controle de estágio de focagem lenta 140 (Direção Z), estágio com movimento XY 130, e outros componentes de uma concretização de um sistema de acordo com técnicas aqui abordadas. A eletrônica de foco e sistema de controle 170 podem ser usados para executar cálculos de nitidez utilizando a informação do estágio de focagem com padrão dither 150 e sensor de foco 160. Os valores de nitidez podem ser calculados através de pelo menos uma porção de uma curva sinusoidal definida por movimento com padrão dither. A eletrônica de foco e sistema de controle 170 podem usar informação para determinar a posição para melhor imagem de foco do tecido e comandar o estágio de focagem lenta 140 para movimentar a objetiva para microscópio 120 até a posição desejada (ao longo do eixo Z conforme mostrado) para obtenção da melhor imagem de foco durante o processo de imageamento. O sistema de controle 170 também pode usar a informação para controlar a velocidade do estágio com movimento XY 130, por exemplo, a velocidade de movimento do estágio 130 na direção Y. Em uma concretização, valores de nitidez podem ser computados através da diferenciação de valores de constate de pixels vizinhos, esquadrinhando-os e somando aqueles valores para formar uma pontuação. Vários algoritmos para determinação de valores de nitidez serão também aqui abordados.

[073] In várias concretizações de acordo com o sistema aqui descrito, e de acordo com os componentes aqui abordados, um dispositivo de criação de uma imagem digital de um corpo de prova sobre uma lâmina para microscópio inclui: uma objetiva para microscópio que é corrigida ao infinito; um separador de feixe; uma lente de focagem de câmera; uma câmera de alta resolução; um grupo de lente de foco de sensor; um estágio de focagem com padrão dither; um sensor de focagem; um estágio (lento) aproximado de focagem; e eletrônica de foco. O dispositivo pode permitir a focagem da objetiva e captura de cada foto instantânea através da câmera sem a necessidade de pré-determinar um ponto de foco para todas as fotos instantâneas antes da captura das fotos instantâneas, e sendo que o tempo total para captura de todas as fotos instantâneas é inferior ao tempo necessário através de uma solicitação de sistema de uma etapa de pré-determinação de pontos de foco para cada foto instantânea antes da captura das fotos instantâneas. O Sistema pode incluir controles de computador para: i) determinação de um primeiro ponto de foco no tecido para estabelecer um plano de foco nominal através do movimento do estágio de foco aproximado através de toda faixa z e monitoração de valores de nitidez; ii) posicionamento do tecido em x e y para iniciar em um canto de uma área de interesse; iii) estabelecimento do estágio de foco fino com padrão dither para mover sendo que o estágio de foco com padrão dither é sincronizado a um relógio mestre que também controla a velocidade do XEstágio Y; iv) comando do estágio para mover desde o quadro até um quadro adjacente, e/ou v) produção de um sinal de gatilho para obter um quadro no sensor de imagem e acionar uma fonte luminosa para criar um pulso de luz.

[074] Além disso, de acordo com outra concretização, o sistema aqui descrito pode prover um método implementado por computador para criação de uma imagem digital de um corpo de prova sobre uma lâmina para microscópio. O método pode incluir determinação de uma área de varredura compreendendo uma região da lâmina para microscópio que inclui pelo menos uma porção do corpo de prova. A área de varredura pode ser dividida em uma pluralidade de fotos instantâneas. As fotos instantâneas podem ser capturadas utilizando-se uma objetiva para microscópio e uma câmera, na qual a focagem da objetiva e microscópio e captura de cada foto instantânea através da câmera pode ser conduzida para cada foto instantânea sem a necessidade de pré-determinação de um ponto de foco para todas as fotos instantâneas antes da captura das fotos instantâneas. O tempo total para captura de todas as fotos instantâneas pode ser inferior ao tempo necessário por um método que solicita uma etapa de pré-determinação de ponto de focos para cada foto instantânea antes da captura das fotos instantâneas.

[075] A figura 3A é uma ilustração esquemática de uma concretização da eletrônica de foco e sistema de controle 170 incluindo eletrônica de foco 161, um relógio mestre 163 e eletrônica de controle de estágio 165. A figura 3B é uma ilustração esquemática de uma concretização da eletrônica de foco 161. Na concretização ilustrada, a eletrônica de foco 161 pode incluir eletrônica apropriada tal como um conversor A/D adequadamente rápido 171 e um arranjo de porta de campo programável (FPGA) 172 com um microprocessador 173 que pode ser usado para realizar cálculos de nitidez. O conversor A/D 171 pode receber informação do sensor de foco 160 que fica acoplado ao FPGA 172 e microprocessador 173 e é usado para emitir informação de nitidez. O relógio mestre incluído no sistema 170 pode fornecer o sinal de relógio mestre à eletrônica de foco 161, eletrônica de controle de estágio 165, e a outros componentes do sistema. A eletrônica de controle de estágio 165 pode gerar sinais de controle usado para controlar o estágio de focagem lenta 140, estágio com movimento XY 130, estágio de focagem com padrão dither 150, e/ou outros sinais de controle e informação, tal como a seguir abordado aqui. O FPGA 172 pode fornecer um sinal de relógio ao sensor de foco 160, entre outras informações. Medições no laboratório mostram um cálculo de nitidez em um quadro de 640 x 32 pixel podem ser feitas em 18 microsegundos, rápido o suficiente para a operação adequada do sistema aqui descrito. Em uma concretização, o sensor de foco 160 pode incluir uma câmera CCD monocromática em modo janela para 640 x 32 em tira, tal como a seguir abordado aqui.

[076] O microscópio de varredura pode conseguir um conjunto 1D ou 2D de pixels incluindo informação de contraste e/ou informação de intensidade em RGB ou algum outro espaço colorido tal como a seguir abordado aqui. O sistema encontra os melhores pontos de focos sobre um grande campo, por exemplo sobre uma lâmina de vidro 25 mm x 50 mm. Muitos sistemas comerciais amostram a cena produzida por uma objetiva de 20x, 0.75 NA para microscópio com uma série CCD. Dado o NA da objetiva e condensador de 0.75 e comprimento de onda de 500 nm a resolução lateral do sistema óptico é de aproximadamente 0.5 micron. Para amostrar este elemento de resolução na frequência Nyquist, o tamanho de pixel no objeto é de aproximadamente 0.25 micron. Para uma câmera de 4 Mpixel (por exemplo, uma Dalsa Falcon 4M30/60), que opera a 30 fps, com um tamanho de pixel de 7.4 micron a magnificação desde o objeto até a câmera de imageamento é de 7.4/0.25 = 30x. Portanto, um quadro em 2352 x 1728 pode cobrir uma área de 0.588mm x 0.432mm no objeto, que se equipara a aproximadamente 910 quadros para uma seção de tecido típica definida como 15 mm x 15 mm em área. O sistema aqui descrito é usado onde a variação espacial de tecido na dimensão de foco é muito menor do que o tamanho de quadro no objeto. Variações em foco, na prática ocorrem em distâncias maiores e grande parte do ajuste de foco é feita para corrigir inclinações. Essas inclinações em geral se situam na faixa de 0.5 - 1 micron por dimensão de quadro no objeto.

[077] O tempo para o resultado de sistemas de varredura atuais (por exemplo, um sistema BioImagene iScan Coreo) é de aproximadamente 3.5 minutos para pré-varredura e varredura de um campo de 20x 15 mm x 15 mm e aproximadamente 15 minutos para uma varredura 40x em campo de 15 mm x 15 mm. O campo de 15 mm x 15 mm é varrido ao rodar 35 quadros em 26 passos. As varreduras podem ser feitas unidirecionalmente com um tempo de reconstituição de 1 segundo. O tempo para varrer utilizando uma técnica de acordo com o sistema aqui descrito pode ser de aproximadamente 5 segundos para encontrar o plano de foco nominal, 1.17 segundos por passo (25 passos), para um total de 5 + 25 x (1.17 + 1) = 59.25 segundos (aproximadamente 1 minuto). Esta é uma economia considerável de tempo em relação aos métodos convencionais. Outras concretizações dos sistemas aqui descritos podem permitir tempos de foco ainda mais rápidos, porém poderá ocorrer uma limitação na quantidade de luz necessária para os tempos curtos de iluminação a fim de evitar desfoque de movimento em varredura contínua. Pulsação ou iluminação intermitente da fonte luminosa 118, que pode ser uma fonte luminosa LED tal como a seguir abordado aqui, para permitir iluminação de alto pico podem minimizar essa questão. Em uma concretização, a pulsação da fonte luminosa 118 pode ser controlada pela eletrônica de foco e sistema de controle 170. Além disso, a operação do sistema bi-direcionalmente elimina a economia de tempo de reconstituição em aproximadamente 25 segundos para uma varredura 20x resultando em um tempo de varredura de 35 segundos.

[078] Note-se que os componentes usados em conexão com a eletrônica de foco e sistema de controle 170 também podem mais genericamente ser chamados de componentes elétricos usados para executar uma variedade de diferentes funções em conexão com concretizações das técnicas aqui descritas.

[079] A figura 4 é uma ilustração esquemática que mostra o estágio de foco com padrão dither 150 mais detalhadamente de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. O estágio de foco com padrão dither 150 pode incluir uma lente de focagem com padrão dither 151 que pode ser movida por um ou mais atuadores 152a,b, tal como atuadores de bobina de voz, e que podem ser montados em uma carcaça rígida 153. Em uma concretização, a lente pode ser lente acromática com um comprimento focal de 50 mm tal como comercialmente disponível, vide por exemplo Edmund Scientific, NT32-323. Alternativamente, a lente de focagem com padrão dither 151 pode ser construída cm material plástico, asférica e no formato como aquele em que o peso da lente é reduzido (massa extremamente baixa). Uma estrutura de flexura 154 pode ser fixada à carcaça rígida 153 e fixada a um ponto de aterramento rígido e pode permitir somente movimento translacional da lente de focagem com padrão dither 151, por exemplo, pequenas distâncias de aproximadamente 600-1000 microns. Em uma concretização, a estrutura de flexura 154 pode ser construída com folhas de aço inox apropriadas de aproximadamente 0.010'' de espessura na direção de flexão e formar uma ligação de quatro barras. A textura de flexura 154 pode ser designada a partir de um aço para molas adequado em um esforço de trabalho distante de seu limite de fadiga (fator 5) para operar durante muitos ciclos.

[080] A massa de movimento da lente de focagem com padrão dither 151 e estrutura de flexura 154 pode ser designada para prover aproximadamente uma primeira ressonância mecânica de 60 Hz ou mais. A massa de movimento pode ser monitorada com um sensor de posição de largura de banda elevada adequado (por exemplo, > 1 kHz) 155, tal como um sensor capacitivo ou sensor de corrente parasita para prover retorno ao sistema de controle 170 (vide Figura 2). Por exemplo, a divisão ADE da KLA Tencor fabrica uma sonda de sensor capacitivo 5 mm 2805 com uma largura de banda de 1 kHz, faixa de medição de 1 mm e resolução de nanômetro 77 adequada para esta aplicação. O foco com padrão dither e sistema de controle, tal como representado por funcionalidade incluído no sistema 170, pode manter a amplitude da lente de focagem com padrão dither 151 para uma faixa de foco prescrita. O foco com padrão dither e sistema de controle podem depender de circuitos de oscilador de ganho controlado bastante conhecido. Quando operado em ressonância a lente de focagem com padrão dither 151 pode ser acionada em baixa corrente dissipando baixa potência nos enrolamentos de bobina de voz. Por exemplo, com o uso de um atuador BEI Kimco LAO8-10 (enrolamento A) as correntes médias podem ser inferiores a 180 mA e a potência dissipada pode ser inferior a 0.1 W.

[081] Note-se que outros tipos de movimento das lentes de padrão Dither e outros tipos de atuadores 152a,b podem ser usados em conexão com várias concretizações do sistema aqui descrito. Por exemplo, atuadores piezoelétricos podem ser usados como atuadores 152a,b. Além disso, o movimento das lentes de padrão Dither pode ser movimento em outras frequências ressonantes que permanece independente do movimento da objetiva para microscópio 120.

[082] O sensor 155, tal como o sensor capacitivo acima referido pode ser incluído em uma concretização de acordo com técnicas aqui descritas, pode prover retorno como para onde a lente de focagem com padrão dither está posicionada (por exemplo, com relação à onde sinusoisal ou ciclo correspondente aos movimentos da lente). Conforme cera___2 descrito aqui, uma determinação pode ser feita como para qual quadro de imagem quadro de imagem obtido com uso do sensor de foco produz o melhor valor de nitidez. Para este quadro, a posição da lente de focagem com padrão dither pode ser determinada com relação à posição de onda sinusoidal conforme indicado pelo sensor 155. A posição conforme indicada pelo sensor 155 pode ser usada pela eletrônica de controle de 170 para determinar um ajuste apropriado para o estágio de foco 140. Por exemplo, em uma concretização, o movimento da objetiva para microscópio 120 pode ser controlado por um motor de passo lento do estágio de focagem lenta 140. A posição indicada pelo sensor 155 pode ser usada para determinar uma quantidade correspondente de movimento (e sinal(is) de controle correspondentes para posicionar a objetiva para microscópio 120 na melhor posição de foco na Direção Z. O(s) sinal(is) de controle pode(m) ser transmitido(s) ao motor de passo do estágio de focagem lenta 140 para possibilitar qualquer reposicionamento necessário da objetiva para microscópio 120 na melhor posição de foco.

[083] As figuras 5A-5E são ilustrações esquemáticas que mostra uma iteração das operações de focagem de acordo com o sistema aqui descrito. As figuras mostram o sensor de imagem 110, o sensor de foco 160, o estágio de focagem com padrão dither 150 com uma lente de padrão Dither e a objetiva para microscópio 120. O tecido 101 é ilustrado se movendo no eixo Y, i.e., no Estágio com movimento XY 130, enquanto as operações de foco são realizadas. Em um exemplo, o estágio de focagem com padrão dither 150 pode mover as lentes de padrão Dither a uma frequência desejada, tal como 60 Hz ou mais (por exemplo, 80Hz, 100Hz), embora verifica-se que em outras concretizações, o sistema aqui descrito também pode operar com a lente de padrão Dither que se move a uma frequência mais baixa (por exemplo, 50Hz) de acordo com as circunstâncias aplicáveis. O estágio com movimento XY 130 pode ser comandado para mover, por exemplo, na direção Y, a partir do quadro para o quadro adjacente. Por exemplo, o estágio 130 pode ser comandado para mover em uma constante de 13 mm/segundo que para uma objetiva de 20x corresponde a uma taxa de aquisição de aproximadamente 30 quadros/segundo. Como o estágio de foco com padrão dither 150 e estágio com movimento XY 130 pode ser travado em fase, o estágio de foco com padrão dither 150 e sensor 160 podem realizar cálculos de foco 60 por segundo, ou funcionamento de 120 pontos de foco bi-direcionais (leitura no movimento para cima e para baixo da onda sinusoidal) por segundo ou 4 pontos de foco por quadro. Para uma altura de quadro de 1728 pixels, isso equivale a um ponto de foco a cada 432 pixels ou para a objetiva de 20x a cada 108 microns. Como o estágio com movimento XY 130 está em movimento, o ponto de foco deve ser capturado em um período de tempo bem curto, por exemplo 330 μsec (ou menos), para manter a variação mínima na cena.

[084] Em várias concretizações, tal como a seguir abordado aqui, esses dados podem ser armazenados e usados para extrapolar a próxima posição de foco de quadro ou, alternativamente, a extrapolação pode ser usada e o último ponto de foco é usado para a posição de foco do quadro ativo. Com uma frequência com padrão dither de 60 Hz e uma taxa de quadro de 30 quadros por segundo o ponto de foco é tomado em uma posição de até 1/4 de um quadro a partir do centro do quadro com imagem captada. Geralmente, Alturas de tecido não mudam suficientemente em 1/4 de um quadro para tornar este ponto de foco impreciso.

[085] Um primeiro ponto de foco pode ser encontrado no tecido para estabelecer o plano de foco nominal ou de referência 101'. Por exemplo, o plano de referência 101' pode ser determinado pelo movimento inicial da objetiva para microscópio 120, utilizando o estágio de focagem lenta 140, através de toda faixa Z digo +1/-1 mm e monitoração de valores de nitidez. Uma vez que o plano de referência 101' é encontrado, o tecido 101 pode ser posicionado em X e Y para iniciar em um canto e/ou outro local específico da área de interesse, e o estágio de focagem com padrão dither 150 é ajustado para mover e/ou caso contrário movimento do estágio de focagem com padrão dither 150 continuará a ser monitorado, iniciando na figura 5A.

[086] O estágio de foco com padrão dither 150 pode ser sincronizado a um relógio mestre no sistema de controle 170 (vide Figura 2), que também pode ser usado em conexão com o controle da velocidade do estágio com movimento XY 130. Por exemplo, se os estágios de foco com padrão dither 150 se deslocassem através de um movimento sinusoidal de 0.6 milímetro p-v (pico a vale) em 60 Hertz, presumindo um ciclo de trabalho de 32% para usar a faixa mais linear de sinusóide, 8 pontos deverão ser coletados através da faixa de foco durante um período de 2.7 msec. Nas figuras 5B-5D o estágio de focagem com padrão dither 150 move as lentes de padrão Dither em um movimento sinusoidal e amostras de foco são tomadas ao longo de pelo menos uma porção da curva sinusoidal. Amostras de foco devem ser tomadas portanto a cada 330 μsec ou a uma taxa de 3 kHz. Com uma magnificação de 5.5x entre o objeto e o sensor de foco 160, um movimento na lente com padrão Dither de 0.6 mm p-v equivale a movimento de 20 micron p-v na lente objetiva. Esta informação é usada para transmitir a posição na qual a nitidez máxima é computada, i.e., o melhor foco, para o motor de passos mais lento do estágio de focagem lenta 140. Conforme mostrado na figura 5E, o estágio de focagem lenta 140 é comandado para mover a objetiva para microscópio 120 para a posição de melhor foco (ilustrada pela faixa de movimento 120') no tempo para o sensor de imagem 110 a fim de capturar a imagem de melhor foco 110' da área de interesse do tecido 101. Em uma concretização, o sensor de imagem 110 pode ser disparado, por exemplo, pelo sistema de controle 170, para capturar uma imagem após um número específico de ciclos do movimento de lente com padrão Dither. O estágio com movimento XY 130move para o próximo quadro, o movimento cíclico da lente com padrão Dither no estágio de foco com padrão dither 150 continua, e operações de focagem das figuras 5A-5E são repetidas. Valores de nitidez podem ser calculados a uma taxa que não coloca obstáculo no processo, por exemplo, 3 kHz.

