WO2024024313A1 - 試験装置および試験方法 - Google Patents

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WO2024024313A1
WO2024024313A1 PCT/JP2023/022029 JP2023022029W WO2024024313A1 WO 2024024313 A1 WO2024024313 A1 WO 2024024313A1 JP 2023022029 W JP2023022029 W JP 2023022029W WO 2024024313 A1 WO2024024313 A1 WO 2024024313A1
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WO
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equivalent
winding
terminal
external terminal
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PCT/JP2023/022029
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English (en)
French (fr)
Inventor
匡史 飯島
Original Assignee
日置電機株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/72—Testing of electric windings

Definitions

  • the present invention relates to a test device and a test method, and for example, a test device and a test method for measuring the characteristics of the windings of parts and products including windings (coils), such as rotating machines such as electric motors and generators, and transformers. Concerning test methods.
  • an impulse winding test device that measures inductance L, capacitance C, and resistance (resistance value) R in an equivalent circuit configured with an internal circuit (for example, see Patent Document 1).
  • an impulse winding test device is used to test two-phase (U-phase) coils.
  • U-phase three-phase
  • the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to enable a user to easily determine whether there is an abnormality in the winding to be tested.
  • a test device generates a voltage between a first external terminal and a second external terminal, and outputs a voltage between the first external terminal and the second external terminal.
  • a circuit a voltage measuring unit that measures the voltage between the first external terminal and the second external terminal, a storage unit, and a voltage measuring unit that measures the voltage between the first external terminal and the second external terminal based on the voltage measured by the voltage measuring unit; an analysis unit that analyzes the electrical characteristics of the test object connected between the second external terminal and stores it in the storage unit as analysis data; and an analysis result of the test object based on the analysis data.
  • It has an analysis result information generation section that generates information and stores it in the storage section, and an output section that outputs the analysis result information stored in the storage section, and the test objects are Y-connected to each other.
  • a first equivalent inductor and a first equivalent resistance connected in series between a neutral point to which one terminal of the winding, one terminal of the second winding, and one terminal of the third winding are commonly connected and the other terminal of the first winding; a first equivalent inductor and a first equivalent resistance connected in series; a second equivalent inductor and a second equivalent resistance connected in series between the neutral point and the other terminal of the second winding; a third equivalent inductor and a third equivalent resistance connected in series between the neutral point and the other terminal of the third winding; and the other terminal of the first winding and the second winding.
  • a first equivalent capacitor connected between the other terminal of the second winding and the other terminal of the third winding
  • a second equivalent capacitor connected between the other terminal of the second winding and the other terminal of the third winding.
  • the analysis unit calculates at least one of the following and stores it in the storage unit as third analysis data, and the analysis unit calculates the first analysis data based on the first analysis data, the second analysis data, and the third analysis data. Calculate at least one of the values of the first to third equivalent inductors, the first to third equivalent resistances, and the first to third equivalent capacitors, and store the calculated values in the storage unit as fourth analysis data.
  • the analysis result information generating section is characterized in that the analysis result information regarding the three-phase winding is generated based on the fourth analysis data stored in the storage section.
  • the testing device According to the testing device according to the present invention, it becomes possible for the user to easily determine whether there is an abnormality in the winding to be tested.
  • FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a test device according to an embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of a connection between a three-phase winding and a test device.
  • FIG. 3 is a diagram showing an equivalent circuit of a three-phase winding to be tested.
  • FIG. 3 is a diagram showing an equivalent circuit when a voltage is applied between a terminal of a U-phase winding and a terminal of a V-phase winding of a three-phase winding. It is a figure which shows an example when the parameter of the equivalent circuit of a 3-phase winding is used as analysis result information. It is a figure which shows an example when the parameter of the equivalent circuit of a 3-phase winding is used as analysis result information.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a case where values obtained by normalizing parameters of an equivalent circuit of a three-phase winding are used as analysis result information.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a case where values obtained by normalizing parameters of an equivalent circuit of a three-phase winding are used as analysis result information.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a case where values obtained by normalizing parameters of an equivalent circuit of a three-phase winding are used as analysis result information.
  • FIG. 7 is a diagram illustrating another example in which analysis result information is a value obtained by normalizing parameters of an equivalent circuit of a three-phase winding.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of display of analysis result information on a display device of a test device.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of display of analysis result information on a display device of a test device.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of display of analysis result information on a display device of a test device.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of display of analysis result information on a display device of a test device.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of display of analysis result information on a display device of a test device.
  • FIG. 3 is a diagram showing an example of display of analysis result information on a display device of a test device.
  • 3 is a flowchart showing the flow of processing related to an abnormality determination support function by the test device.
  • a test device (1) generates a voltage between a first external terminal (T1) and a second external terminal (T2), and connects the first external terminal and the a voltage generating circuit (2) that outputs between the first external terminal and the second external terminal; a voltage measuring section (4) that measures the voltage between the first external terminal and the second external terminal; and a storage section (8). Based on the voltage measured by the voltage measuring section, the electrical characteristics of the test object (11) connected between the first external terminal and the second external terminal are analyzed and analyzed as analysis data.
  • an analysis section (5) that stores in the storage section; an analysis result information generation section (6) that generates analysis result information of the test object based on the analysis data and stores it in the storage section; an output section (7) for outputting the analysis result information stored in the section, and the test object has a first winding (11u) and a second winding (11v) which are Y-connected to each other. ), and a third winding (11w), in the case where the three-phase winding is represented by an equivalent circuit (11A), the equivalent circuit is one of the first windings.
  • the calculated data is stored in the storage unit as second analysis data (82), and between the first external terminal and the second external terminal, the other terminal of the third winding and the first winding the value of the equivalent inductor (L3), the value of the equivalent capacitor (C3), and the equivalent value between the first external terminal and the second external terminal (between W-U terminals) when the other terminal is connected; At least one of the values of the resistance (R3) is calculated and stored in the storage unit as third analysis data (83), and the analysis unit calculates the first analysis data, the second analysis data, and the third analysis data.
  • At least one of the values of the first to third equivalent inductors, the values of the first to third equivalent resistances, and the values of the first to third equivalent capacitors are calculated; 4 analysis data (84) in the storage unit, and the analysis result information generation unit generates the analysis result information regarding the three-phase winding based on the fourth analysis data stored in the storage unit. It is characterized by generating.
  • the values of the first to third equivalent inductors, the values of the first to third equivalent resistances, and the values of the first to third equivalent capacitors and the Correspondence information (85, formulas (4) to (12) below) indicating the relationship with the first to third analysis data is stored, and the analysis unit is configured to store the correspondence information and the first to third analysis data. Based on this, the values of the first to third equivalent inductors, the values of the first to third equivalent resistances, and the values of the first to third equivalent capacitors may be calculated.
  • the analysis result information generation unit may generate the values of the first to third equivalent inductors, the values of the first to third equivalent resistances, and the At least one of the values of the first to third equivalent capacitors may be used as the analysis result information (for example, see FIGS. 5A to 5C).
  • the analysis result information generation unit may generate the values of the first to third equivalent inductors, the values of the first to third equivalent resistances, and the A value obtained by normalizing at least one of the values of the first to third equivalent capacitors may be calculated and used as the analysis result information (for example, see FIGS. 6A to 6C).
  • the analysis result information generation unit normalizes the values of the first to third equivalent inductors so that the maximum value is 1, and The value of the equivalent resistance may be normalized so that the minimum value is 1, and the values of the first to third equivalent capacitors may be normalized so that the maximum value is 1.
  • the analysis result information generation unit may generate normalized values of the first to third equivalent inductors and normalized values of the first to third equivalent inductors.
  • the analysis result information may be the ratio to the resistance value (for example, see FIG. 7).
  • the analysis result information generation unit may convert the ratio into an evaluation point based on a predetermined value and use it as the analysis result information (for example, as shown in FIG. , see FIGS. 11A to 11D).
  • the analysis result information generation unit may generate values of the first to third equivalent inductors, values of the first to third equivalent resistances, and the first to third equivalent resistances.
  • An index indicating a balanced state of the first winding, the second winding, and the third winding may be calculated based on at least one of the values of the three equivalent capacitors, and may be used as the analysis result information.
  • the output section includes a display device (7), and the output section displays the analysis result information on the screen of the display device. It's okay.
  • a test method includes generating a voltage between a first external terminal and a second external terminal, and outputting the voltage between the first external terminal and the second external terminal.
  • a voltage generating circuit that measures the voltage between the first external terminal and the second external terminal, a storage section, and a voltage generating circuit that measures the voltage between the first external terminal and the second external terminal;
  • an analysis section that analyzes the electrical characteristics of the test object connected between the external terminal and the second external terminal and stores the analysis data in the storage section;
  • the first windings which are Y-connected to each other, as the test object, using a test device having an analysis result information generation section that generates analysis result information, and an output section that outputs the analysis result information.
  • the equivalent circuit when the three-phase winding is represented by an equivalent circuit (11A), the equivalent circuit includes one terminal of the first winding, one terminal of the second winding, and one terminal of the second winding. a first equivalent inductor and a first equivalent resistance connected in series between a neutral point to which one terminal of the three windings is commonly connected and the other terminal of the first winding; and the neutral point.
  • the analysis unit connects the other terminal of the first winding and the other terminal of the second winding between the first external terminal and the second external terminal.
  • a fourth step (S7) in which the analysis result information generation unit generates the analysis result information regarding the three-phase winding based on the fourth analysis data stored in the storage unit; and a sixth step (S9) in which the output unit outputs the analysis result information stored in the storage unit.
  • FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a test apparatus 1 according to an embodiment.
  • a test device 1 shown in FIG. 1 is a device that analyzes the electrical characteristics of windings (coils) that constitute rotating machines such as motors and generators, and electrical equipment such as transformers.
  • the test apparatus 1 determines at least the equivalent inductor, equivalent capacitor, and equivalent resistance, which are parameters related to the winding to be tested, based on the change in voltage when a voltage (impulse voltage) is applied to the winding to be tested.
  • This is an impulse winding test device that calculates a single value.
  • equivalent inductor indicates equivalent inductance
  • equivalent capacitor indicates equivalent capacitance
  • the test device 1 allows the user to determine whether there is an abnormality in the three-phase (U-phase, V-phase, W-phase) windings that are Y-connected (star-connected). It has an anomaly determination support function to make it possible.
  • the test apparatus 1 includes, for example, external terminals T1 and T2, a voltage generation circuit 2, an instruction reception section 3, a voltage measurement section 4, and an analysis section 5 as functional sections for realizing the above-mentioned functions. , an analysis result information generation section 6, an output section 7, and a storage section 8.
  • the external terminals T1 and T2 are terminals for connecting the winding 11 as a test object (DUT).
  • the winding 11 is described as a star-connected three-phase (U-phase, V-phase, W-phase) winding (hereinafter also referred to as "three-phase winding 11"). do.
  • the three-phase winding 11 is, for example, a stator of a rotating machine (for example, a motor).
  • the terminal of one of the three-phase windings 11 is connected to the external terminal T1
  • the terminal of another winding of the three-phase winding 11 is connected to the external terminal T2.
  • the voltage generation circuit 2 is a circuit for applying a desired voltage (impulse voltage) to the three-phase winding 11 to be tested, which is connected between the external terminals T1 and T2.
  • a desired voltage impulse voltage
  • the impulse voltage output from the voltage generation circuit 2 when testing the three-phase winding 11 will also be referred to as a "test voltage.”
  • the voltage generation circuit 2 generates a test voltage based on a voltage command value, which will be described later, and outputs it between the external terminal T1 and the external terminal T2.
  • the voltage generation circuit 2 includes, for example, an impulse voltage application capacitor (not shown), charges the impulse voltage application capacitor by a DC power supply (not shown) until the voltage reaches a voltage based on the voltage command value, and then A test voltage is generated between external terminals T1 and T2 by discharging the application capacitor.
  • the instruction receiving unit 3 is a functional unit that receives instructions for the testing device 1.
  • the instruction receiving unit 3 is realized by, for example, an input interface device such as an operation button or a touch panel that receives operations on the test apparatus 1 by a user, and program processing by a CPU.
  • the instruction receiving unit 3 may include, for example, a communication circuit for communicating with external equipment by wire or wirelessly.
  • the instruction receiving unit 3 receives, through a communication circuit, a signal transmitted from an information processing device (for example, a PC, a tablet terminal, etc.) connected to the test device 1 via a wired or wireless network, and responds to the received signal. It is also possible to instruct other functional units to execute the process.
  • an information processing device for example, a PC, a tablet terminal, etc.
  • the instruction receiving unit 3 receives an instruction indicating execution of DUT analysis. For example, the instruction receiving unit 3 receives an instruction indicating execution of measurement of electrical characteristics between external terminals T1 and T2. Further, the instruction receiving unit 3 receives an instruction indicating execution of abnormality determination of the three-phase winding 11 (abnormality determination support function).
  • the instruction receiving unit 3 receives information on test conditions together with or separately from the above instructions.
  • Information on the test conditions includes, for example, a voltage command value that specifies the magnitude (amplitude) of the test voltage, a specified number of outputs that specifies the number of times the test voltage (impulse voltage) is output during the test, and information on the sampling frequency described later. Including etc.
  • the above-mentioned instructions, test condition information, etc. are inputted by the user's operation on the above-mentioned operation buttons, touch panel, etc. as the instruction receiving unit 3, or by signals received by the communication circuit.
  • the voltage measurement unit 4 is a functional unit that measures the voltage (terminal voltage) V between the external terminal T1 and the external terminal T2.
  • the voltage measurement section 4 stores a measured value of the voltage V (voltage measurement value) 80 in the storage section 8 .
  • the voltage measurement unit 4 obtains the measured value of the voltage V by sampling the voltage V at a predetermined sampling period.
  • the voltage measurement unit 4 includes, for example, a resistive voltage divider circuit (not shown) that divides the voltage V between the external terminal T1 and the external terminal T2, and a voltage divided by the resistive voltage divider circuit at a predetermined sampling period. It is configured to include an A/D conversion circuit (not shown) for converting into a digital signal.
  • the voltage measurement unit 4 obtains time-series data of the measured value (sampling data) of the voltage V by sampling the voltage V at a predetermined sampling period, and stores it in the storage unit 8 as the voltage measurement value 80.
