JP2000251720A - Sealing method and manufacturing device for image display device - Google Patents

Sealing method and manufacturing device for image display device

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JP2000251720A
JP2000251720A JP11049210A JP4921099A JP2000251720A JP 2000251720 A JP2000251720 A JP 2000251720A JP 11049210 A JP11049210 A JP 11049210A JP 4921099 A JP4921099 A JP 4921099A JP 2000251720 A JP2000251720 A JP 2000251720A
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JP
Japan
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sealing
temperature
electron
image display
vacuum
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JP11049210A
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Japanese (ja)
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Hidehiko Fujimura
秀彦 藤村
Masaaki Ogura
全昭 小倉
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize activation of a getter at a low temperature and for a short time, by setting the temperature of a part or whole of a non-evaporation getter lower than a sealing temperature when a sealing material is heated to the sealing temperature, is melted, and is sealed. SOLUTION: For performing vacuum sealing where the temperature of an in-surface non-evaporation getter 109 is controlled lower than a sealing temperature, a rear plate 103 is loaded on an assist heating hot plate 120' on an adjusting stage and a flit indirect heating hot plate 121', and an outer frame 104 is placed on the rear plate 103. A face plate 101 having exhaust pipes 111, 111' is held on an assist heating hot plate 120 and a flit indirect heating hot plate 121. A hot plate has two structures of the assist heating hot plates 120, 120' whose upper and lower parts control temperature of the in-surface non- evaporation getter 109, and the flit indirect heating hot plates 121, 121' for melting and heating flit glasses 110, 110'.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、画像形成装置の封
着方法及び製造装置に関し、特に、冷陰極電子放出源を
用いた平面型画像表示装置をフリットガラス(低融点ガ
ラス)を用いて封着する製造方法及び製造装置に好適に
用いることができる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sealing method and a manufacturing apparatus for an image forming apparatus, and more particularly, to a flat type image display apparatus using a cold cathode electron emission source using frit glass (low melting glass). It can be suitably used for a manufacturing method and a manufacturing apparatus to be worn.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、内部を真空維持する画像表示装置
を製造する際には、ガラス部材の間にシール材であるフ
リットガラスを塗布または載置して、電気炉等の封着炉
に入れ、又はホットプレートヒーターに載せ(上下から
ホットプレートヒーターで挟む場合もある)画像表示装
置全体を封着温度に加熱して封着部分のガラス部材を封
着ガラスで融着する封着方法が採られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when manufacturing an image display device in which the inside is maintained in a vacuum, a frit glass as a sealing material is applied or placed between glass members and put in a sealing furnace such as an electric furnace. Alternatively, the entire image display device is placed on a hot plate heater (in some cases, sandwiched between the hot plate heaters from above and below), and the entire image display device is heated to a sealing temperature, and the glass member at the sealed portion is fused with sealing glass. Have been.

【0003】また、電子源を用いた平面型画像表示装置
は、冷陰極電子放出素子等を安定に長時間動作させるた
めに、超高真空を必要とするため、複数の電子放出素子
を有する基板と、これに対向する位置に蛍光体を有する
基板とを、枠を挟んでフリットガラスにより封着され、
放出ガスを吸着して真空維持するゲッタが具備されてい
る。
Further, a flat-panel image display device using an electron source requires an ultra-high vacuum in order to stably operate a cold cathode electron-emitting device and the like for a long period of time, so that a substrate having a plurality of electron-emitting devices is required. And, a substrate having a phosphor at a position opposed thereto is sealed with frit glass across a frame,
A getter for adsorbing the released gas and maintaining a vacuum is provided.

【0004】ゲッタには蒸着型と非蒸発型とがあり、蒸
着型ゲッタはBa等を主成分とする合金を、真空ガラス
外囲器内で通電あるいは高周波により加熱し、容器内壁
に蒸着膜を形成(ゲッタフラッシュ)し、活性したゲッ
タ金属面により内部で発生したガスを吸着して高真空を
維持している。非蒸発型ゲッタは、Ti、Zr、V、A
l、Fe等のゲッタ材を配置し、真空中で加熱してガス
吸着特性を得る「ゲッタ活性化」を行うことにより、放
出ガスを吸着するようにすることができる。
There are two types of getters: a vapor deposition type and a non-evaporation type. The vapor deposition type getter heats an alloy containing Ba or the like as a main component in a vacuum glass envelope by energization or high frequency to form a vapor deposition film on the inner wall of the container. Formed (getter flash), the gas generated inside is absorbed by the activated getter metal surface, and a high vacuum is maintained. Non-evaporable getters include Ti, Zr, V, A
By arranging a getter material such as 1 or Fe and performing "getter activation" to obtain gas adsorption characteristics by heating in a vacuum, the released gas can be adsorbed.

【0005】一般に、平面型画像表示装置は薄く、蒸着
型ゲッタの設置領域やフラッシュ領域が十分確保でき
ず、画像表示エリア外の支持枠近傍に設置している。よ
って、画像表示の中央部とゲッタ設置領域とのコンダク
タンスが小さくなり、電子放出素子や蛍光体の中央部で
の実効排気速度が小さくなってしまう。電子源と画像表
示部材とを有する画像表示装置において、ガスを発生さ
せる部分は、主に電子ビームにより照射される画像表示
領域である。
[0005] Generally, the flat-panel image display device is thin, and the installation area and flash area of the vapor deposition type getter cannot be sufficiently secured. Therefore, it is installed near the support frame outside the image display area. Therefore, the conductance between the central portion of the image display and the getter installation region is reduced, and the effective pumping speed at the central portion of the electron-emitting device or the phosphor is reduced. In an image display device having an electron source and an image display member, a portion for generating gas is an image display area mainly irradiated with an electron beam.

【0006】そのため、蛍光体及び電子源を高真空で保
持したい場合には、放出ガスの発生源である蛍光体や電
子源近傍に、非蒸発型ゲッタを配置する必要がある。従
来のCRTの場合には、蛍光体とゲッタ膜との間のコン
ダクタンスは、平面型画像表示装置に比べてかなり大き
い。そのため、実効排気速度は平面型画像表示装置に比
べてかなり大きくなる。
Therefore, when it is desired to maintain the phosphor and the electron source in a high vacuum, it is necessary to dispose a non-evaporable getter near the phosphor and the electron source, which are the emission gas generating sources. In the case of a conventional CRT, the conductance between the phosphor and the getter film is much larger than that of a flat panel display. Therefore, the effective pumping speed is considerably larger than that of the flat panel display.

【0007】よって、電子照射により蛍光体から放出さ
れたガスはCRT内のゲッタ領域によって有効に排気さ
れるので、蛍光体から放出されるガスが速やかにゲッタ
により吸着排気され、CRT内の圧力は平面型画像表示
装置に比べ低く維持できる。また電子源の周りにもゲッ
タ膜があるため、電子源自体から放出されたガスによっ
ても極端な圧力上昇は生じない。
Therefore, the gas emitted from the phosphor by the electron irradiation is effectively exhausted by the getter region in the CRT, so that the gas emitted from the phosphor is quickly adsorbed and exhausted by the getter, and the pressure in the CRT is reduced. It can be kept low compared to the flat panel display. Further, since there is a getter film around the electron source, an extreme pressure increase does not occur even by the gas emitted from the electron source itself.

【0008】発生したガスは、電子源あるいは蛍光体を
劣化させるため長時間駆動することによって画像形成表
示部の輝度が減少してしまう。また、発生したガスの一
部はイオン化し放電の原因にもなってしまい、電子源を
破壊したりする場合がある。
[0008] The generated gas deteriorates the electron source or the phosphor and is driven for a long time, so that the brightness of the image forming and displaying section is reduced. Further, a part of the generated gas is ionized to cause a discharge, which may destroy the electron source.

【0009】このような事情を考慮して、米国特許 5,4
53,659号“Anode Plate for Flat Panel Display havin
g Integrated Getter ”,issured 26 Sept. 1995 to W
allace et al. では、画像表示部材(アノードプレー
ト)上のストライプ状の蛍光体同士の隙間に、ゲッタ部
材を形成したものが開示されている。この例では、ゲッ
タ材は、蛍光体及びそれと電気的に接続された誘電体と
は電気的に分離されており、ゲッタに適当な電位を与え
て電子源の放出した電子を照射・加熱することで、ゲッ
タの活性化を行うものである。
In view of such circumstances, US Pat.
No. 53,659 “Anode Plate for Flat Panel Display havin
g Integrated Getter ”, issured 26 Sept. 1995 to W
Allace et al. discloses that a getter member is formed in a gap between stripe-shaped phosphors on an image display member (anode plate). In this example, the getter material is electrically separated from the phosphor and the dielectric electrically connected to the phosphor, so that an appropriate potential is applied to the getter to irradiate and heat the electrons emitted from the electron source. Then, the getter is activated.

【0010】また、従来から電子放出素子としては大別
して熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子とを用いた2
種類のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電
界放出型(以下、「FE型」と称する。)、金属/絶縁
層/金属型(以下、「MIM型」と称する。)や表面伝
導型電子放出素子等がある。FE型の例としては W.P.D
yke & W.W. Dolan, “Field emission”,Advance in E
lectoron Physics, 8,89 (1956) あるいは C.A. Spind
t, “PHYSICAL Properties of thin-film fieldemissio
n cathodes with molybdenium cones ”,J. Appl. Phy
s., 47, 5248 (1976) 等に開示されたものが知られてい
る。
Conventionally, electron emission devices are roughly classified into two types: a thermionic emission device and a cold cathode electron emission device.
Kinds are known. The cold cathode electron emitting device includes a field emission type (hereinafter, referred to as “FE type”), a metal / insulating layer / metal type (hereinafter, referred to as “MIM type”), a surface conduction type electron emitting device, and the like. . WPD is an example of FE type
yke & WW Dolan, “Field emission”, Advance in E
lectoron Physics, 8,89 (1956) or CA Spind
t, “PHYSICAL Properties of thin-film fieldemissio
n cathodes with molybdenium cones ", J. Appl. Phy
s., 47, 5248 (1976).

【0011】MIM型の例としては C.A. Mead, “Oper
ation of Tunnel-Emission Devices”,J. Apply. Phy
s., 32, 646 (1961) 等に開示されたものが知られてい
る。
As an example of the MIM type, CA Mead, “Oper
ation of Tunnel-Emission Devices ”, J. Apply. Phy
s., 32, 646 (1961).

【0012】表面伝導型電子放出素子型の例としては、
M.I. Elinson, Recio Eng. Electron Phys., 10, 1290,
(1965) 等に開示されたものがある。
Examples of the surface conduction electron-emitting device type include:
MI Elinson, Recio Eng. Electron Phys., 10, 1290,
(1965).

【0013】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。こ
の表面伝導型電子放出素子としては、前記エリンソン等
によるSiO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの
[G. Dittmer:“Thin Solid Films”,9, 317 (1972)
],In2 3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwel
l and C.G. Fonstad :“IEEE Trans. ED Conf.”519
(1975)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真
空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
The surface conduction electron-emitting device utilizes the phenomenon that electron emission occurs when a current flows through a small-area thin film formed on a substrate in parallel with the film surface. Examples of the surface conduction electron-emitting device include a device using an SiO 2 thin film by Elinson et al. And a device using an Au thin film [G. Dittmer: “Thin Solid Films”, 9, 317 (1972)
], In 2 O 3 / SnO 2 thin film [M. Hartwel
l and CG Fonstad: “IEEE Trans. ED Conf.” 519
(1975)], and those using a carbon thin film [Hisashi Araki et al .: Vacuum, Vol. 26, No. 1, p. 22 (1983)] and the like have been reported.

【0014】これら冷陰極電子放出素子から発生した電
子ビームにより蛍光体を発光させるフラットパネルの画
像形表示装置の開発が行われている。表面伝導型電子放
出素子は、一部に高抵抗部を有する導電性薄膜に電流を
流すことにより、電子が放出されるもので、本出願人に
よる出願、特開平7−235255号公報にその一例が
示されている。
A flat panel image type display device which emits a fluorescent material by an electron beam generated from these cold cathode electron-emitting devices has been developed. A surface conduction electron-emitting device emits electrons by passing a current through a conductive thin film having a high resistance part in one part. An example of such a device is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-235255. It is shown.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の画像表
示装置の封着方法では、以下の様な問題点があった。
However, the conventional sealing method for an image display device has the following problems.

【0016】上述の様に、平面型画像表示装置において
は、放出ガスの発生源である蛍光体や電子源近傍に非蒸
発型ゲッタが配置されている。従来の封着部分以外のガ
ラス外囲器全体を封着温度に加熱して、封着部分のフリ
ットガラスを融着すると、非蒸発型ゲッタが封着時に悪
影響を受け、後の吸着特性を得るための「ゲッタ活性
化」条件がより厳しくなる場合があった。
As described above, in the flat-panel image display device, the non-evaporable getter is arranged in the vicinity of the phosphor or electron source which is the source of the emitted gas. When the entire glass envelope other than the conventional sealing portion is heated to the sealing temperature and the frit glass of the sealing portion is fused, the non-evaporable getter is adversely affected at the time of sealing, and the subsequent adsorption characteristics are obtained. "Getter activation" conditions may become more severe.

【0017】すなわち、非蒸発型ゲッタを具備した領域
の封着温度が高温であると、非蒸発型ゲッタがダメージ
を受け、吸着特性を得るためには、その後に高温の加熱
によるゲッタ活性化を行わなければならなくなる。
That is, if the sealing temperature of the region provided with the non-evaporable getter is high, the non-evaporable getter is damaged, and the getter must be activated by high-temperature heating to obtain the adsorption characteristics. You have to do it.

【0018】この際、例えば前述の米国特許 5,453,659
号のように、ゲッタに適当な電位を与えて電子源の放出
した電子を照射・加熱したり、非蒸発型ゲッタのみへの
通電手段等の加熱手段や工程を別途設けたりする必要が
ある。更に活性化温度が低いゲッタでは、非蒸発型ゲッ
タの封着温度が高温であると、ゲッタ活性化ができず、
殆ど吸着特性が得られなくなってしまうものもある。
At this time, for example, the aforementioned US Pat. No. 5,453,659
It is necessary to irradiate and heat the electrons emitted from the electron source by applying an appropriate potential to the getter, or to separately provide a heating means such as a means for supplying electricity only to the non-evaporable getter and a process, as shown in FIG. Further, in a getter having a low activation temperature, if the sealing temperature of the non-evaporable getter is high, the getter cannot be activated,
In some cases, adsorption characteristics can hardly be obtained.

【0019】本発明は、上記従来技術の問題点を解決す
るために、非蒸発型ゲッタが封着時に受けるダメージを
より小さくして、低温又はより短時間のゲッタ活性化を
可能とし、更に好ましくは、内部を真空維持するガラス
外囲器の製造工程に不可欠な真空ベーキング工程がゲッ
タ活性化工程を兼ねることができる画像表示装置の封着
方法を提供することを目的とする。
In order to solve the above-mentioned problems of the prior art, the present invention makes it possible to reduce the damage to the non-evaporable getter at the time of sealing and to activate the getter at a low temperature or for a shorter time. An object of the present invention is to provide a method of sealing an image display device in which a vacuum baking step indispensable for a manufacturing process of a glass envelope for maintaining a vacuum inside can also serve as a getter activation step.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、電子放出素子を配置した第1の基板と、
前記電子放出素子から放出される電子を受けて発光する
蛍光体を配置した第2の基板とこれらを支持する支持体
とを備え、内部に非蒸発型ゲッタを具備し、封着材を介
して接合する画像形成装置の封着方法において、前記画
像形成装置を真空中に保持し、前記封着材を封着温度に
加熱溶融し封着するときに、前記非蒸発型ゲッタの一部
もしくは全部を前記封着温度未満の温度としている。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a first substrate having an electron-emitting device disposed thereon,
A second substrate on which a phosphor that receives and emits electrons emitted from the electron-emitting device is disposed, and a support that supports them is provided.A non-evaporable getter is provided inside, and a sealing material is interposed therebetween. In the sealing method of the image forming apparatus to be joined, when the image forming apparatus is held in a vacuum and the sealing material is heated and melted at a sealing temperature to be sealed, a part or all of the non-evaporable getter is provided. Is lower than the sealing temperature.

【0021】また、本発明は、電子放出素子を配置した
第1の基板と、前記電子放出素子から放出される電子を
受けて発光する蛍光体を配置した第2の基板とこれらを
支持する支持体とを備え、内部に非蒸発型ゲッタを具備
し、封着材を介して接合する画像形成装置の製造装置に
おいて、前記画像形成装置を真空中に保持する手段と、
前記封着材を封着温度に加熱溶融し封着するときに、前
記非蒸発型ゲッタの一部もしくは全部を前記封着温度未
満の温度とする手段とを有している。
According to the present invention, there is provided a first substrate on which an electron-emitting device is arranged, a second substrate on which a phosphor which emits light by receiving electrons emitted from the electron-emitting device, and a support for supporting these. Body, comprising a non-evaporable getter inside, in an apparatus for manufacturing an image forming apparatus joined via a sealing material, means for holding the image forming apparatus in a vacuum,
Means for setting a part or the entirety of the non-evaporable getter to a temperature lower than the sealing temperature when the sealing material is heated and melted to a sealing temperature and sealed.

【0022】すなわち、本発明の画像形成装置の封着方
法によれば、非蒸発型ゲッタの封着時の温度を封着温度
より低くすることによって、非蒸発型ゲッタのダメージ
を受けなくする。また、真空中で画像形成装置の製造を
行うことにより、いっそう非蒸発型ゲッタの劣化を抑制
する。
That is, according to the sealing method of the image forming apparatus of the present invention, the temperature of the non-evaporable getter at the time of sealing is made lower than the sealing temperature, thereby preventing the non-evaporable getter from being damaged. Further, by manufacturing the image forming apparatus in a vacuum, the deterioration of the non-evaporable getter is further suppressed.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の実
施形態を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0024】なお、本発明の本質は、画像形成装置の封
着方法に関するものであるので表面伝導型あるいは電界
放出型の電子放出素子を用いた画像表示装置の封着方法
に限らず、電子放出素子を用いた画像形成装置の封着方
法に適応できるのはいうまでもない。
The essence of the present invention relates to a sealing method for an image forming apparatus, and is not limited to a sealing method for an image display apparatus using a surface conduction type or a field emission type electron emitting element. It goes without saying that the present invention can be applied to a sealing method of an image forming apparatus using an element.

【0025】本実施形態では、冷陰極電子放出素子であ
る表面伝導型電子放出素子を電子放出素子として、複数
個リアプレートに形成し、蛍光面(フェースプレート)
を設置し、有効表示エリアを対角15インチとする縦と
横の比が3:4のカラー画像表示装置を作成する。ま
ず、本発明の画像表示装置を図1および図2を用いて説
明し、次にその製造方法を説明する。
In this embodiment, a plurality of surface conduction electron-emitting devices, which are cold cathode electron-emitting devices, are formed on the rear plate as electron-emitting devices, and a fluorescent screen (face plate) is formed.
Is provided, and a color image display device having an effective display area of 15 inches diagonally and a length to width ratio of 3: 4 is created. First, an image display device of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2, and then a method of manufacturing the image display device will be described.

【0026】図1は、本実施形態に用いた画像表示装置
の斜視図である。内部構造を示すためにパネルの一部は
切り欠いている。
FIG. 1 is a perspective view of the image display device used in the present embodiment. Parts of the panel are cut away to show the internal structure.

【0027】図1において、1はフェースプレート、8
はリアプレート、9は支持枠、であり、1,8,9によ
り表示パネルの内部を真空に維持するための気密容器を
形成している。気密容器を組み立てるにあたっては、各
部材の接合に十分な強度と気密性とを保持させるため封
着する必要がある。
In FIG. 1, 1 is a face plate, 8
Denotes a rear plate, 9 denotes a support frame, and 1, 8, 9 form an airtight container for maintaining the inside of the display panel at a vacuum. When assembling the airtight container, it is necessary to seal each member so as to maintain sufficient strength and airtightness for joining.

【0028】また、7及び7′は封着時にパネル内の残
留ガス及び真空排気時の放出ガスを排気するための排気
管である。これらは、活性化工程以降を実施するため気
密容器内を真空に排気するときに真空装置に接続する。
また、これらの排気管7及び7′は、プロセス工程中に
発生する活性化工程での活性化ガスのガス導入管7及び
排気管7′としても利用する。
Reference numerals 7 and 7 'denote exhaust pipes for exhausting the residual gas in the panel at the time of sealing and the exhaust gas at the time of evacuation. These are connected to a vacuum device when the inside of the airtight container is evacuated to vacuum in order to carry out the activation step and thereafter.
These exhaust pipes 7 and 7 'are also used as a gas introduction pipe 7 and an exhaust pipe 7' for an activation gas in an activation step generated during a process step.

【0029】さらに、16は排気管を封止した後の気密
容器内の真空を維持するためのBa蒸発型ゲッタであ
る。Ba蒸発型ゲッタ16は、高温に加熱することによ
りBa蒸着膜を形成する。Ba蒸着膜は、非常に活性な
膜であり不活性ガス以外のガスに対して吸着排気能力を
有している優れた真空ポンプとしての役割がある。
Reference numeral 16 denotes a Ba evaporation type getter for maintaining a vacuum in the airtight container after sealing the exhaust pipe. The Ba evaporation type getter 16 forms a Ba vapor deposition film by heating to a high temperature. The Ba vapor-deposited film is a very active film and has a role as an excellent vacuum pump having the ability to adsorb and exhaust gases other than the inert gas.

【0030】リアプレート8上には、表面伝導型電子放
出素子19を、N×M個形成している。(N,Mは2以
上の正の整数で、目的とする表示画素数に応じ適宜設定
される。)表面伝導型電子放出素子19は、M本の列方
向配線12(下配線とも称する。)とN本の行方向配線
14(上配線とも称する。)により単純マトリクス配線
している。
On the rear plate 8, N × M surface conduction electron-emitting devices 19 are formed. (N and M are positive integers of 2 or more and are appropriately set according to the target number of display pixels.) The surface conduction electron-emitting device 19 has M column-directional wirings 12 (also referred to as lower wirings). And the N row-directional wirings 14 (also referred to as upper wirings) are used for simple matrix wiring.

【0031】さらに、図1において、上配線14上に非
蒸発型ゲッタ18を配置しており、これは表面伝導型電
子放出素子19の近傍の圧力上昇を押さえるための真空
ポンプとしての役割がある。
Further, in FIG. 1, a non-evaporable getter 18 is arranged on the upper wiring 14 and serves as a vacuum pump for suppressing a pressure rise near the surface conduction electron-emitting device 19. .

【0032】図2は、表面伝導型電子放出素子19の構
成を示す模式図である。図2(a)は平面図、図2
(b)は図2(a)のA−A′での断面図である。図2
において、11(a)と11(b)は素子電極、15は
導電性薄膜、20は電子放出部である。なお、図1に示
した部材と同様の部材には、同一の符号を付している。
FIG. 2 is a schematic view showing the structure of the surface conduction electron-emitting device 19. FIG. 2A is a plan view and FIG.
FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. FIG.
In the figures, 11 (a) and 11 (b) are device electrodes, 15 is a conductive thin film, and 20 is an electron-emitting portion. The same members as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.

【0033】気密容器を排気管7及び7′を通して真空
に排気しながら、素子電極11(a),11(b)を通
じて、導電性薄膜15にフォーミング処理を施す。これ
によって、導電性薄膜15を局所的に破壊、変形もしく
は変質させ、電気的に高抵抗な状態にした電子放出部2
0を形成する。
While the airtight container is evacuated to vacuum through the exhaust pipes 7 and 7 ', the conductive thin film 15 is subjected to forming processing through the element electrodes 11 (a) and 11 (b). As a result, the conductive thin film 15 is locally destroyed, deformed or deteriorated, and the electron-emitting portion 2 is brought into an electrically high-resistance state.
0 is formed.

【0034】さらに、気密容器内の圧力が1×10-3
a以下になったら、気密容器内に排気管7を通して活性
化ガスとしてアセトンを1Pa程度導入する。放出電流
を著しく改善する活性化工程を行う。具体的には表面伝
導型電子放出素子19の素子電極11(a),11
(b)に電圧を印加し、素子に電流を流すことによっ
て、電子放出部20の活性化を行う。このように、たと
えば従来技術で述べた特開平7−235255号公報の
開示例と同様の工程で行う。
Further, when the pressure in the airtight container is 1 × 10 −3 P
When the pressure becomes equal to or less than a, acetone is introduced into the airtight container through the exhaust pipe 7 as an activation gas at about 1 Pa. An activation step for significantly improving the emission current is performed. Specifically, the device electrodes 11 (a), 11 of the surface conduction electron-emitting device 19
The electron emission unit 20 is activated by applying a voltage to (b) and causing a current to flow through the element. In this manner, for example, the process is performed in the same process as that disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-235255 described in the related art.

【0035】また、フェースプレート1は、ガラス基
板、透明導電膜ITO、蛍光体及びアルミニウムのメタ
ルバックから構成している。なお、本実施形態では、I
TO膜をフェースプレート1上に形成している。しか
し、これは、必ずしも設けなくともよいものである。本
実施形態では、カラー表示装置として説明するため、蛍
光体4の部分にはCRTの分野で用いられている赤、
緑、青の3原色の蛍光体が塗り分けている。また、3原
色の蛍光体はブラックストライプで分離されている。
The face plate 1 comprises a glass substrate, a transparent conductive film ITO, a phosphor and a metal back of aluminum. In the present embodiment, I
A TO film is formed on the face plate 1. However, this need not necessarily be provided. In the present embodiment, a description will be given of a color display device.
The phosphors of the three primary colors of green and blue are separately applied. The phosphors of the three primary colors are separated by black stripes.

【0036】また、D0x1〜D0xm及びD0y1〜D0ynなら
びにHvは、画像表示装置と図示しない電気回路とを電
気的に接続するために設けられた気密容器の電気接続用
端子である。D0x1〜D0xmはマルチ電子ビーム源の配列
配線12と、D0y1〜D0ynはマルチ電子ビーム源の行向
配線14と、Hvは蛍光面のメタルバック3に電気的に
接続されている。
D 0x1 to D 0xm, D 0y1 to D 0yn, and Hv are electric connection terminals of an airtight container provided for electrically connecting the image display device to an electric circuit (not shown). D 0x1 to D 0xm are electrically connected to the array wiring 12 of the multi electron beam source, D 0y1 to D 0yn are electrically connected to the row wiring 14 of the multi electron beam source, and Hv is electrically connected to the metal back 3 of the phosphor screen.

【0037】以上、本実施形態の製造方法によって製造
する画像表示装置について説明した。
The image display device manufactured by the manufacturing method of the present embodiment has been described above.

【0038】[0038]

【実施例】[実施例1]次に、図2を用いて本実施例の
画像表示装置の製造方法について説明する。
[Embodiment 1] Next, a method of manufacturing an image display device according to the present embodiment will be described with reference to FIG.

【0039】(リアプレート8の作成) (R−1) 青板ガラスを洗浄し、シリコン酸化膜17
をスパッタ法で形成したリアプレート8上に素子電極1
1(a),11(b)をオフセット印刷により形成し
た。下配線12をスクリーン印刷で形成した。次に、下
配線12と上配線14との間に層間絶縁膜13を形成し
た。さらに、上配線14を形成した。
(Preparation of Rear Plate 8) (R-1) The blue plate glass is washed and the silicon oxide film 17 is removed.
Is formed on the rear plate 8 formed by sputtering.
1 (a) and 11 (b) were formed by offset printing. The lower wiring 12 was formed by screen printing. Next, an interlayer insulating film 13 was formed between the lower wiring 12 and the upper wiring 14. Further, the upper wiring 14 was formed.

【0040】(R−2) 次いで、PdOからなる導電
性薄膜15をスパッタ法で形成した後、パターニング
し、所望の形態とした。
(R-2) Next, a conductive thin film 15 made of PdO was formed by a sputtering method and then patterned to obtain a desired form.

【0041】(R−3) さらに、ニクロムリボン上に
非蒸発型ゲッタが形成済みのゲッタ部材18(リボンゲ
ッタ)を上配線上に無機接着剤で固定した。本実施例で
は、非蒸発型ゲッタの主成分はZr、V、Mn等とした
がこれに限定されるものではない。
(R-3) Further, the getter member 18 (ribbon getter) having the non-evaporable getter formed on the nichrome ribbon was fixed on the upper wiring with an inorganic adhesive. In the present embodiment, the main components of the non-evaporable getter are Zr, V, Mn, etc., but the present invention is not limited to this.

【0042】以上の工程により、単純マトリクス配線し
た表面伝導型電子放出素子19、非蒸発型ゲッタ18等
が形成されたリアプレート8を作成した。
Through the above steps, the rear plate 8 on which the surface conduction electron-emitting devices 19, the non-evaporable getters 18 and the like formed by simple matrix wiring were formed.

【0043】(R−4) リアプレート8を真空装置内
に入れ真空排気し、圧力が0.1Pa以下になったら、
容器外端子Dox1〜DoxmとDoy1〜Doynを通じ表面伝導
型電子放出素子19に電圧を印加し、導電性薄膜15に
フォーミング工程を行った。
(R-4) Put the rear plate 8 in a vacuum device and evacuate it. When the pressure becomes 0.1 Pa or less,
A voltage was applied to the surface conduction electron-emitting device 19 through the external terminals Dox1 to Doxm and Doy1 to Doyn to perform a forming process on the conductive thin film 15.

【0044】(支持枠9の作成) (W−1) 支持枠9のフェースプレート1と接触する
側面に、支持枠9とフェースプレート1とを接着するた
めに、後述するフリットガラスを印刷法にて形成した。
(Preparation of Support Frame 9) (W-1) In order to adhere the support frame 9 and the face plate 1 to the side surface of the support frame 9 which is in contact with the face plate 1, frit glass described later is printed by a printing method. Formed.

【0045】(フェースプレート1の作成) (F−1) 青板ガラス基板1に、SiO2 層、ITO
膜をスパッタ法で成膜し、蛍光体4、黒色導電体を印刷
法により形成した。蛍光体4の内面側表面の平滑性処理
を行い、その後Alを真空蒸着法等を用いて堆積させメ
タルバック3を形成した。
(Facial Plate 1 Preparation) (F-1) A blue glass substrate 1 was coated with an SiO 2 layer and ITO.
The film was formed by a sputtering method, and the phosphor 4 and the black conductor were formed by a printing method. A smoothing treatment was performed on the inner surface of the phosphor 4, and then Al was deposited using a vacuum deposition method or the like to form a metal back 3.

【0046】(F−2) フェースプレート1上に開け
た排気用の貫通穴に排気管7及び7′を固着させるため
に、フリットガラスを印刷法にて形成した。
(F-2) In order to fix the exhaust pipes 7 and 7 'to the exhaust through holes formed on the face plate 1, frit glass was formed by a printing method.

【0047】(支持枠9、フェースプレート1及び排気
管7及び7′の接着) (WFH−1) 支持枠9、フェースプレート1、排気
管7,7′を固定治具(図示せず)にアライメント固定
した。この時、フリットガラスは支持枠9とフェースプ
レート1との間になるようにセットした。
(Adhesion of Support Frame 9, Face Plate 1, and Exhaust Pipes 7 and 7 ') (WFH-1) The support frame 9, face plate 1, and exhaust pipes 7, 7' are fixed to a fixing jig (not shown). The alignment was fixed. At this time, the frit glass was set so as to be between the support frame 9 and the face plate 1.

【0048】(WFH−2) この固定治具を電気炉に
入れ、410℃まで毎分20℃で昇温し、封着温度41
0℃で10分間保持し、その後毎分20℃で室温まで降
温した。
(WFH-2) The fixing jig was placed in an electric furnace, and the temperature was raised to 410 ° C. at a rate of 20 ° C./min.
The temperature was kept at 0 ° C. for 10 minutes, and then the temperature was lowered to room temperature at 20 ° C./min.

【0049】(WFH−2) 再び、支持枠9上のリア
プレート1と接触する側に、リアプレート1と封着する
ために、フリットガラスを印刷法にて形成した。
(WFH-2) Again, frit glass was formed by printing on the side of the support frame 9 in contact with the rear plate 1 in order to seal it with the rear plate 1.

【0050】以上の工程により、蛍光体4を持つフェー
スプレート1と、支持枠9と、排気管7及び7′が一体
となった。
Through the steps described above, the face plate 1 having the phosphor 4, the support frame 9, and the exhaust pipes 7 and 7 'are integrated.

【0051】(リアプレート8と支持枠9とフェースプ
レート1と排気管7及び7′との一体物の封着による気
密容器作成)図3は、非蒸発型ゲッタ18を封着温度未
満に制御する真空封着工程を説明する図である。21
(a)〜21(c)はフリットガラス、22及び22′
はホットプレート、23はレーザ、24はレーザ光、2
5は真空装置、26はビューポート、27はミラーであ
る。
(Preparation of an Airtight Container by Sealing the Integrated Body of the Rear Plate 8, the Support Frame 9, the Face Plate 1, and the Exhaust Pipes 7 and 7 ') FIG. 3 controls the non-evaporable getter 18 to a temperature lower than the sealing temperature. It is a figure explaining the vacuum sealing process performed. 21
(A) to 21 (c) are frit glass, 22 and 22 '
Is a hot plate, 23 is a laser, 24 is a laser beam, 2
5 is a vacuum device, 26 is a view port, and 27 is a mirror.