[087] A figura 6A é uma ilustração esquemática d eum gráfico 200 que mostra a forma de onda de comando da óptica de foco com padrão dither e determinações de nitidez de acordo com uma concretização do sistema aqui descrita. Em uma concretização baseada nos tempos abordados em conexão com o exemplo das figuras 5A-5E: T = 16.67 msec, /*período do sinusóide da lente com padrão Dither se a lente ressonar a 60 Hz */ F = 300 μm, /* faixa positive de valores de foco */ N = 8, /* número de pontos de foco obtido no período E */ Δt = 330 μsec, /* amostras de ponto de foco obtidas a cada 330 μsec */ E = 2.67 msec, /* o período durante o qual os pontos de foco N são obtidos */ Δf = 1.06 μm no centro da trajetória de foco. /* tamanho de etapa da curva de foco */

[088] Portanto com este ciclo de trabalho de 32%, 8.48 μm (8 x 1.06 μm = 8.48 μm) é amostrado através do processamento de foco.

[089] A figura 6B é uma ilustração esquemática que mostra um gráfico 210 de valores de nitidez calculada (Zs) para uma porção do movimento de onda sinusoidal da lente com padrão Dither mostrada no gráfico 210. A posição (z) para cada plano de foco amostrado como uma função de cada ponto i é dada pela EQUAÇÃO 1:

[090] Redução por janela de uma câmera CCD pode prover uma elevada taxa de quadro adequada para o sistema aqui descrito. Por exemplo, a empresa Dalsa of Waterloo, Ontario, Canadá fabrica a câmera monocromática Genie M640-l/3 640 x480. A Genie M640-l/3 opera a 3,000 quadros/segundo em um tamanho de quadro de 640 x 32. O tamanho de pixel no conjunto CCD é 7.4 microns. Na magnificação 5.5x entre o objeto e o plano de foco, um pixel de foco é equivalente a aproximadamente 1.3 micron no objeto. Embora algum cálculo da media de aproximadamente 16 pixel objeto (4x4) por pixel de foco possa ocorrer, a mudança de contraste suficiente de frequência espacial elevada é preservada para obter boa informação de foco. Em uma concretização, a posição de melhor foco pode ser determinada de acordo com o valor de pico do gráfico de cálculos de nitidez 210. Em concretizações adicionais verifica-se que outros cálculos de foco e técnicas podem ser usados para determinar a posição de melhor foco de acordo com outras medidas incluindo o uso de uma medida de contraste, tal como a seguir abordado aqui.

[091] As figuras 7A e 7B são ilustrações esquemáticas que mostram determinações de focagem e ajustes de um corpo de prova (tecido) de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Na figura 7A, ilustração 250 é uma vista do corpo de prova mostrado em quadros de imagem aproximados em conexão com movimento do corpo de prova ao longo do Eixo Y de acordo com o movimento do estágio com movimento XY 130 aqui abordado. Uma travessa ou passagem pelo corpo de prova em conexão com movimento do corpo de prova ao longo do eixo Y (por exemplo, de acordo com movimento do XEstágio Y) é ilustrada em 250. Ilustração 250' é uma versão ampliada de uma porção da ilustração 250. Um quadro da ilustração 250' é designado dtp, com referência a um ponto de tecido definitivo do corpo de prova. No exemplo da ilustração 250', um perímetro de corpo de prova é mostrado durante a varredura, múltiplos cálculos de foco são realizados de acordo com o sistema aqui descrito. No quadro 251, e a título de exemplo, é ilustrado o fato de uma determinação de melhor foco ser feita após 4 cálculos de foco (mostrado como posições de foco 1, 2, 3 e 0*) terem sido realizados em conexão com imageamento do corpo de prova, embora mais cálculos de foco possam ser realizados em conexão com o sistema aqui descrito. A figura 7B mostra uma ilustração esquemática 260 que mostra um gráfico da posição do eixo Z da objetiva para microscópio em relação à posição do Eixo Y do corpo de prova que está sendo examinado. A posição ilustrada 261 mostra a posição determinada ao longo do eixo Z para o ajuste da objetiva para microscópio 120 a fim de obter o melhor foco de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[092] Note que o sistema aqui descrito provê vantagens importantes em relação a sistemas convencionais tal como aquelas descritas no documento patentário U.S. Patent No. 7,576,307 e 7,518,642, que aqui são incorporados por referência nos quais a objetiva para microscópio inteira é movida através d foco em um padrão sinusoidal ou triangular. O sistema aqui provido é vantajoso pelo fato de ele ser adequado ao uso com objetiva para microscópio e um estágio de acompanhamento que são pesados (especialmente se outras objetivas foram adicionadas via um torreão) e não podem ser movidas nas frequências mais elevadas descritas utilizando óptica com padrão dither. A lente com padrão Dither aqui descrita pode apresentar uma massa ajustada (por exemplo, ser projetada mais leve, menos vidro) e as demandas de imageamento no sensor de foco são menores do que aquelas impostas pela objetiva para microscópio. Os dados de foco podem ser tomados a elevadas taxas conforme aqui descrito, para minimizar a variação de cena ao computar a nitidez. Com a minimização de variação de cena, o sistema aqui descrito reduz descontinuidades na métrica de nitidez quando o sistema move para o e para fora de foco enquanto o tecido está se movendo sob a objetiva para microscópio. Em sistemas convencionais, tais descontinuidades acrescentam ruído ao cálculo de melhor foco.

[093] A figura 8 é uma ilustração esquemática 300 que mostra um exemplo de um perfil de nitidez, produzido a partir do movimento através de posições de foco, incluindo uma curva de nitidez e razão de contraste para cada resposta de nitidez em múltiplos pontos que são amostrados pela óptica de focagem com padrão dither de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Gráfico 310 mostra amplitude de lente com padrão Ditherem micrômetros no eixo X e unidades de nitidez ao longo do eixo Y. Conforme ilustrado, o movimento de lente com padrão Dither pode ser centrado em pontos representativos A, B, C, D e E; porém, verificou-se que as computações descritas que podem ser aplicadas a cada um dos pontos na curva de nitidez. A resposta de nitidez produzida a partir do sensor de foco 160, para um meio- ciclo da sinusóide da lente com padrão Dither, quando o movimento da lente com padrão Dither é centralizado em cada um dos pontos A, B, C, D e E , é mostrada respectivamente nos gráficos 310a-e. Com base nisso, a razão de contraste para cada uma das respostas de nitidez que apresentam um dos pontos A-E correspondente é computada de acordo com: Função de contraste = (max - min)/(max + min). Em conexão com a função de contraste determinada para um dos pontos A-E (por exemplo, no qual movimento de lente com padrão Dither é centrado) e uma das curvas de resposta de nitidez 310a-e correspondente, max representa o valor de nitidez máximo obtido da curva de resposta de nitidez e min representa o valor de nitidez mínimo obtido da curva de resposta de nitidez. O gráfico de função de contraste 320 resultante é mostrado abaixo do gráfico de curva de nitidez 310 e gráficos valores de razão de contraste correspondentes ao movimento da lente com padrão Dither de acordo com a amplitude de lente com padrão Dither. O nível mínimo da função de contraste no gráfico 320 é uma posição de melhor foco. Com base na função de contraste e determinação da posição de melhor foco, um sinal de controle pode ser gerado o qual é usado para controlar o estágio de focagem lenta 140 para mover a objetiva para microscópio 120 para uma posição de melhor foco antes do sensor de imagem 110 capturar a imagem 110'.

[094] A figura 9 mostra um diagrama em bloco de loop de controle funcional 350 que ilustra o uso da função de contraste para produzir um sinal de controle para controlar o estágio de focagem lenta 140. Ud pode ser considerado como uma disturbância para o loop de controle de foco e pode representar uma inclinação de lâmina ou alteração de alturas de superfície de tecido, por exemplo. Bloco funcional 352 mostra a geração de informação de vetor de nitidez que pode ser gerada pelo sensor de foco 160 e comunicada à eletrônica de foco e sistema de controle 170. Bloco funcional 354 mostra a geração de um número de contraste (por exemplo, valor da função de contraste) no ponto no qual a lente com padrão Dither está amostrando o foco. Este número de contraste é comparado a um ponto determinado ou valor de referência (Ref) produzido em uma etapa inicial onde o melhor foco havia sido anteriormente estabelecido. O sinal de erro produzido a partir desta comparação com ganho aplicado apropriado K1 (em bloco funcional 356) corrige o motor de foco lento que age (em bloco funcional 358) para manter a cena em foco. Verificou-se que uma concretização pode ajustar a posição da objetiva para microscópio 120 de acordo com um valor mínimo ou quantidade limite de movimento. Desse modo, uma tal concretização pode evitar a realização de ajustes menores do que o valor-limite.

[095] A figura 10 é uma ilustração esquemática que mostra a janela de focagem 402 sendo fragmentada em zonas em conexão com processamento de foco de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Na concretização ilustrada, a janela de focagem é subdividida em 8 zonas (402'); porém, menor ou mais de 8 zonas podem ser usadas em conexão com o sistema aqui descrito. Um primeiro subconjunto das zonas pode estar dentro de uma foto instantânea n e um segundo subconjunto de zones estar dentro de uma foto instantânea n + 1. Por exemplo, Zonas 2, 3, 4, 5 estão dentro do quadro de imagem 404 com imagem captada no tempo t1. Zonas 6 e 7 podem estar completamente dentro do próximo quadro de imagem a ser fotografado quando o estágio com movimento XY 130 atravessa desde o fundo até o topo na figura e/ou Zonas 0 e 1 podem estar completamente dentro do próximo quadro de imagem a ser fotografado quando o estágio 130 atravessa desde o topo até o fundo da figura. Posições de foco 0, 1, 2, e 3 podem ser usadas para extrapolar uma posição de melhor foco para o próximo quadro fotografado na posição 0*. Cobertura do tecido pode ser estabelecida, por exemplo, pela execução de um padrão de serpentina que toda a área de interesse.

[096] A janela retangular 404 do sensor de imagem pode ser orientada na direção do estágio 130, tal como uma coluna de quadros adquirida durante o imageamento é alinhada com o a janela de focagem 402 retangular. O tamanho do objeto no quadro de imagem 406, utilizando-se, por exemplo, uma câmera Dalsa 4M30/60 CCD, é de 0.588 mm x. 0.432 mm utilizando-se uma magnificação lente de tubo 30x. O tamanho de conjunto pode ser (2352 x 7.4 micron/30) x (1720 x. 7.4 micron/30). A dimensão mais ampla 406 de quadro de imagem (0.588 mm) pode ser orientada perpendicularmente à janela de focagem 402 e permite o número mínimo de colunas atravessadas sobre uma seção de tecido. O sensor de foco é 0.05 mm x. 0.94 mm utilizando-se uma magnificação 5x na perna de foco. A janela de focagem retangular 402 pode ser (32 x. 7.4 micron/5.0) x (640 x 7.4 micron/5.0). Portanto, o quadro 402 do sensor de foco pode ser aproximadamente 2.2x mais alto do que o quadro 404 do sensor de imagem, e pode ser vantajosamente usado em conexão com uma técnica de focagem de leitura antecipada (look-ahead) envolvendo múltiplas zonas, tal como a seguir abordado aqui. De acordo com uma concretização do sistema aqui descrito, determinação de melhor foco 120 podem ser realizadas por segundo, com um cálculo de nitidez feito a cada 333 μsec, resultando em 8 nitidezes calculadas sobre 2.67 msec igual a ciclo de trabalho de aproximadamente 32% para um meio período dither 8.3 msec do movimento de lente com padrão Dither.

[097] Uma métrica de nitidez para cada zona pode ser computada e armazenada. Ao computar uma métrica de nitidez para um único ponto de foco utilizando múltiplas zonasl, a métrica de nitidez pode ser determinada para cada zona e combinada, por exemplo, tal como pela adição de todas as métricas de nitidez para todas as zonas consideradas em um tal ponto único. Um exemplo da computação de nitidez é mostrado na EQUAÇÃO 2 (por exemplo, com base no uso de uma câmera em janelas para uma tira de 640 x 32). Para carreira i, dimensão n até 32, e coluna j, dimensão m até 640/z, onde z é o numero de zonas, a nitidez para cada zona pode ser representada pela EQUAÇÃO 2:

onde k é um número inteiro entre ou igual a 1 e 5. Outras métricas de nitidez e algoritmos também poderão ser usados em conexão com o sistema aqui descrito. Quando o estágio com movimento XY 130 está se movendo ao longo do eixo Y, o sistema adquire informação de nitidez para todas as zonas 0-7 na janela de focagem 402. É desejável quando o estágio 130 está se movendo saber como as alturas de seção de tecido estão variando. Ao computar uma curva de nitidez (nitidez máxima sendo melhor foco), pela variação da altura de foco, as Zonas 6 e 7, por exemplo, podem prover informação antes do movimento do próximo quadro onde o próximo plano de melhor foco está posicionado. Se as grandes alterações de foco forem antecipadas pela leitura antecipada, o estágio 130 poderá ser atrasado para prover pontos menos espaçados para melhor rastrear a transição de altura.

[098] Durante o processo de varredura, pode ser vantajoso determinar se o sistema está transitando de um espaço branco (sem tecido) para um espaço mais escuro (tecido). Através da computação de nitidez nas zonas 6 e 7, por exemplo, é possível prever se esta transição está para acontecer. Durante a varredura da coluna, se zonas 6 e 7 mostrarem nitidez aumentada o estágio com movimento XY 130 poderá ser comandado para reduzir a marcha para criar pontos de foco menos espaçados no perímetro do tecido. Se por um lado um movimento desde elevada nitidez até baixa nitidez for detectado, então cera___2 possível determinar que a vista do escaneador está entrando em um espaço branco e pode ser desejado desacelerar o estágio 130 para criar pontos de foco menos espaçados no perímetro do tecido. Nas áreas onde essas transições não ocorrem, o estágio 130 pode ser comandado para mover em velocidades constantes mais elevadas a fim de aumentar o rendimento total de varredura de lâmina. Este método pode permiti vantajosamente uma varredura rápida de tecido. De acordo com o sistema aqui descrito, fotos instantâneas podem ser tiradas enquanto dados de focagem são coletados. Além disso, todos os dados de foco podem ser coletados em uma primeira varredura e armazenados e fotos instantâneas podem ser tiradas em pontos de melhor foco durante uma varredura subsequente. Uma concretização pode usar razão de contraste ou valores de função de maneira similar àquela conforme aqui descrita com valores de nitidez para detectar mudanças no foco e correspondentemente determinar transições para dentro, ou para fora de áreas contendo tecido ou espaço em branco.

[099] Por exemplo, para uma varredura de 15 mm x 15 mm 20x, no tamanho de quadro de imagem de 0.588 x 0.432 mm, existem 26 colunas de dados, cada coluna apresenta 35 quadros. Em uma taxa de imageamento de 30 fps cada coluna é atravessada em 1.2 segundos ou um tempo de varredura de aproximadamente 30 segundos. Como o sensor de foco 160 computa 120 (ou mais) pontos de foco 120 por segundo, o sistema aqui descrito pode obter 4 focos por quadro (120 focos/segundo dividido por 30 fps). Em uma taxa de imageamento de 60 fps, o tempo de varredura é de 15 segundos e 2 focos por quadro (120 focus/segundo dividido por 60 fps).

[0100] Em outra concretização, uma câmera colorida pode ser usada como sensor de foco 160 e um croma métrico pode ser determinado alternativamente e/ou adicionalmente à métrica de contraste de nitidez. Por exemplo, uma versão colorida Dalsa da câmera 640 x 480 Genie pode ser adequadamente usada como sensor de foco de acordo com esta concretização. A croma metrica pode ser descrita como intensidade de cor com relação ao brilho de um branco iluminado de modo similar. Na forma de equação (EQUAÇÕES 3A e 3B), croma (C) pode ser uma combinação linear de medidas de cor R, G, B: CB = -37.797 xR - 74.203xG + 112 x B (EQUAÇÃO 3A) CR = 112 x R — 93.786 x G — 18.214 x B (EQUAÇÃO 3B)

[0101] Nota para R=G=B, CB = CR =0. Um valor para C, que representa croma total, pode ser determinado com base em CB e CR (por exemplo, tal como pela adição CB e CR).

[0102] Quando o Estágio com movimento XY 130 está se movendo ao longo do eixo Y, o sensor de foco 160 pode adquirir informação de cor (R, G, B), como em um microscópio de campo claro. È desejado quando o estágio está se movendo, saber como as alturas de seção de tecido estão variando. O uso de informação de cor RGB poder ser empregado como com a técnica de contraste, para determinar se o sistema está transitando de um espaço branco (sem tecido) para um espaço colorido (tecido). Através da computação de croma nas zonas 6 e 7, por exemplo, é possível prever se esta transição está para acontecer. Se, por exemplo, for detectado croma muito pequeno, então C=0 e será possível reconhecer que nenhum perímetro de tecido está sendo abordado. Porém, durante avarredura de coluna de foco, se as Zonas 6 e 7 mostrarem croma aumentada então o estágio 130 poderá ser comando para desacelerar a fim de criar pontos de foco menos espaçados no perímetro do tecido. Se por outro lado um movimento desde alta croma até baixa croma for detectado, então sera determinado que o escaneador está entrando em um espaço branco, e pode ser desejado desacelerar o estágio 130 para criar pontos de foco menos espaçados no perímetro do tecido. Em áreas, onde essas transiçoes não ocorrem, o estágio 130 pode ser comandado para mover a velocidades constantes mais elevadas para aumentar o rendimento total de varredura de lâmina.

[0103] Em conexão com o uso de valores de nitidez, valores de razão de contraste e/ou valores de croma para determinar quando o campo de visão ou aproximação de quadro(s) está entrando ou saindo de uma área de lâmina com tecido, poderão ser feitas variações de processamento. Por exemplo, quando uma area com tecido entra a partir de espaço branco (por exemplo, entre duas áreas de tecido), o movimento na direção Y poderá ser reduzido e um número de pontos de foco obtidos poderá também aumentar. Ao visualizer espaço branco ou uma area entre amostras de tecido, o movimento na direção Y poderá ser aumentado e menos pontos de foco determinados até o movimento sobre uma área contendo tecido ser detectada (por exemplo, tal como croma aumentada e/ou valores de nitidez).

[0104] A figura 11 mostra uma ilustração gráfica de diferentes valores de nitidez que podem ser obtidos em pontos no tempo em uma concretização de acordo com técnicas aqui descritas. A porção de topo 462 inclui uma curva 452 correspondente a um semi-ciclo de onda sinusoidal (por exemplo, metade de um único ciclo ou período de pico) do movimento de lente com padrão dither. O Eixo X corresponde a valores de amplitude de lente com padrão Dither durante este ciclo e o Eixo Y corresponde a valores de nitidez. Cada um dos pontos, tal como ponto 462a, representa um ponto no qual um quadro é obtido utilizando o sensor de foco em que cada quadro é obtido em uma amplitude de lente com padrão Dither representada pelo valor de Eixo X do ponto e apresenta um valor de nitidez representado pelo valor de Eixo Y do ponto. Elemento 465 na porção inferior 464 representa uma curva ajustada para cada conjunto de valores de nitidez obtidos conforme representado na porção de topo 462 para os pontos de dados ilustrados.