  • the sampling period may be set, for example, by the user operating the instruction receiving section 3, or may be set by an external device via the instruction receiving section 3 through wired or wireless communication.
  • the analysis unit 5 is a functional unit that analyzes the electrical characteristics of the DUT 11 based on the voltage V measured by the voltage measurement unit 4.
  • the analysis unit 5 calculates parameters related to the electrical characteristics of the DUT 11 using a known analysis method based on the transient response characteristics of the voltage V generated between the external terminals T1 and T2 when a test voltage (impulse voltage) is applied to the DUT 11. At least one value of an equivalent inductor, an equivalent capacitor, and an equivalent resistance is calculated.
  • the analysis unit 5 stores parameters related to the analyzed electrical characteristics (equivalent inductor, equivalent capacitor, equivalent resistance, etc.) in the storage unit 8 as analysis data. Note that details of the method of analyzing electrical characteristics by the analysis unit 5 will be described later.
  • the analysis result information generation unit 6 generates analysis result information 86 of the DUT based on the analysis data generated by the analysis unit 5, and stores it in the storage unit 8. Note that details of the method of generating the analysis result information 86 by the analysis result information generation section 6 will be described later.
  • the storage unit 8 is a functional unit for storing programs and various parameters for the testing device 1 to function as an impulse winding testing device, analysis results of the winding 11 to be tested, and the like.
  • the storage unit 8 stores, for example, first analysis data 81, which will be described later.
  • Second analysis data 82, third analysis data 83, fourth analysis data 84, correspondence information 85, etc. are stored.
  • the output unit 7 is a functional unit that outputs information for setting test conditions, analysis result information 86, etc.
  • the output unit 7 is realized by, for example, a display device such as a liquid crystal display. In the following description, the output section 7 will also be referred to as the "display device 7."
  • the display device 7 displays information for setting test conditions, analysis result information 86, etc. on the screen. Further, the display device 7 may display the transient response characteristics of the voltage measured by the voltage measuring section 4 as a graph on the screen.
  • the above-mentioned analysis section 5, analysis result information generation section 6, and storage section 8 are realized by, for example, a program processing device.
  • peripherals such as processors such as CPUs, various storage devices such as RAM and ROM, counters (timers), A/D conversion circuits, D/A conversion circuits, clock generation circuits, and input/output interface circuits.
  • a program processing device for example, a microcontroller
  • a processor executes various arithmetic processing according to a program stored in memory, and based on the processing results.
  • the test apparatus 1 has an abnormality determination support function that allows the user to determine whether or not there is an abnormality in the three-phase winding 11 as a DUT.
  • an abnormality in a three-phase winding a case will be described in which it is determined whether or not there is a short circuit between adjacent layers (hereinafter also referred to as "interlayer short circuit") in each winding of the three-phase winding 11. explain.
  • FIG. 2 is a diagram showing an example of the connection between the three-phase winding 11 to be tested and the testing apparatus 1.
  • the three-phase winding 11 includes a first winding (coil) 11u, a second winding 11v, and a third winding 11w.
  • the first winding 11u may be referred to as "U-phase winding 11u”
  • the second winding 11v may be referred to as “V-phase winding 11v”
  • the third winding 11w may be referred to as "W-phase winding 11w.” .
  • the U-phase winding 11u, the V-phase winding 11v, and the W-phase winding 11w each have two terminals.
  • one terminal of the U-phase winding 11u, one terminal of the V-phase winding 11v, and one terminal of the W-phase winding 11w are commonly connected, so that the U-phase winding 11u, a V-phase winding 11v, and a W-phase winding 11w are star-connected (Y-connected).
  • terminal Pu the other terminal of the U-phase winding 11u
  • terminal Pv the other terminal of V-phase winding 11v
  • terminal Pw the other terminal of W-phase winding 11w
  • the test apparatus 1 When executing the abnormality determination support function, two of the U-phase winding 11u, V-phase winding 11v, and W-phase winding 11w that constitute the three-phase winding 11 are connected between the external terminals T1 and T2 of the test device 1. Connect the terminals of each winding. Then, the test apparatus 1 detects the voltage between the two windings (external terminal T1 and , T2). Specifically, the test apparatus 1 tests for each combination of two windings (UV, VW, WU) among the U-phase winding 11u, the V-phase winding 11v, and the W-phase winding 11w. , analyzes the electrical characteristics between the two windings, and generates first analysis data 81, second analysis data 82, and third analysis data 83.
  • connection of the U-phase winding 11u, V-phase winding 11v, and W-phase winding 11w to the external terminals T1 and T2 of the test apparatus 1 may be switched manually by the user, or as shown in FIG.
  • the selection circuit (scanner) 12 may be used.
  • the selection circuit 12 is provided between the test device 1 and the three-phase winding 11 to be tested, and connects the external terminals T1 and T2 of the test device 1 to any one of the terminals Pu, Pv, and Pw of the three-phase winding 11. This is a circuit that connects to two terminals.
  • the selection circuit 12 includes, for example, external terminals P1 to P6, Pa, and Pb, and switches SWa and SWb.
  • external terminal Pa is connected to external terminal T1 of test device 1
  • external terminal Pb is connected to external terminal T2 of test device 1.
  • External terminals P1 and P4 are connected to the terminal Pu of the U-phase winding 11u
  • external terminals P2 and P5 are connected to the terminal Pv of the V-phase winding 11v
  • external terminals P3 and P6 are connected to the terminal Pu of the W-phase winding 11w. is connected to terminal Pw of.
  • the switch SWa connects the external terminal Pa to any one of the external terminals P1 to P3.
  • Switch SWb connects external terminal Pb to any one of external terminals P4 to P6.
  • the switches SWa and SWb are realized by, for example, a semiconductor switch, a relay, a mechanical switch, or the like.
  • the switching control of the connection destinations of the switches SWa and SWb may be performed, for example, by manual operation by the user, or may be performed by a signal from the instruction receiving section 3 or the analyzing section 5 of the testing apparatus 1.
  • the switches SWa and SWb will be explained as being controlled by a signal from the analysis section 5 of the test apparatus 1.
  • the test apparatus 1 assumes that the three-phase winding 11 is represented by a predetermined equivalent circuit, and calculates the electrical characteristics between the two windings of the three-phase winding 11 described above.
  • the parameters of the equivalent circuit are calculated based on the first analysis data 81, the second analysis data 82, and the third analysis data 83, and analysis result information 86 is generated based on the parameters.
  • FIG. 3 is a diagram showing an equivalent circuit of the three-phase winding 11 to be tested.
  • the three-phase winding 11 is represented by an equivalent circuit 11A including equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu. .
  • the equivalent inductor Lu and the resistor Ru are connected in series between the terminal Pu of the U-phase winding 11u and the neutral point Pm.
  • Equivalent inductor Lv and resistor Rv are connected in series between terminal Pv of V-phase winding 11v and neutral point Pm.
  • Equivalent inductor Lw and resistor Rw are connected in series between terminal Pw of W-phase winding 11w and neutral point Pm.
  • the equivalent capacitor Cuv is connected between the terminal Pu of the U-phase winding 11u and the terminal Pv of the V-phase winding 11v.
  • Equivalent capacitor Cvw is connected between terminal Pv of V-phase winding 11v and terminal Pw of W-phase winding 11w.
  • Equivalent capacitor Cwu is connected between terminal Pw of W-phase winding 11w and terminal Pu of U-phase winding 11u.
  • FIG. 4 is a diagram showing the equivalent circuit 11A when a voltage is applied between the terminal Pu of the U-phase winding 11u and the terminal Pv of the V-phase winding 11v.
  • L1 is an equivalent inductor between the UV terminals
  • R1 is an equivalent resistance between the UV terminals
  • C1 is an equivalent capacitor between the UV terminals.
  • L2 is the equivalent inductor between the V and W terminals
  • R2 is the equivalent resistance between the V and W terminals
  • C2 is the equivalent capacitor between the V and W terminals
  • L3 is the equivalent inductor between the W and U terminals
  • R3 is the equivalent inductor between the W and W terminals.
  • the equivalent resistance between the -U terminal and C3 is the equivalent capacitor between the WU terminal.
  • the values of the equivalent inductors L1, L2, L3, the equivalent resistances R1, R2, R3, and the equivalent capacitors C1, C2, C3 between the two terminals of the three-phase winding 11 are the test voltage between the two terminals. It can be calculated based on the transient response characteristics of the voltage V when V is applied, using an analysis method similar to that of a known impulse winding test device.
  • each value of equivalent inductors L1, L2, L3, equivalent resistances R1, R2, R3, and equivalent capacitors C1, C2, C3 is calculated by the test apparatus 1, and these values are calculated using the above equations (4) to (12).
  • the test device 1 generates analysis result information 86 based on the calculated values of equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and generates analysis result information 86.
  • 86 is displayed on the screen of the display device 7.
  • the analysis unit 5 of the test device 1 connects the terminal Pu of the U-phase winding 11u and the terminal Pv of the V-phase winding 11v between the external terminal T1 and the external terminal T2.
  • the first analysis data (U -V terminal) 81 is stored in the storage unit 8.
  • the voltage generation circuit 2 outputs the test voltage to the external terminal.
  • the voltage measurement unit 4 measures the voltage V between the external terminals T1 and T2 and stores it in the storage unit 8 as a voltage measurement value 80.
  • the analysis unit 5 calculates an equivalent inductor L1, an equivalent capacitor C1, and an equivalent resistance R1 between the UV terminals using a known analysis method based on the voltage measurement value 80 when a test voltage is applied between the UV terminals. At least one of these is calculated and stored in the storage unit 8 as first analysis data (between UV terminals) 81.
  • the analysis unit 5 also analyzes the relationship between the external terminal T1 and the external terminal T2 when the terminal Pv of the V-phase winding 11v and the terminal Pw of the W-phase winding 11w are connected between the external terminal T1 and the external terminal T2. At least one of the value of the equivalent inductor L2, the value of the equivalent capacitor C2, and the value of the equivalent resistance R2 between them is calculated and stored in the storage unit 8 as second analysis data (between V and W terminals) 82.
  • the voltage generation circuit 2 outputs the test voltage to the external terminal.
  • the voltage measurement section 4 measures the test voltage V between the external terminals T1 and T2 and stores it in the storage section 8 as a voltage measurement value 80.
  • the analysis unit 5 calculates an equivalent inductor L2, an equivalent capacitor C2, and an equivalent resistance R2 between the V and W terminals using a known analysis method based on the voltage measurement value 80 when a test voltage is applied between the V and W terminals. At least one of these is calculated and stored in the storage unit 8 as second analysis data (between V and W terminals) 82.
  • the analysis unit 5 calculates the relationship between the external terminals T1 and T2 when the terminal Pw of the W-phase winding 11w and the terminal Pu of the U-phase winding 11u are connected between the external terminals T1 and T2. At least one of the value of the equivalent inductor L3, the value of the equivalent capacitor C3, and the value of the equivalent resistance R3 between them is calculated and stored in the storage unit 8 as third analysis data (between terminals W and U) 83.
  • the voltage generation circuit 2 outputs the test voltage to the external terminal.
  • the voltage measurement unit 4 measures the voltage V between the external terminals T1 and T2 and stores it in the storage unit 8 as a voltage measurement value 80.
  • the analysis unit 5 calculates an equivalent inductor L3, an equivalent capacitor C3, and an equivalent resistance R3 between the W and U terminals using a known analysis method based on the voltage measurement value 80 when a test voltage is applied between the W and U terminals. At least one of these is calculated and stored in the storage unit 8 as third analysis data (between W and U terminals) 83.
  • the analysis unit 5 calculates the values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw and the values of the equivalent resistances Ru, Rv, Rw based on the first analysis data 81, the second analysis data 82, and the third analysis data 83. and the values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu, and store the calculated value in the storage unit 8 as fourth analysis data 84.
  • the correspondence information 85 is stored in the storage unit 8 in advance.
  • the correspondence information 85 is, for example, information of the above equations (4) to (12).
  • the analysis unit 5 calculates equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, based on the correspondence information 85, the first analysis data 81, the second analysis data 82, and the third analysis data 83. and the values of equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu are calculated.
  • the analysis unit 5 adds the first analysis data 81 (L1, R1, C1 ), second analysis data 82 (L2, R2, C2), and third analysis data 83 (L3, R3, C3), equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and the values of equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu are calculated and stored in the storage unit 8 as fourth analysis data 84.
  • the analysis result information generation unit 6 In the abnormality determination support function, the analysis result information generation unit 6 generates equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and equivalent capacitors Cuv, as the fourth analysis data 84 stored in the storage unit 8. Based on each value of Cvw and Cwu, analysis result information 86 is generated and stored in the storage unit 8.
  • the analysis result information generation unit 6 generates the analysis result information using at least one value of equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu as the fourth analysis data 84. 86.
  • the display device 7 displays the analysis result information 86 on the screen.
  • 5A to 5C are diagrams showing an example of a case where parameters of an equivalent circuit of a three-phase winding are used as analysis result information 86.
  • FIG. 5A shows the values of equivalent inductors Lu, Lv, and Lw when the three-phase winding 11 is normal for each amplitude of the test voltage (voltage command value), and the values of the U-phase winding of the three-phase winding 11.
  • the values of equivalent inductors Lu, Lv, and Lw when there is an interlayer short circuit in 11u are shown, respectively.
  • FIG. 5B shows the values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu for each amplitude of the test voltage when the three-phase winding 11 is normal, and the values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu when the three-phase winding 11 has an interlayer short circuit in the U-phase winding 11u.
  • FIG. 5C shows the values of equivalent resistances Ru, Rv, and Rw for each amplitude of the test voltage when the three-phase winding 11 is normal, and the values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw when the three-phase winding 11 is normal and the U-phase winding 11u of the three-phase winding 11 has an interlayer short circuit.
  • the values of equivalent resistances Ru, Rv, and Rw in certain cases are shown, respectively.
  • the test device 1 displaying at least one of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and the equivalent resistances Ru, Rv, Rw as the analysis result information 86 on the screen of the display device 7. , the user can easily determine whether or not there is an abnormality in the three-phase winding 11, in other words, which phase winding of the three-phase winding 11 has an interlayer short circuit.
  • 5A to 5C illustrate a case where the values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu are used as the analysis result information 86. Not limited.