【0052】(FR−1) リアプレート8を真空装置
25中のX,Y,θの調整ステージ(図示せず)上のホ
ットプレート22に載置し、一体物(支持枠/フェース
プレート/排気管)を真空装置25中のホットプレート
22及び22′によって保持する。
(FR-1) The rear plate 8 is placed on the hot plate 22 on an X, Y, θ adjustment stage (not shown) in the vacuum device 25, and is integrally formed (support frame / face plate / exhaust). The tubes are held by hot plates 22 and 22 'in a vacuum device 25.

【0053】この時、リアプレート8と一体物の位置合
わせをX,Y,θの調整ステージにて行い、支持枠9と
リアプレート8とを接触させ加圧する。
At this time, the alignment of the rear plate 8 and the integrated object is performed on the X, Y, and θ adjustment stages, and the support frame 9 and the rear plate 8 are brought into contact with each other and pressurized.

【0054】(FR−2) 真空装置25内を真空ポン
プによって排気し、真空装置25内の圧力を全圧計で測
定した。そして、全圧が1×10-2Pa以下になった
ら、一体物及びリアプレート300℃迄ステージ上のホ
ットプレート22及び22′にて毎分20℃で加熱し
た。このように封着温度(400℃以上で、フリットガ
ラス21(a)などの種類により決定される。)未満の
温度で画像表示装置を構成する部材を加熱することをア
シスト加熱と称する。また、その時の温度をアシスト温
度と称する。アシスト加熱は、ガラスが熱歪みによる割
れを防止するための熱分布を抑制するための加熱であ
る。
(FR-2) The inside of the vacuum device 25 was evacuated by a vacuum pump, and the pressure inside the vacuum device 25 was measured with a total pressure gauge. Then, when the total pressure became 1 × 10 −2 Pa or less, it was heated at 20 ° C./min by the hot plates 22 and 22 ′ on the stage until the integrated body and the rear plate reached 300 ° C. Heating the members constituting the image display device at a temperature lower than the sealing temperature (400 ° C. or higher and determined by the type of the frit glass 21 (a) or the like) is referred to as assist heating. The temperature at that time is called an assist temperature. The assist heating is heating for suppressing heat distribution for preventing the glass from cracking due to thermal strain.

【0055】(FR−3) 一体物を300℃に加熱制
御した後、レーザ23によりレーザ光24を真空装置2
5に付属しているビューポート26を通過させミラー2
7に反射させフリットガラス21(b)の一部に照射し
た。そして、レーザ光をフリットガラス21(b)とレ
ーザ光24によって封着温度まで局所加熱を行った。ビ
ューポート26の材質は、レーザ光24を通過できるよ
うに、透明であれば何でもよい。
(FR-3) After controlling the heating of the integrated body to 300 ° C., the laser beam 24 is applied by the laser 23 to the vacuum device 2.
5 through the viewport 26 attached to the mirror 2
7 and irradiate a part of the frit glass 21 (b). Then, the laser light was locally heated to the sealing temperature by the frit glass 21 (b) and the laser light 24. The material of the view port 26 may be any material as long as it is transparent so that the laser light 24 can pass through.

【0056】実施例に用いるレーザ23の候補には、半
導体レーザーや炭酸ガスレーザ、YAGレーザ等があ
る。ガラスは透過するが、黒色または灰色のシール材で
あるフリットガラス21(b)などに吸収される波長の
レーザであればいずれのレーザでもよい。
The candidates for the laser 23 used in the embodiment include a semiconductor laser, a carbon dioxide laser, and a YAG laser. Any laser may be used as long as it has a wavelength that transmits glass but is absorbed by frit glass 21 (b) or the like, which is a black or gray sealing material.

【0057】レーザ光24によって、フリットガラス2
1(b)を加熱融解すると、ガラス部材が融着される。
フリットガラス21(b)の封着温度は、概ね400℃
以上であり、上記のように、フリットガラスの種類によ
って決定されるが、本実施例では、封着温度が410℃
であるフリットガラスを用いた。
The frit glass 2 is irradiated with the laser light 24.
When 1 (b) is heated and melted, the glass member is fused.
The sealing temperature of the frit glass 21 (b) is approximately 400 ° C.
As described above, as described above, the sealing temperature is determined by the type of frit glass.
Was used.

【0058】(FR−4) レーザ光24を真空装置2
5内のミラー27及び別のミラー(図示せず)に反射さ
せることにより全周囲スキャン照射し、フリットガラス
21(a)〜21(c)の全周局所加熱した。その後ホ
ットプレート22及び22′の温度を毎分20℃で60
℃まで下げた。
(FR-4) The laser beam 24 is applied to the vacuum device 2
The mirrors inside 5 and another mirror (not shown) were reflected to irradiate the entire circumference scan to locally heat the frit glasses 21 (a) to 21 (c). Thereafter, the temperature of the hot plates 22 and 22 'is increased to 60.degree.
℃.

【0059】 (FR−5) 一体物が60℃になった段
階で、真空装置25に排気管7からパージガスを導入
し、真空装置25内を大気圧にし、画像表示装置の温度
を室温まで降温した。
[0059] (FR-5) The stage where the temperature of the integrated product reached 60 ° C
At the floor, purge gas is introduced into the vacuum device 25 from the exhaust pipe 7
Then, the inside of the vacuum device 25 is set to atmospheric pressure, and the temperature of the image display device is
Was cooled to room temperature.

【0060】(真空プロセスによる表面伝導型電子放出
素子19の作成) (S−1) 排気管7及び7′を真空排気装置(図示せ
ず)に接続し、画像表示装置内を真空に排気した。
(Preparation of Surface Conduction Electron-Emitting Element 19 by Vacuum Process) (S-1) The exhaust pipes 7 and 7 'are connected to a vacuum exhaust device (not shown), and the inside of the image display device is evacuated to a vacuum. .

【0061】(S−2) 続いて、画像表示装置内の圧
力が1×10-3Pa以下になったら、活性化ガスとして
アセトンを排気管7を通して気密容器内に1Pa導入
し、排気管7′より排気しながら、容器外端子Dox1
oxmとDoy1〜Doynを通じ電子放出素子に電圧を印加
し活性化処理を行った。
(S-2) Subsequently, when the pressure in the image display device becomes 1 × 10 −3 Pa or less, acetone as an activating gas is introduced into the airtight container through the exhaust pipe 7 at 1 Pa, and acetone is introduced. ′ While evacuating from outside the container terminals D ox1 to
Voltage was applied to activate the process to the electron-emitting device through the D oxm and D oy1 ~D oyn.

【0062】(画像表示装置内の脱ガス工程) (D−1) 活性化ガスを十分に排気した後、次に、画
像表示装置のベーキング脱ガス処理を行った。ベーキン
グ温度は300℃とした。昇温速度は毎分2℃とした。
(Degassing Step in Image Display Device) (D-1) After activating gas was sufficiently exhausted, the image display device was subjected to a baking degassing process. The baking temperature was 300 ° C. The heating rate was 2 ° C. per minute.

【0063】(D−2) 画像表示装置の温度が300
℃に10時間保持した。この真空ベーキング工程は、画
像表示装置内の脱ガス処理のみならず、非蒸発型ゲッタ
18の活性化処理も兼ねている。その後、室温まで降温
し、Ba蒸発型ゲッタ16を画像表示装置外部から高周
波加熱によりフラッシュさせ、Ba蒸着膜を形成した。
(D-2) The temperature of the image display device is 300
C. for 10 hours. This vacuum baking process not only performs the degassing process in the image display device but also activates the non-evaporable getter 18. Thereafter, the temperature was lowered to room temperature, and the Ba evaporation type getter 16 was flashed from outside the image display device by high-frequency heating to form a Ba vapor deposited film.

【0064】(D−3) その後、排気管7及び7′の
一部を溶融加熱し、封止した。
(D-3) Thereafter, a part of the exhaust pipes 7 and 7 'was melted and heated and sealed.

【0065】{比較例1}実施例1で作成した画像表示
装置の効果を確認するため、実施例1での一体物の封着
による気密容器作成工程において、大気中にて、かつ封
着はレーザ光による局所加熱をせず上下ホットプレート
22,22′によって封着温度まで加熱し画像表示装置
の封着工程を実施した。
COMPARATIVE EXAMPLE 1 In order to confirm the effect of the image display device produced in Example 1, in the airtight container production step of sealing the integrated object in Example 1, the sealing was performed in the air and in the air. Heating was performed to the sealing temperature by the upper and lower hot plates 22 and 22 'without local heating by the laser beam, and the sealing process of the image display device was performed.

【0066】上記のように、画像表示装置内の非蒸発型
ゲッタ18を封着温度よりも低温で封着工程を実施して
も、真空ベーキング等の高温プロセスを経てもクラック
等が発せず、問題無く真空気密を保つことを確認した。
さらに、長時間の駆動に対して、画像表示中央部での輝
度の経時変化を測定した。駆動条件は実施例1及び比較
例1は全く同一条件とした。表面伝導型電子放出素子1
9の駆動条件は、Dox 1〜Doxmに、DCで+7.5V、
oy1〜Doynに電圧−7Vパルス幅30μS、周波数6
0Hzでスクロールで全画面駆動した。フェースプレー
ト11の加速電圧は6kVとした。測定結果を図4に示
す。横軸に駆動時間、縦軸に輝度を初期条件で規格化し
た値を示している。なお、実施例1及び比較例1の初期
の輝度の絶対値の差は見られなかった。
As described above, even if the non-evaporable getter 18 in the image display device is subjected to the sealing step at a temperature lower than the sealing temperature, cracks do not occur even after a high-temperature process such as vacuum baking. It was confirmed that the vacuum tightness was maintained without any problem.
Further, with respect to driving for a long time, a temporal change in luminance at the central portion of the image display was measured. The driving conditions of Example 1 and Comparative Example 1 were exactly the same. Surface conduction electron-emitting device 1
9 of the driving conditions, the D ox 1 to D oxm, with DC + 7.5V,
Doy1 to Doyn have a voltage of -7 V, a pulse width of 30 μS, and a frequency of 6
The entire screen was driven by scrolling at 0 Hz. The acceleration voltage of the face plate 11 was 6 kV. FIG. 4 shows the measurement results. The horizontal axis shows the drive time, and the vertical axis shows the luminance normalized under the initial conditions. It should be noted that there was no difference in the absolute value of the initial luminance between Example 1 and Comparative Example 1.

【0067】図4は、実施例1と比較例1との輝度を比
較する図である。図4より、本実施例で作成した画像表
示装置は、長時間輝度の劣化が無く安定に動作させるこ
とができることがわかった。安定に動作することが可能
になったのは、画像表示中央部での真空度を改善したた
めである。それは、非蒸発型ゲッタ18を封着工程で劣
化させること無く真空ベーキング工程で活性化したため
である。
FIG. 4 is a diagram for comparing the luminance of the first embodiment with the luminance of the first comparative example. From FIG. 4, it was found that the image display device created in this example can be stably operated without deterioration in luminance for a long time. The reason why it is possible to operate stably is that the degree of vacuum at the center of the image display has been improved. This is because the non-evaporable getter 18 was activated in the vacuum baking step without being deteriorated in the sealing step.

