ATE450880T1 - Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop - Google Patents

Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop

Info

Publication number
ATE450880T1
ATE450880T1 AT02746290T AT02746290T ATE450880T1 AT E450880 T1 ATE450880 T1 AT E450880T1 AT 02746290 T AT02746290 T AT 02746290T AT 02746290 T AT02746290 T AT 02746290T AT E450880 T1 ATE450880 T1 AT E450880T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
reducing
distortions
microscope
effect
micro
Prior art date
Application number
AT02746290T
Other languages
English (en)
Inventor
Hakan Olin
Krister Svensson
Fredrik Althoff
Andrey Danilov
Paul Bengtsson
Martin Hospers
Original Assignee
Nanofactory Instruments Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from SE0102498A external-priority patent/SE0102498D0/xx
Priority claimed from SE0103782A external-priority patent/SE0103782D0/xx
Priority claimed from SE0103779A external-priority patent/SE0103779D0/xx
Application filed by Nanofactory Instruments Ab filed Critical Nanofactory Instruments Ab
Application granted granted Critical
Publication of ATE450880T1 publication Critical patent/ATE450880T1/de

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/20Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y35/00Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/86Scanning probe structure
    • Y10S977/872Positioner

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
AT02746290T 2001-07-13 2002-07-12 Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop ATE450880T1 (de)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0102498A SE0102498D0 (sv) 2001-07-13 2001-07-13 Vibrationsdämpningsmetod för mikroskop
SE0103782A SE0103782D0 (sv) 2001-11-12 2001-11-12 Drifftkompensering för elektronmikroskop
SE0103779A SE0103779D0 (sv) 2001-11-12 2001-11-12 Förbättring av elektronmikroskop
PCT/SE2002/001385 WO2003007328A1 (en) 2001-07-13 2002-07-12 Device for reducing the impact of distortions in a microscope

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE450880T1 true ATE450880T1 (de) 2009-12-15

Family

ID=27354736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT02746290T ATE450880T1 (de) 2001-07-13 2002-07-12 Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6924489B2 (de)
EP (1) EP1451848B1 (de)
JP (1) JP2005520281A (de)
AT (1) ATE450880T1 (de)
DE (1) DE60234633D1 (de)
WO (1) WO2003007328A1 (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007142308A1 (ja) 2006-06-07 2007-12-13 Nissan Chemical Industries, Ltd. 含窒素ヘテロ環化合物及びトロンボポエチンレセプター活性化剤
US9403641B1 (en) 2013-11-27 2016-08-02 Amrep, Inc. Side loader arm for refuse collection vehicle
EP2966668B1 (de) 2014-07-10 2016-10-12 Fei Company Verfahren zur Kalibrierung eines Transmissions-Rasterelektronenmikroskops
CN105372453A (zh) * 2015-12-05 2016-03-02 郑州铁路职业技术学院 一种医学检验显微镜
EP4199030A1 (de) * 2021-12-15 2023-06-21 FEI Company Thermische driftkorrektur basierend auf thermischer modellierung

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63202834A (ja) * 1987-02-17 1988-08-22 Jeol Ltd 電子顕微鏡のドリフト補正装置
JPH01316602A (ja) * 1988-06-16 1989-12-21 Jeol Ltd 電子顕微鏡組込型走査トンネル顕微鏡
JPH0224951A (ja) * 1988-07-14 1990-01-26 Jeol Ltd 試料位置のドリフト補正方式
DE69131528T2 (de) * 1990-05-30 2000-05-04 Hitachi Ltd Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung eines sehr kleinen Bereichs einer Probe
US5107113A (en) * 1990-12-26 1992-04-21 Bell Communications Research, Inc. Method and apparatus for correcting distortions in scanning tunneling microscope images
JPH07272665A (ja) * 1994-03-31 1995-10-20 Hitachi Ltd 透過形電子顕微鏡
JPH08273570A (ja) * 1995-03-29 1996-10-18 Jeol Ltd 試料に対する精密作業を行う装置
JPH08321274A (ja) * 1995-05-25 1996-12-03 Hitachi Ltd 電子顕微鏡のアクティブ除振装置
JPH10302697A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Hitachi Ltd 荷電粒子線顕微鏡
JP2000035391A (ja) * 1998-07-16 2000-02-02 Seiko Instruments Inc 薄片化加工時の試料歪除去方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1451848B1 (de) 2009-12-02
EP1451848A1 (de) 2004-09-01
JP2005520281A (ja) 2005-07-07
WO2003007328A1 (en) 2003-01-23
US6924489B2 (en) 2005-08-02
DE60234633D1 (de) 2010-01-14
US20040195523A1 (en) 2004-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE520466T1 (de) Apparat und verfahren zur modifizierung von magnetisch inmmobilizierte biomolekulen
ATE464112T1 (de) Wabenförmiger filter
DE60103608D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Analyse der Wellenform eines Quellenstroms in einer integrierten Halbleiterschaltung
DK1410029T3 (da) Opstillinger af buffere til analyse af biomolekyler ved deres isoelektriske punkt
ATE488982T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bereitstellung eines substrats mit viskosem medium und verwendung eines jet-mittels zur korrektur von auftragfehlern
ATE366923T1 (de) Vorrichtung zur referenzierung von fluoreszenzsignalen
ATE321355T1 (de) Nanorohrbasierter elektronenemitter und verfahren zur dessen verwendung
ATE332624T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur steuerung von betriebsmitteln für mindestens ein elektrisches leuchtmittel
DE60308050D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur vorbehandlung von proben durch zentrifugieren
DE602004017655D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Testen elektrischer Eigenschaften eines zu prüfenden Objekts
DE602006000109D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verringerung von Geräuschbeeinträchtigung eines alternativen Sensorsignals während multisensorischer Sprachverstärkung
TW200641366A (en) Apparatus, program, and method for substrate inspection
DE602006018183D1 (de) Verfahren zum in-vitro-nachweis einer veranlagung zur entwicklung von veränderungen der ovarienfunktion
DE602007008994D1 (de) Tischsäge mit Spaltkeilsystem und Verfahren zur Verwendung einer Tischsäge mit Spaltkeilsystem
GB2383848A (en) Method for evaluating creep lifetime
DE60235973D1 (de) Verfahren und mittel zur fitness-bestimmung in pflanzen
DE602005012187D1 (de) Vorrichtung zur Überwachung einer optischen Wellenform und Oszilloskop
ATE512455T1 (de) Vorrichtung und methode zur untersuchung oder modifizierung einer oberfläche mittels ladungsträgerstrahls
ATE450880T1 (de) Einrichtung und verfahren zur verringerung der auswirkung von verzerrungen in einem mikroskop
ATE377343T1 (de) Leiterplatte mit einer haltevorrichtung zum halten bedrahteter elektronischer bauteile, verfahren zur herstellung einer solchen leiterplatte und deren verwendung in einem lötofen
DE602004010520D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bereitstellung einer agc-funktion durch verwendung mehrerer rückkopplungsquellen
ATE546723T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur untersuchung der materialeigenschaften mindestens einer von zwei gegeneinander bewegter proben
ATE303863T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur integrierten synthese und analytbestimmung an einem träger
ATE434775T1 (de) Verfahren zur strukturierung eines substrats und vorrichtung hierzu
DE602004001838D1 (de) Verfahren zur Abtrennung von Wasser aus Ammoniak

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties