WO2024176377A1

WO2024176377A1 - 表示装置及びその製造方法

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Publication number: WO2024176377A1
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Inventors: 拓也岡本
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Filing date: 2023-02-22
Publication date: 2024-08-29
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Abstract

額縁領域（Ｆ）に方向（Ｙ）に延びるように設けられた端子部（Ｔ）と、端子部（Ｔ）に配列された複数のパネル端子（１）とを有する表示パネル（ＤＰ）と、複数のパネル端子（１）とそれぞれ接続される複数の基板端子（２１）が配列されたＦＰＣ（２０）とを備え、端子部（Ｔ）には、方向（Ｙ）と平行に延び、ＦＰＣ（２０）の接続位置において複数の基板端子（２１）の端子部側端部（Ｅｔ）と平面視で重なる非透明の端子パターン（３）が設けられ、端子パターン（３）には複数の基板端子（２１）の端子部側端部（Ｅｔ）に対応する位置に少なくとも１つの透孔（４ａ）が形成されている。

Description

表示装置及びその製造方法

　本発明は、表示装置及びその製造方法に関するものである。

　近年、液晶表示装置に代わる表示装置として、有機エレクトロルミネッセンス（electroluminescence、以下「ＥＬ」とも称する）素子を用いた自発光型の有機ＥＬ表示装置が注目されている。有機ＥＬ表示装置では、可撓性を有する樹脂基板上には、表示領域を構成する有機ＥＬ素子等が形成されると共に、表示領域の周囲の額縁領域にＦＰＣ（flexible printed circuit）等のフィルム状のフレキシブルな配線基板が実装されたＣＯＦ（chip on film）やＦＯＦ（film on film）等と称されるフレキシブルパネル構造を有するフレキシブルな有機ＥＬ表示装置が提案されている。配線基板は、例えば異方性導電性フィルム（anisotropic conductive film：ＡＣＦ）等の導電性材料を用いて、フレキシブルパネル（表示パネル）における額縁領域の一端部に設けられた端子部に圧着実装（圧着接続）される。これにより、端子部及び配線基板にそれぞれ配列された端子同士が導電性材料を介して電気的に接続される。

　ここで、表示パネルに配列されたパネル端子と配線基板に配列された基板端子とをそれぞれ圧着接続する際に、フレキシブル材料同士であるため、対応するパネル端子と基板端子との間の位置ずれ（以下単に「端子間の位置ずれ」とも称する）が生じることがある。そのため、端子間の位置ずれを検査する方法やそのための端子構造（端子パターン）等が種々提案されている。

　例えば、特許文献１には、本来備える電極端子部あるいは接続端子のうち、特定のものを、それの隣の電極端子部あるいは接続端子との間隔が部分的に小さくなる検査部分を備えるように異なる形状として位置ズレの検査に利用する配線基板の接続構造が提案されている。また、特許文献２には、駆動用ＩＣが搭載されるフレキシブル基板に、ＩＣチップ側のダミーバンプに対応した位置ずれ検出用パターンが設けられたＣＯＦ型の光学表示装置が提案されている。

　しかしながら、特許文献１及び２に記載の端子構造では、端子間の位置ずれを検査する方法として、電気的な通電による検知（通電検査）が採用されているため、圧着接続前に位置ずれを検査できない又は検査するのが困難である。

　圧着接続前の位置合わせ（仮圧着）状態でも端子間の位置ずれを検査可能な方法としては、電気的な確認方法に代えて、例えば、接続部位をＣＣＤカメラで撮像した画像で確認する方法、接続部位に光を照射してその透過光や反射光を測定する方法等が挙げられる。

　例えば、特許文献３には、テープキャリアパッケージ（ＴＣＰ）やその他のフレキシブル配線基板の端子群と、これに接続する表示パネルの透明絶縁基板上のパッド群とに、対応する各リード線にくさび形先端部（位置合わせマーク）が設けられた平面表示装置が提案されている。この平面表示装置では、位置合わせマークの配置個所をＣＣＤカメラにより捉えたモニター上の画像で位置合わせまたは位置ずれの確認を行う。

　しかしながら、特許文献３に記載の平面表示装置では、表示パネルの端子だけでなく、フレキシブル配線基板の端子もその形状（端子構造）を変更しなければならず、装置専用のフレキシブル配線基板を準備する必要がある。

特開２００８－１４１０７８号公報特開２００８－１５８４６１号公報特開２００２－２５８７７１号公報

　光を用いた接続部位の検査では、例えば、同軸落射光を用いて端子表面の凹凸（圧着痕、圧痕)や、同軸落射光と共に透過光を用いて端子間の位置ずれ等を検査する。位置ずれの具体的な検査方法としては、例えば、パネル端子及び基板端子を検出し、検出された端子間の距離を測ることで検査する方法等が挙げられる。この方法で従来の端子構造における端子間の位置ずれを検査する場合、パネル端子及び基板端子を安定して検出できないことがある。この原因としては、透過光による端子の影を端子として検出するため、端子間に発生した陰影やその他干渉物が影に影響して誤検出や検出できないという事象が考えられる。また、端子が傾斜して左右対称に配置された端子構造では、左側端子と右側端子の見え方（検出される影）に差異が生じるという不都合もある。この原因としては、上記の事象に加えて、接続に使用する導電性材料、左側端子と右側端子との厚みの差、フィルムの反りによる焦点の差等が影響していると考えられる。このように、従来の端子構造では、光を用いて端子間の位置ずれを精度よく検査できないおそれがあり、改善の余地がある。

　本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、表示パネル側のパネル端子及びこれに接続する配線基板側の基板端子の端子構造を変更することなく、これら端子の接続前後において端子間の位置ずれを精度よく検査することにある。

　上記目的を達成するために、本発明に係る表示装置は、表示領域と、上記表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、上記額縁領域の一端部に一方向に延びるように設けられた端子部と、上記端子部に配列された複数のパネル端子とを有する表示パネルと、上記複数のパネル端子とそれぞれ接続される複数の基板端子が配列された配線基板と、を備えた表示装置であって、上記端子部には、上記複数の基板端子の延びる方向とは交差する幅方向に延び、上記配線基板の接続位置において該複数の基板端子の端子部側端部と平面視で重なる非透明の端子パターンが設けられ、上記端子パターンには、上記複数の基板端子の上記端子部側端部に対応する位置に、少なくとも１つの透孔が形成されていることを特徴とする。