【0068】実際に、画像表示装置の中央部で真空度が
どの程度改善されたかを全圧計をフェースプレート1の
中央部に設置し、駆動時の圧力を測定し確認した。圧力
を測定するために以下の検討を行った。実施例1の(フ
ェースプレートの作成)(F−2)において、新たに図
1の画像表示装置のフェースプレート1の蛍光体4の中
央部に、排気管7及び7′を通すための穴と同程度の大
きさの貫通穴を開け、排気管7及び7′を固着するため
のフリットガラスを印刷した。
In practice, the degree of vacuum improvement at the center of the image display device was confirmed by installing a total pressure gauge at the center of the face plate 1 and measuring the pressure during driving. The following study was performed to measure the pressure. In (F-2) of (Faceplate creation) of the first embodiment, a hole for passing the exhaust pipes 7 and 7 'is newly provided at the center of the phosphor 4 of the faceplate 1 of the image display device of FIG. A through hole of approximately the same size was made, and frit glass for fixing the exhaust pipes 7 and 7 'was printed.

【0069】さらに、新たに(支持枠9、フェースプレ
ート1及び排気管7及び7′の接着) (WFH−1)全圧計取付け用排気管7及び7′を固定
治具にアライメント固定した。その後接着工程後、全圧
計取付けよう排気管7及び7′に全圧計を接続した。そ
れ以外の工程及び画像表示装置は実施例1、比較例1と
同様にし画像表示装置を作成した。
Further, (adhesion of the support frame 9, the face plate 1, and the exhaust pipes 7 and 7 ') (WFH-1) The exhaust pipes 7 and 7' for mounting the total pressure gauge were aligned and fixed to the fixing jig. Thereafter, after the bonding step, the total pressure gauge was connected to the exhaust pipes 7 and 7 'so as to attach the total pressure gauge. The other steps and the image display device were the same as in Example 1 and Comparative Example 1 to produce an image display device.

【0070】図5は、上記画像表示装置を、前述と同様
な駆動をした時の全圧の変化をモニターした結果を示す
図である。図5において、横軸は駆動時間を示し非駆動
の測定をバックグランドとして10分間測定し、その後
前述と同一の駆動をした。縦軸は非駆動時の比較例の全
圧で規格化した全圧を示している。図5から、本実施例
によって製造した画像表示装置は、非駆動時の圧力も従
来例に比べて低く、かつ駆動時の圧力も低いことがわか
る。このことから、本実施例では、非蒸発型ゲッタ18
の封着工程での劣化を抑制して、真空ベーキング工程で
有効に活性化したことがわかる。
FIG. 5 is a view showing the result of monitoring the change in the total pressure when the image display device is driven in the same manner as described above. In FIG. 5, the horizontal axis indicates the driving time, and the non-driving measurement was performed for 10 minutes as a background, and thereafter the same driving as described above was performed. The vertical axis indicates the total pressure normalized by the total pressure of the comparative example when not driven. From FIG. 5, it can be seen that the image display device manufactured according to the present embodiment has a lower pressure during non-driving and a lower pressure during driving than the conventional example. For this reason, in the present embodiment, the non-evaporable getter 18 is used.
It can be seen that the deterioration in the sealing step was suppressed and the film was effectively activated in the vacuum baking step.

【0071】[実施例2]本実施例では、実施例1と同
様に冷陰極電子放出素子である表面伝導型電子放出素子
を電子放出素子として、複数個リアプレートに形成し、
蛍光面(フェースプレート)を設置し、有効表示エリア
を対角15インチとする縦と横の比が3:4のカラー画
像表示装置を作成した。
[Embodiment 2] In this embodiment, a plurality of surface conduction electron-emitting devices, which are cold cathode electron-emitting devices, are formed on the rear plate as electron-emitting devices in the same manner as in Embodiment 1.
A color image display device having a fluorescent screen (face plate) and an effective display area of 15 inches diagonally and a length to width ratio of 3: 4 was prepared.

【0072】実施例の画像表示装置の製造方法について
説明する。なお、実施例で説明した部材と同様の部材に
は、同一の符号を付した。
A method for manufacturing the image display device of the embodiment will be described. The same members as those described in the embodiment are denoted by the same reference numerals.

【0073】(リアプレート8の作成) (R−1) 青板ガラスを洗浄し、シリコン酸化膜17
をスパッタ法で形成したリアプレート8上に素子電極1
1(a),11(b)をオフセット印刷により形成し
た。下配線12をスクリーン印刷で形成した。次に、下
配線12と上配線14間に層間絶縁膜13を形成した。
さらに、上配線14を形成した。
(Preparation of Rear Plate 8) (R-1) The blue plate glass is washed, and the silicon oxide film 17 is removed.
Is formed on the rear plate 8 formed by sputtering.
1 (a) and 11 (b) were formed by offset printing. The lower wiring 12 was formed by screen printing. Next, an interlayer insulating film 13 was formed between the lower wiring 12 and the upper wiring 14.
Further, the upper wiring 14 was formed.

【0074】(R−2) 次いで、PdOからなる導電
性薄膜15をスパッタ法で形成した後、パターニング
し、所望の形態とした。
(R-2) Next, a conductive thin film 15 made of PdO was formed by a sputtering method and then patterned to obtain a desired form.

【0075】(R−3) さらに、上配線4以外をメタ
ルマスクで覆い、上配線14上にプラスマ溶射にて非蒸
発型ゲッタ18を50μm程度積層した。本実施例で使
用した非蒸発型ゲッタの主成分は、Ti,Zr,V,F
e,etc.であるがこれに限定されるものではない。
(R-3) Further, the portions other than the upper wiring 4 were covered with a metal mask, and a non-evaporable getter 18 was laminated on the upper wiring 14 by plasma spraying to a thickness of about 50 μm. The main components of the non-evaporable getter used in this embodiment are Ti, Zr, V, F
e, etc. However, the present invention is not limited to this.

【0076】以上の工程により、単純マトリクス配線し
た表面伝導型電子放出素子19、非蒸発型ゲッタ18等
が形成されたリアプレート8を作成した。
Through the steps described above, the rear plate 8 on which the surface conduction electron-emitting devices 19, the non-evaporable getters 18 and the like formed by simple matrix wiring were formed.

【0077】(R−4) リアプレート8を真空装置内
に入れ真空排気し、圧力が0.1Pa以下になったら、
容器外端子Dox1〜DoxmとDoy1〜Doynを通じ表面伝導
型電子放出素子19に電圧を印加し、導電性薄膜15に
フォーミング工程を行った。
(R-4) Put the rear plate 8 in a vacuum device and evacuate it. When the pressure becomes 0.1 Pa or less,
A voltage was applied to the surface conduction electron-emitting device 19 through the external terminals Dox1 to Doxm and Doy1 to Doyn to perform a forming process on the conductive thin film 15.

【0078】(支持枠9の作成) (W−1) 支持枠9のフェースプレート1と接触する
側面に、支持枠9とフェースプレート1とを接着するた
めのフリットガラス21(a)を印刷法にて形成した。
(Preparation of Support Frame 9) (W-1) A frit glass 21 (a) for bonding the support frame 9 and the face plate 1 is printed on a side surface of the support frame 9 which is in contact with the face plate 1. Formed.

【0079】(フェースプレート1の作成) (F−1) 青板ガラス基板1に、SiO2 層、ITO
膜をスパッタ法で成膜し、蛍光体4、黒色導電体を印刷
法により形成した。蛍光膜の内面側表面の平滑性処理を
行い、その後Alを真空蒸着法等を用いて堆積させメタ
ルバック3を形成した。
(Fabrication of Faceplate 1) (F-1) A blue glass substrate 1 was coated with an SiO 2 layer and an ITO
The film was formed by a sputtering method, and the phosphor 4 and the black conductor were formed by a printing method. A smoothing treatment was performed on the inner surface of the fluorescent film, and thereafter, Al was deposited using a vacuum deposition method or the like to form a metal back 3.

【0080】(F−2) フェースプレート1上に開け
た排気用の貫通穴に排気管7及び7′を固着させるため
のフリットガラス21(c)を印刷法にて形成した。
(F-2) A frit glass 21 (c) for fixing the exhaust pipes 7 and 7 'in the exhaust through-hole opened on the face plate 1 was formed by a printing method.

【0081】(支持枠9、フェースプレート1及び排気
管7及び7′の接着) (WFH−1) 支持枠9、フェースプレート1、排気
管7,7′を固定治具(図示せず)にアライメント固定
した。この時、フリットガラス21(a)は支持枠9と
フェースプレート1との間になるようにセットした。
(Adhesion of Support Frame 9, Face Plate 1, and Exhaust Pipes 7 and 7 ') (WFH-1) The support frame 9, face plate 1, and exhaust pipes 7, 7' are fixed to a fixing jig (not shown). The alignment was fixed. At this time, the frit glass 21 (a) was set so as to be between the support frame 9 and the face plate 1.

【0082】(WFH−2) この固定治具を電気炉に
入れ、450℃まで毎分20℃で昇温し、封着温度45
0℃で10分間保持し、その後毎分20℃で室温まで降
温した。
(WFH-2) The fixing jig was placed in an electric furnace, and the temperature was raised to 450 ° C. at a rate of 20 ° C./min.
The temperature was kept at 0 ° C. for 10 minutes, and then the temperature was lowered to room temperature at 20 ° C./min.

【0083】(WFH−3) リアプレート8と接触す
る側に、シートフリット21(b)を直接加熱するた
め、後述する通電加熱用の金属箔を電流導入端子部分を
除き、円周に配置した。
(WFH-3) To directly heat the sheet frit 21 (b), a metal foil for energizing and heating described later was arranged on the circumference in contact with the rear plate 8 except for the current introduction terminal portion. .

【0084】(WFH−4) 次に、この金属箔上に金
属箔を覆うように、リアプレート8と封着するためのフ
リットガラス21(b)を印刷法にて形成した。
(WFH-4) Next, frit glass 21 (b) for sealing with the rear plate 8 was formed on the metal foil by a printing method so as to cover the metal foil.

【0085】以上の工程により、蛍光体4を持つフェー
スプレート1と支持枠9と排気管7及び7′とが一体と
なった。
Through the above steps, the face plate 1 having the phosphor 4, the support frame 9, and the exhaust pipes 7 and 7 ′ are integrated.

【0086】(リアプレート8と支持枠9とフェースプ
レート1と排気管7及び7′との一体物の封着による気
密容器作成)図6は、非蒸発型ゲッタ18を封着温度未
満に制御する真空封着工程を説明する図である。図6に
おいて、28は通電加熱用配線である。
(Preparation of Airtight Container by Sealing One Piece of Rear Plate 8, Supporting Frame 9, Face Plate 1, and Exhaust Pipes 7 and 7 ') FIG. 6 shows that the non-evaporable getter 18 is controlled to a temperature lower than the sealing temperature. It is a figure explaining the vacuum sealing process performed. In FIG. 6, reference numeral 28 denotes an electric heating wire.