  • the analysis result information generation unit 6 generates a value obtained by normalizing at least one of equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu as the fourth analysis data 84. may be calculated and used as the analysis result information 86. More specifically, the analysis result information generation unit 6 normalizes the values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw so that the maximum value is 1, and normalizes the values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw so that the minimum value is 1. It is also possible to normalize the values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu so that the maximum value becomes 1, and use this as the analysis result information 86. An example of this case is shown in FIGS. 6A to 6C.
  • FIGS. 6A to 6C are diagrams showing an example in which the analysis result information 86 is a value obtained by normalizing the parameters of the equivalent circuit of a three-phase winding.
  • FIG. 6A shows the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw for each test voltage amplitude (voltage command value) when the three-phase winding 11 is normal so that the maximum value is 1. and the values obtained by normalizing the values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw when there is an interlayer short circuit in the U-phase winding 11u of the three-phase winding 11 so that the maximum value is 1 are shown, respectively. .
  • FIG. 6B shows the normalized values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu when the three-phase winding 11 is normal for each amplitude of the test voltage so that the maximum value is 1, and
  • the values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu when there is an interlayer short circuit in the U-phase winding 11u of the phase winding 11 are normalized to have a maximum value of 1, respectively.
  • 6C shows the normalized values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw when the three-phase winding 11 is normal for each amplitude of the test voltage so that the minimum value is 1, and the three-phase winding
  • the values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw when there is an interlayer short circuit in the U-phase winding 11u of the line 11 are normalized so that the minimum value is 1, respectively.
  • the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw are approximately the same regardless of the amplitude of the test voltage (voltage command value), and the normalized values of the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu are approximately the same.
  • the values obtained by normalizing the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw are substantially the same.
  • the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and the equivalent resistances Ru, Rv, Rw are approximately "1".
  • the test device 1 displays the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and the equivalent resistances Ru, Rv, Rw on the screen of the display device 7 as analysis result information 86.
  • the user can more easily determine whether or not there is an abnormality in the three-phase winding 11.
  • the analysis result information generation unit 6 may use the analysis result information 86 as the ratio between the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw and the normalized values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw.
  • the analysis result information generation unit 6 uses the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw (Lu_n, Lv_n, Lw_n) to the normalized values of the equivalent resistances Ru, Rv, Rw (Ru_n, Rv_n, Rw_n).
  • the values obtained by each division (Lu_n/Ru_n, Lv_n/Rv_n, Lw_n/Rw_n) are defined as analysis result information 86. An example of this case is shown in FIG.
  • FIG. 7 is a diagram showing another example in which the analysis result information 86 is a value obtained by normalizing the parameters of the equivalent circuit 11A of the three-phase winding 11.
  • the values obtained by dividing the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw shown in FIG. 6A by the normalized values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw shown in FIG. 6C are shown for each test voltage. It is shown.
  • the analysis result information 86 may be an evaluation point based on the parameters of the equivalent circuit of the three-phase winding.
  • the analysis result information generation unit 6 calculates the ratio between the normalized values of the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw shown in FIG. 7 and the normalized values of the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw, based on a predetermined value.
  • the analysis result information 86 may be converted into an evaluation score.
  • the analysis result information generation unit 6 generates the values of the equivalent resistances Ru, Rv, Rw (Ru_n, Rv_n, Rw_n) by normalizing the values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw (Lu_n, Lv_n, Lw_n).
  • the values obtained by multiplying each value (Lu_n/Ru_n, Lv_n/Rv_n, Lw_n/Rw_n) by "100” are defined as "evaluation points", and these evaluation points are used as the analysis results.
  • Information shall be 86. An example of this case is shown in FIG.
  • FIG. 8 is a diagram showing an example of a case where evaluation points based on parameters of an equivalent circuit of a three-phase winding are used as analysis result information.
  • FIG. 8 shows a case where the value obtained by multiplying the value shown in FIG. 7 by "100" is used as the evaluation score (score).
  • the evaluation score is 96 or more for all phase windings, regardless of the amplitude of the test voltage (voltage command value).
  • the normal evaluation points of the V and W phases will be 96 points or more, but the evaluation points of the U phase will be 59 to 66 points, indicating that there is an abnormality in the U phase. This is clearly understood.
  • the analysis result information generation unit 6 determines the U-phase winding 11u and the V-phase winding based on at least one of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and the equivalent resistances Ru, Rv, Rw.
  • An index indicating the balanced state of the winding 11v and the W-phase winding 11w may be calculated.
  • the analysis result information generation unit 6 generates the normalized values of equivalent inductors Lu, Lv, Lw (Lu_n, Lv_n, Lw_n) shown in FIG.
  • the analysis result information generation unit 6 may also generate the U-phase value (0.657) at a test voltage of 100V and the V-phase value when there is an interlayer short circuit in the U-phase winding 11u, as shown in FIG.
  • the product (0.657 ⁇ 0.978 ⁇ 1.000 ⁇ 0.643) of the value (0.978) and the value of the W phase (1.000) is calculated.
  • the user can more easily and intuitively determine whether or not the three-phase winding 11 is normal by simply checking one index, the three-phase balance score.
  • the three-phase balance score may be converted into a rating (grade, etc.) and used as the analysis result information 86.
  • a three-phase balance score of "100 points” is defined as a rating score of "5"
  • a three-phase balance score of "50 points” is defined as a rating score of "0".
  • the rating score is "1.43".
  • the analysis result information 86 is not limited to the case where it is generated based on the parameters (Lu, Lv, Lw, Ru, Rv, Rw, Cuv, Cvw, Cwu) in the equivalent circuit 11A.
  • the analysis result information 86 may be generated based on the parameters (L1, L2, L3, R1, R2, R3, C1, C2, C3) between the two terminals of the three-phase winding 11 described above.
  • FIG. 9 is a diagram showing an example of a case where the analysis result information 86 is a value based on a parameter between two terminals of the three-phase winding 11.
  • R2 ⁇ C2, R3 ⁇ C3 are calculated and normalized, and the ratio of the normalized LC value and RC value is converted into an evaluation point using a predetermined value (for example, “1”) as a standard, and then analyzed.
  • the result information 86 may also be used. According to this, as shown in FIG. 9, the evaluation points between the UV and W terminals, including the U phase, and between the W and U terminals are lower than the evaluation points between the V and W terminals. The user can determine that there is an abnormality in the U phase.
  • the points for each of the two terminals (UV, VW, WU) shown in FIG. 9 may be mechanically converted into the points for each phase and used as the analysis result information 86.
  • FIG. 10 is a diagram showing an example of a case where the analysis result information 86 is an evaluation point based on the parameters between two terminals of the three-phase winding 11.
  • the test device 1 displays the analysis result information 86 generated by the above-described method on the screen of the display device 7.
  • a display example of the analysis result information 86 will be described below.
  • 11A to 11D are diagrams showing an example of the display of the analysis result information 86 on the display device 7 of the testing device 1.
  • 11A and 11C show display examples of the analysis result information 86 when the three-phase winding 11 in FIG. A display example of analysis result information 86 when there is an interlayer short circuit is shown.
  • the display device 7 of the test apparatus 1 displays test voltage information 700, the equivalent inductors Lu, Lv, Lw of each phase of the three-phase winding 11 to be tested, and the equivalent resistance.
  • Information 701 such as Ru, Lv, Lw, and evaluation score, and information 702 of three-phase balance score are displayed.
  • the display device 7 may also display the equivalent capacitors Cuv, Cvw, and Cwu.
  • any one of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw and the equivalent resistances Ru, Lv, Lw may be displayed, or either the evaluation score or the three-phase balance score may be displayed.
  • the user may be able to select (set) which information from among the information included in the analysis result information 86 is to be displayed on the display device 7.
  • the display device 7 of the testing device 1 may display the above-mentioned rating score, for example, instead of the three-phase balance score information 702.
  • the display device 7 may represent the rating score by the number of geometric symbols (for example, the number of stars, etc.), as shown by reference numeral 703A in FIGS. 11C and 11D.
  • FIGS. 11A to 11D are only examples of how to display the analysis result information 86, and the present invention is not limited thereto. It is sufficient that at least one of the analysis result information 86 described above is displayed on the screen of the display device 7 in a form that can be identified by the user.
  • FIG. 12 is a flowchart showing the flow of processing related to the abnormality determination support function by the testing device 1.
  • test conditions such as a voltage command value of the test voltage, the number of outputs of the test voltage, and a sampling period (sampling frequency) for measuring the voltage V in the test apparatus 1.
  • step S2 the user connects the three-phase winding 11 to be tested between the external terminals T1 and T2 of the test device 1 via the selection circuit (scanner) 12 (step S2). Note that the connection of the three-phase winding 11 to the testing apparatus 1 may be performed before step S1.
  • the testing apparatus 1 determines whether the user has input an instruction to perform abnormality determination of the three-phase winding 11 (step S3). For example, if the user does not operate the start button or the like as the instruction receiving unit 3 of the test apparatus 1 (step S3: NO), the test apparatus 1 waits until the start button is operated.
  • step S3 If the start button is operated (step S3: YES), the test device 1 starts processing related to the abnormality determination support function.
  • the test device 1 measures the electrical characteristics (L1, R1, C1) between UV (step S4). More specifically, first, the analysis unit 5 operates the switches SWa and SWb of the selection circuit 12 to connect the U-phase terminal Pu of the three-phase winding 11 to the external terminal T1 of the test device 1, and performs the test. The V-phase terminal Pv of the three-phase winding 11 is connected to the external terminal T2 of the device 1. Next, the voltage generation circuit 2 applies a test voltage between the external terminals T1 and T2 according to the voltage command value set in step S1, and the voltage measurement unit 4 applies the test voltage between the external terminals T1 and T2 to The change in voltage is measured and stored in the storage unit 8 as a voltage measurement value 80 between the UV terminals. Next, the analysis unit 5 calculates the equivalent inductor L1, equivalent resistance R1, and equivalent capacitor C1 between the UV terminals based on the voltage measurement value 80 between the UV terminals using the method described above. 1 analysis data 81 in the storage unit 8.
  • the test device 1 measures the electrical characteristics (L2, R2, C2) between V and W (step S5). More specifically, first, the analysis unit 5 operates the switches SWa and SWb of the selection circuit 12 to connect the V-phase terminal Pv of the three-phase winding 11 to the external terminal T1 of the test device 1, and performs the test. The W-phase terminal Pw of the three-phase winding 11 is connected to the external terminal T2 of the device 1. Next, the voltage generation circuit 2 applies a test voltage between the external terminals T1 and T2 according to the voltage command value set in step S1, and the voltage measurement unit 4 applies the test voltage between the external terminals T1 and T2 to The change in voltage is measured and stored in the storage unit 8 as a voltage measurement value 80 between the V and W terminals.
  • the analysis unit 5 operates the switches SWa and SWb of the selection circuit 12 to connect the V-phase terminal Pv of the three-phase winding 11 to the external terminal T1 of the test device 1, and performs the test.
  • the analysis unit 5 calculates the equivalent inductor L2, equivalent resistance R2, and equivalent capacitor C2 between the V and W terminals based on the voltage measurement value 80 between the V and W terminals using the method described above. 2 is stored in the storage unit 8 as analysis data 82.
  • the test device 1 measures the electrical characteristics (L3, R3, C3) between W and U (step S6). More specifically, first, the analysis unit 5 operates the switches SWa and SWb of the selection circuit 12 to connect the W-phase terminal Pw of the three-phase winding 11 to the external terminal T1 of the test device 1, and starts the test. The U-phase terminal Pu of the three-phase winding 11 is connected to the external terminal T2 of the device 1. Next, the voltage generation circuit 2 applies a test voltage between the external terminals T1 and T2 according to the voltage command value set in step S1, and the voltage measurement unit 4 applies the test voltage between the external terminals T1 and T2 to The change in voltage is measured and stored in the storage unit 8 as a voltage measurement value 80 between the W and U terminals.
  • the analysis unit 5 operates the switches SWa and SWb of the selection circuit 12 to connect the W-phase terminal Pw of the three-phase winding 11 to the external terminal T1 of the test device 1, and starts the test.
  • the analysis unit 5 calculates the equivalent inductor L3, equivalent resistance R3, and equivalent capacitor C3 between the W and U terminals based on the voltage measurement value 80 between the W and U terminals using the method described above. 3 is stored in the storage unit 8 as analysis data 83.
  • the analysis unit 5 analyzes the three-phase winding 11 as shown in FIG. Equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and equivalent resistances Ru, Rv, Rw when expressed by the equivalent circuit 11A shown in FIG. (Step S7).
  • the analysis result information generating unit 6 generates the analysis result information 86 based on the fourth analysis data 84 calculated in step S7 using the method described above, and stores it in the storage unit 8 (step S8). Thereafter, the display device 7 displays the analysis result information 86 generated in step S8 on the screen, for example, as shown in FIGS. 11A to 11D (step S9). This completes a series of processes related to the abnormality determination support function.
  • the test device 1 applies a test voltage between the UV terminal, between the VW terminal, and between the WU terminal among the three terminals Pu, Pv, and Pw of the three-phase winding 11. Based on the transient response of the voltage between each terminal when applied, the electrical characteristics between the UV terminals (L1, R1, C1), the electrical characteristics between the V and W terminals (L2, R2, C2), Then, the electrical characteristics (L3, R3, C3) between the W and U terminals are measured, and first analysis data 81, second analysis data 82, and third analysis data 83 are generated.
  • the test apparatus 1 analyzes the three-phase winding 11 into the equivalent structure shown in FIG.
  • Parameters (equivalent inductors Lu, Lv, Lw, equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and equivalent resistances Ru, Rv, Rw) when represented by the circuit 11A are calculated.
  • the test device 1 generates and outputs analysis result information 86 based on the calculated parameters of the equivalent circuit 11A.
  • the test device 1 calculates parameters corresponding to each of the windings 11u, 11v, and 11w that constitute the three-phase winding 11 to be tested, and generates and outputs the analysis result information 86 based on these parameters. . According to this, by referring to the analysis result information 86, the user can easily determine which phase winding among the windings 11u, 11v, and 11w of the three-phase winding 11 is abnormal. becomes possible.
