WO2023157848A1 - アクティブノイズコントロールシステム - Google Patents

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WO2023157848A1
WO2023157848A1 PCT/JP2023/005067 JP2023005067W WO2023157848A1 WO 2023157848 A1 WO2023157848 A1 WO 2023157848A1 JP 2023005067 W JP2023005067 W JP 2023005067W WO 2023157848 A1 WO2023157848 A1 WO 2023157848A1
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WO
WIPO (PCT)
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sound
piezoelectric speaker
space
piezoelectric
margin
Prior art date
Application number
PCT/JP2023/005067
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
康平 大戸
嘉延 梶川
亮佑 岡嶌
Original Assignee
日東電工株式会社
学校法人 関西大学
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日東電工株式会社, 学校法人 関西大学 filed Critical 日東電工株式会社
Publication of WO2023157848A1 publication Critical patent/WO2023157848A1/ja

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    • G—PHYSICS
    • G10—MUSICAL INSTRUMENTS; ACOUSTICS
    • G10K—SOUND-PRODUCING DEVICES; METHODS OR DEVICES FOR PROTECTING AGAINST, OR FOR DAMPING, NOISE OR OTHER ACOUSTIC WAVES IN GENERAL; ACOUSTICS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G10K11/00—Methods or devices for transmitting, conducting or directing sound in general; Methods or devices for protecting against, or for damping, noise or other acoustic waves in general
    • G10K11/16—Methods or devices for protecting against, or for damping, noise or other acoustic waves in general
    • G10K11/175—Methods or devices for protecting against, or for damping, noise or other acoustic waves in general using interference effects; Masking sound
    • G10K11/178—Methods or devices for protecting against, or for damping, noise or other acoustic waves in general using interference effects; Masking sound by electro-acoustically regenerating the original acoustic waves in anti-phase
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R17/00—Piezoelectric transducers; Electrostrictive transducers

Definitions

  • the present invention relates to an active noise control system.
  • An active noise control system (hereinafter sometimes referred to as an ANC system) is known.
  • ANC systems noise is reduced with out-of-phase sounds.
  • Patent Literature 1 describes an example of an ANC system.
  • a speaker is attached to a structure.
  • the present invention provides an ANC system that has a configuration suitable for attenuating sound from speakers attached to a structure behind the structure as viewed from the speakers.
  • the present invention a structure having a front surface and a back surface; a first piezoelectric loudspeaker disposed on the surface and radiating acoustic waves for sound deadening; a second piezoelectric speaker disposed on the back surface and emitting a sound wave for silencing, Provide an active noise control system.
  • the ANC system according to the present invention is suitable for attenuating the sound originating from the speaker attached to the structure behind the structure as seen from the speaker.
  • FIG. 1 is a top view of the ANC system according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a side view of the ANC system according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a detailed perspective view showing the structure to which the first piezoelectric speaker and the second piezoelectric speaker are attached.
  • FIG. 4A is an enlarged view for explaining the arrangement of the first radiation surface of the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 4B is an enlarged view for explaining the arrangement of the second radiation surface of the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 5A is an enlarged view for explaining another example of the orientation of the first radiation surface of the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 5B is an enlarged view for explaining another example of the orientation of the second radiation surface of the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 6A is an enlarged view for explaining another example of the shape of the first radiation surface of the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 6B is an enlarged view for explaining another example of the shape of the second radiation surface of the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 7A is an enlarged view for explaining each area of the first radiation surface of the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 7B is an enlarged view for explaining each area of the second radiation surface of the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 8A is a top view for explaining diffracted waves from the first noise source.
  • FIG. 8B is a side view for explaining diffracted waves from the first noise source.
  • FIG. 8C is a perspective view for explaining diffracted waves from the first noise source.
  • FIG. 8A is a top view for explaining diffracted waves from the first noise source.
  • FIG. 8B is a side view for explaining diffracted waves from the first noise source.
  • FIG. 8C is a perspective view for explaining diffracted waves from the
  • FIG. 8D is a top view for explaining the wavefront formed by the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 8E is a side view for explaining the wavefront formed by the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 8F is a perspective view for explaining a wavefront formed by the first piezoelectric speaker.
  • FIG. 9A is a top view for explaining diffracted waves from the second noise source.
  • FIG. 9B is a side view for explaining diffracted waves from the second noise source.
  • FIG. 9C is a perspective view for explaining diffracted waves from the second noise source.
  • FIG. 9D is a top view for explaining the wavefront formed by the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 9E is a side view for explaining the wavefront formed by the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 9A is a top view for explaining diffracted waves from the second noise source.
  • FIG. 9B is a side view for explaining diffracted waves from the second noise source.
  • FIG. 9C is a perspective
  • FIG. 9F is a perspective view for explaining the wavefront formed by the second piezoelectric speaker.
  • FIG. 10 is an explanatory diagram of a wavefront formed by a conventional dynamic speaker.
  • FIG. 11 is an explanatory diagram of a wavefront formed by a conventional planar speaker.
  • FIG. 12 is an explanatory diagram of vibration of the radiation surface of the piezoelectric speaker.
  • FIG. 13 is an explanatory diagram of a support structure for the piezoelectric film.
  • FIG. 14 is an explanatory diagram of the ANC system according to the first embodiment.
  • FIG. 15 is a top view of the ANC system according to the second embodiment.
  • FIG. 16 is a side view of the ANC system according to the second embodiment.
  • FIG. 17 is an explanatory diagram of the ANC system according to the second embodiment.
  • FIG. 10 is an explanatory diagram of a wavefront formed by a conventional dynamic speaker.
  • FIG. 11 is an explanatory diagram of a wavefront formed by a conventional plan
  • FIG. 18 is a schematic diagram showing an ANC system configured by attaching a conventional dynamic speaker to a structure.
  • FIG. 19 is a schematic diagram showing an ANC system according to a second embodiment configured by attaching a first piezoelectric speaker to a structure.
  • FIG. 20 is a schematic top view showing a phase distribution that can be formed behind the back surface of the structure in the ANC system according to the second embodiment.
  • FIG. 21 is a cross-sectional view parallel to the thickness direction of the piezoelectric speaker.
  • FIG. 22 is a top view of the piezoelectric speaker when observed from the side opposite to the fixed surface.
  • FIG. 23 is a diagram showing a piezoelectric speaker according to another configuration example.
  • FIG. 24 is a diagram for explaining the structure of the manufactured sample.
  • FIG. 24 is a diagram for explaining the structure of the manufactured sample.
  • FIG. 25 is a diagram for explaining a configuration for measuring a sample
  • FIG. 26 is a diagram for explaining a configuration for measuring a sample
  • FIG. 27 is a block diagram of the output system.
  • FIG. 28 is a block diagram of the evaluation system.
  • FIG. 29A is a table showing sample evaluation results.
  • FIG. 29B is a table showing sample evaluation results.
  • FIG. 30 is a graph showing the relationship between the degree of restraint of the intervening layer and the frequency at which sound begins to appear.
  • FIG. 31 is a graph showing frequency characteristics of the sound pressure level of sample E1.
  • FIG. 32 is a graph showing frequency characteristics of the sound pressure level of sample E2.
  • FIG. 33 is a graph showing frequency characteristics of the sound pressure level of sample R1.
  • FIG. 31 is a graph showing frequency characteristics of the sound pressure level of sample E1.
  • FIG. 32 is a graph showing frequency characteristics of the sound pressure level of sample E2.
  • FIG. 33 is a graph showing frequency characteristics of the sound pressure level of sample
  • FIG. 51 is a diagram showing propagation of a wavefront originating from a planar speaker.
  • FIG. 52A is an explanatory diagram of the silencing effect.
  • FIG. 52B is an explanatory diagram of the silencing effect.
  • FIG. 52C is an explanatory diagram of the silencing effect.
  • FIG. 53A is an explanatory diagram of the silencing effect.
  • FIG. 53B is an explanatory diagram of the silencing effect.
  • FIG. 53C is an explanatory diagram of the silencing effect.
  • FIG. 54 is a perspective view for explaining a horizontal section for measurement and a sagittal section for measurement.
  • 55 is a configuration diagram of an ANC evaluation system according to Example 1.
  • FIG. 56 is a perspective view showing a partition to which the first piezoelectric speaker according to Example 1 is attached;
  • FIG. 57 is an enlarged view for explaining the arrangement of the first radiation surface of the first piezoelectric speaker according to Example 1.
  • FIG. 58 is a contour diagram showing the sound pressure distribution in the horizontal section for measurement in Example 1.
  • FIG. FIG. 59 is a configuration diagram of an ANC evaluation system according to the second embodiment.
  • 60 is a contour diagram showing the sound pressure distribution in the measurement sagittal section in Example 2.
  • FIG. 61 is a contour diagram showing the sound pressure distribution in the horizontal section for measurement in Example 3.
  • FIG. 62 is a contour diagram showing the sound pressure distribution in the measurement sagittal section in Example 4.
  • FIG. 69A is a color map showing the phase distribution in the horizontal section for measurement in Comparative Example 5.
  • FIG. 69B is a contour diagram showing the phase distribution in the horizontal section for measurement in Comparative Example 5.
  • FIG. 70 is a top view for explaining the configuration of the ANC evaluation system according to Example 6.
  • FIG. 71 is a side view for explaining the configuration of the ANC evaluation system according to Example 6.
  • FIG. 72 is an enlarged view for explaining the arrangement of the second radiation surface of the second piezoelectric speaker according to Example 6.
  • FIG. 73 is a graph showing the measurement results of the silencing effect of Example 6.
  • FIG. 74 is a graph showing the measurement results of the silencing effect of Example 7.
  • FIG. 75 is a graph showing the measurement results of the silencing effect of Reference Example 5.
  • FIG. 76 is a graph showing measurement results of the silencing effect of Comparative Example 6.
  • FIG. 77 is a graph showing the measurement results of the silencing effect of Comparative Example 7.
  • FIG. 78 is a graph showing the measurement results of the silencing effect of Reference Example 6.
  • FIG. FIG. 79 is a top view for explaining techniques and effects that can be derived from the present invention.
  • FIG. 80 is a side view illustrating techniques and effects that can be derived from the present invention.
  • an active noise control system (ANC system) 500 includes a structure 80 and a plurality of piezoelectric speakers 10.
  • FIG. Each of the plurality of piezoelectric speakers 10 has a radiation surface 15 and radiates sound waves for silencing.
  • the plurality of piezoelectric speakers 10 has a first piezoelectric speaker 10A and a second piezoelectric speaker 10B.
  • the ANC system 500 is a dual ANC system using the first piezoelectric speaker 10A and the second piezoelectric speaker 10B.
  • a dual ANC system may also be referred to as a two-way ANC system.
  • the structure 80 has a plate 80p.
  • the structure 80 further has a leg 80l.
  • the leg 80l supports the board 80p in an upright state. In other figures, illustration of the leg 80l is omitted.
  • the structure 80 has a front surface 80a and a back surface 80b.
  • the front surface 80a and the back surface 80b are surfaces opposite to each other.
  • the first piezoelectric speaker 10A is arranged on the surface 80a.
  • the second piezoelectric speaker 10B is arranged on the rear surface 80b.
  • the plate 80p has a front surface 80a and a back surface 80b.
  • the plate 80p of the structure 80 has, for example, a vertical dimension of 20 cm or more and 400 cm or less (in a specific example, 20 cm or more and 200 cm or less) and a horizontal dimension of 25 cm or more and 200 cm or less (in a specific example, 50 cm or more and 120 cm or less). below), and the dimension in the thickness direction is 0.1 cm or more and 15 cm or less.
  • the vertical direction, the horizontal direction and the thickness direction are orthogonal to each other.
  • the vertical dimension and the horizontal dimension may be the same or different.
  • the vertical dimension of the entire structure 80 is, for example, 20 cm or more and 400 cm or less, and in a specific example, it is 20 cm or more and 200 cm or less.
  • the structure 80 is a partition. In one example, structure 80 is a partition located in an office. In one embodiment, structure 80 is a partition that separates shared desks in an office.
  • the radiation surface 15 of the first piezoelectric speaker 10A is hereinafter referred to as the first radiation surface 15A.
  • the first radiation surface 15A radiates sound waves by vibrating. This sound wave reduces noise.
  • the first radiation surface 15A is a continuous radiation surface.
  • the radiation surface 15 of the second piezoelectric speaker 10B is hereinafter referred to as a second radiation surface 15B.
  • the second radiation surface 15B radiates sound waves by vibrating. This sound wave reduces noise.
  • the second radiation surface 15B is a continuous radiation surface.
  • the structure 80 has a left end 81 , a right end 82 , a top end 83 and a bottom end 84 .
  • the left end portion 81 and the right end portion 82 face each other in the left-right direction.
  • the upper end portion 83 and the lower end portion 84 face each other in the vertical direction.
  • the lower end 84 is the end that contacts the floor.
  • the plate 80p has a left edge 81, a right edge 82 and a top edge 83.
  • Plate 80p and leg 80l have lower ends 84 .
  • “Left” and “right” refer to the positional relationship when observing along the direction from the front surface 80a of the structure 80 to the back surface 80b. Therefore, the left end portion 15j of the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A and the left end portion 15p of the second radiation surface 15B of the second piezoelectric speaker 10B overlap when the front surface 80a or the back surface 80b is viewed in plan. I can. Similarly, the right end portion 15k of the first radiation surface 15A and the right end portion 15q of the second radiation surface 15B can overlap when the front surface 80a or the back surface 80b is viewed in plan.
  • the ANC system 500 is suitable for reducing diffracted sounds generated at the left end 81 , right end 82 and top end 83 . This point will be described below with reference to FIGS. 8A to 9F.
  • a wavefront refers to a plane of points of equal phase in a wave.
  • illustration of the second noise source 200B and the like is omitted.
  • illustration of the first noise source 200A and the like is omitted.
  • the distance between the first noise source 200A and the structure 80 is, for example, 0.3 m or more and 5 m or less. This distance is specifically the distance between the first noise source 200A and the plate 80p in the thickness direction of the plate 80p.
  • the height of the first noise source 200A is, for example, 0 m or more and 4 m or less. In this context, height is vertical position.
  • the distance between the second noise source 200B and the structure 80 is, for example, 0.3 m or more and 5 m or less. This distance is specifically the distance between the second noise source 200B and the plate 80p in the thickness direction of the plate 80p.
  • the height of the second noise source 200B is, for example, 0 m or more and 4 m or less. In this context, height is vertical position.
  • the first piezoelectric speaker 10A is suitable for reducing diffracted sounds generated in this way at the left end 81 and the right end 82 .
  • the noise from the second noise source 200B propagates toward the structure 80 as shown in FIGS. 9A and 9B.
  • diffraction can occur at the left end 81 and the right end 82 .
  • a wavefront generated by diffraction at the left end portion 81 and the right end portion 82 propagates around the structure 80 as viewed from the second noise source 200B.
  • the second piezoelectric speaker 10B is suitable for reducing diffracted sounds generated in this manner at the left end 81 and the right end 82 .
  • the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A extends along the vertical direction D1 and the horizontal direction D2.
  • the first radiation surface 15A has a lateral direction and a longitudinal direction.
  • the transverse dimension of the first radiation surface 15A is the dimension L1.
  • the longitudinal dimension of the first radiation surface 15A is the dimension L2.
  • the lateral direction of the first radiation surface 15A is the vertical direction D1.
  • the longitudinal direction of the first radiation surface 15A is the horizontal direction D2.
  • the ratio of dimension L2 to dimension L1, that is, the first aspect ratio L2/L1 is, for example, 1.2 or more.
  • the first aspect ratio L2/L1 may be 1.2 or more and 6 or less, or may be 1.5 or more and 4 or less.
  • the dimension L1 is, for example, 20 cm or more and 400 cm or less.
  • the dimension L1 may be between 20 cm and 200 cm.
  • the dimension L2 is, for example, 25 cm or more and 200 cm or less. Dimension L2 may be between 50 cm and 120 cm.
  • the upper limit of the dimension L1 may be set.
  • dimension L1 is 50 cm or less. In this way, high-frequency noise can be easily silenced.
  • Dimension L1 may be 40 cm or less.
  • the lateral direction of the first radiation surface 15A may be deviated from the vertical direction D1.
  • the longitudinal direction of the first radiation surface 15A may deviate from the horizontal direction D2.
  • a deviation angle ⁇ p of the lateral direction of the first radiation surface 15A from the vertical direction D1 is, for example, in the range of 0° or more and 15° or less.
  • the deviation angle ⁇ p may be, for example, in the range of 0° or more and 5° or less.
  • the deviation angle ⁇ q of the longitudinal direction of the first radiation surface 15A from the left-right direction D2 is, for example, in the range of 0° or more and 15° or less.
  • the deviation angle ⁇ q may be, for example, in the range of 0° or more and 5° or less.
  • the shape of the first radiation surface 15A is a quadrangle, specifically a rectangle.
  • the shape of the first radiation surface 15A is not limited to this.
  • the shape of the first radiation surface 15A may be a rectangle with rounded corners as shown in FIG. 6A.
  • the radius of curvature Cr of the corners of the rounded rectangle is, for example, greater than 0 and less than or equal to half the length of the rounded rectangle in the short direction.
  • the first radiation surface 15A does not have to have a longitudinal direction and a lateral direction.
  • the shape of the first radiation surface 15A may be square or circular.
  • the second radiation surface 15B of the second piezoelectric speaker 10B extends along the vertical direction D1 and the horizontal direction D2.
  • the second radiation surface 15B has a lateral direction and a longitudinal direction.
  • the widthwise dimension of the second radiation surface 15B is the dimension L3.
  • the longitudinal dimension of the second radiation surface 15B is dimension L4.
  • the lateral direction of the second radiation surface 15B is the vertical direction D1.
  • the longitudinal direction of the second radiation surface 15B is the horizontal direction D2.
  • the ratio of dimension L4 to dimension L3, that is, the second aspect ratio L4/L3 is, for example, 1.2 or more.
  • the second aspect ratio L4/L3 may be 1.2 or more and 6 or less, or may be 1.5 or more and 4 or less.
  • the dimension L3 is, for example, 20 cm or more and 400 cm or less. Dimension L3 may be between 20 cm and 200 cm.
  • the dimension L4 is, for example, 25 cm or more and 200 cm or less. Dimension L4 may be between 50 cm and 120 cm.
  • the upper limit of the dimension L3 may be set.
  • dimension L3 is 50 cm or less. In this way, high-frequency noise can be easily silenced.
  • Dimension L3 may be 40 cm or less.
  • the lateral direction of the second radiation surface 15B may be deviated from the vertical direction D1.
  • the longitudinal direction of the second radiation surface 15B may deviate from the left-right direction D2.
  • the deviation angle ⁇ s of the lateral direction of the second radiation surface 15B from the vertical direction D1 is, for example, in the range of 0° or more and 15° or less.
  • the deviation angle ⁇ s may be, for example, in the range of 0° or more and 5° or less.
  • the deviation angle ⁇ t of the longitudinal direction of the second radiation surface 15B from the left-right direction D2 is, for example, in the range of 0° or more and 15° or less.
  • the deviation angle ⁇ t may be, for example, in the range of 0° or more and 5° or less.
  • the shape of the second radiation surface 15B is quadrangular, specifically rectangular.
  • the shape of the second radiation surface 15B is not limited to this.
  • the shape of the second radiation surface 15B may be a rectangle with rounded corners as shown in FIG. 6B.
  • the radius of curvature Cr of the corners of the rounded rectangle is, for example, greater than 0 and less than or equal to half the length of the rounded rectangle in the short direction.
  • the second radiation surface 15B does not have to have a longitudinal direction and a lateral direction.
  • the shape of the second radiation surface 15B may be square or circular.
  • the ANC system 500 can reduce diffracted sounds caused by diffraction at the left end portion 81 and the right end portion 82.
  • FIG. 7A to 9F it is understood that the ANC system 500 can reduce diffracted sounds caused by diffraction at the left end portion 81 and the right end portion 82.
  • noise from the first noise source 200A propagates toward the structure 80.
  • a wavefront 81w caused by diffraction at the left end portion 81 and a wavefront 82w caused by diffraction at the right end portion 82 propagate so as to approach the axis 80X.
  • the propagation direction of the wavefront 81w is indicated by reference numeral 81d
  • the propagation direction of the wavefront 82w is indicated by reference numeral 82d.
  • the axis 80X is an axis passing between the left end portion 81 and the right end portion 82 and extending away from the structure 80 .
  • axis 80X is orthogonal to surface 80a of structure 80 and passes through the center of surface 80a.
  • the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A has a first area 15a, a second area 15b and a third area 15c.
  • the third region 15c is located between the first region 15a and the second region 15b.
  • the first region 15a is positioned on the left end portion 81 side when viewed from the third region 15c.
  • the second region 15b is located on the right end portion 82 side when viewed from the third region 15c.
  • the first piezoelectric speaker 10A has a first wavefront 16a that propagates from the first region 15a toward the first reference axis 10X, and a wavefront 16a that propagates from the second region 15b toward the first reference axis 10X. and a propagating second wavefront 16b.
  • the first wave surface 16a and the second wave surface 16b are formed by vibrating the first radiation surface 15A.
  • the propagation direction of the first wavefront 16a is indicated by 13a
  • the propagation direction of the second wavefront 16b is indicated by 13b.
  • the first reference axis 10X is an axis that passes through the third region 15c and extends away from the first radiation surface 15A.
  • the first piezoelectric speaker 10A under the control of the control device 120, has a first wavefront 16a that propagates from the first region 15a toward the first reference axis 10X, and a wavefront 16a that propagates from the second region 15b toward the first reference axis 10X. and a second wavefront 16b propagating closer to .
  • control by controller 120 maintains first piezoelectric speaker 10A forming such first wavefront 16a and second wavefront 16b.
  • the first area 15a, the third area 15c, and the second area 15b are arranged in this order along the horizontal direction D2. Therefore, in the present embodiment, it can be said that the wavefront 81w derived from diffraction at the left end portion 81 and the wavefront 82w derived from diffraction at the right end portion 82 propagate so as to approach the first reference axis 10X shown in FIG. 8D. Therefore, the diffraction-derived wavefront 81w of the left end portion 81 and the diffraction-derived wavefront 82w of the right end portion 82, and the first wavefront 16a and the second wavefront 16b derived from the ANC system 500 have commonalities in propagation direction. This is suitable for reducing diffracted sounds caused by noise diffracting at the left end portion 81 and the right end portion 82 .
  • the first reference axis 10X is orthogonal to the third region 15c during non-vibration.
  • the deviation angle ⁇ 1 of the propagation direction of the first wavefront 16a from the first reference axis 10X is, for example, in the range of 5° or more and 85° or less, may be in the range of 15° or more and 75° or less, or may be in the range of 25° or more and 65° or more. ° or less.
  • the deviation angle ⁇ 2 of the propagation direction of the second wavefront 16b from the first reference axis 10X is, for example, in the range of 5° or more and 85° or less, may be in the range of 15° or more and 75° or less, or may be in the range of 25° or more and 65° or more. ° or less.
  • the third region 15c may be flat when not vibrating. Also, the entire first radiation surface 15A may be flat when not vibrating.
  • the first reference axis 10X may be an axis passing through the center of the first radiation surface
  • the noise from the second noise source 200B propagates toward the structure 80.
  • a wavefront 81y generated by diffraction at the left end portion 81 and a wavefront 82y generated by diffraction at the right end portion 82 propagate so as to approach the axis 80Y.
  • the propagation direction of wavefront 81y is indicated by reference numeral 81e
  • the propagation direction of wavefront 82y is indicated by reference numeral 82e.
  • the axis 80Y is an axis passing between the left end portion 81 and the right end portion 82 and extending away from the structure 80 .
  • the axis 80Y is orthogonal to the back surface 80b of the structure 80 and passes through the center of the back surface 80b.
  • the second radiation surface 15B of the second piezoelectric speaker 10B has a fourth area 15d, a fifth area 15e and a sixth area 15f.
  • the sixth region 15f is positioned between the fourth region 15d and the fifth region 15e.
  • the fourth region 15d is located on the left end portion 81 side when viewed from the sixth region 15f.
  • the fifth region 15e is located on the right end portion 82 side when viewed from the sixth region 15f.
  • the second piezoelectric speaker 10B has a fourth wavefront 16d that propagates from the fourth region 15d toward the second reference axis 10Y, and a wavefront that propagates from the fifth region 15e toward the second reference axis 10Y. and a propagating fifth wavefront 16e.
  • such fourth wavefront 16d and fifth wavefront 16e are formed by vibrating the second radiation surface 15B.
  • the propagation direction of the fourth wavefront 16d is indicated by 13d
  • the propagation direction of the fifth wavefront 16e is indicated by 13e.
  • the second reference axis 10Y is an axis that passes through the sixth region 15f and extends away from the second radiation surface 15B.
  • the second piezoelectric speaker 10B under the control of the control device 120, has a fourth wavefront 16d that propagates from the fourth region 15d toward the second reference axis 10Y, and a wavefront 16d that propagates from the fourth region 15d toward the second reference axis 10Y. and a fifth wavefront 16e propagating closer to .
  • the controller 120 controls the second piezoelectric speaker 10B to maintain such fourth wavefront 16d and fifth wavefront 16e.
  • the fourth area 15d, the sixth area 15f, and the fifth area 15e are arranged in this order along the horizontal direction D2. Therefore, in the present embodiment, it can be said that the wavefront 81y resulting from diffraction at the left end portion 81 and the wavefront 82y resulting from diffraction at the right end portion 82 propagate so as to approach the second reference axis 10Y shown in FIG. 9D. Therefore, the diffraction-derived wavefront 81y of the left end portion 81 and the diffraction-derived wavefront 82y of the right end portion 82, and the fourth wavefront 16d and fifth wavefront 16e derived from the ANC system 500 have commonalities in the propagation direction. This is suitable for reducing diffracted sounds caused by noise diffracting at the left end portion 81 and the right end portion 82 .
  • the second reference axis 10Y is orthogonal to the sixth region 15f during non-vibration.
  • the deviation angle ⁇ 3 of the propagation direction of the fourth wavefront 16d from the second reference axis 10Y is, for example, in the range of 5° or more and 85° or less, may be in the range of 15° or more and 75° or less, or may be in the range of 25° or more and 65° or more. ° or less.
  • the deviation angle ⁇ 4 of the propagation direction of the fifth wavefront 16e from the second reference axis 10Y is, for example, in the range of 5° or more and 85° or less, may be in the range of 15° or more and 75° or less, or may be in the range of 25° or more and 65° or more. ° or less.
  • the sixth region 15f may be flat when not vibrating.
  • the entire second radiation surface 15B may be flat when not vibrating.
  • the second reference axis 10Y may be an axis passing through the center of the second radiation surface
  • FIG. 10 is an explanatory diagram of a conventional dynamic speaker 610.
  • Dynamic speaker 610 radiates a substantially hemispherical wave from its radiation surface.
  • the wavefront 610w of the substantially hemispherical wave is also substantially hemispherical.
  • axis 610X is the axis that extends through and away from the radiating surface of dynamic speaker 610 .
  • FIG. 11 is an explanatory diagram of a conventional planar speaker 620.
  • FIG. Planar speaker 620 radiates a substantially plane wave from its radiating surface.
  • a wavefront 620w of the substantially plane wave is also substantially planar.
  • axis 620X is an axis that extends through the radiating surface of planar speaker 620 and away from the radiating surface.
  • the first wavefront 16a propagating from the first region 15a toward the first reference axis 10X and the first wavefront 16a propagating from the second region 15b toward the first reference axis 10X.
  • the combination of the second wavefront 16b propagating closer to the reference axis 10X is not available with conventional speakers 610 and 620.
  • FIG. 12 is an explanatory diagram of vibration of the radiation surface 15 of the piezoelectric speaker 10 of this embodiment.
  • the piezoelectric speaker 10 is constructed so that the end portions of the radiation surface 15 can vibrate satisfactorily.
  • the radiation surface 15 as a whole has a high degree of freedom of vibration. This may contribute to the formation of the first wavefront 16a, the second wavefront 16b, the fourth wavefront 16d and the fifth wavefront 16e.
  • the radiating surface 15 can vibrate in a mode somewhat close to the free end vibration mode.
  • the radiation surface 15 can vibrate in a mode somewhat close to the primary free end vibration mode.
  • the superiority of the silencing effect of the piezoelectric speaker 10 compared to the conventional speakers 610 and 620 tends to appear when the frequency of the noise from the first noise source 200A is high and when the frequency of the noise from the second noise source 200B is high. There is a tendency.
  • a portion of the end of the first radiation surface 15A is formed in the first region 15a.
  • a part of the end portion of the first radiation surface 15A is formed in the second region 15b.
  • a part of the end portion of the second radiation surface 15B is formed in the fourth region 15d.
  • a portion of the end of the second radiation surface 15B is formed in the fifth region 15e.
  • first non-muffling situation a situation where the first piezoelectric speaker 10A is not vibrating and the first piezoelectric speaker 10A is not exhibiting its muffling function (hereinafter referred to as a first non-muffling situation).
  • first non-silencing state depending on the size of the structure 80 and the wavelength of the noise from the first noise source 200A, as schematically shown in FIG.
  • the phase of the sound wave in the first region 15a and the phase of the sound wave in the second region 15b are the same, and the phase of the sound wave in the first region 15a and the phase of the sound wave in the third region are the same.
  • a period may appear in which the positive and negative phases of the sound waves in the second region 15b and the third region 15c are opposite to each other.
  • hatching 11m is associated with first region 15a and second region 15b, which schematically indicates that the phase of sound waves in first region 15a and second region 15b is one of positive and negative.
  • hatching 11n is associated with the third region 15c, which schematically represents that the phase of the sound wave in the third region 15c is the other of positive and negative.
  • the noise derived from the first noise source 200A having the phase distribution as described above in the first region 15a, the second region 15b, and the third region 15c is It can be reduced by the sound originating from the first piezoelectric speaker 10A.
  • a sound wave in the first region 15a formed by the first piezoelectric speaker 10A is defined as a first sound wave.
  • a sound wave in the second region 15b formed by the first piezoelectric speaker 10A is defined as a second sound wave.
  • a sound wave in the third region 15c formed by the first piezoelectric speaker 10A is defined as a third sound wave.
  • the positive and negative phases of the first sound wave and the phase of the second sound wave are the same, and the phases of the first sound wave and the third sound wave are the same. There appears a period in which the positive and negative phases are opposite, and the positive and negative phases of the second sound wave and the third sound wave are opposite.
  • the noise derived from the first noise source 200A having the above phase distribution in the first region 15a, the second region 15b, and the third region 15c is reduced by the sound derived from the first piezoelectric speaker 10A.
  • hatching 11m is associated with the third region 15c, which schematically represents that the phase of the sound wave from the first piezoelectric speaker 10A in the third region 15c is either positive or negative.
  • hatching 11n is associated with the first region 15a and the second region 15b, which indicates that the phase of the sound wave from the first piezoelectric speaker 10A in the first region 15a and the second region 15b is positive and positive. It schematically represents that it is the other negative.
  • the phase of the first sound wave and the phase of the second sound wave are the same, the phase of the first sound wave and the phase of the third sound wave are opposite to each other, and the phase of the third sound wave is controlled by the control device 120.
  • a period T1 may appear in which the phase of the second sound wave and the phase of the third sound wave are opposite to each other.
  • T1/Tp is, for example, 0.01 or more and 1 or less, although it depends on the first noise source 200A.
  • the period T1 can be continuous or appear periodically.
  • T1/Tp may be 0.1 or more and 1 or less, 0.5 or more and 1 or less, 0.7 or more and 1 or less, or 0.9 or more and 1 or less. good too.
  • a situation in which the second piezoelectric speaker 10B is not vibrating and the second piezoelectric speaker 10B is not performing its muffling function hereinafter referred to as a second non-muffling situation.
  • the second non-silencing state depending on the size of the structure 80 and the wavelength of the noise from the second noise source 200B, as schematically shown in FIG.
  • the phase of the sound wave in the fourth region 15d and the phase of the sound wave in the fifth region 15e are the same, and the phase of the sound wave in the fourth region 15d and the phase of the sound wave in the sixth region are the same.
  • a period may appear in which the positive and negative phases of the sound waves in 15f are opposite to each other, and the positive and negative phases of the sound wave in the fifth region 15e and the sixth region 15f are opposite.
  • hatching 11m is associated with the fourth region 15d and the fifth region 15e, which schematically indicates that the phase of the sound wave in the fourth region 15d and the fifth region 15e is one of positive and negative.
  • hatching 11n is associated with the sixth region 15f, which schematically represents that the phase of the sound wave in the sixth region 15f is the other of positive and negative.
  • the noise derived from the second noise source 200B having the phase distribution as described above in the fourth region 15d, the fifth region 15e, and the sixth region 15f is It can be reduced by the sound originating from the second piezoelectric speaker 10B.
  • a sound wave in the fourth region 15d formed by the second piezoelectric speaker 10B is defined as a fourth sound wave.
  • a sound wave in the fifth region 15e formed by the second piezoelectric speaker 10B is defined as a fifth sound wave.
  • a sound wave in the sixth region 15f formed by the second piezoelectric speaker 10B is defined as a sixth sound wave.
  • the phase of the fourth sound wave and the phase of the fifth sound wave are the same, and the phase of the fourth sound wave and the phase of the sixth sound wave are the same. There appears a period in which the positive and negative phases are opposite and the positive and negative phases of the fifth sound wave and the sixth sound wave are opposite.
  • the noise derived from the second noise source 200B having the above phase distribution in the fourth region 15d, the fifth region 15e, and the sixth region 15f is reduced by the sound derived from the second piezoelectric speaker 10B.
  • hatching 11m is associated with the sixth region 15f, which schematically represents that the phase of the sound wave from the second piezoelectric speaker 10B in the sixth region 15f is either positive or negative.
  • hatching 11n is associated with the fourth region 15d and the fifth region 15e, which indicates that the phase of the sound wave from the second piezoelectric speaker 10B in the fourth region 15d and the fifth region 15e is positive and positive. It schematically represents that it is the other negative.
  • phase of the fourth sound wave and the phase of the fifth sound wave are the same, the phase of the fourth sound wave and the phase of the sixth sound wave are opposite to each other, and the phase is controlled by the control device 120.
  • a period T2 may appear in which the phase of the fifth sound wave and the phase of the sixth sound wave are opposite to each other.
  • T2/Tq is, for example, 0.01 or more and 1 or less, although it depends on the second noise source 200B.
  • the period T2 can be continuous or appear periodically.
  • T2/Tq may be 0.1 or more and 1 or less, 0.5 or more and 1 or less, 0.7 or more and 1 or less, or 0.9 or more and 1 or less. good too.
  • the first sound wave is the sound wave in the first region 15a formed by the first piezoelectric speaker 10A.
  • the first sound wave is a concept that includes sound waves at positions extremely close to the first region 15a in the space facing the first region 15a. Therefore, the measurement of the first sound wave can be realized by measuring the sound wave at the "extremely close position". The same applies to the second sound wave and the third sound wave.
  • the fourth sound wave is the sound wave in the fourth region 15d formed by the second piezoelectric speaker 10B.
  • the fourth sound wave is a concept that includes sound waves at positions extremely close to the fourth area 15d in the space facing the fourth area 15d. Therefore, the measurement of the fourth sound wave can be realized by measuring the sound wave at the "extremely close position". The same is true for the fifth and sixth sound waves.
  • the phase distribution of the first sound wave, the second sound wave, and the third sound wave as described above can be formed by vibrating the first radiation surface 15A in the primary free end vibration mode. Also, the phase distribution of the fourth, fifth, and sixth sound waves as described above can be formed by vibrating the second radiation surface 15B in the primary free end vibration mode.
  • FIG. 8B schematically shows a wavefront 83w generated by diffraction of the sound originating from the first noise source 200A at the upper end portion 83 and a propagation direction 83d of the wavefront 83w.
  • FIG. 9B schematically shows a wavefront 83y generated by diffraction of the sound originating from the second noise source 200B at the upper end portion 83 and a propagation direction 83e of the wavefront 83y.
  • the ANC system 500 includes a control device 120.
  • the control device 120 is configured to output sound in the first frequency range FR1 from the first piezoelectric speaker 10A.
  • the first frequency range FR1 is, for example, 50 Hz or more and 3000 Hz or less, and may be 100 Hz or more and 2000 Hz or less.
  • the controller 120 can set the second frequency range FR2.
  • the control device 120 controls the frequency of the sound output from the first piezoelectric speaker 10A to a value within the second frequency range FR2.
  • the second frequency range FR2 is narrower than the first frequency range FR1.
  • a desired band can be selected as the second frequency range FR2.
  • control device 120 is configured to output sound in the third frequency range FR3 from the second piezoelectric speaker 10B.
  • the third frequency range FR3 is, for example, 50 Hz or more and 3000 Hz or less, and may be 100 Hz or more and 2000 Hz or less.
  • the controller 120 can set a fourth frequency range FR4.
  • the control device 120 controls the frequency of the sound output from the second piezoelectric speaker 10B to a value within the fourth frequency range FR4.
  • the fourth frequency range FR4 is narrower than the third frequency range FR3.
  • a desired band can be selected as the fourth frequency range FR4.
  • the control device 120 controls the frequency of the sound output from the first piezoelectric speaker 10A to a value within the first specific frequency range, and adjusts the frequency of the sound output from the second piezoelectric speaker 10B to It has a control mode that controls to a value within a second specific frequency range.
  • the wavelength of sound at the upper limit of the first specific frequency range is defined as the first reference wavelength.
  • the wavelength of sound at the upper limit of the second specific frequency range is defined as a second reference wavelength.
  • the control mode may be a mode in which the first specific frequency range is the first frequency range FR1 and the second specific frequency range is the third frequency range FR3.
  • the control mode may be a mode in which the first specific frequency range is the first frequency range FR1 and the second specific frequency range is the fourth frequency range FR4.
  • the control mode may be a mode in which the first specific frequency range is the second frequency range FR2 and the second specific frequency range is the third frequency range FR3.
  • the control mode may be a mode in which the first specific frequency range is the second frequency range FR2 and the second specific frequency range is the fourth frequency range FR4.
  • Controller 120 may have these four modes. In that case, these four modes can be used properly.
  • the first radiation surface 15A has a left end portion 15j and a right end portion 15k facing each other.
  • the first left margin M1 between the left end 15j of the first radiation surface 15A and the left end 81 of the structure 80 is zero or more and 1/1 of the first reference wavelength. 10 or less.
  • the first right margin M2 between the right end 15k of the first radiation surface 15A and the right end 82 of the structure 80 is zero or more and 1/1 of the first reference wavelength. 10 or less.
  • This is suitable for reducing diffracted sounds generated by the noise originating from the first noise source 200A being diffracted at the left end portion 81 and the right end portion 82 .
  • the ratio of 1/10 is derived from the fact that the silence area of a general ANC is 1/10 of the wavelength of the noise to be controlled.
  • the first left margin M1 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or less, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the first right margin M2 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or more, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the first upper margin M3 between the upper end 15l of the first radiation surface 15A and the upper end 83 of the structure 80 is zero or more, and , which is less than or equal to 1/10 of the first reference wavelength.
  • the first top margin M3 may be greater than or equal to zero and less than or equal to 1 ⁇ 3 of the first reference wavelength.
  • the first upper margin M3 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or less, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the short direction of the first radiation surface 15A is deviated from the vertical direction D1 and the longitudinal direction of the first radiation surface 15A is deviated from the horizontal direction D2.
  • the edge of the structure 80 and the edge of the first radiation surface 15A may not be parallel.
  • the geometric mean value of the distance between the left edge of the structure 80 and the left edge of the first radiation surface 15A is employed as the first left margin M1.
  • the geometric mean value of the distance between the right edge of the structure 80 and the right edge of the first radiation surface 15A is employed.
  • the geometric mean value of the distance between the upper edge of the structure 80 and the upper edge of the first radiation surface 15A is employed.
  • a geometric mean value of the distance between the lower edge of the structure 80 and the lower edge of the first radiation surface 15A is employed as the first lower margin M4, which will be described later.
  • the second radiation surface 15B has a left end portion 15p and a right end portion 15q facing each other.
  • the second left margin M5 between the left end portion 15p of the second radiation surface 15B and the left end portion 81 of the structure 80 is zero or more and 1/1 of the second reference wavelength. 10 or less.
  • the second right margin M6 between the right end portion 15q of the second radiation surface 15B and the right end portion 82 of the structure 80 is zero or more and 1/1 of the second reference wavelength. 10 or less. This is suitable for reducing diffracted sounds caused by the noise originating from the second noise source 200B being diffracted at the left end portion 81 and the right end portion 82 .
  • the upper limits of the second left margin M5 and the second right margin M6 may be larger than 1/10 of the second reference wavelength.
  • the second left margin M5 can be set to 0 or more and 1/3 or less of the second reference wavelength, from the viewpoint of achieving reasonable commercialization while obtaining the effect of reducing the diffracted sound.
  • the second right margin M6 can be set to zero or more and 1/3 or less of the second reference wavelength.
  • the second left margin M5 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or less, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the second right margin M6 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or more, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the second upper margin M7 between the upper end 15r of the second radiation surface 15B and the upper end 83 of the structure 80 is zero or more, and , which is less than or equal to 1/10 of the second reference wavelength.
  • the second top margin M7 may be greater than or equal to zero and less than or equal to 1 ⁇ 3 of the second reference wavelength.
  • the second upper margin M7 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or less, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the short direction of the second radiation surface 15B is deviated from the vertical direction D1 and the longitudinal direction of the second radiation surface 15B is deviated from the horizontal direction D2.
  • the edge of the structure 80 and the edge of the second radiation surface 15B may not be parallel.
  • the geometric mean value of the distance between the left edge of the structure 80 and the left edge of the second radiation surface 15B is used as the second left margin M5.
  • the second right margin M6 the geometric mean value of the distance between the right edge of the structure 80 and the right edge of the second radiation surface 15B is employed.
  • the geometric mean value of the distance between the top side of the structure 80 and the top side of the second radiation surface 15B is employed.
  • a geometric mean value of the distance between the lower edge of the structure 80 and the lower edge of the second radiation surface 15B is employed as a second lower margin M8, which will be described later.
  • the left end portion 15j of the first radiation surface 15A and the left end portion 15p of the second radiation surface 15B overlap each other. However, they do not have to overlap.
  • the right end portion 15k of the first radiation surface 15A and the right end portion 15q of the second radiation surface 15B overlap each other. However, they do not have to overlap.
  • the upper end portion 15l of the first radiation surface 15A and the upper end portion 15r of the second radiation surface 15B overlap each other.
  • the lower end portion 15m of the first radiation surface 15A and the lower end portion 15s of the second radiation surface 15B overlap each other. However, they do not have to overlap.
  • the ANC system 500 includes a first reference microphone 130A, a second reference microphone 130B and a controller 120, as shown in FIG.
  • the control device 120 controls the sound output from the first piezoelectric speaker 10A using the first reference microphone 130A.
  • the control device 120 controls the sound output from the second piezoelectric speaker 10B using the second reference microphone 130B.
  • the control device 120 has a first noise control filter 121A and a second noise control filter 121B.
  • the control device 120 controls the sound output from the first piezoelectric speaker 10A using the first noise control filter 121A.
  • the control device 120 controls the sound output from the second piezoelectric speaker 10B using the second noise control filter 121B.
  • the lower end 84 is in contact with the floor.
  • the structure 80 it is also possible to arrange the structure 80 so that a space is formed below the lower end portion 84 .
  • the ANC system 500 can be configured to reduce the diffracted sound produced at the lower end 84 .
  • at least one stand may be set on the floor and the structure 80 may be installed on the stand.
  • the first lower margin M4 between the lower end 15m of the first radiation surface 15A and the lower end 84 of the structure 80 is zero or more and the first It is 1/10 or less of one reference wavelength.
  • the first bottom margin M4 may be greater than or equal to zero and less than or equal to 1 ⁇ 3 of the first reference wavelength.
  • the first bottom margin M4 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or less, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the second bottom margin M8 between the bottom end 15s of the second radiation surface 15B and the bottom end 84 of the structure 80 is zero or more and It is 1/10 or less of the two reference wavelengths.
  • the second bottom margin M8 may be greater than or equal to zero and less than or equal to 1 ⁇ 3 of the second reference wavelength.
  • the second bottom margin M8 is, for example, 0 cm or more and 50 cm or less, and may be 0 cm or more and 10 cm or less.
  • the first piezoelectric speaker 10A is arranged is not particularly limited. It is not particularly limited on which part of the back surface 80b of the structure 80 the second piezoelectric speaker 10B is arranged.
  • the ANC system 500 includes a structure 80, a first piezoelectric speaker 10A, a second piezoelectric speaker 10B, a first reference microphone 130A, a second reference microphone 130B and a controller 120.
  • the first noise source 200A are arranged in this order.
  • the control device 120 has a first noise control filter 121A and a second noise control filter 121B.
  • a sound wave to be canceled by the first piezoelectric speaker 10A is diffracted by the structure 80 from the first noise source 200A, reaches the first noise reduction area 150A, and has a waveform X1 in the first noise reduction area 150A.