【0087】(FR−1) リアプレート8を真空装置
25中のX,Y,θの調整ステージ(図示せず)上のホ
ットプレート上22に載置し、一体物(支持枠/フェー
スプレート/排気管)を真空装置25中のホットプレー
ト22及び22′によって保持する。この時、リアプレ
ート8と一体物の位置合わせをX,Y,θの調整ステー
ジにて行い、支持枠9とリアプレート8とを接触させ加
圧する。
(FR-1) The rear plate 8 is placed on the hot plate 22 on the X, Y, θ adjustment stage (not shown) in the vacuum device 25, and is integrated (support frame / face plate / The exhaust pipe is held by hot plates 22 and 22 ′ in a vacuum device 25. At this time, the alignment of the rear plate 8 and the integrated object is performed on the X, Y, and θ adjustment stages, and the support frame 9 and the rear plate 8 are brought into contact with each other and pressed.

【0088】(FR−2) 真空装置25内を真空ポン
プによって排気し、真空装置25内の圧力を全圧計で測
定した。そして、全圧が1×10-2Pa以下になった
ら、一体物及びリアプレートを300℃迄ステージ上の
ホットプレート22及び22′にて毎分20℃で加熱し
た。このように封着温度(400℃以上で、フリットガ
ラス21(a)などの種類により決定される。)アシス
ト加熱は、ガラスが熱歪みによる割れを防止するための
熱分布を抑制するための加熱である。
(FR-2) The inside of the vacuum device 25 was evacuated with a vacuum pump, and the pressure inside the vacuum device 25 was measured with a total pressure gauge. Then, when the total pressure became 1 × 10 −2 Pa or less, the integrated body and the rear plate were heated to 300 ° C. at 20 ° C./min on the hot plates 22 and 22 ′ on the stage. As described above, the sealing temperature (400 ° C. or higher, which is determined by the type of the frit glass 21 (a), etc.) Assist heating is heating for suppressing the heat distribution for preventing the glass from cracking due to thermal distortion. It is.

【0089】(FR−3) 一体物を300℃に加熱し
た後、通電加熱用配線28の電流導入端子部(図示せ
ず)から、通電しフリットガラス21(b)を450℃
まで局所加熱した。本実施例では、フリットガラス21
(b)に封着温度が450℃のものを用いた。
(FR-3) After the integrated material was heated to 300 ° C., an electric current was supplied from a current introduction terminal portion (not shown) of the electric heating wire 28 to bring the frit glass 21 (b) to 450 ° C.
Until local heating. In this embodiment, the frit glass 21
(B) A sealing temperature of 450 ° C. was used.

【0090】(FR−4) フリットガラス21(b)
を溶融させた後、徐々に降温し410℃で10分ホール
ドし歪み除去工程した。その後、通電加熱用ヒータへの
投入電力を0まで下げた。その後ホットプレート22及
び22′の温度を毎分20℃で60℃まで下げた。
(FR-4) Frit glass 21 (b)
After melting, the temperature was gradually lowered, and held at 410 ° C. for 10 minutes to perform a distortion removing step. Thereafter, the electric power supplied to the heater for energization heating was reduced to zero. Thereafter, the temperature of the hot plates 22 and 22 'was reduced to 60 ° C at 20 ° C per minute.

【0091】(FR−5) 一体物が60℃になった段
階で、真空装置25に排気管7からパージガスを導入
し、真空装置25内を大気圧にし、画像表示装置の温度
まで降温した。
(FR-5) When the temperature of the integrated material reached 60 ° C., a purge gas was introduced into the vacuum device 25 from the exhaust pipe 7, the inside of the vacuum device 25 was brought to atmospheric pressure, and the temperature was lowered to the temperature of the image display device.

【0092】(真空プロセスによる表面伝導型電子放出
素子19の作成) (S−1) 排気管7及び7′を真空排気装置(図示せ
ず)に接続し、画像表示装置内を真空に排気した。
(Preparation of Surface Conduction Electron-Emitting Element 19 by Vacuum Process) (S-1) The exhaust pipes 7 and 7 'were connected to a vacuum exhaust device (not shown), and the inside of the image display device was evacuated to a vacuum. .

【0093】(S−2) 続いて、画像表示装置内の圧
力が1×10-3Pa以下になったら、活性化ガスとして
アセトンを排気管7を通して気密容器内に1Pa導入
し、排気管7′より排気しながら、容器外端子Dox1
oxmとDoy1〜Doynを通じ電子放出素子に電圧を印加
し活性化処理を行った。
(S-2) Subsequently, when the pressure in the image display apparatus becomes 1 × 10 −3 Pa or less, acetone as an activating gas is introduced into the hermetic container through the exhaust pipe 7 at 1 Pa, and acetone is introduced. ′ While evacuating from outside the container terminals D ox1 to
Voltage was applied to activate the process to the electron-emitting device through the D oxm and D oy1 ~D oyn.

【0094】(画像表示装置内の脱ガス工程) (D−1) 活性化ガスを十分に排気した後、次に、画
像表示装置のベーキング脱ガス処理を行った。ベーキン
グ温度は350℃とした。昇温速度は毎分2℃とした。
(Degassing Step in Image Display Device) (D-1) After activating gas was sufficiently exhausted, the image display device was subjected to a baking degassing process. The baking temperature was 350 ° C. The heating rate was 2 ° C. per minute.

【0095】(D−2) 画像表示装置の温度が350
℃に10時間保持した。この真空ベーキング工程は、画
像表示装置内の脱ガス処理のみならず、非蒸発型ゲッタ
8の活性化処理も兼ねている。その後、室温まで降温
し、Ba蒸発型ゲッタ16を画像表示装置外部から高周
波加熱によりフラッシュさせ、Ba蒸着膜を形成した。
(D-2) The temperature of the image display device is 350
C. for 10 hours. This vacuum baking step serves not only for degassing in the image display device but also for activating the non-evaporable getter 8. Thereafter, the temperature was lowered to room temperature, and the Ba evaporation type getter 16 was flashed from outside the image display device by high-frequency heating to form a Ba vapor deposited film.

【0096】(D−3) その後、排気管7及び7′の
一部を溶融加熱し、封止した。
(D-3) Thereafter, a part of the exhaust pipes 7 and 7 'was melt-heated and sealed.

【0097】{比較例2}実施例2で作成した画像表示
装置の効果を確認するため、比較例1で使用した各々の
フリットガラス21(a)〜21(c)を封着温度が4
50℃のものに変更し、それに対応し(一体物の封着に
よる気密容器作成)工程において、ホットプレート22
及び22′によって画像表示装置全体を、封着温度であ
る450℃まで加熱封着する工程に変更し、大気中にて
画像形成装置を形成した。
Comparative Example 2 In order to confirm the effect of the image display device produced in Example 2, each frit glass 21 (a) to 21 (c) used in Comparative Example 1 was sealed at a sealing temperature of 4
The temperature was changed to 50 ° C., and correspondingly (in the process of forming an airtight container by sealing an integral body),
And 22 ', the process was changed to a process of heating and sealing the entire image display device to a sealing temperature of 450 ° C., and the image forming device was formed in the atmosphere.

【0098】上記のように、画像表示装置内の非蒸発型
ゲッタ18を封着温度よりも低温で封着工程を実施して
も、真空ベーキング等の高温プロセスを経てもクラック
等が発せず、問題無く真空気密を保つことを確認した。
さらに、長時間の駆動に対して、画像表示中央部での表
面伝導型電子放出素子19の電子放出の経時変化を測定
した。
As described above, even if the non-evaporable getter 18 in the image display device is subjected to the sealing step at a temperature lower than the sealing temperature, cracks do not occur even after a high-temperature process such as vacuum baking. It was confirmed that the vacuum tightness was maintained without any problem.
Further, with respect to driving for a long time, a change with time of electron emission of the surface conduction electron-emitting device 19 at the center of the image display was measured.

【0099】駆動条件は実施例2及び比較例2は全く同
一条件とした。表面伝導型電子放出素子19の長駆動条
件は、Dox1〜DoxmにてDCで+7.5V、Doy1〜D
oynに電圧−7Vパルス幅30μS、周波数60Hzで
スクロールで全画面駆動し、100時間後、500時間
後、1000時間後、2000時間後に、それぞれ全ス
クロールを停止し、画像表示中央部10×10素子のみ
1分間駆動し、電子放出量を測定した。
The driving conditions in Example 2 and Comparative Example 2 were exactly the same. Long driving condition of the surface conduction electron-emitting device 19, D ox1 to D oxm at at DC + 7.5V, D oy1 ~D
oyn , the whole screen is driven by scrolling at a voltage of -7 V, a pulse width of 30 μS, and a frequency of 60 Hz. After 100 hours, 500 hours, 1000 hours, and 2,000 hours, all scrolling is stopped, and a 10 × 10 element in the image display central portion Only one minute was driven, and the amount of electron emission was measured.

【0100】この時、フェースプレート1の加速電圧は
8kVである。測定結果を図7に示す。横軸に駆動時
間、縦軸に画像表示装置中央部10×10素子の電子放
出量の平均値を初期値で規格化した値を示している。
At this time, the acceleration voltage of the face plate 1 is 8 kV. FIG. 7 shows the measurement results. The abscissa indicates the drive time, and the ordinate indicates the value obtained by standardizing the average value of the electron emission amount of the 10 × 10 elements in the central portion of the image display device by the initial value.

【0101】なお、実施例2及び比較例2の初期の平均
電子放出量の絶対値の差は見られなかった。図7より、
本実施例で作成した画像表示装置は、長時間電子源の劣
化が少なく安定に動作させることができることがわかっ
た。安定に動作することが可能になったのは、画像表示
中央部での真空度を改善したためである。それは、非蒸
発型ゲッタ18を封着工程で劣化させること無く真空ベ
ーキング工程で活性化したためである。また、本実施例
では、真空ベーキングが高温であるためより非蒸発型ゲ
ッタ18の活性化が良好であったと思われる。
Note that there was no difference between the absolute values of the average electron emission amount of Example 2 and Comparative Example 2 in the initial stage. From FIG.
It has been found that the image display device manufactured in this example can be operated stably with little deterioration of the electron source for a long time. The reason why it is possible to operate stably is that the degree of vacuum at the center of the image display has been improved. This is because the non-evaporable getter 18 was activated in the vacuum baking step without being deteriorated in the sealing step. In this embodiment, it is considered that the activation of the non-evaporable getter 18 was better because the vacuum baking was performed at a high temperature.

【0102】[実施例3]図8は、実施例によって作成
した画像形成装置を示す図である。図8において、10
3はリアプレート、101はフェースプレート、102
(a)はITO、102(b)は蛍光体、102(c)
はメタルバック、105は陰極、106はゲート電極、
107はゲート/陰極間の絶縁層、108はスペーサ、
109は非蒸発型ゲッタである。
[Embodiment 3] FIG. 8 is a diagram showing an image forming apparatus created by the embodiment. In FIG. 8, 10
3 is a rear plate, 101 is a face plate, 102
(A) is ITO, 102 (b) is a phosphor, 102 (c)
Is a metal back, 105 is a cathode, 106 is a gate electrode,
107 is an insulating layer between the gate and the cathode, 108 is a spacer,
Reference numeral 109 denotes a non-evaporable getter.