[0105] A figura 12 é um fluxograma 500 que mostra processamento de foco em tempo real durante a varredura de um corpo de prova sob inspeção de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Em uma etapa 502, um plano de foco nominal ou plano de referência pode ser determinado para o corpo de prova que está sendo examinado. Após a etapa 502, o processamento continua até uma até uma etapa 504 onde uma lente com padrão Dither, de acordo com o sistema aqui descrito, é ajustada para mover em uma frequência ressonante específica. Após a etapa 504, processamento continua até uma etapa 506 onde o Estágio com movimento XY é comandado para mover em uma velocidade específica. Note que a ordem das etapas 504 e 506, como com outras etapas de processamento aqui referidas, pode ser apropriadamente modificada de acordo com o sistema aqui descrito. Após a etapa 506, o processamento ocorre até uma etapa 508 onde cálculos de nitidez para pontos de foco com relação ao corpo de prova que está sendo examinado são realizados em conexão com o movimento (por exemplo, sinusoidal) da lente com padrão Dither de acordo com o sistema aqui descrito. Os cálculos de nitidez podem incluir o uso de contraste, croma e/ou outras medidas apropriadas tal como a seguir é abordado aqui.

[0106] Após a etapa 508, processamento ocorre até etapa 510 onde uma posição de melhor foco é determinada para a posição de uma objetiva para microscópio usada em conexão com um sensor de imagem para capturar uma imagem de acordo com o sistema aqui descrito. Após a etapa 510, processamento ocorre até uma etapa 512 onde um sinal de controle concernente à posição de melhor foco é enviado a um estágio de focagem lenta que controla a posição (xo Z) da objetiva para microscópio. Etapa 512 também pode incluir o envio de um sinal de gatilho para a câmera (por exemplo, sensor de imagem) para capturar uma imagem da porção de corpo de prova portion sob a objetiva. O sinal de gatilho pode ser um sinal de controle que possibilita a captura da pelo sensor de imagem tal como, por exemplo, após um numero específico de ciclos (por exemplo, como relacionado ao movimento de lente com padrão dither). Após a etapa 512, processamento ocorre até uma etapa de teste 514 onde é determinado se a velocidade do Estágio com movimento XY, que retém o corpo de prova sob varredura, deverá ser ajustada. A determinação pode ser feita de acordo com técnicas de processamento de leitura antecipada utilizando nitidez e/ou outra informação de múltiplas zonas em um campo de foco de visão como a seguir discutido detalhadamente aqui. Se, na etapa de teste 514, for determinado que a velocidade do XEstágio Y deverá ser ajustada, então o processamento ocorre até uma etapa 516 onde a velocidade do Estágio com movimento XY será ajustada. Após a etapa 516, processamento ocorre de volta para a etapa 508. Se, na etapa de teste 514, for determinado que nenhum ajuste à velocidade do Estágio com movimento XY deverá ser feito, então processamento ocorre até uma etapa de teste 518 onde é determinado se processamento de foco deverá continuar. Se o processamento tiver que continuar então o processamento retornará à etapa 508. Caso contrário, se o processing não continuar (por exemplo, a varredura do preente corpo de prova está completa), então o processamento de foco será finalizado e o processamento estará completo.

[0107] A figura 13 é um fluxograma 530 que mostra o processamento no estágio de focagem lenta de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Em uma etapa 532, o estágio de focagem lenta, que controla uma posição (por exemplo, ao longo do eixo Z) de uma objetiva para microscópio, recebe um sinal de controle com information para ajuste de uma posição da objetiva para microscópio que está examinando um corpo de prova. Após a etapa 532, processamento ocorre até uma etapa 534 onde o estágio de focagem lenta ajusta a posição da objetiva para microscópio de acordo com o sistema aqui descrito. Após a etapa 534, processamento ocorre até uma etapa de espera 536 onde o estágio de focagem lenta espera receber outro sinal de controle. Após a etapa 536, processamento ocorre de volta para a etapa 532.

[0108] A figura 14 é um fluxograma 550 que mostra processamento de captura de imagem de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Em uma etapa 552, um sensor de imagem de uma câmera recebe um sinal de gatilho e/ou outra instrução que dispara o processamento para capturar uma imagem de um corpo de prova sob exame de microscópio. Em várias concretizações, o sinal de gatilho pode ser recebido a partir de um sistema de controle que controla a ativação do processamento de captura de imagem do sensor de imagem após um número específico de ciclos de movimento de uma lente com padrão Dither usado no processamento de foco de acordo com o sistema aqui descrito. Alternativamente, o sinal de gatilho pode ser provido com base em uma posição sensor no Estágio com movimento XY. Em uma concretização, um sensor de posição pode ser um Codificador Renishaw Linear modelo No. T1000-10A. Após a etapa 552, processamento ocorre até uma etapa 554, onde o sensor de imagem capta uma imagem. Conforme aqui detalhadamente abordado, a imagem capturada pelo sensor de imagem pode estar em foco em conexão com operação de um sistema de focagem de acordo com o sistema aqui descrito. Imagens capturadas podem ser alinhavadas de acordo com outras técnicas aqui referenciadas. Após a etapa 554, processamento ocorre até uma etapa 556 onde o sensor de imagem espera receber outro sinal de gatilho. Após a etapa 556, processamento ocorre de volta à etapa 552.

[0109] A figura 15 é uma ilustração esquemática 600 que mostra um arranjo alternativo para processamento de foco de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Um sensor de foco em janelas pode apresentar um campo de quadro de visão (FOV) 602 que pode ser inclinado ou senão posicionado para varrer diagonalmente um faixa substancialmente igual à largura do quadro de sensor de imageamento FOV 604. Conforme aqui descrito, a janela pode ser inclinada na direção de trajetória. Por exemplo, o quadro FOV 602 do sensor de foco inclinado pode ser girado a 45 graus que deve apresentar uma largura efetiva de 0.94 x 0.707 = 0.66 mm no objeto (tecido). O quadro FOV 604 do sensor de imageamento pode apresentar uma largura efetiva de 0.588 mm, portanto, quando o Estágio com movimento XY que retém tecido se move sob a objetiva, o sensor de foco quadro FOV 602 inclinado vê os cantos da faixa observada pelo sensor de imagem. Na vista, múltiplos quadros do sensor de foco inclinado são mostrados sobrepostos no quadro de sensor de imagem FOV 604 em posições intermediárias em tempos 0, 1, 2 e 3. Pontos de foco podem ser tomados em três pontos entre os centros de quadros adjacentes na coluna de foco. Posições de foco 0, 1, 2, e 3 são usadas para extrapolar a posição de melhor foco para o próximo quadro fotografado na posição 0*. O tempo de varredura para este método deve ser similar aos métodos descritos em outro ponto aqui. Enquanto o quadro FOV 602 do sensor de foco inclinado apresenta uma leitura antecipada mais curta, neste caso 0.707 x (0.94-0.432)/2 = 0.18 mm ou o sensor de foco inclinado invade 42% no próximo quadro a ser adquirido, o quadro FOV 602 do sensor de foco inclinado, que é oblíquo com relação ao quadro de sensor de imagem FOV 604, vê o tecido nas bordasda faixa de varredura que pode ser vantajosa em certos casos para prover informação de foco de borda.

[0110] A figura 16 é uma ilustração esquemática 650 que mostra um arranjo alternativo para processamento de foco de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito. Como na ilustração 650, o quadro FOV 652 do sensor de foco inclinado e o quadro FOV 654 do sensor de imagem são mostrados. O quadro FOV 652 do sensor inclinado pode ser usado para adquirir informação de foco no passo em frente através do tecido.

[0111] No passa para trás o sensor de imageamento fotografa quadros enquanto o estágio de foco ajusta utilizando dados de foco de passo em frente anterior. Se desejar tirar dados de foco em todas as posições intermediárias de pulo de quadro de imagem 0, 1, 2, 3 no método anterior, o Estágio com movimento XY pode mover 4x a velocidade no passo em frente dada a alta taxa de aquisição de ponto de foco. Por exemplo, para 15 mm x 15 mm a 20x, uma coluna de dados é de 35 quadros. Uma vez que os dados de foco são adquiridos em 120 pontos por segundo, o passo em frente pode ser executado em 0.3 segundos (35 quadros/120 pontos de foco por segundo). O número de coluna neste exemplo é 26, portanto a porção de foco pode ser feita em 26 x 0.3 ou 7.6 segundos. A aquisição de imagem a 30 fps é de aproximadamente 32 segundos. Desse modo, a porção de foco do tempo de varredura total é de apenas 20%, que é eficiente. Além disso, se os forem autorizados a pular todo outro quadro, a porção de foco do tempo de varredura cairia ainda mais substancialmente.

[0112] Verificou-se que em outras concretizações, a tira de foco do sensor de foco pode ser posicionada em outros locais dentro do campo de visão e em outras orientações para amostrar colunas adjacentes de dados para prover informação de leitura antecipada adicional que pode ser usada em conexão com o sistema aqui descrito.

[0113] O Estágio com movimento XY que transporta a lâmina pode repetir os pontos de melhor foco produzidos na trajetória para frente com relação àqueles produzidos na trajetória para trás. Para uma objetiva 20x 0.75 NA onde a profundidade de foco é de 0.9 micron, seria desejável repetir até aproximadamente 0.1 micron. Estágios podem ser construídos que atendam 0.1 micron de repetibilidade para frente/para trás e correspondentemente esta exigência é viável tecnicamentetal como em outro ponto abordado aqui.

[0114] Em uma concretização, um tecido ou mancha em uma lâmina de vidro que está sendo examinada de acordo com o sistema aqui descrito pode cobrir toda a lâmina ou aproximadamente uma área de 25 mm x 50 mm. Resoluções são dependents da abertura numérica (NA) da objetiva, o meio de acoplamento à lâmina o NA do condensador e o comprimento de onda de luz. Por exemplo, em 60x, para uma objetiva 0.9 NA de microscópio, apocromátic plano (Plan APO), no ar em uma luz verde (532 nm), a resolução lateral do microscópio é de aproximadamente 0.2 μm com uma profundidade de foco de 0.5 um.

[0115] Em conexão com operações do sistema aqui descritas, imagens digitais podem ser obtidas pelo movimento de um campo limitado de visão via um sensor de varredura em linha ou conjunto CCD sobre a área de interesse e agrupamento do campo limitado de visão ou quadros ou inclinações juntos para formar um mosaico. É desejável que o mosaic pareça sem costura com sutura invisível, anomalias de foco ou irradiancia quando o visualizador navega por toda a imagem.

[0116] A figura 17 é um fluxograma 700 que mostra o processamento para adquiir uma imagem mosaica de tecido sobre uma lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Em uma etapa 702, uma imagem em miniatura da lâmina pode ser adquirida. A imagem em miniatura pode ser uma resolução baixa na ordem de uma magnificação de 1x ou 2x. Se um código de barra estiver presente no rótulo da lâmina o código de barra poderá ser descodificado e fixado à imagem da lâmina nesta etapa. Após a etapa 702, processamento ocorre até uma etapa 704 onde o tecido pode ser encontrado sobre a lâmina utilizando ferramentas de processamento de imagem padrão. O tecido pode ser ligado para limitar a região de varredura a uma certa área de interesse. Após a etapa 704, processamento ocorre até uma etapa 706 onde um sistema de coordenadas XY pode ser unido a um plano do tecido. Após a etapa 706, processamento poderá ocorrer até uma etapa 708 onde um ou mais pontos de foco podem ser gerados em espaçamento regular X e Y para o tecido e melhor foco pode ser determinado com o uso de uma técnica de foco tal cmo uma ou mais técnicas de focagem em tempo real abordadas aqui em outro ponto. Após a etapa 708, processamento pode ocorrer até uma etapa 710 onde as coordenadas dos pontos de foco desejados, e/ou outra informação apropriada, podem ser salvas e podem ser chamadas de pontos de âncora. Verificou-se que onde quadros se situam entre os pontos de âncora, um ponto de foco pode ser interpolado.

[0117] Após a etapa 710, processamento pode ocorrer até uma etapa 712 onde a objetiva para microscópio e posicionada na posição de melhor foco de acordo com as técnicas aqui abordadas em um outro ponto. Após a etapa 712 processamento ocorre até uma etapa 714 onde uma imagem é coletada. Após a etapa 714, processamento ocorre até uma etapa de teste 716 onde se determina se uma área de interesse inteira foi varrida e imageada. Em caso negativo, o processamento ocorrerá até uma etapa 718 onde o XEstágio Ymove o tecido na direção X e/ou direção Y de acordo com as técnicas aqui abordadas em um outro ponto. Após a etapa 718, processamento ocorre de volta à etapa 708. Se na etapa de teste 716, for determinado que uma área de interesse inteira foi varrida e imageada, o processamento ocorrerá até uma etapa 720 onde a as imagens de quadro coletadas são alinhavadas ou senão combinadas para criar a imagem mosaica de acordo com o sistema aqui descrito e com uso de técnicas aqui abordadas em um outro ponto (por exemplo, com referência ao documento patentário U.S. Patent App. Pub. No. 2008/0240613). Após a etapa 720, processamento está completo. Verificou-se que outras sequências apropriadas também podem ser usadas em conexão com o sistema aqui descrito para adquirir uma ou mais imagens mosaicas.

[0118] Para operação do sistema aqui descrito vantajosa, repetibilidade de posição z pode ser repetível até uma fração da profundidade de foco da objetiva. Um pequeno erro no retorno à posição z pelo motor de foco é facilmente visto em um sistema lado a lado (2D CCD ou CMOS) e nas colunas adjacentes de um sistema de varredura em linha. Para as resoluções acima em 60x, um repetibilidade de pico z na ordem de 150 nanômetros ou menos é desejável e tal repetibilidade deve ser correspondentemente adequada para outras objetivas, tais cmo objetivas de 4x, 20x e/ou 40x.

[0119] De acordo com o sistema aqui descrito, várias concretizações para um sistema de estágio de lâmina incluindo um XEstágio Y são providas para aplicação de microscopia de patologia que podem ser usadas em conexão com as características e técnicas de imageamento de patologia digital que são aqui abordadas, incluindo, por exemplo, funcionamento como Estágio com movimento XY 130 aqui abordado em outro ponto em conexão com técnicas de focagem em tempo real. De acordo com uma concretização, e conforme discutido em outro ponto aqui a seguir um XEstágio Y pode incluir um bloco de base rígido. O bloco de base pode incluir um bloco plano de vidro suportado em saliências elevadas e um segundo bloco de vidro com uma seção transversal triangular suportado sobre saliências elevadas. Os dois blocos podem ser usados como trilhos suaves e retos ou vias para guiar um bloco de estágio com movimento.

[0120] A figura 18 é uma ilustração esquemática que mostra uma implementação de um estágio de precisão 800 (por exemplo, uma porção de Estágio Y) de um XEstágio Y de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Por exemplo, o estágio de precisão 800 pode adquirir uma repetibilidade de pico z na ordem de 150 nanômetross ou menos sobre uma área de 25 mm x 50 mm. Tal como a seguir abordado aqui, o estágio de precisão 800 pode ser usado em conexão com características e técnicas aqui abordadas em um outro ponto, incluindo, por exemplo, funcionamento em conexão com o Estágio com movimento XY 130 apresentado com relação a técnicas de focagem em tempo real. O estágio de precisão 800 pode incluir um bloco de base rígido 810onde um bloco plano 812 de vidro é suportado sobre saliências elevadas. O espaçamento dessas saliencies são tais que os arqueamentos devido ao peso do estágio de precisão 800, dos blocos de vidro sobre os suportes simples são minimizados. Um Segundo bloco de vidro 814 com uma seção transversal triangular é suportado sobre saliências elevadas. Os blocos de vidro 812, 814 podem ser adesivamente ligados ao bloco de base 810 com um epóxi semi-rígido que não deforma os blocos de vidro. Os blocos de vidro 812, 814 podem ser retos e polidos para uma ou duas ondas de luz a 500 nm. Um material de baixa expansão térmica, tal como Zerodur, pode ser emprgado como um material para os blocos de vidro 812, 814. Outros tipos apropriados de vidro podem ser também usados em conexão com o sistema aqui descrito. Um recorte 816 pode permitir luz a partir de um condensador de microscópio para iluminar o tecido sobre a lâmina.

[0121] Os dois blocos de vidro 812, 814 podem ser usados como trilhos suaves e retos ou vias para guiar o bloco de estágio com movimento 820. O bloco de estágio com movimento 820 pode incluir botões de forma esférico de material plástico (por exemplo, 5 botões) que contactam os blocos de vidro, conforme ilustrado em posições 821a-e. devido ao fato desses botões pla'sticos serem esféricos, a superfície de contato pode ser confinada a uma área muito pequena <<0.5 mm) determinada pelo módulo de elasticidade do plástico. Por exemplo, PTFE ou outra mistura temroplástica mais outros aditivos lubrificantes fabricados pela GGB Bearing Technology Company, UK podem ser usados e se fundem no formato dos botões de contato de aproximadamente 3 mm de diâmetro. Em uma concretização, o coeficiente de fricção entre o botão plástico e vidro polido deve ser o mais baixo possível mas deve-se evitar o uso de um lubrificante líquido para economizar em manutenção de instrumento. Em uma concretização, um coeficiente de fricções entre 0.1 e 0.15 pode ser obtido printamente na operação a seco.

[0122] As figuras 19A e 19B são visões mais detalhadas do bloco de estágio com movimento 820 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito, que mostram os botões de formato esférico 822a-e que contactam os blocos de vidro 810, 812 nas posições 821a-e. Os botões podem ficar dispostos em posições que permitem excelente rigidez em todas as direções que não a direção de acionamento (Y). Por exemplo, dois botões plásticos podem se confrontar para contactar lados do bloco de vidro de formato triangular 814 (i.e., 4 botões 822b-e) e um botão plástico 822a fica posicionado para contactar o bloco de vidro plano 812. O bloco de estágio com movimento 820 pode incluir um ou mais furos 824 a ter o peso reduzido e moldado para colocar o centro de gravidade no centroide 826 do triângulo formado pela posição de botões de suporte plásticos 822a-e. Dessa maneira, cada um dos botões plásticos 822a-e nos cantos do triângulo 828 pode apresentar mesmo peso em todos os tempos durante o movimento de um estágio 800.

[0123] Com relação à figura 18, uma lâmina 801 é fixada via um braço acionado por mola 830 no feixe 832. A lâmina 801 pode ser manualmente colocada no feixe 832 e/ou roboticamente colocada no feixe 832 com um mecanismo auxiliar. Um braço cantilever rígido 840 suporta e fixa rigidamente a extremidade das flexurais de haste de pequeno diâmero 842 que podem ser feitas de um aço resistente a elevada fadiga. Em um exemplo, este diâmetro pode ser 0.7 mm. A outra extremidade da flexural de haste 842 pode ser fixada ao local centroide 826 no estágio de movimento 820. O braço cantilever 840 pode ser fixado a um bloco de sustentação 850 que pode operar através de uma configuração de sustentatação recirculante em um trilho de aço temperado 852. Um conjunto de parafuso de avanço 854 pode ser fixado ao bloco de sustentação 850 e o conjunto de parafuso de avanço 854 pode ser girado por um motor de passo 856. Componentes adequados para os elementos acima referidos podem ser disponibilizados através de diversas empresas tais como THK no Japão. O conjunto de parafuso de avanço 854 aciona o bloco de sustentação 850 sobre o trilho 852 que puxa ou empurra o bloco de estágio com movimento 820 via a flexura de haste 842.