  • the first piezoelectric speaker 10A emits a sound wave that has a waveform Y1 that is opposite in phase to the waveform X1 when it reaches the first sound deadening area 150A. These sound waves cancel each other out in the first sound deadening area 150A. Stated another way, these sound waves are combined in the first sound deadening region 150A to produce a combined sound wave having a waveform Z1 whose amplitude has been reduced to zero or a small level.
  • the sound wave to be canceled by the second piezoelectric speaker 10B is diffracted from the second noise source 200B by the structure 80, reaches the second noise reduction area 150B, and has a waveform X2 in the second noise reduction area 150B.
  • the second piezoelectric speaker 10B emits a sound wave that has a waveform Y2 that is opposite in phase to the waveform X2 when it reaches the second noise reduction area 150B.
  • These sound waves cancel each other out in the second sound deadening area 150B. Stated another way, these sound waves are combined in the second sound deadening region 150B to produce a combined sound wave having waveform Z2 whose amplitude is reduced to zero or a small level.
  • the first reference microphone 130A and the first noise source 200A are located on the other side of the structure 80 when viewed from the first piezoelectric speaker 10A.
  • a first reference microphone 130A senses sound from a first noise source 200A. Based on the sound sensed by the first reference microphone 130A, the control device 120 adjusts the sound waves emitted from the first piezoelectric speaker 10A so that the first muffling area 150A is muffled.
  • the second reference microphone 130B and the second noise source 200B are located on the other side of the structure 80 when viewed from the second piezoelectric speaker 10B.
  • a second reference microphone 130B senses sound from a second noise source 200B. Based on the sound sensed by the second reference microphone 130B, the control device 120 adjusts the sound waves emitted from the second piezoelectric speaker 10B so that the sound in the second muffling area 150B is muffled.
  • the control device 120 includes a first preamplifier (hereinafter, the amplifier may be referred to as an amplifier), a first upper low-pass filter, a first analog-to-digital converter (hereinafter, may be referred to as an AD converter), a first power It has an amplifier, a first computing unit, a first digital-to-analog converter (hereinafter sometimes referred to as a DA converter), and a first lower-stage low-pass filter.
  • a first preamplifier hereinafter, the amplifier may be referred to as an amplifier
  • a first upper low-pass filter a first analog-to-digital converter (hereinafter, may be referred to as an AD converter)
  • a first power It has an amplifier
  • a first computing unit a first digital-to-analog converter (hereinafter sometimes referred to as a DA converter), and a first lower-stage low-pass filter.
  • DA converter digital-to-analog converter
  • the first calculation unit generates the first control signal y1(n) at time n from the first reference signal x1(n).
  • the first computing unit is configured by, for example, a DSP (Digital Signal Processor) or FPGA (Field-Programmable Gate Array).
  • the first calculator has a first noise control filter 121A.
  • the first DA converter converts the first control signal y1(n) into an analog signal.
  • the first lower-stage low-pass filter passes low-frequency components of the output signal of the first DA converter.
  • a first power amplifier amplifies the output signal of the first lower-stage low-pass filter.
  • a signal output from the first power amplifier is transmitted to the first piezoelectric speaker 10A as a control signal. Based on this signal, sound is output from the first radiation surface 15A.
  • the first noise control filter 121A will be explained. Filter coefficients of the first noise control filter 121A are identified in the tuning stage. Specifically, this filter coefficient is determined so that the first piezoelectric speaker 10A emits an antiphase sound wave that cancels the diffracted waves traveling from the first noise source 200A through the structure 80. FIG. The control stage performs control based on the identified filter coefficients. In this way, the first control signal y1(n) is generated, and noise reduction using the first noise control filter 121A and the first piezoelectric speaker 10A is realized.
  • the control stage fixes the filter coefficients identified as above without changing them. That is, in the control stage in this example, the first noise control filter 121A is a fixed filter.
  • the sound input to the first reference microphone 130A and the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A have a one-to-one correspondence, and the correspondence is fixed over time. . In this way, it is possible to realize muffling by the first piezoelectric speaker 10A with less computer resources.
  • the position of the first noise source 200A is fixed, it is easy to ensure the silencing performance of the first piezoelectric speaker 10A while using the first noise control filter 121A as a fixed filter.
  • control device 120 has a second preamplifier, a second upper low-pass filter, a second AD converter, a second power amplifier, a second computing section, a second DA converter, and a second lower low-pass filter.
  • the second preamplifier amplifies the output signal of the second reference microphone 130B.
  • the second upper-stage low-pass filter passes low-frequency components of the output signal of the second preamplifier.
  • a second AD converter converts the output signal of the second upper low-pass filter into a digital signal. As a result, the second AD converter outputs the second reference signal x2(n) at time n.
  • the second calculation unit generates a second control signal y2(n) at time n from the second reference signal x2(n).
  • the second calculation unit is configured by, for example, DSP or FPGA.
  • the second calculator has a second noise control filter 121B.
  • the second DA converter converts the second control signal y2(n) into an analog signal.
  • the second lower-stage low-pass filter passes low-frequency components of the output signal of the second DA converter.
  • a second power amplifier amplifies the output signal of the second lower-stage low-pass filter.
  • a signal output from the second power amplifier is transmitted to the second piezoelectric speaker 10B as a control signal. Based on this signal, sound is output from the second radiation surface 15B.
  • the second noise control filter 121B will be explained.
  • the filter coefficients of the second noise control filter 121B are identified in the tuning stage. Specifically, this filter coefficient is determined so that the second piezoelectric speaker 10B emits an anti-phase sound wave that cancels out the diffracted waves traveling from the second noise source 200B through the structure 80 .
  • the control stage performs control based on the identified filter coefficients.
  • the second control signal y2(n) is generated, and noise reduction is achieved using the second noise control filter 121B and the second piezoelectric speaker 10B.
  • the control stage fixes the filter coefficients identified as above without changing them. That is, in the control stage in this example, the second noise control filter 121B is a fixed filter.
  • the sound input to the second reference microphone 130B and the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B have a one-to-one correspondence, and the correspondence is fixed over time. .
  • noise reduction by the second piezoelectric speaker 10B can be realized with less computer resources.
  • the position of the second noise source 200B is fixed, it is easy to secure the noise reduction performance of the second piezoelectric speaker 10B while using the second noise control filter 121B as a fixed filter.
  • the ANC system 500 can be installed in an office or the like.
  • a first piezoelectric speaker 10A and a second piezoelectric speaker 10B are attached to a structure 80, which is a partition.
  • the first noise source 200A and the second noise source 200B are humans.
  • the piezoelectric speaker 10 is attached to both the front surface 80a and the rear surface 80b of the structure 80. As shown in FIG. However, this configuration is not essential.
  • the first piezoelectric speaker 10A is attached to the surface 80a of the structure 80 as in the first embodiment. ing. However, the piezoelectric speaker 10 is not attached to the rear surface 80 b of the structure 80 .
  • the ANC system 550 is a single ANC system using the first piezoelectric speaker 10A.
  • the ANC system 550 includes the first reference microphone 130A and the controller 120, as shown in FIG.
  • the control device 120 controls the sound output from the first piezoelectric speaker 10A using the first reference microphone 130A.
  • the control device 120 has a first noise control filter 121A.
  • the control device 120 has a control mode that controls the frequency of the sound output from the first piezoelectric speaker 10A to a value within the first specific frequency range.
  • the control mode may be a mode in which the first specific frequency range is the first frequency range FR1.
  • the control mode may be a mode in which the first specific frequency range is the second frequency range FR2. Controller 120 may have these two modes. In that case, these two modes can be used properly.
  • the control device 120 includes a first preamplifier, a first upper low-pass filter, a first AD converter, a first power amplifier, a first computing unit, a first DA converter, and a first lower low-pass filter.
  • the first calculator has a first noise control filter 121A.
  • the ANC system 500 according to the first embodiment and the ANC system 550 according to the second embodiment have configurations suitable for attenuating the sound that has leaked from the piezoelectric speaker 10 behind the structure 80 . This point will be described below with reference to FIGS. 18 to 20.
  • FIG. 1 Attenuation of Sound from Piezoelectric Speaker 10 to Behind Structure 80.
  • FIG. 18 is a schematic diagram showing an ANC system 650 configured by attaching a conventional dynamic speaker 610 to a structure 80.
  • noise from the first noise source 200A is sensed by the first reference microphone 130A.
  • dynamic speaker 610 Based on the sensed sound, dynamic speaker 610 emits sound toward sound deadening region 656 .
  • the noise diffracted by the structure 80 from the first noise source 200A and reaching the sound deadening region 656 is muffled.
  • part of the sound emitted from the dynamic speaker 610 wraps around behind the structure 80 .
  • a wraparound sound is input to the first reference microphone 130A.
  • the sound input to the first reference microphone 130A in this way acts as noise in the control of the sound emitted from the dynamic speaker 610 later.
  • dotted line 655 schematically shows how sound from dynamic speaker 610 wraps around behind structure 80 and is input to first reference microphone 130A.
  • AFP Acoustic Feedback Path
  • a dashed line 555 schematically shows how sound travels behind the structure 80 from the first piezoelectric speaker 10A and is input to the first reference microphone 130A.
  • the dotted line 555 is thinner than the dotted line 655 indicates this.
  • FIG. 20 is a schematic top view showing a phase distribution that can be formed behind the back surface 80b of the structure 80 in the ANC system 550 according to the second embodiment. Specifically, FIG. 20 shows a phase distribution that can be formed on the first reference plane 85A perpendicular to the vertical direction D1.
  • a first rear space 90A, a second rear space 90B and a third rear space 90C exist behind the rear surface 80b.
  • the third rear space 90C is located between the first rear space 90A and the second rear space 90B.
  • the first rear space 90A is positioned on the left end portion 81 side when viewed from the third rear space 90C.
  • the second rear space 90B is positioned on the right end portion 82 side when viewed from the third rear space 90C.
  • the first rear space 90A, the second rear space 90B, and the third rear space 90C are located near the rear surface 80b.
  • the sound wave emitted from the first area 15a by the first piezoelectric speaker 10A wraps around to the first rear space 90A via the left end 81 while maintaining the positive or negative phase.
  • the sound wave emitted from the second region 15b by the first piezoelectric speaker 10A wraps around to the second rear space 90B via the right end portion 82 while maintaining the positive or negative phase.
  • the sound wave emitted from the third region 15c by the first piezoelectric speaker 10A wraps around to the third rear space 90C via the upper end portion 83 while maintaining the positive or negative phase.
  • phase of the sound wave in the first back space 90A is negative
  • the phase of the sound wave in the second back space 90B is negative
  • the phase of the sound wave in the third back space 90C is positive. It is shown that a certain period appears. A period in which these phases are reversed may also appear due to sound wraparound. That is, due to the wraparound sound, the phase of the sound wave in the first back space 90A is positive, the phase of the sound wave in the second back space 90B is positive, and the phase of the sound wave in the third back space 90C is negative. Periods can also appear.
  • the first interference space 91A is depicted.
  • the first interfering space 91A is a space farther than the first rear space 90A, the third rear space 90C, and the second rear space 90B when viewed from the rear surface 80b of the structure 80.
  • FIG. As described above, the phases of the sound waves in the first rear space 90A, the third rear space 90C, and the second rear space 90B are respectively negative, positive, and negative, or positive, negative, and positive. sell.
  • the sound wave in the first back space 90A, the sound wave in the third back space 90C, and the sound wave in the second back space 90B propagate to the first interference space 91A located further behind. In the first interference space 91A, these sound waves interfere with each other and cancel each other.
  • the sound originating from the first piezoelectric speaker 10A is attenuated.
  • This damping effect is particularly likely to occur in the space behind the back surface 80b of the structure 80 at a position far away from the back surface 80b.
  • the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A presents a characteristic vibration shape. It is considered that the sound damping action in the first interference space 91A is expressed based on this characteristic vibration shape.
  • Attenuation of the sound originating from the first piezoelectric speaker 10A in the first interference space 91A can contribute to excellent noise reduction.
  • the sound that has flowed from the first piezoelectric speaker 10A into the first interference space 91A is used to control the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A later. , becomes difficult to act as noise.
  • FIG. 19 and 20 explained the advantages obtained in the ANC system 550 according to the second embodiment in which the piezoelectric speaker 10 is attached to one of the front surface 80a and the rear surface 80b of the structure 80.
  • FIG. A similar effect can be obtained in the ANC system 500 according to the first embodiment in which the piezoelectric speakers 10 are attached to both the front surface 80a and the rear surface 80b of the structure 80.
  • FIG. 10 since the sound originating from the first piezoelectric speaker 10A is attenuated in the space on the back surface 80b side of the structure 80, the space targeted for noise reduction by the second piezoelectric speaker 10B In addition, it is possible to prevent the sound from the first piezoelectric speaker 10A from being given as noise.
  • the sound originating from the second piezoelectric speaker 10B is attenuated, so that the sound originating from the second piezoelectric speaker 10B is generated as noise in the space targeted for muffling by the first piezoelectric speaker 10A. You can restrain what is given to you. This can contribute to good sound deadening of this space.
  • At least one stand may be set on the floor, the structure 80 may be installed on the stand, and a space may be formed below the lower end 84 .
  • the sound wave emitted from the third region 15c by the first piezoelectric speaker 10A can wrap around to the third rear space 90C via the lower end portion 84 while maintaining the positive or negative phase.
  • the sound waves that wrap around via each of the four ends 81, 82, 83 and 84 may interfere and cancel each other in the first interference space 91A.
  • the sound originating from the first piezoelectric speaker 10A can be attenuated in the first interference space 91A.
  • the piezoelectric speaker 10 includes a piezoelectric film 35, a first bonding layer 51, an intervening layer 40, and a second bonding layer 52.
  • the first bonding layer 51, the intervening layer 40, the second bonding layer 52, and the piezoelectric film 35 are laminated in this order.
  • the piezoelectric film 35 includes a piezoelectric body 30, a first electrode 61, and a second electrode 62.
  • the piezoelectric body 30 has a film shape.
  • the piezoelectric body 30 vibrates when a voltage is applied.
  • a ceramic film, a resin film, or the like can be used as the piezoelectric body 30 .
  • Materials for the piezoelectric body 30, which is a ceramic film include lead zirconate, lead zirconate titanate, lead zirconate lanthanate titanate, barium titanate, Bi layered compound, tungsten bronze structure compound, barium titanate, and bismuth ferrite. and the like.
  • Examples of materials for the piezoelectric body 30, which is a resin film include polyvinylidene fluoride and polylactic acid.
  • the material of the piezoelectric body 30, which is a resin film may be polyolefin such as polyethylene or polypropylene.
  • the piezoelectric body 30 may be a non-porous body or a porous body.
  • the thickness of the piezoelectric body 30 is, for example, in the range of 10 ⁇ m to 300 ⁇ m, and may be in the range of 30 ⁇ m to 110 ⁇ m.
  • the first electrode 61 and the second electrode 62 are in contact with the piezoelectric body 30 so as to sandwich the piezoelectric body 30 .
  • the first electrode 61 and the second electrode 62 have a film shape.
  • the first electrode 61 and the second electrode 62 are each connected to lead wires (not shown).
  • the first electrode 61 and the second electrode 62 can be formed on the piezoelectric body 30 by vapor deposition, plating, sputtering, or the like.
  • Metal foil can also be used as the first electrode 61 and the second electrode 62 .
  • the metal foil can be attached to the piezoelectric body 30 with double-sided tape, adhesive, adhesive, or the like.
  • Materials for the first electrode 61 and the second electrode 62 include metals, and specific examples include gold, platinum, silver, copper, palladium, chromium, molybdenum, iron, tin, aluminum, and nickel. Examples of materials for the first electrode 61 and the second electrode 62 include carbon, conductive polymer, and the like. Materials for the first electrode 61 and the second electrode 62 also include these alloys.
  • the first electrode 61 and the second electrode 62 may contain a glass component or the like.
  • the thicknesses of the first electrode 61 and the second electrode 62 are, for example, in the range of 10 nm or more and 150 ⁇ m or less, and may be in the range of 20 nm or more and 100 ⁇ m or less.
  • the first electrode 61 covers one main surface of the piezoelectric body 30 entirely. However, the first electrode 61 may cover only part of the one main surface of the piezoelectric body 30 .
  • the second electrode 62 covers the entire other main surface of the piezoelectric body 30 . However, the second electrode 62 may cover only part of the other main surface of the piezoelectric body 30 .
  • the intervening layer 40 is arranged between the piezoelectric film 35 and the first bonding layer 51 .
  • the intervening layer 40 may be a layer other than the adhesive layer and the adhesive layer, and may be the adhesive layer or the adhesive layer.
  • the intervening layer 40 is a porous layer and/or a resin layer.
  • the resin layer is a concept including a rubber layer and an elastomer layer, and therefore the intervening layer 40, which is a resin layer, may be a rubber layer or an elastomer layer.
  • Examples of the intervening layer 40 which is a resin layer, include an ethylene propylene rubber layer, a butyl rubber layer, a nitrile rubber layer, a natural rubber layer, a styrene-butadiene rubber layer, a silicone layer, a urethane layer, an acrylic resin layer, and the like.
  • the intervening layer 40 which is a porous layer and a resin layer, includes an ethylene propylene rubber foam layer, a butyl rubber foam layer, a nitrile rubber foam layer, a natural rubber foam layer, a styrene-butadiene rubber foam layer, A silicone foam layer, a urethane foam layer, and the like are included.
  • the intervening layer 40 which is not a porous layer but is a resin layer, include an acrylic resin layer and the like.
  • a metal porous layer or the like can be used as the intervening layer 40 which is not a resin layer but a porous layer.
  • the resin layer refers to a layer containing a resin, which may contain 30% or more resin, may contain 45% or more resin, may contain 60% or more resin, or may contain 80% resin. % or more.
  • Intervening layer 40 may be a blend layer of two or more materials.
  • the elastic modulus of the intermediate layer 40 is, for example, 10,000 N/m 2 or more and 2,000,000 N/m 2 or less, and may be 20,000 N/m 2 or more and 100,000 N/m 2 or less.
  • the pore diameter of the intervening layer 40 is 0.1 mm or more and 7.0 mm or less, and may be 0.3 mm or more and 5.0 mm or less.
  • the pore diameter of the intervening layer 40, which is a porous layer is, for example, 0.1 mm or more and 2.5 mm or less, may be 0.2 mm or more and 1.5 mm or less, or may be 0.3 mm or more and 0.7 mm. It may be below.
  • the porosity of the intervening layer 40, which is a porous layer is, for example, 70% or more and 99% or less, may be 80% or more and 99% or less, or may be 90% or more and 95% or less.
  • a known foam can be used as the intervening layer 40, which is a foam layer (for example, the foam disclosed in Patent Document 2 can be used).
  • the intervening layer 40 which is a foam layer, may have an open-cell structure, a closed-cell structure, or a semi-closed and semi-open-cell structure.
  • An open cell structure refers to a structure with an open cell rate of 100%.
  • a closed cell structure refers to a structure in which the open cell rate is 0%.
  • a semi-closed and semi-open cell structure refers to a structure with an open cell ratio of greater than 0% and less than 100%.
  • the “volume of water absorbed” is the mass of water that replaces the air in the cells of the foam layer after submerging the foam layer in water and leaving it under reduced pressure of ⁇ 750 mmHg for 3 minutes. It is obtained by measuring and converting to volume assuming that the density of water is 1.0 g/cm 3 .
  • the expansion ratio (density ratio before and after foaming) of the intervening layer 40 which is a foam layer, is, for example, 5 times or more and 40 times or less, and may be 10 times or more and 40 times or less.
  • the thickness of the intervening layer 40 in an uncompressed state is, for example, in the range of 0.1 mm or more and 30 mm or less, may be in the range of 1 mm or more and 30 mm or less, or may be in the range of 1.5 mm or more and 30 mm or less, It may be in the range of 2 mm or more and 25 mm or less.
  • the intervening layer 40 is thicker than the piezoelectric film 35 in the uncompressed state.
  • the ratio of the thickness of the intervening layer 40 to the thickness of the piezoelectric film 35 is, for example, 3 times or more, may be 10 times or more, or may be 30 times or more.
  • the intervening layer 40 is thicker than the first bonding layer 51 in the uncompressed state.
  • the thickness of the intervening layer 40 in a non-compressed state refers to the thickness of the intervening layer 40 before being incorporated into the piezoelectric speaker, in other words, the thickness of the intervening layer 40 alone.
  • the surface of the first bonding layer 51 forms the fixing surface 17 .
  • the first bonding layer 51 is a layer bonded to the structure 80 . In the example of FIG. 21 , the first bonding layer 51 is bonded to the intervening layer 40 .
  • the first bonding layer 51 is a sticky or adhesive layer.
  • the first bonding layer 51 is an adhesive layer or an adhesive layer.
  • the fixing surface 17 is an adhesive surface or an adhesive surface.
  • the first bonding layer 51 can be attached to the structure 80 .
  • the first joining layer 51 is in contact with the intervening layer 40 .
  • the first bonding layer 51 examples include a double-sided tape having a base material and an adhesive applied to both sides of the base material.
  • Examples of the base material of the double-sided tape used as the first bonding layer 51 include nonwoven fabric.
  • As the adhesive for the double-sided tape used as the first bonding layer 51 an adhesive containing an acrylic resin may be used.
  • the first bonding layer 51 may be an adhesive layer that does not have a base material.
  • the thickness of the first bonding layer 51 is, for example, 0.01 mm or more and 1.0 mm or less, and may be 0.05 mm or more and 0.5 mm or less.
  • the second bonding layer 52 is arranged between the intervening layer 40 and the piezoelectric film 35 .
  • the second bonding layer 52 is a sticky or adhesive layer.
  • the second bonding layer 52 is an adhesive layer or an adhesive layer.
  • the second bonding layer 52 bonds to the intervening layer 40 and the piezoelectric film 35 .
  • Examples of the second bonding layer 52 include a double-sided tape having a base material and an adhesive applied to both sides of the base material.
  • Examples of the base material of the double-sided tape used as the second bonding layer 52 include nonwoven fabric.
  • As the adhesive for the double-sided tape used as the second bonding layer 52 an adhesive including acrylic resin may be used.
  • the second bonding layer 52 may be an adhesive layer that does not have a base material.
  • the thickness of the second bonding layer 52 is, for example, 0.01 mm or more and 1.0 mm or less, and may be 0.05 mm or more and 0.5 mm or less.
  • the piezoelectric film 35 is integrated with the layer on the fixed surface 17 side by contacting the adhesive surface or adhesive surface with the piezoelectric film 35 .
  • the adhesive surface or adhesive surface is a surface formed by the surface of the second adhesive layer or adhesive layer 52 .
  • An ANC system 500 or an ANC system 550 can be configured using the piezoelectric speaker 10 according to the first configuration example.
  • the piezoelectric speaker 10 takes a shorter time (hereinafter sometimes referred to as a delay time) from when an electric signal reaches itself to when a sound is produced, as compared to a dynamic speaker. Therefore, the piezoelectric speaker 10 is suitable for configuring a small ANC system not only because of its small size but also because the distance between the reference microphone 130 and the piezoelectric speaker 10 can be shortened.
  • reference microphone 130, controller 120 and piezoelectric speaker 10 could be mounted in one partition.
  • the piezoelectric speaker 10 and the ANC system 500 or ANC system 550 to which the piezoelectric speaker 10 is applied will be further described.
  • the piezoelectric speaker 10 can be fixed to the structure 80 by the fixing surface 17.
  • an ANC system 500 or an ANC system 550 using the piezoelectric speaker 10 can be configured.
  • intervening layer 40 is positioned between piezoelectric film 35 and structure 80 .
  • the intervening layer 40 constrains only one of the two main surfaces of the piezoelectric film 35 .
  • the piezoelectric film 35 can easily generate low-frequency sounds in the audible range.
  • the intervening layer 40 can be arranged in a region of 25% or more of the area of the piezoelectric film 35 when the piezoelectric film 35 is viewed in a plan view.
  • the intervening layer 40 may be arranged in an area of 50% or more of the area of the piezoelectric film 35, or may be arranged in an area of 75% or more of the area of the piezoelectric film 35.
  • the layer 40 may be arranged, or the intervening layer 40 may be arranged over the entire area of the piezoelectric film 35 .
  • 50% or more of the main surface 38 of the piezoelectric speaker 10 opposite to the fixing surface 17 can be composed of the piezoelectric film 35 .
  • 75% or more of the principal surface 38 may be composed of the piezoelectric film 35 , or the entire principal surface 38 may be composed of the piezoelectric film 35 .
  • the second bonding layer 52 and the intervening layer 40 are arranged in a region of 25% or more of the area of the piezoelectric film 35 when the piezoelectric film 35 is observed in a plan view.
  • the second bonding layer 52 and the intervening layer 40 may be arranged in a region of 50% or more of the area of the piezoelectric film 35 when the piezoelectric film 35 is observed in plan view, and 75% of the area of the piezoelectric film 35 may be arranged. % or more, or the second bonding layer 52 and the intervening layer 40 may be arranged over the entire area of the piezoelectric film 35 .
  • the ratio of the region where the intervening layer 40 is arranged is not a microscopic point of view considering pores derived from the porous structure, but a more macroscopic point of view. It is defined from For example, when the piezoelectric film 35, the intervening layer 40 which is a porous body, and the second bonding layer 52 are plate-shaped bodies having a common contour in a plan view, the second bonding layer 52 is formed in an area of 100% of the area of the piezoelectric film 35. 52 and intervening layer 40 are depicted as being disposed.
  • the degree of constraint of the intervening layer 40 is 5 ⁇ 10 9 N/m 3 or less.
  • the degree of constraint of the intervening layer 40 is, for example, 1 ⁇ 10 4 N/m 3 or more.
  • the degree of constraint of the intervening layer 40 is preferably 5 ⁇ 10 8 N/m 3 or less, more preferably 2 ⁇ 10 8 N/m 3 or less, still more preferably 1 ⁇ 10 5 or more and 5 ⁇ 10 7 N /m 3 or less.
  • the degree of constraint (N/m 3 ) of the intervening layer 40 is the product of the elastic modulus (N/m 2 ) of the intervening layer 40 and the surface filling rate of the intervening layer 40, as shown in the following formula. A value obtained by dividing by 40 thickness (m).
  • the surface filling rate of the intervening layer 40 is the filling rate (value obtained by subtracting the porosity from 1) of the main surface of the intervening layer 40 on the piezoelectric film 35 side. If the pores of the intervening layer 40 are evenly distributed, the surface filling factor can be considered equal to the three-dimensional filling factor of the intervening layer 40 .
  • Constraint degree (N/m 3 ) elastic modulus (N/m 2 ) ⁇ surface filling rate ⁇ thickness (m)
  • the degree of constraint can be considered as a parameter representing the degree of constraint of the piezoelectric film 35 by the intervening layer 40 .
  • the above equation expresses that the greater the elastic modulus of the intervening layer 40, the greater the degree of constraint.
  • the above equation expresses that the degree of constraint increases as the surface filling rate of the intervening layer 40 increases.
  • the above equation expresses that the smaller the thickness of the intervening layer 40, the greater the degree of constraint. If the degree of restraint is excessively large, the deformation of the piezoelectric film 35 necessary for producing low-frequency sounds is prevented.
  • the piezoelectric film 35 Conversely, if the degree of restraint is too small, the piezoelectric film 35 is not sufficiently deformed in its thickness direction, and expands and contracts only in its in-plane direction (perpendicular to its thickness direction). Sound generation is impeded.
  • the degree of restraint of the intervening layer 40 By setting the degree of restraint of the intervening layer 40 to an appropriate range, the expansion and contraction of the piezoelectric film 35 in the in-plane direction is appropriately converted into deformation in the thickness direction, and the piezoelectric film 35 as a whole is appropriately bent, and the low-frequency side noise is more likely to occur.
  • the different layer is, for example, the second bonding layer 52 .
  • Structure 80 may have a greater degree of constraint than intervening layer 40 . Even in this case, due to the contribution of the intervening layer 40, the piezoelectric film 35 can generate low-frequency sounds. However, the structure 80 may have the same degree of constraint as the intervening layer 40 or may have a smaller degree of constraining than the intervening layer 40 .
  • the constraint degree (N/m 3 ) of the structure 80 is the product of the elastic modulus (N/m 2 ) of the structure 80 and the surface filling rate of the structure 80, which is the thickness (m) of the structure 80. is the value obtained by dividing by The surface filling rate of the structure 80 is the filling rate (value obtained by subtracting the porosity from 1) of the main surface of the structure 80 on the piezoelectric film 35 side.
  • the structure 80 has a greater stiffness (the product of Young's modulus and the moment of inertia of area), a greater Young's modulus and/or a greater thickness than the intervening layer 40 .
  • the structure 80 may have the same stiffness, Young's modulus and/or thickness as the intervening layer 40, or may have a lower stiffness, Young's modulus and/or thickness than the intervening layer 40. good.
  • the Young's modulus of the structure 80 is, for example, 1 GPa or more, may be 10 GPa or more, or may be 50 GPa or more.
  • the upper limit of the Young's modulus of the structure 80 is not particularly limited, it is, for example, 1000 GPa.
  • the piezoelectric film 35 is not completely surrounded by the intervening layer 40 .
  • "a virtual straight line exists" means that such a straight line can be drawn.
  • the intervening layer 40 extends only on the fixed surface 17 side when viewed from the piezoelectric film 35 .
  • the main surface 38 of the piezoelectric film 35 opposite to the fixing surface 17 constitutes the radiation surface 15 .
  • the main surface 38 of the piezoelectric film 35 opposite to the intervening layer 40 constitutes the radiation surface 15 .
  • the main surface of the piezoelectric film 35 on the side of the intervening layer 40 is restrained by the intervening layer 40, so that the expansion and contraction of the piezoelectric film 35 in the in-plane direction can appropriately be converted into deformation in the thickness direction.
  • other forms may also be employed.
  • the first layer may be provided on the opposite side of the piezoelectric film 35 to the intervening layer 40 .
  • the first layer is used to protect the piezoelectric film 35 .
  • the main surface of the first layer may constitute the emitting surface 15 .
  • a second layer, separate from the first layer, may constitute the emitting surface 15 .
  • the thickness of the first layer is, for example, 0.05 mm or more and 5 mm or less.
  • the material of the first layer is, for example, a polyester-based material.
  • the polyester-based material refers to a material containing polyester, which may contain 30% or more of polyester, may contain 45% or more of polyester, may contain 60% or more of polyester, and may contain 60% or more of polyester. refers to a material that may contain 80% or more of In one example, the material of the intervening layer 40 and the material of the first layer are different.
  • the degree of constraint of the intervening layer 40 and the degree of constraint of the first layer may be different.
  • the degree of constraint (N/m 3 ) of the first layer is the product of the elastic modulus (N/m 2 ) of the first layer and the surface filling rate of the first layer, which is the thickness of the first layer.
  • the surface filling rate of the first layer is the filling rate (value obtained by subtracting the porosity from 1) of the main surface of the first layer on the piezoelectric film 35 side.
  • the different degree of constraint of the intervening layer 40 and the degree of constraint of the first layer can appropriately convert the expansion and contraction of the piezoelectric film 35 in the in-plane direction into deformation in the thickness direction.
  • the intervening layer 40 is more constrained than the first layer.
  • the first layer may have a film shape.
  • the first layer may be a nonwoven.
  • the fixing surface 17 is arranged. From the viewpoint of stably fixing the piezoelectric speaker 10 to the structure 80, when the piezoelectric film 35 is observed in a plan view, the fixing surface 17 is arranged in an area of 50% or more of the area of the piezoelectric film 35. can do.
  • the fixing surface 17 may be arranged in an area of 75% or more of the area of the piezoelectric film 35 , or the fixing surface 17 may be arranged in the entire area of the piezoelectric film 35 . You may do so.
  • the piezoelectric film 35 can be stably arranged regardless of the mounting attitude to the structure 80, and the mounting to the structure 80 is easy. Furthermore, due to the contribution of the intervening layer 40, the piezoelectric film 35 emits sound regardless of the mounting posture.
  • layers adjacent to each other are bonded in a predetermined region extending along the thickness direction of the piezoelectric film 35 and passing through the piezoelectric film 35 , the intervening layer 40 and the fixing surface 17 in this order.
  • the thickness of each of the piezoelectric film 35 and the intervening layer 40 is substantially constant. This is often advantageous from various points of view, such as storage of the piezoelectric speaker 10, usability, control of sound emitted from the piezoelectric film 35, and the like.
  • the thickness is substantially constant refers to, for example, that the minimum thickness is 70% or more and 100% or less of the maximum thickness.
  • the piezoelectric film 35 and the intervening layer 40 may each have a minimum thickness of 85% or more and 100% or less of the maximum thickness.
  • the piezoelectric body 30 of the piezoelectric film 35 is a resin film
  • the intervening layer 40 is a resin layer that does not function as a piezoelectric film. This is advantageous from the viewpoint that the piezoelectric speaker 10 can be cut with scissors or human hands without causing cracks in the piezoelectric body 30 or the intervening layer 40. , contributes to improving the degree of freedom in designing the ANC system 500 or the ANC system 550, and facilitates the construction of the ANC system 500 or the ANC system 550).
  • the piezoelectric body 30 is a resin film and the intervening layer 40 is a resin layer is advantageous from the viewpoint of fixing the piezoelectric speaker 10 on a curved surface without causing cracks in the piezoelectric body 30 or the intervening layer 40. .
  • the contours of the piezoelectric film 35, the intervening layer 40, the first bonding layer 51 and the second bonding layer 52 match in plan view. However, it does not matter if these contours are shifted.
  • the piezoelectric film 35, the intervening layer 40, the first bonding layer 51 and the second bonding layer 52 are rectangles having a lateral direction and a longitudinal direction in plan view. However, they may also be square, circular, oval, or the like.
  • the piezoelectric speaker 10 may include layers other than the layers shown in FIG. Layers other than the layers shown in FIG. 21 are, for example, the above-described first layer and second layer.
  • the piezoelectric speaker 10 according to the second configuration example will be described below with reference to FIG. 23 .
  • the piezoelectric speaker 10 according to the second configuration example is hereinafter referred to as a piezoelectric speaker 110 .
  • description of the same parts as in the first configuration example may be omitted.
  • the piezoelectric speaker 110 includes a piezoelectric film 35 , a fixing surface 117 and an intervening layer 140 .
  • Fixing surface 117 can be used to fix piezoelectric film 35 to structure 80 .
  • the intervening layer 140 is arranged between the piezoelectric film 35 and the fixing surface 117 (here, "between” includes the fixing surface 117. The same applies to the first configuration example).
  • the fixed surface 117 is formed by the surface (principal surface) of the intervening layer 140 .
  • the intervening layer 140 is a porous layer and/or a resin layer.
  • the intervening layer 140 is an adhesive layer or adhesive layer.
  • an adhesive containing acrylic resin can be used as the intervening layer 140.
  • Other adhesives, such as those containing rubber, silicone, or urethane, may be used as the intervening layer 140 .
  • Intervening layer 140 may be a blend layer of two or more materials.
  • the elastic modulus of the intermediate layer 140 is, for example, 10,000 N/m 2 or more and 2,000,000 N/m 2 or less, and may be 20,000 N/m 2 or more and 100,000 N/m 2 or less.
  • the thickness of the intervening layer 140 in an uncompressed state is, for example, in the range of 0.1 mm or more and 30 mm or less, may be in the range of 1 mm or more and 30 mm or less, or may be in the range of 1.5 mm or more and 30 mm or less, It may be in the range of 2 mm or more and 25 mm or less.
  • the intervening layer 140 is thicker than the piezoelectric film 35 in the uncompressed state.
  • the ratio of the thickness of the intervening layer 140 to the thickness of the piezoelectric film 35 is, for example, 3 times or more, may be 10 times or more, or may be 30 times or more.
  • the degree of constraint of the intervening layer 140 is 5 ⁇ 10 9 N/m 3 or less.
  • the degree of constraint of the intervening layer 140 is, for example, 1 ⁇ 10 4 N/m 3 or more.
  • the degree of constraint of the intervening layer 140 is preferably 5 ⁇ 10 8 N/m 3 or less, more preferably 2 ⁇ 10 8 N/m 3 or less, still more preferably 1 ⁇ 10 5 or more and 5 ⁇ 10 7 N. /m 3 or less.
  • the definition of the degree of constraint is as explained above.
  • the piezoelectric film 35 is integrated with the layer on the fixed surface 117 side by contacting the adhesive surface or adhesive surface with the piezoelectric film 35 .
  • the adhesive surface or adhesive surface is a surface formed by the intervening layer 140 .
  • the piezoelectric speaker 110 can also be fixed to the structure 80 by the fixing surface 117 .
  • the ANC system 500 or the ANC system 550 using the piezoelectric speaker 110 according to the second configuration example can be configured.
  • the ANC system 500 may be configured using the piezoelectric speaker 10 according to the first configuration example and the piezoelectric speaker 10 according to the second configuration example.
  • Example E1 The structure shown in FIG. 24 was produced by attaching the fixed surface 17 of the piezoelectric speaker 10 to the fixed supporting member 680 .
  • a stainless flat plate SUS flat plate
  • an adhesive sheet double-sided tape
  • a closed-cell foam having a thickness of 3 mm was used, which was obtained by foaming a mixture containing ethylene propylene rubber and butyl rubber at an expansion ratio of about 10 times.
  • the second bonding layer 52 an adhesive sheet (double-sided tape) having a thickness of 0.15 mm was used.
  • the piezoelectric film 35 a polyvinylidene fluoride film (total thickness: 33 ⁇ m) with copper electrodes (including nickel) vapor-deposited on both sides was used.
  • the first bonding layer 51, the intervening layer 40, the second bonding layer 52, and the piezoelectric film 35 of the sample E1 have dimensions of 37.5 mm wide by 37.5 mm long in plan view, and their contours overlap in plan view. It has a non-divided and non-frame-like plate-like shape (the same applies to samples E2 to E17 and R1, which will be described later).
  • the support member 680 has dimensions of 50 mm wide by 50 mm long in plan view, and covers the entire first bonding layer 51 .
  • sample E2 As the intervening layer 40, a semi-closed semi-open cell type foam having a thickness of 3 mm was used, which was obtained by foaming a mixture containing ethylene propylene rubber at an expansion ratio of about 10 times. This foam contains sulfur. Otherwise, a sample E2 similar to the sample E1 was produced.
  • sample E3 In sample E3, as the intervening layer 40, a foam having a thickness of 5 mm and having the same material and structure as the intervening layer 40 of sample E2 was used. Otherwise, a sample E3 similar to the sample E2 was produced.
  • sample E5 In the sample E5, the intervening layer 40 used was a foam having a thickness of 20 mm and having the same material and structure as the intervening layer 40 of the sample E2. Otherwise, a sample E5 similar to the sample E2 was produced.
  • sample E6 As the intervening layer 40, a semi-closed semi-open cell type foam having a thickness of 20 mm was used, which was obtained by foaming a mixture containing ethylene propylene rubber at an expansion ratio of about 10 times. This foam does not contain sulfur and is softer than the foam used as the intervening layer 40 in samples E2-E5. Otherwise, a sample E6 similar to the sample E1 was produced.
  • Example E8 A metal porous body was used as the intervening layer 40 .
  • This metal porous body is made of nickel, has a pore diameter of 0.9 mm, and a thickness of 2.0 mm.
  • the second bonding layer 52 the same adhesive layer as the first bonding layer 51 of sample E1 was used. Otherwise, a sample E8 similar to the sample E1 was produced.
  • sample E9 The first bonding layer 51 and the second bonding layer 52 of sample E1 were omitted, and only the intervening layer 140 was interposed between the piezoelectric film 35 and the structure 80 .
  • the intervening layer 140 a substrate-less adhesive sheet with a thickness of 3 mm made of an acrylic adhesive was used. Except for this, a sample E9 having a structure similar to that of the sample E1, in which the laminate shown in FIG. 23 is attached to the support member 680 shown in FIG. 24, was produced.
  • sample E10 As the intervening layer 40, the same intervening layer as the intervening layer 140 of sample E9 was used. Otherwise, a sample E10 similar to the sample E8 was produced.
  • sample E11 Urethane foam with a thickness of 5 mm was used as the intervening layer 40 . Otherwise, a sample E11 similar to the sample E8 was produced.
  • Example E12 Urethane foam with a thickness of 10 mm was used as the intervening layer 40 .
  • This urethane foam has a smaller pore size than the urethane foam used as the intervening layer 40 of sample E11. Otherwise, a sample E12 similar to the sample E8 was produced.
  • sample E13 As the intervening layer 40, a closed-cell foam of acrylonitrile-butadiene rubber having a thickness of 5 mm was used. Otherwise, a sample E13 similar to the sample E8 was produced.
  • sample E14 As the intervening layer 40, a closed-cell ethylene propylene rubber foam having a thickness of 5 mm was used. Otherwise, a sample E14 similar to the sample E8 was produced.
  • sample E15 As the intervening layer 40, a 5 mm-thick closed-cell foam made of a blend of natural rubber and styrene-butadiene rubber was used. Otherwise, a sample E15 similar to the sample E8 was produced.
  • sample E16 As the intervening layer 40, a closed-cell silicone foam having a thickness of 5 mm was used. Otherwise, a sample E16 similar to the sample E8 was produced.
  • sample E17 As the intervening layer 40, a foam having a thickness of 10 mm and having the same material and structure as the intervening layer 40 of the sample E1 was used. As the second bonding layer 52, the same adhesive sheet as sample E1 was used. As the piezoelectric body 30 of the piezoelectric film 35, a resin sheet having a thickness of 35 ⁇ m and containing polylactic acid derived from corn as a main raw material was used. The first electrode 61 and the second electrode 62 of the piezoelectric film 35 are each an aluminum film with a thickness of 0.1 ⁇ m and formed by vapor deposition. Thus, a piezoelectric film 35 having a total thickness of 35.2 ⁇ m was obtained. Otherwise, a sample E17 similar to the sample E1 was produced.
  • sample R1 The piezoelectric film 35 of sample E1 was used as sample R1. Sample R1 was placed without bonding on a platform parallel to the ground.
  • ⁇ Elastic modulus of intervening layer> A small piece was cut from the intervening layer. The cut piece was subjected to a compression test at room temperature using a tensile tester ("RSA-G2" manufactured by TA Instruments). This gave a stress-strain curve. The elastic modulus was calculated from the initial slope of the stress-strain curve.
  • ⁇ Pore diameter of intervening layer> A magnified image of the intervening layer was obtained with a microscope. The average pore size of the intervening layer was obtained by image analysis of this enlarged image. The calculated average value was used as the pore size of the intervening layer.
  • ⁇ Porosity of intervening layer> A rectangular parallelepiped piece was cut from the intervening layer. The apparent density was obtained from the volume and mass of the cut pieces. The apparent density was divided by the density of the base material (solid body) forming the intervening layer. From this, the filling rate was calculated. In addition, 1 was subtracted by the filling factor. This gave the porosity.
  • a configuration for measuring samples E1-E8 and E10-E17 is shown in FIG.
  • a conductive copper foil tape 70 (CU-35C manufactured by 3M) having a thickness of 70 ⁇ m and a width of 70 mm ⁇ length of 5 mm was attached to the corners of both surfaces of the piezoelectric film 35 .
  • a worm clip 75 was attached to each of these conductive copper foil tapes 70 .
  • Conductive copper foil tape 70 and barb clip 75 form part of an electrical path for applying an alternating voltage to piezoelectric film 35 .
  • the configuration for measuring sample E9 is shown in FIG.
  • the configuration of FIG. 26 does not have the first bonding layer 51 and the second bonding layer 52 of FIG.
  • the configuration of FIG. 26 has an intervening layer 140 .
  • the configuration for measuring the sample R1 is based on FIGS. 25 and 26. Specifically, following FIG. 25 and FIG. 26 , conductive copper foil tapes 70 were attached to the corners of both surfaces of the piezoelectric film 35 , and chisel clips 75 were attached to these tapes 70 . The assembly thus obtained was placed unglued on a platform parallel to the ground.
  • FIG. 27 shows an output system
  • FIG. 28 shows an evaluation system
  • the output system shown in FIG. 27 includes an audio output personal computer (hereinafter, the personal computer may be abbreviated as PC) 401, an audio interface 402, a speaker amplifier 403, and samples 404 (samples E1 to E17). and R1 piezoelectric speaker) were connected in this order.
  • the speaker amplifier 403 was also connected to an oscilloscope 405 so that the output from the speaker amplifier 403 to the sample 404 could be checked.
  • WaveGene is installed on the audio output PC 401 . WaveGene is free software for generating test audio signals. QUAD-CAPTURE manufactured by Roland Corporation was used as the audio interface 402 . The sampling frequency of the audio interface 402 was set to 192 kHz. As the speaker amplifier 403, A-924 manufactured by Onkyo Corporation was used. As the oscilloscope 405, DPO2024 manufactured by Tektronix was used.
  • a microphone 501 In the evaluation system shown in FIG. 28, a microphone 501, a sound evaluation device (PULSE) 502, and a sound evaluation PC 503 are connected in this order.
  • PULSE sound evaluation device
  • Type 4939-C-002 manufactured by B&K was used as the microphone 501.
  • a microphone 501 was positioned 1 m away from the sample 404 .
  • Type 3052-A-030 manufactured by B&K was used as the acoustic evaluation device 502.
  • an AC voltage was applied to the sample 404 from the audio output PC 401 via the audio interface 402 and the speaker amplifier 403 .