　本発明に係る表示装置の製造方法は、表示領域と、上記表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、上記額縁領域の一端部に一方向に延びるように設けられた端子部と、上記端子部に配列された複数のパネル端子とを有する表示パネルと、上記複数のパネル端子とそれぞれ接続される複数の基板端子が配列された配線基板と、を備えた表示装置の製造方法であって、上記端子部に、上記複数の基板端子の延びる方向とは交差する幅方向に延び、上記配線基板の接続位置において該複数の基板端子の端子部側端部と平面視で重なり、該複数の基板端子の上記端子部側端部に対応する位置に、少なくとも１つの透孔を有する非透明の端子パターンを形成する端子パターン形成工程と、上記端子部に上記配線基板を圧着接続する接続工程と、上記端子部に透過光を照射して、上記透孔を通り抜ける透過光の幅を測定することにより、上記複数の基板端子とそれに対応する上記複数のパネル端子との端子間の位置ずれを検出する工程を備えることを特徴とする。

　本発明によれば、表示パネル側のパネル端子及びこれに接続する配線基板側の基板端子の端子構造を変更することなく、これら端子の接続前後において端子間の位置ずれを精度よく検査することができる。

図１は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の表示パネルの概略構成を示す平面図である。図２は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の表示領域の詳細構成を示す平面図である。図３は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部に配置されたパネル端子と端子パターンとを示す拡大平面図である。図４は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部において、基板端子と対応するパネル端子との端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図である。図５は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部において、基板端子と対応するパネル端子との端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図である。図６は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図である。図７は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図である。図８は、本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図であり、図６に相当する図である。図９は、本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図であり、図７に相当する図である。図１０は、本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の端子パターンに形成された透孔を説明するための拡大平面図である。図１１は、本発明の第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図であり、図６に相当する図である。図１２は、本発明の第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図であり、図７に相当する図である。図１３は、本発明の第４の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図であり、図６に相当する図である。図１４は、本発明の第４の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の端子部の透過光による検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図であり、図７に相当する図である。

　以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、以下の各実施形態に限定されるものではない。

　《第１の実施形態》
　図１～図７は、本発明に係る表示装置の第１の実施形態を示している。なお、以下の各実施形態では、発光素子を備えた表示装置として、有機ＥＬ素子を備えた有機ＥＬ表示装置を例示する。ここで、図１は、本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ａの表示パネルＤＰの概略構成を示す平面図である。図２は、有機ＥＬ表示装置１０ａの表示領域Ｄの詳細構成を示す平面図である。図３は、有機ＥＬ表示装置１０ａの端子部Ｔに配置されたパネル端子１と端子パターン３とを示す拡大平面図である。図４は、有機ＥＬ表示装置１０ａの端子部Ｔにおいて、基板端子２１と対応するパネル端子１との端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図である。図５は、有機ＥＬ表示装置１０ａの端子部Ｔにおいて、基板端子２１と対応するパネル端子１との端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図である。図６は、有機ＥＬ表示装置１０ａの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図である。図７は、有機ＥＬ表示装置１０ａの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図である。なお、図６及び図７では、パネル端子１が省略されている。

　有機ＥＬ表示装置１０ａは、図１に示すように、例えば、矩形状に設けられた画像表示を行う表示領域Ｄと、表示領域Ｄの周囲に枠状に設けられた額縁領域Ｆと、額縁領域Ｆの方向Ｘにおける一端部（図１では右端部）に設けられた端子部Ｔとを有する表示パネルＤＰを備える。表示パネルＤＰを構成するベース基板（不図示）は、例えばポリイミド樹脂等の可撓性を有する樹脂基板で形成される。即ち、表示パネルＤＰはフレキシブルパネルといえる。なお、本実施形態では、矩形状の表示領域Ｄを例示したが、この矩形状には、例えば、辺が円弧状になった形状、角部が円弧状になった形状、辺の一部に切り欠きがある形状等の略矩形状も含まれる。有機ＥＬ表示装置１０ａでは、当該装置を構成する基板表面に平行な方向Ｘと、方向Ｘに垂直で且つ該基板表面に平行な方向Ｙとが規定されている。

　表示領域Ｄには、図２に示すように、複数のサブ画素Ｐがマトリクス状に配列されている。また、表示領域Ｄでは、図２に示すように、例えば、赤色の表示を行うための赤色発光領域Ｌｒを有するサブ画素Ｐ、緑色の表示を行うための緑色発光領域Ｌｇを有するサブ画素Ｐ、及び青色の表示を行うための青色発光領域Ｌｂを有するサブ画素Ｐが互いに隣り合うように設けられている。なお、表示領域Ｄでは、例えば、赤色発光領域Ｌｒ、緑色発光領域Ｌｇ及び青色発光領域Ｌｂを有する隣り合う３つのサブ画素Ｐにより、１つの画素が構成されている。なお、サブ画素Ｐの配列は、特に限定されず、例えば、ペンタイル配列、ストライプ配列等が挙げられる。

　額縁領域Ｆには、図１に示すように、端子部Ｔと表示領域Ｄとの間に、方向Ｙ（図１では縦方向）を折り曲げの軸として１８０°（Ｕ字状）に折り曲げ可能な折り曲げ部Ｂが方向Ｙに延びるように設けられている。

　端子部Ｔは、図１に示すように、方向Ｙに延びるように設けられる。端子部Ｔには、フレキシブルな配線基板（フィルム状の基板）として設けられたＦＰＣ２０が実装される。即ち、有機ＥＬ表示装置１０ａは、フレキシブルパネルである表示パネルＤＰ（その端子部Ｔ）にＦＰＣ２０が実装されたＦＯＦ型のフレキシブルパネル構造を有する表示装置といえる。

　ＦＰＣ２０の一端部（図１中では左側端部）には、複数の基板端子２１（図４～図７参照）が配列されている。基板端子２１は、ＦＰＣ２０を表示パネルＤＰと電気的に接続するために、端子部Ｔに圧着接続する接続端子といえる。

　一方、端子部Ｔには、図１に示すように（図３～図５も参照）、複数の基板端子２１に対応するように複数のパネル端子１，２がそれぞれ配列されている。なお、本実施形態では、図３～図５に示すように、端子部Ｔの端子構造は、パネル端子１，２の延びる方向Ｘ１に平行に互いに離間して配列された２段構成になっているがこれに限定されず、ＦＰＣ２０に配列された基板端子２１に応じて適宜決定すればよく、１段構成でもよく、２段よりも多い構成でもよい。ここで、パネル端子１はパネル端子２よりも表示パネルＤＰ端（縁）側に配置されている。パネル端子１，２は基板端子２１が圧着接続される被接続端子といえる。

　パネル端子１，２と基板端子２１とは、導電性材料（不図示）を用いて圧着実装（圧着接続）され、これによりパネル端子１，２と基板端子２１とが導電性材料を介して電気的に接続される。導電性材料（導電性接着剤）としては、例えば、導電性ペースト、ＡＣＦ等が挙げられる。

