ATE450880T1 - Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop - Google Patents
Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskopInfo
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Landscapes
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Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0102498A SE0102498D0 (sv) | 2001-07-13 | 2001-07-13 | Vibrationsdämpningsmetod för mikroskop |
SE0103782A SE0103782D0 (sv) | 2001-11-12 | 2001-11-12 | Drifftkompensering för elektronmikroskop |
SE0103779A SE0103779D0 (sv) | 2001-11-12 | 2001-11-12 | Förbättring av elektronmikroskop |
PCT/SE2002/001385 WO2003007328A1 (en) | 2001-07-13 | 2002-07-12 | Device for reducing the impact of distortions in a microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ATE450880T1 true ATE450880T1 (de) | 2009-12-15 |
Family
ID=27354736
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
AT02746290T ATE450880T1 (de) | 2001-07-13 | 2002-07-12 | Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6924489B2 (de) |
EP (1) | EP1451848B1 (de) |
JP (1) | JP2005520281A (de) |
AT (1) | ATE450880T1 (de) |
DE (1) | DE60234633D1 (de) |
WO (1) | WO2003007328A1 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007142308A1 (ja) | 2006-06-07 | 2007-12-13 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | 含窒素ヘテロ環化合物及びトロンボポエチンレセプター活性化剤 |
US9403641B1 (en) | 2013-11-27 | 2016-08-02 | Amrep, Inc. | Side loader arm for refuse collection vehicle |
EP2966668B1 (de) | 2014-07-10 | 2016-10-12 | Fei Company | Verfahren zur Kalibrierung eines Transmissions-Rasterelektronenmikroskops |
CN105372453A (zh) * | 2015-12-05 | 2016-03-02 | 郑州铁路职业技术学院 | 一种医学检验显微镜 |
EP4199030A1 (de) * | 2021-12-15 | 2023-06-21 | FEI Company | Thermische driftkorrektur basierend auf thermischer modellierung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63202834A (ja) * | 1987-02-17 | 1988-08-22 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡のドリフト補正装置 |
JPH01316602A (ja) * | 1988-06-16 | 1989-12-21 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡組込型走査トンネル顕微鏡 |
JPH0224951A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Jeol Ltd | 試料位置のドリフト補正方式 |
DE69131528T2 (de) * | 1990-05-30 | 2000-05-04 | Hitachi Ltd | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung eines sehr kleinen Bereichs einer Probe |
US5107113A (en) * | 1990-12-26 | 1992-04-21 | Bell Communications Research, Inc. | Method and apparatus for correcting distortions in scanning tunneling microscope images |
JPH07272665A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Hitachi Ltd | 透過形電子顕微鏡 |
JPH08273570A (ja) * | 1995-03-29 | 1996-10-18 | Jeol Ltd | 試料に対する精密作業を行う装置 |
JPH08321274A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-12-03 | Hitachi Ltd | 電子顕微鏡のアクティブ除振装置 |
JPH10302697A (ja) * | 1997-04-23 | 1998-11-13 | Hitachi Ltd | 荷電粒子線顕微鏡 |
JP2000035391A (ja) * | 1998-07-16 | 2000-02-02 | Seiko Instruments Inc | 薄片化加工時の試料歪除去方法 |
-
2002
- 2002-07-12 WO PCT/SE2002/001385 patent/WO2003007328A1/en active Application Filing
- 2002-07-12 AT AT02746290T patent/ATE450880T1/de not_active IP Right Cessation
- 2002-07-12 DE DE60234633T patent/DE60234633D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-07-12 EP EP02746290A patent/EP1451848B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-07-12 JP JP2003513000A patent/JP2005520281A/ja active Pending
-
2004
- 2004-01-13 US US10/756,726 patent/US6924489B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1451848B1 (de) | 2009-12-02 |
EP1451848A1 (de) | 2004-09-01 |
JP2005520281A (ja) | 2005-07-07 |
WO2003007328A1 (en) | 2003-01-23 |
US6924489B2 (en) | 2005-08-02 |
DE60234633D1 (de) | 2010-01-14 |
US20040195523A1 (en) | 2004-10-07 |
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