ATE551628T1 - Mikroskopgerät und verfahren zur reproduktion der beobachtungsposition - Google Patents

Mikroskopgerät und verfahren zur reproduktion der beobachtungsposition

Info

Publication number
ATE551628T1
ATE551628T1 AT11001458T AT11001458T ATE551628T1 AT E551628 T1 ATE551628 T1 AT E551628T1 AT 11001458 T AT11001458 T AT 11001458T AT 11001458 T AT11001458 T AT 11001458T AT E551628 T1 ATE551628 T1 AT E551628T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
unit
image
circular sample
rotational shift
calculation unit
Prior art date
Application number
AT11001458T
Other languages
English (en)
Inventor
Yuki Yokomachi
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Application granted granted Critical
Publication of ATE551628T1 publication Critical patent/ATE551628T1/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0088Inverse microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
AT11001458T 2010-03-03 2011-02-22 Mikroskopgerät und verfahren zur reproduktion der beobachtungsposition ATE551628T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010047179A JP5479950B2 (ja) 2010-03-03 2010-03-03 顕微鏡装置及び観察位置再現方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE551628T1 true ATE551628T1 (de) 2012-04-15

Family

ID=44063736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT11001458T ATE551628T1 (de) 2010-03-03 2011-02-22 Mikroskopgerät und verfahren zur reproduktion der beobachtungsposition

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20110216183A1 (de)
EP (1) EP2363740B1 (de)
JP (1) JP5479950B2 (de)
AT (1) ATE551628T1 (de)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5863357B2 (ja) * 2011-09-21 2016-02-16 オリンパス株式会社 拡大観察装置、並びに、拡大観察装置の画像表示方法及び検鏡法切換方法
JP5841398B2 (ja) * 2011-10-07 2016-01-13 株式会社キーエンス 拡大観察装置
JP2013120108A (ja) * 2011-12-07 2013-06-17 Sumitomo Heavy Ind Ltd 薄膜形成装置及び薄膜形成方法
DE102012009257B4 (de) * 2012-05-02 2023-10-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Ausführung beim Betreiben eines Mikroskops und Mikroskop
KR101384843B1 (ko) * 2012-09-07 2014-05-07 주식회사 나노엔텍 현미경 및 그 제어방법
JP6455829B2 (ja) * 2013-04-01 2019-01-23 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、およびプログラム
US20180252907A1 (en) * 2013-06-28 2018-09-06 Discover Echo Inc. Upright and inverted standing microscope
JP6270425B2 (ja) * 2013-11-18 2018-01-31 オリンパス株式会社 位置決め装置、顕微鏡システム、及び付着物除去方法
DE102014210046B4 (de) * 2014-05-27 2021-03-18 Carl Zeiss Meditec Ag Operationsmikroskopsystem
JP2016049046A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 大日本印刷株式会社 画像管理装置及びプログラム
JP6735645B2 (ja) * 2016-09-28 2020-08-05 日本電子株式会社 観察方法および試料観察装置
JP6824748B2 (ja) * 2017-01-05 2021-02-03 オリンパス株式会社 顕微鏡パラメータの設定方法および観察方法
JP7060394B2 (ja) * 2018-02-14 2022-04-26 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、表示制御方法、及び、プログラム
DE102018107033A1 (de) * 2018-03-23 2019-09-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopsystem und Verfahren zur Steuerung eines solchen Mikroskopsystems
CN110534389B (zh) * 2018-05-25 2022-05-20 中国石油化工股份有限公司 可复位样品桩和样品复位方法
JP7412758B2 (ja) 2020-04-15 2024-01-15 日本分光株式会社 顕微分光測定装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07225843A (ja) 1994-02-09 1995-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円中心位置測定方法
US5497007A (en) * 1995-01-27 1996-03-05 Applied Materials, Inc. Method for automatically establishing a wafer coordinate system
US5870187A (en) * 1997-08-08 1999-02-09 Applied Materials, Inc. Method for aligning semiconductor wafer surface scans and identifying added and removed particles resulting from wafer handling or processing
JP3859396B2 (ja) * 1999-07-19 2006-12-20 日本電子株式会社 走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法及び走査型荷電粒子ビーム装置
US6711283B1 (en) * 2000-05-03 2004-03-23 Aperio Technologies, Inc. Fully automatic rapid microscope slide scanner
JP3661604B2 (ja) * 2001-04-05 2005-06-15 松下電器産業株式会社 顕微観察装置および顕微観察方法
JP2004101871A (ja) * 2002-09-10 2004-04-02 Olympus Corp 顕微鏡画像撮影装置
JP2004177325A (ja) * 2002-11-28 2004-06-24 Keyence Corp 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体
JP3754958B2 (ja) 2002-12-25 2006-03-15 独立行政法人科学技術振興機構 高倍率顕微観測装置
KR100543468B1 (ko) * 2003-12-18 2006-01-20 삼성전자주식회사 반도체 패턴의 거리 측정 시스템 및 거리 측정 방법
US7520854B2 (en) * 2004-07-14 2009-04-21 Olympus Corporation Endoscope system allowing movement of a display image
JP2006091723A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Olympus Corp 倒立顕微鏡
DE102004047519B4 (de) * 2004-09-28 2021-08-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Überlagerung optischer Informationen bei einem Scan-Mikroskop
JP5059297B2 (ja) * 2005-05-09 2012-10-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子線式観察装置
JP4691391B2 (ja) * 2005-05-12 2011-06-01 独立行政法人理化学研究所 電子顕微鏡
BRPI0612131A2 (pt) * 2005-06-13 2010-10-19 Tripath Imaging Inc métodos de re-locação de objeto de interesse em amostra em lámina com dispositivo de imagem de microscópio
US7630628B2 (en) * 2007-07-27 2009-12-08 Nikon Corporation Microscope system and microscope observation method
US8089518B2 (en) * 2007-11-16 2012-01-03 Samsung Electronics Co., Ltd. System and method for automatic image capture in a handheld camera with a multiple-axis actuating mechanism

