WO2023190084A1 - ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物及びその焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池 - Google Patents

ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物及びその焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池 Download PDF

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WO2023190084A1
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mol
glass powder
paste composition
aluminum paste
conductive aluminum
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孝輔 辻
紹太 鈴木
崇志 黒木
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東洋アルミニウム株式会社
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    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00—Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/14—Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
    • C03C8/16—Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions with vehicle or suspending agents, e.g. slip
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02—Details
    • H01L31/0224—Electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/068—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells

Definitions

  • the present invention relates to a TOPCon type solar cell in which a conductive aluminum paste composition for a TOPCon type solar cell electrode and a back electrode which is a fired product thereof are laminated.
  • a solar cell element employing a TOPCon (Tunnel Oxide Passivated Contact) structure has been devised as one of the technologies for improving the efficiency, reliability, etc. of solar cells.
  • TOPCon Tel Oxide Passivated Contact
  • a solar cell employing this structure will be referred to as a "TOPCon type solar cell.”
  • the TOPCon structure in order to reduce recombination loss between the n-type silicon substrate serving as the base substrate and the back electrode made of silver, aluminum, etc., a few nanometers of silicon oxide is placed between the base substrate and the back electrode. A thin tunnel oxide layer, a semiconductor layer (microcrystalline n + silicon layer) doped with high concentrations of phosphorus, boron, etc., and a passivation film made of Si 3 N 4 , Al 2 O 3, etc. are formed. There is.
  • This structure is characterized in that carrier loss at the interface between the n-type silicon substrate and the microcrystalline n + silicon layer is suppressed by the generation of a tunnel effect by the oxide layer.
  • Patent Document 1 discusses the use of a conductive aluminum paste composition containing aluminum-silicon alloy particles, an organic vehicle, and glass powder.
  • a back electrode containing aluminum powder, lead glass powder, and an organic vehicle for p-type silicon substrates is used as an aluminum paste with fire-through properties that allows the back electrode to be formed without forming an LCO.
  • Patent Document 2 a paste for back electrodes containing aluminum powder, lead-free glass powder, and an organic vehicle is known (Patent Document 3).
  • the paste when forming the back electrode of a TOPCon type solar cell, the paste itself has the fire-through property of a passivation film, so there is no need to form an LCO, and furthermore, there is no need to form an alloy layer with an n-type silicon substrate. It is an object of the present invention to provide a conductive aluminum paste composition that can obtain good ohmic contact. Another object of the present invention is to provide a TOPCon type solar cell in which a back electrode, which is a fired product thereof, is laminated.
  • the present inventors have discovered that the above object can be achieved by using a conductive aluminum paste composition containing a specific composition of aluminum-silicon alloy powder and glass powder. , we have completed the present invention.
  • a conductive aluminum paste composition comprising an aluminum-silicon alloy powder, an organic vehicle, and a glass powder, the composition comprising: (1) The aluminum-silicon alloy powder has a silicon concentration of 30% by mass or more and 40% by mass or less, (2) the glass powder contains a first glass powder and a second glass powder, The first glass powder contains PbO from 45% to 71%, B 2 O 3 from 5% to 35%, and SiO 2 from 0.1% to 25.0%, expressed as oxide mol%.
  • the second glass powder contains B 2 O 3 in an amount of 35.0% to 55.0%, SiO 2 in an amount of 5.0% to 10.0%, and BaO 1.0% in terms of oxide mol%. 20.0% or more, CaO 5.0% or more and 25.0% or less, K 2 O 3.0% or more and 30.0% or less, and does not substantially contain PbO.
  • a conductive aluminum paste composition for a TOPCon type solar cell electrode characterized in that: 2. 2.
  • the conductive aluminum paste composition according to item 1 wherein the first glass powder contains a total of 1% or more and 10% or less of Al 2 O 3 and/or ZnO expressed as oxide mole %. 3.
  • the conductive aluminum paste composition according to item 1 or 2 wherein the second glass powder contains 1.0% or more and 10.0% or less of SrO expressed as oxide mole %. 4.
  • a TOPCon type solar cell in which a back electrode which is a fired product of the conductive aluminum paste composition according to any one of items 1 to 3 above is laminated on a silicon semiconductor substrate.
  • the conductive aluminum paste composition of the present invention contains aluminum-silicon alloy powder and glass powder having a specific composition, so that the paste itself has fire-through properties of the passivation film in forming the back electrode of a TOPCon solar cell. Therefore, it is not necessary to form an LCO, and furthermore, good ohmic contact can be obtained without forming an alloy layer with the n-type silicon substrate. Note that not forming an alloy layer with the n-type silicon substrate means that there is no erosion of the microcrystalline n + silicon layer, and being able to obtain good ohmic contact means that the contact resistance is 10 m ⁇ as an indicator of high conversion efficiency. cm 2 or less.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of the structure of a TOPCon type solar cell.
  • FIG. 3 is a diagram showing the printing width when a conductive aluminum paste composition is screen printed on the surface of a microcrystalline n + silicon layer in Examples and Comparative Examples. Specifically, it shows that the print width is 1 mm, the length is 10 mm, and the print intervals are set to be parallel to each other under the conditions of 1.2 mm, 1.4 mm, 1.6 mm, 1.8 mm, and 2.0 mm. There is.
  • the conductive aluminum paste composition for a TOPCon type solar cell electrode of the present invention and a TOPCon type solar cell using the same will be explained in detail.
  • the numerical range indicated by “ ⁇ ” indicates “more than or equal to, less than or equal to” unless otherwise specified. That is, “A to B” indicates a range of A or more and B or less.
  • the conductive aluminum paste composition of the present invention is for use in a TOPCon type solar cell electrode, and the conductive aluminum paste composition contains an aluminum-silicon alloy powder, an organic vehicle, and a glass powder. As long as the aluminum-silicon alloy powder and the glass powder have a predetermined specific composition, other requirements may be those of known TOPCon type solar cells.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of the structure of a TOPCon type solar cell.
  • the TOPCon type solar cell shown in FIG. 1 has a p-type impurity layer 2 formed on the light-receiving surface side of an n-type silicon semiconductor substrate 1 as a base substrate, and a back electrode 6 on the back side of the n-type silicon semiconductor substrate 1. , an extremely thin oxide layer 3 between an n-type silicon semiconductor substrate 1 and a back electrode 6, and a microcrystalline n + silicon layer 4 doped with a dopant at a high concentration.
  • the TOPCon type solar cell has a tunneling effect caused by the oxide layer 3, which connects the n-type silicon semiconductor substrate 1 (n - silicon layer) and the microcrystalline n + silicon layer 4 (n + silicon layer). Carrier loss at the interface can be suppressed.
  • silicon oxide is applied, for example.
  • the thickness of the oxide layer 3 is not limited, and can be, for example, 1 to 10 nm, preferably 3 to 8 nm.
  • the thickness of the oxide layer 3 is 1 to 10 nm, the above-mentioned tunnel effect tends to occur, and carriers easily move to the back side of the solar cell, resulting in an increase in conversion efficiency.
  • the thickness of the oxide layer 3 is 1 to 10 nm, carrier loss at the interface between the n ⁇ silicon layer and the n + silicon layer is easily suppressed, so that reduction in conversion efficiency is less likely to occur.
  • silicon semiconductor substrates used, for example, in semiconductor applications or solar cell applications can be widely applied.
  • a passivation film 5 is provided between the microcrystalline n + silicon layer 4 and the back electrode 6 . Since the conductive aluminum paste composition of the present invention has the fire-through property of the passivation film 5, there is no need to form an LCO (opening) in the passivation film 5 in forming the back electrode 6.
  • a finger electrode (not shown in FIG. 1) is formed on the opposite side of the back electrode 6 of the n-type silicon semiconductor substrate 1 via a p-type impurity layer.
  • the finger electrodes are made of silver, aluminum, or the like, for example.
  • the back electrode 6 is formed from the conductive aluminum paste composition of the present invention.
  • the conductive aluminum paste composition of the present invention contains aluminum-silicon alloy powder and glass powder of a specific composition, so that the paste itself forms a passivation film when forming the back electrode 6 of a TOPCon solar cell. 5, it is not necessary to form an LCO, and further, good ohmic contact can be obtained without forming an alloy layer with the n-type silicon semiconductor substrate 1.
  • the coating film before firing of the back electrode 6 can be easily formed in that a known printing method such as a screen printing method can be employed.
  • the conductive aluminum paste composition of the present invention is for use in TOPCon type solar cell electrodes, and in particular is used to form back electrodes.
  • the paste composition contains an aluminum-silicon alloy powder, an organic vehicle, and a glass powder, (1)
  • the aluminum-silicon alloy powder has a silicon concentration of 30% by mass or more and 40% by mass or less, (2) the glass powder contains a first glass powder and a second glass powder,
  • the first glass powder contains PbO from 45% to 71%, B 2 O 3 from 5% to 35%, and SiO 2 from 0.1% to 25.0%, expressed as oxide mole%.