  • the audio output PC 401 was used to generate a test audio signal whose frequency swept from 100 Hz to 100 kHz in 20 seconds.
  • the voltage output from the speaker amplifier 403 was confirmed by the oscilloscope 405 .
  • the sound generated from the sample 404 was evaluated by an evaluation system. Thus, the sound pressure frequency characteristic measurement test was conducted.
  • ⁇ Judgment of frequency at which sound starts> A frequency range where the sound pressure level is 3 dB or more higher than the background noise (such that the frequency range where the sound pressure level is maintained at background noise + 3 dB or more is less than ⁇ 10% of the peak frequency (the frequency at which the sound pressure level peaks) The lower end of (excluding the steep peak portion) was determined as the frequency at which sound began to appear.
  • FIGS. 29A and 29B The evaluation results of samples E1 to E17 and sample R1 are shown in FIGS. 29A and 29B.
  • FIG. 30 shows the relationship between the degree of restraint and the frequency at which sound starts to appear for samples E1 to E17.
  • E1-E17 correspond to samples E1-E17.
  • 31, 32 and 33 show frequency characteristics of sound pressure levels for samples E1, E2 and R1.
  • FIG. 34 shows the frequency characteristics of the sound pressure level of background noise.
  • a reference ANC evaluation system 800 shown in FIG. 35 was constructed using a piezoelectric speaker 10 similar to the piezoelectric speaker 10 of sample E1 except that the dimensions in plan view were 50 cm wide ⁇ 35 cm long.
  • the number of piezoelectric speakers 10 used in the reference ANC evaluation system 800 is one.
  • the piezoelectric speaker 10 was attached to the surface 780a of the partition 780.
  • the noise source 700, the reference microphone 730, the center of the partition 780, the center of the piezoelectric speaker 10, and the error microphone 735 were arranged so as to line up in this order.
  • a control area 790 is set on the piezoelectric speaker 10 side when viewed from the partition 780 .
  • a measurement microphone 740 was placed in the control area 790 .
  • the x direction is the horizontal direction of the control area 790.
  • the y-direction is the vertical direction of control region 790 .
  • the z-direction is the depth direction of control region 790 .
  • the x-direction, y-direction and z-direction are directions perpendicular to each other.
  • the noise source 700 Eclipse TD508MK3 manufactured by Fujitsu Ten Limited was used.
  • the partition 780 a desk side screen R manufactured by Mihashi Kogei Co., Ltd. was used.
  • a reference microphone 730 ECM-PC60 manufactured by Sony Corporation was used.
  • ECM-PC60 manufactured by Sony Corporation was used as the error microphone 735 .
  • ECM-PC60 manufactured by Sony Corporation was used as the measurement microphone 740 .
  • the distance between the noise source 700 and the reference microphone 730 is 5 cm.
  • the distance between reference microphone 730 and partition 780 is 60 cm.
  • the distance between the radiation surface 15 of the piezoelectric speaker 10 and the error microphone 735 is 17.5 cm. These spacings are dimensions in the z direction.
  • the partition 780 has a rectangular plate in plan view. The dimensions of this plate are 60 cm wide by 45 cm long by 0.5 cm thick. The dimensions of the control area 790 are 60 cm wide by 45 cm long by 60 cm deep. Their lateral direction is the x-direction. Their longitudinal direction is the y-direction. Their thickness or depth direction is the z-direction.
  • the partition 780 has legs (not shown) together with the plate. The legs support the board in an upright position.
  • a plate has a surface 780a.
  • the horizontal direction of the piezoelectric speaker 10, that is, the direction of 50 cm is the x direction.
  • the longitudinal or 35 cm direction of the piezoelectric speaker 10 is the y-direction.
  • the thickness direction of the piezoelectric speaker 10 is the z direction.
  • the left margin N1 is 5 cm.
  • the right margin N2 is 5 cm.
  • the left margin N1 corresponds to the first left margin M1 described in the first and second embodiments.
  • the right margin N2 corresponds to the first right margin M2 described in the first and second embodiments.
  • Margins N1 and N2 are the dimensions in the x direction.
  • an output signal PC (personal computer) 750 was connected to noise source 700 and measurement PC 760 .
  • the output signal PC 750 transmits the noise signal to the noise source 700 . This causes output signal PC 750 to cause noise source 700 to emit a sine wave.
  • the output signal PC 750 also sends a trigger signal to the measurement PC 760 .
  • a common reference time can be given to each measurement data by a trigger signal. Specifically, it is possible to obtain sound pressure data with the same time axis for 176 measurement points, which will be described later. This enables the mapping of sound pressure distributions shown in FIGS. 36-51, which will be described later.
  • a reference microphone 730 senses sound from the noise source 700 .
  • the output signal of reference microphone 730 is sent to controller 720 .
  • the error microphone 735 senses sound in the control area 790 .
  • the output signal of error microphone 735 is sent to controller 720 .
  • the control device 720 transmits control signals to the piezoelectric speaker 10 based on the output signals of the reference microphone 730 and the error microphone 735. Thereby, the control device 720 controls the sound waves emitted from the piezoelectric speaker 10 .
  • the measurement microphone 740 senses the sound at the position where it is placed.
  • the output signal of the measurement microphone 740 is transmitted to the measurement PC 760 .
  • the measurement PC 760 receives the trigger signal from the output signal PC 750 and the output signal of the measurement microphone 740 .
  • the control region 790 has a measurement cross-section 790CS extending in the x-direction and the z-direction.
  • 176 measurement points are provided on the measurement cross section 790CS.
  • the measurement cross-section 790CS is equally divided into 11 sections in the x direction and 16 sections in the z direction.
  • the number of 176 measurement points is the product of 11 divisions in the x direction and 16 divisions in the z direction.
  • the y-direction position of the measurement cross-section 790CS is the same as the y-direction center position of the radiation surface 15 .
  • An error microphone 735 is provided on the measurement cross-section 790CS.
  • the measurement microphone 740 is sequentially moved to 176 measurement points.
  • the measurement microphone 740 cooperates with the measurement PC 760 to measure sound pressure at 176 measurement points.
  • the measurement PC 760 maps the sound pressure distribution at 176 measurement points. This mapping visualizes the sound field in the measurement cross section 790CS.
  • FIGS. 36 to 53C omit illustration of a part of the control area 790 shown in FIG. 35 far from the partition 780.
  • FIG. in FIGS. 36, 38, 40, 42, 44, 46, 48 and 50 the numerical values of the color bars indicate the sound pressure level and its unit is Pascal (Pa). A positive number means that the sound pressure is positive, and a negative number means that the sound pressure is negative.
  • Reference example 1 measurement of diffracted sound
  • the sound pressure was measured and mapped at 176 measurement points on the measurement cross section 790CS while the piezoelectric speaker 10 was not emitting sound and the noise source 700 was emitting a sine wave.
  • 36 to 39 show sound pressure distributions obtained by mapping. 36 to 39, the illustration of the piezoelectric speaker 10 is omitted so that the measurement of the diffracted sound can be intuitively understood.
  • the measurement of Reference Example 1 was performed with the piezoelectric speaker 10 attached to the partition 780 as in Reference Example 2 described later.
  • FIG. 36 shows the sound pressure distribution from the noise source 700 for a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • the series of lines in FIG. 37 show the propagation of a wavefront over time caused by a noise source 700 emitting a 500 Hz sinusoidal wave.
  • FIG. 38 shows the sound pressure distribution from the noise source 700 for a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • the series of lines in FIG. 39 show the propagation of a wavefront over time caused by a noise source 700 emitting a sine wave at 800 Hz.
  • each of the series of lines indicates the position of "certain wavefront” at different times.
  • the one further away from the partition 780 represents a "certain wavefront” at a more advanced time.
  • the block arrows in FIG. 37 indicate the direction of propagation of the wavefront.
  • Fig. 37 was created by the following procedure. First, a plurality of sound pressure distribution maps based on actual measurements at different times, similar to FIG. 36, were obtained. Next, a line corresponding to a certain wavefront was drawn manually in each of the plurality of sound pressure distribution maps. Next, a plurality of sound pressure distribution maps after drawing the lines were superimposed. This resulted in the diagram shown in FIG. 37, in which a series of lines representing the propagation of the wavefront was drawn.
  • FIGS. 36-39 show that diffraction occurs at the opposing ends of the partition 780.
  • FIG. 36-39 also show that the wavefronts generated by diffraction at these edges propagate behind partition 780.
  • FIG. Specifically, FIGS. 36-39 show that the wavefronts generated by diffraction at these edges propagate close to an axis extending through the center of partition 780 in the z-direction. The propagation of wavefronts shown in FIGS. 36-39 is the same as in FIGS. 8A-8C and 9A-9C.
  • Reference Example 2 Measurement of Sound Emitted by Piezoelectric Speaker 10
  • the control device 720 was used to vibrate the piezoelectric speaker 10 to generate sound waves for muffling from the piezoelectric speaker 10 .
  • the control signal to be transmitted to the piezoelectric speaker 10 was stored in the control device 720 .
  • the controller 720 was caused to transmit the stored control signal to the piezoelectric speaker 10 .
  • the vibration of the piezoelectric speaker 10 was reproduced while the noise source 700 was not emitting sound, and the sound pressure at 176 measurement points on the measurement cross section 790CS was measured and mapped. 40 to 43 show sound pressure distributions obtained by mapping.
  • FIG. 40 shows the sound pressure distribution from the piezoelectric speaker 10 at a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • the series of lines in FIG. 41 show the propagation of a wavefront over time produced by the piezoelectric speaker 10 when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • FIG. 42 shows the sound pressure distribution from the piezoelectric speaker 10 for a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • the series of lines in FIG. 43 show the propagation of a wavefront over time produced by the piezoelectric speaker 10 when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • FIGS. 40-43 show wavefronts propagating from two outer regions sandwiching the central region of emitting surface 15 of piezoelectric speaker 10 toward an axis extending through the central region in the z-direction. .
  • the propagation of the wavefront shown in FIGS. 40-43 is the same as in FIGS. 8D-8F and 9D-9F.
  • the wavefront of the diffracted wave generated by the partition 780 diffracting the noise from the noise source 700 and the wavefront originating from the piezoelectric speaker 10 are common in that they propagate while approaching the axis.
  • the first piezoelectric speaker 10A and the second piezoelectric speaker 10B are considered to form similar wavefronts.
  • the phase of the sound wave in the first region 15a and the phase of the sound wave in the second region 15b are the same in positive and negative, and the phase of the sound wave in the first region 15a and the phase of the sound wave in the second region 15b are the same. It can be understood that there appears a period in which the positive and negative phases of the sound waves in the third region 15c are opposite to each other, and the positive and negative phases of the sound wave in the second region 15b and the third region 15c are opposite ( For regions 15a, 15b and 15c, see FIGS. 1-3C and related discussion).
  • FIG. 44 shows the sound pressure distribution from the dynamic speaker 610 at a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • the series of lines in FIG. 45 show the propagation of a wavefront over time produced by the dynamic speaker 610 when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • FIG. 46 shows the sound pressure distribution from the dynamic speaker 610 for a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • the series of lines in FIG. 47 show the propagation of a wavefront over time produced by the dynamic speaker 610 when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • FIGS. 44 to 47 show that a substantially hemispherical wave is radiated from the radiation surface of the dynamic speaker 610, and the wavefront of the substantially hemispherical wave is also substantially hemispherical.
  • the propagation of wavefronts shown in FIGS. 44 to 47 is the same as in FIG.
  • Reference example 4 Measurement of sound emitted by flat speaker 620
  • the piezoelectric speaker 10 of Reference Example 2 was replaced with a planar speaker 620 .
  • This flat speaker 620 is FPS2030M3P1R manufactured by FPS Corporation. Sound pressures at 176 measurement points of the measurement cross section 790CS derived from the planar speaker 620 were measured and mapped in the same manner as in Reference Example 2 except for this replacement. 48 to 51 show sound pressure distributions obtained by mapping.
  • FIG. 48 shows the sound pressure distribution from the planar speaker 620 at a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • the series of lines in FIG. 49 show the propagation of a wavefront over time produced by the planar speaker 620 when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz.
  • FIG. 50 shows the sound pressure distribution from the planar speaker 620 for a certain time when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • the series of lines in FIG. 51 show the propagation of a wavefront over time produced by the planar speaker 620 when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz.
  • FIGS. 48 to 51 show that a substantially plane wave is radiated from the radiating surface of the planar speaker 620, and the wavefront of the substantially plane wave is also substantially planar.
  • the propagation of wavefronts shown in FIGS. 48 to 51 is the same as in FIG.
  • the numerical value on the right side of the color bar indicates the amplification factor, and its unit is dB.
  • the fact that the amplification factor is X indicates that the sound pressure when the speaker is ON is amplified by X dB with respect to when the speaker is OFF.
  • a negative amplification factor indicates that a silencing effect is present.
  • a positive gain indicates that the noise is being amplified.
  • a reduction area indicates a ratio of an area having an amplification factor of -6 dB or less (that is, an area exhibiting a good noise reduction effect) in the measurement cross section 790CS.
  • the amplification area (A.A) indicates the proportion of an area with an amplification factor greater than 0 dB (that is, an area where noise is amplified) in the measurement cross section 790CS.
  • FIG. 52B the regions where the gain is less than 0 dB in FIG. 52A are hatched finely, and the regions where the gain is greater than 0 are coarsely hatched.
  • FIG. 53B the regions where the gain is smaller than 0 dB in FIG. 53A are hatched finely, and the regions where the gain is greater than 0 are coarsely hatched. That is, in FIGS. 52B and 53B, areas where noise is reduced are hatched finely, and amplification areas are hatched roughly. Note that the hatching in FIGS. 52B and 53B is roughly manually added based on the visual observation of FIGS. 52A and 53A. Points manually attached based on visual observation are the same for FIGS. 52C and 52C described later.
  • FIG. 52C the regions in FIG. 52A where the gain is ⁇ 6 dB or less are hatched finely, and the regions where the gain is greater than 0 are hatched roughly.
  • FIG. 53C the regions in FIG. 53A where the gain is ⁇ 6 dB or less are hatched finely, and the regions where the gain is greater than 0 are hatched roughly. That is, in FIGS. 52C and 53C, the reduction area is hatched finely, and the amplification area is hatched roughly.
  • the piezoelectric speaker 10 of Reference Example 2 when the piezoelectric speaker 10 of Reference Example 2 is used, when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 500 Hz, the reduction area is approximately 58%, and the amplification area is approximately 18%. If the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz, the reduction area is about 27% and the amplification area is about 18%.
  • the reduction area is approximately 38% and the amplification area is approximately 21%. be. If the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz, the reduction area is about 13% and the amplification area is about 61%.
  • the superiority of the silencing effect of the piezoelectric speaker 10 over the planar speaker 620 is more pronounced when the frequency of the sine wave emitted by the noise source 700 is 800 Hz than when it is 500 Hz.
  • the x-direction, y-direction and z-direction are directions perpendicular to each other.
  • the horizontal measurement cross section 990CSH is a plane extending in the x and z directions.
  • the sagittal plane of measurement 990CSV is a plane perpendicular to the horizontal plane of measurement that extends in the y- and z-directions and symmetrically cuts through the partition and piezoelectric speaker combination.
  • FIG. 54 is a perspective view for explaining the horizontal section for measurement 990CSH and the sagittal section for measurement 990CSV.
  • the dashed-dotted line indicates the horizontal section for measurement 990CSH
  • the dashed-double-dotted line indicates the sagittal section for measurement 990CSV.
  • Example 1 An ANC evaluation system 900 was configured as shown in FIG.
  • a piezoelectric speaker 10 similar to the piezoelectric speaker 10 of sample E1 was used, except that the dimensions in plan view were 50 cm wide ⁇ 35 cm long.
  • the number of piezoelectric speakers 10 used in the ANC evaluation system of Example 1 is one.
  • this piezoelectric speaker 10 is called a first piezoelectric speaker 10A.
  • the radiation surface 15 of the piezoelectric speaker 10 is referred to as a first radiation surface 15A.
  • a first stand 931 and a second stand 932 were installed on the floor.
  • a partition 980 was installed on the first stand 931 and the second stand 932 .
  • a first piezoelectric speaker 10A was attached to the partition 980 .
  • FIG. 56 is a perspective view showing a partition 980 to which the first piezoelectric speaker 10A is attached.
  • Partition 980 has a plate 980p and legs 980l.
  • Leg 980l supports plate 980p in an upright position.
  • a plate 980p has a front surface 980a and a back surface 980b. Note that the illustration of the leg 980l may be omitted in other drawings.
  • the dimensions of the plate 980p of the partition 980 are 60 cm wide x 45 cm long x 0.5 cm thick.
  • the lateral direction is the x-direction
  • the vertical direction is the y-direction
  • the thickness direction is the z-direction.
  • the x-direction dimension of the leg 980l of the partition 980 is 60 cm
  • the y-direction dimension is 0.5 cm
  • the z-direction dimension is 5.5 cm.
  • the left-right direction connecting the left end portion 981 and the right end portion 982 of the plate 980p is the lateral direction of the plate 980p, that is, the direction of 60 cm.
  • the vertical direction connecting the upper end portion 983 and the lower end portion 984 of the plate 980p is the vertical direction of the plate 980p, that is, the direction of 45 cm.
  • the lateral direction of the first piezoelectric speaker 10A that is, the direction of 50 cm is the x direction.
  • the longitudinal or 35 cm direction of the first piezoelectric speaker 10A is the y-direction.
  • the thickness direction of the first piezoelectric speaker 10A is the z direction.
  • the first stand 931 has a first pole 931a and a first plate 931b.
  • the lower surface of the first plate 931b is joined to the upper end of the first pole 931a.
  • the second stand 932 has a second pole 932a and a second plate 932b.
  • the lower surface of the second plate 932b is joined to the upper end of the second pole 932a.
  • a first stand 931 and a second stand 932 are installed on the floor such that the first pole 931a and the second pole 932a are spaced apart in the x direction and the first plate 931b and the second plate 932b are spaced apart in the x direction. .
  • a partition 980 is installed on the first stand 931 and the second stand 932 so that the legs 980l are in contact with the upper surface of the first plate 931b and the upper surface of the second plate 932b.
  • the center position of the first piezoelectric speaker 10A in the longitudinal direction that is, in the y direction, is set at a height of 120 cm from the floor.
  • the first upper margin M3 is 5 cm.
  • the first bottom margin M4 is 5 cm.
  • the first top margin M3 and the first bottom margin M4 are the dimensions in the y direction.
  • 88 measurement points are provided on the measurement horizontal cross section 990CSH.
  • the horizontal cross section for measurement 990CSH is divided into 8 divisions in the x direction at 10 cm intervals and 11 divisions in the z direction at 10 cm intervals.
  • the number of 88 measurement points is the product of 8 divisions in the x direction and 11 divisions in the z direction.
  • the y-direction position of the horizontal section for measurement 990CSH is the same as the y-direction center position of the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A.
  • the ANC evaluation system 900 of Example 1 used the measurement PC760. Further, in the ANC evaluation system 900 of Example 1, the reproduction PC 850 and eight measurement microphones 740 were used. Each measurement microphone 740 senses sound at the location in which it is placed. The output signal of each measurement microphone 740 is transmitted to the measurement PC 760 .
  • a row of measurement microphones 740 is configured by arranging eight measurement microphones 740 at intervals of 10 cm in the x direction. Then, this row is moved by 10 cm in the z direction.
  • the eight measurement microphones 740 cooperate with the measurement PC 760 to measure the sound pressure at 88 measurement points on the horizontal measurement cross section 990CSH.
  • the measurement PC 760 maps the sound pressure distribution at these measurement points. This mapping visualizes the sound field of the horizontal measurement cross-section 990CSH extending in the xz direction.
  • the contour diagram of FIG. 58 shows the sound pressure distribution at the measurement horizontal cross section 990CSH in Example 1.
  • the numerical values on the horizontal axis of the contour diagram of FIG. 58 indicate the distance from the surface 980 a of the partition 980 . This distance is the distance along the z-axis. Specifically, the z direction from the rear surface 980b of the partition 980 to the front surface 980a is defined as the +z direction. The direction opposite to the +z direction is defined as the -z direction.
  • positive values indicate positions in the +z direction, and negative values indicate positions in the ⁇ z direction.
  • Numerical values on the vertical axis of the contour diagram of FIG. 58 indicate positions in the x direction. The position of "35" on the vertical axis corresponds to the center position in the x direction of the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A.
  • the contour diagram in Figure 58 was created as follows. That is, sound waves are radiated from the first piezoelectric speaker 10A using the reproduction PC 850 so that the sound pressure at a position 35 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction (the position of the diamond mark in FIG. 58) is approximately 60 dB. let me Specifically, white noise band-limited to 200 Hz to 900 Hz was radiated from the first piezoelectric speaker 10A. In this state, the eight measurement microphones 740 were moved as described above to measure and map the sound pressure at 88 measurement points on the horizontal section 990CSH for measurement. The numerical values in the contour diagram of FIG. 58 represent the sound pressure level (unit: dB) indicated by each contour.
  • FIG. 58 not only the area on the right side as viewed from the partition 980 but also the area on the left side as viewed from the partition 980 have portions where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A attached to the partition 980 wraps around the area behind the partition 980 in the -z direction. However, in the -z direction area behind the partition 980, the sound pressure level is low. As described with reference to FIGS. 18-20, in the ⁇ z region behind partition 980, the sounds appear to cancel each other out.
  • Example 1 A part of the sound emitted by the first piezoelectric speaker 10A is reflected on the floor and reaches the height of the first piezoelectric speaker 10A.
  • the partition 980 to which the first piezoelectric speaker 10A is attached is installed on the first stand 931 and the second stand 932 . With this configuration, it is possible to suppress the sound pressure of the reflected sound at the height of the first piezoelectric speaker 10A.
  • the first stand 931 and the second stand 932 may be omitted. Even if the partition 980 to which the first piezoelectric speaker 10A is attached is placed directly on the floor, the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A will be heard behind the partition 980 as seen from the first piezoelectric speaker 10A. can be attenuated.
  • Example 2 In Example 2, the sound pressure distribution was mapped in the measurement sagittal section 990CSV instead of in the measurement horizontal section 990CSH. Except for this point, in Example 2, the same measurement as in Example 1 was performed.
  • FIG. 59 shows the ANC evaluation system 905 of the second embodiment.
  • 88 measurement points are provided in the measurement sagittal section 990CSV.
  • the sagittal section for measurement 990CSV is divided into 8 divisions in the y direction at 10 cm increments and 11 divisions in the z direction at 10 cm increments.
  • the number of 88 measurement points is the product of 8 divisions in the y direction and 11 divisions in the z direction.
  • the x-direction position of the measurement sagittal section 990CSV is the same as the x-direction center position of the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A.
  • a row of measurement microphones 740 is configured by arranging eight measurement microphones 740 in the y direction at intervals of 10 cm. Then, this row is moved by 10 cm in the z direction.
  • the eight measurement microphones 740 cooperate with the measurement PC 760 to measure sound pressure at 88 measurement points in the measurement sagittal plane 990CSV.
  • the measurement PC 760 maps the sound pressure distribution at these measurement points. This mapping visualizes the sound field in the 990 CSV measurement sagittal plane extending in the yz direction.
  • the contour diagram of FIG. 60 shows the sound pressure distribution in the measurement sagittal section 990 CSV in Example 2.
  • 60 indicates the distance from the surface 980 a of the partition 980 . This distance is the distance along the z-axis.
  • positive values indicate positions in the +z direction
  • negative values indicate positions in the ⁇ z direction.
  • Numerical values on the vertical axis of the contour diagram of FIG. 60 indicate positions in the y direction. Specifically, the numerical values on the vertical axis represent the height (unit: cm) from the floor.
  • FIG. 60 not only the area on the right side when viewed from the partition 980 but also the area on the left side when viewed from the partition 980 have portions where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A attached to the partition 980 wraps around the area behind the partition 980 in the -z direction. However, in the -z direction area behind the partition 980, the sound pressure level is low. In the sagittal plane as well as in the horizontal plane, it seems that the sounds cancel each other out in the ⁇ z direction area behind the partition 980 .
  • Example 3 the sound pressure at the position 85 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction (the position of the diamond mark in FIG. 61), not at the position 35 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction, is approximately 60 dB. Sound waves were radiated from the first piezoelectric speaker 10A using the PC 850 for reproduction. Except for this point, in Example 3, the same measurements as in Example 1 were performed.
  • the contour diagram of FIG. 61 shows the sound pressure distribution at the measurement horizontal cross section 990CSH in Example 3.
  • the area on the right side of the partition 980 not only the area on the right side of the partition 980, but also the area on the left side of the partition 980 has a portion where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A attached to the partition 980 wraps around the area behind the partition 980 in the -z direction. However, in the -z direction area behind the partition 980, the sound pressure level is low. Even if the sound pressure level is calibrated based on a position farther from the partition 980 than in Example 1, it is believed that the sounds cancel each other out in the -z direction area behind the partition 980. .
  • Example 4 the sound pressure at the position 85 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction (the position of the diamond mark in FIG. 62), not at the position 35 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction, is approximately 60 dB. Sound waves were radiated from the first piezoelectric speaker 10A using the PC 850 for reproduction. Except for this point, in Example 4, the same measurement as in Example 2 was performed.
  • the contour diagram of FIG. 62 shows the sound pressure distribution in the measurement sagittal section 990 CSV in Example 4.
  • the area on the right side of the partition 980 not only the area on the right side of the partition 980, but also the area on the left side of the partition 980 has a portion where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A attached to the partition 980 wraps around the area behind the partition 980 in the -z direction. However, in the -z direction area behind the partition 980, the sound pressure level is low. Even if the sound pressure level is calibrated based on a position farther from the partition 980 than in Example 2, it is believed that the sounds cancel each other out in the -z direction area behind the partition 980. .
  • Example 5 the sound pressure at a position 35 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction (the position of the diamond mark in FIG. 63A) is approximately 70 dB, and the sound wave radiated from the first piezoelectric speaker 10A Example 1 was modified so that is a 500 Hz sound wave.
  • the phase of the sound was measured and mapped at 88 measurement points on the horizontal section for measurement 990CSH.
  • the color map of FIG. 63A shows the phase distribution of sound in the horizontal measurement cross section 990CSH.
  • 70 dB corresponds to approximately 0.25 Pa.
  • the contour in FIG. 63B is a rough one drawn manually based on the visual inspection in FIG. 63A.
  • FIG. 64 is a perspective view showing a partition 980 with dynamic speakers 610 attached.
  • This dynamic speaker 610 is a wall-mounted speaker PLB-501W manufactured by K's Wave Corporation.
  • the wall-mounted speaker PLB-501W has a horizontal dimension of 18.3 cm, a vertical dimension of 27.0 cm, and a thickness dimension of 3.7 cm.
  • the wall-mounted speaker PLB-501W has a low-midrange speaker 610L and a high-range tweeter.
  • the processing is to block the tweeter for high frequencies with the putty 610P so that no sound is emitted from the tweeter so that the measurement of sound in the frequency range of 200 to 900 Hz is not affected.
  • the horizontal direction corresponds to the x direction
  • the vertical direction corresponds to the y direction
  • the thickness direction corresponds to the z direction.
  • a dynamic speaker 610 was attached to the plate 980p such that a midrange speaker 610L was positioned.
  • Comparative Example 1 the same measurement as in Example 1 was performed, except that the speaker was replaced in this way.
  • FIG. 65 shows the sound pressure distribution at the measurement horizontal cross section 990CSH in Comparative Example 1.
  • the area on the right side of the partition 980 not only the area on the right side of the partition 980, but also the area on the left side of the partition 980 has a portion where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the dynamic speaker 610 attached to the partition 980 wraps around to the ⁇ z direction area behind the partition 980 .
  • 58 and 65 it can be understood that the sound pressure level in the -z direction area behind the partition 980 is about 7 to 8 dB higher in Comparative Example 1 than in Example 1.
  • Comparative example 2 In Comparative Example 2, the first piezoelectric speaker 10A of Example 2 was replaced with the dynamic speaker 610 used in Comparative Example 1. FIG. Also, as in Comparative Example 1, a dynamic speaker 610 was attached to the plate 980p. In Comparative Example 2, the same measurements as in Example 2 were performed, except that the speaker was replaced in this way.
  • FIG. 66 shows the sound pressure distribution in the measurement sagittal section 990 CSV in Comparative Example 2.
  • FIG. 66 not only the area on the right side of the partition 980 but also the area on the left side of the partition 980 has a non-zero sound pressure portion. This indicates that the sound emitted from the dynamic speaker 610 attached to the partition 980 wraps around to the ⁇ z direction area behind the partition 980 .
  • 60 and 66 it can be understood that the sound pressure level in the ⁇ z direction area behind the partition 980 is higher in Comparative Example 2 than in Example 2.
  • Comparative Example 3 In Comparative Example 3, the first piezoelectric speaker 10A of Example 3 was replaced with the dynamic speaker 610 used in Comparative Example 1. FIG. Also, as in Comparative Example 1, a dynamic speaker 610 was attached to the plate 980p. In Comparative Example 3, the same measurements as in Example 3 were performed, except that the speaker was replaced in this way.
  • FIG. 67 shows the sound pressure distribution at the horizontal cross section for measurement 990CSH in Comparative Example 3.
  • FIG. 67 not only the area on the right side of the partition 980, but also the area on the left side of the partition 980 has a portion where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the dynamic speaker 610 attached to the partition 980 wraps around to the ⁇ z direction area behind the partition 980 . From FIGS. 61 and 67, it can be understood that the sound pressure level in the ⁇ z direction area behind the partition 980 is higher in Comparative Example 3 than in Example 3.
  • Comparative Example 4 In Comparative Example 4, the first piezoelectric speaker 10A of Example 4 was replaced with the dynamic speaker 610 used in Comparative Example 1. FIG. Also, as in Comparative Example 1, a dynamic speaker 610 was attached to the plate 980p. In Comparative Example 4, the same measurements as in Example 4 were performed, except that the speaker was replaced in this way.
  • FIG. 68 shows the sound pressure distribution in the measurement sagittal section 990 CSV in Comparative Example 4.
  • FIG. 68 not only the area on the right side of the partition 980, but also the area on the left side of the partition 980 has a portion where the sound pressure is non-zero. This indicates that the sound emitted from the dynamic speaker 610 attached to the partition 980 wraps around to the ⁇ z direction area behind the partition 980 .
  • 62 and 68 it can be understood that the sound pressure level in the ⁇ z direction area behind the partition 980 is higher in Comparative Example 4 than in Example 4.
  • Comparative Example 5 In Comparative Example 5, the sound pressure at a position 35 cm away from the surface 980a of the partition 980 in the +z direction (the position of the diamond mark in FIG. 69A) is approximately 70 dB, and the sound wave emitted from the dynamic speaker 610 is 500 Hz. Comparative Example 1 was changed so that the sound waves of In this state, the phase of the sound was measured and mapped at 88 measurement points on the horizontal section for measurement 990CSH. In this way, the phase distribution of sound in the horizontal section for measurement 990CSH was measured.
  • the color map in FIG. 69A shows the phase distribution of sound in the horizontal measurement cross section 990CSH.
  • 70 dB corresponds to approximately 0.25 Pa.
  • the contour in FIG. 69B is a rough one drawn manually based on the visual inspection in FIG. 69A.
  • the sound from the other piezoelectric speaker attached to the back side of the partition is attenuated in the space behind the partition, i.e., the front side of the partition as viewed from the other piezoelectric speaker, and is transferred to the reference microphone associated with the other piezoelectric speaker. This is because it is difficult to input as noise. This point will be further described below with reference to Example 6, Example 7, Reference Example 5, Comparative Example 6, Comparative Example 7 and Reference Example 6.
  • Example 6 no feedback compensation
  • An ANC evaluation system 1000 was constructed as shown in FIGS.
  • the second piezoelectric speaker 10B was attached to the partition 980 with the first piezoelectric speaker 10A configured by the ANC evaluation systems 900 and 905 .
  • the first stand 931 and the second stand 932 were omitted, and the leg 980l of the partition 980 was directly installed on the floor.
  • a first noise source 700A, a second noise source 700B, a first reference microphone 730A and a second reference microphone 730B have been added.
  • 70 and 71 unlike FIGS. 55 and 59, the first piezoelectric speaker 10A is drawn on the left side of the partition 980.
  • the first piezoelectric speaker 10A is attached to the surface 980a of the partition 980.
  • the second piezoelectric speaker 10B was further attached to the rear surface 980b of the partition 980.
  • FIG. thus, a partition 980 having one piezoelectric speaker 10 attached to each of the front surface 980a and the rear surface 980b was obtained.
  • the second piezoelectric speaker 10B is the same piezoelectric speaker as the first piezoelectric speaker 10A.
  • the first noise source 700A and the second noise source 700B of the ANC evaluation system 1000 are the same as the noise source 700 of the reference ANC evaluation system 800.
  • First reference microphone 730 A and second reference microphone 730 B of ANC evaluation system 1000 are the same as reference microphone 730 of reference ANC evaluation system 800 .
  • the ANC evaluation system 1000 uses the output signal PC750 and the measurement PC760.
  • the output signal PC750 was connected to the first noise source 700A and the second noise source 700B.
  • a control device 1020 is used in ANC evaluation system 1000 .
  • the control device 1020 has a first noise control filter 1021A and a second noise control filter 1021B.
  • the output signal PC750 transmits the first noise signal to the first noise source 700A. This causes the output signal PC750 to cause the first noise source 700A to output noise.
  • the output signal PC750 transmits the second noise signal to the second noise source 700B. This causes the output signal PC750 to cause the second noise source 700B to output noise.
  • the first reference microphone 730A generates an output signal based on the sound sensed by the first reference microphone 730A. This output signal is sent to the controller 1020 .
  • the control device 1020 transmits a control signal to the first piezoelectric speaker 10A based on this output signal. Thus, the control device 1020 controls the sound waves emitted from the first piezoelectric speaker 10A.
  • the second reference microphone 730B generates an output signal based on the sound sensed by the second reference microphone 730B. This output signal is sent to the controller 1020 .
  • the control device 1020 transmits a control signal to the second piezoelectric speaker 10B based on this output signal. Thus, the control device 1020 controls the sound waves emitted from the second piezoelectric speaker 10B.
  • the margins M5 to M8 for the second piezoelectric speaker 10B on the rear surface 980b of the partition 980 are similar to the margins M1 to M4 for the first piezoelectric speaker 10A on the front surface 980a of the partition 980.
  • the second left margin M5 is 5 cm.
  • the second right margin M6 is 5 cm.
  • Margins M5 and M6 are the dimensions in the x direction.
  • the second upper margin M7 is 5 cm.
  • the second bottom margin M8 is 5 cm.
  • Margins M7 and M8 are dimensions in the y direction.
  • a first reference microphone 730A, a second reference microphone 730B, a first noise source 700A and a second noise source 700B were placed 22.5 cm apart from the floor.
  • An axis extending in the z-direction and passing through the center of the front surface 980a and the center of the back surface 980b of the partition 980 is defined as the axis of symmetry SA.
  • the z direction from the back surface 980b to the front surface 980a is defined as the +z direction.
  • the z direction from front surface 980a to back surface 980b is defined as the -z direction.
  • a point on the axis of symmetry SA and separated by L cm in the +z direction from the first radiation surface 15A of the first piezoelectric speaker 10A is defined as a first adjustment point AP1.
  • a point on the axis of symmetry SA and separated by L cm in the -z direction from the second radiation surface 15B of the second piezoelectric speaker 10B is defined as a second adjustment point AP2.
  • the x direction from the right end 982 to the left end 981 of the partition 980 is defined as the +x direction.
  • the x direction from the left edge 981 to the right edge 982 of the partition 980 is defined as the -x direction.
  • a second noise source 700B was placed at a position 5 cm away from the first adjustment point AP1 in the +x direction.
  • a second reference microphone 730B was placed at a position 5 cm away from the first adjustment point AP1 in the -x direction.
  • the first noise source 700A was placed at a position 5 cm away from the second adjustment point AP2 in the +x direction.
  • a first reference microphone 730A was placed at a position 5 cm away from the second adjustment point AP2 in the -x direction.
  • a plane perpendicular to the axis extending in the z-direction and bisecting the partition 980 is defined as a plane of symmetry.
  • the first piezoelectric speaker 10A and the second piezoelectric speaker 10B are symmetrical about the plane of symmetry.
  • First reference microphone 730A and second reference microphone 730B are symmetrical about a plane of symmetry.
  • the first noise source 700A and the second noise source 700B are symmetrical about the plane of symmetry.
  • Lcm was set to 40 cm.
  • the filter coefficients of the first noise control filter 1021A are determined such that anti-phase sound waves that cancel the diffracted waves traveling from the first noise source 700A through the partition 980 are radiated from the first piezoelectric speaker 10A.
  • the filter coefficient of the second noise control filter 1021B is set so that the second piezoelectric speaker 10B emits an anti-phase sound wave that cancels the diffracted wave traveling from the second noise source 700B through the partition 980. Decided. In this way, a control device 1020 is obtained in which the filter coefficients of the first noise control filter 1021A and the filter coefficients of the second noise control filter 1021B are identified.
  • sine waves were output as noise from the first noise source 700A and the second noise source 700B.
  • the control device 1020 caused the first piezoelectric speaker 10A and the second piezoelectric speaker 10B to emit sound waves for silencing.
  • the silencing effect of the first piezoelectric speaker 10A and the silencing effect of the second piezoelectric speaker 10B at this time were measured.
  • the silencing effect exhibited by the first piezoelectric speaker 10A was measured by transmitting the output signal of the second reference microphone 730B to the PC 760 for measurement.
  • the silencing effect exhibited by the second piezoelectric speaker 10B was measured by transmitting the output signal of the first reference microphone 730A to the PC 760 for measurement.
  • the filter coefficient of the first noise control filter 1021A identified as above is fixed without being changed.
  • the sound input to the first reference microphone 130A and the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A have a one-to-one correspondence, and the correspondence is fixed over time.
  • the filter coefficient of the second noise control filter 1021B identified as described above is fixed without being changed.
  • the sound input to the second reference microphone 130B and the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B have a one-to-one correspondence, and the correspondence is fixed over time. I made it
  • the control device 1020 causes the first piezoelectric speaker 10A and the second piezoelectric speaker 10B to emit sound waves for silencing without feedback compensation.
  • No feedback compensation means that the control for suppressing the influence of the first loop-around sound on the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A does not affect the influence of the second loop-around sound on the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B. It refers to not performing control to suppress
  • the first wraparound sound is the sound that is emitted from the first piezoelectric speaker 10A and wraps around to the first reference microphone 730A.
  • the second wraparound sound is the sound that is emitted from the second piezoelectric speaker 10B and wraps around to the second reference microphone 730B.
  • noise emitted from the first noise source 700A and the second noise source 700B was generated by passing white noise through a band-limiting filter of 200Hz to 800Hz. More specifically, the white noise that has passed through the band-limiting filter substantially evenly includes each frequency component from 200 Hz to 800 Hz.
  • Example 6 in this manner, the noise reduction effect produced by the first piezoelectric speaker 10A and the noise reduction produced by the second piezoelectric speaker 10B without feedback compensation are obtained for each of Lcm of 40 cm, 50 cm, 60 cm, 70 cm, and 80 cm. measured the effect.
  • the measurement results are shown in FIG. In FIG. 73, "L” indicates the silencing effect produced by the first piezoelectric speaker 10A. As mentioned above, this muffling effect is based on the sound sensed by the second reference microphone 730B. “R” indicates the silencing effect produced by the second piezoelectric speaker 10B. As mentioned above, this muffling effect is based on the sound sensed by the first reference microphone 730A.
  • Example 7 with feedback compensation
  • the silencing effect of the first piezoelectric speaker 10A and the silencing effect of the second piezoelectric speaker 10B were measured in the same manner as in Example 6, except that "no feedback compensation” was changed to "with feedback compensation.”
  • With feedback compensation means control for suppressing the influence of the first loopback sound on the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A, and the influence of the second loopback sound on the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B. refers to control and action to suppress These controls are known controls for suppressing AFP (Acoustic Feedback Path). Specifically, in Example 7 and Comparative Example 7 described later, feedback compensation was performed by digital processing.
  • Example 7 in this manner, the noise reduction effect produced by the first piezoelectric speaker 10A and the noise reduction produced by the second piezoelectric speaker 10B with feedback compensation are obtained for each of Lcm of 40 cm, 50 cm, 60 cm, 70 cm, and 80 cm. measured the effect. The measurement results are shown in FIG.
  • the first piezoelectric speaker 10A is changed to a first dynamic speaker 610A
  • the second piezoelectric speaker 10B is changed to a second dynamic speaker 610B.
  • the first dynamic speaker 610A and the second dynamic speaker 610B of Comparative Example 6 are Fostex P650K manufactured by Foster Electric Company. Except for these, in the same manner as in Example 5, the silencing effect exhibited by the first piezoelectric speaker 10A and the silencing effect exhibited by the second piezoelectric speaker 10B were measured.
  • FIG. 13 A support structure based on this design concept is illustrated in FIG. In the virtual piezoelectric speaker 108 shown in FIG. 13 , the frame 88 supports the peripheral edge of the piezoelectric film 35 at a position away from the structure 80 .
  • the piezoelectric speaker 108 shown in FIG. 13 employs a local support structure for the piezoelectric film 35 .
  • the piezoelectric film 35 is not supported at specific portions.
  • the piezoelectric speaker 10 exhibits practical acoustic properties even though the entire surface of the piezoelectric film 35 is fixed to the structure 80 .
  • up to the periphery of the piezoelectric film 35 can vibrate up and down.
  • the piezoelectric film 35 can also vibrate up and down as a whole. Therefore, compared with the piezoelectric speaker 108, the piezoelectric speaker 10 has a higher degree of freedom of vibration, and is relatively advantageous in achieving good sound generation characteristics.
  • the high degree of freedom of vibration may contribute to the formation of the first wavefront 16a, the second wavefront 16b, the fourth wavefront 16d and the fifth wavefront 16e.
  • . 12 illustrates a case where the piezoelectric speaker 10 is the piezoelectric speaker 10 shown in FIG. In FIG. 12, illustration of the first bonding layer 51 and the second bonding layer 52 is omitted. A high degree of freedom of vibration can also be obtained when the piezoelectric speaker 10 is the piezoelectric speaker 110 shown in FIG.
  • the intervening layer being a porous layer and/or a resin layer is suitable for ensuring the degree of freedom of vibration.
  • the intervening layer is a porous layer and/or a resin layer
  • practical acoustic characteristics are exhibited even though the entire surface of the piezoelectric film 35 is fixed to the support member 680.
  • the first piezoelectric speaker 10A and the second piezoelectric speaker 10B in the ANC evaluation systems 800, 900, 905 and 1000 are changed from sample E1 of different sizes to samples E2 to E17 of different sizes, the results shown in FIGS. 52A to 53C, FIGS. 58 and 60 to 62, sound pressure distributions with similar tendencies appear, phase distributions with similar tendencies to FIGS. 63A and 63B appear, and noise reduction similar to FIGS. 73 to 75 It is considered that the effect can be obtained.
  • FIG. As understood from the above description, the second piezoelectric speaker 10B and the like can be omitted.
  • the ANC system may be a dual ANC system using two piezoelectric speakers or a single ANC system using one piezoelectric speaker.
  • the ANC system includes a structure 80, a first piezoelectric speaker 10A and a second piezoelectric speaker 10B.
  • the structure 80 has a front surface 80a and a back surface 80b.
  • the first piezoelectric speaker 10A is arranged on the surface 80a.
  • the first piezoelectric speaker 10A emits sound waves for silencing.
  • the ANC system according to this configuration is suitable for attenuating the sound from the speaker attached to the structure 80 behind the structure as seen from the speaker. Specifically, in this configuration, the sound that has flowed from the first piezoelectric speaker 10A to the other side of the structure 80 is likely to be attenuated.
  • the second piezoelectric speaker 10B is arranged on the back surface 80b.
  • the second piezoelectric speaker 10B emits sound waves for silencing.
  • the ANC system according to this configuration is suitable for attenuating the sound from the speaker attached to the structure 80 behind the structure as seen from the speaker. Specifically, in this configuration, the sound that has flowed from the second piezoelectric speaker 10B to the other side of the structure 80 is likely to be attenuated.
  • the structure 80 has a left end 81 , a right end 82 , a top end 83 and a bottom end 84 .
  • the front space 95A, the front surface 80a, the back surface 80b, and the back space 95B are arranged in this order.
  • the front space 95A is a space overlapping the surface 80a when the surface 80a is viewed in plan.
  • the back space 95B is a space that overlaps with the back surface when the back surface 80b is viewed in plan.
  • the first piezoelectric speaker 10A has a first radiation surface 15A.
  • the first radiation surface 15A faces the front space 95A.
  • the second piezoelectric speaker 10B has a second radiation surface 15B.
  • the second radiation surface 15B faces the back space 95B.
  • the second radiation surface 15B has a fourth area 15d, a fifth area 15e and a sixth area 15f.
  • the sixth region 15f is positioned between the fourth region 15d and the fifth region 15e.
  • the back space 95B has a first back space 90A, a second back space 90B and a third back space 90C.
  • the third rear space 90C is positioned between the first rear space 90A and the second rear space 90B.
