WO2024116731A1 - 基板処理方法、処理ヘッド、および基板処理装置 - Google Patents

基板処理方法、処理ヘッド、および基板処理装置 Download PDF

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substrate
tilt
pressing member
processing
screw
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PCT/JP2023/039854
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誠 柏木
真於 藤澤
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株式会社荏原製作所
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
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    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
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    • H01L21/304Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping

Definitions

  • the present invention relates to a substrate processing method for processing a substrate such as a wafer.
  • the present invention also relates to a processing head for pressing a processing tape against a substrate such as a wafer, and a substrate processing apparatus including such a processing head.
  • CMOS sensors CMOS sensors
  • foreign matter such as fine particles and dust can adhere to the devices.
  • Foreign matter that adheres to the devices can cause short circuits between wiring and circuit malfunctions. Therefore, in order to improve the reliability of the devices, it is necessary to clean the substrate on which the devices are formed and remove any foreign matter on the substrate.
  • Foreign matter such as the fine particles and dust mentioned above can also adhere to the back surface (non-device surface) of the substrate.
  • the substrate moves away from the stage reference surface of the exposure tool, causing the surface of the substrate to tilt relative to the stage reference surface, resulting in misalignment of the patterning and shifts in focal length.
  • it is necessary to remove the foreign matter that has adhered to the back surface of the substrate.
  • a substrate processing apparatus that processes the rear surface of a substrate with a processing tape.
  • the process of removing foreign matter from the rear surface of a substrate includes polishing the rear surface of the substrate with a polishing tape and cleaning the rear surface of the substrate with a cleaning tape.
  • Figure 25 is a top view of a conventional substrate processing apparatus
  • Figure 26 is a side view of the conventional substrate processing apparatus shown in Figure 25.
  • the substrate processing apparatus shown in Figures 25 and 26 is configured to process a substrate W while circularly moving a plurality of pressing members 505 and the substrate W relative to each other.
  • the substrate processing apparatus rotates the substrate W around its axis O1 by holding the peripheral edge of the substrate W with the rollers 500 while the rollers 500 themselves rotate.
  • the substrate processing apparatus has a plurality of eccentric shafts 507 fixed to each of the rollers 500.
  • Each eccentric shaft 507 has a first shaft portion 507a and a second shaft portion 507b that are eccentric by a distance e.
  • the rollers 500 By driving a motor 509 connected to each first shaft portion 507a, the rollers 500 perform a circular motion of radius e around the axis of the first shaft portion 507a. In this way, the substrate processing apparatus rotates the substrate W around its axis O1 while performing a circular motion of radius e.
  • the processing tape 502 is placed on the back side of the substrate W.
  • the processing tape 502 advances in the direction indicated by the arrow Z while being given a predetermined tension.
  • a number of pressing members 505 are arranged in the diameter direction of the substrate W, and these pressing members 505 press the processing tape 502 against the back side of the substrate W to process the back side of the substrate W.
  • the processing tape 502 pressed against the back side of the substrate W can remove foreign matter from the back side of the substrate W.
  • Such a substrate processing apparatus processes the back side of the substrate while causing the processing head and the substrate to perform relative circular motion, thereby ensuring the relative speed between the pressing member of the processing head and the substrate and efficiently processing the entire substrate.
  • the substrate processing apparatus may not be able to uniformly process the back surface of the substrate W.
  • a substrate processing apparatus has been developed that includes a universal joint 509 that supports the pressing member 505 so that it can tilt. This universal joint 509 allows the pressing member 505 to follow the bending of the substrate W, so it is expected that the pressing member 505 will be able to press the processing tape 502 against the substrate W evenly.
  • the pressing member 505 may not be able to follow the warping of the edge of the substrate W. As a result, the pressing member 505 cannot uniformly press the processing tape 502 against the substrate W.
  • the present invention therefore provides a substrate processing method capable of uniformly processing the entire surface of a substrate, such as a wafer, to be processed.
  • the present invention also provides a processing head capable of pressing a processing tape against the surface of a substrate, such as a wafer, to be processed with a uniform force, and a substrate processing apparatus equipped with such a processing head.
  • a substrate processing method includes rotating a substrate around its axis and feeding a processing tape in its longitudinal direction, tilting a pressing member of a processing head in a first direction with respect to a predetermined pressing direction, pressing the processing tape against the processed surface of the substrate with the pressing member, and then tilting the pressing member in a second direction opposite to the first direction with respect to the pressing direction, pressing the processing tape against the processed surface with the pressing member, thereby processing the processed surface of the substrate, wherein the first direction and the second direction are directions along the longitudinal direction of the processing tape on the pressing member.
  • tilting the pressing member in the first direction means tilting the pressing member in the first direction by a tilting actuator
  • tilting the pressing member in the second direction means tilting the pressing member in the second direction along the traveling direction of the processing tape due to friction generated between the pressing member and the processing tape, the first direction being a direction of tilting downward toward the upstream side in the traveling direction of the processing tape, and the second direction being a direction of tilting downward toward the downstream side in the traveling direction of the processing tape.
  • tilting the pressing member in the first direction means tilting it in the first direction by a first tilting actuator
  • tilting the pressing member in the second direction means tilting it in the second direction by a second tilting actuator
  • the first direction being a direction of tilting downward toward the upstream side in the traveling direction of the processing tape
  • the second direction being a direction of tilting downward toward the downstream side in the traveling direction of the processing tape.
  • the pressing member presses the processing tape against a central portion including the center of the processing surface of the substrate, thereby processing the central portion of the processing surface of the substrate.
  • the edge portion of the treatment surface of the substrate is treated by pressing the treatment tape against the edge portion of the treatment surface of the substrate by the pressing member.
  • the processing tape is pressed against the inner middle portion of the processing surface of the substrate by the pressing member, thereby processing the inner middle portion of the processing surface of the substrate. In one aspect, the processing tape is pressed against the outer middle portion of the processing surface of the substrate by the pressing member, thereby processing the outer middle portion of the processing surface of the substrate.
  • the processing head is a polishing head for polishing the processing surface of the substrate, and the processing tape is a polishing tape having abrasive grains on its surface. In one aspect, the processing head is a cleaning head for cleaning the processing surface of the substrate, and the processing tape is a cleaning tape.
  • a processing head in one aspect, includes a pressing member that presses a processing tape against the processing surface of a substrate, a pressing actuator that moves the pressing member in a predetermined pressing direction and applies a pressing force to the pressing member against the processing surface of the substrate, and a tilt adjustment mechanism that adjusts the tilt of the pressing member with respect to the pressing direction, the tilt adjustment mechanism including a tilt actuator that tilts the pressing member in a first direction with respect to the pressing direction, and a support shaft that is perpendicular to the longitudinal direction of the processing tape, the pressing member being connected to the support shaft so that it can tilt about the support shaft in the first direction and in a second direction opposite to the first direction, the first direction and the second direction being directions along the longitudinal direction of the processing tape on the pressing member.
  • the tilt adjustment mechanism further includes a base member that supports the support shaft, and a tilt member that is connected to the support shaft and can tilt around the support shaft, and the tilt actuator has a rod that pushes up the tilt member.
  • the tilt actuator is an air cylinder and the rod is a piston rod of the air cylinder.
  • the tilt adjustment mechanism further includes a screw threaded into a threaded hole provided in the base member, the screw and the rod being arranged on either side of the support shaft, and the screw protruding from the base member toward the tilt member.
  • the tilt adjustment mechanism further includes a screw threaded into a threaded hole provided in the tilt member, the screw and the rod being arranged on either side of the support shaft, and the screw protruding from the tilt member toward the base member.
  • the processing head is a polishing head for polishing the processing surface of the substrate, and the processing tape is a polishing tape having abrasive grains on its surface.
  • the processing head is a cleaning head for cleaning the processing surface of the substrate, and the processing tape is a cleaning tape.
  • the tilt actuator that tilts in the first direction is a first tilt actuator
  • the tilt adjustment mechanism further includes a second tilt actuator that tilts the pressing member in the second direction relative to the pressing direction.
  • the tilt adjustment mechanism further includes a base member that supports the support shaft and a tilt member that is connected to the support shaft and can tilt around the support shaft, the first tilt actuator having a first rod that pushes up the tilt member, and the second tilt actuator having a second rod that pushes up the tilt member.
  • each of the first tilt actuator and the second tilt actuator is an air cylinder
  • each of the first rod and the second rod is a piston rod of the air cylinder.
  • the tilt adjustment mechanism further includes a first screw screwed into a first screw hole provided in the base member and a second screw screwed into a second screw hole provided in the base member, the first screw and the first rod being respectively arranged on either side of the support shaft, the second screw and the second rod being respectively arranged on either side of the support shaft, and the first screw and the second screw protruding from the base member toward the tilt member.
  • the tilt adjustment mechanism further includes a first screw screwed into a first screw hole provided in the tilt member and a second screw screwed into a second screw hole provided in the tilt member, the first screw and the first rod being arranged on either side of the support shaft, the second screw and the second rod being arranged on either side of the support shaft, and the first screw and the second screw protruding from the tilt member toward the base member.
  • a substrate processing apparatus in one aspect, includes a substrate holding section that holds a substrate and rotates the substrate, a processing tape supply mechanism that feeds the processing tape in its longitudinal direction, and the processing head.
  • the pressing member By pressing the processing tape against the processed surface of the substrate with the pressing member of the processing head tilted in a first direction, and then pressing the processing tape against the processed surface with the pressing member tilted in a second direction opposite to the first direction, the pressing member can uniformly press the processing tape against the processed surface of the substrate. As a result, the entire processed surface of the substrate can be uniformly processed.
  • FIG. 1 is a side view illustrating an embodiment of a substrate processing apparatus.
  • 2 is a top view of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1;
  • FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a polishing region of a polishing head.
  • 1 is a perspective view showing one embodiment of a polishing head for polishing a central portion of a substrate.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the polishing head shown in FIG. 4 .
  • 6 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 5.
  • 11 is a cross-sectional view showing a state in which a pressing member holder and a pressing member are tilted in a first direction by a tilt adjustment mechanism.
  • FIG. 1 is a side view illustrating an embodiment of a substrate processing apparatus.
  • 2 is a top view of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1;
  • FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a polishing region of a polishing head.
  • 1 is a perspective view showing one
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in which the pressing member is pressing the polishing tape against the substrate with the pressing member holder and the pressing member tilted in a first direction by the tilt adjustment mechanism;
  • FIG. 8B is a graph showing the relationship between the position from the center of the substrate and the polishing rate when the polishing tape is pressed against the substrate by a pressing member inclined in a first direction as shown in FIG. 8A.
  • 13 is a cross-sectional view showing a state in which the pressing member is pressing the polishing tape against the substrate with the pressing member holder and the pressing member tilted in a second direction by the tilt adjustment mechanism;
  • FIG. 9B is a graph showing the relationship between the position from the center of the substrate and the polishing rate when the polishing tape is pressed against the substrate by a pressing member inclined in a second direction as shown in FIG. 9A.
  • 4 is a flowchart showing an example of a substrate processing method according to the present embodiment.
  • FIG. 13 is a perspective view showing another embodiment of the polishing head.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view of the polishing head shown in FIG. 13 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 12.
  • 11 is a cross-sectional view showing a state in which the pressing member is pressing the polishing tape against the substrate with the pressing member holder and the pressing member tilted in a first direction by the tilt adjustment mechanism;
  • FIG. 14B is a graph showing the relationship between the position from the center of the substrate and the polishing rate when the polishing tape is pressed against the substrate by a pressing member inclined in a first direction as shown in FIG. 14A.
  • 13 is a cross-sectional view showing a state in which the pressing member is pressing the polishing tape against the substrate with the pressing member holder and the pressing member tilted in a second direction by the tilt adjustment mechanism;
  • FIG. 15B is a graph showing the relationship between the position from the center of the substrate and the polishing rate when the polishing tape is pressed against the substrate by a pressing member inclined in a second direction as shown in FIG. 15A.
  • 4 is a flowchart showing an example of a substrate processing method according to the present embodiment.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing another embodiment of the polishing head.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing yet another embodiment of the polishing head.
  • 19 is a top view showing a base member of the polishing head shown in FIG. 18.
  • 13 is a cross-sectional view showing a state in which the pressing member holder and the pressing member are tilted in a second direction by a second tilting actuator.
  • FIG. 4 is a flowchart showing an example of a substrate processing method according to the present embodiment.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing yet another embodiment of the polishing head.
  • FIG. 23 is a longitudinal cross-sectional view showing one embodiment of the first screw shown in FIG. 22.
  • FIG. 23 is a longitudinal cross-sectional view showing one embodiment of the first screw shown in FIG. 22.
  • FIG. 11 is a side view showing another embodiment of the substrate processing apparatus.
  • FIG. 1 is a top view of a conventional substrate processing apparatus.
  • FIG. 26 is a side view of the conventional substrate processing apparatus shown in FIG. 25.
  • 11A and 11B are schematic diagrams illustrating a state in which a substrate is bent upward by a pressing member.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of a conventional substrate processing apparatus equipped with a universal joint.
  • 1A and 1B are schematic diagrams illustrating a state in which warping occurs at an edge portion of a substrate.
  • FIG. 1 is a side view showing one embodiment of the substrate processing apparatus
  • FIG. 2 is a top view of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1.
  • the substrate processing apparatus of this embodiment is a polishing apparatus for performing substrate polishing, which is an example of substrate processing, by pressing a polishing tape, which is an example of a processing tape, against a substrate such as a wafer by a polishing head, which is an example of a processing head.
  • a substrate holding unit 20 for holding and rotating a substrate W
  • a plurality of polishing heads 10A to 10D for processing the first surface 5a of the substrate W by bringing the polishing tapes 2A and 2B into contact with the first surface 5a of the substrate W held by the substrate holding unit 20, a polishing tape supply mechanism 30A for feeding the polishing tape 2A in its longitudinal direction, and a polishing tape supply mechanism 30B for feeding the polishing tape 2B in its longitudinal direction.
  • the longitudinal direction of the polishing tapes 2A, 2B and the direction of travel of the polishing tapes 2A, 2B refer to the longitudinal direction of the polishing tapes 2A, 2B on the pressing members of the polishing heads 10A to 10D that press the polishing tapes 2A, 2B against the first surface 5a of the substrate W, respectively, and the direction of travel of the polishing tapes 2A, 2B.
  • the first surface 5a of the substrate W is the back surface of the substrate W on which no devices are formed or on which no devices are planned to be formed, i.e., the non-device surface.
  • the second surface 5b of the substrate W opposite the first surface 5a is the surface on which devices are formed or on which devices are planned to be formed, i.e., the device surface.
  • the first surface 5a and the second surface 5b of the substrate W are flat surfaces of the substrate W.
  • the substrate W is supported horizontally by the substrate holder 20 with the first surface 5a, which is the surface to be processed, facing downward.
  • the substrate holding unit 20 includes a number of rollers 25 that can contact the peripheral edge of the substrate W, a number of motors 29 that rotate the rollers 25 at the same speed, and a number of eccentric shafts 27 that connect the rollers 25 to the motors 29.
  • rollers 25 that can contact the peripheral edge of the substrate W
  • motors 29 that rotate the rollers 25 at the same speed
  • eccentric shafts 27 that connect the rollers 25 to the motors 29.
  • four rollers 25 are provided, but three or five or more rollers may be provided.
  • Each of the multiple eccentric shafts 27 has a first shaft portion 27a and a second shaft portion 27b that extend parallel to each other.
  • the second shaft portion 27b is eccentric from the first shaft portion 27a by a distance e1.
  • the multiple rollers 25 are each fixed to one end of the multiple second shaft portions 27b.
  • the axis of the multiple rollers 25 coincides with the axis of the multiple second shaft portions 27b.
  • the motors 29 are each connected to one end of the first shaft portion 27a.
  • the multiple eccentric shafts 27 rotate around their first shaft portions 27a.
  • the rollers 25 perform a circular motion of radius e1 around the axis of the first shaft portions 27a.
  • the rollers 25 rotate once around their own axis. Due to this motion of the rollers 25, the substrate holder 20 rotates the substrate W held by the rollers 25 around its axis (center) O1 while causing the substrate W to perform a circular motion of radius e1. Therefore, the substrate W and the polishing heads 10A-10D perform a circular motion relative to each other.
  • circular motion is defined as the motion of an object moving on a circular orbit.
  • polishing heads 10A-10D are arranged below the substrate W held by the substrate holder 20. Polishing heads 10A and 10C are supported by support member 11A, and polishing heads 10B and 10D are supported by support member 11B. These polishing heads 10A-10D are arranged in the diameter direction of the substrate W. In this embodiment, four polishing heads 10A-10D are provided, but the number of polishing heads is not limited to this embodiment. In one embodiment, three or less, or five or more polishing heads may be provided.
  • the polishing tape supply mechanism 30A is equipped with a tape supply reel 31 to which one end of the polishing tape 2A is connected, a tape take-up reel 32 to which the other end of the polishing tape 2A is connected, and a number of guide rollers 33 that guide the direction of travel of the polishing tape 2A.
  • the tape supply reel 31 and the tape take-up reel 32 are connected to reel motors 36 and 37, respectively.
  • the polishing tape 2A is sent from the tape take-up reel 31 to the polishing heads 10A, 10C and then to the tape take-up reel 32.
  • the polishing tape 2A is supplied above the polishing heads 10A, 10C so that the processing surface (polishing surface) of the polishing tape 2A faces the first surface 5a of the substrate W.
  • the reel motor 36 applies a predetermined torque to the tape take-up reel 31 to apply tension to the polishing tape 2A.
  • the reel motor 37 is controlled to feed the polishing tape 2A at a constant speed. The speed at which the polishing tape 2A is fed can be changed by changing the rotational speed of the tape take-up reel 32.
  • the substrate processing apparatus may include a tape feed device that feeds the polishing tape 2A in its longitudinal direction, separate from the tape supply reel 31, the tape take-up reel 32, and the reel motors 36, 37.
  • the positions of the tape supply reel 31 and the tape take-up reel 32 may be reversed.
  • the substrate processing apparatus is electrically connected to an operation control unit 100, which controls the operation of each component of the substrate processing apparatus.
  • the operation of the substrate holding unit 20, polishing heads 10A-10D, and polishing tape supply mechanisms 30A and 30B is controlled by the operation control unit 100.
  • the operation control unit 100 includes at least one computer.
  • the operation control unit 100 includes a storage device 100a in which a program is stored, and an arithmetic unit 100b that executes calculations according to the program.
  • the storage device 100a includes a main storage device (e.g., random access memory) accessible by the arithmetic unit 100b, and an auxiliary storage device (e.g., a hard disk drive or solid state drive) that stores the program.
  • the arithmetic unit 100b includes a CPU (central processing unit) or GPU (graphics processing module) that executes calculations according to instructions included in the program stored in the storage device 100a.
  • the specific configuration of the operation control unit 100 is not limited to these examples.
  • FIG. 3 is a schematic diagram illustrating the polishing areas of the polishing heads 10A to 10D.
  • the polishing heads 10A to 10D are arranged along the diameter direction of the substrate W. The distance from the center O1 of the substrate W to each polishing head is greatest for the polishing head 10A, followed by the polishing head 10B, the polishing head 10C, and the polishing head 10D.
  • the polishing heads 10A and 10C are disposed below the substrate W and the polishing tape 2A, and are configured to press the polishing tape 2A from its back side against the processed surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • the polishing heads 10B and 10D are disposed below the substrate W and the polishing tape 2B, and are configured to press the polishing tape 2B from its back side against the processed surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • the polishing heads 10A to 10D each have a pressing member 12 for pressing the polishing tape 2A or 2B against the processed surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • Each of the polishing heads 10A and 10B has one pressing member 12, and each of the polishing heads 10C and 10D has two pressing members 12.
  • the polishing head 10A is configured to polish the central portion P1 of the substrate W, which includes the center O1 of the substrate W.
  • the polishing head 10B is configured to polish the inner intermediate portion P2 located radially outward of the central portion P1 of the substrate W.
  • the polishing head 10C is configured to polish the outer intermediate portion P3 located radially outward of the inner intermediate portion P2 of the substrate W.
  • the polishing head 10D is configured to polish the outermost edge portion P4 of the substrate W, which is located radially outward of the outer intermediate portion P3 of the substrate W.
  • the central portion P1, the inner intermediate portion P2, the outer intermediate portion P3, and the edge portion P4 are all located within the first surface 5a of the substrate W.
  • the substrate processing apparatus of this embodiment polishes the substrate W while causing the substrate W and the polishing heads 10A-10D to perform circular motion relative to each other.
  • the number of revolutions of the pressing member 12 by the radially inner portion of the polishing head 10A is relatively greater than in other regions.
  • the polishing head 10A of this embodiment is configured so that the inclination of the pressing member 12 can be changed while the substrate W is being polished.
  • Figure 4 is an oblique view showing one embodiment of a polishing head 10A for polishing a central portion P1 of a substrate W
  • Figure 5 is a cross-sectional view of the polishing head 10A shown in Figure 4
  • Figure 6 is a cross-sectional view taken along line A-A in Figure 5.
  • the polishing head 10A is disposed below the substrate W and the polishing tape 2A.