  • the test device 1 measures the electrical characteristics between the UV terminals (L1, R1, C1), the electrical characteristics between the V and W terminals (L2, R2, C2), and the electrical characteristics between the W and U terminals. Electrical characteristics (L3, R3, C3) and parameters when the three-phase winding 11 is represented by the equivalent circuit 11A shown in FIG. The three-phase winding 11 is represented by the equivalent circuit 11A shown in FIG. Calculate the parameters when
  • the first analysis data 81, the second analysis data 82, and the third analysis data are added to the above equations (4) to (12) as the correspondence information 85 stored in the storage unit 8 in advance.
  • the parameters expressed by the equivalent circuit 11A can be easily calculated, so that the calculation load of the program processing by the analysis section 5 can be reduced.
  • the test apparatus 1 normalizes the values of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu, and the equivalent resistances Ru, Rv, Rw in the equivalent circuit 11A.
  • the analysis result information 86 By generating the analysis result information 86 based on the converted values, the user can more easily determine whether or not there is an abnormality in the three-phase winding 11.
  • the test device 1 converts the normalized value into an evaluation point and generates the analysis result information 86, so that the user can determine whether or not there is an abnormality in the three-phase winding 11. This enables more intuitive discrimination.
  • the output unit 7 is a display device, but the output unit 7 is not limited to this.
  • a communication circuit that transmits the first analysis data 81, second analysis data 82, third analysis data 83, fourth analysis data 84, analysis result information 86, etc. to the processing device by wire or wirelessly, and is connected to the test device 1. Even if it includes a circuit etc. that writes data such as the first analysis data 81, the second analysis data 82, the third analysis data 83, the fourth analysis data 84, and the analysis result information 86 to the storage device (memory card etc.) good.
  • the analysis result information 86 may be generated by measuring each winding individually and directly calculating the equivalent inductance value and equivalent resistance value of each winding.
  • the value of the normalized equivalent inductance can be used instead of the value obtained by dividing the normalized equivalent inductance value by the normalized equivalent resistance value.
  • the analysis result information 86 may be a value obtained by selecting one to three types of the normalized equivalent resistance value and the normalized equivalent capacitor value and any combination of multiplication and division.
  • the test apparatus 1 (analysis unit 5) operates the selection circuit 12 (switches SWa, Swb)
  • the present invention is not limited to this.
  • the user may manually operate the selection circuit 12 to switch the connection destinations of the external terminals T1 and T2 of the test device 1, or an information processing device (PC, tablet terminal, etc.) provided outside the test device 1 may be used.
  • the selection circuit 12 may be operated together with the test device 1 to switch the connection destinations of the external terminals T1 and T2 of the test device 1.
  • the above-mentioned flowchart shows an example for explaining the operation, and is not limited thereto. That is, the steps shown in each figure of the flowchart are specific examples, and the flowchart is not limited to this flow. For example, the order of some processes may be changed, other processes may be inserted between each process, or some processes may be performed in parallel.
  • the fourth analysis data 84 may be obtained by calculating at least one of the equivalent inductors Lu, Lv, Lw, the equivalent resistances Ru, Rv, Rw, and the equivalent capacitors Cuv, Cvw, Cwu.
  • the equivalent inductors Lu, Lv, and Lw may be used as the fourth analysis data 84, or only the equivalent resistances Ru, Rv, and Rw may be used as the fourth analysis data 84.
  • the equivalent inductors Lu, Lv, Lw and the equivalent resistances Ru, Rv, Rw may be used as the fourth analysis data 84.

Landscapes

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Abstract

試験対象の巻線の異常の有無をユーザが容易に判別できるようにする。　試験装置（１）は、３相巻線（１１）の３つの端子（Ｐｕ，Ｐｖ，Ｐｗ）のうちＵ－Ｖ端子間、Ｖ－Ｗ端子間、およびＷ－Ｕ端子間に試験電圧を印加したときの各端子間の電圧に基づいて、Ｕ－Ｖ端子間の電気的特性、Ｖ－Ｗ端子間の電気的特性、およびＷ－Ｕ端子間の電気的特性を測定し、第１解析データ（８１）、第２解析データ（８２）、および第３解析データ（８３）を生成する。試験装置（１）は、測定した各端子間の電気的特性を含む第１解析データ（８１）、第２解析データ（８２）、および第３解析データ（８３）に基づいて、３相巻線（１１）を等価回路（１１Ａ）によって表したときのパラメータである等価インダクタ（Ｌｕ，Ｌｖ，Ｌｗ）、等価キャパシタ（Ｃｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ）、および等価抵抗（Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ）の少なくとも一つを算出する。試験装置（１）は、算出した等価回路（１１Ａ）のパラメータに基づいて解析結果情報（８６）を生成し、出力する。

Description

試験装置および試験方法
　本発明は、試験装置および試験方法に関し、例えば、電動機および発電機などの回転機や変圧器等の、巻線（コイル）を含む部品および製品の巻線の特性を測定するための試験装置および試験方法に関する。
　従来、電動機および発電機などの回転機の巻線の特性を測定するための試験装置として、試験対象の巻線にインパルス電圧を印加したときの電圧の変化に基づいて、当該巻線と試験装置の内部回路とから構成される等価回路におけるインダクタンスＬ、キャパシタンスＣ、およびレジスタンス（抵抗値）Ｒを測定するインパルス巻線試験装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
　また、回転機等のＹ結線（スター接続）された３相（Ｕ相，Ｖ相，Ｗ相）のコイルの異常の有無を診断する従来技術として、インパルス巻線試験装置によって２つの相（Ｕ－Ｖ相，Ｖ－Ｗ相，Ｗ－Ｕ相）のコイル間にパルス電圧を印加したときの当該コイル間に発生する電圧を測定し、複数の異なる２つのコイル間の電圧の測定波形を比較して、測定波形の一致度合を調べることにより、巻線の異常の有無を判別する方法が知られている（例えば、特許文献２参照）。
特許第４５０８２１１号公報 特開平０９－２５７８６２号公報
　しかしながら、特許文献２に代表される従来の巻線（コイル）の絶縁状態を診断する方法では、２つの相（Ｕ－Ｖ相，Ｖ－Ｗ相，Ｗ－Ｕ相）の巻線間の測定波形同士の比較結果を用いるため、ユーザは、３相（Ｕ，Ｖ，Ｗ）の巻線のうちどの相の巻線に異常があるのかを直観的に判別し難い。また、測定波形の一致度合いを面積などの数値に変換してユーザに提示する方法も従来から使用されているが、一部の巻線に不良があった場合であっても数値間の差が小さいため、ユーザは異常の有無を判別し難い。
　本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、試験対象の巻線の異常の有無をユーザが容易に判別できるようにすることを目的とする。
　本発明の代表的な実施の形態に係る試験装置は、第１外部端子および第２外部端子と、電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、記憶部と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に接続された試験対象物の電気的特性を解析し、解析データとして前記記憶部に記憶する解析部と、前記解析データに基づいて、前記試験対象物の解析結果情報を生成し、前記記憶部に記憶する解析結果情報生成部と、前記記憶部に記憶されている前記解析結果情報を出力する出力部と、を有し、前記試験対象物が、互いにＹ結線された、第１巻線、第２巻線、および第３巻線を含む３相巻線であって、前記３相巻線を等価回路によって表した場合において、前記等価回路は、前記第１巻線の一方の端子、前記第２巻線の一方の端子、および前記第３巻線の一方の端子が共通に接続された中性点と前記第１巻線の他方の端子との間に直列に接続された第１等価インダクタおよび第１等価抵抗と、前記中性点と前記第２巻線の他方の端子との間に直列に接続された第２等価インダクタおよび第２等価抵抗と、前記中性点と前記第３巻線の他方の端子との間に直列に接続された第３等価インダクタおよび第３等価抵抗と、前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子との間に接続された第１等価キャパシタと、前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子との間に接続された第２等価キャパシタと、前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子との間に接続された第３等価キャパシタと、を含み、前記解析部は、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第１解析データとして前記記憶部に記憶し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第２解析データとして前記記憶部に記憶し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第３解析データとして前記記憶部に記憶し、前記解析部は、前記第１解析データ、前記第２解析データ、および前記第３解析データに基づいて、前記第１乃至第３等価インダクタの値と、前記第１乃至第３等価抵抗の値と、前記第１乃至第３等価キャパシタの値との少なくとも一つを算出し、第４解析データとして前記記憶部に記憶し、前記解析結果情報生成部は、前記記憶部に記憶されている前記第４解析データに基づいて、前記３相巻線に関する前記解析結果情報を生成することを特徴とする。
　本発明に係る試験装置によれば、試験対象の巻線の異常の有無をユーザが容易に判別することが可能となる。
実施の形態に係る試験装置の構成を示す図である。 ３相巻線と試験装置の接続の一例を示す図である。 試験対象の３相巻線の等価回路を示す図である。 ３相巻線のＵ相巻線の端子とＶ相巻線の端子との間に電圧を印加したときの等価回路を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを正規化した値を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを正規化した値を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを正規化した値を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータを正規化した値を解析結果情報とした場合の別の一例を示す図である。 ３相巻線の等価回路のパラメータに基づく評価点を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の２つの端子間のパラメータに基づく値を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 ３相巻線の２つの端子間のパラメータに基づく評価点を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。 試験装置の表示装置における解析結果情報の表示の一例を示す図である。 試験装置の表示装置における解析結果情報の表示の一例を示す図である。 試験装置の表示装置における解析結果情報の表示の一例を示す図である。 試験装置の表示装置における解析結果情報の表示の一例を示す図である。 試験装置による異常判別支援機能に係る処理の流れを示すフローチャートである。
１．実施の形態の概要
　先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。なお、以下の説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の参照符号を、括弧を付して記載している。