  • the front space 95A has a fourth rear space 90D, a fifth rear space 90E and a sixth rear space 90F.
  • the sixth rear space 90F is positioned between the fourth rear space 90D and the fifth rear space 90E.
  • first reference plane 85A and second reference plane 85B are used.
  • the first reference plane 85A and the second reference plane 85B are planes perpendicular to the vertical direction D1.
  • the first reference plane 85A and the second reference plane 85B are the same plane.
  • the first reference plane 85A and the second reference plane 85B may be planes having different heights.
  • the first area 15a, the second area 15b, the third area 15c, the first rear space 90A, the second rear space 90B, and the third rear space 90C intersect the first reference plane 85A.
  • the fourth area 15d, the fifth area 15e, the sixth area 15f, the fourth rear space 90D, the fifth rear space 90E, and the sixth rear space 90F intersect the second reference plane 85B.
  • the first condition is that the phase of the sound wave in the first back space 90A formed by the first piezoelectric speaker 10A is either positive or negative.
  • the second condition is that the phase of the sound wave in the second back space 90B formed by the first piezoelectric speaker 10A is either positive or negative.
  • the third condition is that the phase of the sound wave in the third back space 90C formed by the first piezoelectric speaker 10A is either positive or negative.
  • the sound wave in the first back space 90A, the sound wave in the third back space 90C, and the sound wave in the second back space 90B propagate to the first interference space 91A located further behind.
  • these sound waves interfere with each other and cancel each other. Therefore, in the first interference space 91A, the sound originating from the first piezoelectric speaker 10A can be attenuated.
  • the first interference space 91A is included in the back space 95B.
  • the seventh condition is that the phase of the sound wave in the fourth rear space 90D formed by the second piezoelectric speaker 10B is either positive or negative.
  • the eighth condition is that the phase of the sound wave in the fifth back space 90E formed by the second piezoelectric speaker 10B is either positive or negative.
  • the ninth condition is that the phase of the sound wave in the sixth back space 90F formed by the second piezoelectric speaker 10B is either positive or negative. If such a phase distribution is formed in the front space 95A, the sound originating from the second piezoelectric speaker 10B is likely to attenuate in the front space 95A.
  • the sound wave in the fourth rear space 90D, the sound wave in the sixth rear space 90F, and the sound wave in the fifth rear space 90E propagate to the second interference space 91B located further behind.
  • these sound waves interfere with each other and cancel each other. Therefore, in the second interference space 91B, the sound originating from the second piezoelectric speaker 10B can be attenuated.
  • the second interference space 91B is included in the table space 95A.
  • the phases of the sound waves from the second piezoelectric speaker 10B in the fourth rear space 90D, the sixth rear space 90F, and the fifth rear space 90E are respectively negative, positive, and negative under the control of the control device 120, or A period T4 can appear which is positive, negative and positive.
  • T4/Tt is, for example, 0.01 or more and 1 or less, depending on the second noise source 200B.
  • the period T4 can be continuous or appear periodically.
  • T4/Tt may be 0.1 or more and 1 or less, 0.5 or more and 1 or less, 0.7 or more and 1 or less, or 0.9 or more and 1 or less. good too.
  • the tenth condition is that the phase of the sound wave formed by the second piezoelectric speaker 10B is maintained either positive or negative over the fourth wraparound path from the fourth region 15d to the fourth rear space 90D via the left end 81. This is the condition.
  • the eleventh condition is that the phase of the sound wave formed by the second piezoelectric speaker 10B is maintained at either positive or negative over the fifth wraparound path from the fifth region 15e to the fifth rear space 90E via the right end 82.
  • the ANC system includes a control device 120.
  • the control device 120 has a control mode for controlling the frequency of the sound output from the first piezoelectric speaker 10A to a value within the first specific frequency range.
  • the wavelength of sound at the upper limit of the first specific frequency range is defined as the first reference wavelength.
  • the control device 120 also has a control mode for controlling the frequency of the sound output from the second piezoelectric speaker 10B to a value within the second specific frequency range.
  • the wavelength of sound at the upper limit of the second specific frequency range is defined as the second reference wavelength.
  • the former control mode and the latter control mode may be the same control mode or may be different control modes.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first upper margin M3 may be 1 ⁇ 8 or less of the first reference wavelength. According to such a margin, the period required for sound to propagate from the first region 15a of the first radiation surface 15A to the left end portion 81 of the structure 80 and the time required for sound to propagate from the third region 15c of the first radiation surface 15A to the structure and the time required for sound to propagate to the upper end 83 of 80 can be substantially the same. Therefore, the timing at which the sound originating from the first region 15a starts to advance from the left end 81 to the back space 95B and the timing at which the sound originating from the third region 15c starts to advance from the upper end 83 to the back space 95B are substantially the same. can be This can contribute to attenuating the sound that has entered the back space 95B over a wide area of the back space 95B.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first upper margin M3 may be 1 ⁇ 8 or less of the first reference wavelength. According to such a margin, the period required for sound to propagate from the second region 15b of the first radiation surface 15A to the right end portion 82 of the structure 80 and the time required for sound to propagate from the third region 15c of the first radiation surface 15A to the structure and the time required for sound to propagate to the upper end 83 of 80 can be substantially the same. Therefore, the timing at which the sound originating from the second region 15b starts to advance from the right end portion 82 to the back space 95B and the timing at which the sound originating from the third region 15c starts to advance from the upper end portion 83 to the back space 95B are substantially the same. can be This can contribute to attenuating the sound that has entered the back space 95B over a wide area of the back space 95B.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first bottom margin M4 may be 1 ⁇ 8 or less of the first reference wavelength. According to such a margin, the period required for sound to propagate from the first region 15a of the first radiation surface 15A to the left end portion 81 of the structure 80 and the time required for sound to propagate from the third region 15c of the first radiation surface 15A to the structure and the time required for sound to propagate to the lower end 84 of 80 can be substantially the same. Therefore, the timing at which the sound originating from the first region 15a starts to advance from the left end 81 to the back space 95B and the timing at which the sound originating from the third region 15c starts to advance from the bottom end 84 to the back space 95B are substantially the same. can be This can contribute to attenuating the sound that has entered the back space 95B over a wide area of the back space 95B.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first bottom margin M4 may be 1 ⁇ 8 or less of the first reference wavelength. According to such a margin, the period required for sound to propagate from the second region 15b of the first radiation surface 15A to the right end portion 82 of the structure 80 and the time required for sound to propagate from the third region 15c of the first radiation surface 15A to the structure and the time required for sound to propagate to the lower end 84 of 80 can be substantially the same. Therefore, the timing at which the sound originating from the second region 15b starts to advance from the right end 82 to the back space 95B and the timing at which the sound originating from the third region 15c starts to advance from the bottom end 84 to the back space 95B are substantially the same. can be This can contribute to attenuating the sound that has entered the back space 95B over a wide area of the back space 95B.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first upper margin M3 may be 1/16 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first top margin M3 may be 1/16 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first bottom margin M4 may be 1/16 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first bottom margin M4 may be 1/16 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first top margin M3 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first top margin M3 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first bottom margin M4 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first bottom margin M4 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first top margin M3 may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first top margin M3 may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first left margin M1 and the first bottom margin M4 may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the first right margin M2 and the first bottom margin M4 may be 43 cm or less.
  • , is 1/8 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the difference may be 1/16 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the above difference may be 86 cm or less, or may be 43 cm or less.
  • may be 1 ⁇ 8 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the difference may be 1/16 or less of the first reference wavelength.
  • the absolute value of the above difference may be 86 cm or less, or may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second upper margin M7 may be 1 ⁇ 8 or less of the second reference wavelength. According to such a margin, the period required for sound to propagate from the fourth region 15d of the second radiation surface 15B to the left end portion 81 of the structure 80 and the time required for sound to propagate from the sixth region 15f of the second radiation surface 15B to the structure and the time required for sound to propagate to the upper end 83 of 80 can be substantially the same. Therefore, the timing at which the sound originating from the fourth region 15d starts to advance from the left end portion 81 to the front space 95A and the timing at which the sound originating from the sixth region 15f starts to advance from the upper end portion 83 to the front space 95A are substantially the same. can be This can contribute to attenuating the sound that has entered the front space 95A over a wide area of the front space 95A.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second upper margin M7 may be 1 ⁇ 8 or less of the second reference wavelength. According to such a margin, the period required for sound to propagate from the fifth region 15e of the second radiation surface 15B to the right end portion 82 of the structure 80 and the time required for sound to propagate from the sixth region 15f of the second radiation surface 15B to the structure and the time required for sound to propagate to the upper end 83 of 80 can be substantially the same. Therefore, the timing at which the sound originating from the fifth region 15e starts to advance from the right end portion 82 to the front space 95A and the timing at which the sound originating from the sixth region 15f starts to advance from the upper end portion 83 to the front space 95A are substantially the same. can be This can contribute to attenuating the sound that has entered the front space 95A over a wide area of the front space 95A.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second upper margin M7 may be 1/16 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second top margin M7 may be 1/16 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second bottom margin M8 may be 1/16 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second bottom margin M8 may be 1/16 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second top margin M7 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second top margin M7 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second bottom margin M8 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second bottom margin M8 is 86 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second top margin M7 may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second top margin M7 may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second left margin M5 and the second bottom margin M8 may be 43 cm or less.
  • the absolute value of the difference between the second right margin M6 and the second bottom margin M8 may be 43 cm or less.
  • , is 1/8 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the difference may be 1/16 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the above difference may be 86 cm or less, or may be 43 cm or less.
  • may be 1/8 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the difference may be 1/16 or less of the second reference wavelength.
  • the absolute value of the above difference may be 86 cm or less, or may be 43 cm or less.
  • the first top margin M3 may be larger than the first left margin M1, may be smaller than the first left margin M1, or may be the same as the first left margin M1.
  • the first top margin M3 may be larger than the first right margin M2, may be smaller than the first right margin M2, or may be the same as the first right margin M2.
  • the first bottom margin M4 may be larger than the first left margin M1, may be smaller than the first left margin M1, or may be the same as the first left margin M1.
  • the first bottom margin M4 may be larger than the first right margin M2, may be smaller than the first right margin M2, or may be the same as the first right margin M2.
  • the second top margin M7 may be larger than the second left margin M5, may be smaller than the second left margin M5, or may be the same as the second left margin M5.
  • the second top margin M7 may be larger than the second right margin M6, may be smaller than the second right margin M6, or may be the same as the second right margin M6.
  • the first aspect ratio is the ratio L2/L1 of the longitudinal dimension L2 to the longitudinal dimension L1 of the first radiation surface 15A.
  • the second aspect ratio is the ratio L4/L3 of the longitudinal dimension L4 to the longitudinal dimension L3 of the second radiation surface 15B.
  • the first aspect ratio L2/L1 is 1.2 or more.
  • This configuration can contribute to attenuating the sound that circulates to the other side of the structure 80 from the first piezoelectric speaker 10A.
  • it is easy to sufficiently secure the area of the third region 15c. This is advantageous from the viewpoint of canceling out the sound that has circulated to the other side of the structure 80 from the first region 15a and the second region 15b by the sound that has circulated to the other side of the structure 80 from the third region 15c. .
  • the first aspect ratio L2/L1 may be 1.2 or more and 6 or less. Specifically, the first aspect ratio L2/L1 may be 1.5 or more and 4 or less.
  • the second aspect ratio L4/L3 may be 1.2 or more and 6 or less. Specifically, the second aspect ratio L4/L3 may be 1.5 or more and 4 or less.
  • the ANC system includes a first reference microphone 130A, a second reference microphone 130B and a controller 120.
  • the first reference microphone 130A is arranged in the back space 95B.
  • a second reference microphone 130B is placed in the front space 95A.
  • the control device 120 controls the sound emitted by the first piezoelectric speaker 10A using the first reference microphone 130A so as to mute the surface space 95A.
  • the control device 120 controls the sound emitted by the second piezoelectric speaker 10B using the second reference microphone 130B so as to mute the back space 95B.
  • a first distance Dm1 is the distance between the surface 80a of the structure 80 and the first reference microphone 130A. In the illustrated example, the first distance Dm1 is specifically the distance in the thickness direction of the plate 80p of the structure 80. As shown in FIG. A second distance Dm2 is the distance between the back surface 80b of the structure 80 and the second reference microphone 130B. In the illustrated example, the second distance Dm2 is specifically the distance in the thickness direction of the plate 80p of the structure 80 .
  • the first distance Dm1 is 105 cm or less. According to this numerical example, when the frequency of the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A is 200 Hz or more and 800 Hz or less, the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A is input to the first reference microphone 130A as noise in control. hard to be This is supported by Example 1 and the like.
  • the first distance Dm1 is greater than 0 cm.
  • the first distance Dm1 may be 40 cm or more.
  • the first distance Dm1 may be greater than 60 cm.
  • the second distance Dm2 is 105 cm or less. According to this numerical example, when the frequency of the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B is 200 Hz or more and 800 Hz or less, the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B is input to the second reference microphone 130B as noise in control. hard to be This is supported by Example 1 and the like.
  • the second distance Dm2 is greater than 0 cm.
  • the second distance Dm2 may be 40 cm or more.
  • the second distance Dm2 may be greater than 60 cm.
  • the first distance Dm1 and the second distance Dm2 may be the same or different.
  • the control device 120 controls the sound emitted by the first piezoelectric speaker 10A using the first reference microphone 130A without using the error microphone located in the front space 95A so as to mute the front space 95A. Specifically, in this control, controller 120 does not use an error microphone. According to this configuration, control can be performed simply. Specifically, as can be understood from the description with reference to FIGS. 18 to 20, the ANC system according to the present invention can attenuate the sound that has leaked from the first piezoelectric speaker 10A to the other side of the structure 80. Suitable for For this reason, it is easy to ensure a silencing effect without using an error microphone.
  • an error microphone is a microphone located at a point to be silenced and subjected to control by the ANC system to reduce noise at that point.
  • the expression "without using the error microphone located in the front space 95A” includes a form in which the error microphone is not installed in the front space 95A, as illustrated. This expression also includes configurations in which an error microphone is installed in table space 95A but the error microphone is not used.
  • the first reference microphone 130A is the only microphone that the controller 120 uses to control the sound emitted by the first piezoelectric speaker 10A.
  • the expression "without using the error microphone located in the back space 95B" includes a form in which the error microphone is not installed in the back space 95B, as illustrated. This expression also includes a configuration in which an error microphone is installed in the back space 95B but the error microphone is not used.
  • the second reference microphone 130B is the only microphone that the controller 120 uses to control the sound emitted by the second piezoelectric speaker 10B.
  • the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A and input to the first reference microphone 130A is defined as the first wraparound sound.
  • the control device 120 does not perform feedback compensation for suppressing the influence of the first wraparound sound on the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A.
  • control can be performed simply.
  • the ANC system according to the present invention can attenuate the sound that has leaked from the first piezoelectric speaker 10A to the other side of the structure 80. Suitable for For this reason, it is easy to ensure the silencing effect without performing feedback compensation.
  • the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B and input to the second reference microphone 130B is defined as the second wraparound sound.
  • the control device 120 does not perform feedback compensation for suppressing the influence of the second wraparound sound on the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B.
  • control can be performed simply.
  • the ANC system according to the present invention is capable of attenuating the sound that has leaked from the second piezoelectric speaker 10B to the other side of the structure 80. Suitable for For this reason, it is easy to ensure the silencing effect without performing feedback compensation.
  • the control device 120 has a first noise control filter 121A.
  • the first noise control filter 121A is configured such that the sound input to the first reference microphone 130A and the sound emitted from the first piezoelectric speaker 10A have a one-to-one correspondence. Also, the first noise control filter 121A is configured such that this correspondence relationship is fixed over time. According to this configuration, control can be performed simply. Specifically, as can be understood from the description with reference to FIGS. 18 to 20, the ANC system according to the present invention can attenuate the sound that has leaked from the first piezoelectric speaker 10A to the other side of the structure 80. Suitable for Therefore, even if the first noise control filter 121A is configured simply like this, it is easy to secure the noise reduction effect.
  • the temporal fixation of the above-described correspondence relationship can be realized, for example, by fixing the filter coefficients of the first noise control filter 121A without updating them.
  • the first noise control filter 121A can be caused to perform certain calculations, and through the certain calculations, noise reduction using the first piezoelectric speaker 10A can be realized.
  • the control device 120 has a second noise control filter 121B.
  • the second noise control filter 121B is configured such that the sound input to the second reference microphone 130B and the sound emitted from the second piezoelectric speaker 10B have a one-to-one correspondence. Further, the second noise control filter 121B is configured such that this correspondence relationship is fixed over time. According to this configuration, control can be performed simply.
  • the ANC system according to the present invention is capable of attenuating the sound that has leaked from the second piezoelectric speaker 10B to the other side of the structure 80. Suitable for Therefore, even if the second noise control filter 121B is configured in such a simple manner, it is easy to ensure the silencing effect.
  • control can be simplified. By doing so, the amount of calculation can be reduced.
  • the ANC system can be configured with fewer FIR (Finite Impulse Response) filters.
  • a typical FIR filter is computationally expensive.
  • By reducing the number of FIR filters it is possible to reduce the calculation load of the controller and improve the control speed. This may lead to further practical use of the ANC system.
  • An ANC system may be configured without an FIR filter.
  • an ANC system can be configured with a small number of microphones. By doing so, the hardware configuration in the ANC system can be made compact.
  • the present invention it is possible to attenuate the sound that has leaked from the piezoelectric speaker to the other side of the structure 80 . Therefore, it is possible to construct an ANC system without a back cavity. By doing so, the hardware configuration in the ANC system can be made compact.
  • the back cavity is a box-shaped cover that prevents sound from leaking behind the speaker.
  • the ANC system may perform feedback compensation.
  • the designer of the ANC system can choose to have feedback compensation or not.
  • the controller may have a control mode that performs feedback compensation and a control mode that does not perform feedback compensation. In this case, the controller may be able to switch between these two modes.
  • the ANC system may have an FIR filter.
  • the ANC system may have an error microphone.
  • the ANC system may have a back cavity.
  • the number of piezoelectric speakers 10 attached to the surface 80a of the structure 80 may be one or plural.
  • the number of piezoelectric speakers 10 attached to the rear surface 80b of the structure 80 may be one or plural.
  • (Technology 2) a structure having a front surface and a back surface; a first piezoelectric loudspeaker disposed on the surface and radiating acoustic waves for sound deadening; a first reference microphone; a controller; A front space that overlaps with the front surface when the front surface is viewed in plan, the front surface, the back surface, and a back space that overlaps the back surface when the back surface is viewed in plan are arranged in this order, The first reference microphone is arranged in the back space, The controller controls the sound emitted by the first piezoelectric speaker using the first reference microphone without using an error microphone located in the surface space so as to muffle the surface space. Active noise control system.
  • the first reference microphone is the only microphone used by the controller to control the sound emitted by the first piezoelectric speaker;
  • the active noise control system includes: a first reference microphone located in the back space; a controller;
  • the control device has a first noise control filter,
  • the first noise control filter is A sound input to the first reference microphone and a sound emitted from the first piezoelectric speaker have a one-to-one correspondence, and configured such that the correspondence relationship is fixed over time;
  • An active noise control system according to any one of Techniques 1 to 4.
  • the first piezoelectric speaker has a first radiation surface facing the surface space;