  • the polishing head 10A comprises a pressing member 12 for pressing the polishing tape 2A against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W, a pressing actuator 15 for moving the pressing member 12 in a predetermined pressing direction indicated by arrow CL and applying a pressing force to the pressing member 12 against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W, a housing 18 in which the pressing actuator 15 is disposed, and an inclination adjustment mechanism 50 for adjusting the inclination of the pressing member 12.
  • the pressure actuator 15 includes a movable shaft 16 connected to the pressure member 12, and a partition membrane (diaphragm) 42 that forms a pressure chamber 40 between the end (lower end) of the movable shaft 16 and the housing 18. The movable shaft 16 and the partition membrane 42 are disposed within the housing 18.
  • the polishing head 10A further includes a pressing member holder 13 that holds the pressing member 12.
  • the pressing member holder 13 is connected to the movable shaft 16 via an inclination adjustment mechanism 50 and can move integrally with the movable shaft 16.
  • the pressing member 12 is a blade that has a shape that extends in a straight line, and has a pressing surface for pressing the polishing tape 2A against the substrate W.
  • the pressing member 12 is fixed in a state where it is fitted into a fitting groove of the pressing member holder 13. As shown in FIG. 4, the pressing member 12 is inclined obliquely with respect to the traveling direction of the polishing tape 2A indicated by the arrow Z1.
  • the pressing member 12 is made of an elastic material. Examples of materials that make up the pressing member 12 include rubbers such as fluororubber, silicone rubber, and ethylene propylene diene rubber.
  • the cross section of the pressing member 12 has a circular shape.
  • the pressing member 12 is not limited to this embodiment, and may have other shapes or be made of other materials.
  • the pressing member 12 is made of an annular member (e.g., an O-ring), and may be hung on a protrusion provided on the side of the pressing member holder 13 and supported by the pressing member holder 13 in an elastically deformed state.
  • the pressing member 12 may be in the shape of a curved blade.
  • the movable shaft 16 is configured to be movable in its axial direction within the housing 18, and the movable shaft 16 can raise the pressing member 12 and the pressing member holder 13 in the pressing direction indicated by the arrow CL.
  • the pressing member 12 faces the back side of the polishing tape 2A.
  • the movable shaft 16 raises the pressing member 12 and the pressing member holder 13 in the pressing direction indicated by the arrow CL, the pressing member 12 comes into contact with the back side of the polishing tape 2A.
  • the back side of the polishing tape 2A is the side opposite to the polishing surface having abrasive grains.
  • the pressing member 12 presses the polishing surface of the polishing tape 2A against the first surface 5a of the substrate W, polishing the first surface 5a of the substrate W with the polishing tape 2A.
  • the back side of the polishing tape 2A is supported by the pressing member 12.
  • the polishing tape 2A is fed in its longitudinal direction at a predetermined speed. Arrow Z1 in Figures 4 and 5 indicates the direction in which the polishing tape 2A moves.
  • the movable shaft 16 is composed of a ball spline shaft.
  • a ball spline nut 45 is disposed within the housing 18, and the movable shaft 16 is supported by the ball spline nut 45 so as to be movable in the axial direction of the movable shaft 16.
  • the movable shaft 16 may be supported so as to be movable on the inner surface of the housing 18.
  • the housing 18 comprises a housing body 18A having a space formed therein for accommodating the movable shaft 16, and a lid 18B that closes the space.
  • the lid 18B is removably fixed to the housing body 18A with screws (not shown).
  • the pressing actuator 15, which generates a pressing force for pressing the polishing tape 2A against the substrate W, includes the movable shaft 16 and a partition membrane 42.
  • the partition membrane 42 is in contact with the end (lower end) of the movable shaft 16, and the edge of the partition membrane 42 is sandwiched between the housing body 18A and the lid 18B.
  • the partition membrane 42 is only in contact with the movable shaft 16 and is not fixed to the movable shaft 16.
  • the partition membrane 42 is made of a flexible material. Examples of materials that can be used to form the partition membrane 42 include chloroprene rubber, fluororubber, and silicone rubber.
  • the pressure chamber 40 is connected to a compressed gas supply line (not shown), and is configured so that compressed gas (e.g., compressed air) is supplied from the compressed gas supply line into the pressure chamber 40.
  • the tilt adjustment mechanism 50 is configured to adjust the tilt of the pressing member 12 relative to the movement direction (pressing direction) CL of the pressing member 12 moved by the pressing actuator 15.
  • the pressing member holder 13 is connected to the tilt adjustment mechanism 50, and the pressing member 12 and the pressing member holder 13 are connected to the movable shaft 16 via the tilt adjustment mechanism 50.
  • the tilt adjustment mechanism 50 is disposed between the movable shaft 16 and the pressing member holder 13, and the upper part of the tilt adjustment mechanism 50 is housed inside the pressing member holder 13.
  • the tilt adjustment mechanism 50, pressing member holder 13, and pressing member 12 are moved together by the pressing actuator 15.
  • the polishing head 10A may further include a distance sensor that measures the relative movement distance of the movable shaft 16 with respect to the housing 18.
  • the pressing member holder 13 has a skirt 13a that extends downward. This skirt 13a surrounds the upper part of the housing 18 and the tilt adjustment mechanism 50.
  • the skirt 13a is rectangular tubular, but it may have other shapes as long as it can surround the upper part of the housing 18 and the tilt adjustment mechanism 50.
  • the skirt 13a can prevent liquids such as pure water used in polishing the substrate W from entering the housing 18 and the tilt adjustment mechanism 50.
  • the tilt adjustment mechanism 50 includes a support shaft 51, a base member 55 that supports the support shaft 51, a tilt member 56 that is connected to the support shaft 51 and can tilt around the support shaft 51, a tilt actuator 58 that tilts the tilt member 56, and a screw 69 that is screwed into a screw hole 68 provided in the base member 55.
  • the base member 55 is fixed to the upper end of the movable shaft 16.
  • the base member 55 has a central portion 70 and a first protrusion 72 and a second protrusion 73 that protrude from both sides of the central portion 70.
  • the first protrusion 72 is located downstream of the central portion 70 in the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the second protrusion 73 is located upstream of the central portion 70 in the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the upper part of the central portion 70 is located in a hollow space 75 formed in the center of the tilt member 56.
  • the support shaft 51 is inserted into a through hole 55a formed in the center portion 70 of the base member 55. Both ends of the support shaft 51 are inserted into two support holes 56a formed in the tilt member 56.
  • the extension direction of the support shaft 51 is perpendicular to the moving direction (pressing direction) CL of the pressing member 12 and perpendicular to the longitudinal direction of the polishing tape 2A (the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A).
  • the pressing member 12 and the pressing member holder 13 are connected to the tilt member 56 and the support shaft 51, and can tilt (rotate) integrally with the tilt member 56 around the support shaft 51.
  • the pressing member holder 13 is fixed to the tilt member 56.
  • the tilt member 56 may be configured integrally with the pressing member holder 13.
  • the tilt actuator 58 is disposed downstream of the support shaft 51 in the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the tilt actuator 58 includes a rod 59 that pushes up the tilt member 56.
  • the tilt actuator 58 is an air cylinder
  • the rod 59 is a piston rod.
  • the tilt actuator 58 includes a piston rod 59, a cylinder 60, a cover 62 that closes the space in the cylinder 60, and a compressed gas supply line 65 that supplies compressed gas (e.g., compressed air) into the cylinder 60.
  • the piston rod 59 is disposed in the cylinder 60.
  • the tilt actuator 58 is integrally formed with the first protrusion 72 of the base member 55.
  • the tilt actuator 58 is not fixed to the housing 18, and can move up and down relative to the housing 18. That is, the tilt actuator 58 is moved up and down integrally with the base member 55, the tilt member 56, the pressing member 12, and the pressing member holder 13 by the pressing actuator 15.
  • the configuration of the tilt actuator 58 is not limited to this embodiment and may be any configuration as long as the rod 59 can push up the tilt member 56.
  • the tilt actuator 58 may be an electric actuator operated by an electric motor, or an electromagnetic actuator operated by electromagnetic force.
  • the inside of the cylinder 60 is connected to the compressed gas supply line 65 through a through hole 62a formed in the lid 62.
  • the tilt actuator 58 is driven and the piston rod 59 moves (rises) in its axial direction.
  • the movement direction of the piston rod 59 is parallel to the pressing direction CL of the pressing member 12.
  • the piston rod 59 is configured to be able to protrude upward from the base member 55 by penetrating a rod hole 63 provided in the first protruding portion 72 of the base member 55.
  • the rod hole 63 extends through the first protruding portion 72 of the base member 55.
  • the tip of the piston rod 59 is configured to be able to contact the lower surface of the tilt member 56.
  • the tilt actuator 58 can raise the piston rod 59 and tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilt member 56 with the support shaft 51 as a fulcrum.
  • the screw 69 and the piston rod 59 of the tilt actuator 58 are arranged on both sides of the support shaft 51 (symmetrically with respect to the support shaft 51) when viewed from the axial direction of the support shaft 51.
  • the screw 69 is arranged on one side of the support shaft 51, and the piston rod 59 is arranged on the opposite side of the support shaft 51. That is, the screw 69 is arranged on the opposite side of the support shaft 51 from the piston rod 59.
  • the screw 69 and the piston rod 59 are aligned along a direction perpendicular to the support shaft 51. That is, the screw 69 and the piston rod 59 are aligned along the longitudinal direction of the polishing tape 2A (the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A).
  • the screw 69 is arranged upstream of the support shaft 51 in the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the screw 69 functions as a stopper that limits the angle of the tilt member 56 tilted around the support shaft 51, i.e., the angle of the tilted pressing member 12 and pressing member holder 13.
  • the screw 69 is screwed into a screw hole 68 provided in the second protrusion 73 of the base member 55.
  • the screw hole 68 extends through the second protrusion 73 of the base member 55.
  • the screw 69 protrudes upward from the base member 55 toward the tilt member 56.
  • the tip of the screw 69 is configured to be able to contact the lower surface of the tilt member 56.
  • the tilt actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the tip of the screw 69. In other words, when the tilt actuator 58 tilts the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilt member 56, the angle of tilt about the support shaft 51 can be changed by the relative position of the screw 69 with respect to the tilt member 56.
  • the screw 69 does not need to protrude from the base member 55.
  • the tilt actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the base member 55.
  • the first direction D1 is a direction along the longitudinal direction of the polishing tape 2A, and is a direction that is tilted downward toward the upstream side in the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A. More specifically, the first direction D1 is a direction along the longitudinal direction of the polishing tape 2A on the pressing member 12 when the polishing head 10A is viewed from above.
  • the tilt member 56 comes into contact with the tip of the screw 69 protruding upward from the base member 55.
  • the pressure of the compressed gas supplied from the compressed gas supply line 65 of the tilt actuator 58 is maintained at or above the pressure value required to raise the tip of the piston rod 59 and tilt the tilt member 56 until it comes into contact with the tip of the screw 69. Therefore, the tilt angle of the tilt member 56, the pressing member holder 13, and the pressing member 12 is determined by the amount of protrusion of the screw 69 protruding from the base member 55 (more specifically, the second protrusion 73) toward the tilt member 56.
  • the amount of protrusion of the screw 69 can be adjusted by the degree to which the screw 69 is screwed into the screw hole 68.
  • Figure 8A is a cross-sectional view showing the state in which the pressing member 12 presses the polishing tape 2A against the substrate W with the pressing member holder 13 and the pressing member 12 tilted in the first direction D1 by the tilt adjustment mechanism 50.
  • Figure 8B is a graph showing the relationship between the position from the center O1 of the substrate W and the polishing rate when the polishing tape 2A is pressed against the substrate W by the pressing member 12 tilted in the first direction D1 as shown in Figure 8A.
  • Figure 9A is a cross-sectional view showing the state in which the pressing member 12 presses the polishing tape 2A against the substrate W with the pressing member holder 13 and the pressing member 12 tilted in the second direction D2 by the tilt adjustment mechanism 50.
  • Figure 9B is a graph showing the relationship between the position from the center O1 of the substrate W and the polishing rate when the polishing tape 2A is pressed against the substrate W by the pressing member 12 tilted in the second direction D2 as shown in Figure 9A.
  • the tilt actuator 58 When the tilt actuator 58 is stopped, the piston rod 59 descends, and contact between the tilt member 56 and the piston rod 59, and between the tilt member 56 and the screw 69, are released. More specifically, when the supply of compressed gas from the compressed gas supply line 65 is stopped and the inside of the cylinder 60 is opened to the atmosphere, the drive of the tilt actuator 58 stops, the piston rod 59 descends, the piston rod 59 moves away from the tilt member 56, and the tilt member 56 moves away from the screw 69. The drive of the tilt actuator 58 is stopped while the pressing member 12 is moved (raised) in the pressing direction CL by the pressing actuator 15 (see Figure 5).
  • the polishing tape 2A is fed in the direction indicated by the arrow Z1 under tension. As the polishing tape 2A advances, friction occurs between the polishing tape 2A and the substrate W and between the polishing tape 2A and the pressing member 12. The friction between the polishing tape 2A and the pressing member 12 generates a torque that tilts the pressing member 12 in a second direction D2 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12. As shown in FIG. 9A, the tilt adjustment mechanism 50 allows the tilt member 56, the pressing member holder 13, and the pressing member 12 to tilt in the second direction D2 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12.
  • the second direction D2 is a direction along the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A (the longitudinal direction of the polishing tape 2A), and is a direction that tilts downward toward the downstream side in the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the second direction D2 is a direction opposite to the first direction D1. More specifically, the second direction D2 is a direction along the longitudinal direction of the polishing tape 2A on the pressing member 12 when the polishing head 10A is viewed from above.
  • the pressure of the compressed gas supplied from the compressed gas supply line 65 may be reduced to such an extent that the pressing member 12 can be tilted in the second direction D2 along the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A by friction generated between the pressing member 12 and the polishing tape 2A without stopping the drive of the tilting actuator 58.
  • the timing for changing the inclination of the pressing member 12 of the polishing head 10A while polishing the substrate W i.e., the timing for stopping the tilting actuator 58, is determined in advance based on the polishing results of the previously polished substrate. Specifically, the timing for stopping the tilting actuator 58 is the timing when the overall amount of polishing of the central portion P1 of the substrate W becomes uniform.
  • the polishing head 10B which polishes the inner middle portion P2 (see FIG. 3) of the substrate W, the polishing head 10C, which polishes the outer middle portion P3 (see FIG. 3) of the substrate W, and the polishing head 10D, which polishes the edge portion P4 (see FIG. 3) of the substrate W, are equipped with a universal joint (not shown) that allows the pressing member 12 to tilt in all directions relative to the movable shaft 16 instead of the tilt adjustment mechanism 50.
  • a known universal joint can be used as the universal joint.
  • FIG. 10 is a flowchart showing an example of a substrate processing method according to this embodiment.
  • the operation control unit 100 issues a command to the substrate holding unit 20 to rotate the substrate W about its axis O1 while causing the substrate W and the polishing heads 10A to 10D to perform relative circular motion.
  • the operation control unit 100 issues a command to the polishing tape supply mechanisms 30A and 30B to feed the polishing tapes 2A and 2B in their longitudinal directions, respectively.
  • the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10A to tilt the pressing member 12 of the polishing head 10A in a first direction D1 with respect to the predetermined pressing direction CL by the tilt actuator 58.
  • the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10A to drive the tilt actuator 58 to raise the piston rod 59, and tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilt member 56 in the first direction D1 with respect to the predetermined pressing direction CL.
  • step S104 the operation control unit 100 issues a command to the pressing actuators 15 of the polishing heads 10A to 10D, causing each pressing actuator 15 to raise the pressing member 12 of the polishing heads 10A to 10D.
  • the polishing heads 10A to 10D press the polishing tapes 2A and 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W using the pressing member 12.
  • the polishing head 10A presses the polishing tape 2A against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W with the pressing member 12 tilted in the first direction D1. This polishes the radially outer area of the central portion P1 (see FIG. 3) of the substrate W, as described with reference to FIGS. 8A and 8B.
  • the polishing heads 10B to 10D can press the polishing tapes 2A and 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W with the pressing member 12 by means of a universal joint (not shown) so that the polishing tapes 2A and 2B are parallel to the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • step S105 the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10A to stop driving the tilt actuator 58, and the friction generated between the pressing member 12 of the polishing head 10A and the polishing tape 2A tilts the pressing member 12 of the polishing head 10A in a second direction D2 with respect to the predetermined pressing direction CL.
  • the polishing head 10A With the pressing member 12 tilted in the second direction D2, the polishing head 10A further presses the polishing tape 2A against the processed surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • the radially inner area including the center O1 of the substrate W within the central portion P1 of the substrate W is polished.
  • step S106 the operation control unit 100 issues a command to the pressing actuators 15 of the polishing heads 10A to 10D to stop driving the pressing actuators 15 and lower the pressing members 12 of the polishing heads 10A to 10D.
  • the pressing members 12 of the polishing heads 10A to 10D are separated from the polishing tapes 2A and 2B and the substrate W, respectively.
  • step S107 polishing of the substrate W by the polishing heads 10A to 10D is completed.
  • the polishing tape 2A is pressed against the processed surface of the substrate W with the pressing member 12 of the polishing head 10A tilted in a first direction D1 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12, and then the polishing tape 2A is pressed against the processed surface with the pressing member 12 tilted in a second direction D2 opposite to the first direction D1 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12. That is, while the substrate W is being polished, the inclination of the pressing member 12 of the polishing head 10A is changed from the first direction D1 to the second direction D2 opposite to the first direction D1.
  • the polishing head 10A may first polish an area including the center O1 of the substrate W located radially inward of the substrate W within the central portion P1 of the substrate W with the pressing member 12 tilted in the second direction D2, and then polish an area radially outward of the substrate W within the central portion P1 of the substrate W with the pressing member 12 tilted in the first direction D1.
  • the polishing head 10A drives the pressing actuator 15 with the tilt actuator 58 stopped from being driven, to raise the pressing member 12 of the polishing head 10A. This allows the polishing head 10A to press the polishing tape 2A against the processed surface (first surface 5a) of the substrate W with the pressing member 12 tilted in the second direction D2.
  • the tilt actuator 58 is driven to tilt the pressing member 12 in the first direction D1, and the pressing member 12 further presses the polishing tape 2A against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • FIG. 11 is a perspective view showing another embodiment of the polishing head
  • FIG. 12 is a cross-sectional view of the polishing head shown in FIG. 11, and
  • FIG. 13 is a cross-sectional view taken along line B-B in FIG. 12.
  • the polishing head of this embodiment is a polishing head 10D that polishes the edge portion P4 (see FIG. 3) of the substrate W.
  • the configuration and operation of this embodiment that are not specifically described are the same as those of the embodiment described with reference to FIGS. 1 to 10, and therefore redundant description will be omitted.
  • Arrow Z2 in FIGS. 11 and 12 indicates the traveling direction of the polishing tape 2B.
  • the polishing head 10D of this embodiment has two pressing members 12.
  • the two pressing members 12 are blades having a shape extending in a straight line, and each has a pressing surface for pressing the polishing tape 2B against the substrate W.
  • the two pressing members 12 are inclined obliquely with respect to the traveling direction of the polishing tape 2B indicated by the arrow Z2.
  • the two pressing members 12 are disposed symmetrically with respect to the center line L along the traveling direction Z2 of the polishing tape 2B.
  • the two pressing members 12 are not limited to this embodiment, and may have other shapes or be made of other materials.
  • the two pressing members 12 are made of a single annular member (e.g., an O-ring), and may be hung on a protrusion provided on the side of the pressing member holder 13 and supported by the pressing member holder 13 in an elastically deformed state.
  • each of the two pressing members 12 may be in the shape of a curved blade.
  • the tilting actuator 58 is disposed downstream of the support shaft 51 in the advancing direction Z2 of the polishing tape 2B.
  • the screw 69 and the piston rod 59 of the tilting actuator 58 are disposed on either side of the support shaft 51 (symmetrically with respect to the support shaft 51).
  • the screw 69 is disposed on one side of the support shaft 51, and the piston rod 59 is disposed on the opposite side of the support shaft 51.
  • the screw 69 and the piston rod 59 are aligned along a direction perpendicular to the support shaft 51. In other words, the screw 69 and the piston rod 59 are aligned along the longitudinal direction of the polishing tape 2B (the advancing direction Z2 of the polishing tape 2B).
  • the screw 69 is disposed upstream of the support shaft 51 in the advancing direction Z2 of the polishing tape 2B.
  • the tilt adjustment mechanism 50 of this embodiment further includes two pins 82 perpendicular to the support shaft 51.
  • the two pins 82 pass through holes 80 provided in the skirt 13a of the pressing member holder 13 and are inserted into pin holes 81 provided in the tilt member 56.
  • the two pins 82 are fixed to the pressing member holder 13 and are not fixed to the tilt member 56.
  • the two pins 82 are disposed on both sides of the support shaft 51 (symmetrically with respect to the support shaft 51). In this embodiment, the central axis of the support shaft 51 and the central axes of the two pins 82 are located on the same plane.