　パネル端子１，２は、図１に示すように、端子部Ｔが延びる方向Ｙに沿って複数行に配列されている。また、図３～図５に示すように、パネル端子１，２は、方向Ｙと交差する方向Ｘ１（図３～図５では左方に傾斜）に平行に延びるように設けられる。なお、パネル端子１，２が延びる方向Ｘ１は、方向Ｘに対して左右何れに傾斜していてもよく、方向Ｘと平行であってもよい（この場合、方向Ｙと直交する）。なお、ＦＰＣ２０の接続位置における基板端子２１が延びる方向は、対応するパネル端子１，２が延びる方向Ｘ１と同じである。また、方向Ｘ１とは交差するパネル端子１，２及びＦＰＣ２０の接続位置における基板端子２１の幅方向は、端子部Ｔが延びる方向Ｙと同じである。

　なお、図４及び図５に示すように、パネル端子１，２の幅（短手方向（方向Ｙ）の寸法）は、特に限定されず、基板端子２１の幅と同等、又は基板端子２１の幅よりも大きく且つ隣り合うパネル端子１若しくは隣り合うパネル端子２が平面視で重ならないように設定すればよい。

　ここで、有機ＥＬ表示装置１０ａでは、図３～図７に示すように、端子部Ｔにおいて、非透明（遮光性、半透明）の端子パターン３が設けられる。端子パターン３は、パネル端子１，２、基板端子２１、及びその他端子部Ｔの導電性部位のいずれとも電気的に接続されない。端子パターン３は電気的な接続を行わない検査用に独立したパターンをいう。

　端子パターン３は、図３に示すように、パネル端子２よりも表示パネルＤＰ端（縁）側に配置された、複数のパネル端子１の端子部側端部Ｅｔに隣接し、パネル端子１が延びる方向Ｘ１と交差する（端子部Ｔが延びる）方向Ｙに平行に延びるように平面視で帯状に設けられる。換言すると、平面視で帯状の端子パターン３は端子部Ｔが延びる方向に平行に設けられる。

　端子パターン３は、図４及び図５に示すように、ＦＰＣ２０の接続位置において複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔと平面視で重なるように設けられる。ＦＰＣ２０の接続位置とは、端子部ＴにＦＰＣ２０が正しく接続された状態の位置をいい、基板端子２１と対応するパネル端子１との端子間の位置ずれが無い、又は当該端子間の位置ずれが設計上の許容値以内である位置をいう。このように、端子パターン３は、ＦＰＣ２０の接続位置において複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔの上に設けられており、ＦＰＣ２０を接続するときに複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔを跨ぐ。

　なお、端子パターン３は、パネル端子１，２と同一層に設けられていてもよく、パネル端子１，２とは異なる層（別層）に設けられていてもよい。上記同一層の場合は、端子パターン３とパネル端子１，２とが重ならないように形成する。また、上記同一層の場合、端子パターン３とパネル端子１，２との間に間隙を設けて形成することもでき、端子パターン３とパネル端子１，２との間に隙間を設けずに形成することもできる。また、上記同一層の場合、端子パターン３は非透明で非導電性の材料で形成され、例えば、着色された無機絶縁膜や黒色顔料等を混合して着色されたアクリル樹脂、ポリ尿素樹脂、パリレン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂等の有機樹脂材料からなる有機絶縁膜等の単層膜又は積層膜により構成される。なお、端子パターン３とパネル端子１，２との間に間隙を設ける場合、端子パターン３は非透明で導電性の材料で形成されていてもよい。一方、上記別層の場合、端子パターン３は非透明の材料から形成され、例えば、アルミニウムや銅などの金属材料や着色された無機絶縁膜、着色された有機樹脂膜等の単層膜又は積層膜により構成される。即ち、上記別層の場合、端子パターン３は、非透明で導電性の材料で形成されていてもよく、非透明で非導電性の材料で形成されていてもよい。

　また、有機ＥＬ表示装置１０ａでは、図３～図７に示すように、帯状の端子パターン３には、ＦＰＣ２０の接続位置において複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔに対応する位置に透孔４ａが形成されている。透孔４ａは少なくとも１つ形成されていればよく、図３～図７に示すように、複数の基板端子２１の数に対応して複数形成されていてもよい。なお、複数の基板端子２１のうち、所定の端子数分だけ間隔をあけて（所定数の基板端子２１毎に）複数の透孔４ａが形成されていてもよい。

　透孔４ａは、図３～図７に示すように、平面視で矩形状に形成された矩形状透孔を含む。本実施形態では、複数の透孔４ａは、すべて矩形状透孔に形成されている。以下、透孔４ａを矩形状透孔４ａとも称する。図６に示すように、矩形状透孔４ａの幅（方向Ｙの寸法）Ｗａは特に限定されず、基板端子２１の幅と同等、又は基板端子２１の幅と設計上の端子間の位置ずれの許容値（＋１０％程度）の合計以下となるように設定すればよい。また、本実施形態では、図６に示すように、互いに隣接する複数の透孔４ａの幅Ｗａがすべて同等になっている。

　透孔４ａの大きさ（面積）は、特に限定されず、後述する検査工程において、透孔４ａを通り抜けた透過光Ｌの幅を計測可能な大きさ以上に設定すればよい。なお、本実施形態では、複数の透孔４ａの大きさがすべて同等になっている。即ち、複数の透孔４ａの長さ（方向Ｘ又は基板端子２１が延びる方向Ｘ１の寸法）もすべて同等になっている。

　なお、透孔４ａは、例えば、端子パターン３をその厚み方向に貫通させることにより形成される。具体的には、透孔４ａは、端子パターン３を貫通し、その下層の表面が露出するように形成される。即ち、透孔４ａにおいて、端子パターン３が除去されている。

　次に、本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ａの製造方法について説明する。本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ａの製造方法は、端子パターン形成工程と、接続工程と、端子間の位置ずれを検出する工程とを備える。なお、端子間の位置ずれを検出する工程は、位置合わせ工程として接続工程の前に実施してもよく、検査工程として接続工程の後に実施してもよい。