  • the second glass powder contains B 2 O 3 in an amount of 35.0% to 55.0%, SiO 2 in an amount of 5.0% to 10.0%, and BaO 1.0% in terms of oxide mol%. 20.0% or more, CaO 5.0% or more and 25.0% or less, K 2 O 3.0% or more and 30.0% or less, and does not substantially contain PbO. It is characterized by
  • the paste itself has fire-through properties of a passivation film in forming the back electrode of a TOPCon type solar cell, and there is no need to form an LCO.
  • Good ohmic contact can be obtained without forming an alloy layer with the n-type silicon substrate.
  • not forming an alloy layer with the n-type silicon substrate means that there is no erosion of the microcrystalline n + silicon layer, and being able to obtain good ohmic contact means that the contact resistance is 10 m ⁇ as an indicator of high conversion efficiency. cm 2 or less.
  • aluminum-silicon alloy powder is a component that can play a role in providing conductivity.
  • aluminum-silicon alloy powder having a silicon concentration of 30% by mass or more and 40% by mass or less (preferably 35% by mass or more and 40% by mass or less) is used.
  • migration of the electrode material does not occur and the risk of short circuit is reduced compared to silver.
  • the silicon concentration is 30% by mass or more and 40% by mass or less, it becomes difficult for the conductive aluminum paste composition to melt with the microcrystalline n + silicon layer in the firing process, and as a result, the conductive aluminum paste composition and the microcrystalline It becomes difficult to form an aluminum-silicon alloy layer with the n + silicon layer. As a result, reduction in cell conversion efficiency due to carrier loss is suppressed.
  • the silicon concentration is less than 30% by mass, a p + layer is formed, which may cause a decrease in conversion efficiency. If the silicon concentration exceeds 40% by mass, the resistance may increase and it may become difficult to produce an aluminum-silicon alloy powder. Therefore, in the present invention, a material having a silicon concentration of 30% by mass or more and 40% by mass or less is used.
  • the particle size of the aluminum-silicon alloy powder is not particularly limited.
  • the volume average particle diameter D50 of the aluminum-silicon alloy powder (particles) can be set to 1 to 10 ⁇ m.
  • the volume average particle diameter D50 is preferably 5 to 8 ⁇ m.
  • the volume average particle diameter D50 of the aluminum-silicon alloy powder in this specification is a value measured by a laser diffraction method.
  • the aluminum-silicon alloy powder may contain strontium as a third component. That is, as the conductive powder containing strontium, in addition to aluminum-silicon-strontium (Al-Si-Sr) alloy powder, a combination of aluminum-silicon alloy powder and aluminum-silicon-strontium alloy powder may be used.
  • the amount of strontium contained in the conductive powder containing strontium is not particularly limited, but can be 0.01 to 1% by mass.
  • the addition of strontium to the conductive powder has the effect of increasing the amount of liquid phase composition during firing when the silicon concentration is high, promoting sintering, and reducing surface resistance.
  • the type of organic vehicle is not particularly limited, and for example, a wide range of known organic vehicles used for forming back electrodes of solar cells can be used.
  • the organic vehicle include materials in which a resin is dissolved in a solvent.
  • the organic vehicle may be solvent-free and the resin itself may be used.
  • the type of solvent is not limited, and examples include diethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monobutyl ether acetate, dipropylene glycol monomethyl ether, and the like.
  • the organic vehicle may contain one or more kinds of solvents.
  • the resin examples include various known resins, including ethyl cellulose resin, nitrocellulose resin, polyvinyl butyral resin, phenol resin, melamine resin, urea resin, xylene resin, alkyd resin, and unsaturated resin.
  • Polyester resin acrylic resin, polyimide resin, furan resin, urethane resin, isocyanate compound, cyanate compound, polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, ABS resin, polymethyl methacrylate resin, polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, poly Vinyl acetate resin, polyvinyl alcohol resin, polyacetal resin, polycarbonate resin, polyethylene terephthalate resin, polybutylene terephthalate resin, polyphenylene oxide resin, polysulfone resin, polyimide resin, polyether sulfone resin, polyarylate resin, polyether ether ketone resin, poly Examples include tetrafluoroethylene resin and silicone resin.
  • the organic vehicle may contain one or more resins.
  • the organic vehicle can also contain various additives as necessary.
  • additives include antioxidants, corrosion inhibitors, antifoaming agents, thickeners, dispersants, tackifiers, coupling agents, electrostatic agents, polymerization inhibitors, thixotropic agents, antisettling agents, etc. can be mentioned.
  • polyethylene glycol ester compounds polyethylene glycol ether compounds, polyoxyethylene sorbitan ester compounds, sorbitan alkyl ester compounds, aliphatic polycarboxylic acid compounds, phosphoric acid ester compounds, amide amine salts of polyester acids, and polyethylene oxide compounds.
  • fatty acid amide wax, alkaline earth metal salts of stearic acid, and the like are examples of additives.
  • the proportions of the resin, solvent, and various additives contained in the organic vehicle can be adjusted as desired, and for example, the proportions of the components can be the same as those of known organic vehicles.
  • the content of the organic vehicle is not particularly limited, but for example, from the viewpoint of having good coating properties (printability), it is 10 parts by mass or more and 500 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the aluminum-silicon alloy powder. It is preferably 20 parts by mass or more and 45 parts by mass or less.
  • the glass powder contained in the conductive aluminum paste composition of the present invention is a vitreous frit (powder).
  • the glass powder contains a first glass powder (lead-containing glass) and a second glass powder (borosilicate glass that does not substantially contain lead),
  • the first glass powder contains PbO from 45% to 71%, B 2 O 3 from 5% to 35%, and SiO 2 from 0.1% to 25.0%, expressed as oxide mol%.
  • the content of B 2 O 3 is x mol %
  • the content of SiO 2 is y mol %
  • the content of PbO is z mol %
  • the value of [(x+y)/z] is 0.40.
  • the second glass powder contains B 2 O 3 in an amount of 35.0% to 55.0%, SiO 2 in an amount of 5.0% to 10.0%, and BaO 1.0% in terms of oxide mol%. 20.0% or more, CaO 5.0% or more and 25.0% or less, K 2 O 3.0% or more and 30.0% or less, and does not substantially contain PbO. It is characterized by the use of glass powder with a specific composition.
  • the passivation film has excellent fire-through properties and forms an alloy layer (aluminum-silicon alloy layer) with the n-type silicon semiconductor substrate. (that is, the erosion of the microcrystalline n + silicon layer during the firing process is suppressed), and good ohmic contact can be obtained. As a result, the conversion efficiency of the solar cell can be increased.
  • the first glass powder is a lead-containing glass, and contains PbO of 45% to 71%, B 2 O 3 of 5% to 35%, and SiO 2 of 0.1% to 25%, expressed as oxide mole %. 0% or less, and the content of B 2 O 3 is x mol %, the content of SiO 2 is y mol %, the content of PbO is z mol %, and [(x+y)/z] The value is in the range of 0.40 or more and 1.00 or less.
  • the PbO content of the first glass powder can be set to 50% or more and 71% or less, and can be set to 60% or more and 71% or more.
  • the content of B 2 O 3 can be set at 10% or more and 32% or less, and can be set at 20% or more and 32% or less.
  • the content of SiO 2 can be set at 1.0% or more and 23.0% or less, and can be set at 8.0% or more and 23.0% or less.
  • the value of [(x+y)/z] can be set to 0.40 or more and 0.90 or less, and can be set to 0.43 or more and 0.86 or less.
  • the first glass powder may contain a total of 1% or more and 10% or less of Al 2 O 3 and/or ZnO expressed as oxide mole %. By containing these components, the weather resistance of the first glass powder can be improved and the paste viscosity can be stabilized.
  • the content of Al 2 O 3 can be set, for example, to 1% or more and 7% or less.
  • the content of ZnO can be set, for example, to 2% or more and 5% or less, and can be set to 3% or more and 4% or less.
  • the second glass powder is borosilicate glass that does not substantially contain lead, and contains 35.0% or more of B 2 O 3 and 55.0% or less and SiO 2 of 5.0% or more in terms of oxide mole%. 10.0% or less, BaO from 1.0% to 20.0%, CaO from 5.0% to 25.0%, K 2 O from 3.0% to 30.0%, and Contains substantially no PbO.
  • the content of B 2 O 3 in the second glass powder can be set to 40.0% or more and 53.0% or less, and can be set to 41.2% or more and 45.5% or less.
  • the content of SiO 2 can be set at 6.5% or more and 9.0% or less, and can be set at 6.9% or more and 7.6% or less.
  • the content of BaO can be set at 10.0% or more and 20.0% or less, and can be set at 15.1% or more and 18.4% or less.
  • the content of CaO can be set at 6.0% or more and 20.0% or less, and can be set at 6.4% or more and 19.0% or less.
  • the content of K 2 O can be set to 10.0% or more and 30.0% or less, and can be set to 11.4% or more and 20.1% or less.
  • the second glass powder does not substantially contain a lead component (PbO), which means that the lead component is below the detection limit according to component analysis, or the content can be considered as an inevitable impurity.
  • PbO lead component
  • the second glass powder may contain 1.0% or more and 10.0% or less of SrO expressed in oxide mole%.
  • the content of SrO can be set to 3.0% or more and 6.0% or less.