  • the two pins 82 extend in the longitudinal direction of the polishing tape 2B (the traveling direction Z2 of the polishing tape 2B).
  • the pressing member holder 13 can tilt (rotate) relative to the tilt member 56 around the two pins 82.
  • the pressing member holder 13 of this embodiment is connected to the tilt member 56 by the two pins 82.
  • the top surface of the tilt member 56 and the inner surface of the pressing member holder 13 are not in contact.
  • the two pins 82 are provided to equalize the pressing force applied to the substrate W from the two pressing members 12 on the pressing member holder 13 via the polishing tape 2B. In one embodiment, the two pins 82 may be omitted.
  • Figure 14A is a cross-sectional view showing the state in which the pressing member 12 presses the polishing tape 2B against the substrate W with the pressing member holder 13 and the pressing member 12 tilted in the first direction D1 by the tilt adjustment mechanism 50.
  • Figure 14B is a graph showing the relationship between the position from the center O1 of the substrate W and the polishing rate when the polishing tape 2B is pressed against the substrate W by the pressing member 12 tilted in the first direction D1 as shown in Figure 14A.
  • warping may occur in the outermost periphery, which is a part of the edge of the substrate W.
  • the pressing member holder 13 and the pressing member 12 are tilted in the first direction D1 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12 by the tilt adjustment mechanism 50, and the pressing member 12 is moved (raised) in the pressing direction CL by the pressing actuator 15 (see FIG. 12).
  • the downstream part of the pressing member 12 in the advancing direction Z2 of the polishing tape 2B presses the polishing tape 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • the first direction D1 is a direction along the longitudinal direction of the polishing tape 2B, and is a direction that is inclined downward toward the upstream side in the advancing direction Z2 of the polishing tape 2B. More specifically, the first direction D1 is a direction along the longitudinal direction of the polishing tape 2B on the pressing member 12 when the polishing head 10D is viewed from above.
  • the tilt adjustment mechanism 50 tilts the tilt member 56, pressing member holder 13, and pressing member 12 in a first direction D1 so that the pressing member 12 follows the warp generated in the outermost periphery of the substrate W, and contacts the substrate W via the polishing tape 2B.
  • the radially outer region i.e., the outermost periphery of the substrate W
  • the tilt angle of the tilt member 56, pressing member holder 13, and pressing member 12 is determined by the amount of protrusion of the screw 69 that protrudes from the base member 55 toward the tilt member 56.
  • the amount of protrusion of the screw 69 can be adjusted by the degree to which the screw 69 is screwed into the screw hole 68.
  • Figure 15A is a cross-sectional view showing the state in which the pressing member 12 presses the polishing tape 2B against the substrate W with the pressing member holder 13 and the pressing member 12 tilted in the second direction D2 by the tilt adjustment mechanism 50.
  • Figure 15B is a graph showing the relationship between the position from the center O1 of the substrate W and the polishing rate when the polishing tape 2B is pressed against the substrate W by the pressing member 12 tilted in the second direction D2 as shown in Figure 15A.
  • the tilt adjustment mechanism 50 allows the pressing member 12 to tilt in a second direction D2 opposite to the first direction D1 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12 due to friction generated between the polishing tape 2B and the pressing member 12.
  • the second direction D2 is a direction along the traveling direction Z2 of the polishing tape 2B (the longitudinal direction of the polishing tape 2B), and is a direction that tilts downward toward the downstream side in the traveling direction Z2 of the polishing tape 2B. More specifically, the second direction D2 is a direction along the longitudinal direction of the polishing tape 2B on the pressing member 12 when the polishing head 10D is viewed from above.
  • the timing for changing the inclination of the pressing member 12 of the polishing head 10D while polishing the substrate W i.e., the timing for stopping the tilting actuator 58, is determined in advance based on the polishing results of the previously polished substrate. Specifically, the timing for stopping the tilting actuator 58 is the timing when the overall amount of polishing of the edge portion P4 of the substrate W becomes uniform.
  • FIG. 16 is a flowchart showing an example of a substrate processing method according to this embodiment.
  • the operation control unit 100 issues a command to the substrate holding unit 20 to rotate the substrate W about its axis O1 while causing the substrate W and the polishing heads 10A to 10D to perform relative circular motion.
  • the operation control unit 100 issues a command to the polishing tape supply mechanisms 30A and 30B to feed the polishing tapes 2A and 2B in their longitudinal directions, respectively.
  • the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10A to tilt the pressing member 12 of the polishing head 10A in the first direction D1 with respect to the predetermined pressing direction CL by the tilt actuator 58.
  • the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10D to tilt the two pressing members 12 of the polishing head 10D in the first direction D1 with respect to the predetermined pressing direction CL by the tilt actuator 58.
  • step S204 the operation control unit 100 issues a command to the pressing actuators 15 of the polishing heads 10A to 10D, causing each pressing actuator 15 to raise the pressing member 12 of the polishing heads 10A to 10D.
  • the polishing heads 10A to 10D press the polishing tapes 2A and 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W using the pressing member 12.
  • the polishing head 10A presses the polishing tape 2A against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W with the pressing member 12 tilted in the first direction D1.
  • the polishing head 10D presses the polishing tape 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W with the two pressing members 12 tilted in the first direction D1.
  • the radially outer region of the central portion P1 (see Figure 3) of the substrate W is polished
  • the radially outer region of the edge portion P4 see Figure 3) of the substrate W (i.e., the outermost portion of the substrate W) is polished.
  • the polishing heads 10B and 10C use a universal joint (not shown) to press the polishing tapes 2A and 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W, respectively, using a pressing member 12 so that the polishing tapes 2A and 2B are parallel to the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • step S205 the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10A to stop the tilt actuator 58, and the friction generated between the pressing member 12 of the polishing head 10A and the polishing tape 2A causes the pressing member 12 of the polishing head 10A to tilt in the second direction D2 with respect to the predetermined pressing direction CL. Furthermore, the operation control unit 100 issues a command to the tilt actuator 58 of the polishing head 10D to stop the tilt actuator 58, and the friction generated between the two pressing members 12 of the polishing head 10D and the polishing tape 2B causes the two pressing members 12 of the polishing head 10D to tilt in the second direction D2 with respect to the predetermined pressing direction CL.
  • the polishing head 10A with the pressing member 12 tilted in the second direction D2, further presses the polishing tape 2A against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • the polishing head 10D with the two pressing members 12 tilted in the second direction D2, further presses the polishing tape 2B against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • step S206 the operation control unit 100 issues a command to the pressing actuators 15 of the polishing heads 10A to 10D to stop the pressing actuators 15 and lower the pressing members 12 of the polishing heads 10A to 10D.
  • the pressing members 12 of the polishing heads 10A to 10D are separated from the polishing tapes 2A and 2B and the substrate W, respectively.
  • step S207 polishing of the substrate W by the polishing heads 10A to 10D is terminated.
  • the polishing tape 2B is pressed against the processed surface of the substrate W with the two pressing members 12 of the polishing head 10D tilted in a first direction D1, and then the polishing tape 2B is pressed against the processed surface with the two pressing members 12 tilted in a second direction D2 opposite to the first direction D1. That is, while the substrate W is being polished, the inclination of the two pressing members 12 of the polishing head 10D is changed from the first direction D1 to the second direction D2 opposite to the first direction D1. This allows the pressing members 12 to uniformly press the polishing tape 2B against the entire edge portion P4 of the substrate W even if a portion of the edge portion P4 of the substrate W is warped. As a result, the entire processed surface of the substrate W can be polished uniformly.
  • the polishing head 10D that polishes the edge portion P4 of the substrate W may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10A equipped with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to Figures 4 to 9B, i.e., a polishing head having one pressing member 12.
  • the polishing head 10B for polishing the inner intermediate portion P2 of the substrate W may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10A with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 4 to 9B, i.e., a polishing head having one pressing member 12.
  • the polishing head 10B may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10D with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 11 to 16, i.e., a polishing head having two pressing members 12.
  • the polishing head 10C for polishing the outer intermediate portion P3 of the substrate W may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10A with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 4 to 9B, i.e., a polishing head having one pressing member 12.
  • the polishing head 10C may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10D with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 11 to 16, i.e., a polishing head having two pressing members 12.
  • the polishing head 10A that polishes the central portion P1 of the substrate W may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10D equipped with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to Figures 11 to 16, i.e., a polishing head having two pressing members 12.
  • FIG. 17 is a cross-sectional view showing another embodiment of the polishing head 10A.
  • the configuration and operation of the polishing head 10A of this embodiment that are not specifically described are the same as those of the embodiment described with reference to FIGS. 5 and 6, so that the overlapping description will be omitted.
  • a part of the polishing head 10A is omitted.
  • the screw 69 is screwed into a screw hole 68 provided in the tilt member 56.
  • the pressing member holder 13 and the pressing member 12 are in a state in which they are tilted in the first direction D1 by the tilt adjustment mechanism 50. As shown in FIG.
  • the screw 69 is arranged on the opposite side to the piston rod 59 of the tilt actuator 58 in the longitudinal direction of the polishing tape 2A (the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A) when viewed from the axial direction of the support shaft 51.
  • the screw 69 is arranged on the upstream side of the support shaft 51 in the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the screw 69 functions as a stopper that limits the angle of the tilt member 56 tilted around the support shaft 51, i.e., the angle of the tilted pressing member 12 and pressing member holder 13.
  • the screw hole 68 opens in the plane of the tilt member 56 facing the second protrusion 73 of the base member 55.
  • the screw hole 68 extends in the tilt member 56 in the pressing direction CL of the pressing member 12.
  • the screw 69 protrudes downward from the tilt member 56 toward the base member 55.
  • the tip of the screw 69 is configured to be able to contact the upper surface of the base member 55 (the second protrusion 73 in this embodiment).
  • the tilt actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the tip of the screw 69 contacts the upper surface of the base member 55. In other words, when the tilt actuator 58 tilts the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilt member 56, the angle of tilt about the support shaft 51 can be changed by the relative position of the screw 69 with respect to the base member 55.
  • the screw 69 does not need to protrude from the tilt member 56.
  • the tilt actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the base member 55.
  • the tilt angle of the tilt member 56, the pressing member holder 13, and the pressing member 12 is determined by the amount of protrusion of the screw 69 protruding from the tilt member 56 toward the base member 55 (more specifically, the second protruding portion 73).
  • the amount of protrusion of the screw 69 can be adjusted by the degree to which the screw 69 is screwed into the screw hole 68.
  • the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIG. 17 can also be applied to the polishing head 10D described with reference to FIGS. 11 to 16.
  • the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIG. 17 can also be applied to the polishing head 10B that polishes the inner middle portion P2 of the substrate W, and the polishing head 10C that polishes the outer middle portion P3 of the substrate W.
  • FIG. 18 is a cross-sectional view showing another embodiment of the polishing head 10A
  • FIG. 19 is a top view showing the base member 55 of the polishing head 10A shown in FIG. 18.
  • the configuration and operation of the polishing head 10A of this embodiment that are not specifically described are the same as the configuration and operation of the polishing head 10A described with reference to FIG. 5 and FIG. 6, so duplicated descriptions will be omitted.
  • the tilt actuator 58 described above is referred to as the first tilt actuator 58
  • the rod 59 is referred to as the first rod 59
  • the screw hole 68 is referred to as the first screw hole 68
  • the screw 69 is referred to as the first screw 69.
  • the tilt adjustment mechanism 50 of this embodiment further includes a second tilt actuator 90 that tilts the tilt member 56 in the second direction D2, and a second screw 99 that is screwed into a second screw hole 98 provided in the base member 55.
  • the second tilt actuator 90 is located on the opposite side of the support shaft 51 from the first tilt actuator 58.
  • the second tilt actuator 90 is disposed upstream of the support shaft 51 in the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the second tilt actuator 90 includes a second rod 91 that pushes up the tilt member 56.
  • the second tilt actuator 90 is an air cylinder
  • the second rod 91 is a piston rod.
  • the second tilt actuator 90 includes a piston rod 91, a cylinder 92, a lid 94 that closes the space in the cylinder 92, and a compressed gas supply line 97 that supplies compressed gas (e.g., compressed air) into the cylinder 92.
  • the piston rod 91 is disposed in the cylinder 92.
  • the second tilt actuator 90 is integrally formed with the second protrusion 73 of the base member 55.
  • the second tilt actuator 90 is not fixed to the housing 18, and can move up and down relative to the housing 18. That is, the second tilt actuator 90 is moved up and down together with the first tilt actuator 58, base member 55, tilt member 56, pressing member 12, and pressing member holder 13 by the pressing actuator 15.
  • the configuration of the second tilt actuator 90 is not limited to this embodiment and may be any configuration as long as the second rod 91 can push up the tilt member 56.
  • the second tilt actuator 90 may be an electric actuator operated by an electric motor, or an electromagnetic actuator operated by electromagnetic force.
  • the inside of the cylinder 92 is connected to the compressed gas supply line 97 through a through hole 94a formed in the lid 94.
  • the second tilt actuator 90 is driven and the piston rod 91 moves (rises) in its axial direction.
  • the movement direction of the piston rod 91 is parallel to the pressing direction CL of the pressing member 12.
  • the piston rod 91 is configured to be able to protrude upward from the base member 55 by penetrating a rod hole 95 provided in the second protruding portion 73 of the base member 55.
  • the rod hole 95 extends through the second protruding portion 73 of the base member 55.
  • the tip of the piston rod 91 is configured to be able to contact the lower surface of the tilt member 56.
  • the second tilt actuator 90 can raise the piston rod 91 and tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilt member 56 with the support shaft 51 as a fulcrum.
  • the compressed gas supply line 65 of the first tilt actuator 58 and the compressed gas supply line 97 of the second tilt actuator 90 are connected to a switching valve (not shown).
  • the switching valve is connected to a compressed gas supply source (not shown) and can direct compressed gas from the compressed gas supply source to either the compressed gas supply line 65 or the compressed gas supply line 97.
  • An example of a switching valve is a four-port solenoid valve.
  • the second screw 99 is screwed into a second screw hole 98 provided in the first protrusion 72 of the base member 55.
  • the second screw hole 98 extends through the first protrusion 72 of the base member 55.
  • the second screw 99 protrudes upward from the base member 55 toward the tilt member 56.
  • the tip of the second screw 99 is configured to be able to contact the lower surface of the tilt member 56.
  • the second tilt actuator 90 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the tip of the second screw 99. In other words, the angle of tilt of the pressing member 12 and the pressing member holder 13 when tilted by the second tilt actuator 90 can be changed by the relative position of the second screw 99 with respect to the tilt member 56.
  • the second screw 99 does not have to protrude from the base member 55.
  • the second tilt actuator 90 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the base member 55.
  • the positions of the first tilt actuator 58 and the first screw 69 in the base member 55 are arbitrary as long as the lower surface of the tilt member 56 tilted in the first direction D1 by the first tilt actuator 58 contacts the first screw 69, and are not limited to this embodiment.
  • the positions of the second tilt actuator 90 and the second screw 99 in the base member 55 are arbitrary as long as the lower surface of the tilt member 56 tilted in the second direction D2 by the second tilt actuator 90 contacts the second screw 99, and are not limited to this embodiment.
  • the piston rod 59 of the first tilt actuator 58 may be positioned outside the second screw 99, or the positions of the piston rod 59 and the second screw 99 may be interchanged.
  • the piston rod 91 of the second tilt actuator 90 may be positioned outside the first screw 69, or the positions of the piston rod 91 and the first screw 69 may be interchanged.
  • the operation of tilting the pressing member holder 13 and the pressing member 12 in the first direction D1 by the first tilting actuator 58 is the same as that in the embodiment described with reference to FIG. 7, so a duplicated description will be omitted.
  • the second tilting actuator 90 is configured to tilt the pressing member holder 13 and the pressing member 12 in the second direction D2.
  • the second tilting actuator 90 is driven to raise the piston rod 91, the tip of the piston rod 91 comes into contact with the underside of the tilt member 56.
  • the pressing member holder 13 and the pressing member 12 are tilted together with the tilt member 56 in the second direction D2 with respect to the pressing direction CL of the pressing member 12, centered on the support shaft 51.
  • the tilt member 56 comes into contact with the tip of the second screw 99 protruding upward from the base member 55.
  • the pressure of the compressed gas supplied from the compressed gas supply line 97 of the second tilt actuator 90 is maintained at or above the pressure value required to raise the tip of the piston rod 91 and tilt the tilt member 56 until it comes into contact with the tip of the second screw 99. Therefore, the tilt angle of the tilt member 56, the pressing member holder 13, and the pressing member 12 in the second direction D2 is determined by the amount of protrusion of the second screw 99 protruding from the base member 55 (more specifically, the first protrusion 72) toward the tilt member 56.
  • the amount of protrusion of the second screw 99 can be adjusted by the degree of screwing of the second screw 99 into the second screw hole 98.
  • the second tilting actuator 90 tilts the pressing member holder 13 and the pressing member 12 in the second direction D2.
  • the upstream portion of the pressing member 12 in the advancing direction Z1 of the polishing tape 2A presses the polishing tape 2A against the processed surface (first surface 5a) of the substrate W, as in the embodiment described with reference to FIGS. 9A and 9B.
  • This radially inner region is the region that includes the center O1 of the substrate W.
  • the timing for changing the tilt of the pressing member 12 of the polishing head 10A while polishing the substrate W i.e., the timing for stopping the first tilting actuator 58 and driving the second tilting actuator 90, is determined in advance based on the polishing results of the previously polished substrate. Specifically, the timing for stopping the first tilting actuator 58 and driving the second tilting actuator 90 is the timing at which the overall amount of polishing of the central portion P1 of the substrate W becomes uniform.
  • the operation control unit 100 issues a command to the second tilt actuator 90 of the polishing head 10A to drive the second tilt actuator 90 to raise the piston rod 91, and tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilt member 56 in the second direction D2 with respect to the predetermined pressing direction CL.
  • the polishing head 10A With the pressing member 12 tilted in the second direction D2, the polishing head 10A further presses the polishing tape 2A against the processing surface (first surface 5a) of the substrate W.
  • the radially inner region within the central portion P1 of the substrate W is polished, similarly to the embodiment described with reference to FIGS. 9A and 9B.
  • step S306 the operation control unit 100 issues a command to the pressing actuators 15 of the polishing heads 10A to 10D to stop driving the pressing actuators 15 and lower the pressing members 12 of the polishing heads 10A to 10D.
  • the pressing members 12 of the polishing heads 10A to 10D are separated from the polishing tapes 2A and 2B and the substrate W, respectively.
  • step S307 polishing of the substrate W by the polishing heads 10A to 10D is terminated.
  • the tilt adjustment mechanism 50 equipped with the second tilt actuator 90 and the second screw 99 can also be applied to the polishing head 10D described with reference to Figures 11 to 16.
  • the tilt adjustment mechanism 50 equipped with the second tilt actuator 90 and the second screw 99 can also be applied to the polishing head 10B that polishes the inner middle portion P2 of the substrate W, and the polishing head 10C that polishes the outer middle portion P3 of the substrate W.
  • FIG. 22 is a cross-sectional view showing yet another embodiment of the polishing head 10A.
  • the configuration and operation of the polishing head 10A of this embodiment not specifically described are the same as those of the embodiment described with reference to FIGS. 17 to 21, and therefore will not be described again.
  • the first screw 69 is screwed into the first screw hole 68 provided in the tilt member 56
  • the second screw 99 is screwed into the second screw hole 98 provided in the tilt member 56.
  • the first screw 69 is disposed on the opposite side to the piston rod 59 of the first tilt actuator 58 in the longitudinal direction of the polishing tape 2A (the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A) when viewed from the axial direction of the support shaft 51.
  • the first screw 69 is disposed on the upstream side of the support shaft 51 in the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the first screw 69 functions as a stopper that limits the angle of the tilt member 56 tilted in the first direction D1 around the support shaft 51, i.e., the angle of the tilted pressing member 12 and pressing member holder 13.
  • the second screw 99 is disposed on the opposite side of the piston rod 91 of the second tilt actuator 90 in the longitudinal direction of the polishing tape 2A (the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A) when viewed from the axial direction of the support shaft 51.
  • the second screw 99 is disposed downstream of the support shaft 51 in the traveling direction Z1 of the polishing tape 2A.
  • the second screw 99 functions as a stopper that limits the angle of the tilt member 56 tilted in the second direction D2 around the support shaft 51, i.e., the angle of the tilted pressing member 12 and pressing member holder 13.
  • the first screw hole 68 opens in the plane of the tilt member 56 facing the second protrusion 73 of the base member 55.
  • the first screw hole 68 extends within the tilt member 56 in a direction parallel to the pressing direction CL of the pressing member 12.
  • the first screw 69 protrudes downward from the tilt member 56 toward the base member 55.
  • the tip of the first screw 69 is located above (directly above) the piston rod 91 of the second tilt actuator 90, and is configured to be able to come into contact with the tip of the piston rod 91 within the rod hole 95.
  • the first tilting actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the tip of the first screw 69 comes into contact with the tip of the piston rod 91 of the second tilting actuator 90. That is, when the first tilting actuator 58 tilts the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilting member 56, the angle of tilt about the support shaft 51 can be changed by the relative position of the first screw 69 with respect to the piston rod 91.