  • the back space has a first back space, a second back space, and a third back space between the first back space and the second back space, the phase of the sound wave in the first back space formed by the first piezoelectric speaker is either positive or negative;
  • the phase of the sound wave in the second back space formed by the first piezoelectric speaker is one of positive and negative, and There appears a period in which the phase of the sound wave in the third back space formed by the first piezoelectric speaker is the other of positive and negative,
  • An active noise control system according to any one of Techniques 1 to 5.
  • the first radiation surface has a first region, a second region, and a third region between the first region and the second region;
  • the structure has a left end, a right end and a top end, the first region, the second region, the third region, the first rear space, the second rear space, and the third rear space intersect a first reference plane perpendicular to the vertical direction;
  • the phase of the sound wave formed by the first piezoelectric speaker is maintained at the one of positive and negative over the first wraparound path from the first area to the first back space via the left end,
  • the phase of the sound wave formed by the first piezoelectric speaker is maintained at the one of positive and negative over a second wraparound path from the second area to the second back space via the right end, and
  • An active noise control system according to Technique 6.
  • the first piezoelectric speaker has a first radiation surface
  • the active noise control system comprises a controller
  • the control device has a control mode for controlling the frequency of the sound output from the first piezoelectric speaker to a value within a first specific frequency range, Define the upper limit sound wavelength of the first specific frequency range as a first reference wavelength, defining a margin between the left edge of the first radiation surface and the left edge of the structure as a first left margin; defining a margin between the right edge of the first radiation surface and the right edge of the structure as a first right margin;
  • the margin between the upper end of the first radiation surface and the upper end of the structure is defined as a first upper margin
  • At least one of the absolute value of the difference between the first left margin and the first top margin and the absolute value of the difference between the first right margin and the first top margin is 1/8 of the first reference wavelength. is the following 8.
  • An active noise control system according to any one of Techniques 1-7.
  • the first piezoelectric speaker has a first radiation surface, defining a margin between the left edge of the first radiation surface and the left edge of the structure as a first left margin; defining a margin between the right edge of the first radiation surface and the right edge of the structure as a first right margin;
  • the margin between the upper end of the first radiation surface and the upper end of the structure is defined as a first upper margin, at least one of the absolute value of the difference between the first left margin and the first top margin and the absolute value of the difference between the first right margin and the first top margin is 86 cm or less;
  • An active noise control system according to any one of Techniques 1 to 8.
  • the first piezoelectric speaker has a first radiation surface, When the ratio of the longitudinal dimension to the longitudinal dimension of the first radiation surface is defined as the first aspect ratio, The first aspect ratio is 1.2 or more, An active noise control system according to any one of Techniques 1-9.
  • the active noise control system includes: a first reference microphone located in the back space; a controller; The control device uses the first reference microphone to control sound emitted by the first piezoelectric speaker so as to muffle the surface space; Defining the distance between the surface and the first reference microphone as a first distance, The first distance is 105 cm or less, An active noise control system according to any one of Techniques 1 to 10.

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Abstract

アクティブノイズコントロールシステム（５００）は、構造物（８０）、第１圧電スピーカー（１０Ａ）及び第２圧電スピーカー（１０Ｂ）を備える。構造物（８０）は、表面（８０ａ）及び裏面（８０ｂ）を有する。第１圧電スピーカー（１０Ａ）は、表面（８０ａ）上に配置されている。第１圧電スピーカー（１０Ａ）は、消音用の音波を放射する。第２圧電スピーカー（１０Ｂ）は、裏面（８０ｂ）上に配置されている。第２圧電スピーカー（１０Ｂ）は、消音用の音波を放射する。

Description

アクティブノイズコントロールシステム
　本発明は、アクティブノイズコントロールシステムに関する。
　アクティブノイズコントロールシステム（以下、ＡＮＣシステムと称することがある）が知られている。ＡＮＣシステムでは、騒音が、逆位相の音で低減される。特許文献１には、ＡＮＣシステムの例が記載されている。特許文献１のＡＮＣシステムでは、構造物にスピーカーが取り付けられている。
特開２００４－２６４５９０号公報 特開２０１６－１２２１８７号公報
　本発明は、構造物に取り付けられたスピーカー由来の音をスピーカーから見て構造物の背後において減衰させることに適した構成を有するＡＮＣシステムを提供する。
　本発明は、
　表面及び裏面を有する構造物と、
　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
　前記裏面上に配置され、消音用の音波を放射する第２圧電スピーカーと、を備えた、
　アクティブノイズコントロールシステムを提供する。
　本発明に係るＡＮＣシステムは、構造物に取り付けられたスピーカー由来の音をスピーカーから見て構造物の背後において減衰させることに適している。
図１は、第１実施形態に係るＡＮＣシステムの上面図である。 図２は、第１実施形態に係るＡＮＣシステムの側面図である。 図３は、第１圧電スピーカー及び第２圧電スピーカーが取り付けられた構造物を示す詳細な斜視図である。 図４Ａは、第１圧電スピーカーの第１放射面の配置を説明するための拡大図である。 図４Ｂは、第２圧電スピーカーの第２放射面の配置を説明するための拡大図である。 図５Ａは、第１圧電スピーカーの第１放射面の向きの別例を説明するための拡大図である。 図５Ｂは、第２圧電スピーカーの第２放射面の向きの別例を説明するための拡大図である。 図６Ａは、第１圧電スピーカーの第１放射面の形状の別例を説明するための拡大図である。 図６Ｂは、第２圧電スピーカーの第２放射面の形状の別例を説明するための拡大図である。 図７Ａは、第１圧電スピーカーの第１放射面の各領域を説明するための拡大図である。 図７Ｂは、第２圧電スピーカーの第２放射面の各領域を説明するための拡大図である。 図８Ａは、第１騒音源からの回折波を説明するための上面図である。 図８Ｂは、第１騒音源からの回折波を説明するための側面図である。 図８Ｃは、第１騒音源からの回折波を説明するための斜視図である。 図８Ｄは、第１圧電スピーカーが形成する波面を説明するための上面図である。 図８Ｅは、第１圧電スピーカーが形成する波面を説明するための側面図である。 図８Ｆは、第１圧電スピーカーが形成する波面を説明するための斜視図である。 図９Ａは、第２騒音源からの回折波を説明するための上面図である。 図９Ｂは、第２騒音源からの回折波を説明するための側面図である。 図９Ｃは、第２騒音源からの回折波を説明するための斜視図である。 図９Ｄは、第２圧電スピーカーが形成する波面を説明するための上面図である。 図９Ｅは、第２圧電スピーカーが形成する波面を説明するための側面図である。 図９Ｆは、第２圧電スピーカーが形成する波面を説明するための斜視図である。 図１０は、従来のダイナミックスピーカーが形成する波面の説明図である。 図１１は、従来の平面スピーカーが形成する波面の説明図である。 図１２は、圧電スピーカーの放射面の振動の説明図である。 図１３は、圧電フィルムの支持構造の説明図である。 図１４は、第１実施形態に係るＡＮＣシステムの説明図である。 図１５は、第２実施形態に係るＡＮＣシステムの上面図である。 図１６は、第２実施形態に係るＡＮＣシステムの側面図である。 図１７は、第２実施形態に係るＡＮＣシステムの説明図である。 図１８は、従来のダイナミックスピーカーを構造物に取り付けることによって構成したＡＮＣシステムを示す模式図である。 図１９は、第１圧電スピーカーを構造物に取り付けることによって構成した第２実施形態に係るＡＮＣシステムを示す模式図である。 図２０は、第２実施形態に係るＡＮＣシステムにおいて、構造物の裏面の背後に形成されうる位相分布を示す模式的な上面図である。 図２１は、圧電スピーカーの厚さ方向に平行な断面図である。 図２２は、圧電スピーカーを固定面とは反対側から観察したときの上面図である。 図２３は、別の構成例に係る圧電スピーカーを示す図である。 図２４は、作製したサンプルの構造を説明するための図である。 図２５は、サンプルを測定するための構成を説明するための図である。 図２６は、サンプルを測定するための構成を説明するための図である。 図２７は、出力系のブロック図である。 図２８は、評価系のブロック図である。 図２９Ａは、サンプルの評価結果を示す表である。 図２９Ｂは、サンプルの評価結果を示す表である。 図３０は、介在層の拘束度と音が出始める周波数との関係を示すグラフである。 図３１は、サンプルＥ１の音圧レベルの周波数特性を示すグラフである。 図３２は、サンプルＥ２の音圧レベルの周波数特性を示すグラフである。 図３３は、サンプルＲ１の音圧レベルの周波数特性を示すグラフである。 図３４は、暗騒音の音圧レベルの周波数特性を示すグラフである。 図３５は、参照ＡＮＣ評価系の構成図である。 図３６は、スピーカーＯＦＦ時の音圧分布を示す図である。 図３７は、スピーカーＯＦＦ時の波面の伝搬を示す図である。 図３８は、スピーカーＯＦＦ時の音圧分布を示す図である。 図３９は、スピーカーＯＦＦ時の波面の伝搬を示す図である。 図４０は、圧電スピーカー由来の音圧分布を示す図である。 図４１は、圧電スピーカー由来の波面の伝搬を示す図である。 図４２は、圧電スピーカー由来の音圧分布を示す図である。 図４３は、圧電スピーカー由来の波面の伝搬を示す図である。 図４４は、ダイナミックスピーカー由来の音圧分布を示す図である。 図４５は、ダイナミックスピーカー由来の波面の伝搬を示す図である。 図４６は、ダイナミックスピーカー由来の音圧分布を示す図である。 図４７は、ダイナミックスピーカー由来の波面の伝搬を示す図である。 図４８は、平面スピーカー由来の音圧分布を示す図である。 図４９は、平面スピーカー由来の波面の伝搬を示す図である。 図５０は、平面スピーカー由来の音圧分布を示す図である。 図５１は、平面スピーカー由来の波面の伝搬を示す図である。 図５２Ａは、消音効果の説明図である。 図５２Ｂは、消音効果の説明図である。 図５２Ｃは、消音効果の説明図である。 図５３Ａは、消音効果の説明図である。 図５３Ｂは、消音効果の説明図である。 図５３Ｃは、消音効果の説明図である。 図５４は、測定用水平断面及び測定用矢状断面を説明するための斜視図である。 図５５は、実施例１に係るＡＮＣ評価系の構成図である。 図５６は、実施例１に係る第１圧電スピーカーが取り付けられたパーティションを示す斜視図である。 図５７は、実施例１に係る第１圧電スピーカーの第１放射面の配置を説明するための拡大図である。 図５８は、実施例１における測定用水平断面における音圧分布を示すコンター図である。 図５９は、実施例２に係るＡＮＣ評価系の構成図である。 図６０は、実施例２における測定用矢状断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６１は、実施例３における測定用水平断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６２は、実施例４における測定用矢状断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６３Ａは、実施例５における測定用水平断面における位相分布を示すカラーマップである。 図６３Ｂは、実施例５における測定用水平断面における位相分布を示すコンター図である。 図６４は、比較例１に係るダイナミックスピーカーが取り付けられたパーティションを示す斜視図である。 図６５は、比較例１における測定用水平断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６６は、比較例２における測定用矢状断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６７は、比較例３における測定用水平断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６８は、比較例４における測定用矢状断面における音圧分布を示すコンター図である。 図６９Ａは、比較例５における測定用水平断面における位相分布を示すカラーマップである。 図６９Ｂは、比較例５における測定用水平断面における位相分布を示すコンター図である。 図７０は、実施例６に係るＡＮＣ評価系の構成を説明するための上面図である。 図７１は、実施例６に係るＡＮＣ評価系の構成を説明するための側面図である。 図７２は、実施例６に係る第２圧電スピーカーの第２放射面の配置を説明するための拡大図である。 図７３は、実施例６の消音効果の測定結果を示すグラフである。 図７４は、実施例７の消音効果の測定結果を示すグラフである。 図７５は、参考例５の消音効果の測定結果を示すグラフである。 図７６は、比較例６の消音効果の測定結果を示すグラフである。 図７７は、比較例７の消音効果の測定結果を示すグラフである。 図７８は、参考例６の消音効果の測定結果を示すグラフである。 図７９は、本発明から導かれうる技術及び効果を説明するための上面図である。 図８０は、本発明から導かれうる技術及び効果を説明するための側面図である。
　以下、添付の図面を参照しつつ本発明の実施形態について説明するが、以下は本発明の実施形態の例示に過ぎず、本発明を制限する趣旨ではない。以下では、「上」、「下」、「左」、「右」、「高さ」等の用語は、要素間の相互の配置を指定するために用いており、ＡＮＣシステムの使用時におけるこれらの要素の姿勢を限定する意図ではない。また、以下では、同一又は類似する構成要素に同一の符号を付し、その説明を省略することがある。
［アクティブノイズコントロールシステムの第１実施形態］
　図１～図７Ｂに示すように、アクティブノイズコントロールシステム（ＡＮＣシステム）５００は、構造物８０と、複数の圧電スピーカー１０と、を含む。複数の圧電スピーカー１０は、それぞれ、放射面１５を有し、消音用の音波を放射する。
　本実施形態では、複数の圧電スピーカー１０は、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂを有する。具体的には、ＡＮＣシステム５００は、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂを用いたデュアルＡＮＣシステムである。デュアルＡＮＣシステムは、双方向ＡＮＣシステムとも称されうる。
　図３に示すように、構造物８０は、板８０ｐを有する。図示の例では、構造物８０は、脚８０ｌをさらに有する。脚８０ｌは、板８０ｐを起立した状態に支える。他の図では、脚８０ｌの図示は省略している。
　構造物８０は、表面８０ａ及び裏面８０ｂを有する。構造物８０において、表面８０ａ及び裏面８０ｂは、互いに反対側の面である。第１圧電スピーカー１０Ａは、表面８０ａ上に配置されている。第２圧電スピーカー１０Ｂは、裏面８０ｂ上に配置されている。具体的には、板８０ｐが、表面８０ａ及び裏面８０ｂを有する。
　本実施形態では、構造物８０の板８０ｐは、例えば、上下方向寸法が２０ｃｍ以上４００ｃｍ以下（具体例では２０ｃｍ以上２００ｃｍ以下）であり、左右方向寸法が２５ｃｍ以上２００ｃｍ以下（具体例では５０ｃｍ以上１２０ｃｍ以下）であり、厚さ方向寸法が０．１ｃｍ以上１５ｃｍ以下である。ここで、上下方向、左右方向及び厚さ方向は、互いに直交している。上下方向寸法と左右方向寸法とは、同じであってもよく、異なっていてもよい。構造物８０全体の上下方向寸法は、例えば２０ｃｍ以上４００ｃｍ以下であり、具体例では２０ｃｍ以上２００ｃｍ以下である。
　本実施形態では、構造物８０は、パーティションである。一例では、構造物８０は、オフィスに配置されたパーティションである。一具体例では、構造物８０は、オフィスのシェアデスクを仕切るパーティションである。
　以下、第１圧電スピーカー１０Ａの放射面１５を、第１放射面１５Ａと称する。第１放射面１５Ａは、振動することによって、音波を放射する。この音波により、騒音が低減される。本実施形態では、第１放射面１５Ａは、ひとつながりの放射面である。
　以下、第２圧電スピーカー１０Ｂの放射面１５を、第２放射面１５Ｂと称する。第２放射面１５Ｂは、振動することによって、音波を放射する。この音波により、騒音が低減される。本実施形態では、第２放射面１５Ｂは、ひとつながりの放射面である。
　構造物８０は、左端部８１、右端部８２、上端部８３及び下端部８４を有する。左端部８１及び右端部８２は、左右方向に対向している。上端部８３及び下端部８４は、上下方向に対向している。図示の例では、下端部８４は、床に接する端部である。具体的には、板８０ｐが、左端部８１、右端部８２及び上端部８３を有する。板８０ｐ及び脚８０ｌが、下端部８４を有する。
　「左」及び「右」は、構造物８０の表面８０ａから裏面８０ｂに向かう方向に沿って観察したときの位置関係を指す。このため、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａの左端部１５ｊと、第２圧電スピーカー１０Ｂの第２放射面１５Ｂの左端部１５ｐとは、表面８０ａ又は裏面８０ｂを平面視したときに重複しうる。同様に、第１放射面１５Ａの右端部１５ｋと、第２放射面１５Ｂの右端部１５ｑとは、表面８０ａ又は裏面８０ｂを平面視したときに重複しうる。
　ＡＮＣシステム５００は、左端部８１、右端部８２及び上端部８３で生じる回折音を低減するのに適している。以下、この点について、図８Ａ～図９Ｆを参照しながら説明する。念のため断っておくが、以下の説明において、波面は、波の位相の等しい点を連ねた面を指す。図８Ａ～図８Ｆでは、第２騒音源２００Ｂ等の図示は省略している。図９Ａ～図９Ｆでは、第１騒音源２００Ａ等の図示は省略している。
　図８Ａ及び図８Ｂにおいて、第１騒音源２００Ａと構造物８０の間の距離は、例えば０．３ｍ以上５ｍ以下である。この距離は、具体的には、板８０ｐの厚さ方向に関する第１騒音源２００Ａと板８０ｐの間の距離である。また、第１騒音源２００Ａの高さは、例えば、０ｍ以上４ｍ以下である。この文脈において、高さは、上下方向の位置である。
　図９Ａ及び図９Ｂにおいて、第２騒音源２００Ｂと構造物８０の間の距離は、例えば０．３ｍ以上５ｍ以下である。この距離は、具体的には、板８０ｐの厚さ方向に関する第２騒音源２００Ｂと板８０ｐの間の距離である。また、第２騒音源２００Ｂの高さは、例えば、０ｍ以上４ｍ以下である。この文脈において、高さは、上下方向の位置である。
　図８Ａ及び図８Ｂに示すように、第１騒音源２００Ａからの騒音が構造物８０に向かって伝搬してきたとする。この場合、左端部８１及び右端部８２において、回折が生じうる。左端部８１及び右端部８２での回折により生じた波面は、第１騒音源２００Ａから見て構造物８０の向こう側に回り込むように伝搬する。第１圧電スピーカー１０Ａは、左端部８１及び右端部８２でこのようにして生じる回折音を低減することに適している。
　図９Ａ及び図９Ｂに示すように、第２騒音源２００Ｂからの騒音が構造物８０に向かって伝搬してきたとする。この場合、左端部８１及び右端部８２において、回折が生じうる。左端部８１及び右端部８２での回折により生じた波面は、第２騒音源２００Ｂから見て構造物８０の向こう側に回り込むように伝搬する。第２圧電スピーカー１０Ｂは、左端部８１及び右端部８２でこのようにして生じる回折音を低減することに適している。
　図４Ａに示すように、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａは、上下方向Ｄ１及び左右方向Ｄ２に沿って拡がっている。図４Ａの例では、第１放射面１５Ａは、短手方向及び長手方向を有する。第１放射面１５Ａの短手方向の寸法は、寸法Ｌ１である。第１放射面１５Ａの長手方向の寸法は、寸法Ｌ２である。
　図４Ａの例では、第１放射面１５Ａの短手方向は、上下方向Ｄ１である。第１放射面１５Ａの長手方向は、左右方向Ｄ２である。
　寸法Ｌ１に対する寸法Ｌ２の比率すなわち第１アスペクト比Ｌ２／Ｌ１は、例えば、１．２以上である。第１アスペクト比Ｌ２／Ｌ１は、１．２以上６以下であってもよく、１．５以上４以下であってもよい。
　寸法Ｌ１は、例えば、２０ｃｍ以上４００ｃｍ以下である。寸法Ｌ１は、２０ｃｍ以上２００ｃｍ以下であってもよい。
　寸法Ｌ２は、例えば、２５ｃｍ以上２００ｃｍ以下である。寸法Ｌ２は、５０ｃｍ以上１２０ｃｍ以下であってもよい。
　寸法Ｌ１を調整して、消音可能な音の周波数を調整することも可能である。この観点から、寸法Ｌ１の上限を設定してもよい。例えば、寸法Ｌ１は、５０ｃｍ以下である。このようにすれば、周波数の高い騒音を消音し易い。寸法Ｌ１は、４０ｃｍ以下であってもよい。
　図５Ａに示すように、第１放射面１５Ａの短手方向は、上下方向Ｄ１からずれていてもよい。第１放射面１５Ａの長手方向は、左右方向Ｄ２からずれていてもよい。第１放射面１５Ａの短手方向の上下方向Ｄ１からのずれ角θｐは、例えば０°以上１５°以下の範囲である。ずれ角θｐは、例えば０°以上５°以下の範囲であってもよい。同様に、第１放射面１５Ａの長手方向の左右方向Ｄ２からのずれ角θｑは、例えば０°以上１５°以下の範囲である。ずれ角θｑは、例えば０°以上５°以下の範囲であってもよい。
　図４Ａの例では、第１放射面１５Ａの形状は、四角形であり、具体的には長方形である。ただし、第１放射面１５Ａの形状は、これに限定されない。例えば、第１放射面１５Ａの形状は、図６Ａに示すような角丸長方形であってもよい。角丸長方形の角部の曲率半径Ｃｒは、例えば、０よりも大きく、角丸長方形の短手方向の長さの半分以下である。
　第１放射面１５Ａは、長手方向及び短手方向を有していなくてもよい。例えば、第１放射面１５Ａの形状は、正方形であってもよく、円形であってもよい。
　図４Ｂに示すように、第２圧電スピーカー１０Ｂの第２放射面１５Ｂは、上下方向Ｄ１及び左右方向Ｄ２に沿って拡がっている。図４Ｂの例では、第２放射面１５Ｂは、短手方向及び長手方向を有する。第２放射面１５Ｂの短手方向の寸法は、寸法Ｌ３である。第２放射面１５Ｂの長手方向の寸法は、寸法Ｌ４である。
　図４Ｂの例では、第２放射面１５Ｂの短手方向は、上下方向Ｄ１である。第２放射面１５Ｂの長手方向は、左右方向Ｄ２である。
　寸法Ｌ３に対する寸法Ｌ４の比率すなわち第２アスペクト比Ｌ４／Ｌ３は、例えば、１．２以上である。第２アスペクト比Ｌ４／Ｌ３は、１．２以上６以下であってもよく、１．５以上４以下であってもよい。
　寸法Ｌ３は、例えば、２０ｃｍ以上４００ｃｍ以下である。寸法Ｌ３は、２０ｃｍ以上２００ｃｍ以下であってもよい。
　寸法Ｌ４は、例えば、２５ｃｍ以上２００ｃｍ以下である。寸法Ｌ４は、５０ｃｍ以上１２０ｃｍ以下であってもよい。
　寸法Ｌ３を調整して、消音可能な音の周波数を調整することも可能である。この観点から、寸法Ｌ３の上限を設定してもよい。例えば、寸法Ｌ３は、５０ｃｍ以下である。このようにすれば、周波数の高い騒音を消音し易い。寸法Ｌ３は、４０ｃｍ以下であってもよい。
　図５Ｂに示すように、第２放射面１５Ｂの短手方向は、上下方向Ｄ１からずれていてもよい。第２放射面１５Ｂの長手方向は、左右方向Ｄ２からずれていてもよい。第２放射面１５Ｂの短手方向の上下方向Ｄ１からのずれ角θｓは、例えば０°以上１５°以下の範囲である。ずれ角θｓは、例えば０°以上５°以下の範囲であってもよい。同様に、第２放射面１５Ｂの長手方向の左右方向Ｄ２からのずれ角θｔは、例えば０°以上１５°以下の範囲である。ずれ角θｔは、例えば０°以上５°以下の範囲であってもよい。
　図４Ｂの例では、第２放射面１５Ｂの形状は、四角形であり、具体的には長方形である。ただし、第２放射面１５Ｂの形状は、これに限定されない。例えば、第２放射面１５Ｂの形状は、図６Ｂに示すような角丸長方形であってもよい。角丸長方形の角部の曲率半径Ｃｒは、例えば、０よりも大きく、角丸長方形の短手方向の長さの半分以下である。
　第２放射面１５Ｂは、長手方向及び短手方向を有していなくてもよい。例えば、第２放射面１５Ｂの形状は、正方形であってもよく、円形であってもよい。
　以下、音波の伝搬方向及び位相に触れつつ、ＡＮＣシステム５００が回折音を低減することに適していることについて、さらに説明する。
　図７Ａ～図９Ｆから、ＡＮＣシステム５００によれば、左端部８１及び右端部８２での回折により生じた回折音を低減できることが理解される。
　図８Ａの例では、第１騒音源２００Ａからの騒音が構造物８０に向かって伝搬している。左端部８１での回折により生じた波面８１ｗ及び右端部８２での回折により生じた波面８２ｗは、軸８０Ｘに近づくように伝搬する。図８Ａにおいて、波面８１ｗの伝搬方向を符号８１ｄにより示し、波面８２ｗの伝搬方向を符号８２ｄにより示している。軸８０Ｘは、左端部８１及び右端部８２の間を通り構造物８０から離れる方向に延びる軸である。具体的には、図８Ａの例では、軸８０Ｘは、構造物８０の表面８０ａに直交し、表面８０ａの中心を通っている。
　一方、図７Ａに示すように、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａは、第１領域１５ａ、第２領域１５ｂ及び第３領域１５ｃを有する。第３領域１５ｃは、第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂの間に位置する。具体的には、第１領域１５ａは、第３領域１５ｃから見て左端部８１側に位置する。第２領域１５ｂは、第３領域１５ｃから見て右端部８２側に位置する。
　図８Ｄに示すように、第１圧電スピーカー１０Ａは、第１領域１５ａから第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬する第１波面１６ａと、第２領域１５ｂから第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬する第２波面１６ｂと、を形成する。具体的には、本実施形態では、第１放射面１５Ａが振動することによって、そのような第１波面１６ａ及び第２波面１６ｂが形成される。図８Ｄにおいて、第１波面１６ａの伝搬方向を符号１３ａにより示し、第２波面１６ｂの伝搬方向を符号１３ｂにより示している。第１基準軸１０Ｘは、第３領域１５ｃを通り第１放射面１５Ａから離れていくように延びる軸である。
　典型例では、制御装置１２０による制御により、第１圧電スピーカー１０Ａは、第１領域１５ａから第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬する第１波面１６ａと、第２領域１５ｂから第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬する第２波面１６ｂと、を形成する。一具体例では、制御装置１２０による制御により、第１圧電スピーカー１０Ａがそのような第１波面１６ａ及び第２波面１６ｂを形成する状態が維持される。
　本実施形態では、第１領域１５ａと第３領域１５ｃと第２領域１５ｂとは、左右方向Ｄ２に沿ってこの順に並んでいる。このため、本実施形態では、左端部８１での回折由来の波面８１ｗ及び右端部８２での回折由来の波面８２ｗは、図８Ｄに示す第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬するとも言える。このため、左端部８１の回折由来の波面８１ｗ及び右端部８２の回折由来の波面８２ｗと、ＡＮＣシステム５００由来の第１波面１６ａ及び第２波面１６ｂとには、伝搬方向に共通性がある。このことは、騒音が左端部８１及び右端部８２で回折して生じる回折音を低減することに適している。
　本実施形態では、第１基準軸１０Ｘは、非振動時における第３領域１５ｃに直交している。第１基準軸１０Ｘからの第１波面１６ａの伝搬方向の逸れ角θ１は、例えば５°以上８５°以下の範囲にあり、１５°以上７５°以下の範囲にあってもよく、２５°以上６５°以下の範囲にあってもよい。第１基準軸１０Ｘからの第２波面１６ｂの伝搬方向の逸れ角θ２は、例えば５°以上８５°以下の範囲にあり、１５°以上７５°以下の範囲にあってもよく、２５°以上６５°以下の範囲にあってもよい。第３領域１５ｃは、非振動時において平面であってもよい。また、第１放射面１５Ａ全体が、非振動時において平面であってもよい。第１基準軸１０Ｘは、第１放射面１５Ａの中心を通る軸であってもよい。
　また、図９Ａの例では、第２騒音源２００Ｂからの騒音が構造物８０に向かって伝搬している。左端部８１での回折により生じた波面８１ｙ及び右端部８２での回折により生じた波面８２ｙは、軸８０Ｙに近づくように伝搬する。図９Ａにおいて、波面８１ｙの伝搬方向を符号８１ｅにより示し、波面８２ｙの伝搬方向を符号８２ｅにより示している。軸８０Ｙは、左端部８１及び右端部８２の間を通り構造物８０から離れる方向に延びる軸である。具体的には、図９Ａの例では、軸８０Ｙは、構造物８０の裏面８０ｂに直交し、裏面８０ｂの中心を通っている。
　一方、図７Ｂに示すように、第２圧電スピーカー１０Ｂの第２放射面１５Ｂは、第４領域１５ｄ、第５領域１５ｅ及び第６領域１５ｆを有する。第６領域１５ｆは、第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅの間に位置する。具体的には、第４領域１５ｄは、第６領域１５ｆから見て左端部８１側に位置する。第５領域１５ｅは、第６領域１５ｆから見て右端部８２側に位置する。
　図９Ｄに示すように、第２圧電スピーカー１０Ｂは、第４領域１５ｄから第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬する第４波面１６ｄと、第５領域１５ｅから第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬する第５波面１６ｅと、を形成する。具体的には、本実施形態では、第２放射面１５Ｂが振動することによって、そのような第４波面１６ｄ及び第５波面１６ｅが形成される。図９Ｄにおいて、第４波面１６ｄの伝搬方向を符号１３ｄにより示し、第５波面１６ｅの伝搬方向を符号１３ｅにより示している。第２基準軸１０Ｙは、第６領域１５ｆを通り第２放射面１５Ｂから離れていくように延びる軸である。
　典型例では、制御装置１２０による制御により、第２圧電スピーカー１０Ｂは、第４領域１５ｄから第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬する第４波面１６ｄと、第５領域１５ｅから第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬する第５波面１６ｅと、を形成する。一具体例では、制御装置１２０による制御により、第２圧電スピーカー１０Ｂがそのような第４波面１６ｄ及び第５波面１６ｅを形成する状態が維持される。
　本実施形態では、第４領域１５ｄと第６領域１５ｆと第５領域１５ｅとは、左右方向Ｄ２に沿ってこの順に並んでいる。このため、本実施形態では、左端部８１での回折由来の波面８１ｙ及び右端部８２での回折由来の波面８２ｙは、図９Ｄに示す第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬するとも言える。このため、左端部８１の回折由来の波面８１ｙ及び右端部８２の回折由来の波面８２ｙと、ＡＮＣシステム５００由来の第４波面１６ｄ及び第５波面１６ｅとには、伝搬方向に共通性がある。このことは、騒音が左端部８１及び右端部８２で回折して生じる回折音を低減することに適している。
　本実施形態では、第２基準軸１０Ｙは、非振動時における第６領域１５ｆに直交している。第２基準軸１０Ｙからの第４波面１６ｄの伝搬方向の逸れ角θ３は、例えば５°以上８５°以下の範囲にあり、１５°以上７５°以下の範囲にあってもよく、２５°以上６５°以下の範囲にあってもよい。第２基準軸１０Ｙからの第５波面１６ｅの伝搬方向の逸れ角θ４は、例えば５°以上８５°以下の範囲にあり、１５°以上７５°以下の範囲にあってもよく、２５°以上６５°以下の範囲にあってもよい。第６領域１５ｆは、非振動時において平面であってもよい。また、第２放射面１５Ｂ全体が、非振動時において平面であってもよい。第２基準軸１０Ｙは、第２放射面１５Ｂの中心を通る軸であってもよい。
　図１０は、従来のダイナミックスピーカー６１０の説明図である。ダイナミックスピーカー６１０は、その放射面から略半球面波を放射する。その略半球面波の波面６１０ｗもまた、略半球面状である。図１０において、軸６１０Ｘは、ダイナミックスピーカー６１０の放射面を通りその放射面から離れていくように延びる軸である。
　図１１は、従来の平面スピーカー６２０の説明図である。平面スピーカー６２０は、その放射面から略平面波を放射する。その略平面波の波面６２０ｗもまた、略平面状である。図１１において、軸６２０Ｘは、平面スピーカー６２０の放射面を通りその放射面から離れていくように延びる軸である。
　図８Ｄ、図１０及び図１１から理解されるように、本実施形態に係る、第１領域１５ａから第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬する第１波面１６ａと、第２領域１５ｂから第１基準軸１０Ｘに近づくように伝搬する第２波面１６ｂと、の組み合わせは、従来のスピーカー６１０及び６２０では得られない。同様に、第４領域１５ｄから第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬する第４波面１６ｄと、第５領域１５ｅから第２基準軸１０Ｙに近づくように伝搬する第５波面１６ｅと、の組み合わせは、従来のスピーカー６１０及び６２０では得られない。
　図１２は、本実施形態の圧電スピーカー１０の放射面１５の振動の説明図である。圧電スピーカー１０は、図１２に示すように、放射面１５の端部も良好に振動できるように構成されている。放射面１５は、全体として、振動の自由度が高い。このことが、第１波面１６ａ、第２波面１６ｂ、第４波面１６ｄ及び第５波面１６ｅの形成に寄与している可能性がある。典型的には、放射面１５は、自由端振動モードにある程度近いモードで振動しうる。具体的には、放射面１５は、１次自由端振動モードにある程度近いモードで振動しうる。
　従来のスピーカー６１０及び６２０と比較した圧電スピーカー１０の消音効果の優位性は、第１騒音源２００Ａからの騒音の周波数が高いとき及び第２騒音源２００Ｂからの騒音の周波数が高いときに現れ易い傾向にある。
　一具体例では、第１領域１５ａに、第１放射面１５Ａの端部の一部が形成されている。第２領域１５ｂに、第１放射面１５Ａの端部の一部が形成されている。第４領域１５ｄに、第２放射面１５Ｂの端部の一部が形成されている。第５領域１５ｅに、第２放射面１５Ｂの端部の一部が形成されている。
　ここで、第１圧電スピーカー１０Ａが振動しておらず、第１圧電スピーカー１０Ａがその消音機能を発揮していない状況（以下、第１非消音状況）を考える。第１非消音状況においては、構造物８０のサイズ及び第１騒音源２００Ａからの騒音の波長にもよるが、図８Ｃに模式的に示すように、第１騒音源２００Ａからの騒音が構造物８０において回折することにより、第１圧電スピーカー１０Ａにおいて、第１領域１５ａにおける音波の位相と第２領域１５ｂにおける音波の位相の正負が同じであり、第１領域１５ａにおける音波の位相と第３領域１５ｃにおける音波の位相の正負が逆であり、かつ、第２領域１５ｂにおける音波の位相と第３領域１５ｃにおける音波の位相の正負が逆である期間が現れうる。図８Ｃでは、第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂにハッチング１１ｍが関連付けられており、このことは第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂにおける音波の位相が正及び負の一方であることを模式的に表している。また、図８Ｃでは、第３領域１５ｃにハッチング１１ｎが関連付けられており、このことは第３領域１５ｃにおける音波の位相が正及び負の他方であることを模式的に表している。
　この点、本実施形態によれば、以下に説明するように、第１領域１５ａ、第２領域１５ｂ及び第３領域１５ｃにおいて上記のような位相分布を有する第１騒音源２００Ａ由来の騒音を、第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音により低減できる。
　第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第１領域１５ａにおける音波を、第１音波と定義する。第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第２領域１５ｂにおける音波を、第２音波と定義する。第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第３領域１５ｃにおける音波を、第３音波と定義する。本実施形態では、図８Ｆに模式的に示すように、第１圧電スピーカー１０Ａにおいて、第１音波の位相と第２音波の位相の正負が同じであり、第１音波の位相と第３音波の位相の正負が逆であり、かつ、第２音波の位相と第３音波の位相の正負が逆である期間が現れる。本実施形態によれば、第１領域１５ａ、第２領域１５ｂ及び第３領域１５ｃにおいて上記のような位相分布を有する第１騒音源２００Ａ由来の騒音を、第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音により低減できる。図８Ｆでは、第３領域１５ｃにハッチング１１ｍが関連付けられており、このことは第３領域１５ｃにおける第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音波の位相が正及び負の一方であることを模式的に表している。また、図８Ｆでは、第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂにハッチング１１ｎが関連付けられており、このことは第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂにおける第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音波の位相が正及び負の他方であることを模式的に表している。
　典型例では、制御装置１２０による制御により、第１音波の位相と第２音波の位相の正負が同じであり、第１音波の位相と第３音波の位相の正負が逆であり、かつ、第２音波の位相と第３音波の位相の正負が逆である期間Ｔ１が現れうる。第１音波、第２音波又は第３音波の一周期をＴｐとしたとき、Ｔ１／Ｔｐは、第１騒音源２００Ａにもよるが、例えば０．０１以上１以下である。また、第１騒音源２００Ａが正弦波を発する場合、期間Ｔ１は継続しうるあるいは周期的に現れうる。Ｔ１／Ｔｐは、０．１以上１以下であってもよく、０．５以上１以下であってもよく、０．７以上１以下であってもよく、０．９以上１以下であってもよい。
　また、第２圧電スピーカー１０Ｂが振動しておらず、第２圧電スピーカー１０Ｂがその消音機能を発揮していない状況（以下、第２非消音状況）を考える。第２非消音状況においては、構造物８０のサイズ及び第２騒音源２００Ｂからの騒音の波長にもよるが、図９Ｃに模式的に示すように、第２騒音源２００Ｂからの騒音が構造物８０において回折することにより、第２圧電スピーカー１０Ｂにおいて、第４領域１５ｄにおける音波の位相と第５領域１５ｅにおける音波の位相の正負が同じであり、第４領域１５ｄにおける音波の位相と第６領域１５ｆにおける音波の位相の正負が逆であり、かつ、第５領域１５ｅにおける音波の位相と第６領域１５ｆにおける音波の位相の正負が逆である期間が現れうる。図９Ｃでは、第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅにハッチング１１ｍが関連付けられており、このことは第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅにおける音波の位相が正及び負の一方であることを模式的に表している。また、図９Ｃでは、第６領域１５ｆにハッチング１１ｎが関連付けられており、このことは第６領域１５ｆにおける音波の位相が正及び負の他方であることを模式的に表している。
　この点、本実施形態によれば、以下に説明するように、第４領域１５ｄ、第５領域１５ｅ及び第６領域１５ｆにおいて上記のような位相分布を有する第２騒音源２００Ｂ由来の騒音を、第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音により低減できる。
　第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第４領域１５ｄにおける音波を、第４音波と定義する。第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第５領域１５ｅにおける音波を、第５音波と定義する。第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第６領域１５ｆにおける音波を、第６音波と定義する。本実施形態では、図９Ｆに模式的に示すように、第２圧電スピーカー１０Ｂにおいて、第４音波の位相と第５音波の位相の正負が同じであり、第４音波の位相と第６音波の位相の正負が逆であり、かつ、第５音波の位相と第６音波の位相の正負が逆である期間が現れる。本実施形態によれば、第４領域１５ｄ、第５領域１５ｅ及び第６領域１５ｆにおいて上記のような位相分布を有する第２騒音源２００Ｂ由来の騒音を、第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音により低減できる。図９Ｆでは、第６領域１５ｆにハッチング１１ｍが関連付けられており、このことは第６領域１５ｆにおける第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音波の位相が正及び負の一方であることを模式的に表している。また、図９Ｆでは、第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅにハッチング１１ｎが関連付けられており、このことは第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅにおける第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音波の位相が正及び負の他方であることを模式的に表している。
　典型例では、制御装置１２０による制御により、第４音波の位相と第５音波の位相の正負が同じであり、第４音波の位相と第６音波の位相の正負が逆であり、かつ、第５音波の位相と第６音波の位相の正負が逆である期間Ｔ２が現れうる。第４音波、第５音波又は第６音波の一周期をＴｑとしたとき、Ｔ２／Ｔｑは、第２騒音源２００Ｂにもよるが、例えば０．０１以上１以下である。また、第２騒音源２００Ｂが正弦波を発する場合、期間Ｔ２は継続しうるあるいは周期的に現れうる。Ｔ２／Ｔｑは、０．１以上１以下であってもよく、０．５以上１以下であってもよく、０．７以上１以下であってもよく、０．９以上１以下であってもよい。
　上述のように、第１音波は、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第１領域１５ａにおける音波である。第１音波は、第１領域１５ａに面する空間のうち、第１領域１５ａに限りなく近い位置の音波を包含する概念である。よって、第１音波の測定は、この「限りなく近い位置」の音波の測定により実現できる。第２音波及び第３音波についても同様である。
　上述のように、第４音波は、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第４領域１５ｄにおける音波である。第４音波は、第４領域１５ｄに面する空間のうち、第４領域１５ｄに限りなく近い位置の音波を包含する概念である。よって、第４音波の測定は、この「限りなく近い位置」の音波の測定により実現できる。第５音波及び第６音波についても同様である。
　上記のような第１音波、第２音波及び第３音波の位相分布は、第１放射面１５Ａを１次自由端振動モードで振動させることにより形成されうる。また、上記のような第４音波、第５音波及び第６音波の位相分布は、第２放射面１５Ｂを１次自由端振動モードで振動させることにより形成されうる。
　ＡＮＣシステム５００によれば、上端部８３での回折により生じた回折音を低減できる。図８Ｂでは、第１騒音源２００Ａ由来の音が上端部８３での回折することにより生じた波面８３ｗと、波面８３ｗの伝搬方向８３ｄとが、模式的に示されている。図９Ｂでは、第２騒音源２００Ｂ由来の音が上端部８３で回折することにより生じた波面８３ｙと、波面８３ｙの伝搬方向８３ｅとが、模式的に示されている。
　本実施形態では、ＡＮＣシステム５００は、制御装置１２０を含む。制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから第１周波数範囲ＦＲ１の音を出力させることができるように構成されている。第１周波数範囲ＦＲ１は、例えば５０Ｈｚ以上３０００Ｈｚ以下であり、１００Ｈｚ以上２０００Ｈｚ以下であってもよい。
　一具体例において、制御装置１２０では、第２周波数範囲ＦＲ２が設定されうる。制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音の周波数を、第２周波数範囲ＦＲ２内の値に制御する。第２周波数範囲ＦＲ２は、第１周波数範囲ＦＲ１よりも狭い。現実には、ＡＮＣシステム５００の規模、計算負荷等を考慮して、ＡＮＣシステム５００の能力を最大限に発揮させるのではなく能力の一部のみを発揮させることが望まれる場合がある。この具体例は、そのような場合に採用可能である。具体的には、この具体例によれば、第２周波数範囲ＦＲ２として所望の帯域を選択することができる。
　また、本実施形態では、制御装置１２０は、第２圧電スピーカー１０Ｂから第３周波数範囲ＦＲ３の音を出力させることができるように構成されている。第３周波数範囲ＦＲ３は、例えば５０Ｈｚ以上３０００Ｈｚ以下であり、１００Ｈｚ以上２０００Ｈｚ以下であってもよい。
　一具体例において、制御装置１２０では、第４周波数範囲ＦＲ４が設定されうる。制御装置１２０は、第２圧電スピーカー１０Ｂから出力される音の周波数を、第４周波数範囲ＦＲ４内の値に制御する。第４周波数範囲ＦＲ４は、第３周波数範囲ＦＲ３よりも狭い。現実には、ＡＮＣシステム５００の規模、計算負荷等を考慮して、ＡＮＣシステム５００の能力を最大限に発揮させるのではなく能力の一部のみを発揮させることが望まれる場合がある。この具体例は、そのような場合に採用可能である。具体的には、この具体例によれば、第４周波数範囲ＦＲ４として所望の帯域を選択することができる。
　本実施形態では、制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音の周波数を第１特定周波数範囲内の値に制御し、かつ、第２圧電スピーカー１０Ｂから出力される音の周波数を第２特定周波数範囲内の値に制御する制御モードを有する。以下、第１特定周波数範囲の上限の音の波長を第１基準波長と定義する。また、第２特定周波数範囲の上限の音の波長を第２基準波長と定義する。制御モードは、第１特定周波数範囲が第１周波数範囲ＦＲ１であり、かつ、第２特定周波数範囲が第３周波数範囲ＦＲ３であるモードであってもよい。制御モードは、第１特定周波数範囲が第１周波数範囲ＦＲ１であり、かつ、第２特定周波数範囲が第４周波数範囲ＦＲ４であるモードであってもよい。制御モードは、第１特定周波数範囲が第２周波数範囲ＦＲ２であり、かつ、第２特定周波数範囲が第３周波数範囲ＦＲ３であるモードであってもよい。制御モードは、第１特定周波数範囲が第２周波数範囲ＦＲ２であり、かつ、第２特定周波数範囲が第４周波数範囲ＦＲ４であるモードであってもよい。制御装置１２０は、これら４つのモードを有していてもよい。その場合、これら４つのモードを使い分けることができる。
　図４Ａに示すように、本実施形態では、構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、第１放射面１５Ａは、対向する左端部１５ｊ及び右端部１５ｋを有する。構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、第１放射面１５Ａの左端部１５ｊと構造物８０の左端部８１の間の第１左マージンＭ１は、ゼロ以上第１基準波長の１／１０以下である。構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、第１放射面１５Ａの右端部１５ｋと構造物８０の右端部８２の間の第１右マージンＭ２は、ゼロ以上第１基準波長の１／１０以下である。このようにすることは、第１騒音源２００Ａ由来の騒音が左端部８１及び右端部８２で回折して生じる回折音を低減することに適している。なお、１／１０という比率は、一般的なＡＮＣの消音領域が制御対象となる騒音の波長の１／１０であることに由来している。
　なお、現実には、製品化の都合で、第１左マージンＭ１及び第１右マージンＭ２をある程度大きくするべき場合もある。これを考慮し、第１左マージンＭ１及び第１右マージンＭ２の上限を、第１基準波長の１／１０よりも大きくしてもよい。回折音を低減する効果を得つつ無理のない製品化を行う観点から、例えば、第１左マージンＭ１を、ゼロ以上第１基準波長の１／３以下にすることができる。また、構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、第１右マージンＭ２を、ゼロ以上第１基準波長の１／３以下にすることができる。
　第１左マージンＭ１は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以下であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。第１右マージンＭ２は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以上であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。
　本実施形態では、構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、第１放射面１５Ａの上端部１５ｌと構造物８０の上端部８３の間の第１上マージンＭ３は、ゼロ以上、かつ、第１基準波長の１／１０以下である。第１上マージンＭ３は、ゼロ以上、かつ、第１基準波長の１／３以下であってもよい。第１上マージンＭ３は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以下であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。
　なお、図５Ａに示すように、第１放射面１５Ａの短手方向が上下方向Ｄ１からずれており、第１放射面１５Ａの長手方向が左右方向Ｄ２からずれている場合がある。より一般化すると、構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、構造物８０の端辺と第１放射面１５Ａの端辺とが平行ではない場合がある。このような場合、第１左マージンＭ１として、構造物８０の左端辺と第１放射面１５Ａの左端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。第１右マージンＭ２として、構造物８０の右端辺と第１放射面１５Ａの右端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。第１上マージンＭ３として、構造物８０の上端辺と第１放射面１５Ａの上端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。後述の第１下マージンＭ４として、構造物８０の下端辺と第１放射面１５Ａの下端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。
　図４Ｂに示すように、本実施形態では、構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、第２放射面１５Ｂは、対向する左端部１５ｐ及び右端部１５ｑを有する。構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、第２放射面１５Ｂの左端部１５ｐと構造物８０の左端部８１の間の第２左マージンＭ５は、ゼロ以上第２基準波長の１／１０以下である。構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、第２放射面１５Ｂの右端部１５ｑと構造物８０の右端部８２の間の第２右マージンＭ６は、ゼロ以上第２基準波長の１／１０以下である。このようにすることは、第２騒音源２００Ｂ由来の騒音が左端部８１及び右端部８２で回折して生じる回折音を低減することに適している。
　第２左マージンＭ５及び第２右マージンＭ６の上限を、第２基準波長の１／１０よりも大きくしてもよい。回折音を低減する効果を得つつ無理のない製品化を行う観点から、例えば、第２左マージンＭ５を、ゼロ以上第２基準波長の１／３以下にすることができる。また、構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、第２右マージンＭ６を、ゼロ以上第２基準波長の１／３以下にすることができる。
　第２左マージンＭ５は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以下であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。第２右マージンＭ６は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以上であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。
　本実施形態では、構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、第２放射面１５Ｂの上端部１５ｒと構造物８０の上端部８３の間の第２上マージンＭ７は、ゼロ以上、かつ、第２基準波長の１／１０以下である。第２上マージンＭ７は、ゼロ以上、かつ、第２基準波長の１／３以下であってもよい。第２上マージンＭ７は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以下であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。