【0103】本実施例では、冷陰極電子放出素子である
電界放出素子を電子放出素子として、複数個リアプレー
ト103に形成し、さらに軽量化を図るために大気圧支
持部材としてスペーサ108を設置した。フェースプレ
ート101には、蛍光体部102(a)〜102(c)
を設置し、有効表示エリアを対角10インチとすると縦
と横の比が3:4のカラー画像形成装置を作成した。
In this embodiment, a plurality of field emission devices, which are cold cathode electron emission devices, are formed on the rear plate 103 as electron emission devices, and spacers 108 are provided as atmospheric pressure support members to further reduce the weight. . The face plate 101 includes phosphor portions 102 (a) to 102 (c).
And an effective display area of 10 inches diagonally, a color image forming apparatus having an aspect ratio of 3: 4 was prepared.

【0104】まず、本発明の画像表示装置の封着方法を
図9を用いて説明する。図9においては、104は支持
枠、10はフェースプレート101と支持枠104を接
着するためのフリットガラスであり、110′はリアプ
レート103と支持枠104を接着するためのフリット
ガラスである。
First, a method for sealing an image display device according to the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 9, reference numeral 104 denotes a support frame, 10 denotes frit glass for bonding the face plate 101 and the support frame 104, and 110 'denotes frit glass for bonding the rear plate 103 and the support frame 104.

【0105】なお、フェースプレート101とリアプレ
ート103との間隙は1.5mmである。112は非蒸
発型ゲッタである。本実施例では、非蒸発型ゲッタはZ
r,V及びFeから構成されているものを使用したが、
Tiを主成分とするものでもよく特にこれに限定するも
のではない。
The gap between the face plate 101 and the rear plate 103 is 1.5 mm. Reference numeral 112 denotes a non-evaporable getter. In this embodiment, the non-evaporable getter is Z
The one composed of r, V and Fe was used,
It may be one containing Ti as a main component, and is not particularly limited to this.

【0106】次に、図8及び9を用いて本発明の画像表
示装置の製造方法について説明する。
Next, a method of manufacturing the image display device of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0107】(リアプレート103の作成) (R−1) 青板ガラスを洗浄し、公知の方法によっ
て、図8に示す陰極(エミッタ)105、ゲート電極1
06、配線等を作成した。なお、陰極材料はMoとし
た。
(Preparation of Rear Plate 103) (R-1) The blue plate glass is washed, and the cathode (emitter) 105 and the gate electrode 1 shown in FIG.
06, wiring, etc. were created. The cathode material was Mo.

【0108】(R−2) 非蒸発型ゲッタ112及びス
ペーサ108をリアプレート上に位置合わせを行った後
に、無機系接着剤で固定した。
(R-2) After the non-evaporable getter 112 and the spacer 108 were positioned on the rear plate, they were fixed with an inorganic adhesive.

【0109】以上の工程により、単純マトリクス配線し
た電界放出型放出素子、非蒸発型ゲッタ111、スペー
サ108等が形成されたリアプレート103を作成し
た。
Through the steps described above, the rear plate 103 on which the field emission type emission device, the non-evaporation type getter 111, the spacer 108, and the like formed by the simple matrix wiring were formed.

【0110】(支持枠104の作成) (W−1) 支持枠104のフェースプレート101と
接触する側面に(図9中では支持枠の上面)、支持枠1
04とフェースプレート101とを接着するフリットガ
ラス110を印刷法にて形成した。
(Preparation of Support Frame 104) (W-1) The side of the support frame 104 which comes into contact with the face plate 101 (the upper surface of the support frame in FIG. 9), the support frame 1
A frit glass 110 for bonding the substrate 04 and the face plate 101 was formed by a printing method.

【0111】(W−2) 支持枠104のリアプレート
103と接触する側面に(図5中では支持枠の下面)、
支持枠104とリアプレート103とを接着するフリッ
トガラス110′をスクリーン印刷法にて形成した。
(W-2) On the side surface of the support frame 104 which comes into contact with the rear plate 103 (the lower surface of the support frame in FIG. 5),
Frit glass 110 'for bonding the support frame 104 and the rear plate 103 was formed by a screen printing method.

【0112】(フェースプレート101の作成) (F−1) 青板ガラスに透明導電膜ITO 102
(a)をスパッタ法で形成し、蛍光膜102(b)を印
刷法により形成した。蛍光膜102(b)の内面側表面
の平滑性処理を行い、その後蛍光膜102(b)上に、
Alを真空蒸着法等を用いて堆積させメタルバック10
2(c)を形成した。
(Fabrication of face plate 101) (F-1) Transparent conductive film ITO 102 on blue plate glass
(A) was formed by a sputtering method, and the fluorescent film 102 (b) was formed by a printing method. A smoothing process is performed on the inner surface of the fluorescent film 102 (b), and then the fluorescent film 102 (b)
Al is deposited using a vacuum deposition method or the like, and metal back 10
2 (c) was formed.

【0113】(F−2) ゲート電極106上に非蒸発
型ゲッタ109をプラズマ溶射法にて膜厚50μm形成
した。
(F-2) A non-evaporable getter 109 having a thickness of 50 μm was formed on the gate electrode 106 by plasma spraying.

【0114】(F−3) フェースプレート101に排
気管を接着するためのフリットガラス110″をスクリ
ーン印刷法にて形成した。
(F-3) Frit glass 110 ″ for bonding an exhaust pipe to the face plate 101 was formed by screen printing.

【0115】(フェースプレート101と排気管111
及び111′の接着) (WFH−1) フェースプレート101、排気管11
1,111′を固定治具(図示せず)にアライメント固
定した。
(Face plate 101 and exhaust pipe 111)
(WFH-1) Face plate 101, exhaust pipe 11
1,111 'was aligned and fixed to a fixing jig (not shown).

【0116】(WFH−2) この固定治具を電気炉に
入れ、410℃まで毎分20℃で昇温し、封着温度41
0℃で10分間保持し、その後毎分20℃で室温まで降
温した。
(WFH-2) The fixing jig was placed in an electric furnace, and the temperature was raised to 410 ° C. at a rate of 20 ° C./min.
The temperature was kept at 0 ° C. for 10 minutes, and then the temperature was lowered to room temperature at 20 ° C./min.

【0117】(リアプレート103と支持枠104とフ
ェースプレート101とを封着することによる気密容器
作成)図9を参照しながら、非蒸発型ゲッタ109を封
着温度未満に制御する真空封着工程を説明する。
(Preparation of Airtight Container by Sealing Rear Plate 103, Support Frame 104, and Face Plate 101) Referring to FIG. 9, a vacuum sealing step of controlling the non-evaporable getter 109 to a temperature lower than the sealing temperature. Will be described.

【0118】(FR−1) リアプレート103をX,
Y,θの調整ステージ(図示せず)上のホットプレート
120′及び121′上に載置し、リアプレート103
上に支持枠104を配置した。排気管111及び11
1′に付属のフェースプレート101を、ホットプレー
ト120及び121に保持する。ホットプレートは、上
下ともアシスト加熱用ヒータ120,120′と封着加
熱用ヒータ121,121′の2構成としている。
(FR-1) When the rear plate 103 is X,
Placed on hot plates 120 ′ and 121 ′ on a Y, θ adjustment stage (not shown),
The support frame 104 was placed on top. Exhaust pipes 111 and 11
The face plate 101 attached to 1 ′ is held on hot plates 120 and 121. The hot plate has two configurations, heaters 120 and 120 'for assist heating and heaters 121 and 121' for sealing heating, both above and below.

【0119】アシスト加熱用ヒータ120及び120′
は、非蒸発型ゲッタ109の温度を制御し、封着加熱用
ヒータ121及び121′は、フリットガラス110及
び110′を溶融加熱するためのヒータである。
Assist heaters 120 and 120 '
Controls the temperature of the non-evaporable getter 109, and the sealing heating heaters 121 and 121 'are heaters for melting and heating the frit glasses 110 and 110'.

【0120】この時、リアプレート103とフェースプ
レート101との位置合わせをX,Y,θの調整ステー
ジにて行い、フェースプレート101と支持枠104と
リアプレート103を接触させ加圧した。
At this time, the positioning of the rear plate 103 and the face plate 101 was performed on the X, Y, and θ adjustment stages, and the face plate 101, the support frame 104, and the rear plate 103 were brought into contact with each other and pressed.

【0121】(FR−2) アシスト加熱として280
℃迄ステージ上のアシスト加熱ヒータ120及び12
0′にて毎分20℃で加熱した。同時に、封着加熱用ヒ
ータ121及び121′も同期させ280℃迄昇温し
た。
(FR-2) 280 as assist heating
Assist heaters 120 and 12 on stage up to ° C
Heated at 20 ° C per minute at 0 '. At the same time, the sealing heaters 121 and 121 'were also synchronized and the temperature was raised to 280C.

【0122】(FR−3) 一体物を350℃まで加熱
した後、封着加熱用ヒータ121及び121′にてフリ
ットガラス110及び110′を封着温度450℃迄昇
温した。本実施例ではフリットガラス110〜110′
の封着温度は、450℃のものを用いた。
(FR-3) After the integrated material was heated to 350 ° C., the frit glasses 110 and 110 ′ were heated to 450 ° C. by the sealing heaters 121 and 121 ′. In this embodiment, frit glass 110 to 110 'is used.
The sealing temperature of 450 ° C. was used.

【0123】(FR−4) フリットガラス110,1
10′を溶融させた後、徐々に降温し410℃で10分
ホールドし歪み除去工程をした。その後、封着加熱用ヒ
ータ121及び121′をアシスト加熱用ヒータ120
及び120′と同一の温度迄降温した後、全ホットプレ
ートの温度を毎分20℃で室温まで下げた。
(FR-4) Frit glass 110, 1
After 10 ′ was melted, the temperature was gradually lowered, and held at 410 ° C. for 10 minutes to perform a distortion removing step. Thereafter, the heaters 121 and 121 ′ for sealing heating are turned into heaters 120 for assist heating.
After cooling down to the same temperature as in Steps 1 and 120 ', the temperature of all hot plates was lowered to room temperature at 20 ° C./min.

【0124】(真空プロセス) (S−1) まず、ガスフロー封着で使用した排気管1
11′の一部を加熱溶融し、封止した。排気管111を
真空排気装置(図示せず)に接続し、画像表示装置内を
真空に排気した。
(Vacuum Process) (S-1) First, the exhaust pipe 1 used for gas flow sealing
A portion of 11 'was melted by heating and sealed. The exhaust pipe 111 was connected to a vacuum exhaust device (not shown), and the inside of the image display device was evacuated to a vacuum.

【0125】(画像表示装置内の脱ガス工程) (D−1) 気密容器内の圧力が1×10-4Pa以下に
なったら、非蒸発型ゲッタ112を外部の高周波加熱装
置にて加熱し、非蒸発型ゲッタ112の脱ガス処理及び
活性化を行った。非蒸発型ゲッタ112の活性化温度
は、使用する非蒸発型ゲッタによって決定されるが本実
施例では、500℃で5分間通電加熱処理を行った。
(Degassing Step in Image Display Device) (D-1) When the pressure in the airtight container becomes 1 × 10 −4 Pa or less, the non-evaporable getter 112 is heated by an external high-frequency heating device. The degassing and activation of the non-evaporable getter 112 were performed. The activation temperature of the non-evaporable getter 112 is determined by the non-evaporable getter to be used. In this embodiment, the heating treatment is performed at 500 ° C. for 5 minutes.