  • the tilt angle of the tilting member 56, the pressing member holder 13, and the pressing member 12 is determined by the amount of protrusion of the first screw 69 that protrudes from the tilting member 56 toward the base member 55 (more specifically, the second protrusion 73).
  • the amount of protrusion of the first screw 69 can be adjusted by the degree of screwing of the first screw 69 into the first screw hole 68.
  • the second screw hole 98 opens in the plane of the tilt member 56 facing the first protrusion 72 of the base member 55.
  • the second screw hole 98 extends within the tilt member 56 in a direction parallel to the pressing direction CL of the pressing member 12.
  • the second screw 99 protrudes downward from the tilt member 56 toward the base member 55.
  • the tip of the second screw 99 is located above (directly above) the piston rod 59 of the first tilting actuator 58, and is configured to be able to come into contact with the tip of the piston rod 59 of the first tilting actuator 58 within the rod hole 63.
  • the second tilting actuator 90 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the tip of the second screw 99 comes into contact with the tip of the piston rod 59 of the first tilting actuator 58. That is, when the second tilting actuator 90 tilts the pressing member 12 and the pressing member holder 13 together with the tilting member 56, the angle of tilt about the support shaft 51 can be changed by the relative position of the second screw 99 with respect to the piston rod 59.
  • the tilt angle of the tilting member 56, the pressing member holder 13, and the pressing member 12 is determined by the amount of protrusion of the second screw 99 that protrudes from the tilting member 56 toward the base member 55 (more specifically, the first protrusion 72).
  • the amount of protrusion of the second screw 99 can be adjusted by the degree to which the second screw 99 is screwed into the second screw hole 98.
  • the tip of the first screw 69 is located above (directly above) the piston rod 91 of the second tilting actuator 90, but in one embodiment, the tip of the first screw 69 may be located above the base member 55. That is, similar to the embodiment described with reference to Figures 18 to 21, when the tilt adjustment mechanism 50 is viewed from above, the positions of the first screw 69 and the piston rod 91 of the second tilting actuator 90 may be misaligned. In this case, the first tilting actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the tip of the first screw 69 contacts the upper surface of the base member 55.
  • the tip of the second screw 99 is located above (directly above) the piston rod 59 of the first tilting actuator 58, but in one embodiment, the tip of the second screw 99 may be located above the base member 55. That is, similar to the embodiment described with reference to Figures 18 to 21, when the tilt adjustment mechanism 50 is viewed from above, the positions of the second screw 99 and the piston rod 59 of the first tilting actuator 58 may be misaligned. In this case, the second tilting actuator 90 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 around the support shaft 51 until the tip of the second screw 99 contacts the upper surface of the base member 55.
  • the first screw 69 may not protrude from the tilt member 56.
  • the first tilt actuator 58 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the base member 55.
  • the second screw 99 may not protrude from the tilt member 56.
  • the second tilt actuator 90 can tilt the pressing member 12 and the pressing member holder 13 about the support shaft 51 until the lower surface of the tilt member 56 contacts the base member 55.
  • the tilt adjustment mechanism 50 further includes a first fixing screw 111 that fixes the relative position of the first screw 69 with respect to the first screw hole 68, and a second fixing screw 113 that fixes the relative position of the second screw 99 with respect to the second screw hole 98.
  • the first fixing screw 111 is screwed into a first fixing screw hole 110 provided in the tilt member 56.
  • the first fixing screw hole 110 extends in a direction perpendicular to the axial direction of the first screw 69 and communicates with the first screw hole 68.
  • the first fixing screw 111 fixes the relative position of the first screw 69 with respect to the first screw hole 68 by pressing the first screw 69 in the first screw hole 68 against the inner surface of the tilt member 56 that constitutes the first screw hole 68.
  • the second fixing screw 113 is screwed into a second fixing screw hole 112 provided in the tilt member 56.
  • the second fixing screw hole 112 extends in a direction perpendicular to the axial direction of the second screw 99 and communicates with the second screw hole 98.
  • the second fixing screw 113 fixes the relative position of the second screw 99 with respect to the second screw hole 98 by pressing the second screw 99 in the second screw hole 98 against the inner surface of the tilt member 56 that constitutes the second screw hole 98.
  • the first fixing screw 111 and the second fixing screw hole 112 can prevent the protrusion amount of the first screw 69 and the second screw 99 from changing due to vibration caused by polishing the substrate W.
  • the tilt adjustment mechanism 50 does not need to include the first fixing screw 111 and the second fixing screw 113.
  • the first screw 69 has a screw body 69b and a ball portion 69c that fits into the end of the screw body 69b.
  • the ball portion 69c of the first screw 69 shown in FIG. 23A is a sphere with a flat surface, and the tip 69a of the first screw 69 has a flat surface shape.
  • the tip 69a of the first screw 69 shown in FIG. 23A comes into surface contact with the tip of the piston rod 91 of the second tilting actuator 90 shown in FIG. 22 (or the upper surface of the base member 55).
  • FIG. 23B shows a ball portion 69c of the first screw 69, which has a spherical shape.
  • the tip 69a of the first screw 69 shown in FIG. 23B is in point contact with the tip of the piston rod 91 (or the upper surface of the base member 55) of the second tilting actuator 90 shown in FIG. 22.
  • the first screw 69 shown in FIGS. 23A and 23B can stabilize the contact surface or contact point of the tip 69a with the piston rod 91, regardless of the relative position of the first screw 69 with respect to the first screw hole 68. Therefore, the tip 69a of the first screw 69 can stably contact the tip of the piston rod 91.
  • the shape of the first screw 69 described with reference to FIGS. 23A and 23B can also be applied to the second screw 99.
  • the first screw 69 (ball portion 69c in the embodiment shown in Figures 23A and 23B) may be made of a high-strength material since it repeatedly comes into contact with the piston rod 91 of the second tilt actuator 90.
  • the second screw 99 (ball portion 69c in the embodiment shown in Figures 23A and 23B) may be made of a high-strength material since it repeatedly comes into contact with the piston rod 59 of the first tilt actuator 58.
  • Examples of materials for the first screw 69 and the second screw 99 (ball portion 69c in the embodiment shown in Figures 23A and 23B) include metals such as steel, stainless steel, and brass, polyacetal (POM), and ceramics.
  • the piston rods 59, 91 shown in FIG. 22 may be made of a high-strength material.
  • materials for the piston rods 59, 91 include stainless steel and ceramics.
  • the piston rods 59, 91 are made of stainless steel, they may be subjected to a surface treatment (plating) as an anti-rust measure.
  • the shape of the piston rods 59, 91 is not limited to this embodiment.
  • the end faces of the piston rods 59, 91 may have a flat shape.
  • the embodiment of the first fixing screw 111 described with reference to FIG. 22 and the embodiment of the first screw 69 described with reference to FIG. 23A and FIG. 23B are applicable to the embodiment described with reference to FIG. 17.
  • the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIG. 22, FIG. 23A, and FIG. 23B can also be applied to the polishing head 10D described with reference to FIG. 11 to FIG. 16.
  • the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIG. 22, FIG. 23A, and FIG. 23B can also be applied to the polishing head 10B that polishes the inner middle portion P2 of the substrate W, and the polishing head 10C that polishes the outer middle portion P3 of the substrate W.
  • FIG. 24 is a side view showing another embodiment of the substrate processing apparatus.
  • the configuration of the substrate processing apparatus of this embodiment that is not specifically described is the same as that of the substrate processing apparatus described with reference to FIGS. 1 and 2, so duplicated descriptions will be omitted.
  • the substrate processing apparatus of this embodiment has a substrate holding unit 120 with a different configuration from that of the substrate holding unit 20 of the substrate processing apparatus described with reference to FIGS. 1 and 2, and further includes a table circular motion mechanism 130 that causes the polishing heads 10A-10D and the polishing tape supply mechanisms 30A, 30B to perform circular motion.
  • the substrate holding part 120 is equipped with a number of rollers 125 capable of contacting the peripheral portion of the substrate W, and a roller rotation device (not shown) for rotating the multiple rollers 125 at the same speed.
  • the substrate W is held horizontally by the substrate holding part 120 with its first surface 5a facing downward.
  • four rollers 125 are provided, but three or five or more rollers may be provided.
  • polishing heads 10A-10D are arranged below the substrate W held by the substrate holder 120.
  • the table circular motion mechanism 130 is arranged below the polishing heads 10A-10D and the polishing tape supply mechanisms 30A, 30B.
  • the support member 11A supporting the polishing heads 10A, 10C, the support member 11B supporting the polishing heads 10B, 10D, and the polishing tape supply mechanisms 30A, 30B are connected to the table circular motion mechanism 130.
  • the table circular motion mechanism 130 includes a table motor 132, a crankshaft 134 fixed to the table motor 132, a table 141, a base 142, and multiple eccentric joints 135.
  • the table motor 132 is disposed below the base 142 and is fixed to the underside of the base 142.
  • the crankshaft 134 passes through the base 142 and extends upward.
  • the table 141 is connected to the multiple eccentric joints 135 and the crankshaft 134.
  • the base 142 is connected to the multiple eccentric joints 135.
  • the table 141 is connected to the base 142 via the multiple eccentric joints 135 and the crankshaft 134. Although only two eccentric joints 135 are depicted in FIG. 24, the table circular motion mechanism 130 includes at least two eccentric joints 135.
  • the tip of the crankshaft 134 is eccentric by a distance e2 from the axis of the table motor 132. Therefore, when the table motor 132 is driven, the table 141 performs a circular motion with a radius of e2. Since the table 141 is supported by multiple eccentric joints 135, the table 141 itself does not rotate when the table 141 performs a circular motion. The amount of eccentricity of the multiple eccentric joints 135 is the same as the amount of eccentricity of the table 141.
  • the polishing heads 10A-10D and the polishing tape supply mechanisms 30A and 30B are fixed to the table 141.
  • the polishing heads 10A-10D and the polishing tape supply mechanisms 30A, 30B are caused to perform circular motion together. Therefore, the substrate W held by the substrate holding portion 120 and the polishing heads 10A-10D perform circular motion relative to each other.
  • the roller rotation device of the substrate holding unit 120 and the table motor 132 of the table circular motion mechanism 130 are electrically connected to the operation control unit 100.
  • the operation of the substrate holding unit 120 and the table circular motion mechanism 130 is controlled by the operation control unit 100.
  • the polishing head 10A that polishes the central portion P1 (see FIG. 3) of the substrate W has a configuration similar to that of the polishing head 10A equipped with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 4 to 10.
  • the polishing head 10A may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10A described with reference to FIGS. 17, 18 to 21, 22, 23A, and 23B.
  • the polishing head 10A may be a polishing head having a configuration similar to that of the polishing head 10D equipped with the tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 11 to 16.
  • Polishing head 10B, polishing head 10C, and polishing head 10D are polishing heads equipped with a universal joint (not shown) that allows the pressing member 12 to tilt in all directions relative to the movable shaft 16.
  • polishing head 10D that polishes edge portion P4 (see FIG. 3) of substrate W may have a configuration similar to polishing head 10D equipped with tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 11 to 16.
  • polishing head 10D that polishes edge portion P4 of substrate W may have a configuration similar to polishing head 10A equipped with tilt adjustment mechanism 50 described with reference to FIGS. 4 to 10, 17, 18 to 21, 22, 23A, and 23B.