　〔１〕本発明の代表的な実施の形態に係る試験装置（１）は、第１外部端子（Ｔ１）および第２外部端子（Ｔ２）と、電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路（２）と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部（４）と、記憶部（８）と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に接続された試験対象物（１１）の電気的特性を解析し、解析データとして前記記憶部に記憶する解析部（５）と、前記解析データに基づいて、前記試験対象物の解析結果情報を生成し、前記記憶部に記憶する解析結果情報生成部（６）と、前記記憶部に記憶されている前記解析結果情報を出力する出力部（７）と、を有し、前記試験対象物が、互いにＹ結線された、第１巻線（１１ｕ）、第２巻線（１１ｖ）、および第３巻線（１１ｗ）を含む３相巻線であって、前記３相巻線を等価回路（１１Ａ）によって表した場合において、前記等価回路は、前記第１巻線の一方の端子、前記第２巻線の一方の端子、および前記第３巻線の一方の端子が共通に接続された中性点（Ｐｍ）と前記第１巻線の他方の端子（Ｐｕ）との間に直列に接続された第１等価インダクタ（Ｌｕ）および第１等価抵抗（Ｒｕ）と、前記中性点と前記第２巻線の他方の端子（Ｐｗ）との間に直列に接続された第２等価インダクタ（Ｌｖ）および第２等価抵抗（Ｒｖ）と、前記中性点と前記第３巻線の他方の端子（Ｐｗ）との間に直列に接続された第３等価インダクタ（Ｌｗ）および第３等価抵抗（Ｒｗ）と、前記第１巻線の前記他方の端子（Ｐｕ）と前記第２巻線の前記他方の端子（Ｐｖ）との間に接続された第１等価キャパシタ（Ｃｕｖ）と、前記第２巻線の前記他方の端子（Ｐｖ）と前記第３巻線の前記他方の端子（Ｐｗ）との間に接続された第２等価キャパシタ（Ｃｖｗ）と、前記第３巻線の前記他方の端子（Ｐｗ）と前記第１巻線の前記他方の端子（Ｐｕ）との間に接続された第３等価キャパシタ（Ｐｗｕ）と、を含み、前記解析部は、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間（Ｕ－Ｖ端子間）の等価インダクタ（Ｌ１）の値、等価キャパシタ（Ｃ１）の値、および等価抵抗（Ｒ１）の値の少なくとも一つを算出して第１解析データ（８１）として前記記憶部に記憶し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間（Ｖ－Ｗ端子間）の等価インダクタ（Ｌ２）の値、等価キャパシタ（Ｃ２）の値、および等価抵抗（Ｒ２）の値の少なくとも一つを算出して第２解析データ（８２）として前記記憶部に記憶し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間（Ｗ－Ｕ端子間）の等価インダクタ（Ｌ３）の値、等価キャパシタ（Ｃ３）の値、および等価抵抗（Ｒ３）の値の少なくとも一つを算出して第３解析データ（８３）として前記記憶部に記憶し、前記解析部は、前記第１解析データ、前記第２解析データ、および前記第３解析データに基づいて、前記第１乃至第３等価インダクタの値と、前記第１乃至第３等価抵抗の値と、前記第１乃至第３等価キャパシタの値との少なくとも一つを算出し、第４解析データ（８４）として前記記憶部に記憶し、前記解析結果情報生成部は、前記記憶部に記憶されている前記第４解析データに基づいて、前記３相巻線に関する前記解析結果情報を生成することを特徴とする。
　〔２〕上記〔１〕に記載の試験装置において、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値と前記第１乃至第３解析データとの関係を示す対応関係情報（８５、下記式（４）乃至（１２））が記憶され、前記解析部は、前記対応関係情報と前記第１乃至第３解析データとに基づいて、第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値を算出してもよい。
　〔３〕上記〔１〕または〔２〕に記載の試験装置において、前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値の少なくとも一つを前記解析結果情報としてもよい（例えば、図５Ａ乃至図５Ｃ参照）。
　〔４〕上記〔１〕または〔２〕に記載の試験装置において、前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値の少なくとも一つを正規化した値を算出し、前記解析結果情報としてもよい（例えば、図６Ａ乃至図６Ｃ参照）。
　〔５〕上記〔４〕に記載の試験装置において、前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値を最大値が１となるように正規化し、前記第１乃至第３等価抵抗の値を最小値が１となるように正規化し、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値を最大値が１となるように正規化してもよい。
　〔６〕上記〔３〕または〔４〕に記載の試験装置において、前記解析結果情報生成部は、正規化した前記第１乃至第３等価インダクタの値と正規化した前記第１乃至第３等価抵抗の値との比を前記解析結果情報としてもよい（例えば、図７参照）。
　〔７〕上記〔６〕に記載の試験装置において、前記解析結果情報生成部は、前記比を、所定値を基準とした評価点に変換し、前記解析結果情報としてもよい（例えば、図８，図１１Ａ乃至図１１Ｄ参照）。
　〔８〕上記〔１〕に記載の試験装置において、前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値の少なくとも一つに基づいて、前記第１巻線、前記第２巻線、および前記第３巻線の平衡状態を示す指標を算出し、前記解析結果情報としてもよい。
　〔９〕上記〔１〕乃至〔７〕の何れかの試験装置において、前記出力部は、表示装置（７）を含み、前記出力部は、前記解析結果情報を前記表示装置の画面に表示してもよい。
　〔１０〕本発明の代表的な実施の形態に係る試験方法は、第１外部端子および第２外部端子と、電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、記憶部と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に接続された試験対象物の電気的特性を解析し、解析データを前記記憶部に記憶する解析部と、前記解析データに基づいて、前記試験対象物の解析結果情報を生成する解析結果情報生成部と、前記解析結果情報を出力する出力部と、を有する試験装置を用いた、前記試験対象物としての、互いにＹ結線された、第１巻線、第２巻線、および第３巻線を含む３相巻線の試験方法である。本試験方法において、前記３相巻線を等価回路（１１Ａ）によって表した場合において、前記等価回路は、前記第１巻線の一方の端子、前記第２巻線の一方の端子、および前記第３巻線の一方の端子が共通に接続された中性点と前記第１巻線の他方の端子との間に直列に接続された第１等価インダクタおよび第１等価抵抗と、前記中性点と前記第２巻線の他方の端子との間に直列に接続された第２等価インダクタおよび第２等価抵抗と、前記中性点と前記第３巻線の他方の端子との間に直列に接続された第３等価インダクタおよび第３等価抵抗と、前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子との間に接続された第１等価キャパシタと、前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子との間に接続された第２等価キャパシタと、前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子との間に接続された第３等価キャパシタと、を含む。本試験方法は、前記解析部が、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第１解析データとして前記記憶部に記憶する第１ステップ（Ｓ４）と、前記解析部が、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第２解析データとして前記記憶部に記憶する第２ステップ（Ｓ５）と、前記解析部が、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第３解析データとして前記記憶部に記憶する第３ステップ（Ｓ６）と、前記解析部が、前記記憶部に記憶されている、前記第１解析データ、前記第２解析データ、および前記第３解析データに基づいて、前記第１乃至第３等価インダクタの値と、前記第１乃至第３等価抵抗の値と、前記第１乃至第３等価キャパシタの値との少なくとも一つを算出して第４解析データとして前記記憶部に記憶する第４ステップ（Ｓ７）と、前記解析結果情報生成部が、前記記憶部に記憶されている前記第４解析データに基づいて、前記３相巻線に関する前記解析結果情報を生成し、前記記憶部に記憶する第５ステップ（Ｓ８）と、前記出力部が、前記記憶部に記憶されている前記解析結果情報を出力する第６ステップ（Ｓ９）と、を含むことを特徴とする。
２．実施の形態の具体例
　以下、本発明の実施の形態の具体例について図を参照して説明する。なお、以下の説明において、各実施の形態において共通する構成要素には同一の参照符号を付し、繰り返しの説明を省略する。
　図１は、実施の形態に係る試験装置１の構成を示す図である。
　図１に示す試験装置１は、電動機および発電機等の回転機や変圧器等の電気機器を構成する巻線（コイル）の電気的特性を解析する装置である。例えば、試験装置１は、試験対象の巻線に電圧（インパルス電圧）を印加したときの電圧の変化に基づいて、試験対象の巻線に関するパラメータである等価インダクタ、等価キャパシタ、および等価抵抗の少なくとも一つの値を算出するインパルス巻線試験装置である。
　以下の説明において、等価インダクタの値とは等価インダクタンスを示し、等価キャパシタの値とは、等価キャパシタンスを示すものとする。
　試験装置１は、上述した巻線に関するパラメータを算出する機能に加え、Ｙ結線（スター接続）された３相（Ｕ相，Ｖ相，Ｗ相）の巻線の異常の有無をユーザが判別できるようにするための異常判別支援機能を有している。
　試験装置１は、上述した機能を実現するための機能部として、例えば、図１に示すように、外部端子Ｔ１，Ｔ２、電圧生成回路２、指示受付部３、電圧測定部４、解析部５、解析結果情報生成部６、出力部７、および記憶部８を有している。
　外部端子Ｔ１，Ｔ２は、試験対象物（ＤＵＴ）としての巻線１１を接続するための端子である。
　本実施の形態では、一例として、巻線１１がスター接続された３相（Ｕ相，Ｖ相，Ｗ相）の巻線（以下、「３相巻線１１」とも称する。）であるとして説明する。３相巻線１１は、例えば、回転機（例えば、モータ）のステータである。
　例えば、外部端子Ｔ１には、３相巻線１１における何れか一つの巻線の端子が接続され、外部端子Ｔ２には、３相巻線１１におけるその他の一つの巻線の端子が接続される。
　電圧生成回路２は、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に接続された試験対象の３相巻線１１に対して所望の電圧（インパルス電圧）を印加するための回路である。以下、３相巻線１１の試験時に電圧生成回路２から出力されるインパルス電圧を「試験電圧」とも称する。
　電圧生成回路２は、後述する電圧指令値に基づいて試験電圧を生成し、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間に出力する。電圧生成回路２は、例えば、インパルス電圧印加用キャパシタ（不図示）を有しており、図示されない直流電源によってインパルス電圧印加用キャパシタを電圧指令値に基づく電圧になるまで充電し、その後、インパルス電圧印加用キャパシタを放電することによって、外部端子Ｔ１，Ｔ２間に試験電圧を発生させる。
　指示受付部３は、試験装置１に対する指示を受け付ける機能部である。指示受付部３は、例えば、ユーザによる試験装置１への操作を受け付ける操作ボタンやタッチパネル等の入力インターフェース装置と、ＣＰＵによるプログラム処理とによって実現されている。
　指示受付部３は、例えば、外部の機器と有線または無線により通信を行うための通信回路を有していてもよい。例えば、指示受付部３は、試験装置１と有線または無線のネットワークによって接続された情報処理装置（例えば、ＰＣやタブレット端末等）から送信された信号を通信回路によって受信し、受信した信号に応じた処理の実行を他の機能部に対して指示してもよい。
　指示受付部３は、ＤＵＴの解析の実行を示す指示を受ける。例えば、指示受付部３は、外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電気的特性の測定の実行を示す指示を受け付ける。また、指示受付部３は、３相巻線１１の異常判別（異常判別支援機能）の実行を示す指示を受け付ける。
　指示受付部３は、上記指示とともに、または上記指示とは別に、試験条件の情報を受け付ける。試験条件の情報は、例えば、試験電圧の大きさ（振幅）を指定する電圧指令値、試験時に試験電圧（インパルス電圧）を出力する回数を指定する指定出力回数、および、後述するサンプリング周波数の情報等を含む。
　上述した指示や試験条件の情報等は、指示受付部３としての上述した操作ボタンやタッチパネル等に対するユーザの操作、または通信回路によって受信した信号等によって入力される。
　電圧測定部４は、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の電圧（端子間電圧）Ｖを測定する機能部である。電圧測定部４は、電圧Ｖの測定値（電圧測定値）８０を記憶部８に記憶する。
　具体的に、電圧測定部４は、電圧Ｖを所定のサンプリング周期でサンプリングすることにより、電圧Ｖの測定値を取得する。電圧測定部４は、例えば、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の電圧Ｖを分圧する抵抗分圧回路（不図示）と、抵抗分圧回路によって分圧された電圧を所定のサンプリング周期でデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路（不図示）と、を含んで構成されている。
　電圧測定部４は、例えば、電圧Ｖを所定のサンプリング周期でサンプリングすることにより、電圧Ｖの測定値（サンプリングデータ）の時系列データを取得し、電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。なお、サンプリング周期は、例えば、ユーザが指示受付部３を操作することによって設定してもよいし、外部装置が有線または無線の通信によって指示受付部３を介して設定してもよい。
　解析部５は、電圧測定部４によって測定された電圧Ｖに基づいて、ＤＵＴ１１の電気的特性を解析する機能部である。解析部５は、ＤＵＴ１１に試験電圧（インパルス電圧）を印加したときの外部端子Ｔ１，Ｔ２間に発生した電圧Ｖの過渡応答特性に基づいて、公知の解析手法により、ＤＵＴ１１の電気的特性に関するパラメータである等価インダクタ、等価キャパシタ、および等価抵抗の少なくとも一つの値を算出する。解析部５は、解析した電気的特性に関するパラメータ（等価インダクタ、等価キャパシタ、および等価抵抗等）を解析データとして記憶部８に記憶する。なお、解析部５による電気的特性の解析手法の詳細については、後述する。
　解析結果情報生成部６は、解析部５によって生成された解析データに基づいて、ＤＵＴの解析結果情報８６を生成し、記憶部８に記憶する。なお、解析結果情報生成部６による解析結果情報８６の生成手法の詳細については、後述する。
　記憶部８は、試験装置１がインパルス巻線試験装置として機能するためのプログラムや各種パラメータ、試験対象の巻線１１の解析結果等を記憶するための機能部である。記憶部８には、例えば、上述した電圧測定値８０、解析結果情報８６、および試験条件（電圧指令値、指定出力回数、サンプリング周波数等）の情報の他に、後述する第１解析データ８１、第２解析データ８２、第３解析データ８３、第４解析データ８４および対応関係情報８５等が記憶される。
　出力部７は、試験条件を設定するための情報や解析結果情報８６等を出力する機能部である。出力部７は、例えば、液晶ディスプレイ等の表示装置によって実現されている。以下の説明では、出力部７を「表示装置７」とも称する。表示装置７は、試験条件を設定するための情報や解析結果情報８６等を画面に表示する。また、表示装置７は、電圧測定部４によって測定された電圧の過渡応答特性をグラフとして画面に表示してもよい。
　上述した解析部５、解析結果情報生成部６、および記憶部８は、例えば、プログラム処理装置によって実現されている。具体的には、ＣＰＵ等のプロセッサと、ＲＡＭ、ＲＯＭ等の各種記憶装置と、カウンタ（タイマ）、Ａ／Ｄ変換回路、Ｄ／Ａ変換回路、クロック発生回路、および入出力インターフェース回路等の周辺回路とがバスや専用線を介して互いに接続された構成を有するプログラム処理装置（例えばマイクロコントローラ）において、プロセッサがメモリに記憶されているプログラムに従って各種演算処理を実行し、その処理結果に基づいて上記周辺回路を制御することによって、解析部５、解析結果情報生成部６、および記憶部８が実現される。
　上述したように、試験装置１は、ＤＵＴとしての３相巻線１１の異常の有無をユーザが判別できるようにするための異常判別支援機能を有している。ここでは、３相巻線の異常の一例として、３相巻線１１の各巻線における互いに隣り合う層（レイヤー）同士の短絡（以下、「層間短絡」とも称する。）の有無を判別する場合について説明する。
　図２は、試験対象の３相巻線１１と試験装置１の接続の一例を示す図である。
　図２に示すように、３相巻線１１は、第１巻線（コイル）１１ｕ、第２巻線１１ｖ，第３巻線１１ｗを含む。以下、第１巻線１１ｕを「Ｕ相巻線１１ｕ」、第２巻線１１ｖを「Ｖ相巻線１１ｖ」、第３巻線１１ｗを「Ｗ相巻線１１ｗ」と、それぞれ称する場合がある。
　Ｕ相巻線１１ｕ、Ｖ相巻線１１ｖ、Ｗ相巻線１１ｗはそれぞれ、２つの端子を有している。３相巻線１１において、Ｕ相巻線１１ｕの一方の端子、Ｖ相巻線１１ｖの一方の端子、およびＷ相巻線１１ｗの一方の端子が共通に接続されることにより、Ｕ相巻線１１ｕ、Ｖ相巻線１１ｖ、およびＷ相巻線１１ｗがスター接続（Ｙ結線）されている。
　以下、Ｕ相巻線１１ｕの一方の端子、Ｖ相巻線１１ｖの一方の端子、およびＷ相巻線１１ｗの一方の端子が共通に接続されているノードを「中性点Ｐｍ」と称する。また、Ｕ相巻線１１ｕの他方の端子を「端子Ｐｕ」、Ｖ相巻線１１ｖの他方の端子を「端子Ｐｖ」、Ｗ相巻線１１ｗの他方の端子を「端子Ｐｗ」と、それぞれ称する。