[0124] A rigidez à flexão da flexura de haste 842 pode ser um fator superior a 6000x menos do que a rigidez do bloco de estágio com movimento 820 em seus coxins plásticos (esta é uma rigidez oposta a uma força ortogonal ao plano do estágio de movimento na direção Z). Isso efetivamente isola o bloco de estágio com movimento 820 contra movimentos para cima e para baixo do bloco de sustentação 850/braço cantilever 840 produzidos pelo ruído de rolamento.

[0125] O balanceamento de massa cuidadoso e atenção à geometria na configuração do estágio de precisão 800 aqui descrito minimiza momentos no bloco de estágio com movimento 820 que podem produzir pequenos movimentos oscilantes. Adicionalmente, uma vez que o bloco de estágio com movimento 820 oera em vidro polido, o bloco de estágio com movimento 820 apresenta repetibilidade de posição z inferior a pico de 150 nanômetros suficiente para a varredura com magnificação 60x. Como a condição 60x é a mais estrita, outras magnificações menores tais como objetivas de NA elevado 20x e 40x também mostram desempenho adequado similar ao desempenho obtido sob condições 60x.

[0126] A figura 20 mostra uma implementação de de um Estágio composto XY inteiro 900 de acordo com as características de estágio de precisão aqui discutidas e incluindo um Estágio Y 920, um Estágio X 940 e uma placa de base 960 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Neste caso, um bloco de base para o Estágio Y 920 se torna o Estágio X 940 que é um estágio de movimento na direção X. Um bloco de base para o Estágio X 940 é a placa de base 960 que pode ser aterrada. O Estágio composto XY 900 provê repetibilidade na Direção Z na ordem de 150 nanômetros e repetibilidades na ordem de 1-2 microns (ou menos) na direção X e Direção Y de acordo com o sistema aqui descrito. Se os estágios incluírem posição de retorno via uma escala de fita, tal como aquela produzida por Gloucestershire, Inglaterra, preciões em sub-micron poderão ser obtidas de acordo com o sistema aqui descrito.

[0127] A configuração de estágio de acordo com o sistema aqui descrito pode ser superior aos estágios de movimento suportados por mancal esférico em que um XEstágio Y de acordo com o sistema aqui descrito não sofre erros de repetibilidade devido a mancais de esferas não esféricos ou mancais de rolamentos não cilíndricos. Além disso, em configurações de mancal de recirculação um novo componente de esfera com esferas de diferentes tamanhos pode causar movimento não repetível. Um benefício adicional das concretizaçãos aqui descritas é o custo do estágio. Os elementos de vidro utilizam técnicas de esmerilhamento e polimentos padrões e não são muito caros. O bloco de mancal e conjunto de parafuso de avanço não necessitam ter qualidade particularmente elevada em que a flexura de haste desacopla o estágio de movimento do bloco de mancal.

[0128] De acordo também com o sistema aqui descrito, é vantajoso reduzir e/ou então minimizar tempos de varredura durante a varredura digital de lâminas de patologia. Em configurações clínicas, um fluxo de trabalho desejado é colocar um suporte para lâminas em um microscópio de varredura de lâmina robótico, fechar a porta e comandar o sistema para varrer as lâminas. É desejado que nenhuma intervenção por parte do usuário seja necessária até todas as lâminas serem varridas. O tamanho por batelada pode incluir múltiplas lâminas (por exemplo, 160 lâminas) e o tempo para varrer todas as lâminas é chamado tempo por batelada. O rendimento por lâmina é o número de lâminas por hora processado. O tempo de ciclo é o tempo entre cada imagem de lâmina disponível que está pronta para visualização.

[0129] O tempo de ciclo pode ser influenciado pelas etapas a seguir na aquisição de uma imagem: (a) apanhar roboticamente a lâmina; (b) criar uma imagem em miniatura ou imagem panorâmica da área de tecido para lâmina etiqueta; (c) calcular uma área de interesse que liga um tecido para lâmina; (d) pré-varredura da área de tecido ligada para encontrar um conjunto regular de pontos de melhor foco sobre o tecido; (e) varrer o tecido de acordo com o movimento de um estágio e/ou sensor; (f) criar uma imagem de saída comprimida pronta para visualização; e (g) depositar a lâmina pronta para próxima lâmina. Verificou-se que a etapa (d) pode não ser necessária se a focagem dinâmica ou focagem “em tempo real” for realizada de acordo com o sistema aqui descrito, e na qual tempo de obtenção de imagem/varredura pode correspondentemente ser reduzido como resultado do uso das técnicas de focagem em tempo real.

[0130] O sistema aqui descrito também pode abranger a eliminação ou redução significativa do tempo para execução de etapas (a), (b), (c) e (g). De acordo com várias concretizações do sistema aqui descrito, esses ganhos podem ser realizados, por exemplo, pelo uso de um conceito de armazenamento em cache onde as etapas acima referidas (a), (b), (c) e (g) para uma lâmina são sobrepostas no tempo por etapas (d), (e) e (f) para outra lâmina conforme aqui apresentado em outro ponto. In várias concretizações, a sobreposição de etapas (a), (b) e (c) para uma lâmina com etapas (d), (e) e (f) para outra lâmina pode prover um ganho de 10%, 25% ou até mesmo 50% em coparação com um sistema onde etapas (a), (b) e (c) para uma lâmina não são sobrepostas por etapas (d), (e) e (f) para outra lâmina.

[0131] A figura 21 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de armazenamento em cache 1000 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Um cabeçote de agarre de lâmina 1002 pode ser posicionado para apanhar uma lâmina 1001. O cabeçote de agarre 1002 pode usar um dispositivo mecânico e/ou um dispositivo a vácuo para apanhar a lâmina 1001. A lâmina 1001 pode ser uma da coleção de lâminas na batelada, por exemplo, uma batelada de 160 lâminas. A coleção de lâminas pode ficar disposta em um suporte para lâminas suporte para lâminas 1003. O cabeçote de agarre 1002 é fixado a um carrinho ou bloco de mancal 1004 que se desloca sobre um trilho de aço 1005. O bloco de mancal 1004 é movido por um parafuso de avanço giratório 1006. As contagens por motorpodem ser detectadas com um codificador giratório 1007 e convertidas em uma trajetória linear para controlar a posição de lâmina na direção Y. Os elementos 10021007 podem compreender um conjunto de movimento chamado de carreador/descarregador de a carregador/descarregador de lâmina 1008. O carregador/descarregador de lâmina 1008 também pode mover um carrinho de mancal motorizado ou um bloco de mancal motorizado 1009 na direção X sobre o trilho 1010 que permite que o carregador/descarregador de lâmina 1008 se mova em ambas as direções X e Y.

[0132] Durante a operação, uma lâmina, enquanto presa no cabeçote de agarre 1002, pode ser posicionada sob uma câmera 1011 de baixa resolução para obter a imagem em miniatura ou imagem panorâmica da área de tecido para lâmina e etiqueta (por exemplo, a etapa (b) acima referida). Uma vez que esta operação for concluída, a etapa (c) poderá ser executada e a lâmina será colocada em uma posição sobre um armazenador temporário para lâmina 1012. O armazenador temporário para lâmina 1012 pode incluir duas (ou mais) ranhuras de armazenador temporário ou posições 1018a, 1018b, e é mostrado incluindo uma lâmina 1017 na posição de armazenador temporário 1018a.

[0133] Em uma concretização, um XEstágio Y composto 1013 pode incluir uma placa de estágio 1014 que se move na Direção Y e que pe montada em uma placa 1015 que se move na direção X. O XEstágio Y 1013 pode apresentar características e funcionalidade similar àquela aqui abordada em outro ponto, incluindo por exemplo, características do XEstágio Y 900 compsoto aqui abordado. A placa de estágio 1014 tambpem pode incluir um cabeçote de agarre de lâmina 1016 adicoinal. O cabeçote de agarre 1016 pode ser similar ao cabeçote de agarre 1002 acima descrito. O cabeçote de agarre 1016 pode usar um dispositivo mecânico e/ou um dispositivo a vácuo para apanhar uma lâmina.

[0134] O cabeçote de agarre 1016 do XEstágio Y composto 1013 pode se mover para a posição de armazenador temporário 1018a e apanhar a lâmina 1017. A lâmina 1017 pode agora continuar para uma ou mais etapas acima referidas, incluindo as etapas de: (d) pre-varrer, (e) varrer e f) criar etapas de imagem de saída. Enquanto este processamento está sendo executado, o carregador/descarregador de lâmina 1008 pode apanhar outra lâmina (por exemplo, lâmina 1001), obter a imagem em miniatura da lâmina 1001 utilizando a câmera 1011, e colocar a lâmina 1001 em uma posição 1018b vazia no armazenador temporário para lâmina 1012, mostrado esquematicamente pela linha pontilhada 1001'. Quando a varredura estiver concluída na lâmina anterior (lâmina 1017), o cabeçote de agarre de lâmina 1016 do Estágio composto XY 1013 pode colocar a lâmina 1017 na posição de armazenador temporário 1018a e apanhar a próxima lâmina (lâmina 1001) a partir da posição de armazenador temporário 1018b que está pronta para varredura. O XEstágio Y composto 1013 pode se mover em um padrão de varredura regular para trás e para frente sob lentes de microscópio de sistema óptico de alta resolução e câmera 1019 para adquirir uma imagem de alta- resolução de tecido biológico de acordo com características e técnicas aqui abordadas em um outro ponto. Também verificou-se que movimentos e seleções de lâmina do XEstágio Y composto 1013 e/ou do carregador/descarregador de lâmina 1008 podem ser controlados por um ou mais processadores em um sistema de controle.

[0135] O carregador/descarregador de lâmina 1008 pode se mover para a posição de armazenador temporário 1018a e apanhar a lâmina 1017 e depositar a lâmina 1017 no suporte para lâminas 1003. Esta lâmina 1017 completou todas as etapas acima enumeradas. O carregador/descarregador de lâmina 1008 podem em seguida continuar a apanhar e carregar outra lâmina no armazenador temporário para lâmina 1012, e se necessário apanhar e retornar a lâmina 1001 para o suporte para lâminas 1003. Processamento como esse acima descrito pode continuar até todas as lâminas que estão no suporte para lâminas 1003 terem sido varridas.

[0136] As técnicas de armazenamento em cache de lâmina de acordo com o sistema aqui descrito provê economias de tempo vantajosas. Por exemplo, em um sistema em um campo 20x 15 mm x 15 mm, o tempo de agarre é de aproximadamente 25 segundos, a aquisição de imagem em miniatura é de aproximadamente 10 segundos, o tempo de varredura preliminar é de aproximadamente 30 segundos e o tempo de varredura é de 90 segundos. A geração de arquivo de saída é feita simultanemante ao processo de varredura e pode acrescentar aproximadamente 5 segundos. O depósito da lâmina é de aproximadamente 20 segundos. A adição desses tempos indica um tempo de ciclo de 180 segundos. O Estágio composto XY ainda precida de tempo para apanhar e depositar a lâmina varrida que pode representar aproximadamente 10 segundos. Correspondentemente, a redução de tempo de varredura é portato de aproximadamente 1-(180-55+ 10)/180 = 25%. Para sistemas que usam técnicas de focagem dinâmica tais como focagem em tempo real tal como a seguir abordado aqui, o tempo de varredura preliminar precisa ser eliminado e com câmeras de alta taxa de dados os tempos não associados ao agarre e depósito podem ser reduzidos a 20-30 segundos. A redução no tempo de varredura com uso de armazenamento em cache de lâmina neste caso pode ser de aproximadamente 1- (75-55+ 10)/75 = 50%.

[0137] A figura 22A é um fluxograma 1100 que mostra processamento de armazenamento em cache de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito em conexão com uma primeira lâmina. Em uma etapa 1102, a primeira lâmina é apanhada de um suporte para lâminas. Após a etapa 1102, processamento ocorre até uma etapa 1104 onde uma imagem em miniatura é obtida e/ou outro processamento miniatura, que pode incluir a determinação de uma área de interesse de tecido sobre a lâmina é executado para a primeira lâmina. Após a etapa 1104, processamento ocorre até uma etapa 1106 onde a primeira lâmina é depositada em um armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1106, processamento ocorre até uma etapa 1108 onde a primeira lâmina é apanhada do armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1108 processamento ocorre até uma etapa 1110 onde a primeira lâmina é varrida e imageada de acordo com técnicas como aquela aqui abordada em outro ponto. Verificou-se que em várias concretizações as técnicas de varredura e imageamento podem incluir etapas de focagem com pré-varredura e/ou uso de técnicas de focagem dinâmica, tal como uma técnica de focagem em tempo real. Após a etapa 1110 processamento ocorre até uma etapa 1112 onde a primeira lâmina é depositada no armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1112, processamento ocorre até uma etapa 1114 onde a primeira lâmina é apanhada do armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1114, processamento ocorre até uma etapa 1116 onde a primeira lâmina é depositada no suporte para lâminas. Após a etapa 1116, processamento está concluído com relação à primeira lâmina. A figura 22B é um fluxograma 1120 que mostra o processamento de armazenamento em cache de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito em conexão com uma segunda lâmina. Conforme abordado aqui, várias etapas do fluxograma 1120 podem ser realizadas paralelamente às etapas do fluxograma 1100. Em uma etapa 1122, a segunda lâmina é apanhada de um suporte para lâminas. Após a etapa 1102, processamento ocorre até uma etapa 1124 onde uma imagem em miniatura é obtida e/ou outro processamento para miniatura, que pode incluir determinação de uma área de interesse de tecido sobre a lâmina, é executada para a segunda lâmina. Após a etapa 1124, processamento ocorre até uma etapa 1126 onde a segunda lâmina é depositada em um armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1126, processamento ocorre até uma etapa 1128 onde a segunda lâmina é apanhada do armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1128 processamento ocorre até uma etapa 1130 onde a segunda lâmina é varrida e imageada de acordo com técnicas como aquela aqui abordada em outro ponto. Verificou-se que em várias concretizações as técnicas de varredura e imageamento podem incluir etapas de focagem com pré-varredura e/ou uso de técnicas de focagem dinâmica, tal como técnica de focagem em tempo real. Após a etapa 1130 processamento ocorre até uma etapa 1132 onde a segunda lâmina é depositada no armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1132, processamento ocorre até uma etapa 1134 onde a segunda lâmina é apanhada do armazenador temporário para lâmina. Após a etapa 1134, processamento ocorre até uma etapa 1136 onde a segunda lâmina é depositada no suporte para lâminas. Após a etapa 1136, processamento está completo com relação à segunda lâmina.

[0138] De acordo com uma concretização do sistema aqui descrito endereçamento de armazenamento em cache de lâmina, etapas do fluxograma 1100 com relação à primeira lâmina podem ser executadas através de um dispositivo de armazenamento em cache paralelamente às etapas do fluxograma 1120 com relação à segunda lâmina a fim de reduzir o tempo de ciclo. Por exemplo, a etapas 1122, 1124, 1126 do fluxograma 1120 para a segunda lâmina (por exemplo, as etapas em conexão com agarre da segunda lâmina do suporte para lâminas, processamento de imagem em miniatura e deposição da segunda lâmina no armazenador temporário para lâmina) podem ser sobrepor com as etapas 1108, 1110, e 1112 do fluxograma 1100 com relação à primeira lâmina (por exemplo, as etapas em conexão com agarre da primeira lâmina do armazenador temporário para lâmina, varredura e imageamento da primeira lâmina e deposição da primeira lâmina de volta para o armazenador temporário para lâmina). Além disso, as etapas 1134 e 1136 (por exemplo, etapas em conexão com agarre da segunda lâmina do armazenador temporário para lâmina e deposição da lâmina no suporte para lâminas) também podem se sobrepor com as etapas de varredura da primeira lâmina. Ganhos de tempo de até 50% podem ser obtidos de acordo com as técnicas de processamento paralelo de lâmina de acordo com o sistema aqui descrito em comparação com o processamento de uma lâmina em um tempo, com ganhos adicionais possíveis com uso de outros aspectos do sistema e técnicas aqui descritas.

[0139] As figuras 23A e 23B mostram diagramas de tempo utilizando técnicas de armazenamento em cache de lâmina de acordo com as concretizações do sistema aqui descrito e ilutrsam economias de tempo de acordo com várias concretizações do sistema aqui descrito.

[0140] A figura 23A mostra o diagrama de tempo 1150 para o cenário em que uma etapa de pré-varredura é usada. O diagrama de tempo mostra a sincronização para três lâminas (Lâminas 1, 2 e 3) durante um intervalo de aproximadamente 300 segundos em conexão com a execução das etapas de processamento de lâmina com uso de armazenamento em cache de lâmina incluindo agarre de uma lâmina de um suporte para lâminas, processamento de imagem em miniatura, deposição de lâminas no armazenador temporário, agarre a partir do armazenador temporário, pré- varredura, varredura de lâminas e saída de arquivos, deposiçao no armazenador temporário e deposiçao no suporte para lâminas. Conforme ilustrado, em uma concretização, o tempo de ciclo para o processamento ilustrado pode ser de aproximadamente 150 segundos.

[0141] A figura 23B mostra o diagrama de tempo 1160 para um cenário no qual uma técnica de focagem em tempo real é usada (sem pré- varredura). O diagrama de tempo mostra a sincronização para três lâminas (Lâminas 1, 2 e 3) durante um intervalo de aproximadamente 150 segundos em conexão com a execução do movimento de lâmina e etapas de varredura com uso de armazenamento em cache de lâmina incluindo agarre de uma lâmina de um suporte para lâminas, processamento de imagem em miniatura, deposição de lâminas no armazenador temporário, agarre a partir do armazenador temporário, varredura de lâminas e saída de arquivos, deposição no armazenador temporário e deposição no suporte para lâminas. Conforme ilustrado, em uma concretização, o tempo de ciclo para o processamento ilustrado pode ser de aproximadamente 50 segundos.

[0142] A figura 24 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de armazenamento em cache 1200 de acordo com outra concretização do sistema aqui descrita. Na concretização ilustrada, não é necessário armazenador temporário, e os tempos de agarre, miniatura e de depósito podem ser eliminados do tempo de ciclo utilizando o dispositivo de armazenamento em cache 1200. O dispositivo de armazenamento em cache 1200 pode incluir dois Estágios compostos XY 1210, 1220 que operam independentemente. Cada um dos Estágios compostos XY 1210, 1220 pode apresentar características similares àquelas aqui discutidas com relação ao Estágio composto XY 1013. Um primeiro suporte para lâminas 1211 pode ser posicionado em uma extremidade do estágio 1210 e um segundo suporte para lâminas 1221 pode ser posicionado em uma extremidade do estágio 1220. Verificou-se que em conexão com outra concretização do sistema aqui descrito, o primeiro suporte para lâminas 1211 e o segundo suporte para lâminas 1211 podem se referir a porções de um suporte para lâminas. Duas cameras em miniatura 1212, 1222 podem servir cada um dos Estágios compostos XY 1210, 1220. Cada um dos suportes para lâminas 1211, 1221 pode servir lâminas e seu acompanhante Estágio composto XY 1210, 1220 com um cabeçote de agarre correspondente. Um trem óptico de microscópio 1230 pode servir ambos Estágios compostos XY 1210, 1220. Por exemplo, enquanto um dos Estágios compostos XY (por exemplo, estágio 1210) está varrendo uma lâmina, o outro (por exemplo, estágio 1220) está executando a operação de apanhá-la, as funções de imagem em miniatura e de depósito com outra lâmina. Essas funções podem ser sobrepostas com o tempo de varredura. Correspondentemente, o tempo de ciclo pode ser determinado pelo tempo de varredura de uma lâmina e tempos de agarre, imagem em miniatura e depósito são portanto eliminados do tempo de ciclo de acordo com a concretização ilustrada do sistema aqui descrito.

[0143] A figura 25A é um fluxograma 1250 que mostra o processamento de armazenamento em cache em conexão com uma primeira lâmina de acordo com uma concretização do sistema descrito para um dispositivo de armazenamento em cache que apresenta dois Estágios compostos XY para processamento de lâmina. Em uma etapa 1252, a primeira lâmina é apanhada de um suporte para lâminas. Após a etapa 1252, processamento ocorre até uma etapa 1254 onde o processamento para miniatura é executado na primeira lâmina. Após a etapa 1254, processamento ocorre até uma etapa 1256 onde a primeira lâmina é varrida e imageada de acordo com técnicas como aquela aqui abordada em outro ponto. Verificou-se que em várias concretizações as técnicas de varredura e imageamento podem incluir etapas de focagem com pré-varredura e/ou uso de técnicas de focagem dinâmica, tal como uma técnica de focagem em tempo real. Após a etapa 1256, processamento ocorre até uma etapa 1258 onde a primeira lâmina é depositada de volta no suporte para lâminas. Após a etapa 1258, processamento está completo com relação à primeira lâmina.

[0144] A figura 25B é um fluxograma 1270 que mostra processamento de armazenamento em cache em conexão com uma segunda lâmina de acordo com uma concretização do sistema descrito para um dispositivo de armazenamento em cache com dois Estágios compostos XY para processamento de lâmina. Em uma etapa 1272, a segunda lâmina é apanhada de um suporte para lâminas. Após a etapa 1272, processamento ocorre até uma etapa 1274 onde o processamento para imagem em miniatura é realizada na segunda lâmina. Após a etapa 1274, processamento ocorre até uma etapa 1276 onde a segunda lâmina é varrida e imageada de acordo com técnicas como aquela aqui abordada em outro ponto. Verificou-se que em várias concretizações as técnicas de varredura e imageamento podem incluir etapas de focagem com pré-varredura e/ou uso de técnicas de focagem dinâmica, tal como uma técnica de focagem em tempo real. Após a etapa 1276, processamento ocorre até uma etapa 1278 onde a segunda lâmina é depositada de volta no suporte para lâminas. Após a etapa 1278, processamento está completo com relação à segunda lâmina.

[0145] De acordo com uma concretização do sistema aqui descrito envolvendo armazenamento em cache de lâmina, etapas do fluxograma 1250 com relação à primeira lâmina podem ser executadas pelo dispositivo de armazenamento em cache paralelamente às etapas do fluxograma 1270 concernente à segunda lâmina a fim de reduzir o tempo de ciclo. Por exemplo, as etapas 1272, 1274 e 1278 para a segunda lâmina (por exemplo, agarre, processamento para imagem em miniatura e depósito) podem sobrepor a etapa 1256 da primeira lâmina (por exemplo, varredura/ imageamento da primeira lâmina ), e vice versa, de forma que os tempos de agarre, processamento para imagem em miniatura e depósito sejam eliminados do tempo de ciclo. O tempo de ciclo é correspondentemente determinado por apenas o tempo de varredura de uma lâmina de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito.

[0146] A figura 26 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de armazenamento em cache 1300 de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito. O dispositivo de armazenamento em cache 1300 pode incluir um suporte para lâminas configurado como um carrossel 1310, um manipulador de lâmina 1320, um armazenador temporário 1330 e um Estágio XY 1340. O carrossel 1310 pode incluir um ou mais dispositivos porta-lâminas (por exemplo, cassetes) que definem posições 1312, 1312', 1312'' nas quais lâminas, tais como lâmina 1301, podem ser colocadas antes e/ou após serem imageadas por um dispositivo de imageamento 1350 que pode apresentar características e funcionalidade como aquela aqui abordada em outro ponto.

[0147] As posições 1312, 1312', 1312'' são mostradas como um conjunto de cunhas (por exemplo, 8 cunhas) e, tal como a seguir abordado aqui, o carrossel 1310 pode apresentar uma altura de forma que múltiplas posições de lâmina se estendem abaixo de cada uma das posições de cunha de nível de topo 1312, 1312', 1312'' que são mostradas. O manipulador de lâmina 1320 pode incluir um braço 1322 que age como cabeçote de agarre e pode incluir dispositivos mecânicos e/ou a vácuo para apanhar uma lâmina. O braço 1322 sobre um manipulador de lâmina 1320 pode se mover entre posições 1322a-d para mover lâminas entre o carrossel 1310, o armazenador temporário 1330 e o Estágio XY 1340.

[0148] O armazenador temporário 1330 pode incluir múltiplas posições de armazenador temporário 1332, 1334. Uma posição de armazenador temporário 1332 pode ser designada como uma posição de retorno do armazenador temporário 1332 na qual lâminas que estão retornando do dispositivo de imageamento 1350 via o Estágio XY 1340 podem ser posicionadas antes de serem movidas pelo manipulador de lâmina 1320, de volta ao carrossel 1310. Outra posição de armazenador temporário 1334 pode ser designada como uma posição de armazenador temporário de câmera 1334, na qual uma lâmina que deve ser enviada ao dispositivo de imageamento 1350 pode apresentar primeiramente uma imagem em miniatura capturada da lâmina de acordo com as técnicas aqui abordadas em um outro ponto. Após uma imagem em miniatura da lâmina ser capturada na posição de armazenador temporário de câmera 1334, a lâmina pode ser movida para uma posição 1342 no Estágio XY 1340 que transporta a lâmina para o dispositivo de imageamento 1350 para varredura e imageamento de acordo com as técnicas aqui abordadas em um outro ponto.

[0149] A figura 27 é uma ilustração esquemática que mostra uma outra visão do dispositivo de armazenamento em cache 1300. Os componentes do dispositivo de armazenamento em cache 1300 podem apresentar funcionalidade para operar com vários movimentos e com múltiplos graus de liberdade de movimento. Por exemplo, o carrossel 1310 pode ser giratório em uma direção 1311 e pode incluir múltiplas posições de lâmina 1312a-d em múltiplas posições de altura em cada posição rotacional para acomodar múltiplas lâminas (mostradas como Lâminas 1, 2, 3 e 4). Em uma concretização, as múltiplas posições de lâmina 1312a-d em cada uma das posições de cunha 1312, 1312', 1312'' podem incluir posições para 40 lâminas, por exemplo, posicionadas equidistantemente dentro da altura do carrossel 1310 que pode medir em uma concretização, 12 polegadas. Além disso, o carrossel 1310 também pode incluir uma bandeja de usuário 1314 com uma ou mais posições de lâmina 1314a,b nas quais um usuário pode inserir uma lâmina a ser imageada além de outras lâminas no carrossel 1310. Interação de uma lâmina na bandeja de usuário 1314, por exemplo elevação de uma tampa da bandeja de usuário 1314 e/ou inserção da lâmina em uma extremidade das posições 1314a,b da bandeja de usuário 1314, pode agir para acionar um modo de desvio no qual uma lâmina da bandeja de usuário 1314 é processada ao invés da próxima lâmina a partir das posições de cunha do carrossel 1310.

[0150] O braço 1322 do manipulador de lâmina 1320 é mostrado com pelo menos três graus de liberdade de movimento. Por exemplo, o braço 1322 pode girar em uma direção 1321a a fim de engatar cada carrossel 1310, o armazenador temporário 1330 e o Estágio XY 1340. Adicionalmente, o braço 1322 pode ser ajustável em uma direção 1321b correspondente a diferentes alturas de posições 1312a-d do carrossel 1310. Adicionalmente, o braço 1322 pode se estender na direção 1321c em conexão com carregamento e descarregamento de lâminas do carrossel 1310, do armazenador temporário 1330 e do Estágio XY 1340. Em uma concretização, é vantajoso minimizar a distância de arco que o braço 1322 gira e/ou minimizar outras distâncias atravessadas pelo braço 1322 e/ou manipulador de lâmina 1320 a fima de minimizar tempos mortos do dispositivo de armazenamento em cache 1300, conforme a seguir apresentado. Movimentos do carrossel 1310, manipulador de lâmina 1320, e Estágio XY 1340 podem ser controlados em várias concretizaçõespor um sistema de controle como aquele aqui abordado em outro ponto. Verificou-se também que, em uma concretização, o armazenador temporário 1330 e o Estágio XY 1340 podem estar no mesmo nível.

[0151] As lâminas podem carregar diferentes tipos de amostras biológicas. Uma amostra biológica pode ser uma amostra de tecido (por exemplo, qualquer coleção de células) removida de uma planta-objeto. Em algumas concretizações, uma amostra biológica inclui sem limitação, uma seção de tecido, um órgão, uma seção de tumor, uma mancha, uma seção congelada, um prep de citologia, ou linhagens celulares. Uma biopsia incisional, uma biópsia de fragmentos, uma biópsia excisional, uma biópsia de aspiração por agulha, uma biópsia por agulha de fragmentos, uma biópsia estereotática, uma biópsia aberta, ou uma biópsia cirúrgica podem ser usadas para obter a amostra. Em algumas concretizações, a amostra pode ser uma seção de uma planta, cultura de tecido de planta ou similares.

[0152] Lâminas geralmente podem ser substratos transparentes planos que podem carregar amostras para exame utilizando equipamento, tal como equipamento óptico, por exemplo, um microscópio ou outro dispositivo óptico. Por exemplo, a lâmina 1301 da figura 26 pode ser uma peça geralmente retangular de material transparente com uma face frontal para suportar uma amostra. A lâmina para microscópio 1301 pode ser na forma de uma lâmina padrão para microscópio feita de vidro ou outro material transparente. Em algumas concretizações, a lâmina 1301 apresenta um comprimento de aproximadamente 3 polegadas (75 mm), e uma largura de aproximadamente 1 polegada (25 mm) e uma espessura de aproximadamente 1 mm.

[0153] A lâmina 1301 pode incluir uma etiqueta. Etiquetas podem incluir código legível em máquina (tal como um código de barra mono- ou multidimensional ou infoglyph, um RFID tag, uma grade de difração de Bragg, uma fita magnética ou um código de nanobarra) com instruções codificadas (por exemplo, instruções de imageamento), informação objeto, informação de rastreamento ou similares. A etiqueta pode ser analisada por leitores localizados em diferentes locais no dispositivo de armazenamento em cache 1300.

[0154] A lâmina pode incluir lamelas para proteção das amostras. Se a lâmina 1301 for uma lâmina para microscópio padrão, uma lamela poderá apresentar um comprimento em uma faixa de aproximadamente 0.5 polegadas (13 mm) a aproximadamente 3 polegadas (76 mm), uma largura em uma faixa de aproximadamente 0.5 polegada (13 mm) a aproximadamente 1 polegada (25.5 mm), e uma espessura em uma faixa de aproximadamente 0.02 polegadas (0,5 mm) a aproximadamente 0.08 polegadas (2 mm). Em algumas concretizações, são usadas lamelas padrões com um comprimento de aproximadamente 50 mm, uma largura de aproximadamente 24 mm, e uma espessura de aproximadamente 0.2 mm. Outras dimensões tambem são possíveis, se necessário ou desejado. Lamelas podem ser feitas, inteiramente ou apenas parcialmente, de um ou mais polímeros, plásticos, compósitos, vidro, combinações destes ou outros materiais adequados que podem ser em geral rígidos, semi-rígidos ou deformáveis.

[0155] As figuras 28A-28J são ilustrações esquemáticas que mostram operações de armazenamento em cache de lâmina do dispositivo de armazenamento em cache das figuras 26 e 27 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. De acordo com uma concretização, as operações de lâmina aqui discutidas minimizam tempos mortos do sistema, isto é, os tempos durante o agarre de lâmina e operações de transferência que não se sobrepõem com varredura de lâmina e operações de imageamento. Tempos mortos podem incluir, por exemplo, um tempo de estacionamento onde o Estágio XY 1340 se move para uma posição para permitir que o manipulador de lâmina 1320 apanhe a lâmina. Outras contribuições para tempo morto incluem movimento da lâmina até a posição de retorno do armazenador temporário 1330 e recarga do Estágio XY 1340 com uma lâmina.

[0156] A figura 28A inicia a sequência ilustrada na qual uma lâmina 2 está sendo no momento varrida e imageada no dispositivo de imageamento 1350. Lâminas 1, 3 e 4 estão esperando ser varridas e imageadas no carrossel 1310, e o manipulador de lâmina 1320 está na posição para fornecer a lâmina 2 ao Estágio XY 1340. A figura 28B mostra que o manipulador de lâmina 1320 gira e desce para carregar a próxima lâmina (lâmina 3) a ser varrida e imageada, enquanto a lâmina 2 continua a ser varrida e imageada. A figura 28C mostra que o manipulador de lâmina 1320 transporta lâmina 3 para a posição de armazenador temporário de câmera 1334 do armazenador temporário 1330 para que a imagem em miniatura seja obtida da lâmina 3. A figura 28D mostra que o manipulador de lâmina 1320 está posicionado para descarregar a lâmina 2 do Estágio XY 1340 isto é, que retorna do dispositivo de imagem 1350 após varredura de lâmina 2 ter sido concluída. Verificou-se que o tempo quando o Estágio XY 1340 se move para a posição a ser descarregada é um exemplo de tempo de folga. O tempo após o Estágio XY 1340 estar em uma posição a ser descarregada com a lâmina 2 que está aguardando ali para ser descarregada e lâmina 3 que está aguardando ser carregada no Estágio XY 1340 é um exemplo de tempo de estacionamento.

[0157] A figura 28E mostra que a lâmina 2 é transportada pelo manipulador de lâmina 1320 do Estágio XY 1340 para a posição de retorno 1332 do armazenador temporário 1330. O manipulador de lâmina 1320 então continua até a posição para apanhar a lâmina 3 a partir da posição de armazenador temporário de câmera 1334. Figura 28F mostra que a lâmina 3 é apanhada da posição de armazenador temporário de câmera 1334 e descarregada no Estágio XY 1340. A figura 28G mostra que a lâmina 3 está sendo varrida no momento, enquanto a lâmina 2 está sendo apanhada da posição de retorno de armazenador temporário 1332 pelo manipulador de lâmina 1320. A figura 28H mostra que a lâmina 2 é retornada para sua posição no carrossel 1310 pelo manipulador de lâmina 1320 que gira e move translacionalmente para a posição apropriada. A figura 28I mostra que o manipulador de lâmina 1320 se move translacionalmente para a posição adequada para apanhar lâmina 1 do carrossel 1310. A figura 28J mostra que o manipulador de lâmina 1320 transporta e descarrega a lâmina 1 na posição de armazenador temporário de câmera onde a imagem em miniatura de lâmina 1 é obtida, enquanto a lâmina 3 está ainda sendo no momento varrida. Outras iteraçãos, similares àquelas discutidas acima em conexão com o sequenciamento ilustrado, podem ser executadas com relação a qualquer lâmina remanescente (por exemplo, lâmina 4) no carrossel 1310 e/ou para qualquer lâmina de usuário inserida pelo usuário na bandeja de usuário 1314 para iniciar o modo de desvio aqui abordado.

[0158] De acordo também com o sistema aqui descrito, um sistema de iluminação pode ser usado em conexão com concretizações de microscopia que são aplicáveis a várias técnicas e características do sistema aqui descrito. É sabido que microscópios em geral podem usar iluminação de Kohlerpara microscopia de campo branco. Características primárias de iluminação Kohler são aquelas em que a abertura numérica e area de iluminação são tanto controláveis via íris ajustáveis de forma que a iluminação possa ser adaptada para trabalhar uma ampla faixa de objetivas para microscópio com magnificação variável, campo de visão e abertura numérica. Iluminação de Kohler oferece reultados desejados mas pode exigir múltiplos componentes que ocupam um volume significativo de espaço. Correspondentemente, várias concretizações do sistema aqui descrito também provêem características e técnicas de iluminação vantajosa em aplicações de microscopia que evitam determinadas desvantagens do conhecido sistema de iluminação Kohler enquanto preserva a vantagem de iluminação de Kohler.

[0159] A figura 29 é uma ilustração esquemática que mostra um sistema de iluminação 1400 para iluminação de uma lâmina 1401 utilizando um jogo de iluminação de diodo emissor de luz (LED) 1402 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. O Jogo de iluminação LED 1402 pode apresentar várias características de acordo com múltiplas concretizações conforme aqui discutido. Luz decorrente do Jogo de iluminação LED 1402 é transmitida através de um espelho 1404 e/ou outros componentes ópticos apropriados para um condensador 1406. O condensador 1406 pode ser um condensador com uma distância de trabalho adequada (por exemplo, pelo menos 28 mm) para acomodar qualquer distância de trabalho necessária de um Estágio XY 1408, tal como a seguir abordado aqui. Em uma concretização, o condensador pode ser condensador SG03.0701 fabricado pela Motic com distância de trabalho de 28 mm. O condensador 1406 pode incluir um diafragma de íris ajustável que controla a abertura numérica (ângulo de cone) de luz que ilumina o corpo de prova sobre uma lâmina 1401. A lâmina 1401 pode ser disposta no Estágio XY 1408 sob uma objetiva para microscópio 1410. O Jogo de iluminação LED 1402 pode ser usado em conexão com varredura e imageamento do corpo de prova sobre uma lâmina 1401, incluindo, por exemplo, operações em relação ao movimento de um Estágio XY, armazenamento em cache de lâmina e/ou focagem dinâmica, de acordo com as características e técnicas do sistema aqui descrito.

[0160] O Jogo de iluminação LED 1402 pode incluir um LED 1420, tal como um branco LED branco puro, uma lente 1422 que pode ser usada como um elemento coletor, e um diafragma de campo de íris ajustável 1424 que pode controlar a área de iluminação sobre a lâmina 1401. A superfície emissora do LED 1420 pode ser imageada pela lente 1422 em uma pupila de entrada 1406a do condensador 1406. A pupila de entrada 1406a pode ser colocada copm um Diafragma de ajuste de NA 1406b do condensador 1406. A lente 1422 pode ser selecionada para coletar uma grande fração da luz de saída do LED 1420 e também para focalizar uma imagem do LED 1420 no Diafragma de ajuste de NA 1406b do condensador 1406 com magnificação apropriada de forma que a imagem do LED 1402 preencha a abertura do Diafragma de ajuste de NA 1406b do condensador 1406.