  • the polishing head equipped with the tilt adjustment mechanism 50 described above is not limited to substrate processing equipment that polishes a substrate while performing relative circular motion between the substrate and the polishing head, but can also be applied to substrate processing equipment that polishes a substrate while rotating the substrate around its axis without performing relative circular motion between the substrate and the polishing head.
  • the polishing head equipped with the tilt adjustment mechanism 50 described above is applied to a polishing device that polishes the processed surface of a substrate as an example of a processing head, but can also be applied to a cleaning head of a cleaning device that cleans the processed surface of a substrate.
  • the configuration and operation of a substrate processing device equipped with a cleaning head are similar to those of the substrate processing device of the above-mentioned embodiment, so duplicated explanations will be omitted.
  • a cleaning tape which is an example of a processing tape, is used to clean the substrate instead of the polishing tape.
  • the cleaning tape is, for example, a cloth cleaning tape.
  • the substrate processing device for cleaning the substrate presses the cleaning tape against the processed surface of the substrate with the pressing member of the cleaning head equipped with the tilt adjustment mechanism 50 tilted in a first direction with respect to the pressing direction of the pressing member, and then presses the cleaning tape against the processed surface of the substrate with the pressing member tilted in a second direction opposite to the first direction with respect to the pressing direction of the pressing member. This allows the entire processed surface of the substrate to be uniformly cleaned.
  • the present invention can be used in a substrate processing method for processing a substrate such as a wafer.
  • the present invention can also be used in a processing head for pressing a processing tape against a substrate such as a wafer, and in a substrate processing apparatus equipped with such a processing head.
  • Reference Signs (1) to (4) indicate polishing tape 5a, 5b, and 10C, respectively.
  • Reference Signs (2) to (4) indicate polishing tape 5a, 5b, and 10C, respectively.
  • Reference Signs (1) to (4) indicate polishing tape 5a, 5b, and 10C, respectively.
  • Reference Signs (2) to (4) indicate polishing tape 5a, 5b, and 10C, respectively.
  • Reference Signs (3) to (4) indicate polishing tape 5a, 5b, and 10C, respectively.
  • Reference Signs (4) to (4) indicate polishing tape 5a, 5b, and 10C, respectively.

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Abstract

本発明は、基板を処理する基板処理方法に関する。基板処理方法は、基板(W)をその軸心を中心に回転させ、処理テープ(2A)をその長手方向に送りながら、処理ヘッド(10A)の押圧部材(12)を所定の押圧方向(CL)に対して第1の方向(D1)に傾けた状態で、押圧部材(12)により処理テープ(2A)を基板(W)の被処理面(5a)に対して押し付け、その後、押圧部材(12)を押圧方向(CL)に対して第1の方向(D1)とは反対の第2の方向(D2)に傾けた状態で、押圧部材(12)により処理テープ(2A)を被処理面(5a)に対して押し付けて、基板(W)の被処理面(5a)を処理することを含み、第1の方向(D1)および第2の方向(D2)は、押圧部材(12)上の処理テープ(2A)の長手方向に沿った方向である。

Description

基板処理方法、処理ヘッド、および基板処理装置
 本発明は、ウェーハなどの基板を処理する基板処理方法に関する。また、本発明は、ウェーハなどの基板に処理テープを押し付けるための処理ヘッド、およびそのような処理ヘッドを備えた基板処理装置に関する。
 近年、メモリー回路、ロジック回路、イメージセンサ(例えばCMOSセンサー)などのデバイスは、より高集積化されつつある。これらのデバイスを形成する工程においては、微粒子や塵埃などの異物がデバイスに付着することがある。デバイスに付着した異物は、配線間の短絡や回路の不具合を引き起こしてしまう。したがって、デバイスの信頼性を向上させるために、デバイスが形成された基板を洗浄して、基板上の異物を除去することが必要とされる。
 基板の裏面(非デバイス面)にも、上述したような微粒子や粉塵などの異物が付着することがある。このような異物が基板の裏面に付着すると、基板が露光装置のステージ基準面から離間することで基板表面がステージ基準面に対して傾き、結果として、パターニングのずれや焦点距離のずれが生じることとなる。このような問題を防止するために、基板の裏面に付着した異物を除去することが必要とされる。
 そこで、図25および図26に示すように、基板の裏面を処理テープで処理する基板処理装置が使用されている。基板の裏面から異物を除去する処理には、研磨テープを用いた基板の裏面の研磨、および洗浄テープを用いた基板の裏面の洗浄が含まれる。図25は、従来の基板処理装置の上面図であり、図26は、図25に示す従来の基板処理装置の側面図である。図25および図26に示す基板処理装置は、複数の押圧部材505と基板Wとを相対的に円運動させながら基板Wを処理するように構成されている。
 基板処理装置は、複数のローラー500により基板Wの周縁部を保持しながら、これらローラー500自身が回転することで、基板Wをその軸心O1を中心に回転させる。基板処理装置は、複数のローラー500のそれぞれに固定された複数の偏心軸507を有している。各偏心軸507は、距離eだけ偏心した第1軸部507aと第2軸部507bを有している。各第1軸部507aに接続されたモータ509を駆動させることにより、複数のローラー500は、第1軸部507aの軸心を中心に半径eの円運動を行う。これにより、基板処理装置は、基板Wを半径eの円運動をさせながら、基板Wをその軸心O1を中心に回転させる。
 処理テープ502は、基板Wの裏面側に配置されている。処理テープ502は、所定のテンションが与えられながら、矢印Zで示す方向に進行する。複数の押圧部材505は基板Wの直径方向に配列されており、これら押圧部材505で処理テープ502を基板Wの裏面に対して押し付けることにより、基板Wの裏面を処理する。基板Wの裏面に押し付けられた処理テープ502は、基板Wの裏面から異物を除去することができる。このような基板処理装置は、処理ヘッドと基板とを相対的に円運動させながら基板の裏面を処理することで、処理ヘッドの押圧部材と基板との相対速度を確保することができ、基板の全体を効率的に処理することができる。
特開2021-2639号公報
 しかしながら、複数の押圧部材505と基板Wとを相対的に円運動させながら基板Wを処理すると、基板Wの中心(軸心)O1を含む中央領域では、押圧部材505による接触周回数が、他の領域よりも相対的に多くなる。結果として、基板処理装置は、基板Wの裏面を均一に処理することができないことがあった。
 また、基板Wのエッジ部では、図27に示すように、押圧部材505により処理テープ502を基板Wに押し付けると、基板Wが上方に撓んでしまう。基板Wは円弧状に撓むため、処理テープ502は均一に押されず、基板Wの処理レートが不均一となる。そこで、図28に示すように、押圧部材505を傾動可能に支持するユニバーサルジョイント509を備えた基板処理装置が開発されている。このユニバーサルジョイント509は、押圧部材505を基板Wの撓みに追従させるができるので、押圧部材505は処理テープ502を基板Wに均一に押圧できると期待される。
 しかしながら、図29に示すように、基板Wのエッジ部に反りがある場合、押圧部材505が基板Wのエッジ部の反りに追従できないことがある。結果として、押圧部材505は処理テープ502を基板Wに均一に押圧することができない。
 そこで、本発明は、ウェーハなどの基板の被処理面の全体を均一に処理することができる基板処理方法を提供する。また、本発明は、均一な力で処理テープをウェーハなどの基板の被処理面に押し付けることができる処理ヘッド、およびそのような処理ヘッドを備えた基板処理装置を提供する。
 一態様では、基板をその軸心を中心に回転させ、処理テープをその長手方向に送りながら、処理ヘッドの押圧部材を所定の押圧方向に対して第1の方向に傾けた状態で、前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の被処理面に対して押し付け、その後、前記押圧部材を前記押圧方向に対して前記第1の方向とは反対の第2の方向に傾けた状態で、前記押圧部材により前記処理テープを前記被処理面に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面を処理することを含み、前記第1の方向および前記第2の方向は、前記押圧部材上の前記処理テープの前記長手方向に沿った方向である、基板処理方法が提供される。
 一態様では、前記押圧部材を前記第1の方向に傾けることは、傾動アクチュエータにより前記第1の方向に傾けることであり、前記押圧部材を前記第2の方向に傾けることは、前記押圧部材と前記処理テープとの間に生じる摩擦により、前記押圧部材を前記処理テープの進行方向に沿った前記第2の方向に傾けることであり、前記第1の方向は、前記処理テープの前記進行方向において上流側に向かって下方に傾く方向であり、前記第2の方向は、前記処理テープの前記進行方向において下流側に向かって下方に傾く方向である。
 一態様では、前記押圧部材を前記第1の方向に傾けることは、第1傾動アクチュエータにより前記第1の方向に傾けることであり、前記押圧部材を前記第2の方向に傾けることは、第2傾動アクチュエータにより前記第2の方向に傾けることであり、前記第1の方向は、前記処理テープの前記進行方向において上流側に向かって下方に傾く方向であり、前記第2の方向は、前記処理テープの前記進行方向において下流側に向かって下方に傾く方向である。
 一態様では、前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面の中心を含む中央部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記中央部を処理する。
 一態様では、前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面のエッジ部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記エッジ部を処理する。
 一態様では、前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面の内側中間部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記内側中間部を処理する。
 一態様では、前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面の外側中間部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記外側中間部を処理する。
 一態様では、前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を研磨するための研磨ヘッドであり、前記処理テープは、その表面に砥粒を有する研磨テープである。
 一態様では、前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を洗浄するための洗浄ヘッドであり、前記処理テープは洗浄テープである。
 一態様では、処理テープを基板の被処理面に対して押し付ける押圧部材と、前記押圧部材を所定の押圧方向に移動させ、前記基板の前記被処理面に対する押圧力を前記押圧部材に付与する押圧アクチュエータと、前記押圧方向に対する前記押圧部材の傾きを調整する傾き調整機構を備え、前記傾き調整機構は、前記押圧部材を前記押圧方向に対して第1の方向に傾ける傾動アクチュエータと、前記処理テープの長手方向に垂直な支軸を備え、前記押圧部材は、前記支軸を中心に前記第1の方向および前記第1の方向とは反対の第2の方向に傾くことが可能に前記支軸に連結されており、前記第1の方向および前記第2の方向は、前記押圧部材上の前記処理テープの前記長手方向に沿った方向である、処理ヘッドが提供される。
 一態様では、前記傾き調整機構は、前記支軸を支持するベース部材と、前記支軸に連結され、前記支軸を中心に傾くことが可能なチルト部材をさらに備え、前記傾動アクチュエータは、前記チルト部材を押し上げるロッドを有している。
 一態様では、前記傾動アクチュエータは、エアシリンダであり、前記ロッドは、前記エアシリンダのピストンロッドである。
 一態様では、前記傾き調整機構は、前記ベース部材に設けられたねじ穴に螺合されたねじをさらに備え、前記ねじと前記ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、前記ねじは、前記ベース部材から前記チルト部材に向かって突出している。
 一態様では、前記傾き調整機構は、前記チルト部材に設けられたねじ穴に螺合されたねじをさらに備え、前記ねじと前記ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、前記ねじは、前記チルト部材から前記ベース部材に向かって突出している。
 一態様では、前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を研磨するための研磨ヘッドであり、前記処理テープは、その表面に砥粒を有する研磨テープである。
 一態様では、前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を洗浄するための洗浄ヘッドであり、前記処理テープは洗浄テープである。
 一態様では、前記第1の方向に傾ける前記傾動アクチュエータは、第1傾動アクチュエータであり、前記傾き調整機構は、前記押圧部材を前記押圧方向に対して前記第2の方向に傾ける第2傾動アクチュエータをさらに備えている。
 一態様では、前記傾き調整機構は、前記支軸を支持するベース部材と、前記支軸に連結され、前記支軸を中心に傾くことが可能なチルト部材をさらに備え、前記第1傾動アクチュエータは、前記チルト部材を押し上げる第1ロッドを有しており、前記第2傾動アクチュエータは、前記チルト部材を押し上げる第2ロッドを有している。
 一態様では、前記第1傾動アクチュエータおよび前記第2傾動アクチュエータのそれぞれは、エアシリンダであり、前記第1ロッドおよび前記第2ロッドのそれぞれは、前記エアシリンダのピストンロッドである。
 一態様では、前記傾き調整機構は、前記ベース部材に設けられた第1ねじ穴に螺合された第1ねじと、前記ベース部材に設けられた第2ねじ穴に螺合された第2ねじをさらに備え、前記第1ねじと前記第1ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、前記第2ねじと前記第2ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、前記第1ねじおよび前記第2ねじは、前記ベース部材から前記チルト部材に向かって突出している。
 一態様では、前記傾き調整機構は、前記チルト部材に設けられた第1ねじ穴に螺合された第1ねじと、前記チルト部材に設けられた第2ねじ穴に螺合された第2ねじをさらに備え、前記第1ねじと前記第1ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、前記第2ねじと前記第2ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、前記第1ねじおよび前記第2ねじは、前記チルト部材から前記ベース部材に向かって突出している。
 一態様では、基板を保持し、前記基板を回転させる基板保持部と、処理テープをその長手方向に送る処理テープ供給機構と、上記処理ヘッドを備えている、基板処理装置が提供される。
 処理ヘッドの押圧部材を第1の方向に傾けた状態で、処理テープを基板の被処理面に対して押し付け、その後、押圧部材を第1の方向とは反対の第2の方向に傾けた状態で、処理テープを被処理面に対して押し付けることにより、押圧部材は、処理テープを基板の被処理面に対して均一に押し付けることができる。結果として、基板の被処理面の全体を均一に処理することができる。
基板処理装置の一実施形態を示す側面図である。 図1に示す基板処理装置の上面図である。 研磨ヘッドの研磨領域を説明する模式図である。 基板の中央部を研磨する研磨ヘッドの一実施形態を示す斜視図である。 図4に示す研磨ヘッドの断面図である。 図5のA-A線断面図である。 傾き調整機構によって押圧部材ホルダおよび押圧部材を第1の方向に傾けた状態を示す断面図である。 押圧部材ホルダおよび押圧部材を、傾き調整機構によって第1の方向に傾けた状態で、押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けている様子を示す断面図である。 図8Aに示すように、第1の方向に傾けた押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けたときの基板の中心からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。 押圧部材ホルダおよび押圧部材を、傾き調整機構によって第2の方向に傾けた状態で、押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けている様子を示す断面図である。 図9Aに示すように、第2の方向に傾けた押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けたときの基板の中心からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。 本実施形態に係る基板処理方法の一例を示すフローチャートである。 研磨ヘッドの他の実施形態を示す斜視図である。 図11に示す研磨ヘッドの断面図である。 図12のB-B線断面図である。 押圧部材ホルダおよび押圧部材を、傾き調整機構によって第1の方向に傾けた状態で、押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けている様子を示す断面図である。 図14Aに示すように、第1の方向に傾けた押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けたときの基板の中心からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。 押圧部材ホルダおよび押圧部材を、傾き調整機構によって第2の方向に傾けた状態で、押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けている様子を示す断面図である。 図15Aに示すように、第2の方向に傾けた押圧部材により研磨テープを基板に対して押し付けたときの基板の中心からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。 本実施形態に係る基板処理方法の一例を示すフローチャートである。 研磨ヘッドの他の実施形態を示す断面図である。 研磨ヘッドのさらに他の実施形態を示す断面図である。 図18に示す研磨ヘッドのベース部材を示す上面図である。 第2傾動アクチュエータによって押圧部材ホルダおよび押圧部材を第2の方向に傾けた状態を示す断面図である。 本実施形態に係る基板処理方法の一例を示すフローチャートである。 研磨ヘッドのさらに他の実施形態を示す断面図である。 図22に示す第1ねじの一実施形態を示す縦断面図である。 図22に示す第1ねじの一実施形態を示す縦断面図である。 基板処理装置の他の実施形態を示す側面図である。 従来の基板処理装置の上面図である。 図25に示す従来の基板処理装置の側面図である。 押圧部材により基板が上方に撓む様子を説明する模式図である。 ユニバーサルジョイントを備えた従来の基板処理装置の模式図である。 基板のエッジ部に反りが生じている様子を説明する模式図である。
 以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
 図1は、基板処理装置の一実施形態を示す側面図であり、図2は、図1に示す基板処理装置の上面図である。本実施形態の基板処理装置は、処理ヘッドの一例である研磨ヘッドにより、処理テープの一例である研磨テープをウェーハなどの基板に押し付けて、基板の処理の一例である基板の研磨を行うための研磨装置である。図1および図2に示す基板処理装置は、基板Wを保持し、回転させる基板保持部20と、研磨テープ2A,2Bを、基板保持部20に保持された基板Wの第1の面5aに接触させて基板Wの第1の面5aを処理する複数の研磨ヘッド10A~10Dと、研磨テープ2Aをその長手方向に送る研磨テープ供給機構30Aと、研磨テープ2Bをその長手方向に送る研磨テープ供給機構30Bを備えている。
 本明細書において、特に説明しない限り、研磨テープ2A,2Bの長手方向、および研磨テープ2A,2Bの進行方向とは、研磨テープ2A,2Bをそれぞれ基板Wの第1の面5aに押し付ける研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材上の研磨テープ2A,2Bの長手方向、および研磨テープ2A,2Bの進行方向のことを示す。
 本実施形態では、基板Wの第1の面5aは、デバイスが形成されていない、またはデバイスが形成される予定がない基板Wの裏面、すなわち非デバイス面である。第1の面5aとは反対側の基板Wの第2の面5bは、デバイスが形成されている、またはデバイスが形成される予定である面、すなわちデバイス面である。基板Wの第1の面5aおよび第2の面5bは、基板Wの平坦面である。本実施形態では、基板Wは、被処理面である第1の面5aが下向きの状態で、基板保持部20に水平に支持される。
 基板保持部20は、基板Wの周縁部に接触可能な複数のローラー25と、複数のローラー25を同じ速度で回転させる複数のモータ29と、複数のローラー25と複数のモータ29を連結する複数の偏心軸27を備えている。本実施形態では、4つのローラー25が設けられているが、3つまたは5つ以上のローラーが設けられてもよい。
 複数の偏心軸27のそれぞれは、互いに平行に延びる第1軸部27aと、第2軸部27bを有している。第2軸部27bは、第1軸部27aから距離e1だけ偏心している。複数のローラー25は、複数の第2軸部27bの一端にそれぞれ固定されている。複数のローラー25の軸心は、複数の第2軸部27bの軸心とそれぞれ一致している。モータ29は、第1軸部27aの一端にそれぞれ接続されている。
 複数のモータ29が駆動すると、複数の偏心軸27は、その第1軸部27aを中心に回転する。複数の偏心軸27が回転すると、ローラー25は、第1軸部27aの軸心の周りで半径e1の円運動を行う。ローラー25が第1軸部27aの軸心を中心に一回転したとき、ローラー25は、ローラー25の軸心を中心に一回転する。基板保持部20は、このようなローラー25の運動により、ローラー25に保持された基板Wを半径e1の円運動をさせながら、基板Wをその軸心(中心)O1を中心に回転させる。したがって、基板Wと研磨ヘッド10A~10Dとは、相対的に円運動する。本明細書において、円運動は、対象物が円軌道上を移動する運動と定義される。
 複数の研磨ヘッド10A~10Dは、基板保持部20に保持されている基板Wの下側に配置されている。研磨ヘッド10A,10Cは、支持部材11Aに支持され、研磨ヘッド10B,10Dは、支持部材11Bに支持されている。これら研磨ヘッド10A~10Dは、基板Wの直径方向に配列されている。本実施形態では、4つの研磨ヘッド10A~10Dが設けられているが、研磨ヘッドの数は本実施形態に限られない。一実施形態では、3つ以下、あるいは5つ以上の研磨ヘッドが設けられてもよい。
 研磨テープ供給機構30A,30Bは、基本的に同じ構成を有しているので、以下、研磨テープ供給機構30Aについて説明する。研磨テープ供給機構30Aは、研磨テープ2Aの一端が接続されたテープ巻き出しリール31と、研磨テープ2Aの他端が接続されたテープ巻き取りリール32と、研磨テープ2Aの進行方向を案内する複数のガイドローラー33を備えている。テープ巻き出しリール31およびテープ巻き取りリール32は、リールモータ36,37にそれぞれ連結されている。
 テープ巻き取りリール32を矢印で示す方向に回転させることにより、研磨テープ2Aはテープ巻き出しリール31から研磨ヘッド10A,10Cを経由してテープ巻き取りリール32に送られる。研磨テープ2Aは、研磨テープ2Aの処理面(研磨面)が基板Wの第1の面5aを向くように研磨ヘッド10A,10Cの上方に供給される。リールモータ36は、所定のトルクをテープ巻き出しリール31に与えることにより、研磨テープ2Aにテンションをかけることができる。リールモータ37は、研磨テープ2Aを一定速度で送るように制御される。研磨テープ2Aを送る速度は、テープ巻き取りリール32の回転速度を変化させることによって変更できる。
 一実施形態では、基板処理装置は、テープ巻き出しリール31、テープ巻き取りリール32、およびリールモータ36,37とは別に、研磨テープ2Aをその長手方向に送るテープ送り装置を備えてもよい。他の実施形態では、テープ巻き出しリール31とテープ巻き取りリール32の位置は、逆に配置されてもよい。
 基板処理装置は、基板処理装置の各構成要素の動作を制御する動作制御部100に電気的に接続されている。基板保持部20、研磨ヘッド10A~10D、および研磨テープ供給機構30A,30Bの動作は、動作制御部100によって制御される。
 動作制御部100は、少なくとも1台のコンピュータを備えている。動作制御部100は、プログラムが格納された記憶装置100aと、プログラムに従って演算を実行する演算装置100bを備えている。記憶装置100aは、演算装置100bがアクセス可能な主記憶装置(例えばランダムアクセスメモリ)と、プログラムを格納する補助記憶装置(例えば、ハードディスクドライブまたはソリッドステートドライブ)を備えている。演算装置100bは、記憶装置100aに格納されているプログラムに含まれている命令に従って演算を行うCPU(中央処理装置)またはGPU(グラフィックプロセッシングモジュール)などを含む。ただし、動作制御部100の具体的構成はこれらの例に限定されない。