　異常判別支援機能を実行する場合、試験装置１の外部端子Ｔ１，Ｔ２間に、３相巻線１１を構成するＵ相巻線１１ｕ，Ｖ相巻線１１ｖ，およびＷ相巻線１１ｗのうち２つの巻線の端子をそれぞれ接続する。そして、試験装置１は、２つの巻線間に試験電圧（インパルス電圧）を印加したときの外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの過渡応答特性に基づいて、２つの巻線間（外部端子Ｔ１，Ｔ２間）の電気的特性を解析する。具体的には、試験装置１は、Ｕ相巻線１１ｕ，Ｖ相巻線１１ｖ，Ｗ相巻線１１ｗのうち２つの巻線の組み合わせ（Ｕ－Ｖ，Ｖ－Ｗ，Ｗ－Ｕ）毎に、２つの巻線間の電気的特性を解析し、第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３を生成する。
　Ｕ相巻線１１ｕ，Ｖ相巻線１１ｖ，Ｗ相巻線１１ｗの試験装置１の外部端子Ｔ１，Ｔ２への接続の切り替えは、ユーザが手作業によって行ってもよいし、図２に示すように、選択回路（スキャナ）１２によって行ってもよい。
　選択回路１２は、試験装置１と試験対象の３相巻線１１との間に設けられ、試験装置１の外部端子Ｔ１，Ｔ２を、３相巻線１１の端子Ｐｕ，Ｐｖ，Ｐｗのうち何れか２つの端子に接続する回路である。
　図２に示すように、選択回路１２は、例えば、外部端子Ｐ１～Ｐ６，Ｐａ，Ｐｂと、スイッチＳＷａ，ＳＷｂとを有する。例えば、外部端子Ｐａは、試験装置１の外部端子Ｔ１に接続され、外部端子Ｐｂは、試験装置１の外部端子Ｔ２に接続される。外部端子Ｐ１，Ｐ４は、Ｕ相巻線１１ｕの端子Ｐｕに接続され、外部端子Ｐ２，Ｐ５は、Ｖ相巻線１１ｖの端子Ｐｖに接続され、外部端子Ｐ３，Ｐ６は、Ｗ相巻線１１ｗの端子Ｐｗに接続される。
　スイッチＳＷａは、外部端子Ｐａを外部端子Ｐ１～Ｐ３の何れか一つに接続する。スイッチＳＷｂは、外部端子Ｐｂを外部端子Ｐ４～Ｐ６の何れか一つに接続する。スイッチＳＷａ，ＳＷｂは、例えば、半導体スイッチ、リレー、機械式スイッチ等によって実現されている。
　スイッチＳＷａ，ＳＷｂの接続先の切り替え制御は、例えば、ユーザによる手動操作によって行われてもよいし、試験装置１の指示受付部３または解析部５からの信号によって行われてもよい。本実施の形態では、一例として、試験装置１の解析部５からの信号によってスイッチＳＷａ，ＳＷｂが制御されるものとして説明する。
　試験装置１は、異常判別支援機能において、３相巻線１１が所定の等価回路によって表されると仮定した上で、上述した３相巻線１１の２つの巻線間の電気的特性の第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３に基づいて上記等価回路のパラメータを算出し、当該パラメータに基づいて解析結果情報８６を生成する。
　図３は、試験対象の３相巻線１１の等価回路を示す図である。
　図３に示すように、試験装置１において、３相巻線１１を、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕを含む等価回路１１Ａによって表す。
　図３に示すように、等価インダクタＬｕと抵抗Ｒｕは、Ｕ相巻線１１ｕの端子Ｐｕと中性点Ｐｍとの間に直列に接続されている。等価インダクタＬｖと抵抗Ｒｖは、Ｖ相巻線１１ｖの端子Ｐｖと中性点Ｐｍとの間に直列に接続されている。等価インダクタＬｗと抵抗Ｒｗは、Ｗ相巻線１１ｗの端子Ｐｗと中性点Ｐｍとの間に直列に接続されている。
　等価キャパシタＣｕｖは、Ｕ相巻線１１ｕの端子ＰｕとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖとの間に接続されている。等価キャパシタＣｖｗは、Ｖ相巻線１１ｖの端子ＰｖとＷ相巻線１１ｗの端子Ｐｗとの間に接続されている。等価キャパシタＣｗｕは、Ｗ相巻線１１ｗの端子ＰｗとＵ相巻線１１ｕの端子Ｐｕとの間に接続されている。
　等価回路１１Ａにおいて、Ｕ相巻線１１ｕの端子ＰｕとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖとの間に試験電圧（インパルス電圧）を印加する場合を考える。
　図４は、Ｕ相巻線１１ｕの端子ＰｕとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖとの間に電圧を印加したときの等価回路１１Ａを示す図である。
　理想的な３相巻線（ステータ）の場合、等価回路１１Ａにおける２つの端子間に接続された等価素子の大きさは同一となる。そのため、Ｕ相巻線１１ｕの端子ＰｕとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖの間（Ｕ－Ｖ端子間）に電位差を加えたとき、Ｗ相側の等価インダクタＬｗおよび等価抵抗Ｒｗの両端の電圧はゼロとなる。これにより、図４に示すように、等価回路１１ＡにおいてＷ相側の等価インダクタＬｗおよび等価抵抗Ｒｗを無視することができる。
　したがって、Ｕ相巻線１１ｕの端子ＰｖとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖとの間（Ｕ－Ｖ端子間）に試験電圧を印加した場合、下記式（１）が成り立つ。ここで、Ｌ１はＵ－Ｖ端子間の等価インダクタ，Ｒ１はＵ－Ｖ端子間の等価抵抗，Ｃ１はＵ－Ｖ端子間の等価キャパシタである。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
　同様に、Ｖ相巻線１１ｖの端子ＰｖとＷ相巻線１１ｗの端子Ｐｗとの間（Ｖ－Ｗ端子間）に電位差を加えたとき、等価回路１１ＡにおいてＵ相側の等価インダクタＬｕおよび等価抵抗Ｒｕを無視することができるので、下記式（２）が成り立つ。また、Ｗ相巻線１１ｗの端子ＰｗとＵ相巻線１１ｕの端子Ｐｕとの間（Ｗ－Ｕ端子間）に電位差を加えたとき、等価回路１１ＡにおいてＶ相側の等価インダクタＬｖおよび等価抵抗Ｒｖを無視することができるので、下記式（３）が成り立つ。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
　ここで、Ｌ２はＶ－Ｗ端子間の等価インダクタ，Ｒ２はＶ－Ｗ端子間の等価抵抗，Ｃ２はＶ－Ｗ端子間の等価キャパシタ、Ｌ３はＷ－Ｕ端子間の等価インダクタ，Ｒ３はＷ－Ｕ端子間の等価抵抗，Ｃ３はＷ－Ｕ端子間の等価キャパシタである。
　上記式（１）乃至（３）に基づいて、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕのそれぞれについて解くと、下記式（４）乃至（１２）が得られる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000005
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000006
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000007
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000008
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000009
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000010
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000011
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000012
　ここで、３相巻線１１の２つの端子間の等価インダクタＬ１，Ｌ２，Ｌ３、等価抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、および等価キャパシタＣ１，Ｃ２，Ｃ３の値は、当該２つの端子間に試験電圧を印加したときの電圧Ｖの過渡応答特性に基づいて、公知のインパルス巻線試験装置と同様の解析手法により、算出することができる。
　したがって、試験装置１によって等価インダクタＬ１，Ｌ２，Ｌ３、等価抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、および等価キャパシタＣ１，Ｃ２，Ｃ３の各値を算出し、それらの値を上記式（４）乃至（１２）に代入することにより、等価回路１１Ａにおける等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値を算出することができる。そして、試験装置１は、算出した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値に基づいて解析結果情報８６を生成し、解析結果情報８６を表示装置７の画面に表示する。
　具体的には、異常判別支援機能において、先ず、試験装置１の解析部５が、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間にＵ相巻線１１ｕの端子ＰｕとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖとを接続したときの外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の等価インダクタＬ１の値、等価キャパシタＣ１の値、および等価抵抗Ｒ１の値の少なくとも一つを算出して、第１解析データ（Ｕ－Ｖ端子間）８１として記憶部８に記憶する。
　より具体的には、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間にＵ相巻線１１ｕの端子ＰｕとＶ相巻線１１ｖの端子Ｐｖとを接続した状態において、電圧生成回路２が試験電圧を外部端子Ｔ１，Ｔ２間（Ｕ－Ｖ端子間）に出力し、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖを測定し、電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。解析部５は、Ｕ－Ｖ端子間に試験電圧を印加したときの電圧測定値８０に基づいて、公知の解析手法により、Ｕ－Ｖ端子間の等価インダクタＬ１，等価キャパシタＣ１，および等価抵抗Ｒ１の少なくとも一つを算出し、第１解析データ（Ｕ－Ｖ端子間）８１として記憶部８に記憶する。
　また、解析部５は、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間にＶ相巻線１１ｖの端子ＰｖとＷ相巻線１１ｗの端子Ｐｗとを接続したときの外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の等価インダクタＬ２の値、等価キャパシタＣ２の値、および等価抵抗Ｒ２の値の少なくとも一つを算出して、第２解析データ（Ｖ－Ｗ端子間）８２として記憶部８に記憶する。
　より具体的には、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間にＶ相巻線１１ｖの端子ＰｖとＷ相巻線１１ｗの端子Ｐｗとを接続した状態において、電圧生成回路２が試験電圧を外部端子Ｔ１，Ｔ２間（Ｖ－Ｗ端子間）に出力し、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の試験電圧Ｖを測定し、電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。解析部５は、Ｖ－Ｗ端子間に試験電圧を印加したときの電圧測定値８０に基づいて、公知の解析手法により、Ｖ－Ｗ端子間の等価インダクタＬ２，等価キャパシタＣ２，および等価抵抗Ｒ２の少なくとも一つを算出し、第２解析データ（Ｖ－Ｗ端子間）８２として記憶部８に記憶する。
　更に、解析部５は、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間にＷ相巻線１１ｗの端子ＰｗとＵ相巻線１１ｕの端子Ｐｕとを接続したときの外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間の等価インダクタＬ３の値、等価キャパシタＣ３の値、および等価抵抗Ｒ３の値の少なくとも一つを算出して、第３解析データ（Ｗ－Ｕ端子間）８３として記憶部８に記憶する。
　より具体的には、外部端子Ｔ１と外部端子Ｔ２との間にＷ相巻線１１ｗの端子ＰｗとＵ相巻線１１ｕの端子Ｐｕとを接続した状態において、電圧生成回路２が試験電圧を外部端子Ｔ１，Ｔ２間（Ｗ－Ｕ端子間）に出力し、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖを測定し、電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。解析部５は、Ｗ－Ｕ端子間に試験電圧を印加したときの電圧測定値８０に基づいて、公知の解析手法により、Ｗ－Ｕ端子間の等価インダクタＬ３，等価キャパシタＣ３，および等価抵抗Ｒ３の少なくとも一つを算出し、第３解析データ（Ｗ－Ｕ端子間）８３として記憶部８に記憶する。
　次に、解析部５は、第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３に基づいて、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値と、等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値と、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値との少なくとも一つを算出し、第４解析データ８４として記憶部８に記憶する。
　例えば、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕと第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３との関係を示す対応関係情報８５を、予め記憶部８に記憶させておく。対応関係情報８５は、例えば、上記式（４）乃至（１２）の情報である。
　解析部５は、対応関係情報８５と、第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３とに基づいて、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値を算出する。
　具体的には、解析部５は、記憶部８から読み出した対応関係情報８５としての上記式（４）乃至（１２）に、記憶部８から読み出した第１解析データ８１（Ｌ１，Ｒ１，Ｃ１）、第２解析データ８２（Ｌ２，Ｒ２，Ｃ２）、および第３解析データ８３（Ｌ３，Ｒ３，Ｃ３）を代入することにより、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値を算出し、第４解析データ８４として記憶部８に記憶する。
　異常判別支援機能において、解析結果情報生成部６は、記憶部８に記憶されている第４解析データ８４としての等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値に基づいて、解析結果情報８６を生成し、記憶部８に記憶する。
　例えば、解析結果情報生成部６は、第４解析データ８４としての等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの少なくとも一つの値を解析結果情報８６とする。表示装置７は、解析結果情報８６を画面に表示する。
　図５Ａ乃至図５Ｃは、３相巻線の等価回路のパラメータを解析結果情報８６とした場合の一例を示す図である。
　図５Ａには、試験電圧の振幅（電圧指令値）毎の、３相巻線１１が正常である場合の等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値と、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値とがそれぞれ示されている。図５Ｂには、試験電圧の振幅毎の、３相巻線１１が正常である場合の等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値と、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値とがそれぞれ示されている。図５Ｃには、試験電圧の振幅毎の、３相巻線１１が正常である場合の等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値と、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値とがそれぞれ示されている。
　図５Ａ乃至図５Ｃに示されるように、３相巻線１１が正常である場合、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの各値は略同一となり、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値は略同一となり、等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの各値は略同一となる。
　一方、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合、図５Ａおよび図５Ｃに示すように、Ｕ相側の等価インダクタＬｕおよび等価抵抗Ｒｕの値は、正常なＶ相側およびＷ相側の等価インダクタＬｖ，Ｌｗおよび等価抵抗Ｒｖ，Ｒｗの値から大きくずれる。
　したがって、試験装置１が等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの少なくとも一つを解析結果情報８６として表示装置７の画面に表示することにより、ユーザは、３相巻線１１に異常があるか否か、換言すれば、３相巻線１１のどの相の巻線に層間短絡があるか、を容易に判別することができる。
　図５Ａ乃至図５Ｃには、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値そのものを解析結果情報８６とする場合を例示したが、これに限られない。
　例えば、解析結果情報生成部６は、第４解析データ８４としての等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの少なくとも一つを正規化した値を算出し、解析結果情報８６としてもよい。より具体的には、解析結果情報生成部６は、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値を最大値が１となるように正規化し、等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値を最小値が１となるように正規化し、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値を最大値が１となるように正規化し、解析結果情報８６としてもよい。この場合の一例を図６Ａ乃至図６Ｃに示す。