　＜端子パターン形成工程＞
　端子パターン形成工程は、端子部Ｔに、少なくとも１つの透孔４ａを有する非透明の端子パターン３を形成する工程をいう。例えば、表示パネルＤＰを構成する基板表面に、周知の方法を用いて、金属膜を成膜した後に、当該金属膜をパターニングして、パネル端子１，２等を形成する。このパネル端子１，２を形成する前後に成膜する無機絶縁膜又は有機絶縁膜を利用して、当該絶縁膜をパターニングすることにより、平面視で端子部Ｔが延びる方向Ｙと平行に延びる帯状の端子パターン３を形成する。このとき、後続の接続工程で接続するＦＰＣ２０の設計上の接続位置において複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔと平面視で重なるように、端子パターン３を配置する。透孔４ａは、例えばエッチング等の周知の方法を用いて、端子パターン３に形成する。このとき、ＦＰＣ２０の設計上の接続位置において複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔに対応する位置に、透孔４ａを配置する。換言すると、透孔４ａは、複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔと平面視で重なるように形成する。

　＜位置合わせ工程（接続工程前の工程）＞
　パネル端子１及び基板端子２１間の確実な導通を確保する観点から、接続工程の前に、パネル端子１と基板端子２１の位置合わせ（仮圧着）を行うことが好ましい。換言すると、有機ＥＬ表示装置１０ａの製造方法では、圧着前の位置合わせ時点でも、端子間の位置ずれの確認が可能である。具体的な工程は後述する検査工程と同様である。

　＜接続工程＞
　接続工程は、表示パネルＤＰの端子部ＴにＡＣＦ等を用いてＦＰＣ２０を圧着接続する工程をいう。この工程により、端子部Ｔに配列された複数のパネル端子１と、ＦＰＣ２０に配列された複数の基板端子２１とがそれぞれ対応するように、ＡＣＦを介して電気的に接続される。

　＜検査工程（接続工程後の工程）＞
　検査工程は、ＦＰＣ２０側の基板端子２１とそれに対応する表示パネルＤＰ側のパネル端子１との端子間の位置ずれを検出する工程をいう。この工程では、まず、ＦＰＣ２０が圧着接続された表示パネルＤＰの端子部Ｔに透過光Ｌを照射する。続いて、透過光Ｌを照射した状態で、帯状の端子パターン３に形成された透孔４ａを通り抜ける透過光Ｌの有無、又は透孔４ａとそれに対応する（平面視で重なる）基板端子２１との隙間から漏れ出る透過光Ｌの幅を測定する。測定方法としては、例えば、目視で確認する方法、ＣＣＤカメラ（不図示）等を用いて計測する方法等が挙げられる。

　具体的には、図４に示すように、基板端子２１と対応するパネル端子１との端子間の位置ずれが無い状態では、図６に示すように、透孔４ａと対応する基板端子２１とが平面視で重なるため、透孔４ａから透過光Ｌが通り抜けできない（漏れない）。そのため、透孔４ａは目視で黒く見える、又はＣＣＤカメラには黒く映る。この場合、検査工程は合格となる。

　一方、図５に示すように、基板端子２１と対応するパネル端子１との端子間の位置ずれが有る状態では、図７に示すように、透孔４ａと対応する基板端子２１とが平面視で重ならない部分における透孔４ａ（即ち上記隙間）から透過光Ｌが通り抜ける（漏れ出る）。この場合、上記部分における透孔４ａは白く（明るく）見える、又はＣＣＤカメラには白く映る。このとき、白く見える又は白く映る透過光Ｌの幅Ｍ（図７参照）を計測する。透過光Ｌの幅Ｍは、図７に示すように、方向Ｙにおいて、透孔４ａの一端（図７では左側端）と基板端子２１の一端（図７では左側端）との距離をいう。この距離を測定することで端子間の位置ずれを検出できる。端子間の位置ずれの測定値が設計上の許容値以内であれば検査は合格となり、当該許容値を超える場合、検査は不合格となる。

　以上のようにして、有機ＥＬ表示装置１０ａを製造することができる。

　＜効果＞
　以上説明したように、本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ａ及びその製造方法によれば、以下の効果を得ることができる。
（１）有機ＥＬ表示装置１０ａでは、端子部Ｔにおいて、ＦＰＣ２０の接続位置における複数の基板端子２１の端子部側端部Ｅｔと平面視で重なるように非透明の端子パターン３が設けられ、端子パターン３における当該端子部側端部Ｅｔに対応する位置に少なくとも１つの透孔４ａが形成されている。このように、有機ＥＬ表示装置１０ａでは、端子部Ｔにおいて、端子パターン３及びその透孔４ａが設けられる一方、表示パネルＤＰ側のパネル端子１及びこれに接続するＦＰＣ２０側の基板端子２１の端子構造はいずれも変更されない。
（２）有機ＥＬ表示装置１０ａの製造方法では、パネル端子１と基板端子２１端子との端子間の位置ずれを、接続後の電気的な通電による検知（通電検査）ではなく、端子パターン３に形成された透孔４ａを利用して端子部Ｔに透過光Ｌを照射したときに透孔４ａを通り抜ける光の有無又は光の幅を測定することにより検査する。このように、有機ＥＬ表示装置１０ａの製造方法では、端子間の位置ずれの有無が、透孔４ａを通り抜ける透過光Ｌの有無を一目で（目視でも）確認でき、その判断が容易になる。また、パネル端子１及び基板端子２１を安定して検出できない従来の端子構造と比較して、光の幅を測定する方法では、端子間の位置ずれの測定精度が向上する。さらに、端子間の電気的な接続無しに端子間の位置ずれを検出できるため、接続後の検査のみではなく、接続前の位置合わせの段階でも検査可能である。
（３）上記（１）及び（２）より、有機ＥＬ表示装置１０ａ及びその製造方法では、表示パネルＤＰ側のパネル端子１及びこれに接続するＦＰＣ２０側の基板端子２１の端子構造を変更することなく、これら端子１，２１の接続前後において端子間の位置ずれを精度よく検査できる。

　《第２の実施形態》
　次に、図８～図１０を用いて、本発明の第２の実施形態について説明する。図８は、本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｂの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図であり、図６に相当する図である。図９は、有機ＥＬ表示装置１０ｂの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図であり、図７に相当する図である。図１０は、有機ＥＬ表示装置１０ｂの端子部Ｔの端子パターン３に形成された透孔４ｂを説明するための拡大平面図である。なお、有機ＥＬ表示装置１０ｂの全体構成は、端子部Ｔの構成以外、上記第１の実施形態の場合と同じであるため、ここでは詳しい説明を省略する。また、第１の実施形態と同様の構成部分については同一の符号を付してその説明を省略する。

　有機ＥＬ表示装置１０ｂでは、平面視において、端子パターン３に形成された透孔４ｂの形状が、有機ＥＬ表示装置１０ａの透孔４ａの形状とは異なる。図８～図１０に示すように、透孔４ｂは、平面視で凸状に形成された凸状透孔を含む。本実施形態では、複数の透孔４ｂは、すべて凸状透孔に形成されている。以下、透孔４ｂを凸状透孔４ｂとも称する。

