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Photoelektrischer Belichtungsmesser.
Es sind photoelektrische Belichtungsmesser bekannt, bei denen mehrere Widerstände verwendet werden, die einzeln mit den ihnen zugeordneten, die Belichtung beeinflussenden Organen (Blende, Zeiteinstellung usw.) verbunden sind. In den Stromkreis ist die Sperrschichtzelle geschaltet, die entsprechend der Intensität des in sie fallenden Lichtes die Stromstärke steuert. Bei den gegebenen verschiedenen Beleuchtungsstärken dienen dabei die Widerstände zur Einregulierung der Stromstärke auf einen konstanten Wert.
Die bekannten Belichtungsmesser weisen jedoch eine Sperrschieht- zelle auf, die auf die Verwendung mehrerer Widerstände nicht im erforderlichen Masse abgestimmt ist, so dass, eine bestimmte Beleuchtung und dadurch bedingte Stromstärke vorausgesetzt, bei Änderung eines die Belichtung beeinflussenden Wertes (beispielsweise der Zeiteinstellung) nicht eine solche Änderung eines ändern Wertes (beispielsweise der Blendeneinstellung) stattfindet, die der bestimmten Beleuchtung genau entsprechen würde. Dieser Nachteil ist dadurch bedingt, dass die Charakteristik des äusseren Widerstandes von der oft komplizierten Charakteristik der Sperrschichtzelle abhängt.
Bei der Einregulierung der Stromstärke ergibt sich dadurch bei Änderung der einen Widerstandslänge nicht in allen Fällen einer dieser Änderung genau entsprechende Verstellung des andern Widerstandes und des damit verbundenen Organs.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, einen mit mehreren Widerständen versehenen photoelektrischen Belichtungsmesser zu schaffen, bei dem jede beliebige Anderung eines die Belichtung beeinflussenden Wertes durch eine entsprechende Änderung eines andern Wertes bei jeder Beleuchtungstärke genau ausgeglichen wird, so dass bei beliebiger gegenseitiger Abstufung der einzelnen Belichtungwerte unter allen Umständen richtige Belichtung gewährleistet ist. Voraussetzung hiefür ist die Erzielung einer geradlinigen Widerstandseharakteristik, also geradliniges Anwachsen des Widerstandswertes mit der Widerstandslänge.
Der Erfindung gemäss wird dies durch eine Sperrschichtzelle mit solcher Charakteristik erreicht, dass der in den Stromkreis einzuschaltende Widerstand dem Logarithmus des auf die Zelle fallenden Lichtstroms proportional ist. Ändert man beispielsweise bei gleichbleibender Zeiteinstellung und gleicher Plattenempfindliehkeit mit Rücksicht auf geänderte Beleuchtung die Blendeneinstellung, so entspricht jedem Blendenintervall jeweils die doppelte Beleuchtungsstärke.
Wenn man also in der Darstellung der Fig. 1 die Beleuehtungsstärke in logarithmischem Massstabe aufträgt, so ist die dargestellte Abhängigkeit zwischen Beleuchtungsstärke und äusserem Widerstand geradlinig.
Um einen photoelektrischen Belichtungsmesser gemäss der Erfindung zu erhalten, können verschiedene Wege beschritten werden. So kann beispielsweise die erfindungsgemässe Sperrsehicht- zelle dadurch erhalten werden, dass man eine grössere Zahl von Zellen herstellt, ihre Charakteristiken untersucht und nun diejenigen auswählt, die die ganz bestimmte Beschaffenheit aufweisen. Die Sperrschichtzelle kann auch dadurch hergestellt werden, dass man der lichtelektriseh wirksamen Fläche bestimmte geometrische Abmessungen erteilt, gegebenenfalls auch für die Anbringung des Zuführungsdrahtes eine geeignete Stelle der lichtelektrischen Schicht auswählt. Oder es kann die Sperrschichtzelle auch dadurch erhalten werden, dass man von der lichtelektrisch wirksamen Fläche nur einen bestimmten Teil für die Belichtung freigibt.
Daneben sind noch andere Möglichkeiten gegeben, um auf rein empirischem Wege die Zelle auf die angegebene besondere Beschaffenheit abzustimmen.
Die vorliegende Erfindung hat einen solchen Belichtungsmesser (Fig. 2) zum Gegenstand, bei dem der Stromkreis aus der Photozelle 1, die eine Charakteristik gemäss Fig. 1 besitzt, dem Mess-
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instrument 2 und den Widerständen 3 und 4 besteht. Es können auch mehr als zwei Widerstände vorhanden sein.