AT337779B - Verfahren zum kontaktieren einer halbleiterscheibe - Google Patents

Verfahren zum kontaktieren einer halbleiterscheibe

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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
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AT658871A 1970-08-18 1971-07-28 Verfahren zum kontaktieren einer halbleiterscheibe AT337779B (de)

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DE2041035A DE2041035C2 (de) 1970-08-18 1970-08-18 Verfahren zum gleichzeitigen elektrolytischen in bezug auf die Sperrfähigkeit selektiven Behandeln von mehreren in einer gemeinsamen Halbleiterscheibe erzeugten gleichen Halbleiterbauelementen

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ATA658871A ATA658871A (de) 1976-11-15
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FR (1) FR2102327B1 (de)
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CA932880A (en) 1973-08-28
FR2102327A1 (de) 1972-04-07
NL7111385A (de) 1972-02-22
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SE376685B (de) 1975-06-02
JPS579217B1 (de) 1982-02-20
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ATA658871A (de) 1976-11-15
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CH524827A (de) 1972-06-30
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