[0161] O condensador 1406 pode ser usado para focalizar a luz do LED 1420 na lâmina 1401 com o Diafragma de ajuste de NA 1406b. A area de iluminação sobre a lâmina 1401 pode ser controlada pelo diafragma de campo 1424 montado no jogo de iluminação LED 1402. O diafragma de campo, e/ou espaçamento entre o condensador 1406 e o diafragma de campo 1424, pode ser ajustado para imagear a luz decorrente do LED 1420 no plano da lâmina 1401 de forma que o diafragma de campo 1424 possa controlar a área da lâmina 1401 que está iluminada.

[0162] Como um sensor de imagem adquire quadros enquanto um Estágio Y contendo uma lâmina está se movendo, o LED 1420 pode ser pulsado ligado desligado (por exemplo, strobed) para permitir brilho bem alto durante um curto intervalo de tempo. Por exemplo, para um Estágio Y que se move a aproximadamente 13 mm/segundo, para manter obscuridade de no máximo 0.5 pixels (0.250 micron/pixel) o LED 1420 pode ser pulsado para ser por 10 microsegundos. O pulso de luz de LED pode ser disparado por um relógio mestre bloqueado para a frequência ressonante de lente com padrão Dither de acordo com o sistema de foco e técnicas aqui abordadas em outro ponto.

[0163] A figura 30 é uma ilustração esquemática que mostra uma imagem mais detalhada de uma concretização de um Jogo de iluminação LED 1402' de acordo com o sistema aqui descrito e correspondente às características aqui descritas com relação ao Jogo de iluminação LED 1402. Uma implementação e configuração de um LED 1430, uma lente 1432, e um diafragma de campo 1434 são mostrados com relação a e em conexão com outro suporte estrutural e componentes de ajuste 1436.

[0164] A figura 31 é uma ilustração esquemática que mostra uma vista explodida de uma implementação específica de um Jogo de iluminação LED 1402'' de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito com características e funções iguais àquelas apresentadas com relação a Jogo de iluminação LED 1402. Um adaptador 1451, suporte1452, prendedor 1453, e suporte 1454 podem ser usados para montar com segurança e situar um LED 1455 no Jogo de iluminação LED 1402'' de modo a ser posicionado seguramente com relação a uma lente 1462. Componentes apropriados de parafuso e arruela 1456-1461 também podem ser usados para prender e montar o Jogo de iluminação LED 1402''. Em várias concretizações, o LED 1455 pode ser um Luminus, PhlatLight White LED CM-360 Series este é um LED branco puro com uma saída optica de 4,500 lúmens e vida longa de 70,000 horas e/ou um LED adequado fabricado pela Luxeon. Uma lente 1462 pode ser uma lente MG 9P6mm, 12mm de OD (diâmetro externo). Um componente de lente de tubo 1463, adaptador 1464, componente de lente chaminé (stack tube) e anel retentor 1467 podem ser usados para posicionar e montar uma lente 1462 com relação ao componente de diafragma de campo ajustável 1465. O componente de diafragma de campo ajustável 1465 pode ser um diafragma de íris anel-ativada, número de peça SM1D12D da Thor Labs. A lente chaminé (stack tube) 1466 pode ser uma lente P3LG da Thor Labs. A lente de tubo 1463pode ser uma lente de tubo P50D ou P5LG da Thor Labs. Outros componentes de arruela 1468 e componentes de parafuso 1469 podem ser usados, se apropriado para prender e montar elementos do Jogo de iluminação LED 1402''.

[0165] De acordo com o sistema aqui descrito, dispositivos e técnicas são providos para varredura de lâmina de alta velocidade para aplicações de patologia digital de acordo com várias concretizações do sistema aqui descrito. Em uma concretização, um porta lâmina de um microscópio de patologia pode incluir: (i) uma bandeja na forma de um disco e (ii) uma pluralidade de recessos formados na bandeja, na qual cada um dos recessos é adaptado para receber uma lâmina e os recessos ficam dispostos circunferencialmente na bandeja. A bandeja pode incluir um furo de eixo central e dois furos de trava, sendo que os furos de travamento adaptados para agarre em uma engrenagem adaptada para girar a elevada velocidade em torno de um eixo normal em relação à bandeja. Os recessos podem ser recessos usinados em posições angulares distintas na bandeja. Os recessos apresentam protusões semi-circulares para tocar a lâmina mas não para apertar excessivamente a lâmina, permitindo assim que a lâmina fique substancialmente livre de deformação. Os recessos também podem apresentar um recorte que permite que um sujeitador de dedo coloque e extraia a lâmina do recesso através de um operador. Em várias concretizações, o porta lâmina, e operação deste podem ser usados em conexão com as características e técnicas aqui abordadas em um outro ponto para um sistema de imageamento.

[0166] A figura 32 é uma ilustração esquemática que mostra um dispositivo de varredura de lâmina de alta velocidade 1500 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito que pode ser usado em conexão com imageamento de patologia digital. Um porta lâmina 1510 pode incluir uma bandeja 1512 com recessos 1514a,b...n dispostos em posições angulares de um anel circunferencial ou anular 1515 sobre a bandeja 1512, e os recessos 1514a-n podem respectivamente ser dimensionados para reter uma lâmina 1501. A bandeja 1512 é ilustrada como um disco circular e pode ser fabricada para prender um número desejado de lâminas. Por exemplo, para prender 16 lâminas, a bandeja 1512 pode medir aproximadamente 13 polegadas de diâmetro. Verificou-se que outras configurações de lâminas e do tamanho e formato da bandeja podem ser usadas, se necessário, em conexão com o sistema aqui descrito, e a orientação e configuração dos recessos 1514a-n e podem ser apropriadamente modificados. Uma lâmina pode ser colocada em cada recesso 1514a-n da bandeja 1512, tal como a colocação de lâmina 1501 no recesso 1514a, e a bandeja 1512 pode ser colocada no dispositivo de varredura de lâmina de alta velocidade 1500. A bandeja 1512 pode incluir um furo de eixo central 1516c e dois furos de trava 1516a e 1516b, que podem engatar com uma engrenagem que gira o porta lâmina 1510 a elevada velocidade em torno do eixo 1518 na direção rotacional 1519. A bandeja 1512 pode ser colocada em uma gaveta plana, mostrada de forma representativa como 1502, que pode retrair a bandeja 1512 para o dispositivo 1500.

[0167] A figura 33 é uma ilustração esquemática que mostra um recesso 1520 em uma bandeja do dispositivo de varredura de lâmina de alta velocidade mais detalhadamente de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. O recesso 1520 pode ser qualquer um dos recessos 1514a-n. O recesso 1520 pode incluir uma pluralidade de protusões semi-circulares, tais como três protrusões 1522a-c, para tocar a lâmina 1501 mas não para apertar excessivamente a lâmina 1501, permitindo assim que a lâmina 1501 fique livre substancialmente de deformação. Um recorte 1523 permite que um sujeitador de dedor coloque e extrai a lâmina 1501 do recesso 1520 através de um operador. Acelerações centrípedas, mostradas esquematicamente por conjuntos 1521, produzidas pelo porta lâmina 1510/bandeja 1512 quando gira em torno do eixo 1518 podem aplicar uma pequena força de retenção à lâmina 1501 para manter a lâmina 1501 no local enquanto ocorre o imageamento. A força de retenção pode ser configurada para ser pelo menos 0.1 g’s inicialmente mediante rotação da bandeja 1512 a taxas superiores a 100 rpm para registrar a lâmina 1501 contra as protusões semi-circulares 1522a-c. Uma vez que a lâmina 1501 é registrada, a taxa de rotação pode ser reduzida consistente com taxas de imageamento do sistema como aquelas aqui abordadas em outro ponto. Em taxas menores, mesmo uma leve força de retenção deve estabilizar a lâmina 1501 contraas protrusões 1522a-c.

[0168] Novamente com relação à figura 32, um sistema de imageamento de microscópio 1530, como aquele discutido detalhadamente em outro ponto aqui, pode ser disposto acima da badeja giratória 1512 para imagear áreas do anel circunferencial 1515 onde as lâminas são colocadas. O sistema de imageamento 1530 pode incluir uma objetiva para microscópio 1532 de NA elevado, por exemplo 0.75 de NA com uma grande distância de trabalho, uma lente intermediária 1534 e um sensor de imagem de conjunto CCD ou CMOS 2D 1536 colocado na distância apropriada para magnificar objetos sobre uma lâmina 1501 para o sensor de imagem 1536. O sensor de imagem 1536 pode apresentar uma elevada taxa de quadros, tal como superior a 100 quadros/segundo. Por exemplo, o sensor de imagem 1536 pode ser parte de uma câmera Dalsa Falcon 1.4M100 que opera a 100 quadros/segundo ou o equivalente. O sistema de imageamento 1530 pode ser rigidamente montado em um acionamento motorizado de 2 eixos que pode ser construído a partir de componentes tais como motores DC ou motores de passo, parafusos de esferas ou de avanço ou guias lineares. Um eixo, o eixo radial 1531a pode movimentar o sistema de imageamento 1530, ou pelo menos um componente deste, radialmente através de pequenos movimentos, por exemplo etapas de 1 mm com uma resolução de 10 micron para imagear um ou mais anéis na bandeja rodopiante 1512 abaixo. O outro eixo, o eixo de foco 1531b, se move em pequenos movimentos de 5-10 micron com resolução de 0.1 micron. O eixo de foco pode ser construído para executar movimentos a elevada velocidade, por exemplo execuntando um pequeno movimento em alguns poucos milisegundos. Movimento da objetiva para microscópio 1534 pode ser controlado através de um sistema de controle e pode ser usado em conexão com técnicas de focagem dinâmica como aquelas aqui abordadas em outro ponto.

[0169] Um sistema de iluminação 1540 pode ser colocado abaixo da bandeja revolvente 1502 e inclui uma fonte luminosa 1542, tal como um ED branco de alto brilho, um ou mais componentes de trajetória óptica tal como um espelho 1544, e um condensador 1546, similar a componentes de iluminação aqui abordados em outro ponto. Em uma concretização, o condensador e rotas de imageamento do microscópio podem ser conectados juntos e se moverem como um corpo rígido tal como uma direção 1541 de movimento do sistema de iluminação 1540 fica na mesma direção como na direção radial 1531a do sistema de imageamento 1530. Na direção de foco 1531b, a rota de imageamento pode ser desacoplada da trajetória de condensador, de tal forma que um ou mais componentes do sistema de imageamento 1530 podem incluir movimento independente na direção de foco 1531b para executar movimentos de foco de alta velocidade.

[0170] A figura 34 é uma ilustração esquemática que mostra uma rota de imageamento que inicia em uma primeira posição radial com relação à lâmina 1501 para imageamento de um corpo de prova 1501' sobre a lâmina 1501 no recesso 1520. O recesso 1520 com a lâmina 1501 gira com o porta lâmina 1510 na direção rotacional 1524. Imagens podem ser capturadas para quadros (por exemplo, quadros 1525) de acordo com as técnicas de captura de imagem aqui abordadas em um outro ponto. Conforme mostrado, imagens são capturadas para uma fileira de quadros (por exemplo, quadros 1525) para cada lâmina sobre um porta lâmina 1510 quando a bandeja 1512 gira sob o sistema de imageamento 1530. Após uma revolução completa da bandeja 1512, a posição radial do sistema de imageamento 1530 é imcrementada para capturar imagens para outra fileira de quadros para cada lâmina. Cada quadro é adquirido a elevada taxa congelando temporariamente a cena a seguir. A iluminação de campo com brilho pode ser suficientemente radiante para permitir tais exposições curtas. Essas exposições podem ser em um quadro de tempo de uns poucos 10’s a umas poucas centenas de microssegundos. O processo é continuado até toda a área interesse para cada lâmina no porta lâmina 1510 ser imageada. Em conexão com esta concretização, processamento das imagens coletadas em uma imagem mosaica de uma área de interesse exige mecanismos de organização adequados e/ou etiquetagem de imagem para correlacionar corretamente as múltiplas fileiras de quadros entre as múltiplas lâminas que são giradas sobre a bandeja 1512. Técnicas adequadas de processo de imageamento podem ser usadas para marcar imagens de forma a correlacionar imagens capturadas à lâmina apropriada, uma vez que o movimento da coleção de imagens divididas em bloco pode ser endereçado por software de emenda de imagem conhecido e pode ser transformado em imagens que um patologista entende enquanto observa-a sob um microscópio padrão.

[0171] Como um exemplo, com uma bandeja na forma de disco de 13.2 polegadas em diâmetro que gira a 6 rpm, uma objetiva 20x para microscópio de NA=0.75 produz um campo de visão de aproximadamente 1 mm de quadrado. Este campo arqueado de visão é atravessado em aproximadamente 10 msegundos. Para uma seção de tecido dentro de uma área ativa quadrada de 15 mm e presumindo 25% de sobreposição entre campos, 20 campos precisam ser incrementados ao longo do eixo radial. Se a transferência de quadro for curta não o suficiente para limitar tempo de aquisição, 20 revoluções completas devem ser suficientes para imagear 16 lâminas no disco. Isso deve ocorrer em 6 rpm em 200 segundos ou um rendimento de 1 lâmina a cada 12.5 segundos.

[0172] Figuras 35A e 35B são ilustrações esquemáticas que mostra um arranjo alternativo de lâminas sobre um porta lâmina giratório de acordo com outra concretização do sistema aqui descrito. A figura 35A mostra uma bandeja 1512' com recessos 1514' configurados de tal forma que a dimensão mais longa da lâmina 1501 seja orientada ao longo do raio da bandeja 1512' em formato de disco que gira na direção 1519'. Nesta configuração, mais lâminas (por exemplo, 30 lâminas) podem se acomodar sobre a bandeja 1512'. A figura 35B é uma vista esquemática que mostra uma rota de imageamento para a lâmina 1501 em um recesso 1520' isto é, configurada conforme acima referido. Na concretização ilustrada, a lâmina 1501 é mantida no recesso 1520' de acordo com forças centrípedas mostradas na direção 1521' e as protrusões 1522a'-c'. A direção de rotação 1524' na qual o processamento de imagem é executado é mostrada para coleção de imagens de quadros 1525' para o corpo de prova 1501'. A posição radial do sistema de imageamento 1530 é incrementada para incrementos longitudinais das lâminas para capturar imagens para sucessivas fileiras de quadros para cada lâmina. Em um exemplo, para uma area de 15 mm x 15 mm e presumindo 25% de sobreposição entre campos. Vinte campos precisam ser incrementados ao longo do eixo radial. Novamente, 20 revoluções em 6 rpm provêm imageamento complete em 200 segundos mas com varredura mais eficiente dada a orientação das lâminas e portanto rendimento deve aumentar para uma lâmina a cada 6.67 segundos.

[0173] A figura 36 é uma ilustração esquemática que mostra um sistema de imageamento 1550 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito que inclui uma objetiva 1552 disposta para examinar um corpo de prova 1551' sobre uma lâmina 1551. Em uma concretização, posições de foco podem ser pré-determinadas através de uma rotação mais lenta do disco antes da aquisição de imagem. Levantamento de 20 segundos por lâmina para autofoco deve perfazer tempo total de varredura abaixo de 30 segundos por lâmina - uma ordem de grandeza mais rápida do que a atual posição dos sistemas de acordo com o estado da técnica. Quando uma bandeja 1560, sobre a qual a lâmina 1551 fica disposta, gira na direção 1561, a objetiva 1552 pode passar por movimentos de minuto na direção 1562 a ser posicionada no melhor foco determinado de acordo com o sistema aqui descrito. Valores de auto-foco distintos não precisam ser ajustados para cada campo de visão 1553 mas aplicar a zonas maiores distintas 1554 sobre uma lâmina 1551, por exemplo 3 x 3 campos de visão ou subquadros devido às frequências espaciais maiores de empenamento de lâmina ou espessura de tecido. Os valores de auto-foco devem ser interpolados aplicando o melhor foco enquanto a lâmina se move sob a câmera em sua trajetória de arco.

[0174] Alternativamente, uma técnica de focagem dinâmica, tal como técnicas de focagem em tempo real descritas em outro ponto aqui, pode ser vantajosamente empregada em conexão com os sistemas de varredura a alta velocidade aqui providos. Verificou-se que os tempos para aquisição de pontos de foco (por exemplo, 120 pontos de foco por segundo) permitem uso da focagem em tempo real junto com técnicas de varredura rotacional a alta velocidade aqui discutidas. Verificou-se também que está bem dentro do campo de sistemas de controle para controlar um disco rotacional a velocidades dentro de 1 parte em 10,000, permitindo amostragem em loop aberto de cada imagem sem depender de retorno rotacional do disco.

[0175] Geralmente, uma imagem em miniature de baixa resolução pe produzida da lâmina. Isso pode ser feito mediante ajuste de uma câmera de baixa resolução sobre uma posição angular do disco de forma a não interferir no microscópio de alta resolução a pouco descrito. Para aplicações de volume extremamente elevados o formato do disco empresta se presta ao manuseio robótico. Robôs tipo wafer semi-condutores que manipulam discos de 300 mm (~12") poderão ser usados para mover discos a partir de um estoque temporário para o dispositivo de varredura de alta velocidade. Além disso, grande parte das tecnologias posicionam a lâmina sob a objetiva para microscópio através de estágios lineares em uma etapa e movimento de repetição. Esses movimentos dominam os tempos de aquisição de imagem. O sistema aqui descrito que utiliza um movimento rotacional é eficiente e altamente repetível. O autofoco e tempos de aquisição de imagem são uma ordem de grandeza menor do que o atual estado dos produtos do estado da técnica.

[0176] Grande árte dos sistemas também exigem mecanismos de aperto ou elementos de fixação a mola para prender a lâmina no local durante os movimentos de parada e avanço d o estágio. O sistema aqui descrito não requer um mecanismo de fixação em que o movimento rotacional cria aceleração centrípeta que empurra a lâmina para um local pré-determinado dentro de um recorte de recesso no disco. Isso torna a construção do porta lâmina mais simples e mais confiável. Além disso, lâmina elementos de fixação podem dobrar ou deformar a lâmina complicando o processo de autofoco e são vantajosamente evitados de acordo com o sistema aqui descrito.

[0177] Sistemas correntes apresentes velocidades de pico de 2-3 minutos para uma área ativa de 15 mm por lâmina. Os sistemas e método aqui providos permitem que a mesma área ativa seja varrida em menos de 30 segundos, para o exemplo acima destacado. Muitos laboratórios de patologia varrem de 100 lâminas a 200 lâminas por dia. Com essas taxas elevadas de aquisição de imagem um operador poderia trabalhar com um estoque diário de lâminas em uma hora incluindo as etapas adicionais de discos de carregamento e descarregamento, leitura de código de barra, pré-foco. Isso permite tempo mais rápido para resultados e maior economia para o laboratório.