 図3は、研磨ヘッド10A~10Dの研磨領域を説明する模式図である。図3に示すように、研磨ヘッド10A~10Dは、基板Wの直径方向に沿って、配列されている。基板Wの中心O1から各研磨ヘッドまでの距離は、研磨ヘッド10A、研磨ヘッド10B、研磨ヘッド10C、研磨ヘッド10Dの順に大きい。研磨ヘッド10A,10Cは、基板Wおよび研磨テープ2Aの下方に配置されており、研磨テープ2Aをその裏側から基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押圧するように構成されている。研磨ヘッド10B,10Dは、基板Wおよび研磨テープ2Bの下方に配置されており、研磨テープ2Bをその裏側から基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押圧するように構成されている。
 研磨ヘッド10A~10Dは、研磨テープ2Aまたは研磨テープ2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付けるための押圧部材12をそれぞれ有している。研磨ヘッド10Aおよび研磨ヘッド10Bのそれぞれは、1つの押圧部材12を有しており、研磨ヘッド10Cおよび研磨ヘッド10Dのそれぞれは、2つの押圧部材12を有している。研磨ヘッド10Aは、基板Wの中心O1を含む基板Wの中央部P1を研磨するように構成されている。研磨ヘッド10Bは、基板Wの中央部P1の半径方向外側に位置する内側中間部P2を研磨するように構成されている。研磨ヘッド10Cは、基板Wの内側中間部P2の半径方向外側に位置する外側中間部P3を研磨するように構成されている。研磨ヘッド10Dは、基板Wの外側中間部P3の半径方向外側に位置し、基板Wの最も外側のエッジ部P4を研磨するように構成されている。中央部P1、内側中間部P2、外側中間部P3、およびエッジ部P4は、いずれも基板Wの第1の面5a内に位置している。
 上述したように、本実施形態の基板処理装置は、基板Wと研磨ヘッド10A~10Dとを相対的に円運動させながら、基板Wを研磨する。基板Wの中央部P1内の半径方向内側に位置し、基板Wの中心O1を含む中心領域では、研磨ヘッド10Aの半径方向内側の部分による押圧部材12の接触周回数が、他の領域よりも相対的に多くなる。結果として、基板処理装置は、基板Wの被処理面を均一に処理することができないことがあった。そこで、本実施形態の研磨ヘッド10Aは、基板Wの研磨中に押圧部材12の傾きを変更できるように構成されている。
 図4は、基板Wの中央部P1を研磨する研磨ヘッド10Aの一実施形態を示す斜視図であり、図5は、図4に示す研磨ヘッド10Aの断面図であり、図6は、図5のA-A線断面図である。研磨ヘッド10Aは、基板Wおよび研磨テープ2Aの下方に配置されている。研磨ヘッド10Aは、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付けるための押圧部材12と、押圧部材12を矢印CLで示す所定の押圧方向に移動させ、基板Wの被処理面(第1の面5a)に対する押圧力を押圧部材12に付与する押圧アクチュエータ15と、押圧アクチュエータ15が内部に配置されたハウジング18と、押圧部材12の傾きを調整する傾き調整機構50を備えている。押圧アクチュエータ15は、押圧部材12に連結された可動軸16と、可動軸16の端部(下端)とハウジング18との間に圧力室40を形成する隔壁膜(ダイヤフラム)42を備えている。可動軸16および隔壁膜42は、ハウジング18内に配置されている。
 研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を保持する押圧部材ホルダ13をさらに備えている。押圧部材ホルダ13は、傾き調整機構50を介して可動軸16に連結されており、可動軸16と一体に移動可能である。押圧部材12は、直線上に延びる形状を有するブレードであり、研磨テープ2Aを基板Wに押し付けるための押圧面を有している。押圧部材12は、押圧部材ホルダ13の嵌合溝に嵌った状態で固定されている。図4に示すように、押圧部材12は、矢印Z1で示す研磨テープ2Aの進行方向に対して斜めに傾いている。押圧部材12は、弾性材料から形成されている。押圧部材12を構成する材料の例としては、フッ素ゴム、シリコーンゴム、エチレンプロピレンジエンゴムなどのゴムが挙げられる。押圧部材12の断面は、円形の形状を有している。
 押圧部材12は、本実施形態に限られず、他の形状を有してもよく、あるいは他の材料から構成されてもよい。一実施形態では、押圧部材12は環状の部材(例えばOリング)から構成され、押圧部材ホルダ13の側面に設けられた突起部に掛けられて、弾性変形した状態で押圧部材ホルダ13に支持されてもよい。他の実施形態では、押圧部材12は、湾曲状ブレードの形状であってもよい。
 図5に示すように、可動軸16は、その軸方向にハウジング18内で移動可能に構成されており、可動軸16は、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を矢印CLに示す押圧方向に上昇させることができる。押圧部材12は研磨テープ2Aの裏側に対向している。可動軸16が押圧部材12および押圧部材ホルダ13を矢印CLに示す押圧方向に上昇させると、押圧部材12は、研磨テープ2Aの裏側に接触する。研磨テープ2Aの裏側は、砥粒を有する研磨面とは反対側の面である。押圧部材12は研磨テープ2Aの研磨面を基板Wの第1の面5aに押し付けて、基板Wの第1の面5aを研磨テープ2Aで研磨する。基板Wの研磨中、研磨テープ2Aの裏側は、押圧部材12によって支持される。基板Wの研磨中、研磨テープ2Aはその長手方向に所定の速度で送られる。図4および図5の矢印Z1は、研磨テープ2Aの進行方向を表している。
 本実施形態では、可動軸16はボールスプライン軸から構成されている。ハウジング18内にはボールスプラインナット45が配置されており、可動軸16はボールスプラインナット45により可動軸16の軸方向に移動可能に支持されている。一実施形態では、可動軸16は、ハウジング18の内面に移動可能に支持されてもよい。
 ハウジング18は、可動軸16が収容される空間が内部に形成されたハウジング本体18Aと、上記空間を塞ぐ蓋18Bとを備えている。蓋18Bはねじ(図示せず)によりハウジング本体18Aに着脱可能に固定されている。研磨テープ2Aを基板Wに対して押圧するための押圧力を発生する押圧アクチュエータ15は、可動軸16および隔壁膜42を含む。隔壁膜42は、可動軸16の端部(下端)に接触しており、隔壁膜42の縁は、ハウジング本体18Aと蓋18Bとの間に挟まれている。隔壁膜42は可動軸16に接触しているのみであり、可動軸16に固定されていない。
 隔壁膜42は、柔軟な材料から形成されている。隔壁膜42を構成する材料の例としては、クロロプレンゴム、フッ素ゴム、シリコーンゴムが挙げられる。圧力室40は、圧縮気体供給ライン(図示せず)に連通しており、圧縮気体供給ラインから圧縮気体(例えば圧縮空気)が圧力室40内に供給されるように構成されている。
 傾き調整機構50は、押圧アクチュエータ15によって移動される押圧部材12の移動方向(押圧方向)CLに対する押圧部材12の傾きを調整するように構成されている。押圧部材ホルダ13は、傾き調整機構50に連結されており、押圧部材12および押圧部材ホルダ13は、傾き調整機構50を介して可動軸16に連結されている。傾き調整機構50は、可動軸16と押圧部材ホルダ13との間に配置されており、傾き調整機構50の上部は押圧部材ホルダ13の内部に収容されている。傾き調整機構50、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12は、押圧アクチュエータ15によって一体に移動される。
 基板Wを研磨するときは、圧縮空気などの圧縮気体が圧力室40内に供給される。圧力室40内の圧縮気体の圧力は、隔壁膜42を介して可動軸16の端部(下端)に作用し、可動軸16、傾き調整機構50、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12を上昇させる。研磨ヘッド10Aは、可動軸16のハウジング18に対する相対的な移動距離を測定する距離センサをさらに備えてもよい。基板Wの研磨を終了させるときは、圧力室40は大気開放され、その結果、可動軸16の自重および研磨テープ2Aの張力により可動軸16、傾き調整機構50、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12が下降する。
 押圧部材ホルダ13は、下方に延びるスカート13aを有している。このスカート13aは、ハウジング18および傾き調整機構50の上部を囲んでいる。本実施形態ではスカート13aは角筒状であるが、ハウジング18および傾き調整機構50の上部を囲むことができるのであれば、他の形状であってもよい。スカート13aは、基板Wの研磨に使用される純水などの液体がハウジング18および傾き調整機構50内に侵入することを防ぐことができる。
 図5および図6に示すように、傾き調整機構50は、支軸51と、この支軸51を支持するベース部材55と、支軸51に連結され、支軸51を中心に傾くことが可能なチルト部材56と、チルト部材56を傾動させる傾動アクチュエータ58と、ベース部材55に設けられたねじ穴68に螺合されたねじ69を備えている。ベース部材55は、可動軸16の上端に固定されている。ベース部材55は、中心部位70と、その中心部位70の両側から突出する第1突出部72および第2突出部73を有する。第1突出部72は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、中心部位70の下流側に位置している。第2突出部73は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、中心部位70の上流側に位置している。中心部位70の上部は、チルト部材56の中央に形成された中空空間75内に配置されている。
 支軸51は、ベース部材55の中心部位70に形成された通孔55aに挿入されている。支軸51の両端は、チルト部材56に形成された2つの支持穴56a内に挿入されている。支軸51の延びる方向は、押圧部材12の移動方向(押圧方向)CLに対して垂直であり、かつ研磨テープ2Aの長手方向(研磨テープ2Aの進行方向Z1)に対して垂直である。押圧部材12および押圧部材ホルダ13は、チルト部材56および支軸51に連結されており、チルト部材56と一体に支軸51を中心に傾く(回転する)ことが可能である。押圧部材ホルダ13は、チルト部材56に固定されている。一実施形態では、チルト部材56は、押圧部材ホルダ13と一体に構成されていてもよい。
 傾動アクチュエータ58は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の下流側に配置されている。傾動アクチュエータ58は、チルト部材56を押し上げるロッド59を備えている。本実施形態の傾動アクチュエータ58はエアシリンダであり、ロッド59はピストンロッドである。図5に示すように、傾動アクチュエータ58は、ピストンロッド59と、シリンダ60と、シリンダ60内の空間を塞ぐ蓋62と、シリンダ60内に圧縮気体(例えば圧縮空気)を供給する圧縮気体供給ライン65を備えている。ピストンロッド59は、シリンダ60内に配置されている。本実施形態の傾動アクチュエータ58は、ベース部材55の第1突出部72と一体に構成されている。傾動アクチュエータ58はハウジング18には固定されていなく、ハウジング18に対して相対的に上下動可能である。すなわち、傾動アクチュエータ58は、押圧アクチュエータ15によりベース部材55、チルト部材56、押圧部材12、および押圧部材ホルダ13と一体に上下動される。
 傾動アクチュエータ58の構成は、ロッド59がチルト部材56を押し上げることができる限り任意であり、本実施形態に限られない。一実施形態では、傾動アクチュエータ58は、電動機により作動する電動アクチュエータ、または電磁力で作動する電磁アクチュエータであってもよい。
 シリンダ60の内部は、蓋62に形成された通孔62aを通じて、圧縮気体供給ライン65に連通している。圧縮気体供給ライン65から圧縮気体がシリンダ60内に供給されると、傾動アクチュエータ58が駆動され、ピストンロッド59がその軸方向に移動(上昇)する。ピストンロッド59の移動方向は、押圧部材12の押圧方向CLに平行な方向である。ピストンロッド59は、ベース部材55の第1突出部72に設けられたロッド穴63を貫通して、ベース部材55から上方に突出可能に構成されている。ロッド穴63は、ベース部材55の第1突出部72を貫通して延びている。ピストンロッド59の先端は、チルト部材56の下面に接触可能に構成されている。傾動アクチュエータ58は、ピストンロッド59を上昇させて、押圧部材12および押圧部材ホルダ13をチルト部材56と一体に支軸51を支点として傾けることができる。
 図5に示すように、ねじ69と傾動アクチュエータ58のピストンロッド59は、支軸51の軸方向から見たときに、支軸51の両側にそれぞれ(支軸51に関して対称的に)配置されている。ねじ69は支軸51の一方側に配置され、ピストンロッド59は支軸51の反対側に配置されている。すなわち、ねじ69は、支軸51に関して、ピストンロッド59とは反対側に配置されている。ねじ69とピストンロッド59は、支軸51に垂直な方向に沿って並んでいる。すなわち、ねじ69とピストンロッド59は、研磨テープ2Aの長手方向(研磨テープ2Aの進行方向Z1)に沿って並んでいる。ねじ69は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の上流側に配置されている。ねじ69は、支軸51を中心に傾いたチルト部材56の角度、すなわち傾いた押圧部材12および押圧部材ホルダ13の角度を制限するストッパーの機能を有する。
 ねじ69は、ベース部材55の第2突出部73に設けられたねじ穴68に螺合されている。ねじ穴68はベース部材55の第2突出部73を貫通して延びている。ねじ69は、ベース部材55からチルト部材56に向かって上方に突出している。ねじ69の先端は、チルト部材56の下面に接触可能に構成されている。傾動アクチュエータ58は、チルト部材56の下面がねじ69の先端に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。すなわち、傾動アクチュエータ58により、チルト部材56と一体に押圧部材12および押圧部材ホルダ13を傾けたときの、支軸51を中心とした傾きの角度は、ねじ69のチルト部材56に対する相対的な位置によって変えることができる。
 一実施形態では、ねじ69は、ベース部材55から突出していなくてもよい。この場合、傾動アクチュエータ58は、チルト部材56の下面がベース部材55に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。
 図7は、傾き調整機構50によって押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態を示す断面図である。図7に示すように、傾動アクチュエータ58を駆動させて、ピストンロッド59を上昇させると、ピストンロッド59の先端がチルト部材56の下面に接触する。これにより、押圧部材ホルダ13および押圧部材12は、チルト部材56と一体に支軸51を中心に、押圧部材12の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾く。第1の方向D1は、研磨テープ2Aの長手方向に沿った方向であり、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、上流側に向かって下方に傾く方向である。より具体的には、第1の方向D1は、研磨ヘッド10Aを上から見たときに、押圧部材12上の研磨テープ2Aの長手方向に沿った方向である。
 チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12が押圧部材12の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾けられると、チルト部材56は、ベース部材55から上方に突出したねじ69の先端に接触する。傾動アクチュエータ58の圧縮気体供給ライン65から供給される圧縮気体の圧力は、ピストンロッド59の先端を上昇させて、ねじ69の先端に接触するまでチルト部材56を傾けるのに必要な圧力値以上に維持される。したがって、チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12の傾き角度は、ベース部材55(より具体的には第2突出部73)からチルト部材56に向かって突出するねじ69の突出量によって定まる。ねじ69の突出量は、ねじ69のねじ穴68への螺合の具合によって調整することができる。
 図8Aは、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を、傾き調整機構50によって第1の方向D1に傾けた状態で、押圧部材12により研磨テープ2Aを基板Wに対して押し付けている様子を示す断面図である。図8Bは、図8Aに示すように、第1の方向D1に傾けた押圧部材12により研磨テープ2Aを基板Wに対して押し付けたときの基板Wの中心O1からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。
 図8Aに示すように、傾き調整機構50によって、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、押圧アクチュエータ15(図5参照)によって押圧部材12を押圧方向CLに移動(上昇)させると、押圧部材12の、研磨テープ2Aの進行方向Z1において下流側の部分が、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押圧する。これにより、図8Bに示すように、基板Wの中央部P1(図3参照)内の半径方向外側の領域が研磨される。この半径方向外側の領域は、基板W1の中心O1を含まない領域である。
 図9Aは、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を、傾き調整機構50によって第2の方向D2に傾けた状態で、押圧部材12により研磨テープ2Aを基板Wに対して押し付けている様子を示す断面図である。図9Bは、図9Aに示すように、第2の方向D2に傾けた押圧部材12により研磨テープ2Aを基板Wに対して押し付けたときの基板Wの中心O1からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。
 傾動アクチュエータ58を停止させると、ピストンロッド59が下降して、チルト部材56とピストンロッド59との接触、およびチルト部材56とねじ69との接触が解除される。より具体的には、圧縮気体供給ライン65から圧縮気体の供給を停止して、シリンダ60内を大気開放すると、傾動アクチュエータ58の駆動が停止し、ピストンロッド59が下降して、ピストンロッド59はチルト部材56から離れ、かつチルト部材56はねじ69から離れる。傾動アクチュエータ58の駆動の停止は、押圧アクチュエータ15(図5参照)によって押圧部材12を押圧方向CLに移動(上昇)させたまま行われる。
 基板Wの研磨中、研磨テープ2Aはテンションが与えられた状態で矢印Z1で示す方向に送られている。研磨テープ2Aの進行に伴い、研磨テープ2Aと基板Wとの間と、研磨テープ2Aと押圧部材12との間に摩擦が生じる。研磨テープ2Aと押圧部材12との間に生じる摩擦は、押圧部材12を押圧部材12の押圧方向CLに対して、第2の方向D2に傾けるトルクを生じさせる。図9Aに示すように、傾き調整機構50は、チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12が、押圧部材12の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾くことを許容する。第2の方向D2は、研磨テープ2Aの進行方向Z1(研磨テープ2Aの長手方向)に沿った方向であり、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、下流側に向かって下方に傾く方向である。第2の方向D2は、第1の方向D1とは反対の方向である。より具体的には、第2の方向D2は、研磨ヘッド10Aを上から見たときに、押圧部材12上の研磨テープ2Aの長手方向に沿った方向である。
 一実施形態では、傾動アクチュエータ58の駆動を停止させずに、押圧部材12と研磨テープ2Aとの間に生じる摩擦により、押圧部材12を研磨テープ2Aの進行方向Z1に沿った第2の方向D2に傾けられる程度に、圧縮気体供給ライン65から供給される圧縮気体の圧力を減少させてもよい。
 図9Aに示すように、押圧アクチュエータ15(図5参照)によって押圧部材12を押圧方向CLに移動(上昇)させたまま、傾き調整機構50によって、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第2の方向D2に傾けると、押圧部材12の、研磨テープ2Aの進行方向Z1において上流側の部分が、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に押圧する。これにより、図9Bに示すように、基板Wの中央部P1(図3参照)内の半径方向内側の領域が研磨される。この半径方向内側の領域は、基板Wの中心O1を含む領域である。
 基板Wの研磨中に研磨ヘッド10Aの押圧部材12の傾きを変更するタイミング、すなわち、傾動アクチュエータ58を停止するタイミングは、先に研磨された基板の研磨結果などに基づいて、予め決定される。具体的には、傾動アクチュエータ58を停止するタイミングは、基板Wの中央部P1の全体の研磨量が均一となるタイミングである。
 基板Wの内側中間部P2(図3参照)を研磨する研磨ヘッド10B、基板Wの外側中間部P3(図3参照)を研磨する研磨ヘッド10C、および基板Wのエッジ部P4(図3参照)を研磨する研磨ヘッド10Dは、傾き調整機構50に代えて、押圧部材12が可動軸16に対して全方向に傾くことを許容するユニバーサルジョイント(図示せず)を備えている。ユニバーサルジョイントとして、公知のユニバーサルジョイントを用いることができる。
 図10は、本実施形態に係る基板処理方法の一例を示すフローチャートである。
 ステップS101では、動作制御部100は、基板保持部20に指令を発して、基板Wと研磨ヘッド10A~10Dとを相対的に円運動させながら、基板Wをその軸心O1を中心に回転させる。
 ステップS102では、動作制御部100は、研磨テープ供給機構30A,30Bに指令を発して、研磨テープ2A,2Bをその長手方向にそれぞれ送る。
 ステップS103では、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58により、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾ける。より具体的には、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58を駆動させて、ピストンロッド59を上昇させ、チルト部材56と一体に押圧部材12および押圧部材ホルダ13を所定の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾ける。
 ステップS104では、動作制御部100は、研磨ヘッド10A~10Dの押圧アクチュエータ15に指令を発して、各押圧アクチュエータ15により、研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12を上昇させる。研磨ヘッド10A~10Dは、押圧部材12により研磨テープ2A,2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してそれぞれ押し付ける。
 研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付ける。これにより、図8Aおよび図8Bを参照して説明したように、基板Wの中央部P1(図3参照)内の半径方向外側の領域が研磨される。研磨ヘッド10B~10Dは、ユニバーサルジョイント(図示せず)により、基板Wの被処理面(第1の面5a)と平行になるように、押圧部材12により研磨テープ2A,2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してそれぞれ押し付けることができる。
 ステップS105では、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58の駆動を停止させて、研磨ヘッド10Aの押圧部材12と研磨テープ2Aとの間に生じる摩擦により、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾ける。研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態で、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してさらに押し付ける。これにより、図9Aおよび図9Bを参照して説明したように、基板Wの中央部P1内の半径方向内側の領域(基板Wの中心O1を含む)が研磨される。
 ステップS106では、動作制御部100は、研磨ヘッド10A~10Dの押圧アクチュエータ15に指令を発して、各押圧アクチュエータ15の駆動を停止させて、研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12を下降させる。研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12は、研磨テープ2A,2Bおよび基板Wからそれぞれ離間される。
 ステップS107では、研磨ヘッド10A~10Dによる基板Wの研磨が終了される。
 本実施形態によれば、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を、押圧部材12の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾けた状態で、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面に対して押し付け、その後、押圧部材12を、押圧部材12の押圧方向CLに対して第1の方向D1とは反対の第2の方向D2に傾けた状態で、研磨テープ2Aを被処理面に対して押し付ける。すなわち、基板Wの研磨中に、研磨ヘッド10Aの押圧部材12の傾きを第1の方向D1から、第1の方向D1とは反対の第2の方向D2に変更する。これにより、基板Wと研磨ヘッド10A~10Dとを相対的に円運動させながら、基板Wを研磨するときに、基板Wの中央部P1内の半径方向内側に位置し、基板Wの中心O1を含む中心領域において、研磨ヘッド10Aの押圧部材12による接触周回数が、他の領域よりも相対的に多くなるのを防ぐことができる。結果として、基板Wの被処理面の全体を均一に研磨することができる。
 一実施形態では、研磨ヘッド10Aは、まず押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態で、基板Wの中央部P1内の基板Wの半径方向内側に位置する、基板Wの中心O1を含む領域を研磨し、その後、押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、基板Wの中央部P1内の基板Wの半径方向外側の領域を研磨してもよい。この場合、研磨ヘッド10Aは、傾動アクチュエータ58の駆動を停止させた状態で、押圧アクチュエータ15を駆動させて、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を上昇させる。これにより、研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態で、押圧部材12により研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付けることができる。その後、傾動アクチュエータ58を駆動させて、押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、押圧部材12により研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してさらに押し付ける。
 図11は、研磨ヘッドの他の実施形態を示す斜視図であり、図12は、図11に示す研磨ヘッドの断面図であり、図13は、図12のB-B線断面図である。本実施形態の研磨ヘッドは、基板Wのエッジ部P4(図3参照)を研磨する研磨ヘッド10Dである。特に説明しない本実施形態の構成および動作は、図1乃至図10を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。図11および図12の矢印Z2は、研磨テープ2Bの進行方向を表している。
 本実施形態の研磨ヘッド10Dは、2つの押圧部材12を有している。2つの押圧部材12は、直線上に延びる形状を有するブレードであり、研磨テープ2Bを基板Wに押し付けるための押圧面をそれぞれ有している。図11に示すように、2つの押圧部材12は、矢印Z2で示す研磨テープ2Bの進行方向に対して斜めに傾いている。2つの押圧部材12は、研磨ヘッド10Dを上から見たときに、研磨テープ2Bの進行方向Z2に沿った中心線Lに関して対称に配置されている。
 2つの押圧部材12は、本実施形態に限られず、他の形状を有してもよく、あるいは他の材料から構成されてもよい。一実施形態では、2つの押圧部材12は1つの環状の部材(例えばOリング)から構成され、押圧部材ホルダ13の側面に設けられた突起部に掛けられて、弾性変形した状態で押圧部材ホルダ13に支持されてもよい。他の実施形態では、2つの押圧部材12のそれぞれは、湾曲状ブレードの形状であってもよい。