　図１０に示すように、凸状透孔４ｂは、矩形状に形成された第１領域４ｂｉと、第１領域４ｂｉよりも小さい矩形状に形成された２つの第２領域４ｂｏとで構成される。第２領域４ｂｏは、第１領域４ｂｉにおける基板端子２１の幅方向（方向Ｙ）の両端に設けられる。また、第２領域４ｂｏは、基板端子２１が延びる方向Ｘ１において、第１領域４ｂｉにおける中間部から一端部にかかる部分に配置される。本実施形態では、方向Ｘ１において、第２領域４ｂｏが、第１領域４ｂｉにおける同じ側の一端部（図１０では右端部、基板端子２１の表示領域側端部Ｅｄ側）に配置されている。

　第１領域４ｂｉとは、この領域内で基板端子２１の位置ずれが生じても、端子間の位置ずれの測定値が設計上の許容値以内であり、検査では合格となる基準値内領域をいう。換言すると、図８や図９のように、基板端子２１のすべてが第１領域４ｂｉと平面視で重なる場合、上記の位置合わせ工程及び／又は検査工程において合格となる。

　一方、第２領域４ｂｏとは、この領域まで基板端子２１の位置ずれが生じた場合、端子間の位置ずれの測定値が設計上の許容値を超え、検査では不合格となる基準値外領域をいう。図１０に示すように、基板端子２１の一部が第２領域４ｂｏと平面視で重なる場合、上記の位置合わせ工程及び／又は検査工程において不合格となる。

　凸状透孔４ｂにおける第１領域４ｂｉの幅（狭幅）Ｗｂｆは、特に限定されず、基板端子２１の幅と同等、又は基板端子２１の幅と設計上の端子間の位置ずれの許容値（＋１０％程度）の合計以下となるように設定すればよい。凸状透孔４ｂにおける第１領域４ｂｉの幅と２つの第２領域４ｂｏの幅の合計（広幅）Ｗｂｂは、特に限定されず、狭幅Ｗｂｆよりも大きく且つ隣り合う凸状透孔４ｂと平面視で重ならないように設定すればよい。なお、本実施形態では、図８～図１０に示すように、互いに隣接する複数の凸状透孔４ｂの狭幅Ｗｂｆ及び広幅Ｗｂｂがすべて同等になっている。

　透孔４ｂの大きさ（面積）は、特に限定されず、上記検査工程において、透孔４ｂを通り抜けた透過光Ｌの幅を計測可能な大きさ以上に設定すればよい。なお、本実施形態では、複数の透孔４ｂの大きさがすべて同等になっている。即ち、複数の透孔４ｂの長さもすべて同等になっている。

　本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｂは、上述の有機ＥＬ表示装置１０ａと同様の方法で製造できる。具体的には、孔形成工程において、透孔の形状を変更すればよい。それ以外の工程は、上記と同様に適用される。

　＜効果＞
　以上に説明した有機ＥＬ表示装置１０ｂ及びその製造方法によれば、上記（１）～（３）の効果に加えて、以下の効果を得ることができる。
（４）有機ＥＬ表示装置１０ｂ及びその製造方法では、端子パターン３に、矩形状透孔４ａに代えて凸状透孔４ｂが形成される。これにより、凸形状を利用して、基板端子２１のすべてが第１領域４ｂｉ（基準値内領域）内に入っているか、又は基板端子２１の一部が第２領域４ｂｏ（基準値外領域）と重なっているかを一目で（目視でも）確認できる。したがって、パネル端子１と基板端子２１端子との端子間の位置ずれの判断がより一層容易になる。

　《第３の実施形態》
　次に、図１１及び図１２を用いて、本発明の第３の実施形態について説明する。図１１は、本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｃの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図であり、図６に相当する図である。図１２は、有機ＥＬ表示装置１０ｃの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図であり、図７に相当する図である。なお、有機ＥＬ表示装置１０ｃの全体構成は、端子部Ｔの構成以外、上記第１の実施形態の場合と同じであるため、ここでは詳しい説明を省略する。また、第１の実施形態と同様の構成部分については同一の符号を付してその説明を省略する。

　有機ＥＬ表示装置１０ｃでは、図１１及び図１２に示すように、平面視において、有機ＥＬ表示装置１０ａの矩形状透孔４ａと同様に、矩形状透孔４ｃ１，４ｃ２，４ｃ３（以下まとめて「透孔４ｃ」又は「矩形状透孔４ｃ」とも称する）が形成されている。換言すると、透孔４ｃは、平面視で矩形状に形成された矩形状透孔を含む。ここで、有機ＥＬ表示装置１０ｃでは、互いに隣接する複数の透孔４ｃの幅が、同じ幅Ｗａを有する複数の透孔４ａとは異なり、それぞれ相違している。

　具体的には、図１１及び図１２に示すように、矩形状透孔４ｃは、幅Ｗｃ１を有する第１矩形状透孔４ｃ１と、第１矩形状透孔４ｃ１の幅Ｗｃ１よりも大きい幅Ｗｃ２を有する第２矩形状透孔４ｃ２と、第２矩形状透孔４ｃ２の幅Ｗｃ２よりも大きい幅Ｗｃ３を有する第３矩形状透孔４ｃ３とを含む。そして、第１矩形状透孔４ｃ１と第２矩形状透孔４ｃ２と第３矩形状透孔４ｃ３が並んで配されている。このように、矩形状透孔４ｃは、幅Ｗｃ１，Ｗｃ２，Ｗｃ３が異なる３つの透孔４ｃ１，４ｃ２，４ｃ３を１つの構成単位とする。なお、本実施形態では、矩形状透孔４ｃは、３つの透孔４ｃ１，４ｃ２，４ｃ３を１つの構成単位としているが、特に限定されず、例えば、幅Ｗｃ１、Ｗｃ２が異なる２つの透孔４ｃ１、ｃ２を１つの構成単位としてもよく、幅Ｗｃ３よりも大きい幅を有する他の矩形状透孔（不図示）をさらに含む４つ以上の透孔を１つの構成単位としてもよい。

　なお、透孔４ｃの構成単位（繰り返し単位）は、少なくとも１つ形成されていればよく、複数の基板端子２１の数に対応して複数形成されていてもよい。なお、複数の基板端子２１のうち、所定の端子数分だけ間隔をあけて（所定数の基板端子２１毎に）、複数の構成単位が形成されていてもよい。