[0178] A figura 37 é um fluxograma 1600 que mostra varredura de lâmina de alta velocidade utilizando uma bandeja giratória de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Em uma etapa 1602, lâminas ficam localizadas em recessos da bandeja giratória. Após a etapa 1602, processamento ocorre até uma etapa 1604 onde a bandeja giratória é movida para uma posição de varredura de lâmina com relação a varredura e sistema de imageamento. Após a etapa 1604, processamento ocorre até uma etapa 1606 onde a rotação da bandeja giratória é iniciada. Conforme acima discutido, a rotação da bandeja giratória produz forças centrípedas que agem sobre as lâminas pra manter as lâminas em uma posição de imageamento desejada. Após a etapa 1606, processamento ocorre até uma etapa 1608 onde o sistema de imageamento captura imagens, de acordo com sistemas e técnicas aqui descritas e incluindo técnicas de focagem dinâmica, para uma fileira de quadros para cada lâmina em um anel circunferencial da bandeja giratória. Após a etapa 1608, processamento ocorre até uma etapa de teste 1610 onde se determina se uma área de interesse desejada sobre cada lâmina na bandeja giratória foi varrida e imageada. Em caso negativo, o processamento ocorre até uma etapa 1612 onde o sistema de imageamento e/ou determinados componentes deste movem um incremento em uma direção radial da bandeja giratória. Após a etapa 1612, processamento ocorre de volta à etapa 1608. Se na etapa de teste 1610, for determinado que a área de interesse em cada lâmina foi varrida e imageada, processamento ocorre até uma etapa 1614 onde uma ou mais imagens mosaicas são criadas correspondentemente às áreas de interesse imageadas para cada lâmina. Após a etapa 1614, processamento está completo.

[0179] De acordo com o sistema aqui descrito, um dispositivo de duplicação óptica e técnica podem ser providos e usados em conexão com as características de sistema de imageamento aqui descritas. Em uma concretização, o sistema aqui descrito pode amostrar um elemento de resolução produzido por uma objetiva Plan Apo de NA de 20x 0.75. Este elemento de resolução é de aproximadamente 0.5 micron em um comprimento de onda of 500 nm. Para obter amostragem deste elemento de resolução, a lente de tubo em frente do sensor de imageamento pode ser mudada. Um cálculo aproximado para computação do comprimento focal da lente de tubo dada a lente objetiva (f_lente de tubo=comprimento focal de lente de tubo em frente de sensor de imagem) é: pix_sensor=tamanho de pixel em sensor de imagem CCD ou CMOS pix_objeto= tamanho de pixel em objeto ou tecido f_lente de tubo = pix_objeto/pix_sensor * 9 mm.

[0180] Para obter um tamanho de pixel no objeto de 0.25 micron para Dalsa Falcon 4M30/60 (pixel de sensor de 7.4 micron), o comprimento focal da lente de tubo deve ser aproximadamente 266 mm. Para um tamanho de pixel no objeto de 0.125 micron, o comprimento focal da lente de tubo deve ser aproximadamente 532 mm. Pode ser desejado alterar entre esses dois objetos os tamanhos de pixel e isso pode ser feito mediante a montagem de duas ou mais lentes de tubos para um estágio que se move em frente do sensor de imageamento. Dados os diferentes comprimentos de trajetória associados a cada novo comprimento focal, espelhos de dobra também precisam ser adicionados para dobrar a trajetória de um sensor de imagem posição fixo.

[0181] A figura 38 é uma ilustração esquemática que mostra um sistema de imagem de duplicação óptica 1700 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. O sistema de imagem de duplicação óptica 1700 pode incluir um sensor de imagem 1710 de uma câmera 1711 e uma objetiva para microscópio 1720 conforme descritos em outro ponto aqui. Verificou-se que outros componentes em conexão com o sistema e técnicas aqui discutidos, tais como sistema de focagem em tempo real, também pode ser usados com o sistema de imagem de duplicação óptica 1700 ilustrado. Para obter dois ou mais tamanhos de pixel, uma pluralidade de lentes de tubos, por exemplo, uma primeira lente de tubo 1740 e uma segunda lente de tubo 1750, pode ser provida em conexão com o sistema aqui descrito. Um estágio 1730 pode deslocar a primeira lente de tubo 1740 e a segunda lente de tubo 1750, respetivamente, em frente do sensor de imageamento. Em uma concretização, o estágio 1730 pode ser um estágio linearmente atuado que se move em uma direção 1731, embora verificou-se que outros tipos de estágios e movimento deste possam ser usados em conexão com o sistema aqui descrito. Um conjunto de espelhos 1752 é mostrado com relação à segunda lente de tubo 1750 que pode incluir um ou mai espelhos de dobra para ajustar o trajeto d eluz desde a segunda lente de tubo 1750 até o sensor de imagem 1710.

[0182] As figuras 39A e 39B são re ilustrações esquemáticas do sistema de imagem de duplicação óptica 1700 que mostra o traslado da primeira lente de tubo 1740 e da segunda lente de tubo 1750 em frente ao sensor de imagem 1710 de acordo com uma concretização do sistema aqui descrito. Figura 39A mostra um trajeto de luz 1741 para a primeira lente de tubo 1740 posicionada em frente ao sensor de imagem 1710 no estágio 1730. Figura 39B mostra um trajeto de luz 1751 para a segunda lente de tubo 1750 após ser trasladada em frente ao sensor de imagem 1710 via o estágio 1730. Conforme ilustrado, o trajeto de luz 1751 foi aumentado utilizando-se um ou mais espelhos do conjunto de espelhos 1752. Em ambas as figuras, verificou- se que o sistema de imagem de duplicação óptica 1700 pode incluir outros componentes ópticos e estruturais apropriados 1760 como aqueles discutidos detalhadamente em outro ponto aqui.

[0183] A figura 40 mostra um sistema de imageamento 2000 que apresenta muitos componentes que são geralmente similares aos componentes mostrados nas figuras 1, 2, e 26. Uma porta de acesso 2002 pode aer aberta para carregar cassetes em um carrossel. Os cassetes podem carregar lâminas lameladas. Após o carregamento dos cassetes a porta de acesso 2002 poderá ser fechada. Um controlador 2004 poderá ser usado para operar o sistema de imageamento 2000. Após o imageamento das amostras, a porta 2002 pode ser aberta e os cassetes podem ser removidos. Vantajosamente, lâminas podem ser imageadas enquanto o usuário carrega e descarrega o carrossel para aumentar o rendimento de laboratório. Isso também evita tempos de espera desnecessários e assegura que lâminas estarão sempre prontas para o processamento.

[0184] Uma caixa protetora 2010 da figura 40 é mostra removida na figura 41. Figura 41 mostra um dispositivo de armazenamento em cache 2011 incluindo um carrossel 2012 com nove estações de encaixe superiores e nove estações de encaixe inferiores. Cada estação de encaixe é capaz de receber e prender um cassete ou outro tipo de dispositivo porta-lâmina (por exemplo, um suporte de lâminas, um cartucho, etc.). O carrossel 2012 gira para posicionar cassetes na frente do sistema 2000 para o carregamento e descarregamento de casstes conveniente.

[0185] Com relação a figuras 41-43, lâminas podem ser movidas até um armazenador temporário 2020 que apresenta um retorno 2022 e uma câmera 2024. Um manipulador de lâmina na forma de um Estágio XY 2026 pode ser alimentado com lâminas através de um manipulador de lâmina 2028. Ótica de imageamento 2030 pode capturar imagens da amostra em uma lâmina carregada para o estágio 2026. A óptica de imageamento optics 2030 pode incluir sem limitação uma ou mais lentes, câmeras, espelhos, filtros, fontes luminosas, ou similares. Um dispositivo de agarre ou efetor final 2034 carregado por um braço 2036 pode transportar as lâminas entre vários componentes.

[0186] A figura 44 mostra o dispositivo de agarre 2034 que carrega a lâmina 2050 sem entrar em contato com a area periférica de uma etiqueta 2051 e sem entrar em contato com as bordas de lâmina para microscópio adjacentes à etiqueta 2051, evitando assim o contato com cola residual exposta, se for esse o caso, usada para aplicar a etiqueta 2051. A lâmina 2050 pode transporter de forma segura e eficiente lâminas sem os problemas causados pela aderência de cola ao dispositivo de agarre 2034. Conforme aqui usado, o termo “lâmina” inclui uma lâmina para microscópio de lamela assim como lâmina para microscópio sem lamela. A lâmina 2050 ilustrada inclui uma lamela. Se o dispositivo de agarre 2034 for parte de um aparelho de montagem de lâmina, o dispositivo de agarre 2034 poderá carregar uma lâmina para microscópio sem lamela.

[0187] O dispositivo de agarre 2034 inclui uma unidade conectora 2038 e um efetor final 2040. A unidade conectora 2038 acopla fluidicamente um elemento de topo 2044 a uma fonte de pressurização (por exemplo, uma bomba ou outro dispositivo capaz de produzir vácuo). O elemento de topo 2044 é capaz de manter um vácuo com a lâmina 2050. Um vácuo suficiente pode ser mantido para prender fixamente a lâmina 2050 e carregar a lâmina 2050 entre estações de trabalho. Para liberar a lâmina 2050, o vácuo pode ser reduzido ou eliminado.

[0188] A unidade conectora 2038 inclui um corpo de montagem 2055 e um par de braços de montagem 2056a, 2056b acopláveis ao braço 2036 (vide Figuras 42 e 43). Componentes fluídicos 2060 provêm comunicação fluídica com o efetor final 2040. Componentes fluídicos incluem, sem restrição, linha de fluidos (por exemplo, mangueiras, tubos, conduítes, etc.), válvulas, acopladores (por exemplo, acopladores de linha de fluido), e outros componentes para controle ou estabelecimento de um fluxo de fluido. Nas figuras 44 e 45, o componente fluídico 2060 inclui uma linha de alimentação 2062 que é fluidicamente acoplada ao efetor final 2040.

[0189] A unidade conectora 2038 pode permitir que o efetor final 2040 e/ou lâmina para microscópio 2050 percurta um objeto e permite que o efetor final 2040 defleta e retorne à sua posição original a fim de inibir, limitar ou impedir substancialmente um dano no efetor final 2040 e/ou lâmina 2050. Um cabeçote protetor 2058 pode servir como uma característica de proteção contra colisão. O cabeçote 2058 fica acoplado de forma móvel ao corpo de montagem 2055. Se a lâmina 2050 ou efetor final 2040, ou ambos, entraremem contato com um objeto, o cabeçote 2058 poderá girar conforme indicado pelas setas 2059a, 2059b da figura 46, para evitar, limitar ou impedor dano à lâmina 2050 e/ou efetor final 2040. Um membro de impulsão 2061 pode impelir o cabeçote 2058 até uma posição assentada. Quando uma força suficiente é aplicada ao efetor final 2040, a força de impulsão fornecida pelo membro de impulsão 2061 é superada e o cabeçote 2058 se move com relação ao corpo de montagem 2055. Quando a força aplicada é suficientememnte baixa ou substancialmente eliminada o membro de impulsão 2061 empurra o cabeçote 2058 de volta à posição assentada. O membro de impulsão 2061 pode incluir, sem restrição uma ou mais molas (incluindo molas espirais, molas helicoidais etc.), membros de impulsão pneumáticos, ou outros componentes capazes de prover uma força de impulsão.

[0190] Com relação a figuras 44 e 45, efetor final 2040 inclui uma plataforma 2070, uma linha de fluido 2072, e o elemento de topo 2044. A plataforma 2070 apresenta uma superfície superior 2074 e uma superfície inferior 2076 (Figura 46), e pode ser feita no todo ou apenas parcialmente de um material rígido (por exemplo, um metal, um plástico rígido, etc.). A plataforma cantilever ilustrada 2070 é montada na unidade conectora 2038 em um modo cantilever e pode ser feita de folha metálica ou metal tal como folha de aço inoxidável.

[0191] Com relação a figura 47, um sensor 2089 pode incluir um ou mais circuitos (por exemplo, um circuito flex) com um perfil relativamente plano para analisar a lâmina para microscópio. Para detector se a lâmina está presente, o sensor 2089 pode ser um sensor óptico capaz de analisar superfícies refletivas. A título de exemplo, o sensor 2089 poderá detectar se uma lâmina está presente mediante avaliação de reflectância, se for o caso, da etiqueta de lâmina. O sensor 2089 pode enviar um sinal indicativo se a lâmina está presente. Baseado no sinal, o controlador 2004 pode determinar se umalâmina está presa pelo dispositivo de agarre 2034. Alternativamente, sensor 2089 pode estar na forma de um leitor de código de barra, de um scanner, de um sensor de contato, de um sensor de proximidade, combinações destes ou semelhantes. Qualquer número de sensores poderá ser usado para determinar informação associada à lâmina para microscópio 2050.

[0192] Espaçadores 2090a-d são acoplados à superfície inferior 2076 e podem entrar fisicamente em contato com a lâmina para microscópio 2050. Conforme mostrado na figura 42, os espaçadores 2090a-d cooperam para prender a lâmina para microscópio 2050 em uma orientação substancialmente horizontal e substancialmente paralelamente à plataforma 2070. Um espaçador frontal 2090c e um espaçador traseiro 2090a ficam posicionados geralmente ao longo de um eixo longitudinal 2118 da plataforma 2070. Espaçadores de deslocamento lateral 2090b, 2090d ficam posicionados próximos a lados longitudinais 2091, 2093 da plataforma 2070. Qualquer número de espaçadores que definem diferentes tipos de configurações poderá ser usado com base na interação desejada da lâmina.

[0193] Para evitar aderência com cola residual em excesso, os espaçadores 2090 podem ficar localizados em posições nas quais os espaçadores 2090a-d não entram em contato com a cola. O espaçador 2090a entra em contato com o topo da etiqueta 2051 e fica espaçado bem distante das bordas da etiqueta para assegurar que ele não entrará em contato com a cola residual em excesso. Alternativamente, espaçador 2090a pode ser movido para fora da area de etiqueta na direção de agarre 2044 e ainda prover estabilidade à lâmina. Os espaçadores 2090b, 2090d ficam posicionados para entrar em contato com uma superfície superior da lâmina para microscópio em um local bem distante da borda da etiqueta 2051.

[0194] Com relação novamente a Figuras 44-46, linha de fluido 2072 fica posicionada acima da superfície superior 2074 e se estende entre a unidade conectora 2038 e elemento de topo 2044. Para aumentar a rigidez do efetor final 2040, linha de fluido 2072 pode compreender um tubo hipodérmico feito no todo ou em parte de aço (incluindo aço inoxidável), ligas de níquel ou outro material rígido adequado. Em algumas concretizações, o diâmetro externo do tubo hipodérmico pode ser inferior a aproximadamente 0.3 polegadas. O calibre do tubo hipodérmico pode se situar em uma faixa de calibre 7 a calibre 32 com base no caliber de agulha Stubs e ser selecionado com base no vácuo desejado para ser extraídoassim como nas propriedades mecânicas desejadasdo dispositivo de agarre 2034. Tubos de outros tamanhos também poderão ser usados. A posição da linha de fluido 2072 com relação à plataforma 2070 pode ser selecionada para adquirir um momento desejado de inércia e perfil geral. A linha de fluido 2072 pode ser movida para longe da plataforma 2070 para aumentar a rigidez do efetor final 2040 mediante aumento do momente de inércia. Para reduzir a altura maxima do efetor final 2040, a linha de fluido 2072 pode ser movida para ficar próxima ou em contato com a plataforma 2070.

[0195] Um conjunto de fixação 2077 apresenta um corpo de fixação 2078 para prender a linha de fluido 2072 e elementos de fixação 2080a, 2080b para abrir e fechar o conjunto de fixação 2077. Para reduzir o número de partes do dispositivo de agarre 2034, linha de fluido 2072 pode ser acoplada (por exemplo, aderida, colada, soldada) diretamente à plataforma 2070.

[0196] Com relação a figura 48, elemento de topo 2044 inclui um conector 2100 e um cabeçote de sucção 2102. O conector 2100 fica posicionado no lado superior da plataforma 2070 e fica acoplado à linha de fluido 2072. O cabeçote de sucção 2102 fica posicionado em um lado inferior da plataforma 2070 e é capaz de manter um vácuo com a lâmina de lamela para microscópio 2050. Em algumas concretizações, cabeçote de sucção 2102 pode ser feito de um material (por exemplo, borracha, silicone, polímeros, etc.) suficientemente deformável para manter uma vedação hermética quando uma aba 2103 do cabeçote 2102 cobre uma borda da lamela. Isso permite um agarre consistente e seguro mesmo se o cabeçote de sucção 2102 estiver desalinhado com a lamela.

[0197] Um posicionador 2110 é chavetado à plataforma 2070 e pode servir como uma característica anti-rotação para manter o elemento de topo 2044 apropriadamente alinhado à plataforma 2070 mesmo após uma vida útil relativamente longa. O posicionador ilustrado 2110 é uma protrusão posicionada em um recorte complementar 2112. Adicionalmente ou alternativamente, o elemento de topo 2044 pode ser acoplado à plataforma 2070 utilizando uma ou mais colas ou adesivos. Em outras concretizações ainda, elementos de fixação mecânicos (por exemplo, parafusos, pinos, ou semelhante) podem ser usados para acoplar mecanicamente o cabeçote de sucção 2102 à plataforma 2070.

[0198] O efetor final 2040 pode apresentar um perfil relativamente plano a fim de acessar espaços relativamente estreitos. Figura 48 mostra uma altura máxima H do efetor final 2040 que pode se situar em uma faixa de aproximadamente 0.15 polegadas a aproximadamente 0.19 polegadas. Isso permite a inserção do efetor final 2040 entre lâminas para microscópio presas em uma ampla faixa de diferentes tipos de porta lâmina, incluindo portas lâmina com divisórias verticalmente espaçadas entre si. Tais portas lâmina podem estar na forma de suportes de armazenamento, cartuchos, cassetes portáteis e semelhantes. O efetor final 2040 pode apresentar diferentes configurações, tamanhos, e dimensões e arranjo de componentes selecionados com base na aplicação desejada. A largura W (vide Figura 45) do efetor final 2040 pode ser igual a ou inferior à largura da lâmina 2050. Em algumas concretizações, incluindo uma concretização ilustrada da figura 45, o efetor final 2040 apresenta uma largura W que é substancialmente inferior à largura da lâmina 2050. Isso permite variação lado-a-lado do efetor final 2040 com relação à lâmina 2050.