 傾動アクチュエータ58は、研磨テープ2Bの進行方向Z2において、支軸51の下流側に配置されている。ねじ69と傾動アクチュエータ58のピストンロッド59は、支軸51の両側にそれぞれ(支軸51に関して対称的に)配置されている。ねじ69は支軸51の一方側に配置され、ピストンロッド59は支軸51の反対側に配置されている。ねじ69とピストンロッド59は、支軸51に垂直な方向に沿って並んでいる。すなわち、ねじ69とピストンロッド59は、研磨テープ2Bの長手方向(研磨テープ2Bの進行方向Z2)に沿って並んでいる。ねじ69は、研磨テープ2Bの進行方向Z2において、支軸51の上流側に配置されている。
 本実施形態の傾き調整機構50は、支軸51に垂直な2つのピン82をさらに備えている。2つのピン82は、押圧部材ホルダ13のスカート13aに設けられた通孔80を貫通して、チルト部材56に設けられたピン穴81にそれぞれ挿入されている。2つのピン82は、押圧部材ホルダ13に固定されており、チルト部材56には固定されていない。2つのピン82は、支軸51の両側にそれぞれ(支軸51に関して対称的に)配置されている。本実施形態では、支軸51の中心軸線と2つのピン82の中心軸線は、同一平面上に位置している。2つのピン82は、研磨テープ2Bの長手方向(研磨テープ2Bの進行方向Z2)に延びている。
 押圧部材ホルダ13は、2つのピン82を中心にチルト部材56に対して相対的に傾くことが可能(回転可能)である。本実施形態の押圧部材ホルダ13は、2つのピン82によってチルト部材56に連結されている。チルト部材56の上面と押圧部材ホルダ13の内面は、接触していない。2つのピン82は、押圧部材ホルダ13上の2つの押圧部材12から研磨テープ2Bを介して基板Wに与えられる押圧力を均等にするために設けられている。一実施形態では、2つのピン82は省略してもよい。
 図14Aは、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を、傾き調整機構50によって第1の方向D1に傾けた状態で、押圧部材12により研磨テープ2Bを基板Wに対して押し付けている様子を示す断面図である。図14Bは、図14Aに示すように、第1の方向D1に傾けた押圧部材12により研磨テープ2Bを基板Wに対して押し付けたときの基板Wの中心O1からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。
 図14Aに示すように、基板Wのエッジ部の一部である最外周部に反りが生じていることがある。このような基板Wを研磨するときは、傾き調整機構50によって、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を押圧部材12の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾けた状態で、押圧アクチュエータ15(図12参照)によって押圧部材12を押圧方向CLに移動(上昇)させる。押圧部材12の、研磨テープ2Bの進行方向Z2において下流側の部分が、研磨テープ2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に押圧する。第1の方向D1は、研磨テープ2Bの長手方向に沿った方向であり、研磨テープ2Bの進行方向Z2において、上流側に向かって下方に傾く方向である。より具体的には、第1の方向D1は、研磨ヘッド10Dを上から見たときに、押圧部材12上の研磨テープ2Bの長手方向に沿った方向である。
 傾き調整機構50は、押圧部材12を基板Wの最外周部に生じた反りに追従するように、チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12を第1の方向D1に傾けて、研磨テープ2Bを介して基板Wに接触させる。これにより、図14Bに示すように、基板Wのエッジ部P4(図3参照)内の半径方向外側の領域(すなわち、基板Wの最外周部)が研磨される。チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12の傾き角度は、ベース部材55からチルト部材56に向かって突出するねじ69の突出量によって定まる。ねじ69の突出量は、ねじ69のねじ穴68への螺合の具合によって調整することができる。
 図15Aは、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を、傾き調整機構50によって第2の方向D2に傾けた状態で、押圧部材12により研磨テープ2Bを基板Wに対して押し付けている様子を示す断面図である。図15Bは、図15Aに示すように、第2の方向D2に傾けた押圧部材12により研磨テープ2Bを基板Wに対して押し付けたときの基板Wの中心O1からの位置と研磨レートとの関係を示すグラフである。
 傾動アクチュエータ58の駆動を停止させると、傾き調整機構50は、研磨テープ2Bと押圧部材12との間に生じる摩擦により、押圧部材12が押圧部材12の押圧方向CLに対して、第1の方向D1とは反対の第2の方向D2に傾くことを許容する。第2の方向D2は、研磨テープ2Bの進行方向Z2(研磨テープ2Bの長手方向)に沿った方向であり、研磨テープ2Bの進行方向Z2において、下流側に向かって下方に傾く方向である。より具体的には、第2の方向D2は、研磨ヘッド10Dを上から見たときに、押圧部材12上の研磨テープ2Bの長手方向に沿った方向である。
 図15Aに示すように、押圧アクチュエータ15(図12参照)によって押圧部材12を押圧方向CLに移動(上昇)させたまま、傾き調整機構50によって、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第2の方向D2に傾けると、押圧部材12の、研磨テープ2Bの進行方向Z2において上流側の部分が、研磨テープ2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押圧する。これにより、図15Bに示すように、基板Wのエッジ部P4(図3参照)内の半径方向内側の領域が研磨される。
 基板Wの研磨中に研磨ヘッド10Dの押圧部材12の傾きを変更するタイミング、すなわち、傾動アクチュエータ58を停止するタイミングは、先に研磨された基板の研磨結果などに基づいて、予め決定される。具体的には、傾動アクチュエータ58を停止するタイミングは、基板Wのエッジ部P4の全体の研磨量が均一となるタイミングである。
 図16は、本実施形態に係る基板処理方法の一例を示すフローチャートである。
 ステップS201では、動作制御部100は、基板保持部20に指令を発して、基板Wと研磨ヘッド10A~10Dとを相対的に円運動させながら、基板Wをその軸心O1を中心に回転させる。
 ステップS202では、動作制御部100は、研磨テープ供給機構30A,30Bに指令を発して、研磨テープ2A,2Bをその長手方向にそれぞれ送る。
 ステップS203では、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58により、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾ける。さらに、動作制御部100は、研磨ヘッド10Dの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58により、研磨ヘッド10Dの2つの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾ける。
 ステップS204では、動作制御部100は、研磨ヘッド10A~10Dの押圧アクチュエータ15に指令を発して、各押圧アクチュエータ15により、研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12を上昇させる。研磨ヘッド10A~10Dは、押圧部材12により研磨テープ2A,2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してそれぞれ押し付ける。
 研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付ける。研磨ヘッド10Dは、2つの押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、研磨テープ2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付ける。これにより、図8Aおよび図8Bを参照して説明したように、基板Wの中央部P1(図3参照)内の半径方向外側の領域が研磨され、図14Aおよび図14Bを参照して説明したように、基板Wのエッジ部P4(図3参照)内の半径方向外側の領域(すなわち、基板Wの最外周部)が研磨される。研磨ヘッド10B,10Cは、ユニバーサルジョイント(図示せず)により、基板Wの被処理面(第1の面5a)と平行になるように、押圧部材12により研磨テープ2A,2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してそれぞれ押し付けることができる。
 ステップS205では、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58を停止させて、研磨ヘッド10Aの押圧部材12と研磨テープ2Aとの間に生じる摩擦により、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾ける。さらに、動作制御部100は、研磨ヘッド10Dの傾動アクチュエータ58に指令を発して、傾動アクチュエータ58を停止させて、研磨ヘッド10Dの2つの押圧部材12と研磨テープ2Bとの間に生じる摩擦により、研磨ヘッド10Dの2つの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾ける。
 研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態で、さらに研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付ける。研磨ヘッド10Dは、2つの押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態で、さらに研磨テープ2Bを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対して押し付ける。これにより、図9Aおよび図9Bを参照して説明したように、基板Wの中央部P1内の半径方向内側の領域(基板Wの中心O1を含む)が研磨され、図15Aおよび図15Bを参照して説明したように、基板Wのエッジ部P4内の半径方向内側の領域が研磨される。
 ステップS206では、動作制御部100は、研磨ヘッド10A~10Dの押圧アクチュエータ15に指令を発して、各押圧アクチュエータ15を停止させて、研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12を下降させる。研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12は、研磨テープ2A,2Bおよび基板Wからそれぞれ離間される。
 ステップS207では、研磨ヘッド10A~10Dによる基板Wの研磨が終了される。
 本実施形態によれば、研磨ヘッド10Dの2つの押圧部材12を第1の方向D1に傾けた状態で、研磨テープ2Bを基板Wの被処理面に対して押し付け、その後、2つの押圧部材12を第1の方向D1とは反対の第2の方向D2に傾けた状態で、研磨テープ2Bを被処理面に対して押し付ける。すなわち、基板Wの研磨中に、研磨ヘッド10Dの2つの押圧部材12の傾きを第1の方向D1から、第1の方向D1とは反対の第2の方向D2に変更する。これにより、基板Wのエッジ部P4の一部に反りが生じている場合も、押圧部材12は、研磨テープ2Bを基板Wのエッジ部P4の全体に対して均一に押し付けることができる。結果として、基板Wの被処理面の全体を均一に研磨することができる。
 一実施形態では、基板Wのエッジ部P4を研磨する研磨ヘッド10Dは、図4乃至図9Bを参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Aと同様の構成を有する研磨ヘッド、すなわち、1つの押圧部材12を有する研磨ヘッドであってもよい。
 一実施形態では、基板Wの内側中間部P2を研磨する研磨ヘッド10Bは、図4乃至図9Bを参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Aと同様の構成を有する研磨ヘッド、すなわち、1つの押圧部材12を有する研磨ヘッドであってもよい。あるいは、研磨ヘッド10Bは、図11乃至図16を参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Dと同様の構成を有する研磨ヘッド、すなわち、2つの押圧部材12を有する研磨ヘッドであってもよい。同様に、基板Wの外側中間部P3を研磨する研磨ヘッド10Cは、図4乃至図9Bを参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Aと同様の構成を有する研磨ヘッド、すなわち、1つの押圧部材12を有する研磨ヘッドであってもよい。あるいは、研磨ヘッド10Cは、図11乃至図16を参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Dと同様の構成を有する研磨ヘッド、すなわち、2つの押圧部材12を有する研磨ヘッドであってもよい。
 一実施形態では、基板Wの中央部P1を研磨する研磨ヘッド10Aは、図11乃至図16を参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Dと同様の構成を有する研磨ヘッド、すなわち、2つの押圧部材12を有する研磨ヘッドであってもよい。
 図17は、研磨ヘッド10Aの他の実施形態を示す断面図である。特に説明しない本実施形態の研磨ヘッド10Aの構成および動作は、図5および図6を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。図17では、研磨ヘッド10Aの一部の図示を省略している。本実施形態では、ねじ69は、チルト部材56に設けられたねじ穴68に螺合されている。図17では、押圧部材ホルダ13および押圧部材12は、傾き調整機構50によって第1の方向D1に傾けられた状態である。図17に示すように、ねじ69は、支軸51の軸方向から見たときに、研磨テープ2Aの長手方向(研磨テープ2Aの進行方向Z1)において、傾動アクチュエータ58のピストンロッド59とは反対側に配置されている。ねじ69は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の上流側に配置されている。ねじ69は、支軸51を中心に傾いたチルト部材56の角度、すなわち傾いた押圧部材12および押圧部材ホルダ13の角度を制限するストッパーの機能を有する。
 本実施形態では、ねじ穴68は、ベース部材55の第2突出部73に対向するチルト部材56の面内で開口している。ねじ穴68はチルト部材56内を押圧部材12の押圧方向CLに延びている。ねじ69は、チルト部材56からベース部材55に向かって下方に突出している。ねじ69の先端は、ベース部材55(本実施形態では、第2突出部73)の上面に接触可能に構成されている。傾動アクチュエータ58は、ねじ69の先端がベース部材55の上面に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。すなわち、傾動アクチュエータ58により、チルト部材56と一体に押圧部材12および押圧部材ホルダ13を傾けたときの、支軸51を中心とした傾きの角度は、ねじ69のベース部材55に対する相対的な位置によって変えることができる。
 一実施形態では、ねじ69は、チルト部材56から突出していなくてもよい。この場合、傾動アクチュエータ58は、チルト部材56の下面がベース部材55に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。
 図17に示すように、チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12が押圧部材12の押圧方向CLに対して第1の方向D1に傾けられると、チルト部材56から下方に突出したねじ69の先端は、ベース部材55の上面に接触する。傾動アクチュエータ58の圧縮気体供給ライン65から供給される圧縮気体の圧力は、ピストンロッド59の先端を上昇させて、ねじ69の先端がベース部材55の上面に接触するまでチルト部材56を傾けるのに必要な圧力値以上に維持される。したがって、チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12の傾き角度は、チルト部材56からベース部材55(より具体的には第2突出部73)に向かって突出するねじ69の突出量によって定まる。ねじ69の突出量は、ねじ69のねじ穴68への螺合の具合によって調整することができる。
 図17を参照して説明した傾き調整機構50は、図11乃至図16を参照して説明した研磨ヘッド10Dにも適用することができる。また、図17を参照して説明した傾き調整機構50は、基板Wの内側中間部P2を研磨する研磨ヘッド10B、および基板Wの外側中間部P3を研磨する研磨ヘッド10Cにも適用することができる。
 図18は、研磨ヘッド10Aの他の実施形態を示す断面図であり、図19は、図18に示す研磨ヘッド10Aのベース部材55を示す上面図である。特に説明しない本実施形態の研磨ヘッド10Aの構成および動作は、図5および図6を参照して説明した研磨ヘッド10Aの構成および動作と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態では、上述した傾動アクチュエータ58を第1傾動アクチュエータ58と称し、ロッド59を第1ロッド59と称し、ねじ穴68を第1ねじ穴68と称し、ねじ69を第1ねじ69と称する。
 本実施形態の傾き調整機構50は、チルト部材56を第2の方向D2に傾動させる第2傾動アクチュエータ90と、ベース部材55に設けられた第2ねじ穴98に螺合された第2ねじ99をさらに備えている。第2傾動アクチュエータ90は、支軸51に関して、第1傾動アクチュエータ58とは反対側に位置している。
 第2傾動アクチュエータ90は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の上流側に配置されている。第2傾動アクチュエータ90は、チルト部材56を押し上げる第2ロッド91を備えている。本実施形態の第2傾動アクチュエータ90はエアシリンダであり、第2ロッド91はピストンロッドである。図18に示すように、第2傾動アクチュエータ90は、ピストンロッド91と、シリンダ92と、シリンダ92内の空間を塞ぐ蓋94と、シリンダ92内に圧縮気体(例えば圧縮空気)を供給する圧縮気体供給ライン97を備えている。ピストンロッド91は、シリンダ92内に配置されている。本実施形態の第2傾動アクチュエータ90は、ベース部材55の第2突出部73と一体に構成されている。第2傾動アクチュエータ90はハウジング18には固定されていなく、ハウジング18に対して相対的に上下動可能である。すなわち、第2傾動アクチュエータ90は、押圧アクチュエータ15により第1傾動アクチュエータ58、ベース部材55、チルト部材56、押圧部材12、および押圧部材ホルダ13と一体に上下動される。
 第2傾動アクチュエータ90の構成は、第2ロッド91がチルト部材56を押し上げることができる限り任意であり、本実施形態に限られない。一実施形態では、第2傾動アクチュエータ90は、電動機により作動する電動アクチュエータ、または電磁力で作動する電磁アクチュエータであってもよい。
 シリンダ92の内部は、蓋94に形成された通孔94aを通じて、圧縮気体供給ライン97に連通している。圧縮気体供給ライン97から圧縮気体がシリンダ92内に供給されると、第2傾動アクチュエータ90が駆動され、ピストンロッド91がその軸方向に移動(上昇)する。ピストンロッド91の移動方向は、押圧部材12の押圧方向CLに平行な方向である。ピストンロッド91は、ベース部材55の第2突出部73に設けられたロッド穴95を貫通して、ベース部材55から上方に突出可能に構成されている。ロッド穴95は、ベース部材55の第2突出部73を貫通して延びている。ピストンロッド91の先端は、チルト部材56の下面に接触可能に構成されている。第2傾動アクチュエータ90は、ピストンロッド91を上昇させて、押圧部材12および押圧部材ホルダ13をチルト部材56と一体に支軸51を支点として傾けることができる。
 一実施形態では、第1傾動アクチュエータ58の圧縮気体供給ライン65と、第2傾動アクチュエータ90の圧縮気体供給ライン97は、切り替えバルブ(図示せず)に接続されている。切り替えバルブは、圧縮気体供給源(図示せず)に連結されており、圧縮気体供給源からの圧縮気体を、圧縮気体供給ライン65または圧縮気体供給ライン97のいずれか一方に導くことができる。切り替えバルブの例としては、4ポートソレノイドバルブが挙げられる。
 図18および図19に示すように、第2ねじ99と、第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91は、支軸51の軸方向から見たときに、支軸51の両側にそれぞれ(支軸51に関して対称的に)配置されている。第2ねじ99は支軸51の一方側に配置され、ピストンロッド91は支軸51の反対側に配置されている。すなわち、第2ねじ99は、支軸51に関して、ピストンロッド91とは反対側に配置されている。第2ねじ99は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の下流側に配置されている。第2ねじ99は、第2傾動アクチュエータ90により支軸51を中心に傾いたチルト部材56の角度、すなわち傾いた押圧部材12および押圧部材ホルダ13の角度を制限するストッパーの機能を有する。
 第2ねじ99は、ベース部材55の第1突出部72に設けられた第2ねじ穴98に螺合されている。第2ねじ穴98はベース部材55の第1突出部72を貫通して延びている。第2ねじ99は、ベース部材55からチルト部材56に向かって上方に突出している。第2ねじ99の先端は、チルト部材56の下面に接触可能に構成されている。第2傾動アクチュエータ90は、チルト部材56の下面が第2ねじ99の先端に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。すなわち、第2傾動アクチュエータ90により傾けたときの押圧部材12および押圧部材ホルダ13の傾きの角度は、第2ねじ99のチルト部材56に対する相対的な位置によって変えることができる。
 一実施形態では、第2ねじ99は、ベース部材55から突出していなくてもよい。この場合、第2傾動アクチュエータ90は、チルト部材56の下面がベース部材55に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。
 ベース部材55内の第1傾動アクチュエータ58および第1ねじ69の位置は、第1傾動アクチュエータ58により第1の方向D1に傾けられたチルト部材56の下面が第1ねじ69に接触する限り任意であり、本実施形態に限られない。同様に、ベース部材55内の第2傾動アクチュエータ90および第2ねじ99の位置は、第2傾動アクチュエータ90により第2の方向D2に傾けられたチルト部材56の下面が第2ねじ99に接触する限り任意であり、本実施形態に限られない。例えば、第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59は第2ねじ99よりも外側に配置されてもよいし、ピストンロッド59と第2ねじ99の位置を入れ替えてもよい。第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91は第1ねじ69よりも外側に配置されてもよいし、ピストンロッド91と第1ねじ69の位置を入れ替えてもよい。
 第1傾動アクチュエータ58によって押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第1の方向D1に傾ける動作は、図7を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。
 図20は、第2傾動アクチュエータ90によって押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態を示す断面図である。図20に示すように、本実施形態の傾き調整機構50では、第2傾動アクチュエータ90は、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第2の方向D2に傾けるように構成されている。第2傾動アクチュエータ90を駆動させて、ピストンロッド91を上昇させると、ピストンロッド91の先端がチルト部材56の下面に接触する。これにより、押圧部材ホルダ13および押圧部材12は、チルト部材56と一体に支軸51を中心に、押圧部材12の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾く。
 チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12が第2の方向D2に傾けられると、チルト部材56は、ベース部材55から上方に突出した第2ねじ99の先端に接触する。第2傾動アクチュエータ90の圧縮気体供給ライン97から供給される圧縮気体の圧力は、ピストンロッド91の先端を上昇させて、第2ねじ99の先端に接触するまでチルト部材56を傾けるのに必要な圧力値以上に維持される。したがって、第2の方向D2におけるチルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12の傾き角度は、ベース部材55(より具体的には第1突出部72)からチルト部材56に向かって突出する第2ねじ99の突出量によって定まる。第2ねじ99の突出量は、第2ねじ99の第2ねじ穴98への螺合の具合によって調整することができる。
 本実施形態では、押圧アクチュエータ15(図18参照)によって押圧部材12を押圧方向CLに移動(上昇)させたまま、第2傾動アクチュエータ90は、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第2の方向D2に傾ける。第2傾動アクチュエータ90により、押圧部材ホルダ13および押圧部材12を第2の方向D2に傾けると、図9Aおよび図9Bを参照して説明した実施形態と同様に、押圧部材12の、研磨テープ2Aの進行方向Z1において上流側の部分が、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に押圧する。これにより、基板Wの中央部P1(図3参照)内の半径方向内側の領域が研磨される。この半径方向内側の領域は、基板Wの中心O1を含む領域である。
 基板Wの研磨中に研磨ヘッド10Aの押圧部材12の傾きを変更するタイミング、すなわち、第1傾動アクチュエータ58を停止して、第2傾動アクチュエータ90を駆動させるタイミングは、先に研磨された基板の研磨結果などに基づいて、予め決定される。具体的には、第1傾動アクチュエータ58を停止して、第2傾動アクチュエータ90を駆動させるタイミングは、基板Wの中央部P1の全体の研磨量が均一となるタイミングである。
 図21は、本実施形態に係る基板処理方法の一例を示すフローチャートである。ステップS301~S304は、図10に示すステップS101~S104と同じであるので、その重複する説明を省略する。
 ステップS305では、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの第1傾動アクチュエータ58に指令を発して、第1傾動アクチュエータ58の駆動を停止させる。さらに、動作制御部100は、第2傾動アクチュエータ90に指令を発して、第2傾動アクチュエータ90により、研磨ヘッド10Aの押圧部材12を所定の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾ける。より具体的には、動作制御部100は、研磨ヘッド10Aの第2傾動アクチュエータ90に指令を発して、第2傾動アクチュエータ90を駆動させて、ピストンロッド91を上昇させ、チルト部材56と一体に押圧部材12および押圧部材ホルダ13を所定の押圧方向CLに対して第2の方向D2に傾ける。研磨ヘッド10Aは、押圧部材12を第2の方向D2に傾けた状態で、研磨テープ2Aを基板Wの被処理面(第1の面5a)に対してさらに押し付ける。これにより、図9Aおよび図9Bを参照して説明した実施形態と同様に、基板Wの中央部P1内の半径方向内側の領域(基板Wの中心O1を含む)が研磨される。
 ステップS306では、動作制御部100は、研磨ヘッド10A~10Dの押圧アクチュエータ15に指令を発して、各押圧アクチュエータ15の駆動を停止させて、研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12を下降させる。研磨ヘッド10A~10Dの押圧部材12は、研磨テープ2A,2Bおよび基板Wからそれぞれ離間される。
 ステップS307では、研磨ヘッド10A~10Dによる基板Wの研磨が終了される。
 第2傾動アクチュエータ90および第2ねじ99を備えた傾き調整機構50は、図11乃至図16を参照して説明した研磨ヘッド10Dにも適用することができる。また、第2傾動アクチュエータ90および第2ねじ99を備えた傾き調整機構50は、基板Wの内側中間部P2を研磨する研磨ヘッド10B、および基板Wの外側中間部P3を研磨する研磨ヘッド10Cにも適用することができる。
 図22は、研磨ヘッド10Aのさらに他の実施形態を示す断面図である。特に説明しない本実施形態の研磨ヘッド10Aの構成および動作は、図17乃至図21を参照して説明した実施形態と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態では、第1ねじ69は、チルト部材56に設けられた第1ねじ穴68に螺合されており、第2ねじ99は、チルト部材56に設けられた第2ねじ穴98に螺合されている。