　第１矩形状透孔４ｃ１の幅Ｗｃ１は、特に限定されず、基板端子２１の幅と同等、又は基板端子２１の幅と設計上の端子間の位置ずれの許容値（＋１０％程度）の合計以下となるように設定すればよい。これにより、第１矩形状透孔４ｃ１をみれば、パネル端子１と基板端子２１端子との端子間の位置ずれの有無を一目で確認できる。図１１に示す例では、第１矩形状透孔４ｃ１から透過光Ｌが通り抜けていないため、位置ずれが無いと確認できる。一方、図１２に示す例では、第１矩形状透孔４ｃ１から透過光Ｌが通り抜けているため、位置ずれが有ると確認できる。

　第２矩形状透孔４ｃ２の幅Ｗｃ２は、特に限定されず、幅Ｗｃ１よりも大きく且つ第３矩形状透孔４ｃ３の幅Ｗｃ３よりも小さくなるように設定する。例えば、幅Ｗｃ２は、基板端子２１の位置ずれがあっても問題がない（設計上の許容値以内の）寸法に設定すればよく、有機ＥＬ表示装置１０ｂの凸状透孔４ｂにおける第１領域４ｂｉの狭幅Ｗｂｆと同等にすればよい。これにより、第２矩形状透孔４ｃ２をみれば、基板端子２１端子の位置ずれが許容値以内かどうかを一目で確認できる。図１１に示す例では、第２矩形状透孔４ｃ２の幅方向（方向Ｙ）の両側（両端）から透過光Ｌが通り抜けているため、基板端子２１端子の位置ずれは許容値以内と確認できる。一方、図１２に示す例では、第２矩形状透孔４ｃ２の幅方向の片側（図１２では左側、一端）のみから透過光Ｌが通り抜けているため、後述する第３矩形状透孔４ｃ３を確認して基板端子２１端子の位置ずれ調整が必要か、確認する必要がある。

　第３矩形状透孔４ｃ３の幅Ｗｃ３は、特に限定されず、幅Ｗｃ２よりも大きく且つ第３矩形状透孔４ｃ３と隣り合う矩形状透孔（図１１及び図１２では、第２矩形状透孔４ｃ２）とが平面視で重ならないように設定する。例えば、幅Ｗｃ３は、設計上の端子間の位置ずれの許容値を超え、検査では不合格となる寸法に設定すればよく、有機ＥＬ表示装置１０ｂの凸状透孔４ｂの広幅Ｗｂｂと同等にすればよい。これにより、第３矩形状透孔４ｃ３をみれば、端子間の位置ずれが設計上の許容値内外であるかを一目で確認できる。図１１に示す例では、第３矩形状透孔４ｃ３の幅方向（方向Ｙ）の両側から透過光Ｌが通り抜けているため、端子間の位置ずれが設計上の許容値以内（合格）であると確認できる。一方、図１２に示す例では、第３矩形状透孔４ｃ３の幅方向の片側のみから透過光Ｌが通り抜けているため、端子間の位置ずれが設計上の許容値を超えている（不合格）と確認でき、位置ずれ調整が必要になる。

　矩形状透孔４ｃ（特に第１矩形状透孔４ｃ１）の大きさ（面積）は、特に限定されず、上記検査工程において、第１矩形状透孔４ｃ１を通り抜けた透過光Ｌの幅を計測可能な大きさ以上に設定すればよい。なお、本実施形態では、図１１及び図１２に示すように、３つの透孔４ｃ１，４ｃ２，４ｃ３の幅Ｗｃ１，Ｗｃ２，Ｗｃ３は異なるものの、長さはすべて同等になっている。

　本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｃは、上述の有機ＥＬ表示装置１０ａと同様の方法で製造できる。具体的には、透孔形成工程において、透孔の大きさを変更すればよい。それ以外の工程は、上記と同様に適用される。

　＜効果＞
　以上に説明した有機ＥＬ表示装置１０ｃ及びその製造方法によれば、上記（１）～（３）の効果に加えて、以下の効果を得ることができる。
（５）有機ＥＬ表示装置１０ｃ及びその製造方法では、端子パターン３に、幅の異なる３つの矩形状透孔４ｃ１，４ｃ２，４ｃ３が並んで配されている矩形状透孔４ｃが形成される。これにより、幅の相違を利用して、第１矩形状透孔４ｃ１ではパネル端子１と基板端子２１端子との端子間の位置ずれの有無を；第２矩形状透孔４ｃ２では基板端子２１端子の位置ずれ調整が必要かどうかを；第３矩形状透孔４ｃ３では端子間の位置ずれが設計上の許容値内外であるかを、それぞれ一目で確認できる。したがって、パネル端子１と基板端子２１端子との端子間の位置ずれの判断がより一層容易になる。

　《第４の実施形態》
　次に、図１３及び図１４を用いて、本発明の第４の実施形態について説明する。図１３は、本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｄの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが無い状態を示す拡大平面図であり、図６に相当する図である。図１４は、有機ＥＬ表示装置１０ｄの端子部Ｔの透過光Ｌによる検査工程において、端子間の位置ずれが有る状態を示す拡大平面図であり、図７に相当する図である。なお、有機ＥＬ表示装置１０ｄの全体構成は、端子部Ｔの構成以外、上記第１の実施形態の場合と同じであるため、ここでは詳しい説明を省略する。また、第１の実施形態と同様の構成部分については同一の符号を付してその説明を省略する。

　有機ＥＬ表示装置１０ｄは、第２の実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｂと第３の実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｃとを組み合わせた実施形態をいう。有機ＥＬ表示装置１０ｄでは、図１３及び図１４に示すように、有機ＥＬ表示装置１０ｃの透孔４ｃと同様に、３つの透孔４ｄ１，４ｄ２，４ｄ３（以下まとめて「透孔４ｄ」とも称する）が形成されている。ここで、有機ＥＬ表示装置１０ｄでは、平面視において、互いに隣接する複数の透孔４ｄの形状及び幅がそれぞれ相違している。

　具体的には、図１３及び図１４に示すように、平面視において、透孔４ｄは、第１矩形状透孔４ｄ１と、第１凸状透孔４ｄ２及び第２凸状透孔４ｄ３とを含む。そして、第１矩形状透孔４ｄ１と第１凸状透孔４ｄ２と第２凸状透孔４ｄ３が並んで配されている。換言すると、透孔４ｄは、平面視で矩形状に形成された矩形状透孔と平面視で凸状に形成された凸状透孔の両方を含む。このように、透孔４ｄは、形状及び幅の異なる３つの透孔４ｄ１，４ｄ２，４ｄ３を１つの構成単位とする。