  • the weather resistance of the second glass powder can be improved and the paste viscosity can be stabilized.
  • the second glass powder may contain ZnO in an amount of 0.0% (including an embodiment in which it does not substantially contain) to 25.0% in terms of oxide mole %.
  • the content of ZnO can be set at 1.0% or more and 25.0% or less, and can be set at 5.0% or more and 25.0% or less.
  • the content of the glass powder is not particularly limited, but for example, from the viewpoint of the balance between the adhesion to the n-type silicon semiconductor substrate and the electrical resistance of the back electrode, the content of the first glass is added to 100 parts by mass of the aluminum-silicon alloy powder.
  • the total amount of the powder and the second glass powder is preferably 0.5 parts by mass or more and 40 parts by mass or less, and more preferably 4 parts by mass or more and 15 parts by mass or less.
  • the softening point of each glass powder is preferably 650° C. or lower, and the volume average particle diameter D50 of the glass particles constituting each glass powder is preferably 1 to 3 ⁇ m.
  • the conductive aluminum paste composition of the present invention is useful as a paste composition for the back electrode of the TOPCon solar cell described at the beginning.
  • the present invention also includes the invention of a TOPCon type solar cell characterized in that a back electrode which is a fired product of a conductive aluminum paste composition is laminated.
  • the firing temperature when firing the coating film of the conductive aluminum paste composition is not limited as long as the desired back electrode is formed, but the firing temperature is preferably 700°C or higher. This prevents the conductive aluminum paste composition and the microcrystalline n + silicon layer from forming an alloy layer (aluminum-silicon alloy layer), making it easier to form a desired back electrode.
  • the upper limit of the firing temperature is preferably lower than the melting point of the aluminum-silicon alloy powder contained in the conductive aluminum paste composition, and in this case, the conductive aluminum paste composition and the microcrystalline n + silicon layer form an alloy layer. It becomes even more difficult to form. From this point of view, the firing temperature is preferably 900°C or lower, more preferably 850°C or lower, and particularly preferably 800°C or lower.
  • the firing time of the coating film can be determined as appropriate depending on the firing temperature.
  • the time can be 1 minute or more and 300 minutes or less, and preferably 1 minute or more and 5 minutes or less.
  • Firing may be performed in either an air atmosphere or a nitrogen atmosphere.
  • the firing method is not particularly limited either, and, for example, the firing process can be performed using a known heating furnace.
  • Example 1 Aluminum-silicon alloy powder was produced by gas atomization.
  • the aluminum-silicon alloy powder was produced so that the silicon concentration was 36% by mass and the volume average particle diameter D50 was 6.0 ⁇ m.
  • the first glass powder is a lead-containing glass powder (abbreviation P1) consisting of PbO: 50.00 mol%, SiO 2 : 23.00 mol%, B 2 O 3 : 20.00 mol%, Al 2 O 3 : 7.00 mol%.
  • the second glass powder B 2 O 3 45.50 mol %, SiO 2 : 7.60 mol %, CaO: 19.00 mol %, BaO: 15.90 mol %, K 2 O: 12.00 mol %.
  • a mixed glass powder was prepared by mixing acid glass powder (abbreviation B1) at a mass ratio of 1:1.
  • a resin solution with a concentration of 10% by mass in which ethyl cellulose was dissolved in butyl diglycol was prepared as an organic vehicle.
  • Example 2 The first glass powder is lead consisting of PbO: 54.40 mol%, SiO 2 : 12.80 mol%, B 2 O 3 : 23.50 mol%, Al 2 O 3 : 5.70 mol%, ZnO: 3.60 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that the containing glass powder (P2) was used.
  • Example 3 The first glass powder composition consists of PbO: 45.00 mol%, SiO 2 : 15.00 mol%, B 2 O 3 : 30.00 mol%, Al 2 O 3 : 7.00 mol%, ZnO: 3.00 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that lead-containing glass powder (P3) was used.
  • the first glass powder is a lead-containing glass powder (P4) consisting of PbO: 60.00 mol%, SiO 2 : 14.00 mol%, B 2 O 3 : 22.00 mol%, Al 2 O 3 : 4.00 mol%.
  • P4 lead-containing glass powder
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that .
  • Example 5 The first glass powder is lead consisting of PbO: 63.00 mol%, SiO 2 : 8.00 mol%, B 2 O 3 : 22.00 mol%, Al 2 O 3 : 3.00 mol%, ZnO: 4.00 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that the containing glass powder (P5) was used.
  • Example 6 A lead-containing glass powder (P6) consisting of PbO: 66.00 mol%, SiO 2 : 1.00 mol%, B 2 O 3 : 32.00 mol%, Al 2 O 3 : 1.00 mol% was used as the first glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except for using the same method as in Example 1.
  • Example 7 A lead-containing glass powder (P7) consisting of PbO: 71.00 mol%, SiO 2 : 16.00 mol%, and B 2 O 3 : 13.00 mol% was used as the first glass powder, and B as the second glass powder.
  • Borosilicate consisting of 2 O 3 : 43.70 mol%, SiO 2 : 7.10 mol%, CaO: 18.00 mol%, BaO: 15.10 mol%, SrO: 4.70 mol%, K 2 O: 11.40 mol%
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that glass powder (B2) was used.
  • Example 8 As the second glass powder, borosilicate consisting of B 2 O 3 : 52.60 mol%, SiO 2 : 8.70 mol%, CaO: 6.40 mol%, BaO: 18.40 mol%, K 2 O: 13.90 mol% A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that glass powder (B3) was used.
  • Example 9 As the second glass powder, borosilicate consisting of B 2 O 3 : 41.20 mol%, SiO 2 : 6.90 mol%, CaO: 17.30 mol%, BaO: 14.50 mol%, K 2 O: 20.10 mol% A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 5, except that glass powder (B4) was used.
  • Example 10 A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 3, except that an aluminum-silicon alloy powder having a D50 of 6.0 ⁇ m and a silicon concentration of 30% by mass, which was produced by a gas atomization method, was used.
  • Example 11 A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 3, except that an aluminum-silicon alloy powder having a D50 of 6.0 ⁇ m and a silicon concentration of 40% by mass, which was produced by a gas atomization method, was used.
  • Comparative example 1 A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that aluminum powder having a D50 of 6.0 ⁇ m (silicon concentration was 0% by mass) manufactured by the gas atomization method was used.
  • Comparative example 2 A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that an aluminum-silicon alloy powder having a D50 of 6.0 ⁇ m and a silicon concentration of 25% by mass, which was produced by a gas atomization method, was used.
  • Comparative example 3 Except that a lead-containing glass powder (P8) consisting of PbO: 13.00 mol%, SiO 2 : 5.00 mol%, B 2 O 3 : 28.00 mol%, and ZnO: 54.00 mol% was used as the first glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1.
  • Comparative example 4 Lead consisting of PbO: 34.00 mol%, SiO 2 : 57.00 mol%, B 2 O 3 : 5.00 mol%, Al 2 O 3 : 2.00 mol%, ZnO: 2.00 mol% as the first glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that the containing glass powder (P9) was used.
  • Comparative example 6 A lead-containing glass powder (P11) consisting of PbO: 47.00 mol%, SiO 2 : 42.00 mol%, B 2 O 3 : 8.00 mol%, Al 2 O 3: 3.00 mol% was used as the first glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 8, except that it was used.
  • the first glass powder is lead consisting of PbO: 54.00 mol%, SiO 2 : 15.00 mol%, B 2 O 3 : 4.00 mol%, Al 2 O 3 : 6.00 mol%, ZnO: 21.00 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that the containing glass powder (P12) was used.
  • Comparative example 8 Same as Example 1 except that lead-containing glass powder (P13) consisting of PbO: 74.00 mol%, SiO 2 : 16.00 mol%, and B 2 O 3 : 10.00 mol% was used as the first glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained by the method described above.
  • Comparative example 9 A lead-containing glass powder (P14) consisting of PbO: 76.00 mol%, SiO 2 : 16.00 mol%, B 2 O 3 : 4.00 mol%, Al 2 O 3 : 4.00 mol% was used as the first glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 8, except that it was used.
  • Comparative example 10 Conductive aluminum paste composition was prepared in the same manner as in Example 8, except that a lead-containing glass powder (P15) consisting of PbO: 80.00 mol% and B 2 O 3 : 20.00 mol% was used as the first glass powder. I got something.
  • P15 lead-containing glass powder
  • Comparative example 11 Except for using borosilicate glass powder (B5) consisting of B 2 O 3 : 52.10 mol%, SiO 2 : 8.50 mol%, CaO: 21.50 mol%, BaO: 17.90 mol% as the second glass powder.
  • B5 borosilicate glass powder
  • SiO 2 : 8.50 mol%
  • CaO 21.50 mol%
  • BaO 17.90 mol%
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1.
  • the second glass powder is a borosilicate glass powder consisting of B2O3 : 47.40 mol%, SiO2 : 7.70 mol%, CaO: 19.50 mol%, BaO: 16.30 mol%, PbO: 9.10 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that (B6) was used.