　図６Ａ乃至図６Ｃは、３相巻線の等価回路のパラメータを正規化した値を解析結果情報８６とした場合の一例を示す図である。
　図６Ａには、試験電圧の振幅（電圧指令値）毎の、３相巻線１１が正常である場合の等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値を最大値が１となるように正規化した値と、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値を最大値が１となるように正規化した値とがそれぞれ示されている。図６Ｂには、試験電圧の振幅毎の、３相巻線１１が正常である場合の等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値を最大値が１となるように正規化し正規化した値と、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの値を最大値が１となるように正規化した値とがそれぞれ示されている。図６Ｃには、試験電圧の振幅毎の、３相巻線１１が正常である場合の等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値を最小値が１となるように正規化した値と、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値を最小値が１となるように正規化した値とがそれぞれ示されている。
　図６Ａ乃至図６Ｃに示されるように、試験電圧の振幅（電圧指令値）によらず、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗを正規化した値は略同一となり、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕを正規化した値は略同一となり、等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗを正規化した値は、略同一となる。
　３相巻線１１が正常である場合の等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗをそれぞれ正規化した値は、略“１”となる。
　一方、３相巻線１１のうちＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合、図６Ａおよび図６Ｃに示すように、Ｕ相側の等価インダクタＬｕおよび等価抵抗Ｒｕの値を正規化した値は、正常値である“１”に対して、大きくずれる。すなわち、層間短絡のあるＵ相側の等価インダクタＬｕが“１”より小さくなり、等価抵抗Ｒｕが“１”より大きくなる。このことは、等価回路の視点から見ると、層間短絡がある巻線の誘導性が低下し、層間短絡がある巻線の抵抗性が増加することにより、発熱が大きくなることを示唆している。
　したがって、試験装置１が等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの各値を正規化した値を解析結果情報８６として表示装置７の画面に表示することにより、ユーザは、３相巻線１１に異常があるか否かを、より容易に判別することができる。
　上述したように、３相巻線１１における層間短絡の有無により、等価インダクタおよび等価抵抗の値が大きく変化する。そこで、解析結果情報生成部６は、正規化した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値と正規化した等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値との比を解析結果情報８６としてもよい。例えば、解析結果情報生成部６は、正規化した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値（Ｌｕ＿ｎ，Ｌｖ＿ｎ，Ｌｗ＿ｎ）を正規化した等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値（Ｒｕ＿ｎ，Ｒｖ＿ｎ，Ｒｗ＿ｎ）によってそれぞれ除算して得られた値（Ｌｕ＿ｎ／Ｒｕ＿ｎ，Ｌｖ＿ｎ／Ｒｖ＿ｎ，Ｌｗ＿ｎ／Ｒｗ＿ｎ）を解析結果情報８６とする。この場合の一例を図７に示す。
　図７は、３相巻線１１の等価回路１１Ａのパラメータを正規化した値を解析結果情報８６とした場合の別の一例を示す図である。
　図７には、図６Ａに示した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗを正規化した値を、図６Ｃに示した等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗを正規化した値で除算した値が試験電圧毎に示されている。
　図７に示すように、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗを正規化した値と等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗを正規化した値との比を解析結果情報８６とすることにより、３相巻線１１における正常な相と異常な相との違いがより明確になるので、ユーザは、３相巻線１１における異常な相を容易に見つけ出すことが可能となる。
　また、３相巻線の等価回路のパラメータに基づく評価点を解析結果情報８６としてもよい。例えば、解析結果情報生成部６は、図７に示した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗを正規化した値と等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗを正規化した値との比を、所定値を基準とした評価点に変換し、解析結果情報８６としてもよい。
　例えば、上述した比の値の基準値を“１”とし、その基準値に対応する評価点を“１００点”とする。この場合、解析結果情報生成部６は、正規化した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値（Ｌｕ＿ｎ，Ｌｖ＿ｎ，Ｌｗ＿ｎ）を正規化した等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値（Ｒｕ＿ｎ，Ｒｖ＿ｎ，Ｒｗ＿ｎ）によってそれぞれ除算して得られた値（Ｌｕ＿ｎ／Ｒｕ＿ｎ，Ｌｖ＿ｎ／Ｒｖ＿ｎ，Ｌｗ＿ｎ／Ｒｗ＿ｎ）に“１００”を乗算して得られたそれぞれの値を“評価点”とし、これらの評価点を解析結果情報８６とする。この場合の一例を図８に示す。
　図８は、３相巻線の等価回路のパラメータに基づく評価点を解析結果情報とした場合の一例を示す図である。
　図８には、図７に示した値に“１００”を乗算して得られた値を評価点（点数）とした場合が示されている。
　図８から理解されるように、正常な３相巻線１１の場合、試験電圧の振幅（電圧指令値）によらず、すべての相の巻線において評価点が９６点以上となる。一方、Ｕ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合、正常なＶ相およびＷ相の評価点は９６点以上となるが、Ｕ相の評価点は５９乃至６６点となり、Ｕ相に異常があることが明確に理解される。
　このように、３相巻線の等価回路１１Ａのパラメータに基づく評価点を解析結果情報８６とすることにより、３相巻線１１における正常な相と異常な相との違いがより明確になるので、ユーザは、３相巻線１１における異常な相の有無を直観的に判別することが可能となる。
　更に、解析結果情報生成部６は、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの少なくとも一つに基づいて、Ｕ相巻線１１ｕ，Ｖ相巻線１１ｖ，およびＷ相巻線１１ｗの平衡状態を示す指標を算出してもよい。例えば、解析結果情報生成部６は、図７に示した、正規化した等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗの値（Ｌｕ＿ｎ，Ｌｖ＿ｎ，Ｌｗ＿ｎ）を正規化した等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値（Ｒｕ＿ｎ，Ｒｖ＿ｎ，Ｒｗ＿ｎ）によってそれぞれ除算して得られた値（Ｌｕ＿ｎ／Ｒｕ＿ｎ，Ｌｖ＿ｎ／Ｒｖ＿ｎ，Ｌｗ＿ｎ／Ｒｗ＿ｎ）の３相分の積に基づいて、別の評価点（以下、「３相バランス点数」とも称する。）を算出してもよい。
　例えば、解析結果情報生成部６は、図７に示した、３相巻線１１が正常であるときの、試験電圧が１００ＶにおけるＵ相の値（０．９９５）と、Ｖ相の値（０．９８５）と、Ｗ相の値（０．９９７）との積（０．９９５×０．９８５×０．９９７≒０．９７７）を算出する。そして、解析結果情報生成部６は、乗算によって得られた値（０．９７７）を、所定値（例えば、“１”＝１００点）を基準とした３相バランス点数（０．９７７×１００＝９７．７点）に変換し、解析結果情報８６とする。
　また、例えば、解析結果情報生成部６は、図７に示した、Ｕ相巻線１１ｕに層間短絡があるときの、試験電圧が１００ＶにおけるＵ相の値（０．６５７）と、Ｖ相の値（０．９７８）と、Ｗ相の値（１．０００）との積（０．６５７×０．９７８×１．０００≒０．６４３）を算出する。そして、解析結果情報生成部６は、乗算によって得られた値（０．６４３）を、所定値（例えば、“１”＝１００点）を基準とした３相バランス点数（０．６４３×１００＝６４．３点）に変換し、解析結果情報８６としてもよい。
　これによれば、ユーザは、３相バランス点数という一つの指標を確認するだけで、３相巻線１１が正常であるか否かをより容易且つ直観的に判別することができる。
　更に、３相バランス点数をレーティング（等級等）に変換して解析結果情報８６としてもよい。例えば、３相バランス点数の“１００点”をレーティング点数の“５”とし、３相バランス点数の“５０点”をレーティング点数の“０”と定義する。この場合において、３相巻線１１が正常であり、３相バランス点数“９７．７点”であるとき、（９７．７－５０）×５／５０＝４．７７より、レーティング点数は“４．７７”となる。一方、３相巻線の何れかの相の巻線に層間短絡があり、３相バランス点数“６４．３点”であるとき、（６４．３－５０）×５／５０＝１．４３より、レーティング点数は“１．４３”となる。
　なお、解析結果情報８６は、等価回路１１Ａにおけるパラメータ（Ｌｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ，Ｃｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ）に基づいて生成される場合に限定されない。例えば、上述した３相巻線１１の２つの端子間のパラメータ（Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３）に基づいて解析結果情報８６を生成してもよい。
　図９は、３相巻線１１の２つの端子間のパラメータに基づく値を解析結果情報８６とした場合の一例を示す図である。
　例えば、図８と同様の手法により、Ｕ－Ｖ端子間、Ｖ－Ｗ端子間、およびＷ－Ｕ端子間におけるＬＣ値（Ｌ１・Ｃ１，Ｌ２・Ｃ２，Ｌ３・Ｃ３）およびＲＣ値（Ｒ１・Ｃ１，Ｒ２・Ｃ２，Ｒ３・Ｃ３）をそれぞれ算出して正規化し、正規化したＬＣ値とＲＣ値との比を、所定値（例えば、“１”）を基準として評価点に変換し、解析結果情報８６としてもよい。これによれば、図９に示すように、Ｕ相を含むＵ－Ｖ端子間およびＷ－Ｕ端子間の評価点が、Ｖ－Ｗ端子間の評価点と比較して低い値となるので、ユーザは、Ｕ相に異常があると判別することが可能となる。
　また、図９に示した２つの端子（ＵＶ，ＶＷ，ＷＵ）毎の点数を機械的に１相毎の点数に変換し、解析結果情報８６としてもよい。
　図１０は、３相巻線１１の２つの端子間のパラメータに基づく評価点を解析結果情報８６とした場合の一例を示す図である。
　例えば、図９に示した２つの端子間（ＵＶ，ＶＷ，ＷＵ）の値について、Ｕ＝ＵＶ－ＶＷ＋ＷＵ，Ｖ＝ＵＶ＋ＶＷ－ＷＵ，Ｗ＝－ＵＶ＋ＶＷ＋ＷＵと定義した場合、１相毎の点数は、図１０に示す値となる。
　図１０に示すように、Ｕ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合、Ｕ相以外の層の評価点は１００点前後となり、Ｕ相の評価点が７１～７３点となる。これによれば、図９と比較して、３相巻線１１の異常の有無がより明確になる。
　試験装置１は、異常判別支援機能において、上述した手法により生成された解析結果情報８６を表示装置７の画面に表示する。以下に、解析結果情報８６の表示例について説明する。
　図１１Ａ乃至図１１Ｄは、試験装置１の表示装置７における解析結果情報８６の表示の一例を示す図である。
　図１１Ａおよび図１１Ｃには、図７の３相巻線１１が正常である場合の解析結果情報８６の表示例が示され、図１１Ｂおよび図１１Ｄには、図７のＵ相巻線１１ｕに層間短絡がある場合の解析結果情報８６の表示例が示されている。
　例えば、図１１Ａ、図１１Ｂに示すように、試験装置１の表示装置７は、試験電圧の情報７００と、試験対象の３相巻線１１の各相の等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価抵抗Ｒｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、および評価点等の情報７０１と、３相バランス点数の情報７０２を表示する。このとき、表示装置７は、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕを併せて表示してもよい。また、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗと等価抵抗Ｒｕ，Ｌｖ，Ｌｗのいずれか一方を表示してもよいし、評価点と３相バランス点数のいずれか一方を表示してもよい。また、解析結果情報８６に含まれる情報のうち、どの情報を表示装置７に表示させるかをユーザが選択（設定）できるようにしてもよい。
　また、例えば、図１１Ｃ、図１１Ｄに示すように、試験装置１の表示装置７は、例えば、３相バランス点数の情報７０２の代わりに、上述したレーティング点数を表示してもよい。このとき、表示装置７は、図１１Ｃおよび図１１Ｄの参照符号７０３Ａに示すように、レーティング点数を幾何学形状の記号の数（例えば、星の数等）によって表してもよい。
　なお、図１１Ａ乃至図１１Ｄは、あくまで解析結果情報８６の表示方法の一例であって、これに限定されない。上述した解析結果情報８６の少なくとも一つが、ユーザが識別可能な形態で表示装置７の画面に表示されていればよい。
　次に、試験装置１による異常判別支援機能に係る処理の流れについて説明する。
　図１２は、試験装置１による異常判別支援機能に係る処理の流れを示すフローチャートである。
　例えば、ユーザが試験装置１の指示受付部３としての起動ボタンを操作して試験装置１を起動した後、ユーザが指示受付部３としての表示装置７（タッチパネル）をタッチ操作することにより、例えば、表示装置７の画面に表示された機能選択メニューから異常判別支援機能を選択するとともに、試験条件等を試験装置１に設定する（ステップＳ１）。例えば、ユーザが、試験電圧の電圧指令値、試験電圧の出力回数、電圧Ｖを測定するためのサンプリング周期（サンプリング周波数）等の試験条件を試験装置１に設定する。
　次に、ユーザが、試験対象の３相巻線１１を選択回路（スキャナ）１２を介して試験装置１の外部端子Ｔ１，Ｔ２間に接続する（ステップＳ２）。なお、３相巻線１１の試験装置１への接続は、ステップＳ１の前に行われていてもよい。
　次に、試験装置１が、ユーザによって３相巻線１１の異常判別の実行指示が入力されたか否かを判定する（ステップＳ３）。例えば、ユーザによって試験装置１の指示受付部３としての開始ボタン等が操作されていない場合には（ステップＳ３：ＮＯ）、試験装置１は、開始ボタンが操作されるまで待機する。
　開始ボタンが操作された場合には（ステップＳ３：ＹＥＳ）、試験装置１は、異常判別支援機能に係る処理を開始する。
　具体的には、試験装置１は、Ｕ－Ｖ間の電気的特性（Ｌ１，Ｒ１，Ｃ１）の測定を行う（ステップＳ４）。より具体的には、先ず、解析部５が、選択回路１２のスイッチＳＷａ，ＳＷｂを操作して、試験装置１の外部端子Ｔ１に３相巻線１１のＵ相の端子Ｐｕを接続し、試験装置１の外部端子Ｔ２に３相巻線１１のＶ相の端子Ｐｖを接続する。次に、電圧生成回路２が、ステップＳ１において設定された電圧指令値に応じた試験電圧を外部端子Ｔ１，Ｔ２間に印加し、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの時間的な変化を測定し、Ｕ－Ｖ端子間の電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。次に、解析部５が、上述した手法により、Ｕ－Ｖ端子間の電圧測定値８０に基づいて、Ｕ－Ｖ端子間の等価インダクタＬ１，等価抵抗Ｒ１，等価キャパシタＣ１をそれぞれ算出し、第１解析データ８１として記憶部８に記憶する。
　次に、試験装置１は、Ｖ－Ｗ間の電気的特性（Ｌ２，Ｒ２，Ｃ２）の測定を行う（ステップＳ５）。より具体的には、先ず、解析部５が、選択回路１２のスイッチＳＷａ，ＳＷｂを操作して、試験装置１の外部端子Ｔ１に３相巻線１１のＶ相の端子Ｐｖを接続し、試験装置１の外部端子Ｔ２に３相巻線１１のＷ相の端子Ｐｗを接続する。次に、電圧生成回路２が、ステップＳ１において設定された電圧指令値に応じた試験電圧を外部端子Ｔ１，Ｔ２間に印加し、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの時間的な変化を測定し、Ｖ－Ｗ端子間の電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。次に、解析部５が、上述した手法により、Ｖ－Ｗ端子間の電圧測定値８０に基づいて、Ｖ－Ｗ端子間の等価インダクタＬ２，等価抵抗Ｒ２，等価キャパシタＣ２をそれぞれ算出し、第２解析データ８２として記憶部８に記憶する。