Also Published As

Publication number Publication date
EP2363740A1 (de) 2011-09-07
JP2011180538A (ja) 2011-09-15
JP5479950B2 (ja) 2014-04-23
US20110216183A1 (en) 2011-09-08
EP2363740B1 (de) 2012-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE551628T1 (de) Mikroskopgerät und verfahren zur reproduktion der beobachtungsposition
PL2373207T3 (pl) Sposób i urządzenie do przetwarzania obrazów dla komputerowo wspomaganej operacji wzroku
ATE526646T1 (de) Automatische erkennung eines chirurgischen werkzeuges auf einem bild eines medizinischen bildgebungssystems
EP2439716A3 (de) Objektidentifikationsvorrichtung, bewegliche Objektsteuerungsvorrichtung mit der Objektidentifikationsvorrichtung und Informationsdarstellungsvorrichtung mit der Objektidentifikationsvorrichtung
DE112017003037A5 (de) Kameravorrichtung sowie verfahren zur erfassung eines umgebungsbereichs eines eigenen fahrzeugs
DE602006001749D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kennzeichnung eines audio- oder videosignals mit wasserzeichendaten mittels eines spreizspektrums
DE602008006501D1 (de) Vorrichtung zur digitalen Bildstabilisierung durch Objektverfolgung und Verfahren dafür
WO2012047774A3 (en) Shape measuring apparatus and shape measuring method
WO2013049703A3 (en) Method and/or apparatus for location context identifier disambiguation
DE602007013974D1 (de) Vorrichtung, Programm, Aufzeichnungsmittel und Verfahren zur Erzeugung eines Roboterprogramms
DE602008001826D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Verarbeitung eines Videosignals, Abbildungsvorrichtung und Computerprogramm
DE602006019726D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Schätzung eines mobilen Körpers und zur Erzeugung eines Plans der Umgebung des mobilen Körpers durch Benutzung eines höheren Bildes der Umgebung des mobilen Körpers, und nes Computerprogramms, das die Vorrichtung steuert
ATE429689T1 (de) Bildverarbeitungseinrichtung, -verfahren und - programm
WO2010140059A3 (en) Method and device for three-dimensional surface detection with a dynamic reference frame
ATE497146T1 (de) Verfahren und anordnung zur abbildung von entfernungssensordaten auf bildsensordaten
ATE533667T1 (de) Fahrunterstützungsverfahren und fahrunterstützungsvorrichtung
WO2013074612A3 (en) Positioning apparatus for photographic and video imaging and recording and system utilizing same
DK2306429T3 (da) Apparat og fremgangsmåde til klassificering af køretøjer
WO2011157254A3 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der augenposition
ATE552700T1 (de) Vorrichtung, verfahren und bildaufnahmegerät zur auswahl eines haupt-gesichts
EP2575078A3 (de) Vorderfahrzeugerkennungsverfahren und Vorderfahrzeugerkennungsvorrichtung
NO20075925L (no) Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung einer Fahrzeugwaschanlage
ATE525854T1 (de) Bildaufnahmevorrichtung und steuerungsverfahren dafür
DE602006011019D1 (de) Vorrichtung zur erzeugung eines interpolierten bildes
EP2815951A3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bereitstellen von Reiserouten einer tragbaren medizinischen Diagnosevorrichtung