  • Comparative example 15 As the second glass powder, B 2 O 3 : 54.10 mol%, SiO 2 : 4.50 mol%, CaO: 6.00 mol%, BaO: 18.40 mol%, SrO: 4.80 mol%, K 2 O: 5 A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that borosilicate glass powder (B9) consisting of ZnO: .50 mol% and ZnO: 6.70 mol% was used.
  • Comparative example 16 As the second glass powder, borosilicate consisting of B 2 O 3 : 38.90 mol%, SiO 2 : 30.70 mol%, CaO: 6.40 mol%, BaO: 12.80 mol%, K 2 O: 11.20 mol% A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that glass powder (B10) was used.
  • Comparative example 18 As the second glass powder, borosilicate consisting of B 2 O 3 : 43.40 mol%, SiO 2 : 8.70 mol%, CaO: 7.90 mol%, BaO: 30.00 mol%, K 2 O: 10.00 mol% A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that glass powder (B12) was used.
  • Borosilicate glass powder (B13) consisting of B 2 O 3 : 45.50 mol%, SiO 2 : 9.90 mol%, BaO: 18.40 mol%, K 2 O: 26.20 mol% was used as the second glass powder.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following.
  • B 2 O 3 32.00 mol%, SiO 2 : 7.60 mol%, CaO: 35.10 mol%, BaO: 10.00 mol%, SrO: 3.30 mol%, K 2 O: 2
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 1, except that borosilicate glass powder (B14) consisting of ZnO: .00 mol% and ZnO: 10.00 mol% was used.
  • Example 12 The second glass powder composition consists of B 2 O 3 : 36.00 mol%, SiO 2 : 10.00 mol%, CaO: 19.00 mol%, BaO: 15.00 mol%, K 2 O: 20.00 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that acid glass powder (B16) was used.
  • Example 13 The second glass powder composition consists of B 2 O 3 : 43.50 mol%, SiO 2 : 7.10 mol%, CaO: 23.00 mol%, BaO: 15.00 mol%, K 2 O: 11.40 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that acid glass powder (B18) was used.
  • Example 14 The second glass powder composition consists of B 2 O 3 : 48.50 mol%, SiO 2 : 7.50 mol%, CaO: 18.90 mol%, BaO: 3.20 mol%, K 2 O: 21.90 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that acid glass powder (B20) was used.
  • Example 15 The second glass powder composition is B 2 O 3 : 43.70 mol%, SiO 2 : 9.90 mol%, CaO: 9.00 mol%, BaO: 4.70 mol%, SrO: 5.30 mol%, K 2 O: A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that borosilicate glass powder (B22) consisting of 3.10 mol% and 24.30 mol% of ZnO was used.
  • Example 16 The second glass powder composition is B 2 O 3 : 40.20 mol%, SiO 2 : 9.50 mol%, CaO: 5.00 mol%, BaO: 5.80 mol%, SrO: 3.30 mol%, K 2 O: A conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that borosilicate glass powder (B23) consisting of 28.50 mol% and 7.70 mol% of ZnO was used.
  • B23 borosilicate glass powder
  • the first glass powder composition consists of PbO: 45.00 mol%, SiO 2 : 27.00 mol%, B 2 O 3 : 20.00 mol%, Al 2 O 3 : 2.00 mol%, ZnO: 6.00 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 8, except that lead-containing glass powder (P16) was used.
  • Comparative example 23 Lead-containing glass powder (P17) whose first glass powder composition is PbO: 45.00 mol%, SiO 2 : 16.00 mol%, B 2 O 3 : 38.00 mol%, Al 2 O 3 : 1.00 mol%.
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 8, except that .
  • the second glass powder composition is B 2 O 3 : 40.00 mol%, SiO 2 : 11.00 mol%, CaO: 15.00 mol%, BaO: 20.00 mol%, K 2 O: 4.00 mol%, ZnO:
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that borosilicate glass powder (B17) containing 10.00 mol% was used.
  • the second glass powder composition is B2O3 : 36.10 mol%, SiO2 : 8.70 mol%, CaO: 27.10 mol%, BaO: 8.90 mol%, K2O : 9.80 mol%, ZnO:
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that borosilicate glass powder (B19) containing 9.40 mol % was used.
  • the second glass powder composition is B 2 O 3 : 38.70 mol%, SiO 2 : 9.70 mol%, CaO: 8.80 mol%, BaO: 22.20 mol%, K 2 O: 9.50 mol%, ZnO:
  • a conductive aluminum paste composition was obtained in the same manner as in Example 4, except that borosilicate glass powder (B21) containing 11.10 mol % was used.
  • an oxide (silicon oxide) layer 3 with a thickness of 5 nm A wafer in which a microcrystalline n + silicon layer 4 and a passivation film 5 having a thickness of 200 nm were stacked was prepared.
  • the conductive aluminum paste compositions prepared in Examples and Comparative Examples were printed to a thickness of 20 to 30 ⁇ m, a width of 1 mm, a length of 10 mm, and a printing interval of 1.2 mm and 1.4 mm. , 1.6 mm, 1.8 mm, and 2.0 mm were set in parallel and screen printing was performed.
  • the printed laminate was placed in an infrared belt furnace set at 700° C. and fired at this temperature to form the back electrode 6. As a result, a fired substrate for evaluation was manufactured.
  • the electrical resistance of the obtained fired substrate for evaluation was measured using a resistance measuring device manufactured by Hioki Electric Co., Ltd. (product name: Milliohm HiTESTER HiTESTER 3540), and the back electrode 6 was measured using the TLM (Transmission line method) method.
  • the contact resistance between the microcrystalline n + silicon layer 4 and the microcrystalline n + silicon layer 4 was calculated.
  • the contact resistance at which good ohmic contact can be obtained is 10 m ⁇ cm 2 or less.
  • the conductive aluminum paste composition prepared in Examples and Comparative Examples was printed on the back side of the wafer in a comb pattern at a rate of 0.2 to 0.3 g/cell, and then printed on the light-receiving surface of the wafer.
  • a silver paste for forming finger electrodes was printed, and a back electrode and finger electrodes were formed using an infrared belt furnace set at 800°C. In this way, a solar cell was produced.
  • the paste itself has fire-through properties of the passivation film in forming the back electrode of the TOPCon type solar cell. It was confirmed that it is possible to obtain good ohmic contact without the need to form an LCO and also without forming an alloy layer with the n-type silicon substrate.

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Abstract

本発明は、アルミニウム－シリコン合金粉末、有機ビヒクル及びガラス粉末を含有し、下記（１）及び（２）を満たすＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物に関する。 （１）前記アルミニウム－シリコン合金粉末のシリコン濃度が３０～４０質量％ （２）前記ガラス粉末は、酸化物モル％表記でＰｂＯを４５～７１％、Ｂ２Ｏ３を５～３５％、ＳｉＯ２を０.１～２５.０％含有し、且つ前記Ｂ２Ｏ３がｘ％、前記ＳｉＯ２がｙ％、前記ＰｂＯがｚ％含有されるとした場合の〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値が０．４０～１．００である第一のガラス粉末、及び、酸化物モル％表記でＢ２Ｏ３を３５.０～５５.０％、ＳｉＯ２を５.０～１０.０％、ＢａＯを１.０～２０.０％、ＣａＯを５.０～２５.０％、Ｋ２Ｏを３.０～３０.０％以下含有し、ＰｂＯを実質的に含有しない第二のガラス粉末を含有する

Description

ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物及びその焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池
　本発明は、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物及びその焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池に関する。
　従来、太陽電池の効率、信頼性等を向上する技術の一つとして、ＴＯＰＣｏｎ（Tunnel Oxide Passivated Contact）構造を採用した太陽電池素子が考案されている。以下、本明細書において、当該構造を採用した太陽電池を「ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池」と称する。
　ＴＯＰＣｏｎ構造では、ベース基板となるｎ型シリコン基板と銀、アルミニウム等を用いた裏面電極との間の再結合損失を減らすために、ベース基板と裏面電極との間に、酸化シリコンからなる数ｎｍ程度の薄いトンネル酸化物層と、高濃度のリン、ホウ素等をドーピングした半導体層（微結晶ｎ＋シリコン層）と、Ｓｉ３Ｎ４、Ａｌ２Ｏ３等からなるパッシベーション膜とが形成されている。この構造では、酸化物層によりトンネル効果が生じることにより、ｎ型シリコン基板と微結晶ｎ＋シリコン層との界面でのキャリアロスが抑制されることを特徴としている。
　ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池において、銀ペーストを用いて裏面電極を形成する場合には、パッシベーション膜に銀ペーストを塗布した後に熱処理することにより、ファイヤースルーによりパッシベーション膜を部分的に貫通して裏面電極を形成することができる。これに対して、アルミニウムペーストを用いて裏面電極を形成する場合には、パッシベーション膜をファイヤースルーできないため、ｎ型シリコン基板とのコンタクト部分に予めレーザー処理等によりｎ型シリコン基板が露出した開口部（ＬＣＯ：Laser contact opening）を形成し、開口部に重なるようにアルミニウムペーストを塗布した後に熱処理することにより裏面電極を形成している（特許文献１）。特許文献１では、アルミニウム－シリコン合金粒子と、有機ビヒクルと、ガラス粉末とを含有した導電性アルミニウムペースト組成物を用いる検討がなされている。
　ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池以外では、ＬＣＯを形成せずに裏面電極を形成できるファイヤースルー性を有するアルミニウムペーストとして、ｐ型シリコン基板向けにアルミニウム粉末と、鉛ガラス粉末と、有機ビヒクルとを含有する裏面電極用ペーストが知られており（特許文献２）、鉛フリーの態様としてはアルミニウム粉末と、鉛フリーのガラス粉末と、有機ビヒクルとを含有する裏面電極用ペーストが知られている（特許文献３）。
特開２０２１－２４６０号公報 特開２０１９－１２７４０４号公報 特開２０２０－１９８３８０号公報
　しかしながら、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池においてアルミニウムペーストを用いて裏面電極を形成する場合には、ＬＣＯ（開口部）を形成し、アルミニウムペーストがＬＣＯに重なるように塗布（印刷）する必要があるため、高いアライメント技術が必要となる上、銀ペーストを用いる場合と比べてＬＣＯを形成する必要がある点でコストダウンの要望に応えにくい。一方、ＬＣＯを形成せずに、特許文献１のようなアルミニウムペーストを適用するだけでは、前述の通りアルミニウムペーストの塗膜を焼成する際にパッシベーション膜をファイヤースルー（貫通）できず、微結晶ｎ＋シリコン層に到達できないため、セルの変換効率が大幅に低下してしまう。
　また、特許文献２、３のようなｐ型シリコン基板向けのアルミニウムペーストをＴＯＰＣｏｎ型太陽電池に適用すると、ファイヤースルーできたとしてもｎ型シリコン基板とアルミニウムとの反応により合金層（アルミニウム－シリコン合金層）が生じるため、形成されたｐ＋層と微結晶ｎ＋シリコン層とがシャントしてしまい、やはりセルの変換効率が大幅に低下してしまう。
　よって、本発明は、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の裏面電極の形成においてペースト自身がパッシベーション膜のファイヤースルー性を有していてＬＣＯを形成する必要がなく、更にｎ型シリコン基板と合金層を形成せず良好なオーミックコンタクトを得ることができる導電性アルミニウムペースト組成物を提供することを目的とする。また、その焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池を提供することも目的とする。
　本発明者らは上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、特定組成のアルミニウム－シリコン合金粉末とガラス粉末とを含有する導電性アルミニウムペースト組成物を用いることにより上記目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。
　すなわち、本発明は、下記のＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物及びそれを用いたＴＯＰＣｏｎ型太陽電池に関する。
１． アルミニウム－シリコン合金粉末と、有機ビヒクルと、ガラス粉末とを含有する導電性アルミニウムペースト組成物であって、
（１）前記アルミニウム－シリコン合金粉末は、シリコン濃度が３０質量％以上４０質量％以下であり、
（２）前記ガラス粉末は、第一のガラス粉末と第二のガラス粉末とを含有し、
　前記第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＰｂＯを４５％以上７１％以下、Ｂ２Ｏ３を５％以上３５％以下、ＳｉＯ２を０.１％以上２５.０％以下含有し、且つ前記Ｂ２Ｏ３の含有量をｘモル％、前記ＳｉＯ２の含有量をｙモル％、前記ＰｂＯの含有量をｚモル％とし、〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値が０．４０以上１．００以下の範囲であり、
　前記第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＢ２Ｏ３を３５.０％以上５５.０％以下、ＳｉＯ２を５.０％以上１０.０％以下、ＢａＯを１.０％以上２０.０％以下、ＣａＯを５.０％以上２５.０％以下、Ｋ２Ｏを３.０％以上３０.０％以下含有し、且つＰｂＯを実質的に含有しない、
ことを特徴とするＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物。
２．前記第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＡｌ２Ｏ３及び／又はＺｎＯを合計で１％以上１０％以下含有する、上記項１に記載の導電性アルミニウムペースト組成物。
３．前記第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＳｒＯを１.０％以上１０.０％以下含有する、上記項１又は２に記載の導電性アルミニウムペースト組成物。
４．シリコン半導体基板に、上記項１～３のいずれかに記載の導電性アルミニウムペースト組成物の焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池。
　本発明の導電性アルミニウムペースト組成物は、特定組成のアルミニウム－シリコン合金粉末とガラス粉末とを含有することにより、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の裏面電極の形成においてペースト自身がパッシベーション膜のファイヤースルー性を有していてＬＣＯを形成する必要がなく、更にｎ型シリコン基板と合金層を形成せず良好なオーミックコンタクトを得ることができる。なお、ｎ型シリコン基板と合金層を形成しないことは微結晶ｎ＋シリコン層に侵食がないことを意味し、良好なオーミックコンタクトを得ることができることは高変換効率の指標として接触抵抗が１０ｍΩ・ｃｍ２以下であることを意味する。
ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の構造の一例を示す断面模式図である。 実施例及び比較例において、微結晶ｎ＋シリコン層の表面に導電性アルミニウムペースト組成物をスクリーン印刷した際の印刷幅を示す図である。具体的には、印刷幅が１ｍｍ、長さが１０ｍｍ、印刷間隔が１．２ｍｍ、１．４ｍｍ、１．６ｍｍ、１．８ｍｍ及び２．０ｍｍの条件で並列するように設定したことを示している。
　以下、本発明のＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物及びそれを用いたＴＯＰＣｏｎ型太陽電池について詳細に説明する。なお、本明細書において、「～」で示される数値範囲は特に断らない限り「以上、以下」を示す。つまり、「Ａ～Ｂ」は、Ａ以上Ｂ以下の範囲を示す。
１．ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池
　本発明の導電性アルミニウムペースト組成物はＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用であるが、導電性アルミニウムペースト組成物がアルミニウム－シリコン合金粉末と、有機ビヒクルと、ガラス粉末とを含有し、特にアルミニウム－シリコン合金粉末とガラス粉末とが所定の特定組成を有する限り、他の要件は公知のＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の要件を適用することができる。
　図１は、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の構造の一例を示す断面模式図である。図１に示すＴＯＰＣｏｎ型太陽電池は、ベース基板のｎ型シリコン半導体基板１の受光面側にｐ型不純物層２が形成されており、ｎ型シリコン半導体基板１の裏面側に裏面電極６を備え、ｎ型シリコン半導体基板１と裏面電極６との間に極めて薄い酸化物層３と、高濃度にドーパントがドープされた微結晶ｎ＋シリコン層４とを備える。詳細には、ｎ型シリコン半導体基板１と裏面電極６との間に、酸化物層３がｎ型シリコン半導体基板１側に、微結晶ｎ＋シリコン層４が裏面電極６側に備わる。この構造を有することにより、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池は、酸化物層３によりトンネル効果が生じてｎ型シリコン半導体基板１（ｎ－シリコン層）と微結晶ｎ＋シリコン層４（ｎ＋シリコン層）との界面でのキャリアロスが抑制できる。
　酸化物層３としては、例えば酸化ケイ素が適用される。酸化物層３の厚さは限定されず、例えば１～１０ｎｍとすることができ、３～８ｎｍとすることが好ましい。酸化物層３の厚さが１～１０ｎｍであることで、前述のトンネル効果が起こりやすく、キャリアが太陽電池の裏面側へ移動し易くなるので、変換効率の増大がもたらされる。また、酸化物層３の厚さが１～１０ｎｍであれば、ｎ－シリコン層とｎ＋シリコン層との界面でのキャリアロスも抑制され易いので、変換効率の低減が起こりにくい。
　ｎ型シリコン半導体基板１としては、例えば半導体用途又は太陽電池用途で使われるシリコン半導体基板を広く適用することができる。
　本発明のＴＯＰＣｏｎ型太陽電池では、微結晶ｎ＋シリコン層４と裏面電極６との間にはパッシベーション膜５が備えられる。本発明の導電性アルミニウムペースト組成物はパッシベーション膜５のファイヤースルー性を有しているため、裏面電極６の形成においてパッシベーション膜５にＬＣＯ（開口部）を形成する必要がない。ｎ型シリコン半導体基板１の裏面電極６と逆側の面にはｐ型不純物層を介してフィンガー電極（図１では図示なし）が形成される。フィンガー電極は、例えば銀やアルミニウム等で形成される。
　裏面電極６は、本発明の導電性アルミニウムペースト組成物によって形成する。詳細は後述するが、本発明の導電性アルミニウムペースト組成物は特定組成のアルミニウム－シリコン合金粉末とガラス粉末とを含有することにより、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の裏面電極６の形成においてペースト自身がパッシベーション膜５のファイヤースルー性を有していてＬＣＯを形成する必要がなく、更にｎ型シリコン半導体基板１と合金層を形成せず良好なオーミックコンタクトを得ることができる。また、導電性アルミニウムペースト組成物であることにより、スクリーン印刷法等の公知の印刷法を採用できる点で裏面電極６の焼成前塗膜を簡便に形成することができる。
２．導電性アルミニウムペースト組成物
　本発明の導電性アルミニウムペースト組成物は、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用であり、詳細には裏面電極の形成に使用される。当該ペースト組成物は、アルミニウム－シリコン合金粉末と、有機ビヒクルと、ガラス粉末とを含有し、
（１）前記アルミニウム－シリコン合金粉末は、シリコン濃度が３０質量％以上４０質量％以下であり、
（２）前記ガラス粉末は、第一のガラス粉末と第二のガラス粉末とを含有し、
　前記第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＰｂＯを４５％以上７１％以下、Ｂ２Ｏ３を５％以上３５％以下、ＳｉＯ２を０．１％以上２５．０％以下含有し、且つ前記Ｂ２Ｏ３の含有量をｘモル％、前記ＳｉＯ２の含有量をｙモル％、前記ＰｂＯの含有量をｚモル％とし、〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値が０．４０以上１．００以下の範囲であり、
　前記第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＢ２Ｏ３を３５.０％以上５５.０％以下、ＳｉＯ２を５.０％以上１０.０％以下、ＢａＯを１.０％以上２０.０％以下、ＣａＯを５.０％以上２５.０％以下、Ｋ２Ｏを３.０％以上３０.０％以下含有し、且つＰｂＯを実質的に含有しない、
ことを特徴とする。
　上記特徴を有する本発明の導電性アルミニウムペースト組成物によれば、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の裏面電極の形成においてペースト自身がパッシベーション膜のファイヤースルー性を有していてＬＣＯを形成する必要がなく、更にｎ型シリコン基板と合金層を形成せず良好なオーミックコンタクトを得ることができる。なお、ｎ型シリコン基板と合金層を形成しないことは微結晶ｎ＋シリコン層に侵食がないことを意味し、良好なオーミックコンタクトを得ることができることは高変換効率の指標として接触抵抗が１０ｍΩ・ｃｍ２以下であることを意味する。
　以下、本発明の導電性アルミニウムペースト組成物の各成分について詳述する。
　＜アルミニウム－シリコン合金粉末＞
　導電性アルミニウムペースト組成物において、アルミニウム－シリコン合金粉末は導電性をもたらす役割を果たし得る成分である。本発明の導電性アルミニウムペースト組成物では、アルミニウム－シリコン合金粉末としてシリコン濃度が３０質量％以上４０質量％以下（好ましくは３５質量％以上４０質量％以下）であるものを用いる。本発明では、導電性成分としてアルミニウム－シリコン合金粉末を用いることにより、銀と比較して電極材料のマイグレーションが生じることがなく短絡のおそれが低減されている。
　シリコン濃度が３０質量％以上４０質量％以下であることにより、焼成工程において、導電性アルミニウムペースト組成物が微結晶ｎ＋シリコン層と溶融し難くなり、これにより導電性アルミニウムペースト組成物と微結晶ｎ＋シリコン層とがアルミニウム－シリコン合金層を形成し難くなる。この結果、キャリアの損失に起因するセルの変換効率低下が抑制される。シリコン濃度が３０質量％を下回ると、ｐ＋層が形成されるので変換効率低下が引き起こされるおそれがある。シリコン濃度が４０質量％を超えると抵抗が高くなり且つアルミニウム－シリコン合金粉末の製造が難しくなるおそれがある。よって、本発明ではシリコン濃度が３０質量％以上４０質量％以下のものを用いる。
　アルミニウム－シリコン合金粉末の粒子の大きさは特に限定されない。例えば、アルミニウム－シリコン合金粉末（粒子）の体積平均粒子径Ｄ５０は、１～１０μｍとすることができる。この中でも、体積平均粒子径Ｄ５０は、５～８μｍであることが好ましい。なお、本明細書におけるアルミニウム－シリコン合金粉末の体積平均粒子径Ｄ５０は、レーザー回折法により測定される値である。
　また、アルミニウム－シリコン合金粉末は、第３成分としてストロンチウムを含んでいてもよい。すなわち、ストロンチウムを含む導電性粉末としては、アルミニウム－シリコン－ストロンチウム（Ａｌ－Ｓｉ－Ｓｒ）合金粉末のほか、アルミニウム－シリコン合金粉末とアルミニウム－シリコン－ストロンチウム合金粉末との併用でもよい。
　ストロンチウムを含む導電性粉末に含まれるストロンチウムの量は特に限定されないが、０．０１～１質量％とすることができる。導電性粉末にストロンチウムが加わることにより、シリコン濃度が高い場合に焼成中の液相組成量が増し、焼結が促進されて表面抵抗が低下するという効果がある。
＜有機ビヒクル＞