【0126】(D−2) 次に、気密容器のベーキング
脱ガス処理行う。ベーキング温度は350℃とした。昇
温速度は毎分2℃とした。
(D-2) Next, a baking degassing process is performed on the airtight container. The baking temperature was 350 ° C. The heating rate was 2 ° C. per minute.

【0127】(D−3) 気密容器の温度が350℃に
10時間保持された段階で、排気管110及び110′
の一部を加熱溶融して、封止行った。
(D-3) When the temperature of the airtight container is maintained at 350 ° C. for 10 hours, the exhaust pipes 110 and 110 ′
Was heated and melted, and sealing was performed.

【0128】(D−4) 封止終了後、気密容器を毎分
20℃で降温し、室温まで冷却した。
(D-4) After the sealing was completed, the temperature of the airtight container was lowered at a rate of 20 ° C./min and cooled to room temperature.

【0129】{比較例3}実施例3で作成した画像表示
装置の効果を確認するため、実施例3と同一の構成、工
程にて、(リアプレート103、支持枠104及びフェ
ースプレート101封着による気密容器作成)アシスト
ヒータと封着用ヒータとにより、画像表示装置全体を封
着温度450℃迄加熱封着する工程に変更し、画像形成
装置を形成した。
Comparative Example 3 In order to confirm the effect of the image display device produced in Example 3, the same configuration and process as in Example 3 were performed (sealing of the rear plate 103, the support frame 104, and the face plate 101). The process of heating and sealing the entire image display device to a sealing temperature of 450 ° C. was changed by using an assist heater and a sealing heater to form an image forming apparatus.

【0130】上記のように、画像表示装置内の非蒸発型
ゲッタ112を封着温度よりも低温で封着工程を実施し
ても、真空ベーキング等の高温プロセスを経てクラック
等が発せず、問題無く真空気密を保つことを確認し、ま
た、電界放出素子の初期駆動100時間の放電回数を測
定した。駆動条件は実施例3及び比較例3は全く同一条
件とした。ゲート電圧を+120Vとし、メタルバック
の加速電圧300Vとした。
As described above, even if the non-evaporable getter 112 in the image display device is subjected to the sealing step at a temperature lower than the sealing temperature, cracks and the like do not occur through a high-temperature process such as vacuum baking. It was confirmed that there was no air-tightness, and the number of discharges during 100 hours of initial driving of the field emission device was measured. The driving conditions were the same for Example 3 and Comparative Example 3. The gate voltage was set to +120 V, and the acceleration voltage for metal back was set to 300 V.

【0131】 表1は、実施例3と比較例3との電界放出素子の放電回
数を示すものである。表1より、本実施例で作成された
画像表示装置は、放電が少なく安定に動作させることが
できることがわかった。安定に動作することが可能にな
ったのは、非蒸発型ゲッタを封着工程で劣化させること
無く真空ベーキング工程で活性化でき、駆動時の放出ガ
スを除去できたため放電回数が減少したものと思われ
る。
[0131] Table 1 shows the number of discharges of the field emission devices of Example 3 and Comparative Example 3. From Table 1, it was found that the image display device manufactured in this example can be stably operated with little discharge. The reason for the stable operation is that the non-evaporable getter can be activated in the vacuum baking process without deteriorating in the sealing process, and the number of discharges has been reduced because the gas released during driving was removed. Seem.

【0132】[0132]

【発明の効果】本発明によると、画像形成装置は、画像
形成装置を真空中に保持し、封着材を封着温度に加熱溶
融し封着するときに、非蒸発型ゲッタの一部もしくは全
部を前記封着温度未満の温度して封着している。したが
って、非蒸発型ゲッタの封着時のダメージを抑制するこ
とができる。これによって、後の吸着特性を得るための
ゲッタ活性化を行いやすくなり、通常の真空ベーキング
工程でゲッタ活性化を行うことができる。
According to the present invention, when the image forming apparatus is held in a vacuum and the sealing material is heated and melted to the sealing temperature and sealed, a part of the non-evaporable getter is formed. All are sealed at a temperature lower than the sealing temperature. Therefore, damage at the time of sealing the non-evaporable getter can be suppressed. This makes it easier to perform getter activation for obtaining later adsorption characteristics, and can perform getter activation in a normal vacuum baking step.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施例の画像表示装置の封着方法を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram illustrating a sealing method of an image display device according to an embodiment.

【図2】本実施例に用いた画像表示装置の斜視図であ
る。
FIG. 2 is a perspective view of the image display device used in the present embodiment.

【図3】表面伝導型電子放出素子の構成を示す模式図で
ある。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a configuration of a surface conduction electron-emitting device.

【図4】実施例1及び比較例1の輝度の経時変化を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing a change over time in luminance of Example 1 and Comparative Example 1.

【図5】実施例1及び比較例1の画像表示装置の圧力を
示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing pressures of the image display devices of Example 1 and Comparative Example 1.

【図6】本実施例の画像表示装置の封着方法を示す図で
ある。
FIG. 6 is a diagram illustrating a sealing method of the image display device according to the present embodiment.

【図7】実施例2及び比較例2の平均電子放出量の経時
変化を示す図である。
FIG. 7 is a graph showing the change over time in the average electron emission amount in Example 2 and Comparative Example 2.

【図8】電界放出型電子放出素子の構成を示す模式図で
ある。
FIG. 8 is a schematic diagram showing a configuration of a field emission type electron emission element.

【図9】本実施例の画像表示装置の封着方法を示す図で
ある。
FIG. 9 is a diagram illustrating a sealing method of the image display device according to the present embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,101 フェースプレート 7,7′、111,111′ 排気管 8,103 リアプレート 9,104 外枠 21(a)、21(b)、110,110′、110″
フリットガラス 16 蒸発型ゲッタ 112 リング型非蒸発型ゲッタ 19 表面伝導型放出素子 12 列方向配線(下配線) 13 下配線と上配線との絶縁層 14 行方向配線(上配線) 102(a) 透明導電膜ITO 102(b) 蛍光膜 102(c) メタルバック 11(a)、11(b) 素子電極 15 導電性薄膜 20 電子放出部 105 陰極 106 ゲート電極 107 ゲート/陰極間絶縁層 108 スペーサ 18,109 面内非蒸発型ゲッタ 112 リング型非蒸発型ゲッタ 22,22′,120,120′ アシスト加熱用ホッ
トプレート 23 レーザ光源 24 レーザ光 25 封着用真空装置 26 ビューポート 27 ミラー 28 フリット局所加熱用金属箔ヒータ 121,121′ フリット間接加熱用ホットプレート
1, 101 Face plate 7, 7 ', 111, 111' Exhaust pipe 8, 103 Rear plate 9, 104 Outer frame 21 (a), 21 (b), 110, 110 ', 110 "
Frit glass 16 Evaporation type getter 112 Ring type non-evaporation type getter 19 Surface conduction type emission element 12 Column direction wiring (lower wiring) 13 Insulating layer between lower wiring and upper wiring 14 Row wiring (upper wiring) 102 (a) Transparent Conductive film ITO 102 (b) Fluorescent film 102 (c) Metal back 11 (a), 11 (b) Device electrode 15 Conductive thin film 20 Electron emission section 105 Cathode 106 Gate electrode 107 Gate / cathode insulating layer 108 Spacer 18, 109 In-plane non-evaporable getter 112 Ring non-evaporable getter 22, 22 ', 120, 120' Assist heating hot plate 23 Laser light source 24 Laser beam 25 Sealing vacuum device 26 Viewport 27 Mirror 28 Frit Local heating metal Foil heater 121, 121 'Hot plate for indirect heating of frit

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子放出素子を配置した第1の基板と、
前記電子放出素子から放出される電子を受けて発光する
蛍光体を配置した第2の基板とこれらを支持する支持体
とを備え、内部に非蒸発型ゲッタを具備し、封着材を介
して接合する画像形成装置の封着方法において、 前記画像形成装置を真空中に保持し、 前記封着材を封着温度に加熱溶融し封着するときに、前
記非蒸発型ゲッタの一部もしくは全部を前記封着温度未
満の温度とすることを特徴とする画像形成装置の封着方
法。
A first substrate on which an electron-emitting device is arranged;
A second substrate on which a phosphor that receives and emits electrons emitted from the electron-emitting device is disposed, and a support that supports them is provided.A non-evaporable getter is provided inside, and a sealing material is interposed therebetween. In the sealing method of the image forming apparatus to be joined, when the image forming apparatus is held in a vacuum and the sealing material is heated and melted to a sealing temperature and sealed, a part or all of the non-evaporable getter is provided. At a temperature lower than the sealing temperature.
【請求項2】 前記封着材は、ガラスフリットであるこ
とを特徴とする請求項1記載の画像形成装置の封着方
法。
2. The method according to claim 1, wherein the sealing material is a glass frit.
【請求項3】 前記封着材は、光学的手段によって加熱
することを特徴とする請求項1記載の画像形成装置の封
着方法。
3. The method according to claim 1, wherein the sealing material is heated by optical means.
【請求項4】 前記封着材は、隣接配置した金属箔もし
くは金属膜に通電することによって加熱することを特徴
とする請求項1記載の画像形成装置の封着方法。
4. The sealing method for an image forming apparatus according to claim 1, wherein the sealing material is heated by applying a current to a metal foil or a metal film disposed adjacent to the sealing material.
【請求項5】 前記封着材は、前記支持体あるいは前記
第1の基板、前記第2の基板のいずれか又はすべてを介
して間接的に加熱することを特徴とする請求項1記載の
画像形成装置の封着方法。
5. The image according to claim 1, wherein the sealing material is indirectly heated via the support or any or all of the first substrate and the second substrate. A method of sealing a forming apparatus.
【請求項6】 前記電子放出素子は、表面伝導型電子放
出素子もしくは電界放出型電子放出素子であることを特
徴とする請求項1記載の画像形成装置の封着方法。
6. The method according to claim 1, wherein the electron-emitting device is a surface conduction electron-emitting device or a field emission electron-emitting device.
【請求項7】 電子放出素子を配置した第1の基板と、
前記電子放出素子から放出される電子を受けて発光する
蛍光体を配置した第2の基板とこれらを支持する支持体
とを備え、内部に非蒸発型ゲッタを具備し、封着材を介
して接合する画像形成装置の製造装置において、 前記画像形成装置を真空中に保持する手段と、 前記封着材を封着温度に加熱溶融し封着するときに、前
記非蒸発型ゲッタの一部もしくは全部を前記封着温度未
満の温度とする手段とを有することを特徴とする画像形
成装置の製造装置。
7. A first substrate having an electron-emitting device disposed thereon,
A second substrate on which a phosphor that receives and emits electrons emitted from the electron-emitting device is disposed, and a support that supports them is provided.A non-evaporable getter is provided inside, and a sealing material is interposed therebetween. In a manufacturing apparatus of an image forming apparatus to be joined, a unit for holding the image forming apparatus in a vacuum, and when heating and melting the sealing material to a sealing temperature and sealing, a part of the non-evaporable getter or Means for lowering the temperature of the entirety to below the sealing temperature.
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JP4665260B2 (en) * 2006-12-29 2011-04-06 エルティエス カンパニー リミティッド Glass substrate sealing system and sealing method

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