　なお、透孔４ｄの構成単位（繰り返し単位）は、少なくとも１つ形成されていればよく、複数の基板端子２１の数に対応して複数形成されていてもよい。なお、複数の基板端子２１のうち、所定の端子数分だけ間隔をあけて（所定数の基板端子２１毎に）、複数の構成単位が形成されていてもよい。

　図１４に示すように、第１凸状透孔４ｄ２及び第２凸状透孔４ｄ３には、有機ＥＬ表示装置１０ｂの透孔４ｂと同様に、第１領域４ｂｉに対応する第１領域４ｄ２ｉ，４ｄ３ｉと、２つの第２領域４ｂｏに対応する第１領域４ｄ２ｏ，４ｄ３ｏとが規定されている。

　ここで、有機ＥＬ表示装置１０ｄでは、図１３及び図１４に示すように、有機ＥＬ表示装置１０ｂの透孔４ｂとは異なり、基板端子２１が延びる方向Ｘ１において、第１凸状透孔４ｄ２における第２領域４ｄ２ｏと第２凸状透孔４ｄ３における第２領域４ｄ３ｏとが、第１領域４ｄ２ｉ，４ｄ３ｉにおける異なる側の一端部に配置されている。具体的には、図１３及び図１４に示すように、第１凸状透孔４ｄ２における第２領域４ｄ２ｏは基板端子２１の表示領域側端部Ｅｄ側に配置される一方、第２凸状透孔４ｄ３における第２領域４ｄ３ｏは基板端子２１の端子部側端部Ｅｔ側に配置されている。

　また、有機ＥＬ表示装置１０ｄでは、図１３（図１４も参照）に示すように、第１凸状透孔４ｄ２における第１領域４ｄ２ｉの幅と２つの第２領域４ｄ２ｏの幅の合計（広幅）Ｗｄ２ｂは、第１矩形状透孔４ｄ１の幅Ｗｄ１よりも大きくなっている。第２凸状透孔４ｄ３における第１領域４ｄ３ｉの幅と２つの第２領域４ｄ３ｏの幅の合計（広幅）Ｗｄ３ｂは、第１凸状透孔４ｄ２の広幅Ｗｄ２ｂよりも大きくなっている。なお、第１凸状透孔４ｄ２における第１領域４ｄ２ｉの幅及び第２凸状透孔４ｄ３における第１領域４ｄ３ｉの幅は、第１矩形状透孔４ｄ１の幅Ｗｄ１と同等になっている。

　第１矩形状透孔４ｄ１の幅Ｗｄ１は、特に限定されず、基板端子２１の幅と同等、又は基板端子２１の幅と設計上の端子間の位置ずれの許容値（＋１０％程度）の合計以下となるように設定すればよい。これにより、有機ＥＬ表示装置１０ｃと同様に、第１矩形状透孔４ｄ１をみれば、パネル端子１と基板端子２１端子との端子間の位置ずれの有無を一目で確認できる。

　第１凸状透孔４ｄ２の広幅Ｗｄ２ｂは、特に限定されず、幅Ｗｄ１よりも大きく且つ第２凸状透孔４ｄ３の広幅Ｗｄ３ｂよりも小さくなるように設定する。例えば、広幅Ｗｄ２ｂは、基板端子２１の位置ずれがあっても問題がない（設計上の許容値以内の）寸法にすればよく、有機ＥＬ表示装置１０ｂの凸状透孔４ｂにおける第１領域４ｂｉの狭幅Ｗｂｆ又は有機ＥＬ表示装置１０ｃの第２矩形状透孔４ｃ２の幅Ｗｃ２と同等にすればよい。これにより、有機ＥＬ表示装置１０ｃと同様に、第１凸状透孔４ｄ２をみれば、基板端子２１端子の位置ずれが許容値以内かどうかを一目で確認できる。

　第２凸状透孔４ｄ３の広幅Ｗｄ３ｂは、特に限定されず、幅Ｗｃ２よりも大きく且つ第２凸状透孔４ｄ３と隣り合う透孔（図１３及び図１４では、第１凸状透孔４ｄ２）とが平面視で重ならないように設定する。例えば、広幅Ｗｄ３ｂは、設計上の端子間の位置ずれの許容値を超え、検査では不合格となる寸法に設定すればよく、有機ＥＬ表示装置１０ｂの凸状透孔４ｂの広幅Ｗｂｂ又は有機ＥＬ表示装置１０ｃの第３矩形状透孔４ｃ３の幅Ｗｃ３と同等にすればよい。これにより、有機ＥＬ表示装置１０ｃと同様に、第３矩形状透孔４ｄ３をみれば、端子間の位置ずれが設計上の許容値内外であるかを一目で確認できる。このとき、有機ＥＬ表示装置１０ｂと同様に、第２凸状透孔４ｄ３の凸形状を利用して、基板端子２１のすべてが第１領域４ｄｉ（基準値内領域）内に入っているか、又は基板端子２１の一部が第２領域４ｄｏ（基準値外領域）と重なっているかをより一層容易且つ精度よく確認可能になる。

　透孔４ｄ（特に第１矩形状透孔４ｄ１、第１凸状透孔４ｄ２における第１領域４ｄ２ｉ及び第２凸状透孔４ｄ３における第１領域４ｄ３ｉ）の大きさ（面積）は、特に限定されず、上記検査工程において、第１矩形状透孔４ｃ１又は第１領域４ｄ２ｉ，４ｄ３ｉを通り抜けた透過光Ｌの幅を計測可能な大きさ以上に設定すればよい。なお、本実施形態では、図１３及び図１４に示すように、３つの透孔４ｄ１，４ｄ２，４ｄ３の長さはすべて同等になっている。

　本実施形態の有機ＥＬ表示装置１０ｄは、上述の有機ＥＬ表示装置１０ａと同様の方法で製造できる。具体的には、孔形成工程において、透孔の形状及び大きさを変更すればよい。それ以外の工程は、上記と同様に適用される。

　＜効果＞
　以上に説明した有機ＥＬ表示装置１０ｄ及びその製造方法によれば、上記（１）～（５）と同様の効果を得ることができる。

　《その他の実施形態》
　上記各実施形態では、複数の透孔の長さはすべて同等に形成されているが、これに限定されず、相違していてもよい。

　上記各実施形態では、表示装置として有機ＥＬ表示装置を例に挙げて説明したが、本発明は、有機ＥＬ表示装置に限定されず、フレキシブルな表示装置であれば適用可能である。例えば、量子ドット含有層を用いた発光素子であるＱＬＥＤ（Quantum-dot light emitting diode）等を備えたフレキシブルな表示装置に適用することができる。