　本発明の導電性アルミニウムペースト組成物において、有機ビヒクルの種類は特に限定されず、例えば、太陽電池の裏面電極を形成するために用いられる公知の有機ビヒクルを広く適用することができる。有機ビヒクルとして、溶剤に樹脂が溶解した材料を挙げることができる。又は、有機ビヒクルは、溶剤を含まず、樹脂そのものを使用してもよい。
　溶剤の種類は限定的ではなく、例えば、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル等を挙げることができる。有機ビヒクルに含まれる溶剤は、１種又は２種以上とすることができる。
　樹脂としては、例えば、公知の各種樹脂を挙げることができ、具体的には、エチルセルロース樹脂、ニトロセルロース樹脂、ポリビニールブチラール樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ユリア樹脂、キシレン樹脂、アルキッド樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、フラン樹脂、ウレタン樹脂、イソシアネート化合物、シアネート化合物、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリスチレン樹脂、ＡＢＳ樹脂、ポリメタクリル酸メチル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリ酢酸ビニル樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、ポリスルフォン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリエーテルスルフォン樹脂、ポリアリレート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリ４フッ化エチレン樹脂、シリコン樹脂等を挙げることができる。有機ビヒクルに含まれる樹脂は、１種又は２種以上とすることができる。
　有機ビヒクルは必要に応じて各種添加剤を含むこともできる。添加剤としては、例えば、酸化防止剤、腐食抑制剤、消泡剤、増粘剤、分散剤、タックファイヤー、カップリング剤、静電付与剤、重合禁止剤、チキソトロピー剤、沈降防止剤等を挙げることができる。具体的には、ポリエチレングリコールエステル化合物、ポリエチレングリコールエーテル化合物、ポリオキシエチレンソルビタンエステル化合物、ソルビタンアルキルエステル化合物、脂肪族多価カルボン酸化合物、燐酸エステル化合物、ポリエステル酸のアマイドアミン塩、酸化ポリエチレン系化合物、脂肪酸アマイドワックス、ステアリン酸のアルカリ土類金属塩等を挙げることができる。
　有機ビヒクルに含まれる樹脂、溶剤及び各種添加剤の割合は任意に調整することができ、例えば、公知の有機ビヒクルと同様の成分比とすることができる。
　有機ビヒクルの含有量は特に限定されないが、例えば、良好な塗布性（印刷性）を有するという観点から、前記アルミニウム－シリコン合金粉末１００質量部に対して、１０質量部以上５００質量部以下であることが好ましく、２０質量部以上４５質量部以下であることがより好ましい。
＜ガラス粉末＞
　本発明の導電性アルミニウムペースト組成物に含まれるガラス粉末とは、ガラス質のフリット（粉末）である。特に本発明では、ガラス粉末として第一のガラス粉末（鉛含有ガラス）と第二のガラス粉末（実質的に鉛を含有しないホウケイ酸ガラス）とを含有し、
　前記第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＰｂＯを４５％以上７１％以下、Ｂ２Ｏ３を５％以上３５％以下、ＳｉＯ２を０.１％以上２５.０％以下含有し、且つ前記Ｂ２Ｏ３の含有量をｘモル％、前記ＳｉＯ２の含有量をｙモル％、前記ＰｂＯの含有量をｚモル％とし、〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値が０．４０以上１．００以下の範囲であり、
　前記第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＢ２Ｏ３を３５.０％以上５５.０％以下、ＳｉＯ２を５.０％以上１０.０％以下、ＢａＯを１.０％以上２０.０％以下、ＣａＯを５.０％以上２５.０％以下、Ｋ２Ｏを３.０％以上３０.０％以下含有し、且つＰｂＯを実質的に含有しない、
特定組成のガラス粉末を採用することを特徴とする。
　本発明では、第一のガラス粉末と第二のガラス粉末の二種類を組み合わせることにより、パッシベーション膜のファイヤースルー性に優れるとともに、ｎ型シリコン半導体基板と合金層（アルミニウム－シリコン合金層）を形成せず（つまり、焼成過程での微結晶ｎ＋シリコン層への侵食が抑制されている）、良好なオーミックコンタクトを得ることができる。その結果、太陽電池セルの変換効率を高めることができる。
　第一のガラス粉末は、鉛含有ガラスであり、酸化物モル％表記でＰｂＯを４５％以上７１％以下、Ｂ２Ｏ３を５％以上３５％以下、ＳｉＯ２を０.１％以上２５.０％以下含有し、且つ前記Ｂ２Ｏ３の含有量をｘモル％、前記ＳｉＯ２の含有量をｙモル％、前記ＰｂＯの含有量をｚモル％とし、〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値が０．４０以上１．００以下の範囲である。
　第一のガラス粉末は、ＰｂＯの含有量は５０％以上７１％以下と設定することができ、６０％以上７１％以上と設定することができる。Ｂ２Ｏ３の含有量は１０％以上３２％以下と設定することができ、２０％以上３２％以下と設定することができる。ＳｉＯ２の含有量は１.０％以上２３.０％以下と設定することができ、８.０％以上２３.０％以下と設定することができる。また、〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値は０．４０以上０．９０以下と設定することができ、０．４３以上０．８６以下と設定することができる。
　第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＡｌ２Ｏ３及び／又はＺｎＯを合計で１％以上１０％以下含有してもよい。これらの成分を含有することにより、第一のガラス粉末の耐候性を向上させるとともにペースト粘度を安定化することができる。Ａｌ２Ｏ３の含有量は、例えば１％以上７％以下と設定することができる。また、ＺｎＯの含有量は、例えば２％以上５％以下と設定することができ、３％以上４％以下と設定することができる。
　第二のガラス粉末は、実質的に鉛を含有しないホウケイ酸ガラスであり、酸化物モル％表記でＢ２Ｏ３を３５.０％以上５５.０％以下、ＳｉＯ２を５.０％以上１０.０％以下、ＢａＯを１.０％以上２０.０％以下、ＣａＯを５.０％以上２５.０％以下、Ｋ２Ｏを３.０％以上３０.０％以下含有し、且つＰｂＯを実質的に含有しない。
　第二のガラス粉末は、Ｂ２Ｏ３の含有量は４０.０％以上５３.０％以下と設定することができ、４１．２％以上４５．５％以下と設定することができる。ＳｉＯ２の含有量は６．５％以上９.０％以下と設定することができ、６．９％以上７．６％以下と設定することができる。ＢａＯの含有量は１０.０％以上２０.０％以下と設定することができ、１５．１％以上１８．４％以下と設定することができる。ＣａＯの含有量は６.０％以上２０.０％以下と設定することができ、６．４％以上１９．０％以下と設定することができる。また、Ｋ２Ｏの含有量は１０.０％以上３０.０％以下と設定することができ、１１．４％以上２０．１％以下と設定することができる。なお、第二のガラス粉末は鉛成分（ＰｂＯ）を実質的に含有しないが、これは成分分析により鉛成分が検出限界未満であるか又は不可避不純物と同視できる含有量であることを意味する。
　第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＳｒＯを１.０％以上１０.０％以下含有してもよい。ＳｒＯの含有量は３．０％以上６．０％以下と設定することができる。ＳｒＯを含有することにより、第二のガラス粉末の耐候性を向上させるとともにペースト粘度を安定化することができる。また、第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＺｎＯを０．０％（実質的に含有しない態様を含む）以上２５.０％以下含有してもよい。ＺｎＯの含有量は１．０％以上２５．０％以下と設定することができ、５．０％以上２５．０％以下と設定することができる。第二のガラス粉末にＺｎＯを上記範囲で含有することにより、ガラスの耐候性を上げてペースト粘度を安定化することができる。
　ガラス粉末の含有量は特に限定されないが、例えば、ｎ型シリコン半導体基板に対する密着性と裏面電極の電気抵抗のバランスの観点から、前記アルミニウム－シリコン合金粉末１００質量部に対して、第一のガラス粉末と第二のガラス粉末との合計で０．５質量部以上４０質量部以下であることが好ましく、４質量部以上１５質量部以下であることがより好ましい。また、第一のガラス粉末と第二のガラス粉末との混合比率としては、第二のガラス粉：第二のガラス粉末（質量比）＝１：３～３：１の範囲内が好ましい。更に、各ガラス粉末の軟化点は６５０℃以下であることが好ましく、各ガラス粉末を構成するガラス粒子の体積平均粒子径Ｄ５０は１～３μｍであることが好ましい。
　本発明の導電性アルミニウムペースト組成物は、冒頭で説明したＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の裏面電極用ペースト組成物として有用である。本発明は、導電性アルミニウムペースト組成物の発明に加えて、導電性アルミニウムペースト組成物の焼成物である裏面電極が積層されていることを特徴とするＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の発明も包含する。
　導電性アルミニウムペースト組成物の塗膜を焼成する際の焼成温度は、所望の裏面電極が形成される限り限定的ではないが、焼成温度は７００℃以上とすることが好ましい。これにより、導電性アルミニウムペースト組成物と微結晶ｎ＋シリコン層とが合金層（アルミニウム－シリコン合金層）を形成することを抑制して所望の裏面電極を形成し易くなる。焼成温度の上限は、例えば導電性アルミニウムペースト組成物に含まれるアルミニウム－シリコン合金粉末の融点より低いことが好ましく、この場合、導電性アルミニウムペースト組成物と微結晶ｎ＋シリコン層とが合金層を更に形成し難くなる。この点から、焼成温度は９００℃以下であることが好ましく、８５０℃以下であることがより好ましく、８００℃以下であることが特に好ましい。
　塗膜の焼成時間は、焼成温度に応じて適宜決定できる。例えば１分以上３００分以下とすることができ、１分以上５分以下であることが好ましい。焼成は、空気雰囲気、窒素雰囲気のいずれで行ってもよい。焼成方法も特に限定されず、例えば、公知の加熱炉を用いて焼成処理を行うことができる。
　以下に実施例及び比較例を示して本発明を具体的に説明する。但し、本発明は実施例に限定されない。
　実施例１
　ガスアトマイズ法により、アルミニウム－シリコン合金粉末を製造した。アルミニウム－シリコン合金粉末は、シリコン濃度が３６質量％、体積平均粒子径Ｄ５０が６．０μｍとなるように製造した。第一のガラス粉末としてＰｂＯ：５０．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：２３．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２０．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：７．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（略号Ｐ１）、第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４５．５０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．６０ｍｏｌ％、ＣａＯ：１９．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：１５．９０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１２．００ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（略号Ｂ１）を質量比１：１で混合した混合ガラス粉末を準備した。また、有機ビヒクルとしてエチルセルロースがブチルジグリコールに溶解した１０質量％濃度の樹脂溶液を準備した。
　次にアルミニウム－シリコン合金粒子１００質量部、及び混合ガラス粉末５質量部を、分散装置（ディスパー）を用いて有機ビヒクル３０質量部に分散させ、導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例２
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：５４．４０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１２．８０ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２３．５０ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：５．７０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：３．６０ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ２）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例３
　第一のガラス粉末組成がＰｂＯ：４５．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１５．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：３０．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：７．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：３．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ３）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例４
　第一のガラス粉末としてがＰｂＯ：６０．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１４．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２２．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：４．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ４）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例５
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：６３．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２２．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：３．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：４．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ５）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例６