　なお、図５Ｂに示すように、第２放射面１５Ｂの短手方向が上下方向Ｄ１からずれており、第２放射面１５Ｂの長手方向が左右方向Ｄ２からずれている場合がある。より一般化すると、構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、構造物８０の端辺と第２放射面１５Ｂの端辺とが平行ではない場合がある。このような場合、第２左マージンＭ５として、構造物８０の左端辺と第２放射面１５Ｂの左端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。第２右マージンＭ６として、構造物８０の右端辺と第２放射面１５Ｂの右端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。第２上マージンＭ７として、構造物８０の上端辺と第２放射面１５Ｂの上端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。後述の第２下マージンＭ８として、構造物８０の下端辺と第２放射面１５Ｂの下端辺の間の距離の幾何平均値を採用する。
　本実施形態では、構造物８０の表面８０ａ又は裏面８０ｂを平面視したとき、第１放射面１５Ａの左端部１５ｊと第２放射面１５Ｂの左端部１５ｐとは互いに重複している。ただし、これらは重複していなくてもよい。本実施形態では、構造物８０の表面８０ａ又は裏面８０ｂを平面視したとき、第１放射面１５Ａの右端部１５ｋと第２放射面１５Ｂの右端部１５ｑとは互いに重複している。ただし、これらは重複していなくてもよい。本実施形態では、構造物８０の表面８０ａ又は裏面８０ｂを平面視したとき、第１放射面１５Ａの上端部１５ｌと第２放射面１５Ｂの上端部１５ｒとは互いに重複している。ただし、これらは重複していなくてもよい。本実施形態では、構造物８０の表面８０ａ又は裏面８０ｂを平面視したとき、第１放射面１５Ａの下端部１５ｍと第２放射面１５Ｂの下端部１５ｓとは互いに重複している。ただし、これらは重複していなくてもよい。
　本実施形態では、図１４に示すように、ＡＮＣシステム５００は、第１参照マイクロフォン１３０Ａ、第２参照マイクロフォン１３０Ｂ及び制御装置１２０を含む。制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音を、第１参照マイクロフォン１３０Ａを用いて制御する。制御装置１２０は、第２圧電スピーカー１０Ｂから出力される音を、第２参照マイクロフォン１３０Ｂを用いて制御する。
　本実施形態では、制御装置１２０は、第１騒音制御フィルタ１２１Ａ及び第２騒音制御フィルタ１２１Ｂを有する。制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音を、第１騒音制御フィルタ１２１Ａを用いて制御する。制御装置１２０は、第２圧電スピーカー１０Ｂから出力される音を、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂを用いて制御する。
　図１～図７Ｂの例では、下端部８４は、床に接している。ただし、下端部８４よりも下方に空間が形成されるように構造物８０を配置することも可能である。この場合、下端部８４で生じる回折音を低減するように、ＡＮＣシステム５００を構成できる。例えば、床に少なくとも１つのスタンドを設定し、スタンドの上に構造物８０を設置してもよい。
　一例において、構造物８０の表面８０ａを平面視で観察したとき、第１放射面１５Ａの下端部１５ｍと構造物８０の下端部８４の間の第１下マージンＭ４は、ゼロ以上、かつ、第１基準波長の１／１０以下である。第１下マージンＭ４は、ゼロ以上、かつ、第１基準波長の１／３以下であってもよい。第１下マージンＭ４は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以下であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。
　一例において、構造物８０の裏面８０ｂを平面視で観察したとき、第２放射面１５Ｂの下端部１５ｓと構造物８０の下端部８４の間の第２下マージンＭ８は、ゼロ以上、かつ、第２基準波長の１／１０以下である。第２下マージンＭ８は、ゼロ以上、かつ、第２基準波長の１／３以下であってもよい。第２下マージンＭ８は、例えば０ｃｍ以上５０ｃｍ以下であり、０ｃｍ以上１０ｃｍ以下であってもよい。
　なお、構造物８０の表面８０ａのいずれの部分に第１圧電スピーカー１０Ａを配置するかは、特に限定されない。構造物８０の裏面８０ｂのいずれの部分に第２圧電スピーカー１０Ｂを配置するかは、特に限定されない。
［ＡＮＣシステム５００が行う制御の具体例］
　以下、ＡＮＣシステム５００が行う制御の具体例について説明する。
　この具体例では、ＡＮＣシステム５００は、構造物８０、第１圧電スピーカー１０Ａ、第２圧電スピーカー１０Ｂ、第１参照マイクロフォン１３０Ａ、第２参照マイクロフォン１３０Ｂ及び制御装置１２０を含む。この具体例では、図１４に示すように、第２騒音源２００Ｂと、第２参照マイクロフォン１３０Ｂと、第１圧電スピーカー１０Ａと、構造物８０と、第２圧電スピーカー１０Ｂと、第１参照マイクロフォン１３０Ａと、第１騒音源２００Ａと、がこの順に並んでいる。制御装置１２０は、第１騒音制御フィルタ１２１Ａ及び第２騒音制御フィルタ１２１Ｂを有する。
　第１圧電スピーカー１０Ａにより打ち消されるべき音波が、第１騒音源２００Ａから構造物８０で回折して第１消音領域１５０Ａに到達し、第１消音領域１５０Ａにおいて波形Ｘ１を有するとする。第１圧電スピーカー１０Ａは、第１消音領域１５０Ａに到達したときに波形Ｘ１とは位相が逆の波形Ｙ１を有することとなる音波を放射する。これらの音波が、第１消音領域１５０Ａで互いに打ち消し合う。別の言い方をすると、これらの音波は第１消音領域１５０Ａで合成され、振幅がゼロ又は小さいレベルに低減された波形Ｚ１を有する合成音波が生成される。
　第２圧電スピーカー１０Ｂにより打ち消されるべき音波が、第２騒音源２００Ｂから構造物８０で回折して第２消音領域１５０Ｂに到達し、第２消音領域１５０Ｂにおいて波形Ｘ２を有するとする。第２圧電スピーカー１０Ｂは、第２消音領域１５０Ｂに到達したときに波形Ｘ２とは位相が逆の波形Ｙ２を有することとなる音波を放射する。これらの音波が、第２消音領域１５０Ｂで互いに打ち消し合う。別の言い方をすると、これらの音波は第２消音領域１５０Ｂで合成され、振幅がゼロ又は小さいレベルに低減された波形Ｚ２を有する合成音波が生成される。
　第１参照マイクロフォン１３０Ａ及び第１騒音源２００Ａは、第１圧電スピーカー１０Ａから見て構造物８０の向こう側に位置する。第１参照マイクロフォン１３０Ａは、第１騒音源２００Ａからの音を感知する。制御装置１２０は、第１参照マイクロフォン１３０Ａで感知した音に基づいて、第１消音領域１５０Ａが消音されるように第１圧電スピーカー１０Ａから放射される音波を調整する。
　第２参照マイクロフォン１３０Ｂ及び第２騒音源２００Ｂは、第２圧電スピーカー１０Ｂから見て構造物８０の向こう側に位置する。第２参照マイクロフォン１３０Ｂは、第２騒音源２００Ｂからの音を感知する。制御装置１２０は、第２参照マイクロフォン１３０Ｂで感知した音に基づいて、第２消音領域１５０Ｂが消音されるように第２圧電スピーカー１０Ｂから放射される音波を調整する。
　制御装置１２０は、第１プレアンプリファイア（以下、アンプリファイアをアンプと称することがある）、第１上段ローパスフィルタ、第１アナログデジタルコンバータ（以下、ＡＤコンバータと称することがある）、第１パワーアンプ、第１演算部、第１デジタルアナログコンバータ（以下、ＤＡコンバータと称することがある）及び第１下段ローパスフィルタを有する。
　第１プレアンプは、第１参照マイクロフォン１３０Ａの出力信号を増幅する。第１上段ローパスフィルタは、第１プレアンプの出力信号の低域成分を通過させる。第１ＡＤコンバータは、第１上段ローパスフィルタの出力信号をデジタル信号に変換する。これにより、第１ＡＤコンバータから、時刻ｎにおける第１参照信号ｘ１（ｎ）が出力される。
　第１演算部は、第１参照信号ｘ１（ｎ）から、時刻ｎにおける第１制御信号ｙ１（ｎ）を生成する。第１演算部は、例えば、ＤＳＰ(Digital Signal Processor)又はＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等によって構成される。第１演算部は、第１騒音制御フィルタ１２１Ａを有する。
　第１ＤＡコンバータは、第１制御信号ｙ１（ｎ）をアナログ信号に変換する。第１下段ローパスフィルタは、第１ＤＡコンバータの出力信号の低域成分を通過させる。第１パワーアンプは、第１下段ローパスフィルタの出力信号を増幅する。第１パワーアンプから出力された信号が、制御信号として第１圧電スピーカー１０Ａに送信される。この信号に基づいて、第１放射面１５Ａから音が出力される。
　第１騒音制御フィルタ１２１Ａについて説明する。第１騒音制御フィルタ１２１Ａのフィルタ係数は、チューニングステージにおいて同定される。具体的には、このフィルタ係数は、第１騒音源２００Ａから構造物８０を介して進行する回折波を打ち消す逆位相音波が第１圧電スピーカー１０Ａから放射されるように、決定される。制御ステージでは、同定されたフィルタ係数に基づいた制御がなされる。こうして、第１制御信号ｙ１（ｎ）が生成され、第１騒音制御フィルタ１２１Ａ及び第１圧電スピーカー１０Ａを用いた消音が実現される。
　この具体例では、制御ステージでは、上記のように同定されたフィルタ係数を変更せず固定する。つまり、この具体例における制御ステージでは、第１騒音制御フィルタ１２１Ａは固定フィルタである。これにより、制御ステージにおいて、第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される音と第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音とが一対一の対応関係を有し、かつ、該対応関係が経時的に固定される。このようにすれば、少ない計算機資源で第１圧電スピーカー１０Ａによる消音を実現できる。第１騒音源２００Ａの位置が固定されている場合、特に、第１騒音制御フィルタ１２１Ａを固定フィルタとしつつ第１圧電スピーカー１０Ａによる消音性能を確保し易い。
　また、制御装置１２０は、第２プレアンプ、第２上段ローパスフィルタ、第２ＡＤコンバータ、第２パワーアンプ、第２演算部、第２ＤＡコンバータ及び第２下段ローパスフィルタを有する。
　第２プレアンプは、第２参照マイクロフォン１３０Ｂの出力信号を増幅する。第２上段ローパスフィルタは、第２プレアンプの出力信号の低域成分を通過させる。第２ＡＤコンバータは、第２上段ローパスフィルタの出力信号をデジタル信号に変換する。これにより、第２ＡＤコンバータから、時刻ｎにおける第２参照信号ｘ２（ｎ）が出力される。
　第２演算部は、第２参照信号ｘ２（ｎ）から、時刻ｎにおける第２制御信号ｙ２（ｎ）を生成する。第２演算部は、例えば、ＤＳＰ又はＦＰＧＡ等によって構成される。第２演算部は、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂを有する。
　第２ＤＡコンバータは、第２制御信号ｙ２（ｎ）をアナログ信号に変換する。第２下段ローパスフィルタは、第２ＤＡコンバータの出力信号の低域成分を通過させる。第２パワーアンプは、第２下段ローパスフィルタの出力信号を増幅する。第２パワーアンプから出力された信号が、制御信号として第２圧電スピーカー１０Ｂに送信される。この信号に基づいて、第２放射面１５Ｂから音が出力される。
　第２騒音制御フィルタ１２１Ｂについて説明する。第２騒音制御フィルタ１２１Ｂのフィルタ係数は、チューニングステージにおいて同定される。具体的には、このフィルタ係数は、第２騒音源２００Ｂから構造物８０を介して進行する回折波を打ち消す逆位相音波が第２圧電スピーカー１０Ｂから放射されるように、決定される。制御ステージでは、同定されたフィルタ係数に基づいた制御がなされる。こうして、第２制御信号ｙ２（ｎ）が生成され、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂ及び第２圧電スピーカー１０Ｂを用いた消音が実現される。
　この具体例では、制御ステージでは、上記のように同定されたフィルタ係数を変更せず固定する。つまり、この具体例における制御ステージでは、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂは固定フィルタである。これにより、制御ステージにおいて、第２参照マイクロフォン１３０Ｂに入力される音と第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音とが一対一の対応関係を有し、かつ、該対応関係が経時的に固定される。このようにすれば、少ない計算機資源で第２圧電スピーカー１０Ｂによる消音を実現できる。第２騒音源２００Ｂの位置が固定されている場合、特に、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂを固定フィルタとしつつ第２圧電スピーカー１０Ｂによる消音性能を確保し易い。
　ＡＮＣシステム５００は、オフィス等に設けられうる。一具体例では、パーティションである構造物８０に、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂが取り付けられる。第１騒音源２００Ａ及び第２騒音源２００Ｂは、人間である。
　以下、ＡＮＣシステムの第２実施形態について説明する。以下では、ＡＮＣシステムの第１実施形態で既に説明した内容については、その説明を省略することがある。これらの構成例に関する説明は、技術的に矛盾しない限り、相互に適用されうる。技術的に矛盾しない限り、これらの構成例は、相互に組み合わされてもよい。
［アクティブノイズコントロールシステムの第２実施形態］
　先に説明した第１実施形態では、構造物８０の表面８０ａ及び裏面８０ｂの両方に、圧電スピーカー１０が取り付けられている。ただし、この構成は、必須ではない。
　図１５及び図１６に示すように、第２実施形態に係るアクティブノイズコントロールシステム（ＡＮＣシステム）５５０では、第１実施形態と同様、構造物８０の表面８０ａに、第１圧電スピーカー１０Ａが取り付けられている。ただし、構造物８０の裏面８０ｂには、圧電スピーカー１０は取り付けられていない。具体的には、ＡＮＣシステム５５０は、第１圧電スピーカー１０Ａを用いたシングルＡＮＣシステムである。
　本実施形態では、図１７に示すように、ＡＮＣシステム５５０は、第１参照マイクロフォン１３０Ａ及び制御装置１２０を含む。制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音を、第１参照マイクロフォン１３０Ａを用いて制御する。本実施形態では、制御装置１２０は、第１騒音制御フィルタ１２１Ａを有する。
　本実施形態では、制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音の周波数を第１特定周波数範囲内の値に制御する制御モードを有する。制御モードは、第１特定周波数範囲が第１周波数範囲ＦＲ１であるモードであってもよい。制御モードは、第１特定周波数範囲が第２周波数範囲ＦＲ２であるモードであってもよい。制御装置１２０は、これら２つのモードを有していてもよい。その場合、これら２つのモードを使い分けることができる。
　本実施形態の具体例では、制御装置１２０は、第１プレアンプ、第１上段ローパスフィルタ、第１ＡＤコンバータ、第１パワーアンプ、第１演算部、第１ＤＡコンバータ及び第１下段ローパスフィルタと、を有する。第１演算部は、第１騒音制御フィルタ１２１Ａを有する。
［圧電スピーカー１０から構造物８０の背後に回り込んだ音の減衰］
　第１実施形態に係るＡＮＣシステム５００及び第２実施形態に係るＡＮＣシステム５５０は、圧電スピーカー１０から構造物８０の背後に回り込んだ音を減衰させることに適した構成を有する。以下、この点について、図１８～図２０を参照しながら説明する。
　上述の通り、音は、直進する性質のみならず、回折する性質を有する。このため、構造物に取り付けられたスピーカーから発せられた音は、スピーカーが面する前方に直進するのみならず、回折して構造物の背後に回り込む。
　図１８は、従来のダイナミックスピーカー６１０を構造物８０に取り付けることによって構成したＡＮＣシステム６５０を示す模式図である。図１８の例では、第１騒音源２００Ａからの騒音を、第１参照マイクロフォン１３０Ａが感知する。感知した音に基づいて、ダイナミックスピーカー６１０は、消音領域６５６に向けて音を発する。これにより、第１騒音源２００Ａから構造物８０で回折して消音領域６５６に到達した騒音が消音される。ただし、ダイナミックスピーカー６１０から発せられた音の一部は、構造物８０の背後に回り込む。回り込んだ音が、第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される。このようにして第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力された音は、後にダイナミックスピーカー６１０から発せられる音の制御において、ノイズとして作用する。このため、このような音の回り込みは、ＡＮＣシステム６５０の消音性能を低下させうる。図１８では、音がダイナミックスピーカー６１０から構造物８０の背後に回り込み第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される様子が、点線６５５により模式的に示されている。なお、このように背後に回り込む音響放射は、ＡＦＰ（Acoustic Feedback Path）と称されることがある。
　図１９は、第１圧電スピーカー１０Ａを構造物８０に取り付けることによって構成した第２実施形態に係るＡＮＣシステム５５０を示す模式図である。図１９の例では、第１騒音源２００Ａからの騒音を、第１参照マイクロフォン１３０Ａが感知する。感知した音に基づいて、第１圧電スピーカー１０Ａは、消音領域５５６に向けて音を発する。これにより、第１騒音源２００Ａから構造物８０で回折して消音領域５５６に到達した騒音が消音される。しかも、ＡＮＣシステム５５０では、ＡＮＣシステム６５０に比べ、上記のようにして構造物８０の背後に回り込んだ音が減衰し易い。図１９では、音が第１圧電スピーカー１０Ａから構造物８０の背後に回り込み第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される様子が、点線５５５により模式的に示されている。図１９のＡＮＣシステム５５０では、図１８のＡＮＣシステム６５０に比べ、構造物８０の背後への音の回り込みは小さい。点線５５５が点線６５５よりも細いことは、このことを表している。
　図２０は、第２実施形態に係るＡＮＣシステム５５０において、構造物８０の裏面８０ｂの背後に形成されうる位相分布を示す模式的な上面図である。具体的に、図２０は、上下方向Ｄ１に垂直な第１基準平面８５Ａにおいて形成されうる位相分布を示している。
　裏面８０ｂの背後には、第１背後空間９０Ａ、第２背後空間９０Ｂ及び第３背後空間９０Ｃが存在する。第３背後空間９０Ｃは、第１背後空間９０Ａ及び第２背後空間９０Ｂの間に位置する。第１背後空間９０Ａは、第３背後空間９０Ｃから見て左端部８１側に位置する。第２背後空間９０Ｂは、第３背後空間９０Ｃから見て右端部８２側に位置する。図示の例では、第１背後空間９０Ａ、第２背後空間９０Ｂ及び第３背後空間９０Ｃは、裏面８０ｂの近傍に位置する。
　第１圧電スピーカー１０Ａによって第１領域１５ａで発せられた音波が、その位相の正負を維持したまま、左端部８１を介して第１背後空間９０Ａに回り込んでいる。第１圧電スピーカー１０Ａによって第２領域１５ｂで発せられた音波が、その位相の正負を維持したまま、右端部８２を介して第２背後空間９０Ｂに回り込んでいる。第１圧電スピーカー１０Ａによって第３領域１５ｃで発せられた音波が、その位相の正負を維持したまま、上端部８３を介して第３背後空間９０Ｃに回り込んでいる。
　図２０では、音の回り込みにより、第１背後空間９０Ａにおける音波の位相が負であり、第２背後空間９０Ｂにおける音波の位相が負であり、かつ、第３背後空間９０Ｃにおける音波の位相が正である期間が現れていることが示されている。音の回り込みにより、これらの位相が反転した期間も現れうる。つまり、音の回り込みにより、第１背後空間９０Ａにおける音波の位相が正であり、第２背後空間９０Ｂにおける音波の位相が正であり、かつ、第３背後空間９０Ｃにおける音波の位相が負である期間も現れうる。
　図２０では、第１干渉空間９１Ａが描かれている。第１干渉空間９１Ａは、構造物８０の裏面８０ｂから見て、第１背後空間９０Ａ、第３背後空間９０Ｃ及び第２背後空間９０Ｂよりもさらに遠い空間である。上記の通り、第１背後空間９０Ａ、第３背後空間９０Ｃ及び第２背後空間９０Ｂにおける音波の位相が、それぞれ、負、正及び負である期間、あるいは、正、負及び正である期間が現れうる。第１背後空間９０Ａにおける音波、第３背後空間９０Ｃにおける音波及び第２背後空間９０Ｂにおける音波が、より背後に位置する第１干渉空間９１Ａに伝搬する。第１干渉空間９１Ａにおいて、これらの音波が互いに干渉し、互いに打ち消し合う。このため、第１干渉空間９１Ａでは、第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が減衰された状態にある。この減衰作用は、構造物８０の裏面８０ｂの背後の空間のうち裏面８０ｂから遠く離れた位置において特に発現し易い。
　図１２を参照して説明した通り、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａは、特徴的な振動形状を呈する。第１干渉空間９１Ａにおける音の減衰作用は、この特徴的な振動形状に基づいて発現しているものと思われる。
　第１干渉空間９１Ａにおいて第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が減衰されることは、良好な消音に貢献しうる。例えば、第１干渉空間９１Ａに第１参照マイクロフォン１３０Ａが存在する場合、第１圧電スピーカー１０Ａから第１干渉空間９１Ａへと回り込んだ音が、後に第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音の制御において、ノイズとして作用し難くなる。
　図１９及び図２０では、構造物８０の表面８０ａ及び裏面８０ｂの片方に圧電スピーカー１０が取り付けられた第２実施形態に係るＡＮＣシステム５５０において得られるメリットについて説明した。構造物８０の表面８０ａ及び裏面８０ｂの両方に圧電スピーカー１０が取り付けられた第１実施形態に係るＡＮＣシステム５００においても、同様の効果が得られる。また、第１実施形態に係るＡＮＣシステム５００では、構造物８０の裏面８０ｂ側の空間においては第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が減衰されることにより、第２圧電スピーカー１０Ｂが消音対象とする空間に、第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が騒音として与えられることが抑制されうる。このことは、この空間の良好な消音に貢献しうる。構造物８０の表面８０ａ側の空間においては第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音が減衰されることにより、第１圧電スピーカー１０Ａが消音対象とする空間に、第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音が騒音として与えられることを抑制しうる。このことは、この空間の良好な消音に貢献しうる。
　上述のように、床に少なくとも１つのスタンドを設定し、スタンドの上に構造物８０を設置し、下端部８４よりも下方に空間が形成されるようしてもよい。この例では、第１圧電スピーカー１０Ａによって第３領域１５ｃで発せられた音波が、その位相の正負を維持したまま、下端部８４を介して第３背後空間９０Ｃに回り込みうる。しかし、この例では、４つの端部８１、８２、８３及び８４のそれぞれを介して回り込んだ音波は、第１干渉空間９１Ａにおいて干渉し、互いに打ち消し合いうる。そして、図２０を参照して説明した例と同様、第１干渉空間９１Ａにおいて、第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が減衰された状態になりうる。
［圧電スピーカー１０の第１構成例］
　図２１及び図２２を用いて、第１構成例に係る圧電スピーカー１０を説明する。
　圧電スピーカー１０は、圧電フィルム３５と、第１接合層５１と、介在層４０と、第２接合層５２と、を含む。第１接合層５１と、介在層４０と、第２接合層５２と、圧電フィルム３５とは、この順に積層されている。
　圧電フィルム３５は、圧電体３０と、第１電極６１と、第２電極６２と、を含んでいる。
　圧電体３０は、フィルム形状を有する。圧電体３０は、電圧が印加されることによって振動する。圧電体３０として、セラミックフィルム、樹脂フィルム等を用いることができる。セラミックフィルムである圧電体３０の材料としては、ジルコン酸鉛、チタン酸ジルコン酸鉛、チタン酸ジルコン酸ランタン酸鉛、チタン酸バリウム、Ｂｉ層状化合物、タングステンブロンズ構造化合物、チタン酸バリウムとビスマスフェライトとの固溶体等が挙げられる。樹脂フィルムである圧電体３０の材料としては、ポリフッ化ビニリデン、ポリ乳酸等が挙げられる。樹脂フィルムである圧電体３０の材料は、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィンであってもよい。また、圧電体３０は、無孔体であってもよく、多孔体であってもよい。
　圧電体３０の厚さは、例えば１０μｍ以上３００μｍ以下の範囲にあり、３０μｍ以上１１０μｍ以下の範囲にあってもよい。
　第１電極６１及び第２電極６２は、圧電体３０を挟むように圧電体３０に接している。第１電極６１及び第２電極６２は、フィルム形状を有する。第１電極６１及び第２電極６２は、それぞれ、図示しないリード線に接続されている。第１電極６１及び第２電極６２は、蒸着、めっき、スパッタリング等により圧電体３０上に形成されうる。第１電極６１及び第２電極６２として、金属箔を用いることもできる。金属箔は、両面テープ、粘着剤、接着剤等によって圧電体３０に貼り付け可能である。第１電極６１及び第２電極６２の材料としては、金属が挙げられ、具体的には、金、白金、銀、銅、パラジウム、クロム、モリブデン、鉄、錫、アルミニウム、ニッケル等が挙げられる。第１電極６１及び第２電極６２の材料として、炭素、導電性高分子等も挙げられる。第１電極６１及び第２電極６２の材料として、これらの合金も挙げられる。第１電極６１及び第２電極６２は、ガラス成分等を含んでいてもよい。
　第１電極６１及び第２電極６２の厚さは、それぞれ、例えば１０ｎｍ以上１５０μｍ以下の範囲にあり、２０ｎｍ以上１００μｍ以下の範囲にあってもよい。
　図２１及び図２２の例では、第１電極６１は、圧電体３０の一方の主面全体を覆っている。ただし、第１電極６１は、圧電体３０の該一方の主面の一部のみを覆っていてもよい。第２電極６２は、圧電体３０の他方の主面全体を覆っている。ただし、第２電極６２は、圧電体３０の該他方の主面の一部のみを覆っていてもよい。
　第１構成例では、介在層４０は、圧電フィルム３５と第１接合層５１との間に配置されている。介在層４０は、接着層及び粘着層以外の層であってもよく、接着層又は粘着層であってもよい。第１構成例では、介在層４０は、多孔体層及び／又は樹脂層である。ここで、樹脂層はゴム層及びエラストマ層を含む概念であり、従って樹脂層である介在層４０はゴム層又はエラストマ層であってもよい。樹脂層である介在層４０としては、エチレンプロピレンゴム層、ブチルゴム層、ニトリルゴム層、天然ゴム層、スチレンブタジエンゴム層、シリコーン層、ウレタン層、アクリル樹脂層等が挙げられる。多孔体層である介在層４０としては、発泡体層等が挙げられる。具体的には、多孔体層及び樹脂層である介在層４０としては、エチレンプロピレンゴム発泡体層、ブチルゴム発泡体層、ニトリルゴム発泡体層、天然ゴム発泡体層、スチレンブタジエンゴム発泡体層、シリコーン発泡体層、ウレタン発泡体層等が挙げられる。多孔体層ではないが樹脂層である介在層４０としては、アクリル樹脂層等が挙げられる。樹脂層ではないが多孔体層である介在層４０としては、金属の多孔体層等が挙げられる。ここで、樹脂層は、樹脂を含む層を指し、樹脂を３０％以上含んでいてもよく、樹脂を４５％以上含んでいてもよく、樹脂を６０％以上含んでいてもよく、樹脂を８０％以上含んでいてもよい層を指す。ゴム層、エラストマ層、エチレンプロピレンゴム層、ブチルゴム層、ニトリルゴム層、天然ゴム層、スチレンブタジエンゴム層、シリコーン層、ウレタン層、アクリル樹脂層、金属層等についても同様である。また、圧電体３０として採用されうる樹脂フィルム、セラミックフィルム等についても同様である。介在層４０は、２種類以上の材料のブレンド層であってもよい。
　介在層４０の弾性率は、例えば１００００Ｎ／ｍ2以上２０００００００Ｎ／ｍ2以下であり、２００００Ｎ／ｍ2以上１０００００Ｎ／ｍ2以下であってもよい。
　一例では、多孔体層である介在層４０の孔径は、０．１ｍｍ以上７．０ｍｍ以下であり、０．３ｍｍ以上５．０ｍｍ以下であってもよい。別の例では、多孔体層である介在層４０の孔径は、例えば０．１ｍｍ以上２．５ｍｍ以下であり、０．２ｍｍ以上１．５ｍｍ以下であってもよく、０．３ｍｍ以上０．７ｍｍ以下であってもよい。多孔体層である介在層４０の空孔率は、例えば７０％以上９９％以下であり、８０％以上９９％以下であってもよく、９０％以上９５％以下であってもよい。
　発泡体層である介在層４０として、公知の発泡体を利用できる（例えば、特許文献２の発泡体を利用できる）。発泡体層である介在層４０は、連続気泡構造を有していてもよく、独立気泡構造を有していてもよく、半独立半連続気泡構造を有していてもよい。連続気泡構造は、連続気泡率が１００％である構造を指す。独立気泡構造は、連続気泡率が０％である構造を指す。半独立半連続気泡構造は、連続気泡率が０％よりも大きく１００％よりも小さい構造を指す。ここで、連続気泡率は、例えば、発泡体層を水中に沈める試験を行い、式：連続気泡率（％）＝｛（吸水した水の体積）／（気泡部分体積）｝×１００を用いて計算することができる。一具体例では、「吸水した水の体積」は、発泡体層を水中に沈めて－７５０ｍｍＨｇの減圧下で３分間放置した後に、発泡体層の気泡中の空気と置換された水の質量を測り、水の密度を１．０ｇ／ｃｍ3として体積に換算することで得られるものである。「気泡部分体積」は、式：気泡部分体積（ｃｍ3）＝｛（発泡体層の質量）／（発泡体層の見かけ密度）｝－｛（発泡体層の質量）／（材料密度）｝を用いて計算される値である。「材料密度」は、発泡体層を形成する母材（中実体）の密度である。
　発泡体層である介在層４０の発泡倍率（発泡前後の密度比）は、例えば５倍以上４０倍以下であり、１０倍以上４０倍以下であってもよい。
　非圧縮状態における介在層４０の厚さは、例えば０．１ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲にあり、１ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲にあってもよく、１．５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲にあってもよく、２ｍｍ以上２５ｍｍ以下の範囲にあってもよい。典型的には、非圧縮状態において、介在層４０は、圧電フィルム３５よりも厚い。非圧縮状態において、圧電フィルム３５の厚さに対する介在層４０の厚さの比率は、例えば３倍以上であり、１０倍以上であってもよく、３０倍以上であってもよい。また、典型的には、非圧縮状態において、介在層４０は、第１接合層５１よりも厚い。なお、非圧縮状態における介在層４０の厚さは、圧電スピーカーに組み込まれる前の、換言すると単体の、介在層４０の厚さを指す。
　第１接合層５１は、その表面により固定面１７を形成している。第１接合層５１は、構造物８０に接合される層である。図２１の例では、第１接合層５１は、介在層４０に接合している。
　第１構成例では、第１接合層５１は、粘着性又は接着性の層である。別の言い方をすると、第１接合層５１は、接着層又は粘着層である。固定面１７は、接着面又は粘着面である。第１接合層５１は、構造物８０に貼り付けられうる。図２１の例では、第１接合層５１は、介在層４０に接している。
　第１接合層５１としては、基材と、基材の両面に塗布された粘着剤とを有する両面テープが挙げられる。第１接合層５１として用いられる両面テープの基材としては、不織布等が挙げられる。第１接合層５１として用いられる両面テープの粘着剤としては、アクリル樹脂を含む粘着剤等が挙げられる。ただし、第１接合層５１は、基材を有さない粘着剤の層であってもよい。
　第１接合層５１の厚さは、例えば０．０１ｍｍ以上１．０ｍｍ以下であり、０．０５ｍｍ以上０．５ｍｍ以下であってもよい。
　第２接合層５２は、介在層４０と圧電フィルム３５との間に配置されている。第１構成例では、第２接合層５２は、粘着性又は接着性の層である。別の言い方をすると、第２接合層５２は、接着層又は粘着層である。具体的には、第２接合層５２は、介在層４０と圧電フィルム３５とに接合している。
　第２接合層５２としては、基材と、基材の両面に塗布された粘着剤とを有する両面テープが挙げられる。第２接合層５２として用いられる両面テープの基材としては、不織布等が挙げられる。第２接合層５２として用いられる両面テープの粘着剤としては、アクリル樹脂を含む粘着剤等が挙げられる。ただし、第２接合層５２は、基材を有さない粘着剤の層であってもよい。
　第２接合層５２の厚さは、例えば０．０１ｍｍ以上１．０ｍｍ以下であり、０．０５ｍｍ以上０．５ｍｍ以下であってもよい。
　第１構成例では、圧電フィルム３５に接着面又は粘着面が接触することによって、圧電フィルム３５が固定面１７側の層と一体化されている。具体的には、第１構成例では、当該接着面又は粘着面は、第２粘着層又は接着層５２の表面により形成された面である。
　第１構成例に係る圧電スピーカー１０を用いて、ＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０を構成可能である。圧電スピーカー１０は、ダイナミックスピーカーに比べ、自身に電気信号が届いてから音が出るまでにかかる時間（以下、遅延時間と称することがある）が短い。このため、圧電スピーカー１０は、自身のサイズが小さい点のみならず、参照マイクロフォン１３０と圧電スピーカー１０との距離を短くできる点でも、小型のＡＮＣシステムの構成に適している。例えば、参照マイクロフォン１３０、制御装置１２０及び圧電スピーカー１０を１つのパーティションに取り付けることも可能である。
　圧電スピーカー１０が構造物８０に固定された状態で、電圧が、リード線を介して、圧電フィルム３５に印加される。これにより、圧電フィルム３５が振動し、圧電フィルム３５から音波が放射される。
　圧電スピーカー１０及び圧電スピーカー１０が適用されたＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０について、さらに説明する。
　圧電スピーカー１０は、固定面１７によって、構造物８０に固定されうる。そのようにして、圧電スピーカー１０を用いたＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０を構成できる。ＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０では、介在層４０は、圧電フィルム３５と構造物８０との間に配置される。図示の例では、介在層４０は、圧電フィルム３５の２つの主面のうち片方の主面のみを拘束している。
　圧電フィルム３５の片方の主面を介在層４０によって適度に拘束することにより、圧電フィルム３５から可聴音域における低周波側の音が発生し易くなる。これを考慮すると、圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の面積の２５％以上の領域において介在層４０が配置されるようにすることができる。圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の面積の５０％以上の領域において介在層４０が配置されるようにしてもよく、圧電フィルム３５の面積の７５％以上の領域において介在層４０が配置されるようにしてもよく、圧電フィルム３５の全領域において介在層４０が配置されるようにしてもよい。また、圧電スピーカー１０における固定面１７とは反対側の主面３８の５０％以上を圧電フィルム３５よって構成することができる。主面３８の７５％以上を圧電フィルム３５によって構成してもよく、主面３８全体を圧電フィルム３５によって構成してもよい。
　第１構成例では、第２接合層５２によって、圧電フィルム３５と介在層４０との分離が防止されている。上記の「適度な拘束」の観点からは、圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の面積の２５％以上の領域において第２接合層５２及び介在層４０が配置されるようにすることができる。圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の面積の５０％以上の領域において第２接合層５２及び介在層４０が配置されるようにしてもよく、圧電フィルム３５の面積の７５％以上の領域において第２接合層５２及び介在層４０が配置されるようにしてもよく、圧電フィルム３５の全領域において第２接合層５２及び介在層４０が配置されるようにしてもよい。
　ここで、介在層４０が多孔体である場合、介在層４０が配置される領域の比率は、その多孔質構造に由来する細孔を考慮した微視的な観点ではなく、より巨視的な観点から規定されるものである。例えば、圧電フィルム３５、多孔体である介在層４０及び第２接合層５２が平面視で共通の輪郭を有する板状体である場合、圧電フィルム３５の面積の１００％の領域において第２接合層５２及び介在層４０が配置されていると表現される。
　第１構成例では、介在層４０の拘束度は、５×１０9Ｎ／ｍ3以下である。介在層４０の拘束度は、例えば、１×１０4Ｎ／ｍ3以上である。介在層４０の拘束度は、好ましくは５×１０8Ｎ／ｍ3以下であり、より好ましくは２×１０8Ｎ／ｍ3以下であり、さらに好ましくは１×１０5以上５×１０7Ｎ／ｍ3以下である。ここで、介在層４０の拘束度（Ｎ／ｍ3）は、以下の式のように、介在層４０の弾性率（Ｎ／ｍ2）と介在層４０の表面充填率との積を介在層４０の厚さ（ｍ）で割ることによって得られる値である。介在層４０の表面充填率は、介在層４０における圧電フィルム３５側の主面の充填率（１から空孔率を引いた値）である。介在層４０の孔が均等に分布している場合、表面充填率は、介在層４０の３次元的な充填率に等しいとみなすことができる。
　　拘束度（Ｎ／ｍ3）＝弾性率（Ｎ／ｍ2）×表面充填率÷厚さ（ｍ）
　拘束度は、介在層４０による圧電フィルム３５の拘束の程度を表すパラメータと考えることができる。介在層４０の弾性率が大きいほど拘束の程度が大きくなることが、上記の式で表されている。介在層４０の表面充填率が大きいほど拘束の程度が大きくなることが、上記の式で表されている。介在層４０の厚さが小さいほど拘束の程度が大きくなることが、上記の式で表されている。拘束度が過度に大きい場合には、低周波側の音を出すのに必要な圧電フィルム３５の変形が妨げられる。逆に、拘束度が過度に小さい場合には、圧電フィルム３５がその厚さ方向に十分に変形せず、その面内方向（厚さ方向に垂直な方向）のみに伸縮し、低周波側の音の発生が妨げられる。介在層４０の拘束度を適度な範囲に設定することによって、圧電フィルム３５の面内方向の伸縮が厚さ方向の変形に適度に変換され、圧電フィルム３５が全体として適切に屈曲し、低周波側の音が発生し易くなる。
　上述の説明から理解されるように、圧電フィルム３５と固定面１７との間に、介在層４０とは異なる層があってもよい。当該異なる層は、例えば、第２接合層５２である。
　介在層４０に比べ、構造物８０は、大きい拘束度を有していてもよい。この場合であっても、介在層４０の寄与により、圧電フィルム３５から低周波側の音が発生しうる。ただし、構造物８０は、介在層４０と同じ拘束度を有していてもよく、介在層４０よりも小さい拘束度を有していてもよい。ここで、構造物８０の拘束度（Ｎ／ｍ3）は、構造物８０の弾性率（Ｎ／ｍ2）と構造物８０の表面充填率との積を構造物８０の厚さ（ｍ）で割ることによって得られる値である。構造物８０の表面充填率は、構造物８０における圧電フィルム３５側の主面の充填率（１から空孔率を引いた値）である。
　典型的には、介在層４０に比べ、構造物８０は、大きい剛性（ヤング率と断面２次モーメントの積）、大きいヤング率及び／又は大きい厚さを有する。ただし、構造物８０は、介在層４０と同じ剛性、ヤング率及び／又は厚さを有していてもよく、介在層４０よりも小さい剛性、ヤング率及び／又は厚さを有していてもよい。構造物８０のヤング率は、例えば１ＧＰａ以上であり、１０ＧＰａ以上であってもよく、５０ＧＰａ以上であってもよい。構造物８０のヤング率の上限は特に限定されないが、例えば１０００ＧＰａである。
　図示の例では、圧電フィルム３５は、介在層４０によって完全に包囲されているわけではない。図示の例では、介在層４０及び圧電フィルム３５をこの順に通りその後介在層４０を経由せずに圧電スピーカー１０の外部に至る仮想直線が存在する。ここで、「仮想直線が存在する」とは、そのような直線を引くことができるという意味である。図示の例では、介在層４０は、圧電フィルム３５から見て固定面１７側のみに拡がっている。
　図示の例では、圧電フィルム３５における固定面１７とは反対側の主面３８が、放射面１５を構成している。つまり、圧電フィルム３５における介在層４０とは反対側の主面３８が、放射面１５を構成している。この構成において圧電フィルム３５における介在層４０側の主面が介在層４０により拘束されることにより、圧電フィルム３５の面内方向の伸縮が厚さ方向の変形に適度に変換されうる。ただし、他の形態も採用されうる。
　具体的には、圧電フィルム３５における介在層４０とは反対側に、第１の層が設けられていてもよい。例えば、第１の層は、圧電フィルム３５の保護に用いられる。この場合、第１の層の主面が、放射面１５を構成しうる。あるいは、第１の層とは別の第２の層が、放射面１５を構成しうる。
　第１の層の厚さは、例えば、０．０５ｍｍ以上５ｍｍ以下である。第１の層の材料は、例えば、ポリエステル系の材料である。ここで、ポリエステル系の材料は、ポリエステルを含む材料を指し、ポリエステルを３０％以上含んでいてもよく、ポリエステルを４５％以上含んでいてもよく、ポリエステルを６０％以上含んでいてもよく、ポリエステルを８０％以上含んでいてもよい材料を指す。一例では、介在層４０の材料と第１の層の材料とは異なる。介在層４０の材料と第１の層の材料とが異なる場合、圧電フィルム３５における介在層４０側の主面が拘束される程度と、圧電フィルム３５における第１の層側の主面が拘束される程度と、に差をつけることができる。このことは、圧電フィルム３５の面内方向の伸縮を厚さ方向の変形に適度に変換することを可能にしうる。介在層４０の拘束度と第１の層の拘束度とは異なっていてもよい。ここで、第１の層の拘束度（Ｎ／ｍ3）は、第１の層の弾性率（Ｎ／ｍ2）と第１の層の表面充填率との積を第１の層の厚さ（ｍ）で割ることによって得られる値である。第１の層の表面充填率は、第１の層における圧電フィルム３５側の主面の充填率（１から空孔率を引いた値）である。介在層４０の拘束度と第１の層の拘束度とが異なることは、圧電フィルム３５の面内方向の伸縮を厚さ方向の変形に適度に変換することを可能にしうる。一具体例では、介在層４０の拘束度は、第１の層の拘束度よりも大きい。第１の層は、フィルム形状を有していてもよい。第１の層は、不織布であってもよい。
　第１構成例では、圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の少なくとも一部が固定面１７と重複する（図２１の例では第１接合層５１と重複する）ように、固定面１７が配置されている。圧電スピーカー１０を構造物８０に安定して固定する観点からは、圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の面積の５０％以上の領域において固定面１７が配置されるようにすることができる。圧電フィルム３５を平面視で観察したときに、圧電フィルム３５の面積の７５％以上の領域において固定面１７が配置されるようにしてもよく、圧電フィルム３５の全領域において固定面１７が配置されるようにしてもよい。
　第１構成例では、圧電フィルム３５と固定面１７との間に存在する互いに隣接する層は接合されている。ここで、「圧電フィルム３５と固定面１７との間」は、圧電フィルム３５及び固定面１７を含む。具体的には、第１接合層５１と介在層４０は接合されており、介在層４０と第２接合層５２は接合されており、第２接合層５２と圧電フィルム３５とは接合されている。このため、構造物８０への取付姿勢によらず、圧電フィルム３５を安定して配置でき、しかも構造物８０への取付が容易である。さらに、介在層４０の寄与により、取付姿勢によらず、圧電フィルム３５から音が出る。従って、第１構成例では、これらが相俟って、使い勝手がよい圧電スピーカーが実現される。なお、「互いに隣接する層は接合されている」は、互いに隣接する層が全体的又は部分的に接合されていることを意味する。図示の例では、圧電フィルム３５の厚さ方向に沿って延び圧電フィルム３５、介在層４０及び固定面１７をこの順に通る所定領域において、互いに隣接する層が接合されている。
　第１構成例では、圧電フィルム３５及び介在層４０は、それぞれ、厚さが実質的に一定である。このことは、圧電スピーカー１０の保管、使い勝手、圧電フィルム３５から出る音の制御等の種々の観点から有利である場合が多い。なお、「厚さが実質的に一定」は、例えば、厚さの最小値が最大値の７０％以上１００％以下であることを指す。圧電フィルム３５及び介在層４０は、それぞれ、厚さの最小値が最大値の８５％以上１００％以下であってもよい。
　ところで、樹脂は、セラミック等に比べ、クラックが発生し難い材料である。一具体例では、圧電フィルム３５の圧電体３０は樹脂フィルムであり、介在層４０は圧電フィルムとしては機能しない樹脂層である。このようにすることは、圧電体３０又は介在層４０でクラックを生じさせることなく圧電スピーカー１０をハサミ、人の手等で切断する観点から有利である（圧電スピーカー１０がハサミ、人の手等で切断可能であることは、ＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０の設計自由度向上に寄与し、また、ＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０の構築を容易にする）。また、このようにすれば、圧電スピーカー１０を曲げても圧電体３０又は介在層４０でクラックが生じ難くなる。また、圧電体３０が樹脂フィルムであり介在層４０が樹脂層であることは、圧電体３０又は介在層４０でクラックを生じさせることなく湾曲面上に圧電スピーカー１０を固定する観点から有利である。
　図２１の例では、圧電フィルム３５、介在層４０、第１接合層５１及び第２接合層５２は、平面視で輪郭が一致している。ただし、これらの輪郭がずれていても構わない。
　図２１の例では、圧電フィルム３５、介在層４０、第１接合層５１及び第２接合層５２は、平面視で短手方向及び長手方向を有する長方形である。ただし、これらは、正方形、円形、楕円形等であってもよい。
　また、圧電スピーカー１０は、図２１に示す層以外の層を含んでいてもよい。図２１に示す層以外の層は、例えば、上述の第１の層及び第２の層である。
［圧電スピーカー１０の第２構成例］
　以下、図２３を用いて第２構成例に係る圧電スピーカー１０を説明する。以下では、第２構成例に係る圧電スピーカー１０を、圧電スピーカー１１０と表記する。以下では、第１構成例と同様の部分については、説明を省略することがある。
　圧電スピーカー１１０は、圧電フィルム３５と、固定面１１７と、介在層１４０と、を含む。固定面１１７は、圧電フィルム３５を構造物８０に固定することに利用可能である。
　介在層１４０は、圧電フィルム３５と固定面１１７との間（ここで、「間」は固定面１１７を含む。第１構成例についても同様である）に配置されている。固定面１１７は、介在層１４０の表面（主面）により形成されている。
　介在層１４０は、多孔体層及び／又は樹脂層である。介在層１４０は、粘着層又は接着層である。介在層１４０として、アクリル樹脂を含む粘着剤を用いることができる。介在層１４０として、他の粘着剤、例えば、ゴム、シリコーン又はウレタンを含む粘着剤を用いてもよい。介在層１４０は、２種類以上の材料のブレンド層であってもよい。
　介在層１４０の弾性率は、例えば１００００Ｎ／ｍ2以上２０００００００Ｎ／ｍ2以下であり、２００００Ｎ／ｍ2以上１０００００Ｎ／ｍ2以下であってもよい。
　非圧縮状態における介在層１４０の厚さは、例えば０．１ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲にあり、１ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲にあってもよく、１．５ｍｍ以上３０ｍｍ以下の範囲にあってもよく、２ｍｍ以上２５ｍｍ以下の範囲にあってもよい。典型的には、非圧縮状態において、介在層１４０は、圧電フィルム３５よりも厚い。非圧縮状態において、圧電フィルム３５の厚さに対する介在層１４０の厚さの比率は、例えば３倍以上であり、１０倍以上であってもよく、３０倍以上であってもよい。
　第２構成例では、介在層１４０の拘束度は、５×１０9Ｎ／ｍ3以下である。介在層１４０の拘束度は、例えば、１×１０4Ｎ／ｍ3以上である。介在層１４０の拘束度は、好ましくは５×１０8Ｎ／ｍ3以下であり、より好ましくは２×１０8Ｎ／ｍ3以下であり、さらに好ましくは１×１０5以上５×１０7Ｎ／ｍ3以下である。拘束度の定義は、先に説明した通りである。
　第２構成例では、圧電フィルム３５に接着面又は粘着面が接触することによって、圧電フィルム３５が固定面１１７側の層と一体化されている。具体的には、第２構成例では、当該接着面又は粘着面は、介在層１４０により形成された面である。
　圧電スピーカー１１０も、固定面１１７によって、構造物８０に固定されうる。そのようにして、第２構成例に係る圧電スピーカー１１０を用いたＡＮＣシステム５００又はＡＮＣシステム５５０を構成できる。
　第１構成例に係る圧電スピーカー１０と、第２構成例に係る圧電スピーカー１０と、を用いてＡＮＣシステム５００を構成してもよい。
［実験例］
　実験例により、本発明を詳細に説明する。ただし、以下の実験例は、本発明の一例を示すものであり、本発明は以下の実験例に限定されない。
（サンプルＥ１）
　固定された支持部材６８０に圧電スピーカー１０の固定面１７を貼り付けることによって、図２４に示す構造を作製した。具体的には、支持部材６８０として、厚さ５ｍｍのステンレス平板（ＳＵＳ平板）を用いた。第１接合層５１として、不織布の両面にアクリル系粘着剤を含侵させた、厚み０．１６ｍｍの粘着シート（両面テープ）を用いた。介在層４０として、エチレンプロピレンゴムとブチルゴムとを含む混和物を約１０倍の発泡倍率で発泡させた、厚さ３ｍｍで独立気泡型の発泡体を用いた。第２接合層５２として、基材が不織布でありその基材の両面に無溶剤型のアクリル樹脂を含む粘着剤が塗布された、厚さ０．１５ｍｍの粘着シート（両面テープ）を用いた。圧電フィルム３５として、両面に銅電極（ニッケルを含む）が蒸着されたポリフッ化ビニリデンフィルム（総厚み３３μｍ）を用いた。サンプルＥ１の第１接合層５１、介在層４０、第２接合層５２及び圧電フィルム３５は、平面視で横３７．５ｍｍ×縦３７．５ｍｍの寸法を有しており、平面視で輪郭が重複した非分割かつ非枠状の板状形状を有する（後述のサンプルＥ２～Ｅ１７及びＲ１でも同様である）。支持部材６８０は、平面視で横５０ｍｍ×縦５０ｍｍの寸法を有しており、第１接合層５１を全体的に覆っている。このようにして、図２４に示す構成を有するサンプルＥ１を作製した。
（サンプルＥ２）
　介在層４０として、エチレンプロピレンゴムを含む混和物を約１０倍の発泡倍率で発泡させた、厚さ３ｍｍで半独立半連続気泡型の発泡体を用いた。この発泡体は、硫黄を含むものである。それ以外は、サンプルＥ１と同様のサンプルＥ２を作製した。
（サンプルＥ３）
　サンプルＥ３では、介在層４０として、サンプルＥ２の介在層４０と同一材料かつ同一構造の、厚さ５ｍｍの発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ２と同様のサンプルＥ３を作製した。
（サンプルＥ４）
　サンプルＥ４では、介在層４０として、サンプルＥ２の介在層４０と同一材料かつ同一構造の、厚さ１０ｍｍの発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ２と同様のサンプルＥ４を作製した。
（サンプルＥ５）
　サンプルＥ５では、介在層４０として、サンプルＥ２の介在層４０と同一材料かつ同一構造の、厚さ２０ｍｍの発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ２と同様のサンプルＥ５を作製した。
（サンプルＥ６）
　介在層４０として、エチレンプロピレンゴムを含む混和物を約１０倍の発泡倍率で発泡させた、厚さ２０ｍｍで半独立半連続気泡型の発泡体を用いた。この発泡体は、硫黄を含まないものであり、サンプルＥ２～Ｅ５の介在層４０として用いた発泡体に比べて柔軟である。それ以外は、サンプルＥ１と同様のサンプルＥ６を作製した。
（サンプルＥ７）
　介在層４０として、エチレンプロピレンゴムを含む混和物を約２０倍の発泡倍率で発泡させた、厚さ２０ｍｍで半独立半連続気泡型の発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ１と同様のサンプルＥ７を作製した。
（サンプルＥ８）
　介在層４０として、金属多孔体を用いた。この金属多孔体は、材料がニッケルであり、孔径が０．９ｍｍであり、厚みが２．０ｍｍのものである。第２接合層５２として、サンプルＥ１の第１接合層５１と同じ粘着層を用いた。それ以外は、サンプルＥ１と同様のサンプルＥ８を作製した。
（サンプルＥ９）
　サンプルＥ１の第１接合層５１及び第２接合層５２を省略し、圧電フィルム３５と構造物８０との間に介在層１４０のみを介在させた。介在層１４０として、アクリル系粘着剤によって構成された、厚さ３ｍｍの基材レス粘着シートを用いた。それ以外は、サンプルＥ１と同様の、図２４の支持部材６８０に図２３の積層体が取り付けられた構成を有する、サンプルＥ９を作製した。
（サンプルＥ１０）
　介在層４０として、サンプルＥ９の介在層１４０と同じ介在層を用いた。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１０を作製した。
（サンプルＥ１１）
　介在層４０として、厚さ５ｍｍのウレタンフォームを用いた。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１１を作製した。
（サンプルＥ１２）
　介在層４０として、厚さ１０ｍｍのウレタンフォームを用いた。このウレタンフォームは、サンプルＥ１１の介在層４０として用いたウレタンフォームに比べて孔径が小さいものである。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１２を作製した。
　（サンプルＥ１３）
　介在層４０として、厚さ５ｍｍで独立気泡型のアクリルニトリルブタジエンゴムの発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１３を作製した。
　（サンプルＥ１４）
　介在層４０として、厚さ５ｍｍで独立気泡型のエチレンプロピレンゴムの発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１４を作製した。
　（サンプルＥ１５）
　介在層４０として、天然ゴムとスチレンブタジエンゴムとがブレンドされた厚さ５ｍｍで独立気泡型の発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１５を作製した。
　（サンプルＥ１６）
　介在層４０として、厚さ５ｍｍで独立気泡型のシリコーンの発泡体を用いた。それ以外は、サンプルＥ８と同様のサンプルＥ１６を作製した。
　（サンプルＥ１７）
　介在層４０として、サンプルＥ１の介在層４０と同一材料かつ同一構造の、厚さ１０ｍｍの発泡体を用いた。第２接合層５２として、サンプルＥ１と同じ粘着シートを用いた。圧電フィルム３５の圧電体３０として、厚さ３５μｍのトウモロコシ由来のポリ乳酸を主原料とした樹脂シートを用いた。圧電フィルム３５の第１電極６１及び第２電極６２は、それぞれ、厚さ０．１μｍのアルミニウム膜であり、蒸着によって形成した。こうして、総厚みが３５．２μｍの圧電フィルム３５を得た。それ以外は、サンプルＥ１と同様のサンプルＥ１７を作製した。
（サンプルＲ１）
　サンプルＥ１の圧電フィルム３５を、サンプルＲ１とした。地面に平行な台上に、接着せずにサンプルＲ１を置いた。
　サンプルＥ１～Ｅ１７及びＲ１を、以下のようにして評価した。
＜介在層の厚さ（非圧縮状態）＞
　介在層の厚さは、厚みゲージを用いて測定した。
＜介在層の弾性率＞
　介在層から、小片を切り出した。切り出した小片に対して、引張試験機（ＴＡ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社製「ＲＳＡ－Ｇ２」）を用いて、常温で圧縮試験を行った。これにより、応力－ひずみ曲線を得た。応力－ひずみ曲線の初期傾きから、弾性率を算出した。
＜介在層の孔径＞
　顕微鏡により、介在層の拡大画像を得た。この拡大画像を画像解析することにより、介在層の孔径の平均値を求めた。求めた平均値を、介在層の孔径とした。
＜介在層の空孔率＞
　介在層から直方体の小片を切り出した。切り出した小片の体積及び質量から見かけの密度を求めた。見かけの密度を、介在層を形成する母材（中実体）の密度で除した。これにより、充填率を算出した。さらに１から充填率を差し引いた。これにより、空孔率を得た。
＜介在層の表面充填率＞
　サンプルＥ２～１６については、上述の充填率を表面充填率とした。サンプルＥ１及び１７では、介在層は表面スキン層を有するため、表面充填率は１００％とした。
＜サンプルの音圧レベルの周波数特性＞
　サンプルＥ１～Ｅ８及びＥ１０～Ｅ１７を測定するための構成を、図２５に示す。圧電フィルム３５の両面の角部に、厚さ７０μｍであり横７０ｍｍ×縦５ｍｍである導電性銅箔テープ７０（３Ｍ社製のＣＵ－３５Ｃ）を取り付けた。また、これらの導電性銅箔テープ７０のそれぞれに、みのむしクリップ７５を取り付けた。導電性銅箔テープ７０及びみのむしクリップ７５は、圧電フィルム３５に交流電圧を印加するための電気経路の一部を構成する。
　サンプルＥ９を測定するための構成を、図２６に示す。図２６の構成には、図２５の第１接合層５１及び第２接合層５２がない。図２６の構成には、介在層１４０がある。
　サンプルＲ１を測定するための構成は、図２５及び図２６に倣ったものである。具体的には、図２５及び図２６に倣って、圧電フィルム３５の両面の角部に導電性銅箔テープ７０を取り付け、これらのテープ７０にみのむしクリップ７５を取り付けた。こうして得られたアセンブリを、地面に平行な台上に接着せずに置いた。
　図２７及び図２８に、サンプルの音響特性を測定するためのブロック図を示す。具体的に、図２７は出力系を示し、図２８は評価系を示す。
　図２７に示す出力系では、音声出力用パーソナルコンピュータ（以下、パーソナルコンピュータをＰＣと簡略化して記載することがある）４０１と、オーディオインターフェース４０２と、スピーカーアンプ４０３と、サンプル４０４（サンプルＥ１～Ｅ１７及びＲ１の圧電スピーカー）と、をこの順に接続した。スピーカーアンプ４０３からサンプル４０４への出力を確認できるように、スピーカーアンプ４０３をオシロスコープ４０５にも接続した。
　音声出力用ＰＣ４０１には、ＷａｖｅＧｅｎｅがインストールされている。ＷａｖｅＧｅｎｅは、テスト用音声信号を発生させるためのフリーソフトである。オーディオインターフェース４０２として、ローランド株式会社製のＱＵＡＤ－ＣＡＰＴＵＲＥを用いた。オーディオインターフェース４０２のサンプリング周波数は、１９２ｋＨｚとした。スピーカーアンプ４０３として、オンキヨー株式会社製のＡ－９２４を用いた。オシロスコープ４０５として、テクトロニクス社製のＤＰＯ２０２４を用いた。
　図２８に示す評価系では、マイクロフォン５０１と、音響評価装置（ＰＵＬＳＥ）５０２と、音響評価用ＰＣ５０３と、をこの順に接続した。
　マイクロフォン５０１として、Ｂ＆Ｋ社製のＴｙｐｅ４９３９－Ｃ－００２を用いた。マイクロフォン５０１は、サンプル４０４から１ｍ離れた位置に配置した。音響評価装置５０２として、Ｂ＆Ｋ社製のＴｙｐｅ３０５２－Ａ－０３０を用いた。
　このように出力系及び評価系を構成し、音声出力用ＰＣ４０１からオーディオインターフェース４０２及びスピーカーアンプ４０３を介してサンプル４０４に交流電圧を印加した。具体的には、音声出力用ＰＣ４０１を用いて、２０秒間で周波数が１００Ｈｚから１００ｋＨｚまでスイープするテスト用音声信号を発生させた。この際、スピーカーアンプ４０３から出力される電圧を、オシロスコープ４０５により確認した。また、サンプル４０４から発生した音を、評価系で評価した。このようにして、音圧周波数特性測定試験を行った。