　以上説明したように、本発明は、フレキシブルな表示装置について有用である。

Ｄ　　　　　表示領域
ＤＰ　　　　表示パネル
Ｅｔ　　　　端子（パネル端子、基板端子）の端子部側端部
Ｆ　　　　　額縁領域
Ｔ　　　　　端子部
Ｘ１　　　　端子が延びる方向
Ｙ　　　　　端子が延びる方向とは交差する方向、端子部が延びる方向
１，２　　　パネル端子
３　　　　　端子パターン
４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ　　透孔
１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄ　　有機ＥＬ表示装置
２０　　　　ＦＰＣ（配線基板）
２１　　　　基板端子

Claims

　表示領域と、上記表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、上記額縁領域の一端部に一方向に延びるように設けられた端子部と、上記端子部に配列された複数のパネル端子とを有する表示パネルと、
　上記複数のパネル端子とそれぞれ接続される複数の基板端子が配列された配線基板と、を備えた表示装置であって、
　上記端子部には、上記複数の基板端子の延びる方向とは交差する幅方向に延び、上記配線基板の接続位置において該複数の基板端子の端子部側端部と平面視で重なる非透明の端子パターンが設けられ、
　上記端子パターンには、上記複数の基板端子の上記端子部側端部に対応する位置に、少なくとも１つの透孔が形成されていることを特徴とする表示装置。
　請求項１に記載された表示装置において、
　上記端子パターンは平面視で帯状に設けられることを特徴とする表示装置。
　請求項１又は２に記載された表示装置において、
　上記表示パネルは複数の積層膜で構成されており、
　上記端子パターンは上記複数のパネル端子と同一層に設けられることを特徴とする表示装置。
　請求項３に記載された表示装置において、
　上記端子パターンは非導電性であることを特徴とする表示装置。
　請求項１又は２に記載された表示装置において、
　上記表示パネルは複数の積層膜で構成されており、
　上記端子パターンは上記複数のパネル端子とは異なる層に設けられることを特徴とする表示装置。
　請求項１～５の何れか１つに記載された表示装置において、
　上記透孔は平面視で矩形状に形成された矩形状透孔を含むことを特徴とする表示装置。
　請求項６に記載された表示装置において、
　上記矩形状透孔は複数形成されており、
　上記基板端子の幅方向において、互いに隣接する上記複数の矩形状透孔の寸法が同じであることを特徴とする表示装置。
　請求項７に記載された表示装置において、
　上記基板端子の幅方向において、上記矩形状透孔の寸法が上記基板端子の寸法と同じであることを特徴とする表示装置。
　請求項６に記載された表示装置において、
　上記矩形状透孔は複数形成されており、
　上記基板端子の幅方向において、互いに隣接する上記複数の矩形状透孔の寸法が異なることを特徴とする表示装置。
　請求項７に記載された表示装置において、
　上記複数の矩形状透孔は、上記基板端子の幅方向において、上記基板端子の寸法と同じ第１矩形状透孔と、
　上記第１矩形状透孔の寸法よりも大きい第２矩形状透孔とを含むことを特徴とする表示装置。
　請求項１０に記載された表示装置において、
　上記複数の矩形状透孔は、上記基板端子の幅方向において、上記第２矩形状透孔の寸法よりも大きい第３矩形状透孔を含み、
　上記第１矩形状透孔と上記第２矩形状透孔と上記第３矩形状透孔が並んで配されていることを特徴とする表示装置。
　請求項１～６の何れか１つに記載された表示装置において、
　上記透孔は平面視で凸状に形成された凸状透孔を含み、
　上記凸状透孔は、矩形状に形成された第１領域と、
　上記第１領域における上記基板端子の幅方向の両端に設けられ、該第１領域よりも小さい矩形状に形成された２つの第２領域とで構成され、
　上記２つの第２領域は、上記第１領域における上記基板端子が延びる方向の一端部に設けられることを特徴とする表示装置。
　請求項１２に記載された表示装置において、
　上記凸状透孔は複数形成されており、
　上記２つの第２領域は、上記第１領域における同じ側の一端部に配置されていることを特徴とする表示装置。
　請求項１３に記載された表示装置において、
　上記基板端子の幅方向において、互いに隣接する上記複数の凸状透孔における上記第１領域の寸法と上記２つの第２領域の寸法の合計が同じであることを特徴とする表示装置。
　請求項１３又は１４に記載された表示装置において、
　上記基板端子の幅方向において、上記凸状透孔における上記第１領域の寸法が上記基板端子の寸法と同じであることを特徴とする表示装置。
　請求項１２に記載された表示装置において、
　上記凸状透孔は複数形成されており、
　上記２つの第２領域は、上記第１領域における異なる側の一端部に配置されていることを特徴とする表示装置。
　請求項１６に記載された表示装置において、
　上記基板端子の幅方向において、互いに隣接する上記複数の凸状透孔における上記第１領域の寸法と上記２つの第２領域の寸法の合計が異なることを特徴とする表示装置。
　請求項１７に記載された表示装置において、
　上記複数の透孔は、上記基板端子の幅方向において、平面視で矩形状に形成され、上記基板端子の寸法と同じ第１矩形状透孔と、
　上記第１領域の寸法と上記２つの第２領域の寸法の合計が上記第１矩形状透孔の寸法よりも大きい第１凸状透孔と、
　上記第１領域の寸法と上記２つの第２領域の寸法の合計が上記第１凸状透孔よりも大きい第２凸状透孔とを含み、
　上記第１矩形状透孔と上記第１凸状透孔と上記第２凸状透孔が並んで配されていることを特徴とする表示装置。
　請求項１～１８の何れか１つに記載された表示装置において、
　上記透孔の少なくとも一部は上記複数の基板端子と平面視で重なっていることを特徴とする表示装置。
　表示領域と、上記表示領域の周囲に設けられた額縁領域と、上記額縁領域の一端部に一方向に延びるように設けられた端子部と、上記端子部に配列された複数のパネル端子とを有する表示パネルと、
　上記複数のパネル端子とそれぞれ接続される複数の基板端子が配列された配線基板と、を備えた表示装置の製造方法であって、
　上記端子部に、上記複数の基板端子の延びる方向とは交差する幅方向に延び、上記配線基板の接続位置において該複数の基板端子の端子部側端部と平面視で重なり、該複数の基板端子の上記端子部側端部に対応する位置に、少なくとも１つの透孔を有する非透明の端子パターンを形成する端子パターン形成工程と、
　上記端子部に上記配線基板を圧着接続する接続工程と、
　上記端子部に透過光を照射して、上記透孔を通り抜ける透過光の幅を測定することにより、上記複数の基板端子とそれに対応する上記複数のパネル端子との端子間の位置ずれを検出する工程を備えることを特徴とする表示装置の製造方法。