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：６６．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：３２．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：１．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ６）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例７
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：７１．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１６．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：１３．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ７）を使用し、第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４３．７０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．１０ｍｏｌ％、ＣａＯ：１８．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：１５．１０ｍｏｌ％、ＳｒＯ：４．７０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１１．４０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ２）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例８
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：５２．６０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．７０ｍｏｌ％、ＣａＯ：６．４０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１８．４０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１３．９０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ３）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例９
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４１．２０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：６．９０ｍｏｌ％、ＣａＯ：１７．３０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１４．５０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：２０．１０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ４）を使用した以外は、実施例５と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１０
　ガスアトマイズ法により製造した、Ｄ５０が６．０μｍ、シリコン濃度が３０質量％のアルミニウム－シリコン合金粉末を使用した以外は、実施例３と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１１
　ガスアトマイズ法により製造した、Ｄ５０が６．０μｍ、シリコン濃度が４０質量％のアルミニウム－シリコン合金粉末を使用した以外は、実施例３と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１
　ガスアトマイズ法により製造した、Ｄ５０が６．０μｍのアルミニウム粉末（シリコン濃度は０質量％）を使用した以外は、実施例１と同様にして導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２
　ガスアトマイズ法により製造した、Ｄ５０が６．０μｍ、シリコン濃度が２５質量％のアルミニウム－シリコン合金粉末を使用した以外は、実施例１と同様にして導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例３
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：１３．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：５．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２８．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：５４．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ８）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例４
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：３４．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：５７．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：５．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：２．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：２．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ９）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例５
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：４０．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：６０．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１０）を使用した以外は、実施例８と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例６
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：４７．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：４２．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：８．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：３．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１１）を使用した以外は、実施例８と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例７
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：５４．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１５．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：４．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：６．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：２１．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１２）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例８
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：７４.００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１６．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：１０．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１３）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例９
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：７６．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１６．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：４．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：４．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１４）を使用した以外は、実施例８と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１０
　第一のガラス粉末としてＰｂＯ：８０．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２０．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１５）を使用した以外は、実施例８と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１１
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：５２．１０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．５０ｍｏｌ％、ＣａＯ：２１．５０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１７．９０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ５）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１２
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４７．４０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．７０ｍｏｌ％、ＣａＯ：１９．５０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１６．３０ｍｏｌ％、ＰｂＯ：９．１０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ６）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１３
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：２２．１０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．６０ｍｏｌ％、ＣａＯ：１１．４０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１９．６０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：６．７０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：３１．６０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ７）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１４
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：５５．２０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．８０ｍｏｌ％、ＣａＯ：５．３０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１５．９０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：９．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：５．８０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ８）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１５
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：５４．１０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：４．５０ｍｏｌ％、ＣａＯ：６．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：１８．４０ｍｏｌ％、ＳｒＯ：４．８０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：５．５０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：６．７０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ９）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１６
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：３８．９０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：３０．７０ｍｏｌ％、ＣａＯ：６．４０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１２．８０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１１．２０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１０）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１７
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４５．５０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．９０ｍｏｌ％、ＣａＯ：２０．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：０．４０ｍｏｌ％、ＳｒＯ：４．２０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１４．５０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：６．５０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１１）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１８