　次に、試験装置１は、Ｗ－Ｕ間の電気的特性（Ｌ３，Ｒ３，Ｃ３）の測定を行う（ステップＳ６）。より具体的には、先ず、解析部５が、選択回路１２のスイッチＳＷａ，ＳＷｂを操作して、試験装置１の外部端子Ｔ１に３相巻線１１のＷ相の端子Ｐｗを接続し、試験装置１の外部端子Ｔ２に３相巻線１１のＵ相の端子Ｐｕを接続する。次に、電圧生成回路２が、ステップＳ１において設定された電圧指令値に応じた試験電圧を外部端子Ｔ１，Ｔ２間に印加し、電圧測定部４が外部端子Ｔ１，Ｔ２間の電圧Ｖの時間的な変化を測定し、Ｗ－Ｕ端子間の電圧測定値８０として記憶部８に記憶する。次に、解析部５が、上述した手法により、Ｗ－Ｕ端子間の電圧測定値８０に基づいて、Ｗ－Ｕ端子間の等価インダクタＬ３，等価抵抗Ｒ３，等価キャパシタＣ３をそれぞれ算出し、第３解析データ８３として記憶部８に記憶する。
　次に、解析部５は、上述した手法により、ステップＳ４乃至Ｓ６において算出した第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３に基づいて、３相巻線１１を図３に示す等価回路１１Ａで表したときの等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗを算出し、第４解析データ８４として記憶部８に記憶する（ステップＳ７）。
　次に、解析結果情報生成部６が、上述した手法により、ステップＳ７で算出した第４解析データ８４に基づいて解析結果情報８６を生成し、記憶部８に記憶する（ステップＳ８）。その後、表示装置７が、例えば、図１１Ａ乃至図１１Ｄに示したように、ステップＳ８で生成された解析結果情報８６を画面に表示する（ステップＳ９）。これにより、異常判別支援機能に係る一連の処理が終了する。
　以上、実施の形態に係る試験装置１は、３相巻線１１の３つの端子Ｐｕ，Ｐｖ，ＰｗのうちＵ－Ｖ端子間、Ｖ－Ｗ端子間、およびＷ－Ｕ端子間に試験電圧を印加したときの各端子間の電圧の過渡応答に基づいて、Ｕ－Ｖ端子間の電気的特性（Ｌ１，Ｒ１，Ｃ１）、Ｖ－Ｗ端子間の電気的特性（Ｌ２，Ｒ２，Ｃ２）、およびＷ－Ｕ端子間の電気的特性（Ｌ３，Ｒ３，Ｃ３）を測定し、第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３を生成する。試験装置１は、測定した各端子間の電気的特性を含む第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３に基づいて、３相巻線１１を図３に示した等価回路１１Ａによって表したときのパラメータ（等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ）を算出する。試験装置１は、算出した等価回路１１Ａのパラメータに基づいて解析結果情報８６を生成し、出力する。
　すなわち、試験装置１は、試験対象の３相巻線１１を構成する巻線１１ｕ，１１ｖ，１１ｗ毎に対応したパラメータを算出し、それらのパラメータに基づいて解析結果情報８６を生成して出力する。これによれば、ユーザは、解析結果情報８６を参照することにより、３相巻線１１の構成する巻線１１ｕ，１１ｖ，１１ｗのうちどの相の巻線が異常であるかを容易に判別することが可能となる。
　具体的に、試験装置１は、Ｕ－Ｖ端子間の電気的特性（Ｌ１，Ｒ１，Ｃ１）、Ｖ－Ｗ端子間の電気的特性（Ｌ２，Ｒ２，Ｃ２）、およびＷ－Ｕ端子間の電気的特性（Ｌ３，Ｒ３，Ｃ３）と３相巻線１１を図３に示した等価回路１１Ａによって表したときのパラメータ（等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ）との対応関係を示す対応関係情報８５（例えば、上記式（４）乃至（１２））に基づいて、３相巻線１１を図３に示した等価回路１１Ａによって表したときのパラメータを算出する。
　これによれば、例えば、予め記憶部８に記憶しておいた対応関係情報８５としての上記式（４）乃至（１２）に第１解析データ８１、第２解析データ８２、および第３解析データ８３を代入することにより、容易に、等価回路１１Ａによって表したときのパラメータを算出することができるので、解析部５としてのプログラム処理の演算負荷を軽減することが可能となる。
　また、実施の形態に係る試験装置１は、上述したように、等価回路１１Ａにおける等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ、等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕ、および等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗの値をそれぞれ正規化した値に基づいて解析結果情報８６を生成することにより、ユーザは、３相巻線１１に異常があるか否かを、より容易に判別することが可能となる。
　また、試験装置１は、上述したように、正規化した値を評価点に変換して解析結果情報８６を生成することにより、ユーザは、３相巻線１１に異常があるか否かを、より直観的に判別することが可能となる。
　≪実施の形態の拡張≫
　以上、本願発明者によってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
　例えば、上記実施の形態では、出力部７が表示装置である場合を例示したが、これに限られず、出力部７は、上記表示装置に加えて（または、代えて）、例えば、外部の情報処理装置と有線または無線によって第１解析データ８１、第２解析データ８２、第３解析データ８３、第４解析データ８４、および解析結果情報８６等を送信する通信回路、および、試験装置１に接続された記憶装置（メモリカード等）に第１解析データ８１、第２解析データ８２、第３解析データ８３、第４解析データ８４および解析結果情報８６等のデータを書き込む回路等を含んでいてもよい。
　また、例えば、試験対象の３相巻線が中性点を外部端子として有している場合等のように、第１巻線、第２巻線、および第３巻線を個別に測定可能な場合には、各巻線を個別に測定し、各巻線の等価インダクタンスの値および等価抵抗の値を直接算出して、解析結果情報８６を生成してもよい。
　また、正規化した等価インダクタの値を正規化した等価抵抗の値によってそれぞれ除算して得られた値に替えて、他の種類の不良あるいは故障の検出のために、正規化した等価インダクタンスの値と正規化した等価抵抗の値と正規化した等価キャパシタの値のうち、１種類乃至３種類と任意の乗除算の組み合わせを選択して得られた値を解析結果情報８６としてもよい。
　また、上記実施の形態では、試験装置１（解析部５）が選択回路１２（スイッチＳＷａ，Ｓｗｂ）を操作する場合を例示したが、これに限られない。例えば、ユーザが手動で選択回路１２を操作して試験装置１の外部端子Ｔ１，Ｔ２の接続先を切り替えてもよいし、試験装置１の外部に設けた情報処理装置（ＰＣやタブレット端末等）によって試験装置１とともに選択回路１２を操作して、試験装置１の外部端子Ｔ１，Ｔ２の接続先を切り替えてもよい。
　また、上述のフローチャートは、動作を説明するための一例を示すものであって、これに限定されない。すなわち、フローチャートの各図に示したステップは具体例であって、このフローに限定されるものではない。例えば、一部の処理の順番が変更されてもよいし、各処理間に他の処理が挿入されてもよいし、一部の処理が並列に行われてもよい。
　また、上記実施の形態では、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの各値を算出して第４解析データ８４とする場合を例示したが、これに限られず、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗ，等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗ、および等価キャパシタＣｕｖ，Ｃｖｗ，Ｃｗｕの少なくとも一つを算出して第４解析データ８４としてもよい。例えば、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗのみを第４解析データ８４としてもよいし、等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗのみを第４解析データ８４としてもよい。あるいは、等価インダクタＬｕ，Ｌｖ，Ｌｗおよび等価抵抗Ｒｕ，Ｒｖ，Ｒｗを第４解析データ８４としてもよい。
　１…試験装置、２…電圧生成回路、３…指示受付部、４…電圧測定部、５…解析部、６…解析結果情報生成部、７…出力部、８…記憶部、１１…試験対象物（３相巻線）、１１Ａ…等価回路、１１ｕ…Ｕ相巻線、１１ｖ…Ｖ相巻線、１１ｗ…Ｗ相巻線、１２…選択回路、８１…第１解析データ、８２…第２解析データ、８３…第３解析データ、８４…第４解析データ、８５…対応関係情報、８６…解析結果情報、Ｐｕ，Ｐｖ，Ｐｗ…端子、Ｐｍ…中性点、Ｐａ，Ｐｂ，Ｐ１～Ｐ６…外部端子、ＳＷａ，ＳＷｂ…スイッチ、Ｔ１…外部端子（第１外部端子）、Ｔ２…外部端子（第２外部端子）。

Claims (10)

  1. 　第１外部端子および第２外部端子と、
    　電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、
    　前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、
    　記憶部と、
    　前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に接続された試験対象物の電気的特性を解析し、解析データとして前記記憶部に記憶する解析部と、
    　前記解析データに基づいて、前記試験対象物の解析結果情報を生成し、前記記憶部に記憶する解析結果情報生成部と、
    　前記記憶部に記憶されている前記解析結果情報を出力する出力部と、を有し、
    　前記試験対象物が、互いにＹ結線された、第１巻線、第２巻線、および第３巻線を含む３相巻線であって、
    　前記３相巻線を等価回路によって表した場合において、
    　前記等価回路は、前記第１巻線の一方の端子、前記第２巻線の一方の端子、および前記第３巻線の一方の端子が共通に接続された中性点と前記第１巻線の他方の端子との間に直列に接続された第１等価インダクタおよび第１等価抵抗と、前記中性点と前記第２巻線の他方の端子との間に直列に接続された第２等価インダクタおよび第２等価抵抗と、前記中性点と前記第３巻線の他方の端子との間に直列に接続された第３等価インダクタおよび第３等価抵抗と、前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子との間に接続された第１等価キャパシタと、前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子との間に接続された第２等価キャパシタと、前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子との間に接続された第３等価キャパシタと、を含み、
    　前記解析部は、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第１解析データとして前記記憶部に記憶し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第２解析データとして前記記憶部に記憶し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第３解析データとして前記記憶部に記憶し、
    　前記解析部は、前記第１解析データ、前記第２解析データ、および前記第３解析データに基づいて、前記第１乃至第３等価インダクタの値と、前記第１乃至第３等価抵抗の値と、前記第１乃至第３等価キャパシタの値との少なくとも一つを算出し、第４解析データとして前記記憶部に記憶し、
    　前記解析結果情報生成部は、前記記憶部に記憶されている前記第４解析データに基づいて、前記３相巻線に関する前記解析結果情報を生成する
    　試験装置。
  2. 　請求項１に記載の試験装置において、
    　前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値と前記第１乃至第３解析データとの関係を示す対応関係情報が記憶され、
    　前記解析部は、前記対応関係情報と前記第１乃至第３解析データとに基づいて、第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値を算出する
    　試験装置。
  3. 　請求項１に記載の試験装置において、
    　前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値の少なくとも一つを前記解析結果情報とする
    　試験装置。
  4. 　請求項１に記載の試験装置において、
    　前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値の少なくとも一つを正規化した値を算出し、前記解析結果情報とする
    　試験装置。
  5. 　請求項４に記載の試験装置において、
    　前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値を最大値が１となるように正規化し、前記第１乃至第３等価抵抗の値を最小値が１となるように正規化し、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値を最大値が１となるように正規化する
    　試験装置。
  6. 　請求項４に記載の試験装置において、
    　前記解析結果情報生成部は、正規化した前記第１乃至第３等価インダクタの値と正規化した前記第１乃至第３等価抵抗の値との比を前記解析結果情報とする
    　試験装置。
  7. 　請求項６に記載の試験装置において、
    　前記解析結果情報生成部は、前記比を、所定値を基準とした評価点に変換し、前記解析結果情報とする
    　試験装置。
  8. 　請求項１に記載の試験装置において、
    　前記解析結果情報生成部は、前記第１乃至第３等価インダクタの値、前記第１乃至第３等価抵抗の値、および前記第１乃至第３等価キャパシタの値の少なくとも一つに基づいて、前記第１巻線、前記第２巻線、および前記第３巻線の平衡状態を示す指標を算出し、前記解析結果情報とする
    　試験装置。
  9. 　請求項１乃至８の何れか一項に記載の試験装置において、
    　前記出力部は、表示装置を含み、
    　前記出力部は、前記解析結果情報を前記表示装置の画面に表示する
    　試験装置。
  10. 　第１外部端子および第２外部端子と、電圧を生成し、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に出力する電圧生成回路と、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の電圧を測定する電圧測定部と、記憶部と、前記電圧測定部によって測定された電圧に基づいて、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に接続された試験対象物の電気的特性を解析し、解析データを前記記憶部に記憶する解析部と、前記解析データに基づいて、前記試験対象物の解析結果情報を生成する解析結果情報生成部と、前記解析結果情報を出力する出力部と、を有する試験装置を用いた、前記試験対象物としての、互いにＹ結線された、第１巻線、第２巻線、および第３巻線を含む３相巻線の試験方法であって、
    　前記３相巻線を等価回路によって表した場合において、
    　前記等価回路は、前記第１巻線の一方の端子、前記第２巻線の一方の端子、および前記第３巻線の一方の端子が共通に接続された中性点と前記第１巻線の他方の端子との間に直列に接続された第１等価インダクタおよび第１等価抵抗と、前記中性点と前記第２巻線の他方の端子との間に直列に接続された第２等価インダクタおよび第２等価抵抗と、前記中性点と前記第３巻線の他方の端子との間に直列に接続された第３等価インダクタおよび第３等価抵抗と、前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子との間に接続された第１等価キャパシタと、前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子との間に接続された第２等価キャパシタと、前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子との間に接続された第３等価キャパシタと、を含み、
    　前記解析部が、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第１巻線の前記他方の端子と前記第２巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第１解析データとして前記記憶部に記憶する第１ステップと、
    　前記解析部が、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第２巻線の前記他方の端子と前記第３巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第２解析データとして前記記憶部に記憶する第２ステップと、
    　前記解析部が、前記第１外部端子と前記第２外部端子との間に前記第３巻線の前記他方の端子と前記第１巻線の前記他方の端子とを接続したときの前記第１外部端子と前記第２外部端子との間の等価インダクタの値、等価キャパシタの値、および等価抵抗の値の少なくとも一つを算出して第３解析データとして前記記憶部に記憶する第３ステップと、
    　前記解析部が、前記記憶部に記憶されている、前記第１解析データ、前記第２解析データ、および前記第３解析データに基づいて、前記第１乃至第３等価インダクタの値と、前記第１乃至第３等価抵抗の値と、前記第１乃至第３等価キャパシタの値との少なくとも一つを算出して第４解析データとして前記記憶部に記憶する第４ステップと、
    　前記解析結果情報生成部が、前記記憶部に記憶されている前記第４解析データに基づいて、前記３相巻線に関する前記解析結果情報を生成し、前記記憶部に記憶する第５ステップと、
    　前記出力部が、前記記憶部に記憶されている前記解析結果情報を出力する第６ステップと、を含む
    　試験方法。
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