　出力系及び評価系の設定の詳細は、以下の通りである。
［出力系の設定］
・周波数範囲：１００Ｈｚ～１００ｋＨｚ
・スイープ時間：２０秒
・実効電圧：１０Ｖ
・出力波形：サイン波
［評価系の設定］
・測定時間：２２秒
・ピークホールド
・測定範囲：４Ｈｚ～１０２．４ｋＨｚ
・ライン数：６４００
＜音が出始める周波数の判断＞
　暗騒音よりも３ｄＢ以上音圧レベルが大きい周波数域（音圧レベルが暗騒音＋３ｄＢ以上に保たれる周波数範囲がピーク周波数（音圧レベルがピークとなる周波数）の±１０％に満たないような急峻なピーク部を除く）の下端を、音が出始める周波数と判断した。
　サンプルＥ１～Ｅ１７及びサンプルＲ１の評価結果を、図２９Ａ及び図２９Ｂに示す。サンプルＥ１～Ｅ１７に関する拘束度と音が出始める周波数の関係を図３０に示す。図３０において、Ｅ１～Ｅ１７はサンプルＥ１～Ｅ１７に対応する。図３１、図３２及び図３３に、サンプルＥ１、Ｅ２及びＲ１に関する音圧レベルの周波数特性を示す。図３４に、暗騒音の音圧レベルの周波数特性を示す。
［参考ＡＮＣシステムの評価］
　平面視の寸法を横５０ｃｍ×縦３５ｃｍとしたこと以外はサンプルＥ１の圧電スピーカー１０と同様の圧電スピーカー１０を用いて、図３５に示す参考ＡＮＣ評価系８００を構成した。参考ＡＮＣ評価系８００で用いた圧電スピーカー１０の数は、１つである。
　圧電スピーカー１０を、パーティション７８０の表面７８０ａに取り付けた。騒音源７００と、参照マイクロフォン７３０と、パーティション７８０の中心と、圧電スピーカー１０の中心と、誤差マイクロフォン７３５と、がこの順に直線上に並ぶように、これらを配置した。また、パーティション７８０から見て圧電スピーカー１０側に、制御領域７９０を設定した。制御領域７９０に、測定用マイクロフォン７４０を配置した。
　図３５において、ｘ方向は、制御領域７９０の横方向である。ｙ方向は、制御領域７９０の縦方向である。ｚ方向は、制御領域７９０の奥行方向である。ｘ方向、ｙ方向及びｚ方向は、互いに直交する方向である。
　ｚ方向は、騒音源７００と、参照マイクロフォン７３０と、パーティション７８０の中心と、圧電スピーカー１０の中心と、誤差マイクロフォン７３５と、が並ぶ方向でもある。ｚ方向は、圧電スピーカー１０の放射面１５が面する方向でもある。
　騒音源７００として、富士通テン株式会社製のＥｃｌｉｐｓｅ　ＴＤ５０８ＭＫ３を用いた。パーティション７８０として、有限会社ミハシ工芸製のデスクサイドスクリーンＲを用いた。参照マイクロフォン７３０として、ソニー株式会社製のＥＣＭ－ＰＣ６０を用いた。誤差マイクロフォン７３５として、ソニー株式会社製のＥＣＭ－ＰＣ６０を用いた。測定用マイクロフォン７４０としてソニー株式会社製のＥＣＭ－ＰＣ６０を用いた。
　騒音源７００と参照マイクロフォン７３０との間隔は５ｃｍである。参照マイクロフォン７３０とパーティション７８０との間隔は６０ｃｍである。圧電スピーカー１０の放射面１５と誤差マイクロフォン７３５との間隔は１７．５ｃｍである。これらの間隔は、ｚ方向の寸法である。
　パーティション７８０は、平面視で長方形の板を有する。この板の寸法は、横６０ｃｍ×縦４５ｃｍ×厚さ０．５ｃｍである。制御領域７９０の寸法は、横６０ｃｍ×縦４５ｃｍ×奥行６０ｃｍである。これらの横方向は、ｘ方向である。これらの縦方向は、ｙ方向である。これらの厚さ方向又は奥行方向は、ｚ方向である。なお、パーティション７８０は、板とともに、図示を省略する脚を有する。脚は、板を起立した状態に支える。板が、表面７８０ａを有する。
　また、圧電スピーカー１０の横方向すなわち５０ｃｍの方向は、ｘ方向である。圧電スピーカー１０の縦方向すなわち３５ｃｍの方向は、ｙ方向である。圧電スピーカー１０の厚さ方向は、ｚ方向である。
　左マージンＮ１は、５ｃｍである。右マージンＮ２は、５ｃｍである。左マージンＮ１は、第１実施形態及び第２実施形態で説明した第１左マージンＭ１に対応する。右マージンＮ２は、第１実施形態及び第２実施形態で説明した第１右マージンＭ２に対応する。マージンＮ１及びＮ２は、ｘ方向の寸法である。
　参考ＡＮＣ評価系８００では、出力信号ＰＣ（パーソナルコンピュータ）７５０と、測定用ＰＣ７６０と、制御装置７２０と、を用いた。出力信号ＰＣ７５０を、騒音源７００及び測定用ＰＣ７６０に接続した。
　出力信号ＰＣ７５０は、騒音源７００に、騒音信号を送信する。これにより、出力信号ＰＣ７５０は、騒音源７００に、正弦波を放射させる。また、出力信号ＰＣ７５０は、測定用ＰＣ７６０に、トリッガー信号を送信する。トリッガー信号により、各測定データに、共通する基準時を与えることができる。具体的には、後述する１７６個の測定点について、時間軸の揃った音圧データを得ることが可能となる。このことは、後述する図３６～図５１に示す音圧分布のマッピングを可能にする。
　参照マイクロフォン７３０は、騒音源７００からの音を感知する。参照マイクロフォン７３０の出力信号は、制御装置７２０に送信される。
　誤差マイクロフォン７３５は、制御領域７９０における音を感知する。誤差マイクロフォン７３５の出力信号は、制御装置７２０に送信される。
　制御装置７２０は、参照マイクロフォン７３０及び誤差マイクロフォン７３５の出力信号に基づいて、圧電スピーカー１０に制御信号を送信する。これにより、制御装置７２０は、圧電スピーカー１０から放射される音波を制御する。
　測定用マイクロフォン７４０は、自身が配置された位置における音を感知する。測定用マイクロフォン７４０の出力信号は、測定用ＰＣ７６０に送信される。
　測定用ＰＣ７６０は、出力信号ＰＣ７５０からのトリッガー信号と、測定用マイクロフォン７４０の出力信号と、を受信する。
　制御領域７９０は、ｘ方向及びｚ方向に延びる測定用断面７９０ＣＳを有する。参考ＡＮＣ評価系８００では、測定用断面７９０ＣＳに、１７６個の測定点が設けられている。具体的には、測定用断面７９０ＣＳは、ｘ方向に均等に１１分割され、ｚ方向に均等に１６分割されている。１７６個という測定点の数は、ｘ方向の分割数１１と、ｚ方向の分割数１６との積である。測定用断面７９０ＣＳのｙ方向の位置は、放射面１５のｙ方向の中心位置と同じである。測定用断面７９０ＣＳ上に、誤差マイクロフォン７３５が設けられている。
　参考ＡＮＣ評価系８００では、測定用マイクロフォン７４０を、１７６個の測定点に順次移動させる。こうして、測定用マイクロフォン７４０は、測定用ＰＣ７６０と協働して、１７６個の測定点における音圧を測定する。具体的には、測定用ＰＣ７６０は、１７６個の測定点における音圧の分布をマッピングする。このマッピングにより、測定用断面７９０ＣＳの音場が可視化される。
　以下、図３６～図５３Ｃを参照しつつ、実測したデータに基づいた説明を行う。なお、図３６～図５３Ｃにおいて、図３５に示す制御領域７９０におけるパーティション７８０から遠い一部分の図示が省略されている。図３６、図３８、図４０、図４２、図４４、図４６、図４８及び図５０において、カラーバーの数値は、音圧レベルを指し、その単位はパスカル（Ｐａ）である。この数値が正であることは音圧が正であることを意味し、この数値が負であることは音圧が負であることを意味する。
（参考例１：回折音の測定）
　圧電スピーカー１０が音を発しておらず、かつ、騒音源７００が正弦波を放射している状況で、測定用断面７９０ＣＳの１７６個の測定点における音圧を測定し、マッピングした。図３６～図３９に、マッピングにより得た音圧分布を示す。なお、図３６～図３９で
は、回折音の測定を行っていることが直感的に理解され易くなるように、圧電スピーカー１０の図示は省略している。しかし、参考例１の測定は、後述の参考例２と同様、圧電スピーカー１０がパーティション７８０に取り付けられた状態で行った。
　具体的には、図３６は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、騒音源７００由来の音圧分布を示す。図３７の一連の線は、５００Ｈｚの正弦波を放射する騒音源７００によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。図３８は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、騒音源７００由来の音圧分布を示す。図３９の一連の線は、８００Ｈｚの正弦波を放射する騒音源７００によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。
　図３７では、一連の線の各々は、互いに異なる時刻における「ある波面」の位置を示している。概括的にいうと、図３７では、互いに隣接する２つの線のうち、パーティション７８０からより離れているものが、より進んだ時刻における「ある波面」を表している。図３７のブロック矢印は、波面の伝搬方向を示す。一連の線及びブロック矢印に関するこれらの説明は、図３９、図４１、図４３、図４５、図４７、図４９及び図５１についても同様である。
　なお、図３７は、以下の手順で作成した。まず、図３６と同様の、互いに異なる時刻に関する実測に基づく音圧分布図を複数取得した。次に、それら複数の音圧分布図の各々において、ある波面に対応する線を、手作業で引いた。次に、線を引いた後の複数の音圧分布図を重ね合わせた。これにより、図３７に示す、波面の伝搬を表す一連の線が描かれた図を得た。図の作成手順に関するこれらの説明は、図３９、図４１、図４３、図４５、図４７、図４９及び図５１についても同様である。
　図３６～図３９は、パーティション７８０における対向する端部において、回折が生じていることを示している。また、図３６～図３９は、これらの端部での回折により生じた波面が、パーティション７８０の背後に回り込むように伝搬していることを示している。具体的には、図３６～図３９は、これらの端部での回折により生じた波面が、パーティション７８０の中心を通りｚ方向に延びる軸に近づくように伝搬していることを示している。図３６～図３９に示す波面の伝搬の仕方は、図８Ａ～図８Ｃ及び図９Ａ～図９Ｃと同様である。
（参考例２：圧電スピーカー１０が発する音の測定）
　参考例１と同様に騒音源７００が正弦波を放射している状態で、制御装置７２０を用いて圧電スピーカー１０を振動させ、圧電スピーカー１０から消音用の音波を発生させた。この際に、制御装置７２０に、圧電スピーカー１０に送信する制御信号を記憶させた。その後、騒音源７００が音を放射していない状態で、制御装置７２０に、記憶させた制御信号を圧電スピーカー１０に送信させた。このようにして、騒音源７００が音を放射していない状態で圧電スピーカー１０の振動を再現し、測定用断面７９０ＣＳの１７６個の測定点における音圧を測定し、マッピングした。図４０～図４３に、マッピングにより得た音圧分布を示す。
　具体的には、図４０は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、圧電スピーカー１０由来の音圧分布を示す。図４１の一連の線は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合において圧電スピーカー１０によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。図４２は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、圧電スピーカー１０由来の音圧分布を示す。図４３の一連の線は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合において圧電スピーカー１０によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。
　図４０～図４３は、圧電スピーカー１０の放射面１５の中央領域を挟む２つの外側領域から、中央領域を通りｚ方向に延びる軸に近づくように、波面が伝搬していることを示している。図４０～図４３に示す波面の伝搬の仕方は、図８Ｄ～図８Ｆ及び図９Ｄ～図９Ｆと同様である。具体的には、騒音源７００からの騒音がパーティション７８０で回折して生じる回折波の波面と、圧電スピーカー１０由来の波面とは、上記軸に近づきながら伝搬している点で、共通している。後述の実施例１～７においても、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂは、同様の波面を形成すると考えられる。
　また、図３６～図３９から、パーティション７８０での回折により、第１領域１５ａにおける音波の位相と第２領域１５ｂにおける音波の位相の正負が同じであり、第１領域１５ａにおける音波の位相と第３領域１５ｃにおける音波の位相の正負が逆であり、かつ、第２領域１５ｂにおける音波の位相と第３領域１５ｃにおける音波の位相の正負が逆である期間が現れていることが把握される（領域１５ａ，１５ｂ及び１５ｃについては、図１～３Ｃ及び関連する説明を参照されたい）。図４０～図４３から、圧電スピーカー１０により、第１音波の位相と第２音波の位相の正負が同じであり、第１音波の位相と第３音波の位相の正負が逆であり、かつ、第２音波の位相と第３音波の位相の正負が逆である期間が現れていることが把握される（第１音波、第２音波及び第３音波については、図１～３Ｃを参照して行った説明を参照されたい）。第１領域１５ａ、第２領域１５ｂ及び第３領域１５ｃにおける位相分布についても、騒音源７００由来の騒音と圧電スピーカー１０由来の音とで共通性が見られる。後述の実施例１～７においても、第１圧電スピーカー１０Ａは、同様の位相分布を形成すると考えられる。また、後述の実施例６及び７の第２圧電スピーカー１０Ｂも、領域１５ｄ，１５ｅ及び１５ｆにおいて同様の位相分布を形成すると考えられる。
（参考例３：ダイナミックスピーカー６１０が発する音の測定）
　参考例２の圧電スピーカー１０を、ダイナミックスピーカー６１０に置き換えた。このダイナミックスピーカー６１０は、フォスター電機株式会社製のＦｏｓｔｅｘ　Ｐ６５０Ｋである。この置き換えをしたこと以外は、参考例２と同様にして、ダイナミックスピーカー６１０に由来する、測定用断面７９０ＣＳの１７６個の測定点における音圧を測定し、マッピングした。図４４～図４７に、マッピングにより得た音圧分布を示す。なお、ダイナミックスピーカー６１０は、パーティション７８０に埋め込まれている。
　具体的には、図４４は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、ダイナミックスピーカー６１０由来の音圧分布を示す。図４５の一連の線は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合においてダイナミックスピーカー６１０によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。図４６は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、ダイナミックスピーカー６１０由来の音圧分布を示す。図４７の一連の線は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合においてダイナミックスピーカー６１０によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。
　図４４～図４７は、ダイナミックスピーカー６１０の放射面から略半球面波が放射され、その略半球面波の波面もまた略半球面状であることを示している。図４４～図４７に示す波面の伝搬の仕方は、図１０と同様である。
（参考例４：平面スピーカー６２０が発する音の測定）
　参考例２の圧電スピーカー１０を、平面スピーカー６２０に置き換えた。この平面スピーカー６２０は、株式会社エフ・ピー・エス製のＦＰＳ２０３０Ｍ３Ｐ１Ｒである。この置き換えをしたこと以外は、参考例２と同様にして、平面スピーカー６２０に由来する、測定用断面７９０ＣＳの１７６個の測定点における音圧を測定し、マッピングした。図４８～図５１に、マッピングにより得た音圧分布を示す。
　具体的には、図４８は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、平面スピーカー６２０由来の音圧分布を示す。図４９の一連の線は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合において平面スピーカー６２０によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。図５０は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合における、ある時刻に関する、平面スピーカー６２０由来の音圧分布を示す。図５１の一連の線は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合において平面スピーカー６２０によって生じる、時間経過に伴うある波面の伝搬を示す。
　図４８～図５１は、平面スピーカー６２０の放射面から略平面波が放射され、その略平面波の波面もまた略平面状であることを示している。図４８～図５１に示す波面の伝搬の仕方は、図１１と同様である。
（消音効果）
　図５２Ａ～図５３Ｃを用いて、参考例２と参考例４の消音効果の相違を説明する。以下の説明では、スピーカーＯＮ時及びスピーカーＯＦＦ時という用語を用いることがある。スピーカーＯＮ時は、スピーカーから消音用の音が放射されている時を指す。スピーカーＯＦＦ時は、スピーカーから消音用の音が放射されていない時を指す。
　図５２Ａ及び図５３Ａのカラーマップは、騒音源７００から正弦波が放射されているある時刻の消音状態を示す。図５２Ａ及び図５３Ａにおいて、左のカラーマップは、参考例２の圧電スピーカー１０による消音状態を示す。右のカラーマップは、参考例４の平面スピーカー６２０による消音状態を示す。図５２Ａは、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合における、ある時刻の音圧分布を示す。図５３Ａは、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合における、ある時刻の音圧分布を示す。
　図５２Ａ及び図５３Ａにおいて、カラーバーの右側の数値は、増幅率を指し、その単位はｄＢである。増幅率がＸであることは、スピーカーＯＦＦ時を基準として、スピーカーＯＮ時の音圧がＸｄＢ増幅されたことを表している。増幅率が負であることは、消音効果が現れていることを示す。増幅率が正であることは、反対に、騒音が増幅されていることを示す。リダクションエリア（Ｒ．Ａ）は、測定用断面７９０ＣＳにおいて増幅率が－６ｄＢ以下である領域（すなわち消音効果が良好に現れている領域）占める割合を示す。アンプリフィケーションエリア（Ａ．Ａ）は、測定用断面７９０ＣＳにおいて増幅率が０ｄＢよりも大きい領域（すなわち騒音が増幅されている領域）が占める割合を示す。
　図５２Ｂは、図５２Ａにおける増幅率が０ｄＢよりも小さい領域に細かいハッチングを付し、増幅率が０よりも大きい領域に荒いハッチングを付したものである。図５３Ｂは、図５３Ａにおける増幅率が０ｄＢよりも小さい領域に細かいハッチングを付し、増幅率が０よりも大きい領域に荒いハッチングを付したものである。つまり、図５２Ｂ及び図５３Ｂでは、騒音が低減されている領域に細かいハッチングを付し、アンプリフィケーションエリアに荒いハッチングを付している。なお、図５２Ｂ及び図５３Ｂにおけるハッチングは、図５２Ａ及び図５３Ａの目視に基づいて手作業で付した大まかなものである。目視に基づいて手作業で付した点は、後述の図５２Ｃ及び図５２Ｃについても同様である。
　図５２Ｃは、図５２Ａにおける増幅率が－６ｄＢ以下である領域に細かいハッチングを付し、増幅率が０よりも大きい領域に荒いハッチングを付したものである。図５３Ｃは、図５３Ａにおける増幅率が－６ｄＢ以下である領域に細かいハッチングを付し、増幅率が０よりも大きい領域に荒いハッチングを付したものである。つまり、図５２Ｃ及び図５３Ｃでは、リダクションエリアに細かいハッチングを付し、アンプリフィケーションエリアに荒いハッチングを付している。
　図５２Ａ～図５３Ｃに示すように、参考例２の圧電スピーカー１０を用いた場合には、参考例４の平面スピーカー６２０を用いた場合に比べ、騒音が低減されている領域及びリダクションエリアが大きく、アンプリフィケーションエリアが小さい。
　具体的には、参考例２の圧電スピーカー１０を用いた場合には、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合、リダクションエリアは約５８％であり、アンプリフィケーションエリアは約１８％である。騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合、リダクションエリアは約２７％であり、アンプリフィケーションエリアは約１８％である。
　一方、参考例４の平面スピーカー６２０を用いた場合には、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚである場合、リダクションエリアは約３８％であり、アンプリフィケーションエリアは約２１％である。騒音源７００が放射する正弦波の周波数が８００Ｈｚである場合、リダクションエリアは約１３％であり、アンプリフィケーションエリアは約６１％である。
　図５２Ａ～図５３Ｃから、圧電スピーカー１０の平面スピーカー６２０に対する消音効果の優位性は、騒音源７００が放射する正弦波の周波数が５００Ｈｚのときよりも８００Ｈｚのときのほうが顕著に表れている。
　なお、参考例３のダイナミックスピーカー６１０を用いた場合には、参考例４の平面スピーカー６２０を用いた場合よりも、騒音が低減されている領域及びリダクションエリアが小さくなり、アンプリフィケーションエリアが大きくなることが予想される。
［圧電スピーカーからパーティションの背後に回り込む音の評価］
　図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、パーティションに取り付けられたスピーカーから発せられた音がスピーカーから見てパーティションの背後において減衰することは、良好な消音に貢献しうる。これを実現するには、スピーカーとして圧電スピーカーを採用することが有効である。以下、この点について、実施例１、実施例２、実施例３、実施例４、実施例５、比較例１、比較例２、比較例３、比較例４及び比較例５によりさらに説明する。
　実施例１～５及び比較例１～５において、ｘ方向、ｙ方向及びｚ方向は、互いに直交する方向である。測定用水平断面９９０ＣＳＨは、ｘ方向及びｚ方向に拡がる平面である。測定用矢状断面９９０ＣＳＶは、ｙ方向及びｚ方向に拡がりパーティション及び圧電スピーカーの組み合わせを左右対称に切る、測定用水平断面に直交する平面である。図５４は、測定用水平断面９９０ＣＳＨ及び測定用矢状断面９９０ＣＳＶを説明するための斜視図である。図５４において、一点鎖線により測定用水平断面９９０ＣＳＨを示し、二点鎖線により測定用矢状断面９９０ＣＳＶを示している。
（実施例１）
　図５５に示すように、ＡＮＣ評価系９００を構成した。実施例１のＡＮＣ評価系９００では、平面視の寸法を横５０ｃｍ×縦３５ｃｍとしたこと以外はサンプルＥ１の圧電スピーカー１０と同様の圧電スピーカー１０を用いた。実施例１のＡＮＣ評価系で用いた圧電スピーカー１０の数は、１つである。実施例１では、この圧電スピーカー１０を、第１圧電スピーカー１０Ａと称する。また、この圧電スピーカー１０の放射面１５を、第１放射面１５Ａと称する。
　図５５に示すように、床に、第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２を設置した。第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２上に、パーティション９８０を設置した。パーティション９８０に、第１圧電スピーカー１０Ａを取り付けた。
　パーティション９８０は、実験用に試作した。図５６は、第１圧電スピーカー１０Ａが取り付けられたパーティション９８０を示す斜視図である。パーティション９８０は、板９８０ｐ及び脚９８０ｌを有する。脚９８０ｌは、板９８０ｐを起立した状態に支える。板９８０ｐが、表面９８０ａ及び裏面９８０ｂを有する。なお、他の図では、脚９８０ｌの図示は省略されていることがある。
　パーティション９８０の板９８０ｐの寸法は、横６０ｃｍ×縦４５ｃｍ×厚さ０．５ｃｍである。横方向はｘ方向であり、縦方向はｙ方向であり、厚さ方向はｚ方向である。また、パーティション９８０の脚９８０ｌのｘ方向の寸法は６０ｃｍであり、ｙ方向の寸法は０．５ｃｍであり、ｚ方向の寸法は、５．５ｃｍである。
　板９８０ｐの左端部９８１と右端部９８２とを結ぶ左右方向が、板９８０ｐの横方向すなわち６０ｃｍの方向である。板９８０ｐの上端部９８３と下端部９８４とを結ぶ上下方向が、板９８０ｐの縦方向すなわち４５ｃｍの方向である。
　また、第１圧電スピーカー１０Ａの横方向すなわち５０ｃｍの方向は、ｘ方向である。第１圧電スピーカー１０Ａの縦方向すなわち３５ｃｍの方向は、ｙ方向である。第１圧電スピーカー１０Ａの厚さ方向は、ｚ方向である。
　図５５に示すように、具体的には、第１スタンド９３１は、第１ポール９３１ａ及び第１板９３１ｂを有する。第１ポール９３１ａの上端に第１板９３１ｂの下面が接合されている。第２スタンド９３２は、第２ポール９３２ａ及び第２板９３２ｂを有する。第２ポール９３２ａの上端に第２板９３２ｂの下面が接合されている。第１ポール９３１ａ及び第２ポール９３２ａがｘ方向に離間しかつ第１板９３１ｂ及び第２板９３２ｂがｘ方向に離間するように、第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２が床に設置されている。第１板９３１ｂの上面及び第２板９３２ｂの上面に脚９８０ｌが接するように、パーティション９８０が第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２の上に設置されている。こうして、第１圧電スピーカー１０Ａの縦方向すなわちｙ方向の中心位置が、床から高さ１２０ｃｍの位置に設定されている。
　図５７に示すように、第１左マージンＭ１は、５ｃｍである。第１右マージンＭ２は、５ｃｍである。第１左マージンＭ１及び第１右マージンＭ２は、ｘ方向の寸法である。
　第１上マージンＭ３は、５ｃｍである。第１下マージンＭ４は、５ｃｍである。第１上マージンＭ３及び第１下マージンＭ４は、ｙ方向の寸法である。
　実施例１のＡＮＣ評価系９００では、測定用水平断面９９０ＣＳＨに、８８個の測定点が設けられている。具体的には、測定用水平断面９９０ＣＳＨは、ｘ方向に１０ｃｍ刻みで８分割され、ｚ方向に１０ｃｍ刻みで１１分割されている。８８個という測定点の数は、ｘ方向の分割数８と、ｚ方向の分割数１１との積である。測定用水平断面９９０ＣＳＨのｙ方向の位置は、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａのｙ方向の中心位置と同じである。
　参考ＡＮＣ評価系８００と同様、実施例１のＡＮＣ評価系９００では、測定用ＰＣ７６０を用いた。また、実施例１のＡＮＣ評価系９００では、再生用ＰＣ８５０と、８つの測定用マイクロフォン７４０と、を用いた。各測定用マイクロフォン７４０は、自身が配置された位置における音を感知する。各測定用マイクロフォン７４０の出力信号は、測定用ＰＣ７６０に送信される。
　図５５に示すように、実施例１のＡＮＣ評価系９００では、８つの測定用マイクロフォン７４０を、ｘ方向に１０ｃｍ間隔で並べることによって、測定用マイクロフォン７４０の列を構成する。そして、この列をｚ方向に１０ｃｍずつ移動させる。こうして、８つの測定用マイクロフォン７４０は、測定用ＰＣ７６０と協働して、測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける８８個の測定点における音圧を測定する。具体的には、測定用ＰＣ７６０は、これらの測定点における音圧の分布をマッピングする。このマッピングにより、ｘ－ｚ方向に拡がる測定用水平断面９９０ＣＳＨの音場が可視化される。
　図５８のコンター図は、実施例１における測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音圧分布を示す。図５８のコンター図の横軸の数値は、パーティション９８０の表面９８０ａからの距離を指す。この距離は、ｚ軸に沿った距離である。具体的に、パーティション９８０の裏面９８０ｂから表面９８０ａに向かうｚ方向を、＋ｚ方向と定義している。＋ｚ方向の反対方向を、－ｚ方向と定義している。図５８のコンター図の横軸では、＋ｚ方向の位置を正の値で示し、－ｚ方向の位置を負の値で示している。図５８のコンター図の縦軸の数値は、ｘ方向の位置を示す。縦軸の「３５」の位置が、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａのｘ方向の中心位置に対応する。
　図５８のコンター図は、以下のようにして作成した。すなわち、パーティション９８０の表面９８０ａから＋ｚ方向に３５ｃｍ離れた位置（図５８の菱形マークの位置）における音圧がおおむね６０ｄＢとなるように、再生用ＰＣ８５０を用いて第１圧電スピーカー１０Ａから音波を放射させた。具体的には、第１圧電スピーカー１０Ａから、２００Ｈｚ～９００Ｈｚに帯域制限されたホワイトノイズを放射させた。この状態で、８つの測定用マイクロフォン７４０を上記のように移動させることによって測定用水平断面９９０ＣＳＨの８８個の測定点における音圧を測定し、マッピングした。図５８のコンター図中の数値は、各コンターが示す音圧レベル（単位：ｄＢ）を表している。
　図５８では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられた第１圧電スピーカー１０Ａから発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。ただし、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音圧レベルが低い。図１８～図２０を参照して説明したように、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音が打ち消し合ったものと思われる。
　なお、第１圧電スピーカー１０Ａで発せられた音の一部は、床で反射して第１圧電スピーカー１０Ａの高さの位置に至る。しかし、実施例１では、第１圧電スピーカー１０Ａが取り付けられたパーティション９８０が、第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２の上に設置されている。この構成によれば、第１圧電スピーカー１０Ａの高さにおける上記反射音の音圧を抑えることが可能である。ただし、第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２はなくてもよい。第１圧電スピーカー１０Ａが取り付けられたパーティション９８０が床に直接的に配置される場合であっても、第１圧電スピーカー１０Ａから発せられた音が第１圧電スピーカー１０Ａから見てパーティション９８０の背後において減衰しうる。
（実施例２）
　実施例２では、測定用水平断面９９０ＣＳＨではなく測定用矢状断面９９０ＣＳＶにおける音圧分布をマッピングした。この点を除き、実施例２では、実施例１と同様の測定を行った。図５９に、実施例２のＡＮＣ評価系９０５を示す。
　実施例２のＡＮＣ評価系９０５では、測定用矢状断面９９０ＣＳＶに、８８個の測定点が設けられている。具体的には、測定用矢状断面９９０ＣＳＶは、ｙ方向に１０ｃｍ刻みで８分割され、ｚ方向に１０ｃｍ刻みで１１分割されている。８８個という測定点の数は、ｙ方向の分割数８と、ｚ方向の分割数１１との積である。測定用矢状断面９９０ＣＳＶのｘ方向の位置は、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａのｘ方向の中心位置と同じである。
　図５９に示すように、実施例２のＡＮＣ評価系９０５では、８つの測定用マイクロフォン７４０を、ｙ方向に１０ｃｍ間隔で並べることによって、測定用マイクロフォン７４０の列を構成する。そして、この列をｚ方向に１０ｃｍずつ移動させる。こうして、８つの測定用マイクロフォン７４０は、測定用ＰＣ７６０と協働して、測定用矢状断面９９０ＣＳＶにおける８８個の測定点における音圧を測定する。具体的には、測定用ＰＣ７６０は、これらの測定点における音圧の分布をマッピングする。このマッピングにより、ｙ－ｚ方向に拡がる測定用矢状断面９９０ＣＳＶの音場が可視化される。
　図６０のコンター図は、実施例２における測定用矢状断面９９０ＣＳＶにおける音圧分布を示す。図６０のコンター図の横軸の数値は、パーティション９８０の表面９８０ａからの距離を指す。この距離は、ｚ軸に沿った距離である。図６０のコンター図の横軸では、＋ｚ方向の位置を正の値で示し、－ｚ方向の位置を負の値で示している。図６０のコンター図の縦軸の数値は、ｙ方向の位置を示す。具体的に、縦軸の数値は、床からの高さ（単位：ｃｍ）を表す。
　図６０では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられた第１圧電スピーカー１０Ａから発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。ただし、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音圧レベルが低い。矢状面についても、水平面と同様、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音が打ち消し合ったものと思われる。
（実施例３）
　実施例３では、パーティション９８０の表面９８０ａから＋ｚ方向に３５ｃｍ離れた位置ではなく表面９８０ａから＋ｚ方向に８５ｃｍ離れた位置（図６１の菱形マークの位置）における音圧がおおむね６０ｄＢとなるように、再生用ＰＣ８５０を用いて第１圧電スピーカー１０Ａから音波を放射させた。この点を除き、実施例３では、実施例１と同様の測定を行った。
　図６１のコンター図は、実施例３における測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音圧分布を示す。図６１では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられた第１圧電スピーカー１０Ａから発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。ただし、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音圧レベルが低い。実施例１に比べてパーティション９８０から遠い位置を基準に音圧レベルのキャリブレーションを行った場合であっても、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音が打ち消し合ったものと思われる。
（実施例４）
　実施例４では、パーティション９８０の表面９８０ａから＋ｚ方向に３５ｃｍ離れた位置ではなく表面９８０ａから＋ｚ方向に８５ｃｍ離れた位置（図６２の菱形マークの位置）における音圧がおおむね６０ｄＢとなるように、再生用ＰＣ８５０を用いて第１圧電スピーカー１０Ａから音波を放射させた。この点を除き、実施例４では、実施例２と同様の測定を行った。
　図６２のコンター図は、実施例４における測定用矢状断面９９０ＣＳＶにおける音圧分布を示す。図６２では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられた第１圧電スピーカー１０Ａから発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。ただし、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音圧レベルが低い。実施例２に比べてパーティション９８０から遠い位置を基準に音圧レベルのキャリブレーションを行った場合であっても、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域では、音が打ち消し合ったものと思われる。
（実施例５）
　実施例５では、パーティション９８０の表面９８０ａから＋ｚ方向に３５ｃｍ離れた位置（図６３Ａの菱形マークの位置）における音圧がおおむね７０ｄＢとなるように、かつ、第１圧電スピーカー１０Ａから放射される音波が５００Ｈｚの音波となるように、実施例１を変更した。この状態で、測定用水平断面９９０ＣＳＨの８８個の測定点における音の位相を測定し、マッピングした。こうして、測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音の位相分布を測定した。図６３Ａのカラーマップは、測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音の位相分布を示す。図６３Ａにおいて、７０ｄＢは、約０．２５Ｐａに対応する。図６３Ｂのコンターは、図６３Ａの目視に基づいて手作業で付した大まかなものである。
　図６３Ａのカラーマップ及び図６３Ｂのコンター図から、パーティション９８０の裏面９８０ｂ付近で左端部９８１と右端部９８２とを結ぶ左右方向に沿って、図２０を参照して説明したような負、正及び負の位相分布が形成されていることが把握される。
（比較例１）
　比較例１では、実施例１の第１圧電スピーカー１０Ａをダイナミックスピーカー６１０に置き換えた。図６４は、ダイナミックスピーカー６１０が取り付けられたパーティション９８０を示す斜視図である。このダイナミックスピーカー６１０は、株式会社ケーズウェーブ製の壁掛けスピーカーＰＬＢ－５０１Ｗを加工したものである。壁掛けスピーカーＰＬＢ－５０１Ｗの横方向の寸法は１８．３ｃｍであり、縦方向の寸法は２７．０ｃｍであり、厚さ方向の寸法は、３．７ｃｍである。壁掛けスピーカーＰＬＢ－５０１Ｗは、低中域用スピーカー６１０Ｌ及び高域用ツイーターを有する。加工は、高域用ツイーターをパテ６１０Ｐで塞ぎ、ツイーターから音が出ないようにし、周波数領域２００～９００Ｈｚの音の測定に影響が出ないようにするというものである。また、上記の横方向がｘ方向に対応し、縦方向がｙ方向に対応し、厚さ方向がｚ方向に対応し、かつ、パーティション９８０の板９８０ｐのｘ方向及びｙ方向の中心位置に低中域用スピーカー６１０Ｌが配置されるように、板９８０ｐにダイナミックスピーカー６１０を取り付けた。このようにしてスピーカーを置き換えたことを除き、比較例１では、実施例１と同様の測定を行った。
　図６５のコンター図は、比較例１における測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音圧分布を示す。図６５では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられたダイナミックスピーカー６１０から発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。図５８及び図６５により、実施例１に比べ、比較例１では、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域における音圧レベルは、約７～８ｄＢ程度大きいことが把握される。
（比較例２）
　比較例２では、実施例２の第１圧電スピーカー１０Ａを、比較例１で用いたダイナミックスピーカー６１０に置き換えた。また、比較例１と同様に、板９８０ｐにダイナミックスピーカー６１０を取り付けた。このようにしてスピーカーを置き換えたことを除き、比較例２では、実施例２と同様の測定を行った。
　図６６のコンター図は、比較例２における測定用矢状断面９９０ＣＳＶにおける音圧分布を示す。図６６では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられたダイナミックスピーカー６１０から発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。図６０及び図６６により、実施例２に比べ、比較例２では、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域における音圧レベルは大きいことが把握される。具体的には、実施例２に比べ、比較例２では、ｚ方向に－４０ｃｍの位置における音圧レベルが８ｄＢ程度大きい。
（比較例３）
　比較例３では、実施例３の第１圧電スピーカー１０Ａを、比較例１で用いたダイナミックスピーカー６１０に置き換えた。また、比較例１と同様に、板９８０ｐにダイナミックスピーカー６１０を取り付けた。このようにしてスピーカーを置き換えたことを除き、比較例３では、実施例３と同様の測定を行った。
　図６７のコンター図は、比較例３における測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音圧分布を示す。図６７では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられたダイナミックスピーカー６１０から発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。図６１及び図６７により、実施例３に比べ、比較例３では、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域における音圧レベルは大きいことが把握される。
（比較例４）
　比較例４では、実施例４の第１圧電スピーカー１０Ａを、比較例１で用いたダイナミックスピーカー６１０に置き換えた。また、比較例１と同様に、板９８０ｐにダイナミックスピーカー６１０を取り付けた。このようにしてスピーカーを置き換えたことを除き、比較例４では、実施例４と同様の測定を行った。
　図６８のコンター図は、比較例４における測定用矢状断面９９０ＣＳＶにおける音圧分布を示す。図６８では、パーティション９８０から見て右側の領域のみならず、パーティション９８０から見て左側の領域にも、音圧が非ゼロである部分が存在する。このことは、パーティション９８０に取り付けられたダイナミックスピーカー６１０から発せられた音は、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域に回り込んでいることを示している。図６２及び図６８により、実施例４に比べ、比較例４では、パーティション９８０の背後の－ｚ方向の領域における音圧レベルは大きいことが把握される。
（比較例５）
　比較例５では、パーティション９８０の表面９８０ａから＋ｚ方向に３５ｃｍ離れた位置（図６９Ａの菱形マークの位置）における音圧がおおむね７０ｄＢとなるように、かつ、ダイナミックスピーカー６１０から放射される音波が５００Ｈｚの音波となるように、比較例１を変更した。この状態で、測定用水平断面９９０ＣＳＨの８８個の測定点における音の位相を測定し、マッピングした。こうして、測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音の位相分布を測定した。図６９Ａのカラーマップは、測定用水平断面９９０ＣＳＨにおける音の位相分布を示す。図６９Ａにおいて、７０ｄＢは、約０．２５Ｐａに対応する。図６９Ｂのコンターは、図６９Ａの目視に基づいて手作業で付した大まかなものである。
　図６３Ａのカラーマップ及び図６３Ｂのコンター図とは異なり、図６９Ａのカラーマップ及び図６９Ｂのコンター図では、裏面９８０ｂ付近で板９８０ｐの左端部９８１と右端部９８２とを結ぶ左右方向に沿って正及び負の位相分布は見られない。
［デュアルＡＮＣシステムの評価］
　パーティションの両面のそれぞれにスピーカーが取り付けられ、各スピーカーがそのスピーカーから見てパーティションの向こう側に位置する参照マイクロフォンに関連付けられたデュアルＡＮＣシステムを考える。図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、そのようなデュアルＡＮＣシステムでは、スピーカーとして圧電スピーカーを用いることが、良好な消音に貢献しうる。なぜなら、パーティションの表面に取り付けられた一方の圧電スピーカー由来の音は、該一方の圧電スピーカーから見てパーティションの背後すなわち裏面側の空間において減衰し、該一方の圧電スピーカーに関連付けられた参照マイクロフォンにノイズとして入力され難いためである。また、パーティションの裏面に取り付けられた他方の圧電スピーカー由来の音は、該他方の圧電スピーカーから見てパーティションの背後すなわち表面側の空間において減衰し、該他方の圧電スピーカーに関連付けられた参照マイクロフォンにノイズとして入力され難いためである。以下、この点について、実施例６、実施例７、参考例５、比較例６、比較例７及び参考例６によりさらに説明する。
　（実施例６：フィードバック補償なし）
　図７０～図７２に示すように、ＡＮＣ評価系１０００を構成した。実施例６のＡＮＣ評価系１０００では、ＡＮＣ評価系９００及び９０５で構成した第１圧電スピーカー１０Ａ付きパーティション９８０に、第２圧電スピーカー１０Ｂを取り付けた。第１スタンド９３１及び第２スタンド９３２を省略し、パーティション９８０の脚９８０ｌを床に直接設置した。また、第１騒音源７００Ａ、第２騒音源７００Ｂ、第１参照マイクロフォン７３０Ａ及び第２参照マイクロフォン７３０Ｂを追加した。なお、図７０及び図７１では、図５５及び図５９とは異なり、パーティション９８０の左側に第１圧電スピーカー１０Ａを描いている。
　上述の通り、ＡＮＣ評価系９００及び９０５では、パーティション９８０の表面９８０ａに第１圧電スピーカー１０Ａが取り付けられている。ＡＮＣ評価系１０００では、パーティション９８０の裏面９８０ｂに、第２圧電スピーカー１０Ｂをさらに取り付けた。こうして、表面９８０ａ及び裏面９８０ｂのそれぞれに１つずつ圧電スピーカー１０が取り付けられたパーティション９８０を得た。第２圧電スピーカー１０Ｂは、第１圧電スピーカー１０Ａと同じ圧電スピーカーである。
　ＡＮＣ評価系１０００の第１騒音源７００Ａ及び第２騒音源７００Ｂは、参考ＡＮＣ評価系８００の騒音源７００と同じである。ＡＮＣ評価系１０００の第１参照マイクロフォン７３０Ａ及び第２参照マイクロフォン７３０Ｂは、参考ＡＮＣ評価系８００の参照マイクロフォン７３０と同じである。
　参考ＡＮＣ評価系８００と同様、ＡＮＣ評価系１０００では、出力信号ＰＣ７５０及び測定用ＰＣ７６０を用いた。出力信号ＰＣ７５０を、第１騒音源７００Ａ及び第２騒音源７００Ｂに接続した。ＡＮＣ評価系１０００では、制御装置１０２０を用いた。制御装置１０２０は、第１騒音制御フィルタ１０２１Ａ及び第２騒音制御フィルタ１０２１Ｂを有する。
　出力信号ＰＣ７５０は、第１騒音源７００Ａに、第１騒音信号を送信する。これにより、出力信号ＰＣ７５０は、第１騒音源７００Ａに、騒音を出力させる。
　出力信号ＰＣ７５０は、第２騒音源７００Ｂに、第２騒音信号を送信する。これにより、出力信号ＰＣ７５０は、第２騒音源７００Ｂに、騒音を出力させる。
　第１参照マイクロフォン７３０Ａは、第１参照マイクロフォン７３０Ａが感知した音に基づいて、出力信号を生成する。この出力信号は、制御装置１０２０に送信される。制御装置１０２０は、この出力信号に基づいて、第１圧電スピーカー１０Ａに制御信号を送信する。こうして、制御装置１０２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから放射される音波を制御する。
　第２参照マイクロフォン７３０Ｂは、第２参照マイクロフォン７３０Ｂが感知した音に基づいて、出力信号を生成する。この出力信号は、制御装置１０２０に送信される。制御装置１０２０は、この出力信号に基づいて、第２圧電スピーカー１０Ｂに制御信号を送信する。こうして、制御装置１０２０は、第２圧電スピーカー１０Ｂから放射される音波を制御する。
　パーティション９８０の裏面９８０ｂにおける第２圧電スピーカー１０Ｂに関するマージンＭ５～Ｍ８は、パーティション９８０の表面９８０ａにおける第１圧電スピーカー１０Ａに関するマージンＭ１～Ｍ４と同様である。
　すなわち、図７２に示すように、第２左マージンＭ５は、５ｃｍである。第２右マージンＭ６は、５ｃｍである。マージンＭ５及びＭ６は、ｘ方向の寸法である。
　第２上マージンＭ７は、５ｃｍである。第２下マージンＭ８は、５ｃｍである。マージンＭ７及びＭ８は、ｙ方向の寸法である。
　第１参照マイクロフォン７３０Ａ、第２参照マイクロフォン７３０Ｂ、第１騒音源７００Ａ及び第２騒音源７００Ｂを、床から２２．５ｃｍ離して配置した。
　ｚ方向に延びる軸であってパーティション９８０の表面９８０ａの中心及び裏面９８０ｂの中心を通る軸を、対称軸ＳＡと定義する。裏面９８０ｂから表面９８０ａに向かうｚ方向を、＋ｚ方向と定義する。表面９８０ａから裏面９８０ｂに向かうｚ方向を、－ｚ方向と定義する。対称軸ＳＡ上の点であって、第１圧電スピーカー１０Ａの第１放射面１５Ａから＋ｚ方向にＬｃｍ離れた点を、第１調整点ＡＰ１と定義する。対称軸ＳＡ上の点であって、第２圧電スピーカー１０Ｂの第２放射面１５Ｂから－ｚ方向にＬｃｍ離れた点を、第２調整点ＡＰ２と定義する。
　パーティション９８０の右端部９８２から左端部９８１に向かうｘ方向を、＋ｘ方向と定義する。パーティション９８０の左端部９８１から右端部９８２に向かうｘ方向を、－ｘ方向と定義する。第１調整点ＡＰ１から＋ｘ方向に５ｃｍ離れた位置に、第２騒音源７００Ｂを配置した。第１調整点ＡＰ１から－ｘ方向に５ｃｍ離れた位置に、第２参照マイクロフォン７３０Ｂを配置した。第２調整点ＡＰ２から＋ｘ方向に５ｃｍ離れた位置に、第１騒音源７００Ａを配置した。第２調整点ＡＰ２から－ｘ方向に５ｃｍ離れた位置に、第１参照マイクロフォン７３０Ａを配置した。
　ｚ方向に延びる軸に垂直な平面であってパーティション９８０を２等分する平面を、対称平面と定義する。上述の説明から理解されるように、ＡＮＣ評価系１０００では、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂは、対称平面について対称である。第１参照マイクロフォン７３０Ａ及び第２参照マイクロフォン７３０Ｂは、対称平面について対称である。第１騒音源７００Ａ及び第２騒音源７００Ｂは、対称平面について対称である。
　まず、Ｌｃｍを４０ｃｍに設定した。
　チューニングステージにおいて、第１騒音制御フィルタ１０２１Ａのフィルタ係数を、第１騒音源７００Ａからパーティション９８０を介して進行する回折波を打ち消す逆位相音波が第１圧電スピーカー１０Ａから放射されるように、決定した。また、チューニングステージにおいて、第２騒音制御フィルタ１０２１Ｂのフィルタ係数を、第２騒音源７００Ｂからパーティション９８０を介して進行する回折波を打ち消す逆位相音波が第２圧電スピーカー１０Ｂから放射されるように、決定した。このようにして、第１騒音制御フィルタ１０２１Ａのフィルタ係数及び第２騒音制御フィルタ１０２１Ｂのフィルタ係数が同定された制御装置１０２０を得た。
　制御ステージでは、第１騒音源７００Ａ及び第２騒音源７００Ｂから騒音として正弦波を出力させた。この状態で、制御装置１０２０によって第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂから消音用の音波を放射させた。このときの第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果は、第２参照マイクロフォン７３０Ｂの出力信号を測定用ＰＣ７６０に送信することによって測定した。第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果は、第１参照マイクロフォン７３０Ａの出力信号を測定用ＰＣ７６０に送信することによって測定した。
　具体的に、制御ステージでは、上記のように同定された第１騒音制御フィルタ１０２１Ａのフィルタ係数を変更せず固定した。これにより、制御ステージにおいて、第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される音と第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音とが一対一の対応関係を有し、かつ、該対応関係が経時的に固定されるようにした。また、上記のように同定された第２騒音制御フィルタ１０２１Ｂのフィルタ係数を変更せず固定した。これにより、制御ステージにおいて、第２参照マイクロフォン１３０Ｂに入力される音と第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音とが一対一の対応関係を有し、かつ、該対応関係が経時的に固定されるようにした。
　また、制御ステージでは、フィードバック補償なしで、制御装置１０２０によって第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂから消音用の音波を放射させた。「フィードバック補償なし」とは、第１回り込み音が第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音に及ぼす影響を抑制するための制御も、第２回り込み音が第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音に及ぼす影響を抑制するための制御も行わないことを指す。第１回り込み音は、第１圧電スピーカー１０Ａから発せられ第１参照マイクロフォン７３０Ａに回り込む音である。第２回り込み音は、第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられ第２参照マイクロフォン７３０Ｂに回り込む音である。
　チューニングステージ及び制御ステージにおいて、第１騒音源７００Ａ及び第２騒音源７００Ｂから放射される騒音は、白色ノイズを２００Ｈｚ～８００Ｈｚの帯域制限フィルタを通過させることにより生成した。より具体的には、帯域制限フィルタを通過した白色ノイズは、２００Ｈｚ～８００Ｈｚの各周波数成分を実質的に均等に含む。
　次に、Ｌｃｍを５０ｃｍに変更した。それ以外はＬｃｍが４０ｃｍのときと同様に、チューニングステージ及び制御ステージを実行した。こうして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　次に、Ｌｃｍを６０ｃｍに変更した。それ以外はＬｃｍが４０ｃｍのときと同様に、チューニングステージ及び制御ステージを実行した。こうして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　次に、Ｌｃｍを７０ｃｍに変更した。それ以外はＬｃｍが４０ｃｍのときと同様に、チューニングステージ及び制御ステージを実行した。こうして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　次に、Ｌｃｍを８０ｃｍに変更した。それ以外はＬｃｍが４０ｃｍのときと同様に、チューニングステージ及び制御ステージを実行した。こうして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　実施例６では、このようにして、Ｌｃｍが、４０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、７０ｃｍ及び８０ｃｍのそれぞれの場合について、フィードバック補償なしで第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。測定結果を、図７３に示す。図７３において、「Ｌ」は、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果を示す。上述の通り、この消音効果は、第２参照マイクロフォン７３０Ｂで感知した音に基づいたものである。「Ｒ」は、第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を示す。上述の通り、この消音効果は、第１参照マイクロフォン７３０Ａで感知した音に基づいたものである。
　（実施例７：フィードバック補償あり）
　「フィードバック補償なし」を「フィードバック補償あり」に変更したこと以外は、実施例６と同様にして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。「フィードバック補償あり」とは、第１回り込み音が第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音に及ぼす影響を抑制するための制御と、第２回り込み音が第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音に及ぼす影響を抑制するための制御と、行うことを指す。これらの制御は、ＡＦＰ（Acoustic Feedback Path）を抑制するための公知の制御である。具体的に、実施例７及び後述の比較例７では、デジタル処理によりフィードバック補償を行った。
　実施例７では、このようにして、Ｌｃｍが、４０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、７０ｃｍ及び８０ｃｍのそれぞれの場合について、フィードバック補償ありで第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。測定結果を、図７４に示す。
　（参考例５：左右単独の制御）
　第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果を示す「Ｌ」の測定時に、第２圧電スピーカー１０Ｂ及び第２騒音源７００Ｂからは音を出さないようにした。また、第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を示す「Ｒ」の測定時に、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第１騒音源７００Ａからは音を出さないようにした。これら以外は、実施例６と同様にして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　参考例５では、このようにして、Ｌｃｍが、４０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、７０ｃｍ及び８０ｃｍのそれぞれの場合について、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。測定結果を、図７５に示す。
　（比較例６：フィードバック補償なし）
　第１圧電スピーカー１０Ａを第１ダイナミックスピーカー６１０Ａに変更し、第２圧電スピーカー１０Ｂを第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂに変更した。比較例６の第１ダイナミックスピーカー６１０Ａ及び第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂは、フォスター電機株式会社製のＦｏｓｔｅｘ　Ｐ６５０Ｋである。これら以外は、実施例５と同様にして、第１圧電スピーカー１０Ａが奏する消音効果及び第２圧電スピーカー１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　比較例６では、このようにして、Ｌｃｍが、４０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、７０ｃｍ及び８０ｃｍのそれぞれの場合について、フィードバック補償なしで第１ダイナミックスピーカー６１０Ａが奏する消音効果及び第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂが奏する消音効果を測定した。測定結果を、図７６に示す。
　（比較例７：フィードバック補償あり）
　「フィードバック補償なし」を「フィードバック補償あり」に変更したこと以外は、比較例６と同様にして、第１ダイナミックスピーカー６１０Ａが奏する消音効果及び第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　比較例７では、このようにして、Ｌｃｍが、４０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、７０ｃｍ及び８０ｃｍのそれぞれの場合について、フィードバック補償ありで第１ダイナミックスピーカー６１０Ａが奏する消音効果及び第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂが奏する消音効果を測定した。測定結果を、図７７に示す。
　（参考例６：左右単独の制御）
　第１ダイナミックスピーカー６１０Ａが奏する消音効果を示す「Ｌ」の測定時に、第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂ及び第２騒音源７００Ｂからは音を出さないようにした。また、第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂが奏する消音効果を示す「Ｒ」の測定時に、第１ダイナミックスピーカー６１０Ａ及び第１騒音源７００Ａからは音を出さないようにした。これら以外は、比較例６と同様にして、第１ダイナミックスピーカー６１０Ａが奏する消音効果及び第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂが奏する消音効果を測定した。