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４３．４０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．７０ｍｏｌ％、ＣａＯ：７．９０ｍｏｌ％、ＢａＯ：３０．００ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１０．００ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１２）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例１９
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：４５．５０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：９．９０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１８．４０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：２６．２０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１３）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２０
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：３２．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．６０ｍｏｌ％、ＣａＯ：３５．１０ｍｏｌ％、ＢａＯ：１０．００ｍｏｌ％、ＳｒＯ：３．３０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：２．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：１０．００ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１４）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２１
　第二のガラス粉末としてＢ２Ｏ３：３９．５０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．６０ｍｏｌ％、ＣａＯ：５．５０ｍｏｌ％、ＢａＯ：９．８０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：３５．６０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：２．０９ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１５）を使用した以外は、実施例１と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１２
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：３６．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１０．００ｍｏｌ％、ＣａＯ：１９．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：１５．００ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：２０．００ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１６）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１３
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：４３．５０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．１０ｍｏｌ％、ＣａＯ：２３．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：１５．００ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：１１．４０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１８）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１４
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：４８．５０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：７．５０ｍｏｌ％、ＣａＯ：１８．９０ｍｏｌ％、ＢａＯ：３．２０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：２１．９０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ２０）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１５
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：４３．７０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：９．９０ｍｏｌ％、ＣａＯ：９．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：４．７０ｍｏｌ％、ＳｒＯ：５．３０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：３．１０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：２４．３０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ２２）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　実施例１６
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：４０．２０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：９．５０ｍｏｌ％、ＣａＯ：５．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：５．８０ｍｏｌ％、ＳｒＯ：３．３０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：２８．５０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：７．７０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ２３）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２２
　第一のガラス粉末組成がＰｂＯ：４５．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：２７．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：２０．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：２．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：６．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１６）を使用した以外は、実施例８と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２３
　第一のガラス粉末組成がＰｂＯ：４５．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１６．００ｍｏｌ％、Ｂ２Ｏ３：３８．００ｍｏｌ％、Ａｌ２Ｏ３：１．００ｍｏｌ％からなる鉛含有ガラス粉末（Ｐ１７）を使用した以外は、実施例８と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２４
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：４０．００ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：１１．００ｍｏｌ％、ＣａＯ：１５．００ｍｏｌ％、ＢａＯ：２０．００ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：４．００ｍｏｌ％、ＺｎＯ：１０．００ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１７）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２５
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：３６．１０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：８．７０ｍｏｌ％、ＣａＯ：２７．１０ｍｏｌ％、ＢａＯ：８．９０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：９．８０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：９．４０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ１９）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
　比較例２６
　第二のガラス粉末組成がＢ２Ｏ３：３８．７０ｍｏｌ％、ＳｉＯ２：９．７０ｍｏｌ％、ＣａＯ：８．８０ｍｏｌ％、ＢａＯ：２２．２０ｍｏｌ％、Ｋ２Ｏ：９．５０ｍｏｌ％、ＺｎＯ：１１．１０ｍｏｌ％からなるホウケイ酸ガラス粉末（Ｂ２１）を使用した以外は、実施例４と同様の方法で導電性アルミニウムペースト組成物を得た。
（接触抵抗評価用の焼成基板の作製）
　図１、図２に示す様に、ｎ型シリコン半導体基板１にｐ型不純物層２を設けた面とは反対側の面に、内側から順に厚さ５ｎｍの酸化物（酸化ケイ素）層３、厚さ２００ｎｍの微結晶ｎ＋シリコン層４及びパッシベーション膜５が積層されたウェハを準備した。このウェハの裏面に、実施例及び比較例で調製した導電性アルミニウムペースト組成物を、印刷後の厚みが２０～３０μｍ、幅が１ｍｍ、長さが１０ｍｍ、印刷間隔が１．２ｍｍ、１．４ｍｍ、１．６ｍｍ、１．８ｍｍ及び２．０ｍｍの条件で並列するように設定してスクリーン印刷した。次に印刷後の積層体を７００℃に設定した赤外ベルト炉に設置し、この温度で焼成することにより裏面電極６の形成を行った。これにより、評価用の焼成基板を製作した。
（接触抵抗の測定及び評価）
　日置電機株式会社製の抵抗測定器（製品名：ミリオームハイテスタＨｉＴＥＳＴＥＲ　３５４０）を用いて、得られた評価用の焼成基板の電気抵抗を測定し、ＴＬＭ（Transmission line method）法により、裏面電極６と微結晶ｎ＋シリコン層４との接触抵抗を算出した。良好なオーミックコンタクトを得ることができる接触抵抗は１０ｍΩ・ｃｍ２以下である。
（太陽電池セルの作製）
　前記ウェハの裏面に、実施例及び比較例で調製した導電性アルミニウムペースト組成物を０．２～０．３ｇ／１セルになるように櫛歯パターンに印刷し、次に前記ウェハの受光面にフィンガー電極形成用銀ペーストを印刷し、８００℃に設定した赤外ベルト炉を用いて裏面電極及びフィンガー電極を形成した。これにより、太陽電池セルを作製した。
（パッシベーション膜の貫通の有無及び微結晶ｎ＋シリコン層４への侵食の評価）
　太陽電池セルに形成された裏面電極６を、常温の塩酸水溶液に６０分間浸すことで除去した後、光学顕微鏡により観察し、パッシベーション膜５の貫通の有無を確認した。パッシベーション膜を５を貫通している（ファイヤースルーしている）ものを「Ａ」、パッシベーション膜５を貫通していなかったものを「Ｂ」と評価した。また、パッシベーション膜５を貫通しているものについては、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）により観察し、微結晶ｎ＋シリコン層４の侵食の有無を確認した。微結晶ｎ＋シリコン層４を侵食していなかったものを「Ａ」、侵食していたものを「Ｂ」として評価した。パッシベーション膜５を貫通していないものは微結晶ｎ＋シリコン層４の侵食の有無は確認できないため「－」と表記した。
　以上の結果を表１に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　表１に示すとおり、本発明所定の特定組成のアルミニウム－シリコン合金粉末とガラス粉末とを含有することにより、ＴＯＰＣｏｎ型太陽電池の裏面電極の形成においてペースト自身がパッシベーション膜のファイヤースルー性を有していてＬＣＯを形成する必要がなく、更にｎ型シリコン基板と合金層を形成せず良好なオーミックコンタクトを得ることができることが確認された。
１．ｎ型シリコン半導体基板
２．ｐ型不純物層
３．酸化物層
４．微結晶ｎ＋シリコン層
５．パッシベーション膜
６．導電性アルミニウムペースト組成物の焼成物（裏面電極）

Claims (4)

  1. 　アルミニウム－シリコン合金粉末と、有機ビヒクルと、ガラス粉末とを含有する導電性アルミニウムペースト組成物であって、
    （１）前記アルミニウム－シリコン合金粉末は、シリコン濃度が３０質量％以上４０質量％以下であり、
    （２）前記ガラス粉末は、第一のガラス粉末と第二のガラス粉末とを含有し、
    　前記第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＰｂＯを４５％以上７１％以下、Ｂ２Ｏ３を５％以上３５％以下、ＳｉＯ２を０.１％以上２５.０％以下含有し、且つ前記Ｂ２Ｏ３の含有量をｘモル％、前記ＳｉＯ２の含有量をｙモル％、前記ＰｂＯの含有量をｚモル％とし、〔（ｘ＋ｙ）／ｚ〕の値が０．４０以上１．００以下の範囲であり、
    　前記第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＢ２Ｏ３を３５.０％以上５５.０％以下、ＳｉＯ２を５.０％以上１０.０％以下、ＢａＯを１.０％以上２０.０％以下、ＣａＯを５.０％以上２５.０％以下、Ｋ２Ｏを３.０％以上３０.０％以下含有し、且つＰｂＯを実質的に含有しない、
    ことを特徴とするＴＯＰＣｏｎ型太陽電池電極用導電性アルミニウムペースト組成物。
  2. 　前記第一のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＡｌ２Ｏ３及び／又はＺｎＯを合計で１％以上１０％以下含有する、請求項１に記載の導電性アルミニウムペースト組成物。
  3. 　前記第二のガラス粉末は、酸化物モル％表記でＳｒＯを１.０％以上１０.０％以下含有する、請求項１に記載の導電性アルミニウムペースト組成物。
  4. 　シリコン半導体基板に、請求項１～３のいずれかに記載の導電性アルミニウムペースト組成物の焼成物である裏面電極が積層されているＴＯＰＣｏｎ型太陽電池。
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