[0199] Figura 49 mostra um porta lâmina para microscópio na forma de um cassete 2400. O cassete 2400 inclui um corpo principal 2410 e divisórias verticalmente espaçadas 2414. Uma lâmina de lamella 2422 (ilustrada na linha tracejada) é suportada por uma divisória mais elevada 2414a. Se o cassete 2400 for manualmente transportado entre estações de trabalho um usuário poderá reter o cassete 2400 em uma orientação em geral vertical conforme ilustrado. As lâminas podem ser convenientemente retidas nas divisórias 2414 mesmo se o cassete 2400 estiver inclinado a partir da orientação vertical. O cassete 2400 pode ser portátil para o transporte adequado entre estaçõesde trabalho. Travas ajudam a impeder que lâminas deslizem para fora do cassete 2400 enquanto o cassete é transportado (por exemplo, ao transportar o cassete 2400 entre equipamentos de laboratório) ou devido a vibrações mecânicas induzidas, por exemplo, por equipamento acionado por motor sobre um porta lâmina ou próximo ao porta lâmina.

[0200] Com relação a figuras 49 e 50, o corpo principal 2410 inclui uma abertura frontal 2430, uma parede superior 2444, uma parede inferior 2446, uma parede traseira 2448, e paredes laterais 2452, 2454. A parede superior 1444 se estende entre as paredes laterais 2452, 2454 e define uma abertura de acesso 2460. A parede inferior 2446 se estende entre as paredes laterais 2452, 2454. Um dispositivo de agarre pode passer pela abertura de acesso 2460 para carregar e descarregas lâminas. A parede inferior 2446 pode repousar sobre uma superfície de suporte para manter o cassete 2400 em uma orientação geralmente vertical. Manípulos 2447, 2449 podem ser presos para manipular o cassete 2400.

[0201] A parede traseira 2448 inclui aberturas de ventilação 2470 através da qual o fluido (por exemplo, ar, líquido de montagem, etc.) pode passar. As aberturas ilustradas 2470 ficam adjacentes aos vãos entre divisórias adjacentes 2414. Se as lâminas estiverem úmidas, o ar pode passer pelas aberturas 2470 para secagem ou drenagem a ar ou ambas. Os comprimentos das aberturas 2470 podem ser inferiores àquelas larguras das lâminas para impedir a passagem de lâminas através da parede traseira 2448. Adicionalmente ou alternativamente, aberturas de ventilação podem estar em outros locais tais como ao longo de uma ou ambas as paredes laterais 2452, 2454.

[0202] O corpo principal 2410 pode ser feito, no todo ou em parte, de plástico, polímeros, metal ou combinações destes e podem apresentar uma construção em peça única ou em múltiplas peças. Plásticos representativos não restritivos incluem, sem limitação, acrilonitrila butadieno estireno (ABS), poliuretano, poliéster, polipropileno, combinações destes ou similar. Cargas poderão ser utilizadas para aumentar o desempenho. Em algumas concretizações, o corpo principal 2410 é feito de plástico ABS que é preenchido com vidro (por exemplo, 30% preenchido com vidro por volume ou peso). As superficies das divisórias 1412 podem apresentar um coeficiente de fricção relativamente baixo para permitir deslocamento conveniente da lâmina placement. Em concretizações com moldagem, duas metades moldadas podem ser soldadas, ligadas ou senão acopladas juntas para formar o cassete 2400. Qualquer número de porções moldadas pode ser montado ou acoplado junto. Alternativamente, componentes usinados podem ser montados juntos para formar o cassete 2400. Fixadores mecânicos, cola, solda ou similar poderão ser usados.

[0203] Um acoplador 2474 da figura 50 fica posicionado na parte traseira do cassete 2400. Se uma estação de trabalho apresentar um magneto (por exemplo, um magneto permanente ou um eletromagneto), o acoplador 2474 poderá ser feito no todo ou em parte de um material ferromagnético ou outro material fixado a magnetos para ajudar a prender o cassete 2400 na estação de trabalho. Alternativamente, o acoplador 2474 pode incluir um magneto para coplamento a um componente ferromagnético da estação de trabalho.

[0204] Figura 50 também mostra um par de elementos de comutação salientes 2482, 2484. Quando o cassete 2400 é movido para uma estação de encaixe os elementos de comutação 2482, 2484 podem ser inseridos em receptores correspondentes (por exemplo, sulcos, aberturas, etc.) da estação de encaixe. Se o cassete 2400 for inserido invertido, os elementos de comutação 2482, 2484 não serão recebidos por receptores, evitando assim o encaixe. Os elementos de comutação ilustrados 2482, 2484 são em geral membros pararelos em formato de U. As posições, configurações, e orientações dos elementos de comutação podem ser selecionadas com base no tamanho do cassete, orientação de cassete desejada, configuração da estção de encaixe e semelhante. Uma espiga 2485 da figura 49 pode disparar um dispositivo mecânico (por exemplo, uma intertrava mecânica) ou um sensor que envia um sinal indicando que o cassete 2400 está adequadamente instalado. Adicionalmente ou alternativamente, sensores de contato, sensors de proximidade ou outros tipos de sensores podem ser localizados em várias posições (por exemplo, dentro do carrossel 2012) para determinar se o cassete 2400 está adequadamente carregado.

[0205] As figuras 51 e 52 mostram vinte divisórias verticalmente espaçadas entre si 2414 para simulação de vinte lâminas. Cada divisória 2414 fica posicionada entre paredes laterais 2452, 2454 e orientada para suportar uma lâmina para microscópio em uma orientação substancialmente horizontal quando o cassete 2400 estiver na posição vertical. As divisórias 2414 podem estar espaçadas entre si uniforme ou não uniformemnte. Em concretizações com espaçamento uniforme, as distâncias médias entre divisórias adjacentes 2414 pode se situar em uma faixa de aproximadamente 0.25 polegadas a aproximadamente 0.38 polegadas. A distância media pode ser selecionada para adquirir folga para o cabeçote de agarre. O tamanho, espaçamento e outras dimensões das divisórias podem ser selecionados para facilitar a transferência entre dispositivos retentores de lâminas. A título exemplo, o espaçamento das divisórias 2414 em geral pode ser similar ao espaçamento de divisórias e sulcos de uma cesta tipo mergulho ou enterrada de forma que lâminas possam ser convenientemente inseridas no cassete a partir do cesto. Se lâminas forem transferidas de um suporte para lâminas para o cassete 2400, as divisórias 2414 poderão apresentar um espaçamento geralmente correspondente ao espaçamento das divisórias do suporte. Desse modo, arranjo especial das divisórias 2414 pode ser selecionado com base em dferentes parâmetros de processamento e critérios.

[0206] Com relação a figura 51, aberturas são marcadas para localizar convenientemente uma lâmina. A abertura de posição mais alta 2490a é etiquetada com a letra “A,” e a abertura com posição mais baixa 2490t é etiquetada com a letra “T.” Alternativamente, aberturas podem ser etiquetadas com números ou outros “indícios”

[0207] Figuras 51 e 52 mostram uma lâmina de lamela para suporte de corpo de prova 2422 (ilustrada em linha tracejada) na divisória 2414a. Um par de membros de suporte 2500a, 2500b suporta uma extremidade de etiqueta 2504 da lâmina 2422. Cada um dos membros de suporte 2500a, 2500b se estende desde a divisória 2414a. Um concretizações unitárias, membros de suporte 2500a, 2500b são integralmente moldados com a divisória 2414a. Em concretizações não unitárias, os membros de suporte 2500a, 2500b são acoplados à divisória 2414a utilizando-se adesivos, fixadores, conectores macho/fêmea ou semelhante.

[0208] Os membros de suporte 2500a, 2500b em geral podem ser similares entre si e correspondentemente, a descrição de um se aplica ao outro, desde que não conste indicação diferente. As figuras 53 e 54 mostram o membro de suporte 2500a incluindo um corpo alongado 2508a e um fecho 2510a. O corpo alongado 2508a inclui uma extremidade de montagem 2516a acoplada à divisória 2414, uma extremidade livre oposta 2518a que carrega o fecho 2510a, e uma porção central 2519a.

[0209] Um ressalto 2522a do fecho 2510a sobressai para cima a partir do corpo alongado 2508a e pode limitar o movimento da lâmina para microscópio 2422 com relação ao membro de suporte 2500a. O ressalto 2522a pode obstruir o deslizamento da lâmina 2422. A altura Hs do ressalto 2522a pode ser inferior à espessura TS definida por uma superfície de montagem e uma superfície de fundo da lâmina 2422. Em algumas concretizações, a altura Hs é igual ou inferior a aproximadamente 60%, 50%, ou 40% da espessura TS. Em uma concretização, a altura do ressalto Hs é igual a aproximadamente metade da espessura TS. Outras alturas de ressalto Hs também são possíveis se necessário ou desejado. A distância entre o fecho 2510a e a parede traseira 2532 geralmente pode ser igual a ou ligeiramente superior ao comprimento longitudinal da lâmina 2422. Isso pode ajudar a minimizar o movimento da lâmina 2422 durante o transporte.

[0210] Uma superfície de escora 2528a pode geralmente ser perpendicular a uma superfície de suporte do corpo alongado 2508a. Em outras concretizações, fecho 2518 opde ser uma rebarba, uma protrusão (por exemplo, uma protrusão parcialmente esférica, espiga, etc.), ou outro elemento de limitação (por exemplo, inibição ou impedimento) de movimento da lâmina 2504.

[0211] Com relação a figura 55, a divisória 2414 apresenta uma placa de formato em H. A placa pode apresentar uma superfície superior em geral plana e em algumas concretizações, é texturizada, polida ou similar para aumentar o carregamento ou descarregamento de lâminas para microscópio. A divisória ilustrada 2414 é conectada a e estende-se entre paredes laterais 2452 e 2454. Em outras concretizações, a divisória 2414 é montada no modo cantilever em uma das paredes laterais.

[0212] O corpo alongado 2508a apresenta um eixo longitudinal 2540a isto é substancialmente paralelo a um eixo longitudinal 2540b de um corpo alongado 2508b de um membro de suporte 2520b. Os eixos longitudinais 2540a, 2540b podem se situar em um plano e podem definir um ângulo, se for o caso, inferior a aproximadamente 5 graus. Uma concretização ilustrada apresenta dois membros de suporte, porém membros de suporte adicionais poderão ser usados assim como qualquer número de divisórias.

[0213] As figuras 56A e 56B mostram uma lâmina para microscópio 2422 (ilustrada em linha tracejada) sendo colocada na divisória superior 2414. Guias 2560a, 2560b pode ajudar a acomodar variação lado-a-lado de colocação de lâmina. Conforme mostrado na figura 56A, lâmina 2422 fica posicionada para o lado esquerdo da abertura 2490a. Uma borda 2561a da lâmina 2422 pode deslizar ao longo de uma superfície 2562a devido à gravidade para permitir que a lâmina 2422 caia no local desejado. As superficies inclinadas 2562a, 2562b são inclinadas para permitir que a lâmina para microscópio deslize para baixo e respouse sobre a divisória 2414a. Em algumas concretizações, o ângulo de inclinação das superfícies 2562a, 2562b pode ser em geral igual um ao outro.

[0214] Com relação novamente a Figura 40, para operar o sistema de imageamento 2000, um usuário poderá abrir a porta de acesso 2002 para inserir cassetes em uma das dezoito estações de encaixe (por exemplo, sulcos) do carrossel 2012. O carrossel 2012 pode em seguida girar para o carregamento e descarregamento. Vantajosamente, carrossel 2012 pode apresentar uma configuração relativamente compacta para reduzir o espaço ocupado global do sistema 2000.

[0215] Uma vez que um cassete é carregado para uma estação de encaixe, um botão 2602 (vide Figura 41) pode ser girado em sentido anti- horário (por exemplo, girado aproximadamente 90 graus em sentido anti- horário) para travar o cassete no local. Adicionalmente, a rotação do botão 2602 pode produzir rotação de um sinalizador correspondente (vide sinalizador 2607) que é analisado por um sensor 2606. A posição do sinalizador corresponde à posição do botão 2602. Correspondentemente, o sensor 2606 pode determinar se o botão está em uma posição aberta ou uma posição fechada.

[0216] O sensor 2606 pode ser um sensor óptico capaz de analisar a posição de três cassetes e três cassetes inferiores alinhados.

[0217] Na concretização ilustrada, o sensor 2606 determina a presença dos cassetes 2400a-c com base na posição de sinalizadores conectados a botões 2602a-c. Os cassetes 2400d-f inferiores são analisados por um outro sensor. Vantajosamente, a combinação de sensor óptico/sinalizador permite uma coluna estacionária dentro do centro do carrossel para analisar se os cassetes estão presentes, evitando assim a necessidade de fios que atravessam a região periférica de rotação e eliminado com isso o uso de porta-cabos complicados. Isso pode ser útil para aumentar a confiabilidade do carrossel 2012. Em algumas concretizações, a espiga 2485 (vide Figura 50) é usada para acionar uma intertrava mecânica que permite que os botões 2602 girem enquanto o botão de uma estação de encaixe vazia não pode ser girado.

[0218] Com relação novamente a Figura 42, o manipulador de lâmina 2028 move o dispositivo de agarre 2034 para transportar lâminas entre os vários componentes do sistema de imageamento 2000. Figura 52 mostra um efetor final plano 2034 posicionado a ser inserido na abertura 2490a, conforme indicado por uma seta 2616. Uma vez que o efetor final 2034 fica posicionado acima de uma lâmina para microscópio 2422, o efetor final 2034 pode ser colocado sobre uma lâmina para microscópio 2422. Um vácuo pode ser produzido entre o cabeçote de sucção 2102 e a lâmina para microscópio. O efetor final 2034 pode mover a lâmina 2422 verticalmente junto ao fecho 2510a. A raised lâmina 2422 elevada pode ser movida para fora da abertura 2490a. O efetor final 2034 pode carregar a lâmina 2422 até o local desejado sem entrar em contato com cola (por exemplo, cola na periferia da lâmina para microscópio marcada ou bordas adjacentes), o dispositivo de agarre pode mover lâminas para qualquer número de estações de processamento, incluindo, sem limitação, carrosséis, armazenadores temporários, Estágio XYs, manipuladores de lâminas, dispositivos de armazenamento em cache, suportes, equipamento de imageamento, estações de encaixe ou similares. Após uma lâmina ser imageada, a lâmina pode ser movida do dispositivo de armazenamento em cache 2020a para uma divisória vazia dos cassetes. Uma vez que um cassete está preenchido com lâminas imageadas, o cassete pode ser girado para a região de acesso para remoção conveniente utilizando a porta de acesso 2002.

[0219] Várias concretizações aqui discutidas podem ser combinadas entre si em combinações adequadas em conexão com o sistema aqui descrito. Adicionalmente, em alguns casos, a ordem de etapas nos fluxogramas, diagramas de fluxoe/ou processamento de fluxo descrito pode ser modificada quando necessário. Além disso, vários aspectos do sistema aqui descrito poderão ser implementados utilizando-se software, hardware, uma combinação de software e hardware e/ou outros módulos implementados por computador ou dispositivos que apresentam as características descritas e desempenham as funções descritas. Implementações de Software do sistema aqui descrito podem incluir código executável que é armazenado em um meio de armazenamento legível por computador e executado por um ou mais processadores. O meio de armazenamento legível por computador pode incluir um disco rígido, ROM, RAM, memória flash, meios de armazenamento de computador portáteis tais como CD-ROM, DVD-ROM, um disco flash drive e/ou outros drives com, por exemplo, uma interface de bus serial universal (USB) e/ou qualquer outro meio de armazenamento tangível apropriado ou memória de computador na qual o códifo executável pode ser armazenado e executado por um processador. O sistema aqui descrito pode ser usado em conexão com qualquer sistema operacional apropriado.

[0220] Outras concretizações da invenção ficarão evidentes ao versado na técnica a partir da consideração da especificação ou prática da invenção aqui descrita. A especificação e exemplos são aqui concebidos a título representative somente, sendo que o verdadeiro escopo e espírito da invenção são indicados pelas reivindicações a seguir.

Claims

1. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO (2400), compreendendo: um corpo principal (2410) para circundar e proteger lâminas (2422) para microscópio (120), sendo que o corpo principal (2410) inclui uma primeira parede lateral (2452) e uma segunda parede lateral (2454); uma pluralidade de divisórias (2414) capaz de suportar lâminas (2422) para microscópio (120), sendo as divisórias (2414) ficam posicionadas entre primeira parede lateral (2452) e a segunda parede lateral (2454) e ficam verticalmente espaçadas distantes entre si quando um cassete portador de lâmina para microscópio (2400) fica em uma orientação vertical; e uma pluralidade de membros de suporte (2500a, 2500b) que se estendem para longe das respectivas divisórias (2414), sendo que pelo menos um dos membros de suporte (2500a) inclui um corpo alongado (2508a) acoplado a uma das divisórias (2414), e um fecho (2510a) que se estende para cima saindo do corpo alongado (2508a) e pode limitar o movimento de uma lâmina para microscópio (2422) posicionada no corpo alongado (2508a), caracterizado pelo cassete portador de lâmina para microscópio (2400) compreender ainda um par de guias (2560a, 2560b) próximos a uma das divisórias (2414), em que cada uma das guias (2560a, 2560b) inclui uma superfície inclinada (2562a, 2562b) distante de uma das divisórias (2414) e fornecida para uma lâmina de microscópio (2422) para deslizar devido à gravidade até a lâmina para microscópio (2422) repousar sobre uma das divisórias (2414), para acomodar variação lado-a-lado de colocação de lâmina em uma das divisórias (2414).

2. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelos pares dos membros de suporte (2500a, 2500b) serem afastados entre si e acoplados a respectivas divisórias (2414), em que dois dos corpos alongados (2508a) são acoplados a respectivas divisórias (2414) e apresentam eixos longitudinais (2540) que são paralelos entre si.

3. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 2, caracterizado por a primeira parede lateral (2452) e a segunda parede lateral (2454) definirem uma abertura (2460) através da qual lâminas para microscópio (2422) podem ser inseridas para colocar as lâminas para microscópio (2422) nas divisórias (2414) e através da qual as lâminas para microscópio (2422) podem ser removidas das divisórias (2414).

4. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 3, caracterizado pelo corpo alongado (2508a) incluir uma extremidade de montagem (2516a) acoplada à divisória (2414), uma extremidade livre oposta (2518a) que carrega o fecho (2510a), e um corpo cantiléver (2519) que se estende entre a extremidade de montagem (2516a) e a extremidade livre (2518a).

5. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 4, caracterizado pelo fecho (2510) ser uma protrusão adaptada para fornecer uma altura igual a ou inferior a metade de uma espessura de uma lâmina para microscópio (2422), quando a lâmina para microscópio (2422) fica sobre o corpo alongado (2508a) e a divisória (2414).

6. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 5, caracterizado pelo por pelo menos uma primeira parede lateral (2452), a segunda parede lateral (2454), e uma parede traseira (2448) incluírem uma ou mais aberturas de ventilação (2470) adjacentes aos vãos entre as divisórias adjacentes (2414).

7. CASSETE PORTADOR DE LÂMINA PARA MICROSCÓPIO, de acordo com qualquer uma das reivindicações 1 a 6, caracterizado por também compreender pelo menos um elemento de comutação (2482, 2484) que sobressai desde o corpo principal (2410), e pelo menos um elemento de comutação (2482, 2484) é recebível por uma estação de trabalho quando o cassete (2400) se encontra em uma orientação vertical.