　参考例６では、このようにして、Ｌｃｍが、４０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、７０ｃｍ及び８０ｃｍのそれぞれの場合について、第１ダイナミックスピーカー６１０Ａが奏する消音効果及び第２ダイナミックスピーカー６１０Ｂが奏する消音効果を測定した。測定結果を、図７８に示す。
　比較例６に関する図７６と比較例７に関する図７７から、ダイナミックスピーカーを用いる場合には、フィードバック補償があってもなくても十分な消音効果が得られないことが分かる。より具体的には、図７６及び図７７から、比較例６及び比較例７では音がかえって増幅されていることが把握される。一方で、図７８から、参考例６では消音効果が得られていることが把握される。このことから、比較例６及び比較例７では、ダイナミックスピーカーからパーティションの背後への音の回り込みが消音を妨げていたことが推測される。
　実施例６に関する図７３と実施例７に関する図７４を比べることにより、圧電スピーカーを用いる場合には、フィードバック補償があってもなくても十分な消音効果が得られることが分かる。
［圧電フィルムの支持構造と振動の自由度］
　本発明による圧電スピーカーの支持構造の一例を参照する。図１２、図２１、図２３、図２４及びこれらに関連する説明から理解されるように、圧電スピーカー１０では、圧電フィルム３５の全面が接合層５１、５２及び介在層４０を介して構造物８０に固定されている。
　圧電フィルム３５の振動が構造物８０により阻害されないようにするためには、圧電フィルム３５の一部を支持して構造物８０から離間させることも考えられる。この設計思想に基づく支持構造を図１３に例示する。図１３に示した仮想的な圧電スピーカー１０８では、枠体８８が構造物８０から離れた位置で圧電フィルム３５の周縁部を支持している。
　予め一方に湾曲させて湾曲の向きが固定された圧電フィルムからは十分な音量を確保しやすい。このため、例えば圧電スピーカー１０８において、圧電フィルム３５、枠体８８及び構造物８０に囲まれた空間４８に上面が凸面となった厚みが一定でない介在物を配置し、圧電フィルム３５の中央部を上方に押し上げておくことが考えられる。しかし、このような介在物は、圧電フィルム３５の振動を阻害することがないように圧電フィルム３５と接合されることがない。従って、空間４８に介在物を配置したとしても、圧電フィルム３５をその振動を規定する態様で支持しているのは枠体８８のみである。
　上述の通り、図１３に示す圧電スピーカー１０８では、圧電フィルム３５の局部的な支持構造が採用されている。これに対し、図１２等の圧電スピーカー１０では圧電フィルム３５が特定の部分で支持されていない。意外なことに、圧電スピーカー１０は、圧電フィルム３５の全面が構造物８０に固定されているにも関わらず、実用的な音響特性を示す。具体的には、圧電スピーカー１０では、圧電フィルム３５の周縁部までが上下に振動しうる。圧電フィルム３５は、その全体が上下に振動することも可能である。従って、圧電スピーカー１０８と比較すると、圧電スピーカー１０はその振動の自由度が高く、良好な発音特性の実現には相対的に有利である。
　図１２を参照して説明したように、振動の自由度の高さは、第１波面１６ａ、第２波面１６ｂ、第４波面１６ｄ及び第５波面１６ｅの形成に寄与している可能性がある。なお、図１２では、圧電スピーカー１０が図２１に示す圧電スピーカー１０である場合が描かれている。図１２において、第１接合層５１及び第２接合層５２の図示は省略されている。振動の高い自由度は、圧電スピーカー１０が図２３に示す圧電スピーカー１１０である場合も得られうる。
　本発明者らの検討によれば、介在層が多孔体層及び／又は樹脂層であることは、振動の自由度の確保に適している。事実、介在層が多孔体層及び／又は樹脂層であるサンプルＥ１～Ｅ１７では、圧電フィルム３５の全面が支持部材６８０に固定されているにも関わらず、実用的な音響特性が発揮されている。ＡＮＣ評価系８００、９００、９０５及び１０００において第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０ＢをサンプルＥ１のサイズ違い品からサンプルＥ２～Ｅ１７のサイズ違い品に変更したとしても、図４０～図４３、図５２Ａ～図５３Ｃ、図５８及び図６０～図６２と同様の傾向の音圧分布が現れ、図６３Ａ及び６３Ｂと同様の傾向の位相分布が現れ、また、図７３～図７５と同様の消音効果が得られると考えられる。
［本発明から導かれうる技術及び効果等］
　以下、本発明から導かれうる技術及び効果等について、図７９及び図８０を参照しながら説明する。なお、上述の説明から理解されるように、第２圧電スピーカー１０Ｂ等は省略可能である。ＡＮＣシステムは、２つの圧電スピーカーを用いたデュアルＡＮＣシステムであってもよく、１つの圧電スピーカーを用いたシングルＡＮＣシステムであってもよい。
　ＡＮＣシステムは、構造物８０、第１圧電スピーカー１０Ａ及び第２圧電スピーカー１０Ｂを含む。構造物８０は、表面８０ａ及び裏面８０ｂを有する。
　第１圧電スピーカー１０Ａは、表面８０ａ上に配置されている。第１圧電スピーカー１０Ａは、消音用の音波を放射する。この構成に係るＡＮＣシステムは、構造物８０に取り付けられたスピーカー由来の音を該スピーカーから見て該構造物の背後において減衰させることに適している。具体的には、この構成では、第１圧電スピーカー１０Ａから構造物８０の向こう側に回り込んだ音が減衰し易い。
　第２圧電スピーカー１０Ｂは、裏面８０ｂ上に配置されている。第２圧電スピーカー１０Ｂは、消音用の音波を放射する。この構成に係るＡＮＣシステムは、構造物８０に取り付けられたスピーカー由来の音を該スピーカーから見て該構造物の背後において減衰させることに適している。具体的には、この構成では、第２圧電スピーカー１０Ｂから構造物８０の向こう側に回り込んだ音が減衰し易い。
　構造物８０は、左端部８１、右端部８２、上端部８３及び下端部８４を有する。
　ＡＮＣシステムでは、表空間９５Ａと、表面８０ａと、裏面８０ｂと、裏空間９５Ｂと、がこの順に並んでいる。表空間９５Ａは、表面８０ａを平面視したときに表面８０ａと重複する空間である。裏空間９５Ｂは、裏面８０ｂを平面視したときに裏面と重複する空間である。
　第１圧電スピーカー１０Ａは、第１放射面１５Ａを有する。第１放射面１５Ａは、表空間９５Ａに面している。第２圧電スピーカー１０Ｂは、第２放射面１５Ｂを有する。第２放射面１５Ｂは、裏空間９５Ｂに面している。
　第１放射面１５Ａは、第１領域１５ａ、第２領域１５ｂ及び第３領域１５ｃを有する。第３領域１５ｃは、第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂの間に位置する。
　第２放射面１５Ｂは、第４領域１５ｄ、第５領域１５ｅ及び第６領域１５ｆを有する。第６領域１５ｆは、第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅの間に位置する。
　裏空間９５Ｂは、第１背後空間９０Ａ、第２背後空間９０Ｂ及び第３背後空間９０Ｃを有する。第３背後空間９０Ｃは、第１背後空間９０Ａ及び第２背後空間９０Ｂの間に位置する。
　表空間９５Ａは、第４背後空間９０Ｄ、第５背後空間９０Ｅ及び第６背後空間９０Ｆを有する。第６背後空間９０Ｆは、第４背後空間９０Ｄ及び第５背後空間９０Ｅの間に位置する。
　以下、第１基準平面８５Ａ及び第２基準平面８５Ｂという用語を用いる。第１基準平面８５Ａ及び第２基準平面８５Ｂは、上下方向Ｄ１に垂直な平面である。図７９及び図８０の例では、第１基準平面８５Ａ及び第２基準平面８５Ｂは、同一平面である。ただし、第１基準平面８５Ａ及び第２基準平面８５Ｂは、高さが互いに異なる平面であってもよい。
　第１領域１５ａ、第２領域１５ｂ、第３領域１５ｃ、第１背後空間９０Ａ、第２背後空間９０Ｂ及び第３背後空間９０Ｃは、第１基準平面８５Ａと交差する。第４領域１５ｄ、第５領域１５ｅ、第６領域１５ｆ、第４背後空間９０Ｄ、第５背後空間９０Ｅ及び第６背後空間９０Ｆは、第２基準平面８５Ｂと交差する。
　第１条件、第２条件及び第３条件が成立する期間が現れる。第１条件は、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第１背後空間９０Ａにおける音波の位相が正又は負の一方であるという条件である。第２条件は、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第２背後空間９０Ｂにおける音波の位相が正又は負の前記一方であるという条件である。第３条件は、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する第３背後空間９０Ｃにおける音波の位相が正又は負の他方であるという条件である。裏空間９５Ｂにおいてこのような位相分布が形成されていると、裏空間９５Ｂにおいて第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が減衰し易い。具体的には、第１背後空間９０Ａにおける音波、第３背後空間９０Ｃにおける音波及び第２背後空間９０Ｂにおける音波が、より背後に位置する第１干渉空間９１Ａに伝搬する。第１干渉空間９１Ａにおいて、これらの音波が互いに干渉し、互いに打ち消し合う。このため、第１干渉空間９１Ａでは、第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音が減衰された状態となりうる。なお、第１干渉空間９１Ａは、裏空間９５Ｂに含まれる。
　一数値例では、制御装置１２０による制御により、第１背後空間９０Ａ、第３背後空間９０Ｃ及び第２背後空間９０Ｂにおける第１圧電スピーカー１０Ａ由来の音波の位相をそれぞれ負、正及び負である又は正、負及び正である期間Ｔ３が現れうる。背後空間９０Ａ、９０Ｃ及び９０Ｂにおける音波の一周期をＴｒとしたとき、Ｔ３／Ｔｒは、第１騒音源２００Ａにもよるが、例えば０．０１以上１以下である。また、第１騒音源２００Ａが正弦波を発する場合、期間Ｔ３は継続しうるあるいは周期的に現れうる。Ｔ３／Ｔｒは、０．１以上１以下であってもよく、０．５以上１以下であってもよく、０．７以上１以下であってもよく、０．９以上１以下であってもよい。
　具体的には、第４条件、第５条件及び第６条件が成立する期間が現れる。第４条件は、第１領域１５ａから左端部８１を介して第１背後空間９０Ａに至る第１回り込み経路にわたって、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する音波の位相が正又は負の一方に維持されるという条件である。第５条件は、第２領域１５ｂから右端部８２を介して第２背後空間９０Ｂに至る第２回り込み経路にわたって、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する音波の位相が正又は負の前記一方に維持されるという条件である。第６条件は、第３領域１５ｃから上端部８３を介して第３背後空間９０Ｃに至る第３回り込み経路にわたって、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する音波の位相が正又は負の他方に維持されるという条件である。この期間において、第３領域１５ｃから下端部８４を介して第３背後空間９０Ｃに至る回り込み経路にわたって、第１圧電スピーカー１０Ａが形成する音波の位相が正又は負の他方に維持されるという条件が成立してもよい。
　第７条件、第８条件及び第９条件が成立する期間が現れる。第７条件は、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第４背後空間９０Ｄにおける音波の位相が正又は負の一方であるという条件である。第８条件は、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第５背後空間９０Ｅにおける音波の位相が正又は負の前記一方であるという条件である。第９条件は、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する第６背後空間９０Ｆにおける音波の位相が正又は負の他方であるという条件である。表空間９５Ａにおいてこのような位相分布が形成されていると、表空間９５Ａにおいて第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音が減衰し易い。具体的には、第４背後空間９０Ｄにおける音波、第６背後空間９０Ｆにおける音波及び第５背後空間９０Ｅにおける音波が、より背後に位置する第２干渉空間９１Ｂに伝搬する。第２干渉空間９１Ｂにおいて、これらの音波が互いに干渉し、互いに打ち消し合う。このため、第２干渉空間９１Ｂでは、第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音が減衰された状態となりうる。なお、第２干渉空間９１Ｂは、表空間９５Ａに含まれる。
　一数値例では、制御装置１２０による制御により、第４背後空間９０Ｄ、第６背後空間９０Ｆ及び第５背後空間９０Ｅにおける第２圧電スピーカー１０Ｂ由来の音波の位相がそれぞれ負、正及び負である又は正、負及び正である期間Ｔ４が現れうる。背後空間９０Ｄ、９０Ｆ及び９０Ｅにおける音波の一周期をＴｔとしたとき、Ｔ４／Ｔｔは、第２騒音源２００Ｂにもよるが、例えば０．０１以上１以下である。また、第２騒音源２００Ｂが正弦波を発する場合、期間Ｔ４は継続しうるあるいは周期的に現れうる。Ｔ４／Ｔｔは、０．１以上１以下であってもよく、０．５以上１以下であってもよく、０．７以上１以下であってもよく、０．９以上１以下であってもよい。
　具体的には、第１０条件、第１１条件及び第１２条件が成立する期間が現れる。第１０条件は、第４領域１５ｄから左端部８１を介して第４背後空間９０Ｄに至る第４回り込み経路にわたって、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する音波の位相が正又は負の一方に維持されるという条件である。第１１条件は、第５領域１５ｅから右端部８２を介して第５背後空間９０Ｅに至る第５回り込み経路にわたって、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する音波の位相が正又は負の前記一方に維持されるという条件である。第１２条件は、第６領域１５ｆから上端部８３を介して第６背後空間９０Ｆに至る第６回り込み経路にわたって、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する音波の位相が正又は負の他方に維持されるという条件である。この期間において、第６領域１５ｆから下端部８４を介して第６背後空間９０Ｆに至る回り込み経路にわたって、第２圧電スピーカー１０Ｂが形成する音波の位相が正又は負の他方に維持されるという条件が成立してもよい。
　ＡＮＣシステムは、制御装置１２０を含む。制御装置１２０は、第１圧電スピーカー１０Ａから出力される音の周波数を第１特定周波数範囲内の値に制御する制御モードを有する。第１特定周波数範囲の上限の音の波長を第１基準波長と定義する。また、制御装置１２０は、第２圧電スピーカー１０Ｂから出力される音の周波数を第２特定周波数範囲内の値に制御する制御モードを有する。第２特定周波数範囲の上限の音の波長を第２基準波長と定義する。前者の制御モードと後者の制御モードは、同一の制御モードであってもよく、互いに異なる制御モードであってもよい。
　第１左マージンＭ１及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、第１基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第１放射面１５Ａの第１領域１５ａから構造物８０の左端部８１まで音が伝搬するのに要する期間と、第１放射面１５Ａの第３領域１５ｃから構造物８０の上端部８３まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第１領域１５ａ由来の音が左端部８１から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、第３領域１５ｃ由来の音が上端部８３から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、裏空間９５Ｂに回り込んだ音を裏空間９５Ｂの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第１右マージンＭ２及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、第１基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第１放射面１５Ａの第２領域１５ｂから構造物８０の右端部８２まで音が伝搬するのに要する期間と、第１放射面１５Ａの第３領域１５ｃから構造物８０の上端部８３まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第２領域１５ｂ由来の音が右端部８２から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、第３領域１５ｃ由来の音が上端部８３から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、裏空間９５Ｂに回り込んだ音を裏空間９５Ｂの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第１左マージンＭ１及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、第１基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第１放射面１５Ａの第１領域１５ａから構造物８０の左端部８１まで音が伝搬するのに要する期間と、第１放射面１５Ａの第３領域１５ｃから構造物８０の下端部８４まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第１領域１５ａ由来の音が左端部８１から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、第３領域１５ｃ由来の音が下端部８４から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、裏空間９５Ｂに回り込んだ音を裏空間９５Ｂの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第１右マージンＭ２及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、第１基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第１放射面１５Ａの第２領域１５ｂから構造物８０の右端部８２まで音が伝搬するのに要する期間と、第１放射面１５Ａの第３領域１５ｃから構造物８０の下端部８４まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第２領域１５ｂ由来の音が右端部８２から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、第３領域１５ｃ由来の音が下端部８４から裏空間９５Ｂに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、裏空間９５Ｂに回り込んだ音を裏空間９５Ｂの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第１左マージンＭ１及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、第１基準波長の１／１６以下であってもよい。第１右マージンＭ２及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、第１基準波長の１／１６以下であってもよい。第１左マージンＭ１及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、第１基準波長の１／１６以下であってもよい。第１右マージンＭ２及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、第１基準波長の１／１６以下であってもよい。
　一数値例では、第１左マージンＭ１及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。第１右マージンＭ２及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。第１左マージンＭ１及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。第１右マージンＭ２及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。
　第１左マージンＭ１及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。第１右マージンＭ２及び第１上マージンＭ３の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。第１左マージンＭ１及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。第１右マージンＭ２及び第１下マージンＭ４の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。
　第１左マージンＭ１及び第１右マージンＭ２の幾何平均値と、第１上マージンＭ３と、の差の絶対値すなわち｜Ｍ３－（Ｍ１＋Ｍ２）／２｜は、第１基準波長の１／８以下であってもよい。この大小関係は、例えば、構造物９０の左側、右側及び上側に空間が存在する場合に、裏空間９５Ｂに回り込んだ音を裏空間９５Ｂの広い領域で減衰させることに貢献しうる。上記の差の絶対値は、第１基準波長の１／１６以下であってもよい。上記の差の絶対値は、８６ｃｍ以下であってもよく、４３ｃｍ以下であってもよい。
　第１左マージンＭ１及び第１右マージンＭ２の幾何平均値と、第１上マージンＭ３及び第１下マージンＭ４の幾何平均値と、の差の絶対値すなわち｜（Ｍ３＋Ｍ４）／２－（Ｍ１＋Ｍ２）／２｜は、第１基準波長の１／８以下であってもよい。この大小関係は、例えば、構造物９０の左側、右側、上側及び下側に空間が存在する場合に、裏空間９５Ｂに回り込んだ音を裏空間９５Ｂの広い領域で減衰させることに貢献しうる。上記の差の絶対値は、第１基準波長の１／１６以下であってもよい。上記の差の絶対値は、８６ｃｍ以下であってもよく、４３ｃｍ以下であってもよい。
　第２左マージンＭ５及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、第２基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第２放射面１５Ｂの第４領域１５ｄから構造物８０の左端部８１まで音が伝搬するのに要する期間と、第２放射面１５Ｂの第６領域１５ｆから構造物８０の上端部８３まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第４領域１５ｄ由来の音が左端部８１から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、第６領域１５ｆ由来の音が上端部８３から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、表空間９５Ａに回り込んだ音を表空間９５Ａの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第２右マージンＭ６及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、第２基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第２放射面１５Ｂの第５領域１５ｅから構造物８０の右端部８２まで音が伝搬するのに要する期間と、第２放射面１５Ｂの第６領域１５ｆから構造物８０の上端部８３まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第５領域１５ｅ由来の音が右端部８２から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、第６領域１５ｆ由来の音が上端部８３から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、表空間９５Ａに回り込んだ音を表空間９５Ａの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第２左マージンＭ５及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、第２基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第２放射面１５Ｂの第４領域１５ｄから構造物８０の左端部８１まで音が伝搬するのに要する期間と、第２放射面１５Ｂの第６領域１５ｆから構造物８０の下端部８４まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第４領域１５ｄ由来の音が左端部８１から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、第６領域１５ｆ由来の音が下端部８４から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、表空間９５Ａに回り込んだ音を表空間９５Ａの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第２右マージンＭ６及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、第２基準波長の１／８以下であってもよい。このようなマージンによれば、第２放射面１５Ｂの第５領域１５ｅから構造物８０の右端部８２まで音が伝搬するのに要する期間と、第２放射面１５Ｂの第６領域１５ｆから構造物８０の下端部８４まで音が伝搬するのに要する期間と、を実質的に同じにすることができる。このため、第５領域１５ｅ由来の音が右端部８２から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、第６領域１５ｆ由来の音が下端部８４から表空間９５Ａに進み始めるタイミングと、を実質的に同じにすることができる。このことは、表空間９５Ａに回り込んだ音を表空間９５Ａの広い領域で減衰させることに貢献しうる。
　第２左マージンＭ５及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、第２基準波長の１／１６以下であってもよい。第２右マージンＭ６及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、第２基準波長の１／１６以下であってもよい。第２左マージンＭ５及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、第２基準波長の１／１６以下であってもよい。第２右マージンＭ６及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、第２基準波長の１／１６以下であってもよい。
　一数値例では、第２左マージンＭ５及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。第２右マージンＭ６及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。第２左マージンＭ５及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。第２右マージンＭ６及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、８６ｃｍ以下である。
　第２左マージンＭ５及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。第２右マージンＭ６及び第２上マージンＭ７の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。第２左マージンＭ５及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。第２右マージンＭ６及び第２下マージンＭ８の差の絶対値は、４３ｃｍ以下であってもよい。
　第２左マージンＭ５及び第２右マージンＭ６の幾何平均値と、第２上マージンＭ７と、の差の絶対値すなわち｜Ｍ７－（Ｍ５＋Ｍ６）／２｜は、第２基準波長の１／８以下であってもよい。この大小関係は、例えば、構造物９０の左側、右側及び上側に空間が存在する場合に、表空間９５Ａに回り込んだ音を表空間９５Ａの広い領域で減衰させることに貢献しうる。上記の差の絶対値は、第２基準波長の１／１６以下であってもよい。上記の差の絶対値は、８６ｃｍ以下であってもよく、４３ｃｍ以下であってもよい。
　第２左マージンＭ５及び第２右マージンＭ６の幾何平均値と、第２上マージンＭ７及び第２下マージンＭ８の幾何平均値と、の差の絶対値｜（Ｍ７＋Ｍ８）／２－（Ｍ５＋Ｍ６）／２｜は、第２基準波長の１／８以下であってもよい。この大小関係は、例えば、構造物９０の左側、右側、上側及び下側に空間が存在する場合に、表空間９５Ａに回り込んだ音を表空間９５Ａの広い領域で減衰させることに貢献しうる。上記の差の絶対値は、第２基準波長の１／１６以下であってもよい。上記の差の絶対値は、８６ｃｍ以下であってもよく、４３ｃｍ以下であってもよい。
　第１上マージンＭ３は、第１左マージンＭ１よりも大きくてもよく、第１左マージンＭ１よりも小さくてもよく、第１左マージンＭ１と同じであってもよい。第１上マージンＭ３は、第１右マージンＭ２よりも大きくてもよく、第１右マージンＭ２よりも小さくてもよく、第１右マージンＭ２と同じであってもよい。
　第１下マージンＭ４は、第１左マージンＭ１よりも大きくてもよく、第１左マージンＭ１よりも小さくてもよく、第１左マージンＭ１と同じであってもよい。第１下マージンＭ４は、第１右マージンＭ２よりも大きくてもよく、第１右マージンＭ２よりも小さくてもよく、第１右マージンＭ２と同じであってもよい。
　第２上マージンＭ７は、第２左マージンＭ５よりも大きくてもよく、第２左マージンＭ５よりも小さくてもよく、第２左マージンＭ５と同じであってもよい。第２上マージンＭ７は、第２右マージンＭ６よりも大きくてもよく、第２右マージンＭ６よりも小さくてもよく、第２右マージンＭ６と同じであってもよい。
　第２下マージンＭ８は、第２左マージンＭ５よりも大きくてもよく、第２左マージンＭ５よりも小さくてもよく、第２左マージンＭ５と同じであってもよい。第２下マージンＭ８は、第２右マージンＭ６よりも大きくてもよく、第２右マージンＭ６よりも小さくてもよく、第２右マージンＭ６と同じであってもよい。
　以下、第１アスペクト比及び第２アスペクト比という用語を用いる。第１アスペクト比は、第１放射面１５Ａの単手方向の寸法Ｌ１に対する長手方向の寸法Ｌ２の比率Ｌ２／Ｌ１である。第２アスペクト比は、第２放射面１５Ｂの単手方向の寸法Ｌ３に対する長手方向の寸法Ｌ４の比率Ｌ４／Ｌ３である。
　第１アスペクト比Ｌ２／Ｌ１は、１．２以上である。この構成は、第１圧電スピーカー１０Ａから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに貢献しうる。具体的には、この構成によれば、第３領域１５ｃの面積を十分に確保し易い。このことは、第１領域１５ａ及び第２領域１５ｂから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を、第３領域１５ｃから構造物８０の向こう側に回り込んだ音により打ち消す観点から有利である。
　第１アスペクト比Ｌ２／Ｌ１は、１．２以上６以下であってもよい。具体的には、第１アスペクト比Ｌ２／Ｌ１は、１．５以上４以下であってもよい。
　第２アスペクト比Ｌ４／Ｌ３は、１．２以上である。この構成は、第２圧電スピーカー１０Ｂから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに貢献しうる。具体的には、この構成によれば、第６領域１５ｆの面積を十分に確保し易い。このことは、第４領域１５ｄ及び第５領域１５ｅから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を、第６領域１５ｆから構造物８０の向こう側に回り込んだ音により打ち消す観点から有利である。
　第２アスペクト比Ｌ４／Ｌ３は、１．２以上６以下であってもよい。具体的には、第２アスペクト比Ｌ４／Ｌ３は、１．５以上４以下であってもよい。
　ＡＮＣシステムは、第１参照マイクロフォン１３０Ａ、第２参照マイクロフォン１３０Ｂ及び制御装置１２０を含む。第１参照マイクロフォン１３０Ａは、裏空間９５Ｂに配置されている。第２参照マイクロフォン１３０Ｂは、表空間９５Ａに配置されている。
　制御装置１２０は、表空間９５Ａを消音するように、第１参照マイクロフォン１３０Ａを用いて第１圧電スピーカー１０Ａが発する音を制御する。制御装置１２０は、裏空間９５Ｂを消音するように、第２参照マイクロフォン１３０Ｂを用いて第２圧電スピーカー１０Ｂが発する音を制御する。
　以下、第１距離Ｄｍ１及び第２距離Ｄｍ２という用語を用いる。第１距離Ｄｍ１は、構造物８０の表面８０ａと第１参照マイクロフォン１３０Ａとの間の距離である。図示の例では、第１距離Ｄｍ１は、具体的には、構造物８０の板８０ｐの厚さ方向に関する距離である。第２距離Ｄｍ２は、構造物８０の裏面８０ｂと第２参照マイクロフォン１３０Ｂとの間の距離である。図示の例では、第２距離Ｄｍ２は、具体的には、構造物８０の板８０ｐの厚さ方向に関する距離である。
　一数値例では、第１距離Ｄｍ１は、１０５ｃｍ以下である。この数値例によれば、第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音の周波数が２００Ｈｚ以上８００以下の場合に、第１圧電スピーカー１０Ａから発せられた音が、制御におけるノイズとして第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力され難い。このことは、実施例１等によって裏付けられている。
　第１距離Ｄｍ１は、０ｃｍよりも大きい。第１距離Ｄｍ１は、４０ｃｍ以上であってもよい。第１距離Ｄｍ１は、６０ｃｍよりも大きくてもよい。
　一数値例では、第２距離Ｄｍ２は、１０５ｃｍ以下である。この数値例によれば、第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音の周波数が２００Ｈｚ以上８００以下の場合に、第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられた音が、制御におけるノイズとして第２参照マイクロフォン１３０Ｂに入力され難い。このことは、実施例１等によって裏付けられている。
　第２距離Ｄｍ２は、０ｃｍよりも大きい。第２距離Ｄｍ２は、４０ｃｍ以上であってもよい。第２距離Ｄｍ２は、６０ｃｍよりも大きくてもよい。
　第１距離Ｄｍ１及び第２距離Ｄｍ２は、同じであってもよく、異なっていてもよい。
　制御装置１２０は、表空間９５Ａを消音するように、表空間９５Ａに位置する誤差マイクロフォンを用いず第１参照マイクロフォン１３０Ａを用いて第１圧電スピーカー１０Ａが発する音を制御する。具体的には、この制御において、制御装置１２０は、誤差マイクロフォンを用いない。この構成によれば、制御をシンプルに行うことができる。具体的には、図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、本発明に係るＡＮＣシステムは、第１圧電スピーカー１０Ａから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに適している。このため、誤差マイクロフォンを用いなくても、消音効果を確保し易い。この文脈において、誤差マイクロフォンとは、消音するべき地点に位置するマイクロフォンであって、ＡＮＣシステムが行う該地点の騒音を低減する制御に供されるマイクロフォンである。
　「表空間９５Ａに位置する誤差マイクロフォンを用いず」という表現は、図示するように、誤差マイクロフォンが表空間９５Ａに設置されていない形態を包含する。また、この表現は、表空間９５Ａに誤差マイクロフォンが設置されているがその誤差マイクロフォンを用いない形態を包含する。
　具体的には、第１参照マイクロフォン１３０Ａは、第１圧電スピーカー１０Ａが発する音を制御するために制御装置１２０が用いる唯一のマイクロフォンである。
　制御装置１２０は、裏空間９５Ｂを消音するように、裏空間９５Ｂに位置する誤差マイクロフォンを用いず第２参照マイクロフォン１３０Ｂを用いて第２圧電スピーカー１０Ｂが発する音を制御する。具体的には、この制御において、制御装置１２０は、誤差マイクロフォンを用いない。この構成によれば、制御をシンプルに行うことができる。具体的には、図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、本発明に係るＡＮＣシステムは、第２圧電スピーカー１０Ｂから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに適している。このため、誤差マイクロフォンを用いなくても、消音効果を確保し易い。
　「裏空間９５Ｂに位置する誤差マイクロフォンを用いず」という表現は、図示するように、誤差マイクロフォンが裏空間９５Ｂに設置されていない形態を包含する。また、この表現は、裏空間９５Ｂに誤差マイクロフォンが設置されているがその誤差マイクロフォンを用いない形態を包含する。
　具体的には、第２参照マイクロフォン１３０Ｂは、第２圧電スピーカー１０Ｂが発する音を制御するために制御装置１２０が用いる唯一のマイクロフォンである。
　第１圧電スピーカー１０Ａから発せられ第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される音を第１回り込み音と定義する。このとき、制御装置１２０は、第１回り込み音が第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音に及ぼす影響を抑制するためのフィードバック補償を行わない。この構成によれば、制御をシンプルに行うことができる。具体的には、図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、本発明に係るＡＮＣシステムは、第１圧電スピーカー１０Ａから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに適している。このため、フィードバック補償を行わなくても、消音効果を確保し易い。
　第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられ第２参照マイクロフォン１３０Ｂに入力される音を第２回り込み音と定義する。このとき、制御装置１２０は、第２回り込み音が第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音に及ぼす影響を抑制するためのフィードバック補償を行わない。この構成によれば、制御をシンプルに行うことができる。具体的には、図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、本発明に係るＡＮＣシステムは、第２圧電スピーカー１０Ｂから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに適している。このため、フィードバック補償を行わなくても、消音効果を確保し易い。
　制御装置１２０は、第１騒音制御フィルタ１２１Ａを有する。第１騒音制御フィルタ１２１Ａは、第１参照マイクロフォン１３０Ａに入力される音と第１圧電スピーカー１０Ａから発せられる音とが一対一の対応関係を有するように構成されている。また、第１騒音制御フィルタ１２１Ａは、この対応関係が経時的に固定されるように、構成されている。この構成によれば、制御をシンプルに行うことができる。具体的には、図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、本発明に係るＡＮＣシステムは、第１圧電スピーカー１０Ａから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに適している。このため、第１騒音制御フィルタ１２１Ａをこのようにシンプルに構成しても、消音効果を確保し易い。上記の対応関係の経時的な固定は、例えば、第１騒音制御フィルタ１２１Ａのフィルタ係数を更新せず固定することにより実現可能である。フィルタ係数を固定することにより、第１騒音制御フィルタ１２１Ａに一定の演算を行わせることができ、該一定の演算を通じて第１圧電スピーカー１０Ａを用いた消音を実現できる。
　制御装置１２０は、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂを有する。第２騒音制御フィルタ１２１Ｂは、第２参照マイクロフォン１３０Ｂに入力される音と第２圧電スピーカー１０Ｂから発せられる音とが一対一の対応関係を有するように構成されている。また、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂは、この対応関係が経時的に固定されるように、構成されている。この構成によれば、制御をシンプルに行うことができる。具体的には、図１８～図２０を参照した説明から理解されるように、本発明に係るＡＮＣシステムは、第２圧電スピーカー１０Ｂから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることに適している。このため、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂをこのようにシンプルに構成しても、消音効果を確保し易い。上記の対応関係の経時的な固定は、例えば、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂのフィルタ係数を更新せず固定することにより実現可能である。フィルタ係数を固定することにより、第２騒音制御フィルタ１２１Ｂに一定の演算を行わせることができ、該一定の演算を通じて第２圧電スピーカー１０Ｂを用いた消音を実現できる。
　上述の通り、本発明によれば、制御をシンプルにすることができる。このようにすると、演算量を少なくできる。例えば、ＡＮＣシステムを少ないＦＩＲ（Finite Impulse Response）フィルタで構成することができる。典型的なＦＩＲフィルタの演算量は多い。ＦＩＲフィルタの数を少なくすることにより、制御装置の計算負荷を低減し、制御スピードを向上させることが可能である。このことは、ＡＮＣシステムのさらなる実用化につながりうる。ＡＮＣシステムをＦＩＲフィルタなしで構成してもよい。
　上述の通り、本発明によれば、ＡＮＣシステムを少ないマイクロフォンで構成することができる。このようにすると、ＡＮＣシステムにおけるハードウエア構成をコンパクトにすることができる。
　上述の通り、本発明によれば、圧電スピーカーから構造物８０の向こう側に回り込んだ音を減衰させることができる。このため、バックキャビティなしでＡＮＣシステムを構成することも可能である。このようにすると、ＡＮＣシステムにおけるハードウエア構成をコンパクトにすることができる。なお、バックキャビティは、スピーカーの背後への音の回り込みを避けるための箱状のカバーである。
　ただし、ＡＮＣシステムは、フィードバック補償を行ってもよい。ＡＮＣシステムの設計者は、フィードバック補償の有無を選択できる。また、ＡＮＣシステムにおいて、制御装置は、フィードバック補償を実行する制御モードとフィードバック補償を実行しない制御モードとを有していてもよい。この場合、制御装置は、これら２つのモードを切り替え可能でありうる。これらの説明は、シングルＡＮＣシステムにもデュアルＡＮＣシステムにも適用されうる。
　また、ＡＮＣシステムは、ＦＩＲフィルタを有していてもよい。ＡＮＣシステムは、誤差マイクロフォンを有していてもよい。ＡＮＣシステムは、バックキャビティを有していてもよい。
　上述の説明に係るＡＮＣシステムに対し、種々の改変が適用されうる。例えば、構造物８０の表面８０ａに取り付けられる圧電スピーカー１０の数は、１つであってもよく、複数であってもよい。同様に、構造物８０の裏面８０ｂに取り付けられる圧電スピーカー１０の数は、１つであってもよく、複数であってもよい。
（付記）
　本開示により、下記の技術が開示される。
（技術１）
　表面及び裏面を有する構造物と、
　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
　前記裏面上に配置され、消音用の音波を放射する第２圧電スピーカーと、を備えた、
　アクティブノイズコントロールシステム。
（技術２）
　表面及び裏面を有する構造物と、
　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
　第１参照マイクロフォンと、
　制御装置と、を備え、
　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
　前記第１参照マイクロフォンは、前記裏空間に配置され、
　前記制御装置は、前記表空間を消音するように、前記表空間に位置する誤差マイクロフォンを用いず前記第１参照マイクロフォンを用いて前記第１圧電スピーカーが発する音を制御する、
　アクティブノイズコントロールシステム。
（技術３）
　前記第１参照マイクロフォンは、前記第１圧電スピーカーが発する音を制御するために前記制御装置が用いる唯一のマイクロフォンである、
　技術２に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術４）
　表面及び裏面を有する構造物と、
　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
　第１参照マイクロフォンと、
　制御装置と、を備え、
　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
　前記第１参照マイクロフォンは、前記裏空間に配置され、
　前記制御装置は、前記表空間を消音するように、前記第１参照マイクロフォンを用いて前記第１圧電スピーカーが発する音を制御し、
　前記第１圧電スピーカーから発せられ前記第１参照マイクロフォンに入力される音を第１回り込み音と定義したとき、前記制御装置は、前記第１回り込み音が前記第１圧電スピーカーから発せられる音に及ぼす影響を抑制するためのフィードバック補償を行わない、
　アクティブノイズコントロールシステム。
（技術５）
　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
　前記第１圧電スピーカーは、前記表空間に面する第１放射面を有し、
　前記アクティブノイズコントロールシステムは、
　　前記裏空間に配置された第１参照マイクロフォンと、
　　制御装置と、を備え、
　前記制御装置は、第１騒音制御フィルタを有し、
　前記第１騒音制御フィルタは、
　　前記第１参照マイクロフォンに入力される音と前記第１圧電スピーカーから発せられる音とが一対一の対応関係を有し、かつ、
　　前記対応関係が経時的に固定されるように、構成されている、
　技術１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術６）
　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
　前記第１圧電スピーカーは、前記表空間に面する第１放射面を有し、
　前記裏空間は、第１背後空間と、第２背後空間と、前記第１背後空間及び前記第２背後空間の間の第３背後空間と、を有し、
　前記第１圧電スピーカーが形成する前記第１背後空間における音波の位相が正又は負の一方であり、
　前記第１圧電スピーカーが形成する前記第２背後空間における音波の位相が正又は負の前記一方であり、かつ、
　前記第１圧電スピーカーが形成する前記第３背後空間における音波の位相が正又は負の他方である期間が現れる、
　技術１から５のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術７）
　前記第１放射面は、第１領域と、第２領域と、前記第１領域及び前記第２領域の間の第３領域と、を有し、
　前記構造物は、左端部、右端部及び上端部を有し、
　前記第１領域、前記第２領域、前記第３領域、前記第１背後空間、前記第２背後空間及び前記第３背後空間は、上下方向に垂直な第１基準平面と交差し、
　前記第１領域から前記左端部を介して前記第１背後空間に至る第１回り込み経路にわたって、前記第１圧電スピーカーが形成する音波の位相が正又は負の前記一方に維持され、
　前記第２領域から前記右端部を介して前記第２背後空間に至る第２回り込み経路にわたって、前記第１圧電スピーカーが形成する音波の位相が正又は負の前記一方に維持され、かつ、
　前記第３領域から前記上端部を介して前記第３背後空間に至る第３回り込み経路にわたって、前記第１圧電スピーカーが形成する音波の位相が正又は負の他方に維持される期間が現れる、
　技術６に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術８）
　前記第１圧電スピーカーは、第１放射面を有し、
　前記アクティブノイズコントロールシステムは、制御装置を備え、
　前記制御装置は、前記第１圧電スピーカーから出力される音の周波数を第１特定周波数範囲内の値に制御する制御モードを有し、
　前記第１特定周波数範囲の上限の音の波長を第１基準波長と定義し、
　前記第１放射面の左端部と前記構造物の左端部との間のマージンを、第１左マージンと定義し、
　前記第１放射面の右端部と前記構造物の右端部との間のマージンを、第１右マージンと定義し、
　前記第１放射面の上端部と前記構造物の上端部との間のマージンを、第１上マージンと定義したとき、
　前記第１左マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、前記第１右マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、の少なくとも一方は、前記第１基準波長の１／８以下である、
　技術１から７のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術９）
　前記第１圧電スピーカーは、第１放射面を有し、
　前記第１放射面の左端部と前記構造物の左端部との間のマージンを、第１左マージンと定義し、
　前記第１放射面の右端部と前記構造物の右端部との間のマージンを、第１右マージンと定義し、
　前記第１放射面の上端部と前記構造物の上端部との間のマージンを、第１上マージンと定義したとき、
　前記第１左マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、前記第１右マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、の少なくとも一方は、８６ｃｍ以下である、
　技術１から８のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術１０）
　前記第１圧電スピーカーは、第１放射面を有し、
　前記第１放射面の単手方向の寸法に対する長手方向の寸法の比率を第１アスペクト比と定義したとき、
　前記第１アスペクト比は、１．２以上である、
　技術１から９のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
（技術１１）
　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
　前記アクティブノイズコントロールシステムは、
　　前記裏空間に配置された第１参照マイクロフォンと、
　　制御装置と、を備え、
　前記制御装置は、前記表空間を消音するように、前記第１参照マイクロフォンを用いて前記第１圧電スピーカーが発する音を制御し、
　前記表面と前記第１参照マイクロフォンとの間の距離を第１距離と定義したとき、
　前記第１距離は、１０５ｃｍ以下である、
　技術１から１０のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。

Claims (11)

  1. 　表面及び裏面を有する構造物と、
    　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
    　前記裏面上に配置され、消音用の音波を放射する第２圧電スピーカーと、を備えた、
    　アクティブノイズコントロールシステム。
  2. 　表面及び裏面を有する構造物と、
    　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
    　第１参照マイクロフォンと、
    　制御装置と、を備え、
    　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
    　前記第１参照マイクロフォンは、前記裏空間に配置され、
    　前記制御装置は、前記表空間を消音するように、前記表空間に位置する誤差マイクロフォンを用いず前記第１参照マイクロフォンを用いて前記第１圧電スピーカーが発する音を制御する、
    　アクティブノイズコントロールシステム。
  3. 　前記第１参照マイクロフォンは、前記第１圧電スピーカーが発する音を制御するために前記制御装置が用いる唯一のマイクロフォンである、
    　請求項２に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  4. 　表面及び裏面を有する構造物と、
    　前記表面上に配置され、消音用の音波を放射する第１圧電スピーカーと、
    　第１参照マイクロフォンと、
    　制御装置と、を備え、
    　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
    　前記第１参照マイクロフォンは、前記裏空間に配置され、
    　前記制御装置は、前記表空間を消音するように、前記第１参照マイクロフォンを用いて前記第１圧電スピーカーが発する音を制御し、
    　前記第１圧電スピーカーから発せられ前記第１参照マイクロフォンに入力される音を第１回り込み音と定義したとき、前記制御装置は、前記第１回り込み音が前記第１圧電スピーカーから発せられる音に及ぼす影響を抑制するためのフィードバック補償を行わない、
    　アクティブノイズコントロールシステム。
  5. 　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
    　前記第１圧電スピーカーは、前記表空間に面する第１放射面を有し、
    　前記アクティブノイズコントロールシステムは、
    　　前記裏空間に配置された第１参照マイクロフォンと、
    　　制御装置と、を備え、
    　前記制御装置は、第１騒音制御フィルタを有し、
    　前記第１騒音制御フィルタは、
    　　前記第１参照マイクロフォンに入力される音と前記第１圧電スピーカーから発せられる音とが一対一の対応関係を有し、かつ、
    　　前記対応関係が経時的に固定されるように、構成されている、
    　請求項１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  6. 　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
    　前記第１圧電スピーカーは、前記表空間に面する第１放射面を有し、
    　前記裏空間は、第１背後空間と、第２背後空間と、前記第１背後空間及び前記第２背後空間の間の第３背後空間と、を有し、
    　前記第１圧電スピーカーが形成する前記第１背後空間における音波の位相が正又は負の一方であり、
    　前記第１圧電スピーカーが形成する前記第２背後空間における音波の位相が正又は負の前記一方であり、かつ、
    　前記第１圧電スピーカーが形成する前記第３背後空間における音波の位相が正又は負の他方である期間が現れる、
    　請求項１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  7. 　前記第１放射面は、第１領域と、第２領域と、前記第１領域及び前記第２領域の間の第３領域と、を有し、
    　前記構造物は、左端部、右端部及び上端部を有し、
    　前記第１領域、前記第２領域、前記第３領域、前記第１背後空間、前記第２背後空間及び前記第３背後空間は、上下方向に垂直な第１基準平面と交差し、
    　前記第１領域から前記左端部を介して前記第１背後空間に至る第１回り込み経路にわたって、前記第１圧電スピーカーが形成する音波の位相が正又は負の前記一方に維持され、
    　前記第２領域から前記右端部を介して前記第２背後空間に至る第２回り込み経路にわたって、前記第１圧電スピーカーが形成する音波の位相が正又は負の前記一方に維持され、かつ、
    　前記第３領域から前記上端部を介して前記第３背後空間に至る第３回り込み経路にわたって、前記第１圧電スピーカーが形成する音波の位相が正又は負の他方に維持される期間が現れる、
    　請求項６に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  8. 　前記第１圧電スピーカーは、第１放射面を有し、
    　前記アクティブノイズコントロールシステムは、制御装置を備え、
    　前記制御装置は、前記第１圧電スピーカーから出力される音の周波数を第１特定周波数範囲内の値に制御する制御モードを有し、
    　前記第１特定周波数範囲の上限の音の波長を第１基準波長と定義し、
    　前記第１放射面の左端部と前記構造物の左端部との間のマージンを、第１左マージンと定義し、
    　前記第１放射面の右端部と前記構造物の右端部との間のマージンを、第１右マージンと定義し、
    　前記第１放射面の上端部と前記構造物の上端部との間のマージンを、第１上マージンと定義したとき、
    　前記第１左マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、前記第１右マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、の少なくとも一方は、前記第１基準波長の１／８以下である、
    　請求項１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  9. 　前記第１圧電スピーカーは、第１放射面を有し、
    　前記第１放射面の左端部と前記構造物の左端部との間のマージンを、第１左マージンと定義し、
    　前記第１放射面の右端部と前記構造物の右端部との間のマージンを、第１右マージンと定義し、
    　前記第１放射面の上端部と前記構造物の上端部との間のマージンを、第１上マージンと定義したとき、
    　前記第１左マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、前記第１右マージン及び前記第１上マージンの差の絶対値と、の少なくとも一方は、８６ｃｍ以下である、
    　請求項１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  10. 　前記第１圧電スピーカーは、第１放射面を有し、
    　前記第１放射面の単手方向の寸法に対する長手方向の寸法の比率を第１アスペクト比と定義したとき、
    　前記第１アスペクト比は、１．２以上である、
    　請求項１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
  11. 　前記表面を平面視したときに前記表面と重複する表空間と、前記表面と、前記裏面と、前記裏面を平面視したときに前記裏面と重複する裏空間と、がこの順に並び、
    　前記アクティブノイズコントロールシステムは、
    　　前記裏空間に配置された第１参照マイクロフォンと、
    　　制御装置と、を備え、
    　前記制御装置は、前記表空間を消音するように、前記第１参照マイクロフォンを用いて前記第１圧電スピーカーが発する音を制御し、
    　前記表面と前記第１参照マイクロフォンとの間の距離を第１距離と定義したとき、
    　前記第１距離は、１０５ｃｍ以下である、
    　請求項１から４のいずれか一項に記載のアクティブノイズコントロールシステム。
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