 図22に示すように、第1ねじ69は、支軸51の軸方向から見たときに、研磨テープ2Aの長手方向(研磨テープ2Aの進行方向Z1)において、第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59とは反対側に配置されている。第1ねじ69は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の上流側に配置されている。第1ねじ69は、支軸51を中心に第1の方向D1に傾いたチルト部材56の角度、すなわち傾いた押圧部材12および押圧部材ホルダ13の角度を制限するストッパーの機能を有する。
 第2ねじ99は、支軸51の軸方向から見たときに、研磨テープ2Aの長手方向(研磨テープ2Aの進行方向Z1)において、第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91とは反対側に配置されている。第2ねじ99は、研磨テープ2Aの進行方向Z1において、支軸51の下流側に配置されている。第2ねじ99は、支軸51を中心に第2の方向D2に傾いたチルト部材56の角度、すなわち傾いた押圧部材12および押圧部材ホルダ13の角度を制限するストッパーの機能を有する。
 本実施形態では、第1ねじ穴68は、ベース部材55の第2突出部73に対向するチルト部材56の面内で開口している。第1ねじ穴68は、チルト部材56内を押圧部材12の押圧方向CLに平行な方向に延びている。第1ねじ69は、チルト部材56からベース部材55に向かって下方に突出している。第1ねじ69の先端は、第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91の上方(直上)に位置しており、ロッド穴95内のピストンロッド91の先端に接触可能に構成されている。
 第1傾動アクチュエータ58は、第1ねじ69の先端が第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91の先端に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。すなわち、第1傾動アクチュエータ58により、チルト部材56と一体に押圧部材12および押圧部材ホルダ13を傾けたときの、支軸51を中心とした傾きの角度は、第1ねじ69のピストンロッド91に対する相対的な位置によって変えることができる。チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12の傾き角度は、チルト部材56からベース部材55(より具体的には第2突出部73)に向かって突出する第1ねじ69の突出量によって定まる。第1ねじ69の突出量は、第1ねじ69の第1ねじ穴68への螺合の具合によって調整することができる。
 本実施形態では、第2ねじ穴98は、ベース部材55の第1突出部72に対向するチルト部材56の面内で開口している。第2ねじ穴98は、チルト部材56内を押圧部材12の押圧方向CLに平行な方向に延びている。第2ねじ99は、チルト部材56からベース部材55に向かって下方に突出している。第2ねじ99の先端は、第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59の上方(直上)に位置しており、ロッド穴63内の第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59の先端に接触可能に構成されている。
 第2傾動アクチュエータ90は、第2ねじ99の先端が第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59の先端に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。すなわち、第2傾動アクチュエータ90により、チルト部材56と一体に押圧部材12および押圧部材ホルダ13を傾けたときの、支軸51を中心とした傾きの角度は、第2ねじ99のピストンロッド59に対する相対的な位置によって変えることができる。チルト部材56、押圧部材ホルダ13、および押圧部材12の傾き角度は、チルト部材56からベース部材55(より具体的には第1突出部72)に向かって突出する第2ねじ99の突出量によって定まる。第2ねじ99の突出量は、第2ねじ99の第2ねじ穴98への螺合の具合によって調整することができる。
 本実施形態では、第1ねじ69の先端は、第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91の上方(直上)に位置しているが、一実施形態では、第1ねじ69の先端は、ベース部材55の上方に位置してもよい。すなわち、図18乃至図21を参照して説明した実施形態と同様に、傾き調整機構50を上から見たときに、第1ねじ69と第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91の位置は、ずれていてもよい。この場合、第1傾動アクチュエータ58は、第1ねじ69の先端がベース部材55の上面に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。
 同様に、本実施形態では、第2ねじ99の先端は、第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59の上方(直上)に位置しているが、一実施形態では、第2ねじ99の先端は、ベース部材55の上方に位置してもよい。すなわち、図18乃至図21を参照して説明した実施形態と同様に、傾き調整機構50を上から見たときに、第2ねじ99と第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59の位置は、ずれていてもよい。この場合、第2傾動アクチュエータ90は、第2ねじ99の先端がベース部材55の上面に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。
 一実施形態では、第1ねじ69は、チルト部材56から突出していなくてもよい。この場合、第1傾動アクチュエータ58は、チルト部材56の下面がベース部材55に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。同様に、一実施形態では、第2ねじ99は、チルト部材56から突出していなくてもよい。この場合、第2傾動アクチュエータ90は、チルト部材56の下面がベース部材55に接触するまで、押圧部材12および押圧部材ホルダ13を支軸51を中心に傾けることができる。
 傾き調整機構50は、第1ねじ穴68に対する第1ねじ69の相対的な位置を固定する第1固定ねじ111と、第2ねじ穴98に対する第2ねじ99の相対的な位置を固定する第2固定ねじ113をさらに備えている。第1固定ねじ111は、チルト部材56に設けられた第1固定ねじ穴110に螺合されている。第1固定ねじ穴110は、第1ねじ69の軸方向に直交する方向に延びており、第1ねじ穴68に連通している。第1固定ねじ111は、第1ねじ穴68内の第1ねじ69を、第1ねじ穴68を構成するチルト部材56の内面に押し付けることで、第1ねじ穴68に対する第1ねじ69の相対的な位置を固定する。
 第2固定ねじ113は、チルト部材56に設けられた第2固定ねじ穴112に螺合されている。第2固定ねじ穴112は、第2ねじ99の軸方向に直交する方向に延びており、第2ねじ穴98に連通している。第2固定ねじ113は、第2ねじ穴98内の第2ねじ99を、第2ねじ穴98を構成するチルト部材56の内面に押し付けることで、第2ねじ穴98に対する第2ねじ99の相対的な位置を固定する。第1固定ねじ111および第2固定ねじ穴112は、基板Wの研磨による振動により、第1ねじ69および第2ねじ99の突出量が変化するのを防ぐことができる。一実施形態では、傾き調整機構50は、第1固定ねじ111および第2固定ねじ113を備えていなくてもよい。
 図23Aおよび図23Bは、図22に示す第1ねじ69の一実施形態を示す縦断面図である。第1ねじ69は、ねじ本体69bと、ねじ本体69bの端部に嵌合するボール部69cを有している。図23Aに示す第1ねじ69のボール部69cは平坦面を有する球体であり、第1ねじ69の先端69aは、平坦面形状を有している。図23Aに示す第1ねじ69の先端69aは、図22に示す第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91の先端(またはベース部材55の上面)に面接触する。
 図23Bに示す第1ねじ69のボール部69cは球体であり、第1ねじ69の先端69aは、球面形状を有している。図23Bに示す第1ねじ69の先端69aは、図22に示す第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91の先端(またはベース部材55の上面)に点接触する。図23Aおよび図23Bに示す第1ねじ69は、第1ねじ69の第1ねじ穴68に対する相対位置によらず、先端69aのピストンロッド91に対する接触面または接触点を安定させることができる。したがって、第1ねじ69の先端69aは、安定してピストンロッド91の先端に接触することができる。図23Aおよび図23Bを参照して説明した第1ねじ69の形状は、第2ねじ99にも適用することができる。
 第1ねじ69(図23Aおよび図23Bに示す実施形態では、ボール部69c)は、第2傾動アクチュエータ90のピストンロッド91に繰り返し接触するため、強度の高い材質から構成されてもよい。同様に、第2ねじ99(図23Aおよび図23Bに示す実施形態では、ボール部69c)は、第1傾動アクチュエータ58のピストンロッド59に繰り返し接触するため、強度の高い材質から構成されてもよい。第1ねじ69および第2ねじ99(図23Aおよび図23Bに示す実施形態では、ボール部69c)の材質の例としては、鋼鉄、ステンレス鋼、真鍮などの金属、ポリアセタール(POM)、セラミックなどを挙げることができる。
 図22に示すピストンロッド59,91は、強度の高い材質から構成されてもよい。ピストンロッド59,91の材質の例としては、ステンレス鋼、セラミックなどが挙げられる。ピストンロッド59,91がステンレス鋼から構成される場合、防錆対策として表面処理(めっき処理)が施されてもよい。ピストンロッド59,91の形状は、本実施形態に限られない。例えば、ピストンロッド59,91の端面は、平坦形状を有してもよい。
 図22を参照して説明した第1固定ねじ111、および図23A、図23Bを参照して説明した第1ねじ69の実施形態は、図17を参照して説明した実施形態に適用可能である。また、図22、図23A、および図23Bを参照して説明した傾き調整機構50は、図11乃至図16を参照して説明した研磨ヘッド10Dにも適用することができる。さらに、図22、図23A、および図23Bを参照して説明した傾き調整機構50は、基板Wの内側中間部P2を研磨する研磨ヘッド10B、および基板Wの外側中間部P3を研磨する研磨ヘッド10Cにも適用することができる。
 図24は、基板処理装置の他の実施形態を示す側面図である。特に説明しない本実施形態の基板処理装置の構成は、図1および図2を参照して説明した基板処理装置の構成と同じであるので、その重複する説明を省略する。本実施形態の基板処理装置は、基板保持部120の構成が図1および図2を参照して説明した基板処理装置の基板保持部20の構成とは異なっており、研磨ヘッド10A~10Dおよび研磨テープ供給機構30A,30Bを円運動させるテーブル円運動機構130をさらに備えている。
 基板保持部120は、基板Wの周縁部に接触可能な複数のローラー125と、複数のローラー125を同じ速度で回転させるためのローラー回転装置(図示せず)を備えている。基板Wは、その第1の面5aが下向きの状態で、基板保持部120に水平に保持される。本実施形態では、4つのローラー125が設けられているが、3つまたは5つ以上のローラーが設けられてもよい。
 複数の研磨ヘッド10A~10Dは、基板保持部120に保持されている基板Wの下側に配置されている。テーブル円運動機構130は、研磨ヘッド10A~10Dおよび研磨テープ供給機構30A,30Bの下方に配置されている。研磨ヘッド10A,10Cを支持する支持部材11A、研磨ヘッド10B,10Dを支持する支持部材11Bおよび研磨テープ供給機構30A,30Bはテーブル円運動機構130に連結されている。
 テーブル円運動機構130は、テーブルモータ132と、テーブルモータ132に固定されたクランクシャフト134と、テーブル141と、基台142と、複数の偏心継手135を備えている。テーブルモータ132は、基台142の下側に配置され、基台142の下面に固定されている。クランクシャフト134は、基台142を貫通して上方に延びている。テーブル141は、複数の偏心継手135およびクランクシャフト134に連結されている。基台142は、複数の偏心継手135に接続されている。テーブル141は、複数の偏心継手135およびクランクシャフト134を介して基台142に連結されている。図24では2つの偏心継手135のみが描かれているが、テーブル円運動機構130は、少なくとも2つの偏心継手135を備えている。
 クランクシャフト134の先端は、テーブルモータ132の軸心から距離e2だけ偏心している。よって、テーブルモータ132が駆動すると、テーブル141は半径e2の円運動を行う。テーブル141は、複数の偏心継手135によって支持されているので、テーブル141が円運動を行っているとき、テーブル141自体は回転しない。複数の偏心継手135の偏心量は、テーブル141の偏心量と同じである。研磨ヘッド10A~10Dおよび研磨テープ供給機構30A,30Bは、テーブル141に固定されている。
 テーブル円運動機構130が作動すると、研磨ヘッド10A~10Dおよび研磨テープ供給機構30A,30Bは、一体に円運動される。したがって、基板保持部120に保持された基板Wと研磨ヘッド10A~10Dとは、相対的に円運動する。
 基板保持部120のローラー回転装置およびテーブル円運動機構130のテーブルモータ132は、動作制御部100に電気的に接続されている。基板保持部120およびテーブル円運動機構130の動作は、動作制御部100によって制御される。
 本実施形態の基板Wの中央部P1(図3参照)を研磨する研磨ヘッド10Aは、図4乃至図10を参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Aと同様の構成を有している。一実施形態では、研磨ヘッド10Aは、図17、図18乃至図21、図22、図23A、および図23Bを参照して説明した研磨ヘッド10Aと同様の構成を有する研磨ヘッドであってもよい。あるいは、研磨ヘッド10Aは、図11乃至図16を参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Dと同様の構成を有する研磨ヘッドであってもよい。
 研磨ヘッド10B、研磨ヘッド10C、および研磨ヘッド10Dは、押圧部材12が可動軸16に対して全方向に傾くことを許容するユニバーサルジョイント(図示せず)を備えた研磨ヘッドである。一実施形態では、基板Wのエッジ部P4(図3参照)を研磨する研磨ヘッド10Dは、図11乃至図16を参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Dと同様の構成を有してもよい。一実施形態では、基板Wのエッジ部P4を研磨する研磨ヘッド10Dは、図4乃至図10、図17、図18乃至図21、図22、図23A、および図23Bを参照して説明した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッド10Aと同様の構成を有してもよい。
 上述した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッドは、基板と研磨ヘッドとを相対的に円運動させながら、基板を研磨する基板処理装置に限られず、基板と研磨ヘッドとを相対的に円運動させることなく、基板をその軸心を中心に回転させながら、基板を研磨する基板処理装置にも適用可能である。
 上述した傾き調整機構50を備えた研磨ヘッドは、処理ヘッドの一例として、基板の被処理面を研磨する研磨装置に適用されているが、基板の被処理面を洗浄する洗浄装置の洗浄ヘッドにも適用可能である。洗浄ヘッドを備えた基板処理装置の構成および動作は、上述した実施形態の基板処理装置の構成および動作と同様であるので、その重複する説明を省略する。基板の洗浄には、研磨テープに代えて、処理テープの一例である洗浄テープを用いられる。洗浄テープは、例えば、布製の洗浄テープである。基板を洗浄するための基板処理装置は、傾き調整機構50を備えた洗浄ヘッドの押圧部材を、押圧部材の押圧方向に対して第1の方向に傾けた状態で、洗浄テープを基板の被処理面に対して押し付け、その後、洗浄ヘッドの押圧部材を、押圧部材の押圧方向に対して第1の方向とは反対の第2の方向に傾けた状態で、洗浄テープを基板の被処理面に対して押し付ける。これにより、基板の被処理面の全体を均一に洗浄することができる。
 上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうる。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲に解釈されるものである。
 本発明は、ウェーハなどの基板を処理する基板処理方法に利用可能である。また、本発明は、ウェーハなどの基板に処理テープを押し付けるための処理ヘッド、およびそのような処理ヘッドを備えた基板処理装置に利用可能である。
2A,2B   研磨テープ
5a   第1の面
5b   第2の面
10A,10B,10C,10D  研磨ヘッド
11A,11B  支持部材
12   押圧部材
13   押圧部材ホルダ
13a  スカート
15   押圧アクチュエータ
16   可動軸
18   ハウジング
18A  ハウジング本体
18B  蓋
20   基板保持部
25   ローラー
27   偏心軸
27a  第1軸部
27b  第2軸部
29   モータ
30A,30B   研磨テープ供給機構
31   テープ巻き出しリール
32   テープ巻き取りリール
33   ガイドローラー
36,37   リールモータ
40   圧力室
42   隔壁膜(ダイヤフラム)
45   ボールスプラインナット
50   傾き調整機構
51   支軸
55   ベース部材
55a  通孔
56   チルト部材
56a  支持穴
58   傾動アクチュエータ、第1傾動アクチュエータ(エアシリンダ)
59   ロッド、第1ロッド(ピストンロッド)
60   シリンダ
62   蓋
62a  通孔
63   ロッド穴
65   圧縮気体供給ライン
68   ねじ穴、第1ねじ穴
69   ねじ、第1ねじ
70   中心部位
72   第1突出部
73   第2突出部
75   中空空間
80   通孔
81   ピン穴
82   ピン
90   第2傾動アクチュエータ(エアシリンダ)
91   第2ロッド(ピストンロッド)
92   シリンダ
94   蓋
94a  通孔
95   ロッド穴
97   圧縮気体供給ライン
98   第2ねじ穴
99   第2ねじ
100  動作制御部
100a  記憶装置
100b  演算装置
110  第1固定ねじ穴
111  第1固定ねじ
112  第2固定ねじ穴
113  第2固定ねじ
120  基板保持部
125  ローラー
130  テーブル円運動機構
132  テーブルモータ
134  クランクシャフト
135  偏心継手
141  テーブル
142  基台
P1   中央部
P2   内側中間部
P3   外側中間部
P4   エッジ部

Claims (22)

  1.  基板をその軸心を中心に回転させ、
     処理テープをその長手方向に送りながら、処理ヘッドの押圧部材を所定の押圧方向に対して第1の方向に傾けた状態で、前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の被処理面に対して押し付け、その後、前記押圧部材を前記押圧方向に対して前記第1の方向とは反対の第2の方向に傾けた状態で、前記押圧部材により前記処理テープを前記被処理面に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面を処理することを含み、
     前記第1の方向および前記第2の方向は、前記押圧部材上の前記処理テープの前記長手方向に沿った方向である、基板処理方法。
  2.  前記押圧部材を前記第1の方向に傾けることは、傾動アクチュエータにより前記第1の方向に傾けることであり、
     前記押圧部材を前記第2の方向に傾けることは、前記押圧部材と前記処理テープとの間に生じる摩擦により、前記押圧部材を前記処理テープの進行方向に沿った前記第2の方向に傾けることであり、
     前記第1の方向は、前記処理テープの前記進行方向において上流側に向かって下方に傾く方向であり、
     前記第2の方向は、前記処理テープの前記進行方向において下流側に向かって下方に傾く方向である、請求項1に記載の基板処理方法。
  3.  前記押圧部材を前記第1の方向に傾けることは、第1傾動アクチュエータにより前記第1の方向に傾けることであり、
     前記押圧部材を前記第2の方向に傾けることは、第2傾動アクチュエータにより前記第2の方向に傾けることであり、
     前記第1の方向は、前記処理テープの前記進行方向において上流側に向かって下方に傾く方向であり、
     前記第2の方向は、前記処理テープの前記進行方向において下流側に向かって下方に傾く方向である、請求項1に記載の基板処理方法。
  4.  前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面の中心を含む中央部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記中央部を処理する、請求項1に記載の基板処理方法。
  5.  前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面のエッジ部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記エッジ部を処理する、請求項1に記載の基板処理方法。
  6.  前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面の内側中間部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記内側中間部を処理する、請求項1に記載の基板処理方法。
  7.  前記押圧部材により前記処理テープを前記基板の前記被処理面の外側中間部に対して押し付けて、前記基板の前記被処理面の前記外側中間部を処理する、請求項1に記載の基板処理方法。
  8.  前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を研磨するための研磨ヘッドであり、
     前記処理テープは、その表面に砥粒を有する研磨テープである、請求項1に記載の基板処理方法。
  9.  前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を洗浄するための洗浄ヘッドであり、
     前記処理テープは洗浄テープである、請求項1に記載の基板処理方法。
  10.  処理テープを基板の被処理面に対して押し付ける押圧部材と、
     前記押圧部材を所定の押圧方向に移動させ、前記基板の前記被処理面に対する押圧力を前記押圧部材に付与する押圧アクチュエータと、
     前記押圧方向に対する前記押圧部材の傾きを調整する傾き調整機構を備え、
     前記傾き調整機構は、
      前記押圧部材を前記押圧方向に対して第1の方向に傾ける傾動アクチュエータと、
      前記処理テープの長手方向に垂直な支軸を備え、
     前記押圧部材は、前記支軸を中心に前記第1の方向および前記第1の方向とは反対の第2の方向に傾くことが可能に前記支軸に連結されており、
     前記第1の方向および前記第2の方向は、前記押圧部材上の前記処理テープの前記長手方向に沿った方向である、処理ヘッド。
  11.  前記傾き調整機構は、
      前記支軸を支持するベース部材と、
      前記支軸に連結され、前記支軸を中心に傾くことが可能なチルト部材をさらに備え、
     前記傾動アクチュエータは、前記チルト部材を押し上げるロッドを有している、請求項10に記載の処理ヘッド。
  12.  前記傾動アクチュエータは、エアシリンダであり、
     前記ロッドは、前記エアシリンダのピストンロッドである、請求項11に記載の処理ヘッド。
  13.  前記傾き調整機構は、前記ベース部材に設けられたねじ穴に螺合されたねじをさらに備え、
     前記ねじと前記ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、
     前記ねじは、前記ベース部材から前記チルト部材に向かって突出している、請求項11に記載の処理ヘッド。
  14.  前記傾き調整機構は、前記チルト部材に設けられたねじ穴に螺合されたねじをさらに備え、
     前記ねじと前記ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、
     前記ねじは、前記チルト部材から前記ベース部材に向かって突出している、請求項11に記載の処理ヘッド。
  15.  前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を研磨するための研磨ヘッドであり、
     前記処理テープは、その表面に砥粒を有する研磨テープである、請求項10に記載の処理ヘッド。
  16.  前記処理ヘッドは、前記基板の前記被処理面を洗浄するための洗浄ヘッドであり、
     前記処理テープは洗浄テープである、請求項10に記載の処理ヘッド。
  17.  前記第1の方向に傾ける前記傾動アクチュエータは、第1傾動アクチュエータであり、
     前記傾き調整機構は、前記押圧部材を前記押圧方向に対して前記第2の方向に傾ける第2傾動アクチュエータをさらに備えている、請求項10に記載の処理ヘッド。
  18.  前記傾き調整機構は、
      前記支軸を支持するベース部材と、
      前記支軸に連結され、前記支軸を中心に傾くことが可能なチルト部材をさらに備え、
     前記第1傾動アクチュエータは、前記チルト部材を押し上げる第1ロッドを有しており、
     前記第2傾動アクチュエータは、前記チルト部材を押し上げる第2ロッドを有している、請求項17に記載の処理ヘッド。
  19.  前記第1傾動アクチュエータおよび前記第2傾動アクチュエータのそれぞれは、エアシリンダであり、
     前記第1ロッドおよび前記第2ロッドのそれぞれは、前記エアシリンダのピストンロッドである、請求項18に記載の処理ヘッド。
  20.  前記傾き調整機構は、
      前記ベース部材に設けられた第1ねじ穴に螺合された第1ねじと、
      前記ベース部材に設けられた第2ねじ穴に螺合された第2ねじをさらに備え、
     前記第1ねじと前記第1ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、
     前記第2ねじと前記第2ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、
     前記第1ねじおよび前記第2ねじは、前記ベース部材から前記チルト部材に向かって突出している、請求項18に記載の処理ヘッド。
  21.  前記傾き調整機構は、
      前記チルト部材に設けられた第1ねじ穴に螺合された第1ねじと、
      前記チルト部材に設けられた第2ねじ穴に螺合された第2ねじをさらに備え、
     前記第1ねじと前記第1ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、
     前記第2ねじと前記第2ロッドは、前記支軸の両側にそれぞれ配置されており、
     前記第1ねじおよび前記第2ねじは、前記チルト部材から前記ベース部材に向かって突出している、請求項18に記載の処理ヘッド。
  22.  基板を保持し、前記基板を回転させる基板保持部と、
     処理テープをその長手方向に送る処理テープ供給機構と、
     請求項10乃至21のいずれか一項に記載の処理ヘッドを備えている、基板処理装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1044019A (ja) * 1996-07-30 1998-02-17 Nissan Motor Co Ltd 塗膜面サンディング装置のサンディングヘッド加圧機構
JP2018171698A (ja) * 2017-03-30 2018-11-08 株式会社荏原製作所 研磨方法および研磨装置
JP2019107752A (ja) * 2017-12-20 2019-07-04 株式会社荏原製作所 研磨ヘッドおよび研磨装置
JP2020011363A (ja) * 2018-07-20 2020-01-23 株式会社荏原製作所 研磨装置および研磨方法
WO2022080013A1 (ja) * 2020-10-12 2022-04-21 株式会社荏原製作所 基板洗浄装置および基板洗浄方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1044019A (ja) * 1996-07-30 1998-02-17 Nissan Motor Co Ltd 塗膜面サンディング装置のサンディングヘッド加圧機構
JP2018171698A (ja) * 2017-03-30 2018-11-08 株式会社荏原製作所 研磨方法および研磨装置
JP2019107752A (ja) * 2017-12-20 2019-07-04 株式会社荏原製作所 研磨ヘッドおよび研磨装置
JP2020011363A (ja) * 2018-07-20 2020-01-23 株式会社荏原製作所 研磨装置および研磨方法
WO2022080013A1 (ja) * 2020-10-12 2022-04-21 株式会社荏原製作所 基板洗浄装置および基板洗浄方法

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